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JP5950777B2 - Terminal and board connector connection structure - Google Patents
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JP5950777B2 - Terminal and board connector connection structure - Google Patents

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Description

本発明は、端子および基板用コネクタの接続構造に関する。 The present invention relates to a connection structure for a terminal and a board connector .

従来、基板に貫通して形成された円形のスルーホールに挿入される端子として、例えば下記特許文献1に記載のものが知られている。この端子は、断面正方形状の線材を母材として表面処理を施した後、一定の長さに切り出してプレス加工することによって形成されている。端子をスルーホールに挿入して半田付けを行う場合、端子の断面における角部がスルーホールの内壁に最も接近することになるため、端子の断面形状に合わせてスルーホールの孔径が決定されることになる。一方、端子の断面における各辺の中央部では、スルーホールの内壁までの距離が最も長くなるため、半田の量が多くなってしまう。ここで、フロー半田によって半田付けを行う場合には、溶融半田槽からスルーホール内部に半田を吸い上げて半田付けを行うことができるため、必要とされる半田の量が多くなっても端子間ピッチを小さくすることは可能である。   Conventionally, as a terminal inserted into a circular through hole formed so as to penetrate through a substrate, for example, one described in Patent Document 1 below is known. This terminal is formed by performing surface treatment using a wire having a square cross-section as a base material, and then cutting out to a certain length and pressing. When soldering by inserting a terminal into a through hole, the corner of the terminal cross section is closest to the inner wall of the through hole, so the hole diameter of the through hole is determined according to the cross sectional shape of the terminal. become. On the other hand, since the distance to the inner wall of the through hole is the longest at the center of each side in the cross section of the terminal, the amount of solder increases. Here, when soldering by flow soldering, it is possible to perform soldering by sucking up solder from the molten solder tank into the through hole, so even if the amount of required solder increases, the pitch between terminals Can be reduced.

特開2010−277889号公報JP 2010-277889 A

しかしながら、基板の表面に半田ペーストを印刷してからリフロー炉に通して半田付けを行うリフロー半田の場合には、スルーホール内部に流れ込む半田の量を加味した上でスルーホールのランドよりも広い範囲に半田ペーストを印刷する必要があり、各半田ペーストが重ならないようにスルーホール間ピッチを設定しなければならない。したがって、端子間ピッチを小さくするには、半田の量をできるだけ少なくして、各半田ペーストの印刷範囲をできるだけ小さくすることが必要とされる。   However, in the case of reflow soldering in which solder paste is printed on the surface of the board and then soldered through a reflow furnace, the range wider than the land of the through hole, taking into account the amount of solder flowing into the through hole It is necessary to print the solder paste, and the pitch between the through holes must be set so that the solder pastes do not overlap. Therefore, in order to reduce the pitch between terminals, it is necessary to reduce the amount of solder as much as possible and to reduce the printing range of each solder paste as much as possible.

本発明は上記のような事情に基づいて完成されたものであって、リフロー半田において接続に必要とされる半田の量を少なくして各半田ペーストの印刷範囲を小さくし、もって端子間ピッチを小さくすることを目的とする。   The present invention has been completed based on the above circumstances, and the amount of solder required for connection in reflow soldering is reduced to reduce the printing range of each solder paste, thereby reducing the pitch between terminals. The purpose is to make it smaller.

本発明は、基板に形成されたスルーホールに挿入されて半田で接続される端子であって、当該端子は断面多角形状をなすとともに、水平方向に延びて平行に配された一対の面を有しており、この一対の面の水平方向両側縁にそれぞれ一対のテーパ面が連続して形成されており、一対の面の水平方向の寸法をL1とし、テーパ面の水平方向の寸法をL2とし、L3=L2+L1+L2とし、スルーホール径と端子の外径との差が一定であり、L2/L3を面取り比率Rと定義したときに、面取り比率Rは、0.30以上0.35以下であることが好ましい。
また、本発明は、複数のスルーホールが基板上に同じピッチで直線状に並んで配され、スルーホールに接続される複数の端子と複数の端子が保持されたハウジングとを有し、複数の端子がハウジングにおいて直線状に並んで配された基板用コネクタの接続構造であって、端子はスルーホールに挿入され半田でスルーホールに電気的に接続され、当該端子は断面角形状をなすとともに、相手側端子が導通可能に接続される端子接続部と、スルーホールに半田で接続される基板接続部とを備え、端子接続部は、水平方向に延びて平行に配された一対の接触面であって相手側端子と接触する一対の接触面を有しており、この一対の接触面の水平方向両側縁にそれぞれ一対のテーパ面が連続して形成されており、一対の接触面の水平方向の寸法をL1とし、テーパ面の水平方向の寸法をL2とし、L3=L2+L1+L2とし、L2/L3を面取り比率Rと定義したときに、面取り比率Rは、0.23以上0.43以下であることが好ましい。
The present invention is a terminal that is inserted into a through-hole formed in a substrate and connected by solder, the terminal having a polygonal cross section, and having a pair of surfaces that extend in the horizontal direction and are arranged in parallel. and which has each of the pair of tapered surfaces in the horizontal direction both side edges of the pair of surfaces are formed continuously, the horizontal dimensions of the pair of surfaces and L1, the horizontal dimensions of the tapered surface and L2 , L3 = L2 + L1 + L2, the difference between the through hole diameter and the outer diameter of the terminal is constant , and when L2 / L3 is defined as the chamfering ratio R, the chamfering ratio R is 0.30 or more and 0.35 or less. It is preferable.
The present invention also includes a plurality of through holes arranged in a straight line on the substrate at the same pitch, a plurality of terminals connected to the through holes, and a housing holding the plurality of terminals. terminal a connection structure of a circuit board connector disposed aligned linearly in the housing, the terminals are electrically connected to the through hole by soldering are inserted into the through holes, together with the pin forms a cross-sectional multi-angle shape A pair of contact surfaces that extend in the horizontal direction and are arranged in parallel to each other, and a terminal connection portion to which the counterpart terminal is connected to be conductive and a substrate connection portion that is connected to the through hole by solder. in a and has a pair of contact surfaces for contacting a mating terminal, horizontal in the horizontal respectively in directions opposite side edges and a pair of tapered surfaces are formed continuously, a pair of contact surfaces of the pair of contact surfaces Direction dimension is L And then, the horizontal dimensions of the tapered surface and L2, and L3 = L2 + L1 + L2, when defining the L2 / L3 chamfered ratio R, chamfering ratio R is preferably 0.23 or more 0.43 or less.

本発明の効果を図10のグラフを参照しながら説明する。図10においては、端子の水平方向の寸法L3を0.650mmとし、スルーホール径と端子の最大寸法との差が0.089mmとなるように設定してある。また、図10のX軸の面取り寸法とは、本発明の「C面の水平方向の寸法L2」に相当する。また、Y軸のはんだ量とは、リフロー半田において必要とされる半田ペーストの量である。さらに、R付けとは、角部にR面を形成した断面形状の端子のことであり、C面とは、角部にC面を形成した断面8角形状の端子のことであり、6角形とは、角部にテーパ面を形成した断面六角形状の端子のことである。   The effect of the present invention will be described with reference to the graph of FIG. In FIG. 10, the horizontal dimension L3 of the terminal is set to 0.650 mm, and the difference between the through hole diameter and the maximum dimension of the terminal is set to 0.089 mm. Further, the chamfer dimension of the X axis in FIG. 10 corresponds to the “horizontal dimension L2 of the C plane” of the present invention. The Y-axis solder amount is the amount of solder paste required for reflow soldering. Furthermore, R-attachment is a terminal having a cross-sectional shape in which an R surface is formed at a corner, and the C surface is a terminal having an octagonal cross-section in which a C surface is formed at a corner. Is a terminal having a hexagonal cross section in which a tapered surface is formed at a corner.

図10において面取り比率Rが0.23の場合(L2=R×0.65より)、面取り寸法は0.150mmとなる。また、面取り比率Rが0.43の場合、面取り寸法は0.275mmとなる。つまり、面取り寸法が0.150mm以上0.275mm以下の範囲においては、6角形よりもC面のほうが半田ペーストの量を少なくできることになる。   In FIG. 10, when the chamfer ratio R is 0.23 (from L2 = R × 0.65), the chamfer dimension is 0.150 mm. Further, when the chamfer ratio R is 0.43, the chamfer dimension is 0.275 mm. That is, in the range where the chamfer dimension is 0.150 mm or more and 0.275 mm or less, the amount of solder paste can be reduced on the C surface than on the hexagon.

また、面取り比率Rは、0.30以上0.35以下であることがさらに好ましい。面取り比率Rが0.30の場合、面取り寸法は0.200mmとなる。また、面取り比率Rが0.35の場合、面取り寸法は0.225mmとなる。つまり、面取り寸法が0.200mm以上0.225mm以下の範囲においては、R付けよりもC面のほうが半田ペーストの量を少なくできることになる。   Further, the chamfer ratio R is more preferably 0.30 or more and 0.35 or less. When the chamfer ratio R is 0.30, the chamfer dimension is 0.200 mm. Further, when the chamfer ratio R is 0.35, the chamfer dimension is 0.225 mm. That is, in the range where the chamfer dimension is 0.200 mm or more and 0.225 mm or less, the amount of solder paste can be reduced on the C surface rather than on the R surface.

本発明によれば、リフロー半田において接続に必要とされる半田の量を少なくして各半田ペーストの印刷範囲を小さくし、もって端子間ピッチを小さくすることができる。   According to the present invention, it is possible to reduce the printing range of each solder paste by reducing the amount of solder required for connection in reflow soldering, thereby reducing the pitch between terminals.

実施形態における基板用コネクタの正面図Front view of board connector in the embodiment 基板用コネクタの左側面図Left side view of board connector 基板用コネクタの底面図Bottom view of board connector 端子をスルーホールに挿入する前の状態を示す断面図Sectional view showing the state before inserting the terminal into the through hole 端子をスルーホールに挿入した後の状態を示す断面図Sectional view showing the state after inserting the terminal into the through hole リフロー後に端子とスルーホールの接続部分を縦方向に切断した断面図Sectional view of the terminal and through-hole connection section cut in the vertical direction after reflow 面取り寸法が0.200mmのC面端子の各寸法を示した断面図Sectional drawing showing dimensions of C-plane terminal with chamfer dimension of 0.200mm R寸法が0.200mmのR付け端子の各寸法を示した断面図Sectional drawing showing each dimension of R-attached terminal with R dimension of 0.200mm 面取り寸法が0.200mmの6角形端子の各寸法を示した断面図Sectional drawing showing dimensions of hexagonal terminal with chamfer dimension of 0.200mm R及び面取り寸法とはんだ量との関係を示したグラフGraph showing the relationship between R and chamfer dimensions and solder amount 面取り寸法が0.100mmのC面端子とスルーホールとの接続状態を示した断面図Sectional drawing which shows the connection state of C surface terminal and chamfering dimension of 0.100mm 面取り寸法が0.150mmのC面端子とスルーホールとの接続状態を示した断面図Sectional drawing which showed the connection state of the C surface terminal with a chamfer dimension of 0.150 mm and a through hole 面取り寸法が0.200mmのC面端子とスルーホールとの接続状態を示した断面図Sectional drawing which shows the connection state of C surface terminal and chamfering dimension of 0.200mm 面取り寸法が0.250mmのC面端子とスルーホールとの接続状態を示した断面図Sectional drawing which showed the connection state of the C surface terminal of chamfering dimension 0.250mm, and a through hole 面取り寸法が0.275mmのC面端子とスルーホールとの接続状態を示した断面図Sectional drawing which showed the connection state of the C surface terminal of chamfering dimension 0.275mm, and a through hole

<実施形態>
本発明の実施形態を図1ないし図15の図面を参照しながら説明する。本実施形態におけるコネクタは、図1に示すように、基板B上に取り付けられる基板用コネクタであって、合成樹脂製のハウジング50と、ハウジング50に保持された複数の端子10とを備えて構成されている。ハウジング50は、前方に開口するフード部51を有しており、このフード部51の奥壁52から前方に突出する態様で複数の端子10が上下方向および左右方向に並んで配されている。フード部51の内部には、相手側コネクタ(図示せず)が嵌合可能とされている。
<Embodiment>
An embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings of FIGS. As shown in FIG. 1, the connector in the present embodiment is a board connector that is mounted on a board B, and includes a housing 50 made of synthetic resin and a plurality of terminals 10 held by the housing 50. Has been. The housing 50 has a hood portion 51 that opens forward, and a plurality of terminals 10 are arranged side by side in the vertical direction and the left-right direction so as to protrude forward from the back wall 52 of the hood portion 51. A mating connector (not shown) can be fitted inside the hood portion 51.

端子10は、銅または銅合金からなる線材を母材として錫めっきなどの表面処理を施した後、一定の長さで切り出してプレス加工などを行うことによって形成されている。この端子10は、フード部51の奥壁52から前方に突出した端子接続部11と、フード部51の奥壁52から下方に突出した基板接続部12とを備えている。フード部51の内部に相手側コネクタを嵌合させると、相手側コネクタに設けられた相手側端子が端子接続部11と導通可能に接続される。   The terminal 10 is formed by performing a surface treatment such as tin plating using a wire made of copper or a copper alloy as a base material, and then cutting out the substrate with a certain length and performing a pressing process or the like. The terminal 10 includes a terminal connection portion 11 that protrudes forward from the back wall 52 of the hood portion 51, and a board connection portion 12 that protrudes downward from the back wall 52 of the hood portion 51. When the mating connector is fitted inside the hood 51, the mating terminal provided on the mating connector is connected to the terminal connection portion 11 so as to be conductive.

相手側端子は、図示はしないものの、角筒状をなす箱部を有し、この箱部の内部に、片持ち状をなす弾性接触片が形成されている。箱部の内部に端子10が嵌合すると、端子10が弾性接触片とこれに対向して配された天井壁との間に挟持されるようになっている。端子10の端子接続部11は、弾性接触片に接触する下側接触面13と、天井壁に接触する上側接触面14とを備えており、上下両側接触面13,14は平行をなすように配されている。なお、端子10は、同一の線材から形成されているため、端子接続部11のみならず、基板接続部12も、上下両側接触面13,14を備えており、基板接続部12の先端部15は先細り状に形成されている。   Although not illustrated, the mating terminal has a box portion having a rectangular tube shape, and an elastic contact piece having a cantilever shape is formed inside the box portion. When the terminal 10 is fitted inside the box portion, the terminal 10 is sandwiched between the elastic contact piece and the ceiling wall disposed facing the elastic contact piece. The terminal connection portion 11 of the terminal 10 includes a lower contact surface 13 that contacts the elastic contact piece and an upper contact surface 14 that contacts the ceiling wall, so that the upper and lower contact surfaces 13 and 14 are parallel to each other. It is arranged. In addition, since the terminal 10 is formed from the same wire, not only the terminal connection part 11 but also the board connection part 12 includes upper and lower side contact surfaces 13 and 14, and the tip part 15 of the board connection part 12. Is formed in a tapered shape.

次に、リフローによって基板接続部12をスルーホールB1に半田B2で接続する方法について説明する。まず、基板Bを印刷機の基板テーブル上に載置し、基板Bを固定した後、スルーホールB1の位置に丸孔が形成されたマスクを基板B上に密着させる。そして、スキージをマスクに押し当てて動かすことによって丸孔に半田ペーストを埋め込み、スルーホールB1上に半田ペーストが印刷される。半田ペーストB3は、図4に示すように、スルーホールB1のランドよりも広い範囲で印刷されており、基板接続部12をスルーホールB1に挿入すると、図5に示すように、半田ペーストB3の一部がスルーホールB1の内部に押し込まれる。続いて、基板Bをリフロー炉に通して加熱を行うと、図6に示すように、半田B2が形成され、スルーホールB1の上下両側のランド部分にフィレットが形成される。   Next, a method for connecting the substrate connecting portion 12 to the through hole B1 by solder B2 by reflow will be described. First, the substrate B is placed on the substrate table of the printing machine, and after fixing the substrate B, a mask in which a round hole is formed at the position of the through hole B1 is brought into close contact with the substrate B. Then, by pressing and moving the squeegee against the mask, the solder paste is embedded in the round hole, and the solder paste is printed on the through hole B1. As shown in FIG. 4, the solder paste B3 is printed in a range wider than the land of the through hole B1, and when the board connecting portion 12 is inserted into the through hole B1, the solder paste B3 is formed as shown in FIG. A part is pushed into the through hole B1. Subsequently, when the substrate B is heated through a reflow furnace, as shown in FIG. 6, solder B2 is formed, and fillets are formed in the land portions on the upper and lower sides of the through hole B1.

さて、本実施形態の端子10は、図11ないし図15に示すように、断面八角形状をなしている。端子10の基板接続部12は、基板Bに貫通して形成されたスルーホールB1に挿入されて半田B2で接続されている。一方、端子接続部11においては、相手側端子の弾性接触片の撓み量が一定となるように、上下両側接触面13,14間の寸法が一定となるように形成する必要がある。また、スルーホールB1の内径は、基板接続部12の角部がスルーホールB1の内壁に接触しないように、端子10の外径よりも大きめに形成しなければならない。   Now, the terminal 10 of this embodiment has an octagonal cross section as shown in FIGS. The board connecting portion 12 of the terminal 10 is inserted into a through hole B1 formed through the board B and connected by solder B2. On the other hand, in the terminal connection part 11, it is necessary to form so that the dimension between the upper and lower contact surfaces 13 and 14 may become constant so that the bending amount of the elastic contact piece of the other party terminal may become constant. Further, the inner diameter of the through hole B1 must be formed larger than the outer diameter of the terminal 10 so that the corner portion of the board connecting portion 12 does not contact the inner wall of the through hole B1.

そこで、本実施形態では、基板接続部12の角部とスルーホールB1の内壁との間に形成される最小クリアランスが0.089mmで、かつ、上下両側接触面13,14間の寸法(端子10の厚さ)が0.640±0.010mmという前提条件の下、いかなる端子形状であれば半田量が最も少なくなるかについて端子形状の最適化を行った。   Therefore, in the present embodiment, the minimum clearance formed between the corner portion of the substrate connecting portion 12 and the inner wall of the through hole B1 is 0.089 mm, and the dimension between the upper and lower contact surfaces 13 and 14 (terminal 10). Under the precondition that the thickness of the terminal is 0.640 ± 0.010 mm, the terminal shape was optimized as to which terminal shape would minimize the amount of solder.

まず、端子の断面形状における各寸法について図7ないし図9を参照しながら説明する。図7の端子は、角部にC面を形成した断面八角形状の端子であり、以下においては、C面端子20という。図7ないし図9では図示左右方向が水平方向とされている。C面端子20は、水平方向に延びて平行に配された一対の接触面21を有している。図8の端子は、角部にR面を形成した断面形状の端子であり、以下においては、R付け端子30という。R付け端子30は、水平方向に延びて平行に配された一対の接触面31を有している。図9の端子は、角部にテーパ面を形成した断面六角形状の端子であり、以下においては、6角形端子40という。6角形端子40は、水平方向に延びて平行に配された一対の接触面41を有している。   First, each dimension in the cross-sectional shape of the terminal will be described with reference to FIGS. The terminal in FIG. 7 is a terminal having an octagonal cross section in which a C surface is formed at a corner, and is hereinafter referred to as a C surface terminal 20. 7 to 9, the horizontal direction is the horizontal direction. The C-plane terminal 20 has a pair of contact surfaces 21 extending in the horizontal direction and arranged in parallel. The terminal in FIG. 8 is a terminal having a cross-sectional shape in which an R surface is formed at a corner, and is hereinafter referred to as an R-attached terminal 30. The R-attached terminal 30 has a pair of contact surfaces 31 extending in the horizontal direction and arranged in parallel. The terminal of FIG. 9 is a terminal having a hexagonal cross section in which a tapered surface is formed at a corner, and is hereinafter referred to as a hexagonal terminal 40. The hexagonal terminal 40 has a pair of contact surfaces 41 extending in the horizontal direction and arranged in parallel.

図7のL1は、C面端子20の接触面21の水平方向における寸法であり、以下においては、接触面寸法L1という。C面端子20の水平方向両側縁には、一対のC面22が連続して形成されている。両C面22は、接触面21に対して45°の傾斜角度で左右対称に形成されている。L2は、C面22の水平方向における寸法であり、以下においては、面取り寸法L2という。この面取り寸法L2は、表1におけるC面処理のC0.025〜C0.325に相当する。したがって、例えば表1のC0.025とは、面取り寸法L2が0.025mmであることを意味している。CLは、スルーホール径DTHとC面端子20の外径DTERとの差を2で除したものであり、表1における最小クリアランスに相当する。また、L4は、一対の接触面21,21間の寸法であって、表1における端子の厚さに相当する。一方、L3は、L3=L2+L1+L2の式で算出される寸法であって、表1における端子の幅に相当する。 L1 in FIG. 7 is a dimension in the horizontal direction of the contact surface 21 of the C-plane terminal 20, and is hereinafter referred to as a contact surface dimension L1. A pair of C-surfaces 22 are continuously formed on both side edges of the C-surface terminal 20 in the horizontal direction. Both C surfaces 22 are formed symmetrically with respect to the contact surface 21 at an inclination angle of 45 °. L2 is a dimension in the horizontal direction of the C surface 22, and is hereinafter referred to as a chamfer dimension L2. The chamfer dimension L2 corresponds to C0.025 to C0.325 of C surface treatment in Table 1. Therefore, for example, C0.025 in Table 1 means that the chamfer dimension L2 is 0.025 mm. CL, which has a difference between the outer diameter D TER of the through hole diameter D TH and C face terminal 20 divided by 2, which corresponds to the minimum clearance in Table 1. L4 is a dimension between the pair of contact surfaces 21 and 21, and corresponds to the thickness of the terminal in Table 1. On the other hand, L3 is a dimension calculated by the equation L3 = L2 + L1 + L2, and corresponds to the terminal width in Table 1.

図11に示すC面端子20は面取り寸法L2を0.100mmとしたものであり、表1に示すように、このときの半田の量は0.472mmである。図12に示すC面端子20は面取り寸法を0.150mmとしたものであり、このときの半田の量は0.396mmである。図13に示すC面端子20は面取り寸法を0.200mmとしたものであり、このときの半田の量は0.362mmである。図14に示すC面端子20は面取り寸法L2を0.250mmとしたものであり、このときの半田の量は0.371mmである。図15に示すC面端子20は面取り寸法L2を0.275mmとしたものであり、このときの半田の量は0.392mmである。 The C-plane terminal 20 shown in FIG. 11 has a chamfer dimension L2 of 0.100 mm. As shown in Table 1, the amount of solder at this time is 0.472 mm 3 . The C-plane terminal 20 shown in FIG. 12 has a chamfer dimension of 0.150 mm, and the amount of solder at this time is 0.396 mm 3 . The C-plane terminal 20 shown in FIG. 13 has a chamfer dimension of 0.200 mm, and the amount of solder at this time is 0.362 mm 3 . The C surface terminal 20 shown in FIG. 14 has a chamfer dimension L2 of 0.250 mm, and the amount of solder at this time is 0.371 mm 3 . The C-surface terminal 20 shown in FIG. 15 has a chamfer dimension L2 of 0.275 mm, and the amount of solder at this time is 0.392 mm 3 .

図11ないし図15のC面端子20を見ればわかるように、面取り寸法L2を0.200mm〜0.250mmに設定すると、断面形状が方形から真円に近づくため、半田の量が少なくなっていくことがわかる。しかしながら、面取り寸法L2を大きくしすぎると、接触面寸法L1が小さくなるため、接触抵抗の増加に配慮しなければならない。   As can be seen from the C-plane terminal 20 of FIGS. 11 to 15, when the chamfer dimension L2 is set to 0.200 mm to 0.250 mm, the cross-sectional shape approaches a perfect circle from a square, so the amount of solder decreases. I can see it going. However, if the chamfering dimension L2 is excessively increased, the contact surface dimension L1 is decreased, so that an increase in contact resistance must be considered.

図8のL1は、R付け端子30の接触面31の水平方向における寸法であり、以下においては、接触面寸法L1という。R付け端子30の水平方向両側縁には、一対のR面32が形成されている。両R面32は、左右対称に形成されている。L2は、R面32の水平方向における寸法であり、以下においては、面取り寸法L2という。この面取り寸法L2は、表2におけるR処理のR0.025〜R0.32に相当する。したがって、例えば表2のR0.025とは、面取り寸法L2が0.025mmであることを意味している。CLは、スルーホール径DTHとR付け端子30の外径DTERとの差を2で除したものであり、表2における最小クリアランスに相当する。また、L4は、一対の接触面31,31間の寸法であって、表2における端子の厚さに相当する。一方、L3は、L3=L2+L1+L2の式で算出される寸法であって、表2における端子の幅に相当する。 L1 in FIG. 8 is a dimension in the horizontal direction of the contact surface 31 of the R-attached terminal 30, and is hereinafter referred to as a contact surface dimension L1. A pair of R surfaces 32 are formed on both side edges of the R-attached terminal 30 in the horizontal direction. Both R surfaces 32 are formed symmetrically. L2 is a dimension in the horizontal direction of the R surface 32, and is hereinafter referred to as a chamfer dimension L2. This chamfer dimension L2 corresponds to R0.025 to R0.32 of R treatment in Table 2. Therefore, for example, R0.025 in Table 2 means that the chamfer dimension L2 is 0.025 mm. CL, which has a difference between the outer diameter D TER of the through hole diameter D TH and R with the terminal 30 is divided by 2, which corresponds to the minimum clearance in Table 2. L4 is a dimension between the pair of contact surfaces 31, 31 and corresponds to the thickness of the terminal in Table 2. On the other hand, L3 is a dimension calculated by the equation L3 = L2 + L1 + L2, and corresponds to the terminal width in Table 2.

図9のL1は、6角形端子40の接触面41の水平方向における寸法であり、以下においては、接触面寸法L1という。6角形端子40の水平方向両側縁には、一対のテーパ面42が形成されている。両テーパ面42は、8角形端子20のC面22よりも急斜面で左右対称に形成されている。L2は、テーパ面42の水平方向における寸法であり、以下においては、面取り寸法L2という。この面取り寸法L2は、表3における六角形の0.025×0.3〜0.325×0.3に相当する。ここで、例えば0.025×0.3とは、面取り寸法L2が0.025mmで、かつ、テーパ面42の垂直方向における寸法が0.3mmであることを意味している。CLは、スルーホール径DTHと6角形端子40の外径DTERとの差を2で除したものであり、表3における最小クリアランスに相当する。また、L4は、一対の接触面41,41間の寸法であって、表3における端子の厚さに相当する。一方、L3は、L3=L2+L1+L2の式で算出される寸法であって、表3における端子の幅に相当する。

Figure 0005950777
Figure 0005950777
Figure 0005950777
図10は、面取り寸法を0mm以上0.325mm以下の範囲で変化させた場合における半田ペーストの量の推移を、C面端子20とR付け端子30と6角形端子40とについて比較したものである。また、図10のグラフの元データは、表4に記載したとおりである。表4の単位のうち面取り寸法はmmであり、他はmm2であり、表4においては単位を省略して記載してある。
Figure 0005950777
まず、C面端子20の傾向としては、面取り寸法L2が0.200mm以上0.225mm以下のときに、最も半田ペーストの量が少なくなることがわかる。また、6角形端子40の傾向としては、0.225mm以上0.275mm以下のときに、最も半田ペーストの量が少なくなることがわかる。一方、R付け端子30については、面取り寸法L2を大きくするほど半田ペーストの量が少なくなることがわかる。これは、R付け端子30の面取り寸法L2を大きくすれば大きくするほど、断面形状が真円形状に近づくためである。 L1 in FIG. 9 is a dimension in the horizontal direction of the contact surface 41 of the hexagonal terminal 40, and is hereinafter referred to as a contact surface dimension L1. A pair of tapered surfaces 42 are formed on both side edges of the hexagonal terminal 40 in the horizontal direction. Both the tapered surfaces 42 are formed to be bilaterally symmetrical with a steeper slope than the C surface 22 of the octagonal terminal 20. L2 is a dimension in the horizontal direction of the tapered surface 42, and is hereinafter referred to as a chamfer dimension L2. The chamfer dimension L2 corresponds to the hexagonal 0.025 × 0.3 to 0.325 × 0.3 in Table 3. Here, for example, 0.025 × 0.3 means that the chamfer dimension L2 is 0.025 mm and the dimension of the tapered surface 42 in the vertical direction is 0.3 mm. CL is the difference between the through-hole diameter DTH and the outer diameter DTER of the hexagonal terminal 40 divided by 2, and corresponds to the minimum clearance in Table 3. L4 is a dimension between the pair of contact surfaces 41 and 41, and corresponds to the thickness of the terminal in Table 3. On the other hand, L3 is a dimension calculated by the equation L3 = L2 + L1 + L2, and corresponds to the terminal width in Table 3.
Figure 0005950777
Figure 0005950777
Figure 0005950777
FIG. 10 compares the transition of the amount of solder paste when the chamfer dimension is changed in the range of 0 mm or more and 0.325 mm or less for the C-face terminal 20, the R-attached terminal 30, and the hexagonal terminal 40. . In addition, the original data of the graph of FIG. 10 is as described in Table 4. Of the units in Table 4, the chamfer dimension is mm, and the others are mm 2. In Table 4, the units are omitted.
Figure 0005950777
First, as a tendency of the C-plane terminal 20, it can be seen that when the chamfer dimension L2 is 0.200 mm or more and 0.225 mm or less, the amount of solder paste is the smallest. Further, as a tendency of the hexagonal terminal 40, it can be seen that the amount of the solder paste is the smallest when it is 0.225 mm or more and 0.275 mm or less. On the other hand, for the R-attached terminal 30, it can be seen that the amount of solder paste decreases as the chamfer dimension L2 increases. This is because the larger the chamfer dimension L2 of the R-attached terminal 30 is, the closer the cross-sectional shape is to a perfect circle shape.

しかしながら、面取り寸法L2を大きくすれば、相手側コネクタと嵌合する端子接続部11における接触面寸法L1がその分だけ小さくなることを意味するから、接触抵抗の増加を防ぐという観点からすると、面取り寸法L2ができるだけ小さいほうが好ましく、面取り寸法L2が小さいながらも半田ペーストの量を少なくできることが理想的と言える。そうすると、面取り寸法L2が小さい段階で半田ペーストの量をより少なくできるC面端子20が最も理想的であると言える。   However, if the chamfer dimension L2 is increased, it means that the contact surface dimension L1 in the terminal connection portion 11 fitted to the mating connector is reduced accordingly. Therefore, from the viewpoint of preventing an increase in contact resistance, the chamfering dimension L2 is reduced. The dimension L2 is preferably as small as possible, and it can be said that it is ideal that the amount of solder paste can be reduced while the chamfer dimension L2 is small. Then, it can be said that the C surface terminal 20 that can reduce the amount of the solder paste when the chamfer dimension L2 is small is most ideal.

C面端子20の面取り寸法L2が0.150mmのとき、半田ペーストの量が0.792mmであり、面取り寸法L2が0.275mmのとき、半田ペーストの量が0.783mmであり、面取り寸法L2が0.150mm以上0.275mm以下では、半田ペーストの量が0.800m以下に抑えられている。一方、6角形端子40の半田ペーストの量が最も少なくなるのは、面取り寸法L2が0.250mmのときであり、その量は0.813mmである。したがって、C面端子の面取り寸法L2を0.150mm以上0.275mm以下に設定しておけば、6角形端子40の半田ペーストの量よりも必ず少なくできることがわかる。 When the chamfer dimension L2 of the C surface terminal 20 is 0.150 mm, the amount of solder paste is 0.792 mm 3 , and when the chamfer dimension L2 is 0.275 mm, the amount of solder paste is 0.783 mm 3 , When the dimension L2 is 0.150 mm or more and 0.275 mm or less, the amount of solder paste is suppressed to 0.800 m 3 or less. On the other hand, the amount of the solder paste of the hexagonal terminal 40 is the smallest when the chamfer dimension L2 is 0.250 mm, and the amount is 0.813 mm 3 . Therefore, it can be seen that if the chamfer dimension L2 of the C-plane terminal is set to 0.150 mm or more and 0.275 mm or less, the amount of solder paste of the hexagonal terminal 40 can be surely reduced.

ここで、(面取り寸法L2)/(端子の幅L3)を面取り比率Rと定義する。また、端子の幅L3は、表1ないし表3に記載されているように、0.64mm±0.01mmとされており、その上限値である0.650mmをL3とした場合に、面取り比率Rは以下のように算出される。
<面取り寸法L2が0.150mmのとき>
面取り比率R=L2/L3=0.150/0.650=0.231
<面取り寸法L2が0.275mmのとき>
面取り比率R=L2/L3=0.275/0.650=0.423
したがって、面取り比率Rを0.23以上0.43以下に設定しておけば、面取り寸法L2が0.150mm以上0.275mm以下の範囲を必ず含むことになる。したがって、面取り比率Rを0.23以上0.43以下に設定しておけば、6角形端子40よりもC面端子20のほうが半田ペーストの量を少なくできる。
Here, (chamfer dimension L2) / (terminal width L3) is defined as a chamfer ratio R. Further, as described in Tables 1 to 3, the terminal width L3 is 0.64 mm ± 0.01 mm, and when the upper limit value of 0.650 mm is L3, the chamfer ratio is R is calculated as follows.
<When chamfer dimension L2 is 0.150 mm>
Chamfer ratio R = L2 / L3 = 0.150 / 0.650 = 0.231
<When chamfer dimension L2 is 0.275 mm>
Chamfer ratio R = L2 / L3 = 0.275 / 0.650 = 0.423
Therefore, if the chamfering ratio R is set to 0.23 or more and 0.43 or less, the chamfering dimension L2 necessarily includes the range of 0.150 mm or more and 0.275 mm or less. Therefore, if the chamfering ratio R is set to 0.23 or more and 0.43 or less, the amount of solder paste can be reduced in the C surface terminal 20 than in the hexagonal terminal 40.

さらに、C面端子20の面取り寸法L2が0.200mmのとき、半田ペーストの量が0.725mmであり、面取り寸法L2が0.225mmのとき、半田ペーストの量が0.725mmである。したがって、面取り寸法L2を0.200mm以上0.225mm以下に設定しておけば、C面端子20の半田ペーストの量をさらに少なくすることができる。面取り寸法L2が0.225mmのときにおけるR付け端子30の半田ペーストの量は0.769mmであることから、R付け端子30よりもC面端子20のほうが半田ペーストの量を少なくできる。面取り寸法L2が0.200mmと0.225mmのときにおける面取り比率Rは以下のようである。
<面取り寸法L2が0.200mmのとき>
面取り比率R=L2/L3=0.200/0.650=0.308
<面取り寸法L2が0.225mmのとき>
面取り比率R=L2/L3=0.225/0.650=0.346
したがって、面取り比率Rを0.30以上0.35以下に設定しておけば、面取り寸法L2が0.200mm以上0.225mm以下の範囲を必ず含むことになる。したがって、面取り比率Rを0.30以上0.35以下に設定しておけば、C面端子20の半田ペーストの量を最も少なくすることができ、R付け端子30よりも半田ペーストの量を少なくできる。
Furthermore, when the chamfer dimension L2 of the C-face terminal 20 is 0.200 mm, the amount of solder paste is 0.725 mm 3 , and when the chamfer dimension L2 is 0.225 mm, the amount of solder paste is 0.725 mm 3 . . Therefore, if the chamfer dimension L2 is set to 0.200 mm or more and 0.225 mm or less, the amount of solder paste for the C-plane terminal 20 can be further reduced. When the chamfer dimension L2 is 0.225 mm, the amount of solder paste on the R-attached terminal 30 is 0.769 mm 3 , so that the amount of solder paste on the C-face terminal 20 can be smaller than that on the R-attached terminal 30. The chamfer ratio R when the chamfer dimension L2 is 0.200 mm and 0.225 mm is as follows.
<When chamfer dimension L2 is 0.200 mm>
Chamfering ratio R = L2 / L3 = 0.200 / 0.650 = 0.308
<When chamfer dimension L2 is 0.225 mm>
Chamfer ratio R = L2 / L3 = 0.225 / 0.650 = 0.346
Therefore, if the chamfering ratio R is set to 0.30 or more and 0.35 or less, the chamfering dimension L2 necessarily includes the range of 0.200 mm or more and 0.225 mm or less. Therefore, if the chamfering ratio R is set to 0.30 or more and 0.35 or less, the amount of solder paste on the C-plane terminal 20 can be minimized, and the amount of solder paste can be less than that on the R-attached terminal 30. it can.

このようにして半田ペーストの量を少なくできると、スルーホール間ピッチを小さくすることができ、端子間ピッチを小さくすることができる。   If the amount of solder paste can be reduced in this way, the pitch between through holes can be reduced, and the pitch between terminals can be reduced.

<他の実施形態>
本発明は上記記述及び図面によって説明した実施形態に限定されるものではなく、例えば次のような実施形態も本発明の技術的範囲に含まれる。
(1)上記実施形態では最小クリアランスCLが0.089mmで端子の幅および厚さが0.64±0.01mmとなる場合を前提条件として半田ペーストの量を算出しているものの、本発明によると、最小クリアランスCLと端子の幅および厚さはこれらに限定されない。
<Other embodiments>
The present invention is not limited to the embodiments described with reference to the above description and drawings. For example, the following embodiments are also included in the technical scope of the present invention.
(1) In the above embodiment, the amount of solder paste is calculated on the precondition that the minimum clearance CL is 0.089 mm and the terminal width and thickness are 0.64 ± 0.01 mm. The minimum clearance CL and the width and thickness of the terminal are not limited to these.

10…端子
20…C面端子
21…接触面
22…C面
B…基板
B1…スルーホール
B2…半田
CL…最小クリアランス(スルーホール径と端子の外径との差)
TER…端子の外径
TH…スルーホール径
L1…接触面寸法(接触面の水平方向の寸法)
L2…面取り寸法(C面の水平方向の寸法)
L3…端子の幅(L2+L1+L2)
R…面取り比率
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... Terminal 20 ... C surface terminal 21 ... Contact surface 22 ... C surface B ... Board | substrate B1 ... Through-hole B2 ... Solder CL ... Minimum clearance (Difference with a through-hole diameter and a terminal outer diameter)
D TER ... outside diameter of terminal D TH ... through hole diameter L1 ... contact surface dimension (horizontal dimension of contact surface)
L2 ... Chamfer dimension (horizontal dimension of C surface)
L3 ... terminal width (L2 + L1 + L2)
R ... Chamfer ratio

Claims (2)

基板に形成されたスルーホールに挿入されて半田で接続される端子であって、
当該端子は断面多角形状をなすとともに、水平方向に延びて平行に配された一対の面を有しており、この一対の面の水平方向両側縁にそれぞれ一対のテーパ面が連続して形成されており、
前記一対の面の水平方向の寸法をL1とし、前記テーパ面の水平方向の寸法をL2とし、L3=L2+L1+L2とし、スルーホール径と前記端子の外径との差が一定であり
L2/L3を面取り比率Rと定義したときに、前記面取り比率Rは、0.30以上0.35以下であることを特徴とする端子。
A terminal that is inserted into a through hole formed in the substrate and connected by solder,
Together with the pin forms a polygonal section, has a pair of surfaces disposed in parallel and extending in a horizontal direction, a pair of tapered surfaces respectively formed continuously in the horizontal direction both side edges of the pair of surfaces And
The pair of the horizontal dimension of the surface and L1, the and the horizontal dimensions of the tapered surface L2, and L3 = L2 + L1 + L2, the difference between the outer diameter of the through hole diameter the terminals is constant,
A terminal characterized in that, when L2 / L3 is defined as a chamfer ratio R, the chamfer ratio R is 0.30 or more and 0.35 or less.
複数のスルーホールが基板上に同じピッチで直線状に並んで配され、前記スルーホールに接続される複数の端子と前記複数の端子が保持されたハウジングとを有し、前記複数の端子が前記ハウジングにおいて直線状に並んで配された基板用コネクタの接続構造であって、
前記端子は前記スルーホールに挿入され半田で前記スルーホールに電気的に接続され、
当該端子は断面角形状をなすとともに、相手側端子が導通可能に接続される端子接続部と、前記スルーホールに前記半田で接続される基板接続部とを備え、前記端子接続部は、水平方向に延びて平行に配された一対の接触面であって前記相手側端子と接触する一対の接触面を有しており、この一対の接触面の水平方向両側縁にそれぞれ一対のテーパ面が連続して形成されており、
前記一対の接触面の水平方向の寸法をL1とし、前記テーパ面の水平方向の寸法をL2とし、L3=L2+L1+L2とし、
L2/L3を面取り比率Rと定義したときに、前記面取り比率Rは、0.23以上0.43以下であることを特徴とする基板用コネクタの接続構造。
A plurality of through holes are arranged in a straight line on the substrate at the same pitch, and have a plurality of terminals connected to the through holes and a housing holding the plurality of terminals, and the plurality of terminals are A board connector connection structure arranged in a straight line in a housing,
The terminal is inserted into the through hole and electrically connected to the through hole with solder,
Together with the pin forms a cross-sectional multi-angle shape, includes a terminal connection portion which mating terminals are electrically conductively connected, and a board connecting portion which is the connection by soldering to the through hole, the terminal connecting portion, the horizontal A pair of contact surfaces that extend in the direction and are arranged in parallel and have a pair of contact surfaces that come into contact with the counterpart terminal, and a pair of tapered surfaces on each side edge in the horizontal direction of the pair of contact surfaces. Formed continuously,
The horizontal dimension of the pair of contact surfaces is L1, the horizontal dimension of the tapered surface is L2, and L3 = L2 + L1 + L2.
When L2 / L3 is defined as a chamfering ratio R, the chamfering ratio R is 0.23 or more and 0.43 or less.
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