JP5909802B2 - Ultrasonic shear wave probe - Google Patents
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Description
本発明は、試験体に対して超音波を送信し、かつ試験体中を伝搬する超音波を受信する探触子に関するものであり、特に、横波の超音波を送受する超音波横波探触子に関するものである。 The present invention relates to a probe that transmits ultrasonic waves to a test body and receives ultrasonic waves that propagate through the test body, and more particularly, an ultrasonic shear wave probe that transmits and receives transverse ultrasonic waves. It is about.
近年、構造物の老朽化が問題となっており、適切な維持管理が要求されている。これら老朽化した構造物を維持管理するには、適切な検査を行う必要がある。特に、目視で確認できない部位の検査においては、超音波による非破壊検査、いわゆる超音波探傷に対する期待が大きい。超音波探傷では、探触子を用いて信号の送受信を行うが、その効率と安定性が求められている。 In recent years, aging of structures has become a problem, and appropriate maintenance is required. Appropriate inspection is required to maintain and manage these aging structures. In particular, in the inspection of parts that cannot be visually confirmed, there is a great expectation for nondestructive inspection using ultrasonic waves, so-called ultrasonic flaw detection. In ultrasonic flaw detection, signals are transmitted and received using a probe, and the efficiency and stability are required.
超音波探傷は、横波を用いて行う場合もある。試験体に対して垂直に横波を伝搬させるには、垂直横波探触子を用いる(例えば、非特許文献1参照)。 Ultrasonic flaw detection may be performed using transverse waves. In order to propagate a transverse wave perpendicular to the test body, a vertical transverse wave probe is used (for example, see Non-Patent Document 1).
まず、従来の垂直横波探触子の構成および動作について、図6および図7を参照しながら説明する。図6は、従来の垂直横波探触子の構成図である。この図6に示した従来の垂直横波探触子100は、振動子1、保護板2、ダンパー3、およびケース4を備えて構成されている。なお、非特許文献1では、「保護膜2」としているが、ここでは、保護板2として説明する。
First, the configuration and operation of a conventional vertical shear wave probe will be described with reference to FIGS. FIG. 6 is a configuration diagram of a conventional vertical shear wave probe. The conventional vertical shear wave probe 100 shown in FIG. 6 includes a
このような構成を備えた垂直横波探触子100は、超音波探傷による検査対象である試験体20に対して、接触媒質30を介して、横波を伝搬させることとなる。
The vertical transverse wave probe 100 having such a configuration propagates transverse waves through the
図6に示すように、振動子1の両側には、保護板2およびダンパー3がある。なお、ダンパー3がないタイプの垂直横波探触子もある。試験体20への超音波の伝達効率を向上させるために、保護板2を整合層として用いているタイプもある。また、図7は、従来の垂直横波探触子における経過時間に対する押し付け力、保護板に掛かる圧縮応力、および保護板と試験体との接触強度の変化を説明するための図である。
As shown in FIG. 6, there are a
次に、従来の垂直横波探触子の動作について説明する。ここでは、特別な治具を用いずに、人間の手で探触子100を扱う場合を例として説明する。探傷器からの電気信号を振動子1に印加すると、振動子1は、振動する。ここで、探触子100は、横波探触子なので、図6に示すように、振動子1の上面および下面では逆方向に振動する。その結果、せん断応力が発生し、横波が保護板2およびダンパー3へ伝搬する。ダンパー3の方向で伝搬した横波は、ダンパー3の内部で減衰される。
Next, the operation of the conventional vertical shear wave probe will be described. Here, a case where the probe 100 is handled by a human hand without using a special jig will be described as an example. When an electric signal from the flaw detector is applied to the
一方、保護板2の方向へ伝搬した横波は、接触媒質30を介して試験体20中へ伝搬していく。ここで、接触媒質30としては、非特許文献1にも示されているように、横波用の接触媒質を用いる必要がある。横波用の接触媒質とは、せん断応力を試験体20中へ伝達させるため、水飴のような粘度の高い液状のものである。なお、普通の水を接触媒質30として用いても、せん断応力は伝達されないので、試験体20中へは、横波が伝搬しない。また、図6中では、横波の伝搬方向および振動方向を、矢印で表している。
On the other hand, the transverse wave propagated in the direction of the
このように垂直横波探触子100では、水飴のような粘度の高い液状の接触媒質30を保護板2と試験体20との間に挟んだ状態で探傷することになる。しかしながら、接触媒質30は、単に挟んだだけでは、粘度が高いといっても液状物質であるので、横波は、殆ど試験体20中へ伝搬しない。そこで、横波を効率良く伝搬させるためには、保護板2と試験体20との接触状態を強固にする必要がある。なお、接触状態を強固にするということは、接着剤による固定に近い状態を意味している。
Thus, in the vertical shear wave probe 100, the flawed
保護板2と試験体20との接触状態を強固にするための簡単な方法は、探触子100を試験体20に所定の力で押し付けることである。図6では、ケース4の上から探触子100を試験体20に押し付ける様子を示している。一定の力で押し付けると、保護板2に掛かる垂直応力が大きくなり、その結果、保護板2と試験体20との接触状態が強固となり、試験体20中へ横波が伝搬していく。試験体20へ伝搬した横波は、底面で反射され、底面エコーが受信されるようになる。なお、試験体20中にきずがある場合には、きずで反射されて受信されるエコーが存在することとなる。
A simple method for strengthening the contact state between the
しかしながら、従来技術には、以下のような課題がある。
従来の垂直横波探触子100では、これらのエコーを安定させるまでに時間が掛かるという課題があった。この課題について、図7を参照しながら説明する。図7の横軸は、探触子100を試験体20に置いた時刻を原点としている。押し付け力の初期値は、探触子100の自重となる。
However, the prior art has the following problems.
The conventional vertical shear wave probe 100 has a problem that it takes time to stabilize these echoes. This problem will be described with reference to FIG. The origin of the horizontal axis in FIG. 7 is the time when the probe 100 is placed on the
図7(a)に示すように、探触子100を試験体20へ押し付けると、押し付け力は時間経過とともに大きくなり、作業者の力加減により、ある一定の値で飽和することになる。なお、単に押し付けるだけではなく、探触子100を滑らせながら押し付ける方法が一般的に用いられている。探触子100を滑らせることにより、接触媒質30が薄くなり、接触状態を強固にすることに役立つからである。
As shown in FIG. 7A, when the probe 100 is pressed against the
保護板2に掛かる圧縮応力は、図7(b)に示すように、探触子100を押し付けると上昇し、その後、飽和する。従来の垂直横波探触子100は、圧縮応力の飽和レベルが小さいために、保護板2と試験体20との接触強度は、保護板2に掛かる圧縮応力が飽和レベルになっても、急には強固にならない。より具体的には、図7(c)に示すように、探触子を押し付けている時間中に、徐々に大きくなっていく。そして、数分から数十分経過して、接触強度がある大きさで飽和状態となって安定し、エコーが安定する。
As shown in FIG. 7B, the compressive stress applied to the
以上説明したように、従来の垂直横波探触子でエコーを安定させるには、数分から数十分という時間を要していた。また、探触子100を滑らせながら試験体20へ押さえ付ける作業は、現場の作業者にとって大きな負担となっていた。
As described above, it takes a time from several minutes to several tens of minutes to stabilize the echo with the conventional vertical shear wave probe. In addition, the work of pressing the probe 100 against the
本発明は、前記のような課題を解決するためになされたものであり、エコーを早期に安定させ、かつ現場の作業者に負担が掛からない垂直横波探触子を得ることを目的とするものである。 The present invention has been made to solve the above-described problems, and an object of the present invention is to obtain a vertical shear wave probe that stabilizes echoes at an early stage and does not impose a burden on a worker on site. It is.
本発明に係る垂直横波探触子は、試験体に接触させ、電気信号によって駆動された横波の超音波を試験体中に伝搬させ、かつ、試験体中を伝搬した横波の超音波を電気信号に変換することで、試験体の超音波探傷を行う超音波横波探触子であって、超音波横波探触子の試験体と接触する面には、保護板が装備されており、前記保護板は、応力集中点となる形状の突起部を有しており、前記突起部から横波の超音波の送受信を行うものである。 The vertical transverse wave probe according to the present invention is brought into contact with a test body, propagates the ultrasonic wave of the transverse wave driven by the electrical signal into the test body, and transmits the ultrasonic wave of the transverse wave propagated through the test body to the electrical signal. An ultrasonic shear wave probe that performs ultrasonic flaw detection on a test body by converting to a surface of the ultrasonic shear wave probe that is in contact with the test body is equipped with a protective plate, and the protection The plate has a protrusion having a shape that becomes a stress concentration point, and transmits and receives a transverse ultrasonic wave from the protrusion .
本発明に係る垂直横波探触子によれば、垂直横波探触子が試験体と接触する面に応力集中点となる形状の突起部を有し、探触子の自重だけでも従来よりも大きな圧縮応力を容易に発生させることのできる構成を備えることにより、エコーを早期に安定させ、かつ現場の作業者に負担が掛からない垂直横波探触子を得ることができる。 According to the vertical shear wave probe according to the present invention, the vertical shear wave probe has a protrusion having a shape that becomes a stress concentration point on the surface that contacts the specimen, and the weight of the probe alone is larger than that of the conventional probe. By providing a configuration capable of easily generating a compressive stress, it is possible to obtain a vertical shear wave probe that stabilizes echoes early and does not impose a burden on a worker on site.
以下、本発明の垂直横波探触子の好適な実施の形態につき図面を用いて説明する。 Hereinafter, preferred embodiments of the vertical shear wave probe of the present invention will be described with reference to the drawings.
実施の形態1.
図1は、本発明の実施の形態1における垂直横波探触子の構成図である。この図1に示した本実施の形態1における垂直横波探触子10は、振動子1、保護板2、ダンパー3、およびケース4を備えて構成されている。また、図3を用いて後に詳述するが、保護板2の試験体20に接触する面には、突起2aが設けられている。
FIG. 1 is a configuration diagram of a vertical shear wave probe according to
そして、垂直横波探触子10は、超音波探傷による検査対象である試験体20に対して、接触媒質30を介して、横波を伝搬させることとなる。
Then, the vertical transverse wave probe 10 propagates the transverse wave through the
図2は、本発明の実施の形態1における保護板2と試験体20との接触部分の拡大図である。また、図3は、本発明の実施の形態1における経過時間に対する押し付け力、圧縮応力、および接触強度の変化を説明するための図である。
FIG. 2 is an enlarged view of a contact portion between
まず、本実施の形態1における探触子10の構成について、図1、図2を参照しながら説明する。振動子1の両側には、保護板2およびダンパー3がある。この構成は、先の図6に示した従来の垂直横波探触子100と同じであり、ダンパー3がなくても構わない。従来の垂直横波探触子100と異なる点は、保護板2の試験体20に接触する面が、平坦でなく、突起2aが配列されている形状となっている点である。
First, the configuration of the probe 10 according to the first embodiment will be described with reference to FIGS. There are a
次に、本実施の形態1の探触子10の動作について説明する。従来と同様に、特別な治具を用いずに、人間の手で探触子10を扱う場合を例として説明する。従来の垂直横波探触子100と同様に、探傷器からの電気信号を振動子1に印加すると、振動子1は、振動する。ここで、本実施の形態1における探触子10は、横波探触子なので、図1に示すように、振動子1の上面および下面では逆方向に振動する。その結果、せん断応力が発生し、横波となって保護板2およびダンパー3へ伝搬する。ダンパー3の方向で伝搬した横波は、ダンパー3の内部で減衰される。
Next, the operation of the probe 10 according to the first embodiment will be described. The case where the probe 10 is handled by a human hand without using a special jig as in the conventional case will be described as an example. Similar to the conventional vertical transverse wave probe 100, when an electrical signal from the flaw detector is applied to the
一方、保護板2の方向へ伝搬した横波は、接触媒質30を介して試験体20中へ伝搬する。この様子が、図2中に示されている。本発明では、保護板2の表面が突起2aを配列した形状なので、突起2aの先端部分に圧縮応力が集中する。このため、探触子10の自重だけでも、大きな圧縮応力が突起2aの先端部分に掛かる。その結果、それ程大きな力で押さえ付けなくても、保護板2と試験体20との接触状態を強固にすることができる。
On the other hand, the transverse wave propagated in the direction of the
すなわち、従来の垂直横波探触子100は、「面」で試験体20に押し付けていたのに対し、本発明の垂直横波探触子10は、「点」あるいは「線」で試験体20に押し付けて圧縮応力を集中させる点に技術的特徴がある。
That is, the conventional vertical shear wave probe 100 is pressed against the
図1および図2には、横波の伝搬方向および振動方向を併せて示している。試験体20へ伝搬した横波は、底面で反射され、底面エコーが受信される。なお、試験体20中にきずがある場合には、きずで反射されて受信されるエコーが存在する。
1 and 2 also show the propagation direction and the vibration direction of the transverse wave. The transverse wave propagated to the
これらのエコーを安定させる作業を、図3を参照しながら説明する。図3の横軸は、探触子10を試験体20に置いた時刻を原点としている。押し付け力の初期値は、探触子10の自重となる。
The operation of stabilizing these echoes will be described with reference to FIG. The origin of the horizontal axis in FIG. 3 is the time when the probe 10 is placed on the
本実施の形態1における探触子10は、保護板2に応力集中点となる突起2aが設けてあるので、図3(b)に示すように、探触子10の自重だけでも大きな圧縮応力が発生する。また、押さえ付ける力も、従来の探触子100よりも小さな力で大きな圧縮応力が得られる。そして、大きな圧縮応力が得られると、図3(c)に示すように、接触状態は、すぐに強固になる。このため、エコーが安定するまでに数秒で済む。
In the probe 10 according to the first embodiment, since the
なお、図2では、横波の振動方向と突起2aの配列ピッチ方向が平行として説明した。この構成は、通常の垂直横波探触子でも有効であるが、特にアレイ探触子の場合に有効である。この理由を、図4および図5を参照しながら説明する。図4および図5は、本発明の実施の形態1におけるアレイ探触子の保護板に突起がある場合の図であり、振動子1a、1b、および1cが配列されている。なお、図4および図5では、接触媒質30を省略して示している。
In FIG. 2, the vibration direction of the transverse wave and the arrangement pitch direction of the protrusions 2 a are described as being parallel. This configuration is effective for a normal vertical shear wave probe, but is particularly effective for an array probe. The reason for this will be described with reference to FIGS. 4 and 5 are diagrams in the case where there is a protrusion on the protective plate of the array probe according to the first embodiment of the present invention, in which the vibrators 1a, 1b, and 1c are arranged. 4 and 5, the
図4は、振動子1a、1b、および1cによる横波の振動方向(図では水平方向)と突起2aの配列ピッチ方向が平行な場合(すなわち、横波の振動方向と、突起2aの各1次元配列の方向とが平行ではなく垂直の場合)の図である。図4に示すように、横波の振動方向と突起2aの配列ピッチ方向が平行な場合には、図1および図2と同じ状況となるので、上述した理由でエコーが早期に安定する。 FIG. 4 shows the case where the vibration direction of the transverse wave (horizontal direction in the figure) by the vibrators 1a, 1b, and 1c is parallel to the arrangement pitch direction of the protrusions 2a (that is, the vibration direction of the transverse wave and each one-dimensional arrangement of the protrusions 2a FIG. 5 is a diagram in the case where the direction is perpendicular to the direction. As shown in FIG. 4, when the vibration direction of the transverse wave and the arrangement pitch direction of the protrusions 2 a are parallel, the situation is the same as in FIGS. 1 and 2, so that the echo is stabilized early for the reason described above.
一方、図5は、図4の保護板2を90度回転させた場合の図であり、横波の振動方向と突起2aの配列ピッチ方向が平行ではなく、垂直となった場合(すなわち、横波の振動方向と、突起2aの各1次元配列の方向とが平行の場合)を示している。図5のような状態になった場合、振動子1a、1b、および1cの直下に突起2aの先端部分があれば、上述した理由でエコーは早期に安定する。
On the other hand, FIG. 5 is a diagram when the
しかしながら、振動子1a、1b、および1cの直下に突起2aの先端部分がなければ、試験体20中に伝搬する横波は、弱いものとなる。このように、横波の振動方向と突起2aの配列ピッチ方向が垂直となった場合には、振動子1a、1b、および1cと突起2aの先端部の位置関係によっては、超音波の伝達効率が悪い探触子となってしまう可能性がある。横波の振動方向と突起2aの配列ピッチ方向を平行とする(すなわち、図4に示したように、横波の振動方向と、突起2aの各1次元配列の方向とが垂直の関係を有する)ことで、効率を悪くすることなく、早期にエコーが安定する探触子を得ることができる。
However, if there is no tip portion of the protrusion 2a immediately below the vibrators 1a, 1b, and 1c, the transverse wave propagating in the
また、図2、図4、および図5では、突起2aの先端が尖った形状として説明したが、突起2aの先端が曲率を有していても構わない。さらに、突起2aが矩形でも構わない。保護板2に応力集中点を設けることが本発明の特徴であり、突起2aの形状を限定するものではない。
2, 4 and 5, the tip of the protrusion 2a has been pointed. However, the tip of the protrusion 2a may have a curvature. Furthermore, the protrusion 2a may be rectangular. It is a feature of the present invention that a stress concentration point is provided on the
さらに、図2、図4、および図5では、突起2aの配列を1次元として説明したが、2次元配列としても構わない。また、アレイ探触子の場合を除けば、ランダムに配列しても構わない。保護板2に応力集中点を設けることが本発明の特徴であり、突起の配列方法を限定するものではない。
Furthermore, in FIG. 2, FIG. 4, and FIG. 5, the arrangement of the protrusions 2a has been described as one-dimensional, but it may be a two-dimensional arrangement. Further, except for an array probe, it may be arranged at random. Providing stress concentration points on the
以上のように、実施の形態1によれば、垂直横波探触子の保護板に応力集中点を設けることで、エコーが安定するまでの時間が早くなるという効果を得ることができる。さらに、探触子を滑らせながら強く押さえ付ける作業を不要とすることができ、現場の作業者の負担を大幅に低減できるという効果も得ることができる。 As described above, according to the first embodiment, by providing the stress concentration point on the protection plate of the vertical transverse wave probe, it is possible to obtain an effect that the time until the echo is stabilized is shortened. Furthermore, it is possible to eliminate the need to strongly press the probe while sliding it, and it is possible to obtain the effect of greatly reducing the burden on the worker on site.
1、1a、1b、1c 振動子、2 保護板、2a 突起(突起部)、3 ダンパー、4 ケース、10 垂直横波探触子(探触子)、20 試験体、30 接触媒質。
DESCRIPTION OF
Claims (3)
前記超音波横波探触子の前記試験体と接触する面には、保護板が装備されており、前記保護板は、応力集中点となる形状の突起部を複数個有しており、前記突起部から横波の超音波の送受信を行う
超音波横波探触子。 The test is performed by contacting the test object, causing the ultrasonic wave of the transverse wave driven by the electric signal to propagate through the test object, and converting the ultrasonic wave of the transverse wave propagated through the test object into an electric signal. An ultrasonic shear wave probe for ultrasonic testing of the body,
Wherein the surface in contact with the specimen of the ultrasonic transverse wave probe, the protection plate is equipped, the protective plate has a plurality of projections of the shape which is the stress concentration point, the protrusion Ultrasonic shear wave probe that transmits and receives shear wave ultrasonic waves from the head.
前記突起部は、1次元あるいは2次元の配列として形成されている超音波横波探触子。 The ultrasonic shear wave probe according to claim 1,
The projection is an ultrasonic transverse wave probe formed as a one-dimensional or two-dimensional array.
前記超音波横波探触子は、アレイ探触子であり、
前記突起部は、複数の1次元配列として形成され、かつ、各配列の方向が横波の振動方向に対して垂直な方向を有するように形成されている超音波横波探触子。 The ultrasonic shear wave probe according to claim 1,
The ultrasonic shear wave probe is an array probe;
The ultrasonic transverse wave probe is formed such that the protrusions are formed as a plurality of one-dimensional arrays, and the direction of each array has a direction perpendicular to the vibration direction of the transverse waves.
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