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JP5886582B2 - Anisotropic conductive material, B-stage cured product, method for producing B-stage cured product, and connection structure - Google Patents
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Anisotropic conductive material, B-stage cured product, method for producing B-stage cured product, and connection structure Download PDF

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Description

本発明は、複数の導電性粒子を含む異方性導電材料に関し、例えば、フレキシブルプリント基板、ガラス基板、ガラスエポキシ基板及び半導体チップなどの様々な接続対象部材の電極間の電気的な接続に用いることができる異方性導電材料、該異方性導電材料の硬化を進行させたBステージ状硬化物、並びに該異方性導電材料又は該Bステージ状硬化物を用いた接続構造体に関する。   The present invention relates to an anisotropic conductive material including a plurality of conductive particles, and is used for electrical connection between electrodes of various connection target members such as a flexible printed circuit board, a glass substrate, a glass epoxy substrate, and a semiconductor chip. The present invention relates to an anisotropic conductive material that can be cured, a B-stage-shaped cured product obtained by curing the anisotropic conductive material, and a connection structure using the anisotropic conductive material or the B-stage cured product.

異方性導電ペースト及び異方性導電フィルム等の異方性導電材料が広く知られている。該異方性導電材料では、バインダー樹脂中に複数の導電性粒子が分散されている。   Anisotropic conductive materials such as anisotropic conductive pastes and anisotropic conductive films are widely known. In the anisotropic conductive material, a plurality of conductive particles are dispersed in a binder resin.

上記異方性導電材料は、具体的には、ICチップとフレキシブルプリント回路基板との接続、及びICチップとITO電極を有する回路基板との接続等に使用されている。例えば、ICチップの電極と回路基板の電極との間に異方性導電材料を配置した後、加熱及び加圧することにより、これらの電極同士を接続できる。   Specifically, the anisotropic conductive material is used for connection between an IC chip and a flexible printed circuit board, connection between an IC chip and a circuit board having an ITO electrode, and the like. For example, after an anisotropic conductive material is arranged between the electrode of the IC chip and the electrode of the circuit board, these electrodes can be connected by heating and pressurizing.

上記異方性導電材料の一例として、下記の特許文献1には、エポキシ樹脂と、ゴム状ポリマー粒子と、熱活性な潜在性エポキシ硬化剤と、高軟化点ポリマー粒子と、導電性粒子とを含む異方性導電材料が開示されている。   As an example of the anisotropic conductive material, Patent Document 1 below includes an epoxy resin, rubber-like polymer particles, a thermally active latent epoxy curing agent, high softening point polymer particles, and conductive particles. An anisotropic conductive material is disclosed.

特開2000−345010号公報JP 2000-345010 A

特許文献1に記載のような従来の異方性導電材料により、例えば、半導体チップの電極とガラス基板の電極とを電気的に接続する際には、ガラス基板上に、導電性粒子を含む異方性導電材料を配置する。次に、半導体チップを積層して、加熱及び加圧する。これにより、異方性導電材料を硬化させて、かつ導電性粒子を介して電極間を電気的に接続し、接続構造体を得る。   For example, when an electrode of a semiconductor chip and an electrode of a glass substrate are electrically connected by a conventional anisotropic conductive material as described in Patent Document 1, for example, a different particle containing conductive particles is formed on the glass substrate. An isotropic conductive material is disposed. Next, the semiconductor chips are stacked, and heated and pressurized. As a result, the anisotropic conductive material is cured, and the electrodes are electrically connected via the conductive particles to obtain a connection structure.

従来の異方性導電材料では、ガラス基板上に配置された異方性導電材料及び該異方性導電材料に含まれている導電性粒子が、硬化前に大きく流動することがある。特に、従来の異方性導電材料に関しては、該異方性導電材料の硬化が進行されてBステージ状態となったときでも、導電性粒子が容易に移動しやすく、更にBステージ状態において導電性粒子が含まれない部分が比較的大きくなることもある。このため、異方性導電材料により形成された硬化物層及び導電性粒子を特定の領域に配置できないことがある。さらに、接続されるべき上下の電極間に導電性粒子を配置できなかったり、接続されてはならない隣接する電極間が複数の導電性粒子を介して電気的に接続されたりすることがある。このため、得られた接続構造体の導通信頼性が低いことがある。   In the conventional anisotropic conductive material, the anisotropic conductive material disposed on the glass substrate and the conductive particles contained in the anisotropic conductive material may flow greatly before curing. In particular, with respect to conventional anisotropic conductive materials, even when curing of the anisotropic conductive material proceeds to the B-stage state, the conductive particles easily move, and the conductive particles in the B-stage state are more conductive. The part not including the particles may be relatively large. For this reason, the hardened | cured material layer and electroconductive particle formed with the anisotropic electrically-conductive material may be unable to be arrange | positioned in a specific area | region. Furthermore, the conductive particles may not be disposed between the upper and lower electrodes to be connected, or adjacent electrodes that should not be connected may be electrically connected via a plurality of conductive particles. For this reason, the conduction | electrical_connection reliability of the obtained connection structure may be low.

本発明の目的は、電極間の電気的な接続に用いられた場合に、導通信頼性を高めることができる異方性導電材料及びBステージ状硬化物、並びに該異方性導電材料又はBステージ状硬化物を用いた接続構造体を提供することである。   An object of the present invention is to provide an anisotropic conductive material and a B-stage-like cured product capable of improving conduction reliability when used for electrical connection between electrodes, and the anisotropic conductive material or B stage. It is providing the connection structure using a hardened | cured material.

本発明の広い局面によれば、少なくとも3種の硬化性化合物と、導電性粒子とを含有する異方性導電材料であり、上記硬化性化合物が、エポキシ基又はチイラン基と(メタ)アクリロイル基とを有する光及び熱硬化性化合物と、エポキシ基又はチイラン基を有し、かつ(メタ)アクリロイル基を有さない熱硬化性化合物と、エポキシ基及びチイラン基を有さず、かつ(メタ)アクリロイル基を有する光硬化性化合物とを含み、上記エポキシ基又はチイラン基と(メタ)アクリロイル基とを有する光及び熱硬化性化合物の重量平均分子量が10万未満であり、異方性導電材料の硬化を進行させてBステージ状硬化物を得たときに、該Bステージ状硬化物が海島構造を有する、異方性導電材料が提供される。   According to a wide aspect of the present invention, an anisotropic conductive material containing at least three curable compounds and conductive particles, the curable compound being an epoxy group or a thiirane group and a (meth) acryloyl group. A thermosetting compound having an epoxy group or a thiirane group and having no (meth) acryloyl group, no epoxy group and no thiirane group, and (meth) A photocurable compound having an acryloyl group, and the light and thermosetting compound having the epoxy group or thiirane group and the (meth) acryloyl group have a weight average molecular weight of less than 100,000, An anisotropic conductive material is provided in which when the B-stage-shaped cured product is obtained by proceeding with curing, the B-stage-shaped cured product has a sea-island structure.

また、本発明の他の広い局面によれば、異方性導電材料に光を照射し、該異方性導電材料の硬化を進行させたBステージ状硬化物であって、上記異方性導電材料が、少なくとも3種の硬化性化合物と、導電性粒子とを含有し、該硬化性化合物が、エポキシ基又はチイラン基と(メタ)アクリロイル基とを有する光及び熱硬化性化合物と、エポキシ基又はチイラン基を有し、かつ(メタ)アクリロイル基を有さない熱硬化性化合物と、エポキシ基及びチイラン基を有さず、かつ(メタ)アクリロイル基を有する光硬化性化合物とを含み、上記エポキシ基又はチイラン基と(メタ)アクリロイル基とを有する光及び熱硬化性化合物の重量平均分子量が10万未満であり、海島構造を有する、Bステージ状硬化物が提供される。   According to another broad aspect of the present invention, there is provided a B-stage-shaped cured product obtained by irradiating an anisotropic conductive material with light to advance the curing of the anisotropic conductive material. The material contains at least three curable compounds and conductive particles, and the curable compound has an epoxy group or a thiirane group and a (meth) acryloyl group, and an epoxy group. Or a thermosetting compound having a thiirane group and not having a (meth) acryloyl group, and a photocurable compound not having an epoxy group and a thiirane group and having a (meth) acryloyl group, There is provided a B-stage-shaped cured product having a sea-island structure in which the light- and thermosetting compound having an epoxy group or thiirane group and a (meth) acryloyl group has a weight average molecular weight of less than 100,000.

本発明に係る異方性導電材料及びBステージ状硬化物のある特定の局面では、熱硬化剤と、光重合開始剤とがさらに含まれる。   In a specific aspect of the anisotropic conductive material and B-stage cured product according to the present invention, a thermosetting agent and a photopolymerization initiator are further included.

本発明に係る接続構造体は、第1の接続対象部材と、第2の接続対象部材と、該第1,第2の接続対象部材を電気的に接続している接続部とを備えており、上記接続部が、本発明に従って構成された異方性導電材料を硬化させることにより形成されているか、又は該異方性導電材料の硬化を進行させたBステージ状硬化物を硬化させることにより形成されている。   The connection structure according to the present invention includes a first connection target member, a second connection target member, and a connection part that electrically connects the first and second connection target members. The connecting portion is formed by curing an anisotropic conductive material configured according to the present invention, or by curing a B-stage-shaped cured product obtained by proceeding with the curing of the anisotropic conductive material. Is formed.

本発明に係る異方性導電材料は、少なくとも3種の硬化性化合物と導電性粒子とを含有し、上記硬化性化合物が、エポキシ基又はチイラン基と(メタ)アクリロイル基とを有する光及び熱硬化性化合物と、エポキシ基又はチイラン基を有し、かつ(メタ)アクリロイル基を有さない熱硬化性化合物と、エポキシ基及びチイラン基を有さず、かつ(メタ)アクリロイル基を有する光硬化性化合物とを含むので、光の照射及び加熱により、異方性導電材料を硬化させることができる。具体的には、異方性導電材料を光の照射により半硬化させた後に、熱硬化させることにより2段階で、異方性導電材料を硬化させることが可能である。   The anisotropic conductive material according to the present invention contains at least three curable compounds and conductive particles, and the curable compound has light and heat having an epoxy group or a thiirane group and a (meth) acryloyl group. Photo-curing having a curable compound, a thermosetting compound having an epoxy group or thiirane group and not having a (meth) acryloyl group, and having no (meth) acryloyl group having no epoxy group and thiirane group Therefore, the anisotropic conductive material can be cured by light irradiation and heating. Specifically, the anisotropic conductive material can be cured in two stages by semi-curing the anisotropic conductive material by light irradiation and then thermosetting.

さらに、本発明に係る異方性導電材料の光硬化を進行させたBステージ状硬化物及び本発明に係るBステージ状硬化物は、海島構造を有するので、該Bステージ状硬化物の状態において導電性粒子の流動及び沈降を抑制できる。また、海島構造の大きさを制御することができるので、Bステージ状硬化物の状態において、導電性粒子が含まれない部分が大きくなりすぎるのを抑制できる。   Furthermore, since the B stage-shaped cured product obtained by proceeding photocuring of the anisotropic conductive material according to the present invention and the B stage-shaped cured product according to the present invention have a sea-island structure, in the state of the B stage-shaped cured product The flow and settling of the conductive particles can be suppressed. Moreover, since the size of the sea-island structure can be controlled, it is possible to suppress the portion where the conductive particles are not included from becoming too large in the state of the B-stage-shaped cured product.

従って、本発明に係る異方性導電性材料を用いて、第1,第2の接続対象部材の電極間を電気的に接続した場合に、導通信頼性を高めることができる。例えば、接続されるべき上下の電極間を導電性粒子により容易に接続でき、かつ接続されてはならない隣り合う電極間が複数の導電性粒子を介して接続されるのを抑制できる。   Therefore, when the electrodes of the first and second connection target members are electrically connected using the anisotropic conductive material according to the present invention, conduction reliability can be improved. For example, the upper and lower electrodes to be connected can be easily connected with conductive particles, and adjacent electrodes that should not be connected can be prevented from being connected via a plurality of conductive particles.

図1は、本発明の一実施形態に係る異方性導電材料を用いた接続構造体を模式的に示す正面断面図である。FIG. 1 is a front sectional view schematically showing a connection structure using an anisotropic conductive material according to an embodiment of the present invention.

以下、本発明を詳細に説明する。   Hereinafter, the present invention will be described in detail.

本発明に係る異方性導電材料は、少なくとも3種の硬化性化合物(以下、硬化性化合物Aと記載することがある)と、導電性粒子とを含有する。上記硬化性化合物Aは、エポキシ基又はチイラン基と(メタ)アクリロイル基とを有する光及び熱硬化性化合物(以下、光及び熱硬化性化合物A1と記載することがある)と、エポキシ基又はチイラン基を有し、かつ(メタ)アクリロイル基を有さない熱硬化性化合物(以下、熱硬化性化合物A2と記載することがある)と、エポキシ基及びチイラン基を有さず、かつ(メタ)アクリロイル基を有する光硬化性化合物(以下、光硬化性化合物A3と記載することがある)とを含む。上記エポキシ基又はチイラン基と(メタ)アクリロイル基とを有する光及び熱硬化性化合物A1の重量平均分子量は、10万未満である。   The anisotropic conductive material according to the present invention contains at least three curable compounds (hereinafter sometimes referred to as curable compound A) and conductive particles. The curable compound A includes a light and thermosetting compound having an epoxy group or thiirane group and a (meth) acryloyl group (hereinafter sometimes referred to as light and thermosetting compound A1), an epoxy group or thiirane. A thermosetting compound having a group and not having a (meth) acryloyl group (hereinafter sometimes referred to as thermosetting compound A2), an epoxy group and a thiirane group, and (meth) And a photocurable compound having an acryloyl group (hereinafter sometimes referred to as photocurable compound A3). The weight average molecular weight of the light and thermosetting compound A1 having the epoxy group or thiirane group and the (meth) acryloyl group is less than 100,000.

本発明に係る異方性導電材料は、熱硬化剤と、光重合開始剤とをさらに含むことが好ましい。熱硬化剤と光重合開始剤とは、異方性導電材料に予め添加されていてもよく、異方性導電材料の使用時に異方性導電材料に添加されてもよい。   The anisotropic conductive material according to the present invention preferably further includes a thermosetting agent and a photopolymerization initiator. The thermosetting agent and the photopolymerization initiator may be added in advance to the anisotropic conductive material, or may be added to the anisotropic conductive material when the anisotropic conductive material is used.

また、本発明に係る異方性導電材料に光を照射し、該異方性導電材料の硬化を進行させたBステージ状硬化物は海島構造を有する。また、本発明に係るBステージ状硬化物は、海島構造を有する。   Moreover, the B-stage-shaped cured product obtained by irradiating the anisotropic conductive material according to the present invention with light and causing the curing of the anisotropic conductive material has a sea-island structure. Moreover, the B-stage-shaped cured product according to the present invention has a sea-island structure.

「海島構造」とは、海成分と島成分とが相分離した状態で存在し、海成分の中に島成分が分散状態にある構造をいう。   The “sea-island structure” refers to a structure in which sea components and island components exist in a phase-separated state, and island components are dispersed in the sea component.

本発明の主な特徴の1つは、Bステージ状硬化物の状態において、該Bステージ状硬化物が海島構造を有することである。このような海島構造の形成によって、Bステージ状硬化物において導電性粒子の流動及び沈降を顕著に抑制できる。従って、光の照射により異方性導電材料の硬化を進行させてBステージ状硬化物にするだけで、導電性粒子の流動及び沈降を抑制して、特定の領域に導電性粒子を容易に配置することが可能である。これは、海成分と島成分との界面において、導電性粒子の移動が妨げられるためであると考えられる。また、上記Bステージ状硬化物の状態を経て接続構造体を作製することにより、硬化前の異方性導電材料の流動性を低下させ、異方性導電材料の流動を抑制することもできる。このため、異方性導電材料により形成された硬化物層及び導電性粒子を特定の領域に配置できる。   One of the main features of the present invention is that, in the state of the B-stage cured product, the B-stage cured product has a sea-island structure. By forming such a sea-island structure, the flow and settling of conductive particles can be remarkably suppressed in the B-stage cured product. Therefore, it is easy to dispose conductive particles in specific areas by suppressing the flow and settling of conductive particles by simply curing the anisotropic conductive material by light irradiation to make a B-stage-like cured product. Is possible. This is presumably because the movement of the conductive particles is hindered at the interface between the sea component and the island component. Moreover, by producing the connection structure through the state of the B-stage cured product, the fluidity of the anisotropic conductive material before curing can be reduced, and the flow of the anisotropic conductive material can be suppressed. For this reason, the hardened | cured material layer and electroconductive particle formed with the anisotropic electrically-conductive material can be arrange | positioned in a specific area | region.

従って、異方性導電材料を用いて接続対象部材の電極間を電気的に接続した場合に、導通信頼性を高めることができる。具体的には、例えば、接続されるべき上下の電極間に導電性粒子をより一層確実に配置できる。さらに、凝集した導電性粒子によって、接続されてはならない横方向に隣り合う電極間が接続され難く、隣り合う電極間の短絡が生じるのを抑制できる。   Therefore, when the electrodes of the connection target members are electrically connected using the anisotropic conductive material, the conduction reliability can be improved. Specifically, for example, the conductive particles can be arranged more reliably between the upper and lower electrodes to be connected. Further, the agglomerated conductive particles make it difficult for the electrodes adjacent in the lateral direction that should not be connected to be connected to each other, and it is possible to suppress a short circuit between the adjacent electrodes.

