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JP5646861B2 - Measuring device and measuring method - Google Patents
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Description

本発明は、計測装置および計測方法に関する。   The present invention relates to a measuring device and a measuring method.

連続した曲面を有する計測対象に光ビームを投射して、投射光と当該対象面による反射光との関係から当該対象面の曲面形状を計測する計測装置がある(特許文献1参照)。
[先行技術文献]
[特許文献]
[特許文献1]特開2003−344028号公報
There is a measuring apparatus that projects a light beam onto a measurement target having a continuous curved surface and measures the curved surface shape of the target surface from the relationship between the projected light and the reflected light from the target surface (see Patent Document 1).
[Prior art documents]
[Patent Literature]
[Patent Document 1] Japanese Patent Application Laid-Open No. 2003-344028

しかしながら、精度の高い計測装置は計測範囲が狭いので、計測対象の寸法が限られる。一方、光ビームを変位させる光学系を加えて測定対象範囲を拡げると測定精度が低下する。   However, since the measuring device with high accuracy has a narrow measuring range, the dimension of the measuring object is limited. On the other hand, if an optical system for displacing the light beam is added to widen the measurement target range, the measurement accuracy decreases.

そこで、上記課題を解決すべく、本発明の第一態様として、対象面に向かって光ビームを投射する投射部と、対象面で反射された光ビームを受光して対象面の局所的形状を特定する特定部と、光ビームの投射角度を維持しつつ光ビームを並進させる並進部と、光ビームの並進に伴って特定部が順次特定する局所的形状を蓄積して、対象面の連続的形状を算出する算出部と、光ビームの投射角度を変更する変更部と、変更部が投射角度を第一角度から第二角度に変更した場合に、特定部に、第一角度による対象面への投射位置に第二角度により光ビームを投射させ、且つ、当該投射位置における局所的形状を再び特定させる制御部とを備え、対象面の形状を計測する計測装置が提供される。   Therefore, in order to solve the above-described problem, as a first aspect of the present invention, a projection unit that projects a light beam toward the target surface, and a light beam reflected by the target surface is received and the local shape of the target surface is determined. A specific part to be identified, a translation part that translates the light beam while maintaining the projection angle of the light beam, and a local shape that is sequentially identified by the specific part as the light beam is translated, When the calculation unit that calculates the shape, the changing unit that changes the projection angle of the light beam, and the changing unit changes the projection angle from the first angle to the second angle, the specific unit is moved to the target surface by the first angle. And a control unit that projects a light beam to the projection position at a second angle and specifies the local shape at the projection position again, and provides a measurement device that measures the shape of the target surface.

また、本発明の第二態様として、対象面に向かって光ビームを投射する投射段階と、対象面で反射された光ビームを受光して対象面の局所的形状を特定する特定段階と、光ビームの投射角度を維持しつつ光ビームを並進させて、局所的形状を順次蓄積する蓄積段階と、蓄積された局所的形状から対象面の連続的形状を算出する算出段階と、対象面で反射された光ビームの投射角度を変更する変更段階と、投射角度を第一角度から第二角度に変更した場合に、第一角度による対象面への投射位置に第二角度により光ビームを投射し、当該投射位置における局所的形状を再び特定する再特定段階とを備え、対象面の形状を計測する計測方法が提供される。   Further, as a second aspect of the present invention, a projecting step of projecting a light beam toward the target surface, a specifying step of receiving the light beam reflected by the target surface and specifying the local shape of the target surface, and light A translation stage that translates the light beam while maintaining the beam projection angle and sequentially accumulates the local shape, a calculation stage that calculates the continuous shape of the target surface from the accumulated local shape, and reflection at the target surface When the projection angle is changed from the first angle to the second angle, the light beam is projected by the second angle to the projection position on the target surface by the first angle. A re-specification step of re-identifying the local shape at the projection position, and a measurement method for measuring the shape of the target surface is provided.

上記の発明の概要は、本発明の必要な特徴の全てを列挙したものではない。また、これらの特徴群のサブコンビネーションも発明となり得る。   The above summary of the present invention does not enumerate all necessary features of the present invention. Further, a sub-combination of these feature groups can be an invention.

計測装置100の構造を示す模式的正面図である。1 is a schematic front view showing the structure of a measuring device 100. FIG. 計測装置100を用いた計測手順を示す流れ図である。3 is a flowchart showing a measurement procedure using the measurement apparatus 100. 計測装置100の動作を示す模式的正面図である。3 is a schematic front view showing the operation of the measuring apparatus 100. FIG. 計測装置100の動作を示す模式的正面図である。3 is a schematic front view showing the operation of the measuring apparatus 100. FIG. 計測装置100の動作を示す模式的正面図である。3 is a schematic front view showing the operation of the measuring apparatus 100. FIG. 計測装置100の動作を示す模式的正面図である。3 is a schematic front view showing the operation of the measuring apparatus 100. FIG. 計測装置100の動作を示す模式的正面図である。3 is a schematic front view showing the operation of the measuring apparatus 100. FIG. 計測装置100の他の構造を示す模式的正面図である。6 is a schematic front view showing another structure of the measuring device 100. FIG. 計測装置100の他の構造を示す模式的正面図である。6 is a schematic front view showing another structure of the measuring device 100. FIG. 計測装置100の他の構造を示す模式的平面図である。6 is a schematic plan view showing another structure of the measuring device 100. FIG. 計測装置100の構造を示す模式的正面図である。1 is a schematic front view showing the structure of a measuring device 100. FIG.

以下、発明の実施の形態を通じて本発明を説明するが、以下の実施形態は特許請求の範囲にかかる発明を限定するものではない。また、実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。   Hereinafter, the present invention will be described through embodiments of the invention, but the following embodiments do not limit the invention according to the claims. In addition, not all the combinations of features described in the embodiments are essential for the solving means of the invention.

図1は、計測装置100の構造を示す模式的正面図である。計測装置100は、枠体110と、枠体110に装着されたオートコリメータ120、並進テーブル130、回転テーブル140および光学系150を備える。   FIG. 1 is a schematic front view showing the structure of the measuring apparatus 100. The measuring apparatus 100 includes a frame body 110, an autocollimator 120 attached to the frame body 110, a translation table 130, a rotary table 140, and an optical system 150.

枠体110は、水平な定盤116と、定盤116上に起立する複数の支柱114と、支柱114に水平に支持されたガイドレール112とを有する。ガイドレール112、支柱114および定盤116はそれぞれ高剛性な材料により形成される。これにより、後述する計測装置100の動作に伴う反力が作用した場合も枠体110は変形しない。なお、定盤116の上面には、計測装置100に形状を計測される対象となる試料160が置かれる。   The frame body 110 includes a horizontal surface plate 116, a plurality of support columns 114 standing on the surface plate 116, and a guide rail 112 supported horizontally by the support columns 114. The guide rail 112, the support column 114, and the surface plate 116 are each formed of a highly rigid material. As a result, the frame 110 is not deformed even when a reaction force due to the operation of the measuring apparatus 100 described later is applied. A sample 160 whose shape is to be measured by the measuring apparatus 100 is placed on the upper surface of the surface plate 116.

オートコリメータ120は、支柱114のひとつに水平に支持されて、水平な光ビームBを出射する。光ビームBは、後述する固定鏡154および回転鏡152に順次反射されて、試料160上面の投射位置Pに投射される。 Autocollimator 120 is supported horizontally on one of the struts 114, it emits a horizontal light beam B 1. Light beams B 1 is sequentially reflected on the fixed mirror 154 and turning mirror 152 will be described later, it is projected to the projection position P 1 of the sample 160 upper surface.

なお、オートコリメータ120は、試料160に投射した光ビームBの反射光を受光して、光ビームBが投射された投射位置Pにおける試料160表面の傾きを測定する。換言すれば、オートコリメータ120の測定範囲は、出射した光ビームBの反射光を、オートコリメータ120自体が受光できる範囲に制限される。 Incidentally, autocollimator 120 receives the reflected light of the light beams B 1 which is projected on the sample 160, the light beam B 1 is to measure the tilt of the sample 160 surface in has been projected position P 1 projection. In other words, the measurement range of the autocollimator 120, the reflected light of the light beams B 1 emitted, autocollimator 120 itself is limited to a range that can be received.

並進テーブル130は、ガイドレール112から支持されつつ、図示していない駆動部に駆動されて、ガイドレール112に沿って水平に並進する。ここで、ガイドレール112および並進テーブル130には、図示していないリニアスケールおよびリニアエンコーダ等が配され、並進テーブル130の移動量を検出できる。   The translation table 130 is supported by the guide rail 112 and is driven by a drive unit (not shown) to translate horizontally along the guide rail 112. Here, the guide rail 112 and the translation table 130 are provided with a linear scale and a linear encoder (not shown), and the amount of movement of the translation table 130 can be detected.

また、並進テーブル130には、回転テーブル140および光学系150が搭載される。並進テーブル130が移動した場合、回転テーブル140および光学系150も並進テーブル130と共に移動する。   The translation table 130 is equipped with a rotary table 140 and an optical system 150. When the translation table 130 moves, the rotary table 140 and the optical system 150 also move with the translation table 130.

光学系150は、回転鏡152および固定鏡154を含む。固定鏡154は、並進テーブル130に直接に固定され、並進テーブル130が移動した場合は共に並進する。また、固定鏡154は、オートコリメータ120が出射した水平な光ビームBを、並進テーブル130の位置に関わりなく、回転鏡152に向かって反射する。 The optical system 150 includes a rotating mirror 152 and a fixed mirror 154. The fixed mirror 154 is directly fixed to the translation table 130, and translates together when the translation table 130 moves. The fixed mirror 154 reflects the horizontal light beam B 1 emitted from the autocollimator 120 toward the rotary mirror 152 regardless of the position of the translation table 130.

回転鏡152は、並進テーブル130に搭載された回転テーブル140に対して固定される。回転テーブル140は、光ビームBおよび並進テーブル130の並進方向に直交する回転軸の回りに回転する。回転鏡152は、回転テーブル140の回転軸と平行な反射面を有する。 The rotary mirror 152 is fixed with respect to the rotary table 140 mounted on the translation table 130. The rotary table 140 rotates around a rotation axis orthogonal to the light beam B 1 and the translation direction of the translation table 130. The rotary mirror 152 has a reflecting surface parallel to the rotation axis of the rotary table 140.

なお、回転テーブル140および並進テーブル130の間には、図示していないロータリースケールおよびロータリエンコーダが配される。これにより、回転テーブル140が回転した場合の回転角度を計測できる。   A rotary scale and a rotary encoder (not shown) are disposed between the rotary table 140 and the translation table 130. Thereby, the rotation angle when the turntable 140 rotates can be measured.

これにより、回転テーブル140が回転した場合、回転鏡152は、固定鏡154から受けた光ビームBの試料160に対する投射角度を変化させることができる。光ビームBの投射角度を変化させた場合は、試料160による光ビームBの反射光の反射角度も変化する。ただし、光ビームBの投射角度を変化させた場合、定盤116上における試料160に対する光ビームBの投射位置Pも変化する。 Thereby, when the rotary table 140 rotates, the rotary mirror 152 can change the projection angle of the light beam B 1 received from the fixed mirror 154 with respect to the sample 160. When changing the projection angle of the light beam B 1, also changes the reflection angle of the reflected light of the light beams B 1 by the sample 160. However, when changing the projection angle of the light beam B 1, the projection position P 1 of the light beams B 1 to the sample 160 on the platen 116 is also changed.

回転テーブル140を固定した状態で並進テーブル130を並進させた場合は、試料160に対する光ビームBの投射角度を維持したまま、光ビームBを並進させることができる。これにより、光ビームBの試料160に対する照射角度を維持したまま、照射位置Pを移動させることができる。 When the translation table 130 is translated with the rotary table 140 fixed, the light beam B 1 can be translated while maintaining the projection angle of the light beam B 1 with respect to the sample 160. Thereby, the irradiation position P 1 can be moved while maintaining the irradiation angle of the light beam B 1 with respect to the sample 160.

ここで、回転鏡152および固定鏡154の一対の反射鏡を組み合わせて光ビームBを誘導することにより、ガイドレール112の不陸等に起因する並進テーブル130の並進に伴う傾きの変化等を自律的に打ち消すことができる。これにより、並進テーブル130を移動させながら計測した場合の計測精度が維持される。 Here, by combining the pair of reflecting mirrors of the rotating mirror 152 and the fixed mirror 154 to guide the light beam B 1 , the change in the tilt accompanying the translation of the translation table 130 due to the unevenness of the guide rail 112 or the like can be reduced. Can cancel autonomously. Thereby, the measurement precision at the time of measuring while moving the translation table 130 is maintained.

なお、制御部118は、上記並進テーブル130および回転テーブル140の動作を制御する。また、並進テーブル130を並進させた場合、および、回転テーブル140を回転させた場合、制御部118は、その移動量および回転量を測定して保持する。更に、制御部118は、オートコリメータ120の測定結果に基づいて、後述するように試料160の形状を算出する。   The control unit 118 controls the operations of the translation table 130 and the rotary table 140. When the translation table 130 is translated and when the rotary table 140 is rotated, the control unit 118 measures and holds the movement amount and the rotation amount. Further, the control unit 118 calculates the shape of the sample 160 based on the measurement result of the autocollimator 120 as described later.

図2は、計測装置100を用いた計測手順を示す流れ図である。また、図3から図7は、計測装置100の動作を、その段階毎に示す。以下、図3から図7までを順次参照しつつ、図2に示す計測手順を説明する。なお、図2から図7までにおいて、図1と同じ要素には同じ参照番号を付して重複する説明を省く。   FIG. 2 is a flowchart showing a measurement procedure using the measurement apparatus 100. 3 to 7 show the operation of the measuring apparatus 100 for each stage. The measurement procedure shown in FIG. 2 will be described below with reference to FIGS. 3 to 7 in order. 2 to 7, the same elements as those in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals and redundant description is omitted.

まず、定盤116に試料160を載置し、次いでオートコリメータ120を起動して、図1に示したように、固定鏡154および回転鏡152を介して、光ビームBを試料160に投射する(ステップS101)。ここで、制御部118は、投射された光ビームBの、試料160による反射光がオートコリメータ120に受光されているか否かを調べる(ステップS102)。 First, the sample 160 is placed on the platen 116, and then start the auto-collimator 120, as shown in FIG. 1, via a fixed mirror 154 and turning mirror 152, the projection light beams B 1 to the sample 160 (Step S101). Here, the control unit 118 checks the projected light beam B 1, whether light reflected by a sample 160 is received by the autocollimator 120 (step S102).

図3に示すように、試料160による反射光がオートコリメータ120に受光されている場合(ステップS102:YES)、オートコリメータ120が、光ビームBが投射された位置における試料160の表面の傾きを測定し、制御部118が測定結果を記録する(ステップS103)。これにより、光ビームBが投射された投射位置Pにおける試料160の局所的な形状が特定される。 FIG as shown in 3, if the light reflected by the sample 160 is received by the autocollimator 120 (step S102: YES), the autocollimator 120 is, the inclination of the surface of the sample 160 at the position where the light beams B 1 is projected , And the control unit 118 records the measurement result (step S103). Thus, local shape of the light beam B 1 is the sample 160 in has been projected position P 1 projection is identified.

更に、投射位置Pにおける試料160の局所的な形状を特定できた場合に、制御部118は、当該局所的形状を最後に特定できた投射位置を記録する。更に、以下のステップで局所的形状が特定される毎に、制御部118は当該投射位置を更新する(ステップS104)。 Furthermore, when the can identify local shape of the sample 160 in the projection position P 1, the control unit 118 records the projection position can be identified the local shape at the end. Furthermore, every time a local shape is specified in the following steps, the control unit 118 updates the projection position (step S104).

なお、試料160に対する光ビームBの投射位置は、例えば、光ビームBの投射位置に他の光源から投射したビームマーカにより記録できる。また、並進テーブル130の位置および光ビームBの投射角度に基づいて、制御部118が光ビームBの投射位置を算出して、制御部118がその値を保持してもよい。 Incidentally, the projection position of the light beams B 1 to the sample 160, for example, can be recorded by a beam markers projected from another light source to the projection position of the light beams B 1. Further, based on the projection angle of the position and the light beams B 1 of the translation table 130, the control unit 118 calculates the projection position of the light beam B 1, the control unit 118 may hold the value.

次に、図4に矢印Mで示すように、制御部118は、並進テーブル130をガイドレール112に沿って移動させる(ステップS105)。並進テーブル130を移動させた後には、投射した光ビームBが試料160に投射されているか否かを調べる(ステップS106)。 Next, as shown by the arrow M 1 in FIG. 4, the control unit 118 moves along the translation table 130 to the guide rail 112 (step S105). After moving the translation table 130, checks whether or not the light beams B 1 was projected is projected on the sample 160 (step S106).

光ビームBの投射位置が試料160の存在する範囲を通りすぎている場合(ステップS106:NO)は、試料160の形状計測を終了する。なお、光ビームBの投射位置が試料160の存在する範囲を通りすぎていることは、試料160の既知の仕様から予測することもできるし、オートコリメータ120による測定結果が突然に大きく変化したことにより検知することもできる。 If the projection position of the light beams B 1 is too as a range in the presence of the sample 160 (step S106: NO) ends the shape measurement of the sample 160. Incidentally, the projection position of the light beam B 1 is that too through the existence range of the sample 160 may be predicted from the known specification of the sample 160, the measurement result by the autocollimator 120 is changed suddenly large Can also be detected.

並進テーブル130の移動後も光ビームBが試料160に投射されている場合(ステップS106:YES)は、ステップS102からステップS106までを繰り返すことにより、例えば、図4に示すように、投射位置PからPまで、試料160の表面の局所的な傾きを次々に計測して蓄積できる。このとき、回転テーブル140は固定されており、光ビームBの試料160に対する投射角度は角度αに保たれる。 If after movement of the translation table 130 also has the light beams B 1 is projected on the sample 160 (step S106: YES), by repeating steps S102 to step S106, for example, as shown in FIG. 4, the projection position From P 1 to P 2 , the local inclination of the surface of the sample 160 can be measured and accumulated one after another. At this time, the turntable 140 is fixed, projection angle with respect to the sample 160 of the light beams B 1 is kept at an angle alpha.

ただし、例えば、図5に示すように光ビームBの投射位置がPまで移動して、試料160表面の傾きが大きく変化した場合、光ビームBの反射光がオートコリメータ120に受光されなくなる(ステップS102:NO)。このような場合、制御部118は、図6に矢印Rで示すように、回転テーブル140を回転させて回転鏡152の角度を角度βに変更する(ステップS107)。 However, for example, as shown in FIG. 5, when the projection position of the light beam B 1 moves to P 3 and the inclination of the surface of the sample 160 changes greatly, the reflected light of the light beam B 1 is received by the autocollimator 120. (Step S102: NO) In such a case, the control unit 118 rotates the rotary table 140 to change the angle of the rotary mirror 152 to the angle β as indicated by an arrow R in FIG. 6 (step S107).

更に、制御部118は、投射角度を角度βに保ったまま、図7に矢印Mで示すように、並進テーブル130を移動させて、光ビームBの試料160に対する投射位置を、局所的形状を特定できた最後の投射位置として記録されている投射位置Pに合わせる(ステップS108)。この状態で、再び、光ビームBの試料160による反射光がオートコリメータ120に受光されているか否かを調べる(ステップS102)。 Furthermore, the control unit 118, while maintaining the projection angle to the angle beta, as shown by arrow M 3 in FIG. 7, by moving the translation table 130, the projection position with respect to the sample 160 of the light beam B 1, local fit the projection position P 2, which is recorded as the last projection position can be identified the shape (step S108). In this state, again, checks whether the light reflected by a sample 160 of the light beams B 1 is received by the autocollimator 120 (step S102).

以下、光ビームBの反射光がオートコリメータ120に受光されるまで、上記のステップS102、S107およびS108を繰り返すことにより、新たな投射角度で、最後に局部的形状を特定できた投射位置Pから、試料160の形状特定を再開できる。これにより、試料160が存在する範囲から光ビームBの投射位置がはずれるまで、試料160の表面の局所的形状を繰り返し特定できる。こうして得られた局所的形状を積分することにより、試料160の表面形状を、正確且つ連続的に計測できる。 Hereinafter, the reflection light of the light beams B 1 is received by the autocollimator 120, by repeating steps S102, S107 and S108 described above, a new projection angle, the projection position P which can identify the last local shape From 2 , the shape specification of the sample 160 can be resumed. Thus, the range to the presence of the sample 160 to the projection position of the light beam B 1 is disengaged, can be identified repeatedly local shape of the surface of the sample 160. By integrating the local shape thus obtained, the surface shape of the sample 160 can be measured accurately and continuously.

なお、上記の例では、投射角度の変更(ステップS107)、投射位置合わせ(ステップS108)および反射光の受光確認(ステップS102)を繰り返すと記載した。しかしながら、試料160の表面形状は、多くの場合滑らかに連続しているので、直前の計測内容から、次に設定すべき投射角度と、当該投射角度に応じた投射位置合わせに求められる並進テーブル130の移動量を予測することができる。   In the above example, it is described that the change of the projection angle (step S107), the alignment of the projection position (step S108), and the reception confirmation of the reflected light (step S102) are repeated. However, since the surface shape of the sample 160 is smoothly continuous in many cases, the translation table 130 required for the projection angle to be set next and the projection position matching according to the projection angle is determined from the immediately preceding measurement content. The amount of movement can be predicted.

また、上記の説明では、オートコリメータ120が反射光を受光しなくなってから投射角度を変更する手順を説明した。しかしながら、オートコリメータ120による試料160表面の測定値が、オートコリメータ120の測定限界にある程度近づいた時点で、投射角度を変更してもよい。これにより、オートコリメータ120の測定可能範囲の中央付近を使って、より高い精度で試料160の局所的形状を特定できる。   In the above description, the procedure for changing the projection angle after the autocollimator 120 stops receiving reflected light has been described. However, the projection angle may be changed when the measured value of the surface of the sample 160 by the autocollimator 120 approaches the measurement limit of the autocollimator 120 to some extent. Thereby, the local shape of the sample 160 can be specified with higher accuracy using the vicinity of the center of the measurable range of the autocollimator 120.

図8は、計測装置100の他の構造を示す模式的正面図である。なお、図8に示した計測装置100は、以下に説明する部分を除くと、図1に示した計測装置100と同じ構造を有する。そこで、共通の要素には同じ参照番号を付して重複する説明を省く。   FIG. 8 is a schematic front view showing another structure of the measuring apparatus 100. The measurement apparatus 100 shown in FIG. 8 has the same structure as the measurement apparatus 100 shown in FIG. 1 except for the parts described below. Therefore, common elements are denoted by the same reference numerals, and redundant description is omitted.

図8に示す計測装置100は、オートコリメータ120に換えて、1対のレーザ測長機172、174を備える点に固有の特徴がある。即ち、一対のレーザ測長機172、174は、僅かな間隔をおいて平行な光ビームB、Bを出射して、固定鏡154および回転鏡152を介して試料160に照射する。 The measuring apparatus 100 shown in FIG. 8 is unique in that it includes a pair of laser length measuring devices 172 and 174 instead of the autocollimator 120. That is, the pair of laser length measuring instruments 172 and 174 emit parallel light beams B 3 and B 4 at a slight interval, and irradiate the sample 160 via the fixed mirror 154 and the rotating mirror 152.

一対のレーザ測長機172、174の各々は、測定対象までの距離を測定できるが、上記のような構成とすることにより、差動レーザ測長機170を形成できる。これにより、個々のレーザ測長機172、174の測定誤差を打ち消して、光ビームB、Bの投射位置までの距離を高精度に特定できる。よって、試料160の表面に沿って繰り返し計測した投射位置を蓄積して積分することにより、試料160の表面の形状を高精度に計測できる。 Each of the pair of laser length measuring devices 172 and 174 can measure the distance to the measurement target, but the differential laser length measuring device 170 can be formed by adopting the above configuration. Thereby, the measurement errors of the individual laser length measuring machines 172 and 174 are canceled out, and the distances to the projection positions of the light beams B 3 and B 4 can be specified with high accuracy. Therefore, by accumulating and integrating the projection positions repeatedly measured along the surface of the sample 160, the shape of the surface of the sample 160 can be measured with high accuracy.

なお、この計測装置100の場合も、試料160に対する光ビームB、Bの投射角度を変更した場合に、最後に形状を特定できた位置と同じ、試料160の表面における投射位置に光ビームB、Bを投射して計測を再開する。これにより、高い測定精度を連続的に継続させた表面形状を計測できる。 In the case of this measuring apparatus 100 as well, when the projection angle of the light beams B 3 and B 4 with respect to the sample 160 is changed, the light beam is projected to the projection position on the surface of the sample 160, which is the same as the position where the shape was finally specified. B 3 and B 4 are projected to restart measurement. Thereby, it is possible to measure a surface shape in which high measurement accuracy is continuously continued.

上記のような計測装置100においては、1対のレーザ測長機172、174が発生する2本の光ビームB、Bの間隔を変更できる。よって、計測に求められる計測精度が低い場合は、光ビームB、Bの間隔をより広くして、測定作業にかかる時間を短縮できる。なお、局所的形状の測定間隔を拡げることによっても同様の効果が得られる。 In the measurement apparatus 100 as described above, the interval between the two light beams B 3 and B 4 generated by the pair of laser length measuring devices 172 and 174 can be changed. Therefore, when the measurement accuracy required for the measurement is low, the interval between the light beams B 3 and B 4 can be increased to shorten the time required for the measurement work. The same effect can be obtained by widening the measurement interval of the local shape.

図9は、計測装置100のまた他の構造を示す模式的正面図である。なお、図9に示した計測装置100も、以下に説明する部分を除くと、図1に示した計測装置100と同じ構造を有する。そこで、共通の要素には同じ参照番号を付して重複する説明を省く。   FIG. 9 is a schematic front view showing still another structure of the measuring apparatus 100. Note that the measurement apparatus 100 shown in FIG. 9 also has the same structure as the measurement apparatus 100 shown in FIG. 1 except for the parts described below. Therefore, common elements are denoted by the same reference numerals, and redundant description is omitted.

図9に示す計測装置100は、並進テーブル130上の回転テーブル140に、回転鏡152に換えて、他のオートコリメータ124を搭載する点に固有の特徴がある。オートコリメータ124が出射する光ビームBは、定盤116上の試料160に直接に投射される。 The measuring apparatus 100 shown in FIG. 9 has a characteristic feature in that another autocollimator 124 is mounted on the rotary table 140 on the translation table 130 instead of the rotary mirror 152. The light beam B 1 emitted from the autocollimator 124 is directly projected onto the sample 160 on the surface plate 116.

また、計測装置100は、並進テーブル130に固定された固定鏡156と、支柱114のひとつに水平に固定されたオートコリメータ122とを備える。固定鏡156は、オートコリメータ122が出射した光ビームBを反射して、再びオートコリメータ122に返す。これにより、並進テーブル130の移動に伴ってオートコリメータ124に生じた傾き等をオートコリメータ122により検出して、オートコリメータ124による計測値を補正できる。 The measuring apparatus 100 also includes a fixed mirror 156 fixed to the translation table 130 and an autocollimator 122 fixed horizontally to one of the columns 114. The fixed mirror 156 reflects the light beam B 5 emitted from the autocollimator 122 and returns it to the autocollimator 122 again. Thereby, the inclination etc. which arise in the autocollimator 124 with the movement of the translation table 130 are detected by the autocollimator 122, and the measurement value by the autocollimator 124 can be corrected.

更に、この計測装置100の場合も、回転テーブル140を回転させて試料160に対する光ビームBの投射角度を変更した場合に、その直前に試料の局部的形状を特定できた位置に、再び光ビームBを投射して、同じ位置の局部的形状を、異なる投射角度の光ビームBにより特定する。これにより、高い測定精度を連続的に継続させた表面形状を計測できる。 Furthermore, even if the measuring apparatus 100, when rotating the rotary table 140 to change the projection angle of the light beams B 1 to the sample 160, the position can be specified locally shape of the sample immediately before, again light The beam B 1 is projected, and the local shape at the same position is specified by the light beam B 1 having a different projection angle. Thereby, it is possible to measure a surface shape in which high measurement accuracy is continuously continued.

上記のような計測装置100においては、計測に使用する光ビームB、Bの各々の光路長が短い。これにより、計測環境の温度変化、雰囲気の揺らぎ等の影響を受け難く、測定精度の向上と安定が得られる。 In the measurement apparatus 100 as described above, the optical path lengths of the light beams B 1 and B 5 used for measurement are short. Thereby, it is difficult to be affected by temperature change of the measurement environment, fluctuation of atmosphere, etc., and improvement and stability of measurement accuracy can be obtained.

なお、上記の計測装置100において、回転するオートコリメータ124は、当該オートコリメータ124の光軸と回転テーブル140の回転軸とが交差するように配置されてもよい。これにより、試料160の全体の形状を算出する場合の計算が容易になる。ただし、オートコリメータ124の光軸と回転テーブル140の回転軸とが交差していない場合であっても、両者のずれ量が判っていれば、試料160の正確な形状を算出できる。換言すれば、当該ずれ量の測定を誤った場合は、測定結果に誤差が生じる。   In the measurement apparatus 100 described above, the rotating autocollimator 124 may be disposed so that the optical axis of the autocollimator 124 and the rotation axis of the rotary table 140 intersect. This facilitates calculation when calculating the overall shape of the sample 160. However, even if the optical axis of the autocollimator 124 and the rotation axis of the rotary table 140 do not intersect, the accurate shape of the sample 160 can be calculated if the amount of deviation between the two is known. In other words, if the measurement of the deviation amount is wrong, an error occurs in the measurement result.

図10は、計測装置100の他の構造を示す模式的平面図である。また、図11は、図10に示した計測装置100の、図中Y方向から見た側面図である。図10および図11においても、他の計測装置100と共通の要素に同じ参照番号を付して重複する説明を省く。   FIG. 10 is a schematic plan view showing another structure of the measuring apparatus 100. FIG. 11 is a side view of the measuring apparatus 100 shown in FIG. 10 as viewed from the Y direction in the figure. 10 and FIG. 11, the same reference numerals are assigned to the same elements as those of the other measurement apparatuses 100 and redundant description is omitted.

計測装置100は、定盤116から起立した支柱の上端面に、一対のガイドレール182を備える。ガイドレール182は、図11において紙面に直交し、図10に示すY方向に延在する。また、ガイドレール182は、X方向に延在する移動ガイドレール184の両端と係合する。これにより、移動ガイドレール184は、ガイドレール182に沿って、図11において紙面に直交するY方向に移動する。   The measuring apparatus 100 includes a pair of guide rails 182 on the upper end surface of the support column that stands up from the surface plate 116. The guide rail 182 is orthogonal to the paper surface in FIG. 11 and extends in the Y direction shown in FIG. The guide rail 182 engages with both ends of the moving guide rail 184 extending in the X direction. Accordingly, the moving guide rail 184 moves along the guide rail 182 in the Y direction orthogonal to the paper surface in FIG.

また、一方の支柱114の上端に、ガイドレール182と平行に、オートコリメータ120が支持される。オートコリメータ120は、ガイドレール182と平行に、移動ガイドレール184の側面に向かって光ビームBを出射する。 In addition, the autocollimator 120 is supported on the upper end of one of the columns 114 in parallel with the guide rail 182. The autocollimator 120 emits the light beam B 1 toward the side surface of the moving guide rail 184 in parallel with the guide rail 182.

移動ガイドレール184の側面には、水平面上で光ビームBの伝播方向を変更する導入鏡186が配される。導入鏡186により反射されることにより、光ビームBは、ガイドレール182上の移動ガイドレール184の位置如何にかかわらず、移動ガイドレール184の長手方向に、移動ガイドレール184と平行に伝播する。 The side surfaces of the moving guide rail 184, the introduction mirror 186 for changing the propagation direction of the light beams B 1 on a horizontal plane is disposed. By being reflected by the introduction mirror 186, the light beam B 1 propagates in the longitudinal direction of the moving guide rail 184 in parallel with the moving guide rail 184 regardless of the position of the moving guide rail 184 on the guide rail 182. .

また、移動ガイドレール184の側面には、並進テーブル130と、並進テーブル130に搭載された回転テーブル140とが配される。並進テーブル130には固定鏡154が、回転テーブル140には回転鏡152がそれぞれ搭載される。   A translation table 130 and a rotary table 140 mounted on the translation table 130 are disposed on the side surface of the movement guide rail 184. A fixed mirror 154 is mounted on the translation table 130, and a rotary mirror 152 is mounted on the rotary table 140.

並進テーブル130は、図示していない駆動部に駆動されて、移動ガイドレール184に沿って水平に並進する。固定鏡154は、並進テーブル130と共に並進する。固定鏡154は、導入鏡186により反射された光ビームBを受けて、並進テーブル130の位置に関わりなく回転鏡152に向かって反射する。 The translation table 130 is driven by a drive unit (not shown) and translates horizontally along the movement guide rail 184. The fixed mirror 154 translates with the translation table 130. The fixed mirror 154 receives the light beam B 1 reflected by the introduction mirror 186 and reflects it toward the rotary mirror 152 regardless of the position of the translation table 130.

回転鏡152は、固定鏡154から受けた光ビームBの投射角度を変化させることができる。光ビームBの投射角度を変化させた場合、定盤116上における試料160に対する光ビームBの投射位置Pも変化する。よって、回転鏡152を適切に回転させることにより、試料160に対する光ビームBの投射位置Pを変更できる。 The rotating mirror 152 can change the projection angle of the light beam B 1 received from the fixed mirror 154. When changing the projection angle of the light beam B 1, the projection position P 1 of the light beams B 1 to the sample 160 on the platen 116 is also changed. Therefore, the projection position P 1 of the light beam B 1 with respect to the sample 160 can be changed by appropriately rotating the rotary mirror 152.

また、回転テーブル140を固定した状態で並進テーブル130を並進させた場合、試料160に対する光ビームBの照射角度を維持したまま、光ビームBを並進させることができる。これにより、光ビームBの試料160に対する照射角度を維持したまま、照射位置Pを移動させることができる。 When the translation table 130 is translated with the rotary table 140 fixed, the light beam B 1 can be translated while maintaining the irradiation angle of the light beam B 1 with respect to the sample 160. Thereby, the irradiation position P 1 can be moved while maintaining the irradiation angle of the light beam B 1 with respect to the sample 160.

よって、移動ガイドレール184が停止している場合、移動ガイドレール184を、図1におけるガイドレール112と見做すことにより、移動ガイドレール184と平行なひとつの面で切った試料160の表面形状を、図1に示した計測装置100と同様に計測できる。   Therefore, when the moving guide rail 184 is stopped, the surface shape of the sample 160 cut by one plane parallel to the moving guide rail 184 is considered by considering the moving guide rail 184 as the guide rail 112 in FIG. Can be measured in the same manner as the measuring apparatus 100 shown in FIG.

更に、移動ガイドレール184を移動させることにより、他の面で切った場合の試料160の表面形状を計測できる。従って、移動ガイドレール184を繰り返し移動させることにより、試料160の表面の二次元的な形状を計測できる。   Furthermore, by moving the moving guide rail 184, the surface shape of the sample 160 when cut by another surface can be measured. Therefore, the two-dimensional shape of the surface of the sample 160 can be measured by repeatedly moving the moving guide rail 184.

なお、定盤116上で試料160を支持する試料台190を回転可能にすることにより、レンズのように回転体形状を有する試料160の形状を効率よく計測できる。   In addition, by making the sample stage 190 that supports the sample 160 on the surface plate 116 rotatable, the shape of the sample 160 having a rotating body shape like a lens can be efficiently measured.

なお、上記の実施形態はいずれの場合も、水平の定盤116または試料台190に試料160を載置して、その上面の形状を計測している。しかしながら、計測時の光ビームの方向がこれに限られるわけではない。また、光学素子の表面形状の計測等では、試料の形状への重力の影響も加味して、実装状態の光学素子の表面形状を測定する場合もある。このような場合は、いわば、試料160に対して計測装置100を取り付けて形状を測定する。   In any of the above embodiments, the sample 160 is placed on the horizontal surface plate 116 or the sample stage 190, and the shape of the upper surface thereof is measured. However, the direction of the light beam at the time of measurement is not limited to this. Further, in measurement of the surface shape of the optical element, the surface shape of the mounted optical element may be measured in consideration of the influence of gravity on the shape of the sample. In such a case, so to speak, the measuring device 100 is attached to the sample 160 and the shape is measured.

以上、本発明を実施の形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施の形態に記載の範囲には限定されない。上記実施の形態に、多様な変更または改良を加えることが可能であることが当業者に明らかである。その様な変更または改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、特許請求の範囲の記載から明らかである。   As mentioned above, although this invention was demonstrated using embodiment, the technical scope of this invention is not limited to the range as described in the said embodiment. It will be apparent to those skilled in the art that various modifications or improvements can be added to the above-described embodiment. It is apparent from the scope of the claims that the embodiments added with such changes or improvements can be included in the technical scope of the present invention.

特許請求の範囲、明細書、および図面中において示した装置、システム、プログラム、および方法における動作、手順、ステップ、および段階等の各処理の実行順序は、特段「より前に」、「先立って」等と明示しておらず、また、前の処理の出力を、後の処理で用いる場合でない限り、任意の順序で実現しうることに留意されたい。特許請求の範囲、明細書、および図面中の動作フローに関して、便宜上「まず、」、「次に、」等を用いて説明したとしても、この順で実施することが必須であることを意味するものではない。   The order of execution of each process such as operations, procedures, steps, and stages in the apparatus, system, program, and method shown in the claims, the description, and the drawings is particularly “before” or “prior to”. It should be noted that the output of the previous process may be realized in any order unless used in a subsequent process. Regarding the operation flow in the claims, the description, and the drawings, even if it is described using “first”, “next”, etc. for convenience, it means that it is essential to carry out in this order. It is not a thing.

100 計測装置、110 枠体、112、182 ガイドレール、114 支柱、116 定盤、118 制御部、120、122、124 オートコリメータ、130 並進テーブル、140 回転テーブル、150 光学系、152 回転鏡、154、156 固定鏡、160 試料、170 差動レーザ測長機、172、174 レーザ測長機、184 移動ガイドレール、186 導入鏡、190 試料台 DESCRIPTION OF SYMBOLS 100 Measuring apparatus, 110 Frame, 112, 182 Guide rail, 114 support | pillar, 116 Surface plate, 118 Control part, 120, 122, 124 Autocollimator, 130 Translation table, 140 Rotary table, 150 Optical system, 152 Rotary mirror, 154 156 Fixed mirror, 160 samples, 170 Differential laser length measuring machine, 172, 174 Laser length measuring machine, 184 Moving guide rail, 186 Introduction mirror, 190 Sample stand

Claims (9)

対象面に向かって光ビームを投射する投射部と、
前記対象面で反射された前記光ビームを受光して前記対象面の局所的な傾斜により局所的形状を特定する特定部と、
前記光ビームの投射角度を維持しつつ前記光ビームを並進させる並進部と、
前記光ビームの並進に伴って前記特定部が順次特定する前記局所的形状を蓄積して、前記対象面の連続的形状を算出する算出部と、
前記光ビームの投射角度を変更する変更部と、
前記変更部が前記投射角度を第一角度から第二角度に変更した場合に、前記特定部に、前記第一角度による前記対象面への投射位置に前記第二角度により前記光ビームを投射させ、且つ、当該投射位置における局所的形状を再び特定させる制御部と
を備え、前記対象面の形状を計測する計測装置。
A projection unit that projects a light beam toward a target surface;
A specifying unit that receives the light beam reflected by the target surface and specifies a local shape by a local inclination of the target surface;
A translation unit that translates the light beam while maintaining a projection angle of the light beam;
A calculation unit that accumulates the local shapes sequentially specified by the specifying unit in accordance with the translation of the light beam, and calculates a continuous shape of the target surface;
A changing unit for changing a projection angle of the light beam;
When the changing unit changes the projection angle from the first angle to the second angle, the specifying unit causes the light beam to be projected at the projection position on the target surface by the first angle at the second angle. And a control unit for re-specifying the local shape at the projection position, and measuring the shape of the target surface.
前記変更部は、前記対象面により反射された前記光ビームが、前記特定部に受光される範囲に前記投射角度を変更する請求項1に記載の計測装置。   The measuring device according to claim 1, wherein the changing unit changes the projection angle to a range in which the light beam reflected by the target surface is received by the specifying unit. 前記変更部は、前記対象面による前記光ビームの反射角度がより小さくなるように前記投射角度を変更する請求項1または請求項2に記載の計測装置。   The measuring apparatus according to claim 1, wherein the changing unit changes the projection angle so that a reflection angle of the light beam by the target surface becomes smaller. 前記算出部は、蓄積された前記局所的形状を積分して前記連続的形状を算出する請求項1から請求項3までのいずれか1項に記載の計測装置。 The measuring device according to claim 1 , wherein the calculation unit calculates the continuous shape by integrating the accumulated local shape. 前記変更部は、
発生した前記光ビームを反射する固定鏡と、
前記固定鏡が反射した光ビームを更に反射して前記対象面に投射し、且つ、揺動して前記投射角度を変更する可動鏡と
を有する請求項1から請求項4までのいずれか1項に記載の計測装置。
The changing unit is
A fixed mirror that reflects the generated light beam;
The fixed mirror is further reflected light beam reflected projected on the target surface, and any one of claims 1 and a movable mirror for changing the projection angle swings to claim 4 measuring device according to.
前記変更部は、
前記対象面に向かって光ビームを投射するオートコリメータと、
前記オートコリメータを支持しつつ回転する回転台と
を有する請求項1から請求項4までのいずれか1項に記載の計測装置。
The changing unit is
An autocollimator that projects a light beam toward the target surface;
The measurement apparatus according to claim 1, further comprising: a turntable that rotates while supporting the autocollimator.
前記制御部は、前記第一角度および前記第一角度で前記局所的形状を特定した場合の前記対象面までの距離から、前記投射位置を特定する請求項1から請求項6までのいずれか1項に記載の計測装置。 The control unit, the distance to the target surface in the case of specifying the local shape the first angle and the first angle, one of the claims 1 to identify the projection position to Claim 6 1 The measuring device according to item . 前記制御部は、前記対象面にマーカビームを投射して前記第一角度による投射位置を表示する表示部を有する請求項1から請求項6までのいずれか1項に記載の計測装置。 The measurement device according to claim 1 , wherein the control unit includes a display unit that projects a marker beam onto the target surface and displays a projection position based on the first angle. 対象面に向かって光ビームを投射する投射段階と、
前記対象面で反射された前記光ビームを受光して前記対象面の局所的な傾斜により局所的形状を特定する特定段階と、
前記光ビームの投射角度を維持しつつ前記光ビームを並進させて、前記局所的形状を順次蓄積する蓄積段階と、
蓄積された前記局所的形状から前記対象面の連続的形状を算出する算出段階と、
前記対象面で反射された前記光ビームの投射角度を変更する変更段階と、
前記投射角度を第一角度から第二角度に変更した場合に、前記第一角度による前記対象面への投射位置に前記第二角度により前記光ビームを投射し、当該投射位置における局所的形状を再び特定する再特定段階と
を備え、前記対象面の形状を計測する計測方法。
A projection stage for projecting a light beam toward the target surface;
A specific step of receiving the light beam reflected by the target surface and specifying a local shape by a local inclination of the target surface;
An accumulation step of sequentially accumulating the local shapes by translating the light beam while maintaining a projection angle of the light beam;
A calculation step of calculating a continuous shape of the target surface from the accumulated local shape;
A change step of changing a projection angle of the light beam reflected by the target surface;
When the projection angle is changed from the first angle to the second angle, the light beam is projected by the second angle to the projection position on the target surface by the first angle, and the local shape at the projection position is changed. A re-specifying step for re-specifying, and measuring a shape of the target surface.
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