JP5780997B2 - 放射線監視システム及びその校正条件の診断方法 - Google Patents

Description

本発明は、原子炉施設、使用済み燃料再処理施設、放射性物質利用施設等で測定対象の放射線を測定及び管理する放射線監視システムに関するものである。

放射線検出器及び測定ユニットを備えた現場の検出部と、現場とは異なる場所の計数率計及び基準信号源を備えた測定部とを光ファイバーで接続して電気的に絶縁し、伝送路からのノイズの進入を防止することにより耐ノイズ性を向上させると共に、現場における作業員の被爆を低減した放射線計数率計が特許文献１に記載されている。

特許文献１の放射線計数率計は、放射線検出器が放射線を検出したときに生成される電流パルスが微弱であるため、前置増幅器は、電流パルスを電圧パルスに変換すると共に増幅してアナログパルスを出力する。前置増幅器、波高弁別器を備えた測定ユニットにおいて、波高弁別器は、このアナログパルスを入力し、ノイズを除去するために波高弁別レベル以上の波高のものを弁別してデジタルパルスを出力する。このデジタルパルスを伝送器にて光パルスに変換して光ファイバーで伝送し、この光パルスを測定部でデジタルパルスに戻し、それを計数率計にて計数して工学値（物理量に対応付けされた測定値）に変換している。

また、測定部は、波高弁別レベルに比例する繰り返し周波数のデジタルパルスを基準信号源にて発生させ、それを光パルスに変換して光ファイバーで測定ユニットに伝送する。測定ユニットでこの光パルスをデジタルパルスに戻し、繰り返し周波数を電圧レベルに変換して波高弁別レベルの設定を遠隔で行えるようにしている。

特開昭６１―５３５８３号公報（第２頁右上欄５行から第２頁右下欄７行、図１）

従来の放射線監視システムに相当する放射線計数率計は以上のような構成により、測定された放射線計数率を監視していた。原子炉施設、使用済み燃料再処理施設、放射性物質利用施設等のプラントにおいて、プラント立ち上げ前の点検では、校正の終わった放射線検出器及び測定ユニットを従来の測定部に相当する現場の放射線測定装置に戻し、接続ケーブルで接続して放射線測定装置を復元する際に、指標線源と検定済みの測定器を現場に持ち込み、所定の距離から指標線源を放射線検出器に照射して校正時の校正条件が再現していることを確認している。校正条件の再現を確認するため、指標線源と測定器の現場搬入及び搬出、接続及び撤去、指標線源操作の一連の作業における作業員の被爆低減が課題として残っている。

ここで、校正条件とは、校正作業によって得られた検出効率に対応する条件、すなわち機器の設定値等である。一般的に、測定範囲（ウィンドウ）を決められた範囲に設定し、システムゲイン（スペクトルピーク）が決められた値になるように高電圧電源を調整し、それで校正条件が整ったとする。この校正条件が設定された放射線検出器に、トレーサビリティーが担保された密封線源である標準線源から放射線を照射して校正を行う。検出効率は、標準線源を予め決められた距離から放射線検出器に照射したときに得られる、例え
ば１ｃｐｓまたは１ｃｐｍを与える放射能強度（Ｂｑ）である。

また、定期的に放射線監視システムの健全性を確認する都度、指標線源を現場に持ち込んで放射線検出器に照射し、検出効率を含む正味工学値の変化の有無を確認するため、プラント運転中の点検における作業員の被爆低減も課題であった。

本発明は上記のような課題を解決するためになされたものであり、プラント立ち上げ前の放射線測定装置における点検時間の最小化と、プラント運転中の放射線測定装置の点検における現場作業の削除を実現して作業員の被爆低減の最小化を目的とすると共に、放射線測定装置における検出効率の健全性を担保する校正条件を自動診断することにより、放射線監視システムにおける信頼性の向上及び保守作業の容易化を実現することを目的とする。

本発明に係る放射線監視システムは、放射線管理区域内に設置され、放射線を測定する放射線測定装置と、放射線の線量が放射線管理区域内ではあるが一般区域並みに低い校正室に設置され、放射線測定装置を校正した校正条件及び校正結果を格納し、要求に応じて校正条件及び校正結果を出力する校正装置と、放射線測定装置の測定結果を入力して監視すると共に、校正装置から入力された校正条件と放射線測定装置から入力された点検結果を比較してシステムの健全性を診断する監視装置とを備え、放射線測定装置は、着脱可能に配置され、放射線を検出して電気信号に変換する放射線検出器と、着脱可能に配置され、放射線検出器の電気信号を測定して、放射線に関する測定値である放射線測定値に変換すると共に、放射線測定値と警報設定値を比較して所定の範囲を逸脱した場合に警報を発信する測定ユニットと、測定対象から放出される放射線が放射線検出器で所定の検出効率で検出されるように支持すると共に、環境放射線を遮蔽するサンプラと、サンプラに内蔵されたチェック線源から放出される放射線を放射線検出器に照射または遮蔽するように、チェック線源を移動するチェック線源機構とを有する。本発明に係る放射線監視システムの放射線測定装置を校正する際に、校正室に移動された放射線検出器及び測定ユニットを互いにケーブルで接続し、測定ユニットを校正装置にケーブルで接続し、校正装置は、放射線測定装置を校正する際に、放射線検出器にチェック線源と同じ核種の指標線源からの放射線を照射したときに発現する放射線測定値である指標ピーク値に基づいてシステムゲイン初期値及び管理する測定範囲の初期値である測定範囲初期値を設定し、システムゲイン初期値及び測定範囲初期値を校正条件として内蔵する記憶装置に格納し、監視装置は、放射線測定装置の点検の際に、放射線測定装置がチェック線源からの放射線を放射線検出器に照射したときに発現する放射線測定値であるチェック線源ピーク値を測定し、チェック線源ピーク値に基づいて設定されたシステムゲイン及び測定範囲を取得し、この設定されたステムゲイン及び測定範囲のそれぞれが、システムゲイン初期値及び測定範囲初期値を基準にした許容範囲内にあることを自動診断することを特徴とする。

本発明に係る放射線監視システムは、放射線測定装置を校正する際に、放射線検出器及び測定ユニットを校正室に移動して基準となる校正条件であるシステムゲイン初期値及び測定範囲初期値を取得し、放射線測定装置を点検する際に、監視装置は、放射線測定装置にて設定された測定校正条件であるステムゲイン及び測定範囲が、前記基準となる校正条件を基準にした許容範囲内にあることを診断するので、プラント立ち上げ前の放射線測定装置の点検における放射線管理区域内作業を最小限に減らすことができ、プラント運転中の点検における放射線管理区域内作業を原則なくすことができ、全体として大幅な被爆低減が実現できると共に、検出効率の健全性を担保する校正条件を自動診断することにより、放射線監視システムにおける信頼性の向上及び保守作業の容易化を実現することができる。

本発明の実施の形態１による放射線監視システムを示す図である。 図１の放射線測定装置の構成を示す図である。 図１の校正装置及び校正治具を示す図である。 放射線検出器がプラスチックシンチレーション検出器の場合における指標スペクトルを示す図である。 放射線検出器がＮａＩ（Ｔｌ）シンチレーション検出器の場合における指標スペクトルを示す図である。 本発明の実施の形態２による放射線測定装置の構成を示す図である。 本発明の実施の形態２の放射線検出器のスペクトルを示す図である。 本発明の実施の形態３による放射線測定装置の構成を示す図である。 本発明の実施の形態３の放射線検出器のスペクトルを示す図である。

実施の形態１．
図１は、本発明の実施の形態１による放射線監視システムを示す図である。放射線監視システム８０は、複数の放射線測定装置１ａ、１ｂ〜１ｉと、校正装置２、監視装置３と、を備える。放射線測定装置１ａ、１ｂ〜１ｉは、それぞれ放射線を測定して工学値（物理量に対応付けされた測定値）及び警報状態を出力する。校正装置２は、放射線測定装置１ａ、１ｂ〜１ｉをそれぞれ校正して校正条件及び校正結果を内蔵する記憶装置に格納すると共に、要求に応じて校正条件及び校正結果を出力する。監視装置３は、放射線測定装置１ａ、１ｂ〜１ｉの測定結果をそれぞれ入力して監視すると共に、校正装置２から校正条件及び校正結果をそれぞれ入力して内蔵する記憶装置に格納し、放射線測定装置１ａ、１ｂ〜１ｉそれぞれの点検結果と校正条件を比較してシステムの健全性を診断する。放射線測定装置１ａ、１ｂ〜１ｉは放射線管理区域内に設置され、校正装置２は放射線の線量が低くなるように遮蔽強化された放射線管理区域内の校正室に設置される。

監視装置３は、第１の伝送ケーブル４ａ、４ｂ〜４ｉにより放射線測定装置１ａ、１ｂ〜１ｉそれぞれに接続され、第２の伝送ケーブル５により校正装置２に接続される。第１の伝送ケーブル４ａ、４ｂ〜４ｉは、放射線測定装置１ａ、１ｂ〜１ｉそれぞれと監視装置３を接続して相互に送受信可能としており、第２の伝送ケーブル５は、校正装置２と監視装置３を接続して相互に送受信可能としている。なお、第１の伝送ケーブル４ａ、４ｂ〜４ｉ及び第２の伝送ケーブル５はそれぞれ装置のＩ／Ｆに合わせてデジタル電気信号用の通信ケーブルまたは光ケーブルを使用する。以後の説明において放射線測定装置１ａ、１ｂ〜１ｉは重複するので放射線測定装置１ａを代表として、また第１の伝送ケーブル４ａ、４ｂ〜４ｉも同様に説明が重複するので第１の伝送ケーブル４ａを代表として説明する。

図２は、放射線測定装置１ａの構成を示す図である。図２（ａ）は放射線測定装置１ａの正面から見た一部断面であり、図２（ｂ）は平面図である。放射線測定装置１ａは、サンプラ１２と、放射線検出器１１と、測定対象試料室６１に流入する水やガス等である測定対象試料１３と、チェック線源機構１４と、測定ユニット１５とを有する。放射線検出器１１及び測定ユニット１５は、それぞれ放射線測定装置１ａに着脱可能に配置される。放射線検出器１１は、放射線を検出して電気信号に変換する。サンプラ１２は、サンプラ本体４３とサンプラ蓋４４とを有し、内部に内包される測定対象試料１３から放出される放射線が放射線検出器１１で所定の検出効率で検出されるように固定すると共に、外部の環境放射線(図示せず)を遮蔽する。チェック線源機構１４は、サンプラ１２に内蔵されたチェック線源１４１を操作信号で移動して放射線検出器１１に放射線(図示せず)を照射する。測定対象試料１３は、図２（ｂ）の矢印方向にサンプラ１２に設置された測定対象試料室６１に、その流入口から流入し、流入した後に流出口から流出する。

測定ユニット１５は、放射線検出器１１の電気信号を受信して工学値に変換すると共に、その工学値と警報設定値とを比較して所定の範囲を逸脱した場合に警報を発信する。すなわち、測定ユニット１５は、工学値を測定する工学値測定機能、警報を発信する警告発信機能を有する。放射線検出器１１の電気信号は、検出器の生信号であり、例えば電流、電圧等である。工学値は、物理量に対応付けされた測定値であり、測定観測や制御等に用いられ、工学的に意味のある値である。本発明における工学値は、管理する測定範囲の下限ｄＬのモニタ値及び上限ｄＵのモニタ値、高圧電源の高電圧モニタ値、標準線源またはチェック線源のスペクトルピーク値（図５の横軸であるチャネル値）等を含んでいる。

検出器ケーブル１６は、放射線検出器１１と測定ユニット１５を接続する。チェック線源ケーブル１７は、チェック線源機構１４と測定ユニット１５を接続する。図２では、サンプラ１２の形状が円柱状である例を示した。測定ユニット１５はサンプラ１２の外側に設置し、図２（ｂ）において矢印に示すように水やガス等である測定対象試料１３をサンプラ１２内に通流させている。

図３は、校正装置及び校正治具を示す図である。校正装置２及び校正治具２１は、校正室の校正室床４０に設置されている。図３において、放射線検出器１１及び測定ユニット１５が校正治具２１に取り付けられた状態を示している。校正治具２１は、放射線測定装置１ａから取り出される放射線検出器１１及び測定ユニット１５を取り付けるものである。校正装置２は、Ｉ／Ｆ部２４と、模擬パルス発生部２５と、電圧測定部２６と、スペクトル計数部２７と、表示操作部２８と、コントロール部２９とを有する。放射線検出器１１と測定ユニット１５とは、第１の試験用ケーブル２２により接続される。測定ユニット１５と校正装置２とは、第２の試験用ケーブル２３により接続される。なお、校正装置２と監視装置３とを接続する第２の伝送ケーブル５は省略した。また、校正初期段階では、指標線源２１０は校正治具２１から外されている。

標準線源２２０は、検出効率を得るために校正装置２で校正する際に使用する線源であり、実際の測定対象で支配的な核種にできるだけ近い線質及びエネルギーを放射するものを選定する。指標線源２１０は、放射線測定装置１ａに搭載されている線源であるチェック線源１４１と同じ核種とし、スペクトルピークを生成させるために使用する線源である。指標線源２１０及び校正装置２により測定されたスペクトルと、チェック線源１４１及び放射線測定装置１ａにより測定されるスペクトルとを、エネルギー及び波高値によって対応付けするために、指標線源２１０及びチェック線源１４１が用いられる。