本発明のもう1つの主な特徴は、硬化性化合物Aが、エポキシ基又はチイラン基と(メタ)アクリロイル基とを有する光及び熱硬化性化合物A1と、エポキシ基又はチイラン基を有し、かつ(メタ)アクリロイル基を有さない熱硬化性化合物A2と、エポキシ基及びチイラン基を有さず、かつ(メタ)アクリロイル基を有する光硬化性化合物A3とを含むことである。この少なくとも3種の硬化性化合物Aの使用によって、Bステージ状硬化物が、単に海島構造を有するのではなく、良好な海島構造を有するようになる。   Another main feature of the present invention is that the curable compound A has a light and thermosetting compound A1 having an epoxy group or thiirane group and a (meth) acryloyl group, an epoxy group or thiirane group, and A thermosetting compound A2 having no (meth) acryloyl group, and a photocurable compound A3 having no epoxy group and thiirane group and having a (meth) acryloyl group. By using the at least three kinds of curable compounds A, the B-stage-shaped cured product does not have a sea-island structure, but has a good sea-island structure.

異方性導電材料に光を照射して光硬化を進行させたときに、光硬化性化合物A3の硬化は、光及び熱硬化性化合物A1の硬化よりも先に比較的進行しやすい。すなわち、光及び熱硬化性化合物A1の光硬化性と光硬化性化合物A3の光硬化性とが適度な関係にあるので、光硬化性化合物A3の硬化が進行した部分において島部が形成され、光及び熱硬化性化合物A1により島部の拡大が阻害され、海島構造における島部が大きくなりすぎるのを抑制することができる。例えば、島部(島成分)の大きさを20μm未満にすることが容易であり、10μm以下にすることもできる。この結果、Bステージ状硬化物の状態において、導電性粒子の流動及び沈降を抑制することができるだけでなく、導電性粒子が含まれない部分が大きくなりすぎるのを抑制することもでき、接続構造体の導通信頼性を高めることができる。なお、光硬化性化合物A3の硬化が進行した部分において島部が形成された場合に、導電性粒子は島部ではなく海部に含まれやすい。また、「島部の大きさ」とは、1つの島部における最大径を示す。   When the anisotropic conductive material is irradiated with light to cause photocuring to proceed, the curing of the photocurable compound A3 is relatively easy to proceed before the curing of the light and the thermosetting compound A1. That is, since the photo-curing property of the light and thermosetting compound A1 and the photo-curing property of the photo-curable compound A3 are in an appropriate relationship, an island portion is formed in the portion where the curing of the photo-curable compound A3 has progressed, Expansion of an island part is inhibited by light and thermosetting compound A1, and it can control that an island part in a sea island structure becomes large too much. For example, it is easy to make the size of the island part (island component) less than 20 μm, and it can be made 10 μm or less. As a result, in the state of the B-stage-shaped cured product, not only can the flow and sedimentation of the conductive particles be suppressed, but also the portion not including the conductive particles can be suppressed from becoming too large, and the connection structure The conduction reliability of the body can be increased. In addition, when an island part is formed in the part which hardening of photocurable compound A3 advanced, electroconductive particle is easy to be contained in the sea part instead of an island part. The “size of the island part” indicates the maximum diameter in one island part.

一方で、光及び熱硬化性化合物A1を用いずに光硬化性化合物A3のみを用いると、島部が容易に大きくなりやすく、導電性粒子が含まれない部分が大きくなりやすく、良好な海島構造を形成することは困難である。また、例えば、従来のエポキシ化合物と(メタ)アクリル化合物とを含む異方性導電材料の硬化を進行させた場合にも、島部が容易に大きくなりやすく、導電性粒子が含まれない部分が大きくなりやすく、良好な海島構造を形成することは困難である。さらに、光硬化性化合物A3を用いずに光及び熱硬化性化合物A1のみを用いた場合には、導電性粒子の流動及び沈降を十分に抑制することは困難である。   On the other hand, when only the photocurable compound A3 is used without using the light and thermosetting compound A1, the island portion is likely to be easily enlarged, and the portion not including the conductive particles is likely to be enlarged. Is difficult to form. In addition, for example, when the curing of an anisotropic conductive material including a conventional epoxy compound and a (meth) acrylic compound is advanced, the island portion is likely to be easily enlarged, and there is a portion that does not include conductive particles. It tends to be large and it is difficult to form a good sea-island structure. Furthermore, when only light and thermosetting compound A1 are used without using photocurable compound A3, it is difficult to sufficiently suppress the flow and settling of conductive particles.

本発明に係る異方性導電材料は、好ましくは、厚み20μmの異方性導電材料に、光の照射エネルギーが50mW/cmとなるように光を照射し、異方性導電材料の硬化を進行させてBステージ状硬化物を得たときに、該Bステージ状硬化物が海島構造を有する。 In the anisotropic conductive material according to the present invention, preferably, an anisotropic conductive material having a thickness of 20 μm is irradiated with light so that the irradiation energy of light is 50 mW / cm 2 , thereby curing the anisotropic conductive material. When the B stage cured product is obtained by being advanced, the B stage cured product has a sea-island structure.

本発明に係る異方性導電材料は、硬化を進行させてBステージ状硬化物を得た後に、該Bステージ状硬化物を硬化させる異方性導電材料であることが好ましい。また、本発明に係る異方性導電材料は、光の照射により硬化を進行させてBステージ状硬化物を得た後に、該Bステージ状硬化物を加熱により硬化させる異方性導電材料であることが好ましい。   The anisotropic conductive material according to the present invention is preferably an anisotropic conductive material that cures the B-stage-shaped cured product after curing proceeds to obtain a B-stage-shaped cured product. In addition, the anisotropic conductive material according to the present invention is an anisotropic conductive material that cures by light irradiation to obtain a B-stage cured product, and then cures the B-stage cured product by heating. It is preferable.

以下、本発明に係る異方性導電材料及び本発明に係るBステージ状硬化物を構成する異方性導電材料に含まれている各成分の詳細を説明する。   Hereinafter, the detail of each component contained in the anisotropic conductive material which comprises the anisotropic conductive material which concerns on this invention, and the B stage-shaped hardened | cured material which concerns on this invention is demonstrated.

〔硬化性化合物〕
上記異方性導電材料は、少なくとも3種の硬化性化合物Aを含む。
[Curable compound]
The anisotropic conductive material includes at least three curable compounds A.

硬化性化合物Aは、エポキシ基又はチイラン基と(メタ)アクリロイル基とを有する光及び熱硬化性化合物A1と、エポキシ基又はチイラン基を有し、かつ(メタ)アクリロイル基を有さない熱硬化性化合物A2と、エポキシ基及びチイラン基を有さず、かつ(メタ)アクリロイル基を有する光硬化性化合物A3とを含む。光及び熱硬化性化合物A1は、光硬化性と熱硬化性とを有する。熱硬化性化合物A2は、熱硬化性を有する。光硬化性化合物A3は、光硬化性を有する。   The curable compound A is a light and thermosetting compound A1 having an epoxy group or thiirane group and a (meth) acryloyl group, and a thermosetting having an epoxy group or a thiirane group and not having a (meth) acryloyl group. And a photocurable compound A3 having no (meth) acryloyl group and having no epoxy group or thiirane group. The light and thermosetting compound A1 has photocurability and thermosetting. The thermosetting compound A2 has thermosetting properties. The photocurable compound A3 has photocurability.

上記硬化性化合物は、光及び熱硬化性化合物A1、熱硬化性化合物A2及び光硬化性化合物A3以外の硬化性化合物を含んでいてもよい。   The said curable compound may contain curable compounds other than light and thermosetting compound A1, thermosetting compound A2, and photocurable compound A3.

異方性導電材料中の硬化性化合物A100重量%中、光及び熱硬化性化合物A1と熱硬化性化合物A2と光硬化性化合物A3の合計の含有量は、好ましくは50重量%以上、より好ましくは70重量%以上、100重量%以下である。硬化性化合物Aの全量が、光及び熱硬化性化合物A1と熱硬化性化合物A2と光硬化性化合物A3との混合物であってもよい。光及び熱硬化性化合物A1と熱硬化性化合物A2と光硬化性化合物A3との合計の含有量が上記下限以上であると、より一層良好な海島構造を形成できる。   In 100% by weight of the curable compound A in the anisotropic conductive material, the total content of the light and thermosetting compound A1, the thermosetting compound A2 and the photocurable compound A3 is preferably 50% by weight or more, more preferably Is 70% by weight or more and 100% by weight or less. The total amount of curable compound A may be a mixture of light and thermosetting compound A1, thermosetting compound A2 and photocurable compound A3. When the total content of the light and thermosetting compound A1, the thermosetting compound A2, and the photocurable compound A3 is equal to or more than the above lower limit, an even better sea-island structure can be formed.

光及び熱硬化性化合物A1の詳細:
エポキシ基又はチイラン基と(メタ)アクリロイル基とを有する硬化性化合物A1の重量平均分子量は、10万未満であり、好ましくは5万以下であり、より好ましくは1万以下である。光及び熱硬化性化合物A1の重量平均分子量が小さいほど、小さな島部を効果的に形成することができ、従って良好な海島構造を形成することができる。このため、接続構造体の導通信頼性がより一層高くなる。なお、光及び熱硬化性化合物A1の重量平均分子量の下限は特に限定されない。光及び熱硬化性化合物A1の重量平均分子量は、一般に50以上である。
Details of the light and thermosetting compound A1:
The weight average molecular weight of the curable compound A1 having an epoxy group or thiirane group and a (meth) acryloyl group is less than 100,000, preferably 50,000 or less, and more preferably 10,000 or less. The smaller the weight average molecular weight of the light and thermosetting compound A1, the more effectively small islands can be formed, and therefore a good sea-island structure can be formed. For this reason, the conduction | electrical_connection reliability of a connection structure becomes still higher. In addition, the minimum of the weight average molecular weight of light and the thermosetting compound A1 is not specifically limited. The weight average molecular weight of the light and thermosetting compound A1 is generally 50 or more.

なお、本明細書において、「重量平均分子量」とは、光及び熱硬化性化合物A1が重合体ではない場合、及び光及び熱硬化性化合物A1の構造式が特定できる場合は、当該構造式から算出できる分子量を意味する。また、光及び熱硬化性化合物A1が重合体である場合は、重量平均分子量を意味する。   In this specification, “weight average molecular weight” means that when the light and thermosetting compound A1 is not a polymer and when the structural formula of the light and thermosetting compound A1 can be specified, It means the molecular weight that can be calculated. Moreover, when light and the thermosetting compound A1 are polymers, it means a weight average molecular weight.

上記エポキシ基又はチイラン基と(メタ)アクリロイル基を有する光及び熱硬化性化合物A1は、エポキシ基を2個以上又はチイラン基を2個以上有する化合物の一部のエポキシ基又は一部のチイラン基を、(メタ)アクリロイル基に変換することにより得られた光及び熱硬化性化合物であることが好ましい。このような光及び熱硬化性化合物は、部分(メタ)アクリレート化エポキシ化合物又は部分(メタ)アクリレート化エピスルフィド化合物である。   The light and thermosetting compound A1 having the epoxy group or thiirane group and the (meth) acryloyl group is part of the epoxy group or part of thiirane group of the compound having two or more epoxy groups or two or more thiirane groups. It is preferable that it is the light and thermosetting compound obtained by converting into a (meth) acryloyl group. Such light and thermosetting compounds are partially (meth) acrylated epoxy compounds or partially (meth) acrylated episulfide compounds.

光及び熱硬化性化合物A1は、エポキシ基を2個以上又はチイラン基を2個以上有する化合物と、(メタ)アクリル酸との反応物であることが好ましい。この反応物は、エポキシ基を2個以上又はチイラン基を2個以上有する化合物と(メタ)アクリル酸とを、常法に従って塩基性触媒の存在下で反応することにより得られる。エポキシ基又はチイラン基の20%以上が(メタ)アクリロイル基に変換(転化率)されていることが好ましい。該転化率は、より好ましくは30%以上、好ましくは80%以下、より好ましくは70%以下である。エポキシ基又はチイラン基の40%以上、60%以下が(メタ)アクリロイル基に変換されていることが最も好ましい。上記「(メタ)アクリロイル基」は、アクリロイル基とメタクリロイル基とを示す。上記「(メタ)アクリル」は、アクリルとメタクリルとを示す。上記「(メタ)アクリレート」は、アクリレートとメタクリレートとを示す。   The light and thermosetting compound A1 is preferably a reaction product of a compound having two or more epoxy groups or two or more thiirane groups and (meth) acrylic acid. This reaction product is obtained by reacting a compound having two or more epoxy groups or two or more thiirane groups with (meth) acrylic acid in the presence of a basic catalyst according to a conventional method. It is preferable that 20% or more of the epoxy group or thiirane group is converted (converted) to a (meth) acryloyl group. The conversion is more preferably 30% or more, preferably 80% or less, more preferably 70% or less. Most preferably, 40% or more and 60% or less of the epoxy group or thiirane group is converted to a (meth) acryloyl group. The “(meth) acryloyl group” refers to an acryloyl group and a methacryloyl group. The “(meth) acryl” refers to acryl and methacryl. The “(meth) acrylate” refers to acrylate and methacrylate.

上記部分(メタ)アクリレート化エポキシ化合物としては、ビスフェノール型エポキシ(メタ)アクリレート、クレゾールノボラック型エポキシ(メタ)アクリレート、カルボン酸無水物変性エポキシ(メタ)アクリレート、及びフェノールノボラック型エポキシ(メタ)アクリレート等が挙げられる。   Examples of the partially (meth) acrylated epoxy compound include bisphenol type epoxy (meth) acrylate, cresol novolac type epoxy (meth) acrylate, carboxylic acid anhydride-modified epoxy (meth) acrylate, and phenol novolac type epoxy (meth) acrylate. Is mentioned.

光及び熱硬化性化合物A1として、エポキシ基を2個以上又はチイラン基を2個以上有するフェノキシ樹脂の一部のエポキシ基又は一部のチイラン基を(メタ)アクリロイル基に変換した変性フェノキシ樹脂を用いてもよい。すなわち、エポキシ基又はチイラン基と(メタ)アクリロイル基とを有する変性フェノキシ樹脂を用いてもよい。   A modified phenoxy resin obtained by converting a part of epoxy groups or a part of thiirane groups of a phenoxy resin having two or more epoxy groups or two or more thiirane groups into a (meth) acryloyl group as the light and thermosetting compound A1. It may be used. That is, a modified phenoxy resin having an epoxy group or thiirane group and a (meth) acryloyl group may be used.

熱硬化性化合物A2の詳細:
エポキシ基又はチイラン基を有し、かつ(メタ)アクリロイル基を有さない熱硬化性化合物A2は、エポキシ基を有する化合物であってもよく、チイラン基を有する化合物であってもよい。上記エポキシ基を有する化合物は、エポキシ化合物である。上記チイラン基を有する化合物は、エピスルフィド化合物である。
Details of thermosetting compound A2:
The thermosetting compound A2 having an epoxy group or thiirane group and having no (meth) acryloyl group may be a compound having an epoxy group or a compound having a thiirane group. The compound having an epoxy group is an epoxy compound. The compound having a thiirane group is an episulfide compound.

異方性導電材料の硬化を容易に制御したり、接続構造体の導通信頼性をより一層高めたりする観点からは、硬化性化合物Aは、エポキシ化合物及びエピスルフィド化合物の内の少なくとも一種を含むことが好ましく、エピスルフィド化合物を含むことがより好ましい。   From the viewpoint of easily controlling the curing of the anisotropic conductive material or further improving the conduction reliability of the connection structure, the curable compound A contains at least one of an epoxy compound and an episulfide compound. It is more preferable that it contains an episulfide compound.

上記エポキシ化合物及び上記エピスルフィド化合物は、芳香族環を有することが好ましい。上記芳香族環としては、ベンゼン環、ナフタレン環、アントラセン環、フェナントレン環、テトラセン環、クリセン環、トリフェニレン環、テトラフェン環、ピレン環、ペンタセン環、ピセン環及びペリレン環等が挙げられる。なかでも、上記芳香族環は、ベンゼン環、ナフタレン環又はアントラセン環であることが好ましく、ベンゼン環又はナフタレン環であることがより好ましい。また、ナフタレン環は、平面構造を有するためにより一層速やかに硬化させることができるので好ましい。   The epoxy compound and the episulfide compound preferably have an aromatic ring. Examples of the aromatic ring include a benzene ring, naphthalene ring, anthracene ring, phenanthrene ring, tetracene ring, chrysene ring, triphenylene ring, tetraphen ring, pyrene ring, pentacene ring, picene ring, and perylene ring. Especially, it is preferable that the said aromatic ring is a benzene ring, a naphthalene ring, or an anthracene ring, and it is more preferable that it is a benzene ring or a naphthalene ring. A naphthalene ring is preferred because it has a planar structure and can be cured more rapidly.

エピスルフィド化合物は、エポキシ基ではなくチイラン基を有するので、低温で速やかに硬化させることができる。すなわち、チイラン基を有するエピスルフィド化合物は、エポキシ基を有するエポキシ化合物と比較して、チイラン基に由来してより一層低い温度で硬化可能である。   Since the episulfide compound has a thiirane group instead of an epoxy group, it can be cured quickly at a low temperature. That is, the episulfide compound having a thiirane group can be cured at a lower temperature derived from the thiirane group as compared with the epoxy compound having an epoxy group.

低温でより一層速やかに硬化させる観点からは、エピスルフィド化合物は、下記式(1−1)、(2−1)、(3)、(7)又は(8)で表される構造を有するエピスルフィド化合物であることが好ましく、下記式(1−1)、(2−1)又は(3)で表される構造を有するエピスルフィド化合物であることがより好ましい。下記式(1−1)において、ベンゼン環に結合している6つの基の結合部位は特に限定されない。下記式(2−1)において、ナフタレン環に結合している8つの基の結合部位は特に限定されない。   From the viewpoint of curing more rapidly at a low temperature, the episulfide compound is an episulfide compound having a structure represented by the following formula (1-1), (2-1), (3), (7) or (8). It is preferable that it is an episulfide compound having a structure represented by the following formula (1-1), (2-1) or (3). In the following formula (1-1), the bonding sites of the six groups bonded to the benzene ring are not particularly limited. In the following formula (2-1), the bonding sites of the eight groups bonded to the naphthalene ring are not particularly limited.

