JP5584032B2 - Socket for electrical parts - Google Patents
Socket for electrical parts Download PDFInfo
- Publication number
- JP5584032B2 JP5584032B2 JP2010158234A JP2010158234A JP5584032B2 JP 5584032 B2 JP5584032 B2 JP 5584032B2 JP 2010158234 A JP2010158234 A JP 2010158234A JP 2010158234 A JP2010158234 A JP 2010158234A JP 5584032 B2 JP5584032 B2 JP 5584032B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electrical component
- socket
- adapter
- socket body
- knob
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Connecting Device With Holders (AREA)
Description
この発明は、配線基板上に実装された半導体装置(以下「ICパッケージ」という)等の電気部品を測定等するための電気部品用ソケットに関するものである。 The present invention relates to an electrical component socket for measuring electrical components such as a semiconductor device (hereinafter referred to as “IC package”) mounted on a wiring board.
従来からこの種の「電気部品用ソケット」としては、「電気部品」である半導体装置を着脱自在に保持する半導体装置用ソケットがある(特許文献1参照)。 Conventionally, as this type of “electrical component socket”, there is a semiconductor device socket that detachably holds a semiconductor device that is an “electrical component” (see Patent Document 1).
その半導体装置用ソケットは、特許文献1の請求項1に記載されたように「半導体装置が着脱可能に配される半導体装置載置部と、該半導体装置の端子に電気的に接続されるコンタクト端子群とを有するソケット本体と、前記ソケット本体に対し近接または離隔可能に配される蓋部材に設けられ、前記半導体装置載置部に配された半導体装置の外周面に当接または離隔するようにねじ機構に連結されて移動可能とされる押圧体を有し、該半導体装置の端子の前記コンタクト端子群に対する押圧力を調整する押圧力調整機構部と、前記押圧力調整機構部に関連して配され、前記ねじ機構をロック状態またはアンロック状態とするロック/アンロック機構部とを具備して構成される。」旨記載されている。 As described in claim 1 of Patent Document 1, the socket for the semiconductor device includes “a semiconductor device mounting portion on which the semiconductor device is detachably disposed, and a contact electrically connected to a terminal of the semiconductor device. A socket body having a terminal group; and a lid member disposed so as to be close to or separated from the socket body, and is in contact with or separated from an outer peripheral surface of the semiconductor device disposed on the semiconductor device mounting portion. And a pressing force adjusting mechanism portion that adjusts the pressing force of the terminals of the semiconductor device against the contact terminal group, and a pressing force adjusting mechanism portion that is connected to the screw mechanism and is movable. And a lock / unlock mechanism portion that places the screw mechanism in a locked state or an unlocked state.
ところで、近年においては、配線基板にICパッケージを予め実装した状態で、データが正常に流れているか否か測定したいという要望がある。 By the way, in recent years, there is a demand for measuring whether data is flowing normally in a state where an IC package is mounted on a wiring board in advance.
しかし、このような特許文献1に記載のものにあっては、半導体装置載置部を配線基板上に配置し、この半導体装置載置部に半導体装置を配設し、この上に、コンタクト端子群を有するソケット本体を設け、更に、押圧力調整機構部により半導体装置を押圧するようにしているため、既に、配線基板にICパッケージが配設されているものについては、かかる装置では、測定等を行うことができなかった。 However, in the device described in Patent Document 1, the semiconductor device mounting portion is disposed on the wiring board, the semiconductor device is disposed on the semiconductor device mounting portion, and the contact terminal is provided thereon. Since the socket body having a group is provided and the semiconductor device is pressed by the pressing force adjusting mechanism, the IC package is already arranged on the wiring board. Could not do.
そこで、配線基板にICパッケージを予め実装した状態で、測定するものとして、特許文献2に記載されたようなものがある。 Therefore, there is a technique described in Patent Document 2 for measuring in a state where an IC package is mounted on a wiring board in advance.
この特許文献2には、「先端が鋭利に形成されるとともに斜め下向きに屈曲された接触子を、鋭利な先端同士が対向するように向き合わせ状に配置し、この接触子を内側に変位させて鋭利な先端を回路基板上でチップ部品を半田付けしている半田部分へ突き刺し、この突き刺し状態を保持させることにより各々の接触子から独立した電気信号を取り出す電気信号抽出装置」が記載されている。 In this Patent Document 2, “a contact having a sharp tip formed and bent obliquely downward is arranged in a face-to-face relationship so that the sharp tips face each other, and the contact is displaced inward. An electrical signal extraction device is described in which a sharp tip is pierced into a solder portion where a chip component is soldered on a circuit board and an independent electrical signal is extracted from each contact by holding the pierced state. Yes.
しかしながら、このような特許文献2に記載のものにあっては、チップ部品(電気部品)の半田部分へ、電気信号抽出装置の接触子の先端を食い込ませるようにしているが、その接触子の先端を、半田部分の所定の位置に食い込ませる必要があるため、チップ部品に対して電気信号抽出装置を所定の位置に配設する必要があるが、電気信号抽出装置をどのように配設するのか構成が開示されておらず、その電気信号抽出装置をチップ部品に対して所定の位置に配設するのは難しいものであった。 However, in such a device described in Patent Document 2, the tip of the contact of the electrical signal extraction device is bitten into the solder portion of the chip component (electrical component). Since it is necessary to bite the tip into a predetermined position of the solder portion, it is necessary to dispose the electric signal extraction device at a predetermined position with respect to the chip component. How is the electric signal extraction device disposed? However, the configuration is not disclosed, and it is difficult to dispose the electric signal extraction device at a predetermined position with respect to the chip component.
そこで、この発明は、配線基板に予め電気部品が配設されているものにおいても、その電気部品に対して所定の位置に配設できて測定等を行うことができる電気部品用ソケットを提供することを課題としている。 Accordingly, the present invention provides an electrical component socket that can be measured at a predetermined position with respect to the electrical component even when the electrical component is previously disposed on the wiring board. It is an issue.
かかる課題を達成するために、請求項1に記載の発明は、配線基板上に配設されて、側方に複数の突出した端子を有する電気部品に電気的に接続し、該電気部品と中間基板との電気的接続を図るための電気部品用ソケットであって、前記電気部品の上側に取り付けられる取付手段と、該取付手段により、前記電気部品上に覆うように配設されるソケット本体と、該ソケット本体に設けられ、前記電気部品の端子に電気的に接続されるコンタクトピンとを有し、前記取付手段は、前記電気部品に取り付けられるアダプターと、該アダプターに着脱自在に取り付けられるノブと、該ノブ及び前記ソケット本体の間に配設される付勢手段とを有し、前記付勢手段は、前記中間基板に形成された開口部に挿通されて前記ソケット本体を前記電気部品側に押圧するように構成され、前記コンタクトピンは、前記電気部品の前記端子に電気的に導通される下側接触部と、前記中間基板の電極に電気的に接続される上側接触部と、当該下側接触部および当該上側接触部間に形成されたばね部とを有し、前記電気部品上に覆うように前記ソケット本体を配設し、前記ノブを操作して前記付勢手段によって前記ソケット本体を前記電気部品側に押圧した状態で、前記コンタクトピンの前記ばね部が弾性変形して前記下側接触部及び前記上側接触部が上下方向に変位することにより、前記下側接触部が前記電気部品の前記端子に、又、前記上側接触部が前記中間基板の前記電極に、それぞれ所定の接圧で接触するように構成されている電気部品用ソケットとしたことを特徴とする。 In order to achieve such an object, the invention according to claim 1 is arranged on a wiring board and electrically connected to an electric component having a plurality of protruding terminals on the side, and the electric component and the intermediate An electrical component socket for electrical connection with a substrate, the mounting means being mounted on the upper side of the electrical component, and the socket body disposed so as to cover the electrical component by the mounting means , provided in the socket body, have a contact pin that is electrically connected to a terminal of the electrical component, said attachment means includes an adapter attached to the electrical component, and a knob which is removably attached to the adapter And an urging means disposed between the knob and the socket body, and the urging means is inserted into an opening formed in the intermediate substrate so that the socket body is placed on the electric component side. The contact pin is configured to press, and the contact pin includes a lower contact portion that is electrically connected to the terminal of the electrical component, an upper contact portion that is electrically connected to the electrode of the intermediate board, and the lower contact portion. A side contact portion and a spring portion formed between the upper contact portions, the socket body is disposed so as to cover the electrical component, the knob is operated, and the socket body is moved by the biasing means. In a state where the electric contact part is pressed, the spring part of the contact pin is elastically deformed and the lower contact part and the upper contact part are displaced in the vertical direction, so that the lower contact part becomes the electric part. Further, the electrical component socket is configured such that the upper contact portion contacts the electrode of the intermediate substrate at a predetermined contact pressure .