模擬パルス発生部２５は、模擬パルスを発生させて測定ユニット１５に出力する。電圧測定部２６は、測定ユニット１５の各部の電圧を入力して測定する。測定ユニット１５の図示されていない入力切換スイッチを信号入力からテスト入力に切換えて、指標線源２１０が校正治具２１から外されている状態で、スペクトル計数部２７は、測定ユニット１５のテストポイント(図示せず)のパルスの波形及びスペクトルを測定する。表示操作部２８は、コントロール部２９経由で、測定ユニット１５から入力されたデータ及び校正結果等のデータを表示すると共に、模擬パルス発生部２５、電圧測定部２６、スペクトル計数部２７の各部へ操作命令データを入力する。コントロール部２９は、Ｉ／Ｆ部２４、模擬パルス発生部２５、電圧測定部２６、スペクトル計数部２７、表示操作部２８の各部の信号またはデータの入出力を制御すると共に、各種データを入力してデータを校正装置２の図示しない記憶装置に格納する。また、校正装置２のコントロール部２９は、図１に示すように第２の伝送ケーブル５を介して監視装置３に接続された際には、監視装置３と相互に送受信する。

放射線測定装置１ａを校正する際には、まず、作業員は、監視装置３において放射線測
定装置１ａの状態を監視状態からテスト状態とし、放射線測定装置１ａから放射線検出器１１及び測定ユニット１５を取り外す。取り外した放射線検出器１１及び測定ユニット１５を、校正装置２の設置場所に運んで、放射線検出器１１及び測定ユニット１５を校正治具２１に装着する。放射線検出器１１を第１の試験用ケーブル２２で測定ユニット１５に接続し、測定ユニット１５を第２の試験用ケーブル２３で校正装置２のＩ／Ｆ部２４に接続する。

測定ユニット１５には、模擬パルス発生部２５から模擬入力パルスが入力される。校正装置２は、スペクトル計数部２７で測定された測定ユニット１５のパルス波高の入出力の直線性の相対誤差が許容範囲内であることを確認する。校正装置２は、測定ユニット１５の測定範囲下限及び測定範囲上限の計数動作点について校正して、測定範囲下限以上かつ測定範囲上限以下の測定範囲を測定範囲校正値Ａｐｒとし、測定ユニット１５が測定した測定範囲モニタ値を測定範囲初期値Ａｉｎとし、測定範囲校正値Ａｐｒを基準に測定範囲初期値Ａｉｎが許容範囲内にあることを自己診断する。校正装置２は、測定範囲校正値Ａｐｒ及び測定範囲初期値Ａｉｎを校正装置２の記憶装置に格納する。なお、許容範囲は、校正装置２の計測器及び測定ユニット１５のそれぞれにおいて、計器誤差、温度特性、電圧特性、周波数特性等を集計して、例えば二乗平均等の処理により設定される。

次に、図１のチェック線源１４１と放射線検出器１１との距離と同じ距離（所定の距離）に指標線源２１０を設置し、測定ユニット１５の図示されていない入力切換スイッチを信号入力からテスト入力に切換えて、指標線源２１０から放射線検出器１１に放射線を照射する。ここで、指標線源２１０は、チェック線源１４１と同じ核種である。測定ユニット１５及びスペクトル計数部２７は、それぞれ指標スペクトルを測定する。すなわち、測定ユニット１５は工学値測定機能を用いて指標スペクトルを測定する。校正装置２のスペクトル計数部２７は、測定ユニット１５を介して放射線検出器１１のデータを受信し、測定ユニット１５と同様に指標スペクトルを測定する。

β線を測定対象とした場合、放射線検出器１１は、例えば、プラスチックシンチレーション検出器を使用し、チェック線源１４１及び指標線源２１０はβ線源のＳｒ−９０を使用する。また、γ線を測定対象とした場合、放射線検出器１１は、例えば、ＮａＩ（Ｔｌ）シンチレーション検出器を使用し、チェック線源１４１及び指標線源２１０はＣｓ−１３７を使用する。Ｓｒ−９０は、Ｙ−９０と放射平衡の関係にあり、２．２８ＭｅＶのβ線によりプラスチックシンチレータの厚みに対応した位置にピークが発現する。Ｃｓ−１３７は、０．６６２ＭｅＶのγ線の光電吸収に相当する位置にピークが発現する。

放射線検出器１１により検出する指標スペクトルについて説明する。図４は放射線検出器がプラスチックシンチレーション検出器の場合における指標スペクトルを示す図であり、図５は放射線検出器がＮａＩ（Ｔｌ）シンチレーション検出器の場合における指標スペクトルを示す図である。図４の指標スペクトルは、放射線検出器１１としてプラスチックシンチレーション検出器を使用して指標線源２１０としてβ線源であるＳｒ−９０の放射線を照射した場合の指標スペクトルを模式的に表した図である。図５の指標スペクトルは、ＮａＩ（Ｔｌ）シンチレーション検出器を使用して指標線源２１０としてγ線源であるＣｓ−１３７の放射線を照射した場合の指標スペクトルを模式的に表した図である。図４及び図５において、ｂはバックグラウンドスペクトルを示し、ｍは指標線源２１０の放射線を照射することによりバックグラウンドスペクトルに上積された指標スペクトルを示し、ｐは指標ピークを示し、ｄＬは測定範囲の下限を示し、ｄＵは測定範囲の上限を示す。

測定ユニット１５の校正方法を説明する。まず、スペクトル計数部２７にて測定されたそれぞれの指標ピークが所定の値になるように、例えば、放射線検出器１１に印加する高圧電源（図示せず)の高電圧を調整する。次に、校正装置２は、電圧測定部２６で測定し
た最終的な高電圧値を高電圧校正値ＨＶｐｒとし、同時点の測定ユニット１５が測定した高電圧値である高電圧モニタ値を高電圧初期値ＨＶｉｎとし、高電圧校正値ＨＶｐｒを基準に高電圧初期値ＨＶｉｎが許容範囲にあることを自己診断し、高電圧校正値ＨＶｐｒ及び高電圧初期値ＨＶｉｎを校正装置２の記憶装置に格納する。また、校正装置２は、測定ユニット１５が測定した指標ピークｐのピーク値に基づいてシステムゲイン初期値ＳＧｉｎを設定し、スペクトル計数部２７が測定した指標ピークｐのピーク値をシステムゲイン校正値ＳＧｐｒとし、システムゲイン校正値ＳＧｐｒを基準にシステムゲイン初期値ＳＧｉｎが許容範囲内にあることを自己診断し、システムゲイン校正値ＳＧｐｒ及びシステムゲイン初期値ＳＧｉｎを校正装置２の記憶装置に格納する。ここでは、指標ピークｐのピーク値に基づいてシステムゲイン初期値ＳＧｉｎを設定する例として、測定ユニット１５が測定した指標ピークｐのピーク値をそのままシステムゲイン初期値ＳＧｉｎにする。

通常、指標スペクトルの測定範囲の下限ｄＬ及び上限ｄＵは、スペクトル形状を十分に把握できるように、指標ピークｐを基準にしてこの指標ピークｐから下限値及び上限値の幅が設定される。測定ユニット１５及び校正装置２のスペクトル計数部２７のそれぞれにおいて、指標ピークｐを同一の固定値に設定することにより、測定範囲は指標ピーク値ｐを基準にして設定されたことになり、指標ピークｐと測定範囲の関係は一義的に決まる。すなわち、スペクトル計数部２７が測定した測定範囲値は測定範囲校正値Ａｐｒとなり、測定ユニット１５が測定した測定範囲値は測定範囲初期値Ａｉｎとなる。

