JP5779415B2 - 電子装置の駆動方法 - Google Patents
電子装置の駆動方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5779415B2 JP5779415B2 JP2011137610A JP2011137610A JP5779415B2 JP 5779415 B2 JP5779415 B2 JP 5779415B2 JP 2011137610 A JP2011137610 A JP 2011137610A JP 2011137610 A JP2011137610 A JP 2011137610A JP 5779415 B2 JP5779415 B2 JP 5779415B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- power supply
- load
- circuit
- period
- potential
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 59
- 238000012795 verification Methods 0.000 claims description 9
- 238000011084 recovery Methods 0.000 claims description 6
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 7
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 5
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 5
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 4
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 4
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 3
- 230000006870 function Effects 0.000 description 3
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 3
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 238000003872 feeding technique Methods 0.000 description 2
- 238000007667 floating Methods 0.000 description 2
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 1
- 230000006399 behavior Effects 0.000 description 1
- 230000000747 cardiac effect Effects 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- 230000005674 electromagnetic induction Effects 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/70—Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring
- G11C29/78—Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using programmable devices
- G11C29/785—Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using programmable devices with redundancy programming schemes
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C17/00—Read-only memories programmable only once; Semi-permanent stores, e.g. manually-replaceable information cards
- G11C17/14—Read-only memories programmable only once; Semi-permanent stores, e.g. manually-replaceable information cards in which contents are determined by selectively establishing, breaking or modifying connecting links by permanently altering the state of coupling elements, e.g. PROM
- G11C17/18—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
Landscapes
- Read Only Memory (AREA)
Description
本実施の形態では、非接触、又は無線で供給されるエネルギーを電力に変換し、他の回路に供給する電源回路、制御回路、並びに複数の負荷を有する負荷回路を備えた電子装置の駆動方法について図1乃至図3を用いて説明する。
上述した構成を有する電子装置の駆動方法は、本発明の一態様であり、当該駆動方法と異なる構成を備える以下の電子装置の駆動方法も、本発明に含まれる。
本実施の形態では、負荷回路としてOTP ROMを搭載したパッシブ型のRFIDタグの駆動方法について図4、及び図5を用いて説明する。特に、非接触給電装置から給電される電源回路をメモリ素子から開放し、初期電位Vdd0の90%以上の値に電源電位Vddを回復する期間において、直前に書き込んだメモリ素子からデータを読み出して正しく書き込まれているかどうかを判定し、かつ次に書き込むメモリのアドレス情報を指定することを特徴とする駆動方法について説明する。
上述した構成を有する電子装置の駆動方法は、本発明の一態様であり、当該駆動方法と異なる構成を備える駆動方法も本発明に含まれる。
本実施の形態では、負荷回路としてセンサ回路と不揮発性メモリ回路を搭載したパッシブ型の電子装置の駆動方法について、図7を用いて説明する。特に、非接触、又は無線で供給されるエネルギーを電力に変換し、他の回路に供給する電源回路をセンサ素子、又はメモリ素子から開放し、初期電位Vdd0の90%以上の値に電源電位Vddを回復する駆動方法について説明する。
上述した構成を有する電子装置の駆動方法は、本発明の一態様であり、当該駆動方法と異なる構成を備える以下の駆動方法も、本発明に含まれる。
110 受電素子
120 高周波回路
121 電源回路
130 制御回路
150 負荷回路
151 負荷
152 負荷
190 非接触給電装置
200 電子装置
210 受電素子
220 高周波回路
221 電源回路
230 制御回路
250 メモリ回路
251 メモリ制御回路
255 メモリバンク
256 メモリ素子
257 メモリ素子
258 冗長回路
259 メモリ素子
290 非接触給電装置
400 電子装置
410 受電素子
420 高周波回路
421 電源回路
430 制御回路
440 センサ回路
451 メモリ制御回路
450 メモリ回路
456 メモリ素子
490 非接触給電装置
Claims (8)
- 非接触給電装置から給電される電源回路と、
前記電源回路から電源電位Vddが供給される制御回路と、
負荷回路と、を有し、
前記負荷回路は、(m+1)個の負荷を有し(mは0以上の整数)、
前記電源回路の無負荷状態の電源電位Vddが初期電位Vdd0であるときに、
1番目の負荷に前記電源回路から電力を供給する第1の期間と、
前記電源回路から前記1番目の負荷への電力の供給を停止し、電源電位Vddを前記初期電位Vdd0の90%以上100%未満に回復させる第2の期間と、
前記電源回路からj番目の負荷(jは2以上m以下の整数)に電力を供給する第3の期間と、
前記電源回路から前記j番目の負荷への電力の供給を停止し、電源電位V dd を前記初期電位V dd0 の90%以上100%未満に回復させる第4の期間と、を有し、
前記第3の期間と前記第4の期間を交互にn回(nは0以上m以下の整数)繰り返すことを特徴とする電子装置の駆動方法。 - 請求項1において、
前記(m+1)個の負荷の各々は、OTP ROM(One Time Programmable ROM)を備えることを特徴とする電子装置の駆動方法。 - 非接触給電装置から給電される電源回路と、
前記電源回路から電源電位Vddが供給される制御回路と、
負荷回路と、を有し、
前記負荷回路は、疑似負荷と、m個の真性負荷(mは1以上の整数)を有し、
前記電源回路の無負荷状態の電源電位V dd が初期電位V dd0 であるときに、
前記電源回路から前記疑似負荷に電力を供給する第1の期間と、
前記電源回路から前記疑似負荷への電力の供給を停止し、電源電位Vddを前記初期電位Vdd0の90%以上100%未満に回復させる第2の期間と、
前記電源回路からj番目の真性負荷(jは1以上m以下の整数)に電力を供給する第3の期間と、
前記電源回路から前記j番目の負荷への電力の供給を停止し、電源電位V dd を前記初期電位V dd0 の90%以上100%未満に回復させる第4の期間と、を有し、
前記第3の期間と前記第4の期間を交互にn回(nは0以上m以下の整数)繰り返すことを特徴とする電子装置の駆動方法。 - 請求項3において、
前記m個の真性負荷の各々は、OTP ROM(One Time Programmable ROM)を備えることを特徴とする電子装置の駆動方法。 - 請求項1乃至4のいずれか一において、
前記第2の期間又は前記第4の期間に、直前に書き込んだ情報を検証し、検証結果を出力することを特徴とする電子装置の駆動方法。 - 請求項1乃至4のいずれか一において、
前記第2の期間に、直前に書き込んだ情報を検証し、検証結果を出力し、書き込みエラーを検出した際には前記第3の期間の長さを変更することを特徴とする電子装置の駆動方法。 - 非接触給電装置から給電される電源回路と、
前記電源回路から電源電位V dd が供給される制御回路と、
負荷回路と、を有し、
前記負荷回路は、(m+1)個の負荷を有し(mは0以上の整数)、
前記電源回路の無負荷状態の電源電位V dd が初期電位V dd0 であるときに、
1番目の負荷に前記電源回路から電力を供給する第1の期間と、
前記電源回路から前記1番目の負荷への電力の供給を停止し、電源電位V dd を前記初期電位V dd0 の90%以上100%未満に回復させる第2の期間と、
前記電源回路からj番目の負荷(jは2以上m以下の整数)に電力を供給する第3の期間と、
前記電源回路から前記j番目の負荷への電力の供給を停止し、電源電位V dd を前記初期電位V dd0 の90%以上100%未満に回復させる第4の期間と、を有し、
前記(m+1)個の負荷の各々は、前記1番目の負荷から順次電力が供給され、
前記第1の期間において、前記j番目の負荷には電力が供給されず、
前記第2の期間に、直前に書き込んだ情報を検証し、検証結果を出力し、書き込みエラーを検出した際には前記第3の期間の長さを変更し、
前記第3の期間と前記第4の期間を交互にn回(nは0以上m以下の整数)繰り返すことを特徴とする電子装置の駆動方法。 - 請求項7において、
前記(m+1)個の負荷の各々は、OTP ROM(One Time Programmable ROM)を備えることを特徴とする電子装置の駆動方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2011137610A JP5779415B2 (ja) | 2010-06-25 | 2011-06-21 | 電子装置の駆動方法 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2010145130 | 2010-06-25 | ||
| JP2010145130 | 2010-06-25 | ||
| JP2011137610A JP5779415B2 (ja) | 2010-06-25 | 2011-06-21 | 電子装置の駆動方法 |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2012029552A JP2012029552A (ja) | 2012-02-09 |
| JP2012029552A5 JP2012029552A5 (ja) | 2014-05-15 |
| JP5779415B2 true JP5779415B2 (ja) | 2015-09-16 |
Family
ID=45353759
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2011137610A Expired - Fee Related JP5779415B2 (ja) | 2010-06-25 | 2011-06-21 | 電子装置の駆動方法 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US8656230B2 (ja) |
| JP (1) | JP5779415B2 (ja) |
| KR (1) | KR101774588B1 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9312390B2 (en) * | 2012-07-05 | 2016-04-12 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Remote control system |
| JP6124528B2 (ja) * | 2012-07-31 | 2017-05-10 | 三和テッキ株式会社 | 電車線路用監視システム |
Family Cites Families (27)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58186755U (ja) | 1982-06-02 | 1983-12-12 | 三菱電機株式会社 | 車両用交流発電機 |
| DE4236286A1 (de) | 1992-10-28 | 1994-05-05 | Daimler Benz Ag | Verfahren und Anordnung zum automatischen berührungslosen Laden |
| JPH06276146A (ja) | 1993-03-19 | 1994-09-30 | Fujitsu Ltd | 移動電話装置 |
| JPH1023754A (ja) * | 1996-06-28 | 1998-01-23 | Nissin High Voltage Co Ltd | 直流電源装置 |
| JPH1169622A (ja) * | 1997-08-21 | 1999-03-09 | Kokusai Electric Co Ltd | 電源回路 |
| JP3381613B2 (ja) | 1998-03-20 | 2003-03-04 | 日産自動車株式会社 | ハイブリッド車両の駆動制御装置 |
| US6837438B1 (en) | 1998-10-30 | 2005-01-04 | Hitachi Maxell, Ltd. | Non-contact information medium and communication system utilizing the same |
| US20040145348A1 (en) * | 2000-09-21 | 2004-07-29 | Constantin Bucur | Power management topologies |
| JP4559606B2 (ja) * | 2000-09-28 | 2010-10-13 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 不揮発性半導体記憶装置 |
| US20020157881A1 (en) | 2000-11-13 | 2002-10-31 | Daniel Bakholdin | Turbine power unit for hybrid electric vehicle applications |
| JP2004140491A (ja) * | 2002-10-16 | 2004-05-13 | Seiko Epson Corp | リーダライター、トランスポンダ、それらを用いた非接触型id識別システム、及び、半導体集積回路 |
| JP2004229425A (ja) | 2003-01-23 | 2004-08-12 | Toyota Motor Corp | 車両用充電装置、車両バンパおよび車両駐車システム |
| JP4500505B2 (ja) * | 2003-04-18 | 2010-07-14 | 株式会社日立製作所 | 携帯型電源装置 |
| US7737658B2 (en) | 2003-10-27 | 2010-06-15 | Sony Corporation | Battery packs having a charging mode and a discharging mode |
| JP2005177065A (ja) * | 2003-12-18 | 2005-07-07 | Keisuke Goto | 誘起起電力で作動する玩具及びそれに用いる非接触型充電用パッドと、非接触型自動充電可能な浮遊玩具を有した水中装置 |
| JP2005210843A (ja) | 2004-01-23 | 2005-08-04 | Toyota Motor Corp | 電力供給システム、車載電源装置及び路側電源装置 |
| JP4611093B2 (ja) | 2004-05-12 | 2011-01-12 | セイコーインスツル株式会社 | 電波発電回路 |
| JP2006180073A (ja) | 2004-12-21 | 2006-07-06 | Okayama Prefecture | 無線icタグ |
| JP4693504B2 (ja) * | 2005-06-01 | 2011-06-01 | 三洋電機株式会社 | 不揮発性半導体記憶装置 |
| EP1998373A3 (en) | 2005-09-29 | 2012-10-31 | Semiconductor Energy Laboratory Co, Ltd. | Semiconductor device having oxide semiconductor layer and manufacturing method thereof |
| CN103078368B (zh) | 2006-03-15 | 2016-04-13 | 株式会社半导体能源研究所 | 电力供应系统和用于机动车的电力供应系统 |
| US8132026B2 (en) * | 2006-06-02 | 2012-03-06 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Power storage device and mobile electronic device having the same |
