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JP5785268B2 - 試験ユニット及び試料ホルダ - Google Patents
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JP5785268B2 - 試験ユニット及び試料ホルダ - Google Patents

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Description

本発明は、試料を取り付ける試料ホルダ、特に分光材料試験のための試料ホルダに関するものである。本発明は、さらに、本発明に係る試料ホルダを実装する実装装置に関するものである。さらに、本発明は、そのような試料ホルダのための試料ホルダマガジン、試料搬送システム、クランプ装置、試験ユニットに関するものである。
分光材料試験は、広範囲の材料を試験するために動的機械式分光法(DMTS,DMTA,DMA)で使われる方法である。ここでは、試料は0.0001Hzから1,000Hzの試験周波数での正弦波の機械的励振に、予荷重なしか静荷重の下で、さらされる。衝撃と試料の反応との時間差に基づいて、製品の品質に重要な示唆を提供する、試料材料の粘弾性特性を調べることができる。試料には、張力、圧縮力、曲げ力、剪断力が印加される。
DMTS法は、研究開発と品質管理の両方の分野で利用される。DMTS法によって、エラストマ、高分子化合物、複合材料、金属、ガラス、セラミック材料、生体材料、食料品、接着剤、樹脂材料、流体といった広範囲の材料の動的特性を調べることができる。
試験のために、試料材料を試験ユニットに搬送しなければならない。試験材料の試験ユニットへの搬送は、いわゆる試料搬送システムにより行われる。公知の試料搬送システムは試料と把持システムを収容する試料マガジンを有している。この把持システムは、試料マガジンから試料を取り外して、試験ユニットの中にあるクランプ装置に搬送する。試験のために試料を保持する試料ホルダはクランプ装置自身の中に固定される。試験の種類、すなわち張力試験、曲げ試験、剪断試験、圧縮試験、によって、対応する試料ホルダが必要となる。測定が終われば、試料材料は再び試験ユニットから取り外される。
この状況にあって、今日まで、1つのタイプの関連する試料、すなわち引張り用、圧縮用、曲げ用又は剪断用試料しか試験ユニットへの挿入、測定、次いで取り外しを連続して行うことができないことは不利である。従って、他の種類の試料を試験するために試料マガジンを変えなければならない。さらに、試験中に試料ホルダが汚れた場合には、試料ホルダをきれいにするか交換することが必要である。
本発明の目的は、異なる形状や負荷の種類(引張り、圧縮、曲げ、剪断)の試料の、試料ユニットにおける自動的セット、測定、そして再取り外しを連続して行えるようにして上記タイプの装置を改善することである。
請求項1の特徴を有する試料ホルダ、請求項4に記載の実装装置、請求項10に記載の試料ホルダマガジン、請求項11の特徴を備えた試料搬送システム、請求項14に記載のクランプ装置、そして請求項15に記載の試験ユニットを提案することにより本発明の目的は達成される。
本発明に係る試料を取り付けるための試料ホルダは、試料取付装置と、前記試料取付装置に割り当てられた保持手段とを備え、前記保持手段は把持手段のための少なくとも2つのペグを備えており、それらのペグは前記試料取付装置から突出している。本発明に係る試料ホルダは前記試料取付装置から突出する2つのペグを備えており、把持システムは、その把持プライヤによって前記ペグを把持することができ、それゆえすでに内部にクランプされた前記試料を完全なユニットとして試験ユニットに搬送し、前記試料をそこから再び取り外すことができる。従って、異なる形状や負荷の種類(引張り、圧縮、曲げ、剪断)の試料を前記試験ユニットに搬送し、それらを前記試験ユニットから再び取り外すことが可能である。これにより、異なる形状や負荷の種類の試料を前記試験ユニットに連続してセットすることを可能にする。前記試験ユニットに挿入された前記試料を伴う前記試料ホルダは測定ごとに取り外され、試料を備えた新しい試料ホルダが挿入されるので、特に硫化ゴムの生延着性(the green adhesion)を測定するという観点から、汚染のリスクは低減される。
実施形態において、前記ペグは略円錐形状端部を有すると有利である。前記円錐形状端部は前記試験ユニットの前記クランプ装置において前記試料ホルダをクランプする働きをする。
前記ペグは前記試料取付装置に両側から垂直に突出していると有利である。これにより、移送の間には、前記試料ホルダの自重による機械的圧力が前記試料に加えられないことを確実にする。