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上記式(1−1)中、R1及びR2はそれぞれ炭素数1〜5のアルキレン基を表す。R3、R4、R5及びR6の4個の基の内の2〜4個の基は水素を表す。R3、R4、R5及びR6の内の水素ではない基は下記式(4)で表される基を表す。R3、R4、R5及びR6の4個の基の全てが水素であってもよい。R3、R4、R5及びR6の4個の基の内の1個又は2個が下記式(4)で表される基であり、かつR3、R4、R5及びR6の4個の基の内の下記式(4)で表される基ではない基は水素であってもよい。   In said formula (1-1), R1 and R2 represent a C1-C5 alkylene group, respectively. Of the four groups R3, R4, R5 and R6, 2 to 4 groups represent hydrogen. The group which is not hydrogen among R3, R4, R5 and R6 represents a group represented by the following formula (4). All four groups of R3, R4, R5 and R6 may be hydrogen. One or two of the four groups of R3, R4, R5 and R6 is a group represented by the following formula (4), and among the four groups of R3, R4, R5 and R6 The group that is not a group represented by the following formula (4) may be hydrogen.

Figure 0005886582
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上記式(4)中、R7は炭素数1〜5のアルキレン基を表す。   In said formula (4), R7 represents a C1-C5 alkylene group.

Figure 0005886582
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上記式(2−1)中、R51及びR52はそれぞれ炭素数1〜5のアルキレン基を表す。R53、R54、R55、R56、R57及びR58の6個の基の内の4〜6個の基は水素を表す。R53、R54、R55、R56、R57及びR58の内の水素ではない基は、下記式(5)で表される基を表す。R53、R54、R55、R56、R57及びR58の6個の基の全てが水素であってもよい。R53、R54、R55、R56、R57及びR58の6個の基の内の1個又は2個が下記式(5)で表される基であり、かつR53、R54、R55、R56、R57及びR58の内の下記式(5)で表される基ではない基は水素であってもよい。   In said formula (2-1), R51 and R52 represent a C1-C5 alkylene group, respectively. Of the 6 groups of R53, R54, R55, R56, R57 and R58, 4 to 6 groups represent hydrogen. The group which is not hydrogen among R53, R54, R55, R56, R57 and R58 represents a group represented by the following formula (5). All of the six groups of R53, R54, R55, R56, R57 and R58 may be hydrogen. One or two of the six groups of R53, R54, R55, R56, R57 and R58 are groups represented by the following formula (5), and R53, R54, R55, R56, R57 and R58. Of these, a group that is not a group represented by the following formula (5) may be hydrogen.

Figure 0005886582
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上記式(5)中、R59は炭素数1〜5のアルキレン基を表す。   In said formula (5), R59 represents a C1-C5 alkylene group.

Figure 0005886582
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上記式(3)中、R101及びR102はそれぞれ炭素数1〜5のアルキレン基を表す。R103、R104、R105、R106、R107、R108、R109及びR110の8個の基の内の6〜8個の基は水素を表す。R103、R104、R105、R106、R107、R108、R109及びR110の内の水素ではない基は、下記式(6)で表される基を表す。R103、R104、R105、R106、R107、R108、R109及びR110の8個の基の全てが水素であってもよい。R103、R104、R105、R106、R107、R108、R109及びR110の8個の基の内の1個又は2個が下記式(6)で表される基であり、かつR103、R104、R105、R106、R107、R108、R109及びR110の内の下記式(6)で表される基ではない基は水素であってもよい。   In said formula (3), R101 and R102 represent a C1-C5 alkylene group, respectively. Six to eight groups out of the eight groups of R103, R104, R105, R106, R107, R108, R109 and R110 represent hydrogen. The group which is not hydrogen among R103, R104, R105, R106, R107, R108, R109 and R110 represents a group represented by the following formula (6). All of the eight groups of R103, R104, R105, R106, R107, R108, R109 and R110 may be hydrogen. One or two of the eight groups of R103, R104, R105, R106, R107, R108, R109 and R110 are groups represented by the following formula (6), and R103, R104, R105, R106 , R107, R108, R109 and R110, which is not a group represented by the following formula (6), may be hydrogen.

Figure 0005886582
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上記式(6)中、R111は炭素数1〜5のアルキレン基を表す。   In said formula (6), R111 represents a C1-C5 alkylene group.

Figure 0005886582
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上記式(7)中、R1及びR2はそれぞれ炭素数1〜5のアルキレン基を表す。   In said formula (7), R1 and R2 represent a C1-C5 alkylene group, respectively.

Figure 0005886582
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上記式(8)中、R3及びR4はそれぞれ炭素数1〜5のアルキレン基を表す。   In said formula (8), R3 and R4 represent a C1-C5 alkylene group, respectively.

上記エピスルフィド化合物は、上記式(1−1),(2−1)で表される構造を有することが好ましく、下記式(1),(2)で表される構造を有するエピスルフィド化合物であることがより好ましい。   The episulfide compound preferably has a structure represented by the above formulas (1-1) and (2-1), and is an episulfide compound having a structure represented by the following formulas (1) and (2). Is more preferable.

Figure 0005886582
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上記式(1)中、R1〜R6は、上記式(1−1)中のR1〜R6と同様の基である。   In the above formula (1), R1 to R6 are the same groups as R1 to R6 in the above formula (1-1).

Figure 0005886582
Figure 0005886582

上記式(2)中、R51〜R58は、上記式(2−1)中のR51〜R58と同様の基である。   In the above formula (2), R51 to R58 are the same groups as R51 to R58 in the above formula (2-1).

上記異方性導電材料は、エピスルフィド化合物として、フェノキシ樹脂のエポキシ基がチイラン基に変換されたチイラン基を有する変性フェノキシ樹脂を含んでいてもよい。硫化剤を用いて、従来公知の方法により、フェノキシ樹脂のエポキシ基をチイラン基に変換できる。   The anisotropic conductive material may include a modified phenoxy resin having a thiirane group in which an epoxy group of the phenoxy resin is converted into a thiirane group as an episulfide compound. Using a sulfurizing agent, the epoxy group of the phenoxy resin can be converted to a thiirane group by a conventionally known method.

「フェノキシ樹脂」は、一般的には、例えばエピハロヒドリンと2価のフェノール化合物とを反応させて得られる樹脂、又は2価のエポキシ化合物と2価のフェノール化合物とを反応させて得られる樹脂である。   The “phenoxy resin” is generally a resin obtained by reacting, for example, an epihalohydrin and a divalent phenol compound, or a resin obtained by reacting a divalent epoxy compound with a divalent phenol compound. .

フェノキシ樹脂を得る上記反応において、フェノキシ樹脂の原料となるエポキシ基を有する化合物にかえて該エポキシ基を有する化合物のエポキシ基をチイラン基に変換したチイラン基を有する化合物を用いることにより、チイラン基を有するフェノキシ樹脂を得ることができる。さらに、エポキシ基を有するフェノキシ樹脂を用意し、該エポキシ基を有するフェノキシ樹脂のエポキシ基をチイラン基に変換することによっても、チイラン基を有するフェノキシ樹脂を得ることができる。本明細書において、これらの方法で得られる樹脂を含めて、チイラン基を有する変性フェノキシ樹脂と呼ぶ。エポキシ基を有するフェノキシ樹脂のエポキシ基がチイラン基に変換された樹脂を、チイラン基を有する変性フェノキシ樹脂と呼ぶ。   In the above reaction for obtaining a phenoxy resin, by using a compound having a thiirane group obtained by converting the epoxy group of the compound having an epoxy group into a thiirane group instead of the compound having an epoxy group as a raw material of the phenoxy resin, The phenoxy resin which has can be obtained. Furthermore, a phenoxy resin having a thiirane group can also be obtained by preparing a phenoxy resin having an epoxy group and converting the epoxy group of the phenoxy resin having an epoxy group into a thiirane group. In this specification, the resin obtained by these methods is referred to as a modified phenoxy resin having a thiirane group. A resin in which an epoxy group of a phenoxy resin having an epoxy group is converted into a thiirane group is referred to as a modified phenoxy resin having a thiirane group.

上記エポキシ化合物は特に限定されない。エポキシ化合物として、従来公知のエポキシ化合物を使用できる。上記エポキシ化合物は、1種のみが用いられてもよく、2種以上が併用されてもよい。   The epoxy compound is not particularly limited. A conventionally well-known epoxy compound can be used as an epoxy compound. As for the said epoxy compound, only 1 type may be used and 2 or more types may be used together.

上記エポキシ化合物としては、エポキシ基を有するフェノキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、ビスフェノールS型エポキシ樹脂、フェノールノボラック型エポキシ樹脂、ビフェノール型エポキシ樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂、フルオレン型エポキシ樹脂、フェノールアラルキル型エポキシ樹脂、ナフトールアラルキル型エポキシ樹脂、ジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂、アントラセン型エポキシ樹脂、アダマンタン骨格を有するエポキシ樹脂、トリシクロデカン骨格を有するエポキシ樹脂、及びトリアジン核を骨格に有するエポキシ樹脂等が挙げられる。   Examples of the epoxy compound include phenoxy resin having an epoxy group, bisphenol F type epoxy resin, bisphenol S type epoxy resin, phenol novolac type epoxy resin, biphenol type epoxy resin, naphthalene type epoxy resin, fluorene type epoxy resin, phenol aralkyl type epoxy. Examples thereof include a resin, a naphthol aralkyl type epoxy resin, a dicyclopentadiene type epoxy resin, an anthracene type epoxy resin, an epoxy resin having an adamantane skeleton, an epoxy resin having a tricyclodecane skeleton, and an epoxy resin having a triazine nucleus in the skeleton.

上記エポキシ化合物の具体例としては、例えばエピクロルヒドリンと、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂又はビスフェノールD型エポキシ樹脂等とから誘導されるビスフェノール型エポキシ樹脂、並びにエピクロルヒドリンとフェノールノボラック又はクレゾールノボラックとから誘導されるエポキシノボラック樹脂が挙げられる。グリシジルアミン、グリシジルエステル、並びに脂環式又は複素環式等の1分子内に2個以上のオキシラン基を有する各種のエポキシ化合物を用いてもよい。   Specific examples of the epoxy compound include, for example, epichlorohydrin and bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, bisphenol D type epoxy resin and the like, bisphenol type epoxy resin, and epichlorohydrin and phenol novolak or cresol novolak. And epoxy novolac resins derived from Various epoxy compounds having two or more oxirane groups in one molecule such as glycidylamine, glycidyl ester, and alicyclic or heterocyclic may be used.

さらに、上記エポキシ化合物として、例えば、上記式(1−1)、(2−1)、(3)、(7)又は(8)で表される構造におけるチイラン基をエポキシ基に置き換えた構造を有するエポキシ化合物を用いてもよい。   Furthermore, as the epoxy compound, for example, a structure in which the thiirane group in the structure represented by the formula (1-1), (2-1), (3), (7) or (8) is replaced with an epoxy group is used. You may use the epoxy compound which has.

さらに、上記異方性導電材料は、エポキシ化合物として、下記式(21)で表される構造を有するエポキシ化合物の単量体、該エポキシ化合物が少なくとも2個結合された多量体、又は該単量体と該多量体との混合物を含んでいてもよい。   Further, the anisotropic conductive material may be an epoxy compound monomer having a structure represented by the following formula (21), a multimer in which at least two of the epoxy compounds are bonded, or the monomer as an epoxy compound. It may contain a mixture of the body and the multimer.

Figure 0005886582
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上記式(21)中、R1は炭素数1〜5のアルキレン基を表し、R2は炭素数1〜5のアルキレン基を表し、R3は水素原子、炭素数1〜5のアルキル基又は下記式(22)で表される構造を表し、R4は水素原子、炭素数1〜5のアルキル基又は下記式(23)で表される構造を表す。   In said formula (21), R1 represents a C1-C5 alkylene group, R2 represents a C1-C5 alkylene group, R3 is a hydrogen atom, a C1-C5 alkyl group, or following formula ( 22), R4 represents a hydrogen atom, an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, or a structure represented by the following formula (23).

Figure 0005886582
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上記式(22)中、R5は炭素数1〜5のアルキレン基を表す。   In said formula (22), R5 represents a C1-C5 alkylene group.

Figure 0005886582
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上記式(23)中、R6は炭素数1〜5のアルキレン基を表す。   In said formula (23), R6 represents a C1-C5 alkylene group.

上記式(21)で表される構造を有するエポキシ化合物は、不飽和二重結合と、少なくとも2個のエポキシ基とを有することを特徴とする。上記式(21)で表される構造を有するエポキシ化合物の使用により、異方性導電材料及びBステージ状硬化物をより一層低温で速やかに硬化させることができる。   The epoxy compound having the structure represented by the above formula (21) has an unsaturated double bond and at least two epoxy groups. By using the epoxy compound having the structure represented by the above formula (21), the anisotropic conductive material and the B-stage cured product can be rapidly cured at a further lower temperature.

上記異方性導電材料は、エポキシ化合物又はエピスルフィド化合物として、下記式(31)で表される構造を有する化合物の単量体、該化合物が少なくとも2個結合された多量体、又は該単量体と該多量体との混合物を含んでいてもよい。   The anisotropic conductive material is, as an epoxy compound or an episulfide compound, a monomer of a compound having a structure represented by the following formula (31), a multimer in which at least two of the compounds are bonded, or the monomer And a mixture of the multimers.

Figure 0005886582
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上記式(31)中、R1は水素原子もしくは炭素数1〜5のアルキル基又は下記式(32)で表される構造を表し、R2は炭素数1〜5のアルキレン基を表し、R3は炭素数1〜5のアルキレン基を表し、X1は酸素原子又は硫黄原子を表し、X2は酸素原子又は硫黄原子を表す。   In the above formula (31), R1 represents a hydrogen atom, an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms or a structure represented by the following formula (32), R2 represents an alkylene group having 1 to 5 carbon atoms, and R3 represents carbon. X 1 represents an oxygen atom or a sulfur atom, and X 2 represents an oxygen atom or a sulfur atom.

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上記式(32)中、R4は炭素数1〜5のアルキレン基を表し、X3は酸素原子又は硫黄原子を表す。   In said formula (32), R4 represents a C1-C5 alkylene group, X3 represents an oxygen atom or a sulfur atom.

上記異方性導電材料は、エポキシ化合物として、窒素原子を含む複素環を有するエポキシ化合物を含んでいてもよい。上記窒素原子を含む複素環を有するエポキシ化合物は、下記式(41)で表されるエポキシ化合物、又は下記式(42)で表されるエポキシ化合物であることが好ましい。このような化合物の使用により、異方性導電材料及びBステージ状硬化物の硬化速度をより一層速くし、硬化物の耐熱性をより一層高めることができる。   The anisotropic conductive material may contain an epoxy compound having a heterocyclic ring containing a nitrogen atom as an epoxy compound. The epoxy compound having a heterocyclic ring containing a nitrogen atom is preferably an epoxy compound represented by the following formula (41) or an epoxy compound represented by the following formula (42). By using such a compound, the curing rate of the anisotropic conductive material and the B-stage cured product can be further increased, and the heat resistance of the cured product can be further enhanced.

Figure 0005886582
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上記式(41)中、R1〜R3はそれぞれ炭素数1〜5のアルキレン基を表し、Zはエポキシ基又はヒドロキシメチル基を表す。R1〜R3は同一であってもよく、異なっていてもよい。   In said formula (41), R1-R3 represents a C1-C5 alkylene group, respectively, Z represents an epoxy group or a hydroxymethyl group. R1 to R3 may be the same or different.

Figure 0005886582
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上記式(42)中、R1〜R3はそれぞれ炭素数1〜5のアルキレン基を示し、p、q及びrはそれぞれ1〜5の整数を表し、R4〜R6はそれぞれ炭素数1〜5のアルキレン基を表す。R1〜R3は同一であってもよく、異なっていてもよい。p、q及びrは同一であってもよく、異なっていてもよい。R4〜6は同一であってもよく、異なっていてもよい。   In the above formula (42), R1 to R3 each represent an alkylene group having 1 to 5 carbon atoms, p, q and r each represents an integer of 1 to 5, and R4 to R6 each represent an alkylene having 1 to 5 carbon atoms. Represents a group. R1 to R3 may be the same or different. p, q and r may be the same or different. R4-6 may be the same or different.

上記窒素原子を含む複素環を有するエポキシ化合物は、トリグリシジルイソシアヌレート、又はトリスヒドロキシエチルイソシアヌレートトリグリシジルエーテルであることが好ましい。これらの化合物の使用により、異方性導電材料及びBステージ状硬化物の硬化速度をさらに一層速くすることができる。   The epoxy compound having a heterocyclic ring containing a nitrogen atom is preferably triglycidyl isocyanurate or trishydroxyethyl isocyanurate triglycidyl ether. By using these compounds, the curing rate of the anisotropic conductive material and the B-stage cured product can be further increased.

上記異方性導電材料は、エポキシ化合物として、芳香族環を有するエポキシ化合物を含むことが好ましい。芳香族環を有するエポキシ化合物の使用により、異方性導電材料及びBステージ状硬化物の硬化速度をより一層速くし、ペースト状の異方性導電材料を塗布しやすくすることができる。異方性導電材料の塗布性をより一層高める観点からは、上記芳香族環は、ベンゼン環、ナフタレン環又はアントラセン環であることが好ましく、ベンゼン環又はナフタレン環であることがより好ましい。また、ナフタレン環は、平面構造を有するためにより一層速やかに硬化させることができるので好ましい。上記芳香族環を有するエポキシ化合物としては、レゾルシノールジグリシジルエーテル又は1,6−ナフタレンジグリシジルエーテルが挙げられる。なかでも、レゾルシノールジグリシジルエーテルが特に好ましい。レゾルシノールジグリシジルエーテルの使用により、異方性導電材料及びBステージ状硬化物の硬化速度を速くし、ペースト状の異方性導電材料を塗布しやすくすることができる。   The anisotropic conductive material preferably contains an epoxy compound having an aromatic ring as an epoxy compound. By using an epoxy compound having an aromatic ring, the curing rate of the anisotropic conductive material and the B-stage-shaped cured product can be further increased, and the paste-like anisotropic conductive material can be easily applied. From the viewpoint of further improving the applicability of the anisotropic conductive material, the aromatic ring is preferably a benzene ring, a naphthalene ring or an anthracene ring, and more preferably a benzene ring or a naphthalene ring. A naphthalene ring is preferred because it has a planar structure and can be cured more rapidly. Examples of the epoxy compound having an aromatic ring include resorcinol diglycidyl ether or 1,6-naphthalenediglycidyl ether. Of these, resorcinol diglycidyl ether is particularly preferable. By using resorcinol diglycidyl ether, it is possible to increase the curing speed of the anisotropic conductive material and the B-stage-like cured product and to easily apply the paste-like anisotropic conductive material.

