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JP5990894B2 - Semiconductor module, semiconductor module manufacturing method, and card - Google Patents
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Description

本発明は、半導体モジュール、及び半導体モジュールの製造方法、並びに半導体モジュールを用いたカードに関する。   The present invention relates to a semiconductor module, a method for manufacturing a semiconductor module, and a card using the semiconductor module.

所定機器との間でデータのやり取りを行うIC(Integrated Circuit)カードが広く利用されている。このようなICカードとして、接触式や非接触式のICカードのほか、コンビネーションカード、デュアルインターフェース式ICカード、2Wayアクセスカード等と称される接触非接触兼用のカードが知られている。   An IC (Integrated Circuit) card for exchanging data with a predetermined device is widely used. As such an IC card, in addition to a contact type or non-contact type IC card, a contact / contact non-contact card called a combination card, a dual interface type IC card, a 2-way access card or the like is known.

例えば、接触非接触兼用ICカードに関し、樹脂封止された半導体素子(ICチップ)とそれに電気的に接続された端子(アンテナ接続用端子)を有する半導体モジュール(ICモジュール)を、アンテナを内蔵したカード基材と一体化した構造が知られている。ここで、ICモジュールは、カード基材に設けられた凹部に、接着シートで接着されて収容される。カード基材の凹部には、アンテナがその端部を露出させて設けられ、そのアンテナの露出部とICモジュールのアンテナ接続用端子とが、ペースト状の導電性接着剤等を用いて電気的に接続される。   For example, for a contact non-contact IC card, a semiconductor module (IC module) having a resin-encapsulated semiconductor element (IC chip) and a terminal (antenna connection terminal) electrically connected thereto is incorporated with an antenna. A structure integrated with a card substrate is known. Here, the IC module is accommodated and accommodated in an indentation provided in the card substrate with an adhesive sheet. The antenna is provided in the concave portion of the card base with its end exposed, and the exposed portion of the antenna and the antenna connection terminal of the IC module are electrically connected using a paste-like conductive adhesive or the like. Connected.

特開2008−176549号公報JP 2008-176549 A 特開2002−123808号公報JP 2002-123808 A

上記の接触非接触兼用ICカードのように、ICモジュールのアンテナ接続用端子とカード基材のアンテナとを、流動性を示す導電部材を用いて接続するものでは、ICカード製造時にその導電部材がアンテナ接続用端子の外側に流出してしまう場合がある。このように流出した導電部材が、更にカード基材の表面等にまで流出すると、ICカードの外観が損なわれてしまう。このような外観不良が生じると、ICカード製造の歩留まりが低下してしまう。   As in the case of the above contactless / non-contact IC card, the IC module antenna connection terminal and the card base antenna are connected using a conductive member exhibiting fluidity. It may flow out of the antenna connection terminal. If the conductive member that has flowed out in this way further flows out to the surface of the card substrate, the appearance of the IC card is impaired. When such an appearance defect occurs, the yield of IC card manufacturing decreases.

このような外観不良の発生、歩留まりの低下は、接触非接触兼用ICカードに限らず、非接触専用ICカードでも、そのICモジュールのアンテナ接続用端子とカード基材のアンテナとを流動性を示す導電部材を用いて接続する場合には、同様に起こり得る。   Such appearance defects and yield reductions are not limited to contact / non-contact IC cards, and even non-contact IC cards exhibit fluidity between the IC module antenna connection terminals and the card base antenna. The same can occur when connecting using a conductive member.

本発明の一観点によれば、基板と、前記基板の一面側に設けられた半導体素子と、前記一面に設けられ、前記半導体素子に電気的に接続されたボンディング端子と、前記一面に設けられ、前記ボンディング端子に電気的に接続され、平面視で前記半導体素子及び前記ボンディング端子の外側に位置するアンテナ接続用端子と、前記半導体素子及び前記ボンディング端子を覆う封止部と、前記封止部の外側に位置する前記アンテナ接続用端子の縁部に沿って設けられ、前記縁部よりも内側の領域を囲む枠部とを有し、前記枠部の上面が、前記封止部の上面よりも低い位置にあり、且つ、前記アンテナ接続用端子の上面よりも高い位置にある封止樹脂部とを含む半導体モジュールが提供される。 According to one aspect of the present invention, a substrate, a semiconductor element provided on one surface side of the substrate, a bonding terminal provided on the one surface and electrically connected to the semiconductor element, and provided on the one surface. the electrically connected to the bonding terminal, and an antenna connection terminal, located outside the semiconductor element and the bonding terminals in plan view, and a sealing portion for covering the semiconductor element and the bonding terminal, the sealing portion wherein provided along the edge of the antenna connection terminal, said edge portion and a enclose the frame section area inside the upper surface of the frame portion, an upper surface of the sealing portion positioned outside the There is provided a semiconductor module including a sealing resin portion located at a lower position than the upper surface of the antenna connection terminal.

また、本発明の一観点によれば、ボンディング端子、及び前記ボンディング端子に電気的に接続され、平面視で前記ボンディング端子の外側に位置するアンテナ接続用端子を有する基板の、前記ボンディング端子及び前記アンテナ接続用端子が設けられた面側に、半導体素子を設ける工程と、設けられた前記半導体素子を前記ボンディング端子に電気的に接続する工程と、前記ボンディング端子に電気的に接続された前記半導体素子及び前記ボンディング端子を覆う封止部と、前記封止部の外側に位置する前記アンテナ接続用端子の縁部に沿って設けられ、前記縁部よりも内側の領域を囲む枠部とを有し、前記枠部の上面が、前記封止部の上面よりも低い位置にあり、且つ、前記アンテナ接続用端子の上面よりも高い位置にある封止樹脂部を形成する工程とを含む半導体モジュールの製造方法が提供される。 According to another aspect of the present invention, a bonding terminal and a substrate having an antenna connection terminal electrically connected to the bonding terminal and positioned outside the bonding terminal in plan view, A step of providing a semiconductor element on a surface side provided with an antenna connection terminal; a step of electrically connecting the provided semiconductor element to the bonding terminal; and the semiconductor electrically connected to the bonding terminal A sealing portion that covers the element and the bonding terminal; and a frame portion that is provided along an edge of the antenna connection terminal located outside the sealing portion and surrounds a region inside the edge. and, an upper surface of the frame portion is located at a position lower than the upper surface of the sealing portion, and the sealing resin portion in a position higher than the upper surface of the antenna connection terminal The method of manufacturing a semiconductor module and a step of forming is provided.

また、本発明の一観点によれば、アンテナを備えるカード基材と、前記カード基材に搭載され、前記アンテナに電気的に接続された半導体モジュールとを備え、前記半導体モジュールは、基板と、前記基板の一面側に設けられた半導体素子と、前記一面に設けられ、前記半導体素子に電気的に接続されたボンディング端子と、前記一面に設けられ、前記ボンディング端子に電気的に接続されたアンテナ接続用端子と、前記半導体素子及び前記ボンディング端子を覆う封止部と、前記アンテナ接続用端子の少なくとも一部を囲む枠部とを有し、前記枠部の上面が、前記封止部の上面よりも低い位置にあり、且つ、前記アンテナ接続用端子の上面よりも高い位置にある封止樹脂部とを含み、前記封止部が、前記カード基材に設けられた凹部に収容され、前記枠部が、前記カード基材に当接し、前記アンテナ接続用端子が、前記一部上に設けられた導電部材を介して前記アンテナに電気的に接続されているカードが提供される。 According to another aspect of the present invention, a card base including an antenna, and a semiconductor module mounted on the card base and electrically connected to the antenna, the semiconductor module includes a substrate, A semiconductor element provided on one surface of the substrate, a bonding terminal provided on the one surface and electrically connected to the semiconductor element, and an antenna provided on the one surface and electrically connected to the bonding terminal and connecting terminals, wherein a sealing portion for covering the semiconductor element and the bonding terminal, and enclose the frame section at least a portion of said antenna connection terminal, an upper surface of the frame portion, the sealing portion in a position lower than the upper surface, and, and a sealing resin portion in a position higher than the upper surface of the antenna connection terminal, wherein the sealing portion is housed in a recess provided in the card substrate Is, the frame portion is the contact with the card substrate person, the antenna connection terminals, the card which is electrically connected to the antenna via a conductive member provided on said part is provided .

開示の技術によれば、半導体モジュールの端子上に設けられる導電部材の流出を、その端子に設けた枠部で抑えることが可能になる。そのような半導体モジュールを用い、外観不良の発生を抑えた高品質のカードを歩留まり良く製造することが可能になる。   According to the disclosed technology, the outflow of the conductive member provided on the terminal of the semiconductor module can be suppressed by the frame portion provided on the terminal. Using such a semiconductor module, it becomes possible to manufacture a high-quality card with reduced yield and with a high yield.

第1の実施の形態に係るICモジュールの一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the IC module which concerns on 1st Embodiment. 第1の実施の形態に係るICカードの一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the IC card which concerns on 1st Embodiment. 第1の実施の形態に係るワイヤボンディング工程の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the wire bonding process which concerns on 1st Embodiment. 第1の実施の形態に係るモールド工程の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the mold process which concerns on 1st Embodiment. 第1の実施の形態に係る接着部材配設工程の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the adhesive member arrangement | positioning process which concerns on 1st Embodiment. 第1の実施の形態に係る導電部材配設工程の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the electrically-conductive member arrangement | positioning process which concerns on 1st Embodiment. 第1の実施の形態に係るカード化工程の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the card formation process which concerns on 1st Embodiment. 別形態のICモジュールの一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the IC module of another form. 別形態のICモジュールを用いたカード化の説明図(その1)である。It is explanatory drawing (the 1) of card formation using the IC module of another form. 別形態のICモジュールを用いたカード化の説明図(その2)である。It is explanatory drawing (the 2) of card formation using the IC module of another form. ダム枠部の説明図である。It is explanatory drawing of a dam frame part. 表面粗さとすべり抵抗の関係の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the relationship between surface roughness and slip resistance. 第2の実施の形態に係るICモジュールの一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the IC module which concerns on 2nd Embodiment. 第3の実施の形態に係るICモジュールの一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the IC module which concerns on 3rd Embodiment. 第4の実施の形態に係るフリップチップ接続工程の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the flip-chip connection process which concerns on 4th Embodiment. 第4の実施の形態に係るモールド工程の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the mold process which concerns on 4th Embodiment. 第4の実施の形態に係る導電部材配設工程の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the electrically-conductive member arrangement | positioning process which concerns on 4th Embodiment. 第4の実施の形態に係るカード化工程の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the card formation process which concerns on 4th Embodiment.