本発明は、さらに、試料ホルダを実装する前記実装装置に関するものであって、前記試料ホルダの保持手段を実装するために前記実装装置内に形成された凹部を有するものに関する。異なる形状や負荷の種類の試料を伴う試料ホルダを前記実装装置に実装することができる。
前記実装装置は第1実装アングルと第2実装アングルとを有すると有利である。それぞれの実装アングルは第1脚と第2脚を備えた略L字状の断面を有する。
凹部は、前記実装アングルそれぞれの第1脚に形成されると有利である。従って、前記試料取付装置から突出する両方のペグは、前記実装装置に実装される。
有利な実施形態においては、前記凹部が第1窪みに囲まれている。前記第1実装アングルが前記第1窪みの中に形成された第2窪みを有すると有利である。試料取付装置の形状適合実装のために、前記第1窪みがここでは略四角形状に構成され、前記第2窪みが略円形状に構成されていると有利である。前記試料取付装置は、前記窪みの中に置かれる。その結果、前記試料には、前記試料ホルダの自重によって機械的に圧力が加えられず、クリープが生じにくくなる。従って、薄膜試料だけではく、繊維、ゴム片、硬質プラスチック、複合材料、金属も試料ホルダでクランプすることができ、前記実装装置に取り付けることができる。さらに、前記実装装置の中の前記試料ホルダの確実な実装は、前記窪みにより保証される。
本発明は、さらに本発明の試料ホルダを複数収容する試料ホルダマガジンに関する。試料ホルダマガジンは、キャリアスタンドと、前記キャリアスタンドに固定される本発明の実装装置を少なくとも一つ有している。前記試料ホルダマガジンは、異なる形状や形態を有し前記試料ホルダにクランプされる試料が、前記試料ホルダマガジンの完全なユニット、前記試験ユニットに搬送される完全なユニットとして配置可能である点で区別される。従って、異なる形状や形態を有する試料をどのような順でも前記試験ユニット内に設置することができる。
さらに、本発明は、本発明の試料ホルダを試験ユニットに搬送する試料搬送システムに関し、前記試験ユニットは、本発明の試料ホルダと、前記保持手段における前記試料ホルダを把持しそれらを前記試験ユニット内に配置されたクランプ装置に搬送するする把持システムとを有する。
好適な実施形態においては、前記把持システムは、前記試料ホルダの前記保持手段を把持する2つの把持プライヤを、互いに離間するように有している。
さらに有利な実施形態においては、前記把持システムは、その縦軸周りに旋回可能である。
さらに、本発明は、本発明の試料ホルダを前記保持手段に実装するクランプ装置に関し、前記クランプ装置は分光材料試験の試験ユニット内に設置されている。
本発明は、さらに、本発明の試料搬送システムと本発明のクランプ装置を有し、分光材料を試験する試験ユニットに関する。
本発明は、以下で図面を用いて説明されている典型的な実施形態により詳細に説明される。
異なる形状と負荷の種類の試料のための本発明に係る試料ホルダをその上に配置した本発明に係る試料ホルダマガジンの側面図である。 クランプされた圧縮試験用試料を有する本発明に係る試料ホルダの概略図である。 クランプされた引張り試験用試料を有する本発明の第2実施形態に係る試料ホルダの概略図である。 クランプされた剪断試験用試料を有する本発明の第3実施形態に係る試料ホルダの概略図である。 クランプされた曲げ試験用試料を有する本発明の第4実施形態に係る試料ホルダの概略図である。 本発明に係る実装装置の第1脚の斜視図である。 本発明に係る実装装置の第2脚の斜視図である。 本発明に係る試料搬送装置及び試験ユニット内にある本発明に係るクランプ装置の斜視図である。
図1は、複数の異なる試料ホルダ20を収容する試料ホルダマガジン10を示す。試料ホルダ20は、分光材料試験の試料23を取り付ける役割をする。
試料ホルダマガジン10は、キャリアスタンド11とキャリアスタンド11に配置され、試料ホルダ20をその形状に合わせて実装する複数の実装装置30とを有する。実装装置30は、キャリアスタンド11に固定されている。3つの異なる試料ホルダ20、すなわち、圧縮試験用試料ホルダ20a、引張り試験用試料ホルダ20b、剪断試験用試料ホルダ20cは、試料ホルダマガジン10に固定される。さらに、図1には示されていないが、曲げ試験用試料ホルダ20dが試料ホルダ10に固定可能である。
図2〜図5は、異なる種類の負荷のための試料ホルダ20をより詳細に示す。