請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の構成に加え、前記アダプターは、前記電気部品の上面に接着される取付板部と、前記取付板部から突設されて前記ノブが螺合されるねじ部とを有することを特徴とする。 According to a second aspect of the present invention, in addition to the configuration of the first aspect , the adapter includes a mounting plate portion bonded to an upper surface of the electrical component, a protrusion projecting from the mounting plate portion, and the knob being screwed. And a screw portion to be joined.
請求項1に記載の発明によれば、配線基板に予め電気部品が配設されているものにおいても、電気部品に取付手段を取り付け、この取付手段を介してソケット本体を配設するようにしているため、その電気部品に対して所定の位置に配設できて測定等を行うことができる。 According to the first aspect of the present invention, even in the case where electrical components are preliminarily disposed on the wiring board, the attachment means is attached to the electrical components, and the socket body is disposed via the attachment means. Therefore, it can be arranged at a predetermined position with respect to the electrical component and measurement or the like can be performed.
また、電気部品上を覆うように電気部品用ソケットを配設することができるため、電気部品が複数隣接している場合等、隣接するスペースが狭いようなものにあっても、電気部品用ソケットの配設を容易に行うことができる。 In addition, since the electrical component socket can be disposed so as to cover the electrical component, the electrical component socket can be used even when the adjacent space is narrow, such as when multiple electrical components are adjacent. Can be easily arranged.
また、取付手段には、ソケット本体を電気部品側に押圧する付勢手段が設けられているため、この付勢手段により、コンタクトピンを電気部品端子に所定の押圧力で押圧することができる。 Further , since the attaching means is provided with an urging means for pressing the socket body toward the electric component side, the urging means can press the contact pin against the electric component terminal with a predetermined pressing force.
さらに、取付手段は、電気部品に取り付けられるアダプターと、このアダプターに着脱自在に取り付けられるノブと、このノブ及びソケット本体の間に配設される付勢手段とを有するため、ノブをアダプターに取り付けることにより、付勢手段によりソケット本体を電気部品側に押圧することができる。 Furthermore , since the attachment means includes an adapter attached to the electrical component, a knob detachably attached to the adapter, and a biasing means disposed between the knob and the socket body, the knob is attached to the adapter. Thus, the socket body can be pressed toward the electrical component by the urging means.
請求項2に記載の発明によれば、上記効果に加え、アダプターは、電気部品の上面に接着される取付板部と、この取付板部から突設されてノブが螺合されるねじ部とを有するため、アダプターを電気部品に簡単に取り付けることができると共に、ねじ部に対するノブの締込み量を調整することにより、付勢手段の付勢力を調整することができる。 According to the second aspect of the present invention, in addition to the above effect, the adapter includes a mounting plate portion that is bonded to the upper surface of the electrical component, and a screw portion that protrudes from the mounting plate portion and is screwed with the knob. Therefore, the adapter can be easily attached to the electrical component, and the urging force of the urging means can be adjusted by adjusting the tightening amount of the knob with respect to the screw portion.
