JP5887829B2 - Grinding apparatus and grinding method - Google Patents
Grinding apparatus and grinding method Download PDFInfo
- Publication number
- JP5887829B2 JP5887829B2 JP2011230780A JP2011230780A JP5887829B2 JP 5887829 B2 JP5887829 B2 JP 5887829B2 JP 2011230780 A JP2011230780 A JP 2011230780A JP 2011230780 A JP2011230780 A JP 2011230780A JP 5887829 B2 JP5887829 B2 JP 5887829B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- annular frame
- fixing
- grinding
- unit
- ground
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 22
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 27
- 239000002390 adhesive tape Substances 0.000 claims description 24
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 claims description 14
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 3
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 2
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 125000004122 cyclic group Chemical group 0.000 description 1
- 239000000696 magnetic material Substances 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Constituent Portions Of Griding Lathes, Driving, Sensing And Control (AREA)
- Grinding Of Cylindrical And Plane Surfaces (AREA)
- Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)
Description
本発明は、研削装置及び研削方法に関する。 The present invention relates to a grinding apparatus and a grinding method.
従来、電子部品を低背化するために、半導体等のウェハやCSP(チップサイズパッケージ)の樹脂部分を薄化することなどに研削装置が広く利用されている。 Conventionally, in order to reduce the height of an electronic component, a grinding apparatus has been widely used for thinning a wafer such as a semiconductor or a resin portion of a CSP (chip size package).
例えば、特許文献1には、粘着テープを介して環状フレームに支持されたウェハを研削することにより薄化する研削装置が開示されている。特許文献1に記載の研削装置では、ウェハが粘着されている粘着テープの周縁部を支持している環状フレームがクランプや磁石等により固定されると共に、ウェハが粘着テープを介して吸着部に吸引保持された態様で、ウェハに対向して配された研削砥石を回転させることにより、ウェハを研削する。研削中においては、環状フレームの上面が吸着部の上面よりも低くなるように環状フレームが保持される。
For example,
しかしながら、環状フレームが確実に固定されていなかった場合には、環状フレームの位置が吸着部よりも高くなってしまう場合がある。また、所定の厚みよりも厚い環状フレームを間違って使用した場合も、環状フレームの位置が吸着部よりも高くなってしまう場合がある。このような場合には、環状フレームと砥石とが接触し、環状フレームや砥石が破損してしまう場合がある。また、環状フレームと砥石とが接触することにより環状フレームが脱落してしまい、装置に甚大な損傷をもたらす虞もある。 However, if the annular frame is not securely fixed, the position of the annular frame may be higher than the suction portion. Moreover, even when an annular frame thicker than a predetermined thickness is used by mistake, the position of the annular frame may be higher than the suction portion. In such a case, an annular frame and a grindstone may contact and an annular frame and a grindstone may be damaged. Further, when the annular frame and the grindstone come into contact with each other, the annular frame may fall off, resulting in serious damage to the apparatus.
本発明は、環状フレームや装置が損傷しにくい研削装置を提供することを主な目的とする。 The main object of the present invention is to provide a grinding apparatus in which an annular frame and the apparatus are not easily damaged.
本発明に係る研削装置は、粘着テープを介して環状フレームに支持された被研削物を研削する研削装置である。本発明に係る研削装置は、固定部と、吸着部と、砥石と、駆動部と、検出部と、制御部とを備えている。固定部は、環状フレームを固定する。吸着部は、固定部に固定された環状フレームにより支持された被研削物を粘着テープを介して吸着することにより支持する。砥石は、吸着部に対向して配されている。砥石は、吸着部により支持された被研削物を研削する。駆動部は、砥石を駆動させる。検出部は、環状フレームの上面の高さ位置を検出する。制御部は、駆動部及び検出部を制御する。制御部は、固定部に固定された環状フレームの上面の高さ位置を検出部に検出させ、検出された環状フレームの上面の高さ位置が吸着部の上面の高さ位置よりも低い場合に駆動部を駆動させる。 A grinding device according to the present invention is a grinding device for grinding an object to be ground supported by an annular frame via an adhesive tape. The grinding device according to the present invention includes a fixed portion, a suction portion, a grindstone, a drive portion, a detection portion, and a control portion. The fixing portion fixes the annular frame. The adsorbing part supports the object to be ground supported by the annular frame fixed to the fixing part by adsorbing it via the adhesive tape. The grindstone is arranged to face the suction part. The grindstone grinds the object to be ground supported by the suction portion. The drive unit drives the grindstone. The detection unit detects the height position of the upper surface of the annular frame. The control unit controls the drive unit and the detection unit. The control unit causes the detection unit to detect the height position of the upper surface of the annular frame fixed to the fixing unit, and when the detected height position of the upper surface of the annular frame is lower than the height position of the upper surface of the suction unit. Drive the drive unit.
本発明に係る研削装置のある特定の局面では、制御部は、固定部に固定された環状フレームの上面の周方向における複数の部分の高さ位置を検出部に検出させ、検出された環状フレームの上面のすべての高さ位置が吸着部の上面の高さ位置よりも低い場合に駆動部を駆動させる。 In a specific aspect of the grinding apparatus according to the present invention, the control unit causes the detection unit to detect the height positions of a plurality of portions in the circumferential direction of the upper surface of the annular frame fixed to the fixing unit, and the detected annular frame The drive unit is driven when all the height positions of the upper surface of the are lower than the height position of the upper surface of the suction unit.
本発明に係る研削装置の別の特定の局面では、研削装置は、移動機構をさらに備える。移動機構は、固定部を、第1のポジションと、吸着部及び砥石が配された第2のポジションとの間で移動させる。制御部は、第1のポジションにおいて環状フレームを固定部に固定させた後に、移動機構に、環状フレームが固定された固定部を第2のポジションまで移動させ、その後、固定部に固定された環状フレームの上面の高さ位置を検出部に検出させる。 In another specific aspect of the grinding apparatus according to the present invention, the grinding apparatus further includes a moving mechanism. The moving mechanism moves the fixed portion between the first position and the second position where the suction portion and the grindstone are arranged. The control unit fixes the annular frame to the fixed part at the first position, and then moves the fixed part to which the annular frame is fixed to the second position to the moving mechanism, and then the annular part fixed to the fixed part. The detection unit detects the height position of the upper surface of the frame.
本発明に係る研削方法は、粘着テープを介して環状フレームに支持された被研削物を用意する。被研削物が支持された環状フレームを固定部に固定すると共に、被研削物を粘着テープを介して吸着部に吸着させる固定/吸着工程を行う。固定部に固定された環状フレームの上面の高さ位置を検出する検出工程を行う。検出した環状フレームの上面の高さ位置が吸着部の上面の高さ位置よりも低い場合に、吸着部に対向して配された砥石により被研削物を研削する研削工程を行う。 The grinding method according to the present invention prepares an object to be ground supported by an annular frame via an adhesive tape. A fixing / adsorption process is performed in which the annular frame on which the object to be ground is supported is fixed to the fixing part, and the object to be ground is adsorbed to the adsorption part via the adhesive tape. A detection step of detecting the height position of the upper surface of the annular frame fixed to the fixing portion is performed. When the detected height position of the upper surface of the annular frame is lower than the height position of the upper surface of the suction portion, a grinding process is performed for grinding the workpiece with a grindstone arranged facing the suction portion.
本発明に係る研削方法のある特定の局面では、検出工程において、固定部に固定された環状フレームの上面の周方向における複数の部分の高さ位置を検出する。研削工程において、検出された環状フレームの上面のすべての高さ位置が吸着部の上面の高さ位置よりも低い場合に、砥石により被研削物を研削する。 In a specific aspect of the grinding method according to the present invention, in the detection step, the height positions of a plurality of portions in the circumferential direction of the upper surface of the annular frame fixed to the fixing portion are detected. In the grinding process, when all the height positions of the detected upper surface of the annular frame are lower than the height position of the upper surface of the suction portion, the object to be ground is ground with a grindstone.
本発明に係る研削方法の別の特定の局面では、固定/吸着工程では、第1のポジションにおいて被研削物が支持された環状フレームを固定部に固定させる固定工程を行う。固定工程の後に、固定部と環状フレームとを第1のポジションから第2のポジションに移動させる移動工程を行う。移動工程の後に、第2のポジションにおいて、被研削物を粘着テープを介して吸着部に吸着させる吸着工程を行う。第2のポジションにおいて研削工程を行う。 In another specific aspect of the grinding method according to the present invention, in the fixing / sucking step, a fixing step of fixing the annular frame on which the workpiece is supported at the first position to the fixing portion is performed. After the fixing step, a moving step of moving the fixing portion and the annular frame from the first position to the second position is performed. After the moving process, an adsorption process is performed in which the object to be ground is adsorbed to the adsorption unit via the adhesive tape at the second position. A grinding process is performed in the second position.
本発明によれば、環状フレームや装置が損傷しにくい研削装置を提供することができる。 According to the present invention, it is possible to provide a grinding apparatus in which the annular frame and the apparatus are hardly damaged.
以下、本発明を実施した好ましい形態の一例について説明する。但し、下記の実施形態は、単なる例示である。本発明は、下記の実施形態に何ら限定されない。 Hereinafter, an example of the preferable form which implemented this invention is demonstrated. However, the following embodiment is merely an example. The present invention is not limited to the following embodiments.
実施形態等において参照する図面は、模式的に記載されたものであり、図面に描画された物体の寸法の比率などは、現実の物体の寸法の比率などとは異なる場合がある。図面相互間においても、物体の寸法比率等が異なる場合がある。具体的な物体の寸法比率等は、以下の説明を参酌して判断されるべきである。 The drawings referred to in the embodiments and the like are schematically described, and the ratio of dimensions of objects drawn in the drawings may be different from the ratio of dimensions of actual objects. The dimensional ratio of the object may be different between the drawings. The specific dimensional ratio of the object should be determined in consideration of the following description.
図1は、本実施形態における環状フレームの模式的平面図である。図2は、本実施形態における研削装置の模式的側面図である。図3は、本実施形態における研削装置の一部分を拡大した模式的側面図である。 FIG. 1 is a schematic plan view of an annular frame in the present embodiment. FIG. 2 is a schematic side view of the grinding apparatus in the present embodiment. FIG. 3 is an enlarged schematic side view of a part of the grinding apparatus according to the present embodiment.
研削装置1は、被研削物10を研削する装置である。被研削物10の種類は特に限定されない。被研削物10は、例えば、弾性波チップや、半導体基板等であってもよい。具体的には、本実施形態では、被研削物10は、複数のCSP(Chip Size Package)に分割される前のCSP集合体により構成されている。
The
被研削物10は、粘着テープ11を介して環状フレーム12に支持される。具体的には、環状フレーム12には、粘着テープ11の周縁部が全周にわたって固定されている。そして、粘着テープ11の上に少なくともひとつの被研削物10が粘着されて固定されている。なお、粘着テープ11は、樹脂からなるため、可撓性を有する。
The
研削装置1は、固定部21と、移動機構22と、吸着部23と、砥石24と、駆動部25と、検出部26(図3を参照)と、制御部27とを備えている。
The
固定部21は、粘着テープ11及び被研削物10が固定された環状フレーム12を固定する。具体的には、固定部21は、4つ設けられており、環状フレーム12の四方を固定する。固定部21は、環状フレーム12を固定できるものであれば特に限定されない。固定部21は、例えば、環状フレーム12を厚み方向に挟持するクランプにより構成することができる。また、環状フレーム12が磁性体からなる場合は、固定部21を磁石により構成することもできる。
The
移動機構22は、固定部21を第1のポジションP1と第2のポジションP2との間で移動させる。第1のポジションP1は、固定部21により環状フレーム12の着脱を行う位置である。第2のポジションP2は、吸着部23及び砥石24が設けられたポジションであり、被研削物10の研削を行う位置である。移動機構22は、例えば、モーター等のアクチュエータや、エアポンプなどにより構成することができる。
The moving
吸着部(チャックテーブル)23は、固定部21が第2のポジションP2に位置しているときに、被研削物10の下方に位置するように配されている。吸着部23は、第2のポジションP2に位置している固定部21に固定された環状フレーム12により支持された被研削物10を粘着テープ11を介して吸着することにより支持する。吸着部23は、例えば、吸引ポンプ等に接続された多孔体等により構成することができる。
The suction portion (chuck table) 23 is disposed so as to be positioned below the
砥石24は、吸着部23に対向して配されている。砥石24は、被研削物10を研削するための部材である。砥石24は、駆動部25に接続されている。駆動部25は、砥石24を駆動させる。具体的には、駆動部25は、砥石24を回転させる。なお、駆動部25は、例えば、スピンドルが接続されたモーター等により構成することができる。
The
図3に示される検出部26は、第2のポジションP2に位置している環状フレーム12の上面12aの高さ位置を検出する。具体的には、検出部26は、図1に示す領域A1〜A4における環状フレーム12の上面12aの高さ位置を検出する。なお、検出部26は、例えばハイトゲージ等の接触式のセンサや、レーザー光出射装置とレーザー光検出器とを有する光学式のセンサなどにより構成することができる。