図2は、圧縮試験のための試料ホルダ20aを示す。試料ホルダ20aは試料取付装置21aと保持手段22とを有している。圧縮試験のための試料23は、様々な試料材料を取り付け可能な試料取付装置21aにクランプされている。試料取付装置21aは2枚の保持プレート26を有し、試料23はその間に取り付けられている。くびれ部48が形成された中間領域27は、それぞれの保持プレート26に隣接しており、前記くびれ部は組み立てのための重要な表面としての役割を有する。プレート28はそれぞれの中間領域27に隣接し、保持手段22はプレート28の上側に隣接している。保持手段22はプレート28から垂直に突出している2つのペグ24を有している。ペグ24は円錐形状端部25を有する。圧縮試験においては、試料23は、2枚の保持プレート26に接着されることにより、確実に位置決めされる。
図3は、引張り試験のための試料ホルダ20bを示す。試料ホルダ20bは、試料取付装置21bと保持手段22とを有している。試料取付装置21bは2つのクランプ金具29を有している。図3から明らかなように、試料23はそれぞれの端がクランプ金具29でクランプされている。保持手段22は、クランプ金具29の上側に隣接している。保持手段22は、クランプ金具29の上側から垂直に突出している2つのペグ24を有している。ペグ24は、円錐形状端部25を有する。
剪断試験のための試料ホルダ20cを図4に示す。試料ホルダ20cは試料取付装置21cと保持手段22とを有している。試料23は、試料取付装置21cにクランプされている。試料取付装置21cは略U字形に形成されたホルダ46を有している。図4から明らかなように、試料23はそれぞれの端がホルダ46の脚でクランプされている。試料取付装置21cはさらに、ホルダ46の両脚の間に位置し、試料23をクランプするクランプ金具47を有する。くびれ部48を有する中間領域27はクランプ金具47に隣接する。プレート28は中間領域27に位置する。保持手段22は、ホルダ46の上側及びプレート28の上側に隣接している。保持手段22は、円錐形状端部25を有する垂直に突出している2つのペグ24を有している。くびれ部48はホルダ46から突出しているペグ24にも形成されている。くびれ部48は組み立てのための重要な表面としての役割を有する。
図5は、曲げ試験のための試料ホルダ20dを示している。試料ホルダ20dは、試料取付装置21dと保持手段22とを有する。試料取付装置21dは試料23を収容する。この目的のために、試料取付装置21dは、略U形状の支持部49、スタンプ、支持プレートを有している。凹部は、実装装置30と形状を合わせて噛み合うように支持部49の中に形成されている。スタンプと支持プレートは、スタンプと支持プレートの間の自由空間が残るように2つのばねによりそれぞれの端で互いに結合されている。試料23は、図5に示すように、試料23が支持部49の脚と支持プレートに横たわるようにスタンプと支持プレートの間に位置している。くびれ部48が形成された中間領域27は、スタンプに隣接している。中間領域27は、プレート28によって区切られている。保持手段22は、プレート28と支持部49に隣接している。保持手段22は、端のそれぞれが円錐形状端部25となっている垂直に突出した2つのペグ24を備えている。組み立てのための重要な表面としての役割を有するくびれ部48は、ホルダ46から突出しているペグ24の中にも形成されている。
図1及び図6,7から明らかなように、実装装置30は第1実装アングル31と第2実装アングル32とを有している。両方の実装アングル31,32はそれぞれ第1脚33と第2脚34とを有し、それゆえ2つの実装アングル31,32は、略L字状の断面を有する。
図6から明らかなように、凹部35は第1実装アングル31の第1脚33に形成されている。凹部35は、第1脚の端面36から第2脚34の方向へ延伸している。凹部35は矩形部37と円形部38とを有している。第1窪み40は、第1脚33の外面39に形成されている。第1窪み40は長方形状の輪郭を有する。さらに、第2窪み41は、第1窪み40内且つ円形部38の領域に形成されている。第2脚34においては、詳細には図示されていないが、固定手段の貫通のための開口42が形成されている。開口42によって、第1実装アングル31はキャリアスタンド11に固定可能である。
図7によれば、第2実装アングル32は第1脚33と第2脚34とを有する。凹部35は第2実装アングル32の第1脚33に形成されている。凹部35は、同様に、矩形部37と円形部38とを有している。さらに、第1窪み40は、第1脚33の内面43に形成されている。第2実装アングル20の第1窪み40は、略長方形状の基本形状を有し、第2脚34の方向において窪みは斜面44になる。キャリアスタンド11に第2実装アングル32を固定するために、詳細には図示されていないが、第2脚34に固定手段の貫通のための開口42が形成されている。
図1から明らかなように、第2脚34の端面45が互いに接触し、実装装置30は略U形状の断面を形成するように、2つの実装アングル31,32は、キャリアスタンド11に配置されている。
図8に試料搬送システム50を示す。試料搬送システム50は、図2から図5で示した異なる種類の試料のための試料ホルダ20を配置した試料ホルダマガジン10と把持システム51とを備えている。把持システム51は、保持手段22を把持するために互いに距離のある2つの把持プライヤ52を有している。把持システム51は縦軸L周りに旋回可能である。把持システム51に取り付けられている把持プライヤ52は、機械的にも、電子機械的にも、液圧的にも制御可能である。
図8は動的機械式分光法のための試験ユニット70を概略的に示している。試料ホルダ20を実装するためのクランプ装置60は、試験ユニット70の内部に取り付けられている。クランプ装置60は、試料ホルダ20をクランプするための旋回可能クランプ手段61を有している。前記クランプ手段は、その保持手段22で、特に円錐形状端部25で試料ホルダ20をクランプする。クランプ手段61の操作は、機械的でも、電子機械的でも、液圧的でもよい。
次に、実装装置30における試料ホルダ20の実装を説明する。実装装置30の凹部35は、ペグ24を実装装置30内に案内する役割を果たす。試料取付装置21及び/又はプレート28がその形状に合わせて、第1窪み40及び/又は第2窪み41と形状適合するようにかみ合うまで、ペグ24は第2脚34に向かって凹部35内に押される。試料ホルダ20aの場合において、プレート28は形状適合するように、第1実装アングル31の第2窪み41内及び第2実装アングル32の第1窪み40内に横たわる。試料ホルダ20bの試料取付装置21bは第1窪み40と形状適合するようにかみ合う。試料ホルダ20cの場合においては、プレート28が第1実装アングル31の第2窪み41内に横たわり、ホルダ46が第2実装アングル32の第1窪み40内に横たわる。試料ホルダ20dの場合においては、プレート28が形状適合するように、第1実装アングル31の第2窪み41内に横たわる。そして支持部49が形状適合するように、第2実装アングル32の第1脚33とその凹部53でかみ合う。
次に、試験ユニット内にあるクランプ装置60への試料ホルダ20の搬送、及びクランプ装置60からの試料ホルダ20の取り外しについてより詳細に説明する。把持システム51は、把持プライヤ52が保持手段22、特にペグ24を把持できるように試料ホルダ20の前に配置する。把持プライヤ52がペグ24を把持すると、図に示す縦軸Lの方向への把持システム51の移動によって、把持システム51がわずかに試料ホルダ20を持ち上げる。これにより、窪み40,41から試料取付装置21を取り外す。次に、試料ホルダ20と共に把持システム51は実装装置30から離れるように水平方向に移動する。その後、試料ホルダ20を試験ユニット70内にあるクランプ装置60に搬送するために、把持システム51はその縦軸Lの周りを約270度旋回する。旋回操作の後、把持システム51はクランプ装置60に向かって水平方向に移動する。
クランプ手段61が円錐形状端部25の挿入の際に旋回し、次にクランプ装置60内の試料ホルダ20をクランプするために再び逆旋回するように、クランプ手段61は旋回可能に実装されている。この次に、試料の測定が実行される。測定が終了すると、把持システム51はペグ24で試料ホルダ20を把持し、クランプ装置60から取り外す。最後に、把持システム51は試料ホルダ20を実装装置30に再び搬送する。
本発明に係る試料ホルダ20は、異なる形状や負荷の種類(引張り、圧縮、曲げ、剪断)の試料を試験ユニット70内に自動的に連続して設置し、それらを測定し、再び取り外すことを可能にする。試料ホルダ20の手動クリーニング、又は試料ホルダ20の修正は不要である。
10 試料ホルダマガジン
11 キャリアスタンド
20a 圧縮試験のための試料ホルダ
20b 引張り試験のための試料ホルダ
20c 剪断試験のための試料ホルダ
20d 曲げ試験のための試料ホルダ
21a 圧縮試験のための試料取付装置
21b 引張り試験のための試料取付装置
21c 剪断試験のための試料取付装置
21d 曲げ試験のための試料取付装置
22 保持手段
23 試料
24 ペグ
25 円錐形状端部
26 保持プレート
27 中間領域
28 プレート
29 クランプ金具
46 ホルダ
47 クランプ金具
48 くびれ部
49 支持部
53 凹部
30 実装装置
31 第1実装アングル
32 第2実装アングル
33 第1脚
34 第2脚
35 凹部
36 端面
37 矩形部
38 円形部
39 外面
40 第1窪み
41 第2窪み
42 開口
43 内面
44 斜面
45 端面
50 試料搬送システム
51 把持システム
52 把持プライヤ
60 クランプ装置
61 クランプ手段
70 試験ユニット
L 縦軸

Claims (15)

  1. 試料ホルダ(20)に取り付けられた試料(23)を試験するための試験ユニット(70)であって、