以下、この発明の実施の形態について説明する。
[発明の実施の形態1]
Embodiments of the present invention will be described below.
Embodiment 1 of the Invention
図1乃至図8には、この発明の実施の形態を示す。 1 to 8 show an embodiment of the present invention.
まず構成を説明すると、図中符号11は、「電気部品用ソケット」としてのICソケットで、このICソケット11は、「電気部品」であるICパッケージ12等のデータの流れ等の測定を行うために、このICパッケージ12の端子12bと、中間基板13等との電気的接続を図るものである。
First, the configuration will be described.
このICパッケージ12は、図8に示すように、長方形板状のパッケージ本体12aの側方に多数のクランク形状の端子12bが突出して形成されている。そして、このICパッケージ12は、パッケージ本体12aの下面が、配線基板14上に当接した状態で、各端子12bが配線基板14の所定位置に半田付けされることにより、配線基板14上の所定位置に実装されている。この配線基板14上には、図示していないが、他の同種の複数のICパッケージ12や他の異種の電気部品等が互いに隣接した状態で複数配設されている。
As shown in FIG. 8, the
一方、ICソケット11は、図4に示すように、ICパッケージ12上に取り付けられるアダプター15と、図5乃至図7に示すように、このアダプター15等によってICパッケージ12上に配置されるソケット本体16と、このソケット本体16上に配置されるカバー17と、そのソケット本体16及びカバー17の間に収容されるコンタクトピン18と、そのソケット本体16上でアダプター15の周囲に配置されるコイルスプリング19と、そのアダプター15に螺合されるノブ20とから構成されている。このアダプター15、コイルスプリング19及びノブ20等で、「取付手段」が構成されている。
On the other hand, the
そして、かかるICソケット11に中間基板13等が配設されて電気部品測定装置10が構成されている。
The
詳しくは、そのアダプター15は、図4に示すように、ICパッケージ12の上面に接着固定される取付板部15aを有し、この取付板部15aから上方にねじ部15bが突設されている。このねじ部15bにノブ20が螺合されるようになっている。
Specifically, as shown in FIG. 4, the
また、ソケット本体16は、平面視で、ICパッケージ12を覆うようにICパッケージ12より僅かに大きい大きさに形成され、下面がICパッケージ12の上面に当接されるようになっていると共に、図2等に示すように、アダプター15の取付板部15aが挿入される挿入凹部16cが形成され、更に、アダプター15のねじ部15bが挿入される貫通孔16bが形成されている。
Further, the
さらに、このソケット本体16には、両端縁部に凹所16aが形成され、この凹所16aにコンタクトピン18が収容され、カバー17で抑えられている。
Further, the
また、コンタクトピン18は、図2等に示すように、導電性金属板材から略U字状に形成され、下端部にICパッケージ12の端子12bの上面側に接触して電気的に導通される下側接触部18aが形成されると共に、上端部に中間基板13の下面の電極部に接触して電気的に接続される上側接触部18bが形成されている。また、その下側接触部18aと上側接触部18bとの間に弾性変形する略U字状(横向き)のばね部18cが形成され、このばね部18cが弾性変形することにより、各接触部18a,18bが上下方向に変位するようになっている。
Further, as shown in FIG. 2 and the like, the
この下側接触部18aは下方に向けて突出して形成され、ソケット本体16に形成された開口16dから下方に向けて突出するようになっている。また、上側接触部18bは上方に向けて突出して形成され、カバー17に形成された開口17bから上方に向けて突出するようになっている。
The
また、カバー17は、図2等に示すように、絶縁性を有する樹脂製の板材から構成され、ソケット本体16上を覆うように配設され、中央部にアダプター15のねじ部15bが挿入される貫通孔17aが形成されると共に、上述のように、コンタクトピン18の上側接触部18bが挿通される開口17bが形成されている。
Further, as shown in FIG. 2 and the like, the
さらに、コイルスプリング19は、アダプター15のねじ部15bが挿通された状態で、カバー17の上面部に載置され、ノブ20を締め付けることにより、ソケット本体16をICパッケージ12側(下方)に押圧するようにしている。
Further, the
このように構成されたICソケット11のカバー17上には、図2等に示すように、電気部品測定装置10の中間基板13が載置されている。この中間基板13の下面には、コンタクトピン18の上側接触部18bに電気的に接続される電極(図示省略)が形成されると共に、この中間基板13の上面の両側縁部には、コネクタ21が横置きに接続され、このコネクタ21には、FPC(フレキシブルプリントサーキット)接続ケーブル22が横から接続されている。
On the
なお、ここでは、コネクタ21及びFPC接続ケーブル22が横置きにされて水平方向に沿って配設されているが、これに限らず、ICソケット11の側方のスペースが狭いような場合には、コネクタ21を縦置きとし、FPC接続ケーブル22が上方に延びるように配設することもできる。
Here, the
さらに、この中間基板13は、図1に示すように、計4本のねじ23により、ソケット本体16に取り付けられるようになっている。
Further, as shown in FIG. 1, the
次に、かかるICソケット11の配設方法について説明する。
Next, a method for arranging the
予め、配線基板14上の所定位置に、ICパッケージ12が複数の端子12bが半田付けされることにより実装されている。
The
この状態で、このICパッケージ12等を測定するのに、このICパッケージ12上にICソケット11を配設する。
In this state, an
すなわち、まず、図4に示すように、アダプター15の取付板部15aをICパッケージ12の上面の所定位置に接着固定する。接着剤を用いても良いし、両面テープで固定しても良い。このアダプター15の位置決めには、専用ゲージ等を使用することもできる。なお、測定後、アダプター15を取り外せるように、ICパッケージ12の上面に保護テープを貼り、その上からアダプター15を接着する方法もある。
That is, first, as shown in FIG. 4, the mounting
次に、図5に示すように、中間基板13が配設されたソケット本体16をICパッケージ12上に被せ、アダプター15のねじ部15bを、ソケット本体16及びカバー17の貫通孔16b,17aに挿通する。
Next, as shown in FIG. 5, the
この際には、ソケット本体16の複数のコンタクトピン18の両端に形成された図示省略のリブを、ICパッケージ12の複数の端子12bの内の両端に配設された端子12bに対して位置決めすることにより、各コンタクトピン18をICパッケージ12の任意の各端子12bに接触させるようにしている。
At this time, ribs (not shown) formed at both ends of the plurality of contact pins 18 of the
その後、図6に示すように、アダプタ−15のねじ部15bにコイルスプリング19を被せて、コイルスプリング19をソケット本体16上に載せ、その後、図7に示すように、このねじ部15bにノブ20を螺合させ、所定の位置まで締め付ける。これにより、ソケット本体16が下方に押圧されて下降されてコンタクトピン18が弾性変形して、下側接触部18aがICパッケージ12の端子12b上面に、又、上側接触部18bが中間基板13の下面の電極に、それぞれ所定の接圧で接触することとなる。
Thereafter, as shown in FIG. 6, a
この状態で、ICパッケージ12の測定が行われることとなる。
In this state, the
このようなものにあっては、予め、ICパッケージ12が配線基板14に配設されているものであっても、ICパッケージ12にアダプター15を取り付け、このアダプター15,コイルスプリング19及びノブ20等を介してソケット本体16を配設するようにしているため、そのICパッケージ12に対してソケット本体16を所定の位置に配設できて測定等を行うことができる。
In such a case, even if the
また、ICパッケージ12上を覆うようにICソケット11を配設することができるため、ICパッケージ12が複数隣接している場合等、隣接するスペースが狭いようなものにあっても、ICソケット11の配設を容易に行うことができる。
In addition, since the
また、ICソケット11の配設も、上述の図4から図7に示すように、アダプター15,ソケット本体16,コイルスプリング19,ノブ20の順で順次配設することにより、簡単に配設することができる。
In addition, the
さらに、かかるICソケット11は、特許文献2に記載のものより、上下方向の寸法を短くでき、ICソケット11の上下方向の配設スペースをコンパクトにすることができる。
Further, the
しかも、ノブ20の締込み量を調整することにより、コイルスプリング19によるソケット本体16への押圧力、つまり、コンタクトピン18の、ICパッケージ12の端子12bへの接触圧力を調整することができる。
[発明の実施の形態2]
Moreover, by adjusting the tightening amount of the
[Embodiment 2 of the Invention]
図9には、この発明の実施の形態2を示す。 FIG. 9 shows a second embodiment of the present invention.
この実施の形態2は、「取付手段」が実施の形態1のものと相違している。すなわち、パッケージ本体12aと配線基板14との間に隙間があり、この隙間に「取付手段」であるアダプター25の係止爪25aの先端が挿入係止されるようになっている。
The second embodiment is different from the first embodiment in “attachment means”. That is, there is a gap between the
そして、このように係止されて固定されたアダプター25にソケット本体16が取り付けられるようになっている。
The
このように係止爪25aを用いてICソケット11をパッケージ本体12aに係止するようにすれば、ICパッケージ12の測定後は、その係止爪25aをパッケージ本体12aから外すことにより、ICソケット11をICパッケージ12から容易に取り外すことができる。
If the
他の構成及び作用は実施の形態1と同様であるので、重複した説明は省略する。
[発明の実施の形態3]
Since other configurations and operations are the same as those of the first embodiment, a duplicate description is omitted.
Embodiment 3 of the Invention
図10には、この発明の実施の形態3を示す。 FIG. 10 shows a third embodiment of the present invention.
この実施の形態3は、アダプター26とノブ27等の構造が実施の形態1のものとは相違する。
The third embodiment is different from the first embodiment in the structure of the
この実施の形態3のアダプター26は、実施の形態1のアダプター15のねじ部15bの代わりに、軸部26bが取付板部26aから上方に突設されている。
In the
この軸部26bには、上部に上下方向に延びる挿入溝部26cが形成され、この挿入溝部26cの下端部に周方向に延びる係止溝部26dが形成されている。
The
また、ノブ27には、図示していないが、内部に、軸部26bの挿入溝部26cに挿入される係止突部が形成され、この係止突部を挿入溝部26cに沿って下降させた後、このノブ27を回転させることにより、その係止突部が、係止溝部26dに係止されるようになっている。
In addition, although not shown, the
そして、このノブ27が軸部26bに取り付けられることにより、このノブ27に設けられたコイルスプリング28により、実施の形態1と同様にソケット本体16が押圧されるようになっている。
When the
このようなものにあっては、ノブ27は、下方に移動させた後、回転させるだけで簡単に軸部26bに配設することができ、実施の形態1のようにねじ込み式のものと比較すると、ノブ27の配設を簡単に行うことができる。
In such a case, the
また、ノブ27の押し込み量、すなわち、コイルスプリング28の付勢力を一定にでき、コンタクトピン18とICパッケージ12の端子12b等との接圧を一定にできる。
Further, the pushing amount of the
他の構成及び作用は実施の形態1と同様であるので、重複した説明は省略する。 Since other configurations and operations are the same as those of the first embodiment, a duplicate description is omitted.
なお、上記各実施の形態では、「電気部品用ソケット」としてICソケット11に、この発明を適用したが、これに限らず、他の装置にも適用できることは勿論である。また、この発明の「取付手段」は、上記実施の形態のものに限らず、電気部品に取り付けられ、ソケット本体を電気部品上に配設するようなものであれば、他の構成のものでも良いことは勿論である。さらに、この発明の「付勢手段」は、上記実施の形態では、コイルスプリングを用いたが、他の構造のバネやゴム等の弾性体等でも良い。
In the above embodiments, the present invention is applied to the
10 電気部品測定装置
11 ICソケット(電気部品用ソケット)
12 ICパッケージ(電気部品)
12a パッケージ本体
12b 端子
13 中間基板
14 配線基板
15,25,26 アダプター(取付手段)
15a 取付板部
15b ねじ部
16 ソケット本体
17 カバー
18 コンタクトピン
18a 下側接触部
18b 上側接触部
18c ばね部
19,28 コイルスプリング(取付手段)
20,27 ノブ(取付手段)
10 Electrical component measuring device
11 IC socket (socket for electrical parts)
12 IC package (electrical parts)
12a Package body
12b terminal
13 Intermediate board
14 Wiring board
15,25,26 Adapter (Mounting means)
15a Mounting plate
15b Screw part
16 Socket body
17 Cover
18 Contact pin
18a Lower contact part
18b Upper contact part
18c Spring part
19,28 Coil spring (mounting means)
20,27 Knob (Mounting means)
Claims (2)
前記電気部品の上側に取り付けられる取付手段と、
該取付手段により、前記電気部品上に覆うように配設されるソケット本体と、
該ソケット本体に設けられ、前記電気部品の端子に電気的に接続されるコンタクトピンとを有し、
前記取付手段は、前記電気部品に取り付けられるアダプターと、該アダプターに着脱自在に取り付けられるノブと、該ノブ及び前記ソケット本体の間に配設される付勢手段とを有し、
前記付勢手段は、前記中間基板に形成された開口部に挿通されて前記ソケット本体を前記電気部品側に押圧するように構成され、
前記コンタクトピンは、前記電気部品の前記端子に電気的に導通される下側接触部と、前記中間基板の電極に電気的に接続される上側接触部と、当該下側接触部および当該上側接触部間に形成されたばね部とを有し、
前記電気部品上に覆うように前記ソケット本体を配設し、前記ノブを操作して前記付勢手段によって前記ソケット本体を前記電気部品側に押圧した状態で、前記コンタクトピンの前記ばね部が弾性変形して前記下側接触部及び前記上側接触部が上下方向に変位することにより、前記下側接触部が前記電気部品の前記端子に、又、前記上側接触部が前記中間基板の前記電極に、それぞれ所定の接圧で接触するように構成されていることを特徴とする電気部品用ソケット。 An electrical component socket disposed on a wiring board for electrically connecting to an electrical component having a plurality of protruding terminals on the side, and for electrical connection between the electrical component and the intermediate substrate. ,
Mounting means mounted on the upper side of the electrical component;
A socket body disposed so as to cover the electrical component by the attachment means;
Provided on the socket body, it has a contact pin that is electrically connected to a terminal of the electrical component,
The attachment means includes an adapter attached to the electrical component, a knob detachably attached to the adapter, and an urging means disposed between the knob and the socket body,
The urging means is configured to be inserted through an opening formed in the intermediate substrate and press the socket body toward the electrical component side,
The contact pin includes a lower contact portion that is electrically connected to the terminal of the electrical component, an upper contact portion that is electrically connected to an electrode of the intermediate substrate, the lower contact portion, and the upper contact. A spring part formed between the parts,
The socket body is disposed so as to cover the electrical component, and the spring portion of the contact pin is elastic while the knob is operated and the socket body is pressed toward the electrical component by the biasing means. When the lower contact portion and the upper contact portion are displaced in the vertical direction by deformation, the lower contact portion becomes the terminal of the electrical component, and the upper contact portion becomes the electrode of the intermediate substrate. Each of the sockets for electrical parts is configured to contact at a predetermined contact pressure .
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2010158234A JP5584032B2 (en) | 2010-07-12 | 2010-07-12 | Socket for electrical parts |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2010158234A JP5584032B2 (en) | 2010-07-12 | 2010-07-12 | Socket for electrical parts |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2012022815A JP2012022815A (en) | 2012-02-02 |
| JP5584032B2 true JP5584032B2 (en) | 2014-09-03 |
Family
ID=45776941
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2010158234A Expired - Fee Related JP5584032B2 (en) | 2010-07-12 | 2010-07-12 | Socket for electrical parts |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP5584032B2 (en) |
Family Cites Families (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01132069U (en) * | 1988-03-04 | 1989-09-07 | ||
| US5166609A (en) * | 1990-05-24 | 1992-11-24 | Tektronix, Inc. | Adapter and test fixture for an integrated circuit device package |
| JPH06281697A (en) * | 1993-03-29 | 1994-10-07 | Fuji Facom Corp | Signal adapter for semiconductor chip |
| US5463324A (en) * | 1993-10-26 | 1995-10-31 | Hewlett-Packard Company | Probe with contacts that interdigitate with and wedge between adjacent legs of an IC or the like |
| JPH07239363A (en) * | 1994-01-06 | 1995-09-12 | Hewlett Packard Co <Hp> | Test assembly of integrated circuit, electrical conductivity bridge device and testing method of integrated circuit |
| US5507652A (en) * | 1995-02-17 | 1996-04-16 | Hewlett-Packard Company | Wedge connector for integrated circuits |
| DE19528012C2 (en) * | 1995-07-31 | 1998-07-02 | Hitex Systementwicklung Ges Fu | Adapter with a carrier having a contacting device |
| DE19528011A1 (en) * | 1995-07-31 | 1997-02-06 | Kontron Elektronik | Adapter with a carrier having a contacting device |
| JPH11148962A (en) * | 1997-11-14 | 1999-06-02 | Fujitsu Ltd | Inspection device for IC socket |
| JP2009301776A (en) * | 2008-06-11 | 2009-12-24 | Tokyo Eletec Kk | Ic-electric equipment connecting method and ic connection tool |
-
2010
- 2010-07-12 JP JP2010158234A patent/JP5584032B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2012022815A (en) | 2012-02-02 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN101604000B (en) | Component for testing device for electronic component and testing method of the electronic component | |
| JP6478949B2 (en) | High temperature ceramic socket configured to test packaged semiconductor devices | |
| JPH05196692A (en) | Connector assembly for testing integrated circuit package | |
| US20020123259A1 (en) | Electrical circuit connector with resilient pressure pads | |
| CN104202942B (en) | Printer | |
| JP2011228259A (en) | Connector and connector adapter | |
| JP3207512U (en) | connector | |
| KR101157366B1 (en) | High temperature ceramic die package and dut board socket | |
| CN101593885B (en) | Memory card connector | |
| JP5584032B2 (en) | Socket for electrical parts | |
| US20080146050A1 (en) | Electrical Connector | |
| JP2009193677A (en) | Adapter, socket, electronic device, and mounting method | |
| JP2014038762A (en) | Electric connection structure in electronic apparatus | |
| CN105849978A (en) | Test cables and socket adapters for test cables | |
| CN212514717U (en) | Small-interval compression joint detects uses elasticity flat probe and detection instrument | |
| JP2004273192A (en) | Tool for inspection of connector | |
| JP6064739B2 (en) | Board connecting connector and board connecting connector unit including the same | |
| CN101176238B (en) | Contact device for minimizing mechanical loading of SMT solder joints | |
| CN112490807B (en) | Signal lead-out device for power filter electrical performance test and power-on test | |
| JP4008450B2 (en) | Test fixture | |
| JP2848281B2 (en) | Testing equipment for semiconductor devices | |
| JP4632318B2 (en) | connector | |
| TWI262043B (en) | Socket assembly | |
| JPH0786700A (en) | Electric connection jig and electric connection method using the jig | |
| KR20110003411A (en) | Board connector |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20130626 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20140213 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20140325 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20140519 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20140708 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20140717 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5584032 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |