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JP5679176B2 - Voltage measuring device - Google Patents
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Description

本発明は、入力信号に含まれるサージ信号の電圧を測定する電圧測定装置に関するものである。   The present invention relates to a voltage measuring device that measures the voltage of a surge signal included in an input signal.

この種の電圧測定装置として、出願人は、商用電源ラインを介して供給される交流信号(交流電圧)を入力信号とする電圧測定装置を下記特許文献において開示している。この電圧測定装置は、後段のA/Dコンバータに対するアンチエイリアシングフィルタとして機能するローパスフィルタ、このローパスフィルタを通過した信号をサンプリングして電圧演算用データを出力する低速のA/Dコンバータ(サンプリング周期:約15kHz)、およびこの電圧演算用データに基づいて入力信号の電圧を測定する測定回路を有する電圧測定部と、上記の入力信号をサンプリングしてサージ電圧検出用データを出力する高速のA/Dコンバータ(サンプリング周期:約2MHz)、サージ電圧検出用データから入力信号に重畳しているサージ電圧(サージ信号)に対応するサージ電圧データを生成するハイパスフィルタ、およびサージ電圧データで示されるサージ電圧の電圧と基準値とを比較してサージ電圧の電圧が基準値を超えるときに検出信号(パルス信号)を出力する検出回路を有するサージ電圧検出部とを備えている。   As this type of voltage measuring apparatus, the applicant discloses a voltage measuring apparatus using an AC signal (AC voltage) supplied via a commercial power line as an input signal in the following patent document. This voltage measuring device includes a low-pass filter that functions as an anti-aliasing filter for the A / D converter in the subsequent stage, and a low-speed A / D converter that samples a signal that has passed through the low-pass filter and outputs voltage calculation data (sampling period: About 15 kHz), and a voltage measurement unit having a measurement circuit for measuring the voltage of the input signal based on the voltage calculation data, and a high-speed A / D for sampling the input signal and outputting the surge voltage detection data Converter (sampling period: approx. 2 MHz), high-pass filter that generates surge voltage data corresponding to the surge voltage (surge signal) superimposed on the input signal from the surge voltage detection data, and the surge voltage indicated by the surge voltage data Voltage of surge voltage by comparing voltage with reference value And a surge voltage detection unit has a detection circuit for outputting a detection signal (pulse signal) when exceeding the reference value.

この電圧測定装置では、ローパスフィルタ、低速のA/Dコンバータおよび測定回路を有する電圧測定部が入力信号の電圧を測定し、高速のA/Dコンバータ、ハイパスフィルタおよび検出回路を有するサージ電圧検出部が、サージ電圧に対応するサージ電圧データを生成して、サージ電圧データで示されるサージ電圧の電圧と基準値とを比較してサージ電圧の電圧が基準値を超えるときに検出信号を出力することにより、入力信号の電圧を正確に測定しつつ、サージ電圧に対応して直接的に生成されるサージ電圧データに基づいてサージ電圧を確実に検出することが可能となっている。また、この生成したサージ電圧データに基づいてサージ電圧の信号長やサージ電圧のピーク値を正確に測定することも可能となっている。   In this voltage measurement device, a voltage measurement unit having a low-pass filter, a low-speed A / D converter and a measurement circuit measures the voltage of an input signal, and a surge voltage detection unit having a high-speed A / D converter, a high-pass filter and a detection circuit Generates surge voltage data corresponding to the surge voltage, compares the surge voltage voltage indicated by the surge voltage data with the reference value, and outputs a detection signal when the surge voltage exceeds the reference value Thus, it is possible to reliably detect the surge voltage based on the surge voltage data directly generated corresponding to the surge voltage while accurately measuring the voltage of the input signal. It is also possible to accurately measure the signal length of the surge voltage and the peak value of the surge voltage based on the generated surge voltage data.

特開2005−345335号公報(第2−7頁、第1図)Japanese Patent Laying-Open No. 2005-345335 (page 2-7, FIG. 1)

ところが、この電圧測定装置には、以下の改善すべき課題がある。すなわち、この電圧測定装置では、サージ電圧検出部がサージ電圧(サージ信号)を検出して検出信号を出力する都度、制御部が、電圧演算用データのうちの検出信号の出力時点前後における所定時間分のデータを入力信号の電圧を正確に測定するためにメモリに記憶させる処理と、サージ電圧データのうちの検出信号の出力時点前後における所定時間分のデータをサージ電圧の信号長やサージ電圧のピーク値を正確に測定するためにメモリに記憶させる処理とを実行している。   However, this voltage measuring device has the following problems to be improved. That is, in this voltage measuring apparatus, each time the surge voltage detection unit detects a surge voltage (surge signal) and outputs a detection signal, the control unit performs a predetermined time before and after the output point of the detection signal in the voltage calculation data. To store the minute data in the memory to accurately measure the voltage of the input signal, and the data for a predetermined time before and after the detection signal output time of the surge voltage data In order to accurately measure the peak value, a process for storing the peak value in a memory is executed.

また、商用電源ラインに接続される電気機器によっては、サージ電圧を連続的に発生させるものも存在している。したがって、この電圧測定装置には、このようにして連続して発生するサージ電圧のそれぞれに対して上記各処理を確実に実行し得るように、大容量のメモリと、このメモリに大量のデータを短時間に記憶させるための高価なハードウェア(高速動作可能な高価な電子デバイスで構成されたハードウェア)とが必須となることから、装置全体のコストが上昇するという解決すべき課題が存在している。   Some electric devices connected to the commercial power supply line continuously generate a surge voltage. Therefore, in this voltage measuring device, a large-capacity memory and a large amount of data are stored in this memory so that each of the above-described processes can be surely executed for each of the surge voltages continuously generated in this way. Since expensive hardware (hardware composed of expensive electronic devices capable of high-speed operation) for storing data in a short time is essential, there is a problem to be solved that increases the cost of the entire apparatus. ing.

また、この電圧測定装置では、検出されたサージ電圧のすべてに対して、所定時間分の電圧演算用データ、所定時間分のサージ電圧データ、サージ電圧の信号長(パルス幅)およびサージ電圧のピーク値をメモリに記憶するため、これらの測定が長期に及んだときには記憶されているデータ量が多量になる結果、測定後に実施するデータの集計作業、並びにサージ電圧の発生期間およびサージ電圧の特性の特定作業に多大な時間を要するという解決すべき課題も存在している。 Further, in this voltage measuring apparatus, for all detected surge voltages, voltage calculation data for a predetermined time, surge voltage data for a predetermined time, surge voltage signal length (pulse width), and surge voltage peak Since these values are stored in memory, the amount of stored data becomes large when these measurements take a long time. As a result, the data is aggregated after the measurement, and the surge voltage generation period and surge voltage characteristics. There is also a problem to be solved that it takes a lot of time for the specific work.

本発明は、かかる課題に鑑みてなされたものであり、装置コストの低減を図りつつ、測定したデータの集計作業の簡略化を可能とする電圧測定装置を提供することを主目的とする。   The present invention has been made in view of the above problems, and a main object of the present invention is to provide a voltage measuring device that can simplify the totaling operation of measured data while reducing the device cost.

上記目的を達成すべく請求項1記載の電圧測定装置は、入力信号をサンプリングして当該入力信号の電圧を示す第1電圧データに変換して出力する第1A/D変換部と、現在の時刻を示す時刻データを生成して出力する時計部と、第1バッファメモリおよび第1主メモリを備えた第1記憶部と、前記入力信号に含まれているサージ信号のピーク値および当該サージ信号のパルス幅を前記第1電圧データに基づいて測定して、当該サージ信号の検出を示す検出信号と共に出力する第1測定部と、前記第1電圧データを入力して前記第1バッファメモリに記憶させる第1記憶処理、前記第1A/D変換部のサンプリング周期よりも長い時間に予め規定された測定単位区間を計測する区間計測処理、前記第1測定部から出力される前記検出信号を前記測定単位区間毎に検出する検出処理、および当該検出処理によって検出された前記検出信号のうちの特定の検出信号と共に前記第1測定部から出力された前記ピーク値および前記パルス幅を、当該特定の検出信号を検出したときの前記時刻データと対応させて当該特定の検出信号に対応する特定の前記サージ信号についての特定特性データとして前記第1主メモリに記憶させると共に、前記第1バッファメモリに記憶されている前記第1電圧データのうちの前記特定のサージ信号を含む特定期間の当該第1電圧データを当該特定のサージ信号についての第1特定電圧データとして前記第1主メモリに記憶させる第1データ記憶処理を実行可能に構成された処理部とを備え、前記処理部は、前記第1記憶処理、前記区間計測処理および前記検出処理を継続して実行しつつ、前記検出信号を未検出の前記測定単位区間の次の前記測定単位区間において前記検出信号を検出したときには、当該次の測定単位区間における最初の前記検出信号のみを前記特定の検出信号として前記第1データ記憶処理を実行して、当該特定の検出信号と共に前記第1測定部から出力された前記ピーク値および前記パルス幅を、サージ発生期間の始期を示す当該特定の検出信号を検出したときの前記時刻データと対応させて先頭サージ信号についての前記特定特性データとして前記第1主メモリに記憶させると共に、前記第1バッファメモリに記憶されている前記第1電圧データのうちの前記先頭サージ信号を含む前記特定期間の当該第1電圧データを当該先頭サージ信号についての前記第1特定電圧データとして前記第1主メモリに記憶させ、前記検出信号を検出した前記測定単位区間の次の前記測定単位区間において前記検出信号が検出されないときには、当該次の測定単位区間が開始されたときの前記時刻データを、前記サージ発生期間の終期を示す時刻データとして前記第1主メモリに記憶させる。   In order to achieve the above object, the voltage measuring apparatus according to claim 1, a first A / D converter that samples an input signal, converts it into first voltage data indicating a voltage of the input signal, and outputs the first voltage, and a current time A timepiece unit for generating and outputting time data indicating the first time, a first storage unit including a first buffer memory and a first main memory, a peak value of the surge signal included in the input signal, and the surge signal A first measurement unit that measures a pulse width based on the first voltage data and outputs the pulse width together with a detection signal indicating detection of the surge signal; and inputs the first voltage data and stores the first voltage data in the first buffer memory A first storage process, a section measurement process for measuring a predetermined measurement unit section in a time longer than the sampling period of the first A / D converter, and the detection signal output from the first measurement section A detection process to be detected for each measurement unit section, and the peak value and the pulse width output from the first measurement unit together with a specific detection signal among the detection signals detected by the detection process, Corresponding to the time data when the detection signal is detected, it is stored in the first main memory as specific characteristic data for the specific surge signal corresponding to the specific detection signal, and also stored in the first buffer memory The first voltage data stored in the first main memory as the first specific voltage data for the specific surge signal is stored in the first main memory for the specific period including the specific surge signal in the first voltage data. A processing unit configured to be capable of executing a data storage process, wherein the processing unit includes the first storage process, the interval measurement process, and the detection. When the detection signal is detected in the measurement unit interval next to the measurement unit interval in which the detection signal is not detected while continuing the processing, only the first detection signal in the next measurement unit interval is detected. The first data storage process is performed as the specific detection signal, and the peak value and the pulse width output from the first measurement unit together with the specific detection signal are used to indicate the start of the surge generation period. The first voltage data stored in the first buffer memory and stored in the first main memory as the specific characteristic data for the head surge signal in association with the time data when the detection signal is detected The first voltage data of the specific period including the head surge signal is the first specific voltage data for the head surge signal. Then, when the detection signal is not detected in the measurement unit section next to the measurement unit section in which the detection signal is detected and stored in the first main memory, the time when the next measurement unit section is started Time data is stored in the first main memory as time data indicating the end of the surge occurrence period.

また、請求項2記載の電圧測定装置は、入力信号をサンプリングして当該入力信号の電圧を示す第1電圧データに変換して出力する第1A/D変換部と、現在の時刻を示す時刻データを生成して出力する時計部と、第1バッファメモリおよび第1主メモリを備えた第1記憶部と、前記入力信号に含まれているサージ信号のピーク値および当該サージ信号のパルス幅を前記第1電圧データに基づいて測定して、当該サージ信号の検出を示す検出信号と共に出力する第1測定部と、前記第1電圧データを入力して前記第1バッファメモリに記憶させる第1記憶処理、前記第1A/D変換部のサンプリング周期よりも長い時間に予め規定された測定単位区間を計測する区間計測処理、前記第1測定部から出力される前記検出信号を前記測定単位区間毎に検出する検出処理、当該検出処理によって検出された前記検出信号のうちの特定の検出信号と共に前記第1測定部から出力された前記ピーク値および前記パルス幅を、当該特定の検出信号を検出したときの前記時刻データと対応させて当該特定の検出信号に対応する特定の前記サージ信号についての特定特性データとして前記第1主メモリに記憶させると共に、前記第1バッファメモリに記憶されている前記第1電圧データのうちの前記特定のサージ信号を含む特定期間の当該第1電圧データを当該特定のサージ信号についての第1特定電圧データとして前記第1主メモリに記憶させる第1データ記憶処理、および前記検出処理によって検出された前記検出信号と共に前記第1測定部から出力される前記ピーク値の最大値を特定する最大値特定処理を実行可能に構成された処理部とを備え、前記処理部は、前記第1記憶処理、前記区間計測処理および前記検出処理を継続して実行しつつ、前記検出信号を未検出の前記測定単位区間の次の前記測定単位区間において前記検出信号を最初に検出したとき、および当該検出信号を最初に検出した前記測定単位区間および当該測定単位区間以後の各前記測定単位区間に亘って前記最大値特定処理を実行して前記最大値を特定したときに、前記最初に検出した前記検出信号および前記ピーク値が当該最大値として特定された前記検出信号のみを前記特定の検出信号として前記第1データ記憶処理を実行して、当該特定の検出信号と共に前記第1測定部から出力された前記ピーク値および前記パルス幅を、前記最初に検出した前記検出信号についてはサージ発生期間の始期を示す当該特定の検出信号を検出したときの前記時刻データと対応させて先頭サージ信号についての前記特定特性データとして、また前記ピーク値が前記最大値として特定された前記検出信号については当該特定の検出信号を検出したときの前記時刻データと対応させて最大サージ信号についての前記特定特性データとして前記第1主メモリにそれぞれ記憶させると共に、前記第1バッファメモリに記憶されている前記第1電圧データのうちの前記先頭サージ信号を含む前記特定期間の当該第1電圧データを当該先頭サージ信号についての前記第1特定電圧データとして、また当該第1電圧データのうちの前記最大サージ信号を含む前記特定期間の当該第1電圧データを当該最大サージ信号についての前記第1特定電圧データとして前記第1主メモリにそれぞれ記憶させ、前記検出信号を検出した前記測定単位区間の次の前記測定単位区間において前記検出信号が検出されないときには、当該次の測定単位区間が開始されたときの前記時刻データを、前記サージ発生期間の終期を示す時刻データとして前記第1主メモリに記憶させる。   According to a second aspect of the present invention, there is provided the voltage measuring apparatus according to the first aspect, wherein the first A / D conversion unit samples the input signal, converts the input signal into first voltage data indicating the voltage of the input signal, and outputs the first voltage data. Generating and outputting a clock unit, a first storage unit including a first buffer memory and a first main memory, a peak value of a surge signal included in the input signal and a pulse width of the surge signal A first measurement unit that measures based on the first voltage data and outputs it together with a detection signal indicating the detection of the surge signal, and a first storage process for inputting the first voltage data and storing it in the first buffer memory , A section measurement process for measuring a measurement unit section defined in advance in a time longer than the sampling period of the first A / D converter, and the detection signal output from the first measurement section as the measurement unit section The specific detection signal is detected by detecting the peak value and the pulse width output from the first measurement unit together with the specific detection signal among the detection signals detected by the detection process. In correspondence with the time data at the time, the first main memory stores the specific characteristic data for the specific surge signal corresponding to the specific detection signal, and the first buffer memory stores the first characteristic data. A first data storage process for storing in the first main memory the first voltage data of a specific period including the specific surge signal of one voltage data as the first specific voltage data for the specific surge signal; and Maximum that specifies the maximum value of the peak value output from the first measurement unit together with the detection signal detected by the detection process A processing unit configured to be able to execute a specific process, wherein the processing unit continuously executes the first storage process, the section measurement process, and the detection process, and the detection signal is not detected. When the detection signal is first detected in the measurement unit interval next to the measurement unit interval, and the measurement unit interval in which the detection signal is first detected and over the measurement unit intervals after the measurement unit interval When the maximum value is specified by executing the maximum value specifying process, only the detection signal for which the first detected signal and the peak value are specified as the maximum value are used as the specific detection signal. 1 data storage processing is performed, and the peak value and the pulse width output from the first measurement unit together with the specific detection signal are added to the detection signal detected first. The detection in which the specific value data for the head surge signal is associated with the time data when the specific detection signal indicating the start of the surge occurrence period is detected, and the peak value is specified as the maximum value. The signal is stored in the first main memory as the specific characteristic data for the maximum surge signal in correspondence with the time data when the specific detection signal is detected, and stored in the first buffer memory. Among the first voltage data, the first voltage data of the specific period including the head surge signal is used as the first specific voltage data for the head surge signal, and the maximum of the first voltage data is The first voltage data of the specific period including the surge signal is the first voltage data for the maximum surge signal. When the detection signal is not detected in the measurement unit interval next to the measurement unit interval in which the detection signal is detected and stored as constant voltage data in the first main memory, the next measurement unit interval is started. The time data of the hour is stored in the first main memory as time data indicating the end of the surge occurrence period.

また、請求項3記載の電圧測定装置は、請求項1または2記載の電圧測定装置において、前記処理部は、前記サージ発生期間における前記検出信号の発生回数をカウントするカウント処理を実行すると共に、対応する当該サージ発生期間に対応させて前記カウントした発生回数を前記第1主メモリに記憶させる。   Further, in the voltage measuring device according to claim 3, in the voltage measuring device according to claim 1 or 2, the processing unit executes a counting process for counting the number of occurrences of the detection signal in the surge occurrence period, The counted number of occurrences corresponding to the corresponding surge occurrence period is stored in the first main memory.

また、請求項4記載の電圧測定装置は、請求項3記載の電圧測定装置において、前記処理部は、前記カウント処理として、前記サージ発生期間における前記各測定単位区間での前記発生回数をカウントすると共に、対応する当該測定単位区間を特定する前記時刻データに対応させて当該発生回数を前記第1主メモリに記憶させる。   The voltage measuring device according to claim 4 is the voltage measuring device according to claim 3, wherein the processing unit counts the number of occurrences in each measurement unit section in the surge occurrence period as the counting process. At the same time, the number of occurrences is stored in the first main memory in association with the time data specifying the corresponding measurement unit section.

また、請求項5記載の電圧測定装置は、請求項1から4のいずれかに記載の電圧測定装置において、前記入力信号を入力して出力信号として出力するローパスフィルタと、前記出力信号を前記第1A/D変換部よりも長いサンプリング周期でサンプリングして当該出力信号の瞬時値を示す第2電圧データに変換して出力する第2A/D変換部と、第2バッファメモリおよび第2主メモリを備えた第2記憶部と、前記出力信号の電気的パラメータを前記第2電圧データに基づいて測定して出力する第2測定部とを備え、前記処理部は、前記第2電圧データを入力して前記第2バッファメモリに記憶させる第2記憶処理、および前記第1データ記憶処理における前記第1バッファメモリから前記第1主メモリへの前記第1電圧データの記憶に同期して、前記測定した電気的パラメータを前記第2主メモリに記憶させると共に、前記第2バッファメモリに記憶されている前記第2電圧データを当該特定のサージ信号についての第2特定電圧データとして前記第2主メモリに記憶させる第2データ記憶処理を実行する。   The voltage measuring device according to claim 5 is the voltage measuring device according to any one of claims 1 to 4, wherein the input signal is input and output as an output signal, and the output signal is output from the first signal. A second A / D converter that samples at a sampling period longer than that of the 1A / D converter, converts the second voltage data indicating the instantaneous value of the output signal, and outputs the second voltage data; a second buffer memory; and a second main memory A second storage unit, and a second measurement unit that measures and outputs an electrical parameter of the output signal based on the second voltage data, and the processing unit inputs the second voltage data. Synchronized with the storage of the first voltage data from the first buffer memory to the first main memory in the second storage process to be stored in the second buffer memory and the first data storage process. The measured electrical parameter is stored in the second main memory, and the second voltage data stored in the second buffer memory is used as second specific voltage data for the specific surge signal. 2 A second data storage process to be stored in the main memory is executed.

請求項1記載の電圧測定装置では、検出したすべてのサージ信号について、入力信号におけるこのサージ信号を含む特定期間の波形データと、サージ信号の特定特性データとを記憶する従来の電圧測定装置とは異なり、サージ発生期間(サージ信号が1以上の測定単位区間に亘って連続して発生する期間)を特定する際に必要となるこのサージ発生期間の始期および終期を示す各時刻データと共に、各サージ信号の波形データおよび特定特性データのうちの先頭サージ信号についての特定特性データおよび第1特定電圧データのみを測定して記憶する。 In the voltage measuring device according to claim 1, for all detected surge signals, a conventional voltage measuring device that stores waveform data of a specific period including the surge signal in the input signal and specific characteristic data of the surge signal is provided. Unlike the surge generation period (period in which the surge signal is continuously generated over one or more measurement unit sections), each surge is accompanied by each time data indicating the start and end of this surge generation period. storing specific characteristic data and the first specific voltage data only measured and for the beginning surge signal of the waveform data and the specific characteristic data signal.

したがって、この電圧測定装置によれば、サージ信号の発生要因が連続的に発生した場合(つまり、サージ発生期間が連続的に発生した場合)であっても、各サージ発生期間における各測定単位区間での第1バッファメモリから第1主メモリへのデータの転送(記憶)の回数(頻度)を大幅に低減することができる。これにより、メモリに大量のデータを短時間に転送して記憶させるための高価なハードウェアを不要にすることができると共に、波形データを記憶する第1主メモリのメモリ容量を大幅に低減することができることから、装置コストを大幅に低減することができる。また、この電圧測定装置によれば、入力信号についてのサージ信号の測定時間が長時間に亘ったとしても、測定後に実施するデータの集計作業、およびサージ信号の発生期間サージ発生期間の始期および終期)の特定作業を大幅に簡略化でき、その作業に要する時間を大幅に短縮することができる。 Therefore, according to this voltage measuring apparatus, even if the generation factor of the surge signal is continuously generated (that is, when the surge generation period is continuously generated), each measurement unit section in each surge generation period The number (frequency) of data transfer (storage) from the first buffer memory to the first main memory can be significantly reduced. This eliminates the need for expensive hardware for transferring and storing a large amount of data in the memory in a short time, and greatly reduces the memory capacity of the first main memory for storing waveform data. Therefore, the apparatus cost can be greatly reduced. Further, according to this voltage measuring apparatus, even if the measurement time of the surge signal for the input signal is long, the data collection work performed after the measurement and the generation period of the surge signal ( the start of the surge generation period and It is possible to greatly simplify the specific work at the end of the process and greatly reduce the time required for the work.

請求項2記載の電圧測定装置では、検出したすべてのサージ信号について、入力信号におけるこのサージ信号を含む特定期間の波形データと、サージ信号の特定特性データとを記憶する従来の電圧測定装置とは異なり、サージ発生期間(サージ信号が1以上の測定単位区間に亘って連続して発生する期間)を特定する際に必要となるこのサージ発生期間の始期および終期を示す各時刻データと共に、各サージ信号の波形データおよび特定特性データのうちの先頭サージ信号についての特定特性データおよび第1特定電圧データ、並びにサージ信号の特性(最大パワー)を特定する際に必要となる最大サージ信号を含む特定期間の波形についての第1特定電圧データおよび最大サージ信号の特定特性データのみ測定して記憶する。 The voltage measuring device according to claim 2 is a conventional voltage measuring device that stores, for all detected surge signals, waveform data of a specific period including the surge signal in the input signal and specific characteristic data of the surge signal. Unlike the surge generation period (period in which the surge signal is continuously generated over one or more measurement unit sections), each surge is accompanied by each time data indicating the start and end of this surge generation period. signal waveform data and the specific characteristics specific characteristic data and the first specific voltage data for the beginning surge signal of the data, as well as specific including the maximum surge signal which is required for identifying the characteristics of the surge signal (maximum power) Only the first specific voltage data and the specific characteristic data of the maximum surge signal for the waveform of the period are measured and stored.

したがって、この電圧測定装置によれば、サージ信号の発生要因が連続的に発生した場合(つまり、サージ発生期間が連続的に発生した場合)であっても、各サージ発生期間における各測定単位区間での第1バッファメモリから第1主メモリへのデータの転送(記憶)の回数(頻度)を低減することができる。これにより、メモリに大量のデータを短時間に転送して記憶させるための高価なハードウェアを不要にすることができると共に、波形データを記憶する第1主メモリのメモリ容量を大幅に低減することができることから、装置コストを大幅に低減することができる。また、この電圧測定装置によれば、入力信号についてのサージ信号の測定時間が長時間に亘ったとしても、測定後に実施するデータの集計作業、並びにサージ信号の発生期間サージ発生期間の始期および終期)および最大サージ信号の特性の特定作業を大幅に簡略化でき、その作業に要する時間を大幅に短縮することができる。 Therefore, according to this voltage measuring apparatus, even if the generation factor of the surge signal is continuously generated (that is, when the surge generation period is continuously generated), each measurement unit section in each surge generation period The number (frequency) of data transfer (storing) from the first buffer memory to the first main memory can be reduced. This eliminates the need for expensive hardware for transferring and storing a large amount of data in the memory in a short time, and greatly reduces the memory capacity of the first main memory for storing waveform data. Therefore, the apparatus cost can be greatly reduced. Further, according to this voltage measuring apparatus, even if the measurement time of the surge signal for the input signal is long, the data collection work performed after the measurement and the generation period of the surge signal ( the start of the surge generation period and The task of specifying the characteristics of the final surge and the maximum surge signal can be greatly simplified, and the time required for the task can be greatly shortened.

また、請求項3記載の電圧測定装置では、処理部が、サージ発生期間における検出信号の発生回数をサージ発生期間毎にカウントすると共に、サージ発生期間に対応させて記憶させる。したがって、この電圧測定装置によれば、検出回数に基づいて、サージ発生期間毎のサージ信号の発生状況(例えば、各サージ発生期間においてサージ信号がどの程度発生したか)を特定することができる。   In the voltage measuring device according to the third aspect, the processing unit counts the number of detection signals generated during the surge occurrence period for each surge occurrence period and stores the count corresponding to the surge occurrence period. Therefore, according to this voltage measuring apparatus, it is possible to specify the generation status of a surge signal for each surge generation period (for example, how much a surge signal is generated in each surge generation period) based on the number of detections.

また、請求項4記載の電圧測定装置では、処理部が、サージ発生期間における各測定単位区間での検出信号の発生回数をカウントする。したがって、この電圧測定装置によれば、検出回数に基づいて、各サージ発生期間でのサージ信号のより詳細な発生状況(例えば、サージ発生期間内のどの区間においてサージ信号がどの程度発生したか)を測定することができる。   In the voltage measuring device according to the fourth aspect, the processing unit counts the number of occurrences of the detection signal in each measurement unit section in the surge generation period. Therefore, according to this voltage measuring device, based on the number of times of detection, a more detailed generation state of the surge signal in each surge generation period (for example, how much surge signal is generated in which section in the surge generation period) Can be measured.

また、請求項5記載の電圧測定装置によれば、第1バッファメモリから第1主メモリへの第1電圧データの記憶に同期して、サージ信号を含まない入力信号の波形についての第2特定電圧データと電気的パラメータとが第2主メモリに記憶されるため、第2バッファメモリから第2主メモリへのデータの転送(記憶)の回数(頻度)の低減と、第2主メモリのメモリ容量の低減とを図りつつ、サージ信号を含まない入力信号の波形と対比させて、サージ信号を含む入力信号の波形(サージ信号の波形)を測定することができる。   According to the voltage measuring device of the fifth aspect, in synchronization with the storage of the first voltage data from the first buffer memory to the first main memory, the second identification of the waveform of the input signal not including the surge signal Since the voltage data and the electrical parameters are stored in the second main memory, the number (frequency) of data transfer (storage) from the second buffer memory to the second main memory is reduced, and the memory of the second main memory The waveform of the input signal including the surge signal (the waveform of the surge signal) can be measured by comparing with the waveform of the input signal not including the surge signal while reducing the capacity.

電圧測定装置1の構成を示すブロック図である。1 is a block diagram showing a configuration of a voltage measuring device 1. FIG. 電圧測定装置1の入力信号Siについての測定動作を説明するための信号波形図であり、上段はサージ信号Ssを含む入力信号Siの信号波形図、中段はサージ発生期間Ses1での入力信号Siの拡大波形図、下段は中段の波形図におけるサージ信号Ssの絶対値を示す波形図である。It is a signal waveform diagram for demonstrating the measurement operation | movement about the input signal Si of the voltage measuring device 1, An upper stage is a signal waveform figure of the input signal Si containing the surge signal Ss, A middle stage is input signal Si in the surge generation period Ses1. The enlarged waveform diagram and the lower part are waveform diagrams showing the absolute value of the surge signal Ss in the middle part of the waveform diagram. サージ信号Ssの絶対値と検出信号Stとの関係を説明するための波形図である。It is a wave form diagram for demonstrating the relationship between the absolute value of the surge signal Ss, and the detection signal St.

以下、添付図面を参照して、電圧測定装置の実施の形態について説明する。   Hereinafter, embodiments of a voltage measuring device will be described with reference to the accompanying drawings.

最初に、電圧測定装置1の構成について説明する。なお、一例として、商用電源ラインに供給されている交流信号(交流電圧)を入力信号Siとして、この入力信号Siに含まれているサージ信号Ss(トランジェントオーバ信号(インパルス信号でもある))を測定する電源品質アナライザに電圧測定装置1に適用した例を挙げて説明する。   First, the configuration of the voltage measuring device 1 will be described. As an example, an AC signal (AC voltage) supplied to a commercial power line is used as an input signal Si, and a surge signal Ss (transient over signal (also an impulse signal)) included in the input signal Si is measured. An example in which the power source quality analyzer is applied to the voltage measuring apparatus 1 will be described.

電圧測定装置1は、図1に示すように、サージ信号検出部2、パラメータ測定部3、時計部4、第1記憶部5、第2記憶部6、処理部7および表示部8を備え、図2に示すように、サージ信号Ssが重畳する入力信号Siについて、サージ信号Ssが除去された入力信号Siの波形およびサージ信号Ssの各電圧を測定可能に構成されている。   As shown in FIG. 1, the voltage measurement device 1 includes a surge signal detection unit 2, a parameter measurement unit 3, a clock unit 4, a first storage unit 5, a second storage unit 6, a processing unit 7, and a display unit 8. As shown in FIG. 2, the input signal Si on which the surge signal Ss is superimposed is configured to measure the waveform of the input signal Si from which the surge signal Ss has been removed and each voltage of the surge signal Ss.

サージ信号検出部2は、第1A/D変換部11、ハイパスフィルタ12および第1測定部13を備え、サージ信号Ssが重畳している入力信号Siの電圧(瞬時値)を示す第1電圧データD1を処理部7に出力する。また、サージ信号検出部2は、この第1電圧データD1に基づいて入力信号Siへのサージ信号Ssの重畳を検出して、検出信号Stを出力すると共に、サージ信号Ssについての特性データ(図3に示すピーク値Vpおよびその極性、サージ信号Ssのパルス幅tp)を測定して処理部7に出力する。なお、以下において「ピーク値Vp」とは、ピーク値Vpを示す数値および極性(正、負)を示すものであるとする。   The surge signal detection unit 2 includes a first A / D conversion unit 11, a high-pass filter 12, and a first measurement unit 13. The first voltage data indicates the voltage (instantaneous value) of the input signal Si on which the surge signal Ss is superimposed. D1 is output to the processing unit 7. Further, the surge signal detector 2 detects the superposition of the surge signal Ss on the input signal Si based on the first voltage data D1, outputs the detection signal St, and characteristic data about the surge signal Ss (see FIG. 3, the peak value Vp and its polarity shown in FIG. 3 and the pulse width tp of the surge signal Ss are measured and output to the processing unit 7. In the following, the “peak value Vp” indicates a numerical value indicating the peak value Vp and a polarity (positive or negative).

具体的には、第1A/D変換部11は、A/Dコンバータおよびその前段に配設されたアンチエイリアシングフィルタ(いずれも図示せず)を備えて構成されて、サージ信号Ssが重畳する入力信号Siを短いサンプリング周期(例えば、サージ信号Ssを確実にサンプリングし得る高いサンプリング周波数(一例として2MHz)の周期)でサンプリングして、入力信号Siの電圧(瞬時値)を示す第1電圧データD1に変換して、ハイパスフィルタ12および処理部7に出力する。なお、入力信号Siには、サージ信号Ssの他に、よりレベルの低いノイズ信号も含まれる場合があるが、発明の理解を容易にするため、以下では無視するものとする。   Specifically, the first A / D converter 11 is configured to include an A / D converter and an anti-aliasing filter (none of which is shown) arranged in front of the A / D converter, and an input on which the surge signal Ss is superimposed. The first voltage data D1 indicating the voltage (instantaneous value) of the input signal Si by sampling the signal Si at a short sampling period (for example, a period of a high sampling frequency (2 MHz as an example) that can reliably sample the surge signal Ss). And output to the high-pass filter 12 and the processing unit 7. The input signal Si may include a noise signal having a lower level in addition to the surge signal Ss. However, in order to facilitate understanding of the invention, the input signal Si will be ignored below.

ハイパスフィルタ12は、高域通過型のデジタルフィルタで構成されて、第1電圧データD1から商用電源周波数(例えば、60Hz)を超える高い周波数の信号成分(サージ信号Ss。図2の下段に示す信号)に対応する電圧データを抽出して、サージ電圧データDsとして第1測定部13に出力する。   The high-pass filter 12 is composed of a high-pass digital filter, and has a high-frequency signal component (surge signal Ss; signal shown in the lower part of FIG. 2) exceeding the commercial power supply frequency (for example, 60 Hz) from the first voltage data D1. ) Is extracted and output to the first measuring unit 13 as surge voltage data Ds.

第1測定部13は、一例としてDSP(Digital Signal Processor)で構成されて、図3に示すように、サージ電圧データDsで示されるサージ信号Ssの電圧の絶対値を算出すると共に、算出した絶対値と予め規定されたしきい値電圧Vthとを比較して、算出した絶対値がしきい値電圧Vth以上のときにサージ信号Ssが重畳していると検出する。また、第1測定部13は、サージ信号Ssを検出したときには、検出した各サージ信号Ssについて、そのピーク値Vpと、そのパルス幅tp(サージ信号Ssの絶対値がしきい値電圧Vth以上となる時間)とを測定する。また、第1測定部13は、サージ信号Ssを検出したときには、サージ信号Ssの検出(検出の事実)を示す検出信号Stを処理部7に出力すると共に、この検出信号Stの出力に同期させて、上記の測定したピーク値Vpおよびパルス幅tpを処理部7に出力する。   The first measurement unit 13 is configured by a DSP (Digital Signal Processor) as an example, and calculates the absolute value of the voltage of the surge signal Ss indicated by the surge voltage data Ds as shown in FIG. The value is compared with a predetermined threshold voltage Vth, and it is detected that the surge signal Ss is superimposed when the calculated absolute value is equal to or higher than the threshold voltage Vth. When the first measuring unit 13 detects the surge signal Ss, the peak value Vp and the pulse width tp (the absolute value of the surge signal Ss is equal to or higher than the threshold voltage Vth) for each detected surge signal Ss. Time). Further, when the first measuring unit 13 detects the surge signal Ss, the first measuring unit 13 outputs a detection signal St indicating the detection (detection fact) of the surge signal Ss to the processing unit 7 and synchronizes with the output of the detection signal St. Then, the measured peak value Vp and pulse width tp are output to the processing unit 7.

パラメータ測定部3は、ローパスフィルタ21、第2A/D変換部22および第2測定部23を備え、入力信号Siの基本波についての電圧(瞬時値)を示す第2電圧データD2を出力する。また、パラメータ測定部3は、この第2電圧データD2に基づいて、入力信号Siの基本波についての実効値、平均値およびピーク値の絶対値などの電気的パラメータのうちの少なくとも1つ(本例では一例として実効値Ve)を測定して出力する。   The parameter measurement unit 3 includes a low-pass filter 21, a second A / D conversion unit 22, and a second measurement unit 23, and outputs second voltage data D2 indicating a voltage (instantaneous value) for the fundamental wave of the input signal Si. Further, the parameter measuring unit 3 based on the second voltage data D2 includes at least one of electrical parameters such as the effective value, the average value, and the absolute value of the peak value (the actual value of the fundamental wave of the input signal Si). In the example, the effective value Ve) is measured and output as an example.

具体的には、ローパスフィルタ21は、第2A/D変換部22に対するアンチエイリアシングフィルタとして機能する。また、ローパスフィルタ21は、入力信号Siを入力すると共に出力信号S1として出力する。   Specifically, the low pass filter 21 functions as an anti-aliasing filter for the second A / D converter 22. The low-pass filter 21 receives the input signal Si and outputs it as an output signal S1.

第2A/D変換部22は、A/Dコンバータ(図示せず)を備えて構成されて、ローパスフィルタ21においてサージ信号Ssが除去された入力信号Siを第1A/D変換部11のサンプリング周期よりも長いサンプリング周期(例えば、15kHz程度(一例として15.36kHz)の低いサンプリング周波数の周期)でサンプリングして、サージ信号Ssを含まない入力信号Siの電圧(瞬時値)を示す第2電圧データD2に変換して、第2測定部23に出力する。第2測定部23は、一例としてDSPで構成されて、第2A/D変換部22から第2電圧データD2を連続して入力すると共に処理部7に出力する。また、第2測定部23は、入力した第2電圧データD2に基づいて、入力信号Siの実効値Veを一定の周期で算出(測定)して、処理部7に出力する。   The second A / D converter 22 includes an A / D converter (not shown), and the input signal Si from which the surge signal Ss has been removed by the low-pass filter 21 is used as the sampling period of the first A / D converter 11. Second voltage data indicating a voltage (instantaneous value) of the input signal Si that is sampled at a longer sampling period (for example, a period of a low sampling frequency of about 15 kHz (for example, 15.36 kHz)). It converts into D2, and outputs it to the 2nd measurement part 23. The second measurement unit 23 is configured by a DSP as an example, and continuously inputs the second voltage data D2 from the second A / D conversion unit 22 and outputs it to the processing unit 7. The second measurement unit 23 calculates (measures) the effective value Ve of the input signal Si at a constant period based on the input second voltage data D2 and outputs the calculated value to the processing unit 7.

時計部4は、一例としてリアルタイムクロックICで構成されて、現在の時刻(本例では、年月日時分秒)を示す時刻データDtを生成して、処理部7に出力する。   The clock unit 4 includes a real-time clock IC as an example, generates time data Dt indicating the current time (in this example, year / month / day / hour / minute / second), and outputs the time data Dt to the processing unit 7.

第1記憶部5は、一例として、RAMで構成された第1バッファメモリ31、およびSDメモリカードやUSBメモリなどの可搬性半導体メモリ(外部記憶媒体)で構成された第1主メモリ32と、不図示のメモリコントローラとを備えている。第1バッファメモリ31は、処理部7から転送される第1電圧データD1を予め規定されたデータ量だけFIFO(ファーストインファーストアウト)方式で一時的に記憶する。また、第1バッファメモリ31は、処理部7の制御に従って作動する上記のメモリコントローラにより、記憶されている第1電圧データD1のうちの予め規定された特定期間Twの第1電圧データD1を第1特定電圧データD1sとして第1主メモリ32に転送する。第1主メモリ32は、処理部7から出力されるピーク値Vpおよびパルス幅tpと、第1バッファメモリ31から転送される第1特定電圧データD1sとを記憶する。本例では、第1特定電圧データD1sとして転送する第1電圧データD1の特定期間Tw(図2参照)は、後述する特定のサージ信号Ssを含む例えば数msの長さの期間に規定されている。   As an example, the first storage unit 5 includes a first buffer memory 31 configured by a RAM, and a first main memory 32 configured by a portable semiconductor memory (external storage medium) such as an SD memory card or a USB memory, A memory controller (not shown). The first buffer memory 31 temporarily stores the first voltage data D1 transferred from the processing unit 7 in a FIFO (first-in-first-out) system by a predetermined data amount. In addition, the first buffer memory 31 receives the first voltage data D1 of the predetermined specific period Tw from the stored first voltage data D1 by the memory controller that operates according to the control of the processing unit 7. The data is transferred to the first main memory 32 as 1 specific voltage data D1s. The first main memory 32 stores the peak value Vp and pulse width tp output from the processing unit 7 and the first specific voltage data D1s transferred from the first buffer memory 31. In this example, the specific period Tw (see FIG. 2) of the first voltage data D1 transferred as the first specific voltage data D1s is defined as a period of, for example, a length of several ms including a specific surge signal Ss described later. Yes.

第2記憶部6は、一例として、RAMで構成された第2バッファメモリ41、およびSDメモリカードやUSBメモリなどの可搬性半導体メモリ(外部記憶媒体)で構成された第2主メモリ42と、不図示のメモリコントローラとを備えている。第2バッファメモリ41は、処理部7から転送される第2電圧データD2を予め規定されたデータ量だけFIFO(ファーストインファーストアウト)方式で一時的に記憶する。また、第2バッファメモリ41は、処理部7の制御に従って作動する上記のメモリコントローラにより、記憶されている第2電圧データD2のうちの指定された特定期間Twの第2電圧データD2を第2特定電圧データD2sとして第2主メモリ42に転送する。第2主メモリ42は、処理部7から出力される電気的パラメータ(本例では実効値Ve)と、第2バッファメモリ41から転送される第2特定電圧データD2sとを記憶する。   As an example, the second storage unit 6 includes a second buffer memory 41 configured by a RAM, a second main memory 42 configured by a portable semiconductor memory (external storage medium) such as an SD memory card or a USB memory, A memory controller (not shown). The second buffer memory 41 temporarily stores the second voltage data D2 transferred from the processing unit 7 in a FIFO (first-in-first-out) system by a predetermined data amount. The second buffer memory 41 receives the second voltage data D2 of the specified specific period Tw from the stored second voltage data D2 by the second memory controller operating according to the control of the processing unit 7. The specific voltage data D2s is transferred to the second main memory 42. The second main memory 42 stores the electrical parameter (effective value Ve in this example) output from the processing unit 7 and the second specific voltage data D2s transferred from the second buffer memory 41.

処理部7は、CPUおよび内部メモリ(いずれも図示せず)を含んで構成されて、第1記憶処理、区間計測処理、検出処理、第1データ記憶処理、最大値特定処理、第2記憶処理、第2データ記憶処理および表示処理を実行する。   The processing unit 7 includes a CPU and an internal memory (both not shown), and includes a first storage process, a section measurement process, a detection process, a first data storage process, a maximum value specifying process, and a second storage process. Then, the second data storage process and the display process are executed.

具体的には、処理部7は、第1記憶処理では、第1電圧データD1を第1A/D変換部11から入力して第1バッファメモリ31にFIFO方式で記憶させる。また、処理部7は、区間計測処理では、予め規定された時間の測定単位区間Seの計測を繰り返し実行する。この場合、測定単位区間Seの長さ(時間T1)は、第1A/D変換部11のサンプリング周期よりも長い時間であれば任意の時間とすることができるが、本例では一例として、商用電源(本例では60Hz)の基本波の複数倍(一例として10波分)の長さ(約160ms)に規定されている。また、処理部7は、検出処理では、第1測定部13から検出信号Stが出力されるか否かを測定単位区間Se毎に検出する。   Specifically, in the first storage process, the processing unit 7 inputs the first voltage data D1 from the first A / D conversion unit 11 and stores the first voltage data D1 in the first buffer memory 31 using the FIFO method. In the section measurement process, the processing unit 7 repeatedly executes measurement of the measurement unit section Se for a predetermined time. In this case, the length (time T1) of the measurement unit section Se can be set to an arbitrary time as long as it is longer than the sampling period of the first A / D conversion unit 11, but in this example, as an example, It is defined as a length (about 160 ms) that is a multiple of the fundamental wave of the power supply (60 Hz in this example) (for example, 10 waves). In the detection process, the processing unit 7 detects, for each measurement unit section Se, whether or not the detection signal St is output from the first measurement unit 13.

また、処理部7は、第1データ記憶処理では、検出処理によって検出された検出信号Stのうちの特定の検出信号Stと共にサージ信号検出部2の第1測定部13から出力されたピーク値Vpおよびパルス幅tpを、この特定の検出信号Stを検出したときの時刻データDtと対応させて、特定の検出信号Stに対応する特定のサージ信号Ssについての特定特性データとして第1主メモリ32に記憶させる(第1主メモリ32に転送して記憶させる)。また、処理部7は、この第1データ記憶処理において、第1バッファメモリ31に記憶されている第1電圧データD1のうちの上記の特定のサージ信号Ssを含む特定期間Twの第1電圧データD1を特定のサージ信号Ssについての第1特定電圧データD1sとして第1主メモリ32に転送して記憶させる。本例では、この特定のサージ信号Ssとは、後述するサージ発生期間Sesの始期に同期して出力される最初のサージ信号Ss(先頭サージ信号Ss1)、およびサージ発生期間Sesにおけるピーク値Vpが最大となるサージ信号Ss(最大サージ信号Ss2)である。また、処理部7は、最大値特定処理では、検出処理によって検出された検出信号Stに対応するサージ信号Ssのピーク値Vpについての最大値Vpmaxをサージ発生期間Ses毎(一例として図2に示すように、サージ発生期間Ses1,Ses2,Ses3,・・・毎)に、各サージ発生期間Sesでの全測定単位区間Seに亘って特定する。   In the first data storage process, the processing unit 7 also includes the peak value Vp output from the first measurement unit 13 of the surge signal detection unit 2 together with the specific detection signal St among the detection signals St detected by the detection process. The pulse width tp is associated with the time data Dt when the specific detection signal St is detected, and is stored in the first main memory 32 as specific characteristic data regarding the specific surge signal Ss corresponding to the specific detection signal St. Store (transfer to first main memory 32 to store). Further, in the first data storage process, the processing unit 7 includes the first voltage data in the specific period Tw including the specific surge signal Ss in the first voltage data D1 stored in the first buffer memory 31. D1 is transferred and stored in the first main memory 32 as the first specific voltage data D1s for the specific surge signal Ss. In this example, the specific surge signal Ss includes the first surge signal Ss (first surge signal Ss1) output in synchronization with the start of a later-described surge generation period Ses, and the peak value Vp in the surge generation period Ses. This is the maximum surge signal Ss (maximum surge signal Ss2). In the maximum value specifying process, the processing unit 7 sets the maximum value Vpmax for the peak value Vp of the surge signal Ss corresponding to the detection signal St detected by the detection process for each surge occurrence period Ses (an example is shown in FIG. 2). Thus, it specifies over every measurement unit area Se in each surge generation period Ses in every surge generation period Ses1, Ses2, Ses3, ....

また、処理部7は、第2記憶処理では、第2電圧データD2を第2測定部23から入力して第2バッファメモリ41にFIFO方式で記憶させる。また、処理部7は、第2データ記憶処理では、第1データ記憶処理における第1バッファメモリ31から第1主メモリ32への第1電圧データD1(第1特定電圧データD1s)の転送(記憶)に同期して、測定した電気的パラメータ(第2測定部23で測定された電気的パラメータ。本例では、実効値Ve)を第2主メモリ42に、第1特定電圧データD1sに対応して第1主メモリ32に記憶される時刻データDtと同じ時刻データDtと共に記憶させる。また、処理部7は、第2データ記憶処理では、第2バッファメモリ41に記憶されている第2電圧データD2を特定のサージ信号Ssについての第2特定電圧データD2sとして第2主メモリ42へ転送して記憶させる。一例として、処理部7は、第2データ記憶処理において、第2バッファメモリ41に記憶されている第2電圧データD2のうちの上記のようにして第1主メモリ32に転送した第1電圧データD1についての特定期間Twに対応する期間(特定期間Twを含み特定期間Twよりも長い期間。具体的には、入力信号Siの基本波についての1周期以上の期間(例えば、1周期の整数倍の期間))の第2電圧データD2を第2特定電圧データD2sとして第2主メモリ42へ転送して記憶させる。また、処理部7は、表示処理では、第1主メモリ32および第2主メモリ42に記憶されている各データのうちから任意のデータを読み出して表示部8に表示させる。   In the second storage process, the processing unit 7 inputs the second voltage data D2 from the second measurement unit 23 and stores the second voltage data D2 in the second buffer memory 41 using the FIFO method. In the second data storage process, the processing unit 7 transfers (stores) the first voltage data D1 (first specific voltage data D1s) from the first buffer memory 31 to the first main memory 32 in the first data storage process. The measured electrical parameter (the electrical parameter measured by the second measuring unit 23. In this example, the effective value Ve) corresponds to the second main memory 42 and the first specific voltage data D1s. And the same time data Dt as the time data Dt stored in the first main memory 32. In the second data storage process, the processing unit 7 sets the second voltage data D2 stored in the second buffer memory 41 as the second specific voltage data D2s for the specific surge signal Ss to the second main memory 42. Transfer and memorize. As an example, the processing unit 7 uses the first voltage data transferred to the first main memory 32 as described above from the second voltage data D2 stored in the second buffer memory 41 in the second data storage process. A period corresponding to a specific period Tw for D1 (a period including the specific period Tw and longer than the specific period Tw. Specifically, a period of one period or more for the fundamental wave of the input signal Si (for example, an integral multiple of one period) The second voltage data D2 in the period of time)) is transferred to and stored in the second main memory 42 as the second specific voltage data D2s. In the display process, the processing unit 7 reads arbitrary data from the data stored in the first main memory 32 and the second main memory 42 and causes the display unit 8 to display the data.

表示部8は、一例としてLCD(Liquid Crystal Display)で構成されて、処理部7から入力したデータを画面上に表示させる。   The display unit 8 is configured by an LCD (Liquid Crystal Display) as an example, and displays data input from the processing unit 7 on the screen.

次に、電圧測定装置1によるサージ信号Ssの測定動作について説明する。   Next, the measuring operation of the surge signal Ss by the voltage measuring device 1 will be described.

まず、サージ信号検出部2では、第1A/D変換部11が入力信号Siをサンプリングして第1電圧データD1を生成して処理部7およびハイパスフィルタ12に出力し、ハイパスフィルタ12がこの第1電圧データD1からサージ信号Ssについての信号成分を抽出して、サージ電圧データDsとして第1測定部13に出力している。第1測定部13は、このサージ電圧データDsで示されるサージ信号Ssの電圧の絶対値を算出すると共に、算出した絶対値としきい値電圧Vthとを比較することにより、サージ信号Ssの検出を繰り返し実行している。   First, in the surge signal detection unit 2, the first A / D conversion unit 11 samples the input signal Si to generate the first voltage data D1, and outputs the first voltage data D1 to the processing unit 7 and the high pass filter 12. The high pass filter 12 A signal component for the surge signal Ss is extracted from the one voltage data D1 and is output to the first measuring unit 13 as the surge voltage data Ds. The first measuring unit 13 detects the surge signal Ss by calculating the absolute value of the voltage of the surge signal Ss indicated by the surge voltage data Ds and comparing the calculated absolute value with the threshold voltage Vth. Running repeatedly.

このときに、パラメータ測定部3では、ローパスフィルタ21が入力信号Siに含まれる周波数成分のうちの基本波の周波数(商用電源周波数)を超える高い周波数の信号成分(サージ信号Ssを含む)を除去して出力信号S1を出力し、第2A/D変換部22がこの出力信号S1をサンプリングして、サージ信号Ssを含まない入力信号Siの電圧(主として入力信号Siの基本波の瞬時値)を示す第2電圧データD2を生成して、第2測定部23に出力している。第2測定部23は、この第2電圧データD2を連続して入力すると共に処理部7に出力し、かつ、入力した第2電圧データD2に基づいて、入力信号Siの実効値Veを一定の周期で算出(測定)して、処理部7に出力している。   At this time, in the parameter measurement unit 3, the low-pass filter 21 removes signal components (including the surge signal Ss) having a frequency higher than the fundamental frequency (commercial power supply frequency) from among the frequency components included in the input signal Si. Then, the output signal S1 is output, and the second A / D converter 22 samples the output signal S1, and the voltage of the input signal Si that does not include the surge signal Ss (mainly the instantaneous value of the fundamental wave of the input signal Si). The second voltage data D2 shown is generated and output to the second measuring unit 23. The second measurement unit 23 continuously inputs the second voltage data D2 and outputs the second voltage data D2 to the processing unit 7, and based on the input second voltage data D2, the effective value Ve of the input signal Si is constant. It is calculated (measured) at a cycle and output to the processing unit 7.

また、このときに、処理部7は、上記した第1記憶処理、第2記憶処理、区間計測処理および検出処理を実行している。具体的には、処理部7は、第1記憶処理を実行することにより、第1A/D変換部11から入力した第1電圧データD1を第1バッファメモリ31に記憶させている。また、処理部7は、第2記憶処理を実行することにより、第2測定部23から入力した第2電圧データD2を第2バッファメモリ41に記憶させている。また、処理部7は、区間計測処理を実行することにより、長さが時間T1の測定単位区間Seの計測を繰り返し実行している(一例として図2に示すように、測定単位区間Se1,Se2,Se4,・・・)の計測を実行する)。また、処理部7は、検出処理を実行することにより、第1測定部13から検出信号Stが出力されるか否かを測定単位区間Se毎に検出している。   At this time, the processing unit 7 executes the first storage process, the second storage process, the section measurement process, and the detection process. Specifically, the processing unit 7 stores the first voltage data D1 input from the first A / D conversion unit 11 in the first buffer memory 31 by executing the first storage process. Further, the processing unit 7 stores the second voltage data D2 input from the second measurement unit 23 in the second buffer memory 41 by executing the second storage process. In addition, the processing unit 7 repeatedly performs the measurement of the measurement unit section Se having a length of time T1 by executing the section measurement process (measurement unit sections Se1, Se2 as shown in FIG. 2 as an example). , Se4,...)). In addition, the processing unit 7 detects whether or not the detection signal St is output from the first measurement unit 13 for each measurement unit section Se by executing a detection process.

このような動作状態において、図2の上段の波形図に示すように、入力信号Siにサージ信号Ssが重畳しているサージ発生期間Ses(一例として、同図に示す最初のサージ発生期間Ses1)が到来したときには、サージ信号Ssが入力信号Siに重畳している都度、第1測定部13は、サージ信号Ssの電圧の絶対値がしきい値電圧Vth以上となることを検出することで、このサージ発生期間Ses1に含まれている各サージ信号Ssを検出する。また、第1測定部13は、各サージ信号Ssの検出の都度、検出信号Stと共に各サージ信号Ssについてのピーク値Vpとパルス幅tpとを測定して処理部7に出力する。   In such an operating state, as shown in the upper waveform diagram of FIG. 2, the surge generation period Ses in which the surge signal Ss is superimposed on the input signal Si (for example, the first surge generation period Ses1 shown in FIG. 2). When the surge signal Ss is superimposed on the input signal Si, the first measurement unit 13 detects that the absolute value of the voltage of the surge signal Ss is equal to or higher than the threshold voltage Vth, Each surge signal Ss included in this surge occurrence period Ses1 is detected. The first measuring unit 13 measures the peak value Vp and the pulse width tp for each surge signal Ss together with the detection signal St each time the surge signal Ss is detected, and outputs it to the processing unit 7.

処理部7は、検出処理によってこの検出信号Stの入力を、現在計測中の測定単位区間Se2において検出する。この場合、処理部7は、検出信号Stを未検出の測定単位区間Se1の次の測定単位区間としての測定単位区間Se2において検出信号Stを検出する。このため、処理部7は、この測定単位区間Se2における最初の検出信号Stを特定の検出信号Stとして、第1データ記憶処理を実行する。   The processing unit 7 detects the input of the detection signal St by the detection process in the measurement unit section Se2 currently being measured. In this case, the processing unit 7 detects the detection signal St in the measurement unit section Se2 as the measurement unit section next to the measurement unit section Se1 in which the detection signal St is not detected. For this reason, the processing unit 7 executes the first data storage process using the first detection signal St in the measurement unit section Se2 as the specific detection signal St.

この第1データ記憶処理では、処理部7は、この最初の検出信号Stと共に第1測定部13から出力されたピーク値Vpおよびパルス幅tpを、この最初の検出信号Stを検出したときの時刻データDt(サージ発生期間Ses1の開始時刻を示すデータとなる)と対応させて、内部メモリに記憶すると共に、最初の検出信号Stに対応する特定のサージ信号Ss(未検出の測定単位区間後の最初のサージ信号Ss(先頭サージ信号Ss1))についての特定特性データとして第1主メモリ32に記憶させる。また、処理部7は、この第1データ記憶処理において、第1バッファメモリ31に記憶されている第1電圧データD1のうちの上記の先頭サージ信号Ss1を含む特定期間Twの第1電圧データD1をこの先頭サージ信号Ss1についての第1特定電圧データD1sとして第1主メモリ32に転送して、最初の検出信号Stを検出したときの時刻データDtと対応させて記憶させる。これにより、最初の検出信号Stを特定の検出信号Stとした第1データ記憶処理が完了する。   In the first data storage process, the processing unit 7 uses the peak value Vp and the pulse width tp output from the first measurement unit 13 together with the first detection signal St, and the time when the first detection signal St is detected. Corresponding to the data Dt (the data indicating the start time of the surge occurrence period Ses1) is stored in the internal memory, and a specific surge signal Ss corresponding to the first detection signal St (after the undetected measurement unit interval) The first main memory 32 stores the specific characteristic data for the first surge signal Ss (first surge signal Ss1). Further, in the first data storage process, the processing unit 7 uses the first voltage data D1 of the specific period Tw including the head surge signal Ss1 among the first voltage data D1 stored in the first buffer memory 31. Is transferred to the first main memory 32 as the first specific voltage data D1s for the head surge signal Ss1, and stored in correspondence with the time data Dt when the first detection signal St is detected. Thereby, the first data storage process using the first detection signal St as the specific detection signal St is completed.

また、処理部7は、上記の第1データ記憶処理を実行するときには、第2データ記憶処理についても実行する。この第2データ記憶処理では、処理部7は、第1データ記憶処理における第1バッファメモリ31から第1主メモリ32への第1電圧データD1(第1特定電圧データD1s)の転送(記憶)に同期して、第2測定部23から入力した実効値Veを第2主メモリ42に記憶させると共に、第2バッファメモリ41に記憶されている第2電圧データD2のうちの上記のようにして第1主メモリ32に転送した第1電圧データD1の特定期間Twに対応する期間(この特定期間Twを含み、この特定期間Twよりも長い期間)の第2電圧データD2を先頭サージ信号Ss1についての第2特定電圧データD2sとして第2主メモリ42へ転送して記憶させる。また、処理部7は、この実効値Veおよび第2特定電圧データD2sの第2主メモリ42への記憶に際して、最初の検出信号Stを検出したときの時刻データDtと対応させて記憶させる。   Further, when executing the first data storage process, the processing unit 7 also executes the second data storage process. In the second data storage process, the processing unit 7 transfers (stores) the first voltage data D1 (first specific voltage data D1s) from the first buffer memory 31 to the first main memory 32 in the first data storage process. The effective value Ve input from the second measurement unit 23 is stored in the second main memory 42 in synchronization with the second voltage data D2 stored in the second buffer memory 41 as described above. The second voltage data D2 in the period corresponding to the specific period Tw of the first voltage data D1 transferred to the first main memory 32 (including the specific period Tw and longer than the specific period Tw) is used for the leading surge signal Ss1. The second specific voltage data D2s is transferred to the second main memory 42 and stored. Further, when storing the effective value Ve and the second specific voltage data D2s in the second main memory 42, the processing unit 7 stores the effective value Ve and the time data Dt when the first detection signal St is detected.

また、処理部7は、最初の検出信号Stを検出した測定単位区間Se2およびこの測定単位区間Se2以降の各測定単位区間Se3,Se4,・・・において、検出信号Stを検出する都度、この測定単位区間Se2での検出信号Stの検出回数(検出信号Stの発生回数)Nをカウントするカウント処理を実行する。また、処理部7は、最初の検出信号Stを検出した測定単位区間Se2およびこの測定単位区間Se2以降の各測定単位区間Se3,Se4,・・・に亘って、検出信号Stを検出する都度、ピーク値Vpについての最大値Vpmaxを特定する最大値特定処理を実行する。   In addition, the processing unit 7 performs this measurement every time it detects the detection signal St in the measurement unit section Se2 in which the first detection signal St is detected and each of the measurement unit sections Se3, Se4,... After the measurement unit section Se2. A count process for counting the number of detection signals St (number of occurrences of the detection signal St) N in the unit section Se2 is executed. Further, each time the processing unit 7 detects the detection signal St over the measurement unit section Se2 in which the first detection signal St is detected and the measurement unit sections Se3, Se4,... After the measurement unit section Se2, A maximum value specifying process for specifying the maximum value Vpmax for the peak value Vp is executed.

この最大値特定処理では、処理部7は、最初の検出信号Stと共に入力したピーク値Vpを最初の最大値Vpmaxとして内部メモリに記憶すると共に、このピーク値Vpと併せて入力したパルス幅tp、およびこのピーク値Vpを入力したときの時刻データDtについても内部メモリに記憶する。それ以降は、検出信号Stを検出する都度、検出信号Stと共に入力したピーク値Vpと内部メモリに記憶した最大値Vpmaxとを比較して、新たに入力したピーク値Vpが最大値Vpmaxよりも大きいときには、新たに入力したピーク値Vpを最大値Vpmaxとして更新記憶することで最大値Vpmaxを特定する。また、処理部7は、最大値Vpmaxを更新したときには、最大値Vpmaxとして更新記憶したピーク値Vpと併せて入力したパルス幅tp、およびこのピーク値Vpを入力したときの時刻データDtについても内部メモリに更新して記憶する。   In this maximum value specifying process, the processing unit 7 stores the peak value Vp input together with the first detection signal St in the internal memory as the first maximum value Vpmax, and the pulse width tp input together with the peak value Vp, The time data Dt when the peak value Vp is input is also stored in the internal memory. Thereafter, each time the detection signal St is detected, the peak value Vp input together with the detection signal St is compared with the maximum value Vpmax stored in the internal memory, and the newly input peak value Vp is larger than the maximum value Vpmax. Sometimes, the maximum value Vpmax is specified by updating and storing the newly input peak value Vp as the maximum value Vpmax. When the maximum value Vpmax is updated, the processing unit 7 also internally stores the pulse width tp input together with the peak value Vp updated and stored as the maximum value Vpmax and the time data Dt when the peak value Vp is input. Update and store in memory.

一例として、図2の下段の波形図(サージ信号Ssの絶対値の波形図)に示すように、測定単位区間Se2では、最後に検出される検出信号Stと共に入力するピーク値Vpが最大値Vpmaxとなる。また、測定単位区間Se3では、最初に検出される検出信号Stと共に入力するピーク値Vpが、測定単位区間Se2での最大値Vpmaxよりも大きい(最大値Vpmaxを超える)ため、このピーク値Vpが測定単位区間Se2から測定単位区間Se3までの最大値Vpmaxとなる。   As an example, as shown in the lower waveform diagram of FIG. 2 (waveform diagram of the absolute value of the surge signal Ss), in the measurement unit section Se2, the peak value Vp input together with the last detected detection signal St is the maximum value Vpmax. It becomes. In the measurement unit section Se3, the peak value Vp input together with the detection signal St detected first is larger than the maximum value Vpmax in the measurement unit section Se2 (exceeds the maximum value Vpmax). The maximum value Vpmax from the measurement unit section Se2 to the measurement unit section Se3 is obtained.

処理部7は、このようにして、最大値Vpmaxとして記憶したピーク値Vpを入力した測定単位区間Se2では、測定単位区間Se2の計測を完了した各時点(測定単位区間Se2の終期)において、ピーク値Vpを最大値Vpmaxとして記憶した検出信号Stを特定の検出信号Stとして第1データ記憶処理を実行して、この特定の検出信号Stと共にサージ信号検出部2の第1測定部13から出力されたピーク値Vpおよびパルス幅tpを、この特定の検出信号Stを検出したときの時刻データDtと対応させて第1主メモリ32に最大サージ信号Ss2についての特定特性データとして記憶させる。本例では、処理部7は、この最大値Vpmax、この最大値Vpmaxとして記憶したピーク値Vpと共に入力したパルス幅tp、およびこのピーク値Vpを入力したときの時刻データDtを内部メモリに記憶しているため、内部メモリからこれらのデータを読み出して、特定特性データとして第1主メモリ32に転送して記憶させる。   In this way, in the measurement unit section Se2 to which the peak value Vp stored as the maximum value Vpmax is input, the processing unit 7 performs a peak at each time point (end of the measurement unit section Se2) when measurement of the measurement unit section Se2 is completed. The first data storage process is executed with the detection signal St stored as the maximum value Vpmax as the specific detection signal St, and is output from the first measurement unit 13 of the surge signal detection unit 2 together with the specific detection signal St. The peak value Vp and the pulse width tp are stored in the first main memory 32 as specific characteristic data for the maximum surge signal Ss2 in association with the time data Dt when the specific detection signal St is detected. In this example, the processing unit 7 stores in the internal memory the maximum value Vpmax, the pulse width tp input together with the peak value Vp stored as the maximum value Vpmax, and the time data Dt when the peak value Vp is input. Therefore, these data are read from the internal memory, transferred to the first main memory 32 as specific characteristic data, and stored.

また、処理部7は、この特定特性データの記憶と併せて、第1バッファメモリ31に記憶されている第1電圧データD1のうちのこの特定の検出信号に対応するサージ信号(最大サージ信号Ss2)を含む特定期間Twの第1電圧データD1を最大サージ信号Ss2についての第1特定電圧データD1sとして第1主メモリ32に転送して、上記の特定特性データに対応させて記憶させる。また、処理部7は、測定単位区間Se2の計測を完了した時点(測定単位区間Se2の終期)において、検出回数Nについても内部メモリから読み出して、この測定単位区間Se2を特定する時刻データDtに対応させて(測定単位区間Se2での検出回数Nとして)第1主メモリ32に記憶させる。この場合、測定単位区間Se2を特定する時刻データDtとしては、測定単位区間Se2の計測を開始した時点または計測を完了した時点での時刻データDtを使用することができる。   In addition to the storage of the specific characteristic data, the processing unit 7 generates a surge signal (maximum surge signal Ss2) corresponding to the specific detection signal in the first voltage data D1 stored in the first buffer memory 31. ) Including the first voltage data D1 of the specific period Tw including the first surge voltage Ss2 is transferred to the first main memory 32 as the first specific voltage data D1s for the maximum surge signal Ss2, and stored in correspondence with the specific characteristic data. In addition, when the measurement of the measurement unit section Se2 is completed (the end of the measurement unit section Se2), the processing unit 7 reads out the number of detections N from the internal memory and uses the time data Dt for specifying the measurement unit section Se2. Correspondingly (stored as the number of times of detection N in the measurement unit section Se2) is stored in the first main memory 32. In this case, as the time data Dt for specifying the measurement unit section Se2, the time data Dt at the time when the measurement of the measurement unit section Se2 is started or when the measurement is completed can be used.

また、処理部7は、上記のようにして、ピーク値Vpを最大値Vpmaxとして記憶した検出信号Stを特定の検出信号Stとして第1データ記憶処理を実行するときには、第2データ記憶処理についても実行する。この第2データ記憶処理では、処理部7は、第1データ記憶処理における第1バッファメモリ31から第1主メモリ32への第1電圧データD1(第1特定電圧データD1s)の転送(記憶)に同期して、第2測定部23から入力した実効値Veを第2主メモリ42に記憶させると共に、第2バッファメモリ41に記憶されている第2電圧データD2のうちの上記のようにして第1主メモリ32に転送した第1電圧データD1の特定期間Twに対応する期間(この特定期間Twを含み、この特定期間Twよりも長い期間)の第2電圧データD2をこの最大サージ信号Ss2についての第2特定電圧データD2sとして第2主メモリ42へ転送して記憶させる。また、処理部7は、この実効値Veおよび第2特定電圧データD2sの第2主メモリ42への記憶に際して、この特定の検出信号Stを検出したときの時刻データDtと対応させて記憶させる。   Further, when the processing unit 7 executes the first data storage process using the detection signal St stored with the peak value Vp as the maximum value Vpmax as the specific detection signal St as described above, the processing unit 7 also executes the second data storage process. Run. In the second data storage process, the processing unit 7 transfers (stores) the first voltage data D1 (first specific voltage data D1s) from the first buffer memory 31 to the first main memory 32 in the first data storage process. The effective value Ve input from the second measurement unit 23 is stored in the second main memory 42 in synchronization with the second voltage data D2 stored in the second buffer memory 41 as described above. Second voltage data D2 in a period (including this specific period Tw and longer than this specific period Tw) corresponding to the specific period Tw of the first voltage data D1 transferred to the first main memory 32 is the maximum surge signal Ss2. Is transferred to and stored in the second main memory 42 as the second specific voltage data D2s. Further, when storing the effective value Ve and the second specific voltage data D2s in the second main memory 42, the processing unit 7 stores the specific detection signal St in association with the time data Dt when it is detected.

また、上記したように、測定単位区間Se3でも、処理部7は、最大値Vpmaxとして記憶したピーク値Vpを入力しているため、上記した測定単位区間Se2の終期での動作と同様にして、測定単位区間Se3の計測を完了した各時点(測定単位区間Se3の終期)において、ピーク値Vpを最大値Vpmaxとして記憶した検出信号Stを特定の検出信号Stとして第1データ記憶処理を実行して、この特定の検出信号Stと共にサージ信号検出部2の第1測定部13から出力されたピーク値Vpおよびパルス幅tpを、この特定の検出信号Stを検出したときの時刻データDtと対応させて第1主メモリ32に最大サージ信号Ss2についての特定特性データとして記憶させる。また、処理部7は、この特定特性データの記憶と併せて、第1バッファメモリ31に記憶されている第1電圧データD1のうちのこの特定の検出信号Stに対応するサージ信号(最大サージ信号Ss2)を含む特定期間Twの第1電圧データD1を最大サージ信号Ss2についての第1特定電圧データD1sとして第1主メモリ32に転送して、上記の特定特性データに対応させて記憶させる。また、処理部7は、測定単位区間Se3の計測を完了した各時点(測定単位区間Se3の終期)において、検出回数Nについても内部メモリから読み出して、この測定単位区間Se3を特定する時刻データDtに対応させて(測定単位区間Se3での検出回数Nとして)記憶させる。   Further, as described above, also in the measurement unit section Se3, the processing unit 7 inputs the peak value Vp stored as the maximum value Vpmax. Therefore, in the same manner as the operation at the end of the measurement unit section Se2 described above, At each time point when the measurement of the measurement unit section Se3 is completed (the end of the measurement unit section Se3), the first data storage process is executed with the detection signal St stored as the maximum value Vpmax as the specific detection signal St. The peak value Vp and the pulse width tp output from the first measurement unit 13 of the surge signal detection unit 2 together with the specific detection signal St are associated with the time data Dt when the specific detection signal St is detected. The first main memory 32 stores the specific characteristic data regarding the maximum surge signal Ss2. In addition to the storage of the specific characteristic data, the processing unit 7 generates a surge signal (maximum surge signal) corresponding to the specific detection signal St in the first voltage data D1 stored in the first buffer memory 31. The first voltage data D1 of the specific period Tw including Ss2) is transferred to the first main memory 32 as the first specific voltage data D1s for the maximum surge signal Ss2, and stored in correspondence with the specific characteristic data. The processing unit 7 also reads out the number of detections N from the internal memory at each time point when the measurement of the measurement unit section Se3 is completed (the end of the measurement unit section Se3), and specifies time data Dt for specifying the measurement unit section Se3. (As the number of times of detection N in the measurement unit section Se3) and stored.

また、処理部7は、測定単位区間Se3においても、ピーク値Vpを最大値Vpmaxとして記憶した検出信号Stを特定の検出信号Stとして第1データ記憶処理を実行するときには、第2データ記憶処理についても実行する。この第2データ記憶処理では、処理部7は、第1データ記憶処理における第1バッファメモリ31から第1主メモリ32への第1電圧データD1(第1特定電圧データD1s)の転送(記憶)に同期して、第2測定部23から入力した実効値Veを第2主メモリ42に記憶させると共に、第2バッファメモリ41に記憶されている第2電圧データD2のうちの上記のようにして第1主メモリ32に転送した第1電圧データD1の特定期間Twに対応する期間(この特定期間Twを含み、この特定期間Twよりも長い期間)の第2電圧データD2をこの最大サージ信号Ss2についての第2特定電圧データD2sとして第2主メモリ42へ転送して記憶させる。また、処理部7は、この実効値Veおよび第2特定電圧データD2sの第2主メモリ42への記憶に際して、この特定の検出信号Stを検出したときの時刻データDtと対応させて記憶させる。   In addition, when the processing unit 7 executes the first data storage process with the detection signal St stored as the maximum value Vpmax as the specific detection signal St in the measurement unit section Se3, the second data storage process is performed. Also execute. In the second data storage process, the processing unit 7 transfers (stores) the first voltage data D1 (first specific voltage data D1s) from the first buffer memory 31 to the first main memory 32 in the first data storage process. The effective value Ve input from the second measurement unit 23 is stored in the second main memory 42 in synchronization with the second voltage data D2 stored in the second buffer memory 41 as described above. Second voltage data D2 in a period (including this specific period Tw and longer than this specific period Tw) corresponding to the specific period Tw of the first voltage data D1 transferred to the first main memory 32 is the maximum surge signal Ss2. Is transferred to and stored in the second main memory 42 as the second specific voltage data D2s. Further, when storing the effective value Ve and the second specific voltage data D2s in the second main memory 42, the processing unit 7 stores the specific detection signal St in association with the time data Dt when it is detected.

この際に、測定単位区間Se2,Se3のように1つのサージ発生期間Ses(この例ではサージ発生期間Ses1)に含まれる測定単位区間Seでは、処理部7は、ピーク値Vpが現在の最大値Vpmaxよりも大きなサージ信号Ssについてのこのピーク値Vp(新たな最大値Vpmax)、パルス幅tpおよび時刻データDt、並びに第1特定電圧データD1sの第1主メモリ32への記憶については、更新しつつ最新の値のみを記憶させることにより、測定単位区間Se2,Se3に亘ってピーク値Vpが最大となる特定のサージ信号Ss(最大サージ信号Ss)についてのピーク値Vp(つまり、最大値Vpmax)、パルス幅tpおよび時刻データDt、並びに第1特定電圧データD1sのみを記憶させる。また、処理部7は、実効値Veおよび第2特定電圧データD2sの第2主メモリ42への記憶についても、上記した第1特定電圧データD1s等の第1主メモリ32への更新記憶を行う都度、第1特定電圧データD1sの特定期間Twに対応する期間(この特定期間Twを含み、この特定期間Twよりも長い期間)の第2特定電圧データD2sおよび最新の実効値Veを更新しつつ実行する。これにより、実効値Veおよび第2特定電圧データD2sについても、測定単位区間Se2,Se3に亘ってピーク値Vpが最大となる特定のサージ信号Ss(最大サージ信号Ss)を含む特定期間Twでの実効値Veおよび第2特定電圧データD2sのみが記憶される。   At this time, in the measurement unit section Se included in one surge occurrence period Ses (in this example, the surge occurrence period Ses1) as in the measurement unit sections Se2 and Se3, the processing unit 7 determines that the peak value Vp is the current maximum value. The peak value Vp (new maximum value Vpmax), the pulse width tp and the time data Dt, and the storage of the first specific voltage data D1s in the first main memory 32 for the surge signal Ss larger than Vpmax are updated. However, by storing only the latest value, the peak value Vp (that is, the maximum value Vpmax) for the specific surge signal Ss (maximum surge signal Ss) having the maximum peak value Vp over the measurement unit sections Se2 and Se3. , Only the pulse width tp and time data Dt, and the first specific voltage data D1s are stored. Further, the processing unit 7 also performs update storage of the first specific voltage data D1s and the like to the first main memory 32 for storing the effective value Ve and the second specific voltage data D2s in the second main memory 42. Each time the second specific voltage data D2s and the latest effective value Ve in the period (including the specific period Tw and longer than the specific period Tw) corresponding to the specific period Tw of the first specific voltage data D1s are updated. Run. Thereby, the effective value Ve and the second specific voltage data D2s also in the specific period Tw including the specific surge signal Ss (maximum surge signal Ss) having the maximum peak value Vp over the measurement unit sections Se2 and Se3. Only the effective value Ve and the second specific voltage data D2s are stored.

また、図示はしないが、最初の検出信号Stを検出した測定単位区間Se2以降の各測定単位区間Se3,・・・において、検出信号Stを入力(検出)するものの、それまでの測定単位区間Seにおいて特定した最大値Vpmaxよりも大きなピーク値Vpを入力しないときには、処理部7は、この測定単位区間Seの計測を完了した各時点(測定単位区間Seの終期)において、特定特性データおよび第1特定電圧データD1sの第1主メモリ32への記憶は行わずに、上記した検出回数Nおよび時刻データDtについての第1主メモリ32への記憶処理のみを実行する。   Although not shown, the detection signal St is input (detected) in each measurement unit section Se3,... After the measurement unit section Se2 in which the first detection signal St is detected, but the measurement unit section Se until then is input. When the peak value Vp larger than the maximum value Vpmax specified in step S3 is not input, the processing unit 7 sets the specific characteristic data and the first value at each time point (end of the measurement unit interval Se) at which the measurement of the measurement unit interval Se is completed. The storage of the specific voltage data D1s in the first main memory 32 is not performed, and only the storage processing in the first main memory 32 for the detection number N and the time data Dt is executed.

次いで、処理部7は、測定単位区間Se3の計測の完了後、次の測定単位区間Se4の計測を実行する。本例では一例として、測定単位区間Se3の計測中にサージ発生期間Ses1でのサージ信号Ssの一連の発生が完了する。これにより、この測定単位区間Se4では、第1測定部13は、サージ信号Ssを検出しないため、処理部7への検出信号St、ピーク値Vpおよびパルス幅tpの出力は実行しない。この場合、処理部7は、この測定単位区間Se4では検出処理において検出信号Stを検出していないため、これに基づき(または、検出回数Nがゼロであることに基づき)、この測定単位区間Se4の計測を完了した各時点(測定単位区間Se4の終期)において、この測定単位区間Se4の計測を開始したときの時刻データDt、言い換えれば、この測定単位区間Se4の直前の測定単位区間Se3の終期での時刻データDtを、サージ発生期間Ses1の終期を示す時刻データDtとして第1主メモリ32に記憶させる。これにより、1つのサージ発生期間Ses1が到来したときの電圧測定装置1による測定動作が完了する。   Next, the processing unit 7 performs the measurement of the next measurement unit section Se4 after the measurement of the measurement unit section Se3 is completed. In this example, as an example, a series of generation of the surge signal Ss in the surge generation period Ses1 is completed during the measurement of the measurement unit section Se3. Thereby, in this measurement unit section Se4, since the 1st measurement part 13 does not detect the surge signal Ss, it does not perform the output of the detection signal St, the peak value Vp, and the pulse width tp to the processing part 7. In this case, since the processing unit 7 does not detect the detection signal St in the detection process in the measurement unit section Se4, based on this (or based on the fact that the detection count N is zero), the measurement unit section Se4. The time data Dt when the measurement of the measurement unit section Se4 is started at each time point when the measurement is completed (end of the measurement unit section Se4), in other words, the end of the measurement unit section Se3 immediately before the measurement unit section Se4. Is stored in the first main memory 32 as time data Dt indicating the end of the surge occurrence period Ses1. Thereby, the measurement operation by the voltage measuring device 1 when one surge occurrence period Ses1 arrives is completed.

これにより、第1主メモリ32および第2主メモリ42には、以下に示す(1−1)〜(1−11)の各データが記憶される。
(1−1)サージ発生期間Ses1における最初の検出信号Stに対応する特定のサージ信号Ss(先頭サージ信号Ss1)についての特定特性データ(ピーク値Vp、パルス幅tpおよび時刻データDt(サージ発生期間Sesの開始時刻を示すデータ))
(1−2)先頭サージ信号Ss1を含む特定期間Twの第1特定電圧データD1s
(1−3)この第1特定電圧データD1sの特定期間Twに対応する期間での第2電圧データD2である第2特定電圧データD2s
(1−4)最初の検出信号Stに対応する実効値Ve
(1−5)各測定単位区間Seでの検出信号Stの検出回数N
(1−6)各測定単位区間Seを特定するための時刻データDt(本例では測定単位区間Seの終期での時刻データDt)
(1−7)サージ発生期間Ses1におけるピーク値Vpが最大となる特定のサージ信号Ss(最大サージ信号Ss2)についての特定特性データ(最大値Vpmax、パルス幅tpおよび時刻データDt)
(1−8)最大サージ信号Ss2を含む特定期間Twの第1特定電圧データD1s
(1−9)この第1特定電圧データD1sの特定期間Twに対応する期間での第2電圧データD2である第2特定電圧データD2s
(1−10)最大サージ信号Ss2に対応する実効値Ve
(1−11)サージ発生期間Ses1の終期を示す時刻データDt
Thus, the following data (1-1) to (1-11) are stored in the first main memory 32 and the second main memory 42.
(1-1) Specific characteristic data (peak value Vp, pulse width tp, and time data Dt (surge generation period) for a specific surge signal Ss (first surge signal Ss1) corresponding to the first detection signal St in the surge generation period Ses1 Data indicating the start time of Ses))
(1-2) First specific voltage data D1s of a specific period Tw including the head surge signal Ss1
(1-3) Second specific voltage data D2s that is second voltage data D2 in a period corresponding to the specific period Tw of the first specific voltage data D1s
(1-4) Effective value Ve corresponding to the first detection signal St
(1-5) Number of detection times N of detection signal St in each measurement unit section Se
(1-6) Time data Dt for specifying each measurement unit section Se (time data Dt at the end of the measurement unit section Se in this example)
(1-7) Specific characteristic data (maximum value Vpmax, pulse width tp, and time data Dt) for a specific surge signal Ss (maximum surge signal Ss2) having the maximum peak value Vp in the surge generation period Ses1
(1-8) First specific voltage data D1s of a specific period Tw including the maximum surge signal Ss2
(1-9) Second specific voltage data D2s that is second voltage data D2 in a period corresponding to the specific period Tw of the first specific voltage data D1s
(1-10) Effective value Ve corresponding to maximum surge signal Ss2
(1-11) Time data Dt indicating the end of the surge occurrence period Ses1

その後、図2に示すように、サージ発生期間Ses1に続いて、入力信号Siにサージ信号Ssが重畳しているサージ発生期間Ses(同図に示すサージ発生期間Ses2,Ses3,・・・)が順次到来したときには、電圧測定装置1は、上記したサージ発生期間Ses1のときと同様にして動作する。   Then, as shown in FIG. 2, following the surge generation period Ses1, there is a surge generation period Ses in which the surge signal Ss is superimposed on the input signal Si (surge generation periods Ses2, Ses3,... Shown in FIG. 2). When they arrive sequentially, the voltage measuring device 1 operates in the same manner as in the surge generation period Ses1 described above.

これにより、第1主メモリ32および第2主メモリ42には、以下に示す(2−1)〜(2−11)の各データが、サージ発生期間Ses2,Ses3,・・・毎に順次記憶される。
(2−1)先頭サージ信号Ss1についての特定特性データ(ピーク値Vp、パルス幅tpおよび時刻データDt(サージ発生期間Sesの開始時刻を示すデータ))
(2−2)先頭サージ信号Ss1を含む特定期間Twの第1特定電圧データD1s
(2−3)この第1特定電圧データD1sの特定期間Twに対応する上記期間での第2電圧データD2である第2特定電圧データD2s
(2−4)最初の検出信号Stに対応する実効値Ve
(2−5)各測定単位区間Seでの検出信号Stの検出回数N
(2−6)各測定単位区間Seを特定するための時刻データDt(測定単位区間Seの終期での時刻データDt)
(2−7)最大サージ信号Ss2の特定特性データ(最大値Vpmax、パルス幅tpおよび時刻データDt)
(2−8)最大サージ信号Ss2を含む特定期間Twの第1特定電圧データD1s
(2−9)この第1特定電圧データD1sの特定期間Twに対応する上記期間での第2電圧データD2である第2特定電圧データD2s
(2−10)最大サージ信号Ss2に対応する実効値Ve
(2−11)サージ発生期間Sesの終期を示す時刻データDt
Thus, the following data (2-1) to (2-11) are sequentially stored in the first main memory 32 and the second main memory 42 for each surge occurrence period Ses2, Ses3,. Is done.
(2-1) Specific characteristic data for the leading surge signal Ss1 (peak value Vp, pulse width tp, and time data Dt (data indicating the start time of the surge generation period Ses))
(2-2) First specific voltage data D1s of a specific period Tw including the head surge signal Ss1
(2-3) Second specific voltage data D2s which is the second voltage data D2 in the period corresponding to the specific period Tw of the first specific voltage data D1s
(2-4) Effective value Ve corresponding to the first detection signal St
(2-5) Number of detections N of the detection signal St in each measurement unit section Se
(2-6) Time data Dt for specifying each measurement unit section Se (time data Dt at the end of the measurement unit section Se)
(2-7) Specific characteristic data of maximum surge signal Ss2 (maximum value Vpmax, pulse width tp, and time data Dt)
(2-8) First specific voltage data D1s for a specific period Tw including the maximum surge signal Ss2
(2-9) Second specific voltage data D2s which is the second voltage data D2 in the period corresponding to the specific period Tw of the first specific voltage data D1s
(2-10) Effective value Ve corresponding to maximum surge signal Ss2
(2-11) Time data Dt indicating the end of the surge occurrence period Ses

処理部7は、上記の測定動作中において、または測定動作の完了後において、図外の操作部から表示指示を入力したときには、この表示指示で指定されたサージ発生期間Ses1,Ses2,Ses3,・・・のうちの任意のサージ発生期間Sesにおける任意のデータ(以下に示す(3−1)〜(3−11)の各データのすべてまたは一部)を第1主メモリ32および第2主メモリ42から読み出して、表示部8に表示させる。
(3−1)先頭サージ信号Ss1の特定特性データ(ピーク値Vp、パルス幅tpおよび時刻データDt(サージ発生期間Sesの開始時刻を示すデータ))
(3−2)先頭サージ信号Ss1を含む特定期間Twの第1特定電圧データD1s
(3−3)この第1特定電圧データD1sの特定期間Twに対応する上記期間での第2電圧データD2である第2特定電圧データD2s
(3−4)最初の検出信号Stに対応する実効値Ve
(3−5)各測定単位区間Seでの検出信号Stの検出回数N
(3−6)各測定単位区間Seを特定するための時刻データDt(測定単位区間Seの終期での時刻データDt)
(3−7)最大サージ信号Ss2の特定特性データ(最大値Vpmax、パルス幅tpおよび時刻データDt)
(3−8)最大サージ信号Ss2を含む特定期間Twの第1特定電圧データD1s
(3−9)この第1特定電圧データD1sの特定期間Twに対応する上記期間での第2電圧データD2である第2特定電圧データD2s
(3−10)最大サージ信号Ss2に対応する実効値Ve
(3−11)サージ発生期間Sesの終期を示す時刻データDt
When the processing unit 7 inputs a display instruction from the operation unit (not shown) during the above measurement operation or after the measurement operation is completed, the surge occurrence periods Ses1, Ses2, Ses3,. The first main memory 32 and the second main memory are arbitrary data (any or all of the data (3-1) to (3-11) shown below) in any surge occurrence period Ses The data is read from 42 and displayed on the display unit 8.
(3-1) Specific characteristic data of the leading surge signal Ss1 (peak value Vp, pulse width tp, and time data Dt (data indicating the start time of the surge occurrence period Ses))
(3-2) First specific voltage data D1s of a specific period Tw including the head surge signal Ss1
(3-3) Second specific voltage data D2s which is the second voltage data D2 in the period corresponding to the specific period Tw of the first specific voltage data D1s
(3-4) Effective value Ve corresponding to first detection signal St
(3-5) Number of detections N of detection signal St in each measurement unit section Se
(3-6) Time data Dt for specifying each measurement unit section Se (time data Dt at the end of the measurement unit section Se)
(3-7) Specific characteristic data of maximum surge signal Ss2 (maximum value Vpmax, pulse width tp, and time data Dt)
(3-8) First specific voltage data D1s of a specific period Tw including the maximum surge signal Ss2
(3-9) Second specific voltage data D2s which is the second voltage data D2 in the period corresponding to the specific period Tw of the first specific voltage data D1s
(3-10) Effective value Ve corresponding to maximum surge signal Ss2
(3-11) Time data Dt indicating the end of the surge occurrence period Ses

例えば、2番目のサージ発生期間Ses2での先頭サージ信号Ss1に関する波形についての表示指示を入力したときには、処理部7は、この先頭サージ信号Ss1を含む特定期間Twの第1特定電圧データD1sを第1主メモリ32から読み出すと共に、この特定期間Twに対応する期間での第2特定電圧データD2sを第2主メモリ42から読み出して、表示部8に表示させる。これにより、表示部8には、2番目のサージ発生期間Ses2での先頭サージ信号Ss1を含む入力信号Siの波形と、入力信号Siについてのサージの無い(サージ信号Ssを含まない)波形とが表示される。   For example, when a display instruction for a waveform related to the head surge signal Ss1 in the second surge occurrence period Ses2 is input, the processing unit 7 receives the first specific voltage data D1s of the specific period Tw including the head surge signal Ss1 for the first time. While reading from the 1 main memory 32, the 2nd specific voltage data D2s in the period corresponding to this specific period Tw are read from the 2nd main memory 42, and are displayed on the display part 8. FIG. Thereby, the display unit 8 has a waveform of the input signal Si including the head surge signal Ss1 in the second surge occurrence period Ses2 and a waveform without the surge (not including the surge signal Ss) regarding the input signal Si. Is displayed.

このように、この電圧測定装置1では、処理部7は、各サージ発生期間Sesの始期および終期を示す時刻データDtと、各サージ発生期間Sesでのサージ信号Ssの状態を表す入力信号Siにおける先頭サージ信号Ss1を含む特定期間Twの波形についての第1特定電圧データD1sおよび先頭サージ信号Ss1の特定特性データ(ピーク値Vp、パルス幅tpおよび発生時刻を示す時刻データDt)と、各サージ発生期間Sesでのサージ信号Ssの状態を表す入力信号Siにおける最大サージ信号Ss2を含む特定期間Twの波形についての第1特定電圧データD1sおよび最大サージ信号Ss2の特定特性データ(ピーク値Vp(サージ発生期間Sesでの最大値Vpmax)、パルス幅tpおよび発生時刻を示す時刻データDt)とを第1主メモリ32に記憶する。   Thus, in this voltage measuring device 1, the processing unit 7 uses the time data Dt indicating the start and end of each surge occurrence period Ses and the input signal Si representing the state of the surge signal Ss in each surge occurrence period Ses. The first specific voltage data D1s and the specific characteristic data (peak value Vp, pulse width tp, and time data Dt indicating the generation time) of the first surge voltage Ss1 for the waveform of the specific period Tw including the head surge signal Ss1, and the occurrence of each surge The first specific voltage data D1s and the specific characteristic data of the maximum surge signal Ss2 (peak value Vp (surge occurrence) regarding the waveform of the specific period Tw including the maximum surge signal Ss2 in the input signal Si representing the state of the surge signal Ss in the period Ses Time value D indicating the maximum value Vpmax in the period Ses), the pulse width tp, and the generation time ) And stores the first main memory 32.

したがって、この電圧測定装置1によれば、検出したすべてのサージ信号Ssについて、入力信号Siにおけるこのサージ信号Ssを含む特定期間Twの波形データと、サージ信号Ssの特定特性データとを記憶する従来の電圧測定装置とは異なり、サージ信号Ssの発生要因が連続的に発生した場合(つまり、サージ発生期間Sesが連続的に発生した場合)であっても、各サージ発生期間Sesにおける各測定単位区間Seでの第1バッファメモリ31から第1主メモリ32へのデータの転送の回数(頻度)を低減することができるため、メモリに大量のデータを短時間に転送して記憶させるための高価なハードウェアを不要にすることができる。   Therefore, according to this voltage measuring apparatus 1, for all detected surge signals Ss, the waveform data of the specific period Tw including the surge signal Ss in the input signal Si and the specific characteristic data of the surge signal Ss are stored. Unlike the voltage measurement device of FIG. 5, each measurement unit in each surge generation period Ses is obtained even when the generation factor of the surge signal Ss is generated continuously (that is, when the surge generation period Ses is generated continuously). Since the number (frequency) of data transfer from the first buffer memory 31 to the first main memory 32 in the section Se can be reduced, it is expensive to transfer and store a large amount of data in the memory in a short time Unnecessary hardware can be eliminated.

また、この電圧測定装置1によれば、すべてのサージ信号Ssの波形についてデータおよび特性データのうちの上記の先頭サージ信号Ss1を含む特定期間Twの波形についての第1特定電圧データD1sおよび先頭サージ信号Ss1の特定特性データ、並びにサージ信号Ssの特性(具体的には、最大パワー:ピーク値Vpとパルス幅tpとで規定される)を特定する際に必要となる最大サージ信号Ss2を含む特定期間Twの波形についての第1特定電圧データD1sおよび最大サージ信号Ss2の特定特性データのみを第1主メモリ32に記憶させる構成のため、上記の従来の電圧測定装置とは異なり、波形データを記憶する第1主メモリ32のメモリ容量を低減することができることから、装置コストを低減することができる。さらに、この電圧測定装置1によれば、入力信号Siについてのサージ信号Ssの測定時間が長時間に亘ったとしても、測定後に実施するデータの集計作業、並びにサージ信号Ssの発生期間(サージ発生期間の始期および終期)およびサージ信号Ss(最大サージ信号Ss2)の特性についての特定作業を大幅に簡略化でき、その作業に要する時間を大幅に短縮することができる。 Further, according to the voltage measuring apparatus 1, the first specific voltage data D1s and the top of the upper Symbol waveform of a specific time period Tw including the head surge signal Ss1 for of all the data and the characteristic data for the waveform of a surge signal Ss Specific characteristic data of the surge signal Ss1 and the maximum surge signal Ss2 necessary for specifying the characteristic of the surge signal Ss (specifically, maximum power: defined by the peak value Vp and the pulse width tp) are included. Unlike the conventional voltage measuring device described above, the waveform data is stored in the first main memory 32 because only the first specific voltage data D1s and the specific characteristic data of the maximum surge signal Ss2 for the waveform of the specific period Tw are stored in the first main memory 32. Since the memory capacity of the first main memory 32 to be stored can be reduced, the device cost can be reduced. Furthermore, according to the voltage measuring apparatus 1, even if the measurement time of the surge signal Ss for the input signal Si is long, the data collection operation performed after the measurement and the generation period of the surge signal Ss (surge occurrence) The specific work on the characteristics of the start and end of the period and the surge signal Ss (maximum surge signal Ss2) can be greatly simplified, and the time required for the work can be greatly shortened.

また、この電圧測定装置1では、処理部7が、サージ発生期間Sesにおける各測定単位区間Seでの検出信号Stの検出回数(発生回数)Nをカウントして、各測定単位区間Seを特定する時刻データDt(上記の例では、測定単位区間Seの終期の時刻データDt)に対応させて第2主メモリ42に記憶させる。したがって、この電圧測定装置1によれば、検出回数Nに基づいて、各サージ発生期間Sesでのサージ信号Ssの詳細な発生状況(例えば、サージ発生期間Ses内のどの時点においてサージ信号Ssがより多く発生したか)を測定することができる。   Further, in the voltage measuring apparatus 1, the processing unit 7 counts the number of detections (occurrence number) N of the detection signal St in each measurement unit section Se in the surge generation period Ses, and specifies each measurement unit section Se. The time data Dt (in the above example, the time data Dt at the end of the measurement unit section Se) is stored in the second main memory 42 in association with it. Therefore, according to this voltage measuring apparatus 1, based on the number of times of detection N, the detailed generation state of the surge signal Ss in each surge generation period Ses (for example, at which point in the surge generation period Ses the surge signal Ss is more Can be measured).

また、この電圧測定装置1では、処理部7が、第2測定部23から第2電圧データD2を入力して第2バッファメモリ41にFIFO方式で記憶させ、第1バッファメモリ31から第1主メモリ32への第1電圧データD1(第1特定電圧データD1s)の転送(記憶)に同期して、第2測定部23で測定した実効値Veを第2主メモリ42に記憶させると共に、第2バッファメモリ41に記憶されている第2電圧データD2のうちの第1電圧データD1(第1特定電圧データD1s)の特定期間Twに対応する期間(この特定期間Twを含み、この特定期間Twよりも長い期間)の第2電圧データD2(第2特定電圧データD2s)を第2主メモリ42へ転送して記憶させる。   In the voltage measuring apparatus 1, the processing unit 7 inputs the second voltage data D 2 from the second measuring unit 23 and stores the second voltage data D 2 in the second buffer memory 41 using the FIFO method. In synchronization with the transfer (storage) of the first voltage data D1 (first specific voltage data D1s) to the memory 32, the effective value Ve measured by the second measurement unit 23 is stored in the second main memory 42, and the first The period corresponding to the specific period Tw of the first voltage data D1 (first specific voltage data D1s) of the second voltage data D2 stored in the two-buffer memory 41 (including this specific period Tw, this specific period Tw The second voltage data D2 (second specific voltage data D2s) for a longer period) is transferred to the second main memory 42 and stored therein.

したがって、この電圧測定装置1によれば、入力信号Siにおける先頭サージ信号Ss1を含む特定期間Twに対応する上記期間における入力信号Siのサージ信号Ssを含まない波形についての第2特定電圧データD2sと、入力信号Siにおける最大サージ信号Ss2を含む特定期間Twに対応する上記期間における入力信号Siのサージ信号Ssを含まない波形についての第2特定電圧データD2sとが第2主メモリ42に記憶されるため、第2バッファメモリ41から第2主メモリ42へのデータの転送の回数(頻度)の低減と、第2主メモリ42のメモリ容量の低減とを図りつつ、入力信号Siのサージ信号Ssを含まない波形と対比させて、サージ信号Ssの波形(サージ信号Ssを含む入力信号Siの波形)を測定することができる。   Therefore, according to the voltage measuring apparatus 1, the second specific voltage data D2s for the waveform not including the surge signal Ss of the input signal Si in the period corresponding to the specific period Tw including the leading surge signal Ss1 in the input signal Si and The second specific voltage data D2s for the waveform not including the surge signal Ss of the input signal Si in the period corresponding to the specific period Tw including the maximum surge signal Ss2 in the input signal Si is stored in the second main memory 42. Therefore, the surge signal Ss of the input signal Si is reduced while reducing the number (frequency) of data transfer from the second buffer memory 41 to the second main memory 42 and reducing the memory capacity of the second main memory 42. It is possible to measure the waveform of the surge signal Ss (the waveform of the input signal Si including the surge signal Ss) in comparison with the waveform not included. Kill.

また、この電圧測定装置1によれば、処理部7が、サージ信号Ssを含まない入力信号Siの波形を示す第2電圧データD2に基づいて第2測定部23で測定した実効値Veを上記の第2特定電圧データD2sと共に第2主メモリ42に記憶させるため、各サージ発生期間Sesでの実効値Veについても測定することができる。   Further, according to the voltage measuring apparatus 1, the processing unit 7 calculates the effective value Ve measured by the second measuring unit 23 based on the second voltage data D2 indicating the waveform of the input signal Si not including the surge signal Ss. Since it is stored in the second main memory 42 together with the second specific voltage data D2s, the effective value Ve in each surge occurrence period Ses can also be measured.

なお、上記の電圧測定装置1では、好ましい態様として、パラメータ測定部3を備えて、入力信号Siの基本波についての波形および電気的パラメータについても測定する構成を採用しているが、パラメータ測定部3を省いて、サージ信号検出部2のみの構成とすることもできる。   In the voltage measuring apparatus 1 described above, as a preferred embodiment, the parameter measuring unit 3 is provided, and a configuration for measuring the waveform and electrical parameters of the fundamental wave of the input signal Si is adopted. 3 may be omitted, and only the surge signal detection unit 2 may be configured.

また、上記の電圧測定装置1では、各サージ発生期間Sesでのサージ信号Ssの詳細な発生状況(サージ発生期間Ses内のどの時点においてサージ信号Ssがより多く発生したか)を測定可能とするため、サージ発生期間Sesの各測定単位区間Seにおいて検出した検出信号Stの検出回数Nについても測定する好ましい構成を採用しているが、各サージ発生期間Sesでの期間を通してのサージ信号Ssの発生状況(サージ発生期間Sesにおいてサージ信号Ssがどの程度発生したか)を測定すればよい場合には、各測定単位区間Seにおいて検出回数Nを測定する構成に代えて、サージ発生期間Ses全体での検出信号Stの検出回数Nをサージ発生期間Ses毎に測定すると共に、サージ発生期間Sesに対応させて(一例として、サージ発生期間Sesの始期を示す時刻データDt(サージ発生期間Sesを特定する時刻データ)に対応させて)記憶する構成を採用することもできる。さらには、各サージ発生期間Sesでのサージ発生状況(どの程度発生したか)について測定する必要性が低い場合または必要の無い場合には、検出回数Nの測定を省く構成を採用することもできる。   Further, the voltage measuring device 1 described above can measure the detailed generation state of the surge signal Ss in each surge generation period Ses (at which point in the surge generation period Ses the surge signal Ss is generated more). For this reason, a preferred configuration for measuring the number of detections N of the detection signal St detected in each measurement unit section Se of the surge generation period Ses is adopted, but the generation of the surge signal Ss through the period in each surge generation period Ses is adopted. When the situation (how much the surge signal Ss is generated in the surge generation period Ses) may be measured, instead of the configuration in which the number of detections N is measured in each measurement unit section Se, the entire surge generation period Ses is measured. The number of detections N of the detection signal St is measured for each surge occurrence period Ses, and corresponding to the surge occurrence period Ses (one example and Te, it is also possible to employ a configuration in which time data Dt in correspondence with (time data identifying a surge period Ses)) stored which indicates the beginning of surge period Ses. Furthermore, when the necessity of measuring the surge occurrence state (how much has occurred) in each surge occurrence period Ses is low or not necessary, a configuration in which the number of detection times N is omitted can be adopted. .

また、上記の電圧測定装置1では、サージ信号Ssの発生期間およびサージ信号Ssの特性(最大パワー)の双方について特定するため、先頭サージ信号Ss1および最大サージ信号Ss2についての各第1特定電圧データD1sおよび各特定特性データを第1主メモリ32に記憶させる構成を採用しているが、サージ信号Ssの発生期間のみを特定すればよい場合には、先頭サージ信号Ss1を含む特定期間Twの波形についての第1特定電圧データD1sおよび先頭サージ信号Ss1の特定特性データを測定して記憶する構成を採用することもできる。 Further, in the voltage measuring apparatus 1 described above, in order to specify both the generation period of the surge signal Ss and the characteristic (maximum power) of the surge signal Ss, each first specific voltage data for the head surge signal Ss1 and the maximum surge signal Ss2 is specified. D1s and each specific characteristic data are stored in the first main memory 32. When only the generation period of the surge signal Ss needs to be specified, the waveform of the specific period Tw including the head surge signal Ss1 is used. It is also possible to adopt a configuration in which the first specific voltage data D1s and the specific characteristic data of the head surge signal Ss1 are measured and stored.

また、上記の例では、第2データ記憶処理について、第1データ記憶処理における第1バッファメモリ31から第1主メモリ32への第1電圧データD1の転送に同期して実行する構成を採用しているが、サージ発生期間Sesの終了時に実行する構成を採用することもできる。   In the above example, the second data storage process is executed in synchronization with the transfer of the first voltage data D1 from the first buffer memory 31 to the first main memory 32 in the first data storage process. However, it is also possible to employ a configuration that is executed at the end of the surge generation period Ses.

1 電圧測定装置
2 サージ信号検出部
3 パラメータ測定部
4 時計部
5 第1記憶部
6 第2記憶部
7 処理部
11 第1A/D変換部
13 第1測定部
31 第1バッファメモリ
32 第1主メモリ
41 第2バッファメモリ
42 第2主メモリ
D1 第1電圧データ
Dt 時刻データ
Se 測定単位区間
Ses サージ発生期間
Ss サージ信号
St 検出信号
tp パルス幅
Tw 特定期間
Ve 実効電圧
Vp ピーク値
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Voltage measurement apparatus 2 Surge signal detection part 3 Parameter measurement part 4 Clock part 5 1st memory | storage part 6 2nd memory | storage part 7 Processing part 11 1st A / D conversion part 13 1st measurement part 31 1st buffer memory 32 1st main Memory 41 Second buffer memory 42 Second main memory D1 First voltage data Dt Time data Se Measurement unit section Ses Surge generation period Ss Surge signal St Detection signal tp Pulse width Tw Specific period Ve Effective voltage Vp Peak value

Claims (5)

入力信号をサンプリングして当該入力信号の電圧を示す第1電圧データに変換して出力する第1A/D変換部と、
現在の時刻を示す時刻データを生成して出力する時計部と、
第1バッファメモリおよび第1主メモリを備えた第1記憶部と、
前記入力信号に含まれているサージ信号のピーク値および当該サージ信号のパルス幅を前記第1電圧データに基づいて測定して、当該サージ信号の検出を示す検出信号と共に出力する第1測定部と、
前記第1電圧データを入力して前記第1バッファメモリに記憶させる第1記憶処理、前記第1A/D変換部のサンプリング周期よりも長い時間に予め規定された測定単位区間を計測する区間計測処理、前記第1測定部から出力される前記検出信号を前記測定単位区間毎に検出する検出処理、および当該検出処理によって検出された前記検出信号のうちの特定の検出信号と共に前記第1測定部から出力された前記ピーク値および前記パルス幅を、当該特定の検出信号を検出したときの前記時刻データと対応させて当該特定の検出信号に対応する特定の前記サージ信号についての特定特性データとして前記第1主メモリに記憶させると共に、前記第1バッファメモリに記憶されている前記第1電圧データのうちの前記特定のサージ信号を含む特定期間の当該第1電圧データを当該特定のサージ信号についての第1特定電圧データとして前記第1主メモリに記憶させる第1データ記憶処理を実行可能に構成された処理部とを備え、
前記処理部は、前記第1記憶処理、前記区間計測処理および前記検出処理を継続して実行しつつ、
前記検出信号を未検出の前記測定単位区間の次の前記測定単位区間において前記検出信号を検出したときには、当該次の測定単位区間における最初の前記検出信号のみを前記特定の検出信号として前記第1データ記憶処理を実行して、当該特定の検出信号と共に前記第1測定部から出力された前記ピーク値および前記パルス幅を、サージ発生期間の始期を示す当該特定の検出信号を検出したときの前記時刻データと対応させて先頭サージ信号についての前記特定特性データとして前記第1主メモリに記憶させると共に、前記第1バッファメモリに記憶されている前記第1電圧データのうちの前記先頭サージ信号を含む前記特定期間の当該第1電圧データを当該先頭サージ信号についての前記第1特定電圧データとして前記第1主メモリに記憶させ、
前記検出信号を検出した前記測定単位区間の次の前記測定単位区間において前記検出信号が検出されないときには、当該次の測定単位区間が開始されたときの前記時刻データを、前記サージ発生期間の終期を示す時刻データとして前記第1主メモリに記憶させる電圧測定装置。
A first A / D converter that samples the input signal, converts it to first voltage data indicating the voltage of the input signal, and outputs the first voltage data;
A clock unit that generates and outputs time data indicating the current time;
A first storage unit comprising a first buffer memory and a first main memory;
A first measurement unit that measures a peak value of the surge signal included in the input signal and a pulse width of the surge signal based on the first voltage data, and outputs the measured value together with a detection signal indicating detection of the surge signal; ,
A first storage process for inputting the first voltage data and storing the first voltage data in the first buffer memory; an interval measurement process for measuring a predetermined measurement unit interval in a time longer than a sampling period of the first A / D converter; A detection process for detecting the detection signal output from the first measurement unit for each measurement unit section, and a specific detection signal among the detection signals detected by the detection process from the first measurement unit. The peak value and the pulse width that are output are associated with the time data when the specific detection signal is detected, and the specific characteristic data for the specific surge signal corresponding to the specific detection signal is the first characteristic data. A specification including the specific surge signal of the first voltage data stored in the first buffer memory and stored in the main memory The first voltage data between a first specific voltage first data storage processing executable configured processing unit to be stored in the first main memory as the data for that particular surge signal,
While the processing unit continuously executes the first storage process, the section measurement process, and the detection process,
When the detection signal is detected in the measurement unit interval next to the measurement unit interval in which the detection signal is not detected, only the first detection signal in the next measurement unit interval is used as the specific detection signal. The data storage process is executed, and the peak value and the pulse width output from the first measurement unit together with the specific detection signal are detected when the specific detection signal indicating the start of a surge occurrence period is detected. Corresponding to time data, the specific characteristic data for the leading surge signal is stored in the first main memory and includes the leading surge signal in the first voltage data stored in the first buffer memory. The first voltage data for the specific period is stored in the first main memory as the first specific voltage data for the head surge signal. Then,
When the detection signal is not detected in the measurement unit section next to the measurement unit section in which the detection signal is detected, the time data when the next measurement unit section is started is used as the end of the surge generation period. A voltage measuring device which is stored in the first main memory as time data to be shown.
入力信号をサンプリングして当該入力信号の電圧を示す第1電圧データに変換して出力する第1A/D変換部と、
現在の時刻を示す時刻データを生成して出力する時計部と、
第1バッファメモリおよび第1主メモリを備えた第1記憶部と、
前記入力信号に含まれているサージ信号のピーク値および当該サージ信号のパルス幅を前記第1電圧データに基づいて測定して、当該サージ信号の検出を示す検出信号と共に出力する第1測定部と、
前記第1電圧データを入力して前記第1バッファメモリに記憶させる第1記憶処理、前記第1A/D変換部のサンプリング周期よりも長い時間に予め規定された測定単位区間を計測する区間計測処理、前記第1測定部から出力される前記検出信号を前記測定単位区間毎に検出する検出処理、当該検出処理によって検出された前記検出信号のうちの特定の検出信号と共に前記第1測定部から出力された前記ピーク値および前記パルス幅を、当該特定の検出信号を検出したときの前記時刻データと対応させて当該特定の検出信号に対応する特定の前記サージ信号についての特定特性データとして前記第1主メモリに記憶させると共に、前記第1バッファメモリに記憶されている前記第1電圧データのうちの前記特定のサージ信号を含む特定期間の当該第1電圧データを当該特定のサージ信号についての第1特定電圧データとして前記第1主メモリに記憶させる第1データ記憶処理、および前記検出処理によって検出された前記検出信号と共に前記第1測定部から出力される前記ピーク値の最大値を特定する最大値特定処理を実行可能に構成された処理部とを備え、
前記処理部は、前記第1記憶処理、前記区間計測処理および前記検出処理を継続して実行しつつ、
前記検出信号を未検出の前記測定単位区間の次の前記測定単位区間において前記検出信号を最初に検出したとき、および当該検出信号を最初に検出した前記測定単位区間および当該測定単位区間以後の各前記測定単位区間に亘って前記最大値特定処理を実行して前記最大値を特定したときに、前記最初に検出した前記検出信号および前記ピーク値が当該最大値として特定された前記検出信号のみを前記特定の検出信号として前記第1データ記憶処理を実行して、当該特定の検出信号と共に前記第1測定部から出力された前記ピーク値および前記パルス幅を、前記最初に検出した前記検出信号についてはサージ発生期間の始期を示す当該特定の検出信号を検出したときの前記時刻データと対応させて先頭サージ信号についての前記特定特性データとして、また前記ピーク値が前記最大値として特定された前記検出信号については当該特定の検出信号を検出したときの前記時刻データと対応させて最大サージ信号についての前記特定特性データとして前記第1主メモリにそれぞれ記憶させると共に、前記第1バッファメモリに記憶されている前記第1電圧データのうちの前記先頭サージ信号を含む前記特定期間の当該第1電圧データを当該先頭サージ信号についての前記第1特定電圧データとして、また当該第1電圧データのうちの前記最大サージ信号を含む前記特定期間の当該第1電圧データを当該最大サージ信号についての前記第1特定電圧データとして前記第1主メモリにそれぞれ記憶させ、
前記検出信号を検出した前記測定単位区間の次の前記測定単位区間において前記検出信号が検出されないときには、当該次の測定単位区間が開始されたときの前記時刻データを、前記サージ発生期間の終期を示す時刻データとして前記第1主メモリに記憶させる電圧測定装置。
A first A / D converter that samples the input signal, converts it to first voltage data indicating the voltage of the input signal, and outputs the first voltage data;
A clock unit that generates and outputs time data indicating the current time;
A first storage unit comprising a first buffer memory and a first main memory;
A first measurement unit that measures a peak value of the surge signal included in the input signal and a pulse width of the surge signal based on the first voltage data, and outputs the measured value together with a detection signal indicating detection of the surge signal; ,
A first storage process for inputting the first voltage data and storing the first voltage data in the first buffer memory; an interval measurement process for measuring a predetermined measurement unit interval in a time longer than a sampling period of the first A / D converter; A detection process for detecting the detection signal output from the first measurement unit for each measurement unit section; a detection signal output from the first measurement unit together with a specific detection signal among the detection signals detected by the detection process The first peak value and the pulse width that have been made correspond to the time data when the specific detection signal is detected, as specific characteristic data for the specific surge signal corresponding to the specific detection signal. And storing in the main memory and for a specific period including the specific surge signal in the first voltage data stored in the first buffer memory. A first data storage process for storing the first voltage data in the first main memory as first specific voltage data for the specific surge signal, and the first measurement unit together with the detection signal detected by the detection process A processing unit configured to be able to execute a maximum value specifying process for specifying the maximum value of the peak value output from,
While the processing unit continuously executes the first storage process, the section measurement process, and the detection process,
When the detection signal is first detected in the measurement unit interval next to the measurement unit interval in which the detection signal is not detected, and each of the measurement unit interval and the measurement unit interval after the detection unit interval is first detected. When the maximum value is specified by executing the maximum value specifying process over the measurement unit section, only the detection signal that is first detected and the peak value is specified as the maximum value. The first data storage process is performed as the specific detection signal, and the peak value and the pulse width output from the first measurement unit together with the specific detection signal are detected with respect to the first detection signal detected Corresponds to the time data when the specific detection signal indicating the start of the surge occurrence period is detected, and the specific characteristic data for the leading surge signal. As for the detection signal with the peak value specified as the maximum value, the first main characteristic data as the specific characteristic data for the maximum surge signal is associated with the time data when the specific detection signal is detected. The first voltage data of the specific period including the head surge signal of the first voltage data stored in the first buffer memory and stored in the first buffer memory is stored in the first buffer memory. As the specific voltage data, the first voltage data of the specific period including the maximum surge signal of the first voltage data is stored in the first main memory as the first specific voltage data of the maximum surge signal. Remember,
When the detection signal is not detected in the measurement unit section next to the measurement unit section in which the detection signal is detected, the time data when the next measurement unit section is started is used as the end of the surge generation period. A voltage measuring device which is stored in the first main memory as time data to be shown.
前記処理部は、前記サージ発生期間における前記検出信号の発生回数をカウントするカウント処理を実行すると共に、対応する当該サージ発生期間に対応させて前記カウントした発生回数を前記第1主メモリに記憶させる請求項1または2記載の電圧測定装置。   The processing unit executes a counting process for counting the number of occurrences of the detection signal in the surge occurrence period, and stores the counted occurrence number in the first main memory in correspondence with the corresponding surge occurrence period. The voltage measuring device according to claim 1 or 2. 前記処理部は、前記カウント処理として、前記サージ発生期間における前記各測定単位区間での前記発生回数をカウントすると共に、対応する当該測定単位区間を特定する前記時刻データに対応させて当該発生回数を前記第1主メモリに記憶させる請求項3記載の電圧測定装置。   The processing unit counts the number of occurrences in each measurement unit section in the surge occurrence period as the counting process, and sets the number of occurrences corresponding to the time data specifying the corresponding measurement unit section. The voltage measuring device according to claim 3, wherein the voltage measuring device is stored in the first main memory. 前記入力信号を入力して出力信号として出力するローパスフィルタと、
前記出力信号を前記第1A/D変換部よりも長いサンプリング周期でサンプリングして当該出力信号の瞬時値を示す第2電圧データに変換して出力する第2A/D変換部と、
第2バッファメモリおよび第2主メモリを備えた第2記憶部と、
前記出力信号の電気的パラメータを前記第2電圧データに基づいて測定して出力する第2測定部とを備え、
前記処理部は、前記第2電圧データを入力して前記第2バッファメモリに記憶させる第2記憶処理、および前記第1データ記憶処理における前記第1バッファメモリから前記第1主メモリへの前記第1電圧データの記憶に同期して、前記測定した電気的パラメータを前記第2主メモリに記憶させると共に、前記第2バッファメモリに記憶されている前記第2電圧データを当該特定のサージ信号についての第2特定電圧データとして前記第2主メモリに記憶させる第2データ記憶処理を実行する請求項1から4のいずれかに記載の電圧測定装置。
A low-pass filter that inputs the input signal and outputs it as an output signal;
A second A / D converter that samples the output signal at a sampling period longer than that of the first A / D converter, converts the output signal into second voltage data indicating an instantaneous value of the output signal, and outputs the second voltage data;
A second storage unit comprising a second buffer memory and a second main memory;
A second measuring unit that measures and outputs an electrical parameter of the output signal based on the second voltage data;
The processing unit receives the second voltage data and stores the second voltage data in the second buffer memory, and the first buffer memory to the first main memory in the first data storage process. In synchronization with the storage of one voltage data, the measured electrical parameter is stored in the second main memory, and the second voltage data stored in the second buffer memory is stored for the specific surge signal. 5. The voltage measuring device according to claim 1, wherein a second data storage process for storing the second specific voltage data in the second main memory is executed.
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