    前記試料ホルダ(20)は前記試料(23)をクランプするための試料取付装置(21)を含み、
    保持手段(22)が前記試料取付装置(21)に割り当てられ、
    前記保持手段(22)は前記試料取付装置(21)から突出した少なくとも2つのペグ(24)を有し、
    試料ホルダマガジン(10)を有するキャリアスタンド(11)を備え、
    前記試料ホルダマガジン(10)は、複数の前記試料ホルダ(20)の前記保持手段(22)を実装するための複数の実装装置(30)を、前記キャリアスタンド(11)の上下方向に沿って有し、
    前記試料ホルダ(20)を試験ユニット(70)に搬送するための試料搬送システム(50)を備え、
    前記試料搬送システム(50)は、前記保持手段(22)において前記試料ホルダ(20)を把持し、前記各実装装置(30)が有する前記試料ホルダ(20)を任意の順番で試験ユニット(70)内にあるクランプ装置(60)に搬送する把持システム(51)を備える、
    試験ユニット(70)。
  2. 前記試料ホルダマガジン(10)は、圧縮試験用試料ホルダ(20a),引張り試験用試料ホルダ(20b),剪断試験用試料ホルダ(20c),及び曲げ試験用試料ホルダ(20d)を有することを特徴とする、請求項1に記載の試験ユニット(70)。
  3. 前記圧縮試験用試料ホルダ(20a)は、
    前記試料(23)の上下に、前記試料(23)を取り付ける保持プレート(26)を有し、
    前記保持プレート(26)の上下の近傍にプレート(28)を備え、
    前記プレート(28)は、該試料ホルダ(20a)を前記実装装置(30)に実装する際に利用されることを特徴とする、請求項2に記載の試験ユニット(70)。
  4. 前記引張り試験用試料ホルダ(20b)は、
    前記試料(23)の上下に、前記試料(23)の上下の端をクランプするクランプ金具(29)を有し、
    前記クランプ金具(29)は、該試料ホルダ(20b)を前記実装装置(30)に実装する際に利用されることを特徴とする、請求項2に記載の試験ユニット(70)。
  5. 前記剪断試験用試料ホルダ(20c)は、前記試料(23)の上に、前記試料(23)の両端をクランプするホルダ(46)を有し、
    前記試料(23)の下に、前記試料(23)の中間をクランプするクランプ金具(47)を有し、前記クランプ金具(47)の下の近傍にプレート(28)を備え、
    前記ホルダ(46)と前記プレート(28)は、該試料ホルダ(20c)を前記実装装置(30)に実装する際に利用されることを特徴とする、請求項2に記載の試験ユニット(70)。
  6. 前記曲げ試験用試料ホルダ(20d)は、前記試料(23)の中間を挟む位置にスタンプと支持プレートを備え、前記スタンプと前記支持プレートの上の近傍にプレート(28)を備え、
    前記試料(23)の下に、前記試料(23)の両端を支持する支持部(49)を備え、
    前記プレート(28)と前記支持部(49)は、該試料ホルダ(20d)を前記実装装置(30)に実装する際に利用されることを特徴とする、請求項2に記載の試験ユニット(70)。
  7. 前記試料ホルダ(20)の前記ペグ(24)は、略円錐形状端部(25)を有することを特徴とする、請求項1から6のいずれか一項に記載の試験ユニット(70)。
  8. 前記試料ホルダ(20)の前記ペグ(24)は前記試料取付装置(21)の両側から垂直に突出していることを特徴とする、請求項1からのいずれか一項に記載の試験ユニット(70)。
  9. 前記実装装置(30)は、第1実装アングル(31)と第2実装アングル(32)とを有し、それぞれの実装アングル(31,32)は第1脚(33)と第2脚(34)を備えた略L字状の断面を有し、それぞれの前記実装アングル(31,32)は、前記第2脚(34)によって前記キャリアスタンド(11)に固定され略U形状の断面を形成し、前記第1脚(33)によって前記試料(23)の近傍で前記試料ホルダ(20)を支持することを特徴とする、請求項1から8の何れか一項に記載の試験ユニット(70)。
  10. 前記実装アングル(31,32)それぞれの第1脚(33)に凹部(35)が形成されることを特徴とする、請求項に記載の試験ユニット(70)。
  11. 前記凹部(35)は、
    前記第1脚(33)の、前記第2脚(34)から最も遠い端面(36)から前記第2脚(34)の方向へ形成され、
    前記第1脚(33)の外面または内面の、前記端面(36)から前記第2脚(34)の方向と直交する方向へ、前記凹部(35)より広い領域に、第1窪み(40)が形成されていることを特徴とする、請求項10に記載の試験ユニット(70)。
  12. 前記第1実装アングル(31)は、前記第1窪み(40)の中に形成された第2窪み(41)を有することを特徴とする、請求項11に記載の試験ユニット(70)。
  13. 前記試料搬送システム(50)の把持システム(51)は、前記試料ホルダ(20)の前記保持手段(22)を把持する2つの把持プライヤ(52)を、互いに離間するように有していることを特徴とする、請求項1から12のいずれか一項に記載の試験ユニット(70)。
  14. 前記試料搬送システム(50)の前記把持システム(51)は、前記試料ホルダマガジン(10)と前記クランプ装置(60)の間に配置され、前記キャリアスタンド(11)の上下方向に沿った縦軸(L)に沿って移動可能、かつ前記縦軸(L)周りに旋回可能であることを特徴とする、請求項1から13のいずれか一項に記載の試験ユニット(70)。
  15. 請求項1から14のいずれか一項に記載の試験ユニット(70)のための試料ホルダ(20)。
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Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012211775A (ja) * 2011-03-30 2012-11-01 Hino Motors Ltd インライン硬度検査装置、インライン硬度検査方法およびロボット
JP6947748B2 (ja) * 2016-04-01 2021-10-13 イリノイ トゥール ワークス インコーポレイティド 側方に作用する空気圧式把持部における布帛を試験するための組込み楔部材
IT201800004705A1 (it) * 2018-04-19 2019-10-19 Macchina assemblatrice e metodo di assemblaggio per accoppiare a due porta-campioni le estremita' di un provino di elastomero da sottoporre ad analisi termo-meccanica dinamica
RU2696359C1 (ru) * 2018-09-07 2019-08-01 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова" (МГУ) Комплект для ударных стержней для проведения экспериментов на динамический сдвиг
CN109827847B (zh) * 2019-02-12 2022-05-03 合肥炭素有限责任公司 一种石墨电极接头抗折强度检测装置及其检测方法
CN111751210A (zh) * 2020-06-28 2020-10-09 河南迅捷检测中心技术服务有限公司 一种耐压测试仪
DE102021131024A1 (de) 2021-11-26 2023-06-01 Bayerische Motoren Werke Aktiengesellschaft Probeneinspannvorrichtung für eine zyklische Biege-Wechselbeanspruchung einer Probe
JP7783099B2 (ja) * 2022-03-16 2025-12-09 日鉄建材株式会社 引張試験方法
US12412309B2 (en) 2022-10-17 2025-09-09 Saudi Arabian Oil Company Chemical purity assessment by image analysis
US20240201111A1 (en) * 2022-12-15 2024-06-20 Saudi Arabian Oil Company Specimen holders for x-ray diffractometer
CN116136478B (zh) * 2023-04-20 2023-06-27 东宁市九山木业制品有限责任公司 一种木材连接结构强度检测装置及检测方法

Family Cites Families (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2587226A (en) * 1949-07-26 1952-02-26 Thomas E Rodman Random tool rack
US3885424A (en) * 1971-12-29 1975-05-27 Uniroyal Inc Tensile test specimen holder
JPS53138779A (en) * 1977-05-10 1978-12-04 Unitika Ltd Automatic tension testing machine
JPS5619433A (en) * 1979-07-26 1981-02-24 Ueshima Seisakusho:Kk Full-auto continuous tensile tester
JPS5813729Y2 (ja) * 1979-08-28 1983-03-17 株式会社 上島製作所 引張り試験機に対する試験ピ−スの送出し装置
JPS5635043U (ja) * 1979-08-28 1981-04-06
JPS5825333Y2 (ja) * 1979-08-28 1983-05-31 株式会社 上島製作所 引張り試験機における試験ピ−スの受入保持装置
DE2946544C2 (de) * 1979-11-17 1983-12-01 Fa. Carl Zeiss, 7920 Heidenheim Objekthaltersystem für aufrechte Mikroskope
DE3138654A1 (de) * 1981-09-29 1983-04-14 Fa. Carl Zeiss, 7920 Heidenheim Objekthalter fuer mikroskope
US4606230A (en) * 1985-07-08 1986-08-19 The Dow Chemical Company Tensile test apparatus embodying novel specimen bar magazine
US5225683A (en) * 1990-11-30 1993-07-06 Jeol Ltd. Detachable specimen holder for transmission electron microscope
WO1993009398A1 (en) 1991-11-09 1993-05-13 Renishaw Metrology Limited Touch probe
US5710426A (en) * 1996-03-01 1998-01-20 Ta Instruments, Inc. Dynamic and thermal mechanical analyzer having an optical encoder with diffraction grating and a linear permanent magnet motor
US6071748A (en) * 1997-07-16 2000-06-06 Ljl Biosystems, Inc. Light detection device
GB2339019B (en) * 1998-06-30 2000-06-14 Khaled Karrai Sample holder apparatus
US6395554B1 (en) * 1999-09-03 2002-05-28 Packard Instrument Company Microarray loading/unloading system
WO2003007330A1 (fr) * 2001-07-12 2003-01-23 Hitachi, Ltd. Procede de mesure de l'electrisation d'un echantillon et dispositif a faisceau de particules chargees
US6972561B2 (en) * 2003-02-28 2005-12-06 General Electric Company Internal eddy current inspection
US7992612B2 (en) * 2007-11-08 2011-08-09 The Procter And Gamble Company Research press
CN201188077Y (zh) 2008-03-28 2009-01-28 西安工业大学 扭转试样同心定位安装环
US7694593B2 (en) * 2008-05-13 2010-04-13 Bose Corporation Multi-sample conditioning system
CN201215537Y (zh) * 2008-07-01 2009-04-01 中国核动力研究设计院 一种辐照后金属材料拉伸试验专用夹具
DE102009010431A1 (de) 2009-02-26 2010-09-02 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh Magazin und Verfahren zum Übergeben eines Moduls an ein Magazin

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