まず、第1の実施の形態について説明する。
図1は第1の実施の形態に係るICモジュール(半導体モジュール)の一例を示す図である。図1において、(A)は外部端子面側の平面模式図、(B)はICチップ(半導体素子)搭載面側の平面模式図、(C)は(B)のL1−L1断面模式図である。
First, the first embodiment will be described.
FIG. 1 is a diagram illustrating an example of an IC module (semiconductor module) according to the first embodiment. 1A is a schematic plan view of the external terminal surface side, FIG. 1B is a schematic plan view of the IC chip (semiconductor element) mounting surface side, and FIG. 1C is a schematic L1-L1 cross-sectional view of FIG. is there.

図1には、接触非接触兼用のICカードに用いられるICモジュール10の一例を図示している。ICモジュール10は、基板(モジュール基板)11、及びモジュール基板11に搭載されたICチップ12を備える。   FIG. 1 shows an example of an IC module 10 used for a contact / contactless IC card. The IC module 10 includes a substrate (module substrate) 11 and an IC chip 12 mounted on the module substrate 11.

ICチップ12は、モジュール基板11の所定領域に、接着剤等を用いて固定される。モジュール基板11に搭載されるICチップ12には、その上面に、ボンディングワイヤ13が接続されるパッドが設けられる。   The IC chip 12 is fixed to a predetermined area of the module substrate 11 using an adhesive or the like. The IC chip 12 mounted on the module substrate 11 is provided with a pad to which the bonding wire 13 is connected on the upper surface.

モジュール基板11は、絶縁基板11aと、絶縁基板11aの一方の面に設けられた端子(外部端子)11b、及び他方の面に設けられた端子(アンテナ接続用端子)11cを有する。   The module substrate 11 includes an insulating substrate 11a, a terminal (external terminal) 11b provided on one surface of the insulating substrate 11a, and a terminal (antenna connection terminal) 11c provided on the other surface.

絶縁基板11aは、ガラスエポキシ樹脂、エポキシ樹脂、ポリイミド樹脂、フェノール樹脂等を用いて形成される。
外部端子11bは、ICモジュール10を用いたICカードが、所定機器と接触してデータをやり取りする際に用いられる端子である。ここでは一例として、所定形状で、所定位置に配置された8つの外部端子11bが設けられた場合を図示している。絶縁基板11aには、外部端子11bに通じる開口部11aa(図1(B))が設けられており、ICチップ12は、開口部11aaを通るボンディングワイヤ13で外部端子11bに電気的に接続される。
The insulating substrate 11a is formed using glass epoxy resin, epoxy resin, polyimide resin, phenol resin, or the like.
The external terminal 11b is a terminal used when an IC card using the IC module 10 contacts and exchanges data with a predetermined device. Here, as an example, a case where eight external terminals 11b having a predetermined shape and arranged at predetermined positions is illustrated. The insulating substrate 11a is provided with an opening 11aa (FIG. 1B) leading to the external terminal 11b, and the IC chip 12 is electrically connected to the external terminal 11b by a bonding wire 13 passing through the opening 11aa. The

アンテナ接続用端子11cは、ICチップ12と、所定機器と非接触でデータをやり取りするためにICカードに内蔵されるアンテナとを電気的に接続する端子である。ここでは一例として、ICチップ12を挟んで一対のアンテナ接続用端子11cが設けられた場合を図示している。ICチップ12は、ボンディングワイヤ13により、アンテナ接続用端子11cに繋がるボンディング端子11caに電気的に接続される。ICチップ12は、ボンディングワイヤ13、ボンディング端子11ca及びアンテナ接続用端子11cを通じてICカードのアンテナに電気的に接続される。   The antenna connection terminal 11c is a terminal that electrically connects the IC chip 12 and an antenna built in the IC card for exchanging data with a predetermined device without contact. Here, as an example, a case where a pair of antenna connection terminals 11c is provided with the IC chip 12 interposed therebetween is illustrated. The IC chip 12 is electrically connected by a bonding wire 13 to a bonding terminal 11ca connected to the antenna connection terminal 11c. The IC chip 12 is electrically connected to the antenna of the IC card through the bonding wire 13, the bonding terminal 11ca, and the antenna connection terminal 11c.

ICモジュール10は更に、封止樹脂(モールド樹脂)を用いて形成された封止樹脂部(モールド部)14を有する。モールド部14のモールド樹脂には、エポキシ樹脂等の樹脂材料、シリカ等の非導電性フィラーを含む樹脂材料等が用いられる。モールド部14は、ICチップ12及びボンディングワイヤ13を封止する封止部(チップ封止部)14a、及びアンテナ接続用端子11cに設けられた枠部(ダム枠部)14bを含む。ダム枠部14bは、アンテナ接続用端子11cの縁部に沿って設けられる。チップ封止部14a及びダム枠部14bは、例えば後述のように、1回のモールド工程(モールド部14の形成工程)で同時に形成することができる。   The IC module 10 further includes a sealing resin portion (mold portion) 14 formed using a sealing resin (mold resin). For the mold resin of the mold part 14, a resin material such as an epoxy resin, a resin material containing a non-conductive filler such as silica, or the like is used. The mold part 14 includes a sealing part (chip sealing part) 14a for sealing the IC chip 12 and the bonding wire 13, and a frame part (dam frame part) 14b provided on the antenna connection terminal 11c. The dam frame portion 14b is provided along the edge of the antenna connection terminal 11c. The chip sealing part 14a and the dam frame part 14b can be simultaneously formed in one molding process (forming process of the molding part 14), for example, as will be described later.

チップ封止部14aは、ICチップ12のほか、ボンディングワイヤ13及びその接続部を含む領域を保護する機能を有する。ダム枠部14bは、例えば、チップ封止部14aの側面から連続して設けられ、チップ封止部14aよりも低く設けられる。ここではダム枠部14bの一例として、チップ封止部14aの側面からアンテナ接続用端子11cの側端面に沿ってモジュール基板11上に設けられ、アンテナ接続用端子11cよりも厚く(高く)設けられたものを図示している。尚、ダム枠部14bの機能の詳細については後述する。   The chip sealing portion 14a has a function of protecting the region including the bonding wire 13 and its connecting portion in addition to the IC chip 12. The dam frame portion 14b is provided continuously from the side surface of the chip sealing portion 14a, for example, and is provided lower than the chip sealing portion 14a. Here, as an example of the dam frame portion 14b, the dam frame portion 14b is provided on the module substrate 11 from the side surface of the chip sealing portion 14a along the side end surface of the antenna connection terminal 11c, and is thicker (higher) than the antenna connection terminal 11c. Is shown. The details of the function of the dam frame portion 14b will be described later.

上記のような構成を有するICモジュール10が、ICカードのカード基材に搭載され、そのカード基材と一体化されることにより、ICモジュール10を含むICカードが得られる。その際、ICモジュール10には、モールド部14の外側のモジュール基板11上に、接着部材15(図1(B),(C))が設けられる。接着部材15には、例えば接着テープが用いられる。   The IC module 10 having the above configuration is mounted on a card base of the IC card and integrated with the card base, whereby an IC card including the IC module 10 is obtained. At this time, the IC module 10 is provided with an adhesive member 15 (FIGS. 1B and 1C) on the module substrate 11 outside the mold portion 14. For the adhesive member 15, for example, an adhesive tape is used.

図2は第1の実施の形態に係るICカードの一例を示す図である。図2において、(A)はICカードの平面模式図、(B)は(A)のL2−L2断面模式図である。
図2に示すICカード20は、カード基材21を有する。カード基材21には、例えば、ポリエチレンテレフタレート(PET)等の樹脂材料が用いられる。上記のICモジュール10は、このカード基材21と一体化され、それにより、ICモジュール10を含むICカード20が得られる。
FIG. 2 is a diagram illustrating an example of an IC card according to the first embodiment. 2A is a schematic plan view of an IC card, and FIG. 2B is a schematic L2-L2 cross-sectional view of FIG.
The IC card 20 shown in FIG. For the card substrate 21, for example, a resin material such as polyethylene terephthalate (PET) is used. The IC module 10 is integrated with the card base 21, whereby an IC card 20 including the IC module 10 is obtained.

カード基材21は、ICモジュール10が収容される凹部(収容部)21a、及び所定機器と非接触でデータ通信を行うためのアンテナ21bを備える。アンテナ21bは、その一部が、収容部21a内に露出するように、カード基材21に設けられる。   The card base 21 includes a concave portion (accommodating portion) 21a in which the IC module 10 is accommodated and an antenna 21b for performing data communication without contact with a predetermined device. The antenna 21b is provided on the card base 21 so that a part of the antenna 21b is exposed in the accommodating portion 21a.

ICモジュール10は、モールド部14側(ICチップ12の搭載面側)をカード基材21側に向け、ダム枠部14bがカード基材21に当接するようにして、収容部21aに収容される。その際、ICモジュール10には、チップ封止部14a及びダム枠部14bの外側に接着部材15が設けられ、ダム枠部14bの内側のアンテナ接続用端子11c上に導電部材16が設けられる。収容部21aに収容されるICモジュール10は、接着部材15によってカード基材21に接着(圧着)され、導電部材16によってアンテナ接続用端子11cがカード基材21のアンテナ21bに電気的に接続される。   The IC module 10 is accommodated in the accommodating portion 21a so that the mold portion 14 side (the mounting surface side of the IC chip 12) faces the card base material 21 and the dam frame portion 14b contacts the card base material 21. . At this time, the IC module 10 is provided with an adhesive member 15 outside the chip sealing portion 14a and the dam frame portion 14b, and the conductive member 16 is provided on the antenna connection terminal 11c inside the dam frame portion 14b. The IC module 10 accommodated in the accommodating portion 21 a is adhered (crimped) to the card base 21 by the adhesive member 15, and the antenna connection terminal 11 c is electrically connected to the antenna 21 b of the card base 21 by the conductive member 16. The

このようにICモジュール10とカード基材21が一体化(カード化)され、ICカード20となる。
ここで、ICモジュール10及びICカード20の形成方法の一例について、図3〜図7を参照して、より詳細に説明する。
In this way, the IC module 10 and the card base 21 are integrated (made into a card) to form an IC card 20.
Here, an example of a method for forming the IC module 10 and the IC card 20 will be described in more detail with reference to FIGS.

図3は第1の実施の形態に係るワイヤボンディング工程の一例を示す図である。図3において、(A)はワイヤボンディングした状態の一例の平面模式図、(B)は(A)のL3−L3断面模式図である。また、図3(C)はワイヤボンディングした状態の一例の断面模式図である。   FIG. 3 is a diagram illustrating an example of a wire bonding process according to the first embodiment. 3A is a schematic plan view of an example of a wire-bonded state, and FIG. 3B is a schematic L3-L3 cross-sectional view of FIG. FIG. 3C is a schematic cross-sectional view of an example of a wire bonded state.

まず、絶縁基板11aの一方の面に外部端子11b、他方の面にアンテナ接続用端子11c及びボンディング端子11caを設けたモジュール基板11上に、ICチップ12を搭載する。   First, the IC chip 12 is mounted on the module substrate 11 provided with the external terminal 11b on one surface of the insulating substrate 11a and the antenna connection terminal 11c and the bonding terminal 11ca on the other surface.

モジュール基板11の絶縁基板11aには、ICチップ12が搭載される領域を囲むように開口部11aaが設けられる。外部端子11bと開口部11aaは、互いに対応する位置に設けられる。アンテナ接続用端子11c及びボンディング端子11caは、ICチップ12が搭載される領域を挟むように設けられる。   An opening 11aa is provided in the insulating substrate 11a of the module substrate 11 so as to surround a region where the IC chip 12 is mounted. The external terminal 11b and the opening 11aa are provided at positions corresponding to each other. The antenna connection terminal 11c and the bonding terminal 11ca are provided so as to sandwich an area where the IC chip 12 is mounted.

このようなモジュール基板11の、アンテナ接続用端子11c及びボンディング端子11caの配設面側で、アンテナ接続用端子11c(ボンディング端子11ca)の間の領域に、ICチップ12を搭載する。ICチップ12は、例えば、接着剤を用いてモジュール基板11上の所定位置に接着固定する。   The IC chip 12 is mounted in a region between the antenna connection terminal 11c (bonding terminal 11ca) on the arrangement surface side of the antenna connection terminal 11c and the bonding terminal 11ca of the module substrate 11. The IC chip 12 is bonded and fixed at a predetermined position on the module substrate 11 using, for example, an adhesive.

モジュール基板11へのICチップ12の搭載後、ICチップ12とモジュール基板11をワイヤボンディングする。
ICチップ12の上面には、パッドが設けられており、ワイヤボンディングの際には、ICチップ12のパッドと、ICチップ12の搭載面側と反対側の面に設けられた外部端子11bとが、開口部11aaを通してボンディングワイヤ13で接続される。更に、ICチップ12のパッドと、ICチップ12の搭載面側に設けられたボンディング端子11caとが、ボンディングワイヤ13で接続される。これにより、ICチップ12が外部端子11b及びアンテナ接続用端子11cとそれぞれ電気的に接続された状態が得られる。
After mounting the IC chip 12 on the module substrate 11, the IC chip 12 and the module substrate 11 are wire bonded.
Pads are provided on the upper surface of the IC chip 12, and in wire bonding, the pads of the IC chip 12 and the external terminals 11b provided on the surface opposite to the mounting surface side of the IC chip 12 are provided. The bonding wire 13 is connected through the opening 11aa. Further, the pads of the IC chip 12 and the bonding terminals 11 ca provided on the mounting surface side of the IC chip 12 are connected by bonding wires 13. Thereby, the state where the IC chip 12 is electrically connected to the external terminal 11b and the antenna connection terminal 11c can be obtained.

図4は第1の実施の形態に係るモールド工程の一例を示す図である。図4において、(A)はモールドした状態の一例の断面模式図、(B)はモールドした状態の一例の平面模式図である。尚、図4の(A)は(B)のL4−L4断面に相当する模式図である。   FIG. 4 is a diagram illustrating an example of a molding process according to the first embodiment. 4A is a schematic cross-sectional view of an example of a molded state, and FIG. 4B is a schematic plan view of an example of a molded state. 4A is a schematic view corresponding to the L4-L4 cross section of FIG.

モジュール基板11とICチップ12とのワイヤボンディング後は、モールド樹脂を用いてICチップ12等をモールドする。
モールドには、モールド部14、即ちチップ封止部14aとダム枠部14bに対応する部位に、それらに対応する形状の掘り込み(凹部)が設けられた金型(モールド金型)30を用いる。このようなモールド金型30に、上記のようにICチップ12をワイヤボンディングしたモジュール基板11をセットし、モールド樹脂を注入し、更にキュアを行って硬化させる。それにより、ICチップ12やボンディングワイヤ13を封止するチップ封止部14aと、アンテナ接続用端子11cの側端面に沿って設けられるダム枠部14bとを、同時に形成する。その後、モールド金型30を離型することで、図4に示したようなICモジュール10を得る。
After wire bonding between the module substrate 11 and the IC chip 12, the IC chip 12 and the like are molded using a molding resin.
For the mold, a mold (mold mold) 30 is used in which a portion corresponding to the mold portion 14, that is, the chip sealing portion 14a and the dam frame portion 14b, is provided with a digging (concave portion) corresponding to them. . The module substrate 11 to which the IC chip 12 is wire-bonded as described above is set in such a mold die 30, and a mold resin is injected, followed by curing and curing. Thereby, the chip sealing portion 14a for sealing the IC chip 12 and the bonding wire 13 and the dam frame portion 14b provided along the side end surface of the antenna connection terminal 11c are formed simultaneously. Thereafter, the mold 30 is released to obtain the IC module 10 as shown in FIG.

図5は第1の実施の形態に係る接着部材配設工程の一例を示す図である。図5において、(A)は接着部材を設けた状態の一例の平面模式図、(B)は(A)のL5−L5断面模式図である。   FIG. 5 is a diagram illustrating an example of an adhesive member disposing process according to the first embodiment. 5A is a schematic plan view of an example of a state in which an adhesive member is provided, and FIG. 5B is a schematic L5-L5 cross-sectional view of FIG.

モールド工程後は、モールドによって得られたICモジュール10の、モジュール基板11上に、接着部材15を設ける。
接着部材15は、チップ封止部14a及びダム枠部14bの外側の絶縁基板11a上に設ける。接着部材15としては、例えば接着テープを用いる。予めチップ封止部14a及びダム枠部14bの外形に応じて用意した接着テープを、モジュール基板11の絶縁基板11a上に貼付することで、図5に示したような、接着テープを貼付したICモジュール10を得る。
After the molding process, the adhesive member 15 is provided on the module substrate 11 of the IC module 10 obtained by molding.
The adhesive member 15 is provided on the insulating substrate 11a outside the chip sealing portion 14a and the dam frame portion 14b. For example, an adhesive tape is used as the adhesive member 15. The adhesive tape prepared in advance according to the outer shape of the chip sealing portion 14a and the dam frame portion 14b is pasted on the insulating substrate 11a of the module substrate 11, so that the IC with the adhesive tape pasted as shown in FIG. Module 10 is obtained.

図6は第1の実施の形態に係る導電部材配設工程の一例を示す図である。図6において、(A)は導電部材を設けた状態の一例の平面模式図、(B)は(A)のL6−L6断面模式図である。   FIG. 6 is a diagram showing an example of the conductive member disposing process according to the first embodiment. 6A is a schematic plan view of an example in which a conductive member is provided, and FIG. 6B is a schematic cross-sectional view taken along line L6-L6 of FIG.

モジュール基板11上に接着部材15を設けた後は、ダム枠部14bの内側のアンテナ接続用端子11c上に、導電部材16を設ける。導電部材16としては、例えば、所定の組成を有する半田ペーストを用いる。半田ペーストには、例えば、半田粉末、フラックス、及び溶剤(粘度調整用)を含有するものを用いる。   After the adhesive member 15 is provided on the module substrate 11, the conductive member 16 is provided on the antenna connection terminal 11c inside the dam frame portion 14b. As the conductive member 16, for example, a solder paste having a predetermined composition is used. As the solder paste, for example, a paste containing solder powder, flux, and solvent (for viscosity adjustment) is used.

図7は第1の実施の形態に係るカード化工程の一例を示す図である。
アンテナ接続用端子11c上に導電部材16を設けた後は、その導電部材16を設けたICモジュール10を、カード基材21と一体化する。
FIG. 7 is a diagram illustrating an example of a card forming process according to the first embodiment.
After the conductive member 16 is provided on the antenna connection terminal 11c, the IC module 10 provided with the conductive member 16 is integrated with the card substrate 21.

その際、ICモジュール10は、アンテナ接続用端子11c側(導電部材16側)をカード基材21側に向け、収容部21aに収容する。カード基材21には、収容部21aに収容されるICモジュール10のアンテナ接続用端子11cに対応する部位に露出部を有するアンテナ21bが設けられる。   At that time, the IC module 10 is accommodated in the accommodating portion 21a with the antenna connecting terminal 11c side (conductive member 16 side) facing the card base material 21 side. The card base 21 is provided with an antenna 21b having an exposed portion at a portion corresponding to the antenna connection terminal 11c of the IC module 10 accommodated in the accommodating portion 21a.

ICモジュール10は、ダム枠部14bがカード基材21に当接するまで押圧され、チップ封止部14a及びダム枠部14bの外側に設けた接着部材15でカード基材21に接着される。その際、ICモジュール10のカード基材21側への押圧量は、ダム枠部14bの厚さ(高さ)で規制されるため、接着部材15の過剰な押圧、それによる潰れが抑えられる。   The IC module 10 is pressed until the dam frame portion 14b comes into contact with the card base material 21, and is bonded to the card base material 21 with the adhesive member 15 provided outside the chip sealing portion 14a and the dam frame portion 14b. At that time, since the pressing amount of the IC module 10 toward the card base 21 is regulated by the thickness (height) of the dam frame portion 14b, excessive pressing of the adhesive member 15 and crushing by the pressing are suppressed.

導電部材16に半田ペーストを用いる場合には、接着部材15による接着時或いは接着後に、半田ペーストに含有される半田が溶融する温度で加熱を行う。加熱により溶融した半田は、アンテナ接続用端子11c上を流動し、アンテナ接続用端子11c上に濡れ拡がる。その際、半田ペーストの流動は、ダム枠部14bの内側の領域に規制されるため、半田ペースト(導電部材16)の接着部材15側への流出、ICモジュール10の外側への流出が抑えられる。即ち、ダム枠部14bが、流動性を示す導電部材16がアンテナ接続用端子11c上からICモジュール10の外側に流出するのを抑えるダムとして機能する。   When a solder paste is used for the conductive member 16, heating is performed at a temperature at which the solder contained in the solder paste melts during or after the bonding by the bonding member 15. The solder melted by heating flows on the antenna connection terminal 11c and spreads on the antenna connection terminal 11c. At this time, the flow of the solder paste is restricted to a region inside the dam frame portion 14b, so that the outflow of the solder paste (conductive member 16) to the adhesive member 15 side and the outflow of the IC module 10 to the outside can be suppressed. . In other words, the dam frame portion 14b functions as a dam that prevents the conductive member 16 exhibiting fluidity from flowing out from the antenna connection terminal 11c to the outside of the IC module 10.

その後は、冷却を行う(加熱を停止する)ことで、半田(導電部材16)が固化され、ICモジュール10のアンテナ接続用端子11cとカード基材21のアンテナ21bとが導電部材16で固着されると共に電気的に接続される。   Thereafter, by cooling (stopping heating), the solder (conductive member 16) is solidified, and the antenna connection terminal 11c of the IC module 10 and the antenna 21b of the card base 21 are fixed by the conductive member 16. And electrically connected.

このように、収容部21aに収容されたICモジュール10は、接着部材15でカード基材21に接着され、導電部材16でアンテナ接続用端子11cがカード基材21のアンテナ21bに電気的に接続されて、カード基材21と一体化(カード化)される。これにより、上記の図2に示したようなICカード20が得られる。   Thus, the IC module 10 accommodated in the accommodating portion 21 a is adhered to the card base 21 by the adhesive member 15, and the antenna connection terminal 11 c is electrically connected to the antenna 21 b of the card base 21 by the conductive member 16. Then, it is integrated (carded) with the card substrate 21. Thereby, the IC card 20 as shown in FIG. 2 is obtained.

上記のように、ICカード20を形成する際には、ICモジュール10のアンテナ接続用端子11cと、カード基材21のアンテナ21bとを電気的に接続する導電部材16に、半田ペーストのような流動性を示すものが用いられる。ダム枠部14bは、このような流動性を示す導電部材16が、アンテナ接続用端子11c上からICモジュール10の外側に向かって流出するのを抑えるダムとして機能する。   As described above, when the IC card 20 is formed, the conductive member 16 that electrically connects the antenna connection terminal 11c of the IC module 10 and the antenna 21b of the card base 21 is made of a solder paste or the like. Those showing fluidity are used. The dam frame portion 14 b functions as a dam that suppresses the flow of the conductive member 16 exhibiting such fluidity from the antenna connection terminal 11 c toward the outside of the IC module 10.

ここで比較のため、上記のようなダム枠部14bを有しないICモジュールを用いた場合のカード化の一例について述べる。
図8は別形態のICモジュールの一例を示す図である。図8において、(A)はICチップ搭載面側の平面模式図、(B)は(A)のL8−L8断面模式図である。
Here, for comparison, an example of forming a card when using an IC module having no dam frame portion 14b as described above will be described.
FIG. 8 is a diagram showing an example of an IC module of another form. 8A is a schematic plan view of the IC chip mounting surface side, and FIG. 8B is a schematic L8-L8 cross-sectional view of FIG.

図8に示すICモジュール1000は、モールド部として、ICチップ12、ボンディングワイヤ13、及びボンディングワイヤ13の接続部を含む領域に設けられたチップ封止部14aを有する。アンテナ接続用端子11cの周りには、上記のようなダム枠部は設けられない。接着部材15は、チップ封止部14a及びアンテナ接続用端子11cの外側のモジュール基板11上に設けられる。ICモジュール1000は、このような点で、上記のICモジュール10と相違する。   The IC module 1000 shown in FIG. 8 includes a chip sealing portion 14 a provided as a mold portion in a region including the IC chip 12, the bonding wire 13, and the connection portion of the bonding wire 13. The dam frame as described above is not provided around the antenna connection terminal 11c. The adhesive member 15 is provided on the module substrate 11 outside the chip sealing portion 14a and the antenna connection terminal 11c. The IC module 1000 is different from the above IC module 10 in this respect.

図9及び図10は別形態のICモジュールを用いたカード化の説明図である。
カード化の際には、図9に示すように、モジュール基板11上に接着部材15として接着テープを設け、アンテナ接続用端子11c上に導電部材16として半田ペーストを設ける。そして、接着部材15及び導電部材16を設けたICモジュール1000を、カード基材21の収容部21aに収容する。この収容時には、ICモジュール1000をカード基材21側に押圧し、その押圧時或いは押圧後に、導電部材16の半田ペーストに含有される半田が溶融する温度で加熱を行う。
FIG. 9 and FIG. 10 are explanatory diagrams of card formation using an IC module of another form.
When forming a card, as shown in FIG. 9, an adhesive tape is provided as an adhesive member 15 on the module substrate 11, and a solder paste is provided as a conductive member 16 on the antenna connection terminal 11c. Then, the IC module 1000 provided with the adhesive member 15 and the conductive member 16 is accommodated in the accommodating portion 21 a of the card base 21. At the time of accommodation, the IC module 1000 is pressed toward the card base 21 and heated at a temperature at which the solder contained in the solder paste of the conductive member 16 melts at or after the pressing.

しかし、この収容時には、過剰な押圧による接着部材15の潰れ、加熱により溶融した導電部材16との接触による接着部材15の熱劣化等が生じてしまう場合がある。このような潰れ、熱劣化が生じ、接着部材15とカード基材21との間に隙間ができると、図10に示すように、アンテナ接続用端子11c上に設けていた導電部材16が、接着部材15を越えてICモジュール10の外側に流出してしまう。このように流出した導電部材16が、ICモジュール10側方のカード基材21との隙間、更にカード基材21の表面にまで流出すると、得られるICカード1020の外観が損なわれてしまう。このような外観不良が発生すれば、ICカード1020の製造歩留まりは低下する。   However, at the time of this accommodation, the adhesive member 15 may be crushed due to excessive pressing, or the adhesive member 15 may be thermally deteriorated due to contact with the conductive member 16 melted by heating. When such crushing and thermal degradation occur and a gap is formed between the adhesive member 15 and the card substrate 21, the conductive member 16 provided on the antenna connection terminal 11c is bonded as shown in FIG. It will flow out of the IC module 10 beyond the member 15. If the conductive member 16 that has flowed out in this manner flows out to the gap with the card base 21 on the side of the IC module 10 and further to the surface of the card base 21, the appearance of the resulting IC card 1020 is impaired. If such an appearance defect occurs, the manufacturing yield of the IC card 1020 decreases.

このようなICモジュール1000で生じ得る導電部材16の流出は、予めアンテナ接続用端子11c上に設ける導電部材16の量を、精度良く調整することができれば、回避することも可能である。   The outflow of the conductive member 16 that can occur in the IC module 1000 can be avoided if the amount of the conductive member 16 provided on the antenna connection terminal 11c can be adjusted in advance with high accuracy.

しかし、導電部材16に上記のような半田ペーストを用いる場合、半田ペーストには、半田のほか、通常は粘度調整用の溶剤が含まれるため、溶剤の揮発に伴う経時的な粘度の変化が起こり易い。そのため、多数のICカード1020を製造していく過程では、アンテナ接続用端子11c上に設ける導電部材16の量を、精度良く調整することが難しい場合がある。   However, when the solder paste as described above is used for the conductive member 16, since the solder paste usually contains a solvent for adjusting the viscosity in addition to the solder, a change in viscosity with time due to the volatilization of the solvent occurs. easy. Therefore, in the process of manufacturing a large number of IC cards 1020, it may be difficult to accurately adjust the amount of the conductive member 16 provided on the antenna connection terminal 11c.

導電部材16をアンテナ接続用端子11c上に必要以上に多く設ければ、上記のような流出、それによるICカード1020の外観不良、歩留まり低下が生じてしまう恐れがある。また、アンテナ接続用端子11c上に設ける導電部材16を少なくすれば、半田量が減ってアンテナ接続用端子11cとアンテナ21bとの間の良好な電気的接続が確保できなくなったり、十分な機械的接続強度を確保できなくなったりする恐れがある。   If the conductive member 16 is provided more than necessary on the antenna connection terminal 11c, the above-described outflow, the appearance defect of the IC card 1020, and the yield may be reduced. Also, if the conductive member 16 provided on the antenna connection terminal 11c is reduced, the amount of solder is reduced, making it impossible to secure a good electrical connection between the antenna connection terminal 11c and the antenna 21b, or sufficient mechanical properties. Connection strength may not be secured.

ICモジュール1000で生じ得る導電部材16の流出を回避するために、このような量の調整のほか、アンテナ接続用端子11cの周りにソルダーレジストでダムを形成する方法も考えられる。   In order to avoid the outflow of the conductive member 16 that may occur in the IC module 1000, in addition to adjusting the amount, a method of forming a dam with a solder resist around the antenna connection terminal 11c is also conceivable.

しかし、この方法では、ソルダーレジストでダムを形成する工程が増え、また、導電部材16の流出を抑えられる高さのダムを形成するために、ソルダーレジストの塗布、乾燥を複数回繰り返さなければならない可能性がある。また、塗布時にソルダーレジストが濡れ拡がってしまい、所望の形状のダムを形成することができない場合がある。このようにソルダーレジストでダムを形成する方法では、ICカード製造の工数やコストの増加を招く恐れがある。   However, in this method, the number of steps for forming a dam with a solder resist increases, and in order to form a dam with a height that can prevent the conductive member 16 from flowing out, the application and drying of the solder resist must be repeated a plurality of times. there is a possibility. Also, the solder resist spreads out during application, and a dam having a desired shape may not be formed. Thus, in the method of forming a dam with a solder resist, there is a risk of increasing the man-hours and costs for manufacturing an IC card.

また、上記の半田ペーストのような導電部材16に替えて、金属シート、金属バネ等をアンテナ接続用端子11cに設ける方法も考えられる。しかし、これらの部材は、半田ペーストに比べて高価になる場合がある。その場合、ICカード製造のコストの増加を招く恐れがある。   A method of providing a metal sheet, a metal spring or the like on the antenna connection terminal 11c instead of the conductive member 16 such as the solder paste is also conceivable. However, these members may be more expensive than solder paste. In that case, there is a risk of increasing the cost of manufacturing the IC card.

これに対し、上記のICモジュール10では、チップ封止部14aと共に、アンテナ接続用端子11cにダム枠部14bを設ける。このダム枠部14bにより、半田ペーストのような流動性を示す導電部材16の、アンテナ接続用端子11c上からの流出、ICモジュール10の外側への流出が抑えられる。それにより、ICカード20を形成する際の外観不良の発生、歩留まりの低下が効果的に抑えられるようになる。また、ダム枠部14bにより、過剰な押圧による接着部材15の潰れが抑えられるようになる。更に、ダム枠部14bにより、加熱により溶融した導電部材16と接着部材15との接触が抑えられ、接着部材15の熱劣化が抑えられるようになる。   On the other hand, in the IC module 10 described above, the dam frame portion 14b is provided in the antenna connection terminal 11c together with the chip sealing portion 14a. The dam frame portion 14b suppresses the outflow of the conductive member 16 exhibiting fluidity such as solder paste from the antenna connection terminal 11c and the outflow of the IC module 10 to the outside. As a result, the occurrence of poor appearance and a decrease in yield when the IC card 20 is formed can be effectively suppressed. In addition, the dam frame portion 14b can prevent the adhesive member 15 from being crushed by excessive pressing. Furthermore, the contact between the conductive member 16 melted by heating and the adhesive member 15 is suppressed by the dam frame portion 14b, and thermal deterioration of the adhesive member 15 is suppressed.

ダム枠部14bは、チップ封止部14aと同じモールド樹脂を用い、ダム枠部14b自体、1回のモールド工程で所望の高さ、形状を実現することができる。更に、その1回のモールド工程で、ダム枠部14bとチップ封止部14aとを同時に形成することができる。そのため、半田ペーストのような流動性を示す導電部材16の流出を抑えるダムを形成するための工程を別途設けることを要せず、導電部材16の流出を抑えることのできるICモジュール10を形成する際の工数の増加を抑えることができる。   The dam frame portion 14b uses the same molding resin as the chip sealing portion 14a, and the dam frame portion 14b itself can realize a desired height and shape in a single molding process. Furthermore, the dam frame portion 14b and the chip sealing portion 14a can be simultaneously formed by one molding process. Therefore, the IC module 10 that can suppress the outflow of the conductive member 16 is formed without requiring a separate step for forming a dam for suppressing the outflow of the conductive member 16 exhibiting fluidity such as solder paste. The increase in man-hours can be suppressed.

更に、このように工数の増加が抑えられることに加え、高価な部材を用いず、導電部材16に比較的安価な半田ペーストが使用可能であるため、ICカード20を形成する際のコストの増加を抑えることができる。   Further, in addition to suppressing the increase in man-hours in this way, a relatively inexpensive solder paste can be used for the conductive member 16 without using an expensive member, so that the cost for forming the IC card 20 is increased. Can be suppressed.

上記のように、チップ封止部14aと同時にモールド形成が可能なダム枠部14bは、用いるモールド金型30(図4(A))の金型形状によって、様々な形状とすることができる。   As described above, the dam frame portion 14b that can be molded simultaneously with the chip sealing portion 14a can have various shapes depending on the shape of the mold 30 (FIG. 4A) to be used.

図11はダム枠部の説明図である。尚、図11には、図2のX部に相当する部位を、模式的に図示している。
ダム枠部14bは、図11(A)に示すように、表面を梨地(凹凸)にすることができる。表面を梨地としたダム枠部14bは、その表面形状に対応した内面形状を有するモールド金型30を用い、チップ封止部14aと同時に、1回のモールド工程で形成することができる。
FIG. 11 is an explanatory diagram of a dam frame. In addition, in FIG. 11, the site | part corresponded to the X section of FIG. 2 is shown typically.
As shown in FIG. 11A, the surface of the dam frame portion 14b can be made into a satin finish (unevenness). The dam frame portion 14b having a textured surface can be formed in a single molding step simultaneously with the chip sealing portion 14a, using a mold die 30 having an inner surface shape corresponding to the surface shape.

このようにダム枠部14bの表面を梨地にすることで、導電部材16として用いる半田ペーストとダム枠部14bとの接触抵抗を高めることができる。図12に表面粗さとすべり抵抗の関係の一例を示す。図12に示すように、ある面の表面粗さが粗くなるほど、その面に接触する部材のすべり抵抗は増加する傾向がある。このような関係に基づき、ここではダム枠部14bの表面を梨地にすることで、その表面粗さを粗くし、流動する半田ペーストとダム枠部14bとの接触抵抗を高める。それにより、半田ペーストの、ダム枠部14bを越える流出を、一層効果的に抑制することが可能になる。   Thus, by making the surface of the dam frame portion 14b satin, the contact resistance between the solder paste used as the conductive member 16 and the dam frame portion 14b can be increased. FIG. 12 shows an example of the relationship between surface roughness and slip resistance. As shown in FIG. 12, as the surface roughness of a certain surface increases, the slip resistance of a member that contacts the surface tends to increase. Based on such a relationship, here, the surface of the dam frame portion 14b is textured to roughen the surface roughness and increase the contact resistance between the flowing solder paste and the dam frame portion 14b. This makes it possible to more effectively suppress the solder paste from flowing beyond the dam frame portion 14b.

また、ダム枠部14bは、図11(B)に示すように、導電部材16として用いる半田ペーストの流出を抑える壁となるように、例えばアンテナ接続用端子11cに対して垂直壁となるように、形成することができる。   Further, as shown in FIG. 11B, the dam frame portion 14b is, for example, a vertical wall with respect to the antenna connection terminal 11c so as to suppress the outflow of the solder paste used as the conductive member 16. Can be formed.

尚、図11には、アンテナ接続用端子11c及び導電部材16とダム枠部14bとの間、並びに接着部材15とダム枠部14bとの間に、隙間が設けられる場合を図示したが、このような隙間は、必ずしも設けられていることを要しない。隙間が設けられる場合、当該隙間は、製造プロセス上形成されるものであってもよく、また、意図的に形成するものであってもよい。   FIG. 11 illustrates the case where a gap is provided between the antenna connection terminal 11c and the conductive member 16 and the dam frame portion 14b, and between the adhesive member 15 and the dam frame portion 14b. Such a gap does not necessarily need to be provided. When the gap is provided, the gap may be formed in the manufacturing process or may be intentionally formed.

ダム枠部14bは、半田ペーストのような流動する導電部材16の流出を抑えられるように、アンテナ接続用端子11cの厚さよりも厚く(高く)形成する。尚、前述のように、ダム枠部14bは、ICモジュール10とカード基材21との一体化の際、カード基材21の収容部21aに当接される(図2)。従って、ダム枠部14bには、導電部材16の流出を抑えるダムとしての機能に加え、ICモジュール10のカード基材21に対する位置(高さ)合わせのための部材としての機能も持たせることができる。このようにダム枠部14bをICモジュール10の高さ合わせに用いる場合には、その高さも考慮してダム枠部14bの厚さ(高さ)を設定すればよい。   The dam frame portion 14b is formed thicker (higher) than the thickness of the antenna connection terminal 11c so that the flowing out of the flowing conductive member 16 such as solder paste can be suppressed. As described above, the dam frame portion 14b is brought into contact with the accommodating portion 21a of the card base material 21 when the IC module 10 and the card base material 21 are integrated (FIG. 2). Accordingly, the dam frame portion 14b may have a function as a member for adjusting the position (height) of the IC module 10 with respect to the card base 21 in addition to the function as a dam for suppressing the outflow of the conductive member 16. it can. Thus, when using the dam frame part 14b for height adjustment of the IC module 10, the thickness (height) of the dam frame part 14b may be set in consideration of the height.

以上、第1の実施の形態に係るICモジュール10及びそれを用いたICカード20について説明したが、ICモジュール及びICカードの構成は、上記の例に限定されるものではない。   Although the IC module 10 and the IC card 20 using the IC module 10 according to the first embodiment have been described above, the configurations of the IC module and the IC card are not limited to the above example.

次に、第2の実施の形態について説明する。
図13は第2の実施の形態に係るICモジュールの一例を示す図である。図13において、(A)はICチップ搭載面側の平面模式図、(B)は(A)のL13−L13断面模式図である。
Next, a second embodiment will be described.
FIG. 13 is a diagram illustrating an example of an IC module according to the second embodiment. 13A is a schematic plan view on the IC chip mounting surface side, and FIG. 13B is a schematic cross-sectional view taken along line L13-L13 in FIG.

図13に示すICモジュール10Aは、ダム枠部14bが、アンテナ接続用端子11cの上面に、その縁部に沿って、設けられている点で、上記第1の実施の形態に係るICモジュール10と相違する。このようなICモジュール10Aでも、そのダム枠部14bは、所定形状のモールド金型30を用いて、チップ封止部14aと同時に、1回のモールド工程で形成することができる。   The IC module 10A shown in FIG. 13 is the IC module 10 according to the first embodiment in that the dam frame portion 14b is provided on the upper surface of the antenna connection terminal 11c along the edge thereof. Is different. Even in such an IC module 10A, the dam frame portion 14b can be formed in a single molding process simultaneously with the chip sealing portion 14a by using a molding die 30 having a predetermined shape.

ICモジュール10Aのカード基材21との一体化(カード化)の際には、ダム枠部14bの内側のアンテナ接続用端子11c上に、半田ペーストのような導電部材16を設ける。そして、上記同様、導電部材16の配設面側をカード基材21の収容部21a側に向け、ICモジュール10Aを収容部21aに収容し、接着部材15による接着、導電部材16によるアンテナ接続用端子11cとアンテナ21bとの電気的接続を行う。それにより、ICモジュール10Aを用いたICカードが得られる。   When the IC module 10A is integrated (carded) with the card substrate 21, the conductive member 16 such as solder paste is provided on the antenna connection terminal 11c inside the dam frame portion 14b. And like the above, the arrangement surface side of the conductive member 16 is directed to the accommodating portion 21a side of the card base material 21, the IC module 10A is accommodated in the accommodating portion 21a, adhesion by the adhesive member 15, and antenna connection by the conductive member 16 The terminal 11c and the antenna 21b are electrically connected. Thereby, an IC card using the IC module 10A is obtained.

このICモジュール10Aのように、チップ封止部14aと共にダム枠部14bをアンテナ接続用端子11cの上面縁部に設けた場合にも、カード化の際、アンテナ接続用端子11c上の流動性を示す導電部材16が、ICモジュール10Aの外側に流出するのを抑えることができる。従って、外観不良の発生、歩留まりの低下を抑えてICカードを形成することができ、また、そのようなICカードをコストの増加を抑えて形成することができる。   Even in the case where the dam frame portion 14b is provided on the upper surface edge of the antenna connection terminal 11c together with the chip sealing portion 14a as in the IC module 10A, the fluidity on the antenna connection terminal 11c can be reduced when the card is formed. It is possible to prevent the conductive member 16 shown from flowing out of the IC module 10A. Accordingly, it is possible to form an IC card while suppressing the occurrence of poor appearance and a decrease in yield, and it is possible to form such an IC card while suppressing an increase in cost.

次に、第3の実施の形態について説明する。
以上の説明では、接触非接触兼用のICモジュール及びそれを用いたICカードを例にして述べたが、上記のようなダム枠部14bは、非接触式のICモジュール及びICカードにも同様に適用可能である。
Next, a third embodiment will be described.
In the above description, the contact non-contact IC module and the IC card using the same are described as an example. However, the dam frame portion 14b as described above is also applied to the non-contact IC module and the IC card. Applicable.

図14は第3の実施の形態に係るICモジュールの一例を示す図である。図14において、(A)はICチップ搭載面と反対の面側の平面模式図、(B)はICチップ搭載面側の平面模式図、(C)は(B)のL14−L14断面模式図である。   FIG. 14 is a diagram illustrating an example of an IC module according to the third embodiment. 14A is a schematic plan view on the side opposite to the IC chip mounting surface, FIG. 14B is a schematic plan view on the IC chip mounting surface side, and FIG. 14C is a schematic cross-sectional view taken along line L14-L14 in FIG. It is.

図14に示すICモジュール10Bは、非接触式のICカードに用いるICモジュールである。ICモジュール10Bは、そのモジュール基板11に、上記のような外部端子11b及びそれにワイヤボンディングするための開口部11aaが設けられていない点で、上記第1の実施の形態に係るICモジュール10と相違する。尚、このような非接触式のICカードに用いるICモジュール10Bでは、上記のような接着部材15を設けることもできるが、接着部材15を設けない図14のような構成とすることもできる。   An IC module 10B shown in FIG. 14 is an IC module used for a non-contact type IC card. The IC module 10B is different from the IC module 10 according to the first embodiment in that the module substrate 11 is not provided with the external terminal 11b and the opening 11aa for wire bonding thereto. To do. The IC module 10B used for such a non-contact type IC card can be provided with the adhesive member 15 as described above, but can also be configured as shown in FIG.

このようなICモジュール10Bが、上記同様、所定の向きでカード基材21の収容部21aに収容され、導電部材16によるアンテナ接続用端子11cとアンテナ21bとの電気的接続が行われる。それにより、ICモジュール10Bがカード基材21と一体化(カード化)され、非接触式のICカードが得られる。カード化の際は、チップ封止部14aと共に形成されるダム枠部14bにより、アンテナ接続用端子11c上に設けられる流動性を示す導電部材16が、ICモジュール10Bの外側に流出するのを抑えることができる。従って、外観不良の発生、歩留まりの低下、コストの増加を抑えて、非接触式のICカードを形成することができる。   As described above, such an IC module 10B is accommodated in the accommodating portion 21a of the card base 21 in a predetermined orientation, and the antenna connection terminal 11c and the antenna 21b are electrically connected by the conductive member 16. Thereby, the IC module 10B is integrated (carded) with the card substrate 21, and a non-contact type IC card is obtained. During card formation, the dam frame portion 14b formed together with the chip sealing portion 14a prevents the conductive member 16 having fluidity provided on the antenna connection terminal 11c from flowing out of the IC module 10B. be able to. Accordingly, it is possible to form a non-contact type IC card while suppressing occurrence of poor appearance, a decrease in yield, and an increase in cost.

尚、このような非接触式のICカードに用いるICモジュール10Bにおいても、上記の図13で述べたのと同様に、ダム枠部14bを、アンテナ接続用端子11cの上面縁部に設けることが可能である。   Also in the IC module 10B used for such a non-contact type IC card, the dam frame portion 14b is provided on the upper edge of the antenna connection terminal 11c as described in FIG. Is possible.

次に、第4の実施の形態について説明する。
上記第3の実施の形態では、非接触式のICカードに用いるICモジュール10Bとして、ICチップ12をボンディング端子11caにワイヤボンディングし、アンテナ接続用端子11cに電気的に接続したものを例示した。このほか、面実装型のICチップを用い、それをフリップチップ接続したICモジュールを用いて、非接触式のICカードを得ることも可能である。以下、このようなICモジュール及びそれを用いた非接触式のICカードについて、形成方法の一例と共に、より詳細に説明する。
Next, a fourth embodiment will be described.
In the third embodiment, as the IC module 10B used for the non-contact type IC card, the IC chip 12 is wire-bonded to the bonding terminal 11ca and electrically connected to the antenna connection terminal 11c. In addition, it is also possible to obtain a non-contact type IC card by using a surface mount type IC chip and an IC module in which the chip chip is flip-chip connected. Hereinafter, such an IC module and a non-contact type IC card using the IC module will be described in detail together with an example of a forming method.

図15は第4の実施の形態に係るフリップチップ接続工程の一例を示す図である。図15において、(A)はICチップ搭載面と反対の面側の平面模式図、(B)はICチップ搭載面側のフリップチップ接続した状態の一例の平面模式図、(C)は(B)のL15−L15断面模式図である。   FIG. 15 is a diagram illustrating an example of a flip chip connection process according to the fourth embodiment. In FIG. 15, (A) is a schematic plan view of the surface opposite to the IC chip mounting surface, (B) is a schematic plan view of an example of flip chip connection on the IC chip mounting surface side, and (C) is (B) It is L15-L15 cross-sectional schematic diagram of).

まず、絶縁基板11aの一方の面にアンテナ接続用端子11c及びボンディング端子11caを設けたモジュール基板11上に、面実装型のICチップ12Cを搭載する。アンテナ接続用端子11c及びボンディング端子11caは、ICチップ12Cが搭載される領域を挟むように設けられ、このようなアンテナ接続用端子11c(ボンディング端子11ca)の間の領域に、ICチップ12Cを、バンプ12aを用いてフリップチップ接続する。   First, the surface mount type IC chip 12C is mounted on the module substrate 11 provided with the antenna connection terminal 11c and the bonding terminal 11ca on one surface of the insulating substrate 11a. The antenna connection terminal 11c and the bonding terminal 11ca are provided so as to sandwich the area where the IC chip 12C is mounted, and the IC chip 12C is placed in the area between the antenna connection terminal 11c (bonding terminal 11ca). Flip chip connection is performed using the bumps 12a.

図16は第4の実施の形態に係るモールド工程の一例を示す図である。図16において、(A)はモールドした状態の一例の断面模式図、(B)はモールドした状態の一例の平面模式図である。尚、図16の(A)は(B)のL16−L16断面に相当する模式図である。   FIG. 16 is a diagram illustrating an example of a molding process according to the fourth embodiment. 16A is a schematic cross-sectional view of an example of a molded state, and FIG. 16B is a schematic plan view of an example of a molded state. 16A is a schematic view corresponding to the L16-L16 cross section of FIG.

ICチップ12Cをモジュール基板11にフリップチップ接続した後は、モールド樹脂を用いてICチップ12C等をモールドする。このモールド時には、所定形状のモールド金型30を用いて、モールド部14のチップ封止部14a及びダム枠部14bを同時に形成する。ここでは一例として、アンテナ接続用端子11cの側端面に沿ったダム枠部14bを、チップ封止部14aと同時に形成する。チップ封止部14a及びダム枠部14bのキュア、モールド金型30の離型を行うことで、図16に示したようなICモジュール10Cが得られる。   After the IC chip 12C is flip-chip connected to the module substrate 11, the IC chip 12C and the like are molded using a molding resin. At the time of molding, the chip sealing part 14a and the dam frame part 14b of the mold part 14 are simultaneously formed using a mold 30 having a predetermined shape. Here, as an example, the dam frame portion 14b along the side end surface of the antenna connection terminal 11c is formed simultaneously with the chip sealing portion 14a. The IC module 10 </ b> C as shown in FIG. 16 is obtained by curing the chip sealing portion 14 a and the dam frame portion 14 b and releasing the mold 30.

図17は第4の実施の形態に係る導電部材配設工程の一例を示す図である。図17において、(A)は導電部材を設けた状態の一例の平面模式図、(B)は(A)のL17−L17断面模式図である。   FIG. 17 is a diagram illustrating an example of a conductive member disposing process according to the fourth embodiment. 17A is a schematic plan view of an example of a state in which a conductive member is provided, and FIG. 17B is a schematic cross-sectional view taken along line L17-L17 in FIG.

モールド工程後は、ダム枠部14bの内側のアンテナ接続用端子11c上に、導電部材16を設ける。導電部材16としては、例えば所定の組成を有する半田ペーストを用いる。   After the molding step, the conductive member 16 is provided on the antenna connection terminal 11c inside the dam frame portion 14b. As the conductive member 16, for example, a solder paste having a predetermined composition is used.

図18は第4の実施の形態に係るカード化工程の一例を示す図である。図18において、(A)はICモジュール収容工程の一例の要部断面模式図、(B)はカード基材貼り合わせ工程の要部断面模式図である。   FIG. 18 is a diagram illustrating an example of a card forming process according to the fourth embodiment. 18A is a schematic cross-sectional view of an essential part of an example of an IC module housing process, and FIG.

アンテナ接続用端子11c上に導電部材16を設けた後は、導電部材16を設けたICモジュール10Cを、カード基材21と一体化する。ICモジュール10Cは、図18(A)に示すように、導電部材16側をカード基材21側に向けて収容部21aに収容され、導電部材16によるアンテナ接続用端子11cとアンテナ21bとの電気的接続が行われて、カード基材21と一体化される。   After the conductive member 16 is provided on the antenna connection terminal 11c, the IC module 10C provided with the conductive member 16 is integrated with the card substrate 21. As shown in FIG. 18A, the IC module 10C is housed in the housing portion 21a with the conductive member 16 side facing the card base material 21, and the electrical connection between the antenna connection terminal 11c and the antenna 21b by the conductive member 16 is performed. Connection is made and integrated with the card substrate 21.

ICモジュール10Cの、このようなカード基材21との一体化後、図18(B)に示すように、ICモジュール10C及びカード基材21を覆うように、第2のカード基材22を貼り合わせる。これにより、ICモジュール10Cを用いた非接触式のICカード20Cを得る。   After the integration of the IC module 10C with such a card base 21, the second card base 22 is pasted so as to cover the IC module 10C and the card base 21 as shown in FIG. Match. Thereby, a non-contact type IC card 20C using the IC module 10C is obtained.

このようなICカード20Cを得る場合にも、チップ封止部14aと共に形成されるダム枠部14bにより、アンテナ接続用端子11c上の流動性を示す導電部材16が、ICモジュール10Cの外側に流出するのを抑えることができる。従って、外観不良の発生、歩留まりの低下、コストの増加を抑えて、ICカード20Cを形成することができる。   Even when such an IC card 20C is obtained, the conductive member 16 showing the fluidity on the antenna connection terminal 11c flows out of the IC module 10C by the dam frame portion 14b formed together with the chip sealing portion 14a. Can be suppressed. Therefore, it is possible to form the IC card 20C while suppressing the appearance defects, the yield reduction, and the cost increase.

尚、ここでは接着部材15を用いないICモジュール10Cを例示したが、上記のICモジュール10等と同様に、ダム枠部14b及びチップ封止部14aの外側に接着部材15を設け、非接触式のICカード20Cを形成するようにしてもよい。   Although the IC module 10C that does not use the adhesive member 15 is illustrated here, the adhesive member 15 is provided outside the dam frame portion 14b and the chip sealing portion 14a in the same manner as the IC module 10 and the like described above, and is non-contact type. The IC card 20C may be formed.

また、ICカード20Cに用いるICモジュール10Cにおいても、ダム枠部14bは、上記の図13で述べたのと同様に、アンテナ接続用端子11cの上面縁部に設けるようにしてもよい。   Also, in the IC module 10C used for the IC card 20C, the dam frame portion 14b may be provided on the upper edge of the antenna connection terminal 11c in the same manner as described in FIG.

以上説明したように、ICカードに用いるICモジュールに、そのICチップ等を封止するチップ封止部と共に、ICチップが電気的に接続されるアンテナ接続用端子にダム枠部を設ける。このようなダム枠部を設けることで、カード化の際、アンテナ接続用端子上に半田ペーストのような流動性を示す導電部材を用いた場合にも、その導電部材がアンテナ接続用端子上から流出し、ICモジュールの外側に流出するのを抑えることができる。また、ダム枠部を設けることで、ダム枠部及びチップ封止部の外側に接着テープのような接着部材を設ける場合にも、接着部材と導電部材との接触を抑え、接着部材の熱劣化を抑えることができる。このように、導電部材の流出を抑えることができ、また、接着部材の熱劣化を抑えることができるため、外観不良の発生、歩留まりの低下を効果的に抑えて、高品質のICカードを形成することが可能になる。   As described above, the IC module used for the IC card is provided with the dam frame portion on the antenna connection terminal to which the IC chip is electrically connected together with the chip sealing portion for sealing the IC chip and the like. By providing such a dam frame portion, even when a conductive member having fluidity such as a solder paste is used on the antenna connection terminal, when the card is formed, the conductive member is removed from above the antenna connection terminal. Outflow and outflow to the outside of the IC module can be suppressed. Also, by providing the dam frame part, even when an adhesive member such as an adhesive tape is provided outside the dam frame part and the chip sealing part, the contact between the adhesive member and the conductive member is suppressed, and the adhesive member is thermally deteriorated. Can be suppressed. As described above, since the outflow of the conductive member can be suppressed and the thermal deterioration of the adhesive member can be suppressed, it is possible to effectively suppress the appearance failure and the yield reduction, thereby forming a high quality IC card. It becomes possible to do.

また、ダム枠部は、モールド工程において、チップ封止部と同時に形成することができる。そのため、導電部材の流出等を抑えるダム枠部を備えたICモジュール、ICカードを、工数の増加、コストの増加を抑えて、形成することが可能になる。   Further, the dam frame portion can be formed simultaneously with the chip sealing portion in the molding process. Therefore, it becomes possible to form an IC module and an IC card having a dam frame portion that suppresses the outflow of the conductive member and the like while suppressing an increase in man-hours and an increase in cost.

尚、以上の説明では、ダム枠部を、アンテナ接続用端子の側端面に沿って設ける場合、及びアンテナ接続用端子の上面縁部に沿って設ける場合を例にして述べた。このほか、ダム枠部は、アンテナ接続用端子上に設ける導電部材の流出を所定領域内に抑えることができるものであれば、上記の例のような配置には限定されない。例えば、ダム枠部は、アンテナ接続用端子の側端面と上面縁部とに跨って形成することもできる。また、ダム枠部は、アンテナ接続用端子を囲み、且つ、チップ封止部からは離間して形成することも可能である。   In the above description, the case where the dam frame portion is provided along the side end surface of the antenna connection terminal and the case where the dam frame portion is provided along the upper surface edge of the antenna connection terminal have been described as examples. In addition, the dam frame portion is not limited to the arrangement as in the above example as long as the conductive member provided on the antenna connection terminal can be prevented from flowing out within a predetermined region. For example, the dam frame portion can be formed across the side end surface and the upper surface edge portion of the antenna connection terminal. The dam frame portion can also be formed so as to surround the antenna connection terminal and be separated from the chip sealing portion.

また、以上の説明では、流動性を示す導電部材の一例として半田ペーストを挙げたが、その他の導電性ペースト、例えば銀等の導電材料を含む導電性ペーストを用いた場合にも、ダム枠部を設けることにより、上記同様の効果を得ることが可能である。   In the above description, the solder paste is exemplified as an example of the conductive member exhibiting fluidity. However, the dam frame portion is also used when other conductive paste, for example, a conductive paste containing a conductive material such as silver is used. By providing the above, it is possible to obtain the same effect as described above.

以上説明した実施の形態に関し、更に以下の付記を開示する。
(付記1) 基板と、
前記基板の一面に設けられた半導体素子と、
前記一面に設けられ、前記半導体素子に電気的に接続された端子と、
前記半導体素子を覆う封止部と前記端子に設けられた枠部とを有する封止樹脂部と
を含むことを特徴とする半導体モジュール。
Regarding the embodiment described above, the following additional notes are further disclosed.
(Appendix 1) a substrate,
A semiconductor element provided on one surface of the substrate;
A terminal provided on the one surface and electrically connected to the semiconductor element;
A semiconductor module, comprising: a sealing portion that covers the semiconductor element; and a sealing resin portion that includes a frame portion provided on the terminal.

(付記2) 前記枠部の内面が、梨地になっていることを特徴とする付記1に記載の半導体モジュール。
(付記3) 前記枠部の内面が、前記端子に対して垂直になっていることを特徴とする付記1又は2に記載の半導体モジュール。
(Additional remark 2) The semiconductor module of Additional remark 1 characterized by the inner surface of the said frame part being a satin finish.
(Additional remark 3) The semiconductor module of Additional remark 1 or 2 characterized by the inner surface of the said frame part being perpendicular | vertical with respect to the said terminal.

(付記4) 前記枠部の高さが、前記封止部の高さよりも低いことを特徴とする付記1乃至3のいずれかに記載の半導体モジュール。
(付記5) 前記基板の上方で前記封止部及び前記枠部の外側に設けられた接着部材を更に含むことを特徴とする付記1乃至4のいずれかに記載の半導体モジュール。
(Additional remark 4) The height of the said frame part is lower than the height of the said sealing part, The semiconductor module in any one of Additional remark 1 thru | or 3 characterized by the above-mentioned.
(Additional remark 5) The semiconductor module in any one of additional remark 1 thru | or 4 further including the adhesive member provided in the outer side of the said sealing part and the said frame part above the said board | substrate.

(付記6) 前記半導体素子は、前記端子にボンディングワイヤで接続されていることを特徴とする付記1乃至5のいずれかに記載の半導体モジュール。
(付記7) 前記半導体素子は、前記端子にバンプを介してフリップチップ接続されていることを特徴とする付記1乃至5のいずれかに記載の半導体モジュール。
(Additional remark 6) The said semiconductor element is connected to the said terminal with the bonding wire, The semiconductor module in any one of Additional remark 1 thru | or 5 characterized by the above-mentioned.
(Supplementary note 7) The semiconductor module according to any one of supplementary notes 1 to 5, wherein the semiconductor element is flip-chip connected to the terminal via a bump.

(付記8) 端子を有する基板の前記端子が設けられた面に半導体素子を設ける工程と、
設けられた前記半導体素子を前記端子に電気的に接続する工程と、
前記端子に電気的に接続された前記半導体素子を覆う封止部と前記端子に設けられた枠部とを有する封止樹脂部を形成する工程と
を含むことを特徴とする半導体モジュールの製造方法。
(Additional remark 8) The process of providing a semiconductor element in the surface in which the said terminal of the board | substrate which has a terminal was provided,
Electrically connecting the provided semiconductor element to the terminal;
Forming a sealing resin portion having a sealing portion that covers the semiconductor element that is electrically connected to the terminal and a frame portion provided on the terminal. .

(付記9) 前記封止樹脂部を形成する工程では、前記封止部及び前記枠部を同時に形成することを特徴とする付記8に記載の半導体モジュールの製造方法。
(付記10) 前記封止樹脂部を形成する工程は、前記枠部の内面を梨地にする工程を含むことを特徴とする付記8又は9に記載の半導体モジュールの製造方法。
(Additional remark 9) The manufacturing method of the semiconductor module of Additional remark 8 characterized by forming the said sealing part and the said frame part simultaneously in the process of forming the said sealing resin part.
(Additional remark 10) The process of forming the said sealing resin part includes the process of making the inner surface of the said frame part into a satin finish, The manufacturing method of the semiconductor module of Additional remark 8 or 9 characterized by the above-mentioned.

(付記11) 前記封止樹脂部を形成する工程では、前記枠部の内面を前記端子に対して垂直にする工程を含むことを特徴とする付記8乃至10のいずれかに記載の半導体モジュールの製造方法。   (Additional remark 11) The process of forming the said sealing resin part includes the process of making the inner surface of the said frame part perpendicular | vertical with respect to the said terminal, The semiconductor module in any one of Additional remark 8 thru | or 10 characterized by the above-mentioned. Production method.

(付記12) アンテナを備えるカード基材と、
前記カード基材に搭載され、前記アンテナに電気的に接続された半導体モジュールと
を備え、
前記半導体モジュールは、
基板と、
前記基板の一面に設けられた半導体素子と、
前記一面に設けられ、前記半導体素子に電気的に接続された端子と、
前記半導体素子を覆う封止部と前記端子に設けられた枠部とを有する封止樹脂部と
を含み、
前記端子が、前記枠部の内側の前記端子上に設けられた導電部材を介して前記アンテナに電気的に接続されている
ことを特徴とするカード。
(Supplementary note 12) a card substrate provided with an antenna;
A semiconductor module mounted on the card base and electrically connected to the antenna;
The semiconductor module is
A substrate,
A semiconductor element provided on one surface of the substrate;
A terminal provided on the one surface and electrically connected to the semiconductor element;
A sealing resin portion having a sealing portion that covers the semiconductor element and a frame portion provided on the terminal;
The card, wherein the terminal is electrically connected to the antenna through a conductive member provided on the terminal inside the frame.

(付記13) 前記カード基材は、前記アンテナの一部が露出する凹部を有し、
前記半導体モジュールは、前記凹部内に搭載され、前記端子が前記導電部材を介して前記アンテナの前記一部に電気的に接続されている
ことを特徴とする付記12に記載のカード。
(Additional remark 13) The said card | curd base material has a recessed part which a part of said antenna exposes,
The card according to appendix 12, wherein the semiconductor module is mounted in the recess, and the terminal is electrically connected to the part of the antenna through the conductive member.

(付記14) 前記基板の上方で前記封止部及び前記枠部の外側に設けられた接着部材を更に含み、
前記半導体モジュールは、前記接着部材を介して前記カード基材に接着されている
ことを特徴とする付記12又は13に記載のカード。
(Additional remark 14) The adhesive member provided in the outer side of the said sealing part and the said frame part above the said board | substrate is further included,
The card according to appendix 12 or 13, wherein the semiconductor module is bonded to the card substrate through the adhesive member.

(付記15) アンテナを備えるカード基材を形成する工程と、
半導体素子を備える半導体モジュールを形成する工程と、
前記半導体モジュールを前記カード基材に搭載する工程と
を含み、
前記半導体モジュールを形成する工程は、
基板の端子の配設面に前記半導体素子を設ける工程と、
設けられた前記半導体素子を前記端子に電気的に接続する工程と、
前記端子に電気的に接続された前記半導体素子を覆う封止部と前記端子に設けられた枠部とを有する封止樹脂部を形成する工程と
を含み、
前記半導体モジュールを前記カード基材に搭載する工程は、
前記枠部の内側の前記端子上に導電部材を設ける工程と、
前記端子を、前記導電部材を介して、前記アンテナに電気的に接続する工程と
を含む
ことを特徴とするカードの製造方法。
(Additional remark 15) The process of forming a card base material provided with an antenna,
Forming a semiconductor module comprising a semiconductor element;
Mounting the semiconductor module on the card substrate,
The step of forming the semiconductor module includes:
Providing the semiconductor element on a terminal arrangement surface of the substrate;
Electrically connecting the provided semiconductor element to the terminal;
Forming a sealing resin portion having a sealing portion covering the semiconductor element electrically connected to the terminal and a frame portion provided on the terminal, and
The step of mounting the semiconductor module on the card substrate includes:
Providing a conductive member on the terminal inside the frame; and
Electrically connecting the terminal to the antenna via the conductive member. A method for manufacturing a card, comprising:

10,10A,10B,10C,1000 ICモジュール
11 モジュール基板
11a 絶縁基板
11aa 開口部
11b 外部端子
11c アンテナ接続用端子
11ca ボンディング端子
12,12C ICチップ
12a バンプ
13 ボンディングワイヤ
14 モールド部
14a チップ封止部
14b ダム枠部
15 接着部材
16 導電部材
20,20C,1020 ICカード
21,22 カード基材
21a 収容部
21b アンテナ
30 モールド金型
10, 10A, 10B, 10C, 1000 IC module 11 Module substrate 11a Insulating substrate 11aa Opening portion 11b External terminal 11c Antenna connection terminal 11ca Bonding terminal 12, 12C IC chip 12a Bump 13 Bonding wire 14 Mold portion 14a Chip sealing portion 14b Dam frame portion 15 Adhesive member 16 Conductive member 20, 20C, 1020 IC card 21, 22 Card base 21a Housing portion 21b Antenna 30 Mold

Claims (9)

基板と、
前記基板の一面側に設けられた半導体素子と、
前記一面に設けられ、前記半導体素子に電気的に接続されたボンディング端子と、
前記一面に設けられ、前記ボンディング端子に電気的に接続され、平面視で前記半導体素子及び前記ボンディング端子の外側に位置するアンテナ接続用端子と、
前記半導体素子及び前記ボンディング端子を覆う封止部と、前記封止部の外側に位置する前記アンテナ接続用端子の縁部に沿って設けられ、前記縁部よりも内側の領域を囲む枠部とを有し、前記枠部の上面が、前記封止部の上面よりも低い位置にあり、且つ、前記アンテナ接続用端子の上面よりも高い位置にある封止樹脂部と
を含むことを特徴とする半導体モジュール。
A substrate,
A semiconductor element provided on one side of the substrate;
A bonding terminal provided on the one surface and electrically connected to the semiconductor element;
Provided on the one surface, the is electrically connected to the bonding terminal, and an antenna connection terminal, located outside the semiconductor element and the bonding terminals in plan view,
Wherein a sealing portion for covering the semiconductor element and the bonding terminal, wherein located outside of the sealing portion is provided along the edge of the antenna connection terminal, wherein enclose the frame section area inside the edges And a sealing resin portion in which the upper surface of the frame portion is at a position lower than the upper surface of the sealing portion and higher than the upper surface of the antenna connection terminal. A semiconductor module.
前記枠部の、前記アンテナ接続用端子の前記縁部側に面する内面が、梨地になっていることを特徴とする請求項1に記載の半導体モジュール。 The semiconductor module according to claim 1, wherein an inner surface of the frame portion facing the edge side of the antenna connection terminal is a satin finish. 前記枠部の、前記アンテナ接続用端子の前記縁部側に面する内面が、前記縁部に対して垂直になっていることを特徴とする請求項1又は2に記載の半導体モジュール。 The semiconductor module according to claim 1, wherein an inner surface of the frame portion facing the edge side of the antenna connection terminal is perpendicular to the edge portion . 前記封止部と前記枠部とが同一材料で形成されていることを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載の半導体モジュール。   The semiconductor module according to claim 1, wherein the sealing portion and the frame portion are formed of the same material. ボンディング端子、及び前記ボンディング端子に電気的に接続され、平面視で前記ボンディング端子の外側に位置するアンテナ接続用端子を有する基板の、前記ボンディング端子及び前記アンテナ接続用端子が設けられた面側に、半導体素子を設ける工程と、
設けられた前記半導体素子を前記ボンディング端子に電気的に接続する工程と、
前記ボンディング端子に電気的に接続された前記半導体素子及び前記ボンディング端子を覆う封止部と、前記封止部の外側に位置する前記アンテナ接続用端子の縁部に沿って設けられ、前記縁部よりも内側の領域を囲む枠部とを有し、前記枠部の上面が、前記封止部の上面よりも低い位置にあり、且つ、前記アンテナ接続用端子の上面よりも高い位置にある封止樹脂部を形成する工程と
を含むことを特徴とする半導体モジュールの製造方法。
A bonding terminal and a substrate that is electrically connected to the bonding terminal and has an antenna connection terminal located outside the bonding terminal in a plan view, on a surface side where the bonding terminal and the antenna connection terminal are provided. Providing a semiconductor element;
Electrically connecting the provided semiconductor element to the bonding terminal;
A sealing portion that covers the semiconductor element and the bonding terminal electrically connected to the bonding terminal, and an edge portion of the antenna connection terminal that is located outside the sealing portion, and the edge portion A frame that surrounds the inner region, and the upper surface of the frame is lower than the upper surface of the sealing portion, and is higher than the upper surface of the antenna connection terminal. Forming a stop resin portion. A method for manufacturing a semiconductor module, comprising:
前記封止樹脂部を形成する工程では、前記封止部及び前記枠部を同時に形成することを特徴とする請求項5に記載の半導体モジュールの製造方法。   The method for manufacturing a semiconductor module according to claim 5, wherein in the step of forming the sealing resin portion, the sealing portion and the frame portion are formed simultaneously. 前記封止部と前記枠部とが同一材料で形成されていることを特徴とする請求項5又は6に記載の半導体モジュールの製造方法。   The method for manufacturing a semiconductor module according to claim 5, wherein the sealing portion and the frame portion are formed of the same material. アンテナを備えるカード基材と、
前記カード基材に搭載され、前記アンテナに電気的に接続された半導体モジュールと
を備え、
前記半導体モジュールは、
基板と、
前記基板の一面側に設けられた半導体素子と、
前記一面に設けられ、前記半導体素子に電気的に接続されたボンディング端子と、
前記一面に設けられ、前記ボンディング端子に電気的に接続されたアンテナ接続用端子と、
前記半導体素子及び前記ボンディング端子を覆う封止部と、前記アンテナ接続用端子の少なくとも一部を囲む枠部とを有し、前記枠部の上面が、前記封止部の上面よりも低い位置にあり、且つ、前記アンテナ接続用端子の上面よりも高い位置にある封止樹脂部と
を含み、
前記封止部が、前記カード基材に設けられた凹部に収容され、
前記枠部が、前記カード基材に当接し、
前記アンテナ接続用端子が、前記一部上に設けられた導電部材を介して前記アンテナに電気的に接続されている
ことを特徴とするカード。
A card substrate provided with an antenna;
A semiconductor module mounted on the card base and electrically connected to the antenna;
The semiconductor module is
A substrate,
A semiconductor element provided on one side of the substrate;
A bonding terminal provided on the one surface and electrically connected to the semiconductor element;
An antenna connection terminal provided on the one surface and electrically connected to the bonding terminal;
And a sealing portion for covering the semiconductor element and the bonding terminal, at least a portion of said antenna connection terminal and a enclose the frame section, the upper surface of the frame portion is positioned lower than the upper surface of the sealing portion And a sealing resin portion located at a position higher than the upper surface of the antenna connection terminal,
The sealing portion is accommodated in a recess provided in the card base,
The frame portion abuts against the card substrate;
The card, wherein the antenna connection terminal is electrically connected to the antenna through a conductive member provided on the part.
前記封止部と前記枠部とが同一材料で形成されていることを特徴とする請求項8に記載のカード。
The card according to claim 8, wherein the sealing portion and the frame portion are formed of the same material.
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