The
制御部27は、駆動部25及び検出部26を制御する。制御部27は、例えば、CPU等により構成することができる。
The
次に、研削装置1を用いた被研削物10の研削方法について説明する。
Next, a method for grinding the
(被研削物10の用意工程)
まず、粘着テープ11を介して環状フレーム12に支持された被研削物10を用意する。具体的には、環状フレーム12に粘着テープ11の周縁部を全周にわたって粘着させることにより固定する。次に、粘着テープ11に少なくともひとつの被研削物10を粘着させることにより支持させる。
(Preparation process of workpiece 10)
First, an object to be ground 10 supported by an
(固定/吸着工程)
次に、制御部27は、第1のポジションP1において、固定部21に環状フレーム12を固定させる(固定工程)。次に、制御部27は、移動機構22に、環状フレーム12が固定された固定部21を第2のポジションP2まで移動させる(移動工程)。次に、制御部27は、吸着部23を上昇させ、第2のポジションP2において、被研削物10を粘着テープ11を介して吸着部23に吸着させることにより被研削物10を固定する(吸着工程)。
(Fixing / adsorption process)
Next, the
(検出工程)
次に、制御部27は、固定部21に固定された環状フレーム12の上面12aの高さ位置を検出部26に検出させる。具体的には、制御部27は、領域A1〜A4のそれぞれにおける、固定部21に固定された環状フレーム12の上面12aの高さ位置を検出部26に検出させる。
(Detection process)
Next, the
(研削工程)
次に、制御部27は、検出された環状フレーム12の上面12aの各高さ位置が吸着部23の上面23aの高さ位置よりも低いか否かを判定する。その結果、制御部27は、検出された環状フレーム12の上面12aの各高さ位置が吸着部23の上面23aの高さ位置よりも低いと判定した場合に、駆動部25に砥石24を駆動させ、第2のポジションP2において、被研削物10の研削を行う。一方、制御部27は、検出された環状フレーム12の上面12aの高さ位置の少なくともひとつが吸着部23の上面23aの高さ位置よりも高いと判定した場合には、駆動部25に砥石24を駆動させない。即ち、研削を行わない。この場合、制御部27は、エラー警告音を鳴らすと共に、移動機構22に固定部21を第1のポジションP1に戻させる。その後、制御部27は、検出された環状フレーム12の上面12aの各高さ位置が吸着部23の上面23aの高さ位置よりも低くなるまで、固定/吸着工程、移動工程及び研削工程を繰り返し行う。
(Grinding process)
Next, the
以上説明したように、本実施形態では、環状フレーム12を固定部21に固定させた後に、研削を開始する前に、環状フレーム12の上面12aの高さ位置が吸着部23の上面23aの高さ位置よりも低いか否かが検出され、低い場合のみ研削が行われる。このため、環状フレーム12が砥石24に接触したり、環状フレーム12が確実に固定されていない状態で研削が開始されたりしない。従って、環状フレーム12や研削装置1の破損を抑制することができる。
As described above, in the present embodiment, after the
環状フレーム12や研削装置1の破損をより効果的に抑制する観点からは、本実施形態のように、環状フレーム12の上面12aの高さ位置を周方向における複数箇所で検出することが好ましい。但し、検出箇所の数が多すぎると、研削に要する時間が長くなる。このため、検索箇所の数は、3〜4程度であることが好ましい。
From the viewpoint of more effectively suppressing damage to the
なお、検出部26は、吸着部23の上面23aの高さ位置等を測定する検出部により、兼ねられていてもよい。
The
1…研削装置
P1…第1のポジション
P2…第2のポジション
10…被研削物
11…粘着テープ
12…環状フレーム
12a…環状フレームの上面
21…固定部
22…移動機構
23…吸着部
23a…吸着部の上面
24…砥石
25…駆動部
26…検出部
27…制御部
DESCRIPTION OF
Claims (4)
前記環状フレームを固定する固定部と、
前記固定部に固定された環状フレームにより支持された被研削物を前記粘着テープを介して吸着することにより支持する吸着部と、
前記吸着部に対向して配されており、前記吸着部により支持された前記被研削物を研削する砥石と、
前記砥石を駆動させる駆動部と、
前記環状フレームの上面の高さ位置を検出する検出部と、
前記駆動部及び検出部を制御する制御部と、
を備え、
前記制御部は、前記固定部に固定された環状フレームの上面の高さ位置を前記検出部に検出させ、前記検出された環状フレームの上面の高さ位置が前記吸着部の上面の高さ位置よりも低い場合に前記駆動部を駆動させ、
前記固定部を、第1のポジションと、前記吸着部及び前記砥石が配された第2のポジションとの間で移動させる移動機構をさらに備え、
前記制御部は、前記第1のポジションにおいて前記環状フレームを前記固定部に固定させた後に、前記移動機構に、前記環状フレームが固定された固定部を前記第2のポジションまで移動させ、その後、前記固定部に固定された環状フレームの上面の高さ位置を前記検出部に検出させる、研削装置。 A grinding device for grinding an object to be ground supported by an annular frame via an adhesive tape,
A fixing portion for fixing the annular frame;
An adsorbing part that supports an object to be ground supported by an annular frame fixed to the fixing part by adsorbing the object to be ground through the adhesive tape;
A grindstone that is disposed to face the suction portion and grinds the workpiece to be ground supported by the suction portion;
A drive unit for driving the grindstone;
A detection unit for detecting the height position of the upper surface of the annular frame;
A control unit for controlling the drive unit and the detection unit;
With
The control unit causes the detection unit to detect the height position of the upper surface of the annular frame fixed to the fixing unit, and the height position of the upper surface of the detected annular frame is the height position of the upper surface of the suction unit. Drive the drive when lower than ,
A moving mechanism for moving the fixed portion between a first position and a second position where the suction portion and the grindstone are arranged;
The control unit, after fixing the annular frame to the fixed portion in the first position, to move the fixed portion to which the annular frame is fixed to the second position in the moving mechanism, the height position of the upper surface of the annular frame fixed to the fixing portion Ru is detected in the detection unit, the grinding apparatus.
前記被研削物が支持された環状フレームを固定部に固定すると共に、前記被研削物を前記粘着テープを介して吸着部に吸着させる固定/吸着工程と、
前記固定部に固定された環状フレームの上面の高さ位置を検出する検出工程と、
前記検出した環状フレームの上面の高さ位置が前記吸着部の上面の高さ位置よりも低い場合に、前記吸着部に対向して配された砥石により前記被研削物を研削する研削工程と、
を備え、
前記固定/吸着工程は、
第1のポジションにおいて前記被研削物が支持された前記環状フレームを前記固定部に固定させる固定工程と、
前記固定工程の後に、前記固定部と前記環状フレームとを前記第1のポジションから第2のポジションに移動させる移動工程と、
前記移動工程の後に、前記第2のポジションにおいて、前記被研削物を前記粘着テープを介して前記吸着部に吸着させる吸着工程と、
を有し、
前記第2のポジションにおいて前記研削工程を行う、研削方法。 Preparing an object to be ground supported by an annular frame via an adhesive tape;
A fixing / adsorption step of fixing the annular frame on which the object to be ground is supported to a fixing part, and adsorbing the object to be ground to an adsorption part via the adhesive tape;
A detection step of detecting the height position of the upper surface of the annular frame fixed to the fixing portion;
When the detected height position of the upper surface of the annular frame is lower than the height position of the upper surface of the suction part, a grinding step of grinding the object to be ground with a grindstone arranged facing the suction part;
Equipped with a,
The fixing / adsorption process includes:
A fixing step of fixing the annular frame on which the workpiece is supported in the first position to the fixing portion;
A moving step of moving the fixing portion and the annular frame from the first position to the second position after the fixing step;
An adsorption step of adsorbing the object to be ground to the adsorption portion via the adhesive tape at the second position after the moving step;
Have
A grinding method in which the grinding step is performed in the second position .
前記研削工程において、前記検出された環状フレームの上面のすべての高さ位置が前記吸着部の上面の高さ位置よりも低い場合に、前記砥石により前記被研削物を研削する、請求項3に記載の研削方法。 In the detection step, the height positions of a plurality of portions in the circumferential direction of the upper surface of the annular frame fixed to the fixing portion are detected,
In the grinding step, if all the height position of the upper surface of the detected annular frame is lower than the height position of the upper surface of the suction unit, grinding the object to be ground by the grinding wheel, in claim 3 The grinding method as described.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2011230780A JP5887829B2 (en) | 2011-10-20 | 2011-10-20 | Grinding apparatus and grinding method |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2011230780A JP5887829B2 (en) | 2011-10-20 | 2011-10-20 | Grinding apparatus and grinding method |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2013086232A JP2013086232A (en) | 2013-05-13 |
| JP5887829B2 true JP5887829B2 (en) | 2016-03-16 |
Family
ID=48530685
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2011230780A Active JP5887829B2 (en) | 2011-10-20 | 2011-10-20 | Grinding apparatus and grinding method |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP5887829B2 (en) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5889025B2 (en) * | 2012-02-09 | 2016-03-22 | 株式会社ディスコ | Grinding equipment |
| JP2017157748A (en) * | 2016-03-03 | 2017-09-07 | 株式会社ディスコ | Cutting equipment |
| JP2020116685A (en) * | 2019-01-24 | 2020-08-06 | 株式会社ディスコ | Processing device and inspecting method |
| CN119890098B (en) * | 2025-03-25 | 2025-07-15 | 江苏京创先进电子科技有限公司 | Wafer cutting method, system and wafer cutting equipment |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3325650B2 (en) * | 1993-04-15 | 2002-09-17 | 株式会社ディスコ | Wafer polishing method |
| JP2004082319A (en) * | 2002-06-27 | 2004-03-18 | Disco Abrasive Syst Ltd | Chip grinding method and ring frame fixing mechanism |
| JP5112682B2 (en) * | 2006-12-18 | 2013-01-09 | リンテック株式会社 | Sheet sticking device and sticking method |
| JP2009206166A (en) * | 2008-02-26 | 2009-09-10 | Renesas Technology Corp | Method of manufacturing semiconductor device |
| JP5461104B2 (en) * | 2009-08-20 | 2014-04-02 | 株式会社ディスコ | Holding table and grinding device |
-
2011
- 2011-10-20 JP JP2011230780A patent/JP5887829B2/en active Active
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2013086232A (en) | 2013-05-13 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP6335672B2 (en) | Transport device | |
| US7858496B2 (en) | Wafer processing method | |
| JP5909453B2 (en) | Peeling device, peeling system and peeling method | |
| JP6120748B2 (en) | Peeling apparatus, peeling system, peeling method, program, and computer storage medium | |
| JP6283573B2 (en) | Peeling apparatus, peeling system, peeling method, program, and computer storage medium | |
| JP6145415B2 (en) | Peeling method, program, computer storage medium, peeling apparatus and peeling system | |
| JP2010186971A (en) | Wafer processing method | |
| CN110893574B (en) | Edge trimming device | |
| JP2009176896A (en) | Wafer processing method | |
| JP7781190B2 (en) | Mounting device and mounting method | |
| JP5887829B2 (en) | Grinding apparatus and grinding method | |
| JP2007305835A (en) | Wafer processing method | |
| JP2015207776A (en) | Peeling device, peeling system and peeling method | |
| JP2016154168A (en) | Delivery method for workpiece | |
| KR102243872B1 (en) | Method of grinding workpiece | |
| JP5101267B2 (en) | Wafer processing method | |
| JP5931772B2 (en) | Semiconductor manufacturing equipment | |
| JP2010247311A (en) | Workpiece grinding method | |
| JP5523230B2 (en) | Grinding equipment | |
| JP2010137349A (en) | Chuck table for wafer and wafer processing apparatus | |
| JP2012146889A (en) | Method for grinding wafer | |
| JP2013233613A (en) | Method of mounting annular blade | |
| JP2012069677A (en) | Grinding apparatus | |
| CN105914164B (en) | Processing device | |
| JP2019000933A (en) | Grinding device |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20140731 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20150702 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20150714 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20150824 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20160119 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20160201 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5887829 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |