JP5933199B2 - X線検査装置 - Google Patents
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Description
前記被検査体が複数混在して取得された前記X線透過画像の前記X線濃度データに画像処理を施して該X線透過画像を複数の塊に分離し、各塊に対しそれぞれ得られる検出すべき特定の異種物の立体形状の特徴を示す立体形状指数に基づいて前記特定の異種物の混入の有無を判別する信号処理部6を備えたことを特徴とする。
前記信号処理部6は、分散値フィルタを用いて得られる特定標準偏差画像において隣接する有値の画素からなる塊のうち、所定範囲内または所定閾値以上の塊の面積を前記立体形状指数とし、この立体形状指数が所定の大きさ以上であるときに、前記被検査体Wに特定の異種物Waが混入していると判別することを特徴とする。
前記信号処理部6は、前記X線透過画像上の各被検査体Wを各塊に分離し、分離された前記塊の輪郭長の3乗と前記塊の輪郭内の濃度を合計した値との比を前記立体形状指数とし、この立体形状指数の大きさが所定範囲内であるときに、前記被検査体に特定の異種物Waが混入していると判別することを特徴とする。
2 搬送部
3 X線発生部
4 X線検出部
5 操作部
6 信号処理部
7 表示装置
11 画像記憶手段(データメモリ)
12 画像処理手段
12a,12g X線透過画像作成手段
12b,12h 平滑化画像作成手段
12c 立体形状特徴量抽出手段
12c1 標準偏差画像作成手段
12c2 特定標準偏差画像作成手段
12d 立体形状指数算出手段
12i 輪郭抽出手段
12i1 縮小画像作成手段
12i2 縮小輪郭画像作成手段
12j 立体形状指数算出手段
13 判別手段
13a 異種物判別手段
13b 異物判別手段
13c 良品判別手段
W 被検査体
Wa 異種物
Claims (3)
- バラ流しで搬送される被検査体(W)にX線を照射して得られるX線透過画像のX線濃度データに基づいて前記被検査体に混在する特定の異種物(Wa)を検出するX線検査装置(1)であって、
前記被検査体が複数混在して取得された前記X線透過画像の前記X線濃度データに画像処理を施して該X線透過画像を複数の塊に分離し、各塊に対しそれぞれ得られる検出すべき特定の異種物の立体形状の特徴を示す立体形状指数に基づいて前記特定の異種物の混入の有無を判別する信号処理部(6)を備えたことを特徴とするX線検査装置。 - 前記信号処理部(6)は、分散値フィルタを用いて得られる特定標準偏差画像において隣接する有値の画素からなる塊のうち、所定範囲内または所定閾値以上の塊の面積を前記立体形状指数とし、この立体形状指数が所定の大きさ以上であるときに、前記被検査体(W)に特定の異種物(Wa)が混入していると判別することを特徴とする請求項1記載のX線検査装置。
- 前記信号処理部(6)は、前記X線透過画像上の各被検査体(W)を各塊に分離し、分離された前記塊の輪郭長の3乗と前記塊の輪郭内の濃度を合計した値との比を前記立体形状指数とし、この立体形状指数の大きさが所定範囲内であるときに、前記被検査体に特定の異種物(Wa)が混入していると判別することを特徴とする請求項1記載のX線検査装置。
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| JP2011150957A JP5933199B2 (ja) | 2011-07-07 | 2011-07-07 | X線検査装置 |
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