測定範囲校正値Ａｐｒ、システムゲイン校正値ＳＧｐｒが設定されたら、指標線源２１０を、チェック線源容器４２に収容されていた標準線源２２０に置き換えて検出効率を求める校正を実施する。標準線源２２０に置き換えて求めた検出効率を標準検出効率ＤＥｓｔと呼ぶことにする。その検出効率（標準検出効率ＤＥｓｔ）を校正結果として校正装置２の記憶装置に格納する。

以上のように校正が完了したら、放射線検出器１１及び測定ユニット１５を放射線測定装置１ａのサンプラ１２に再設置して、放射線測定装置１ａを復旧する復旧作業を行い、チェック線源機構１４を駆動して放射線検出器１１にチェック線源１４１から放射線(図
示せず)を照射する。測定ユニット１５は、工学値測定機能により、チック線源正味初期
値Ｃｔ１、チック線源ピーク値ＣＨｐ１、測定範囲ＣＨａ１及び高圧電源の高電圧値ＨＶ１を測定する。測定ユニット１５は、チック線源ピーク値ＣＨｐ１をシステムゲインＳＧ１とし、測定範囲ＣＨａ１、高圧電源の高電圧値ＨＶ１、チック線源正味初期値Ｃｔ１及びシステムゲインＳＧ１を測定ユニット１５の図示しない記憶装置に格納する。ここで、チック線源正味初期値や監視途中で測定するチック線源正味値は、チェック線源による放射線の照射前後における測定範囲ＣＨａ１（下限ｄＬから上限ｄＵまで）の計数率の差である。チック線源正味初期値やチック線源正味値は、図４や図５の斜線を付した部分のカウント値の合計を基準値で正規化したものである。

次に校正が完了した後における校正装置２及び監視装置３の動作を説明する。校正装置２は、放射線測定装置１ａの放射線検出器１１及び測定ユニット１５の校正が完了して校正結果が得られたら、新たな未送信データの存在を示す受信依頼信号を監視装置３に発信する。監視装置３は、その受信依頼信号を受信すると、その放射線測定装置１ａの校正条件として測定範囲初期値Ａｉｎ、高電圧初期値ＨＶｉｎ、システムゲイン初期値ＳＧｉｎを校正装置２から取り込んで、取り込んだデータを更新して監視装置３の図示しない記憶装置に格納する（基準条件取得手順）。校正装置２に格納された校正条件は、基準校正条件である。また、監視装置３は、校正装置２における当該未送信データの存在を示す受信依頼信号の発信をリセットする。

作業員は、監視装置３において放射線測定装置１ａの状態をテスト状態から監視状態に
戻す。監視装置３において放射線測定装置１ａのテスト状態が解除されると、監視装置３は初期点検を行う。監視装置３は、放射線測定装置１ａから、前述した測定ユニット１５に内蔵された記憶装置に格納された最新の測定範囲ＣＨａ１、高電圧値ＨＶ１、チック線源正味初期値Ｃｔ１、システムゲインＳＧ１を受信する（診断対象条件取得手順）。放射線測定装置１ａにて設定された校正条件は、測定校正条件である。監視装置３は、測定範囲ＣＨａ１と測定範囲初期値Ａｉｎ、高電圧値ＨＶ１と高電圧初期値ＨＶｉｎ、システムゲインＳＧ１とシステムゲイン初期値ＳＧｉｎをそれぞれ比較し、許容範囲内であることを自己診断し（校正条件診断手順）、診断結果を監視装置３の表示部に表示する。すなわち、校正条件診断手順は、測定校正条件が基準校正条件を基準にした許容範囲内にあることを自動診断する。

また、監視装置３は、診断結果を内蔵された記憶装置に格納し、診断結果に問題がなければ監視をスタートする。診断結果に問題がある場合に、監視装置３は、その旨（診断結果に問題あり）を表示部（図示せず）に表示する。診断結果に問題がある場合には、放射線検出器１１及び測定ユニット１５をサンプラ１２から取り外し、校正条件の再設定を行う。

原子炉施設、使用済み燃料再処理施設、放射性物質利用施設等のプラントにおける次のプラント定期検査までの間に、放射線測定装置１ａの月例点検等を実施する場合は、校正時の校正条件が再現していることを診断する自己診断を行う。また、放射線監視システム８０は、チェック線源正味値の自動診断を行う。なお、放射線測定装置１ａの月例点検は、ＪＥＡＧ４６０６原子力発電所モニタリングにより１〜３か月に１回の点検が望ましいとされている。

チェック線源正味値の自動診断は以下のように行う。監視装置３から遠隔操作でチェック線源１４１から放射線を放射線検出器１１に照射する。例えば、線源駆動棒１４６の先端に取り付けられたチェック線源１４１を、図示しないソレノイドを作動させて鉛遮蔽部６３から鉛遮蔽穴部６２まで移動させ、チェック線源１４１から放射線を放射線検出器１１に照射する。放射線測定装置１ａの測定ユニット１５は、チェック線源正味値Ｃｔｍｅを測定する。測定ユニット１５は、測定したチェック線源正味値Ｃｔｍｅを、記憶装置に格納してあるチック線源正味初期値Ｃｔ１と比較して許容範囲内であることを診断する。以上のように、測定ユニット１５は、チェック線源正味値の診断項目を追加して、校正条件の自己診断項目と合わせて自動診断する。

以上のように、実施の形態１の放射線監視システム８０では、監視装置３と放射線測定装置１ａを第１の伝送ケーブル４ａで接続して相互に送受信可能にし、監視装置３と校正装置２を第２の伝送ケーブル５で接続して相互に送受信可能とした。また、実施の形態１の放射線監視システム８０では、放射線測定装置１ａのチェック線源１４１と校正時の指標線源２１０は、同じ核種でかつスペクトルにピークが発現するもので構成し、そのピーク値がシステムゲインを代表するようにした。さらに、実施の形態１の放射線監視システム８０では、監視装置３から遠隔操作でチェック線源１４１を移動し、放射線測定装置１ａの放射線検出器１１にチェック線源１４１から放射線を照射する。測定ユニット１５は、放射線検出器１１により検出された測定スペクトルからそのピーク値等を測定する。測定ユニット１５は、システムゲインＳＧ１及び測定範囲ＣＨａ１を測定し、システムゲインＳＧ１がシステムゲイン初期値ＳＧｉｎの許容範囲内にあり、かつ測定範囲ＣＨａ１が測定範囲初期値Ａｉｎの許容範囲内にあるか否かを自己診断する。

したがって、実施の形態１の放射線監視システム８０は、校正条件としてのシステムゲインＳＧ１及び測定範囲ＣＨａ１を定期的に、遠隔で自己診断するようにしたので、放射線監視システム８０における放射線測定装置１ａの健全性を校正時から運用開始及び運用
中にわたって維持することができる。

また、実施の形態１の放射線監視システム８０は、放射線測定装置１ａの健全性を遠隔で自己診断するようにしたので、作業員の放射線管理区域内作業を最小限に減らすことができ、作業員の被曝を大幅に低減することができる。作業員の放射線管理区域内作業は、放射線測定装置１ａのサンプラ１２から放射線検出器１１及び測定ユニット１５を外す作業と、校正後に放射線検出器１１及び測定ユニット１５をサンプラ１２に戻す作業のみに制限することができる。すなわち、放射線測定装置１ａの設置場所における放射線測定装置１ａの各種設定作業や調整作業を、不要にすることができる。なお、校正装置２が設置された校正室は、放射線管理区域であるものの放射線量は一般区域並みに低いので、校正室での作業は、被曝線量管理が必要となる上記の放射線管理区域内作業に含まれない。従来の放射線監視システムにおける定期点検の作業時間の内訳は、各種設定作業や調整作業が約２／３であり、校正作業が約１／３であった。実施の形態１の放射線監視システム８０では、従来の放射線監視システムにおける定期点検作業中の被曝を大幅に低減することができる。

また、実施の形態１の放射線監視システム８０は、検出効率を担保する校正条件等のデータを、校正装置２及び放射線測定装置１ａから監視装置３に送信し、校正条件等のデータを監視装置３で管理するようにしたので、監視システムの信頼性を向上させかつ保守時間を低減することができる。また、実施の形態１の放射線監視システム８０は、第１の伝送ケーブル４ａ及び第２の伝送ケーブル５に光ケーブルを使用することにより、耐ノイズ性を向上することができる。

以上のように、実施の形態１の放射線監視システム８０は、放射線管理区域内に設置され、放射線を測定する放射線測定装置１ａと、放射線の線量が放射線管理区域内ではあるが一般区域並みに低い校正室に設置され、放射線測定装置を校正した校正条件及び校正結果を格納し、要求に応じて校正条件及び校正結果を出力する校正装置２と、放射線測定装置１ａの測定結果を入力して監視すると共に、校正装置２から入力された校正条件と放射線測定装置１ａから入力された点検結果を比較してシステムの健全性を診断する監視装置３とを備え、放射線測定装置１ａは、着脱可能に配置され、放射線を検出して電気信号に変換する放射線検出器１１と、着脱可能に配置され、放射線検出器１１の電気信号を測定して工学値に変換すると共に、工学値と警報設定値を比較して所定の範囲を逸脱した場合に警報を発信する測定ユニット１５と、測定対象（測定対象試料１３）から放出される放射線が放射線検出器１１で所定の検出効率で検出されるように支持すると共に、環境放射線を遮蔽するサンプラ１２と、サンプラ１２に内蔵されたチェック線源１４１から放出される放射線を放射線検出器１１に照射または遮蔽するように、チェック線源１４１を移動するチェック線源機構１４とを有する。実施の形態１の放射線監視システム８０は、放射線測定装置１ａを校正する際に、校正室に移動された放射線検出器１１及び測定ユニット１５を互いにケーブル（試験用ケーブル２２）で接続し、測定ユニット１５を校正装置２にケーブル（試験用ケーブル２３）で接続し、校正装置２は、放射線測定装置１ａを校正する際に、放射線検出器１１にチェック線源１４１と同じ核種の指標線源２１０からの放射線を照射したときに発現する指標ピーク値（指標ピークｐの値）に基づいてシステムゲイン初期値ＳＧｉｎ及び管理する測定範囲の初期値である測定範囲初期値Ａｉｎを設定し、システムゲイン初期値ＳＧｉｎ及び測定範囲初期値Ａｉｎを校正条件として内蔵する記憶装置に格納し、監視装置３は、放射線測定装置１ａの点検の際に、放射線測定装置１ａがチェック線源１４１からの放射線を放射線検出器１１に照射したときに発現するチェック線源ピーク値（チェック線源ピークｐ１の値）を測定し、チェック線源ピーク値に基づいて設定されたシステムゲインＳＧ１及び測定範囲ＣＨａ１を取得し、この設定されたシステムゲインＳＧ１及び測定範囲ＣＨａ１のそれぞれが、システムゲイン初期値ＳＧｉｎ及び測定範囲初期値Ａｉｎを基準にした許容範囲内にあることを自動診断するので、すなわち、放射線測定装置を校正する際に、放射線検出器及び測定ユニットを校正室に移動して基準となる校正条件であるシステムゲイン初期値及び測定範囲初期値を取得し、放射線測定装置を点検する際に、監視装置は、放射線測定装置にて設定された測定校正条件であるステムゲイン及び測定範囲が、前記基準となる校正条件を基準にした許容範囲内にあることを診断するので、プラント立ち上げ前の放射線測定装置の点検における放射線管理区域内作業を最小限に減らすことができ、プラント運転中の点検における放射線管理区域内作業を原則なくすことができ、全体として大幅な被爆低減が実現できると共に、検出効率の健全性を担保する校正条件を自動診断することにより、放射線監視システムにおける信頼性の向上及び保守作業の容易化を実現することができる。

実施の形態１の放射線監視システム８０の校正条件の診断方法は、放射線測定装置１ａを校正した際に校正装置２に格納された校正条件を、基準校正条件として監視装置３に格納する基準条件取得手順と、放射線測定装置１ａの点検の際に放射線測定装置１ａにて設定された校正条件を、測定校正条件として監視装置３に格納する診断対象条件取得手順と、測定校正条件が基準校正条件を基準にした許容範囲内にあることを自動診断する校正条件診断手順とを含むことを特徴とするので、プラント立ち上げ前の放射線測定装置の点検における放射線管理区域内作業を最小限に減らすことができ、プラント運転中の点検における放射線管理区域内作業を原則なくすことができ、全体として大幅な被爆低減が実現できると共に、検出効率の健全性を担保する校正条件を自動診断することにより、放射線監視システムにおける信頼性の向上及び保守作業の容易化を実現することができる。

なお、校正完了後に監視をスタートさせる際に自動診断する校正条件の項目に、チック線源正味初期値Ｃｔ１を含めても構わない。

実施の形態２．
実施の形態１ではチェック線源機構１４に指標線源２１０と同じ核種のチェック線源１４１を搭載したが、実施の形態２では、指標線源２１０と同じ核種の第１のチェック線源１４２と、ピークの発現がなく測定領域の広い範囲にスペクトルが現れる第２のチェック線源１４３を搭載した。図６は、本発明の実施の形態２による放射線測定装置の構成を示す図である。図６（ａ）は放射線測定装置１ａの正面から見た一部断面であり、図６（ｂ）は平面図である。チェック線源機構１４の線源駆動棒１４６に、第１のチェック線源１４２と、第２のチェック線源１４３を搭載し、放射線検出器１１に第１のチェック線源１４２からの放射線を監視状態において常時照射するようにした。すなわち、監視状態において、第１のチェック線源１４２は鉛遮蔽穴部６２に位置するようにされ、第２のチェック線源１４３は鉛遮蔽部６３に位置するようにされている。

放射線検出器１１に第１のチェック線源１４２から放射線が常時照射された場合のスペクトルを模式的に示した例を図７に示す。図７は、本発明の実施の形態２の放射線検出器のスペクトルを示し、図７において、ｂはバックグラウンドスペクトルを示し、ｎはバックグラウンドスペクトルに含まれるノイズピークを示し、ｍ１は第１のチェック線源１４２の放射線を照射することによりバックグラウンドスペクトルに上積されたチェック線源スペクトルを示し、ｐ１はチェック線源ピークを示し、ｄＬは測定範囲の下限を示し、ｄＵは測定範囲の上限を示す。例えば、放射線検出器１１として厚みの薄いＣｄＺｎＴｅ化合物半導体をセンサーに使用し、第１のチェック線源１４２としてγ線源であるＡｍ−２４１を用いることで、図７に示したような測定範囲の下限ｄＬより低くかつノイズピークｎより高いレベル（チャネル値）にチェック線源ピークｐ１を発現させることができる。第１のチェック線源１４２のＡｍ−２４１から放射線（γ線）を常時照射することにより、６０ｋｅＶのγ線のピークが発現して、チェック線源ピーク値が放射線検出器１１により測定される。

また、第２チェック線源１４３としてβ線源であるＳｒ−９０を用いる。チェック線源機構１４を動作させて第２のチェック線源１４３のＳｒ−９０から放射線検出器１１に放射線を照射すると、Ｓｒ−９０と放射平衡にあるＹ−９０における２．２８ＭｅＶのβ線により、図７に示すように測定範囲（下限ｄＬから上限ｄＵ）の大部分の領域に、ピークのないブロードスペクトルｍ２が発現して、放射線検出器１１により測定さる。

実施の形態２の放射線監視システム８０は、測定範囲の下限ｄＬの値未満にピーク（チェック線源ピークｐ１）を有すると共に、測定範囲の下限ｄＬの値未満に波高分布するスペクトル（チェック線源スペクトルｍ１）を有する第１のチェック線源１４２と、支配的波高分布が測定範囲内に広く分布するスペクトル（ブロードスペクトルｍ２）を有する第２チェック線源１４３を用いる。

実施の形態２の放射線監視システム８０は、放射線測定装置１ａの測定ユニット１５が実施の形態１で説明した工学値測定機能を有するので、第１のチェック線源１４２によるチェック線源ピークｐ１を用いることで、実施の形態１と同様の効果を奏する。すなわち、実施の形態２の放射線監視システム８０は、プラント立ち上げ前の放射線測定装置の点検における放射線管理区域内作業を最小限に減らすことができ、プラント運転中の点検における放射線管理区域内作業を原則なくすことができ、全体として大幅な被爆低減が実現できると共に、検出効率の健全性を担保する校正条件を自動診断することにより、放射線監視システムにおける信頼性の向上及び保守作業の容易化を実現することができる。

また、実施の形態２の放射線監視システム８０は、放射線検出器１１に第１のチェック線源１４２から放射線を常時照射しているので、プラント環境の監視対象範囲に対応する測定範囲（下限ｄＬから上限ｄＵ）とは異なる領域に発現するチェック線源ピークｐ１のピーク値（チャネル値）を常時測定することができる。チェック線源ピークｐ１のピーク値をシステムゲインとするので、実施の形態２の放射線監視システム８０は、システムゲインのオンライン自動診断ができる。したがって、システムゲインのオンライン自動診断を定期点検以外にも定期的に、または常時測定することにより、放射線監視システムにおける信頼性を一段と向上させることができる。

なお、第１のチェック線源１４２としてγ線源であるＡｍ−２４１を用い、測定範囲ＣＨａ１の下限ｄＬ未満にチェック線源ピークｐ１を発現させたとしても、測定範囲ＣＨａ１においてバックグランドはほとんど上昇しない。すなわち、実施の形態２の放射線監視システム８０は、測定範囲ＣＨａ１の下限ｄＬ未満にチェック線源ピークｐ１を発現させたとしても、測定範囲ＣＨａ１における放射線検出器１１の測定感度を、チェック線源ピークｐ１を発現させない場合と同等にすることができる。したがって、実施の形態２の放射線監視システム８０は、測定範囲の下限ｄＬ未満にチェック線源ピークｐ１を発現させることにより、測定対象に対する測定感度を低下させることなく、システムゲインＳＧ１のオンライン自動診断を実現できる。また、第２のチェック線源１４３としてβ線源であるＳｒ−９０を用いたので、実施の形態２の放射線監視システム８０は、サンプラ１２の内部に第２のチェック線源１４３を遮蔽するための鉛遮蔽部６３の遮蔽厚みを薄くできる。実施の形態２の放射線監視システム８０は、鉛遮蔽部６３の遮蔽厚みを薄くできるので、サンプラ１２が小型になる効果を奏する。したがって、放射線測定装置１ａを小型にすることができる。

実施の形態３．
実施の形態１及び２では、放射線測定装置１ａが大型重量物である遮蔽を具備したサンプラ１２を備えているため、放射線測定装置１ａから放射線検出器１１及び測定ユニット１５を取り外して校正装置２の設置場所に運んで校正を行うようにしていた。実施の形態３では、測定対象をプラントエリア内の放射線とし、放射線測定装置１ａから大型重量物
であるサンプラ１２を無くした。実施の形態３では、サンプラ１２がないことにより放射線測定装置１ａが軽量になるので、放射線測定装置１ａを設置場所から外して校正装置２の設置場所に運んで校正を行う。図８は、本発明の実施の形態３による放射線測定装置の構成を示す図である。実施の形態３の放射線測定装置１ａは、放射線検出器１１と、チェック線源機構１４と、測定ユニット１５と、検出器カバー４１とを有する。チェック線源機構１４は、チェック線源支柱４５と、チェック線源１４４と、シャッター１４５と、ソレノイド１４７とを有する。

放射線測定装置１ａは、チェック線源機構１４のチェック線源支柱４５に設置されたチェック線源１４４から放射される放射線をシャッター１４５により遮蔽した状態で工学値を測定する。放射線測定装置１ａは、測定結果の工学値を測定ユニット１５の表示器１１０に表示し、警報発信時に測定ユニット１５のランプ１２０を点灯させると共に測定ユニット１５のブザー１３０を鳴らして報知するようになっている。

図９は、本発明の実施の形態３の放射線検出器のスペクトルを示す図である。図９において、ｂはバックグラウンドスペクトルを示し、ｎはバックグラウンドスペクトルに含まれるノイズピークを示し、ｍはチェック線源１４４の放射線を照射することによりバックグラウンドスペクトルに上積されたチェック線源スペクトルを示し、ｓは校正時の指標線源スペクトルを示し、ｐは指標線源ピークを示し、ｄＬは測定範囲の下限を示し、ｄＵは測定範囲の上限を示す。例えば、放射線検出器１１として薄いＳｉ半導体をセンサーに使用し、指標線源２１０としてγ線源であるＡｍ−２４１を用い、チェック線源１４４としてβ線源であるＳｒ−９０を用いることで、図９に示したような測定範囲の下限ｄＬから上限ｄＵの間にＡｍ−２４１のピークｐを発現させる。また、チェック線源機構１４を動作させてシャッター１４５を開けると、チェック線源１４４からの放射線が放射線検出器１１に照射され、Ｓｒ−９０と放射平衡にあるＹ−９０における２．２８ＭｅＶのβ線がＳｉ半導体の裏面基板に入射する。β線がＳｉ半導体の裏面基板に入射すると、Ｓｉ半導体の基板に作用して放射される制動Ｘ線をＳｉ半導体が検出し、測定範囲全域にわたるスペクトルｍが発現する。校正時には、検出器カバー４１の前面に指標線源のＡｍ−２４１を貼付けて測定範囲内にスペクトルピークが発現する。

放射線測定装置１ａの校正方法を説明する。校正時でも、放射線検出器１１及び測定ユニット１５が放射線測定装置１ａに取り付けられている状態で、実施の形態１で説明した校正装置２に接続して、校正作業を行う。実施の形態１で説明したように、高電圧校正値ＨＶｐｒ及び高電圧初期値ＨＶｉｎを測定し、高電圧校正値ＨＶｐｒを基準に高電圧初期値ＨＶｉｎが許容範囲にあることを自己診断し、高電圧校正値ＨＶｐｒ及び高電圧初期値ＨＶｉｎを校正装置２の記憶装置に格納する。

次に、検出器カバー４１の前面に指標線源２１０のＡｍ−２４１を粘着テープ等で貼付けて、放射線検出器１１に指標線源２１０であるＡｍ−２４１からγ線を照射して６０ｋｅＶのγ線のピークｐを発現させ、ピーク値を求めてシステムゲイン校正値ＳＧｐｒとし、そのピーク値を基準に測定範囲を設定する。

校正装置２は、測定ユニット１５の測定範囲下限及び測定範囲上限の計数動作点について校正して、測定範囲下限以上かつ測定範囲上限以下の測定範囲を測定範囲校正値Ａｐｒとし、測定ユニット１５が測定した測定範囲モニタ値を測定範囲初期値Ａｉｎとし、測定範囲校正値Ａｐｒを基準に測定範囲初期値Ａｉｎが許容範囲内にあることを自己診断する。校正装置２は、システムゲイン校正値ＳＧｐｒ、測定範囲校正値Ａｐｒ及び測定範囲初期値Ａｉｎを校正装置２の記憶装置に格納する。

次に、指標線源２１０を取外してチェック線源１４４を動作させる。校正装置２は、チ
ェック線源１４４による放射線の照射前後における測定範囲初期値Ａｉｎ内の工学値の差である正味工学値を正味工学値初期値とし、正味工学値初期値を校正条件として内蔵する記憶装置に格納する。具体的には、校正装置２は、放射線測定装置１ａのチェック線源機構１４を動作させてチェック線源１４４のＳｒ−９０から放射線を照射してチック線源正味初期値Ｃｔ１を求めて、校正装置２の記憶装置に格納する。チック線源正味初期値Ｃｔ１は、正味工学値初期値である。

校正装置２は、放射線測定装置１ａの校正が完了して校正結果が得られたら、新たな未送信データの存在を示す受信依頼信号を監視装置３に発信する。監視装置３は、その受信依頼信号を受信すると、その放射線測定装置１ａの校正条件として高電圧初期値ＨＶｉｎ、チック線源正味初期値Ｃｔ１を校正装置２から取り込んで、取り込んだデータを更新して監視装置３の記憶装置に格納する（基準条件取得手順）。また、監視装置３は、校正装置２における当該未送信データの存在を示す受信依頼信号の発信をリセットする。

放射線測定装置１ａの校正が完了したら、放射線測定装置１ａを設置位置に戻して復旧作業を行い、チェック線源機構１４を駆動して放射線検出器１１にチェック線源１４４から放射線(図示せず)を照射する。放射線測定装置１ａの測定ユニット１５は、工学値測定機能により、測定範囲初期値Ａｉｎ内のチック線源正味値Ｃｔｍｅ、及び高圧電源の高電圧値ＨＶ１を測定する。測定ユニット１５は、高圧電源の高電圧値ＨＶ１、チック線源正味値Ｃｔｍｅを内蔵された記憶装置に格納する。チック線源正味値Ｃｔｍｅは、正味工学値である。

監視装置３は、放射線測定装置１ａから、前述した測定ユニット１５に内蔵された記憶装置に格納された最新の高圧電源の高電圧値ＨＶ１、チック線源正味値Ｃｔｍｅを入力し（診断対象条件取得手順）、高電圧値ＨＶ１と高電圧初期値ＨＶｉｎ、チック線源正味値Ｃｔｍｅとチック線源正味初期値Ｃｔ１をそれぞれ比較し、許容範囲内であることを自己診断する（校正条件診断手順）。監視装置３は、診断結果を表示器１１０に表示し、診断結果を内蔵された記憶装置に格納し、診断結果に問題がなければ監視をスタートする。診断結果に問題がある場合に、監視装置３は、その旨（診断結果に問題あり）を表示器１１０に表示する。

原子炉施設、使用済み燃料再処理施設、放射性物質利用施設等のプラントにおける次のプラント定期検査までの間に、放射線測定装置１ａの月例点検等を実施する場合は、実施の形態１と同様に校正時の校正条件が再現していることを診断する自己診断を行う。

以上のように、実施の形態３の放射線監視システム８０は、実施の形態１と同様の効果を奏すると共に、校正から運用までを同一のチェック線源１４４で校正条件を診断するので、線源の個体差による誤差を排除できるため、高精度で自己診断できる。

実施の形態１及び２では、検出効率の健全性を担保する校正条件にシステムゲイン初期値ＳＧｉｎが含まれていたが、実施の形態３では、上述したように、検出効率の健全性を担保する校正条件を、測測定範囲初期値Ａｉｎ及びチック線源正味初期値Ｃｔ１にしても構わない。

１ａ、１ｂ、１ｉ…放射線測定装置、２…校正装置、３…監視装置、４ａ、４ｂ、４ｉ…伝送ケーブル、５…伝送ケーブル、１１…放射線検出器、１２…サンプラ、１３…測定対象試料、１４…チェック線源機構、１５…測定ユニット、２２…試験用ケーブル、２３…試験用ケーブル、８０…放射線監視システム、１４１、１４２、１４３、１４４…チェック線源、２１０…指標線源、ｐ…指標ピーク、ｐ１…チェック線源ピーク、ｍ１…チェッ
ク線源スペクトル、ｍ２…ブロードスペクトル、Ａｉｎ…測定範囲初期値、ＳＧｉｎ…システムゲイン初期値、Ｃｔ１…チック線源正味初期値（正味工学値初期値）、ＳＧ１…システムゲイン、Ｃｔｍｅ…チック線源正味値（正味工学値）。

Claims (8)

1. 測定対象から放出される放射線を測定及び管理する放射線監視システムであって、
   放射線管理区域内に設置され、前記放射線を測定する放射線測定装置と、
   前記放射線の線量が前記放射線管理区域内ではあるが一般区域並みに低い校正室に設置され、前記放射線測定装置を校正した校正条件及び校正結果を格納し、要求に応じて前記校正条件及び前記校正結果を出力する校正装置と、
   前記放射線測定装置の測定結果を入力して監視すると共に、前記校正装置から入力された前記校正条件と前記放射線測定装置から入力された点検結果を比較してシステムの健全性を診断する監視装置とを備え、
   前記放射線測定装置は、
   着脱可能に配置され、前記放射線を検出して電気信号に変換する放射線検出器と、
   着脱可能に配置され、前記放射線検出器の電気信号を測定して、前記放射線に関する測定値である放射線測定値に変換すると共に、前記放射線測定値と警報設定値を比較して所定の範囲を逸脱した場合に警報を発信する測定ユニットと、
   前記測定対象から放出される放射線が前記放射線検出器で所定の検出効率で検出されるように支持すると共に、環境放射線を遮蔽するサンプラと、
   前記サンプラに内蔵されたチェック線源から放出される放射線を前記放射線検出器に照射または遮蔽するように、前記チェック線源を移動するチェック線源機構とを有し、
   前記放射線測定装置を校正する際に、前記校正室に移動された前記放射線検出器及び前記測定ユニットを互いにケーブルで接続し、前記測定ユニットを前記校正装置にケーブルで接続し、
   前記校正装置は、前記放射線測定装置を校正する際に、前記放射線検出器に前記チェック線源と同じ核種の指標線源からの放射線を照射したときに発現する前記放射線測定値である指標ピーク値に基づいてシステムゲイン初期値及び管理する測定範囲の初期値である測定範囲初期値を設定し、前記システムゲイン初期値及び前記測定範囲初期値を前記校正条件として内蔵する記憶装置に格納し、
   前記監視装置は、前記放射線測定装置の点検の際に、前記放射線測定装置が前記チェック線源からの放射線を前記放射線検出器に照射したときに発現する前記放射線測定値であるチェック線源ピーク値を測定し、前記チェック線源ピーク値に基づいて設定されたシステムゲイン及び測定範囲を取得し、前記設定されたシステムゲイン及び測定範囲のそれぞれ
   が、前記システムゲイン初期値及び前記測定範囲初期値を基準にした許容範囲内にあることを自動診断すること特徴とする放射線監視システム。
2. 前記チェック線源機構は、他のチェック線源をさらに搭載し、監視動作中に前記チェック線源から放出される放射線を前記放射線検出器に照射するようにし、点検の際に前記他のチェック線源から放出される放射線を前記放射線検出器に照射するようにし、
   前記チェック線源は、前記測定範囲の下限値未満にピークを有すると共に、前記測定範囲の下限値未満に波高分布するスペクトルを有し、
   前記他のチェック線源は、波高分布が前記測定範囲内に広く分布しており、かつ前記測定範囲内の波高値が前記チェック線源による波高値よりも大きいスペクトルを有し、
   前記チェック線源ピーク値は、前記放射線測定装置が前記監視動作中に前記チェック線源からの放射線を前記放射線検出器に照射したときに測定したものであること特徴とする請求項１記載の放射線監視システム。
3. 前記監視装置は、監視動作中に前記チェック線源からの放射線を前記放射線検出器に照射したときに発現するチェック線源ピーク値の測定結果を取得し、前記チェック線源ピーク値に基づいて設定されたシステムゲインを診断することを特徴とする請求項２記載の放射線監視システム。
4. 前記チェック線源は、核種がＡｍ−２４１であり、前記他のチェック線源は、核種がＳｒ−９０であることを特徴とする請求項２または３に記載の放射線監視システム。
5. 測定対象から放出される放射線を測定及び管理する放射線監視システムであって、
   放射線管理区域内に設置され、前記放射線を測定する放射線測定装置と、
   前記放射線の線量が前記放射線管理区域内ではあるが一般区域並みに低い校正室に設置され、前記放射線測定装置を校正した校正条件及び校正結果を格納し、要求に応じて前記校正条件及び前記校正結果を出力する校正装置と、
   前記放射線測定装置の測定結果を入力して監視すると共に、前記校正装置から入力された前記校正条件と前記放射線測定装置から入力された点検結果を比較してシステムの健全性を診断する監視装置とを備え、
   前記放射線測定装置は、
   前記放射線を検出して電気信号に変換する放射線検出器と、
   前記放射線検出器の電気信号を測定して、前記放射線に関する測定値である放射線測定値に変換すると共に、前記放射線測定値と警報設定値を比較して所定の範囲を逸脱した場合に警報を発信する測定ユニットと、
   当該放射線測定装置に内蔵されたチェック線源から放出される放射線を前記放射線検出器に照射または遮蔽するチェック線源機構とを有し、
   前記放射線測定装置を校正する際に、前記校正室に移動された前記放射線測定装置を前記校正装置にケーブルで接続し、
   前記校正装置は、前記放射線測定装置を校正する際に、前記放射線検出器に指標線源からの放射線を照射したときに発現する前記放射線測定値である指標ピーク値及びスペクトルを測定し、前記指標ピーク値に基づいてシステムゲイン初期値及び管理する測定範囲の初期値である測定範囲初期値を設定し、前記チェック線源による放射線の照射前後における前記測定範囲内の前記スペクトルの計数率の差である正味工学値を正味工学値初期値とし、前記正味工学値初期値及び前記測定範囲初期値を前記校正条件として内蔵する記憶装置に格納し、
   前記監視装置は、前記放射線測定装置の点検の際に、前記放射線測定装置が前記チェック線源からの放射線を前記放射線検出器に照射して、この照射によって発現する前記放射線測定値であるスペクトルを測定し、前記チェック線源からの放射線の照射前後における前記設定された測定範囲初期値内の前記スペクトルの計数率の差である正味工学値を取得し
   、前記正味工学値が、前記正味工学値初期値を基準にした許容範囲内にあることを自動診断すること特徴とする放射線監視システム。
6. 前記指標線源は、核種がＡｍ−２４１であり、前記チェック線源は、核種がＳｒ−９０であることを特徴とする請求項５記載の放射線監視システム。
7. 前記放射線測定装置は、前記監視装置に第１の伝送ケーブルを介して接続され、
   前記校正装置は、前記監視装置に第２の伝送ケーブルを介して接続され、
   前記第１の伝送ケーブル及び前記第２の伝送ケーブルは、光ケーブルであることを特徴とする請求項１乃至６のいずれか１項に記載の放射線監視システム。
8. 請求項１乃至７のいずれか１項に記載の放射線監視システムにおける校正条件の診断方法であって、
   前記放射線測定装置を校正した際に前記校正装置に格納された前記校正条件を、基準校正条件として前記監視装置に格納する基準条件取得手順と、
   前記放射線測定装置の点検の際に前記放射線測定装置にて設定された前記校正条件を、測定校正条件として前記監視装置に格納する診断対象条件取得手順と、
   前記測定校正条件が前記基準校正条件を基準にした許容範囲内にあることを自動診断する校正条件診断手順とを含むことを特徴とする放射線監視システムにおける校正条件の診断方法。

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