JP5574482B2 - 磁気センサ及びemc試験用検出装置 - Google Patents
磁気センサ及びemc試験用検出装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5574482B2 JP5574482B2 JP2010053440A JP2010053440A JP5574482B2 JP 5574482 B2 JP5574482 B2 JP 5574482B2 JP 2010053440 A JP2010053440 A JP 2010053440A JP 2010053440 A JP2010053440 A JP 2010053440A JP 5574482 B2 JP5574482 B2 JP 5574482B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- magnetic sensor
- region
- loop coil
- width
- substrate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Landscapes
- Measuring Magnetic Variables (AREA)
Description
直線的形状の第1部分と、前記第1部分に隣接するループ形状の第2部分と、前記第2部分に隣接する円形状の第3部分とが直列的配置された信号線路を備え、
前記第3部分は、前記信号線路の端部であって、前記第1部分に並列的に配置されている。
図1は、本発明の実施形態1の磁気センサを構成するシールディドループコイルの模式的な分解図である。図1(a)にはグランド線路12が形成された第1基板10を示し、図1(b)には信号線路22が形成された第2基板20を示し、図1(c)にはグランド線路32が形成された第3基板30を示している。第1基板10,第2基板20,第3基板30は、いわゆる絶縁基板であり、これらを多層的に組み合わせることで、いわゆるトリプレート構造の磁気センサを形成している。
図2は、本発明の実施形態2の磁気センサを構成するシールディドループコイルの模式的な分解図である。図2(a)〜図2(c)は、それぞれ、図1(a)〜図1(c)に対応する。
1.第3部分28の位置を、その中央部分が第2基板20の先端から例えば0.7mm〜0.85mm程度内側となるようにし、かつ、
2.更に、第3部分28の位置を、その中央部分が、第2基板20の短手方向の中央になるようにし、
3.これらに応じて、第3領域18,38の形成位置も変更し、かつ、
4.第1部分24は、第3部分28の位置に対応した凸部分24Aを有する、
という点が相違する。
図3は、本発明の実施形態3の磁気センサを構成するシールディドループコイルの模式的な分解図である。図3(a)〜図3(c)は、それぞれ、図2(a)〜図2(c)に対応する。
1.第3部分28の位置を、その中央部分が、第2基板20の短手方向の中央から偏心させている、
2.これらに応じて、第3領域18,38のサイズを小さくしている、
という点が相違する。
図4は、本発明の実施形態4に係るシールディドループコイルの模式的な構成図である。実施形態1〜3に係るシールディドループコイルの場合には、信号線路24を第1部分〜第3部分の全てにおいて同じ幅で形成している。
図8は、本発明の実施形態のEMC試験用検出装置の模式的な外観図である。図8に示すEMC試験用検出装置は、検査対象が裁置される裁置台100と、裁置台100に設けられている非常停止ボタン110A及び操作ボタン110Bと、実施形態1等の磁気センサが先端に取り付けられているプローブ150と、プローブ150を把持するプローブチャック130と、プローブ150と検査対象との位置を規定するためのレーザ120と、レーザ120の発光及び受光処理及びプローブチャック130の回転処理及び磁気センサからの信号増幅処理等を行う処理部140と、処理部140をそれぞれXYZ方向に移動させるX方向移動部160及びY方向移動部170及びZ方向移動部180と、裁置台100に裁置される検査対象を撮像する撮像部190と、撮像部190を平面方向に移動させるアーム部200と、各部の動作の制御を司るコントローラ部210とを備える。
12,32 グランド線路
20 第2基板
22 信号線路
30 第3基板
100 裁置台
110A 非常停止ボタン
110B 操作ボタン
120 レーザ
130 プローブチャック
140 処理部
150 プローブ
160 X方向移動部
170 Y方向移動部
180 Z方向移動部
190 撮像部
200 アーム部
210 コントローラ部
Claims (7)
- 直線的形状の第1部分と、前記第1部分に隣接するループ形状の第2部分と、前記第2部分に隣接する円形状の第3部分とが直列的に配置された信号線路を備え、
前記第3部分は、前記信号線路の端部であって、前記第1部分に並列的に配置され、
前記第1部分は、前記第3部分の位置に対応した凸部分を有する、磁気センサ。 - 前記第2部分は、相対的に信号線路幅が広い部分と狭い部分とを含む、請求項1記載の磁気センサ。
- 前記第1部分に対応する形状の第1領域と、前記第2部分に対応していて前記第1領域の幅を超える幅の第2領域と、前記第3部分に対応していて前記第1領域と重なる態様で形成されている第3領域とを有するグランド線路を備える、請求項1記載の磁気センサ。
- 前記第3領域は、更に、前記第2領域にも重なる態様で形成されている、請求項3記載の磁気センサ。
- 前記第3部分は、前記第1領域の幅方向の中心位置に対して偏心した位置に形成されている、請求項3記載の磁気センサ。
- 請求項1記載の磁気センサが取り付けられているプローブ。
- 請求項1記載の磁気センサと、前記磁気センサが取り付けられているプローブと、前記磁気センサからの信号を処理する処理部とを備えるEMC試験用検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2010053440A JP5574482B2 (ja) | 2010-03-10 | 2010-03-10 | 磁気センサ及びemc試験用検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2010053440A JP5574482B2 (ja) | 2010-03-10 | 2010-03-10 | 磁気センサ及びemc試験用検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2011185857A JP2011185857A (ja) | 2011-09-22 |
| JP5574482B2 true JP5574482B2 (ja) | 2014-08-20 |
Family
ID=44792314
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2010053440A Active JP5574482B2 (ja) | 2010-03-10 | 2010-03-10 | 磁気センサ及びemc試験用検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP5574482B2 (ja) |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3583276B2 (ja) * | 1997-03-13 | 2004-11-04 | 株式会社リコー | 近磁界プローブ及び近磁界プローブユニット及び近磁界プローブアレー及び磁界計測システム |
| JP3173501B2 (ja) * | 1999-06-01 | 2001-06-04 | 日本電気株式会社 | 磁界センサ |
| JP3760908B2 (ja) * | 2002-10-30 | 2006-03-29 | 株式会社日立製作所 | 狭指向性電磁界アンテナプローブおよびこれを用いた電磁界測定装置、電流分布探査装置または電気的配線診断装置 |
-
2010
- 2010-03-10 JP JP2010053440A patent/JP5574482B2/ja active Active
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2011185857A (ja) | 2011-09-22 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP5270482B2 (ja) | 位置検出装置及びセンサユニット | |
| JP4635544B2 (ja) | 電界分布測定方法及び電界分布測定装置 | |
| JP6012038B2 (ja) | 電磁誘導方式の位置検出センサ及び位置検出装置 | |
| US12287309B2 (en) | Wire rope inspection device and wire rope inspection system | |
| JP2014523588A (ja) | 入力装置 | |
| US8181493B2 (en) | Position sensing | |
| TWI457582B (zh) | 平面式磁場探測棒 | |
| JP5418424B2 (ja) | 電磁界プローブ | |
| JP2010261756A (ja) | 電磁波発生源判定方法及び装置 | |
| JP5574482B2 (ja) | 磁気センサ及びemc試験用検出装置 | |
| JPH10311857A (ja) | 近磁界プローブ及び近磁界プローブユニット及び近磁界プローブアレー及び磁界計測システム | |
| JP2009052990A (ja) | 電磁界測定装置、測定システム、および電磁界測定方法 | |
| JP4747208B2 (ja) | 電磁界計測装置および方法 | |
| JP2013210216A (ja) | 電流検出装置及び電流検出方法 | |
| JP3559158B2 (ja) | 近磁界プローブによる電磁ノイズ測定装置及び電磁ノイズ測定方法 | |
| JP5772392B2 (ja) | 電界プローブ及び電界測定装置 | |
| JP5139822B2 (ja) | 磁界プローブ | |
| CN114152988A (zh) | 金属探测装置 | |
| JP2014066681A (ja) | 高周波検出装置、および、当該高周波検出装置を備えた高周波測定装置 | |
| CN103105628A (zh) | 用于传感器组件的感测元件 | |
| JP4829057B2 (ja) | シールド部材の異常検出方法及びシールド部材の異常検出装置 | |
| CN101576534A (zh) | 一种以手指触觉为辅助手段的涡流检测方法及装置 | |
| US11375622B2 (en) | Method and device for positioning a component arranged on a substrate | |
| JP5413299B2 (ja) | 電界感知プローブ及び電界の検出方法 | |
| KR101882460B1 (ko) | 레이더 디텍터 장치 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20111014 |
|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20130226 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20131128 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20131202 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20140109 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20140627 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20140627 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5574482 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |