JP5652559B2 - 磁性粒子を用いた水溶液中のセシウムイオンの除去方法 - Google Patents
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Description
しかしこれらの担体はセシウムイオンに対する選択性が低く、海水のように水溶液中に金属イオン、特にナトリウムイオンが共存すると、極端にセシウムイオンに対する吸着能が低下するため、大量の担体が必要となる。その結果、吸着によって生じた大量の放射性廃棄物を処理することが必要となる。また水不溶性の担体を使用しているため、セシウムイオンの吸着反応は不均一となり、吸着平衡に達するまでに時間を要する。
[1] セシウム含有水溶液中において、セシウムイオンを水溶性吸着剤で吸着させ、該セシウムイオンを吸着させた水溶性吸着剤を、磁性粒子の存在下で、水不溶性の磁性複合体とし、該磁性複合体を磁気分離する、水溶液中のセシウムイオンの除去方法。
[2] さらに、共沈剤の存在下で、前記磁性複合体を生成させて磁気分離する前記[1]に記載の水溶液中のセシウムイオンの除去方法。
[3] 前記共沈剤が、二価金属イオンまたは三価金属イオンである前記[2]に記載の水溶液中のセシウムイオンの除去方法。
[4] 前記磁性粒子が、刺激を付与することにより凝集する刺激応答性磁性粒子である前記[1]〜[3]のいずれか一項に記載の水溶液中のセシウムイオンの除去方法。
[5] 前記刺激が、温度変化、pH変化および塩濃度変化からなる群から選ばれる少なくとも1つである前記[4]に記載の水溶液中のセシウムイオンの除去方法。
[6] 前記水溶性吸着剤が、水溶性フェロシアン化物である前記[1]〜[5]のいずれか一項に記載の水溶液中のセシウムイオンの除去方法。
[7] 前記水溶性フェロシアン化物が、フェロシアン化カリウムまたはフェロシアン化ナトリウムである前記[6]に記載の水溶液中のセシウムイオンの除去方法。
[8] 前記磁性粒子が、1〜1000nmの平均粒径の磁性粒子である前記[1]〜[7]のいずれか一項に記載の水溶液中のセシウムイオンの除去方法。
[9] 前記セシウム含有水溶液に前記水溶性吸着剤を添加してセシウムイオンを吸着させた後に前記磁性粒子を添加する前記[1]〜[8]のいずれか一項に記載の水溶液中のセシウムイオンの除去方法。
[10] 前記セシウム含有水溶液に前記水溶性吸着剤と前記磁性粒子とを同時に添加する前記[1]〜[8]のいずれか一項に記載の水溶液中のセシウムイオンの除去方法。
更に本発明によれば、従来必要であった遠心分離、減圧濾過等の工程が、磁気分離工程で簡略化されるため、セシウム除去工程の自動化が可能である。その結果、放射性のセシウムイオンを除去する場合、ヒトに対する被爆は最低限度に止めることが可能であり、放射性セシウムの処理技術として、極めて価値が高い。また回収されたセシウムイオンを含有する磁性複合体は、ゼオライトなどの水不溶性の吸着担体によるセシウムイオンの吸着方法で回収される廃棄物と比較して、回収後の容積が非常に小さく、放射性廃棄物の量を大幅に低減することができる。
例えば、二価金属イオンとしては、Ni2+、Cu2+、Co2+、Fe2+、Mg2+、Ca2+、Zn2+、Pb2+、Pd2+、Pt2+、Cd2+、Mn2+、Cr2+等が挙げられる。これらの二価金属イオンは、硫酸塩、硝酸塩、炭酸塩、燐酸塩、塩化物等の無機酸塩の対イオンの形で用いられる。その中でも、Ni2+の硫酸塩(硫酸ニッケル)が好ましい。二価金属イオン水溶液としては、これら二価金属イオンを含有する水溶液が利用できる。二価金属イオンの濃度は、0.0001〜0.5Mが好ましく、0.001〜0.01Mがより好ましい。
三価金属イオンとしては、Cr3+、Fe3+、Co3+、Al3+等が挙げられる。これらの三価金属イオンは、硫酸塩、硝酸塩、炭酸塩、塩化物等の無機酸塩の対イオンの形で用いられる。その中でも、Fe3+の塩化物(塩化鉄)が好ましい。三価金属イオン水溶液としては、これら三価金属イオンを含有する水溶液が利用できる。三価金属イオンの濃度は、0.0001〜0.5Mが好ましく、0.001〜0.01Mがより好ましい。
例えば、温度応答性高分子で表面修飾した磁性粒子は、加熱または冷却により温度応答性高分子が凝集するために、磁性粒子が凝集塊を生成し、短時間で磁気分離が可能になる(日本国特開2005−082538号公報)。このような温度応答性高分子表面修飾磁性粒子として、JNC株式会社の「Therma−Max(登録商標)」等が挙げられる。温度応答性高分子表面修飾磁性粒子の温度応答範囲は、特に限定しないが、例えば、下限臨界溶液温度を持つ該磁性粒子を用いる場合は25℃から40℃、より好ましくは30℃から37℃のものが好適に用いられる。また、温度変化だけでなく、凝集剤を用いることで、凝集塊を生成させることもできる。凝集剤としては、例えば、硫酸リチウム、硫酸カリウム、硫酸ナトリウム等の硫酸金属塩等や、酢酸ナトリウムやクエン酸ナトリウム等のカルボン酸金属塩等や、塩化ナトリウムなどの金属塩化物が利用できる。特に、海水を用いる場合は、特定の凝集剤を用いることなく凝集塊を生成させることができる。凝集剤を使用して生成した凝集塊は、加熱または冷却により生成した凝集塊と同様に短時間で磁気分離が可能になる。
なお、原子吸光光度法によるセシウムイオンの濃度の測定は、株式会社日立ハイテクノロジーズ製フレーム原子吸光光度計「Z−2300」を用いて、測定波長852.1nmで測定した。
また、本発明で使用した水は、ミリポア製純水製造装置「Elix UV 35」によって精製された導電率14.7MΩcmの精製水である。
また、本発明で室温とは、25℃をいう。
また、セシウムイオンの除去率は、(反応前のセシウムイオン濃度−磁性粒子回収後の上清セシウムイオン濃度)/(反応前のセシウムイオン濃度)×100で求めた。
110mlのスクリュー管瓶に、海水および水で塩化セシウムを溶解して得た塩化セシウム含有10容量%海水水溶液(塩化セシウム濃度0.253mg/ml)を80ml入れ、続いてフェロシアン化カリウム・三水和物水溶液(濃度100mg/ml)と精製水をそれぞれ1ml添加した。室温で、株式会社バイオクラフト製シーソーシェーカー(型番BC−700)で5分間反応後、10×リン酸バッファー中に分散させた熱応答性磁性粒子(Therma−Max、40mg/ml、平均粒径100nm)を1ml加え、さらに室温で、株式会社バイオクラフト製シーソーシェーカー(型番BC−700)で25分間反応させた。その後、磁性粒子を4000Gのネオジウム磁石にて回収した。
磁性粒子回収後の上清を採取し、原子吸光光度法にて反応前後のセシウムイオン濃度を測定した。その結果、セシウムイオン濃度は、240ppm(反応前のセシウムイオン濃度)から2ppm(磁性粒子回収後の上清セシウムイオン濃度)に低下した。このことから、磁性粒子によって、99%以上のセシウムイオンが除去できたことがわかった。
実施例1において、フェロシアン化カリウム・三水和物水溶液を1ml添加した後、精製水の代わりに硫酸ニッケル・六水和物水溶液(濃度262.85mg/ml)を1ml添加した以外は実施例1と同様にして、反応前後のセシウムイオン濃度を測定した。その結果、セシウムイオン濃度は、240ppm(反応前のセシウムイオン濃度)から4ppm(磁性粒子回収後の上清のセシウムイオン濃度)に低下した。このことから、磁性粒子によって、98%以上のセシウムイオンが除去できたことがわかった。
110mlのスクリュー管瓶に、実施例1で用いたものとは別の海水および水で塩化セシウムを溶解して得た塩化セシウム含有10容量%海水水溶液(塩化セシウム濃度0.253mg/ml)を80ml入れ、続いてフェロシアン化カリウム・三水和物水溶液(濃度100mg/ml)0.5mlと硫酸ニッケル・六水和物水溶液(濃度262.85mg/ml)0.1mlを添加した。室温で、株式会社バイオクラフト製シーソーシェーカー(型番BC−700)で5分間反応後、10×リン酸バッファー中に分散させた熱応答性磁性粒子(Therma−Max、40mg/ml、平均粒径100nm)を1ml加え、さらに室温で、株式会社バイオクラフト製シーソーシェーカー(型番BC−700)で30分間反応させた。その後、磁性粒子を4000Gのネオジウム磁石にて回収した。
磁性粒子回収後の上清を採取し、原子吸光光度法にて反応前後のセシウムイオン濃度を測定した。その結果、セシウムイオン濃度は、220ppm(反応前のセシウムイオン濃度)から1ppm未満(磁性粒子回収後の上清セシウムイオン濃度)に低下した。このことから、磁性粒子によって、99%以上のセシウムイオンが除去できたことがわかった。
実施例3において、熱応答性磁性粒子に代えて下記方法で製造した刺激応答性のない磁性粒子(Dextran Magnetite(DM)、40mg/ml、平均粒径70nm)を用いてセシウム除去を行なった。DMの製造は、次のとおりである。100ml容量のフラスコに、塩化第二鉄・六水和物(1.0mol)及び塩化第一鉄・四水和物(0.5mol)混合水溶液を3ml、多価アルコールであるデキストラン(和光純薬工業株式会社製、分子量32000〜40000)の10重量%水溶液60mlを入れ、メカニカルスターラーで攪拌し、この混合溶液を50℃に昇温した後、これに25重量%アンモニア溶液5.0mlを滴下し、1時間程度攪拌した。この操作で、平均粒径が約70nmのデキストラン含有磁性粒子が得られた。このDMを用いた以外は実施例3と同様にして、16時間反応させ、反応前後のセシウムイオン濃度を測定した。その結果、セシウムイオン濃度は、220ppm(反応前のセシウムイオン濃度)から9ppm(磁性粒子回収後の上清のセシウムイオン濃度)に低下した。このことから、磁性粒子によって、95%以上のセシウムイオンが除去できたことがわかった。
実施例3において、熱応答性磁性粒子に代えて刺激応答性のないマイクロサイズの磁性粒子(Ivitrogen Dynal AS製Dynabeads M−270 Amine(商品名)、30mg/ml、平均粒径2.8μm)を用いた以外は実施例3と同様にして、16時間反応させ、反応前後のセシウムイオン濃度を測定した。その結果、セシウムイオン濃度は、220ppm(反応前のセシウムイオン濃度)から12ppm(磁性粒子回収後の上清のセシウムイオン濃度)に低下した。このことから、刺激応答性のないマイクロサイズの磁性粒子によって、94%以上のセシウムイオンが除去できたことがわかった。
実施例3において、硫酸ニッケル・六水和物水溶液の代わりに精製水を1ml添加した以外は実施例3と同様にして、25分間反応させ、反応前後のセシウムイオン濃度を測定した。その結果、セシウムイオン濃度は、220ppm(反応前のセシウムイオン濃度)から2ppm(磁性粒子回収後の上清のセシウムイオン濃度)に低下した。このことから、熱応答性磁性粒子によって、99%以上のセシウムイオンが除去できたことがわかった。
粉砕した天然硬質ゼオライト(NEW STONE社「NS−IZK−ZEOLITE」)390mgを50mlのサンプルチューブに入れ、さらに塩化セシウム水溶液(濃度20mg/ml)10mlを海水78ml、水692mlに添加して調製した、塩化セシウム含有10容量%海水水溶液39mlをサンプルチューブに入れ、5分、30分、1時間、4時間、24時間ロータリーシェーカーで攪拌した後、遠心分離(10000rpm、2分)にてゼオライトを分離した。
その後、上清を採取し、原子吸光光度法にて反応前後のセシウムイオン濃度を測定し、セシウムイオンの除去率を求めた。その結果、5分後で70%、30分後で84%、1時間で88%、4時間で89%、24時間で95%のセシウムイオンが除去されていたが、24時間吸着操作を継続しても5%のセシウムが残存することが確認された。
実施例3において、熱応答性磁性粒子に代えて下記方法で製造した刺激応答性のない磁性粒子(Dextran Magnetite(DM)、40mg/ml、平均粒径70nm)を用いてセシウム除去を行なった。DMの製造は、次のとおりである。100ml容量のフラスコに、塩化第二鉄・六水和物(1.0mol)及び塩化第一鉄・四水和物(0.5mol)混合水溶液を3ml、多価アルコールであるデキストラン(和光純薬工業株式会社製、分子量32000〜40000)の10重量%水溶液60mlを入れ、メカニカルスターラーで攪拌し、この混合溶液を50℃に昇温した後、これに25重量%アンモニア溶液5.0mlを滴下し、1時間程度攪拌した。この操作で、平均粒径が約70nmのデキストラン含有磁性粒子が得られた。本参考例では、DMを用いて、硫酸ニッケル・六水和物水溶液の代わりに精製水を1ml添加した以外は実施例3と同様にして、16時間反応させ、反応前後のセシウムイオン濃度を測定した。
その結果、セシウムイオン濃度は、220ppm(反応前のセシウムイオン濃度)から200ppm(磁性粒子回収後の上清のセシウムイオン濃度)に低下した。この結果から、磁性粒子によって、約8%のセシウムイオンしか除去できていないことがわかった。これは、水溶液中でセシウムイオンを吸着させた磁性複合体がほとんど形成されなかったことを示している。
実施例3において、熱応答性磁性粒子に代えて刺激応答性のないマイクロサイズの磁性粒子(Ivitrogen Dynal AS製Dynabeads M−270 Amine(商品名)、30mg/ml、平均粒径2.8μm)を用い、硫酸ニッケル・六水和物水溶液の代わりに精製水を1ml添加した以外は実施例3と同様にして、16時間反応させ、反応前後のセシウムイオン濃度を測定した。
その結果、セシウムイオン濃度は、220ppm(反応前のセシウムイオン濃度)から104ppm(磁性粒子回収後の上清のセシウムイオン濃度)に低下した。この結果から、磁性粒子によって、セシウムイオンの約53%しか回収できていないことがわかった。これは、水溶液中でセシウムイオンを吸着させた磁性複合体がほとんど形成されなかったことを示している。
Claims (9)
- セシウム含有水溶液中において、セシウムイオンを水溶性フェロシアン化物で吸着させ、該セシウムイオンを吸着させた水溶性フェロシアン化物を、磁性粒子の存在下で、セシウムイオン、水溶性フェロシアン化物及び磁性粒子からなる水不溶性の磁性複合体とし、該磁性複合体を磁気分離する、水溶液中のセシウムイオンの除去方法。
- さらに、共沈剤の存在下で、前記磁性複合体を生成させて磁気分離する請求項1に記載の水溶液中のセシウムイオンの除去方法。
- 前記共沈剤が、二価金属イオンまたは三価金属イオンである請求項2に記載の水溶液中のセシウムイオンの除去方法。
- 前記磁性粒子が、刺激を付与することにより凝集する刺激応答性磁性粒子である請求項1〜3のいずれか一項に記載の水溶液中のセシウムイオンの除去方法。
- 前記刺激が、温度変化、pH変化および塩濃度変化からなる群から選ばれる少なくとも1つである請求項4に記載の水溶液中のセシウムイオンの除去方法。
- 前記水溶性フェロシアン化物が、フェロシアン化カリウムまたはフェロシアン化ナトリウムである請求項1〜5のいずれか一項に記載の水溶液中のセシウムイオンの除去方法。
- 前記磁性粒子が、1〜1000nmの平均粒径の磁性粒子である請求項1〜6のいずれか一項に記載の水溶液中のセシウムイオンの除去方法。
- 前記セシウム含有水溶液に前記水溶性フェロシアン化物を添加してセシウムイオンを吸着させた後に前記磁性粒子を添加する請求項1〜7のいずれか一項に記載の水溶液中のセシウムイオンの除去方法。
- 前記セシウム含有水溶液に前記水溶性フェロシアン化物と前記磁性粒子とを同時に添加する請求項1〜7のいずれか一項に記載の水溶液中のセシウムイオンの除去方法。
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