光硬化性化合物A3の詳細:
エポキシ基及びチイラン基を有さず、かつ(メタ)アクリロイル基を有する光硬化性化合物A3として、(メタ)アクリル酸と水酸基を有する化合物とを反応させて得られるエステル化合物、(メタ)アクリル酸とエポキシ化合物とを反応させて得られるエポキシ(メタ)アクリレート(但し、エポキシ基を有さない)、又はイソシアネートに水酸基を有する(メタ)アクリル酸誘導体を反応させて得られるウレタン(メタ)アクリレート等が好適に用いられる。
Details of the photocurable compound A3:
(Meth) acrylic acid, an ester compound obtained by reacting (meth) acrylic acid with a compound having a hydroxyl group as photocurable compound A3 having no (meth) acryloyl group and having no epoxy group or thiirane group (Meth) acrylate obtained by reacting an epoxy compound with an epoxy compound (but not having an epoxy group), or urethane (meth) acrylate obtained by reacting a (meth) acrylic acid derivative having a hydroxyl group with an isocyanate, etc. Are preferably used.

上記(メタ)アクリル酸と水酸基を有する化合物とを反応させて得られるエステル化合物は特に限定されない。該エステル化合物として、単官能のエステル化合物、2官能のエステル化合物及び3官能以上のエステル化合物のいずれも用いることができる。   The ester compound obtained by making the said (meth) acrylic acid and the compound which has a hydroxyl group react is not specifically limited. As the ester compound, any of a monofunctional ester compound, a bifunctional ester compound, and a trifunctional or higher functional ester compound can be used.

また、光硬化性化合物A3は、架橋性化合物であってもよく、非架橋性化合物であってもよい。   The photocurable compound A3 may be a crosslinkable compound or a non-crosslinkable compound.

上記架橋性化合物の具体例としては、例えば、1,4−ブタンジオールジ(メタ)アクリレート、1,6−ヘキサンジオールジ(メタ)アクリレート、1,9−ノナンジオールジ(メタ)アクリレート、(ポリ)エチレングリコールジ(メタ)アクリレート、(ポリ)プロピレングリコールジ(メタ)アクリレート、ネオペンチルグリコールジ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールジ(メタ)アクリレート、グリセリンメタクリレートアクリレート、ペンタエリスリトールトリ(メタ)アクリレート、トリメチロールプロパントリメタクリレート、(メタ)アクリル酸アリル、(メタ)アクリル酸ビニル、ジビニルベンゼン、ポリエステル(メタ)アクリレート、及びウレタン(メタ)アクリレート等が挙げられる。   Specific examples of the crosslinkable compound include 1,4-butanediol di (meth) acrylate, 1,6-hexanediol di (meth) acrylate, 1,9-nonanediol di (meth) acrylate, (poly ) Ethylene glycol di (meth) acrylate, (poly) propylene glycol di (meth) acrylate, neopentyl glycol di (meth) acrylate, pentaerythritol di (meth) acrylate, glycerol methacrylate acrylate, pentaerythritol tri (meth) acrylate, tri Examples include methylolpropane trimethacrylate, allyl (meth) acrylate, vinyl (meth) acrylate, divinylbenzene, polyester (meth) acrylate, and urethane (meth) acrylate.

上記非架橋性化合物の具体例としては、エチル(メタ)アクリレート、n−プロピル(メタ)アクリレート、イソプロピル(メタ)アクリレート、n−ブチル(メタ)アクリレート、イソブチル(メタ)アクリレート、t−ブチル(メタ)アクリレート、ペンチル(メタ)アクリレート、ヘキシル(メタ)アクリレート、ヘプチル(メタ)アクリレート、2−エチルヘキシル(メタ)アクリレート、n−オクチル(メタ)アクリレート、イソオクチル(メタ)アクリレート、ノニル(メタ)アクリレート、デシル(メタ)アクリレート、ウンデシル(メタ)アクリレート、ドデシル(メタ)アクリレート、トリデシル(メタ)アクリレート、及びテトラデシル(メタ)アクリレート等が挙げられる。   Specific examples of the non-crosslinkable compound include ethyl (meth) acrylate, n-propyl (meth) acrylate, isopropyl (meth) acrylate, n-butyl (meth) acrylate, isobutyl (meth) acrylate, t-butyl (meth) ) Acrylate, pentyl (meth) acrylate, hexyl (meth) acrylate, heptyl (meth) acrylate, 2-ethylhexyl (meth) acrylate, n-octyl (meth) acrylate, isooctyl (meth) acrylate, nonyl (meth) acrylate, decyl Examples include (meth) acrylate, undecyl (meth) acrylate, dodecyl (meth) acrylate, tridecyl (meth) acrylate, and tetradecyl (meth) acrylate.

Bステージ状硬化物においてより一層良好な海島構造を形成する観点からは、異方性導電材料は、光及び熱硬化性化合物A1と熱硬化性化合物A2と光硬化性化合物A3とを、重量比(A1:A2:A3)で、0.1〜20:50〜94.9:5〜45で含むことが好ましく、2〜10:70〜88:10〜28で含むことがより好ましい。   From the viewpoint of forming an even better sea-island structure in the B-stage-shaped cured product, the anisotropic conductive material comprises a weight ratio of light and thermosetting compound A1, thermosetting compound A2, and photocurable compound A3. (A1: A2: A3), preferably 0.1-20: 50-94.9: 5-45, more preferably 2-10: 70-88: 10-28.

重量比(A1:A2:A3)が上記範囲内であると、異方性導電材料の光硬化を適度に進行させたBステージフィルムを得ることができ、更に得られたBステージフィルムを効率的に熱硬化させることができる。   When the weight ratio (A1: A2: A3) is within the above range, a B-stage film in which the photocuring of the anisotropic conductive material has progressed appropriately can be obtained, and the obtained B-stage film can be efficiently used. Can be thermally cured.

光硬化性化合物A3の含有量が少ないほど島部の体積が小さくなり、さらに光及び熱硬化性化合物A1の含有量が多いほど島部がより一層小さくなる傾向があり、Bステージ状硬化物において、導電性粒子が存在しない部分の大きさを小さくすることができる。   The smaller the content of the photocurable compound A3, the smaller the volume of the island portion, and the more the content of light and the thermosetting compound A1, the smaller the island portion tends to become smaller. The size of the portion where no conductive particles are present can be reduced.

〔熱硬化剤〕
上記異方性導電材料は、熱硬化剤を含むことが好ましい。該熱硬化剤は特に限定されない。該熱硬化剤は、熱硬化性化合物又は光及び熱硬化性化合物を硬化させる。該熱硬化剤として、従来公知の熱硬化剤を用いることができる。該熱硬化剤は、1種のみが用いられてもよく、2種以上が併用されてもよい。
[Thermosetting agent]
The anisotropic conductive material preferably contains a thermosetting agent. The thermosetting agent is not particularly limited. The thermosetting agent cures a thermosetting compound or light and thermosetting compound. A conventionally known thermosetting agent can be used as the thermosetting agent. As for this thermosetting agent, only 1 type may be used and 2 or more types may be used together.

上記熱硬化剤としては、イミダゾール硬化剤、アミン硬化剤、フェノール硬化剤、ポリチオール硬化剤及び酸無水物等が挙げられる。なかでも、異方性導電材料及びBステージ状硬化物を低温でより一層速やかに硬化させることができるので、イミダゾール硬化剤、ポリチオール硬化剤又はアミン硬化剤が好ましい。また、上記硬化性化合物と上記熱硬化剤とを混合したときに保存安定性を高めることができるので、潜在性の硬化剤が好ましい。潜在性の硬化剤は、潜在性イミダゾール硬化剤、潜在性ポリチオール硬化剤又は潜在性アミン硬化剤であることが好ましい。これらの熱硬化剤は1種のみが用いられてもよく、2種以上が併用されてもよい。なお、上記熱硬化剤は、ポリウレタン樹脂又はポリエステル樹脂等の高分子物質で被覆されていてもよい。   Examples of the thermosetting agent include imidazole curing agents, amine curing agents, phenol curing agents, polythiol curing agents, and acid anhydrides. Especially, since an anisotropic conductive material and a B stage-shaped hardened | cured material can be hardened more rapidly at low temperature, an imidazole hardening | curing agent, a polythiol hardening | curing agent, or an amine hardening | curing agent is preferable. Moreover, since a storage stability can be improved when the said sclerosing | hardenable compound and the said thermosetting agent are mixed, a latent hardening agent is preferable. The latent curing agent is preferably a latent imidazole curing agent, a latent polythiol curing agent or a latent amine curing agent. As for these thermosetting agents, only 1 type may be used and 2 or more types may be used together. In addition, the said thermosetting agent may be coat | covered with polymeric substances, such as a polyurethane resin or a polyester resin.

上記イミダゾール硬化剤としては、特に限定されないが、2−メチルイミダゾール、2−エチル−4−メチルイミダゾール、1−シアノエチル−2−フェニルイミダゾール、1−シアノエチル−2−フェニルイミダゾリウムトリメリテート、2,4−ジアミノ−6−[2’−メチルイミダゾリル−(1’)]−エチル−s−トリアジン及び2,4−ジアミノ−6−[2’−メチルイミダゾリル−(1’)]−エチル−s−トリアジンイソシアヌル酸付加物等が挙げられる。   The imidazole curing agent is not particularly limited, but 2-methylimidazole, 2-ethyl-4-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-phenylimidazole, 1-cyanoethyl-2-phenylimidazolium trimellitate, 2, 4-Diamino-6- [2'-methylimidazolyl- (1 ')]-ethyl-s-triazine and 2,4-diamino-6- [2'-methylimidazolyl- (1')]-ethyl-s- Examples include triazine isocyanuric acid adducts.

上記ポリチオール硬化剤としては、特に限定されないが、トリメチロールプロパン トリス−3−メルカプトプロピオネート、ペンタエリスリトール テトラキス−3−メルカプトプロピオネート及びジペンタエリスリトール ヘキサ−3−メルカプトプロピオネート等が挙げられる。   The polythiol curing agent is not particularly limited, and examples thereof include trimethylolpropane tris-3-mercaptopropionate, pentaerythritol tetrakis-3-mercaptopropionate, and dipentaerythritol hexa-3-mercaptopropionate. .

上記アミン硬化剤としては、特に限定されないが、ヘキサメチレンジアミン、オクタメチレンジアミン、デカメチレンジアミン、3,9−ビス(3−アミノプロピル)2,4,8,10−テトラスピロ[5.5]ウンデカン、ビス(4−アミノシクロヘキシル)メタン、メタフェニレンジアミン及びジアミノジフェニルスルホン等が挙げられる。   Although it does not specifically limit as said amine hardening | curing agent, Hexamethylene diamine, octamethylene diamine, decamethylene diamine, 3,9-bis (3-aminopropyl) 2,4,8,10-tetraspiro [5.5] undecane , Bis (4-aminocyclohexyl) methane, metaphenylenediamine, diaminodiphenylsulfone and the like.

上記熱硬化剤の中でもポリチオール化合物又は酸無水物等が好ましく用いられる。異方性導電材料及びBステージ状硬化物の硬化速度をより一層速くできるので、ポリチオール化合物がより好ましく用いられる。   Among the thermosetting agents, polythiol compounds or acid anhydrides are preferably used. Since the curing speed of the anisotropic conductive material and the B-stage cured product can be further increased, a polythiol compound is more preferably used.

上記ポリチオール化合物の中でもペンタエリスリトール テトラキス−3−メルカプトプロピオネートがより好ましい。このポリチオール化合物の使用により、異方性導電材料及びBステージ状硬化物の硬化速度をより一層速くできる。   Among the polythiol compounds, pentaerythritol tetrakis-3-mercaptopropionate is more preferable. By using this polythiol compound, the curing rate of the anisotropic conductive material and the B-stage cured product can be further increased.

上記熱硬化剤の含有量は特に限定されない。硬化性化合物A中の熱硬化成分(熱硬化性化合物、及び光及び熱硬化性化合物)100重量部に対して、熱硬化剤の含有量は、好ましくは0.01重量部以上、より好ましくは1重量部以上、好ましくは200重量部以下、より好ましくは100重量部以下、更に好ましくは75重量部以下である。熱硬化剤の含有量が上記下限以上であると、異方性導電材料を充分に硬化させることが容易である。熱硬化剤の含有量が上記上限以下であると、硬化後に硬化に関与しなかった余剰の熱硬化剤が残存し難くなり、かつ硬化物の耐熱性がより一層高くなる。   The content of the thermosetting agent is not particularly limited. The content of the thermosetting agent is preferably 0.01 parts by weight or more, more preferably 100 parts by weight with respect to 100 parts by weight of the thermosetting component (thermosetting compound and light and thermosetting compound) in the curable compound A. 1 part by weight or more, preferably 200 parts by weight or less, more preferably 100 parts by weight or less, and still more preferably 75 parts by weight or less. When the content of the thermosetting agent is not less than the above lower limit, it is easy to sufficiently cure the anisotropic conductive material. When the content of the thermosetting agent is not more than the above upper limit, it is difficult for an excess thermosetting agent that did not participate in curing after curing to remain, and the heat resistance of the cured product is further enhanced.

〔光重合開始剤〕
上記異方性導電材料は、光重合開始剤を含むことが好ましい。該光重合開始剤は特に限定されない。該光重合開始剤は、光硬化性化合物又は光及び熱硬化性化合物を重合させる。該光重合開始剤として、従来公知の光重合開始剤を用いることができる。該光重合開始剤は、1種のみが用いられてもよく、2種以上が併用されてもよい。
(Photopolymerization initiator)
The anisotropic conductive material preferably contains a photopolymerization initiator. The photopolymerization initiator is not particularly limited. The photopolymerization initiator polymerizes a photocurable compound or light and a thermosetting compound. As the photopolymerization initiator, a conventionally known photopolymerization initiator can be used. As for this photoinitiator, only 1 type may be used and 2 or more types may be used together.

上記光重合開始剤の具体例としては、アセトフェノン光重合開始剤、ベンゾフェノン光重合開始剤、チオキサントン、ケタール光重合開始剤、ハロゲン化ケトン、アシルホスフィノキシド及びアシルホスフォナート等が挙げられる。   Specific examples of the photopolymerization initiator include acetophenone photopolymerization initiator, benzophenone photopolymerization initiator, thioxanthone, ketal photopolymerization initiator, halogenated ketone, acyl phosphinoxide, and acyl phosphonate.

上記アセトフェノン光重合開始剤の具体例としては、4−(2−ヒドロキシエトキシ)フェニル(2−ヒドロキシ−2−プロピル)ケトン、2−ヒドロキシ−2−メチル−1−フェニルプロパン−1−オン、メトキシアセトフェノン、2,2−ジメトキシ−1,2−ジフェニルエタン−1−オン、及び2−ヒドロキシ−2−シクロヘキシルアセトフェノン等が挙げられる。上記ケタール光重合開始剤の具体例としては、ベンジルジメチルケタール等が挙げられる。   Specific examples of the acetophenone photopolymerization initiator include 4- (2-hydroxyethoxy) phenyl (2-hydroxy-2-propyl) ketone, 2-hydroxy-2-methyl-1-phenylpropan-1-one, methoxy Examples include acetophenone, 2,2-dimethoxy-1,2-diphenylethane-1-one, and 2-hydroxy-2-cyclohexylacetophenone. Specific examples of the ketal photopolymerization initiator include benzyl dimethyl ketal.

上記光重合開始剤の含有量は特に限定されない。硬化性化合物A中の光硬化成分(光硬化性化合物、及び光及び熱硬化性化合物)100重量部に対して、上記光重合開始剤の含有量は、好ましくは0.1重量部以上、より好ましくは0.2重量部以上、更に好ましくは2重量部以上、好ましくは10重量部以下、より好ましくは5重量部以下である。光重合開始剤の含有量が上記下限以上であると、光重合開始剤を添加した効果を充分に得ることが容易である。光重合開始剤の含有量が上記上限以下であると、異方性導電材料及びBステージ状硬化物を硬化させた硬化物の接着力が充分に高くなる。   The content of the photopolymerization initiator is not particularly limited. The content of the photopolymerization initiator is preferably 0.1 parts by weight or more with respect to 100 parts by weight of the photocurable component (photocurable compound and light and thermosetting compound) in the curable compound A. Preferably it is 0.2 parts by weight or more, more preferably 2 parts by weight or more, preferably 10 parts by weight or less, more preferably 5 parts by weight or less. When the content of the photopolymerization initiator is not less than the above lower limit, it is easy to sufficiently obtain the effect of adding the photopolymerization initiator. When the content of the photopolymerization initiator is not more than the above upper limit, the adhesive force of the cured product obtained by curing the anisotropic conductive material and the B-stage cured product is sufficiently high.

〔導電性粒子〕
上記異方性導電材料に含まれている導電性粒子は、第1,第2の接続対象部材の電極間を電気的に接続する。上記導電性粒子は、導電性を有する粒子であれば特に限定されない。導電性粒子の導電層の表面が絶縁層により被覆されていてもよい。この場合には、接続対象部材の接続時に、導電層と電極との間の絶縁層が排除される。上記導電性粒子としては、例えば、有機粒子、無機粒子、有機無機ハイブリッド粒子もしくは金属粒子等の表面を金属層で被覆した導電性粒子、又は実質的に金属のみで構成される金属粒子等が挙げられる。上記金属層は特に限定されない。上記金属層としては、金層、銀層、銅層、ニッケル層、パラジウム層又は錫を含有する金属層等が挙げられる。
[Conductive particles]
The conductive particles contained in the anisotropic conductive material electrically connect the electrodes of the first and second connection target members. The conductive particles are not particularly limited as long as they are conductive particles. The surface of the conductive layer of the conductive particles may be covered with an insulating layer. In this case, the insulating layer between the conductive layer and the electrode is excluded when the connection target member is connected. Examples of the conductive particles include conductive particles whose surfaces are coated with a metal layer, such as organic particles, inorganic particles, organic-inorganic hybrid particles, or metal particles, or metal particles that are substantially composed of only metal. It is done. The metal layer is not particularly limited. Examples of the metal layer include a gold layer, a silver layer, a copper layer, a nickel layer, a palladium layer, or a metal layer containing tin.

電極と導電性粒子との接触面積を大きくし、電極間の導通信頼性をより一層高める観点からは、上記導電性粒子は、樹脂粒子と、該樹脂粒子の表面上に配置された導電層とを有することが好ましい。電極間の導通信頼性をより一層高める観点からは、上記導電性粒子は、少なくとも外側の表面が低融点金属層である導電性粒子であることが好ましい。上記導電性粒子は、樹脂粒子と、該樹脂粒子の表面上に配置された導電層とを有し、該導電層の少なくとも外側の表面が、低融点金属層であることがより好ましい。   From the viewpoint of increasing the contact area between the electrode and the conductive particle and further improving the conduction reliability between the electrodes, the conductive particle includes a resin particle and a conductive layer disposed on the surface of the resin particle. It is preferable to have. From the viewpoint of further improving the conduction reliability between the electrodes, the conductive particles are preferably conductive particles having at least an outer surface of a low melting point metal layer. More preferably, the conductive particles include resin particles and a conductive layer disposed on the surface of the resin particles, and at least the outer surface of the conductive layer is a low melting point metal layer.

上記低融点金属層は、低融点金属を含む層である。該低融点金属とは、融点が450℃以下の金属を示す。低融点金属の融点は好ましくは300℃以下、より好ましくは160℃以下である。また、上記低融点金属層は錫を含むことが好ましい。低融点金属層に含まれる金属100重量%中、錫の含有量は好ましくは30重量%以上、より好ましくは40重量%以上、更に好ましくは70重量%以上、特に好ましくは90重量%以上である。上記低融点金属層の含有量が上記下限以上であると、低融点金属層と電極との接続信頼性がより一層高くなる。なお、上記錫の含有量は、高周波誘導結合プラズマ発光分光分析装置(堀場製作所社製「ICP−AES」)、又は蛍光X線分析装置(島津製作所社製「EDX−800HS」)等を用いて測定可能である。   The low melting point metal layer is a layer containing a low melting point metal. The low melting point metal is a metal having a melting point of 450 ° C. or lower. The melting point of the low melting point metal is preferably 300 ° C. or lower, more preferably 160 ° C. or lower. The low melting point metal layer preferably contains tin. In 100% by weight of the metal contained in the low melting point metal layer, the content of tin is preferably 30% by weight or more, more preferably 40% by weight or more, still more preferably 70% by weight or more, and particularly preferably 90% by weight or more. . When the content of the low melting point metal layer is not less than the lower limit, the connection reliability between the low melting point metal layer and the electrode is further enhanced. The tin content is determined using a high frequency inductively coupled plasma optical emission spectrometer (“ICP-AES” manufactured by Horiba, Ltd.) or a fluorescent X-ray analyzer (“EDX-800HS” manufactured by Shimadzu). It can be measured.

導電層の外側の表面が低融点金属層である場合には、低融点金属層が溶融して電極に接合し、低融点金属層が電極間を導通させる。例えば、低融点金属層と電極とが点接触ではなく面接触しやすいため、接続抵抗が低くなる。また、少なくとも外側の表面が低融点金属層である導電性粒子の使用により、低融点金属層と電極との接合強度とが高くなる結果、低融点金属層と電極との剥離がより一層生じ難くなり、導通信頼性が効果的に高くなる。   When the outer surface of the conductive layer is a low melting point metal layer, the low melting point metal layer is melted and joined to the electrodes, and the low melting point metal layer conducts between the electrodes. For example, since the low-melting point metal layer and the electrode are not in point contact but in surface contact, the connection resistance is lowered. Further, the use of conductive particles having at least the outer surface of the low-melting-point metal layer increases the bonding strength between the low-melting-point metal layer and the electrode. Thus, the conduction reliability is effectively increased.

上記低融点金属層を構成する低融点金属は特に限定されない。該低融点金属は、錫、又は錫を含む合金であることが好ましい。該合金は、錫−銀合金、錫−銅合金、錫−銀−銅合金、錫−ビスマス合金、錫−亜鉛合金、錫−インジウム合金等が挙げられる。なかでも、電極に対する濡れ性に優れることから、上記低融点金属は、錫、錫−銀合金、錫−銀−銅合金、錫−ビスマス合金、錫−インジウム合金であることが好ましい。錫−ビスマス合金、錫−インジウム合金であることがより好ましい。   The low melting point metal which comprises the said low melting metal layer is not specifically limited. The low melting point metal is preferably tin or an alloy containing tin. Examples of the alloy include a tin-silver alloy, a tin-copper alloy, a tin-silver-copper alloy, a tin-bismuth alloy, a tin-zinc alloy, and a tin-indium alloy. Especially, since it is excellent in the wettability with respect to an electrode, it is preferable that the said low melting metal is a tin, a tin-silver alloy, a tin-silver-copper alloy, a tin-bismuth alloy, a tin-indium alloy. More preferred are a tin-bismuth alloy and a tin-indium alloy.

また、上記低融点金属層は、はんだ層であることが好ましい。上記はんだ層を構成する材料は特に限定されないが、JIS Z3001:溶剤用語に基づき、液相線が450℃以下である溶可材であることが好ましい。上記はんだ層の組成としては、例えば亜鉛、金、鉛、銅、錫、ビスマス、インジウムなどを含む金属組成が挙げられる。なかでも低融点で鉛フリーである錫−インジウム系(117℃共晶)、又は錫−ビスマス系(139℃共晶)が好ましい。すなわち、はんだ層は、鉛を含まないことが好ましく、錫とインジウムとを含むはんだ層、又は錫とビスマスとを含むはんだ層であることが好ましい。   The low melting point metal layer is preferably a solder layer. Although the material which comprises the said solder layer is not specifically limited, Based on JISZ3001: solvent term, it is preferable that it is a meltable material whose liquidus is 450 degrees C or less. As a composition of the said solder layer, the metal composition containing zinc, gold | metal | money, lead, copper, tin, bismuth, indium etc. is mentioned, for example. Among them, a tin-indium system (117 ° C. eutectic) or a tin-bismuth system (139 ° C. eutectic) which is low-melting and lead-free is preferable. That is, the solder layer preferably does not contain lead, and is preferably a solder layer containing tin and indium or a solder layer containing tin and bismuth.

上記低融点金属層と電極との接合強度をより一層高めるために、上記低融点金属層は、ニッケル、銅、アンチモン、アルミニウム、亜鉛、鉄、金、チタン、リン、ゲルマニウム、テルル、コバルト、ビスマス、マンガン、クロム、モリブデン、パラジウム等の金属を含んでいてもよい。低融点金属と電極との接合強度をさらに一層高める観点からは、上記低融点金属は、ニッケル、銅、アンチモン、アルミニウム又は亜鉛を含むことが好ましい。低融点金属層と電極との接合強度をより一層高める観点からは、接合強度を高めるためのこれらの金属の含有量は、低融点金属層100重量%中、好ましくは0.0001重量%以上、好ましくは1重量%以下である。   In order to further increase the bonding strength between the low melting point metal layer and the electrode, the low melting point metal layer is made of nickel, copper, antimony, aluminum, zinc, iron, gold, titanium, phosphorus, germanium, tellurium, cobalt, bismuth. Further, it may contain a metal such as manganese, chromium, molybdenum and palladium. From the viewpoint of further increasing the bonding strength between the low melting point metal and the electrode, the low melting point metal preferably contains nickel, copper, antimony, aluminum, or zinc. From the viewpoint of further increasing the bonding strength between the low melting point metal layer and the electrode, the content of these metals for increasing the bonding strength is 100 wt% of the low melting point metal layer, preferably 0.0001 wt% or more, Preferably it is 1 weight% or less.

上記導電性粒子は、樹脂粒子と、該樹脂粒子の表面上に配置された導電層とを有し、該導電層の外側の表面が低融点金属層であり、上記樹脂粒子と上記低融点金属層(はんだ層など)との間に、上記低融点金属層とは別に第2の導電層を有することが好ましい。この場合に、上記低融点金属層は上記導電層全体の一部であり、上記第2の導電層は上記導電層全体の一部である。   The conductive particles include resin particles and a conductive layer disposed on the surface of the resin particles, and the outer surface of the conductive layer is a low-melting metal layer, and the resin particles and the low-melting metal In addition to the low melting point metal layer, it is preferable to have a second conductive layer between the layers (such as solder layers). In this case, the low melting point metal layer is a part of the entire conductive layer, and the second conductive layer is a part of the entire conductive layer.

上記低融点金属層とは別の上記第2の導電層は、金属を含むことが好ましい。該第2の導電層を構成する金属は、特に限定されない。該金属としては、例えば、金、銀、銅、白金、パラジウム、亜鉛、鉛、アルミニウム、コバルト、インジウム、ニッケル、クロム、チタン、アンチモン、ビスマス、ゲルマニウム及びカドミウム、並びにこれらの合金等が挙げられる。また、上記金属として、錫ドープ酸化インジウム(ITO)を用いてもよい。上記金属は1種のみが用いられてもよく、2種以上が併用されてもよい。   The second conductive layer different from the low melting point metal layer preferably contains a metal. The metal constituting the second conductive layer is not particularly limited. Examples of the metal include gold, silver, copper, platinum, palladium, zinc, lead, aluminum, cobalt, indium, nickel, chromium, titanium, antimony, bismuth, germanium and cadmium, and alloys thereof. Further, tin-doped indium oxide (ITO) may be used as the metal. As for the said metal, only 1 type may be used and 2 or more types may be used together.

上記第2の導電層は、ニッケル層、パラジウム層、銅層又は金層であることが好ましく、ニッケル層又は金層であることがより好ましく、銅層であることが更に好ましい。導電性粒子は、ニッケル層、パラジウム層、銅層又は金層を有することが好ましく、ニッケル層又は金層を有することがより好ましく、銅層を有することが更に好ましい。これらの好ましい導電層を有する導電性粒子を電極間の接続に用いることにより、電極間の接続抵抗がより一層低くなる。また、これらの好ましい導電層の表面には、低融点金属層をより一層容易に形成できる。なお、上記第2の導電層は、はんだ層などの低融点金属層であってもよい。導電性粒子は、複数層の低融点金属層を有していてもよい。   The second conductive layer is preferably a nickel layer, a palladium layer, a copper layer, or a gold layer, more preferably a nickel layer or a gold layer, and even more preferably a copper layer. The conductive particles preferably have a nickel layer, a palladium layer, a copper layer, or a gold layer, more preferably have a nickel layer or a gold layer, and still more preferably have a copper layer. By using the conductive particles having these preferable conductive layers for the connection between the electrodes, the connection resistance between the electrodes is further reduced. In addition, a low melting point metal layer can be more easily formed on the surface of these preferable conductive layers. The second conductive layer may be a low melting point metal layer such as a solder layer. The conductive particles may have a plurality of low melting point metal layers.

上記低融点金属層の厚みは、好ましくは0.1μm以上、より好ましくは0.5μm以上、更に好ましくは1μm以上、好ましくは50μm以下、より好ましくは10μm以下、更に好ましくは5μm以下、特に好ましくは3μm以下である。上記低融点金属層の厚みが上記下限以上であると、導電性が十分に高くなる。上記低融点金属層の厚みが上記上限以下であると、樹脂粒子と低融点金属層との熱膨張率の差が小さくなり、低融点金属層の剥離が生じ難くなる。   The thickness of the low melting point metal layer is preferably 0.1 μm or more, more preferably 0.5 μm or more, still more preferably 1 μm or more, preferably 50 μm or less, more preferably 10 μm or less, still more preferably 5 μm or less, particularly preferably. 3 μm or less. When the thickness of the low melting point metal layer is not less than the above lower limit, the conductivity is sufficiently high. When the thickness of the low melting point metal layer is not more than the above upper limit, the difference in thermal expansion coefficient between the resin particles and the low melting point metal layer becomes small, and the low melting point metal layer is hardly peeled off.

導電層が低融点金属層以外の導電層である場合、又は導電層が多層構造を有する場合には、導電層の全体厚みは、好ましくは0.1μm以上、より好ましくは0.5μm以上、更に好ましくは1μm以上、好ましくは50μm以下、より好ましくは10μm以下、更に好ましくは5μm以下、特に好ましくは3μm以下である。   When the conductive layer is a conductive layer other than the low melting point metal layer, or when the conductive layer has a multilayer structure, the total thickness of the conductive layer is preferably 0.1 μm or more, more preferably 0.5 μm or more, Preferably it is 1 micrometer or more, Preferably it is 50 micrometers or less, More preferably, it is 10 micrometers or less, More preferably, it is 5 micrometers or less, Most preferably, it is 3 micrometers or less.

導電性粒子の粒子径は、好ましくは100μm以下、より好ましくは20μm未満、更に好ましくは15μm以下、特に好ましくは10μm以下である。導電性粒子の粒子径は、好ましくは0.5μm以上、より好ましくは1μm以上である。   The particle diameter of the conductive particles is preferably 100 μm or less, more preferably less than 20 μm, still more preferably 15 μm or less, and particularly preferably 10 μm or less. The particle diameter of the conductive particles is preferably 0.5 μm or more, more preferably 1 μm or more.

異方性導電材料における導電性粒子に適した大きさであり、かつ電極間の間隔をより一層小さくすることができるので、導電性粒子の平均粒子径は、1μm〜100μmの範囲内であることが特に好ましい。   Since the size is suitable for the conductive particles in the anisotropic conductive material and the distance between the electrodes can be further reduced, the average particle diameter of the conductive particles is in the range of 1 μm to 100 μm. Is particularly preferred.

上記樹脂粒子は、実装する基板の電極サイズ又はランド径によって使い分けることができる。   The resin particles can be properly used depending on the electrode size or land diameter of the substrate to be mounted.

上下の電極間をより一層確実に接続し、かつ横方向に隣接する電極間の短絡をより一層抑制する観点からは、導電性粒子の平均粒子径Cの樹脂粒子の平均粒子径Aに対する比(C/A)は、1.0を超え、好ましくは3.0以下である。また、上記樹脂粒子と上記はんだ層との間に上記第1の導電層がある場合に、はんだ層を除く導電性粒子部分の平均粒子径Bに対する樹脂粒子の平均粒子径Aに対する比(B/A)は、1.0を超え、好ましくは2.0以下である。さらに、上記樹脂粒子と上記はんだ層との間に上記第1の導電層がある場合に、はんだ層を含む導電性粒子の平均粒子径Cのはんだ層を除く導電性粒子部分の平均粒子径Bに対する比(C/B)は、1.0を超え、好ましくは2.0以下である。上記比(B/A)が上記範囲内であったり、上記比(C/B)が上記範囲内であったりすると、上下の電極間をより一層確実に接続し、かつ横方向に隣接する電極間の短絡をより一層抑制できる。   From the viewpoint of more reliably connecting the upper and lower electrodes and further suppressing the short circuit between the electrodes adjacent in the lateral direction, the ratio of the average particle diameter C of the conductive particles to the average particle diameter A of the resin particles ( C / A) is more than 1.0, preferably 3.0 or less. Further, when the first conductive layer is present between the resin particles and the solder layer, the ratio of the average particle size B of the resin particles to the average particle size B of the conductive particle portion excluding the solder layer (B / A) is greater than 1.0, preferably 2.0 or less. Further, when there is the first conductive layer between the resin particles and the solder layer, the average particle diameter B of the conductive particle portion excluding the solder layer having the average particle diameter C of the conductive particles including the solder layer. The ratio (C / B) to is more than 1.0, preferably 2.0 or less. When the ratio (B / A) is within the above range or the ratio (C / B) is within the above range, electrodes that are more reliably connected between the upper and lower electrodes and that are adjacent in the lateral direction The short circuit between them can be further suppressed.

FOB及びFOF用途向け異方性導電材料:
上記異方性導電材料は、フレキシブルプリント基板とガラスエポキシ基板との接続(FOB(Film on Board))との接続、又はフレキシブルプリント基板とフレキシブルプリント基板との接続(FOF(Film on Film))に好適に用いられる。
Anisotropic conductive materials for FOB and FOF applications:
The anisotropic conductive material is used for connection between a flexible printed circuit board and a glass epoxy board (FOB (Film on Board)), or between a flexible printed circuit board and a flexible printed circuit board (FOF (Film on Film)). Preferably used.

FOB及びFOF用途では、電極がある部分(ライン)と電極がない部分(スペース)との寸法であるL&Sは、一般に100〜500μmである。FOB及びFOF用途で用いる樹脂粒子の平均粒子径は10〜100μmであることが好ましい。樹脂粒子の平均粒子径が10μm以上であると、電極間に配置される異方性導電材料及び接続部の厚みが十分に厚くなり、接着力がより一層高くなる。樹脂粒子の平均粒子径が100μm以下であると、隣接する電極間で短絡がより一層生じ難くなる。   In FOB and FOF applications, L & S, which is the size of a portion (line) with an electrode and a portion (space) without an electrode, is generally 100 to 500 μm. The average particle diameter of the resin particles used for FOB and FOF applications is preferably 10 to 100 μm. When the average particle diameter of the resin particles is 10 μm or more, the thickness of the anisotropic conductive material disposed between the electrodes and the connection portion is sufficiently increased, and the adhesive force is further increased. When the average particle diameter of the resin particles is 100 μm or less, a short circuit is more unlikely to occur between adjacent electrodes.

フリップチップ用途向け異方性導電材料:
上記異方性導電材料は、フリップチップ用途に好適に用いられる。
Anisotropic conductive materials for flip chip applications:
The anisotropic conductive material is suitably used for flip chip applications.

フリップチップ用途では、一般にランド径が15〜80μmである。フリップチップ用途で用いる樹脂粒子の平均粒子径は1〜15μmであることが好ましい。樹脂粒子の平均粒子径が1μm以上であると、該樹脂粒子の表面上に配置されるはんだ層の厚みを十分に厚くすることができ、電極間をより一層確実に電気的に接続することができる。樹脂粒子の平均粒子径が10μm以下であると、隣接する電極間で短絡がより一層生じ難くなる。   For flip chip applications, the land diameter is generally 15-80 μm. The average particle size of the resin particles used for flip chip applications is preferably 1 to 15 μm. When the average particle diameter of the resin particles is 1 μm or more, the thickness of the solder layer disposed on the surface of the resin particles can be sufficiently increased, and the electrodes can be more reliably electrically connected. it can. When the average particle diameter of the resin particles is 10 μm or less, a short circuit is more unlikely to occur between adjacent electrodes.

COF向け異方性導電材料:
上記異方性導電材料は、半導体チップとフレキシブルプリント基板との接続(COF(Chip on Film))に好適に用いられる。
Anisotropic conductive material for COF:
The anisotropic conductive material is preferably used for connection between a semiconductor chip and a flexible printed board (COF (Chip on Film)).

COF用途では、電極がある部分(ライン)と電極がない部分(スペース)との寸法であるL&Sは、一般に10〜50μmである。COF用途で用いる樹脂粒子の平均粒子径は1〜10μmであることが好ましい。樹脂粒子の平均粒子径が1μm以上であると、該樹脂粒子の表面上に配置されるはんだ層の厚みを十分に厚くすることができ、電極間をより一層確実に電気的に接続することができる。樹脂粒子の平均粒子径が10μm以下であると、隣接する電極間で短絡がより一層生じ難くなる。   In a COF application, L & S, which is a dimension between a portion (line) with an electrode and a portion (space) without an electrode (space), is generally 10 to 50 μm. The average particle diameter of the resin particles used for COF applications is preferably 1 to 10 μm. When the average particle diameter of the resin particles is 1 μm or more, the thickness of the solder layer disposed on the surface of the resin particles can be sufficiently increased, and the electrodes can be more reliably electrically connected. it can. When the average particle diameter of the resin particles is 10 μm or less, a short circuit is more unlikely to occur between adjacent electrodes.

上記導電性粒子の「平均粒子径」は、数平均粒子径を示す。導電性粒子の平均粒子径は、任意の導電性粒子50個を電子顕微鏡又は光学顕微鏡にて観察し、平均値を算出することにより求められる。   The “average particle size” of the conductive particles indicates a number average particle size. The average particle diameter of the conductive particles can be obtained by observing 50 arbitrary conductive particles with an electron microscope or an optical microscope and calculating an average value.

導電性粒子の表面は、絶縁性材料、絶縁性粒子、フラックス等により絶縁処理されていてもよい。絶縁性材料、絶縁性粒子、フラックス等は、接続時の熱により軟化、流動することで接続部から排除されることが好ましい。これにより、電極間での短絡を抑制することができる。   The surface of the conductive particles may be insulated with an insulating material, insulating particles, flux, or the like. It is preferable that the insulating material, the insulating particles, the flux, and the like are removed from the connection portion by being softened and flowed by heat at the time of connection. Thereby, the short circuit between electrodes can be suppressed.

上記導電性粒子の含有量は特に限定されない。異方性導電材料100重量%中、上記導電性粒子の含有量は、好ましくは0.1重量%以上、より好ましくは0.5重量%以上、好ましくは40重量%以下、より好ましくは20重量%以下、更に好ましくは10重量%以下である。上記導電性粒子の含有量が上記下限以上及び上記上限以下であると、接続されるべき上下の電極間に導電性粒子を容易に配置できる。さらに、接続されてはならない隣接する電極間が複数の導電性粒子を介して電気的に接続され難くなる。すなわち、隣り合う電極間の短絡をより一層防止できる。   The content of the conductive particles is not particularly limited. The content of the conductive particles in 100% by weight of the anisotropic conductive material is preferably 0.1% by weight or more, more preferably 0.5% by weight or more, preferably 40% by weight or less, more preferably 20% by weight. % Or less, more preferably 10% by weight or less. A conductive particle can be easily arrange | positioned between the upper and lower electrodes which should be connected as content of the said electroconductive particle is more than the said minimum and below the said upper limit. Furthermore, it becomes difficult to electrically connect adjacent electrodes that should not be connected via a plurality of conductive particles. That is, a short circuit between adjacent electrodes can be further prevented.

異方性導電材料がペースト状である場合、異方性導電材料の粘度(25℃)は、20000〜300000mPa・sの範囲内であることが好ましい。上記粘度が低すぎると、導電性粒子が沈降することがある。上記粘度が高すぎると、導電性粒子が充分に分散しないことがある。なお、ペースト状には液状も含まれる。   When the anisotropic conductive material is pasty, the viscosity (25 ° C.) of the anisotropic conductive material is preferably in the range of 20,000 to 300,000 mPa · s. If the viscosity is too low, the conductive particles may settle. If the viscosity is too high, the conductive particles may not be sufficiently dispersed. The paste form includes liquid.

〔他の成分〕
上記異方性導電材料は、フィラーをさらに含むことが好ましい。フィラーの使用により、異方性導電材料の硬化物の潜熱膨張を抑制できる。上記フィラーの具体例としては、シリカ、窒化アルミニウム又はアルミナ等が挙げられる。フィラーは1種のみが用いられてもよく、2種以上が併用されてもよい。
[Other ingredients]
The anisotropic conductive material preferably further includes a filler. By using the filler, latent heat expansion of the cured product of the anisotropic conductive material can be suppressed. Specific examples of the filler include silica, aluminum nitride, and alumina. As for a filler, only 1 type may be used and 2 or more types may be used together.

上記フィラーの含有量は特に限定されない。硬化性化合物A100重量部に対して、上記フィラーの含有量の好ましい下限は5重量部、より好ましい下限は15重量部、好ましい上限は70重量部、より好ましい上限は50重量部である。フィラーの含有量が上記下限以上及び上記上限以下であると、上記Bステージ状硬化物の表面の粘着力を好適な範囲に容易に制御できる。さらに、異方性導電材料及びBステージ状硬化物におけるフィラーの分散性を高めることができ、かつ異方性導電材料及びBステージ状硬化物を硬化させた硬化物の潜熱膨張を抑制できる。   The content of the filler is not particularly limited. A preferable lower limit of the filler content is 5 parts by weight, a more preferable lower limit is 15 parts by weight, a preferable upper limit is 70 parts by weight, and a more preferable upper limit is 50 parts by weight with respect to 100 parts by weight of the curable compound A. When the filler content is not less than the above lower limit and not more than the above upper limit, the adhesive force on the surface of the B-stage cured product can be easily controlled within a suitable range. Furthermore, the dispersibility of the filler in the anisotropic conductive material and the B stage-shaped cured product can be enhanced, and the latent thermal expansion of the cured product obtained by curing the anisotropic conductive material and the B stage-shaped cured product can be suppressed.

上記異方性導電材料は、硬化促進剤をさらに含むことが好ましい。硬化促進剤の使用により、異方性導電材料及びBステージ状硬化物の硬化速度をより一層速くすることができる。硬化促進剤は1種のみが用いられてもよく、2種以上が併用されてもよい。   The anisotropic conductive material preferably further contains a curing accelerator. By using the curing accelerator, the curing rate of the anisotropic conductive material and the B-stage cured product can be further increased. As for a hardening accelerator, only 1 type may be used and 2 or more types may be used together.

上記硬化促進剤の具体例としては、イミダゾール硬化促進剤及びアミン硬化促進剤等が挙げられる。なかでも、イミダゾール硬化促進剤が好ましい。なお、イミダゾール硬化促進剤又はアミン硬化促進剤は、イミダゾール硬化剤又はアミン硬化剤としても用いることができる。   Specific examples of the curing accelerator include imidazole curing accelerators and amine curing accelerators. Of these, imidazole curing accelerators are preferred. In addition, an imidazole hardening accelerator or an amine hardening accelerator can be used also as an imidazole hardening agent or an amine hardening agent.

上記イミダゾール硬化促進剤としては、2−メチルイミダゾール、2−エチル−4−メチルイミダゾール、1−シアノエチル−2−フェニルイミダゾール、1−シアノエチル−2−フェニルイミダゾリウムトリメリテート、2,4−ジアミノ−6−[2’−メチルイミダゾリル−(1’)]−エチル−s−トリアジン及び2,4−ジアミノ−6−[2’−メチルイミダゾリル−(1’)]−エチル−s−トリアジンイソシアヌル酸付加物等が挙げられる。   Examples of the imidazole curing accelerator include 2-methylimidazole, 2-ethyl-4-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-phenylimidazole, 1-cyanoethyl-2-phenylimidazolium trimellitate, 2,4-diamino- 6- [2′-Methylimidazolyl- (1 ′)]-ethyl-s-triazine and 2,4-diamino-6- [2′-methylimidazolyl- (1 ′)]-ethyl-s-triazine isocyanuric acid addition Thing etc. are mentioned.

硬化性化合物A中の熱硬化成分(熱硬化性化合物及び光及び熱硬化性化合物)100重量部に対して、上記硬化促進剤の含有量は、好ましくは0.5重量部以上、より好ましくは1重量部以上、好ましくは6重量部以下、より好ましくは4重量部以下である。硬化促進剤の含有量が上記下限以上であると、異方性導電材料及びBステージ状硬化物を充分に硬化させることが容易である。硬化促進剤の含有量が上記上限以下であると、硬化後に硬化に関与しなかった余剰の硬化促進剤が残存し難くなる。   The content of the curing accelerator is preferably 0.5 parts by weight or more, more preferably 100 parts by weight with respect to 100 parts by weight of the thermosetting component (thermosetting compound and light and thermosetting compound) in the curable compound A. 1 part by weight or more, preferably 6 parts by weight or less, more preferably 4 parts by weight or less. When the content of the curing accelerator is not less than the above lower limit, it is easy to sufficiently cure the anisotropic conductive material and the B-stage cured product. When the content of the curing accelerator is less than or equal to the above upper limit, it is difficult for an excessive curing accelerator that did not participate in curing after curing to remain.

上記異方性導電材料は、エピスルフィド化合物(チイラン基を有する化合物)とともに、フェノール性化合物をさらに含むことが好ましい。上記エピスルフィド化合物と熱硬化剤とフェノール性化合物との併用により、異方性導電材料の保管時にチイラン基がより一層開環し難くなる。また、電極間に導電性粒子を含む異方性導電材料を配置して導電性粒子を適度に圧縮したときに、電極に適度な圧痕を形成できる。従って、電極間の接続抵抗を低くすることができる。   It is preferable that the anisotropic conductive material further includes a phenolic compound together with an episulfide compound (a compound having a thiirane group). The combined use of the episulfide compound, the thermosetting agent, and the phenolic compound makes it more difficult for the thiirane group to open during storage of the anisotropic conductive material. Further, when an anisotropic conductive material containing conductive particles is disposed between the electrodes and the conductive particles are appropriately compressed, an appropriate impression can be formed on the electrode. Therefore, the connection resistance between the electrodes can be lowered.

上記フェノール性化合物は、ベンゼン環に水酸基が結合したフェノール性水酸基を有する。上記フェノール性化合物としては、ポリフェノール、トリオール、ハイドロキノン、及びトコフェロール(ビタミンE)等が挙げられる。上記フェノール性化合物は、1種のみが用いられてもよく、2種以上が併用されてもよい。   The phenolic compound has a phenolic hydroxyl group in which a hydroxyl group is bonded to a benzene ring. Examples of the phenolic compound include polyphenol, triol, hydroquinone, and tocopherol (vitamin E). As for the said phenolic compound, only 1 type may be used and 2 or more types may be used together.

上記異方性導電材料は、溶剤を含んでいてもよい。該溶剤の使用により、異方性導電材料の粘度を容易に調整できる。上記溶剤としては、例えば、酢酸エチル、メチルセロソルブ、トルエン、アセトン、メチルエチルケトン、シクロヘキサン、n−ヘキサン、テトラヒドロフラン及びジエチルエーテル等が挙げられる。   The anisotropic conductive material may contain a solvent. By using the solvent, the viscosity of the anisotropic conductive material can be easily adjusted. Examples of the solvent include ethyl acetate, methyl cellosolve, toluene, acetone, methyl ethyl ketone, cyclohexane, n-hexane, tetrahydrofuran, and diethyl ether.

上記異方性導電材料は、貯蔵安定剤をさらに含むことが好ましい。上記異方性導電材料は、上記貯蔵安定剤として、リン酸エステル、亜リン酸エステル及びホウ酸エステルからなる群から選択された少なくとも一種を含むことが好ましく、リン酸エステル及び亜リン酸エステルの内の少なくとも一種を含むことがより好ましく、亜リン酸エステルを含むことが更に好ましい。これらの貯蔵安定剤の使用により、特に亜リン酸エステルの使用により、上記エピスルフィド化合物の保存安定性をより一層高めることができる。上記貯蔵安定剤は1種のみが用いられてもよく、2種以上が併用されてもよい。   It is preferable that the anisotropic conductive material further includes a storage stabilizer. The anisotropic conductive material preferably contains at least one selected from the group consisting of phosphate ester, phosphite ester and borate ester as the storage stabilizer. It is more preferable that at least one of them is included, and it is even more preferable that a phosphite is included. By using these storage stabilizers, particularly by using phosphites, the storage stability of the episulfide compound can be further enhanced. As for the said storage stabilizer, only 1 type may be used and 2 or more types may be used together.

上記リン酸エステルとしては、ジエチルベンジルホスフェート等が挙げられる。上記亜リン酸エステルとしては、ジフェニルモノ(2−エチルヘキシル)ホスファイト、ジフェニルモノデシルホスファイト又はジフェニルモノ(トリデシル)ホスファイトが好ましく、ジフェニルモノデシルホスファイト及びジフェニルモノ(トリデシル)ホスファイト等が挙げられる。   Examples of the phosphate ester include diethyl benzyl phosphate. As the phosphite, diphenyl mono (2-ethylhexyl) phosphite, diphenyl monodecyl phosphite or diphenyl mono (tridecyl) phosphite is preferable, and diphenyl monodecyl phosphite and diphenyl mono (tridecyl) phosphite are listed. It is done.

上記異方性導電材料は、アスコルビン酸、アスコルビン酸の誘導体、アスコルビン酸の塩、イソアスコルビン酸、イソアスコルビン酸の誘導体及びイソアスコルビン酸の塩からなる群から選択された少なくとも1種の成分を含んでいてもよい。これらの成分の配合により、異方性導電材料の保存安定性が高くなる。   The anisotropic conductive material includes at least one component selected from the group consisting of ascorbic acid, ascorbic acid derivatives, ascorbic acid salts, isoascorbic acid, isoascorbic acid derivatives, and isoascorbic acid salts. You may go out. By blending these components, the storage stability of the anisotropic conductive material is increased.

上記異方性導電材料は、必要に応じて、イオン捕捉剤又はシランカップリング剤をさらに含んでいてもよい。   The anisotropic conductive material may further contain an ion scavenger or a silane coupling agent as necessary.

(異方性導電材料の詳細及び用途)
本発明に係る異方性導電材料は、ペースト状又はフィルム状の異方性導電材料であり、ペースト状の異方性導電材料であることが好ましい。ペースト状の異方性導電材料は、異方性導電ペーストである。フィルム状の異方性導電材料は、異方性導電フィルムである。異方性導電材料が異方性導電フィルムである場合、該導電性粒子を含む異方性導電フィルムに、導電性粒子を含まないフィルムが積層されてもよい。
(Details and applications of anisotropic conductive materials)
The anisotropic conductive material according to the present invention is a paste-like or film-like anisotropic conductive material, and is preferably a paste-like anisotropic conductive material. The paste-like anisotropic conductive material is an anisotropic conductive paste. The film-like anisotropic conductive material is an anisotropic conductive film. When the anisotropic conductive material is an anisotropic conductive film, a film that does not include conductive particles may be laminated on the anisotropic conductive film that includes the conductive particles.

本発明に係る異方性導電材料及びBステージ状硬化物はそれぞれ、様々な接続対象部材を接着するために使用できる。上記異方性導電材料及びBステージ状硬化物はそれぞれ、第1,第2の接続対象部材が電気的に接続されている接続構造体を得るために好適に用いられる。   Each of the anisotropic conductive material and the B-stage cured product according to the present invention can be used for bonding various connection target members. The anisotropic conductive material and the B-stage cured product are each suitably used for obtaining a connection structure in which the first and second connection target members are electrically connected.

図1に、本発明の一実施形態に係る異方性導電材料を用いた接続構造体の一例を模式的に断面図で示す。   FIG. 1 is a cross-sectional view schematically showing an example of a connection structure using an anisotropic conductive material according to an embodiment of the present invention.

図1に示す接続構造体1は、第1の接続対象部材2と、第2の接続対象部材4と、第1,第2の接続対象部材2,4を接続している接続部3とを備える。接続部3は、導電性粒子5を含む異方性導電材料又は該異方性導電材料の硬化を進行させたBステージ状硬化物を硬化させることにより形成されている。   A connection structure 1 shown in FIG. 1 includes a first connection target member 2, a second connection target member 4, and a connection part 3 connecting the first and second connection target members 2 and 4. Prepare. The connection portion 3 is formed by curing an anisotropic conductive material including the conductive particles 5 or a B-stage-shaped cured product obtained by proceeding curing of the anisotropic conductive material.

第1の接続対象部材2は上面2aに、複数の電極2bを有する。第2の接続対象部材4は下面4aに、複数の電極4bを有する。電極2bと電極4bとが、1つ又は複数の導電性粒子5により電気的に接続されている。従って、第1,第2の接続対象部材2,4が導電性粒子5により電気的に接続されている。   The first connection target member 2 has a plurality of electrodes 2b on the upper surface 2a. The second connection target member 4 has a plurality of electrodes 4b on the lower surface 4a. The electrode 2b and the electrode 4b are electrically connected by one or a plurality of conductive particles 5. Therefore, the first and second connection target members 2 and 4 are electrically connected by the conductive particles 5.

電極2b,4b間の接続は、通常、第1の接続対象部材2と第2の接続対象部材4とを異方性導電材料を介して電極2b,4b同士が対向するように重ね合わせた後に、異方性導電材料を硬化させる際に、加圧することにより行われる。加圧により、一般に導電性粒子5は圧縮される。   The connection between the electrodes 2b and 4b is usually performed after the first connection target member 2 and the second connection target member 4 are overlapped with each other via the anisotropic conductive material so that the electrodes 2b and 4b face each other. When the anisotropic conductive material is cured, it is performed by applying pressure. Generally, the conductive particles 5 are compressed by pressurization.

上記接続構造体としては、具体的には、回路基板上に、半導体チップ、コンデンサチップ又はダイオードチップ等の電子部品チップが搭載されており、該電子部品チップの電極が、回路基板上の電極と電気的に接続されている接続構造体等が挙げられる。回路基板としては、フレキシブルプリント基板等の様々なプリント基板、ガラス基板、又は金属箔が積層された基板等の様々な回路基板が挙げられる。第1,第2の接続対象部材は、電子部品又は回路基板であることが好ましい。上記異方性導電材料は、電子部品又は回路基板の接続に用いられる異方性導電材料であることが好ましい。上記異方性導電材料は、異方性導電ペーストであって、かつペーストの状態で接続対象部材の上面に塗工される異方性導電材料であることが好ましい。   Specifically, as the connection structure, an electronic component chip such as a semiconductor chip, a capacitor chip or a diode chip is mounted on a circuit board, and the electrode of the electronic component chip is connected to an electrode on the circuit board. Examples include electrically connected structures. As a circuit board, various printed circuit boards, such as various printed circuit boards, such as a flexible printed circuit board, a glass substrate, or a board | substrate with which metal foil was laminated | stacked are mentioned. The first and second connection target members are preferably electronic components or circuit boards. The anisotropic conductive material is preferably an anisotropic conductive material used for connecting an electronic component or a circuit board. The anisotropic conductive material is preferably an anisotropic conductive paste and is an anisotropic conductive material that is applied to the upper surface of the connection target member in a paste state.

ところで、近年、回路基板などに設けられた複数の電極の幅が小さくなってきている。例えば、複数の電極の幅が30μm以下であったり、20μm程度であったりすることがある。このような微細な電極の接続に異方性導電材料及びBステージ状硬化物を用いたとしても、該Bステージ状硬化物における導電性粒子が含まれにくい島部を比較的小さくすることができ、島部の大きさ20μm未満、更に10μm以下にすることができるので、接続されるべき上限の電極間に導電性粒子を精度よく配置することができる。すなわち、導電性粒子が含まれていない部分の大きさを小さくすることができるので、接続されるべき上限の電極間に導電性粒子を精度よく配置することができる。   Incidentally, in recent years, the width of a plurality of electrodes provided on a circuit board or the like has been reduced. For example, the width of the plurality of electrodes may be 30 μm or less or about 20 μm. Even if an anisotropic conductive material and a B-stage cured product are used for the connection of such fine electrodes, the island portion where the conductive particles in the B-stage cured product are difficult to contain can be made relatively small. Since the size of the island portion can be less than 20 μm and further 10 μm or less, the conductive particles can be accurately arranged between the upper limit electrodes to be connected. That is, since the size of the portion not including the conductive particles can be reduced, the conductive particles can be accurately arranged between the upper limit electrodes to be connected.

以下、本発明について、実施例および比較例を挙げて具体的に説明する。本発明は、以下の実施例のみに限定されない。   Hereinafter, the present invention will be specifically described with reference to Examples and Comparative Examples. The present invention is not limited only to the following examples.

(実施例1)
(1)エピスルフィド化合物含有混合物の調製
攪拌機、冷却機及び温度計を備えた2Lの容器内に、エタノール250mLと、純水250mLと、チオシアン酸カリウム20gとを加え、チオシアン酸カリウムを溶解させ、第1の溶液を調製した。その後、容器内の温度を20〜25℃の範囲内に保持した。次に、20〜25℃に保持された容器内の第1の溶液を攪拌しながら、該第1の溶液中に、レゾルシノールジグリシジルエーテル160gを5mL/分の速度で滴下した。滴下後、30分間さらに攪拌し、エポキシ化合物含有混合液を得た。
Example 1
(1) Preparation of episulfide compound-containing mixture In a 2 L vessel equipped with a stirrer, a cooler and a thermometer, ethanol 250 mL, pure water 250 mL, and potassium thiocyanate 20 g were added to dissolve potassium thiocyanate, One solution was prepared. Thereafter, the temperature in the container was kept in the range of 20 to 25 ° C. Next, 160 g of resorcinol diglycidyl ether was dropped into the first solution at a rate of 5 mL / min while stirring the first solution in the container maintained at 20 to 25 ° C. After dropping, the mixture was further stirred for 30 minutes to obtain an epoxy compound-containing mixed solution.

次に、純水100mLと、エタノール100mLとを含む溶液に、チオシアン酸カリウム20gを溶解させた第2の溶液を用意した。得られたエポキシ基含有混合液に、得られた第2の溶液を5mL/分の速度で添加した後、30分攪拌した。攪拌後、純水100mLとエタノール100mLとを含む溶液に、チオシアン酸カリウム20gを溶解させた第2の溶液をさらに用意し、該第2の溶液を5mL/分の速度で容器内にさらに添加し、30分間攪拌した。その後、容器内の温度を10℃に冷却し、2時間攪拌し、反応させた。   Next, a second solution in which 20 g of potassium thiocyanate was dissolved in a solution containing 100 mL of pure water and 100 mL of ethanol was prepared. The obtained second solution was added to the obtained epoxy group-containing mixed solution at a rate of 5 mL / min, and then stirred for 30 minutes. After stirring, a second solution in which 20 g of potassium thiocyanate is dissolved in a solution containing 100 mL of pure water and 100 mL of ethanol is further prepared, and the second solution is further added to the container at a rate of 5 mL / min. And stirred for 30 minutes. Thereafter, the temperature in the container was cooled to 10 ° C., and stirred for 2 hours to be reacted.

次に、容器内に飽和食塩水100mLを加え、10分間攪拌した。攪拌後、容器内にトルエン300mLをさらに加え、10分間攪拌した。その後、容器内の溶液を分液ロートに移し、2時間静置し、溶液を分離させた。分液ロート内の下方の溶液を排出し、上澄み液を取り出した。取り出された上澄み液にトルエン100mLを加え、攪拌し、2時間静置した。更に、トルエン100mLをさらに加え、攪拌し、2時間静置した。   Next, 100 mL of saturated saline was added to the container and stirred for 10 minutes. After stirring, 300 mL of toluene was further added to the container and stirred for 10 minutes. Thereafter, the solution in the container was transferred to a separating funnel and allowed to stand for 2 hours to separate the solution. The lower solution in the separatory funnel was discharged, and the supernatant was taken out. 100 mL of toluene was added to the removed supernatant, stirred, and allowed to stand for 2 hours. Further, 100 mL of toluene was further added, stirred and allowed to stand for 2 hours.

次に、トルエンが加えられた上澄み液に、硫酸マグネシウム50gを加え、5分間攪拌した。攪拌後、ろ紙により硫酸マグネシウムを取り除いて、溶液を分離した。真空乾燥機を用いて、分離された溶液を80℃で減圧乾燥することにより、残存している溶剤を除去した。このようにして、エピスルフィド化合物含有混合物を得た。   Next, 50 g of magnesium sulfate was added to the supernatant liquid to which toluene was added and stirred for 5 minutes. After stirring, magnesium sulfate was removed with a filter paper to separate the solution. The remaining solvent was removed by drying the separated solution under reduced pressure at 80 ° C. using a vacuum dryer. In this way, an episulfide compound-containing mixture was obtained.

クロロホルムを溶媒として、得られたエピスルフィド化合物含有混合物のH−NMRの測定を行った。この結果、エポキシ基の存在を示す6.5〜7.5ppmの領域のシグナルが減少し、エピスルフィド基の存在を示す2.0〜3.0ppmの領域にシグナルが現れた。これにより、レゾルシノールジグリシジルエーテルの一部のエポキシ基がエピスルフィド基に変換されていることを確認した。また、H−NMRの測定結果の積分値より、エピスルフィド化合物含有混合物は、レゾルシノールジグリシジルエーテル70重量%と、下記式(1B)で表される構造を有するエピスルフィド化合物30重量%とを含有することを確認した。 1 H-NMR measurement of the obtained episulfide compound-containing mixture was performed using chloroform as a solvent. As a result, the signal in the region of 6.5 to 7.5 ppm indicating the presence of the epoxy group decreased, and the signal appeared in the region of 2.0 to 3.0 ppm indicating the presence of the episulfide group. This confirmed that some epoxy groups of resorcinol diglycidyl ether were converted into episulfide groups. Moreover, from the integral value of the measurement result of 1 H-NMR, the episulfide compound-containing mixture contains 70% by weight of resorcinol diglycidyl ether and 30% by weight of the episulfide compound having a structure represented by the following formula (1B). It was confirmed.

Figure 0005886582
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(2)異方性導電ペーストの調製
光及び熱硬化性化合物A1に相当するグリシジルメタクリレート(日油社製「ブレンマーGS」、重量平均分子量142)1.5重量部と、熱硬化性化合物A2に相当する得られたエピスルフィド化合物含有混合物30重量部と、熱硬化剤であるアミンアダクト(味の素ファインテクノ社製「PN−23J」)5重量部と、光硬化性化合物A3に相当するエポキシアクリレート(エポキシ基及びチイラン基を有さない、ダイセル・サイテック社製「EBECRYL3702」)5重量部と、光重合開始剤であるアシルホスフィンオキサイド系化合物(チバ・ジャパン社製「DAROCUR TPO」)0.1重量部と、硬化促進剤である2−エチル−4−メチルイミダゾール1重量部と、フィラーであるシリカ(平均粒子径0.25μm)20重量部と、フィラーであるアルミナ(平均粒子径0.5μm)20重量部とを配合し、さらに平均粒子径3μmの導電性粒子Aを配合物100重量%中での含有量が10重量%となるように添加した後、遊星式攪拌機を用いて2000rpmで5分間攪拌することにより、配合物を得た。
(2) Preparation of anisotropic conductive paste 1.5 parts by weight of glycidyl methacrylate (“Blenmer GS” manufactured by NOF Corporation, weight average molecular weight 142) corresponding to light and thermosetting compound A1, and thermosetting compound A2 Corresponding 30 parts by weight of the resulting episulfide compound-containing mixture, 5 parts by weight of an amine adduct (“PN-23J” manufactured by Ajinomoto Fine Techno Co.) as a thermosetting agent, and an epoxy acrylate (epoxy) corresponding to the photocurable compound A3 And 5 parts by weight of Daicel Cytec's “EBECRYL 3702” which does not have a group or thiirane group, and 0.1 parts by weight of an acylphosphine oxide compound (“DAROCUR TPO” made by Ciba Japan) as a photopolymerization initiator And 1 part by weight of 2-ethyl-4-methylimidazole as a curing accelerator, and silica as a filler 20 parts by weight (average particle diameter 0.25 μm) and 20 parts by weight of alumina (average particle diameter 0.5 μm) as filler are blended, and conductive particles A having an average particle diameter of 3 μm are added in 100% by weight of the blend. Was added so that the content at 10% by weight was obtained, followed by stirring at 2000 rpm for 5 minutes using a planetary stirrer to obtain a blend.

なお、用いた上記導電性粒子Aは、ジビニルベンゼン樹脂粒子の表面にニッケルめっき層が形成されており、かつ該ニッケルめっき層の表面に金めっき層が形成されている金属層を有する導電性粒子であり、比重が3.0である導電性粒子である。   The conductive particles A used are conductive particles having a metal layer in which a nickel plating layer is formed on the surface of divinylbenzene resin particles and a gold plating layer is formed on the surface of the nickel plating layer. It is the electroconductive particle whose specific gravity is 3.0.

得られた配合物を、ナイロン製ろ紙(孔径10μm)を用いてろ過することにより、導電性粒子の含有量が10重量%である異方性導電ペーストを得た。   The obtained blend was filtered using a nylon filter paper (pore diameter: 10 μm) to obtain an anisotropic conductive paste having a conductive particle content of 10% by weight.

(3)接続構造体の作製
L/Sが20μm/20μmのITO電極パターンが上面に形成された透明ガラス基板を用意した。また、L/Sが20μm/20μmの銅電極パターンが下面に形成された半導体チップを用意した。
(3) Preparation of connection structure The transparent glass substrate with which the ITO electrode pattern whose L / S is 20 micrometers / 20 micrometers was formed in the upper surface was prepared. Further, a semiconductor chip having a copper electrode pattern with an L / S of 20 μm / 20 μm formed on the lower surface was prepared.

また、ディスペンサーと、該ディスペンサーに接続された光照射装置としての紫外線照射ランプとを備える複合装置を用意した。   Moreover, the composite apparatus provided with a dispenser and the ultraviolet irradiation lamp as a light irradiation apparatus connected to this dispenser was prepared.

複合装置を移動させながら、上記透明ガラス基板の上面に、ディスペンサーのシリンジから、得られた異方性導電ペーストを厚さ20μmとなるように塗布し、異方性導電ペースト層を形成した。さらに、複合装置を移動させて、異方性導電ペーストを塗布しながら、異方性導電ペースト層に紫外線照射ランプを用いて、420nmの紫外線を光照射エネルギーが50mW/cmとなるように照射し、光重合によって異方性導電ペースト層をBステージ化した。塗布してから、すなわち塗布された異方性導電ペーストが上記透明ガラス基板に接したときから、異方性導電ペースト層に光が照射されるまでの時間Tは、0.5秒であった。 While moving the composite apparatus, the anisotropic conductive paste obtained was applied to the upper surface of the transparent glass substrate from the syringe of the dispenser so as to have a thickness of 20 μm to form an anisotropic conductive paste layer. Further, while moving the composite device and applying the anisotropic conductive paste, using the ultraviolet irradiation lamp on the anisotropic conductive paste layer, the ultraviolet irradiation of 420 nm is applied so that the light irradiation energy is 50 mW / cm 2. Then, the anisotropic conductive paste layer was B-staged by photopolymerization. The time T from the time when the anisotropic conductive paste was applied to the transparent glass substrate to the time when the anisotropic conductive paste layer was irradiated with light was 0.5 seconds. .

次に、Bステージ化された異方性導電ペースト層(Bステージ状硬化物)の上面に上記半導体チップを、電極同士が対向するように積層した。その後、異方性導電ペースト層の温度が185℃となるようにヘッドの温度を調整しながら、半導体チップの上面に加圧加熱ヘッドを載せ、3MPaの圧力をかけて、Bステージ化された異方性導電ペースト層を185℃で完全硬化させ、接続構造体を得た。   Next, the semiconductor chip was stacked on the upper surface of the B-staged anisotropic conductive paste layer (B-stage cured product) so that the electrodes face each other. Then, while adjusting the temperature of the head so that the temperature of the anisotropic conductive paste layer becomes 185 ° C., a pressure heating head is placed on the upper surface of the semiconductor chip, and a pressure of 3 MPa is applied to make the B-staged difference. The isotropic conductive paste layer was completely cured at 185 ° C. to obtain a connection structure.

(実施例2)
異方性導電ペーストの調製の際に、光及び熱硬化性化合物A1に相当するグリシジルメタクリレート(日油社製「ブレンマーGS」、重量平均分子量142)を、光及び熱硬化性化合物A1に相当するアリルグリシジルエーテル(四日市合成社製、重量平均分子量114)に変更したこと以外は実施例1と同様にして、異方性導電ペースト及び接続構造体を作製した。
(Example 2)
In the preparation of the anisotropic conductive paste, glycidyl methacrylate (“Blenmer GS” manufactured by NOF Corporation, weight average molecular weight 142) corresponding to light and thermosetting compound A1 corresponds to light and thermosetting compound A1. An anisotropic conductive paste and a connecting structure were prepared in the same manner as in Example 1 except that allyl glycidyl ether (Yokkaichi Synthesis Co., Ltd., weight average molecular weight 114) was changed.

(実施例3)
異方性導電ペーストの調製の際に、光及び熱硬化性化合物A1に相当するグリシジルメタクリレート(日油社製「ブレンマーGS」、重量平均分子量142)を、光及び熱硬化性化合物A1に相当する4−ヒドロキシブチルアクリレートグリシジルエーテル(日本化成社製「4HBAGE」、重量平均分子量200)に変更したこと以外は実施例1と同様にして、異方性導電ペースト及び接続構造体を作製した。
(Example 3)
In the preparation of the anisotropic conductive paste, glycidyl methacrylate (“Blenmer GS” manufactured by NOF Corporation, weight average molecular weight 142) corresponding to light and thermosetting compound A1 corresponds to light and thermosetting compound A1. An anisotropic conductive paste and a connection structure were prepared in the same manner as in Example 1 except that 4-hydroxybutyl acrylate glycidyl ether (“4HBAGE” manufactured by Nippon Kasei Co., Ltd., weight average molecular weight 200) was used.

(実施例4)
異方性導電ペーストの調製の際に、光硬化性化合物A3に相当するエポキシアクリレート(ダイセル・サイテック社製「EBECRYL3702」)を、光硬化性化合物A3に相当するトリプロピレングリコールジアクリレート(エポキシ基及びチイラン基を有さない、ダイセル・サイテック社製「TPGDA」)に変更したこと以外は実施例1と同様にして、異方性導電ペースト及び接続構造体を作製した。
Example 4
In the preparation of the anisotropic conductive paste, epoxy acrylate corresponding to the photocurable compound A3 (“EBECRYL3702” manufactured by Daicel-Cytec Co., Ltd.) and tripropylene glycol diacrylate corresponding to the photocurable compound A3 (epoxy group and An anisotropic conductive paste and a connecting structure were produced in the same manner as in Example 1 except that the TGPDA was changed to “TPGDA” manufactured by Daicel-Cytec, which does not have a thiirane group.

(実施例5)
異方性導電ペーストの調製の際に、光硬化性化合物A3に相当するエポキシアクリレート(ダイセル・サイテック社製「EBECRYL3702」)を、光硬化性化合物A3に相当するウレタンアクリレート(エポキシ基及びチイラン基を有さない、ダイセル・サイテック社製「EBECRYL8405」)に変更したこと以外は実施例1と同様にして、異方性導電ペースト及び接続構造体を作製した。
(Example 5)
In the preparation of the anisotropic conductive paste, epoxy acrylate corresponding to the photocurable compound A3 (“EBECRYL3702” manufactured by Daicel-Cytec Co., Ltd.) and urethane acrylate (epoxy group and thiirane group corresponding to the photocurable compound A3) were used. An anisotropic conductive paste and a connection structure were produced in the same manner as in Example 1 except that the material was changed to “EBECRYL8405” manufactured by Daicel-Cytec Corporation.

(実施例6)
異方性導電ペーストの調製の際に、熱硬化性化合物A2に相当するエピスルフィド化合物含有混合物を、熱硬化性化合物A2に相当するナフタレングリシジルエーテル((メタ)アクリロイル基を有さない、DIC社製「HP−4032D」)に変更したこと以外は実施例1と同様にして、異方性導電ペースト及び接続構造体を作製した。
(Example 6)
In the preparation of the anisotropic conductive paste, the episulfide compound-containing mixture corresponding to the thermosetting compound A2 is converted into a naphthalene glycidyl ether (no (meth) acryloyl group) corresponding to the thermosetting compound A2. An anisotropic conductive paste and a connection structure were produced in the same manner as in Example 1 except that the change was made to “HP-4032D”).

(比較例1)
異方性導電ペーストの調製の際に、光及び熱硬化性化合物A1に相当するグリシジルメタクリレート(日油社製「ブレンマーGS」、重量平均分子量142)を配合しなかったこと以外は実施例1と同様にして、異方性導電ペースト及び接続構造体を作製した。
(Comparative Example 1)
In the preparation of the anisotropic conductive paste, Example 1 except that glycidyl methacrylate (“Blemmer GS” manufactured by NOF Corporation, weight average molecular weight 142) corresponding to light and thermosetting compound A1 was not blended. Similarly, an anisotropic conductive paste and a connection structure were produced.

(比較例2)
異方性導電ペーストの調製の際に、光硬化性化合物A3に相当するエポキシアクリレート(ダイセル・サイテック社製「EBECRYL3702」)を配合しなかったこと以外は実施例1と同様にして、異方性導電ペースト及び接続構造体を作製した。
(Comparative Example 2)
Anisotropic conductive paste was prepared in the same manner as in Example 1 except that epoxy acrylate corresponding to the photocurable compound A3 (“EBECRYL 3702” manufactured by Daicel-Cytec) was not blended. A conductive paste and a connection structure were produced.

(実施例1〜6及び比較例1,2の評価)
(1)海島構造の有無
実施例1〜6及び比較例1,2で得られた異方性導電ペーストを、透明ガラス基板の上に、厚みが20μmとなるように塗布した。その後、異方性導電ペースト層に紫外線照射ランプを用いて、光照射エネルギーが50mW/cmとなるように照射し、光重合によって異方性導電ペーストの硬化を進行させてBステージ状硬化物を得た。Bステージ化された異方性導電ペースト層の上面にさらに透明ガラス基板を置き、厚みが5μmになるように上部から圧力をかけてBステージ状硬化物を薄く伸ばした。
(Evaluation of Examples 1 to 6 and Comparative Examples 1 and 2)
(1) Presence or absence of sea-island structure The anisotropic conductive pastes obtained in Examples 1 to 6 and Comparative Examples 1 and 2 were applied on a transparent glass substrate so as to have a thickness of 20 μm. Thereafter, the anisotropic conductive paste layer is irradiated with an ultraviolet irradiation lamp so that the light irradiation energy is 50 mW / cm 2, and the anisotropic conductive paste is cured by photopolymerization to obtain a B-stage cured product. Got. A transparent glass substrate was further placed on the upper surface of the B-staged anisotropic conductive paste layer, and the B-stage cured product was thinly stretched by applying pressure from the top so that the thickness became 5 μm.

光学顕微鏡を用いて、上記Bステージ状硬化物における海島構造の有無を観察した。さらに、島部の大きさ(最大径)を確認した。島部の大きさを下記の判定基準で判定した。   Using an optical microscope, the presence or absence of a sea-island structure in the B-stage cured product was observed. Furthermore, the size (maximum diameter) of the island was confirmed. The size of the island was determined according to the following criteria.

[島部の大きさの判定基準]
○○:島部の大きさが10μm以下
○:島部の大きさが10μmを超え、20μm未満
×:島部の大きさが20μm以上
[Criteria for determining the size of islands]
○: The size of the island portion is 10 μm or less ○: The size of the island portion exceeds 10 μm and less than 20 μm ×: The size of the island portion is 20 μm or more

(2)対向する電極間の導通の有無
得られた接続構造体の上下の電極間の接続抵抗をそれぞれ、4端子法により測定した。2つの接続抵抗の平均値を算出した。なお、電圧=電流×抵抗の関係から、一定の電流を流した時の電圧を測定することにより接続抵抗を求めることができる。接続抵抗の平均値が2.0Ω以下である場合を「○」、接続抵抗の平均値が2.0Ωを超える場合を「×」と判定した。
(2) Presence / absence of conduction between opposing electrodes The connection resistance between the upper and lower electrodes of the obtained connection structure was measured by a four-terminal method. The average value of the two connection resistances was calculated. Note that the connection resistance can be obtained by measuring the voltage when a constant current is passed from the relationship of voltage = current × resistance. The case where the average value of the connection resistance was 2.0Ω or less was judged as “◯”, and the case where the average value of the connection resistance exceeded 2.0Ω was judged as “X”.

(3)ボイドの有無
上記の評価で得られた接続構造体において、異方性導電ペースト層により形成された硬化物層にボイドが生じているか否かを、透明ガラス基板の下面側から目視により観察した。ボイドがない場合を「○○」、小さなボイドが1箇所のみにある場合を「○」、小さなボイドが2箇所以上ある場合を「△」、大きなボイドがあり使用上問題がある場合を「×」として結果を下記の表1に示した。
(3) Presence or absence of voids In the connection structure obtained by the above evaluation, whether or not voids are generated in the cured product layer formed by the anisotropic conductive paste layer is visually observed from the lower surface side of the transparent glass substrate. Observed. “○○” when there is no void, “◯” when there is only one small void, “△” when there are two or more small voids, and “×” when there is a large void and there is a problem in use. The results are shown in Table 1 below.

結果を下記の表1に示す。   The results are shown in Table 1 below.

Figure 0005886582
Figure 0005886582

(実施例7〜12)
平均粒子径20μmのジビニルベンゼン樹脂粒子(積水化学工業社製「ミクロパールSP−220」)を無電解ニッケルめっきし、樹脂粒子の表面上に厚さ0.1μmの下地ニッケルめっき層を形成した。次いで、下地ニッケルめっき層が形成された樹脂粒子を電解銅めっきし、厚さ1μmの銅層を形成した。更に、錫及びビスマスを含有する電解めっき液を用いて、電解めっきし、厚さ3μmμmのはんだ層を形成した。このようにして、樹脂粒子の表面上に厚み1μmの銅層が形成されており、該銅層の表面に厚み3μmμmのはんだ層(錫:ビスマス=43重量%:57重量%)が形成されている導電性粒子Bを作製した。
(Examples 7 to 12)
Divinylbenzene resin particles having an average particle diameter of 20 μm (“Micropearl SP-220” manufactured by Sekisui Chemical Co., Ltd.) were subjected to electroless nickel plating to form a base nickel plating layer having a thickness of 0.1 μm on the surface of the resin particles. Next, the resin particles on which the base nickel plating layer was formed were subjected to electrolytic copper plating to form a 1 μm thick copper layer. Further, electrolytic plating was performed using an electrolytic plating solution containing tin and bismuth to form a solder layer having a thickness of 3 μm. In this way, a 1 μm thick copper layer is formed on the surface of the resin particles, and a 3 μm thick solder layer (tin: bismuth = 43 wt%: 57 wt%) is formed on the surface of the copper layer. Conductive particles B were prepared.

実施例7では、導電性粒子Aを導電性粒子Bに変更したこと、並びにろ過に用いたろ紙をナイロン製ろ紙(孔径30μm)に変更したこと以外は実施例1と同様にして、異方性導電材料を得た。   In Example 7, anisotropy was performed in the same manner as in Example 1 except that the conductive particles A were changed to the conductive particles B and the filter paper used for the filtration was changed to nylon filter paper (pore diameter 30 μm). A conductive material was obtained.

実施例8では、導電性粒子Aを導電性粒子Bに変更したこと、並びにろ過に用いたろ紙をナイロン製ろ紙(孔径30μm)に変更したこと以外は実施例2と同様にして、異方性導電材料を得た。   In Example 8, anisotropy was performed in the same manner as in Example 2 except that the conductive particles A were changed to the conductive particles B and that the filter paper used for the filtration was changed to nylon filter paper (pore diameter 30 μm). A conductive material was obtained.

実施例9では、導電性粒子Aを導電性粒子Bに変更したこと、並びにろ過に用いたろ紙をナイロン製ろ紙(孔径30μm)に変更したこと以外は実施例3と同様にして、異方性導電材料を得た。   In Example 9, anisotropy was performed in the same manner as in Example 3 except that the conductive particles A were changed to the conductive particles B and that the filter paper used for the filtration was changed to nylon filter paper (pore diameter 30 μm). A conductive material was obtained.

実施例10では、導電性粒子Aを導電性粒子Bに変更したこと、並びにろ過に用いたろ紙をナイロン製ろ紙(孔径30μm)に変更したこと以外は実施例4と同様にして、異方性導電材料を得た。   In Example 10, anisotropy was performed in the same manner as in Example 4 except that the conductive particles A were changed to the conductive particles B and the filter paper used for filtration was changed to nylon filter paper (pore diameter 30 μm). A conductive material was obtained.

実施例11では、導電性粒子Aを導電性粒子Bに変更したこと、並びにろ過に用いたろ紙をナイロン製ろ紙(孔径30μm)に変更したこと以外は実施例5と同様にして、異方性導電材料を得た。   In Example 11, anisotropy was performed in the same manner as in Example 5 except that the conductive particles A were changed to the conductive particles B and the filter paper used for filtration was changed to nylon filter paper (pore diameter 30 μm). A conductive material was obtained.

実施例12では、導電性粒子Aを導電性粒子Bに変更したこと、並びにろ過に用いたろ紙をナイロン製ろ紙(孔径30μm)に変更したこと以外は実施例6と同様にして、異方性導電材料を得た。   In Example 12, anisotropy was performed in the same manner as in Example 6 except that the conductive particles A were changed to the conductive particles B and that the filter paper used for the filtration was changed to nylon filter paper (pore diameter 30 μm). A conductive material was obtained.

(実施例7〜12の評価)
実施例1〜6及び比較例1,2の評価項目について評価を実施した。
(Evaluation of Examples 7-12)
The evaluation items of Examples 1 to 6 and Comparative Examples 1 and 2 were evaluated.

結果を下記の表2に示す。   The results are shown in Table 2 below.

Figure 0005886582
Figure 0005886582

1…接続構造体
2…第1の接続対象部材
2a…上面
2b…電極
3…接続部
4…第2の接続対象部材
4a…下面
4b…電極
5…導電性粒子
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Connection structure 2 ... 1st connection object member 2a ... Upper surface 2b ... Electrode 3 ... Connection part 4 ... 2nd connection object member 4a ... Lower surface 4b ... Electrode 5 ... Conductive particle

Claims (8)

少なくとも3種の硬化性化合物と、導電性粒子を含有する異方性導電材料であり、
前記硬化性化合物が、エポキシ基又はチイラン基と(メタ)アクリロイル基とを有する光及び熱硬化性化合物と、エポキシ基又はチイラン基を有し、かつ(メタ)アクリロイル基を有さない熱硬化性化合物と、エポキシ基及びチイラン基を有さず、かつ(メタ)アクリロイル基を有する光硬化性化合物とを含み、
前記エポキシ基又はチイラン基と(メタ)アクリロイル基とを有する光及び熱硬化性化合物の重量平均分子量が10万未満であり、
異方性導電材料の硬化を進行させてBステージ状硬化物を得たときに、該Bステージ状硬化物が海島構造を有する、異方性導電材料。
An anisotropic conductive material containing at least three curable compounds and conductive particles;
The curable compound is a light and thermosetting compound having an epoxy group or thiirane group and a (meth) acryloyl group, and a thermosetting material having an epoxy group or thiirane group and no (meth) acryloyl group. A compound, and a photocurable compound having no epoxy group and thiirane group and having a (meth) acryloyl group,
The weight average molecular weight of the light and thermosetting compound having the epoxy group or thiirane group and the (meth) acryloyl group is less than 100,000,
An anisotropic conductive material having a sea-island structure when the B-stage-shaped cured product is obtained by advancing curing of the anisotropic conductive material.
熱硬化剤と、光重合開始剤とをさらに含有する、請求項1に記載の異方性導電材料。   The anisotropic conductive material according to claim 1, further comprising a thermosetting agent and a photopolymerization initiator. 異方性導電材料に光を照射し、該異方性導電材料の硬化を進行させたBステージ状硬化物であって、
前記異方性導電材料が、少なくとも3種の硬化性化合物と、導電性粒子とを含有し、
前記硬化性化合物が、エポキシ基又はチイラン基と(メタ)アクリロイル基とを有する光及び熱硬化性化合物と、エポキシ基又はチイラン基を有し、かつ(メタ)アクリロイル基を有さない熱硬化性化合物と、エポキシ基及びチイラン基を有さず、かつ(メタ)アクリロイル基を有する光硬化性化合物とを含み、
前記エポキシ基又はチイラン基と(メタ)アクリロイル基とを有する光及び熱硬化性化合物の重量平均分子量が10万未満であり、
海島構造を有する、Bステージ状硬化物。
A B-stage-shaped cured product obtained by irradiating the anisotropic conductive material with light and causing the anisotropic conductive material to cure,
The anisotropic conductive material contains at least three curable compounds and conductive particles,
The curable compound is a light and thermosetting compound having an epoxy group or thiirane group and a (meth) acryloyl group, and a thermosetting material having an epoxy group or thiirane group and no (meth) acryloyl group. A compound, and a photocurable compound having no epoxy group and thiirane group and having a (meth) acryloyl group,
The weight average molecular weight of the light and thermosetting compound having the epoxy group or thiirane group and the (meth) acryloyl group is less than 100,000,
B-stage cured product having a sea-island structure.
前記異方性導電材料が、熱硬化剤と、光重合開始剤とをさらに含有する、請求項3に記載のBステージ状硬化物。   The B-stage cured product according to claim 3, wherein the anisotropic conductive material further contains a thermosetting agent and a photopolymerization initiator. 異方性導電材料に光を照射し、該異方性導電材料の硬化を進行させてBステージ状硬化物を得る工程を備え、Irradiating the anisotropic conductive material with light, and proceeding with the curing of the anisotropic conductive material to obtain a B-stage cured product,
前記異方性導電材料が、少なくとも3種の硬化性化合物と、導電性粒子とを含有し、 前記硬化性化合物が、エポキシ基又はチイラン基と(メタ)アクリロイル基とを有する光及び熱硬化性化合物と、エポキシ基又はチイラン基を有し、かつ(メタ)アクリロイル基を有さない熱硬化性化合物と、エポキシ基及びチイラン基を有さず、かつ(メタ)アクリロイル基を有する光硬化性化合物とを含み、The anisotropic conductive material contains at least three kinds of curable compounds and conductive particles, and the curable compound has an epoxy group or thiirane group and a (meth) acryloyl group. A compound, a thermosetting compound having an epoxy group or thiirane group and having no (meth) acryloyl group, and a photocurable compound having no epoxy group and thiirane group and having a (meth) acryloyl group Including
前記エポキシ基又はチイラン基と(メタ)アクリロイル基とを有する光及び熱硬化性化合物の重量平均分子量が10万未満であり、The weight average molecular weight of the light and thermosetting compound having the epoxy group or thiirane group and the (meth) acryloyl group is less than 100,000,
海島構造を有するBステージ状硬化物を得る、Bステージ状硬化物の製造方法。A method for producing a B-stage cured product, which obtains a B-stage cured product having a sea-island structure.
前記異方性導電材料が、熱硬化剤と、光重合開始剤とをさらに含有する、請求項5に記載のBステージ状硬化物の製造方法。The method for producing a B-stage cured product according to claim 5, wherein the anisotropic conductive material further contains a thermosetting agent and a photopolymerization initiator. 第1の接続対象部材と、第2の接続対象部材と、該第1,第2の接続対象部材を電気的に接続している接続部とを備え、
前記接続部が、請求項1又は2に記載の異方性導電材料を硬化させることにより形成されている、接続構造体。
A first connection target member, a second connection target member, and a connection part that electrically connects the first and second connection target members;
A connection structure in which the connection portion is formed by curing the anisotropic conductive material according to claim 1.
第1の接続対象部材と、第2の接続対象部材と、該第1,第2の接続対象部材を電気的に接続している接続部とを備え、
前記接続部が、請求項3又は4に記載のBステージ状硬化物を硬化させることにより形成されている、接続構造体。
A first connection target member, a second connection target member, and a connection part that electrically connects the first and second connection target members;
The connection structure in which the said connection part is formed by hardening the B-stage-shaped hardened | cured material of Claim 3 or 4.
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