| US9022293B2 (en) | 2006-08-31 | 2015-05-05 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and power receiving device |
| JP4922009B2 (ja) * | 2007-02-19 | 2012-04-25 | 株式会社東芝 | 半導体記憶装置 |
| JP5233373B2 (ja) | 2008-04-03 | 2013-07-10 | 日本電気株式会社 | 電源システム及びその制御方法 |
| TWI430275B (zh) | 2008-04-16 | 2014-03-11 | Magnachip Semiconductor Ltd | 用於程式化非揮發性記憶體裝置之方法 |
| WO2010032603A1 (en) | 2008-09-19 | 2010-03-25 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and wireless tag using the same |
-
2011
- 2011-06-21 JP JP2011137610A patent/JP5779415B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2011-06-23 US US13/167,126 patent/US8656230B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2011-06-24 KR KR1020110061728A patent/KR101774588B1/ko not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2012029552A (ja) | 2012-02-09 |
| KR101774588B1 (ko) | 2017-09-04 |
| KR20120000534A (ko) | 2012-01-02 |
| US20110320891A1 (en) | 2011-12-29 |
| US8656230B2 (en) | 2014-02-18 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| USRE49829E1 (en) | Memory device, host device, memory system, memory device control method, host device control method and memory system control method | |
| US8228753B2 (en) | System and method of maintaining data integrity in a flash storage device | |
| CN1947130B (zh) | 卡与主装置 | |
| CN109637573A (zh) | 具有非易失性逻辑阵列备份相关应用的处理装置 | |
| JP2001504625A (ja) | 最小電圧無線周波識別 | |
| JP2005318034A (ja) | 半導体集積回路装置 | |
| US20060175420A1 (en) | Passive type RFID semiconductor device, IC tag, and control method | |
| KR100929296B1 (ko) | Rfid 태그 장치 | |
| JP5779415B2 (ja) | 電子装置の駆動方法 | |
| US10416744B2 (en) | Data processing apparatus, structure and power generation apparatus including the same | |
| CN112070196A (zh) | 一种带外接电池的无源rfid芯片及标签 | |
| KR101068313B1 (ko) | 웨이퍼 상에서 테스트 가능한 rfid 태그 및 그 테스트 방법 | |
| JP2011081660A (ja) | 記憶装置、基板、液体容器、システム及び記憶装置の制御方法 | |
| US12105578B2 (en) | Power management method and apparatus for awareness of power instability situation | |
| KR101218280B1 (ko) | Rfid 장치 | |
| KR101031428B1 (ko) | 다중 클록을 생성하는 rfid 태그 | |
| CN119920279A (zh) | 一种无线无源铁电存储器 | |
| KR20100138034A (ko) | Rfid 장치 및 그 테스트 방법 | |
| KR20100138430A (ko) | Rfid 장치 | |
| KR20120110471A (ko) | Rfid 모니터링 장치 | |
| KR20170072760A (ko) | 정보 송신 장치 및 이 장치를 포함하는 기기 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20140328 |
|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20140328 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20141211 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20141216 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20150123 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20150623 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20150713 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5779415 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |