JP5736770B2 - LED substrate, method of manufacturing the same, and semiconductor device - Google Patents
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Description
本発明は、LED素子を実装するLED用基板とその製造方法、および、LED素子を実装した半導体装置に関する。 The present invention relates to an LED substrate on which an LED element is mounted, a manufacturing method thereof, and a semiconductor device on which the LED element is mounted.
近年、LED(発光ダイオード)素子を基板上に実装した半導体装置が、表示装置のバックライト、各種電気機器や電子機器の表示灯、車載照明、一般照明等に用いられている。このような半導体装置は、一般に、銅基板のような放熱性基板上に電気絶縁層を介して電極を形成し、この電極上にLED素子を実装しボンディングした後、透光性の樹脂で封止した構造となっている。また、LED素子からの発光の利用効率を高めるために、LED素子を実装する電極が反射板を兼ねるものとされ、反射率を高めるために電極上に銀めっき層を形成したり、電極自体を銀めっき層で形成することが行われている(特許文献1)。 2. Description of the Related Art In recent years, a semiconductor device in which an LED (light emitting diode) element is mounted on a substrate is used for a backlight of a display device, display lamps of various electric devices and electronic devices, in-vehicle lighting, general lighting, and the like. In such a semiconductor device, an electrode is generally formed on a heat-dissipating substrate such as a copper substrate through an electrical insulating layer, an LED element is mounted on the electrode, bonded, and then sealed with a translucent resin. It has a stopped structure. In addition, in order to increase the utilization efficiency of light emission from the LED element, the electrode on which the LED element is mounted is also used as a reflector, and in order to increase the reflectance, a silver plating layer is formed on the electrode, or the electrode itself is Forming with a silver plating layer is performed (patent document 1).
上記のような半導体装置の封止に用いられる樹脂は、半導体装置のリフローはんだ付けに際しての加熱や、LED素子として高輝度LEDを用いる場合の強い光に暴露される。このため、熱や光により変色や透光性の劣化等を生じ難い樹脂材質であることが要求され、このような耐性を有する封止用の樹脂としてシリコーン樹脂の利用が進んでいる。しかし、シリコーン樹脂はガスバリアー性が低く、反射板の銀めっき層にまで空気中の酸素や硫化水素等の腐食性ガスが浸透するおそれがある。このような腐食性ガスが銀めっき層に接触すると、銀めっき層の変色が生じ、反射率が著しく低下するという問題がある。
本発明は、上記のような実情に鑑みてなされたものであり、腐食性ガスに対する耐性が優れると共に良好な反射率を有する反射層を備えたLED用基板とその製造方法、および、LED素子からの発光に対して高い反射率を安定して維持する反射層を備えた半導体装置を提供することを目的とする。
The resin used for sealing the semiconductor device as described above is exposed to intense light when heating the semiconductor device during reflow soldering or using a high-intensity LED as the LED element. For this reason, it is required to be a resin material that is unlikely to cause discoloration or translucency due to heat or light, and the use of silicone resins as sealing resins having such resistance is advancing. However, the silicone resin has low gas barrier properties, and corrosive gases such as oxygen and hydrogen sulfide in the air may penetrate into the silver plating layer of the reflector. When such a corrosive gas comes into contact with the silver plating layer, there is a problem that the silver plating layer is discolored and the reflectance is remarkably lowered.
The present invention has been made in view of the above-described circumstances, and includes an LED substrate having a reflection layer having excellent resistance to corrosive gas and having a good reflectance, a manufacturing method thereof, and an LED element. An object of the present invention is to provide a semiconductor device including a reflective layer that stably maintains a high reflectance with respect to light emission.
このような目的を達成するために、本発明のLED用基板は、基材と、該基材の所望の領域に位置する反射層を備え、該反射層は銀めっき層と、該銀めっき層を被覆する保護層とを備え、該保護層はスズまたはスズ化合物を含有する層とクロムまたはクロム化合物を含有する層がこの順序で前記銀めっき層上に積層されたものであるような構成とした。 In order to achieve such an object, the LED substrate of the present invention includes a base material and a reflective layer located in a desired region of the base material, and the reflective layer includes a silver plating layer and the silver plating layer. And a protective layer that covers the silver-plated layer in this order and a layer containing tin or a tin compound and a layer containing chromium or a chromium compound. did.
本発明の他の態様として、前記反射層は、前記基材側に下地めっき層を有するような構成とした。
本発明の他の態様として、前記基材は、多面付けで画定された複数のLED実装領域を有し、各面付けには前記反射層の縁部が所望の距離を介して離間している部位が少なくとも1箇所存在するような構成とした。
本発明の他の態様として、前記基材は、各面付けに貫通溝部を有し、該貫通溝部を介して前記反射層の縁部が対向しているような構成とした。
As another aspect of the present invention, the reflective layer is configured to have a base plating layer on the substrate side.
As another aspect of the present invention, the substrate has a plurality of LED mounting regions defined by multiple impositions, and the edges of the reflective layer are separated by a desired distance in each imposition. The configuration is such that at least one site exists.
As another aspect of the present invention, the base material has a through groove portion on each imposition, and the edge portion of the reflective layer is opposed to the through groove portion.
また、本発明のLED用基板の製造方法は、基材の所望の領域に銀めっき層を形成する工程と、スズ化合物含有処理溶液、次いでクロム化合物含有処理溶液を前記銀めっき層に接触させて、スズまたはスズ化合物およびクロムまたはクロム化合物を含有する薄膜を前記銀めっき層を被覆するように形成して保護層とする工程と、を含む反射層形成工程を有するような構成とした。 Moreover, the manufacturing method of the board | substrate for LED of this invention makes the said silver plating layer contact the process which forms a silver plating layer in the desired area | region of a base material, a tin compound containing processing solution, and then a chromium compound containing processing solution. And a step of forming a thin layer containing tin or a tin compound and chromium or a chromium compound so as to cover the silver plating layer to form a protective layer.
本発明の他の態様として、前記反射層形成工程は、銀めっき層を形成する工程の前に、下地めっき層を形成する工程を含むような構成とした。
本発明の他の態様として、前記基材に複数のLED実装領域を多面付けで画定し、各面付けの所望部位に貫通溝部を形成し、前記反射層形成工程において、面付け毎に前記貫通溝部を介して離間している領域に前記反射層を形成するような構成とした。
As another aspect of the present invention, the reflective layer forming step includes a step of forming a base plating layer before the step of forming the silver plating layer.
As another aspect of the present invention, a plurality of LED mounting regions are defined on the base material by multiple impositions, and through grooves are formed in desired portions of each imposition, and in the reflective layer forming step, the penetration is performed for each imposition. The reflective layer is formed in a region separated via the groove.
本発明の半導体装置は、基材と、該基材の所望の領域に位置して電気的に独立である複数の反射層と、1つの前記反射層上あるいは複数の前記反射層に跨るように実装されたLED素子と、前記LED素子と所望の前記反射層とを電気的に接続する導電部と、前記LED素子と前記導電部とを封止する封止樹脂と、を備え、前記反射層は銀めっき層と、該銀めっき層を被覆する保護層とを有し、該保護層はスズまたはスズ化合物を含有する層とクロムまたはクロム化合物を含有する層がこの順序で前記銀めっき層上に積層されたものであるような構成とした。 The semiconductor device of the present invention includes a base material, a plurality of reflective layers that are located in a desired region of the base material and are electrically independent, and a single reflective layer or a plurality of reflective layers. A mounted LED element; a conductive portion that electrically connects the LED element and the desired reflective layer; and a sealing resin that seals the LED element and the conductive portion; and the reflective layer Has a silver plating layer and a protective layer covering the silver plating layer, and the protective layer includes a layer containing tin or a tin compound and a layer containing chromium or a chromium compound in this order on the silver plating layer. It was set as the structure laminated | stacked on .
本発明の他の態様として、前記反射層は、前記基材側に下地めっき層を有するような構成とした。
本発明の他の態様として、前記基材は金属基材であり、該金属基材は間隙部により電気的に独立するように分割されており、分割された各金属基材の所望の領域に前記反射層が位置しているような構成とした。
本発明の他の態様として、前記封止樹脂は、シリコーン樹脂であるような構成とした。
As another aspect of the present invention, the reflective layer is configured to have a base plating layer on the substrate side.
As another aspect of the present invention, the base material is a metal base material, and the metal base material is divided so as to be electrically independent by a gap portion, and is formed in a desired region of each divided metal base material. The reflective layer is positioned.
As another aspect of the present invention, the sealing resin is a silicone resin.
本発明では、LED用基板を構成する反射層が、銀めっき層と、この銀めっき層を被覆する特定の保護層とを有し、この保護層が空気中の酸素や硫化水素等の腐食性ガス等に対する優れた耐性を発現し、腐食性ガス等による銀めっき層の腐食を防止するので、LED用基板は、腐食性ガス等に対する耐性が優れると共に良好な反射率を有する反射層を備えたものである。
また、本発明のLED用基板の製造方法では、銀めっき層を形成した後に、この銀めっき層を被覆するように特定の保護層を形成して反射層とするので、空気中の酸素や硫化水素等の腐食性ガス等に対する耐性を反射層に付与することができ、腐食性ガス等に対する耐性が優れると共に良好な反射率を有する反射層を備えたLED用基板の製造が可能である。
また、本発明の半導体装置は、銀めっき層と、この銀めっき層を被覆する特定の保護層とを有する反射層上にLED素子が実装されており、反射層を構成する銀めっき層は、空気中の酸素や硫化水素等の腐食性ガス等との接触が保護層により阻止されるので、仮に封止樹脂がガスバリアー性の低い樹脂であっても、銀めっき層の腐食が防止されるので、LED素子からの発光に対して高い反射率を安定して維持する反射層を備えた半導体装置である。
In this invention, the reflective layer which comprises the board | substrate for LED has a silver plating layer and the specific protective layer which coat | covers this silver plating layer, and this protective layer is corrosiveness, such as oxygen and hydrogen sulfide in the air. Since it exhibits excellent resistance to gas and prevents corrosion of the silver plating layer by corrosive gas, etc., the substrate for LED has a reflection layer having excellent resistance to corrosive gas and having good reflectance. Is.
Moreover, in the manufacturing method of the substrate for LED of this invention, after forming a silver plating layer, since a specific protective layer is formed so that this silver plating layer may be coat | covered and it is set as a reflective layer, oxygen in the air, sulfide Resistance to corrosive gas such as hydrogen can be imparted to the reflective layer, and it is possible to manufacture an LED substrate having a reflective layer having excellent resistance to corrosive gas and the like and having a good reflectance.
Further, in the semiconductor device of the present invention, an LED element is mounted on a reflective layer having a silver plated layer and a specific protective layer covering the silver plated layer, and the silver plated layer constituting the reflective layer is: Since the protective layer prevents contact with corrosive gases such as oxygen and hydrogen sulfide in the air, even if the sealing resin is a resin with low gas barrier properties, corrosion of the silver plating layer is prevented. Therefore, the semiconductor device includes a reflective layer that stably maintains a high reflectance with respect to light emitted from the LED element.
以下、本発明の実施の形態について図面を参照して説明する。
[LED用基板]
図1は、本発明のLED用基板の一実施形態を示す部分断面図である。図1において、LED用基板1は、基材2と、この基材2の一方の面に位置する反射層4とを備えている。反射層4は、基材2側に銀めっき層5が位置し、この銀めっき層5を被覆するように保護層6が配設されたものである。
また、図2は、本発明のLED用基板の他の実施形態を示す部分断面図である。図2において、LED用基板1′は、基材2と、この基材2の一方の面に位置する反射層4′とを備えている。反射層4′は、基材2側から下地めっき層7、銀めっき層5、保護層6が積層されたものである。
このような本発明のLED用基板1,1′を構成する基材2は、例えば、銅、銅合金、42合金(ニッケル41%の鉄合金)等の金属基材であってよく、また、セラミックス、ガラス等の電気絶縁性を有する基材の表面に導電性材料層を設けた複合基材等を使用することができるが、基材2の放熱性を考慮して、金属基材とすることが好ましい。このような基材2の厚みは、LED用基板を使用して作製される半導体装置の構成を考慮して設定することができ、例えば、0.05〜0.5mmの範囲で設定することができる。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
[LED substrate]
FIG. 1 is a partial cross-sectional view showing an embodiment of an LED substrate of the present invention. In FIG. 1, an
FIG. 2 is a partial cross-sectional view showing another embodiment of the LED substrate of the present invention. In FIG. 2, the
The
LED用基板1,1′を構成する銀めっき層5は、実装されたLED素子からの発光を反射するための層であり、後述するように、腐食性ガス等による腐食が保護層6によって防止されるので、通常の電気めっきにより形成された銀めっき層であってよい。このような銀めっき層の厚みは、例えば、1〜10μm、好ましくは1〜5μmの範囲で設定することができる。尚、このような銀めっき層は、例えば、スズ、パラジウム、銅、金、インジウム、ロジウム、亜鉛等の他の金属を含有する銀合金からなる銀めっき層であってもよい。この場合、銀合金をなす他の金属の含有量は、銀合金の溶融温度、反射率等を考慮して設定することができ、例えば、50重量%以下の範囲で設定することができる。
LED用基板1,1′を構成する保護層6は、腐食性ガス等による銀めっき層5の腐食発生を防止するものであり、このような保護層は、クロムまたはクロム化合物を含有する層、あるいは、スズまたはスズ化合物を含有する層、あるいは、クロムまたはクロム化合物およびスズまたはスズ化合物を含有する層とすることができる。
保護層6がクロムまたはクロム化合物を含有する層である場合、厚みは、例えば、1〜15nm、好ましくは2〜10nmの範囲であってよく、オージェ電子分光法(AES)による表面分析でクロム含有量が5at%以上、好ましくは10〜30at%のものとすることができる。クロム化合物における他の元素としては、例えば、炭素、酸素、塩素等を挙げることができ、これらは後述する保護層6の形成時に使用する処理溶液の組成により決定される。
The
The
When the
また、保護層6がスズまたはスズ化合物を含有する層である場合、厚みは、例えば、5〜20nm、好ましくは10〜15nmの範囲であってよく、オージェ電子分光法(AES)による表面分析でスズ含有量が10at%以上、好ましくは15〜40at%のものとすることができる。スズ化合物における他の元素としては、例えば、炭素、酸素、塩素等を挙げることができ、これらは後述する保護層6の形成時に使用する処理溶液の組成により決定される。
また、保護層6がクロムまたはクロム化合物およびスズまたはスズ化合物を含有する層である場合、厚みは、例えば、6〜30nm、好ましくは10〜20nmの範囲であってよく、オージェ電子分光法(AES)による表面分析でスズ含有量が7at%以上、好ましくは10〜30at%、クロム含有量が3at%以上、好ましくは5〜15at%のものとすることができる。スズ化合物、クロム化合物における他の元素としては、上記のものを挙げることができ、これらは後述する保護層6の形成時に使用する処理溶液の組成により決定される。
Moreover, when the
Further, when the
このような保護層6の厚みが上記の範囲を下回る場合、銀めっき層5の腐食発生を防止する作用が不十分となるおそれがあり、上記の範囲を超えると、銀めっき層5の光反射作用を阻害し、反射層4としての反射率が低下することがあり好ましくない。また、保護層6におけるクロム含有量、スズ含有量が上記の範囲を下回る場合、銀めっき層5の腐食発生を防止する作用が不十分となるおそれがあり、一方、上記の範囲を超えると、銀めっき層5の光反射作用を阻害し、反射層4としての反射率が低下することがあり好ましくない。
LED用基板1′を構成する下地めっき層7は、基材2と銀めっき層5との密着性を向上させるものであり、例えば、無電解めっき、電気めっきにより形成した銅めっき層、ニッケルめっき層等とすることができる。このような下地めっき層の厚みは10〜1000nmの範囲で適宜設定することができる。
尚、上記の銀めっき層5、保護層6、下地めっき層7の厚みは、蛍光X線測定装置や収束イオンビーム(FIB)により測定することができる。
When the thickness of the
The base plating layer 7 constituting the
In addition, the thickness of said
次に、図1に示される層構成を有する本発明のLED用基板であって多面付けで区画された実施形態について説明する。図3は、多面付けで区画されたLED用基板の例を示す平面図であり、図4は図3に示されるLED用基板のI−I線における拡大断面図である。図3および図4において、LED用基板1は、1Aで示される一つの領域(図3において二点鎖線で囲まれた領域)が9個配列され面付けされている。尚、面付けの領域数は図示例に限定されるものではない。LED用基板1を構成する基材2は、各面付け1Aを縦断し、かつ、両端部が面付け領域1Aの外側に位置するように貫通溝部3を有しており、各面付け1A内では、この貫通溝部3を介して第1領域2Aと第2領域2Bに区分されている。そして、各面付け1Aの基材2上には、銀めっき層5と保護層6との積層である反射層4が位置している。この反射層4は、面付け1A毎に、上記の貫通溝部3によって、基材2の第1領域2Aに位置する反射層4Aと、第2領域2Bに位置する反射層4Bとに分割されている。そして、各面付け1Aでは、反射層4Aの縁部4aと、反射層4Bの縁部4bは、貫通溝部3の開口幅(基材2の表面における開口幅)に相当する距離を介して離間し対向している。このように反射層4Aの縁部4aと反射層4Bの縁部4bとが離間する距離を決定する貫通溝部3の開口幅は、例えば、200〜600μmの範囲で適宜設定することができる。
Next, an embodiment of the LED substrate of the present invention having the layer configuration shown in FIG. FIG. 3 is a plan view showing an example of an LED substrate partitioned by multiple imposition, and FIG. 4 is an enlarged cross-sectional view taken along line II of the LED substrate shown in FIG. In FIG. 3 and FIG. 4, the
基材2が金属基材であり電気導電性を有する場合、各面付け1Aの上記の反射層4Aと反射層4Bは基材2を介して導通状態にあるが、後述するように電気絶縁性の樹脂材料によって貫通溝部3が充填された後に、貫通溝部3の長手方向の両端部よりも内側を通るように、図3に二点鎖線で示した箇所でダイシングすることにより、基材2は貫通溝部3によって2つに分割され、反射層4Aと反射層4Bは電気的に独立したものとなる。
このようなLED用基板1では、反射層4Aに接続する配線と反射層4Bに接続する配線を、電気的に独立した状態で基材2上に備えたものであってもよい。
また、本発明のLED用基板は、後述するような本発明の半導体装置を作製する際に、LED用基板の基材と外枠樹脂部材との密着性を向上させる凹部を基材に有するものであってもよい。図5および図6は、このような凹部を有するLED用基板を示す平面図とII−II線における拡大断面図であり、図3および図4に対応している。図示例では、LED用基板1″は、面付き1″A毎に、反射層4を囲むように凹部8を有している。尚、図5および図6において、二点鎖線で囲んだ領域は1つの面付け1″Aを示すとともに、ダイシング位置を示すものである。このような凹部8の形成位置、凹部の深さ、形状は、外枠樹脂部材との密着性を考慮して設定することができ、例えば、反射層4を二重に囲むように凹部8を備えるものであってもよい。
When the
In such an
Further, the LED substrate of the present invention has a recess in the base material for improving the adhesion between the base material of the LED substrate and the outer frame resin member when the semiconductor device of the present invention as described later is manufactured. It may be. 5 and 6 are a plan view showing an LED substrate having such a recess and an enlarged cross-sectional view taken along the line II-II, corresponding to FIGS. 3 and 4. In the illustrated example, the
このような本発明のLED用基板は、反射層を構成する保護層が空気中の酸素や硫化水素等の腐食性ガス等に対する優れた耐性を発現し、腐食性ガス等による銀めっき層の腐食を防止するので、腐食性ガス等に対する耐性が優れると共に良好な反射率を有する反射層を備えたものである。尚、本発明において反射率は分光光度計により測定することができる。また、通常、銀めっき層における可視領域光の反射率は波長が大きくなると高くなるので、可視領域の光の反射率を、例えば400〜460nm程度の短波長光の反射率で評価することができる。
上述のLED用基板の実施形態は例示であり、本発明はこれらの実施形態に限定されるものではない。例えば、図3〜図6に示されるLED用基板1の反射層4が、図2に示されるように、下地めっき層7を備えた構成であってもよい。
In such an LED substrate of the present invention, the protective layer constituting the reflective layer exhibits excellent resistance to corrosive gases such as oxygen and hydrogen sulfide in the air, and corrosion of the silver plating layer by corrosive gases and the like. Therefore, it is provided with a reflection layer having excellent resistance to corrosive gas and the like and having a good reflectance. In the present invention, the reflectance can be measured with a spectrophotometer. Moreover, since the reflectance of visible region light in a silver plating layer usually increases as the wavelength increases, the reflectance of light in the visible region can be evaluated by the reflectance of short wavelength light of, for example, about 400 to 460 nm. .
The above-described embodiments of the LED substrate are examples, and the present invention is not limited to these embodiments. For example, the
[LED用基板の製造方法]
次に、本発明のLED用基板の製造方法について説明する。
図7は、図3および図4に示されるLED用基板1を例とした本発明の製造方法の一実施形態を説明するための工程図である。
図7において、基材2の表面2a、裏面2bにエッチングレジスト膜9を形成し、基材2の両面からエッチングを行って貫通溝部3を形成する(図7(A))。基材2としては、上述の材料を使用することができる。エッチングレジスト膜9は、公知の感光性レジストを用いて形成することができる。また、基材2をエッチングするためのエッチング液は、基材2の材質により適宜選定することができ、例えば、基材2が銅である場合には、エッチング液として塩化第二鉄水溶液を使用することができる。基材2のエッチング方法は、スプレー方式、浸漬方式等、適宜選定することができる。
次いで、反射層形成工程において反射層4を形成する。まず、上記のように貫通溝部3が形成された基材2の表面2aに所望の形状で開口部を有する絶縁性レジスト層10aを設け、貫通溝部3内部と基材2の裏面2bの全域に絶縁性レジスト層10bを設ける(図7(B))。絶縁性レジスト層10aが有する開口部は、形成する反射層4の部位、形状に応じて適宜設定することができる。
[Method for producing LED substrate]
Next, the manufacturing method of the board | substrate for LED of this invention is demonstrated.
FIG. 7 is a process diagram for explaining an embodiment of the manufacturing method of the present invention using the
In FIG. 7, an etching resist
Next, the
次に、基材2を給電層として、電気めっきにより、絶縁性レジスト層10aの開口部に露出している基材2の表面2aに銀めっき層5を形成する(図7C)。銀めっき層5の厚みは、例えば、1〜10μm、好ましくは1〜5μmの範囲で設定することができる。また、銀めっき層5は、例えば、スズ、パラジウム、銅、金、インジウム、ロジウム、亜鉛等の他の金属を含有する銀合金からなる銀めっき層であってもよい。この場合、銀合金をなす他の金属の含有量は、銀合金の溶融温度、反射率等を考慮して設定することができ、例えば、50重量%以下の範囲で設定することができる。
次いで、銀めっき層5を被覆する保護層6を形成して、本発明のLED用基板1とする(図7(D))。保護層6の形成は、上記のように銀めっき層5を形成した後、絶縁性レジスト層10a、10bを除去し、基材2を処理溶液に浸漬することにより行うことができる。使用する処理溶液は、(1)クロム酸カリウム、クロム酸ナトリウム、クロム酸アンモニウム、クロム酸カルシウム、クロム酸銀、クロム酸パラジウム、クロム酸バリウム等のクロム化合物を溶解または分散させた溶液、(2)塩化スズ、硫酸スズ、酢酸スズ、スルファミン酸スズ、ピロリン酸スズ、臭化スズ、ヨウ化スズ、スズ酸ナトリウム、スズ酸カリウム等のスズ化合物を溶解または分散させた溶液である。(1)の処理溶液におけるクロム化合物の濃度、(2)の処理溶液におけるスズ化合物の濃度は、特に制限はなく、例えば、0.1〜10重量%の範囲とすることができる。
Next, a
Subsequently, the
そして、上記の(1)の処理溶液を使用することにより、クロムまたはクロム化合物を含有する薄膜からなる保護層6を形成することができる。この場合の保護層6の厚みは、例えば、1〜15nm、好ましくは2〜10nmの範囲とすることができる。
また、上記の(2)の処理溶液を使用することにより、スズまたはスズ化合物を含有する薄膜からなる保護層6を形成することができる。この場合の保護層6の厚みは、例えば、5〜20nm、好ましくは10〜15nmの範囲とすることができる。
さらに、(1)の処理溶液に浸漬し、洗浄後、(2)の処理溶液に浸漬すること、または、(2)の処理溶液に浸漬し、洗浄後、(1)の処理溶液に浸漬することにより、クロムまたはクロム化合物およびスズまたはスズ化合物を含有する薄膜からなる保護層6を形成することができる。この場合の保護層6の厚みは、例えば、6〜30nm、好ましくは10〜20nmの範囲とすることができる。
形成する保護層6の厚みは、使用する処理溶液のクロム化合物の含有量、スズ化合物の含有量、浸漬時間等により制御することができ、保護層6の厚みが上記の範囲を下回る場合、銀めっき層5の腐食発生を防止する作用が不十分となるおそれがあり、また、上記の範囲を超えると、銀めっき層5の光反射作用を阻害し、反射層4としての反射率が低下することがあり好ましくない。
And the
Moreover, the
Further, immerse in the treatment solution of (1) and after washing, immerse in the treatment solution of (2), or immerse in the treatment solution of (2), immerse in the treatment solution of (1) after washing. Thus, the
The thickness of the
また、本発明の製造方法では、上述のLED用基板1″を製造する場合に、例えば、上記の貫通溝部3の形成と同時に、基材2の表面2aに凹部8を形成することができる。そして、図8に示されるように、基材2の表面2aに所望の形状で開口部を有する絶縁性レジスト層10aを設け、基材2の裏面2bの全域に絶縁性レジスト層10bを設け、上述のLED用基板1の製造と同様に、銀めっき層5、保護層6を形成することができる。
このような本発明のLED用基板の製造方法では、銀めっき層を形成した後に、この銀めっき層を被覆するように特定の保護層を形成して反射層とするので、空気中の酸素や硫化水素等の腐食性ガス等に対する耐性を反射層に付与することができ、腐食性ガス等に対する耐性が優れると共に良好な反射率を有する反射層を備えたLED用基板の製造が可能である。
上述のLED用基板の製造方法の実施形態は例示であり、本発明はこれに限定されるものではない。例えば、上述の例では、銀めっき層5は表面とともに周縁の端部も保護層6により被覆されているが、銀めっき層5の厚みは上記のように1〜10μm程度であり薄く、周縁の端部からの腐食は極めて少ないと考えられる。したがって、銀めっき層5の表面のみを保護層6で被覆したものであってもよく、この場合、上述の保護層6の形成は、銀めっき層5を形成した後、絶縁性レジスト層10a、10bを除去することなく、基材2を処理溶液に浸漬することにより行うことができる。
In the manufacturing method of the present invention, when manufacturing the above-described
In such a method for manufacturing an LED substrate of the present invention, after a silver plating layer is formed, a specific protective layer is formed so as to cover the silver plating layer, thereby forming a reflective layer. Resistance to corrosive gas such as hydrogen sulfide can be imparted to the reflective layer, and it is possible to manufacture an LED substrate having a reflective layer having excellent resistance to corrosive gas and the like and having a good reflectance.
The embodiment of the method for manufacturing an LED substrate described above is an exemplification, and the present invention is not limited to this. For example, in the above-described example, the
また、例えば、LED用基板1の反射層4が、図2に示されるように、下地めっき層7を備える構成である場合には、上記の図7(B)に示されるように絶縁性レジスト層10aと絶縁性レジスト層10bを設けた後、絶縁性レジスト層10aの開口部に露出している基材2の表面2aに下地めっき層7を形成し、その後、上記と同様にして、銀めっき層5、保護層6を形成することができる。下地めっき層7の形成は、無電解めっき、電気めっきにより行うことができ、例えば、厚みが10〜1000nmの範囲の銅めっき層、ニッケルめっき層等とすることができる。
Further, for example, when the
[半導体装置]
次に、本発明の半導体装置について説明する。
図9は、本発明の半導体装置の一実施形態の平面図であり、図10は図9に示される半導体装置のIII−III線断面図である。図9および図10において、半導体装置21は、基材22と、基材22上に位置する反射層24と、反射層24を囲むように位置する外枠樹脂部材31と、反射層24上に実装されているLED素子41と、このLED素子41と反射層24とを電気的に接続する導電部42と、LED素子41および導電部42を封止する封止樹脂35と、を備えている。
半導体装置21を構成する基材22は、例えば、銅、銅合金、42合金(ニッケル41%の鉄合金)等の金属基材であってよく、また、セラミックス、ガラス等の電気絶縁性を有する基材の表面に導電性材料層を設けた複合基材等を使用することができる。但し、基材22の放熱性、外部電極形成における構造の複雑化を回避すること等を考慮して、金属基材とすることが好ましい。また、基材22の厚みは、例えば、0.05〜0.5mmの範囲で適宜設定することができる。
図示例では、基材22は間隙部23を介して2つに分割されており、この間隙部23には電気絶縁性の樹脂材料33が充填されている。そして、分割された一方の基材22の裏面は、第1外部電極22Aであり、他方の基材22の裏面は第2外部電極22Bとなっている。間隙部23の幅は、例えば、例えば、200〜600μmの範囲で適宜設定することができる。また、間隙部23の位置は、反射層24A上に実装されたLED素子41が、外枠樹脂部材31で囲まれた反射層24の中央部、または、中央部に近い位置となるように設定することが好ましい。
[Semiconductor device]
Next, the semiconductor device of the present invention will be described.
9 is a plan view of an embodiment of the semiconductor device of the present invention, and FIG. 10 is a cross-sectional view taken along the line III-III of the semiconductor device shown in FIG. 9 and 10, the
The
In the illustrated example, the
反射層24は、分割された一方の基材22の表面に位置する反射層24Aと、他方の基材22の表面に位置する反射層24Bとからなり、反射層24Aの縁部24aと反射層24Bの縁部24bは、間隙部23を介して離間している。したがって、反射層24Aと反射層24Bは電気的に独立したものとなっている。このような反射層24Aと反射層24Bは、それぞれ銀めっき層25と、この銀めっき層25を被覆する保護層26からなっている。この銀めっき層25と保護層26は、上述の本発明のLED用基板1を構成する銀めっき層5、保護層6と同様とすることができ、ここでの説明は省略する。尚、図示例では、銀めっき層25は表面とともに周縁の端部も保護層26により被覆されているが、周縁の端部からの銀めっき層25の腐食は極めて少ないものと考えられる。このため、銀めっき層25の表面のみを保護層26で被覆したものであってもよい。
LED素子41は、一方の反射層24A上に実装され、この実装面に位置する端子部(図示せず)は導電部42(図示せず)を介して反射層24Aに接続され、この反射層24Aを介して第1外部電極22Aに接続されている。また、LED素子41の表面に位置する他の端子部41aは導電部(ボンディングワイヤ)42により反射層24Bに接続され、この反射層24Bを介して第2外部電極22Bに接続されている。
The
The
外枠樹脂部材31は、反射層24を囲むように位置し、間隙部23によって分割されている基材22を、樹脂部材33とともに保持するとともに、その内側壁面31aが、実装されたLED素子からの発光を反射する作用をなす部材である。このような外枠樹脂部材31は、例えば、ポリフタルアミド、エポキシ、シリコーン、液晶高分子等の樹脂材料の1種、あるいは、2種以上の組み合わせからなるものであってよい。
樹脂部材33は、上述のように、基材22の間隙部23を埋めるものであり、材質は外枠樹脂部材31と同じものであってもよい。
また、封止樹脂35は、熱や光により変色や透光性の劣化等を生じ難い材質であることが要求され、例えば、シリコーン樹脂を含み、蛍光物質やシリカ、アルミナ、酸化チタン等の拡散材料の1種、あるいは、2種以上の組み合わせからなるものであってよい。
このような本発明の半導体装置は、銀めっき層25と、この銀めっき層25を被覆する特定の保護層26とを有する反射層24上に、LED素子41が実装されており、反射層24を構成する銀めっき層25は、空気中の酸素や硫化水素等の腐食性ガス等との接触が保護層26により阻止されるので、仮に封止樹脂35がガスバリアー性の低い樹脂であっても、銀めっき層25の腐食が保護層26により防止されるので、LED素子41からの発光に対して高い反射率を安定して維持する反射層を備えた半導体装置である。
The outer
As described above, the
In addition, the sealing
In such a semiconductor device of the present invention, the
また、上述の実施形態のように、基材22が間隙部23により分割され、かつ、間隙部に樹脂材料33が充填されている構造の場合、外枠樹脂部材31や封止樹脂35の熱収縮と、金属基材22の熱収縮の挙動の差による歪みが樹脂材料33により吸収され、信頼性の高い半導体装置となる。
また、本発明では、図11に示すように、外枠樹脂部材31が位置する基材22に凹部28を有し、基材22に対する外枠樹脂部材31の密着性を向上させたものであってもよい。
次に、上述の本発明の半導体装置21の製造例を、図3および図4に示される本発明のLED用基板1を用いた例として、図12を参照して説明する。
まず、各面付け1AのLED用基板1の貫通溝部3に電気絶縁性の樹脂部材33を充填し、反射層4を囲むように外枠樹脂部材31を形成する(図12(A))。このような外枠樹脂部材31および樹脂部材33は、例えば、LED用基板1を金型内に載置し、熱可塑性樹脂を射出成形あるいはトランスファ成形することにより形成することができる。
次に、反射層4A上にLED素子41を実装し、この実装面に位置する端子部(図示せず)を反射層4Aに接続する(図12(B))。その後、LED素子41の表面に位置する他の端子部41aを導電部(ボンディングワイヤ)42により反射層4Bに接続する(図12(C))。
In the case where the
Further, in the present invention, as shown in FIG. 11, the
Next, a manufacturing example of the above-described
First, the electrically insulating
Next, the
次いで、LED素子41および導電部42を封止樹脂35により封止する(図12(D))。その後、面付け1A毎に所定の位置(図3の二点鎖線で示される位置)でダイシングすることにより、貫通溝部3は間隙部23となり、半導体装置21が得られる(図12(E))。
上述の本発明の半導体装置の実施形態は例示であり、本発明はこれに限定されるものではない。例えば、反射層24は基材22側に下地めっき層を有するものであってもよい。この場合の下地めっき層は、上述の本発明のLED用基板1′の下地めっき層7と同様とすることができる。
また、本発明の半導体装置は、図13に示すように、間隙部23を介して離間するように位置し電気的に独立している反射層24Aと反射層24Bに跨るようにLED素子41を実装してもよい。この場合、LED素子41の実装面に位置する一方の端子部41aは導電部42(図示せず)を介して反射層24Aに接続され、この反射層24Aを介して第1外部電極22Aに接続されている。また、LED素子41の実装面に位置する他の端子部41aは導電部42(図示せず)を介して反射層24Bに接続され、この反射層24Bを介して第2外部電極22Bに接続されている。このような半導体装置では、間隙部23の位置は、反射層24Aと反射層24Bに跨るように実装されたLED素子41が、外枠樹脂部材31で囲まれた反射層24の中央部、または、中央部に近い位置となるように設定することが好ましい。尚、反射層24Aと反射層24Bに跨るようにLED素子41が絶縁接着剤を介して実装され、LED素子41の表面に位置する端子部41aが導電部(ボンディングワイヤ)42により反射層24Aと反射層24Bに接続されたものであってもよい。
Next, the
The above-described embodiment of the semiconductor device of the present invention is an exemplification, and the present invention is not limited to this. For example, the
Further, as shown in FIG. 13, the semiconductor device of the present invention has the
また、本発明の半導体装置は、図14に示すように、基材22が、樹脂部材33が充填された2つの間隙部23,23によって3つに分割されたものであってもよい。この場合、間隙部23を介して離間するように反射層24A,24B,24Cを図示のように配置し、中央の反射層24CにLED素子41が絶縁接着剤を介して実装されている。そして、LED素子41の表面に位置する一方の端子部41aは導電部(ボンディングワイヤ)42により反射層24Aに接続され、この反射層24Aを介して第1外部電極22Aに接続されている。また、他の端子部41aは導電部(ボンディングワイヤ)42により反射層24Bに接続され、この反射層24Bを介して第2外部電極22Bに接続されている。このような半導体装置では、2つの間隙部23の位置は、反射層24C上に実装されたLED素子41が、外枠樹脂部材31で囲まれた反射層24の中央部、または、中央部に近い位置となるように設定することが好ましい。
In the semiconductor device of the present invention, as shown in FIG. 14, the
次に、具体的な実施例を示して本発明を更に詳細に説明する。
[参考例1]
基材として、厚み0.2mmの銅板を準備し、一方の面に絶縁性レジスト層を形成し、他方の面に電気めっきにより銀めっき層(厚み3μm)を形成した。
次に、スズ化合物含有処理溶液Aとして塩化スズ分散溶液(塩化スズ含有量=3重量%)を準備し、これに銀めっき層を形成した上記の基材を2分間浸漬し、水洗浄、乾燥し、厚み約10nmのスズ化合物からなる保護層を銀めっき層上に形成した。その後、絶縁性レジスト層を除去して、図1に示されるようなLED用基板を作製した。
形成した保護層の表面分析をオージェ電子分光法(AES)により行い、スズ含有量を測定して結果を下記の表1に示した。
尚、銀めっき層、保護層の厚みは蛍光X線測定装置と収束イオンビーム(FIB)を用いて測定した。以下の参考例、実施例、比較例においても同様である。
Next, the present invention will be described in more detail by showing specific examples.
[ Reference Example 1]
A copper plate having a thickness of 0.2 mm was prepared as a substrate, an insulating resist layer was formed on one surface, and a silver plating layer (
Next, a tin chloride dispersion solution (tin chloride content = 3% by weight) is prepared as a tin compound-containing treatment solution A, and the above-mentioned base material on which a silver plating layer has been formed is immersed in this for 2 minutes, washed with water and dried. Then, a protective layer made of a tin compound having a thickness of about 10 nm was formed on the silver plating layer. Thereafter, the insulating resist layer was removed to produce an LED substrate as shown in FIG.
The surface analysis of the formed protective layer was performed by Auger electron spectroscopy (AES), the tin content was measured, and the results are shown in Table 1 below.
In addition, the thickness of the silver plating layer and the protective layer was measured using a fluorescent X-ray measuring apparatus and a focused ion beam (FIB). The same applies to the following reference examples, examples, and comparative examples.
[参考例2]
高濃度の塩化スズ分散溶液(塩化スズ含有量=10重量%)をスズ化合物含有処理溶液Bとして使用し、基材の浸漬時間を3分間とし、厚み約15nmのスズ化合物からなる保護層を銀めっき層上に形成した他は、参考例1と同様にして、図1に示されるようなLED用基板を作製した。
形成した保護層の表面分析を参考例1と同様に行い、スズ含有量を測定して結果を下記の表1に示した。
[ Reference Example 2]
Using a high-concentration tin chloride dispersion solution (tin chloride content = 10% by weight) as the tin compound-containing treatment solution B, the substrate is immersed for 3 minutes, and a protective layer made of a tin compound having a thickness of about 15 nm is silver. An LED substrate as shown in FIG. 1 was produced in the same manner as in Reference Example 1 except that it was formed on the plating layer.
The surface analysis of the formed protective layer was performed in the same manner as in Reference Example 1, the tin content was measured, and the results are shown in Table 1 below.
[参考例3]
参考例1と同様にして、銀めっき層の形成までを行った。
次に、クロム化合物含有処理溶液Aとしてクロム酸カリウム溶液(クロム酸カリウム含有量=3重量%)を準備し、これに銀めっき層を形成した上記の基材を2分間浸漬し、水洗浄、乾燥し、厚み約6nmのクロム化合物からなる保護層を銀めっき層上に形成した。その後、絶縁性レジスト層を除去して、図1に示されるようなLED用基板を作製した。
形成した保護層の表面分析を参考例1と同様に行い、クロム含有量を測定して結果を下記の表1に示した。
[ Reference Example 3]
In the same manner as in Reference Example 1, the formation of the silver plating layer was performed.
Next, a potassium chromate solution (potassium chromate content = 3 wt%) was prepared as the chromium compound-containing treatment solution A, and the above-mentioned base material on which the silver plating layer was formed was immersed for 2 minutes, washed with water, It dried and formed the protective layer which consists of a chromium compound about 6 nm thick on a silver plating layer. Thereafter, the insulating resist layer was removed to produce an LED substrate as shown in FIG.
The surface analysis of the formed protective layer was performed in the same manner as in Reference Example 1, the chromium content was measured, and the results are shown in Table 1 below.
[参考例4]
高濃度のクロム酸カリウム溶液(クロム酸カリウム含有量=10重量%)をクロム化合物含有処理溶液Bとして使用し、基材の浸漬時間を5分間とし、厚み約10nmのクロム化合物からなる保護層を銀めっき層上に形成した他は、参考例3と同様にして、図1に示されるようなLED用基板を作製した。
形成した保護層の表面分析を参考例1と同様に行い、クロム含有量を測定して結果を下記の表1に示した。
[ Reference Example 4]
A high-concentration potassium chromate solution (potassium chromate content = 10% by weight) is used as the chromium compound-containing treatment solution B, the substrate is immersed for 5 minutes, and a protective layer made of a chromium compound having a thickness of about 10 nm is formed. An LED substrate as shown in FIG. 1 was produced in the same manner as in Reference Example 3 except that it was formed on the silver plating layer.
The surface analysis of the formed protective layer was performed in the same manner as in Reference Example 1, the chromium content was measured, and the results are shown in Table 1 below.
[実施例]
参考例1と同様にして、銀めっき層の形成までを行った。
次に、この基材を上記のスズ化合物含有処理溶液Aに2分間浸漬し、水洗浄した後、上記のクロム化合物含有処理溶液Aに2分間浸漬し、水洗浄、乾燥した。これにより、厚み約14nmの保護層(スズ化合物からなる保護層の厚みが約9nm、クロム化合物からなる保護層の厚みが約5nm)を銀めっき層上に形成した。その後、絶縁性レジスト層を除去して、図1に示されるようなLED用基板を作製した。
形成した保護層の表面分析を参考例1と同様に行い、スズ含有量およびクロム含有量を測定して結果を下記の表1に示した。
[ Example ]
In the same manner as in Reference Example 1, the formation of the silver plating layer was performed.
Next, the substrate was immersed in the tin compound-containing treatment solution A for 2 minutes and washed with water, then immersed in the chromium compound-containing treatment solution A for 2 minutes, washed with water and dried. Thereby, a protective layer having a thickness of about 14 nm (the thickness of the protective layer made of a tin compound was about 9 nm, and the thickness of the protective layer made of a chromium compound was about 5 nm) was formed on the silver plating layer. Thereafter, the insulating resist layer was removed to produce an LED substrate as shown in FIG.
The surface analysis of the formed protective layer was performed in the same manner as in Reference Example 1, the tin content and the chromium content were measured, and the results are shown in Table 1 below.
[参考例5]
参考例1と同様にして、銀めっき層の形成までを行った。
次に、この基材を上記のクロム化合物含有処理溶液Aに2分間浸漬し、水洗浄した後、上記のスズ化合物含有処理溶液Aに2分間浸漬し、水洗浄、乾燥した。これにより、厚み約14nmの保護層(クロム化合物からなる保護層の厚みが約4nm、スズ化合物からなる保護層の厚みが約10nm)を銀めっき層上に形成した。その後、絶縁性レジスト層を除去して、図1に示されるようなLED用基板を作製した。
形成した保護層の表面分析を参考例1と同様に行い、スズ含有量およびクロム含有量を測定して結果を下記の表1に示した。
[ Reference Example 5 ]
In the same manner as in Reference Example 1, the formation of the silver plating layer was performed.
Next, the substrate was immersed in the chromium compound-containing treatment solution A for 2 minutes and washed with water, then immersed in the tin compound-containing treatment solution A for 2 minutes, washed with water and dried. Thereby, a protective layer having a thickness of about 14 nm (a thickness of the protective layer made of a chromium compound was about 4 nm and a thickness of the protective layer made of a tin compound was about 10 nm) was formed on the silver plating layer. Thereafter, the insulating resist layer was removed to produce an LED substrate as shown in FIG.
The surface analysis of the formed protective layer was performed in the same manner as in Reference Example 1, the tin content and the chromium content were measured, and the results are shown in Table 1 below.
[比較例]
参考例1と同様にして、銀めっき層の形成までを行い、その後の保護層の形成を行わずにLED用基板を作製した。
[Comparative example]
In the same manner as in Reference Example 1, the formation of the silver plating layer was performed, and then the LED substrate was fabricated without forming the protective layer thereafter.
[耐腐食性の評価]
作製した7種のLED用基板(実施例、参考例1〜5、比較例)の反射率を測定し、430nmにおける反射率を下記の表1に示した。
また、各LED用基板に対して下記の試験条件1の処理を施した後の430nmにおける反射率を測定して下記の表1に示した。
(試験条件1)
液温25℃の0.25%硫化アンモニウム溶液に5分間浸漬
また、各LED用基板に対して下記の試験条件2の処理を施した後の430nmにおける反射率を測定して下記の表1に示した。
(試験条件2)
硫化水素濃度3ppm、温度40℃、湿度80%の雰囲気中に1時間暴露
尚、反射率の測定は、(株)島津製作所製の分光光度計(UV−2550,MPC−2200)を用いて行った。
[Evaluation of corrosion resistance]
The reflectances of the seven types of LED substrates produced (Examples , Reference Examples 1 to 5 and Comparative Examples) were measured, and the reflectances at 430 nm are shown in Table 1 below.
Moreover, the reflectance in 430 nm after performing the process of the
(Test condition 1)
Submerged in a 0.25% ammonium sulfide solution at a liquid temperature of 25 ° C. for 5 minutes. Further, the reflectance at 430 nm after the treatment of the
(Test condition 2)
Exposure to an atmosphere of
銀めっき層上に保護層を備えていないLED用基板(比較例)では、試験条件1および試験条件2の処理後において、反射率の大幅な低下が見られ、腐食が発生していることが確認された。
これに対して、スズ化合物含有処理溶液Aを使用して形成したスズ化合物からなる保護層を銀めっき層上に備えるLED用基板(参考例1)は、比較例のLED用基板に比較して、未処理の反射率が若干低下するものの、試験条件1および試験条件2のいずれの処理後においても、反射率の低下は比較例のLED用基板よりも少なく、保護層による腐食防止効果が奏されていることが確認された。また、高濃度の塩化スズ分散溶液であるスズ化合物含有処理溶液Bを使用して形成したスズ化合物からなる保護層を銀めっき層上に備えるLED用基板(参考例2)は、未処理の反射率が参考例1よりも若干低下するものの、試験条件1および試験条件2のいずれの処理後においても、反射率の低下は参考例1よりも少なく、保護層による腐食防止効果が向上していることが確認された。このことから、スズ化合物含有処理溶液の濃度と浸漬時間を制御することにより、保護層の緻密性を調整して腐食防止効果の向上が可能であることが確認された。
In the substrate for LED (comparative example) which is not provided with the protective layer on the silver plating layer, after the treatment under the
In contrast, the LED substrate ( Reference Example 1) provided with a protective layer made of a tin compound formed using the tin compound-containing treatment solution A on the silver plating layer is compared with the LED substrate of the comparative example. Although the untreated reflectance is slightly reduced, the reflectance is less lowered than that of the LED substrate of the comparative example after both of the
また、クロム化合物含有処理溶液Aを使用して形成したクロム化合物からなる保護層を銀めっき層上に備えるLED用基板(参考例3)は、比較例のLED用基板に比較して、未処理の反射率が向上し、試験条件2の処理後の反射率の低下が大きいものの、試験条件1の処理後の反射率の低下は少なく、特に液体による銀めっき層の腐食を防止する効果に優れることが確認された。さらに、高濃度のクロム酸カリウム溶液であるクロム化合物含有処理溶液Bを使用して形成したクロム化合物からなる保護層を銀めっき層上に備えるLED用基板(参考例4)は、未処理の反射率が参考例3と同等であり、試験条件1および試験条件2のいずれの処理後においても、反射率の低下は参考例3よりも少なく、特に試験条件2の処理後の反射率の低下は、比較例のLED用基板よりも少ないものとなり、保護層による腐食防止効果が向上していることが確認された。このことから、クロム化合物含有処理溶液の濃度と浸漬時間を制御することにより、保護層の緻密性を調整して腐食防止効果の向上が可能であることが確認された。
また、スズ化合物を含む層とクロム化合物を含む層がこの順序で積層された保護層を銀めっき層上に備えるLED用基板(実施例)は、比較例のLED用基板に比較して、未処理の反射率が同等であり、かつ、試験条件1および試験条件2のいずれの処理後においても、反射率の低下が見られず、参考例1〜4に比べて保護層による優れた腐食防止効果が奏されていることが確認された。更にLED用基板(実施例)は、クロム化合物を含む層とスズ化合物を含む層がこの順序で積層された保護層を銀めっき層上に備えるLED用基板(参考例5)に比べても、保護層による腐食防止効果が良好であることが確認された。
Moreover, the board | substrate for LED ( reference example 3) provided with the protective layer which consists of a chromium compound formed using the chromium compound containing process solution A on a silver plating layer is untreated compared with the board | substrate for LED of a comparative example. Although the reflectivity of the film is improved and the decrease in the reflectivity after the treatment under the
Further, an LED substrate ( Example ) provided with a protective layer on which a layer containing a tin compound and a layer containing a chromium compound are laminated in this order is not compared with the LED substrate of the comparative example. The reflectance of the treatment is the same, and no reduction in the reflectance is observed after any of the treatments in
本発明は、LED素子を使用する種々の用途、製品、および、その製造に適用することができる。 The present invention can be applied to various uses, products, and manufactures using LED elements.
1,1′,1″…LED用基板
21…半導体装置
2,22…基材
3…貫通溝部
23…間隙部
4,4′,24…反射層
5,25…銀めっき層
6,26…保護層
7…下地めっき層
8,28…凹部
35…封止樹脂
41…LED素子
42…導電部
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Claims (11)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2010289200A JP5736770B2 (en) | 2010-12-27 | 2010-12-27 | LED substrate, method of manufacturing the same, and semiconductor device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2010289200A JP5736770B2 (en) | 2010-12-27 | 2010-12-27 | LED substrate, method of manufacturing the same, and semiconductor device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2012138441A JP2012138441A (en) | 2012-07-19 |
| JP5736770B2 true JP5736770B2 (en) | 2015-06-17 |
Family
ID=46675638
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2010289200A Expired - Fee Related JP5736770B2 (en) | 2010-12-27 | 2010-12-27 | LED substrate, method of manufacturing the same, and semiconductor device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP5736770B2 (en) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP6303715B2 (en) * | 2013-04-18 | 2018-04-04 | 日亜化学工業株式会社 | Light emitting device package and light emitting device |
| WO2015030323A1 (en) * | 2013-08-30 | 2015-03-05 | ㈜인광 | Parts for electric and electronic devices, having plated layer with superior blackening resistance and manufacturing method therefor |
| JP2016207739A (en) * | 2015-04-17 | 2016-12-08 | 株式会社東芝 | Semiconductor light emitting device and manufacturing method of the same |
Family Cites Families (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007035748A (en) * | 2005-07-25 | 2007-02-08 | Nichia Chem Ind Ltd | Support for mounting semiconductor element and semiconductor device |
| JP2007036073A (en) * | 2005-07-29 | 2007-02-08 | Hitachi Displays Ltd | LIGHTING DEVICE AND DISPLAY DEVICE USING THE LIGHTING DEVICE |
| JP4858032B2 (en) * | 2006-09-15 | 2012-01-18 | 日亜化学工業株式会社 | Light emitting device |
| JP2008192635A (en) * | 2007-01-31 | 2008-08-21 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Optical semiconductor device, lead frame, and manufacturing method of optical semiconductor device |
| WO2010071182A1 (en) * | 2008-12-19 | 2010-06-24 | 古河電気工業株式会社 | Optical semiconductor device lead frame and manufacturing method thereof |
| JP2010199166A (en) * | 2009-02-24 | 2010-09-09 | Panasonic Corp | Lead frame for optical semiconductor apparatus, and method of manufacturing the same |
| JP5578960B2 (en) * | 2010-06-23 | 2014-08-27 | 古河電気工業株式会社 | Lead frame for optical semiconductor device and manufacturing method thereof |
| JP5602578B2 (en) * | 2010-10-19 | 2014-10-08 | 株式会社神戸製鋼所 | LED lead frame |
| JP2012107263A (en) * | 2010-11-15 | 2012-06-07 | Kyowa Densen Kk | Plating structure and coating method |
-
2010
- 2010-12-27 JP JP2010289200A patent/JP5736770B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2012138441A (en) | 2012-07-19 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
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|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20140325 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
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|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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|
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