Deprecated: The each() function is deprecated. This message will be suppressed on further calls in /home/zhenxiangba/zhenxiangba.com/public_html/phproxy-improved-master/index.php on line 456
JP6006928B2 - Method for producing polymer compound - Google Patents
[go: Go Back, main page]

JP6006928B2 - Method for producing polymer compound - Google Patents

Method for producing polymer compound Download PDF

Info

Publication number
JP6006928B2
JP6006928B2 JP2011241615A JP2011241615A JP6006928B2 JP 6006928 B2 JP6006928 B2 JP 6006928B2 JP 2011241615 A JP2011241615 A JP 2011241615A JP 2011241615 A JP2011241615 A JP 2011241615A JP 6006928 B2 JP6006928 B2 JP 6006928B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
group
atom
substituent
carbon atoms
alkyl group
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2011241615A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2013095880A (en
Inventor
内海 義之
義之 内海
尚宏 太宰
尚宏 太宰
雅俊 新井
雅俊 新井
嘉崇 小室
嘉崇 小室
健一郎 宮下
健一郎 宮下
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd
Original Assignee
Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd filed Critical Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd
Priority to JP2011241615A priority Critical patent/JP6006928B2/en
Publication of JP2013095880A publication Critical patent/JP2013095880A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP6006928B2 publication Critical patent/JP6006928B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Materials For Photolithography (AREA)
  • Addition Polymer Or Copolymer, Post-Treatments, Or Chemical Modifications (AREA)

Description

本発明は、レジスト組成物の基材成分として有用であり、且つ、使用するモノマーの種類に関わらず製造が可能である高分子化合物の製造方法に関する。 The present invention is useful as a base component of the resist composition, and relates to the production how of the polymer compound which can be produced irrespective of the type of the monomers used.

リソグラフィー技術においては、例えば基板の上にレジスト材料からなるレジスト膜を形成し、該レジスト膜に対して選択的露光を行い、現像処理を施すことにより、前記レジスト膜に所定形状のレジストパターンを形成する工程が行われる。レジスト膜の露光部が現像液に溶解する特性に変化するレジスト材料をポジ型、露光部が現像液に溶解しない特性に変化するレジスト材料をネガ型という。
近年、半導体素子や液晶表示素子の製造においては、リソグラフィー技術の進歩により急速にパターンの微細化が進んでいる。
微細化の手法としては、一般に、露光光源の短波長化(高エネルギー化)が行われている。具体的には、従来は、g線、i線に代表される紫外線が用いられていたが、現在では、KrFエキシマレーザーや、ArFエキシマレーザーを用いた半導体素子の量産が開始されている。また、これらエキシマレーザーより短波長(高エネルギー)のEUV(極紫外線)や、EB(電子線)、X線などについても検討が行われている。
In lithography technology, for example, a resist film made of a resist material is formed on a substrate, and the resist film is selectively exposed and developed to form a resist pattern having a predetermined shape on the resist film. The process to perform is performed. A resist material in which the exposed portion of the resist film changes to a property that dissolves in the developer is referred to as a positive type, and a resist material that changes to a property in which the exposed portion does not dissolve in the developer is referred to as a negative type.
In recent years, in the manufacture of semiconductor elements and liquid crystal display elements, pattern miniaturization has been rapidly progressing due to advances in lithography technology.
As a technique for miniaturization, the exposure light source is generally shortened in wavelength (increased energy). Specifically, conventionally, ultraviolet rays typified by g-line and i-line have been used, but at present, mass production of semiconductor elements using a KrF excimer laser or an ArF excimer laser has started. Further, studies have been made on EUV (extreme ultraviolet), EB (electron beam), X-rays, and the like having a shorter wavelength (higher energy) than these excimer lasers.

レジスト材料には、これらの露光光源に対する感度、微細な寸法のパターンを再現できる解像性等のリソグラフィー特性が求められる。
このような要求を満たすレジスト材料として、従来、酸の作用により現像液に対する溶解性が変化する基材成分と、露光により酸を発生する酸発生剤成分とを含有する化学増幅型レジスト組成物が用いられている。たとえば上記現像液がアルカリ現像液(アルカリ現像プロセス)の場合、ポジ型の化学増幅型レジスト組成物としては、酸の作用によりアルカリ現像液に対する溶解性が増大する樹脂成分(ベース樹脂)と、酸発生剤成分とを含有するものが一般的に用いられている。かかるレジスト組成物を用いて形成されるレジスト膜は、レジストパターン形成時に選択的露光を行うと、露光部において酸発生剤成分から酸が発生し、該酸の作用によりベース樹脂のアルカリ現像液に対する溶解性が増大して、露光部がアルカリ現像液に対して可溶となる。そのためアルカリ現像することにより、未露光部がパターンとして残るポジ型パターンが形成される。
ここで、前記ベース樹脂は、酸の作用により樹脂の極性が高くなるものが用いられ、アルカリ現像液に対する溶解性が増大する一方で、有機溶剤に対する溶解性は低下する。そのため、アルカリ現像プロセスでなく、有機溶剤を含む現像液(有機系現像液)を用いた溶剤現像プロセスを適用すると、露光部では、相対的に有機系現像液に対する溶解性が低下するため、該溶剤現像プロセスにおいては、レジスト膜の未露光部が有機系現像液により溶解、除去されて、露光部がパターンとして残るネガ型のレジストパターンが形成される。このようにネガ型のレジストパターンを形成する溶剤現像プロセスをネガ型現像プロセスということがある(たとえば特許文献1)。
Resist materials are required to have lithography characteristics such as sensitivity to these exposure light sources and resolution capable of reproducing a pattern with fine dimensions.
Conventionally, as a resist material satisfying such requirements, there is a chemically amplified resist composition containing a base material component whose solubility in a developing solution is changed by the action of an acid and an acid generator component that generates an acid upon exposure. It is used. For example, when the developer is an alkali developer (alkaline development process), the positive chemically amplified resist composition includes a resin component (base resin) whose solubility in an alkali developer is increased by the action of an acid, an acid Those containing a generator component are generally used. When a resist film formed using such a resist composition is selectively exposed at the time of forming a resist pattern, an acid is generated from the acid generator component in the exposed portion, and the acid acts on the alkaline developer of the base resin. Solubility increases and the exposed part becomes soluble in an alkaline developer. Therefore, by performing alkali development, a positive pattern in which an unexposed portion remains as a pattern is formed.
Here, as the base resin, a resin whose polarity is increased by the action of an acid is used, and the solubility in an alkali developer is increased while the solubility in an organic solvent is decreased. Therefore, when a solvent development process using an organic solvent-containing developer (organic developer) is applied instead of an alkali development process, the solubility in the organic developer is relatively reduced in the exposed area. In the solvent development process, the unexposed portion of the resist film is dissolved and removed by the organic developer, and a negative resist pattern is formed in which the exposed portion remains as a pattern. Such a solvent development process for forming a negative resist pattern is sometimes referred to as a negative development process (for example, Patent Document 1).

現在、ArFエキシマレーザーリソグラフィー等において使用される化学増幅型レジスト組成物のベース樹脂としては、193nm付近における透明性に優れることから、(メタ)アクリル酸エステルから誘導される構成単位を主鎖に有する樹脂(アクリル系樹脂)などが一般的に用いられている(たとえば特許文献2参照)。
ここで、「(メタ)アクリル酸エステル」とは、α位に水素原子が結合したアクリル酸エステルと、α位にメチル基が結合したメタクリル酸エステルの一方あるいは両方を意味する。「(メタ)アクリレート」とは、α位に水素原子が結合したアクリレートと、α位にメチル基が結合したメタクリレートの一方あるいは両方を意味する。「(メタ)アクリル酸」とは、α位に水素原子が結合したアクリル酸と、α位にメチル基が結合したメタクリル酸の一方あるいは両方を意味する。
At present, as a base resin of a chemically amplified resist composition used in ArF excimer laser lithography and the like, it has a structural unit derived from (meth) acrylic acid ester in its main chain because of its excellent transparency near 193 nm. Resins (acrylic resins) and the like are generally used (see, for example, Patent Document 2).
Here, “(meth) acrylic acid ester” means one or both of an acrylic acid ester having a hydrogen atom bonded to the α-position and a methacrylic acid ester having a methyl group bonded to the α-position. “(Meth) acrylate” means one or both of an acrylate having a hydrogen atom bonded to the α-position and a methacrylate having a methyl group bonded to the α-position. “(Meth) acrylic acid” means one or both of acrylic acid having a hydrogen atom bonded to the α-position and methacrylic acid having a methyl group bonded to the α-position.

近年、ベース樹脂として、露光により分解して酸を発生する酸発生基を有するものが提案されている。たとえば構造中に、露光により酸を発生する酸発生基と、酸の作用により極性が変化する酸分解性基とを有する樹脂成分が提案されている(たとえば特許文献3〜5参照)。かかる樹脂成分は、酸発生剤としての機能と基材成分としての機能とを併せ持ち、一成分のみで化学増幅型レジスト組成物を構成し得る。つまり、該樹脂成分に対して露光を行うと、構造中の酸発生基から酸が発生し、該酸の作用により酸分解性基が分解し、カルボキシ基等の極性基が生じて極性が増大する。そのため、該樹脂成分を用いて形成した樹脂膜(レジスト膜)に対して選択的露光を行うと、露光部の極性が増大するため、アルカリ現像液を用いて現像を行うことにより露光部が溶解、除去されてポジ型のレジストパターンが形成される。   In recent years, a base resin having an acid generating group that decomposes upon exposure to generate an acid has been proposed. For example, a resin component having an acid-generating group that generates an acid upon exposure and an acid-decomposable group that changes its polarity by the action of an acid has been proposed in the structure (see, for example, Patent Documents 3 to 5). Such a resin component has both a function as an acid generator and a function as a base material component, and a chemical amplification resist composition can be constituted by only one component. In other words, when the resin component is exposed to light, an acid is generated from the acid-generating group in the structure, the acid-decomposable group is decomposed by the action of the acid, and a polar group such as a carboxy group is generated to increase the polarity. To do. Therefore, if selective exposure is performed on a resin film (resist film) formed using the resin component, the polarity of the exposed portion increases. Therefore, development using an alkaline developer dissolves the exposed portion. And a positive resist pattern is formed.

特開2009−25707号公報JP 2009-25707 A 特開2003−241385号公報JP 2003-241385 A 特開平10−221852号公報JP-A-10-221852 特開2006−045311号公報JP 2006-045311 A 特開2010−095643号公報JP 2010-095643 A

上記特許文献3〜5に記載されているような酸発生基と酸分解性基とを有する樹脂成分によれば、酸発生剤と基材成分とを別個に配合した場合に比べて、解像性が向上するとされている。解像性が向上する理由としては、基材成分である樹脂成分が酸発生基を有することで、該酸発生基がレジスト膜中に均一に分布しやすいため、露光により該酸発生基から発生する酸がレジスト膜中で均一に拡散しやすいこと等が考えられる。当該樹脂成分は、樹脂を構成する繰り返し単位を誘導するモノマーを用いて通常のラジカル重合方法等により製造されるのが一般的である。   According to the resin component having an acid-generating group and an acid-decomposable group as described in Patent Documents 3 to 5, the resolution is higher than when the acid generator and the base component are blended separately. It is said that the property is improved. The reason why the resolution is improved is that the resin component as a base component has an acid generating group, and the acid generating group is easily distributed uniformly in the resist film. It is conceivable that the acid to be easily diffused uniformly in the resist film. The resin component is generally produced by a normal radical polymerization method using a monomer that induces a repeating unit constituting the resin.

しかしながら、上記のような樹脂成分は、当該樹脂成分の製造時における未反応モノマーの除去効率が悪く、特に、露光により酸を発生する酸発生基を含むモノマーの除去効率が悪い。そのため、この未反応モノマー(残存モノマー)の影響により、当該樹脂成分を含有するレジスト組成物を用いてレジストパターンを形成した際、要求されるリソグラフィー特性が得られにくい、という問題がある。
また、上記のような樹脂の製造においては、一部の酸発生基を含むモノマーを用いた場合に樹脂を製造することができないという問題がある。そのため、樹脂に用いる酸発生基の選択の幅が狭く、要求されるリソグラフィー特性やリソグラフィー条件に応じて酸発生基を最適化することが難しいという問題もある。
However, the resin component as described above has poor removal efficiency of unreacted monomers at the time of production of the resin component, and in particular, removal efficiency of a monomer containing an acid generating group that generates an acid upon exposure is poor. Therefore, due to the influence of this unreacted monomer (residual monomer), there is a problem that it is difficult to obtain the required lithography characteristics when a resist pattern is formed using a resist composition containing the resin component.
Further, in the production of the resin as described above, there is a problem that the resin cannot be produced when a monomer containing some acid-generating groups is used. Therefore, there is a problem that it is difficult to optimize the acid generating group according to the required lithography characteristics and lithography conditions because the selection range of the acid generating group used for the resin is narrow.

本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであって、リソグラフィー特性に優れたレジスト組成物の基材成分として有用であり、且つ、使用するモノマーの種類に関わらず製造が可能である、露光により分解して酸を発生する高分子化合物の製造方法、並びに当該高分子化合物を含有するレジスト組成物、及び当該レジスト組成物を用いたレジストパターン形成方法を提供することを課題とする。   The present invention has been made in view of the above circumstances, is useful as a base component of a resist composition having excellent lithography properties, and can be produced regardless of the type of monomer used. It is an object of the present invention to provide a method for producing a polymer compound that decomposes and generates an acid, a resist composition containing the polymer compound, and a resist pattern forming method using the resist composition.

上記の課題を解決するために、本発明は以下の構成を採用した。
すなわち、本発明の第一の態様は、スルホン酸アニオン、カルボン酸アニオン、スルホニルイミドアニオン、ビス(アルキルスルホニル)イミドアニオン、及びトリス(アルキルスルホニル)メチドアニオンからなる群より選択される少なくとも一種のアニオン基と、第一のスルホニウム又はヨードニウムカチオンとを有するモノマーを重合して前駆体ポリマーを合成し、洗浄した後、当該前駆体ポリマーを第二のスルホニウム又はヨードニウムカチオンと塩交換させる、高分子化合化合物の製造方法であって、前記第二のスルホニウム又はヨードニウムカチオンが、前記第一のスルホニウム又はヨードニウムカチオンよりも疎水性が高く、高速液体クロマトグラフィー法により測定される、前記第二のスルホニウム又はヨードニウムカチオンのリテンションタイムを、前記第二のスルホニウム又はヨードニウムカチオンのリテンションタイムの測定と同条件の高速液体クロマトグラフィー法により測定される、前記第一のスルホニウム又はヨードニウムカチオンのリテンションタイムで割った値が1.05以上であることを特徴とする、露光により分解して酸を発生する構成単位を有する高分子化合物の製造方法である。
In order to solve the above problems, the present invention employs the following configuration.
That is, the first aspect of the present invention is at least one anionic group selected from the group consisting of a sulfonate anion, a carboxylate anion, a sulfonylimide anion, a bis (alkylsulfonyl) imide anion, and a tris (alkylsulfonyl) methide anion. And a polymer having a first sulfonium or iodonium cation to synthesize a precursor polymer, washing, and then subjecting the precursor polymer to a salt exchange with the second sulfonium or iodonium cation. a manufacturing method, the second sulfonium or iodonium cation, the high hydrophobicity than the first sulfonium or iodonium cation, as measured by high performance liquid chromatography, the second sulfonium or iodonium cationite The value obtained by dividing the retention time of the first sulfonium or iodonium cation by the retention time of the first sulfonium or iodonium cation measured by the high performance liquid chromatography method under the same conditions as the measurement of the retention time of the second sulfonium or iodonium cation. It is a manufacturing method of the high molecular compound which has the structural unit which decomposes | disassembles by exposure and generate | occur | produces an acid characterized by being 05 or more.

本明細書及び特許請求の範囲において、「露光」は、放射線の照射全般を含む概念とする。
「脂肪族」とは、芳香族に対する相対的な概念であって、芳香族性を持たない基、化合物等を意味するものと定義する。
「アルキル基」は、特に断りがない限り、直鎖状、分岐鎖状及び環状の1価の飽和炭化水素基を包含するものとする。アルコキシ基中のアルキル基も同様である。
「アルキレン基」は、特に断りがない限り、直鎖状、分岐鎖状及び環状の2価の飽和炭化水素基を包含するものとする。
「ハロゲン化アルキル基」はアルキル基の水素原子の一部又は全部がハロゲン原子で置換された基であり、「ハロゲン化アルキレン基」はアルキレン基の水素原子の一部又は全部がハロゲン原子で置換された基であり、該ハロゲン原子としては、フッ素原子、塩素原子、臭素原子、ヨウ素原子が挙げられる。
「フッ素化アルキル基」はアルキル基の水素原子の一部又は全部がフッ素原子で置換された基であり、「フッ素化アルキレン基」はアルキレン基の水素原子の一部又は全部がフッ素原子で置換された基である。
本明細書において「高分子化合物」又は「樹脂」とは、分子量が1000以上の重合体をいう。高分子化合物の場合、「分子量」としてはGPC(ゲルパーミエーションクロマトグラフィー)によるポリスチレン換算の質量平均分子量を用いるものとする。
「構成単位」とは、高分子化合物(樹脂、重合体、共重合体)を構成するモノマー単位(単量体単位)を意味する。
In the present specification and claims, “exposure” is a concept including general irradiation of radiation.
“Aliphatic” is a relative concept with respect to aromatics, and is defined to mean groups, compounds, etc. that do not have aromaticity.
Unless otherwise specified, the “alkyl group” includes linear, branched and cyclic monovalent saturated hydrocarbon groups. The same applies to the alkyl group in the alkoxy group.
The “alkylene group” includes linear, branched, and cyclic divalent saturated hydrocarbon groups unless otherwise specified.
“Halogenated alkyl group” is a group in which some or all of the hydrogen atoms in the alkyl group are substituted with halogen atoms. “Halogenated alkylene group” is in which some or all of the hydrogen atoms in the alkylene group are substituted with halogen atoms. Examples of the halogen atom include a fluorine atom, a chlorine atom, a bromine atom, and an iodine atom.
A “fluorinated alkyl group” is a group in which some or all of the hydrogen atoms in the alkyl group are substituted with fluorine atoms. A “fluorinated alkylene group” is a group in which some or all of the hydrogen atoms in the alkylene group are substituted with fluorine atoms. Group.
In the present specification, “polymer compound” or “resin” refers to a polymer having a molecular weight of 1000 or more. In the case of a polymer compound, the “molecular weight” is a polystyrene-reduced mass average molecular weight measured by GPC (gel permeation chromatography).
“Structural unit” means a monomer unit (monomer unit) constituting a polymer compound (resin, polymer, copolymer).

本発明によれば、リソグラフィー特性に優れたレジスト組成物の基材成分として有用であり、且つ、使用するモノマーの種類に関わらず製造が可能である高分子化合物の製造方法、並びに当該高分子化合物を含有するレジスト組成物、及び当該レジスト組成物を用いたレジストパターン形成方法を提供できる。   INDUSTRIAL APPLICABILITY According to the present invention, a method for producing a polymer compound that is useful as a base component of a resist composition having excellent lithography properties and that can be produced regardless of the type of monomer used, and the polymer compound And a resist pattern forming method using the resist composition.

≪高分子化合物の製造方法≫
本発明の高分子化合物の製造方法は、アニオン基と、スルホニウム又はヨードニウムカチオンとを有するモノマーを重合して前駆体ポリマーを合成し、洗浄した後、当該前駆体ポリマーをスルホニウム又はヨードニウムカチオンと塩交換させる高分子化合化合物の製造方法であって、塩交換に用いるスルホニウム又はヨードニウムカチオンが、前記モノマー中のスルホニウム又はヨードニウムカチオンよりも疎水性が高いことを特徴とする露光により分解して酸を発生する高分子化合化合物の製造方法(以下、単に「製造方法」ということがある。)である。また、本明細書内では、「アニオン基と、スルホニウム又はヨードニウムカチオンとを有するモノマー」を、「アニオン基含有モノマー」ということがある。
この製造方法により製造される高分子化合物は、露光により酸を発生する。具体的には、当該高分子化合物を構成する前記アニオン含有モノマーから誘導される構成単位であって、そのカチオン部がスルホニウム又はヨードニウムカチオンと塩交換した構成単位の少なくとも一部が露光により分解することにより酸が発生する。
≪Method for producing polymer compound≫
In the method for producing a polymer compound of the present invention, a monomer having an anion group and a sulfonium or iodonium cation is polymerized to synthesize a precursor polymer, washed, and then the precursor polymer is subjected to salt exchange with a sulfonium or iodonium cation. A method for producing a polymer compound to be produced, wherein a sulfonium or iodonium cation used for salt exchange is more hydrophobic than a sulfonium or iodonium cation in the monomer, and decomposes by exposure to generate an acid. This is a method for producing a polymer compound (hereinafter sometimes simply referred to as “production method”). In the present specification, the “monomer having an anion group and a sulfonium or iodonium cation” may be referred to as an “anion group-containing monomer”.
The polymer compound produced by this production method generates an acid upon exposure. Specifically, at least a part of the structural unit derived from the anion-containing monomer constituting the polymer compound, the cation part of which is salt-exchanged with a sulfonium or iodonium cation, is decomposed by exposure. Generates an acid.

アニオン基含有モノマーから誘導される構成単位とは、当該モノマーの有するエチレン性二重結合等が開裂して形成される構成単位などをいう。
本発明に係る製造方法により製造される高分子化合物は、レジスト組成物の基材成分に用いられるベース樹脂として好適なものである。
以下、かかる高分子化合物の製造方法について、アニオン基含有モノマーを重合して前駆体ポリマーを合成し、洗浄する工程(i)、工程(i)において合成された前駆体ポリマーをスルホニウム又はヨードニウムカチオンと塩交換させる工程(ii)に分けてそれぞれ説明する。
The structural unit derived from an anion group-containing monomer refers to a structural unit formed by cleavage of an ethylenic double bond or the like of the monomer.
The polymer compound produced by the production method according to the present invention is suitable as a base resin used for the base component of the resist composition.
Hereinafter, for the method for producing such a polymer compound, a precursor polymer is synthesized by polymerizing an anion group-containing monomer and washed, and the precursor polymer synthesized in step (i) is converted to a sulfonium or iodonium cation. Each step will be described separately for the salt exchange step (ii).

<工程(i)>
工程(i)は、アニオン基と、スルホニウム又はヨードニウムカチオンとを有するモノマー(アニオン基含有モノマー)を重合して前駆体ポリマーを合成し、洗浄する工程である。
具体的には、少なくとも、アニオン基含有モノマーを重合溶媒に溶解し、ここに重合開始剤を加えて重合させることにより、前駆体ポリマーを合成することができる。
<Process (i)>
Step (i) is a step of polymerizing a monomer having an anion group and a sulfonium or iodonium cation (an anion group-containing monomer) to synthesize a precursor polymer and washing.
Specifically, the precursor polymer can be synthesized by dissolving at least an anion group-containing monomer in a polymerization solvent and adding a polymerization initiator to the polymerization solvent.

アニオン基含有モノマーについては後述する。
本発明では、アニオン基含有モノマーに加えて、必要に応じて高分子化合物に導入される構成単位を誘導するモノマーを用いてもよい。必要に応じて高分子化合物に導入される構成単位を誘導するモノマーとしては、アニオン基含有モノマーと共重合可能なものであれば特に限定されるものではなく、具体的には後述の構成単位(a1)〜(a6)を誘導するモノマーが挙げられる。該モノマーとしては、市販のものを用いてもよく、公知の方法を用いて合成したものを用いてもよい。
The anion group-containing monomer will be described later.
In the present invention, in addition to the anion group-containing monomer, a monomer that induces a structural unit to be introduced into the polymer compound may be used as necessary. The monomer for deriving the structural unit introduced into the polymer compound as necessary is not particularly limited as long as it is copolymerizable with the anion group-containing monomer, and specifically, the structural unit described below ( Examples include monomers that derive a1) to (a6). As the monomer, a commercially available monomer may be used, or a monomer synthesized using a known method may be used.

各モノマー(アニオン基含有モノマー、必要に応じて導入される各構成単位を誘導するモノマー)の使用量は、所望とする共重合組成比、即ち、高分子化合物中の各構成単位の割合を考慮して適宜決定すればよい。レジスト組成物の基材成分として用いる高分子化合物における、好ましい共重合組成比については、第二の態様において後述する。   The amount of each monomer (an anion group-containing monomer, a monomer for deriving each structural unit introduced as necessary) is determined in consideration of the desired copolymer composition ratio, that is, the proportion of each structural unit in the polymer compound. And may be determined as appropriate. A preferable copolymer composition ratio in the polymer compound used as the base component of the resist composition will be described later in the second embodiment.

重合開始剤としては特に限定されるものではないが、例えば、アゾビスイソブチロニトリル(AIBN)、アゾビスイソ酪酸ジメチル等のラジカル重合開始剤が挙げられる。
重合溶媒としては、原料であるアニオン基含有モノマーや、必要に応じて導入される各構成単位を誘導するモノマーを溶解できるものであればよく、乳酸エチル、γ−ブチロラクトン、メチルエチルケトン、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、テトラヒドロフラン、シクロヘキサノン又はこれらの混合溶剤などが挙げられる。
The polymerization initiator is not particularly limited, and examples thereof include radical polymerization initiators such as azobisisobutyronitrile (AIBN) and dimethyl azobisisobutyrate.
Any polymerization solvent may be used as long as it can dissolve the anion group-containing monomer as a raw material and a monomer for deriving each structural unit introduced as necessary. Ethyl lactate, γ-butyrolactone, methyl ethyl ketone, propylene glycol monomethyl ether Examples thereof include acetate, tetrahydrofuran, cyclohexanone, or a mixed solvent thereof.

また、上記重合の際に、HS−CH−CH−CH−C(CF−OH等の連鎖移動剤を併用することにより、末端に−C(CF−OH基を導入してもよい。このように、アルキル基の水素原子の一部がフッ素原子で置換されたヒドロキシアルキル基が導入された共重合体は、現像欠陥の低減やLER(ラインエッジラフネス:ライン側壁の不均一な凹凸)の低減に有効である。 Further, the during the polymerization, HS-CH 2 -CH 2 -CH 2 -C (CF 3) By use of a chain transfer agent such as 2 -OH, -C terminated (CF 3) 2 -OH group May be introduced. As described above, a copolymer introduced with a hydroxyalkyl group in which a part of hydrogen atoms of the alkyl group is substituted with a fluorine atom reduces development defects and LER (line edge roughness: uneven unevenness of line side walls). It is effective in reducing

反応温度は、50〜100℃が好ましく、65〜85℃がより好ましい。
反応時間は、モノマー同士の反応性や反応温度等によっても異なるが、通常、60〜480分間が好ましく、120〜420分間がより好ましい。
モノマーを重合した後、反応重合液を、たとえば大量の水又は有機溶媒(イソプロパノール、ヘプタン、メタノール等)中に滴下等することにより重合体を析出させ、濾別等を行うことにより前駆体ポリマーが得られる。
50-100 degreeC is preferable and, as for reaction temperature, 65-85 degreeC is more preferable.
The reaction time varies depending on the reactivity between the monomers and the reaction temperature, but is usually preferably 60 to 480 minutes, more preferably 120 to 420 minutes.
After polymerizing the monomer, the precursor polymer is obtained by, for example, dropping the reaction polymerization solution into a large amount of water or an organic solvent (isopropanol, heptane, methanol, etc.) to precipitate the polymer, followed by filtration and the like. can get.

第一の態様においては、上記の様にして得られた前駆体ポリマーを有機溶剤等で洗浄することにより、後述する工程(ii)開始前に、有機溶剤に溶解可能な未反応の残存モノマーを除去する。具体的には、分散洗浄、再溶解・再沈による洗浄、液液洗浄による洗浄方法が好適に挙げられる。残存モノマーを除去しておくことにより、本発明の高分子化合物を含有するレジスト組成物を用いてレジストパターンを形成した際の、リソグラフィー特性を向上させることが可能となる。また、疎水性の低いカチオンを有する重合体の方が疎水性の高いカチオンを有する重合体よりも残存モノマーの洗浄による除去が容易であるため、後述する工程(ii)においてカチオンを疎水性の高いカチオンに塩交換する前に洗浄を行うことにより、特に好適に残存モノマーを低減することができる。
分散洗浄時に使用する有機溶媒としては極性溶媒が好ましく、例えば、メタノール、イソプロパノール等のアルコール系溶媒が好ましく、その他ジメチルスルホキシド(DMSO)、N,N−ジメチルホルムアミド、N−メチルピロリドン等も好適に使用できる。
再溶解・再沈による洗浄時には、たとえば水又はイソプロパノール、ヘプタン、メタノール等の溶媒が用いられる。
液液洗浄による洗浄時には、前駆体ポリマーを溶解しない貧溶媒(たとえば炭化水素系溶媒やエーテル系溶媒)と前駆体ポリマーを溶解する良溶媒(例えば、ジメチルスルホキシドもしくはジメチルホルムアミド等の有機溶媒、または水と極性溶媒との混合溶媒でもよい)とを組み合わせて用いる。
In the first aspect, by washing the precursor polymer obtained as described above with an organic solvent or the like, an unreacted residual monomer that can be dissolved in the organic solvent before starting the step (ii) described below. Remove. Specifically, preferred examples include dispersion cleaning, cleaning by re-dissolution / reprecipitation, and cleaning by liquid-liquid cleaning. By removing the residual monomer, it is possible to improve lithography characteristics when a resist pattern is formed using the resist composition containing the polymer compound of the present invention. In addition, the polymer having a cation with low hydrophobicity is easier to remove by washing the residual monomer than the polymer having a cation with high hydrophobicity, so that the cation is highly hydrophobic in the step (ii) described later. By performing washing before salt exchange with cations, the residual monomer can be particularly preferably reduced.
As the organic solvent used for dispersion washing, a polar solvent is preferable. For example, alcohol solvents such as methanol and isopropanol are preferable, and other dimethyl sulfoxide (DMSO), N, N-dimethylformamide, N-methylpyrrolidone and the like are also preferably used. it can.
At the time of cleaning by re-dissolution / re-precipitation, for example, water or a solvent such as isopropanol, heptane, methanol or the like is used.
During washing by liquid-liquid washing, a poor solvent that does not dissolve the precursor polymer (for example, a hydrocarbon solvent or an ether solvent) and a good solvent that dissolves the precursor polymer (for example, an organic solvent such as dimethyl sulfoxide or dimethylformamide, or water And a mixed solvent of polar solvent) may be used in combination.

<工程(ii)>
工程(ii)は、工程(i)において合成された前駆体ポリマーを、スルホニウム又はヨードニウムカチオンと塩交換させる工程である。工程(ii)において用いるスルホニウム又はヨードニウムカチオンは、工程(i)の前駆体ポリマー合成に用いるモノマーのスルホニウム又はヨードニウムカチオンよりも疎水性が高い。
以下、前駆体ポリマー合成に用いるアニオン基含有モノマーの有するスルホニウム又はヨードニウムカチオンと区別するため、工程(ii)で用いるスルホニウム又はヨードニウムカチオンを、「第二のスルホニウム又はヨードニウムカチオン」ということがある。
<Process (ii)>
Step (ii) is a step of subjecting the precursor polymer synthesized in step (i) to salt exchange with a sulfonium or iodonium cation. The sulfonium or iodonium cation used in step (ii) is more hydrophobic than the monomer sulfonium or iodonium cation used in the synthesis of the precursor polymer in step (i).
Hereinafter, the sulfonium or iodonium cation used in step (ii) may be referred to as “second sulfonium or iodonium cation” in order to distinguish from the sulfonium or iodonium cation of the anion group-containing monomer used for the precursor polymer synthesis.

本発明においてカチオンの疎水性は、高速液体クロマトグラフィー(HPLC)法により対照の2以上のカチオンを同条件下において分析した場合のリテンションタイム(保持時間)により比較することができる。即ち、本発明では、HPLC法による測定において、リテンションタイムが相対的に長いカチオンを「疎水性の高いカチオン」、リテンションタイムが相対的に短いカチオンを「疎水性の低いカチオン」とする。HPLC法に用いる装置や条件は、一般的に化合物の分析に用いられる装置や条件であって、工程(i)、(ii)のカチオンを分析可能なものであれば特に限定されるものではない。具体的には例えば、以下の条件により測定することができる。
溶離液(展開溶媒):アセトニトリル/バッファー液(50/50体積比)
バッファー液:トリフルオロ酢酸/イオン交換水(0.1質量%)。
装置:Dionex U3000(Dionex社製)。
カラム:Speriorex−ODX(資生堂社製)。
検出器:Corona CAD(ESA Biosciences社製)。
流速:1mL/分。
カラム温度:30℃
サンプル濃度:固形分0.1質量%のアセトニトリル溶液
注入量:2μl
なお、上記サンプル濃度は、アニオンがBrで、カチオンが種々の目的の構造となる化合物の固形分濃度を示す。
In the present invention, the hydrophobicity of the cation can be compared by the retention time (retention time) when two or more control cations are analyzed under the same conditions by a high performance liquid chromatography (HPLC) method. That is, in the present invention, in the HPLC method, a cation with a relatively long retention time is referred to as a “highly hydrophobic cation”, and a cation with a relatively short retention time is referred to as a “low hydrophobic cation”. The apparatus and conditions used for the HPLC method are not particularly limited as long as they are generally used for analyzing compounds and can analyze the cations in steps (i) and (ii). . Specifically, for example, it can be measured under the following conditions.
Eluent (developing solvent): acetonitrile / buffer solution (50/50 volume ratio)
Buffer solution: trifluoroacetic acid / ion exchange water (0.1% by mass).
Apparatus: Dionex U3000 (manufactured by Dionex).
Column: Superiorex-ODX (manufactured by Shiseido Co., Ltd.).
Detector: Corona CAD (manufactured by ESA Biosciences).
Flow rate: 1 mL / min.
Column temperature: 30 ° C
Sample concentration: acetonitrile solution with a solid content of 0.1% by mass Injection volume: 2 μl
The sample concentration indicates the solid content concentration of a compound in which the anion is Br and the cation has various target structures.

塩交換は、水と有機溶媒の2層系内で行う。工程(i)において合成された前駆体ポリマーを適当な有機溶剤(水と分液し、かつ前駆体ポリマーを溶解することができるものであれば適宜用いることができる。例えばシクロヘキサノン、メチルエチルケトン、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、テトラヒドロフラン、ジクロロメタン、1,2−ジクロロエタン、酢酸エチル、プロピオニトリル等の溶剤、又はこれらの混合溶剤)に溶解し、そこへ第二のスルホニウム又はヨードニウムカチオンを有する化合物(塩交換用化合物)を加えて撹拌等することにより行うことができる。塩交換用化合物については後述する
反応温度は、10〜30℃程度が好ましく、15〜25℃程度がより好ましい。
反応時間は、当該前駆体ポリマーと塩交換用化合物との反応性や反応温度等によっても異なるが、通常、0.5分間以上24時間以下が好ましい。
かかる塩交換における塩交換用化合物の使用量は、通常、当該前駆体ポリマーにおける第一のスルホニウム又はヨードニウムカチオンを有する構成単位を誘導するモノマー1モルに対して、1〜5モル程度が好ましい。
なお、当該前駆体ポリマーにおける第一のスルホニウム又はヨードニウムカチオンを有する構成単位を誘導するモノマーの物質量は、カーボン13核磁気共鳴スペクトル(600MHz_13C−NMR)により求められた共重合組成比(構造式中の各構成単位の割合(モル比))から換算して求めることができる。
Salt exchange is performed in a two-layer system of water and organic solvent. The precursor polymer synthesized in the step (i) can be appropriately used as long as it can be separated from an appropriate organic solvent (water and can dissolve the precursor polymer. For example, cyclohexanone, methyl ethyl ketone, propylene glycol. A compound having a second sulfonium or iodonium cation dissolved in a solvent such as monomethyl ether acetate, tetrahydrofuran, dichloromethane, 1,2-dichloroethane, ethyl acetate, propionitrile, or a mixed solvent thereof (for salt exchange) Compound) can be added and stirred. About the reaction temperature mentioned later about the compound for salt exchange, about 10-30 degreeC is preferable, and about 15-25 degreeC is more preferable.
The reaction time varies depending on the reactivity of the precursor polymer and the salt exchange compound, the reaction temperature, and the like, but it is usually preferably 0.5 minutes or more and 24 hours or less.
The amount of the salt exchange compound used in such salt exchange is usually preferably about 1 to 5 moles with respect to 1 mole of the monomer for deriving the structural unit having the first sulfonium or iodonium cation in the precursor polymer.
In addition, the substance amount of the monomer for deriving the structural unit having the first sulfonium or iodonium cation in the precursor polymer is a copolymer composition ratio (structure) determined by carbon 13 nuclear magnetic resonance spectrum (600 MHz — 13 C-NMR). It can be calculated by conversion from the ratio (molar ratio) of each structural unit in the formula.

当該前駆体ポリマーと塩交換用化合物との塩交換の反応終了後、反応液中の高分子化合物(最終目的物)を単離、精製することが好ましい。
単離、精製には、従来公知の方法が利用でき、たとえば濃縮、水洗浄、有機溶媒洗浄、溶媒抽出、蒸留、結晶化、再結晶、クロマトグラフィー等をいずれか単独で、又は2種以上を組み合わせて用いることができる。
After completion of the salt exchange reaction between the precursor polymer and the compound for salt exchange, it is preferable to isolate and purify the polymer compound (final target product) in the reaction solution.
For isolation and purification, conventionally known methods can be used. For example, concentration, water washing, organic solvent washing, solvent extraction, distillation, crystallization, recrystallization, chromatography, etc. can be used alone or in combination of two or more. They can be used in combination.

[アニオン基と、スルホニウム又はヨードニウムカチオンとを有するモノマー]
アニオン基と、スルホニウム又はヨードニウムカチオンとを有するモノマーは、工程(i)における重合により前駆体ポリマーを構成する構成単位となる。該構成単位は、露光により少なくとも一部の構造が分解して、酸を発生する。
また、該モノマー中のカチオン部(スルホニウム又はヨードニウムカチオン)は、工程(ii)における塩交換により第二のスルホニウム又はヨードニウムカチオンと塩交換可能なものであって、第二のスルホニウム又はヨードニウムカチオンよりも疎水性が低い。
本明細書において、工程(ii)で用いる第二のスルホニウム又はヨードニウムカチオンと区別するため、工程(i)で用いるモノマー中のスルホニウム又はヨードニウムカチオンを、「第一のスルホニウム又はヨードニウムカチオン」ということがある。
[Monomer having an anionic group and a sulfonium or iodonium cation]
A monomer having an anionic group and a sulfonium or iodonium cation becomes a constituent unit constituting the precursor polymer by polymerization in the step (i). In the structural unit, at least a part of the structure is decomposed by exposure to generate an acid.
In addition, the cation part (sulfonium or iodonium cation) in the monomer is capable of salt exchange with the second sulfonium or iodonium cation by salt exchange in the step (ii), and more than the second sulfonium or iodonium cation. Low hydrophobicity.
In this specification, in order to distinguish from the second sulfonium or iodonium cation used in step (ii), the sulfonium or iodonium cation in the monomer used in step (i) is referred to as “first sulfonium or iodonium cation”. is there.

(アニオン基)
アニオン基含有モノマーにおけるアニオン基としては特に限定されるものではないが、スルホン酸アニオン、カルボン酸アニオン、スルホニルイミドアニオン、ビス(アルキルスルホニル)イミドアニオン、及びトリス(アルキルスルホニル)メチドアニオンからなる群より選択される少なくとも一種の基であることが好ましい。
なかでも、アニオン基としては、下記式(an1)〜(an4)で表される基が好ましい。
(Anionic group)
The anion group in the anion group-containing monomer is not particularly limited, but is selected from the group consisting of a sulfonate anion, a carboxylate anion, a sulfonylimide anion, a bis (alkylsulfonyl) imide anion, and a tris (alkylsulfonyl) methide anion. It is preferable that it is at least one kind of group.
Among these, as the anionic group, groups represented by the following formulas (an1) to (an4) are preferable.

Figure 0006006928
[Wは置換基を有していてもよい炭素数1〜30の炭化水素基である。Zは−C(=O)−O−、−SO−又は置換基を有していてもよい炭化水素基であり、Z及びZはそれぞれ独立に−C(=O)−又は−SO−である。R62及びR63はそれぞれ独立にフッ素原子を有していてもよい炭化水素基である。Zは−C(=O)−、−SO−、−C(=O)−O−又は単結合であり、Zは−C(=O)−又は−SO−である。R61はフッ素原子を有していてもよい炭化水素基である。R64はフッ素原子を有していてもよい炭化水素基である。]
Figure 0006006928
[W 0 is a hydrocarbon group having 1 to 30 carbon atoms which may have a substituent. Z 3 is —C (═O) —O—, —SO 2 — or an optionally substituted hydrocarbon group, and Z 4 and Z 5 are each independently —C (═O) — or -SO 2 - is. R 62 and R 63 are each independently a hydrocarbon group optionally having a fluorine atom. Z 1 is —C (═O) —, —SO 2 —, —C (═O) —O— or a single bond, and Z 2 is —C (═O) — or —SO 2 —. R 61 is a hydrocarbon group which may have a fluorine atom. R 64 is a hydrocarbon group which may have a fluorine atom. ]

式(an1)中、Wは置換基を有していてもよい炭素数1〜30の炭化水素基である。
の置換基を有していてもよい炭素数1〜30の炭化水素基は、脂肪族炭化水素基であってもよく、芳香族基であってもよい。
脂肪族炭化水素基は、芳香族性を持たない炭化水素基を意味する。該脂肪族炭化水素基は、飽和であってもよく、不飽和であってもよく、通常は飽和であることが好ましい。
における脂肪族炭化水素基として、より具体的には、直鎖状または分岐鎖状の脂肪族炭化水素基、構造中に環を含む脂肪族炭化水素基等が挙げられる。
In Formula (an1), W 0 is a hydrocarbon group having 1 to 30 carbon atoms which may have a substituent.
The hydrocarbon group having 1 to 30 carbon atoms which may have a substituent of W 0 may be an aliphatic hydrocarbon group or an aromatic group.
An aliphatic hydrocarbon group means a hydrocarbon group having no aromaticity. The aliphatic hydrocarbon group may be saturated or unsaturated, and is usually preferably saturated.
More specific examples of the aliphatic hydrocarbon group for W 0 include a linear or branched aliphatic hydrocarbon group and an aliphatic hydrocarbon group containing a ring in the structure.

前記直鎖状または分岐鎖状の脂肪族炭化水素基は、炭素数が1〜10であることが好ましく、1〜8がより好ましく、1〜5がさらに好ましい。
直鎖状の脂肪族炭化水素基としては、直鎖状のアルキレン基が好ましく、具体的には、メチレン基[−CH−]、エチレン基[−(CH−]、トリメチレン基[−(CH−]、テトラメチレン基[−(CH−]、ペンタメチレン基[−(CH−]等が挙げられる。
分岐鎖状の脂肪族炭化水素基としては、分岐鎖状のアルキレン基が好ましく、具体的には、−CH(CH)−、−CH(CHCH)−、−C(CH−、−C(CH)(CHCH)−、−C(CH)(CHCHCH)−、−C(CHCH−等のアルキルメチレン基;−CH(CH)CH−、−CH(CH)CH(CH)−、−C(CHCH−、−CH(CHCH)CH−、−C(CHCH−CH−等のアルキルエチレン基;−CH(CH)CHCH−、−CHCH(CH)CH−等のアルキルトリメチレン基;−CH(CH)CHCHCH−、−CHCH(CH)CHCH−等のアルキルテトラメチレン基などのアルキルアルキレン基等が挙げられる。アルキルアルキレン基におけるアルキル基としては、炭素数1〜5の直鎖状のアルキル基が好ましい。
前記直鎖状または分岐鎖状の脂肪族炭化水素基は、水素原子を置換する置換基(水素原子以外の基または原子)を有していてもよく、有していなくてもよい。該置換基としては、フッ素原子、フッ素原子で置換された炭素数1〜5のフッ素化アルキル基、オキソ基(=O)等が挙げられる。
The linear or branched aliphatic hydrocarbon group preferably has 1 to 10 carbon atoms, more preferably 1 to 8 carbon atoms, and still more preferably 1 to 5 carbon atoms.
As the linear aliphatic hydrocarbon group, a linear alkylene group is preferable. Specifically, a methylene group [—CH 2 —], an ethylene group [— (CH 2 ) 2 —], a trimethylene group [ — (CH 2 ) 3 —], tetramethylene group [— (CH 2 ) 4 —], pentamethylene group [— (CH 2 ) 5 —] and the like can be mentioned.
As the branched aliphatic hydrocarbon group, a branched alkylene group is preferred, and specifically, —CH (CH 3 ) —, —CH (CH 2 CH 3 ) —, —C (CH 3 ). 2 -, - C (CH 3 ) (CH 2 CH 3) -, - C (CH 3) (CH 2 CH 2 CH 3) -, - C (CH 2 CH 3) 2 - ; alkylethylene groups such as - CH (CH 3) CH 2 - , - CH (CH 3) CH (CH 3) -, - C (CH 3) 2 CH 2 -, - CH (CH 2 CH 3) CH 2 -, - C (CH 2 CH 3) 2 -CH 2 - alkyl groups such as; -CH (CH 3) CH 2 CH 2 -, - CH 2 CH (CH 3) CH 2 - alkyl trimethylene groups such as; -CH (CH 3) CH 2 CH 2 CH 2 -, - CH 2 CH (CH 3) CH 2 CH 2 - And the like alkyl alkylene group such as an alkyl tetramethylene group of. The alkyl group in the alkyl alkylene group is preferably a linear alkyl group having 1 to 5 carbon atoms.
The linear or branched aliphatic hydrocarbon group may or may not have a substituent (a group or atom other than a hydrogen atom) that replaces a hydrogen atom. Examples of the substituent include a fluorine atom, a fluorinated alkyl group having 1 to 5 carbon atoms substituted with a fluorine atom, and an oxo group (═O).

前記構造中に環を含む脂肪族炭化水素基としては、環構造中にヘテロ原子を含む置換基を含んでもよい環状の脂肪族炭化水素基(脂肪族炭化水素環から水素原子を2個除いた基)、前記環状の脂肪族炭化水素基が直鎖状または分岐鎖状の脂肪族炭化水素基の末端に結合した基、前記環状の脂肪族炭化水素基が直鎖状または分岐鎖状の脂肪族炭化水素基の途中に介在する基などが挙げられる。前記直鎖状または分岐鎖状の脂肪族炭化水素基としては前記と同様のものが挙げられる。
環状の脂肪族炭化水素基(脂肪族環式基)は、炭素数が3〜20であることが好ましく、3〜12であることがより好ましい。
環状の脂肪族炭化水素基は、多環式であってもよく、単環式であってもよい。単環式の脂肪族炭化水素基としては、モノシクロアルカンから2個の水素原子を除いた基が好ましい。該モノシクロアルカンとしては炭素数3〜6のものが好ましく、具体的にはシクロペンタン、シクロヘキサン等が挙げられる。多環式の脂肪族炭化水素基としては、ポリシクロアルカンから2個の水素原子を除いた基が好ましく、該ポリシクロアルカンとしては炭素数7〜12のものが好ましく、具体的にはアダマンタン、ノルボルナン、イソボルナン、トリシクロデカン、テトラシクロドデカン等が挙げられる。
環状の脂肪族炭化水素基は、水素原子を置換する置換基(水素原子以外の基または原子)を有していてもよいし、有していなくてもよい。該置換基としては、アルキル基、アルコキシ基、ハロゲン原子、ハロゲン化アルキル基、水酸基、オキソ基(=O)等が挙げられる。
前記置換基としてのアルキル基としては、炭素数1〜5のアルキル基が好ましく、メチル基、エチル基、プロピル基、n−ブチル基、tert−ブチル基であることが最も好ましい。
前記置換基としてのアルコキシ基としては、炭素数1〜5のアルコキシ基が好ましく、メトキシ基、エトキシ基、n−プロポキシ基、iso−プロポキシ基、n−ブトキシ基、tert−ブトキシ基が好ましく、メトキシ基、エトキシ基が最も好ましい。
前記置換基としてのハロゲン原子としては、フッ素原子、塩素原子、臭素原子、ヨウ素原子等が挙げられ、フッ素原子が好ましい。
前記置換基としてのハロゲン化アルキル基としては、前記アルキル基の水素原子の一部または全部が前記ハロゲン原子で置換された基が挙げられる。
環状の脂肪族炭化水素基は、その環構造を構成する炭素原子の一部がヘテロ原子を含む置換基で置換されてもよい。該ヘテロ原子を含む置換基としては、−O−、−C(=O)−O−、−S−、−S(=O)−、−S(=O)−O−が好ましい。
As the aliphatic hydrocarbon group containing a ring in the structure, a cyclic aliphatic hydrocarbon group which may contain a substituent containing a hetero atom in the ring structure (excluding two hydrogen atoms from the aliphatic hydrocarbon ring) Group), a group in which the cyclic aliphatic hydrocarbon group is bonded to the end of a linear or branched aliphatic hydrocarbon group, and the cyclic aliphatic hydrocarbon group is a linear or branched chain fatty acid. Group intervening in the middle of the group hydrocarbon group. Examples of the linear or branched aliphatic hydrocarbon group include those described above.
The cyclic aliphatic hydrocarbon group (aliphatic cyclic group) preferably has 3 to 20 carbon atoms, and more preferably 3 to 12 carbon atoms.
The cyclic aliphatic hydrocarbon group may be polycyclic or monocyclic. As the monocyclic aliphatic hydrocarbon group, a group obtained by removing two hydrogen atoms from a monocycloalkane is preferable. The monocycloalkane preferably has 3 to 6 carbon atoms, and specific examples thereof include cyclopentane and cyclohexane. The polycyclic aliphatic hydrocarbon group is preferably a group obtained by removing two hydrogen atoms from a polycycloalkane, and the polycycloalkane preferably has 7 to 12 carbon atoms, specifically adamantane, Examples include norbornane, isobornane, tricyclodecane, and tetracyclododecane.
The cyclic aliphatic hydrocarbon group may or may not have a substituent (a group or atom other than a hydrogen atom) that replaces a hydrogen atom. Examples of the substituent include an alkyl group, an alkoxy group, a halogen atom, a halogenated alkyl group, a hydroxyl group, and an oxo group (═O).
The alkyl group as the substituent is preferably an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, and most preferably a methyl group, an ethyl group, a propyl group, an n-butyl group, or a tert-butyl group.
The alkoxy group as the substituent is preferably an alkoxy group having 1 to 5 carbon atoms, preferably a methoxy group, an ethoxy group, an n-propoxy group, an iso-propoxy group, an n-butoxy group or a tert-butoxy group. Most preferred is an ethoxy group.
Examples of the halogen atom as the substituent include a fluorine atom, a chlorine atom, a bromine atom, and an iodine atom, and a fluorine atom is preferable.
Examples of the halogenated alkyl group as the substituent include groups in which part or all of the hydrogen atoms of the alkyl group have been substituted with the halogen atoms.
In the cyclic aliphatic hydrocarbon group, a part of carbon atoms constituting the ring structure may be substituted with a substituent containing a hetero atom. As the substituent containing the hetero atom, —O—, —C (═O) —O—, —S—, —S (═O) 2 —, and —S (═O) 2 —O— are preferable.

における芳香族基は、芳香環を少なくとも1つ有する2価の炭化水素基であり、置換基を有していてもよい。
における芳香環は、4n+2個のπ電子をもつ環状共役系であれば特に限定されず、単環式でも多環式でもよい。芳香環の炭素数は5〜30であることが好ましく、5〜20がより好ましく、6〜15がさらに好ましく、6〜12が特に好ましい。ただし、該炭素数には、置換基における炭素数を含まないものとする。芳香環として具体的には、ベンゼン、ナフタレン、アントラセン、フェナントレン等の芳香族炭化水素環;前記芳香族炭化水素環を構成する炭素原子の一部がヘテロ原子で置換された芳香族複素環;等が挙げられる。芳香族複素環におけるヘテロ原子としては、酸素原子、硫黄原子、窒素原子等が挙げられる。芳香族複素環として具体的には、ピリジン環、チオフェン環等が挙げられる。
における芳香族基として具体的には、前記芳香族炭化水素環または芳香族複素環から水素原子を2つ除いた基(アリーレン基またはヘテロアリーレン基);2以上の芳香環を含む芳香族化合物(たとえばビフェニル、フルオレン等)から水素原子を2つ除いた基;前記芳香族炭化水素環または芳香族複素環から水素原子を1つ除いた基(アリール基またはヘテロアリール基)の水素原子の1つがアルキレン基で置換された基(たとえば、ベンジル基、フェネチル基、1−ナフチルメチル基、2−ナフチルメチル基、1−ナフチルエチル基、2−ナフチルエチル基等のアリールアルキル基におけるアリール基から水素原子をさらに1つ除いた基);等が挙げられる。前記アリール基またはヘテロアリール基に結合するアルキレン基の炭素数は、1〜4であることが好ましく、1〜2であることがより好ましく、1であることが特に好ましい。
前記芳香族基は、置換基を有していてもよいし、有していなくてもよい。たとえば当該芳香族基が有する芳香環に結合した水素原子が置換基で置換されていてもよい。該置換基としては、たとえば、アルキル基、アルコキシ基、ハロゲン原子、ハロゲン化アルキル基、水酸基、オキソ基(=O)等が挙げられる。
前記置換基としてのアルキル基、アルコキシ基、ハロゲン原子、ハロゲン化アルキル基としては、前記環状の脂肪族炭化水素基の置換基としてのアルキル基、アルコキシ基と、ハロゲン原子、ハロゲン化アルキル基と同様である。
なかでも、下記式(an1−1)で表される基が好ましい。
The aromatic group in W 0 is a divalent hydrocarbon group having at least one aromatic ring and may have a substituent.
The aromatic ring in W 0 is not particularly limited as long as it is a cyclic conjugated system having 4n + 2 π electrons, and may be monocyclic or polycyclic. It is preferable that carbon number of an aromatic ring is 5-30, 5-20 are more preferable, 6-15 are more preferable, and 6-12 are especially preferable. However, the carbon number does not include the carbon number in the substituent. Specific examples of the aromatic ring include aromatic hydrocarbon rings such as benzene, naphthalene, anthracene and phenanthrene; aromatic heterocycles in which a part of carbon atoms constituting the aromatic hydrocarbon ring are substituted with heteroatoms; etc. Is mentioned. Examples of the hetero atom in the aromatic heterocyclic ring include an oxygen atom, a sulfur atom, and a nitrogen atom. Specific examples of the aromatic heterocycle include a pyridine ring and a thiophene ring.
Specifically, the aromatic group in W 0 is a group obtained by removing two hydrogen atoms from the aromatic hydrocarbon ring or aromatic heterocyclic ring (arylene group or heteroarylene group); an aromatic group containing two or more aromatic rings A group obtained by removing two hydrogen atoms from a compound (for example, biphenyl, fluorene, etc.); a hydrogen atom of a group (aryl group or heteroaryl group) obtained by removing one hydrogen atom from the aromatic hydrocarbon ring or aromatic heterocycle A group substituted with an alkylene group (for example, an aryl group in an arylalkyl group such as a benzyl group, a phenethyl group, a 1-naphthylmethyl group, a 2-naphthylmethyl group, a 1-naphthylethyl group, a 2-naphthylethyl group, etc. A group in which one hydrogen atom is further removed); The alkylene group bonded to the aryl group or heteroaryl group preferably has 1 to 4 carbon atoms, more preferably 1 to 2 carbon atoms, and particularly preferably 1 carbon atom.
The aromatic group may or may not have a substituent. For example, a hydrogen atom bonded to an aromatic ring of the aromatic group may be substituted with a substituent. Examples of the substituent include an alkyl group, an alkoxy group, a halogen atom, a halogenated alkyl group, a hydroxyl group, and an oxo group (═O).
The alkyl group, alkoxy group, halogen atom, and halogenated alkyl group as the substituent are the same as the alkyl group, alkoxy group, halogen atom, and halogenated alkyl group as the substituent of the cyclic aliphatic hydrocarbon group. It is.
Especially, group represented by a following formula (an1-1) is preferable.

Figure 0006006928
[式中、Rf1及びRf2はそれぞれ独立に水素原子、アルキル基、フッ素原子、又はフッ素化アルキル基であり、Rf1、Rf2のうち少なくとも1つはフッ素原子又はフッ素化アルキル基であり、p0は1〜8の整数である。]
Figure 0006006928
[Wherein, R f1 and R f2 each independently represent a hydrogen atom, an alkyl group, a fluorine atom, or a fluorinated alkyl group, and at least one of R f1 and R f2 is a fluorine atom or a fluorinated alkyl group. , P0 is an integer of 1-8. ]

f1及びRf2は、それぞれ独立に、水素原子、アルキル基、フッ素原子、又はフッ素化アルキル基であり、Rf1、Rf2のうち少なくとも1つはフッ素原子又はフッ素化アルキル基である。
f1、Rf2のアルキル基としては、炭素数1〜5のアルキル基が好ましく、具体的には、メチル基、エチル基、プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、イソブチル基、tert−ブチル基、ペンチル基、イソペンチル基、ネオペンチル基等が挙げられる。
f1、Rf2のフッ素化アルキル基としては、上記Rf1、Rf2のアルキル基の水素原子の一部又は全部がフッ素原子で置換された基が好ましい。
f1、Rf2としては、フッ素原子又はフッ素化アルキル基であることが好ましい。
式(an1−1)中、p0は1〜8の整数であり、1〜4の整数であることが好ましく、1又は2であることがさらに好ましい。
また、Wの置換基を有していてもよい炭化水素基として、上記式(an1−1)以外の好適な例としては、置換基を有していてもよい脂肪族環式基又は芳香族基であることが好ましく、アダマンタン、ノルボルナン、イソボルナン、トリシクロデカン、テトラシクロドデカン、カンファー、ベンゼン等から2個以上の水素原子を除いた基(置換基を有していてもよい)であることがより好ましい。
R f1 and R f2 are each independently a hydrogen atom, an alkyl group, a fluorine atom, or a fluorinated alkyl group, and at least one of R f1 and R f2 is a fluorine atom or a fluorinated alkyl group.
As the alkyl group for R f1 and R f2 , an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms is preferable, and specifically, a methyl group, an ethyl group, a propyl group, an isopropyl group, an n-butyl group, an isobutyl group, a tert-butyl group. Group, pentyl group, isopentyl group, neopentyl group and the like.
Examples of the fluorinated alkyl group of R f1, R f2, group in which part or all of the hydrogen atoms of the alkyl group of the R f1, R f2 is substituted with a fluorine atom is preferred.
R f1 and R f2 are preferably a fluorine atom or a fluorinated alkyl group.
In formula (an1-1), p0 is an integer of 1 to 8, preferably an integer of 1 to 4, and more preferably 1 or 2.
Moreover, as a hydrocarbon group which may have a substituent of W 0 , preferred examples other than the above formula (an1-1) include an aliphatic cyclic group or an aromatic group which may have a substituent. It is preferably a group such as adamantane, norbornane, isobornane, tricyclodecane, tetracyclododecane, camphor, benzene, etc., which is a group in which two or more hydrogen atoms have been removed (which may have a substituent). It is more preferable.

式(an2)中、Zは−C(=O)−O−、−SO−又は置換基を有していてもよい炭化水素基である。Zの置換基を有していていもよい炭化水素基としては、上記Wの置換基を有していていもよい炭素数1〜30の炭化水素基と同様のものが挙げられる。なかでもZとしては−SO−であることが好ましい。
式(an2)中、Z及びZは、それぞれ独立に、−C(=O)−又は−SO−であり、少なくとも一方が−SO−であることが好ましく、両方が−SO−であることがより好ましい。
62及びR63は、それぞれ独立に、フッ素原子を有していてもよい炭化水素基であり、後述するR61におけるフッ素原子を有していてもよい炭化水素基と同様のものが挙げられる。
In formula (an2), Z 3 represents —C (═O) —O—, —SO 2 — or a hydrocarbon group which may have a substituent. Examples of the hydrocarbon group which may have a substituent for Z 3 include the same hydrocarbon groups as those having 1 to 30 carbon atoms which may have a substituent for W 0 . Among these, Z 3 is preferably —SO 2 —.
In formula (an2), Z 4 and Z 5 are each independently —C (═O) — or —SO 2 —, preferably at least one is —SO 2 —, and both are —SO 2. -Is more preferable.
R 62 and R 63 are each independently a hydrocarbon group which may have a fluorine atom, and examples thereof include those similar to the hydrocarbon group which may have a fluorine atom in R 61 described later. .

式(an3)中、Zは−C(=O)−、−SO−、−C(=O)−O−又は単結合である。Zが単結合の場合、式中のNが、Zと結合した側とは逆側(即ち、式中の左端)で直接−C(=O)−と結合しないことが好ましい。 In formula (an3), Z 1 represents —C (═O) —, —SO 2 —, —C (═O) —O—, or a single bond. When Z 1 is a single bond, N − in the formula is preferably not directly bonded to —C (═O) — on the side opposite to the side bonded to Z 2 (that is, the left end in the formula).

式(an3)中、Zは、−C(=O)−又は−SO−であり、−SO−であることが好ましい。
61は、フッ素原子を有していてもよい炭化水素基である。R61における炭化水素基としては、アルキル基、1価の脂環式炭化水素基、アリール基、アラルキル基などが挙げられる。
61におけるアルキル基は、炭素数1〜8であるものが好ましく、炭素数1〜6であるものがより好ましく、炭素数1〜4であるものがさらに好ましく、直鎖状であっても分岐鎖状であってもよい。具体的には、メチル基、エチル基、プロピル基、ブチル基、ヘキシル基、オクチル基等が好ましいものとして挙げられる。
61における1価の脂環式炭化水素基は、炭素数3〜20であるものが好ましく、炭素数3〜12であるものがより好ましく、多環式でもよく、単環式でもよい。単環式の脂環式炭化水素基としては、モノシクロアルカンから1個以上の水素原子を除いた基が好ましい。該モノシクロアルカンとしては炭素数3〜6のものが好ましく、具体的にはシクロブタン、シクロペンタン、シクロヘキサン等が挙げられる。多環式の脂環式炭化水素基としては、ポリシクロアルカンから1個以上の水素原子を除いた基が好ましく、該ポリシクロアルカンとしては炭素数7〜12のものが好ましく、具体的にはアダマンタン、ノルボルナン、イソボルナン、トリシクロデカン、テトラシクロドデカン等が挙げられる。
61におけるアリール基は、炭素数6〜18であるものが好ましく、炭素数6〜10であるものがより好ましく、具体的にはフェニル基が特に好ましい。
61におけるアラルキル基は、炭素数1〜8のアルキレン基と上記「R61におけるアリール基」とが結合したものが好ましい例として挙げられる。炭素数1〜6のアルキレン基と上記「R61におけるアリール基」とが結合したアラルキル基がより好ましく、炭素数1〜4のアルキレン基と上記「R61におけるアリール基」とが結合したアラルキル基が特に好ましい。
61における炭化水素基は、当該炭化水素基の水素原子の一部又は全部がフッ素原子で置換されていることが好ましく、当該炭化水素基の水素原子の30〜100%がフッ素原子で置換されていることがより好ましい。なかでも、上述したアルキル基の水素原子の全部がフッ素原子で置換されたパーフルオロアルキル基であることが特に好ましい。
In formula (an3), Z 2 represents —C (═O) — or —SO 2 —, and preferably —SO 2 —.
R 61 is a hydrocarbon group which may have a fluorine atom. Examples of the hydrocarbon group for R 61 include an alkyl group, a monovalent alicyclic hydrocarbon group, an aryl group, and an aralkyl group.
The alkyl group for R 61 is preferably one having 1 to 8 carbon atoms, more preferably one having 1 to 6 carbon atoms, still more preferably one having 1 to 4 carbon atoms, and even if linear, it is branched. It may be a chain. Specifically, a methyl group, an ethyl group, a propyl group, a butyl group, a hexyl group, an octyl group and the like are preferable.
The monovalent alicyclic hydrocarbon group in R 61 is preferably those having 3 to 20 carbon atoms, more preferably those having 3 to 12 carbon atoms, and may be polycyclic or monocyclic. As the monocyclic alicyclic hydrocarbon group, a group in which one or more hydrogen atoms have been removed from a monocycloalkane is preferable. The monocycloalkane preferably has 3 to 6 carbon atoms, and specific examples include cyclobutane, cyclopentane, and cyclohexane. The polycyclic alicyclic hydrocarbon group is preferably a group obtained by removing one or more hydrogen atoms from a polycycloalkane, and the polycycloalkane is preferably one having 7 to 12 carbon atoms. Adamantane, norbornane, isobornane, tricyclodecane, tetracyclododecane and the like.
The aryl group in R 61 is preferably those having 6 to 18 carbon atoms, more preferably those having 6 to 10 carbon atoms, and particularly preferably a phenyl group.
Aralkyl group in R 61 include those in which the "aryl group for R 61" alkylene group and the above C1-8 bonded are preferred examples. More preferred is an aralkyl group in which an alkylene group having 1 to 6 carbon atoms and the above “aryl group in R 61 ” are bonded, and an aralkyl group in which an alkylene group having 1 to 4 carbon atoms and the above “aryl group in R 61 ” are bonded. Is particularly preferred.
In the hydrocarbon group for R 61 , part or all of the hydrogen atoms of the hydrocarbon group are preferably substituted with fluorine atoms, and 30 to 100% of the hydrogen atoms of the hydrocarbon group are substituted with fluorine atoms. More preferably. Especially, it is especially preferable that it is the perfluoroalkyl group by which all the hydrogen atoms of the alkyl group mentioned above were substituted by the fluorine atom.

式(an4)中、R64は、フッ素原子を有していてもよい炭化水素基である。R64における炭化水素基としては、アルキレン基、2価の脂環式炭化水素基、アリール基から1個以上の水素原子を除いた基、アラルキル基から1個以上の水素原子を除いた基などが挙げられる。
64における炭化水素基として、具体的には、上記R61における炭化水素基(アルキル基、1価の脂環式炭化水素基、アリール基、アラルキル基など)についての説明の中で例示したものから1個以上の水素原子を除いた基が挙げられる。
64における炭化水素基は、当該炭化水素基の水素原子の一部又は全部がフッ素原子で置換されていることが好ましく、当該炭化水素基の水素原子の30〜100%がフッ素原子で置換されていることがより好ましい。
In the formula (an4), R 64 represents a hydrocarbon group that may have a fluorine atom. As the hydrocarbon group for R 64 , an alkylene group, a divalent alicyclic hydrocarbon group, a group in which one or more hydrogen atoms have been removed from an aryl group, a group in which one or more hydrogen atoms have been removed from an aralkyl group, etc. Is mentioned.
Specific examples of the hydrocarbon group for R 64 include those exemplified in the description of the hydrocarbon group for R 61 (an alkyl group, a monovalent alicyclic hydrocarbon group, an aryl group, an aralkyl group, and the like). And a group in which one or more hydrogen atoms are removed.
In the hydrocarbon group for R 64 , part or all of the hydrogen atoms of the hydrocarbon group are preferably substituted with fluorine atoms, and 30 to 100% of the hydrogen atoms of the hydrocarbon group are substituted with fluorine atoms. More preferably.

上記のうち、例えば、アニオン基が式(an1)で表される基のうちフッ素原子を有するもの(特に式(an1−1)で表される基)である場合や、(an2)で表される基や、Z及びZが−SO−である式(an3)で表される基を有する場合、露光によって該アニオン基から、フッ素化アルキルスルホン酸アニオン、カルボアニオン、スルホニルイミドアニオン等の比較的強い酸を発生させることができる。
一方、アニオン基が式(an1)で表される基のうちフッ素原子を有さない場合や、式(an4)で表される基や、Z及びZが−C(=O)−である式(an3)で表される基を有する場合、露光によって該アニオン基からアルキルスルホン酸アニオン、アリールスルホン酸アニオン、カルボン酸アニオン、イミドアニオン等の比較的弱い酸を発生させることができる。
Among the above, for example, when the anion group is a group having a fluorine atom among groups represented by the formula (an1) (particularly a group represented by the formula (an1-1)), or represented by (an2) Or a group represented by the formula (an3) in which Z 1 and Z 2 are —SO 2 —, the fluorinated alkylsulfonic acid anion, carbanion, sulfonylimide anion, etc. It is possible to generate a relatively strong acid.
On the other hand, when the anion group does not have a fluorine atom among the groups represented by the formula (an1), the group represented by the formula (an4), and Z 1 and Z 2 are —C (═O) —. When it has a group represented by a certain formula (an3), a relatively weak acid such as an alkyl sulfonate anion, an aryl sulfonate anion, a carboxylate anion, and an imide anion can be generated from the anion group by exposure.

上記の様にアニオン基の種類によって所望の酸強度を有する酸を発生させることができるため、本発明により製造される高分子化合物を用いるレジスト組成物の要求特性等に応じて、適宜アニオン基を選択することができる。例えば、通常レジスト組成物において用いられる酸発生剤と同様の役割を該アニオン基が担う場合は、強酸を発生するアニオン基を選択することが好ましい。
また、例えば、通常レジスト組成物において用いられるクエンチャー(酸発生剤から発生する強酸と塩交換して強酸をトラップするクエンチャー)と同様の機能を該アニオン基が担う場合は、弱酸を発生するアニオン基を選択することが好ましい。
なお、ここで強酸、弱酸とは、後述する構成単位(a1)に含まれるような酸の作用により分解する酸分解性基の活性化エネルギーとの関係性や、共に用いられる酸発生剤の酸強度との関係性において決定されるものである。そのため、上述した“比較的弱い酸”が、必ずクエンチャーとして用いることができるものではない。
Since an acid having a desired acid strength can be generated depending on the type of anionic group as described above, an anionic group is appropriately selected according to the required characteristics of the resist composition using the polymer compound produced according to the present invention. You can choose. For example, when the anion group plays a role similar to that of an acid generator usually used in a resist composition, it is preferable to select an anion group that generates a strong acid.
In addition, for example, when the anion group has the same function as a quencher (a quencher that salt exchanges with a strong acid generated from an acid generator and traps a strong acid) used in a resist composition, a weak acid is generated. It is preferred to select an anionic group.
Here, the strong acid and the weak acid are the relationship with the activation energy of an acid-decomposable group that is decomposed by the action of an acid as contained in the structural unit (a1) described later, and the acid generator acid used together. It is determined in relation to strength. Therefore, the above-mentioned “relatively weak acid” cannot always be used as a quencher.

アニオン基含有モノマーとしては、上記のアニオン基が連結基を介して、又は連結基を介さずに直接、重合性基と結合しているものがそれぞれ挙げられる。
当該重合性基としては、ビニル基、アリル基、アクリロイル基、メタクリロイル基、フルオロビニル基、ジフルオロビニル基、トリフルオロビニル基、ジフルオロトリフルオロメチルビニル基、トリフルオロアリル基、パーフルオロアリル基、トリフルオロメチルアクリロイル基、ノニルフルオロブチルアクリロイル基、ビニルエーテル基、含フッ素ビニルエーテル基、アリルエーテル基、含フッ素アリルエーテル基、スチリル基、含フッ素スチリル基、ノルボルニル基、含フッ素ノルボルニル基、シリル基などが挙げられる。
Examples of the anion group-containing monomer include those in which the above anion group is directly bonded to a polymerizable group via a linking group or not via a linking group.
Examples of the polymerizable group include vinyl, allyl, acryloyl, methacryloyl, fluorovinyl, difluorovinyl, trifluorovinyl, difluorotrifluoromethylvinyl, trifluoroallyl, perfluoroallyl, Fluoromethylacryloyl group, nonylfluorobutylacryloyl group, vinyl ether group, fluorine-containing vinyl ether group, allyl ether group, fluorine-containing allyl ether group, styryl group, fluorine-containing styryl group, norbornyl group, fluorine-containing norbornyl group, silyl group, etc. It is done.

本発明において、アニオン基含有モノマーとしては、下記式(I)で表される化合物が好ましい。   In the present invention, the anion group-containing monomer is preferably a compound represented by the following formula (I).

Figure 0006006928
[式中、Rは水素原子、炭素数1〜5のアルキル基または炭素数1〜5のハロゲン化アルキル基であり、Qは単結合または2価の連結基であり、Aはアニオン基であり、Mはスルホニウムまたはヨードニウムカチオンである。]
Figure 0006006928
[Wherein, R is a hydrogen atom, an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms or a halogenated alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, Q 2 is a single bond or a divalent linking group, and A is an anionic group. And M + is a sulfonium or iodonium cation. ]

Rは水素原子、炭素数1〜5のアルキル基又は炭素数1〜5のハロゲン化アルキル基である。
Rにおける炭素数1〜5のアルキル基としては、直鎖状または分岐鎖状のアルキル基が好ましく、具体的には、メチル基、エチル基、プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、イソブチル基、tert−ブチル基、ペンチル基、イソペンチル基、ネオペンチル基等が挙げられる。
Rにおける炭素数1〜5のハロゲン化アルキル基としては、前記「Rにおける炭素数1〜5のアルキル基」の水素原子の一部または全部を、ハロゲン原子で置換した基が挙げられる。該ハロゲン原子としては、フッ素原子、塩素原子、臭素原子、ヨウ素原子等が挙げられ、特にフッ素原子が好ましい。
なかでも、Rは、水素原子、炭素数1〜5のアルキル基又は炭素数1〜5のフッ素化アルキル基であることが好ましく、工業上の入手の容易さから、水素原子又はメチル基であることが特に好ましい。
R is a hydrogen atom, an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, or a halogenated alkyl group having 1 to 5 carbon atoms.
The alkyl group having 1 to 5 carbon atoms in R is preferably a linear or branched alkyl group, and specifically, a methyl group, an ethyl group, a propyl group, an isopropyl group, an n-butyl group, an isobutyl group. Tert-butyl group, pentyl group, isopentyl group, neopentyl group and the like.
Examples of the halogenated alkyl group having 1 to 5 carbon atoms in R include groups in which part or all of the hydrogen atoms in the above-mentioned “alkyl group having 1 to 5 carbon atoms in R” are substituted with halogen atoms. Examples of the halogen atom include a fluorine atom, a chlorine atom, a bromine atom, and an iodine atom, and a fluorine atom is particularly preferable.
Especially, it is preferable that R is a hydrogen atom, a C1-C5 alkyl group, or a C1-C5 fluorinated alkyl group, and it is a hydrogen atom or a methyl group from industrial availability. It is particularly preferred.

式中、Qの2価の連結基としては特に限定されないが、置換基を有していてもよい2価の炭化水素基、ヘテロ原子を含む2価の連結基等が好適なものとして挙げられる。
炭化水素基が「置換基を有する」とは、該炭化水素基における水素原子の一部または全部が置換基(水素原子以外の基または原子)で置換されていることを意味する。
における該炭化水素基は、脂肪族炭化水素基であってもよく、芳香族基であってもよい。Qにおける脂肪族炭化水素基、芳香族基としては、Wの脂肪族炭化水素基、芳香族基と同様である。
In the formula, the divalent linking group of Q 2 is not particularly limited, but a divalent hydrocarbon group which may have a substituent, a divalent linking group containing a hetero atom, and the like are preferable. It is done.
The hydrocarbon group having “substituent” means that part or all of the hydrogen atoms in the hydrocarbon group are substituted with a substituent (a group or atom other than a hydrogen atom).
The hydrocarbon group for Q 2 may be an aliphatic hydrocarbon group or an aromatic group. The aliphatic hydrocarbon group and aromatic group in Q 2 are the same as the aliphatic hydrocarbon group and aromatic group of W 0 .

前記Qの「ヘテロ原子を含む2価の連結基」におけるヘテロ原子とは、炭素原子および水素原子以外の原子であり、たとえば酸素原子、窒素原子、硫黄原子、ハロゲン原子等が挙げられる。
ヘテロ原子を含む2価の連結基としては、−O−、−C(=O)−O−、−C(=O)−、−O−C(=O)−O−、−C(=O)−NH−、−NH−(Hはアルキル基、アシル基等の置換基で置換されていてもよい。)、−S−、−S(=O)−、−S(=O)−O−、−NH−C(=O)−、=N−、一般式−Y21−O−Y22−、−Y21−C(=O)−O−、−Y21−O−C(=O)−、−[Y21−C(=O)−O]m’−Y22−、−Y21−O−C(=O)−Y22−、−Y21−O−Y22−O−C(=O)−、−Y21−O−S(=O)−、−Y21−S(=O)−Y22−O−S(=O)−、−Y21−O−C(=O)−Y22−O−S(=O)−、−Y21−O−Y22−O−C(=O)−Y23−、−Y21−O−S(=O)−Y22−、−Y21−S−Y22−O−S(=O)−Y23−、または−Y21−O−C(=O)−Y22−O−S(=O)−Y23−で表される基[式中、Y21、Y22およびY23はそれぞれ独立して置換基を有していてもよい2価の炭化水素基であり、Oは酸素原子であり、Cは炭素原子であり、Sは硫黄原子であり、m’は0〜3の整数である。]等が挙げられる。
が−NH−の場合、そのHはアルキル基、アシル基等の置換基で置換されていてもよい。
前記Y21およびY22は、それぞれ独立して、置換基を有していてもよい2価の炭化水素基である。該2価の炭化水素基としては、前記「置換基を有していてもよい2価の炭化水素基」(Wの脂肪族炭化水素基、芳香族基)と同様のものが挙げられる。
21としては、置換基を有していてもよい脂肪族炭化水素基または芳香族炭化水素基が好ましく、直鎖状または環状のアルキレン基がより好ましく、炭素数1〜5の直鎖状のアルキレン基がさらに好ましく、メチレン基またはエチレン基が特に好ましい。
22としては、置換基を有していてもよい脂肪族炭化水素基または芳香族炭化水素基が好ましく、メチレン基、エチレン基、アルキルメチレン基、(ポリ)シクロアルキレン基、フェニレン基、またはナフチレン基がより好ましい。該アルキルメチレン基におけるアルキル基は、炭素数1〜5の直鎖状のアルキル基が好ましく、炭素数1〜3の直鎖状のアルキル基が好ましく、メチル基が最も好ましい。
23としては、置換基を有していてもよい直鎖状または分岐鎖状の脂肪族炭化水素基が好ましく、置換基を有していてもよい直鎖状または分岐鎖状のアルキレン基がより好ましい。
式−[Y21−C(=O)−O]m’−Y22−で表される基において、m’は0〜3の整数であり、0〜2の整数であることが好ましく、0または1がより好ましく、1が特に好ましい。つまり、式−[Y21−C(=O)−O]m’−Y22−で表される基としては、式−Y21−C(=O)−O−Y22−で表される基が特に好ましい。なかでも、式−(CHa’−C(=O)−O−(CHb’−で表される基が好ましい。該式中、a’は、1〜10の整数であり、1〜8の整数が好ましく、1〜5の整数がより好ましく、1または2がさらに好ましく、1が最も好ましい。b’は、1〜10の整数であり、1〜8の整数が好ましく、1〜5の整数がより好ましく、1または2がさらに好ましく、1が最も好ましい。
ヘテロ原子を含む2価の連結基としては、ヘテロ原子として酸素原子を有する直鎖状の基、例えばエーテル結合またはエステル結合を含む基、が好ましく、前記式−Y21−C(=O)−O−、−Y21−O−C(=O)−、−Y21−O−Y22−、−[Y21−C(=O)−O]m’−Y22−または−Y21−O−C(=O)−Y22−で表される基がより好ましい。
The hetero atom in the “divalent linking group containing a hetero atom” of Q 2 is an atom other than a carbon atom and a hydrogen atom, and examples thereof include an oxygen atom, a nitrogen atom, a sulfur atom, and a halogen atom.
As the divalent linking group containing a hetero atom, —O—, —C (═O) —O—, —C (═O) —, —O—C (═O) —O—, —C (= O) —NH—, —NH— (H may be substituted with a substituent such as an alkyl group, an acyl group, etc.), —S—, —S (═O) 2 —, —S (═O) 2 -O -, - NH-C (= O) -, = N-, the formula -Y 21 -O-Y 22 -, - Y 21 -C (= O) -O -, - Y 21 -O- C (═O) —, — [Y 21 —C (═O) —O] m ′ —Y 22 —, —Y 21 —O—C (═O) —Y 22 —, —Y 21 —O—Y 22 -O-C (= O) -, - Y 21 -O-S (= O) 2 -, - Y 21 -S (= O) 2 -Y 22 -O-S (= O) 2 -, - Y 21 -O-C (= O ) -Y 22 -O-S (= O) 2 -, - Y 21 -O-Y 2 -O-C (= O) -Y 23 -, - Y 21 -O-S (= O) 2 -Y 22 -, - Y 21 -S-Y 22 -O-S (= O) 2 -Y 23 -, or -Y 21 -O-C (= O ) -Y 22 -O-S (= O) 2 -Y 23 - group [wherein represented by, Y 21, Y 22 and Y 23 are each A divalent hydrocarbon group which may have a substituent independently, O is an oxygen atom, C is a carbon atom, S is a sulfur atom, and m ′ is an integer of 0 to 3. It is. ] Etc. are mentioned.
When Q 2 is —NH—, H may be substituted with a substituent such as an alkyl group or an acyl group.
Y 21 and Y 22 are each independently a divalent hydrocarbon group which may have a substituent. Examples of the divalent hydrocarbon group include those similar to the above-mentioned “divalent hydrocarbon group optionally having substituent (s)” (W 0 aliphatic hydrocarbon group, aromatic group).
Y 21 is preferably an aliphatic hydrocarbon group or an aromatic hydrocarbon group which may have a substituent, more preferably a linear or cyclic alkylene group, and a linear chain having 1 to 5 carbon atoms. An alkylene group is more preferable, and a methylene group or an ethylene group is particularly preferable.
Y 22 is preferably an aliphatic hydrocarbon group or an aromatic hydrocarbon group which may have a substituent, and includes a methylene group, an ethylene group, an alkylmethylene group, a (poly) cycloalkylene group, a phenylene group, or a naphthylene. Groups are more preferred. The alkyl group in the alkylmethylene group is preferably a linear alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, more preferably a linear alkyl group having 1 to 3 carbon atoms, and most preferably a methyl group.
Y 23 is preferably a linear or branched aliphatic hydrocarbon group which may have a substituent, and a linear or branched alkylene group which may have a substituent. More preferred.
In the group represented by the formula — [Y 21 —C (═O) —O] m ′ —Y 22 —, m ′ is an integer of 0 to 3, preferably an integer of 0 to 2, Or 1 is more preferable, and 1 is particularly preferable. That is, the group represented by the formula — [Y 21 —C (═O) —O] m ′ —Y 22 — is represented by the formula —Y 21 —C (═O) —O—Y 22 —. The group is particularly preferred. Among these, a group represented by the formula — (CH 2 ) a ′ —C (═O) —O— (CH 2 ) b ′ — is preferable. In the formula, a ′ is an integer of 1 to 10, preferably an integer of 1 to 8, more preferably an integer of 1 to 5, further preferably 1 or 2, and most preferably 1. b ′ is an integer of 1 to 10, preferably an integer of 1 to 8, more preferably an integer of 1 to 5, more preferably 1 or 2, and most preferably 1.
As the divalent linking group containing a hetero atom, a linear group having an oxygen atom as a hetero atom, for example, a group containing an ether bond or an ester bond, is preferable, and the formula —Y 21 —C (═O) — O—, —Y 21 —O—C (═O) —, —Y 21 —O—Y 22 —, — [Y 21 —C (═O) —O] m ′ —Y 22 — or —Y 21 —. A group represented by O—C (═O) —Y 22 — is more preferable.

上記のなかでも、Qの2価の連結基としては、特に、直鎖状もしくは分岐鎖状のアルキレン基、2価の脂環式炭化水素基、又はヘテロ原子を含む2価の連結基が好ましい。これらの中でも、直鎖状もしくは分岐鎖状のアルキレン基、又はヘテロ原子を含む2価の連結基がより好ましい。 Among the above, the divalent linking group for Q 2 is particularly a linear or branched alkylene group, a divalent alicyclic hydrocarbon group, or a divalent linking group containing a hetero atom. preferable. Among these, a linear or branched alkylene group or a divalent linking group containing a hetero atom is more preferable.

式中、Aのアニオン基は上記同様であって、上記式(an1)〜(an4)で表される基が好ましい。
式中、Mはスルホニウム又はヨードニウムカチオンであって、詳細は後述する。
In the formula, the anion group of A is the same as above, and groups represented by the above formulas (an1) to (an4) are preferable.
In the formula, M + is a sulfonium or iodonium cation, which will be described in detail later.

アニオン基含有モノマーとしては、下記式(an11)〜(an14)、(an21)〜(an25)、(an31)〜(an32)、(an41)〜(an44)で表される化合物からなる群より選択される少なくとも1種が好ましい。
これらのうち、下記式(an11)〜(an14)で表される化合物としてはそれぞれ、下記式(an11−1)〜(an13−1)で表される構成単位が好ましい。
下記式中、Mはそれぞれスルホニウム又はヨードニウムカチオンである。スルホニウム又はヨードニウムカチオンの詳細は後述する。
The anion group-containing monomer is selected from the group consisting of compounds represented by the following formulas (an11) to (an14), (an21) to (an25), (an31) to (an32), (an41) to (an44) At least one selected from the above is preferred.
Among these, as the compounds represented by the following formulas (an11) to (an14), structural units represented by the following formulas (an11-1) to (an13-1) are preferable, respectively.
In the following formulae, M + is a sulfonium or iodonium cation, respectively. Details of the sulfonium or iodonium cation will be described later.

Figure 0006006928
[式中、R、Q21〜Q23、W、Rq1は前記と同様である。Rarは置換基を有していてもよい2価の芳香族基である。Rは水素原子又は炭素数1〜5のアルキル基である。Mはスルホニウム又はヨードニウムカチオンである。]
Figure 0006006928
[Wherein, R, Q 21 to Q 23 , W 0 , R q1 are the same as described above. R ar is a divalent aromatic group which may have a substituent. R n represents a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms. M + is a sulfonium or iodonium cation. ]

Figure 0006006928
[式中、R、Rf1、Rf2、p0、、Rは前記同様であり、Q21はそれぞれ独立に単結合又は2価の連結基である。Q22は2価の連結基である。Q23は−O−、−CH−O−、又は−C(=O)−O−を含有する基である。Rq1はフッ素原子又はフッ素化アルキル基である。Mはスルホニウム又はヨードニウムカチオンである。]
Figure 0006006928
[Wherein, R, R f1 , R f2 , p0, and R n are the same as defined above, and Q 21 each independently represents a single bond or a divalent linking group. Q 22 is a divalent linking group. Q 23 is a group containing —O—, —CH 2 —O—, or —C (═O) —O—. R q1 is a fluorine atom or a fluorinated alkyl group. M + is a sulfonium or iodonium cation. ]

Figure 0006006928
[式中、R、Q21〜Q23、Z〜Z、R62〜R63、R、Rq1は前記同様である。n60は0〜3の整数である。Mはスルホニウム又はヨードニウムカチオンである。]
Figure 0006006928
[Wherein, R, Q 21 to Q 23 , Z 3 to Z 5 , R 62 to R 63 , R n and R q1 are the same as described above. n60 is an integer of 0-3. M + is a sulfonium or iodonium cation. ]

Figure 0006006928
[式中、R、Z〜Z、Rは前記と同様であり、Q24、Q25はそれぞれ独立に単結合又は2価の連結基である。Mはスルホニウム又はヨードニウムカチオンである。]
Figure 0006006928
[Wherein, R, Z 1 to Z 2 and R n are the same as defined above, and Q 24 and Q 25 each independently represent a single bond or a divalent linking group. M + is a sulfonium or iodonium cation. ]

Figure 0006006928
[式中、R、Rは前記と同様であり、Q26〜Q28はそれぞれ独立に単結合又は2価の連結基である。n30は0〜3の整数である。Mはスルホニウム又はヨードニウムカチオンである。]
Figure 0006006928
[Wherein, R and R n are as defined above, and Q 26 to Q 28 each independently represent a single bond or a divalent linking group. n30 is an integer of 0-3. M + is a sulfonium or iodonium cation. ]

式(an11)〜(an14)中、W、Rq1、は前記と同様である。
arは置換基を有していてもよい2価の芳香族基である。該2価の芳香族基としては、前記一般式(an1)中のWにおける2価の連結基の説明で、2価の炭化水素基として挙げた芳香族基と同様のものが挙げられる。なかでも、置換基を有していてもよいフェニレン基、又は置換基を有していてもよいナフチレン基が好ましい。
In formulas (an11) to (an14), W 0 and R q1 are the same as described above.
R ar is a divalent aromatic group which may have a substituent. Examples of the divalent aromatic group include the same aromatic groups as those described as the divalent hydrocarbon group in the description of the divalent linking group at W 0 in the general formula (an1). Especially, the phenylene group which may have a substituent, or the naphthylene group which may have a substituent is preferable.

21は、単結合又は2価の連結基である。Q21における2価の連結基としては、Qの2価の連結基と同様のものが挙げられる。なかでも、Q21としては、直鎖状もしくは分岐鎖状のアルキレン基、環状の脂肪族炭化水素基、芳香族炭化水素基、又はヘテロ原子を含む2価の連結基が好ましく;直鎖状もしくは分岐鎖状のアルキレン基、直鎖状もしくは分岐鎖状のアルキレン基とヘテロ原子を含む2価の連結基との組合せ、環状の脂肪族炭化水素基とヘテロ原子を含む2価の連結基との組合せ、芳香族炭化水素基とヘテロ原子を含む2価の連結基との組合せがより好ましく;直鎖状もしくは分岐鎖状のアルキレン基、直鎖状もしくは分岐鎖状のアルキレン基とエステル結合[−C(=O)−O−]との組合せ、2価の脂環式炭化水素基とエステル結合[−C(=O)−O−]との組合せが特に好ましく;直鎖状もしくは分岐鎖状のアルキレン基、又は直鎖状もしくは分岐鎖状のアルキレン基とエステル結合[−C(=O)−O−]との組合せが最も好ましい。 Q 21 is a single bond or a divalent linking group. Examples of the divalent linking group for Q 21 include the same divalent linking groups as those for Q 2 . Among these, Q 21 is preferably a linear or branched alkylene group, a cyclic aliphatic hydrocarbon group, an aromatic hydrocarbon group, or a divalent linking group containing a hetero atom; A branched alkylene group, a combination of a linear or branched alkylene group and a divalent linking group containing a heteroatom, a cyclic aliphatic hydrocarbon group and a divalent linking group containing a heteroatom. A combination or a combination of an aromatic hydrocarbon group and a divalent linking group containing a hetero atom is more preferable; a linear or branched alkylene group, a linear or branched alkylene group and an ester bond [- A combination of C (═O) —O—] with a divalent alicyclic hydrocarbon group and an ester bond [—C (═O) —O—] is particularly preferred; linear or branched An alkylene group of A combination of a branched alkylene group and an ester bond [—C (═O) —O—] is most preferred.

式(an12)中、Q22は2価の連結基であり、前記Qにおける2価の連結基と同様のものが挙げられ、なかでも、Wで挙げた直鎖状もしくは分岐鎖状のアルキレン基、環状の脂肪族炭化水素基、または2価の芳香族炭化水素基であることが好ましく、直鎖状のアルキレン基が特に好ましく、メチレン基又はエチレン基が最も好ましい。
式(an12)中、Rは水素原子又は炭素数1〜5のアルキル基である。炭素数1〜5のアルキル基としては、前記Rの炭素数1〜5のアルキル基と同様のものが挙げられる。なかでもRとしては、水素原子又はメチル基が好ましい。
Wherein (AN12), Q 22 represents a divalent linking group, wherein the same as the divalent linking group for Q 2. Among them, straight-chain or branched mentioned in W 0 An alkylene group, a cyclic aliphatic hydrocarbon group, or a divalent aromatic hydrocarbon group is preferable, a linear alkylene group is particularly preferable, and a methylene group or an ethylene group is most preferable.
Wherein (an12), R n represents a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms. As a C1-C5 alkyl group, the same thing as the C1-C5 alkyl group of said R is mentioned. Of these, R n is preferably a hydrogen atom or a methyl group.

式(an13)中、Q23は−O−、−CH−O−、又は−C(=O)−O−を含有する基である。
23として具体的には、−O−、−CH−O−、又は−C(=O)−O−からなる基;−O−、−CH−O−又は−C(=O)−O−と、置換基を有していてもよい2価の炭化水素基とからなる基等が挙げられる。
かかる置換基を有していてもよい2価の炭化水素基としては、前記式Qにおける2価の連結基で挙げた置換基を有していてもよい2価の炭化水素基と同様のものが挙げられる。
23としては、−C(=O)−O−と置換基を有していてもよい2価の炭化水素基とからなる基が好ましく、−C(=O)−O−と脂肪族炭化水素基とからなる基がより好ましく、−C(=O)−O−と直鎖状又は分岐鎖状のアルキレン基とからなる基がさらに好ましい。
23の好適なものとして具体的には、特に、下記一般式(Q23−1)で表される基が挙げられる。
In formula (an13), Q 23 represents a group containing —O—, —CH 2 —O—, or —C (═O) —O—.
Q 23 is specifically a group consisting of —O—, —CH 2 —O—, or —C (═O) —O—; —O—, —CH 2 —O— or —C (═O). And a group composed of —O— and a divalent hydrocarbon group which may have a substituent.
As the divalent hydrocarbon group which may have such a substituent, the same as the divalent hydrocarbon group which may have a substituent described for the divalent linking group in Formula Q 2 above. Things.
Q 23 is preferably a group consisting of —C (═O) —O— and a divalent hydrocarbon group which may have a substituent, and —C (═O) —O— and aliphatic carbonization. A group consisting of a hydrogen group is more preferred, and a group consisting of —C (═O) —O— and a linear or branched alkylene group is more preferred.
Specific examples suitable for Q 23, in particular, a group represented by the following general formula (Q 23 -1).

Figure 0006006928
[式(Q23−1)中、Rq2及びRq3はそれぞれ独立に水素原子、アルキル基又はフッ素化アルキル基であり、互いに結合して環を形成していてもよい。]
Figure 0006006928
[In Formula (Q 23 -1), R q2 and R q3 each independently represent a hydrogen atom, an alkyl group, or a fluorinated alkyl group, and may be bonded to each other to form a ring. ]

前記式(Q23−1)中、Rq2、Rq3におけるアルキル基は、直鎖状、分岐鎖状又は環状のいずれでもよく、直鎖状又は分岐鎖状であることが好ましい。
直鎖状又は分岐鎖状のアルキル基の場合、炭素数は1〜5であることが好ましく、エチル基、メチル基がより好ましく、エチル基が特に好ましい。
環状のアルキル基の場合、炭素数は4〜15であることが好ましく、炭素数4〜12であることがさらに好ましく、炭素数5〜10であることが最も好ましい。具体的には、モノシクロアルカン;ビシクロアルカン、トリシクロアルカン、テトラシクロアルカンなどのポリシクロアルカンからそれぞれ1個以上の水素原子を除いた基などが例示できる。より具体的には、シクロペンタン、シクロヘキサン等のモノシクロアルカンや、アダマンタン、ノルボルナン、イソボルナン、トリシクロデカン、テトラシクロドデカン等のポリシクロアルカンからそれぞれ1個以上の水素原子を除いた基などが挙げられる。なかでも、アダマンタンから1個以上の水素原子を除いた基が好ましい。
In the formula (Q 23 -1), the alkyl group in R q2 and R q3 may be linear, branched or cyclic, and is preferably linear or branched.
In the case of a linear or branched alkyl group, the number of carbon atoms is preferably 1 to 5, more preferably an ethyl group or a methyl group, and particularly preferably an ethyl group.
In the case of a cyclic alkyl group, the number of carbon atoms is preferably 4 to 15, more preferably 4 to 12, and most preferably 5 to 10. Specific examples include monocycloalkanes; groups obtained by removing one or more hydrogen atoms from polycycloalkanes such as bicycloalkanes, tricycloalkanes, and tetracycloalkanes. More specifically, monocycloalkanes such as cyclopentane and cyclohexane, and groups obtained by removing one or more hydrogen atoms from polycycloalkanes such as adamantane, norbornane, isobornane, tricyclodecane, and tetracyclododecane. It is done. Of these, a group in which one or more hydrogen atoms have been removed from adamantane is preferable.

q2、Rq3におけるフッ素化アルキル基は、アルキル基中の水素原子の一部又は全部がフッ素原子で置換されている基である。
当該フッ素化アルキル基において、フッ素原子で置換されていない状態のアルキル基は、直鎖状、分岐鎖状又は環状のいずれでもよく、上記「Rq2、Rq3におけるアルキル基」と同様のものが挙げられる。
The fluorinated alkyl group for R q2 and R q3 is a group in which part or all of the hydrogen atoms in the alkyl group are substituted with fluorine atoms.
In the fluorinated alkyl group, the alkyl group not substituted with a fluorine atom may be linear, branched or cyclic, and the same as the above-mentioned “alkyl group in R q2 and R q3 ”. Can be mentioned.

q2及びRq3は、互いに結合して環を形成していてもよく、Rq2とRq3とこれらが結合している炭素原子とが構成する環としては、前記環状のアルキル基におけるモノシクロアルカン又はポリシクロアルカンから2個の水素原子を除いたものが例示でき、4〜10員環であることが好ましく、5〜7員環であることがより好ましい。 R q2 and R q3 may be bonded to each other to form a ring, and the ring formed by R q2 and R q3 and the carbon atom to which they are bonded includes a monocyclo group in the cyclic alkyl group. The thing remove | excluding two hydrogen atoms from alkane or polycycloalkane can be illustrated, It is preferable that it is a 4-10 membered ring, and it is more preferable that it is a 5-7 membered ring.

上記の中でも、Rq2、Rq3は、水素原子又はアルキル基であることが好ましい。 Among the above, R q2 and R q3 are preferably a hydrogen atom or an alkyl group.

式(an13)中、Rq1は、フッ素原子又はフッ素化アルキル基である。
q1におけるフッ素化アルキル基において、フッ素原子で置換されていない状態のアルキル基は、直鎖状、分岐鎖状又は環状のいずれでもよい。
直鎖状若しくは分岐鎖状のアルキル基の場合、炭素数は1〜5であることが好ましく、炭素数が1〜3であることがより好ましく、炭素数が1〜2であることが特に好ましい。
環状のアルキル基の場合、炭素数は4〜15であることが好ましく、炭素数4〜12であることがより好ましく、炭素数5〜10であることがさらに好ましい。具体的には、モノシクロアルカン;ビシクロアルカン、トリシクロアルカン、テトラシクロアルカンなどのポリシクロアルカンからそれぞれ1個以上の水素原子を除いた基などが例示できる。より具体的には、シクロペンタン、シクロヘキサン等のモノシクロアルカン;アダマンタン、ノルボルナン、イソボルナン、トリシクロデカン、テトラシクロドデカン等のポリシクロアルカンからそれぞれ1個以上の水素原子を除いた基などが挙げられる。
フッ素化アルキル基においては、当該フッ素化アルキル基に含まれるフッ素原子と水素原子との合計数に対するフッ素原子の数の割合(フッ素化率(%))が、30〜100%であることが好ましく、50〜100%であることがより好ましい。該フッ素化率が高いほど、レジスト膜の疎水性が高まる。
上記の中でも、Rq1はフッ素原子であることが好ましい。
式(an11−1)〜(an13−1)中、R、Q21〜Q23、Rf1、Rf2、p0、Rは前記と同様である。
In formula (an13), R q1 represents a fluorine atom or a fluorinated alkyl group.
In the fluorinated alkyl group for R q1 , the alkyl group not substituted with a fluorine atom may be linear, branched or cyclic.
In the case of a linear or branched alkyl group, the number of carbon atoms is preferably 1 to 5, more preferably 1 to 3, and particularly preferably 1 to 2. .
In the case of a cyclic alkyl group, the number of carbon atoms is preferably 4 to 15, more preferably 4 to 12, and still more preferably 5 to 10. Specific examples include monocycloalkanes; groups obtained by removing one or more hydrogen atoms from polycycloalkanes such as bicycloalkanes, tricycloalkanes, and tetracycloalkanes. More specifically, examples include monocycloalkanes such as cyclopentane and cyclohexane; groups obtained by removing one or more hydrogen atoms from polycycloalkanes such as adamantane, norbornane, isobornane, tricyclodecane, and tetracyclododecane. .
In the fluorinated alkyl group, the ratio of the number of fluorine atoms to the total number of fluorine atoms and hydrogen atoms contained in the fluorinated alkyl group (fluorination rate (%)) is preferably 30 to 100%. 50 to 100% is more preferable. The higher the fluorination rate, the higher the hydrophobicity of the resist film.
Among the above, R q1 is preferably a fluorine atom.
Wherein (an11-1) ~ (an13-1), R, Q 21 ~Q 23, R f1, R f2, p0, R n are as defined above.

式(an21)〜(an25)中、R、Q21〜Q23、Z〜Z、R62〜R63、R、Rq1は前記と同様である。
式(an24)中、n60は0〜3の整数であって、0又は1であることが好ましい。
Wherein (an21) ~ (an25), R, Q 21 ~Q 23, Z 3 ~Z 5, R 62 ~R 63, R n, R q1 are as defined above.
In formula (an24), n60 is an integer of 0 to 3, and is preferably 0 or 1.

式(an31)〜(an32)中、R、Z〜Z、Rは前記と同様であり、Q24、Q25はそれぞれ独立に単結合又は2価の連結基である。
24、Q25の2価の連結基としては、前記Qにおける2価の連結基と同様のものが挙げられる。なお、上述したように、Zが単結合である場合、Q24、Q25のZと結合する末端は−C(=O)−でないことが好ましい。Q24、Q25の2価の連結基としては、特に、直鎖状もしくは分岐鎖状のアルキレン基、環状の脂肪族炭化水素基、又はヘテロ原子を含む2価の連結基が好ましい。これらの中でも、直鎖状もしくは分岐鎖状のアルキレン基、環状の脂肪族炭化水素基が好ましく、直鎖状のアルキレン基、環状の脂肪族炭化水素基がより好ましい。
In formulas (an31) to (an32), R, Z 1 to Z 2 and R n are the same as described above, and Q 24 and Q 25 are each independently a single bond or a divalent linking group.
Examples of the divalent linking group for Q 24 and Q 25 include the same divalent linking groups as those described above for Q 2 . As described above, if Z 1 is a single bond, end which binds to Z 1 of Q 24, Q 25 is -C (= O) - is not preferred. The divalent linking group for Q 24 and Q 25 is particularly preferably a linear or branched alkylene group, a cyclic aliphatic hydrocarbon group, or a divalent linking group containing a hetero atom. Among these, a linear or branched alkylene group and a cyclic aliphatic hydrocarbon group are preferable, and a linear alkylene group and a cyclic aliphatic hydrocarbon group are more preferable.

式(an41)〜(an44)中、R、Rは前記と同様であり、Q26〜Q28はそれぞれ独立に単結合又は2価の連結基である。Q26〜Q28は、前記Q24、Q25と同様である。
式(an44)中、n30は0〜3の整数であって、0又は1であることが好ましい。
Wherein (an41) ~ (an44), R, R n are as defined above, Q 26 to Q 28 represents a single bond or a divalent linking group independently. Q 26 to Q 28 are the same as the Q 24, Q 25.
In formula (an44), n30 is an integer of 0 to 3, and is preferably 0 or 1.

以下に、アニオン基と、スルホニウム又はヨードニウムカチオンとを有するモノマーの具体例を示す。以下の各式中、Rαは水素原子、メチル基又はトリフルオロメチル基であり、Mは前記と同様である。 Specific examples of the monomer having an anion group and a sulfonium or iodonium cation are shown below. In the following formulas, R α is a hydrogen atom, a methyl group or a trifluoromethyl group, and M + is the same as described above.

Figure 0006006928
Figure 0006006928

Figure 0006006928
Figure 0006006928

Figure 0006006928
Figure 0006006928

Figure 0006006928
Figure 0006006928

Figure 0006006928
Figure 0006006928

Figure 0006006928
Figure 0006006928

Figure 0006006928
Figure 0006006928

(スルホニウム又はヨードニウムカチオン)
アニオン基含有モノマーは、上述したようなアニオン基の対カチオン(前記式中のM)となるスルホニウム又はヨードニウムカチオンを有する。
第一のスルホニウム又はヨードニウムカチオン(アニオン基含有モノマーが有するスルホニウム又はヨードニウムカチオン)は、前記工程(ii)において塩交換に用いる第二のスルホニウム又はヨードニウムカチオン(塩交換用化合物が有するカチオン)に対して疎水性が低いものである。このような第一のスルホニウム又はヨードニウムカチオンとしては特に限定されるものではなく、第二のスルホニウム又はヨードニウムカチオンの疎水性度に応じて適宜決定することができる。
第一のスルホニウム又はヨードニウムカチオンとして例えば、下記一般式(c−1)や(c−2)で表されるカチオンを用いることができる。
(Sulfonium or iodonium cation)
The anion group-containing monomer has a sulfonium or iodonium cation that becomes a counter cation (M + in the above formula) of the anion group as described above.
The first sulfonium or iodonium cation (sulfonium or iodonium cation possessed by the anion group-containing monomer) is the second sulfonium or iodonium cation (cation possessed by the salt exchange compound) used for salt exchange in the step (ii). It has low hydrophobicity. Such a first sulfonium or iodonium cation is not particularly limited, and can be appropriately determined according to the hydrophobicity of the second sulfonium or iodonium cation.
As the first sulfonium or iodonium cation, for example, a cation represented by the following general formula (c-1) or (c-2) can be used.

Figure 0006006928
[式中、R”〜R”はそれぞれ独立に置換基を有していてもよいアリール基、アルキル基、又はアルケニル基を表す。R”〜R”のうち、いずれか二つが相互に結合して式中のイオウ原子と共に環を形成してもよい。R”〜R”はそれぞれ独立に置換基を有していてもよいアリール基、アルキル基又はアルケニル基を表す。]
Figure 0006006928
[Wherein, R 1 ″ to R 3 ″ each independently represents an aryl group, an alkyl group, or an alkenyl group which may have a substituent. Any two of R 1 ″ to R 3 ″ may be bonded to each other to form a ring together with the sulfur atom in the formula. R 5 ″ to R 6 ″ each independently represents an aryl group, alkyl group or alkenyl group which may have a substituent. ]

前記式(c−1)中、R”〜R”は、それぞれ独立に、置換基を有していてもよいアリール基、アルキル基又はアルケニル基を表す。R”〜R”のうち、いずれか二つが相互に結合して式中のイオウ原子と共に環を形成してもよい。
また、レジスト組成物に配合した際、リソグラフィー特性とレジストパターン形状がより向上することから、R”〜R”のうち、少なくとも1つはアリール基であることが好ましく、R”〜R”のうち、2つ以上がアリール基であることがより好ましく、R”〜R”のすべてがアリール基であることが特に好ましい。
In the formula (c-1), R 1 ″ to R 3 ″ each independently represents an aryl group, an alkyl group or an alkenyl group which may have a substituent. Any two of R 1 ″ to R 3 ″ may be bonded to each other to form a ring together with the sulfur atom in the formula.
Further, when blended in resist compositions, since the lithography properties and resist pattern shape is further improved, among the R 1 "to R 3", it is preferable that at least one is an aryl group, R 1 "to R 3 "of, more preferably more than two are aryl groups, R 1 'and particularly preferably all to R 3" are aryl groups.

”〜R”のアリール基としては、炭素数6〜20の無置換のアリール基;該無置換のアリール基の水素原子の一部または全部がアルキル基、アルコキシ基、ハロゲン原子、水酸基、オキソ基(=O)、アリール基、アルコキシアルキルオキシ基、アルコキシカルボニルアルキルオキシ基、−C(=O)−O−R’、−O−C(=O)−R’、−O−R’等で置換された置換アリール基等が挙げられる。R’、R’、R’は、それぞれ、炭素数1〜25の直鎖状、分岐鎖状若しくは炭素数3〜20の環状の飽和炭化水素基、又は、炭素数2〜5の直鎖状若しくは分岐鎖状の脂肪族不飽和炭化水素基である。
”〜R”において、無置換のアリール基としては、安価に合成可能なことから、炭素数6〜10のアリール基が好ましい。具体的には、たとえばフェニル基、ナフチル基が挙げられる。
”〜R”の置換アリール基における置換基としてのアルキル基としては、炭素数1〜5のアルキル基が好ましく、メチル基、エチル基、プロピル基、n−ブチル基、tert−ブチル基であることが最も好ましい。
置換アリール基における置換基としてのアルコキシ基としては、炭素数1〜5のアルコキシ基が好ましく、メトキシ基、エトキシ基、n−プロポキシ基、iso−プロポキシ基、n−ブトキシ基、tert−ブトキシ基であることが最も好ましい。
置換アリール基における置換基としてのハロゲン原子としては、フッ素原子が好ましい。
置換アリール基における置換基としてのアリール基としては、前記R”〜R”のアリール基と同様のものが挙げられ、炭素数6〜20のアリール基が好ましく、炭素数6〜10のアリール基がより好ましく、フェニル基、ナフチル基がさらに好ましい。
As the aryl group for R 1 ″ to R 3 ″, an unsubstituted aryl group having 6 to 20 carbon atoms; some or all of the hydrogen atoms of the unsubstituted aryl group are alkyl groups, alkoxy groups, halogen atoms, hydroxyl groups , An oxo group (═O), an aryl group, an alkoxyalkyloxy group, an alkoxycarbonylalkyloxy group, —C (═O) —O—R 6 ′, —O—C (═O) —R 7 ′, —O And a substituted aryl group substituted with —R 8 ′ and the like. R 6 ′, R 7 ′ and R 8 ′ are each a linear, branched or cyclic saturated hydrocarbon group having 1 to 25 carbon atoms, or a C 2 to 5 carbon atoms. It is a linear or branched aliphatic unsaturated hydrocarbon group.
In R 1 ″ to R 3 ″, the unsubstituted aryl group is preferably an aryl group having 6 to 10 carbon atoms because it can be synthesized at a low cost. Specific examples include a phenyl group and a naphthyl group.
The alkyl group as a substituent in the substituted aryl group of R 1 ″ to R 3 ″ is preferably an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, and is a methyl group, an ethyl group, a propyl group, an n-butyl group, or a tert-butyl group. Most preferably.
As the alkoxy group as a substituent in the substituted aryl group, an alkoxy group having 1 to 5 carbon atoms is preferable, and a methoxy group, an ethoxy group, an n-propoxy group, an iso-propoxy group, an n-butoxy group, or a tert-butoxy group. Most preferably it is.
The halogen atom as a substituent in the substituted aryl group is preferably a fluorine atom.
Examples of the aryl group as a substituent in the substituted aryl group include the same aryl groups as those described above for R 1 ″ to R 3 ″, preferably an aryl group having 6 to 20 carbon atoms, and an aryl group having 6 to 10 carbon atoms. Group is more preferable, and phenyl group and naphthyl group are more preferable.

置換アリール基におけるアルコキシアルキルオキシ基としては、たとえば、
一般式:−O−C(R47)(R48)−O−R49
[式中、R47、R48はそれぞれ独立して水素原子または直鎖状もしくは分岐鎖状のアルキル基であり、R49はアルキル基である。]で表される基が挙げられる。
47、R48において、アルキル基の炭素数は好ましくは1〜5であり、直鎖状、分岐鎖状のいずれでもよく、エチル基、メチル基が好ましく、メチル基が最も好ましい。
47、R48は、少なくとも一方が水素原子であることが好ましい。特に、一方が水素原子であり、他方が水素原子またはメチル基であることがより好ましい。
49のアルキル基としては、好ましくは炭素数が1〜15であり、直鎖状、分岐鎖状、環状のいずれであってもよい。
49における直鎖状、分岐鎖状のアルキル基としては、炭素数が1〜5であることが好ましく、例えば、メチル基、エチル基、プロピル基、n−ブチル基、tert−ブチル基などが挙げられる。
49における環状のアルキル基としては、炭素数4〜15であることが好ましく、炭素数4〜12であることがさらに好ましく、炭素数5〜10が最も好ましい。具体的には炭素数1〜5のアルキル基、フッ素原子またはフッ素化アルキル基で置換されていてもよいし、されていなくてもよいモノシクロアルカン、ビシクロアルカン、トリシクロアルカン、テトラシクロアルカンなどのポリシクロアルカンから1個以上の水素原子を除いた基などが挙げられる。モノシクロアルカンとしては、シクロペンタン、シクロヘキサン等が挙げられる。ポリシクロアルカンとしては、アダマンタン、ノルボルナン、イソボルナン、トリシクロデカン、テトラシクロドデカン等が挙げられる。中でもアダマンタンから1個以上の水素原子を除いた基が好ましい。
As the alkoxyalkyloxy group in the substituted aryl group, for example,
General formula: -O-C ( R47 ) ( R48 ) -O- R49
[Wherein, R 47 and R 48 each independently represent a hydrogen atom or a linear or branched alkyl group, and R 49 represents an alkyl group. ] Is represented.
In R 47 and R 48 , the alkyl group preferably has 1 to 5 carbon atoms, may be linear or branched, and is preferably an ethyl group or a methyl group, and most preferably a methyl group.
At least one of R 47 and R 48 is preferably a hydrogen atom. In particular, it is more preferable that one is a hydrogen atom and the other is a hydrogen atom or a methyl group.
The alkyl group for R 49 preferably has 1 to 15 carbon atoms and may be linear, branched or cyclic.
The linear or branched alkyl group for R 49 preferably has 1 to 5 carbon atoms, and examples thereof include a methyl group, an ethyl group, a propyl group, an n-butyl group, and a tert-butyl group. Can be mentioned.
The cyclic alkyl group for R 49 preferably has 4 to 15 carbon atoms, more preferably 4 to 12 carbon atoms, and most preferably 5 to 10 carbon atoms. Specifically, a monocycloalkane, bicycloalkane, tricycloalkane, tetracycloalkane, etc., which may or may not be substituted with an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, a fluorine atom or a fluorinated alkyl group, etc. And a group obtained by removing one or more hydrogen atoms from the polycycloalkane. Examples of the monocycloalkane include cyclopentane and cyclohexane. Examples of the polycycloalkane include adamantane, norbornane, isobornane, tricyclodecane, and tetracyclododecane. Among them, a group obtained by removing one or more hydrogen atoms from adamantane is preferable.

置換アリール基におけるアルコキシカルボニルアルキルオキシ基としては、たとえば、
一般式:−O−R50−C(=O)−O−R56
[式中、R50は直鎖状もしくは分岐鎖状のアルキレン基であり、R56は第3級アルキル基である。]で表される基が挙げられる。
50における直鎖状、分岐鎖状のアルキレン基としては、炭素数が1〜5であることが好ましく、例えば、メチレン基、エチレン基、トリメチレン基、テトラメチレン基、1,1−ジメチルエチレン基などが挙げられる。
56における第3級アルキル基としては、2−メチル−2−アダマンチル基、2−エチル−2−アダマンチル基、1−メチル−1−シクロペンチル基、1−エチル−1−シクロペンチル基、1−メチル−1−シクロヘキシル基、1−エチル−1−シクロヘキシル基、1−(1−アダマンチル)−1−メチルエチル基、1−(1−アダマンチル)−1−メチルプロピル基、1−(1−アダマンチル)−1−メチルブチル基、1−(1−アダマンチル)−1−メチルペンチル基;1−(1−シクロペンチル)−1−メチルエチル基、1−(1−シクロペンチル)−1−メチルプロピル基、1−(1−シクロペンチル)−1−メチルブチル基、1−(1−シクロペンチル)−1−メチルペンチル基;1−(1−シクロヘキシル)−1−メチルエチル基、1−(1−シクロヘキシル)−1−メチルプロピル基、1−(1−シクロヘキシル)−1−メチルブチル基、1−(1−シクロヘキシル)−1−メチルペンチル基、tert−ブチル基、tert−ペンチル基、tert−ヘキシル基などが挙げられる。
さらに、前記一般式:−O−R50−C(=O)−O−R56におけるR56を、R56’で置き換えた基も挙げられる。R56’は、水素原子、アルキル基、フッ素化アルキル基、又はヘテロ原子を含んでいてもよい脂肪族環式基である。
56’におけるアルキル基は、前記R49のアルキル基と同様のものが挙げられる。
56’におけるフッ素化アルキル基は、前記R49のアルキル基中の水素原子の一部又は全部がフッ素原子で置換された基が挙げられる。
56’における、ヘテロ原子を含んでいてもよい脂肪族環式基としては、ヘテロ原子を含まない脂肪族環式基、環構造中にヘテロ原子を含む脂肪族環式基、脂肪族環式基中の水素原子がヘテロ原子に置換されたもの等が挙げられる。
56’について、ヘテロ原子を含まない脂肪族環式基としては、モノシクロアルカン、ビシクロアルカン、トリシクロアルカン、テトラシクロアルカンなどのポリシクロアルカンから1個以上の水素原子を除いた基などが挙げられる。モノシクロアルカンとしては、シクロペンタン、シクロヘキサン等が挙げられる。ポリシクロアルカンとしては、アダマンタン、ノルボルナン、イソボルナン、トリシクロデカン、テトラシクロドデカン等が挙げられる。中でもアダマンタンから1個以上の水素原子を除いた基が好ましい。
56’について、環構造中にヘテロ原子を含む脂肪族環式基として具体的には、後述の(B)成分についての説明の中で例示する、式(L1)〜(L6)、(S1)〜(S4)で表される基等が挙げられる。
56’について、脂肪族環式基中の水素原子がヘテロ原子に置換されたものとして具体的には、脂肪族環式基中の水素原子が酸素原子(=O)に置換されたもの等が挙げられる。
As the alkoxycarbonylalkyloxy group in the substituted aryl group, for example,
General formula: —O—R 50 —C (═O) —O—R 56
[Wherein, R 50 represents a linear or branched alkylene group, and R 56 represents a tertiary alkyl group. ] Is represented.
The linear or branched alkylene group for R 50 preferably has 1 to 5 carbon atoms, such as a methylene group, an ethylene group, a trimethylene group, a tetramethylene group, or a 1,1-dimethylethylene group. Etc.
As the tertiary alkyl group for R 56 , 2-methyl-2-adamantyl group, 2-ethyl-2-adamantyl group, 1-methyl-1-cyclopentyl group, 1-ethyl-1-cyclopentyl group, 1-methyl -1-cyclohexyl group, 1-ethyl-1-cyclohexyl group, 1- (1-adamantyl) -1-methylethyl group, 1- (1-adamantyl) -1-methylpropyl group, 1- (1-adamantyl) -1-methylbutyl group, 1- (1-adamantyl) -1-methylpentyl group; 1- (1-cyclopentyl) -1-methylethyl group, 1- (1-cyclopentyl) -1-methylpropyl group, 1- (1-cyclopentyl) -1-methylbutyl group, 1- (1-cyclopentyl) -1-methylpentyl group; 1- (1-cyclohexyl) -1-methylethyl Group, 1- (1-cyclohexyl) -1-methylpropyl group, 1- (1-cyclohexyl) -1-methylbutyl group, 1- (1-cyclohexyl) -1-methylpentyl group, tert-butyl group, tert -Pentyl group, tert-hexyl group and the like.
Moreover, the general formula: the R 56 in the -O-R 50 -C (= O ) -O-R 56, also include groups replaced by R 56 '. R 56 ′ is a hydrogen atom, an alkyl group, a fluorinated alkyl group, or an aliphatic cyclic group that may contain a hetero atom.
Examples of the alkyl group for R 56 ′ include the same alkyl groups as those described above for R 49 .
Examples of the fluorinated alkyl group for R 56 ′ include groups in which some or all of the hydrogen atoms within the alkyl group for R 49 have been substituted with fluorine atoms.
Examples of the aliphatic cyclic group which may contain a hetero atom in R 56 ′ include an aliphatic cyclic group containing no hetero atom, an aliphatic cyclic group containing a hetero atom in the ring structure, and an aliphatic cyclic group. Examples include those in which a hydrogen atom in the group is substituted with a heteroatom.
Regarding R 56 ′, the aliphatic cyclic group containing no hetero atom includes a group obtained by removing one or more hydrogen atoms from a polycycloalkane such as monocycloalkane, bicycloalkane, tricycloalkane, tetracycloalkane, and the like. Can be mentioned. Examples of the monocycloalkane include cyclopentane and cyclohexane. Examples of the polycycloalkane include adamantane, norbornane, isobornane, tricyclodecane, and tetracyclododecane. Among them, a group obtained by removing one or more hydrogen atoms from adamantane is preferable.
As for R 56 ′, specific examples of the aliphatic cyclic group containing a hetero atom in the ring structure include formulas (L1) to (L6) and (S1) exemplified in the description of the component (B) described later. ) To (S4) and the like.
As for R 56 ′, the hydrogen atom in the aliphatic cyclic group is specifically substituted with a hetero atom, specifically, the hydrogen atom in the aliphatic cyclic group is substituted with an oxygen atom (═O), etc. Is mentioned.

−C(=O)−O−R’、−O−C(=O)−R’、−O−R’におけるR’、R’、R’は、それぞれ、炭素数1〜25の直鎖状、分岐鎖状若しくは炭素数3〜20の環状の飽和炭化水素基、又は、炭素数2〜5の直鎖状若しくは分岐鎖状の脂肪族不飽和炭化水素基である。
直鎖状若しくは分岐鎖状の飽和炭化水素基は、炭素数1〜25であり、炭素数1〜15であることが好ましく、4〜10であることがより好ましい。
直鎖状の飽和炭化水素基としては、例えば、メチル基、エチル基、プロピル基、ブチル基、ペンチル基、ヘキシル基、ヘプチル基、オクチル基、ノニル基、デシル基などが挙げられる。
分岐鎖状の飽和炭化水素基としては、第3級アルキル基を除き、例えば、1−メチルエチル基、1−メチルプロピル基、2−メチルプロピル基、1−メチルブチル基、2−メチルブチル基、3−メチルブチル基、1−エチルブチル基、2−エチルブチル基、1−メチルペンチル基、2−メチルペンチル基、3−メチルペンチル基、4−メチルペンチル基などが挙げられる。
前記直鎖状または分岐鎖状の飽和炭化水素基は、置換基を有していてもよい。該置換基としては、たとえばアルコキシ基、ハロゲン原子、ハロゲン化アルキル基、水酸基、酸素原子(=O)、シアノ基、カルボキシ基等が挙げられる。
前記直鎖状または分岐鎖状の飽和炭化水素基の置換基としてのアルコキシ基としては、炭素数1〜5のアルコキシ基が好ましく、メトキシ基、エトキシ基、n−プロポキシ基、iso−プロポキシ基、n−ブトキシ基、tert−ブトキシ基が好ましく、メトキシ基、エトキシ基が最も好ましい。
前記直鎖状または分岐鎖状の飽和炭化水素基の置換基としてのハロゲン原子としては、フッ素原子、塩素原子、臭素原子、ヨウ素原子等が挙げられ、フッ素原子が好ましい。
前記直鎖状または分岐鎖状の飽和炭化水素基の置換基としてのハロゲン化アルキル基としては、前記直鎖状または分岐鎖状の飽和炭化水素基の水素原子の一部または全部が前記ハロゲン原子で置換された基が挙げられる。
’、R’、R’における炭素数3〜20の環状の飽和炭化水素基としては、多環式基、単環式基のいずれでもよく、例えば、モノシクロアルカンから1個の水素原子を除いた基;ビシクロアルカン、トリシクロアルカン、テトラシクロアルカン等のポリシクロアルカンから1個の水素原子を除いた基などが挙げられる。より具体的には、シクロペンタン、シクロヘキサン、シクロヘプタン、シクロオクタン等のモノシクロアルカンや、アダマンタン、ノルボルナン、イソボルナン、トリシクロデカン、テトラシクロドデカン等のポリシクロアルカンから1個の水素原子を除いた基などが挙げられる。
該環状の飽和炭化水素基は、置換基を有していてもよい。たとえば当該環状のアルキル基が有する環を構成する炭素原子の一部がヘテロ原子で置換されていてもよく、当該環状のアルキル基が有する環に結合した水素原子が置換基で置換されていてもよい。
前者の例としては、前記モノシクロアルカンまたはポリシクロアルカンの環を構成する炭素原子の一部が酸素原子、硫黄原子、窒素原子等のヘテロ原子で置換された複素シクロアルカンから1個以上の水素原子を除いた基が挙げられる。また、前記環の構造中にエステル結合(−C(=O)−O−)を有していてもよい。具体的には、γ−ブチロラクトンから水素原子1つを除いた基等のラクトン含有単環式基や、ラクトン環を有するビシクロアルカン、トリシクロアルカン、テトラシクロアルカンから水素原子一つを除いた基等のラクトン含有多環式基等が挙げられる。
後者の例における置換基としては、上述した直鎖状または分岐鎖状のアルキル基が有してもよい置換基として挙げたものと同様のもの、低級アルキル基等が挙げられる。
また、R’、R’、R’は、直鎖状または分岐鎖状のアルキル基と、環状アルキル基との組み合わせであってもよい。
直鎖状または分岐鎖状のアルキル基と環状アルキル基との組合せとしては、直鎖状または分岐鎖状のアルキル基に置換基として環状のアルキル基が結合した基、環状のアルキル基に置換基として直鎖状または分岐鎖状のアルキル基が結合した基等が挙げられる。
’、R’、R’における直鎖状の脂肪族不飽和炭化水素基としては、例えば、ビニル基、プロペニル基(アリル基)、ブチニル基などが挙げられる。
’、R’、R’における分岐鎖状の脂肪族不飽和炭化水素基としては、例えば、1−メチルプロペニル基、2−メチルプロペニル基などが挙げられる。
該直鎖状若しくは分岐鎖状の脂肪族不飽和炭化水素基は置換基を有していてもよい。該置換基としては、前記直鎖状または分岐鎖状のアルキル基が有していてもよい置換基として挙げたものと同様のものが挙げられる。
’、R’においては、上記のなかでも、リソグラフィー特性、レジストパターン形状が良好であることから、炭素数1〜15の直鎖状若しくは分岐鎖状の飽和炭化水素基、又は炭素数3〜20の環状の飽和炭化水素基が好ましい。
-C (= O) -O-R 6 ', -O-C (= O) -R 7', 'R 6 in' -O-R 8, R 7 ', R 8' are each carbon atoms 1 to 25 linear, branched or cyclic saturated hydrocarbon group having 3 to 20 carbon atoms, or a linear or branched aliphatic unsaturated hydrocarbon group having 2 to 5 carbon atoms. .
The linear or branched saturated hydrocarbon group has 1 to 25 carbon atoms, preferably 1 to 15 carbon atoms, and more preferably 4 to 10 carbon atoms.
Examples of the linear saturated hydrocarbon group include a methyl group, an ethyl group, a propyl group, a butyl group, a pentyl group, a hexyl group, a heptyl group, an octyl group, a nonyl group, and a decyl group.
Examples of the branched saturated hydrocarbon group excluding the tertiary alkyl group include, for example, 1-methylethyl group, 1-methylpropyl group, 2-methylpropyl group, 1-methylbutyl group, 2-methylbutyl group, 3 -Methylbutyl group, 1-ethylbutyl group, 2-ethylbutyl group, 1-methylpentyl group, 2-methylpentyl group, 3-methylpentyl group, 4-methylpentyl group and the like can be mentioned.
The linear or branched saturated hydrocarbon group may have a substituent. Examples of the substituent include an alkoxy group, a halogen atom, a halogenated alkyl group, a hydroxyl group, an oxygen atom (═O), a cyano group, and a carboxy group.
As the alkoxy group as a substituent of the linear or branched saturated hydrocarbon group, an alkoxy group having 1 to 5 carbon atoms is preferable, and a methoxy group, an ethoxy group, an n-propoxy group, an iso-propoxy group, An n-butoxy group and a tert-butoxy group are preferable, and a methoxy group and an ethoxy group are most preferable.
Examples of the halogen atom as a substituent of the linear or branched saturated hydrocarbon group include a fluorine atom, a chlorine atom, a bromine atom, and an iodine atom, and a fluorine atom is preferable.
As the halogenated alkyl group as a substituent of the linear or branched saturated hydrocarbon group, part or all of the hydrogen atoms of the linear or branched saturated hydrocarbon group are the halogen atoms. And a group substituted with.
The cyclic saturated hydrocarbon group having 3 to 20 carbon atoms in R 6 ′, R 7 ′, and R 8 ′ may be either a polycyclic group or a monocyclic group. A group in which one hydrogen atom has been removed from a polycycloalkane such as bicycloalkane, tricycloalkane, tetracycloalkane, and the like. More specifically, one hydrogen atom was removed from a monocycloalkane such as cyclopentane, cyclohexane, cycloheptane, and cyclooctane, and a polycycloalkane such as adamantane, norbornane, isobornane, tricyclodecane, and tetracyclododecane. Group and the like.
The cyclic saturated hydrocarbon group may have a substituent. For example, part of the carbon atoms constituting the ring of the cyclic alkyl group may be substituted with a heteroatom, or the hydrogen atom bonded to the ring of the cyclic alkyl group may be substituted with a substituent. Good.
Examples of the former include one or more hydrogen atoms from a heterocycloalkane in which a part of the carbon atoms constituting the ring of the monocycloalkane or polycycloalkane is substituted with a heteroatom such as an oxygen atom, a sulfur atom, or a nitrogen atom. Examples include groups other than atoms. The ring structure may have an ester bond (—C (═O) —O—). Specifically, a lactone-containing monocyclic group such as a group obtained by removing one hydrogen atom from γ-butyrolactone, or a group obtained by removing one hydrogen atom from a bicycloalkane, tricycloalkane, or tetracycloalkane having a lactone ring. And other lactone-containing polycyclic groups.
Examples of the substituent in the latter example include the same as those described above as the substituent that the linear or branched alkyl group may have, a lower alkyl group, and the like.
R 6 ′, R 7 ′, and R 8 ′ may be a combination of a linear or branched alkyl group and a cyclic alkyl group.
A combination of a linear or branched alkyl group and a cyclic alkyl group includes a group in which a cyclic alkyl group is bonded as a substituent to a linear or branched alkyl group, and a substituent to the cyclic alkyl group. And a group having a linear or branched alkyl group bonded thereto.
Examples of the linear aliphatic unsaturated hydrocarbon group for R 6 ′, R 7 ′, and R 8 ′ include a vinyl group, a propenyl group (allyl group), and a butynyl group.
Examples of the branched aliphatic unsaturated hydrocarbon group for R 6 ′, R 7 ′, and R 8 ′ include a 1-methylpropenyl group and a 2-methylpropenyl group.
The linear or branched aliphatic unsaturated hydrocarbon group may have a substituent. Examples of the substituent include the same ones as those exemplified as the substituent which the linear or branched alkyl group may have.
Among R 7 ′ and R 8 ′, among them, the lithography characteristics and the resist pattern shape are good, so that the linear or branched saturated hydrocarbon group having 1 to 15 carbon atoms, or the carbon number 3-20 cyclic saturated hydrocarbon groups are preferred.

”〜R”のアリール基としては、それぞれ、フェニル基またはナフチル基であることが好ましい。 The aryl groups for R 1 ″ to R 3 ″ are each preferably a phenyl group or a naphthyl group.

”〜R”のアルキル基としては、たとえば、炭素数1〜10の直鎖状、分岐鎖状または環状のアルキル基等が挙げられる。なかでも、解像性に優れる点から、炭素数1〜5であることが好ましい。具体的には、メチル基、エチル基、n−プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、イソブチル基、n−ペンチル基、シクロペンチル基、ヘキシル基、シクロヘキシル基、ノニル基、デシル基等が挙げられ、解像性に優れ、また安価に合成可能なことから好ましいものとして、メチル基を挙げることができる。 Examples of the alkyl group for R 1 ″ to R 3 ″ include a linear, branched, or cyclic alkyl group having 1 to 10 carbon atoms. Especially, it is preferable that it is C1-C5 from the point which is excellent in resolution. Specific examples include a methyl group, an ethyl group, an n-propyl group, an isopropyl group, an n-butyl group, an isobutyl group, an n-pentyl group, a cyclopentyl group, a hexyl group, a cyclohexyl group, a nonyl group, and a decyl group. A methyl group is preferable because it is excellent in resolution and can be synthesized at low cost.

”〜R”のアルケニル基としては、たとえば、炭素数2〜10であることが好ましく、2〜5がより好ましく、2〜4がさらに好ましい。具体的には、ビニル基、プロペニル基(アリル基)、ブチニル基、1−メチルプロペニル基、2−メチルプロペニル基などが挙げられる。 As an alkenyl group of R < 1 >"-R< 3 >", it is preferable that it is C2-C10, for example, 2-5 are more preferable, and 2-4 are more preferable. Specific examples include a vinyl group, a propenyl group (allyl group), a butynyl group, a 1-methylpropenyl group, and a 2-methylpropenyl group.

”〜R”のうち、いずれか二つが相互に結合して式中のイオウ原子と共に環を形成する場合、イオウ原子を含めて3〜10員環を形成していることが好ましく、5〜7員環を形成していることが特に好ましい。
”〜R”のうち、いずれか二つが相互に結合して式中のイオウ原子と共に環を形成する場合、残りの1つは、アリール基であることが好ましい。前記アリール基は、前記R”〜R”のアリール基と同様のものが挙げられる。
When any two of R 1 ″ to R 3 ″ are bonded to each other to form a ring together with the sulfur atom in the formula, it is preferable that a 3 to 10 membered ring including the sulfur atom is formed, It is particularly preferable to form a 5- to 7-membered ring.
When any two of R 1 ″ to R 3 ″ are bonded to each other to form a ring together with the sulfur atom in the formula, the remaining one is preferably an aryl group. Examples of the aryl group include the same aryl groups as those described above for R 1 ″ to R 3 ″.

前記式(c−1)で表される化合物におけるカチオン部の具体例としては、たとえば、トリフェニルスルホニウム、(3,5−ジメチルフェニル)ジフェニルスルホニウム、(4−(2−アダマントキシメチルオキシ)−3,5−ジメチルフェニル)ジフェニルスルホニウム、(4−(2−アダマントキシメチルオキシ)フェニル)ジフェニルスルホニウム、(4−(tert−ブトキシカルボニルメチルオキシ)フェニル)ジフェニルスルホニウム、(4−(tert−ブトキシカルボニルメチルオキシ)−3,5−ジメチルフェニル)ジフェニルスルホニウム、(4−(2−メチル−2−アダマンチルオキシカルボニルメチルオキシ)フェニル)ジフェニルスルホニウム、(4−(2−メチル−2−アダマンチルオキシカルボニルメチルオキシ)−3,5−ジメチルフェニル)ジフェニルスルホニウム、トリ(4−メチルフェニル)スルホニウム、ジメチル(4−ヒドロキシナフチル)スルホニウム、モノフェニルジメチルスルホニウム、ジフェニルモノメチルスルホニウム、(4−メチルフェニル)ジフェニルスルホニウム、(4−メトキシフェニル)ジフェニルスルホニウム、トリ(4−tert−ブチル)フェニルスルホニウム、ジフェニル(1−(4−メトキシ)ナフチル)スルホニウム、ジ(1−ナフチル)フェニルスルホニウム、1−フェニルテトラヒドロチオフェニウム、1−(4−メチルフェニル)テトラヒドロチオフェニウム、1−(3,5−ジメチル−4−ヒドロキシフェニル)テトラヒドロチオフェニウム、1−(4−メトキシナフタレン−1−イル)テトラヒドロチオフェニウム、1−(4−エトキシナフタレン−1−イル)テトラヒドロチオフェニウム、1−(4−n−ブトキシナフタレン−1−イル)テトラヒドロチオフェニウム、1−フェニルテトラヒドロチオピラニウム、1−(4−ヒドロキシフェニル)テトラヒドロチオピラニウム、1−(3,5−ジメチル−4−ヒドロキシフェニル)テトラヒドロチオピラニウム、1−(4−メチルフェニル)テトラヒドロチオピラニウム等が挙げられる。   Specific examples of the cation moiety in the compound represented by the formula (c-1) include, for example, triphenylsulfonium, (3,5-dimethylphenyl) diphenylsulfonium, (4- (2-adamantoxymethyloxy)- 3,5-dimethylphenyl) diphenylsulfonium, (4- (2-adamantoxymethyloxy) phenyl) diphenylsulfonium, (4- (tert-butoxycarbonylmethyloxy) phenyl) diphenylsulfonium, (4- (tert-butoxycarbonyl) Methyloxy) -3,5-dimethylphenyl) diphenylsulfonium, (4- (2-methyl-2-adamantyloxycarbonylmethyloxy) phenyl) diphenylsulfonium, (4- (2-methyl-2-adamantyloxycarbonylmethyl) Xy) -3,5-dimethylphenyl) diphenylsulfonium, tri (4-methylphenyl) sulfonium, dimethyl (4-hydroxynaphthyl) sulfonium, monophenyldimethylsulfonium, diphenylmonomethylsulfonium, (4-methylphenyl) diphenylsulfonium, 4-methoxyphenyl) diphenylsulfonium, tri (4-tert-butyl) phenylsulfonium, diphenyl (1- (4-methoxy) naphthyl) sulfonium, di (1-naphthyl) phenylsulfonium, 1-phenyltetrahydrothiophenium, 1 -(4-Methylphenyl) tetrahydrothiophenium, 1- (3,5-dimethyl-4-hydroxyphenyl) tetrahydrothiophenium, 1- (4-methoxynaphthalen-1-yl) Trahydrothiophenium, 1- (4-ethoxynaphthalen-1-yl) tetrahydrothiophenium, 1- (4-n-butoxynaphthalen-1-yl) tetrahydrothiophenium, 1-phenyltetrahydrothiopyranium, Examples include 1- (4-hydroxyphenyl) tetrahydrothiopyranium, 1- (3,5-dimethyl-4-hydroxyphenyl) tetrahydrothiopyranium, 1- (4-methylphenyl) tetrahydrothiopyranium, and the like.

また、前記式(c−1)で表されるカチオンのなかで好適なものとして、具体的には以下に示すものが挙げられる。   In addition, specific examples of the cation represented by the formula (c-1) include those shown below.

Figure 0006006928
Figure 0006006928

Figure 0006006928
Figure 0006006928

Figure 0006006928
Figure 0006006928

Figure 0006006928
Figure 0006006928

Figure 0006006928
Figure 0006006928

Figure 0006006928
[式中、g1は繰返し数を示し、1〜5の整数である。]
Figure 0006006928
[Wherein g1 represents the number of repetitions and is an integer of 1 to 5. ]

Figure 0006006928
Figure 0006006928

Figure 0006006928
[式中、g2、g3は繰返し数を示し、g2は0〜20の整数であり、g3は0〜20の整数である。]
Figure 0006006928
[Wherein g2 and g3 represent the number of repetitions, g2 is an integer of 0 to 20, and g3 is an integer of 0 to 20. ]

Figure 0006006928
Figure 0006006928

Figure 0006006928
Figure 0006006928

Figure 0006006928
Figure 0006006928

前記式(c−2)中、R”〜R”は、それぞれ独立に、置換基を有していてもよいアリール基、アルキル基又はアルケニル基を表す。
”〜R”のうち、少なくとも1つはアリール基を表す。R”〜R”のいずれもアリール基であることが好ましい。
”〜R”のアリール基としては、R”〜R”のアリール基と同様のものが挙げられる。
”〜R”のアルキル基としては、R”〜R”のアルキル基と同様のものが挙げられる。
”〜R”のアルケニル基としては、R”〜R”のアルケニル基と同様のものが挙げられる。
これらの中でも、R”〜R”は、すべてフェニル基であることが最も好ましい。
前記式(c−2)で表されるカチオン部の具体例としては、ジフェニルヨードニウム、ビス(4−tert−ブチルフェニル)ヨードニウム等が挙げられる。
In formula (c-2), R 5 ″ to R 6 ″ each independently represents an aryl group, alkyl group or alkenyl group which may have a substituent.
At least one of R 5 ″ to R 6 ″ represents an aryl group. Any of R 5 ″ to R 6 ″ is preferably an aryl group.
As the aryl group for R 5 ″ to R 6 ″, the same as the aryl groups for R 1 ″ to R 3 ″ can be used.
Examples of the alkyl group for R 5 ″ to R 6 ″ include the same as the alkyl group for R 1 ″ to R 3 ″.
Examples of the alkenyl group for R 5 ″ to R 6 ″ include the same alkenyl groups for R 1 ″ to R 3 ″.
Among these, it is most preferable that all of R 5 ″ to R 6 ″ are phenyl groups.
Specific examples of the cation moiety represented by the formula (c-2) include diphenyliodonium and bis (4-tert-butylphenyl) iodonium.

また、(c−1)で表されるカチオンの好適な例としては、下記式(c−1−01)〜(c−2−04)で表される化合物も挙げられる。   In addition, preferred examples of the cation represented by (c-1) include compounds represented by the following formulas (c-1-01) to (c-2-04).

Figure 0006006928
Figure 0006006928

式(c−1−01)〜(c−1−04)中、uは1〜3の整数であり、1または2が最も好ましい。
式(c−1−01)〜(c−1−04)中、R6a〜R8aは置換基を有していてもよいアルキレン基又は置換基を有していてもよいフェニレン基であり、R6b〜R8bは水素原子、置換基を有していてもよいアルキル基、置換基を有していてもよいフェニル基またはナフチル基である。
式(c−1−04)中、Rは置換基を有していてもよいアルキル基、置換基を有していてもよいフェニル基またはナフチル基である。
In formulas (c-1-01) to (c-1-04), u is an integer of 1 to 3, and 1 or 2 is most preferable.
In formulas (c-1-01) to (c-1-04), R 6a to R 8a are an alkylene group which may have a substituent or a phenylene group which may have a substituent, R 6b to R 8b are a hydrogen atom, an alkyl group which may have a substituent, a phenyl group which may have a substituent, or a naphthyl group.
In formula (c-1-04), R 9 represents an alkyl group which may have a substituent, a phenyl group which may have a substituent, or a naphthyl group.

6a〜R8aにおけるアルキレン基としては、直鎖状または分岐鎖状のアルキレン基が好ましい。該アルキレン基の炭素数は、1〜12が好ましく、1〜5がより好ましく、1〜3がさらに好ましく、1または2が特に好ましい。
該アルキレン基が有していてもよい置換基としては、アルコキシ基、ハロゲン原子、水酸基、オキソ基(=O)、シアノ基、アリール基、アルコキシアルキルオキシ基、アルコキシカルボニルアルキルオキシ基、−C(=O)−O−R”、−O−C(=O)−R”、−O−R”等が挙げられる。アルコキシ基、ハロゲン原子、アリール基、アルコキシアルキルオキシ基、アルコキシカルボニルアルキルオキシ基、−C(=O)−O−R”、−O−C(=O)−R”、−O−R”としては、前記式(c−1)中のR”〜R”の説明で、置換アリール基が有していてもよい置換基として挙げたものと同様である。
式中、R6b〜R8b、Rにおける置換基を有していてもよいアルキル基としては、前記一般式(c−1)中のR”〜R”の説明で挙げた置換アルキル基と同様のものが挙げられる。
6b〜R8b、Rにおけるフェニル基またはナフチル基が有していてもよい置換基としては、前記一般式(c−1)中のR”〜R”の説明で挙げた置換アリール基が有していてもよい置換基として挙げたものと同様のものが挙げられる。
前記式(c−1−01)〜(c−1−04)で表されるカチオンの好適なものとしては、たとえば以下に示すもの等が挙げられる。式中、Rは、上記置換アリール基についての説明のなかで例示した置換基(アルコキシ基、アルコキシアルキルオキシ基、アルコキシカルボニルアルキルオキシ基、ハロゲン原子、水酸基、オキソ基(=O)、アリール基、−C(=O)−O−R’、−O−C(=O)−R’、−O−R’)である。
以下に具体例を示す。
The alkylene group for R 6a to R 8a is preferably a linear or branched alkylene group. 1-12 are preferable, as for carbon number of this alkylene group, 1-5 are more preferable, 1-3 are more preferable, and 1 or 2 is especially preferable.
Examples of the substituent that the alkylene group may have include an alkoxy group, a halogen atom, a hydroxyl group, an oxo group (═O), a cyano group, an aryl group, an alkoxyalkyloxy group, an alkoxycarbonylalkyloxy group, —C ( ═O) —O—R 7 ″, —O—C (═O) —R 8 ″, —O—R 9 ″ and the like. Alkoxy group, halogen atom, aryl group, alkoxyalkyloxy group, alkoxycarbonyl As the alkyloxy group, —C (═O) —O—R 7 ″, —O—C (═O) —R 8 ″, —O—R 9 ″, R 1 in the above formula (c-1) is used. In the description of “˜R 3 ”, the same as those described as the substituent that the substituted aryl group may have.
In the formula, as the alkyl group which may have a substituent in R 6b to R 8b and R 9, the substituted alkyl exemplified in the description of R 1 ″ to R 3 ″ in the general formula (c-1) The same thing as a group is mentioned.
Examples of the substituent that the phenyl group or naphthyl group in R 6b to R 8b and R 9 may have include the substituted aryl described in the description of R 1 ″ to R 3 ″ in the general formula (c-1). The thing similar to what was mentioned as a substituent which group may have is mentioned.
Preferable examples of the cations represented by the above formulas (c-1-01) to (c-1-04) include those shown below. In the formula, R C represents a substituent (alkoxy group, alkoxyalkyloxy group, alkoxycarbonylalkyloxy group, halogen atom, hydroxyl group, oxo group (═O), aryl group exemplified in the description of the substituted aryl group. , —C (═O) —O—R 6 ′, —O—C (═O) —R 7 ′, —O—R 8 ′).
Specific examples are shown below.

Figure 0006006928
Figure 0006006928

また、下記の一般式(c−3)又は一般式(c−4)で表されるカチオンも挙げられる。   Moreover, the cation represented by the following general formula (c-3) or general formula (c-4) is also mentioned.

Figure 0006006928
[式中、R40は水素原子またはアルキル基であり、R41はアルキル基、アセチル基、カルボキシ基、またはヒドロキシアルキル基であり、R42〜R46はそれぞれ独立してアルキル基、アセチル基、アルコキシ基、カルボキシ基、またはヒドロキシアルキル基であり;n〜nはそれぞれ独立して0〜3の整数であり、ただし、n+nは5以下であり、nは0〜2の整数である。]
Figure 0006006928
[Wherein, R 40 represents a hydrogen atom or an alkyl group, R 41 represents an alkyl group, an acetyl group, a carboxy group, or a hydroxyalkyl group, and R 42 to R 46 each independently represents an alkyl group, an acetyl group, An alkoxy group, a carboxy group, or a hydroxyalkyl group; n 0 to n 5 are each independently an integer of 0 to 3, provided that n 0 + n 1 is 5 or less and n 6 is 0 to 2 It is an integer. ]

一般式(c−3)中、R40のアルキル基は、炭素数1〜15のアルキル基が好ましく、炭素数1〜10のアルキル基がより好ましく、炭素数4〜10のアルキル基がさらに好ましく、なかでも直鎖または分岐鎖状のアルキル基が特に好ましい。
一般式(c−3)または(c−4)中のR41〜R46において、アルキル基は、炭素数1〜5のアルキル基が好ましく、なかでも直鎖または分岐鎖状のアルキル基がより好ましく、メチル基、エチル基、プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、又はtert−ブチル基であることが特に好ましい。
アルコキシ基は、炭素数1〜5のアルコキシ基が好ましく、なかでも直鎖または分岐鎖状のアルコキシ基がより好ましく、メトキシ基、エトキシ基が特に好ましい。
ヒドロキシアルキル基は、上記アルキル基中の一個又は複数個の水素原子がヒドロキシ基に置換した基が好ましく、ヒドロキシメチル基、ヒドロキシエチル基、ヒドロキシプロピル基等が挙げられる。
OR40に付された符号nが2以上の整数である場合、複数のOR40はそれぞれ同じであってもよく、異なっていてもよい。
41〜R46に付された符号n〜nが2以上の整数である場合、複数のR41〜R46はそれぞれ同じであってもよく、異なっていてもよい。
は、好ましくは0又は1である。
は、好ましくは0〜2である。
およびnは、好ましくはそれぞれ独立して0又は1であり、より好ましくは0である。
は、好ましくは0〜2であり、より好ましくは0又は1である。
は、好ましくは0又は1であり、より好ましくは0である。
は、好ましくは0又は1である。
In general formula (c-3), the alkyl group of R 40 is preferably an alkyl group having 1 to 15 carbon atoms, more preferably an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms, and still more preferably an alkyl group having 4 to 10 carbon atoms. Of these, a linear or branched alkyl group is particularly preferred.
In R 41 to R 46 in the general formula (c-3) or (c-4), the alkyl group is preferably an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, and more preferably a linear or branched alkyl group. A methyl group, an ethyl group, a propyl group, an isopropyl group, an n-butyl group, or a tert-butyl group is particularly preferable.
The alkoxy group is preferably an alkoxy group having 1 to 5 carbon atoms, more preferably a linear or branched alkoxy group, and particularly preferably a methoxy group or an ethoxy group.
The hydroxyalkyl group is preferably a group in which one or more hydrogen atoms in the alkyl group are substituted with a hydroxy group, and examples thereof include a hydroxymethyl group, a hydroxyethyl group, and a hydroxypropyl group.
When the code n 0 attached to the OR 40 is an integer of 2 or more, the plurality of OR 40 may be the same or different.
When the symbols n 1 to n 6 attached to R 41 to R 46 are integers of 2 or more, the plurality of R 41 to R 46 may be the same or different.
n 0 is preferably 0 or 1.
n 1 is preferably 0-2.
n 2 and n 3 are preferably each independently 0 or 1, more preferably 0.
n 4 is preferably 0 to 2, more preferably 0 or 1.
n 5 is preferably 0 or 1, more preferably 0.
n 6 is preferably 0 or 1.

前記式(c−3)又は式(c−4)で表されるカチオンの好適なものとしては、以下に示すものが挙げられる。   As a suitable thing of the cation represented by the said Formula (c-3) or Formula (c-4), what is shown below is mentioned.

Figure 0006006928
Figure 0006006928

本発明における第一のスルホニウム又はヨードニウムカチオンは、第二のスルホニウム又はヨードニウムカチオンに比して疎水性が低いのみならず、重合時に高い安定性を有することが好ましい。
安定性の高いカチオン骨格としては例えば、トリフェニルスルホニウム骨格、ジフェニルヨードニウム骨格、トリメチルスルホニウム骨格、ジメチルフェニルスルホニウム骨格等が挙げられる。
The first sulfonium or iodonium cation in the present invention preferably has not only low hydrophobicity but also high stability during polymerization as compared with the second sulfonium or iodonium cation.
Examples of the cationic skeleton having high stability include a triphenylsulfonium skeleton, a diphenyliodonium skeleton, a trimethylsulfonium skeleton, and a dimethylphenylsulfonium skeleton.

[塩交換用化合物]
塩交換用化合物はスルホニウム又はヨードニウムカチオン(「第二のスルホニウム又はヨードニウムカチオン」)を有する化合物であって、工程(ii)における塩交換により、該塩交換用化合物が有する第二のスルホニウム又はヨードニウムカチオンと、工程(i)によって合成された前駆体ポリマー中のスルホニウム又はヨードニウムカチオンとが塩交換可能なものである。即ち、塩交換用化合物の有する第二のスルホニウム又はヨードニウムカチオンが、本発明の製造方法により製造される高分子化合物の有するカチオンとなる。
本発明において塩交換用化合物は、第二のスルホニウム又はヨードニウムカチオンからなるカチオン部、及び非求核性イオンからなるアニオン部で構成される化合物が好ましい。
[Salt exchange compound]
The salt exchange compound is a compound having a sulfonium or iodonium cation (“second sulfonium or iodonium cation”), and the second sulfonium or iodonium cation possessed by the salt exchange compound by salt exchange in step (ii). And the sulfonium or iodonium cation in the precursor polymer synthesized by the step (i) are capable of salt exchange. That is, the second sulfonium or iodonium cation possessed by the compound for salt exchange becomes a cation possessed by the polymer compound produced by the production method of the present invention.
In the present invention, the compound for salt exchange is preferably a compound composed of a cation moiety comprising a second sulfonium or iodonium cation and an anion moiety comprising a non-nucleophilic ion.

(第二のスルホニウム又はヨードニウムカチオン)
第二のスルホニウム又はヨードニウムカチオンは、前記第一のスルホニウム又はヨードニウムカチオンよりも疎水性が高いカチオンである。工程(ii)における塩交換を疎水性の低いカチオンから疎水性の高いカチオンへの塩交換とすることにより、塩交換反応を良好に進行させ、所望のカチオンを有する高分子化合物を製造することができる。
(Second sulfonium or iodonium cation)
The second sulfonium or iodonium cation is a cation having higher hydrophobicity than the first sulfonium or iodonium cation. The salt exchange in step (ii) is a salt exchange from a low hydrophobic cation to a highly hydrophobic cation, whereby the salt exchange reaction can proceed well and a polymer compound having a desired cation can be produced. it can.

第二のスルホニウム又はヨードニウムカチオン(第二のカチオン)としては、第一のスルホニウム又はヨードニウムカチオン(第一のカチオン)で挙げたカチオンと同様のものが挙げられ、第一のスルホニウム又はヨードニウムカチオンの疎水性度に応じて適宜決定することができる。   Examples of the second sulfonium or iodonium cation (second cation) include those similar to the cation exemplified in the first sulfonium or iodonium cation (first cation), and the hydrophobicity of the first sulfonium or iodonium cation. It can be appropriately determined according to the degree of nature.

本発明において第一のカチオンと第二のカチオンとは、上述したHPLC法による測定において、リテンションタイムにある程度の差があることが必要となるが、(第二のカチオンのリテンションタイム)を(第一のカチオンのリテンションタイム)で割ったときの値が1.05以上あればよく、好ましくは1.1以上である。1.05以上とすることで、塩交換反応が容易となる。   In the present invention, the first cation and the second cation are required to have a certain difference in retention time in the measurement by the HPLC method described above. The value when divided by the retention time of one cation is 1.05 or more, preferably 1.1 or more. By setting it as 1.05 or more, a salt exchange reaction becomes easy.

本発明において好ましい「第一のスルホニウム又はヨードニウムカチオン」(第一のカチオン)と、「第二のスルホニウム又はヨードニウムカチオン」(第二のカチオン)との組合せとして具体的には、以下の組合せが挙げられる。
・第一のカチオンが前記式(c−1−1)で表されるカチオンであり;第二のカチオンが前記式(c−1−01)〜(c−1−02)、(c−1−03−2)、(c−1−8)若しくは(c−1−31)で表されるカチオン、又はビス(4−tert−ブチルフェニル)ヨードニウムカチオンである組合せ。
・第一のカチオンがジフェニルヨードニウムカチオンであり;第二のカチオンが(c−1−1)〜(c−1−31)、(c−1−01)〜(c−1−04)である組み合わせ。
・第一のカチオンが、トリメチルスルホニウムカチオンまたは(c−1−33)で表されるカチオンあり;第二のカチオンが(c−1−1)〜(c−1−31)、(c−1−01)〜(c−1−04)である組み合わせ。
Specific examples of the combination of the “first sulfonium or iodonium cation” (first cation) and the “second sulfonium or iodonium cation” (second cation) preferred in the present invention include the following combinations. It is done.
The first cation is a cation represented by the formula (c-1-1); the second cation is the formula (c-1-01) to (c-1-02), (c-1 -03-2), a cation represented by (c-1-8) or (c-1-31), or a combination which is a bis (4-tert-butylphenyl) iodonium cation.
The first cation is a diphenyliodonium cation; the second cation is (c-1-1) to (c-1-31), (c-1-01) to (c-1-04) combination.
The first cation is a trimethylsulfonium cation or a cation represented by (c-1-33); the second cation is (c-1-1) to (c-1-31), (c-1 −01) to (c-1-04).

(非求核性イオン)
非求核性イオンとしては、臭素イオン、塩素イオン等のハロゲンイオン;当該前駆体ポリマーよりも酸性度が低い酸になり得るイオン、BF 、AsF 、SbF 、PF またはClO 等が挙げられる。当該前駆体ポリマーよりも酸性度が低い酸になり得るイオンとしては特に限定されるものではなく、前駆体ポリマーに用いるモノマーの種類に応じて適宜決定することができるが、例えばp−トルエンスルホン酸イオン、メタンスルホン酸イオン、ベンゼンスルホン酸イオン等のスルホン酸イオンが挙げられる。
(Non-nucleophilic ion)
Examples of non-nucleophilic ions include halogen ions such as bromine ions and chlorine ions; ions that can be acids with lower acidity than the precursor polymer, BF 4 , AsF 6 , SbF 6 , PF 6 or And ClO 4 — and the like. The ion that can be an acid having a lower acidity than the precursor polymer is not particularly limited and can be appropriately determined according to the type of monomer used in the precursor polymer. For example, p-toluenesulfonic acid Examples thereof include sulfonate ions such as ions, methanesulfonate ions, and benzenesulfonate ions.

[高分子化合物]
本発明に係る高分子化合物の製造方法により製造される高分子化合物は、露光により分解して酸を発生する構成単位(以下、この構成単位を「構成単位(a0)」ともいう。)を有するものである。
本発明者らは、一部の酸発生基を含むモノマーを原料として用いた場合に、高分子化合物の合成が困難であることに着目し、これがモノマー中のカチオンの不安定性に起因することを新たに見出した。そこで本発明の製造方法では、構成単位(a0)の有するべきカチオンに替えて、該カチオンに比して(構造的に)安定でかつ疎水性の低いカチオンを有するモノマーを用いて予め前駆体ポリマーを合成し、その後疎水性の高い所望のカチオンに塩交換を行う製造方法を採用した。
かかる製造方法によれば、直接合成することが困難であった特定のカチオンを有する高分子化合物を、容易且つ高収率で製造することができる。
また、本方法によれば、高分子化合物に多種のカチオンを導入可能となるため、高分子化合物中のカチオン種の選択の自由度が高まり、該高分子化合物を用いるレジスト組成物の組成を最適化することができるため、リソグラフィー特性の向上に寄与することができる。
[Polymer compound]
The polymer compound produced by the method for producing a polymer compound according to the present invention has a structural unit that decomposes upon exposure to generate an acid (hereinafter, this structural unit is also referred to as “structural unit (a0)”). Is.
The present inventors paid attention to the difficulty in synthesizing a polymer compound when a monomer containing some acid-generating groups was used as a raw material, and that this was caused by instability of a cation in the monomer. Newly found. Therefore, in the production method of the present invention, instead of the cation that the structural unit (a0) should have, a precursor polymer is used in advance using a monomer having a cation that is (structurally) stable and less hydrophobic than the cation. Then, a production method in which salt exchange is performed on a desired cation having high hydrophobicity was adopted.
According to this production method, a polymer compound having a specific cation that has been difficult to synthesize directly can be produced easily and in high yield.
In addition, according to this method, since various types of cations can be introduced into the polymer compound, the degree of freedom in selecting the cation species in the polymer compound is increased, and the composition of the resist composition using the polymer compound is optimized. Therefore, it is possible to contribute to improvement of lithography characteristics.

また、かかる製造方法においては、アニオン基含有モノマー、及び該アニオン基含有モノマーが前記第二のスルホニウム又はヨードニウムカチオンと塩交換したモノマーからなるモノマー群の含有量の少ない高分子化合物が製造される。即ち、本発明の製造方法では、合成時の残存モノマー、及び、残存モノマー中のカチオンが塩交換したモノマーの残存が低減される。
これは、疎水性の低いカチオンを有するモノマーであることにより、合成後に残存モノマーが発生した場合にも該モノマーの除去が容易であるため、と考えられる。
Further, in this production method, a polymer compound having a small content of an anion group-containing monomer and a monomer group composed of a monomer in which the anion group-containing monomer is salt-exchanged with the second sulfonium or iodonium cation is produced. That is, in the production method of the present invention, the residual monomer at the time of synthesis and the monomer remaining after the cation in the residual monomer is salt-exchanged are reduced.
This is considered to be because the monomer having a low hydrophobic cation facilitates removal of the monomer even when a residual monomer is generated after synthesis.

具体的には、本発明によれば、前記工程(i)で得られる前駆体ポリマー(塩交換前の高分子化合物)中の前記アニオン基含有モノマーの残存量が、当該塩交換前の前駆体ポリマーに対して、好ましくは500ppm(質量基準)以下であり、より好ましくは250ppm(質量基準)以下であり、さらに好ましくは100ppm(質量基準)未満である高分子化合物が容易に製造される。前記工程(i)で得られる前駆体ポリマー(塩交換前の高分子化合物)中の前記モノマーの残存量は少ないほど好ましい。なお、合成後、塩交換前に上述した洗浄を行うことにより、モノマー残存量を低減することが可能となる。ここで残存したアニオン基含有モノマーも、前記工程(ii)で、前駆体ポリマーに対する塩交換とともに塩交換される。このため、塩交換後の高分子化合物に対する、アニオン基含有モノマー、及び当該アニオン基含有モノマーが前記第二のスルホニウム又はヨードニウムカチオンと塩交換したモノマーからなるモノマー群の残存量は、上記塩交換前の高分子化合物に対するアニオン基含有モノマーの残存濃度と実質的に同じか又はそれ以下となる。よって、当該モノマー群の残存量は、本発明の製造方法により製造される高分子化合物に対して、500ppm(質量基準)以下であることが好ましく、250ppm(質量基準)以下であることがより好ましく、100ppm(質量基準)未満であることがさらに好ましい、と云える。   Specifically, according to the present invention, the residual amount of the anion group-containing monomer in the precursor polymer (the polymer compound before salt exchange) obtained in the step (i) is the precursor before the salt exchange. The polymer compound is preferably 500 ppm (mass basis) or less, more preferably 250 ppm (mass basis) or less, and further preferably less than 100 ppm (mass basis) with respect to the polymer. The smaller the residual amount of the monomer in the precursor polymer (polymer compound before salt exchange) obtained in the step (i), the better. In addition, it is possible to reduce the residual monomer amount by performing the above-described washing after the synthesis and before the salt exchange. The remaining anion group-containing monomer is also salt-exchanged together with salt exchange for the precursor polymer in the step (ii). For this reason, the remaining amount of the monomer group consisting of the anion group-containing monomer and the monomer obtained by salt exchange of the anion group-containing monomer with the second sulfonium or iodonium cation with respect to the polymer compound after salt exchange is The residual concentration of the anionic group-containing monomer with respect to the polymer compound is substantially the same or lower. Therefore, the residual amount of the monomer group is preferably 500 ppm (mass basis) or less, more preferably 250 ppm (mass basis) or less with respect to the polymer compound produced by the production method of the present invention. It is more preferable that the amount is less than 100 ppm (mass basis).

上記の様に前記モノマー群の含有量が少ないことにより、本発明の製造方法により製造される高分子化合物を含有するレジスト組成物は、レジスト組成物とした際、露光余裕度、ラフネス低減等のリソグラフィー特性や、レジストパターン形状がより良好となる。   As described above, when the content of the monomer group is small, the resist composition containing the polymer compound produced by the production method of the present invention has an exposure margin, roughness reduction, and the like when the resist composition is used. Lithography characteristics and resist pattern shape become better.

本発明の製造方法により製造される高分子化合物は、前記構成単位(a0)に加えて、さらにその他の構成単位を有していてもよい。その他の構成単位としては、後述する構成単位(a1)〜(a4)等が挙げられる。その他の構成単位を有する高分子化合物は、各構成単位を誘導するモノマーを、アニオン基含有モノマーと共に用いることにより製造することができる。   In addition to the structural unit (a0), the polymer compound produced by the production method of the present invention may further have other structural units. Examples of other structural units include structural units (a1) to (a4) described later. The polymer compound having other structural units can be produced by using a monomer that derives each structural unit together with an anion group-containing monomer.

≪レジスト組成物≫
本発明のレジスト組成物は、前記本発明の高分子化合物の製造方法により製造された高分子化合物、すなわち、露光により分解して酸を発生する構成単位(構成単位(a0))を有する高分子化合物、を含有するものである。
本発明のレジスト組成物としては、酸の作用により現像液に対する溶解性が変化する基材成分(A)(以下「(A)成分」という。)を含有するものが好ましい。かかるレジスト組成物を用いてレジスト膜を形成し、該レジスト膜に対して選択的露光を行うと、露光部にて、前記構成単位(a0)から酸が発生し、該酸の作用により(A)成分の現像液に対する溶解性が変化する一方で、未露光部では、(A)成分の現像液に対する溶解性が変化しないため、露光部と未露光部との間で現像液に対する溶解性の差が生じる。このため、該レジスト膜を現像すると、当該レジスト組成物がポジ型の場合は露光部が溶解除去されてポジ型のレジストパターンが形成され、当該レジスト組成物がネガ型の場合は未露光部が溶解除去されてネガ型のレジストパターンが形成される。
本明細書においては、露光部が溶解除去されてポジ型レジストパターンを形成するレジスト組成物をポジ型レジスト組成物といい、未露光部が溶解除去されてネガ型レジストパターンを形成するレジスト組成物をネガ型レジスト組成物という。
本発明のレジスト組成物は、ポジ型レジスト組成物であってもよく、ネガ型レジスト組成物であってもよい。
また、本発明のレジスト組成物は、レジストパターン形成時の現像処理にアルカリ現像液を用いるアルカリ現像プロセス用であってもよく、該現像処理に有機溶剤を含む現像液(有機系現像液)を用いる溶剤現像プロセス用であってもよい。
≪Resist composition≫
The resist composition of the present invention is a polymer compound produced by the method for producing a polymer compound of the present invention, that is, a polymer having a structural unit (structural unit (a0)) that decomposes upon exposure to generate an acid. A compound.
The resist composition of the present invention preferably contains a base component (A) (hereinafter referred to as “component (A)”) whose solubility in a developer is changed by the action of an acid. When a resist film is formed using such a resist composition and the resist film is selectively exposed, an acid is generated from the structural unit (a0) in the exposed portion, and the action of the acid (A ) While the solubility of the component in the developer changes, the solubility of the component (A) in the developer does not change in the unexposed area, so the solubility in the developer between the exposed and unexposed areas There is a difference. For this reason, when the resist film is developed, when the resist composition is positive, the exposed portion is dissolved and removed to form a positive resist pattern. When the resist composition is negative, the unexposed portion is formed. A negative resist pattern is formed by dissolution and removal.
In this specification, a resist composition in which an exposed portion is dissolved and removed to form a positive resist pattern is referred to as a positive resist composition, and an unexposed portion is dissolved and removed to form a negative resist pattern. Is referred to as a negative resist composition.
The resist composition of the present invention may be a positive resist composition or a negative resist composition.
In addition, the resist composition of the present invention may be used for an alkali development process using an alkali developer for development processing at the time of forming a resist pattern, and a developer (organic developer) containing an organic solvent is used for the development processing. It may be for the solvent development process used.

<(A)成分>
(A)成分としては、通常、化学増幅型レジスト用の基材成分として用いられている有機化合物を1種単独で、又は2種以上を混合して使用することができる。
ここで、「基材成分」とは、膜形成能を有する有機化合物であり、好ましくは分子量が500以上の有機化合物が用いられる。該有機化合物の分子量が500以上であることにより、膜形成能が向上し、また、ナノレベルのレジストパターンを形成しやすい。
前記基材成分として用いられる「分子量が500以上の有機化合物」は、非重合体と重合体とに大別される。
非重合体としては、通常、分子量が500以上4000未満のものが用いられる。以下、「低分子化合物」という場合は、分子量が500以上4000未満の非重合体を示す。
重合体としては、通常、分子量が1000以上のものが用いられる。本明細書および特許請求の範囲において「樹脂」という場合、分子量が1000以上の重合体を示す。
重合体の分子量としては、GPC(ゲルパーミエーションクロマトグラフィー)によるポリスチレン換算の質量平均分子量を用いるものとする。
(A)成分は、酸の作用により現像液に対する溶解性が増大するものであってもよく、酸の作用により現像液に対する溶解性が減少するものであってもよい。
<(A) component>
As the component (A), organic compounds that are usually used as base material components for chemically amplified resists can be used singly or in combination of two or more.
Here, the “base material component” is an organic compound having a film forming ability, and an organic compound having a molecular weight of 500 or more is preferably used. When the molecular weight of the organic compound is 500 or more, the film-forming ability is improved and a nano-level resist pattern is easily formed.
“Organic compounds having a molecular weight of 500 or more” used as the base component are roughly classified into non-polymers and polymers.
As the non-polymer, those having a molecular weight of 500 or more and less than 4000 are usually used. Hereinafter, the “low molecular compound” refers to a non-polymer having a molecular weight of 500 or more and less than 4000.
As the polymer, those having a molecular weight of 1000 or more are usually used. In the present specification and claims, the term “resin” refers to a polymer having a molecular weight of 1000 or more.
As the molecular weight of the polymer, a polystyrene-reduced mass average molecular weight by GPC (gel permeation chromatography) is used.
Component (A) may have increased solubility in a developer due to the action of an acid, or may decrease solubility in a developer due to the action of an acid.

本発明のレジスト組成物が、アルカリ現像プロセスにおいてネガ型レジストパターンを形成する(または溶剤現像プロセスにおいてポジ型レジストパターンを形成する)レジスト組成物である場合、(A)成分としては、好ましくは、アルカリ現像液に可溶性の基材成分(以下、(A0’)成分ということがある。)が用いられ、さらに、架橋剤成分が配合される。アルカリ可溶性基材成分としては、通常、樹脂(アルカリ可溶性樹脂)が用いられる。かかるレジスト組成物は、露光により構成単位(a0)から酸が発生すると、当該酸が作用して(A0’)成分と架橋剤成分との間で架橋が起こり、結果、アルカリ現像液に対する溶解性が減少(有機系現像液に対する溶解性が増大)する。そのため、レジストパターンの形成において、当該レジスト組成物を支持体上に塗布して得られるレジスト膜を選択的に露光すると、露光部はアルカリ現像液に対して難溶性(有機系現像液に対して可溶性)へ転じる一方で、未露光部はアルカリ現像液に対して可溶性(有機系現像液に対して難溶性)のまま変化しないため、アルカリ現像液で現像することによりネガ型レジストパターンが形成できる。また、このとき現像液として有機系現像液を用いると、ポジ型のレジストパターンが形成できる。
(A0’)成分としては、アルカリ現像液に対して可溶性の樹脂(以下「アルカリ可溶性樹脂」という。)として公知の樹脂を用いることができる。
アルカリ可溶性樹脂としては、例えば特開2000−206694号公報に開示されている、α−(ヒドロキシアルキル)アクリル酸、またはα−(ヒドロキシアルキル)アクリル酸のアルキルエステル(好ましくは炭素数1〜5のアルキルエステル)から選ばれる少なくとも一つから誘導される単位を有する樹脂;米国特許6949325号公報に開示されている、スルホンアミド基を有するα位の炭素原子に水素原子以外の原子又は置換基が結合していてもよいアクリル樹脂またはポリシクロオレフィン樹脂;米国特許6949325号公報、特開2005−336452号公報、特開2006−317803号公報に開示されている、フッ素化アルコールを含有し、α位の炭素原子に水素原子以外の原子又は置換基が結合していてもよいアクリル樹脂;特開2006−259582号公報に開示されている、フッ素化アルコールを有するポリシクロオレフィン樹脂等が、膨潤の少ない良好なレジストパターンが形成でき、好ましい。
なお、前記α−(ヒドロキシアルキル)アクリル酸は、α位の炭素原子に水素原子以外の原子又は置換基が結合していてもよいアクリル酸のうち、カルボキシ基が結合するα位の炭素原子に水素原子が結合しているアクリル酸と、このα位の炭素原子にヒドロキシアルキル基(好ましくは炭素数1〜5のヒドロキシアルキル基)が結合しているα−ヒドロキシアルキルアクリル酸の一方または両方を示す。
架橋剤成分としては、例えば、通常は、メチロール基またはアルコキシメチル基を有するグリコールウリルなどのアミノ系架橋剤、メラミン系架橋剤などを用いると、膨潤の少ない良好なレジストパターンが形成でき、好ましい。架橋剤成分の配合量は、アルカリ可溶性樹脂100質量部に対し、1〜50質量部であることが好ましい。
When the resist composition of the present invention is a resist composition that forms a negative resist pattern in an alkali development process (or forms a positive resist pattern in a solvent development process), the component (A) is preferably A base material component (hereinafter, also referred to as (A0 ′) component) that is soluble in an alkali developer is used, and a crosslinking agent component is further blended. As the alkali-soluble base component, a resin (alkali-soluble resin) is usually used. In such a resist composition, when an acid is generated from the structural unit (a0) by exposure, the acid acts to cause crosslinking between the component (A0 ′) and the crosslinking agent component, resulting in solubility in an alkaline developer. Decreases (the solubility in an organic developer increases). Therefore, in the formation of a resist pattern, when a resist film obtained by coating the resist composition on a support is selectively exposed, the exposed portion is hardly soluble in an alkali developer (to an organic developer). On the other hand, the unexposed area remains soluble (almost insoluble in the organic developer) while remaining undissolved in the alkali developer, so that a negative resist pattern can be formed by developing with an alkali developer. . At this time, if an organic developer is used as the developer, a positive resist pattern can be formed.
As the component (A0 ′), a known resin can be used as a resin that is soluble in an alkali developer (hereinafter referred to as “alkali-soluble resin”).
Examples of the alkali-soluble resin include α- (hydroxyalkyl) acrylic acid or α- (hydroxyalkyl) acrylic acid alkyl ester (preferably having 1 to 5 carbon atoms) disclosed in, for example, JP-A-2000-206694. Resin having a unit derived from at least one selected from alkyl ester); disclosed in US Pat. No. 6,949,325, an atom other than a hydrogen atom or a substituent is bonded to the α-position carbon atom having a sulfonamide group Acrylic resin or polycycloolefin resin which may be used; containing a fluorinated alcohol disclosed in US Pat. An atom other than a hydrogen atom or a substituent may be bonded to the carbon atom. Acrylic resin; disclosed in Japanese 2006-259582 discloses, polycycloolefin resins having fluorinated alcohol, with minimal swelling can formation of a satisfactory resist pattern.
In addition, the α- (hydroxyalkyl) acrylic acid is an α-position carbon atom to which a carboxy group is bonded among acrylic acids in which an atom other than a hydrogen atom or a substituent may be bonded to the α-position carbon atom. One or both of acrylic acid to which a hydrogen atom is bonded and α-hydroxyalkyl acrylic acid in which a hydroxyalkyl group (preferably a hydroxyalkyl group having 1 to 5 carbon atoms) is bonded to the α-position carbon atom Show.
As the crosslinking agent component, for example, it is usually preferable to use an amino crosslinking agent such as glycoluril having a methylol group or an alkoxymethyl group, a melamine crosslinking agent, or the like because a good resist pattern with less swelling can be formed. It is preferable that the compounding quantity of a crosslinking agent component is 1-50 mass parts with respect to 100 mass parts of alkali-soluble resin.

本発明のレジスト組成物が、アルカリ現像プロセスにおいてポジ型パターンを形成し、溶剤現像プロセスにおいてネガ型パターンを形成するレジスト組成物である場合、(A)成分としては、好ましくは、酸の作用により極性が増大する基材成分(A0)(以下「(A0)成分」という。)が用いられる。(A0)成分は露光前後で極性が変化するため、アルカリ現像プロセスだけでなく、溶剤現像プロセスにおいても良好な現像コントラストを得ることができる。
つまり、アルカリ現像プロセスを適用する場合、(A0)成分は、露光前はアルカリ現像液に対して難溶性であり、露光により構成単位(a0)から酸が発生すると、該酸の作用により極性が増大してアルカリ現像液に対する溶解性が増大する。そのため、レジストパターンの形成において、当該レジスト組成物を支持体上に塗布して得られるレジスト膜に対して選択的に露光すると、露光部はアルカリ現像液に対して難溶性から可溶性に変化する一方で、未露光部はアルカリ難溶性のまま変化しないため、アルカリ現像することによりポジ型パターンが形成できる。
一方、溶剤現像プロセスを適用する場合は、(A0)成分は、露光前は有機系現像液に対して溶解性が高く、露光により構成単位(a0)から酸が発生すると、該酸の作用により極性が高くなり有機系現像液に対する溶解性が減少する。そのため、レジストパターンの形成において、当該レジスト組成物を支持体上に塗布して得られるレジスト膜に対して選択的に露光すると、露光部は有機系現像液に対して可溶性から難溶性に変化する一方で、未露光部は可溶性のまま変化しないため、有機系現像液で現像することにより、露光部と未露光部との間でコントラストをつけることができ、ネガ型パターンが形成できる。
When the resist composition of the present invention is a resist composition that forms a positive pattern in an alkali development process and forms a negative pattern in a solvent development process, the component (A) is preferably an action of an acid. A substrate component (A0) (hereinafter referred to as “(A0) component”) having an increased polarity is used. Since the polarity of the component (A0) changes before and after exposure, good development contrast can be obtained not only in the alkali development process but also in the solvent development process.
That is, when the alkali development process is applied, the component (A0) is hardly soluble in an alkali developer before exposure, and when acid is generated from the structural unit (a0) by exposure, the polarity of the component is reduced by the action of the acid. Increases the solubility in an alkaline developer. Therefore, in the formation of a resist pattern, when a resist film obtained by applying the resist composition on a support is selectively exposed, the exposed portion changes from slightly soluble to soluble in an alkaline developer. Since the unexposed portion remains hardly soluble in alkali and does not change, a positive pattern can be formed by alkali development.
On the other hand, when applying the solvent development process, the component (A0) is highly soluble in an organic developer before exposure, and when an acid is generated from the structural unit (a0) by exposure, The polarity becomes higher and the solubility in an organic developer decreases. Therefore, in the formation of the resist pattern, when the resist film obtained by applying the resist composition on the support is selectively exposed, the exposed portion changes from soluble to poorly soluble in an organic developer. On the other hand, since the unexposed portion remains soluble and does not change, by developing with an organic developer, a contrast can be provided between the exposed portion and the unexposed portion, and a negative pattern can be formed.

本発明において、(A)成分は、(A0)成分であることが好ましい。すなわち、本発明のレジスト組成物は、アルカリ現像プロセスにおいてポジ型となり、溶剤現像プロセスにおいてネガ型となる化学増幅型レジスト組成物であることが好ましい。
該(A0)成分は、酸の作用により極性が増大する樹脂成分であってもよく、酸の作用により極性が増大する低分子化合物成分であってもよく、又はこれらの混合物であってもよい。
(A0)成分としては、酸の作用により極性が増大する樹脂成分であることが好ましく、特に、露光により酸を発生し、且つ、酸の作用により極性が増大する高分子化合物(A1)(以下「(A1)成分」という。)を含有するものが好ましい。
In the present invention, the component (A) is preferably the component (A0). That is, the resist composition of the present invention is preferably a chemically amplified resist composition that becomes positive in the alkali development process and negative in the solvent development process.
The component (A0) may be a resin component whose polarity is increased by the action of an acid, a low molecular compound component whose polarity is increased by the action of an acid, or a mixture thereof. .
The component (A0) is preferably a resin component that increases in polarity by the action of an acid. In particular, the polymer compound (A1) that generates an acid by exposure and increases in polarity by the action of an acid (hereinafter referred to as “A0”) What contains "(A1) component") is preferable.

[(A1)成分]
(A1)成分として具体的には、露光により分解して酸を発生する構成単位(a0)と、酸の作用により極性が増大する酸分解性基を含む構成単位(a1)と、を有する高分子化合物が好ましく、前記第一の態様の高分子化合物の製造方法により製造された高分子化合物が特に好ましい。
[(A1) component]
Specifically, the component (A1) is a high component having a structural unit (a0) that decomposes upon exposure to generate an acid and a structural unit (a1) that includes an acid-decomposable group that increases in polarity by the action of an acid. Molecular compounds are preferred, and polymer compounds produced by the polymer compound production method of the first aspect are particularly preferred.

(構成単位(a0))
構成単位(a0)は、露光により分解して酸を発生する構成単位であり、上述したアニオン基含有モノマーから誘導される構成単位であって、そのカチオン部が上記第二のスルホニウム又はヨードニウムカチオンと塩交換した構成単位である。
構成単位(a0)としては、上記式(I)で表されるモノマーにおける、エチレン性二重結合が開裂して単結合となった構成単位であって、そのカチオン部が上記第二のスルホニウム又はヨードニウムカチオンと塩交換した構成単位が好ましい。具体的には、下記式(a0−1)で表される構成単位が好ましい。
(Structural unit (a0))
The structural unit (a0) is a structural unit that decomposes upon exposure to generate an acid, and is a structural unit derived from the above-described anion group-containing monomer, the cation portion of which is the second sulfonium or iodonium cation. It is a structural unit that has undergone salt exchange.
The structural unit (a0) is a structural unit obtained by cleaving the ethylenic double bond in the monomer represented by the above formula (I) into a single bond, the cation portion of which is the second sulfonium or A structural unit that is salt-exchanged with an iodonium cation is preferred. Specifically, a structural unit represented by the following formula (a0-1) is preferable.

Figure 0006006928
[式中、R、Q、Aは前記同様であり、M’は上述した第二のスルホニウム又はヨードニウムカチオンである。]
Figure 0006006928
[Wherein, R, Q 2 and A are the same as defined above, and M ′ + represents the second sulfonium or iodonium cation described above. ]

構成単位(a0)として具体的には、上記式(an11)〜(an14)、(an21)〜(an25)、(an31)〜(an32)、(an41)〜(an44)で表される化合物からなる群より選択される少なくとも1種の化合物から誘導される構成単位であって、そのカチオン部が上記第二のスルホニウム又はヨードニウムカチオンと塩交換した構成単位が特に好ましい。   Specifically, as the structural unit (a0), from the compounds represented by the above formulas (an11) to (an14), (an21) to (an25), (an31) to (an32), (an41) to (an44) Particularly preferred is a structural unit derived from at least one compound selected from the group consisting of cation moieties salt-exchanged with the second sulfonium or iodonium cation.

(A1)成分中、構成単位(a0)は、1種を単独で用いてもよく、2種以上を併用してもよい。
(A1)成分中、構成単位(a0)の割合は、(A1)成分を構成する全構成単位の合計に対し、1〜40モル%であることが好ましく、1〜35モル%がより好ましく、3〜30モル%がさらに好ましい。構成単位(a0)の割合が前記範囲の下限値以上であることにより、レジスト組成物とした際、容易にパターンを得ることができ、リソグラフィー特性がより向上する。他方、上限値以下であることにより、他の構成単位とのバランスをとることができる。
In the component (A1), as the structural unit (a0), one type of structural unit may be used, or two or more types may be used in combination.
In the component (A1), the proportion of the structural unit (a0) is preferably 1 to 40 mol%, more preferably 1 to 35 mol%, based on the total of all the structural units constituting the component (A1). 3-30 mol% is more preferable. When the proportion of the structural unit (a0) is not less than the lower limit of the above range, a pattern can be easily obtained when the resist composition is obtained, and the lithography properties are further improved. On the other hand, by being below the upper limit value, it is possible to balance with other structural units.

(構成単位(a1))
構成単位(a1)は、酸の作用により極性が増大する酸分解性基を含む構成単位である。
「酸分解性基」は、露光により(A1)成分(構成単位(a0))から発生する酸の作用により、当該酸分解性基の構造中の少なくとも一部の結合が開裂し得る酸分解性を有する基である。
酸の作用により極性が増大する酸分解性基としては、たとえば、酸の作用により分解して極性基を生じる基が挙げられる。
極性基としては、たとえばカルボキシ基、水酸基、アミノ基、スルホ基(−SOH)等が挙げられる。これらのなかでも、構造中に−OHを含有する極性基(以下「OH含有極性基」ということがある。)が好ましく、カルボキシ基または水酸基が好ましく、カルボキシ基が特に好ましい。
酸分解性基としてより具体的には、前記極性基を酸解離性基で保護した基(たとえばOH含有極性基の水素原子を酸解離性基で保護した基)が挙げられる。
「酸解離性基」は、露光により(A1)成分(構成単位(a0))から発生する酸の作用により、少なくとも、当該酸解離性基と該酸解離性基に隣接する原子との間の結合が開裂し得る酸解離性を有する基である。酸分解性基を構成する酸解離性基は、当該酸解離性基の解離により生成する極性基よりも極性の低い基であることが必要で、これにより、酸の作用により該酸解離性基が解離した際に、該酸解離性基よりも極性の高い極性基が生じて極性が増大する。その結果、(A1)成分全体の極性が増大する。極性が増大することにより、相対的に、現像液に対する溶解性が変化し、現像液がアルカリ現像液の場合には溶解性が増大し、他方、現像液が有機溶剤を含む現像液(有機系現像液)の場合には溶解性が減少する。
(Structural unit (a1))
The structural unit (a1) is a structural unit containing an acid-decomposable group whose polarity is increased by the action of an acid.
The “acid-decomposable group” is an acid-decomposable group capable of cleaving at least part of the bond in the structure of the acid-decomposable group by the action of an acid generated from the component (A1) (structural unit (a0)) upon exposure. It is group which has.
Examples of the acid-decomposable group whose polarity increases by the action of an acid include a group that decomposes by the action of an acid to generate a polar group.
Examples of the polar group include a carboxy group, a hydroxyl group, an amino group, a sulfo group (—SO 3 H), and the like. Among these, a polar group containing —OH in the structure (hereinafter sometimes referred to as “OH-containing polar group”) is preferable, a carboxy group or a hydroxyl group is preferable, and a carboxy group is particularly preferable.
More specifically, examples of the acid-decomposable group include a group in which the polar group is protected with an acid-dissociable group (for example, a group in which a hydrogen atom of an OH-containing polar group is protected with an acid-dissociable group).
The “acid-dissociable group” means that at least between the acid-dissociable group and an atom adjacent to the acid-dissociable group by the action of an acid generated from the component (A1) (structural unit (a0)) upon exposure. It is a group having acid dissociation properties that can cleave the bond. The acid-dissociable group constituting the acid-decomposable group must be a group having a lower polarity than the polar group generated by dissociation of the acid-dissociable group. Is dissociated, a polar group having a polarity higher than that of the acid dissociable group is generated to increase the polarity. As a result, the polarity of the entire component (A1) increases. As the polarity increases, the solubility in the developer changes relatively. When the developer is an alkaline developer, the solubility increases. On the other hand, the developer contains an organic solvent (organic type). In the case of a developer, the solubility decreases.

酸解離性基としては、特に限定されず、これまで、化学増幅型レジスト用のベース樹脂の酸解離性基として提案されているものを使用することができる。一般的には、(メタ)アクリル酸等におけるカルボキシ基と環状又は鎖状の第3級アルキルエステルを形成する基、アルコキシアルキル基等のアセタール型酸解離性基などが広く知られている。
ここで、「第3級アルキルエステル」とは、カルボキシ基の水素原子が、鎖状又は環状のアルキル基で置換されることによりエステルを形成しており、そのカルボニルオキシ基(−C(=O)−O−)の末端の酸素原子に、前記鎖状又は環状のアルキル基の第3級炭素原子が結合している構造を示す。この第3級アルキルエステルにおいては、酸が作用すると、酸素原子と第3級炭素原子との間で結合が切断され、カルボキシ基が形成される。
前記鎖状又は環状のアルキル基は、置換基を有していてもよい。
以下、カルボキシ基と第3級アルキルエステルを構成することにより、酸解離性となっている基を、便宜上、「第3級アルキルエステル型酸解離性基」という。
The acid-dissociable group is not particularly limited, and those that have been proposed as acid-dissociable groups for base resins for chemically amplified resists can be used. In general, a group that forms a cyclic or chain tertiary alkyl ester with a carboxy group in (meth) acrylic acid or the like, an acetal type acid dissociable group such as an alkoxyalkyl group, and the like are widely known.
Here, the “tertiary alkyl ester” is an ester formed by replacing a hydrogen atom of a carboxy group with a chain or cyclic alkyl group, and the carbonyloxy group (—C (═O The structure in which the tertiary carbon atom of the chain or cyclic alkyl group is bonded to the terminal oxygen atom of) -O-). In this tertiary alkyl ester, when an acid acts, a bond is cut between an oxygen atom and a tertiary carbon atom to form a carboxy group.
The chain or cyclic alkyl group may have a substituent.
Hereinafter, a group that is acid dissociable by constituting a carboxy group and a tertiary alkyl ester is referred to as a “tertiary alkyl ester type acid dissociable group” for convenience.

第3級アルキルエステル型酸解離性基としては、脂肪族分岐鎖状酸解離性基、脂肪族環式基を含有する酸解離性基が挙げられる。
ここで、「脂肪族分岐鎖状」とは、芳香族性を持たない分岐鎖状の構造を有することを示す。「脂肪族分岐鎖状酸解離性基」の構造は、炭素および水素からなる基(炭化水素基)であることに限定はされないが、炭化水素基であることが好ましい。また、「炭化水素基」は飽和または不飽和のいずれでもよいが、通常は飽和であることが好ましい。
脂肪族分岐鎖状酸解離性基としては、たとえば、−C(R71)(R72)(R73)で表される基が挙げられる。式中、R71〜R73は、それぞれ独立に、炭素数1〜5の直鎖状のアルキル基である。−C(R71)(R72)(R73)で表される基は、炭素数が4〜8であることが好ましく、具体的にはtert−ブチル基、2−メチル−2−ブチル基、2−メチル−2−ペンチル基、3−メチル−3−ペンチル基などが挙げられる。特にtert−ブチル基が好ましい。
Examples of the tertiary alkyl ester type acid dissociable group include an aliphatic branched acid dissociable group and an acid dissociable group containing an aliphatic cyclic group.
Here, “aliphatic branched” means having a branched structure having no aromaticity. The structure of the “aliphatic branched acid dissociable group” is not limited to a group consisting of carbon and hydrogen (hydrocarbon group), but is preferably a hydrocarbon group. The “hydrocarbon group” may be either saturated or unsaturated, but is usually preferably saturated.
Examples of the aliphatic branched acid dissociable group include a group represented by —C (R 71 ) (R 72 ) (R 73 ). Wherein, R 71 to R 73 each independently represents a linear alkyl group of 1 to 5 carbon atoms. The group represented by —C (R 71 ) (R 72 ) (R 73 ) preferably has 4 to 8 carbon atoms, specifically a tert-butyl group or a 2-methyl-2-butyl group. , 2-methyl-2-pentyl group, 3-methyl-3-pentyl group and the like. A tert-butyl group is particularly preferable.

「脂肪族環式基」は、芳香族性を持たない単環式基又は多環式基であることを示す。
「脂肪族環式基を含有する酸解離性基」における脂肪族環式基は、置換基を有していてもよいし、有していなくてもよい。置換基としては、炭素数1〜5のアルキル基、炭素数1〜5のアルコキシ基、フッ素原子、炭素数1〜5のフッ素化アルキル基、酸素原子(=O)等が挙げられる。
該脂肪族環式基の置換基を除いた基本の環の構造は、炭素および水素からなる基(炭化水素基)であることに限定はされないが、炭化水素基であることが好ましい。また、該炭化水素基は、飽和または不飽和のいずれでもよいが、通常は飽和であることが好ましい。
脂肪族環式基は、単環式であってもよく、多環式であってもよい。
脂肪族環式基としては、炭素数が3〜30であるものが好ましく、5〜30であるものがより好ましく、5〜20がさらに好ましく、6〜15が特に好ましく、6〜12が最も好ましい。単環式の脂肪族環式基としては、モノシクロアルカンから1個以上の水素原子を除いた基が好ましい。該モノシクロアルカンとしては炭素数3〜6のものが好ましく、具体的にはシクロブタン、シクロペンタン、シクロヘキサン等が挙げられる。多環式の脂肪族環式基としては、ポリシクロアルカンから1個以上の水素原子を除いた基が好ましく、該ポリシクロアルカンとしては炭素数7〜12のものが好ましく、具体的にはアダマンタン、ノルボルナン、イソボルナン、トリシクロデカン、テトラシクロドデカン等が挙げられる。また、これらの脂肪族環式基の環を構成する炭素原子の一部がエーテル基(−O−)で置換されたものであってもよい。
The “aliphatic cyclic group” means a monocyclic group or a polycyclic group having no aromaticity.
The aliphatic cyclic group in the “acid-dissociable group containing an aliphatic cyclic group” may or may not have a substituent. Examples of the substituent include an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, an alkoxy group having 1 to 5 carbon atoms, a fluorine atom, a fluorinated alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, and an oxygen atom (= O).
The basic ring structure excluding the substituent of the aliphatic cyclic group is not limited to a group consisting of carbon and hydrogen (hydrocarbon group), but is preferably a hydrocarbon group. The hydrocarbon group may be either saturated or unsaturated, but is usually preferably saturated.
The aliphatic cyclic group may be monocyclic or polycyclic.
As the aliphatic cyclic group, those having 3 to 30 carbon atoms are preferable, those having 5 to 30 are more preferable, 5 to 20 are more preferable, 6 to 15 are particularly preferable, and 6 to 12 is most preferable. . As the monocyclic aliphatic cyclic group, a group in which one or more hydrogen atoms have been removed from a monocycloalkane is preferable. The monocycloalkane preferably has 3 to 6 carbon atoms, and specific examples include cyclobutane, cyclopentane, and cyclohexane. The polycyclic aliphatic cyclic group is preferably a group obtained by removing one or more hydrogen atoms from a polycycloalkane, and the polycycloalkane preferably has 7 to 12 carbon atoms, specifically adamantane. , Norbornane, isobornane, tricyclodecane, tetracyclododecane and the like. Moreover, a part of carbon atoms constituting the ring of these aliphatic cyclic groups may be substituted with an ether group (—O—).

脂肪族環式基を含有する酸解離性基としては、たとえば、
(i)1価の脂肪族環式基の環骨格上の、当該酸解離性基に隣接する原子(たとえば−C(=O)−O−における−O−)と結合する炭素原子に置換基(水素原子以外の原子または基)が結合して第3級炭素原子が形成されている基;
(ii)1価の脂肪族環式基と、これに結合する第3級炭素原子を有する分岐鎖状アルキレンとを有する基などが挙げられる。
前記(i)の基において、脂肪族環式基の環骨格上、当該酸解離性基に隣接する原子と結合する炭素原子に結合する置換基としては、たとえばアルキル基が挙げられる。該アルキル基としては、たとえば後述する式(1−1)〜(1−9)中のR14と同様のものが挙げられる。
前記(i)の基の具体例としては、たとえば下記一般式(1−1)〜(1−9)で表される基等が挙げられる。
前記(ii)の基の具体例としては、たとえば下記一般式(2−1)〜(2−6)で表される基等が挙げられる。
Examples of the acid dissociable group containing an aliphatic cyclic group include:
(I) a substituent on a carbon atom bonded to an atom (for example, —O— in —C (═O) —O—) adjacent to the acid dissociable group on the ring skeleton of the monovalent aliphatic cyclic group A group in which (atom or group other than hydrogen atom) is bonded to form a tertiary carbon atom;
(Ii) a group having a monovalent aliphatic cyclic group and a branched alkylene having a tertiary carbon atom bonded thereto.
In the group (i), examples of the substituent bonded to the carbon atom bonded to the atom adjacent to the acid dissociable group on the ring skeleton of the aliphatic cyclic group include an alkyl group. Examples of the alkyl group include those similar to R 14 in formulas (1-1) to (1-9) described later.
Specific examples of the group (i) include groups represented by the following general formulas (1-1) to (1-9).
Specific examples of the group (ii) include groups represented by the following general formulas (2-1) to (2-6).

Figure 0006006928
[式中、R14はアルキル基であり、gは0〜8の整数である。]
Figure 0006006928
[Wherein, R 14 represents an alkyl group, and g represents an integer of 0 to 8. ]

Figure 0006006928
[式中、R15およびR16は、それぞれ独立してアルキル基である。]
Figure 0006006928
[Wherein, R 15 and R 16 each independently represents an alkyl group. ]

式(1−1)〜(1−9)中、R14のアルキル基は、直鎖状、分岐鎖状、環状のいずれであってもよく、直鎖状または分岐鎖状が好ましい。
該直鎖状のアルキル基は、炭素数が1〜5であることが好ましく、1〜4がより好ましく、1または2がさらに好ましい。具体的には、メチル基、エチル基、n−プロピル基、n−ブチル基、n−ペンチル基等が挙げられる。これらの中でも、メチル基、エチル基またはn−ブチル基が好ましく、メチル基またはエチル基がより好ましい。
該分岐鎖状のアルキル基は、炭素数が3〜10であることが好ましく、3〜5がより好ましい。具体的には、イソプロピル基、イソブチル基、tert−ブチル基、イソペンチル基、ネオペンチル基等が挙げられ、イソプロピル基であることが最も好ましい。
該環状のアルキル基は、炭素数3〜20であることが好ましく、4〜12がより好ましい。具体的には、シクロペンタン、シクロヘキサン等のモノシクロアルカンや、アダマンタン、ノルボルナン、イソボルナン、トリシクロデカン、テトラシクロドデカンなどのポリシクロアルカンから1個以上の水素原子を除いた基などが挙げられる。環状のアルキル基の環を構成する炭素原子の一部がエーテル性酸素原子(−O−)で置換されていてもよい。
gは0〜3の整数が好ましく、1〜3の整数がより好ましく、1または2がさらに好ましい。
式(2−1)〜(2−6)中、R15〜R16のアルキル基としては、前記R14のアルキル基と同様のものが挙げられる。
上記式(1−1)〜(1−9)、(2−1)〜(2−6)中、環を構成する炭素原子の一部がエーテル性酸素原子(−O−)で置換されていてもよい。
また、式(1−1)〜(1−9)、(2−1)〜(2−6)中、環を構成する炭素原子に結合した水素原子が置換基で置換されていてもよい。該置換基としては、炭素数1〜5のアルキル基、フッ素原子、フッ素化アルキル基が挙げられる。
In formulas (1-1) to (1-9), the alkyl group of R 14 may be linear, branched or cyclic, and is preferably linear or branched.
The linear alkyl group preferably has 1 to 5 carbon atoms, more preferably 1 to 4, and still more preferably 1 or 2. Specific examples include a methyl group, an ethyl group, an n-propyl group, an n-butyl group, and an n-pentyl group. Among these, a methyl group, an ethyl group, or an n-butyl group is preferable, and a methyl group or an ethyl group is more preferable.
The branched alkyl group preferably has 3 to 10 carbon atoms, and more preferably 3 to 5 carbon atoms. Specific examples include isopropyl group, isobutyl group, tert-butyl group, isopentyl group, neopentyl group and the like, and isopropyl group is most preferable.
The cyclic alkyl group preferably has 3 to 20 carbon atoms, and more preferably 4 to 12 carbon atoms. Specific examples thereof include monocycloalkanes such as cyclopentane and cyclohexane, and groups obtained by removing one or more hydrogen atoms from polycycloalkanes such as adamantane, norbornane, isobornane, tricyclodecane, and tetracyclododecane. A part of carbon atoms constituting the ring of the cyclic alkyl group may be substituted with an etheric oxygen atom (—O—).
g is preferably an integer of 0 to 3, more preferably an integer of 1 to 3, and still more preferably 1 or 2.
In formulas (2-1) to (2-6), examples of the alkyl group for R 15 to R 16 include the same alkyl groups as those described above for R 14 .
In the formulas (1-1) to (1-9) and (2-1) to (2-6), a part of the carbon atoms constituting the ring is substituted with an etheric oxygen atom (—O—). May be.
In formulas (1-1) to (1-9) and (2-1) to (2-6), a hydrogen atom bonded to a carbon atom constituting the ring may be substituted with a substituent. Examples of the substituent include an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, a fluorine atom, and a fluorinated alkyl group.

「アセタール型酸解離性基」は、一般的に、カルボキシ基、水酸基等のOH含有極性基末端の水素原子と置換して酸素原子と結合している。そして、露光により酸が発生すると、この酸が作用して、アセタール型酸解離性基と、当該アセタール型酸解離性基が結合した酸素原子との間で結合が切断され、カルボキシ基、水酸基等のOH含有極性基が形成される。
アセタール型酸解離性基としては、たとえば、下記一般式(p1)で表される基が挙げられる。
The “acetal-type acid dissociable group” is generally bonded to an oxygen atom by substituting a hydrogen atom at the terminal of an OH-containing polar group such as a carboxy group or a hydroxyl group. When an acid is generated by exposure, this acid acts to break the bond between the acetal type acid dissociable group and the oxygen atom to which the acetal type acid dissociable group is bonded. OH-containing polar groups are formed.
Examples of the acetal type acid dissociable group include a group represented by the following general formula (p1).

Figure 0006006928
[式中、R’,R’はそれぞれ独立して水素原子または炭素数1〜5のアルキル基を表し、nは0〜3の整数を表し、Yは炭素数1〜5のアルキル基または脂肪族環式基を表す。]
Figure 0006006928
[Wherein, R 1 'and R 2 ' each independently represents a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, n represents an integer of 0 to 3, and Y represents an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms. Or represents an aliphatic cyclic group. ]

式(p1)中、nは、0〜2の整数であることが好ましく、0または1がより好ましく、0が最も好ましい。
’,R’のアルキル基としては、上記α置換アクリル酸エステルについての説明で、α位の炭素原子に結合してもよい置換基として挙げたアルキル基と同様のものが挙げられ、メチル基またはエチル基が好ましく、メチル基が最も好ましい。
本発明においては、R’,R’のうち少なくとも1つが水素原子であることが好ましい。すなわち、酸解離性基(p1)が、下記一般式(p1−1)で表される基であることが好ましい。
In formula (p1), n is preferably an integer of 0 to 2, more preferably 0 or 1, and most preferably 0.
Examples of the alkyl group for R 1 ′ and R 2 ′ include the same alkyl groups as those described above for the substituent that may be bonded to the carbon atom at the α-position in the description of the α-substituted acrylate ester. A methyl group or an ethyl group is preferred, and a methyl group is most preferred.
In the present invention, it is preferable that at least one of R 1 ′ and R 2 ′ is a hydrogen atom. That is, the acid dissociable group (p1) is preferably a group represented by the following general formula (p1-1).

Figure 0006006928
[式中、R’、n、Yは上記と同じである。]
Figure 0006006928
[Wherein R 1 ′, n and Y are the same as described above. ]

Yのアルキル基としては、後述するα置換アクリル酸エステルについての説明で、α位の炭素原子に結合してもよい置換基として挙げたアルキル基と同様のものが挙げられる。
Yの脂肪族環式基としては、従来ArFレジスト等において多数提案されている単環又は多環式の脂肪族環式基の中から適宜選択して用いることができ、たとえば上記「脂肪族環式基を含有する酸解離性基」で挙げた脂肪族環式基と同様のものが例示できる。
Examples of the alkyl group for Y include the same alkyl groups as those described above for the substituent that may be bonded to the α-position carbon atom in the description of the α-substituted acrylate ester described later.
The aliphatic cyclic group for Y can be appropriately selected from monocyclic or polycyclic aliphatic cyclic groups that have been proposed in a number of conventional ArF resists. For example, the above “aliphatic ring” Examples thereof are the same as the aliphatic cyclic groups mentioned in “Acid-dissociable groups containing formula groups”.

アセタール型酸解離性基としては、下記一般式(p2)で示される基も挙げられる。   Examples of the acetal type acid dissociable group also include a group represented by the following general formula (p2).

Figure 0006006928
[式中、R17、R18はそれぞれ独立して直鎖状若しくは分岐鎖状のアルキル基または水素原子であり;R19は直鎖状、分岐鎖状若しくは環状のアルキル基である。または、R17およびR19がそれぞれ独立に直鎖状若しくは分岐鎖状のアルキレン基であって、R17とR19とが結合して環を形成していてもよい。]
Figure 0006006928
[Wherein, R 17 and R 18 each independently represents a linear or branched alkyl group or a hydrogen atom; and R 19 represents a linear, branched or cyclic alkyl group. Alternatively, R 17 and R 19 may each independently be a linear or branched alkylene group, and R 17 and R 19 may be bonded to form a ring. ]

17、R18において、アルキル基の炭素数は、好ましくは1〜15であり、直鎖状、分岐鎖状のいずれでもよく、エチル基、メチル基が好ましく、メチル基が最も好ましい。
特にR17、R18の一方が水素原子で、他方がメチル基であることが好ましい。
19は直鎖状、分岐鎖状または環状のアルキル基であり、炭素数は好ましくは1〜15であり、直鎖状、分岐鎖状又は環状のいずれでもよい。
19が直鎖状、分岐鎖状の場合は炭素数1〜5であることが好ましく、エチル基、メチル基がさらに好ましく、エチル基が最も好ましい。
19が環状の場合は炭素数4〜15であることが好ましく、炭素数4〜12であることがさらに好ましく、炭素数5〜10が最も好ましい。具体的には、フッ素原子またはフッ素化アルキル基で置換されていてもよいし、されていなくてもよいモノシクロアルカン、ビシクロアルカン、トリシクロアルカン、テトラシクロアルカン等のポリシクロアルカンから1個以上の水素原子を除いた基など、上記「脂肪族環式基」と同様のものを例示できる。中でもアダマンタンから1個以上の水素原子を除いた基が好ましい。
また、上記式(p2)においては、R17及びR19がそれぞれ独立に直鎖状または分岐鎖状のアルキレン基(好ましくは炭素数1〜5のアルキレン基)であって、R19とR17とが結合していてもよい。
この場合、R17と、R19と、R19が結合した酸素原子と、該酸素原子およびR17が結合した炭素原子とにより環式基が形成されている。該環式基としては、4〜7員環が好ましく、4〜6員環がより好ましい。該環式基の具体例としては、テトラヒドロピラニル基、テトラヒドロフラニル基等が挙げられる。
In R 17 and R 18 , the alkyl group preferably has 1 to 15 carbon atoms, may be linear or branched, and is preferably an ethyl group or a methyl group, and most preferably a methyl group.
In particular, it is preferable that one of R 17 and R 18 is a hydrogen atom and the other is a methyl group.
R 19 is a linear, branched or cyclic alkyl group, preferably having 1 to 15 carbon atoms, and may be any of linear, branched or cyclic.
When R 19 is linear or branched, it preferably has 1 to 5 carbon atoms, more preferably an ethyl group or a methyl group, and most preferably an ethyl group.
When R 19 is cyclic, it preferably has 4 to 15 carbon atoms, more preferably 4 to 12 carbon atoms, and most preferably 5 to 10 carbon atoms. Specifically, one or more polycycloalkanes such as monocycloalkane, bicycloalkane, tricycloalkane, and tetracycloalkane, which may or may not be substituted with a fluorine atom or a fluorinated alkyl group. Examples similar to the above “aliphatic cyclic group”, such as a group excluding the hydrogen atom, can be exemplified. Among them, a group obtained by removing one or more hydrogen atoms from adamantane is preferable.
In the formula (p2), R 17 and R 19 are each independently a linear or branched alkylene group (preferably an alkylene group having 1 to 5 carbon atoms), and R 19 and R 17 And may be combined.
In this case, a cyclic group is formed by R 17 , R 19 , the oxygen atom to which R 19 is bonded, and the carbon atom to which the oxygen atom and R 17 are bonded. The cyclic group is preferably a 4- to 7-membered ring, and more preferably a 4- to 6-membered ring. Specific examples of the cyclic group include a tetrahydropyranyl group and a tetrahydrofuranyl group.

構成単位(a1)としては、酸分解性基を有するものであれば他の部位の構造は特に限定されないが、α位の炭素原子に結合した水素原子が置換基で置換されていてもよいアクリル酸エステルから誘導される構成単位であって酸分解性基を含む構成単位(a11)、α位の炭素原子に結合した水素原子が置換基で置換されていてもよく、ベンゼン環に結合した水素原子が、水酸基以外の置換基で置換されていてもよいヒドロキシスチレンから誘導される構成単位の水酸基の水素原子が酸解離性基または酸解離性基を含む置換基で置換されてなる構成単位(a12)、α位の炭素原子に結合した水素原子が置換基で置換されていてもよく、ナフタレン環に結合した水素原子が、水酸基以外の置換基で置換されていてもよいビニル(ヒドロキシナフタレン)から誘導される構成単位の水酸基の水素原子が酸解離性基または酸解離性基を含む置換基で置換されてなる構成単位(a13)、等が挙げられる。   The structural unit (a1) is not particularly limited as long as it has an acid-decomposable group, but an acrylic group in which the hydrogen atom bonded to the carbon atom at the α-position may be substituted with a substituent. A structural unit derived from an acid ester and comprising a structural unit (a11) containing an acid-decomposable group, a hydrogen atom bonded to the carbon atom at the α-position may be substituted with a substituent, and hydrogen bonded to a benzene ring A structural unit in which a hydrogen atom of a hydroxyl group of a structural unit derived from hydroxystyrene which may be substituted with a substituent other than a hydroxyl group is substituted with an acid-dissociable group or a substituent containing an acid-dissociable group ( a12), a hydrogen atom bonded to the α-position carbon atom may be substituted with a substituent, and a hydrogen atom bonded to the naphthalene ring may be substituted with a substituent other than a hydroxyl group (hydroxynaphtho Structural units hydroxyl hydrogen atoms of constituent units derived from alkylene) is replaced by a substituent containing an acid-dissociable group or an acid-dissociable group (a13), and the like.

ここで、本明細書および特許請求の範囲において、「アクリル酸エステルから誘導される構成単位」とは、アクリル酸エステルのエチレン性二重結合が開裂して構成される構成単位を意味する。
「アクリル酸エステル」は、アクリル酸(CH=CH−COOH)のカルボキシ基末端の水素原子が有機基で置換された化合物である。
「有機基」は、炭素原子を含む基であり、炭素原子以外の原子(たとえば水素原子、酸素原子、窒素原子、硫黄原子、ハロゲン原子(フッ素原子、塩素原子等)等)を有していてもよい。
アクリル酸エステルは、α位の炭素原子に結合した水素原子が置換基で置換されていてもよい。該α位の炭素原子に結合した水素原子を置換する置換基は、水素原子以外の原子又は基であり、たとえば炭素数1〜5のアルキル基、炭素数1〜5のハロゲン化アルキル基、炭素数1〜5のヒドロキシアルキル基等が挙げられる。なお、アクリル酸エステルのα位の炭素原子とは、特に断りがない限り、カルボニル基が結合している炭素原子のことである。
以下、α位の炭素原子に結合した水素原子が置換基で置換されたアクリル酸エステルをα置換アクリル酸エステルということがある。また、アクリル酸エステルとα置換アクリル酸エステルとを包括して「(α置換)アクリル酸エステル」ということがある。
α置換アクリル酸エステルにおいて、α位の置換基としてのアルキル基は、直鎖状または分岐鎖状のアルキル基が好ましく、具体的には、メチル基、エチル基、プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、イソブチル基、tert−ブチル基、ペンチル基、イソペンチル基、ネオペンチル基等が挙げられる。
また、α位の置換基としてのハロゲン化アルキル基は、具体的には、上記「α位の置換基としてのアルキル基」の水素原子の一部または全部を、ハロゲン原子で置換した基が挙げられる。該ハロゲン原子としては、フッ素原子、塩素原子、臭素原子、ヨウ素原子等が挙げられ、特にフッ素原子が好ましい。
また、α位の置換基としてのヒドロキシアルキル基は、具体的には、上記「α位の置換基としてのアルキル基」の水素原子の一部または全部を、ヒドロキシ基で置換した基が挙げられる。
α置換アクリル酸エステルのα位に結合しているのは、水素原子、炭素数1〜5のアルキル基または炭素数1〜5のハロゲン化アルキル基が好ましく、水素原子、炭素数1〜5のアルキル基または炭素数1〜5のフッ素化アルキル基がより好ましく、工業上の入手の容易さから、水素原子またはメチル基が最も好ましい。
Here, in the present specification and claims, the “structural unit derived from an acrylate ester” means a structural unit formed by cleavage of an ethylenic double bond of an acrylate ester.
“Acrylic acid ester” is a compound in which the hydrogen atom at the carboxy group terminal of acrylic acid (CH 2 ═CH—COOH) is substituted with an organic group.
An “organic group” is a group containing a carbon atom and has an atom other than a carbon atom (for example, a hydrogen atom, an oxygen atom, a nitrogen atom, a sulfur atom, a halogen atom (fluorine atom, chlorine atom, etc.)). Also good.
In the acrylate ester, the hydrogen atom bonded to the carbon atom at the α-position may be substituted with a substituent. The substituent that replaces the hydrogen atom bonded to the α-position carbon atom is an atom or group other than a hydrogen atom, such as an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, a halogenated alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, or carbon. Examples thereof include hydroxyalkyl groups of 1 to 5. The α-position carbon atom of the acrylate ester is a carbon atom to which a carbonyl group is bonded unless otherwise specified.
Hereinafter, an acrylate ester in which a hydrogen atom bonded to a carbon atom at the α-position is substituted with a substituent may be referred to as an α-substituted acrylate ester. Further, the acrylate ester and the α-substituted acrylate ester may be collectively referred to as “(α-substituted) acrylate ester”.
In the α-substituted acrylate ester, the alkyl group as a substituent at the α-position is preferably a linear or branched alkyl group, specifically, a methyl group, an ethyl group, a propyl group, an isopropyl group, n- Examples thereof include a butyl group, an isobutyl group, a tert-butyl group, a pentyl group, an isopentyl group, and a neopentyl group.
Specific examples of the halogenated alkyl group as the substituent at the α-position include groups in which part or all of the hydrogen atoms of the above-mentioned “alkyl group as the substituent at the α-position” are substituted with a halogen atom. It is done. Examples of the halogen atom include a fluorine atom, a chlorine atom, a bromine atom, and an iodine atom, and a fluorine atom is particularly preferable.
Specific examples of the hydroxyalkyl group as the substituent at the α-position include groups in which part or all of the hydrogen atoms of the above-mentioned “alkyl group as the substituent at the α-position” are substituted with a hydroxy group. .
Bonded to the α-position of the α-substituted acrylate ester is preferably a hydrogen atom, an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms or a halogenated alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, and a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms. An alkyl group or a fluorinated alkyl group having 1 to 5 carbon atoms is more preferred, and a hydrogen atom or a methyl group is most preferred from the viewpoint of industrial availability.

「ヒドロキシスチレン若しくはヒドロキシスチレン誘導体から誘導される構成単位」とは、ヒドロキシスチレン若しくはヒドロキシスチレン誘導体のエチレン性二重結合が開裂して構成される構成単位を意味する。
「ヒドロキシスチレン誘導体」とは、ヒドロキシスチレンのα位の水素原子がアルキル基、ハロゲン化アルキル基等の他の置換基に置換されたもの、並びにそれらの誘導体を含む概念とする。なお、α位(α位の炭素原子)とは、特に断りがない限り、ベンゼン環が結合している炭素原子のことをいう。
「ビニル安息香酸若しくはビニル安息香酸誘導体から誘導される構成単位」とは、ビニル安息香酸若しくはビニル安息香酸誘導体のエチレン性二重結合が開裂して構成される構成単位を意味する。
「ビニル安息香酸誘導体」とは、ビニル安息香酸のα位の水素原子がアルキル基、ハロゲン化アルキル基等の他の置換基に置換されたもの、並びにそれらの誘導体を含む概念とする。なお、α位(α位の炭素原子)とは、特に断りがない限り、ベンゼン環が結合している炭素原子のことをいう。
「有機基」は、炭素原子を含む基であり、炭素原子以外の原子(たとえば水素原子、酸素原子、窒素原子、硫黄原子、ハロゲン原子(フッ素原子、塩素原子等)等)を有していてもよい。
以下、構成単位(a11)、構成単位(a12)、構成単位(a13)について説明する。
“A structural unit derived from hydroxystyrene or a hydroxystyrene derivative” means a structural unit formed by cleavage of an ethylenic double bond of hydroxystyrene or a hydroxystyrene derivative.
“Hydroxystyrene derivative” is a concept including those in which the hydrogen atom at the α-position of hydroxystyrene is substituted with another substituent such as an alkyl group or an alkyl halide group, and derivatives thereof. The α-position (α-position carbon atom) means a carbon atom to which a benzene ring is bonded unless otherwise specified.
The “structural unit derived from vinyl benzoic acid or a vinyl benzoic acid derivative” means a structural unit configured by cleavage of an ethylenic double bond of vinyl benzoic acid or a vinyl benzoic acid derivative.
The “vinyl benzoic acid derivative” is a concept including a compound in which the hydrogen atom at the α-position of vinyl benzoic acid is substituted with another substituent such as an alkyl group or an alkyl halide group, and derivatives thereof. The α-position (α-position carbon atom) means a carbon atom to which a benzene ring is bonded unless otherwise specified.
An “organic group” is a group containing a carbon atom and has an atom other than a carbon atom (for example, a hydrogen atom, an oxygen atom, a nitrogen atom, a sulfur atom, a halogen atom (fluorine atom, chlorine atom, etc.)). Also good.
Hereinafter, the structural unit (a11), the structural unit (a12), and the structural unit (a13) will be described.

〔構成単位(a11)〕
構成単位(a11)として、具体的には、下記の一般式(a11−0−1)で表される構成単位、下記一般式(a11−0−2)で表される構成単位等が挙げられる。
[Structural unit (a11)]
Specific examples of the structural unit (a11) include structural units represented by general formula (a11-0-1) shown below, structural units represented by general formula (a11-0-2) shown below, and the like. .

Figure 0006006928
[式中、Rは水素原子、炭素数1〜5のアルキル基または炭素数1〜5のハロゲン化アルキル基であり;Xは酸解離性基であり;Yは2価の連結基であり;Xは酸解離性基である。]
Figure 0006006928
Wherein R is a hydrogen atom, an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms or a halogenated alkyl group having 1 to 5 carbon atoms; X 1 is an acid dissociable group; Y 2 is a divalent linking group. Yes; X 2 is an acid-dissociable group. ]

一般式(a11−0−1)において、Rのアルキル基、ハロゲン化アルキル基は、それぞれ、上記α置換アクリル酸エステルについての説明で、α位の炭素原子に結合してもよい置換基として挙げたアルキル基、ハロゲン化アルキル基と同様のものが挙げられる。Rとしては、水素原子、炭素数1〜5のアルキル基または炭素数1〜5のフッ素化アルキル基が好ましく、水素原子またはメチル基が最も好ましい。
は、酸解離性基であれば特に限定されることはなく、たとえば上述した第3級アルキルエステル型酸解離性基、アセタール型酸解離性基などを挙げることができ、第3級アルキルエステル型酸解離性基が好ましい。
一般式(a11−0−2)において、Rは上記と同様である。
は、式(a11−0−1)中のXと同様である。
In the general formula (a11-0-1), the alkyl group and the halogenated alkyl group of R are each exemplified as the substituent which may be bonded to the α-position carbon atom in the description of the α-substituted acrylate ester. And the same alkyl groups and halogenated alkyl groups. R is preferably a hydrogen atom, an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms or a fluorinated alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, and most preferably a hydrogen atom or a methyl group.
X 1 is not particularly limited as long as it is an acid dissociable group, and examples thereof include the above-described tertiary alkyl ester type acid dissociable groups, acetal type acid dissociable groups, and the like. An ester type acid dissociable group is preferred.
In general formula (a11-0-2), R is the same as defined above.
X 2 is the same as X 1 in formula (a11-0-1).

の2価の連結基としては、特に限定されないが、置換基を有していてもよい2価の炭化水素基、ヘテロ原子を含む2価の連結基等が好適なものとして挙げられる。
置換基を有していてもよい2価の炭化水素基、ヘテロ原子を含む2価の連結基としては、前記Qの2価の連結基として挙げた置換基を有していてもよい2価の炭化水素基、ヘテロ原子を含む2価の連結基と同様である。
Examples of the divalent linking group of Y 2, but are not limited to, divalent hydrocarbon group which may have a substituent group, and a divalent linking group containing a hetero atom as preferred.
Substituted divalent hydrocarbon group which may have a divalent linking group containing a hetero atom, which may have a substituent exemplified as the divalent linking group of the Q 2 2 This is the same as a divalent hydrocarbon group and a divalent linking group containing a hetero atom.

上記のなかでも、Yの2価の連結基としては、特に、直鎖状もしくは分岐鎖状のアルキレン基、2価の脂環式炭化水素基、又はヘテロ原子を含む2価の連結基が好ましい。これらの中でも、直鎖状もしくは分岐鎖状のアルキレン基、又はヘテロ原子を含む2価の連結基が好ましい。 Among the above, as the divalent linking group for Y 2 , in particular, a linear or branched alkylene group, a divalent alicyclic hydrocarbon group, or a divalent linking group containing a hetero atom is included. preferable. Among these, a linear or branched alkylene group or a divalent linking group containing a hetero atom is preferable.

構成単位(a11)として、より具体的には、下記一般式(a1−1)〜(a1−4)で表される構成単位が挙げられる。   More specifically, examples of the structural unit (a11) include structural units represented by general formulas (a1-1) to (a1-4) shown below.

Figure 0006006928
[式中、R、R’、R’、n、YおよびYはそれぞれ前記と同じであり、X’は第3級アルキルエステル型酸解離性基を表す。]’
Figure 0006006928
[Wherein, R, R 1 ′, R 2 ′, n, Y and Y 2 are the same as defined above, and X ′ represents a tertiary alkyl ester-type acid dissociable group. ] '

式中、X’は、前記第3級アルキルエステル型酸解離性基と同様のものが挙げられる。
’、R’、n、Yとしては、それぞれ、上述の「アセタール型酸解離性基」の説明において挙げた一般式(p1)におけるR’、R’、n、Yと同様のものが挙げられる。
としては、上述の一般式(a11−0−2)におけるYと同様のものが挙げられる。
以下に、上記一般式(a1−1)〜(a1−4)で表される構成単位の具体例を示す。
以下の各式中、Rαは、水素原子、メチル基またはトリフルオロメチル基を示す。
In the formula, X ′ is the same as the tertiary alkyl ester-type acid dissociable group.
R 1 ', R 2', n, as the Y, respectively, R 1 in the general formula listed in the description of "acetal-type acid dissociable group" described above (p1) ', R 2' , n, similarly to the Y Can be mentioned.
The Y 2, the same groups as those described above for Y 2 in the above general formula (a11-0-2).
Specific examples of the structural units represented by the general formulas (a1-1) to (a1-4) are shown below.
In the following formulas, R α represents a hydrogen atom, a methyl group or a trifluoromethyl group.

Figure 0006006928
Figure 0006006928

Figure 0006006928
Figure 0006006928

Figure 0006006928
Figure 0006006928

Figure 0006006928
Figure 0006006928

Figure 0006006928
Figure 0006006928

Figure 0006006928
Figure 0006006928

Figure 0006006928
Figure 0006006928

Figure 0006006928
Figure 0006006928

本発明においては、構成単位(a11)として、下記一般式(a11−0−11)で表される構成単位、下記一般式(a11−0−12)で表される構成単位、下記一般式(a11−0−13)で表される構成単位、下記一般式(a11−0−14)で表される構成単位、下記一般式(a11−0−15)で表される構成単位、および下記一般式(a11−0−2)で表される構成単位からなる群から選択される少なくとも1種を有することが好ましい。
なかでも、下記一般式(a11−0−11)で表される構成単位、下記一般式(a11−0−12)で表される構成単位、下記一般式(a11−0−13)で表される構成単位、下記一般式(a11−0−14)で表される構成単位、および下記一般式(a11−0−15)で表される構成単位からなる群から選択される少なくとも1種を有することがより好ましい。
In the present invention, as the structural unit (a11), a structural unit represented by the following general formula (a11-0-11), a structural unit represented by the following general formula (a11-0-12), and the following general formula ( a11-0-13), a structural unit represented by the following general formula (a11-0-14), a structural unit represented by the following general formula (a11-0-15), and the following general unit It is preferable to have at least one selected from the group consisting of structural units represented by formula (a11-0-2).
Among them, the structural unit represented by the following general formula (a11-0-11), the structural unit represented by the following general formula (a11-0-12), and the following general formula (a11-0-13) A structural unit represented by the following general formula (a11-0-14) and at least one selected from the group consisting of the structural unit represented by the following general formula (a11-0-15) It is more preferable.

Figure 0006006928
[式中、Rは水素原子、炭素数1〜5のアルキル基または炭素数1〜5のハロゲン化アルキル基であり、R21はアルキル基であり;R22は、当該R22が結合した炭素原子と共に脂肪族単環式基を形成する基であり;R23は分岐鎖状のアルキル基であり;R24は、当該R24が結合した炭素原子と共に脂肪族多環式基を形成する基であり;R25は炭素数1〜5の直鎖状のアルキル基である。R15およびR16は、それぞれ独立してアルキル基である。Yは2価の連結基であり、Xは酸解離性基である。]
Figure 0006006928
Wherein R is a hydrogen atom, an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms or a halogenated alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, R 21 is an alkyl group; R 22 is a carbon to which R 22 is bonded. A group that forms an aliphatic monocyclic group together with an atom; R 23 is a branched alkyl group; and R 24 is a group that forms an aliphatic polycyclic group together with the carbon atom to which R 24 is bonded. R 25 is a linear alkyl group having 1 to 5 carbon atoms. R 15 and R 16 are each independently an alkyl group. Y 2 is a divalent linking group, and X 2 is an acid dissociable group. ]

各式中、R、Y、Xについての説明は前記と同じである。
式(a11−0−11)中、R21のアルキル基としては、前記式(1−1)〜(1−9)中のR14のアルキル基と同様のものが挙げられ、メチル基、エチル基またはイソプロピル基が好ましい。
22が、当該R22が結合した炭素原子と共に形成する脂肪族単環式基としては、前記第3級アルキルエステル型酸解離性基において挙げた脂肪族環式基のうち、単環式基であるものと同様のものが挙げられる。具体的には、モノシクロアルカンから1個以上の水素原子を除いた基などが挙げられる。該モノシクロアルカンは、3〜11員環であることが好ましく、3〜8員環であることがより好ましく、4〜6員環がさらに好ましく、5または6員環が特に好ましい。
該モノシクロアルカンは、環を構成する炭素原子の一部がエーテル基(−O−)で置換されていてもよいし、されていなくてもよい。
また、該モノシクロアルカンは、置換基として、炭素数1〜5のアルキル基、フッ素原子または炭素数1〜5のフッ素化アルキル基を有していてもよい。
かかる脂肪族単環式基を構成するR22としては、たとえば、炭素原子間にエーテル基(−O−)が介在してもよい直鎖状のアルキレン基が挙げられる。
In each formula, the description of R, Y 2 and X 2 is the same as described above.
In formula (a11-0-11), examples of the alkyl group for R 21 include the same alkyl groups as those described above for R 14 in formulas (1-1) to (1-9). Group or isopropyl group is preferred.
R 22 is, the aliphatic monocyclic group formed together with the carbon atom to which R 22 is bonded, the same aliphatic cyclic groups as those in the aforementioned tertiary alkyl ester-type acid dissociable groups, a monocyclic group The thing similar to that is mentioned. Specific examples include groups in which one or more hydrogen atoms have been removed from a monocycloalkane. The monocycloalkane is preferably a 3- to 11-membered ring, more preferably a 3- to 8-membered ring, further preferably a 4- to 6-membered ring, and particularly preferably a 5- or 6-membered ring.
In the monocycloalkane, a part of carbon atoms constituting the ring may or may not be substituted with an ether group (—O—).
Moreover, this monocycloalkane may have a C1-C5 alkyl group, a fluorine atom, or a C1-C5 fluorinated alkyl group as a substituent.
Examples of R 22 constituting such an aliphatic monocyclic group include a linear alkylene group in which an ether group (—O—) may be interposed between carbon atoms.

式(a11−0−11)で表される構成単位の具体例としては、前記式(a1−1−16)〜(a1−1−23)、(a1−1−27)、(a1−1−31)で表される構成単位が挙げられる。これらの中でも、式(a1−1−16)〜(a1−1−17)、(a1−1−20)〜(a1−1−23)、(a1−1−27)、(a1−1−31)、(a1−1−32)、(a1−1−33)で表される構成単位を包括する下記(a11−1−02)で表される構成単位が好ましい。また、下記(a11−1−02’)で表される構成単位も好ましい。
各式中、hは、1〜4の整数であり、1または2が好ましい。
Specific examples of the structural unit represented by the formula (a11-0-11) include the formulas (a1-1-16) to (a1-1-23), (a1-1-27), and (a1-1 -31). Among these, the formulas (a1-1-16) to (a1-1-17), (a1-1-20) to (a1-1-23), (a1-1-27), (a1-1-1- The structural unit represented by the following (a11-1-02) including the structural units represented by 31), (a1-1-32), and (a1-1-33) is preferable. Moreover, the structural unit represented by the following (a11-1-02 ′) is also preferable.
In each formula, h is an integer of 1 to 4, and 1 or 2 is preferable.

Figure 0006006928
[式中、R、R21はそれぞれ前記と同じであり、hは1〜4の整数である。]
Figure 0006006928
[Wherein, R and R 21 are the same as defined above, and h is an integer of 1 to 4, respectively. ]

式(a11−0−12)中、R23の分岐鎖状のアルキル基としては、前記式(1−1)〜(1−9)中のR14のアルキル基で挙げた分岐鎖状のアルキル基と同様のものが挙げられ、イソプロピル基が最も好ましい。
24が、当該R24が結合した炭素原子と共に形成する脂肪族多環式基としては、前記第3級アルキルエステル型酸解離性基において挙げた脂肪族環式基のうち、多環式基であるものと同様のものが挙げられる。
式(a11−0−12)で表される構成単位の具体例としては、前記式(a1−1−26)、(a1−1−28)〜(a1−1−30)で表される構成単位が挙げられる。
式(a11−0−12)で表される構成単位としては、R24が、当該R24が結合した炭素原子と共に形成する脂肪族多環式基が2−アダマンチル基であるものが好ましく、特に、前記式(a1−1−26)で表される構成単位が好ましい。
Wherein (A11-0-12), as the branched alkyl group for R 23, alkyl of the formula (1-1) to (1-9) branched chain mentioned by an alkyl group R 14 in Examples thereof are the same as those described above, and an isopropyl group is most preferable.
R 24 is, the aliphatic polycyclic group formed together with the carbon atom to which R 24 is bonded, the same aliphatic cyclic groups as those in the aforementioned tertiary alkyl ester-type acid dissociable group, polycyclic group The thing similar to what is is mentioned.
Specific examples of the structural unit represented by the formula (a11-0-12) include those represented by the formulas (a1-1-26) and (a1-1-28) to (a1-1-30). Units are listed.
The constitutional unit represented by formula (a11-0-12), R 24 is preferably the aliphatic polycyclic group which forms together with the carbon atom to which R 24 is bonded is a 2-adamantyl group, especially The structural unit represented by the formula (a1-1-26) is preferable.

式(a11−0−13)中、RおよびR24はそれぞれ前記と同様である。
25の直鎖状のアルキル基としては、前記式(1−1)〜(1−9)中のR14のアルキル基で挙げた直鎖状のアルキル基と同様のものが挙げられ、メチル基またはエチル基が最も好ましい。
式(a11−0−13)で表される構成単位として具体的には、前記一般式(a1−1)の具体例として例示した、式(a1−1−1)〜(a1−1−2)、(a1−1−7)〜(a1−1−15)で表される構成単位が挙げられる。
式(a11−0−13)で表される構成単位としては、R24が、当該R24が結合した炭素原子と共に形成する脂肪族多環式基が2−アダマンチル基であるものが好ましく、特に、前記式(a1−1−1)または(a1−1−2)で表される構成単位が好ましい。また、R24が、当該R24が結合した炭素原子と共に形成する脂肪族多環式基が「テトラシクロドデカンから1個以上の水素原子を除いた基」であるものも好ましく、前記式(a1−1−8)、(a1−1−9)又は(a1−1−30)で表される構成単位も好ましい。
In formula (a11-0-13), R and R 24 are the same as defined above.
Examples of the linear alkyl group for R 25 include the same linear alkyl groups as those described above for the alkyl group for R 14 in the formulas (1-1) to (1-9), and methyl Most preferred are groups or ethyl groups.
Specific examples of the structural unit represented by the formula (a11-0-13) include formulas (a1-1-1) to (a1-1-2) exemplified as specific examples of the general formula (a1-1). ), Structural units represented by (a1-1-7) to (a1-1-15).
The constitutional unit represented by formula (a11-0-13), R 24 is preferably the aliphatic polycyclic group which forms together with the carbon atom to which R 24 is bonded is a 2-adamantyl group, especially The structural unit represented by the formula (a1-1-1) or (a1-1-2) is preferable. Further, R 24 is also preferably the aliphatic polycyclic group which forms together with the carbon atom to which R 24 is bonded is a "group obtained by removing one or more hydrogen atoms from tetracyclododecane", the formula (a1 The structural unit represented by (-1-8), (a1-1-9) or (a1-1-30) is also preferable.

式(a11−0−14)中、RおよびR22はそれぞれ前記と同様である。R15およびR16は、それぞれ前記一般式(2−1)〜(2−6)におけるR15およびR16と同様である。
式(a11−0−14)で表される構成単位として具体的には、前記一般式(a1−1)の具体例として例示した、式(a1−1−35)、(a1−1−36)で表される構成単位が挙げられる。
In formula (a11-0-14), R and R 22 are the same as defined above. R 15 and R 16 are the same as R 15 and R 16 in each of the general formulas (2-1) to (2-6).
Specific examples of the structural unit represented by the formula (a11-0-14) include the formulas (a1-1-35) and (a1-1-36) exemplified as specific examples of the general formula (a1-1). ).

式(a11−0−15)中、RおよびR24はそれぞれ前記と同様である。R15およびR16は、それぞれ前記一般式(2−1)〜(2−6)におけるR15およびR16と同様である。
式(a11−0−15)で表される構成単位として具体的には、前記一般式(a1−1)の具体例として例示した、式(a1−1−4)〜(a1−1−6)、(a1−1−34)で表される構成単位が挙げられる。
In formula (a11-0-15), R and R 24 are the same as defined above. R 15 and R 16 are the same as R 15 and R 16 in each of the general formulas (2-1) to (2-6).
Specific examples of the structural unit represented by the formula (a11-0-15) include formulas (a1-1-4) to (a1-1-6) exemplified as specific examples of the general formula (a1-1). ) And (a1-1-34).

式(a11−0−2)で表される構成単位としては、前記式(a1−3)または(a1−4)で表される構成単位が挙げられ、特に式(a1−3)で表される構成単位が好ましい。
式(a11−0−2)で表される構成単位としては、特に、式中のYが前記−Y21−O−Y22−または−Y21−C(=O)−O−Y22−で表される基であるものが好ましい。
かかる構成単位として、好ましいものとしては、下記一般式(a1−3−01)で表される構成単位;下記一般式(a1−3−02)で表される構成単位;下記一般式(a1−3−03)で表される構成単位などが挙げられる。
Examples of the structural unit represented by the formula (a11-0-2) include the structural unit represented by the formula (a1-3) or (a1-4), particularly represented by the formula (a1-3). Are preferred.
As the structural unit represented by the formula (a11-0-2), in particular, Y 2 in the formula is —Y 21 —O—Y 22 — or —Y 21 —C (═O) —O—Y 22. Those represented by-are preferred.
Preferred examples of the structural unit include a structural unit represented by the following general formula (a1-3-01); a structural unit represented by the following general formula (a1-3-02); 3-03) and the like.

Figure 0006006928
[式中、Rは前記と同じであり、R13は水素原子またはメチル基であり、R14はアルキル基であり、eは1〜10の整数であり、n’は0〜3の整数である。]
Figure 0006006928
[Wherein, R is the same as above, R 13 is a hydrogen atom or a methyl group, R 14 is an alkyl group, e is an integer of 1 to 10, and n ′ is an integer of 0 to 3] is there. ]

Figure 0006006928
[式中、Rは前記と同じであり、Y’およびY”はそれぞれ独立して2価の連結基であり、X’は酸解離性基であり、wは0〜3の整数である。]
Figure 0006006928
[Wherein, R is as defined above, Y 2 ′ and Y 2 ″ are each independently a divalent linking group, X ′ is an acid-dissociable group, and w is an integer of 0 to 3] is there.]

式(a1−3−01)〜(a1−3−02)中、R13は、水素原子が好ましい。
14は、前記式(1−1)〜(1−9)中のR14と同様である。
eは、1〜8の整数が好ましく、1〜5の整数がより好ましく、1または2が最も好ましい。
n’は、1または2が好ましく、2が最も好ましい。
式(a1−3−01)で表される構成単位の具体例としては、前記式(a1−3−25)〜(a1−3−26)で表される構成単位等が挙げられる。
式(a1−3−02)で表される構成単位の具体例としては、前記式(a1−3−27)〜(a1−3−28)で表される構成単位等が挙げられる。
In formulas (a1-3-01) to (a1-3-02), R 13 is preferably a hydrogen atom.
R 14 is the same as R 14 in the formula (1-1) to (1-9).
e is preferably an integer of 1 to 8, more preferably an integer of 1 to 5, and most preferably 1 or 2.
n ′ is preferably 1 or 2, and most preferably 2.
Specific examples of the structural unit represented by the formula (a1-3-01) include structural units represented by the formulas (a1-3-25) to (a1-3-26).
Specific examples of the structural unit represented by the formula (a1-3-02) include structural units represented by the formulas (a1-3-27) to (a1-3-28).

式(a1−3−03)中、Y’、Y”における2価の連結基としては、前記一般式(I)におけるQと同様のものが挙げられる。
’としては、置換基を有していてもよい2価の炭化水素基が好ましく、直鎖状の脂肪族炭化水素基がより好ましく、直鎖状のアルキレン基がさらに好ましい。中でも、炭素数1〜5の直鎖状のアルキレン基が好ましく、メチレン基、エチレン基が最も好ましい。
”としては、置換基を有していてもよい2価の炭化水素基が好ましく、直鎖状の脂肪族炭化水素基がより好ましく、直鎖状のアルキレン基がさらに好ましい。中でも、炭素数1〜5の直鎖状のアルキレン基が好ましく、メチレン基、エチレン基が最も好ましい。
X’における酸解離性基は、前記と同様のものが挙げられ、第3級アルキルエステル型酸解離性基であることが好ましく、上述した(i)1価の脂肪族環式基の環骨格上、当該酸解離性基に隣接する原子と結合する炭素原子に置換基が結合して第3級炭素原子が形成されている基がより好ましく、中でも、前記一般式(1−1)で表される基が好ましい。
wは0〜3の整数であり、wは、0〜2の整数であることが好ましく、0または1がより好ましく、1が最も好ましい。
式(a1−3−03)で表される構成単位としては、下記一般式(a1−3−03−1)または(a1−3−03−2)で表される構成単位が好ましく、中でも、式(a1−3−03−1)で表される構成単位が好ましい。
In formula (a1-3-03), examples of the divalent linking group for Y 2 ′ and Y 2 ″ include the same groups as those described above for Q 2 in formula (I).
Y 2 ′ is preferably a divalent hydrocarbon group which may have a substituent, more preferably a linear aliphatic hydrocarbon group, and even more preferably a linear alkylene group. Among these, a linear alkylene group having 1 to 5 carbon atoms is preferable, and a methylene group and an ethylene group are most preferable.
Y 2 ″ is preferably a divalent hydrocarbon group which may have a substituent, more preferably a linear aliphatic hydrocarbon group, and still more preferably a linear alkylene group. A linear alkylene group of 1 to 5 is preferable, and a methylene group and an ethylene group are most preferable.
Examples of the acid dissociable group in X ′ include the same groups as described above, and are preferably tertiary alkyl ester-type acid dissociable groups, and the ring skeleton of the above-described (i) monovalent aliphatic cyclic group In addition, a group in which a substituent is bonded to a carbon atom bonded to an atom adjacent to the acid dissociable group to form a tertiary carbon atom is more preferable, and among them, the group represented by the general formula (1-1) is preferable. Preferred are the groups
w is an integer of 0 to 3, and w is preferably an integer of 0 to 2, more preferably 0 or 1, and most preferably 1.
As the structural unit represented by the formula (a1-3-03), a structural unit represented by the following general formula (a1-3-03-1) or (a1-3-03-2) is preferable. The structural unit represented by the formula (a1-3-03-1) is preferable.

Figure 0006006928
[式中、RおよびR14はそれぞれ前記と同じであり、a’は1〜10の整数であり、b’は1〜10の整数であり、tは0〜3の整数である。]
Figure 0006006928
[Wherein, R and R 14 are the same as defined above, a ′ is an integer of 1 to 10, b ′ is an integer of 1 to 10, and t is an integer of 0 to 3, respectively. ]

式(a1−3−03−1)〜(a1−3−03−2)中、a’は前記と同じであり、1〜8の整数が好ましく、1〜5の整数がより好ましく、1または2が特に好ましい。
b’は前記と同じであり、1〜8の整数が好ましく、1〜5の整数が好ましく、1または2が特に好ましい。
tは1〜3の整数が好ましく、1または2が特に好ましい。
式(a1−3−03−1)または(a1−3−03−2)で表される構成単位の具体例としては、前記式(a1−3−29)〜(a1−3−32)で表される構成単位が挙げられる。
In formulas (a1-3-03-1) to (a1-3-03-2), a ′ is the same as described above, preferably an integer of 1 to 8, more preferably an integer of 1 to 5, and 1 or 2 is particularly preferred.
b ′ is the same as described above, preferably an integer of 1 to 8, more preferably an integer of 1 to 5, and particularly preferably 1 or 2.
t is preferably an integer of 1 to 3, and 1 or 2 is particularly preferable.
Specific examples of the structural unit represented by formula (a1-3-03-1) or (a1-3-03-2) include those represented by formulas (a1-3-29) to (a1-3-32). The structural unit represented is mentioned.

〔構成単位(a12)〕
構成単位(a12)は、α位の炭素原子に結合した水素原子が置換基で置換されていてもよく、ベンゼン環に結合した水素原子が、水酸基以外の置換基で置換されていてもよいヒドロキシスチレンから誘導される構成単位の水酸基の水素原子が酸解離性基または酸解離性基を含む置換基で置換されてなる構成単位である。
「ヒドロキシスチレン」は、ベンゼン環に、1つのビニル基と、少なくとも1つの水酸基とが結合した化合物である。ベンゼン環に結合する水酸基の数は、1〜3が好ましく、1が特に好ましい。ベンゼン環における水酸基の結合位置は特に限定されない。水酸基の数が1つである場合は、ビニル基の結合位置のパラ位が好ましい。水酸基の数が2以上の整数である場合は、任意の結合位置を組み合わせることができる。
水酸基の水素原子を置換する酸解離性基としては、前記と同様のものが挙げられ、第3級アルキルエステル型酸解離性基またはアセタール型酸解離性基が好ましく、アセタール型酸解離性基がより好ましい。
酸解離性基を含む置換基としては、酸解離性基と2価の連結基とから構成される基が挙げられる。2価の連結基としては、前記式(I)中のQにおける2価の連結基と同様のものが挙げられ、特に、酸解離性基側の末端構造がカルボニルオキシ基である基が好ましい。この場合、該カルボニルオキシ基の酸素原子(−O−)に酸解離性基が結合していることが好ましい。
酸解離性基を含む置換基としては、R11’−O−C(=O)−で表される基、R11’−O−C(=O)−R12’−で表される基が好ましい。式中、R11’は酸解離性基であり、R12’は直鎖状または分岐鎖状のアルキレン基である。
11’における酸解離性基は、第3級アルキルエステル型酸解離性基またはアセタール型酸解離性基が好ましく、第3級アルキルエステル型酸解離性基がより好ましい。該第3級アルキルエステル型酸解離性基の好ましい例として、前述した−C(R71)(R72)(R73)で表される脂肪族分岐鎖状酸解離性基、式(1−1)〜(1−9)で表される基、式(2−1)〜(2−6)で表される基等が挙げられる。
12’におけるアルキレン基としては、例えば、メチレン基、エチレン基、トリメチレン基、テトラメチレン基、1,1−ジメチルエチレン基などが挙げられる。R12’としては、直鎖状のアルキレン基が好ましい。
[Structural unit (a12)]
In the structural unit (a12), a hydrogen atom bonded to the α-position carbon atom may be substituted with a substituent, and a hydrogen atom bonded to the benzene ring may be substituted with a substituent other than a hydroxyl group. It is a structural unit in which a hydrogen atom of a hydroxyl group of a structural unit derived from styrene is substituted with an acid dissociable group or a substituent containing an acid dissociable group.
“Hydroxystyrene” is a compound in which one vinyl group and at least one hydroxyl group are bonded to a benzene ring. 1-3 are preferable and, as for the number of the hydroxyl groups couple | bonded with a benzene ring, 1 is especially preferable. The bonding position of the hydroxyl group in the benzene ring is not particularly limited. When the number of hydroxyl groups is one, the para position of the bonding position of the vinyl group is preferable. When the number of hydroxyl groups is an integer of 2 or more, any bonding position can be combined.
Examples of the acid dissociable group for substituting the hydrogen atom of the hydroxyl group include the same groups as those described above, preferably a tertiary alkyl ester type acid dissociable group or an acetal type acid dissociable group, and an acetal type acid dissociable group is More preferred.
Examples of the substituent containing an acid dissociable group include a group composed of an acid dissociable group and a divalent linking group. Examples of the divalent linking group include those similar to the divalent linking group for Q 2 in the formula (I), and a group in which the terminal structure on the acid dissociable group side is a carbonyloxy group is particularly preferable. . In this case, it is preferable that an acid dissociable group is bonded to the oxygen atom (—O—) of the carbonyloxy group.
Examples of the substituent containing an acid dissociable group include a group represented by R 11 ′ —O—C (═O) — and a group represented by R 11 ′ —O—C (═O) —R 12 ′ —. Is preferred. In the formula, R 11 ′ is an acid dissociable group, and R 12 ′ is a linear or branched alkylene group.
The acid dissociable group for R 11 ′ is preferably a tertiary alkyl ester type acid dissociable group or an acetal type acid dissociable group, more preferably a tertiary alkyl ester type acid dissociable group. As a preferable example of the tertiary alkyl ester type acid dissociable group, the aliphatic branched acid dissociable group represented by the above-described —C (R 71 ) (R 72 ) (R 73 ), the formula (1- Examples include groups represented by 1) to (1-9), groups represented by formulas (2-1) to (2-6), and the like.
Examples of the alkylene group for R 12 ′ include a methylene group, an ethylene group, a trimethylene group, a tetramethylene group, and a 1,1-dimethylethylene group. R 12 ′ is preferably a linear alkylene group.

〔構成単位(a13)〕
構成単位(a13)は、α位の炭素原子に結合した水素原子が置換基で置換されていてもよく、ナフタレン環に結合した水素原子が、水酸基以外の置換基で置換されていてもよいビニル(ヒドロキシナフタレン)(以下、(α置換)ビニル(ヒドロキシナフタレン))から誘導される構成単位の水酸基の水素原子が酸解離性基または酸解離性基を含む置換基で置換されてなる構成単位である。
「ビニル(ヒドロキシナフタレン)」は、ナフタレン環に、1つのビニル基と、少なくとも1つの水酸基とが結合した化合物である。ビニル基は、ナフタレン環の1位に結合していてもよく、2位に結合していてもよい。ナフタレン環に結合する水酸基の数は、1〜3が好ましく、1が特に好ましい。ナフタレン環における水酸基の結合位置は特に限定されない。ナフタレン環の1位または2位にビニル基が結合している場合、ナフタレン環の5〜8位のいずれかが好ましい。特に、水酸基の数が1つである場合は、ナフタレン環の5〜7位のいずれかが好ましく、5または6位が好ましい。水酸基の数が2以上の整数である場合は、任意の結合位置を組み合わせることができる。
[Structural unit (a13)]
In the structural unit (a13), a hydrogen atom bonded to the α-position carbon atom may be substituted with a substituent, and a hydrogen atom bonded to the naphthalene ring may be substituted with a substituent other than a hydroxyl group. (Hydroxynaphthalene) (hereinafter referred to as (α-substituted) vinyl (hydroxynaphthalene)) is a structural unit obtained by substituting a hydrogen atom of a hydroxyl group of a structural unit with an acid-dissociable group or a substituent containing an acid-dissociable group. is there.
“Vinyl (hydroxynaphthalene)” is a compound in which one vinyl group and at least one hydroxyl group are bonded to a naphthalene ring. The vinyl group may be bonded to the 1-position of the naphthalene ring or may be bonded to the 2-position. 1-3 are preferable and, as for the number of the hydroxyl groups couple | bonded with a naphthalene ring, 1 is especially preferable. The bonding position of the hydroxyl group in the naphthalene ring is not particularly limited. In the case where a vinyl group is bonded to the 1-position or 2-position of the naphthalene ring, any one of the 5- to 8-positions of the naphthalene ring is preferable. In particular, when the number of hydroxyl groups is one, any one of 5 to 7 positions of the naphthalene ring is preferable, and 5 or 6 positions are preferable. When the number of hydroxyl groups is an integer of 2 or more, any bonding position can be combined.

構成単位(a13)において、水酸基の水素原子を置換する酸解離性基、酸解離性基を含む置換基としては、それぞれ、前記構成単位(a12)の説明で挙げたものと同様のものが挙げられる。   In the structural unit (a13), examples of the acid dissociable group for substituting a hydrogen atom of a hydroxyl group and the substituent containing an acid dissociable group include the same groups as those described above for the structural unit (a12). It is done.

(A1)成分が含有する構成単位(a1)は1種であってもよく2種以上であってもよい。
(A1)成分中、構成単位(a1)の割合は、(A1)成分を構成する全構成単位に対し、15〜70モル%が好ましく、15〜60モル%がより好ましく、20〜55モル%がさらに好ましい。下限値以上とすることによって、レジスト組成物とした際に容易にパターンを得ることができ、感度、解像性、パターン形状等のリソグラフィー特性も向上する。また、上限値以下とすることにより他の構成単位とのバランスをとることができる。
As the structural unit (a1) contained in the component (A1), 1 type of structural unit may be used, or 2 or more types may be used.
In the component (A1), the proportion of the structural unit (a1) is preferably from 15 to 70 mol%, more preferably from 15 to 60 mol%, more preferably from 20 to 55 mol%, based on all structural units constituting the component (A1). Is more preferable. By setting it to the lower limit value or more, a pattern can be easily obtained when a resist composition is formed, and lithography properties such as sensitivity, resolution, and pattern shape are improved. Moreover, the balance with another structural unit can be taken by making it below an upper limit.

(構成単位(a2))
(A1)成分は、構成単位(a0)、(a1)に加えて、−SO−含有環式基またはラクトン含有環式基を含む構成単位(a2)をさらに有することが好ましい。
構成単位(a2)の−SO−含有環式基またはラクトン環式基は、(A1)成分をレジスト膜の形成に用いた場合に、レジスト膜の基板への密着性を高めうえで有効なものである。また、アルカリ現像液等の水を含有する現像液との親和性が向上する点で、アルカリ現像プロセスにおいて有効である。
なお、前記構成単位(a0)又は(a1)がその構造中に−SO−含有環式基またはラクトン含有環式基を含むものである場合、該構成単位は構成単位(a2)にも該当するが、このような構成単位は構成単位(a0)又は(a1)に該当し、構成単位(a2)には該当しないものとする。
(Structural unit (a2))
The component (A1) preferably further has a structural unit (a2) containing a —SO 2 — containing cyclic group or a lactone-containing cyclic group in addition to the structural units (a0) and (a1).
The —SO 2 — containing cyclic group or lactone cyclic group of the structural unit (a2) is effective for enhancing the adhesion of the resist film to the substrate when the component (A1) is used for forming the resist film. Is. Moreover, it is effective in the alkali development process in that the affinity with a developer containing water such as an alkali developer is improved.
In addition, when the structural unit (a0) or (a1) includes a —SO 2 — containing cyclic group or a lactone-containing cyclic group in the structure, the structural unit also corresponds to the structural unit (a2). Such a structural unit corresponds to the structural unit (a0) or (a1) and does not correspond to the structural unit (a2).

ここで、「−SO−含有環式基」とは、その環骨格中に−SO−を含む環を含有する環式基を示し、具体的には、−SO−における硫黄原子(S)が環式基の環骨格の一部を形成する環式基である。その環骨格中に−SO−を含む環をひとつ目の環として数え、該環のみの場合は単環式基、さらに他の環構造を有する場合は、その構造に関わらず多環式基と称する。−SO−含有環式基は、単環式であってもよく、多環式であってもよい。
−SO−含有環式基は、特に、その環骨格中に−O−SO−を含む環式基、すなわち−O−SO−中の−O−S−が環骨格の一部を形成するサルトン(sultone)環を含有する環式基であることが好ましい。
−SO−含有環式基は、炭素数が3〜30であることが好ましく、4〜20であることがより好ましく、4〜15であることがさらに好ましく、4〜12であることが特に好ましい。ただし、該炭素数は環骨格を構成する炭素原子の数であり、置換基における炭素数を含まないものとする。
−SO−含有環式基は、−SO−含有脂肪族環式基であってもよく、−SO−含有芳香族環式基であってもよい。好ましくは−SO−含有脂肪族環式基である。
−SO−含有脂肪族環式基としては、その環骨格を構成する炭素原子の一部が−SO−または−O−SO−で置換された脂肪族炭化水素環から水素原子を少なくとも1つ除いた基が挙げられる。より具体的には、その環骨格を構成する−CH−が−SO−で置換された脂肪族炭化水素環から水素原子を少なくとも1つ除いた基、その環を構成する−CH−CH−が−O−SO−で置換された脂肪族炭化水素環から水素原子を少なくとも1つ除いた基等が挙げられる。
該脂環式炭化水素環は、炭素数が3〜20であることが好ましく、3〜12であることがより好ましい。
該脂環式炭化水素環は、多環式であってもよく、単環式であってもよい。単環式の脂環式炭化水素基としては、炭素数3〜6のモノシクロアルカンから2個の水素原子を除いた基が好ましく、該モノシクロアルカンとしてはシクロペンタン、シクロヘキサン等が例示できる。多環式の脂環式炭化水素環としては、炭素数7〜12のポリシクロアルカンから2個の水素原子を除いた基が好ましく、該ポリシクロアルカンとして具体的には、アダマンタン、ノルボルナン、イソボルナン、トリシクロデカン、テトラシクロドデカン等が挙げられる。
Here, the “—SO 2 -containing cyclic group” refers to a cyclic group containing a ring containing —SO 2 — in the ring skeleton, specifically, a sulfur atom in —SO 2 — ( S) is a cyclic group that forms part of the ring skeleton of the cyclic group. The ring containing —SO 2 — in the ring skeleton is counted as the first ring, and when it is only the ring, it is a monocyclic group, and when it has another ring structure, it is a polycyclic group regardless of the structure. Called. The —SO 2 — containing cyclic group may be monocyclic or polycyclic.
-SO 2 - containing cyclic group, in particular, -O-SO 2 - within the ring skeleton cyclic group containing, i.e. -O-SO 2 - -O-S- medium is a part of the ring skeleton It is preferably a cyclic group containing a sultone ring to be formed.
The —SO 2 — containing cyclic group preferably has 3 to 30 carbon atoms, more preferably 4 to 20 carbon atoms, still more preferably 4 to 15 carbon atoms, and particularly preferably 4 to 12 carbon atoms. preferable. However, the carbon number is the number of carbon atoms constituting the ring skeleton, and does not include the carbon number in the substituent.
The —SO 2 — containing cyclic group may be an —SO 2 — containing aliphatic cyclic group or an —SO 2 — containing aromatic cyclic group. Preferably -SO 2 - containing aliphatic cyclic group.
The —SO 2 -containing aliphatic cyclic group includes at least a hydrogen atom from an aliphatic hydrocarbon ring in which a part of carbon atoms constituting the ring skeleton is substituted with —SO 2 — or —O—SO 2 —. One group is excluded. More specifically, a group obtained by removing at least one hydrogen atom from an aliphatic hydrocarbon ring in which —CH 2 — constituting the ring skeleton is substituted with —SO 2 —, —CH 2 — constituting the ring And a group obtained by removing at least one hydrogen atom from an aliphatic hydrocarbon ring in which CH 2 — is substituted with —O—SO 2 —.
The alicyclic hydrocarbon ring preferably has 3 to 20 carbon atoms, and more preferably 3 to 12 carbon atoms.
The alicyclic hydrocarbon ring may be polycyclic or monocyclic. The monocyclic alicyclic hydrocarbon group is preferably a group in which two hydrogen atoms are removed from a monocycloalkane having 3 to 6 carbon atoms. Examples of the monocycloalkane include cyclopentane and cyclohexane. As the polycyclic alicyclic hydrocarbon ring, a group in which two hydrogen atoms are removed from a polycycloalkane having 7 to 12 carbon atoms is preferable. Specific examples of the polycycloalkane include adamantane, norbornane, isobornane. , Tricyclodecane, tetracyclododecane and the like.

−SO−含有環式基は、置換基を有していてもよい。該置換基としては、たとえばアルキル基、アルコキシ基、ハロゲン原子、ハロゲン化アルキル基、水酸基、酸素原子(=O)、−COOR”、−OC(=O)R”、ヒドロキシアルキル基、シアノ基等が挙げられる。
該置換基としてのアルキル基としては、炭素数1〜6のアルキル基が好ましい。該アルキル基は、直鎖状または分岐鎖状であることが好ましい。具体的には、メチル基、エチル基、プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、イソブチル基、tert−ブチル基、ペンチル基、イソペンチル基、ネオペンチル基、ヘキシル基等が挙げられる。これらの中でも、メチル基またはエチル基が好ましく、メチル基が特に好ましい。
該置換基としてのアルコキシ基としては、炭素数1〜6のアルコキシ基が好ましい。該アルコキシ基は、直鎖状または分岐鎖状であることが好ましい。具体的には、前記置換基としてのアルキル基として挙げたアルキル基に酸素原子(−O−)に結合した基が挙げられる。
該置換基としてのハロゲン原子としては、フッ素原子、塩素原子、臭素原子、ヨウ素原子等が挙げられ、フッ素原子が好ましい。
該置換基のハロゲン化アルキル基としては、前記アルキル基の水素原子の一部または全部が前記ハロゲン原子で置換された基が挙げられる。
該置換基としてのハロゲン化アルキル基としては、前記置換基としてのアルキル基として挙げたアルキル基の水素原子の一部または全部が前記ハロゲン原子で置換された基が挙げられる。該ハロゲン化アルキル基としてはフッ素化アルキル基が好ましく、特にパーフルオロアルキル基が好ましい。
前記−COOR”、−OC(=O)R”におけるR”は、いずれも、水素原子または炭素数1〜15の直鎖状、分岐鎖状もしくは環状のアルキル基である。
R”が直鎖状もしくは分岐鎖状のアルキル基の場合は、炭素数1〜10であることが好ましく、炭素数1〜5であることがさらに好ましく、メチル基またはエチル基であることが特に好ましい。
R”が環状のアルキル基の場合は、炭素数3〜15であることが好ましく、炭素数4〜12であることがさらに好ましく、炭素数5〜10が最も好ましい。具体的には、フッ素原子またはフッ素化アルキル基で置換されていてもよいし、されていなくてもよいモノシクロアルカンや、ビシクロアルカン、トリシクロアルカン、テトラシクロアルカンなどのポリシクロアルカンから1個以上の水素原子を除いた基などを例示できる。より具体的には、シクロペンタン、シクロヘキサン等のモノシクロアルカンや、アダマンタン、ノルボルナン、イソボルナン、トリシクロデカン、テトラシクロドデカンなどのポリシクロアルカンから1個以上の水素原子を除いた基などが挙げられる。
該置換基としてのヒドロキシアルキル基としては、炭素数が1〜6であるものが好ましく、具体的には、前記置換基としてのアルキル基として挙げたアルキル基の水素原子の少なくとも1つが水酸基で置換された基が挙げられる。
−SO−含有環式基として、より具体的には、下記一般式(3−1)〜(3−4)で表される基が挙げられる。
The —SO 2 — containing cyclic group may have a substituent. Examples of the substituent include an alkyl group, an alkoxy group, a halogen atom, a halogenated alkyl group, a hydroxyl group, an oxygen atom (═O), —COOR ″, —OC (═O) R ″, a hydroxyalkyl group, a cyano group, and the like. Is mentioned.
The alkyl group as the substituent is preferably an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms. The alkyl group is preferably linear or branched. Specific examples include a methyl group, an ethyl group, a propyl group, an isopropyl group, an n-butyl group, an isobutyl group, a tert-butyl group, a pentyl group, an isopentyl group, a neopentyl group, and a hexyl group. Among these, a methyl group or an ethyl group is preferable, and a methyl group is particularly preferable.
The alkoxy group as the substituent is preferably an alkoxy group having 1 to 6 carbon atoms. The alkoxy group is preferably linear or branched. Specifically, the group couple | bonded with the oxygen atom (-O-) to the alkyl group quoted as the alkyl group as the said substituent is mentioned.
Examples of the halogen atom as the substituent include a fluorine atom, a chlorine atom, a bromine atom, and an iodine atom, and a fluorine atom is preferable.
Examples of the halogenated alkyl group for the substituent include groups in which part or all of the hydrogen atoms of the alkyl group have been substituted with the halogen atoms.
Examples of the halogenated alkyl group as the substituent include a group in which part or all of the hydrogen atoms of the alkyl group mentioned as the alkyl group as the substituent are substituted with the halogen atom. As the halogenated alkyl group, a fluorinated alkyl group is preferable, and a perfluoroalkyl group is particularly preferable.
R ″ in —COOR ″ and —OC (═O) R ″ is a hydrogen atom or a linear, branched or cyclic alkyl group having 1 to 15 carbon atoms.
When R ″ is a linear or branched alkyl group, it preferably has 1 to 10 carbon atoms, more preferably 1 to 5 carbon atoms, and particularly preferably a methyl group or an ethyl group. preferable.
When R ″ is a cyclic alkyl group, it preferably has 3 to 15 carbon atoms, more preferably 4 to 12 carbon atoms, and most preferably 5 to 10 carbon atoms. Specifically, a fluorine atom Alternatively, one or more hydrogen atoms are removed from a polycycloalkane such as a monocycloalkane, bicycloalkane, tricycloalkane, or tetracycloalkane, which may or may not be substituted with a fluorinated alkyl group. More specifically, one or more hydrogen atoms are removed from a monocycloalkane such as cyclopentane or cyclohexane, or a polycycloalkane such as adamantane, norbornane, isobornane, tricyclodecane or tetracyclododecane. Group.
The hydroxyalkyl group as the substituent is preferably one having 1 to 6 carbon atoms. Specifically, at least one of the hydrogen atoms of the alkyl group mentioned as the alkyl group as the substituent is substituted with a hydroxyl group. Group.
More specifically, examples of the —SO 2 -containing cyclic group include groups represented by the following general formulas (3-1) to (3-4).

Figure 0006006928
[式中、A’は酸素原子もしくは硫黄原子を含んでいてもよい炭素数1〜5のアルキレン基、酸素原子または硫黄原子であり、zは0〜2の整数であり、R27はアルキル基、アルコキシ基、ハロゲン化アルキル基、水酸基、−COOR”、−OC(=O)R”、ヒドロキシアルキル基またはシアノ基であり、R”は水素原子またはアルキル基である。]
Figure 0006006928
[In the formula, A ′ is an alkylene group having 1 to 5 carbon atoms which may contain an oxygen atom or a sulfur atom, an oxygen atom or a sulfur atom, z is an integer of 0 to 2, and R 27 is an alkyl group. , An alkoxy group, a halogenated alkyl group, a hydroxyl group, —COOR ″, —OC (═O) R ″, a hydroxyalkyl group or a cyano group, and R ″ is a hydrogen atom or an alkyl group.]

前記一般式(3−1)〜(3−4)中、A’は、酸素原子(−O−)もしくは硫黄原子(−S−)を含んでいてもよい炭素数1〜5のアルキレン基、酸素原子または硫黄原子である。
A’における炭素数1〜5のアルキレン基としては、直鎖状または分岐鎖状のアルキレン基が好ましく、メチレン基、エチレン基、n−プロピレン基、イソプロピレン基等が挙げられる。
該アルキレン基が酸素原子または硫黄原子を含む場合、その具体例としては、前記アルキレン基の末端または炭素原子間に−O−または−S−が介在する基が挙げられ、たとえば−O−CH−、−CH−O−CH−、−S−CH−、−CH−S−CH−等が挙げられる。
A’としては、炭素数1〜5のアルキレン基または−O−が好ましく、炭素数1〜5のアルキレン基がより好ましく、メチレン基が最も好ましい。
zは0〜2のいずれであってもよく、0が最も好ましい。
zが2である場合、複数のR27はそれぞれ同じであってもよく、異なっていてもよい。
27におけるアルキル基、アルコキシ基、ハロゲン化アルキル基、−COOR”、−OC(=O)R”、ヒドロキシアルキル基としては、それぞれ、前記で−SO−含有環式基が有していてもよい置換基として挙げたアルキル基、アルコキシ基、ハロゲン化アルキル基、−COOR”、−OC(=O)R”、ヒドロキシアルキル基と同様のものが挙げられる。
以下に、前記一般式(3−1)〜(3−4)で表される具体的な環式基を例示する。なお、式中の「Ac」はアセチル基を示す。
In the general formulas (3-1) to (3-4), A ′ represents an alkylene group having 1 to 5 carbon atoms which may contain an oxygen atom (—O—) or a sulfur atom (—S—), An oxygen atom or a sulfur atom.
The alkylene group having 1 to 5 carbon atoms in A ′ is preferably a linear or branched alkylene group, and examples thereof include a methylene group, an ethylene group, an n-propylene group, and an isopropylene group.
When the alkylene group contains an oxygen atom or a sulfur atom, specific examples thereof include a group in which —O— or —S— is interposed between the terminal or carbon atoms of the alkylene group, such as —O—CH 2. -, - CH 2 -O-CH 2 -, - S-CH 2 -, - CH 2 -S-CH 2 - , and the like.
A ′ is preferably an alkylene group having 1 to 5 carbon atoms or —O—, more preferably an alkylene group having 1 to 5 carbon atoms, and most preferably a methylene group.
z may be any of 0 to 2, and is most preferably 0.
When z is 2, the plurality of R 27 may be the same or different.
As the alkyl group, alkoxy group, halogenated alkyl group, —COOR ″, —OC (═O) R ″, and hydroxyalkyl group in R 27 , the —SO 2 — containing cyclic group has the above-mentioned, respectively. And the same alkyl groups, alkoxy groups, halogenated alkyl groups, —COOR ″, —OC (═O) R ″, and hydroxyalkyl groups as those which may be substituted.
Below, the specific cyclic group represented by the said general formula (3-1)-(3-4) is illustrated. In the formula, “Ac” represents an acetyl group.

Figure 0006006928
Figure 0006006928

Figure 0006006928
Figure 0006006928

Figure 0006006928
Figure 0006006928

−SO−含有環式基としては、上記の中でも、前記一般式(3−1)で表される基が好ましく、前記化学式(3−1−1)、(3−1−18)、(3−3−1)および(3−4−1)のいずれかで表される基からなる群から選択される少なくとも一種を用いることがより好ましく、前記化学式(3−1−1)で表される基が最も好ましい。 Among the above, the —SO 2 -containing cyclic group is preferably a group represented by the general formula (3-1), and the chemical formulas (3-1-1), (3-1-18), ( It is more preferable to use at least one selected from the group consisting of groups represented by any of 3-3-1) and (3-4-1), and represented by the chemical formula (3-1-1). Are most preferred.

「ラクトン含有環式基」とは、その環骨格中に−O−C(=O)−を含む環(ラクトン環)を含有する環式基を示す。ラクトン環をひとつ目の環として数え、ラクトン環のみの場合は単環式基、さらに他の環構造を有する場合は、その構造に関わらず多環式基と称する。ラクトン含有環式基は、単環式基であってもよく、多環式基であってもよい。
構成単位(a2)におけるラクトン環式基としては、特に限定されることなく任意のものが使用可能である。具体的には、ラクトン含有単環式基としては、4〜6員環ラクトンから水素原子を1つ除いた基、たとえばβ−プロピオノラクトンから水素原子を1つ除いた基、γ−ブチロラクトンから水素原子1つを除いた基、δ−バレロラクトンから水素原子を1つ除いた基等が挙げられる。また、ラクトン含有多環式基としては、ラクトン環を有するビシクロアルカン、トリシクロアルカン、テトラシクロアルカンから水素原子一つを除いた基が挙げられる。
The “lactone-containing cyclic group” refers to a cyclic group containing a ring (lactone ring) containing —O—C (═O) — in the ring skeleton. The lactone ring is counted as the first ring. When only the lactone ring is present, it is called a monocyclic group, and when it has another ring structure, it is called a polycyclic group regardless of the structure. The lactone-containing cyclic group may be a monocyclic group or a polycyclic group.
The lactone cyclic group in the structural unit (a2) is not particularly limited, and any one can be used. Specifically, the lactone-containing monocyclic group is a group obtained by removing one hydrogen atom from a 4- to 6-membered ring lactone, such as a group obtained by removing one hydrogen atom from β-propionolactone, or γ-butyrolactone. Examples thereof include a group in which one hydrogen atom has been removed and a group in which one hydrogen atom has been removed from δ-valerolactone. Examples of the lactone-containing polycyclic group include groups in which one hydrogen atom has been removed from a bicycloalkane, tricycloalkane, or tetracycloalkane having a lactone ring.

構成単位(a2)としては、−SO−含有環式基またはラクトン含有環式基を有するものであれば他の部分の構造は特に限定されないが、α位の炭素原子に結合した水素原子が置換基で置換されていてもよいアクリル酸エステルから誘導される構成単位であって−SO−含有環式基を含む構成単位(a2)、及びα位の炭素原子に結合した水素原子が置換基で置換されていてもよいアクリル酸エステルから誘導される構成単位であってラクトン含有環式基を含む構成単位(a2)からなる群より選択される少なくとも1種の構成単位が好ましい。 The structural unit (a2) is not particularly limited as long as it has a —SO 2 — containing cyclic group or a lactone-containing cyclic group, but the hydrogen atom bonded to the α-position carbon atom is A structural unit derived from an acrylate ester optionally substituted with a substituent, including a structural unit (a2 S ) containing a —SO 2 -containing cyclic group, and a hydrogen atom bonded to the α-position carbon atom; At least one structural unit selected from the group consisting of a structural unit (a2 L ) that is a structural unit derived from an acrylate ester that may be substituted with a substituent and that contains a lactone-containing cyclic group is preferred.

・構成単位(a2):
構成単位(a2)の例として、より具体的には、下記一般式(a2−0)で表される構成単位が挙げられる。
-Structural unit (a2 S ):
More specifically, examples of the structural unit (a2 S ) include structural units represented by general formula (a2-0) shown below.

Figure 0006006928
[式中、Rは水素原子、炭素数1〜5のアルキル基または炭素数1〜5のハロゲン化アルキル基であり、R28は−SO−含有環式基であり、R29は単結合または2価の連結基である。]
Figure 0006006928
[Wherein, R represents a hydrogen atom, an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms or a halogenated alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, R 28 represents a —SO 2 — containing cyclic group, and R 29 represents a single bond. Or it is a bivalent coupling group. ]

式(a2−0)中、Rは前記と同様である。
28は、前記で挙げた−SO−含有環式基と同様である。
29は、単結合、2価の連結基のいずれであってもよい。本発明の効果に優れることから、2価の連結基であることが好ましい。
29における2価の連結基としては、特に限定されず、たとえば、前記式(a1−0−2)中のYにおける2価の連結基と同様のものが挙げられる。それらの中でも、アルキレン基、またはエステル結合(−C(=O)−O−)を含むものが好ましい。
該アルキレン基は、直鎖状または分岐鎖状のアルキレン基が好ましい。具体的には、前記Yにおける脂肪族炭化水素基として挙げた直鎖状のアルキレン基、分岐鎖状のアルキレン基と同様のものが挙げられる。
エステル結合を含む2価の連結基としては、特に、一般式:−R30−C(=O)−O−[式中、R30は2価の連結基である。]で表される基が好ましい。すなわち、構成単位(a2)は、下記一般式(a2−0−1)で表される構成単位であることが好ましい。
In formula (a2-0), R is the same as defined above.
R 28 is the same as the —SO 2 — containing cyclic group mentioned above.
R 29 may be a single bond or a divalent linking group. Since it is excellent in the effect of this invention, it is preferable that it is a bivalent coupling group.
Examples of the divalent linking group for R 29, not particularly limited, for example, those similar to the divalent linking group for Y 2 in the formula (a1-0-2) in the like. Among these, those containing an alkylene group or an ester bond (—C (═O) —O—) are preferable.
The alkylene group is preferably a linear or branched alkylene group. Specifically, the same as the linear alkylene group and the branched alkylene group mentioned as the aliphatic hydrocarbon group for Y 2 can be used.
As the divalent linking group containing an ester bond, in particular, the general formula: —R 30 —C (═O) —O— [wherein R 30 is a divalent linking group. ] Is preferable. That is, the structural unit (a2 S ) is preferably a structural unit represented by the following general formula (a2-0-1).

Figure 0006006928
[式中、RおよびR28はそれぞれ前記と同様であり、R30は2価の連結基である。]
Figure 0006006928
[Wherein, R and R 28 are the same as defined above, and R 30 is a divalent linking group. ]

30としては、特に限定されず、たとえば、前記式(a1−0−2)中のYにおける2価の連結基と同様のものが挙げられる。
30の2価の連結基としては、直鎖状もしくは分岐鎖状のアルキレン基、構造中に環を含む脂肪族炭化水素基、またはヘテロ原子を含む2価の連結基が好ましく、直鎖状もしくは分岐鎖状のアルキレン基、またはヘテロ原子として酸素原子を含む2価の連結基が好ましい。
直鎖状のアルキレン基としては、メチレン基またはエチレン基が好ましく、メチレン基が特に好ましい。
分岐鎖状のアルキレン基としては、アルキルメチレン基またはアルキルエチレン基が好ましく、−CH(CH)−、−C(CH−または−C(CHCH−が特に好ましい。
酸素原子を含む2価の連結基としては、エーテル結合またはエステル結合を含む2価の連結基が好ましく、前述した、−Y21−O−Y22−、−[Y21−C(=O)−O]m’−Y22−または−Y21−O−C(=O)−Y22−がより好ましい。Y21、Y22、m’はそれぞれ前記同様である。
R 30 is not particularly limited, and examples thereof include the same divalent linking groups as Y 2 in formula (a1-0-2).
As the divalent linking group for R 30, a linear or branched alkylene group, an aliphatic hydrocarbon group containing a ring in the structure, or a divalent linking group containing a hetero atom is preferable. Alternatively, a branched alkylene group or a divalent linking group containing an oxygen atom as a hetero atom is preferable.
As the linear alkylene group, a methylene group or an ethylene group is preferable, and a methylene group is particularly preferable.
As the branched alkylene group, an alkylmethylene group or an alkylethylene group is preferable, and —CH (CH 3 ) —, —C (CH 3 ) 2 — or —C (CH 3 ) 2 CH 2 — is particularly preferable.
Examples of the divalent linking group containing an oxygen atom, a divalent linking group containing an ether bond or an ester bond preferably, the aforementioned, -Y 21 -O-Y 22 - , - [Y 21 -C (= O) —O] m ′ —Y 22 — or —Y 21 —O—C (═O) —Y 22 — is more preferable. Y 21 , Y 22 and m ′ are the same as described above.

構成単位(a2)としては、特に、下記一般式(a2−0−11)または(a2−0−12)で表される構成単位が好ましく、式(a2−0−12)で表される構成単位がより好ましい。 As the structural unit (a2 S ), a structural unit represented by general formula (a2-0-11) or (a2-0-12) shown below is particularly desirable, and represented by formula (a2-0-12). A structural unit is more preferable.

Figure 0006006928
[式中、R、A’、R27、zおよびR30はそれぞれ前記と同じである。]
Figure 0006006928
[Wherein, R, A ′, R 27 , z and R 30 are the same as defined above. ]

式(a2−0−11)中、A’はメチレン基、酸素原子(−O−)または硫黄原子(−S−)であることが好ましい。
30としては、直鎖状もしくは分岐鎖状のアルキレン基、または酸素原子を含む2価の連結基が好ましい。R30における直鎖状もしくは分岐鎖状のアルキレン基、酸素原子を含む2価の連結基としては、それぞれ、前記で挙げた直鎖状もしくは分岐鎖状のアルキレン基、酸素原子を含む2価の連結基と同様のものが挙げられる。
式(a2−0−12)で表される構成単位としては、特に、下記一般式(a2−0−12a)または(a2−0−12b)で表される構成単位が好ましい。
In formula (a2-0-11), A ′ is preferably a methylene group, an oxygen atom (—O—) or a sulfur atom (—S—).
R 30 is preferably a linear or branched alkylene group or a divalent linking group containing an oxygen atom. As the linear or branched alkylene group and the divalent linking group containing an oxygen atom in R 30, the linear or branched alkylene group mentioned above and a divalent linking group containing an oxygen atom are mentioned. Examples are the same as the linking group.
As the structural unit represented by the formula (a2-0-12), a structural unit represented by the following general formula (a2-0-12a) or (a2-0-12b) is particularly preferable.

Figure 0006006928
[式中、RおよびA’はそれぞれ前記と同じであり、c〜eはそれぞれ独立に1〜3の整数である。]
Figure 0006006928
[Wherein, R and A ′ are the same as defined above, and c to e are each independently an integer of 1 to 3.] ]

・構成単位(a2):
構成単位(a2)の例としては、たとえば前記一般式(a2−0)中のR28をラクトン含有環式基で置換したものが挙げられ、より具体的には、下記一般式(a2−1)〜(a2−5)で表される構成単位が挙げられる。
-Structural unit (a2 L ):
Examples of the structural unit (a2 L ) include those obtained by substituting R 28 in the general formula (a2-0) with a lactone-containing cyclic group, and more specifically, the following general formula (a2- The structural unit represented by 1)-(a2-5) is mentioned.

Figure 0006006928
[式中、Rは水素原子、炭素数1〜5のアルキル基または炭素数1〜5のハロゲン化アルキル基であり;R’はそれぞれ独立に水素原子、アルキル基、アルコキシ基、ハロゲン化アルキル基、水酸基、−COOR”、−OC(=O)R”、ヒドロキシアルキル基またはシアノ基であり、R”は水素原子またはアルキル基であり;R29は単結合または2価の連結基であり、s”は0〜2の整数であり;A”は酸素原子もしくは硫黄原子を含んでいてもよい炭素数1〜5のアルキレン基、酸素原子または硫黄原子であり;mは0または1である。]
Figure 0006006928
[Wherein, R is a hydrogen atom, an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, or a halogenated alkyl group having 1 to 5 carbon atoms; R ′ is independently a hydrogen atom, an alkyl group, an alkoxy group, or a halogenated alkyl group; , Hydroxyl group, —COOR ″, —OC (═O) R ″, a hydroxyalkyl group or a cyano group, R ″ is a hydrogen atom or an alkyl group; R 29 is a single bond or a divalent linking group; s ″ is an integer of 0 to 2; A ″ is an alkylene group having 1 to 5 carbon atoms which may contain an oxygen atom or a sulfur atom, an oxygen atom or a sulfur atom; m is 0 or 1. ]

一般式(a2−1)〜(a2−5)におけるRは、前記同様である。
R’におけるアルキル基、アルコキシ基、ハロゲン化アルキル基、−COOR”、−OC(=O)R”、ヒドロキシアルキル基としては、それぞれ、前記で−SO−含有環式基が有していてもよい置換基として挙げたアルキル基、アルコキシ基、ハロゲン化アルキル基、−COOR”、−OC(=O)R”、ヒドロキシアルキル基と同様のものが挙げられる。R”についても前記同様である。
R’は、工業上入手が容易であること等を考慮すると、水素原子が好ましい。
A”としては、前記一般式(3−1)中のA’と同様のものが挙げられる。A”は、炭素数1〜5のアルキレン基、酸素原子(−O−)または硫黄原子(−S−)であることが好ましく、炭素数1〜5のアルキレン基または−O−がより好ましい。炭素数1〜5のアルキレン基としては、メチレン基またはジメチルメチレン基がより好ましく、メチレン基が最も好ましい。
29は、前記一般式(a2−0)中のR29と同様である。
式(a2−1)中、s”は1〜2であることが好ましい。
以下に、前記一般式(a2−1)〜(a2−5)で表される構成単位の具体例を例示する。以下の各式中、Rαは、水素原子、メチル基またはトリフルオロメチル基を示す。
R in the general formulas (a2-1) to (a2-5) is the same as described above.
As the alkyl group, alkoxy group, halogenated alkyl group, —COOR ″, —OC (═O) R ″, and hydroxyalkyl group in R ′, the —SO 2 — containing cyclic group has the above-mentioned, respectively. And the same alkyl groups, alkoxy groups, halogenated alkyl groups, —COOR ″, —OC (═O) R ″, and hydroxyalkyl groups as those which may be substituted. The same applies to R ″.
R ′ is preferably a hydrogen atom in view of industrial availability.
Examples of A ″ include the same as A ′ in the general formula (3-1). A ″ represents an alkylene group having 1 to 5 carbon atoms, an oxygen atom (—O—) or a sulfur atom (— S-) is preferable, and an alkylene group having 1 to 5 carbon atoms or -O- is more preferable. The alkylene group having 1 to 5 carbon atoms is more preferably a methylene group or dimethylmethylene group, and most preferably a methylene group.
R 29 is the same as R 29 in the aforementioned general formula (a2-0).
In formula (a2-1), s ″ is preferably 1 to 2.
Specific examples of the structural units represented by the general formulas (a2-1) to (a2-5) are shown below. In the following formulas, R α represents a hydrogen atom, a methyl group or a trifluoromethyl group.

Figure 0006006928
Figure 0006006928

Figure 0006006928
Figure 0006006928

Figure 0006006928
Figure 0006006928

Figure 0006006928
Figure 0006006928

Figure 0006006928
Figure 0006006928

構成単位(a2)としては、前記一般式(a2−1)〜(a2−5)で表される構成単位からなる群から選択される少なくとも1種が好ましく、一般式(a2−1)〜(a2−3)で表される構成単位からなる群から選択される少なくとも1種がより好ましく、前記一般式(a2−1)または(a2−3)で表される構成単位からなる群から選択される少なくとも1種が特に好ましい。
なかでも、前記式(a2−1−1)、(a2−1−2)、(a2−2−1)、(a2−2−7)、(a2−2−12)、(a2−2−14)、(a2−3−1)、(a2−3−5)で表される構成単位からなる群から選択される少なくとも1種が好ましい。
As the structural unit (a2 L ), at least one selected from the group consisting of structural units represented by the general formulas (a2-1) to (a2-5) is preferable, and the general formula (a2-1) to More preferably, at least one selected from the group consisting of structural units represented by (a2-3) is selected from the group consisting of structural units represented by the general formula (a2-1) or (a2-3) Particularly preferred is at least one of the above.
Among them, the formulas (a2-1-1), (a2-1-2), (a2-2-1), (a2-2-7), (a2-2-12), (a2-2-2-) 14), (a2-3-1), at least one selected from the group consisting of structural units represented by (a2-3-5) is preferred.

また、構成単位(a2)としては、下記式(a2−6)〜(a2−7)で表される構成単位も好ましい。 Moreover, as the structural unit (a2 L ), structural units represented by the following formulas (a2-6) to (a2-7) are also preferable.

Figure 0006006928
[式中、R、R29は前記同様である。]
Figure 0006006928
[Wherein, R and R 29 are the same as defined above. ]

(A1)成分が有する構成単位(a2)は1種でも2種以上でもよい。たとえば構成単位(a2)として、構成単位(a2)のみを用いてもよく、構成単位(a2)のみを用いてもよく、それらを併用してもよい。また、構成単位(a2)または構成単位(a2)として、1種を単独で用いてもよく、2種以上を組み合わせて用いてもよい。
(A1)成分が構成単位(a2)を有する場合、構成単位(a2)の割合は、当該(A1)成分を構成する全構成単位の合計に対し、1〜80モル%であることが好ましく、10〜70モル%であることがより好ましく、10〜65モル%であることがさらに好ましく、10〜60モル%が特に好ましい。下限値以上とすることにより構成単位(a2)を含有させることによる効果が充分に得られ、上限値以下とすることにより他の構成単位とのバランスをとることができ、DOF、CDU等の種々のリソグラフィー特性及びパターン形状が良好となる。
The structural unit (a2) contained in the component (A1) may be one type or two or more types. For example, as the structural unit (a2), only the structural unit (a2 S ) may be used, or only the structural unit (a2 L ) may be used, or they may be used in combination. As the structural unit (a2 S ) or the structural unit (a2 L ), one type may be used alone, or two or more types may be used in combination.
When the component (A1) has the structural unit (a2), the proportion of the structural unit (a2) is preferably 1 to 80 mol% with respect to the total of all the structural units constituting the component (A1). It is more preferably 10 to 70 mol%, further preferably 10 to 65 mol%, particularly preferably 10 to 60 mol%. By setting it to the lower limit value or more, the effect of containing the structural unit (a2) can be sufficiently obtained, and by setting it to the upper limit value or less, balance with other structural units can be achieved. The lithography characteristics and pattern shape of the film are improved.

(構成単位(a3))
(A1)成分は、さらに、構成単位(a0)、(a1)に加えて、または構成単位(a0)、(a1)および(a2)に加えて、極性基を含む構成単位(a3)を有してもよい。(A1)成分が構成単位(a3)を有することにより、露光後の(A1)成分の極性がさらに向上する。極性の向上は、特にアルカリ現像プロセスの場合に、解像性等の向上に寄与する。
極性基としては、−OH、−COOH、−CN、−SONH、−CONH、等が挙げられる。−COOHを含むものとしては、(α置換)アクリル酸の構成単位も含む。
構成単位(a3)は、水素原子の一部が極性基で置換された炭化水素基を含む構成単位であることが好ましい。当該炭化水素基は、脂肪族炭化水素基であっても芳香族炭化水素基であってもよい。なかでも、当該炭化水素基は、脂肪族炭化水素基あることがより好ましい。
当該炭化水素基における脂肪族炭化水素基としては、炭素数1〜10の直鎖状又は分岐鎖状の炭化水素基(好ましくはアルキレン基)や、脂肪族環式基(単環式基、多環式基)が挙げられる。
該脂肪族環式基(単環式基、多環式基)としては、例えばArFエキシマレーザー用レジスト組成物用の樹脂において、多数提案されているものの中から適宜選択して用いることができる。該脂肪族環式基の炭素数は3〜30であることが好ましく、5〜30であることがより好ましく、5〜20がさらに好ましく、6〜15が特に好ましく、6〜12が最も好ましい。具体的には、たとえば、モノシクロアルカンから2個以上の水素原子を除いた基;ビシクロアルカン、トリシクロアルカン、テトラシクロアルカンなどのポリシクロアルカンから2個以上の水素原子を除いた基などが挙げられる。より具体的には、シクロペンタン、シクロヘキサン等のモノシクロアルカンから2個以上の水素原子を除いた基;アダマンタン、ノルボルナン、イソボルナン、トリシクロデカン、テトラシクロドデカンなどのポリシクロアルカンから2個以上の水素原子を除いた基などが挙げられる。該脂肪族環式基は、置換基を有していてもよいし、有していなくてもよい。置換基としては、炭素数1〜5のアルキル基、フッ素原子、炭素数1〜5のフッ素化アルキル基等が挙げられる。
(Structural unit (a3))
The component (A1) further has a structural unit (a3) containing a polar group in addition to the structural units (a0) and (a1) or in addition to the structural units (a0), (a1) and (a2). May be. When the component (A1) has the structural unit (a3), the polarity of the component (A1) after exposure is further improved. The improvement in polarity contributes to an improvement in resolution and the like, particularly in the case of an alkali development process.
Examples of the polar group include —OH, —COOH, —CN, —SO 2 NH 2 , —CONH 2 , and the like. Those containing —COOH also include structural units of (α-substituted) acrylic acid.
The structural unit (a3) is preferably a structural unit containing a hydrocarbon group in which a part of hydrogen atoms is substituted with a polar group. The hydrocarbon group may be an aliphatic hydrocarbon group or an aromatic hydrocarbon group. Of these, the hydrocarbon group is more preferably an aliphatic hydrocarbon group.
Examples of the aliphatic hydrocarbon group in the hydrocarbon group include a linear or branched hydrocarbon group having 1 to 10 carbon atoms (preferably an alkylene group) and an aliphatic cyclic group (monocyclic group, polycyclic group). Cyclic group).
As the aliphatic cyclic group (monocyclic group, polycyclic group), for example, a resin for a resist composition for ArF excimer laser can be appropriately selected from those proposed. The aliphatic cyclic group preferably has 3 to 30 carbon atoms, more preferably 5 to 30, more preferably 5 to 20, particularly preferably 6 to 15, and most preferably 6 to 12. Specifically, for example, a group in which two or more hydrogen atoms have been removed from a monocycloalkane; a group in which two or more hydrogen atoms have been removed from a polycycloalkane such as bicycloalkane, tricycloalkane, tetracycloalkane, etc. Can be mentioned. More specifically, a group in which two or more hydrogen atoms are removed from a monocycloalkane such as cyclopentane or cyclohexane; two or more groups from a polycycloalkane such as adamantane, norbornane, isobornane, tricyclodecane, or tetracyclododecane. Examples include a group excluding a hydrogen atom. The aliphatic cyclic group may or may not have a substituent. Examples of the substituent include an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, a fluorine atom, and a fluorinated alkyl group having 1 to 5 carbon atoms.

当該炭化水素基における芳香族炭化水素基は、芳香環を少なくとも1つ有する炭化水素基である。芳香環は、4n+2個のπ電子をもつ環状共役系であれば特に限定されず、単環式でも多環式でもよい。芳香環の炭素数は5〜30であることが好ましく、5〜20がより好ましく、6〜15がさらに好ましく、6〜12が特に好ましい。ただし、該炭素数には、置換基における炭素数を含まないものとする。芳香環として具体的には、ベンゼン、ナフタレン、アントラセン、フェナントレン等の芳香族炭化水素環;前記芳香族炭化水素環を構成する炭素原子の一部がヘテロ原子で置換された芳香族複素環;等が挙げられる。芳香族複素環におけるヘテロ原子としては、酸素原子、硫黄原子、窒素原子等が挙げられる。芳香族複素環として具体的には、ピリジン環、チオフェン環等が挙げられる。
2価の炭化水素基としての芳香族炭化水素基として具体的には、
前記芳香族炭化水素環または芳香族複素環から水素原子を2つ除いた基(アリーレン基またはヘテロアリーレン基);2以上の芳香環を含む芳香族化合物(たとえばビフェニル、フルオレン等)から水素原子を2つ除いた基;前記芳香環の水素原子の1つがアルキレン基で置換された基(たとえば、ベンジル基、フェネチル基、1−ナフチルメチル基、2−ナフチルメチル基、1−ナフチルエチル基、2−ナフチルエチル基等のアリールアルキル基やヘテロアリールアルキル基)における芳香環から水素原子をさらに1つ除いた基;等が挙げられる。前記芳香族炭化水素環または芳香族複素環の水素原子を置換するアルキレン基の炭素数は、1〜4であることが好ましく、1〜2であることがより好ましく、1であることが特に好ましい。
該芳香族炭化水素基は、置換基を有していてもよい。たとえば当該芳香族炭化水素基が有する芳香環に結合した水素原子が置換基で置換されていてもよい。該置換基としては、たとえば、アルキル基、アルコキシ基、ハロゲン原子、ハロゲン化アルキル基、水酸基、酸素原子(=O)等が挙げられる。
前記置換基としてのアルキル基としては、炭素数1〜5のアルキル基が好ましく、メチル基、エチル基、プロピル基、n−ブチル基、tert−ブチル基であることが最も好ましい。
前記芳香族炭化水素基の置換基としてのハロゲン原子としては、フッ素原子、塩素原子、臭素原子、ヨウ素原子等が挙げられ、フッ素原子が好ましい。
前記置換基としてのハロゲン化アルキル基としては、前記アルキル基の水素原子の一部又は全部が前記ハロゲン原子で置換された基が挙げられる。
The aromatic hydrocarbon group in the hydrocarbon group is a hydrocarbon group having at least one aromatic ring. The aromatic ring is not particularly limited as long as it is a cyclic conjugated system having 4n + 2 π electrons, and may be monocyclic or polycyclic. It is preferable that carbon number of an aromatic ring is 5-30, 5-20 are more preferable, 6-15 are more preferable, and 6-12 are especially preferable. However, the carbon number does not include the carbon number in the substituent. Specific examples of the aromatic ring include aromatic hydrocarbon rings such as benzene, naphthalene, anthracene and phenanthrene; aromatic heterocycles in which a part of carbon atoms constituting the aromatic hydrocarbon ring are substituted with heteroatoms; etc. Is mentioned. Examples of the hetero atom in the aromatic heterocyclic ring include an oxygen atom, a sulfur atom, and a nitrogen atom. Specific examples of the aromatic heterocycle include a pyridine ring and a thiophene ring.
Specifically, as an aromatic hydrocarbon group as a divalent hydrocarbon group,
A group obtained by removing two hydrogen atoms from the aromatic hydrocarbon ring or aromatic heterocyclic ring (arylene group or heteroarylene group); A group in which one of the aromatic ring hydrogen atoms is substituted with an alkylene group (for example, benzyl group, phenethyl group, 1-naphthylmethyl group, 2-naphthylmethyl group, 1-naphthylethyl group, 2 A group obtained by further removing one hydrogen atom from an aromatic ring in an arylalkyl group or heteroarylalkyl group such as a naphthylethyl group); The number of carbon atoms of the alkylene group that replaces the hydrogen atom of the aromatic hydrocarbon ring or aromatic heterocyclic ring is preferably 1 to 4, more preferably 1 to 2, and particularly preferably 1. .
The aromatic hydrocarbon group may have a substituent. For example, the hydrogen atom bonded to the aromatic ring of the aromatic hydrocarbon group may be substituted with a substituent. Examples of the substituent include an alkyl group, an alkoxy group, a halogen atom, a halogenated alkyl group, a hydroxyl group, and an oxygen atom (═O).
The alkyl group as the substituent is preferably an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, and most preferably a methyl group, an ethyl group, a propyl group, an n-butyl group, or a tert-butyl group.
Examples of the halogen atom as a substituent for the aromatic hydrocarbon group include a fluorine atom, a chlorine atom, a bromine atom, and an iodine atom, and a fluorine atom is preferable.
Examples of the halogenated alkyl group as the substituent include groups in which some or all of the hydrogen atoms of the alkyl group have been substituted with the halogen atoms.

構成単位(a3)としては、下記一般式(a3−1)で表される構成単位が好ましい。   As the structural unit (a3), structural units represented by general formula (a3-1) shown below are preferred.

Figure 0006006928
[式中、Rは水素原子、炭素数1〜5のアルキル基、又は炭素数1〜5のハロゲン化アルキル基である。Lは−C(=O)−O−、−C(=O)−NR−(Rは水素原子又は炭素数1〜5のアルキル基である)又は単結合である。Rは−COOH、または置換基として−OH、−COOH、−CN、−SONH、−C(Rr1)(Rr2)(OH)及び−CONHからなる群より選択される少なくとも一種の基を有する炭化水素基であり、任意の位置に酸素原子又は硫黄原子を有していてもよい。Rr1、Rr2はそれぞれ独立に、水素原子、炭素数1〜5のアルキル基、又は炭素数1〜5のハロゲン化アルキル基である。]
Figure 0006006928
[Wherein, R represents a hydrogen atom, an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, or a halogenated alkyl group having 1 to 5 carbon atoms. L 0 is —C (═O) —O—, —C (═O) —NR n — (R n is a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms) or a single bond. R 0 is at least selected from the group consisting of —COOH, or —OH, —COOH, —CN, —SO 2 NH 2 , —C (R r1 ) (R r2 ) (OH) and —CONH 2 as a substituent. It is a hydrocarbon group having a kind of group, and may have an oxygen atom or a sulfur atom at an arbitrary position. R r1 and R r2 are each independently a hydrogen atom, an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, or a halogenated alkyl group having 1 to 5 carbon atoms. ]

前記式(a3−1)中、Rは前記同様である。
前記式(a3−1)中、Lは、−C(=O)−O−、−C(=O)−NR−(Rは水素原子又は炭素数1〜5のアルキル基である)又は単結合である。Rのアルキル基としては、Rのアルキル基と同様である。
In the formula (a3-1), R is the same as described above.
In the formula (a3-1), L 0 is —C (═O) —O—, —C (═O) —NR n — (R n is a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms. ) Or a single bond. The alkyl group for R n is the same as the alkyl group for R.

前記式(a3−1)中、Rは、置換基として−OH、−COOH、−CN、−SONH、−C(Rr1)(Rr2)(OH)及び−CONHからなる群より選択される少なくとも一種の基を有する炭化水素基であり、任意の位置に酸素原子又は硫黄原子を有していてもよい。
「置換基を有する炭化水素基」とは、炭化水素基に結合した水素原子の少なくとも一部が置換基で置換されていることを意味する。
における炭化水素基は、脂肪族炭化水素基であってもよく、芳香族炭化水素基であってもよい。
における脂肪族炭化水素基としては、炭素数1〜10の直鎖状又は分岐鎖状の炭化水素基(好ましくはアルキレン基)や、脂肪族環式基(単環式基、多環式基)が好適に挙げられ、これらの説明は上記と同様である。
における芳香族炭化水素基は、芳香環を有する炭化水素基であり、この説明は上記と同様である。
における置換基としての−C(Rr1)(Rr2)(OH)において、Rr1、Rr2はそれぞれ独立に、水素原子、炭素数1〜5のアルキル基、又は炭素数1〜5のハロゲン化アルキル基である。炭素数1〜5のアルキル基、炭素数1〜5のハロゲン化アルキル基としては、上述したα位の置換基としての炭素数1〜5のアルキル基、炭素数1〜5のハロゲン化アルキル基と同様である。
In the formula (a3-1), R 0 includes —OH, —COOH, —CN, —SO 2 NH 2 , —C (R r1 ) (R r2 ) (OH), and —CONH 2 as substituents. It is a hydrocarbon group having at least one group selected from the group, and may have an oxygen atom or a sulfur atom at an arbitrary position.
The “hydrocarbon group having a substituent” means that at least a part of hydrogen atoms bonded to the hydrocarbon group is substituted with a substituent.
The hydrocarbon group for R 0 may be an aliphatic hydrocarbon group or an aromatic hydrocarbon group.
As the aliphatic hydrocarbon group for R 0, a linear or branched hydrocarbon group having 1 to 10 carbon atoms (preferably an alkylene group) or an aliphatic cyclic group (monocyclic group, polycyclic group) Group), and the description thereof is the same as described above.
The aromatic hydrocarbon group in R 0 is a hydrocarbon group having an aromatic ring, and this description is the same as described above.
In —C (R r1 ) (R r2 ) (OH) as a substituent for R 0 , R r1 and R r2 each independently represent a hydrogen atom, an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, or 1 to 5 carbon atoms. Of the halogenated alkyl group. Examples of the alkyl group having 1 to 5 carbon atoms and the halogenated alkyl group having 1 to 5 carbon atoms include the alkyl group having 1 to 5 carbon atoms and the halogenated alkyl group having 1 to 5 carbon atoms as the substituent at the α-position described above. It is the same.

ただし、Rは、任意の位置に酸素原子又は硫黄原子を有していてもよい。この「任意の位置に酸素原子又は硫黄原子を有していてもよい」とは、炭化水素基、又は置換基を有する炭化水素基をそれぞれ構成する炭素原子(置換基部分の炭素原子を含む。)の一部が、酸素原子又は硫黄原子で置換されていてもよいこと、又は炭化水素基に結合した水素原子が酸素原子又は硫黄原子で置換されていてもよいこと、を意味する。
以下に、一例として任意の位置に酸素原子(O)を有するRについて例示する。
However, R 0 may have an oxygen atom or a sulfur atom at an arbitrary position. The phrase “may have an oxygen atom or a sulfur atom at any position” means a carbon atom constituting a hydrocarbon group or a hydrocarbon group having a substituent (including the carbon atom of the substituent portion). ) May be substituted with an oxygen atom or a sulfur atom, or a hydrogen atom bonded to a hydrocarbon group may be substituted with an oxygen atom or a sulfur atom.
Hereinafter, R 0 having an oxygen atom (O) at an arbitrary position will be exemplified as an example.

Figure 0006006928
[式中、W00は炭化水素基であり、Rは炭素数1〜5のアルキレン基である。]
Figure 0006006928
[Wherein, W 00 is a hydrocarbon group, and R m is an alkylene group having 1 to 5 carbon atoms. ]

前記式中、W00は炭化水素基であり、前記式(a3−1)中のRと同様のものが挙げられる。W00は、好ましくは脂肪族炭化水素基であり、より好ましくは脂肪族環式基(単環式基、多環式基)である。
は、直鎖状、分岐鎖状であることが好ましく、炭素数1〜3のアルキレン基であることが好ましく、メチレン基、エチレン基であることがより好ましい。
In the above formula, W 00 is a hydrocarbon group, and examples thereof include the same as R 0 in the formula (a3-1). W 00 is preferably an aliphatic hydrocarbon group, more preferably an aliphatic cyclic group (monocyclic group or polycyclic group).
R m is preferably linear or branched, preferably an alkylene group having 1 to 3 carbon atoms, and more preferably a methylene group or an ethylene group.

構成単位(a3)のなかで好適なものとして、より具体的には、(α置換)アクリル酸から誘導される構成単位、下記一般式(a3−11)〜(a3−13)のいずれかで表される構成単位等が挙げられる。
(α置換)アクリル酸から誘導される構成単位としては、前記式(a3−1)中のLが単結合であり、Rが−COOHである構成単位が挙げられる。
More preferable examples of the structural unit (a3) include structural units derived from (α-substituted) acrylic acid, and any one of the following general formulas (a3-11) to (a3-13): Examples of the structural unit are as follows.
Examples of the structural unit derived from (α-substituted) acrylic acid include structural units in which L 0 in the formula (a3-1) is a single bond and R 0 is —COOH.

Figure 0006006928
[式中、Rは水素原子、炭素数1〜5のアルキル基、又は炭素数1〜5のハロゲン化アルキル基である。W01は置換基として−OH、−COOH、−CN、−SONH、−C(Rr1)(Rr2)(OH)及び−CONHからなる群より選択される少なくとも一種の基を有する芳香族炭化水素基である。P02及びP03はそれぞれ−C(=O)−O−又は−C(=O)−NR−(Rは水素原子又は炭素数1〜5のアルキル基である)である。W02は置換基として−OH、−COOH、−CN、−SONH、−C(Rr1)(Rr2)(OH)及び−CONHからなる群より選択される少なくとも一種の基を有する環状の炭化水素基であり、任意の位置に酸素原子又は硫黄原子を有していてもよい。W03は置換基として−OH、−COOH、−CN、−SONH、−C(Rr1)(Rr2)(OH)及び−CONHからなる群より選択される少なくとも一種の基を有する直鎖状の炭化水素基である。Rr1、Rr2は前記同様である。]
Figure 0006006928
[Wherein, R represents a hydrogen atom, an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, or a halogenated alkyl group having 1 to 5 carbon atoms. W 01 represents at least one group selected from the group consisting of —OH, —COOH, —CN, —SO 2 NH 2 , —C (R r1 ) (R r2 ) (OH) and —CONH 2 as a substituent. It is an aromatic hydrocarbon group. P 02 and P 03 are each —C (═O) —O— or —C (═O) —NR n — (R n is a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms). W 02 represents at least one group selected from the group consisting of —OH, —COOH, —CN, —SO 2 NH 2 , —C (R r1 ) (R r2 ) (OH) and —CONH 2 as a substituent. A cyclic hydrocarbon group having an oxygen atom or a sulfur atom at an arbitrary position. W 03 represents at least one group selected from the group consisting of —OH, —COOH, —CN, —SO 2 NH 2 , —C (R r1 ) (R r2 ) (OH) and —CONH 2 as a substituent. It has a linear hydrocarbon group. R r1 and R r2 are the same as described above. ]

{一般式(a3−11)で表される構成単位}
前記式(a3−11)中、Rは、前記式(a3−1)中のRの説明と同様である。
01における芳香族炭化水素基は、前記式(a3−1)中のRにおける芳香族炭化水素基の説明と同様である。
以下に、一般式(a3−11)で表される構成単位の好適な具体例を示す。以下の各式中、Rαは、水素原子、メチル基またはトリフルオロメチル基を示す。
{Structural unit represented by general formula (a3-11)}
In the formula (a3-11), R is the same as described for R in the formula (a3-1).
The aromatic hydrocarbon group for W 01 is the same as that described for the aromatic hydrocarbon group for R 0 in formula (a3-1).
Specific examples of preferable structural units represented by general formula (a3-11) are shown below. In the following formulas, R α represents a hydrogen atom, a methyl group or a trifluoromethyl group.

Figure 0006006928
Figure 0006006928

{一般式(a3−12)で表される構成単位}
前記式(a3−12)中、Rは、前記式(a3−1)中のRの説明と同様である。
02は、−C(=O)−O−又は−C(=O)−NR−(Rは水素原子又は炭素数1〜5のアルキル基である)であり、−C(=O)−O−であることが好ましい。Rのアルキル基としては、Rのアルキル基と同様である。
02における環状の炭化水素基は、前記式(a3−1)中のRについての説明の中で例示した脂肪族環式基(単環式基、多環式基)、芳香族炭化水素基とそれぞれ同様のものが挙げられる。
02は、任意の位置に酸素原子又は硫黄原子を有していてもよく、この説明は前記式(a3−1)中のRの説明と同様である。
以下に、一般式(a3−12)で表される構成単位の好適な具体例を示す。以下の各式中、Rαは、水素原子、メチル基またはトリフルオロメチル基を示す。
{Structural unit represented by general formula (a3-12)}
In the formula (a3-12), R is the same as described for R in the formula (a3-1).
P 02 is —C (═O) —O— or —C (═O) —NR n — (R n is a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms), and —C (═O ) -O-. The alkyl group for R n is the same as the alkyl group for R.
The cyclic hydrocarbon group in W 02 is an aliphatic cyclic group (monocyclic group or polycyclic group) or aromatic hydrocarbon exemplified in the description of R 0 in the formula (a3-1). Examples of each group are the same.
W 02 may have an oxygen atom or a sulfur atom at an arbitrary position, and this description is the same as the description of R 0 in the formula (a3-1).
Specific examples of preferred structural units represented by general formula (a3-12) are shown below. In the following formulas, R α represents a hydrogen atom, a methyl group or a trifluoromethyl group.

Figure 0006006928
Figure 0006006928

Figure 0006006928
Figure 0006006928

Figure 0006006928
Figure 0006006928

{一般式(a3−13)で表される構成単位}
前記式(a3−13)中、Rは、前記式(a3−1)中のRの説明と同様である。
03は、−C(=O)−O−又は−C(=O)−NR−(Rは水素原子又は炭素数1〜5のアルキル基である)であり、−C(=O)−O−であることが好ましい。Rのアルキル基としては、Rのアルキル基と同様である。
03における直鎖状の炭化水素基は、炭素数1〜10であることが好ましく、炭素数1〜5であることがより好ましく、炭素数1〜3であることがさらに好ましい。
03における直鎖状の炭化水素基は、−OH、−COOH、−CN、−SONH及び−CONH以外の置換基(a)をさらに有していてもよい。この置換基(a)としては、炭素数1〜5のアルキル基、脂肪族環式基(単環式基、多環式基)、フッ素原子、炭素数1〜5のフッ素化アルキル基等が挙げられる。置換基(a)における脂肪族環式基(単環式基、多環式基)の炭素数は3〜30であることが好ましく、5〜30であることがより好ましく、5〜20がさらに好ましく、6〜15が特に好ましく、6〜12が最も好ましい。具体的には、たとえば、モノシクロアルカンから2個以上の水素原子を除いた基;ビシクロアルカン、トリシクロアルカン、テトラシクロアルカンなどのポリシクロアルカンから1個以上の水素原子を除いた基などが挙げられる。より具体的には、シクロペンタン、シクロヘキサン等のモノシクロアルカンから2個以上の水素原子を除いた基;アダマンタン、ノルボルナン、イソボルナン、トリシクロデカン、テトラシクロドデカンなどのポリシクロアルカンから1個以上の水素原子を除いた基などが挙げられる。
また、W03における直鎖状の炭化水素基は、一例として下記一般式(a3−13−a)で表される構成単位のように、複数の置換基(a)を有してもよく、複数の置換基(a)同士が相互に結合して環が形成されてもよい。
{Structural unit represented by general formula (a3-13)}
In the formula (a3-13), R is the same as described for R in the formula (a3-1).
P 03 is —C (═O) —O— or —C (═O) —NR n — (R n is a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms), and —C (═O ) -O-. The alkyl group for R n is the same as the alkyl group for R.
The linear hydrocarbon group for W 03 preferably has 1 to 10 carbon atoms, more preferably 1 to 5 carbon atoms, and still more preferably 1 to 3 carbon atoms.
The linear hydrocarbon group for W 03 may further have a substituent (a) other than —OH, —COOH, —CN, —SO 2 NH 2, and —CONH 2 . Examples of the substituent (a) include an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, an aliphatic cyclic group (monocyclic group, polycyclic group), a fluorine atom, a fluorinated alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, and the like. Can be mentioned. The number of carbon atoms of the aliphatic cyclic group (monocyclic group or polycyclic group) in the substituent (a) is preferably 3 to 30, more preferably 5 to 30, and further preferably 5 to 20 Preferably, 6-15 is especially preferable, and 6-12 is the most preferable. Specifically, for example, a group in which two or more hydrogen atoms are removed from a monocycloalkane; a group in which one or more hydrogen atoms are removed from a polycycloalkane such as bicycloalkane, tricycloalkane, tetracycloalkane, etc. Can be mentioned. More specifically, a group in which two or more hydrogen atoms have been removed from a monocycloalkane such as cyclopentane or cyclohexane; one or more polycycloalkanes such as adamantane, norbornane, isobornane, tricyclodecane, or tetracyclododecane Examples include a group excluding a hydrogen atom.
Further, straight-chain hydrocarbon group for W 03, as in the structural unit represented by the following general formula as an example (a3-13-a), may have a plurality of substituents (a), A plurality of substituents (a) may be bonded to each other to form a ring.

Figure 0006006928
[式中、Rは水素原子、炭素数1〜5のアルキル基、又は炭素数1〜5のハロゲン化アルキル基である。Ra1及びRa2はそれぞれ独立に炭素数1〜5のアルキル基、脂肪族環式基(単環式基、多環式基)、フッ素原子、又は炭素数1〜5のフッ素化アルキル基である。但し、Ra1とRa2とが相互に結合して環を形成してもよい。qは1〜4の整数である。]
Figure 0006006928
[Wherein, R represents a hydrogen atom, an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, or a halogenated alkyl group having 1 to 5 carbon atoms. R a1 and R a2 are each independently an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, an aliphatic cyclic group (monocyclic group or polycyclic group), a fluorine atom, or a fluorinated alkyl group having 1 to 5 carbon atoms. is there. However, R a1 and R a2 may be bonded to each other to form a ring. q 0 is an integer of 1 to 4. ]

前記式(a3−13−a)中、Rは、前記式(a3−1)中のRの説明と同様である。
a1及びRa2における脂肪族環式基(単環式基、多環式基)は、前記置換基(a)における脂肪族環式基(単環式基、多環式基)と同様である。
また、Ra1とRa2とは、相互に結合して環を形成してもよい。この場合、Ra1と、Ra2と、Ra1とRa2とが共に結合した炭素原子とにより環式基が形成される。該環式基としては、単環式基であってもよく、多環式基であってもよく、具体的には、前記置換基(a)における脂肪族環式基(単環式基、多環式基)についての説明の中で例示したモノシクロアルカン又はポリシクロアルカンから1個以上の水素原子を除いた基が挙げられる。
は1又は2であることが好ましく、1であることがより好ましい。
In the formula (a3-13-a), R is the same as described for R in the formula (a3-1).
The aliphatic cyclic group (monocyclic group or polycyclic group) in R a1 and R a2 is the same as the aliphatic cyclic group (monocyclic group or polycyclic group) in the substituent (a). is there.
R a1 and R a2 may be bonded to each other to form a ring. In this case, a R a1, and R a2, cyclic group is formed by the carbon atoms to which the R a1 and R a2 are bonded together. The cyclic group may be a monocyclic group or a polycyclic group. Specifically, an aliphatic cyclic group (monocyclic group, Examples thereof include groups in which one or more hydrogen atoms have been removed from the monocycloalkane or polycycloalkane exemplified in the description of the polycyclic group).
q 0 is preferably 1 or 2, and more preferably 1.

以下に、一般式(a3−13)で表される構成単位の好適な具体例を示す。以下の各式中、Rαは、水素原子、メチル基またはトリフルオロメチル基を示す。 Specific examples of preferable structural units represented by general formula (a3-13) are shown below. In the following formulas, R α represents a hydrogen atom, a methyl group or a trifluoromethyl group.

Figure 0006006928
Figure 0006006928

(A1)成分が有する構成単位(a3)は1種であっても2種以上であってもよい。
(A1)成分が構成単位(a3)を有する場合、構成単位(a3)の割合は、当該(A1)成分を構成する全構成単位に対して0〜85モル%であることが好ましく、0〜80モル%がより好ましい。構成単位(a3)の割合を下限値以上とすることにより、構成単位(a3)を含有させることによる効果(解像性、リソグラフィー特性、パターン形状の向上効果)が充分に得られ、上限値以下とすることにより、他の構成単位とのバランスをとりやすくなる。
The structural unit (a3) contained in the component (A1) may be one type or two or more types.
When the component (A1) has the structural unit (a3), the proportion of the structural unit (a3) is preferably 0 to 85 mol% with respect to all the structural units constituting the component (A1). 80 mol% is more preferable. By setting the proportion of the structural unit (a3) to be equal to or higher than the lower limit value, the effects (resolution, lithography characteristics, pattern shape improvement effect) due to the inclusion of the structural unit (a3) can be sufficiently obtained. This makes it easier to balance with other structural units.

(その他の構成単位)
(A1)成分は、本発明の効果を損なわない範囲で、上記構成単位(a0)〜(a3)以外の他の構成単位(以下、構成単位(a4)という。)を含んでいてもよい。
構成単位(a4)は、上述の構成単位(a0)〜(a3)に分類されない他の構成単位であれば特に限定されるものではなく、ArFエキシマレーザー用、KrFエキシマレーザー用(好ましくはArFエキシマレーザー用)等のレジスト用樹脂に用いられるものとして従来から知られている多数のものが使用可能である。
構成単位(a4)としては、例えば、α位の炭素原子に結合した水素原子が置換基で置換されていてもよいアクリル酸エステルから誘導される構成単位であって、酸非解離性の脂肪族多環式基を含む構成単位、スチレン単量体から誘導される構成単位、ビニルナフタレン単量体から誘導される構成単位などが好ましい。該多環式基は、例えば、前記の構成単位(a1)の場合に例示したものと同様のものを例示することができ、ArFエキシマレーザー用、KrFエキシマレーザー用(好ましくはArFエキシマレーザー用)等のレジスト組成物の樹脂成分に用いられるものとして従来から知られている多数のものが使用可能である。
特にトリシクロデカニル基、アダマンチル基、テトラシクロドデカニル基、イソボルニル基、ノルボルニル基から選ばれる少なくとも1種であると、工業上入手し易いなどの点で好ましい。これらの多環式基は、炭素数1〜5の直鎖状又は分岐鎖状のアルキル基を置換基として有していてもよい。
構成単位(a4)として、具体的には、下記一般式(a4−1)〜(a4−5)の構造のものを例示することができる。
(Other structural units)
The component (A1) may contain other structural units (hereinafter referred to as structural unit (a4)) other than the structural units (a0) to (a3) as long as the effects of the present invention are not impaired.
The structural unit (a4) is not particularly limited as long as it is another structural unit not classified into the structural units (a0) to (a3) described above. A number of hitherto known materials can be used for resist resins such as lasers.
As the structural unit (a4), for example, a structural unit derived from an acrylate ester in which a hydrogen atom bonded to a carbon atom at the α-position may be substituted with a substituent, which is an acid non-dissociable aliphatic group A structural unit containing a polycyclic group, a structural unit derived from a styrene monomer, a structural unit derived from a vinyl naphthalene monomer, or the like is preferable. Examples of the polycyclic group include those exemplified in the case of the structural unit (a1), and for ArF excimer laser and KrF excimer laser (preferably for ArF excimer laser). A number of hitherto known materials can be used as the resin component of the resist composition.
In particular, at least one selected from a tricyclodecanyl group, an adamantyl group, a tetracyclododecanyl group, an isobornyl group, and a norbornyl group is preferable in terms of industrial availability. These polycyclic groups may have a linear or branched alkyl group having 1 to 5 carbon atoms as a substituent.
Specific examples of the structural unit (a4) include those represented by the following general formulas (a4-1) to (a4-5).

Figure 0006006928
[式中、Rは前記と同じである。]
Figure 0006006928
[Wherein, R is the same as defined above. ]

構成単位(a4)としては、1種を単独で用いてもよく、2種以上を組み合わせて用いてもよい。
(A1)成分が構成単位(a4)を含有する場合、構成単位(a4)の割合は、(A1)成分を構成する全構成単位の合計に対して、1〜20モル%が好ましく、1〜15モル%がより好ましく、1〜10モル%がさらに好ましい。
As the structural unit (a4), one type may be used alone, or two or more types may be used in combination.
When the component (A1) contains the structural unit (a4), the proportion of the structural unit (a4) is preferably 1 to 20 mol% with respect to the total of all the structural units constituting the component (A1). 15 mol% is more preferable and 1-10 mol% is further more preferable.

(A1)成分は、構成単位(a0)を有する重合体であって、構成単位(a0)に加えて構成単位(a1)を有する共重合体であることが好ましい。
かかる共重合体としては、たとえば、構成単位(a0)、(a1)及び(a3)からなる共重合体;構成単位(a0)、(a1)及び(a2)からなる共重合体;構成単位(a0)、(a1)、(a2)及び(a3)からなる共重合体;構成単位(a0)、(a1)、(a2)、(a3)及び(a4)からなる共重合体等が例示できる。
The component (A1) is a polymer having the structural unit (a0), and is preferably a copolymer having the structural unit (a1) in addition to the structural unit (a0).
Examples of such a copolymer include a copolymer consisting of structural units (a0), (a1) and (a3); a copolymer consisting of structural units (a0), (a1) and (a2); a0), (a1), a copolymer comprising (a2) and (a3); a copolymer comprising the structural units (a0), (a1), (a2), (a3) and (a4), etc. .

(A1)成分の質量平均分子量(Mw)(ゲルパーミエーションクロマトグラフィーによるポリスチレン換算基準)は、特に限定されるものではなく、1000〜50000が好ましく、1500〜30000がより好ましく、2500〜20000が最も好ましい。この範囲の上限値以下であると、レジストとして用いるのに充分なレジスト溶剤への溶解性があり、この範囲の下限値以上であると、耐ドライエッチング性やレジストパターン断面形状が良好である。
また、(A1)成分の分散度(Mw/Mn)は、特に限定されるものではなく、1.0〜5.0が好ましく、1.0〜3.0がより好ましく、1.2〜2.5が最も好ましい。
なお、Mnは数平均分子量を示す。
The mass average molecular weight (Mw) of the component (A1) (polystyrene conversion standard by gel permeation chromatography) is not particularly limited, preferably 1000 to 50000, more preferably 1500 to 30000, most preferably 2500 to 20000. preferable. If it is below the upper limit of this range, it has sufficient solubility in a resist solvent to be used as a resist, and if it is above the lower limit of this range, dry etching resistance and resist pattern cross-sectional shape are good.
Further, the dispersity (Mw / Mn) of the component (A1) is not particularly limited, and is preferably 1.0 to 5.0, more preferably 1.0 to 3.0, and 1.2 to 2 .5 is most preferred.
In addition, Mn shows a number average molecular weight.

(A)成分において、(A1)成分としては、1種を単独で用いてもよく、2種以上を併用しても良い。
(A)成分中の(A1)成分の割合は、(A)成分の総質量に対し、25質量%以上が好ましく、50質量%がより好ましく、75質量%がさらに好ましく、100質量%であってもよい。該割合が25質量%以上であると、リソグラフィー特性等の効果が向上する。
In the component (A), as the component (A1), one type may be used alone, or two or more types may be used in combination.
The proportion of the component (A1) in the component (A) is preferably 25% by mass or more, more preferably 50% by mass, further preferably 75% by mass, and 100% by mass with respect to the total mass of the component (A). May be. When the ratio is 25% by mass or more, effects such as lithography characteristics are improved.

(A)成分は、本発明の効果を損なわない範囲で、(A1)成分以外の基材成分(以下この基材成分を「(A2)成分」という。)を含有してもよい。
(A2)成分としては、分子量が500以上4000未満であって、上述の(A1)成分の説明で例示したような酸解離性基と、親水性基とを有する低分子化合物を用いてもよい。具体的には、複数のフェノール骨格を有する化合物の水酸基の水素原子の一部または全部が上記酸解離性基で置換されたものが挙げられる。
該低分子化合物としては、たとえば、非化学増幅型のg線やi線レジストにおける増感剤や、耐熱性向上剤として知られている低分子量フェノール化合物の水酸基の水素原子の一部を上記酸解離性基で置換したものが好ましく、そのようなものから任意に用いることができる。
該低分子量フェノール化合物としては、たとえば、ビス(4−ヒドロキシフェニル)メタン、ビス(2,3,4−トリヒドロキシフェニル)メタン、2−(4−ヒドロキシフェニル)−2−(4’−ヒドロキシフェニル)プロパン、2−(2,3,4−トリヒドロキシフェニル)−2−(2’,3’,4’−トリヒドロキシフェニル)プロパン、トリス(4−ヒドロキシフェニル)メタン、ビス(4−ヒドロキシ−3,5−ジメチルフェニル)−2−ヒドロキシフェニルメタン、ビス(4−ヒドロキシ−2,5−ジメチルフェニル)−2−ヒドロキシフェニルメタン、ビス(4−ヒドロキシ−3,5−ジメチルフェニル)−3,4−ジヒドロキシフェニルメタン、ビス(4−ヒドロキシ−2,5−ジメチルフェニル)−3,4−ジヒドロキシフェニルメタン、ビス(4−ヒドロキシ−3−メチルフェニル)−3,4−ジヒドロキシフェニルメタン、ビス(3−シクロヘキシル−4−ヒドロキシ−6−メチルフェニル)−4−ヒドロキシフェニルメタン、ビス(3−シクロヘキシル−4−ヒドロキシ−6−メチルフェニル)−3,4−ジヒドロキシフェニルメタン、1−[1−(4−ヒドロキシフェニル)イソプロピル]−4−[1,1−ビス(4−ヒドロキシフェニル)エチル]ベンゼン、フェノール、m−クレゾール、p−クレゾールまたはキシレノールなどのフェノール類のホルマリン縮合物の2〜6核体などが挙げられる。勿論これらに限定されるものではない。特には、トリフェニルメタン骨格を2〜6個有するフェノール化合物が、解像性、ラインエッジラフネス(LWR)に優れることから好ましい。該酸解離性基も特に限定されず、上記したものが挙げられる。
The component (A) may contain a base component other than the component (A1) (hereinafter, this base component is referred to as “component (A2)”) as long as the effects of the present invention are not impaired.
As the component (A2), a low molecular compound having a molecular weight of 500 or more and less than 4000 and having an acid dissociable group and a hydrophilic group as exemplified in the description of the component (A1) may be used. . Specific examples include those in which some or all of the hydrogen atoms of the hydroxyl group of the compound having a plurality of phenol skeletons are substituted with the acid dissociable group.
Examples of the low molecular weight compound include a sensitizer in a non-chemically amplified g-line or i-line resist, and a part of the hydrogen atom of the hydroxyl group of a low molecular weight phenol compound known as a heat resistance improver. Those substituted with a dissociable group are preferred, and any of them can be used arbitrarily.
Examples of the low molecular weight phenol compound include bis (4-hydroxyphenyl) methane, bis (2,3,4-trihydroxyphenyl) methane, 2- (4-hydroxyphenyl) -2- (4′-hydroxyphenyl). ) Propane, 2- (2,3,4-trihydroxyphenyl) -2- (2 ′, 3 ′, 4′-trihydroxyphenyl) propane, tris (4-hydroxyphenyl) methane, bis (4-hydroxy-) 3,5-dimethylphenyl) -2-hydroxyphenylmethane, bis (4-hydroxy-2,5-dimethylphenyl) -2-hydroxyphenylmethane, bis (4-hydroxy-3,5-dimethylphenyl) -3, 4-dihydroxyphenylmethane, bis (4-hydroxy-2,5-dimethylphenyl) -3,4-dihydroxypheny Rumethane, bis (4-hydroxy-3-methylphenyl) -3,4-dihydroxyphenylmethane, bis (3-cyclohexyl-4-hydroxy-6-methylphenyl) -4-hydroxyphenylmethane, bis (3-cyclohexyl- 4-hydroxy-6-methylphenyl) -3,4-dihydroxyphenylmethane, 1- [1- (4-hydroxyphenyl) isopropyl] -4- [1,1-bis (4-hydroxyphenyl) ethyl] benzene, Examples include 2 to 6 nuclei of formalin condensates of phenols such as phenol, m-cresol, p-cresol and xylenol. Of course, it is not limited to these. In particular, a phenol compound having 2 to 6 triphenylmethane skeletons is preferable because of excellent resolution and line edge roughness (LWR). The acid dissociable group is not particularly limited, and examples thereof include those described above.

本発明のレジスト組成物中、(A)成分の含有量は、形成しようとするレジスト膜厚等に応じて調整すればよい。   In the resist composition of the present invention, the content of the component (A) may be adjusted according to the resist film thickness to be formed.

<任意成分>
[(B)成分]
本発明のレジスト組成物は、上記(A)成分に加えて、さらに、露光により酸を発生する酸発生剤成分(B)(以下「(B)成分」という。)を含有していてもよい。
この(B)成分としては、特に限定されず、これまで化学増幅型レジスト用の酸発生剤として提案されているものを使用することができる。
このような酸発生剤としては、これまで、ヨードニウム塩やスルホニウム塩などのオニウム塩系酸発生剤、オキシムスルホネート系酸発生剤、ビスアルキルまたはビスアリールスルホニルジアゾメタン類、ポリ(ビススルホニル)ジアゾメタン類などのジアゾメタン系酸発生剤、ニトロベンジルスルホネート系酸発生剤、イミノスルホネート系酸発生剤、ジスルホン系酸発生剤など多種のものが知られている。
<Optional component>
[Component (B)]
In addition to the component (A), the resist composition of the present invention may further contain an acid generator component (B) that generates an acid upon exposure (hereinafter referred to as “component (B)”). .
The component (B) is not particularly limited, and those that have been proposed as acid generators for chemically amplified resists can be used.
Examples of such acid generators include onium salt acid generators such as iodonium salts and sulfonium salts, oxime sulfonate acid generators, bisalkyl or bisarylsulfonyldiazomethanes, poly (bissulfonyl) diazomethanes, and the like. There are various known diazomethane acid generators, nitrobenzyl sulfonate acid generators, imino sulfonate acid generators, disulfone acid generators, and the like.

オニウム塩系酸発生剤としては、例えば下記一般式(b−1)又は(b−2)で表される化合物を用いることができる。   As the onium salt acid generator, for example, a compound represented by the following general formula (b-1) or (b-2) can be used.

Figure 0006006928
[式中、R”〜R”,R”〜R”はそれぞれ独立に置換基を有していてもよいアリール基、アルキル基又はアルケニル基を表す。式(b−1)におけるR”〜R”のうち、いずれか二つが相互に結合して式中のイオウ原子と共に環を形成してもよい。R”は、置換基を有していてもよいアルキル基、ハロゲン化アルキル基、アリール基、またはアルケニル基を表す。]
Figure 0006006928
[Wherein, R 1 ″ to R 3 ″ and R 5 ″ to R 6 ″ each independently represents an aryl group, an alkyl group or an alkenyl group which may have a substituent. Any two of R 1 ″ to R 3 ″ in formula (b-1) may be bonded to each other to form a ring together with the sulfur atom in the formula. R 4 ″ represents an alkyl group, a halogenated alkyl group, an aryl group, or an alkenyl group which may have a substituent.

式(b−1)中、R”〜R”は、上記一般式(c−1)におけるR”〜R”と同じである。なかでも、リソグラフィー特性とレジストパターン形状がより向上することから、R”〜R”のうち、少なくとも1つはアリール基であることが好ましく、R”〜R”のうち、2つ以上がアリール基であることがより好ましく、R”〜R”のすべてがアリール基であることが特に好ましい。
式(b−2)中、R”〜R”は、上記一般式(c−2)におけるR”〜R”と同じである。なかでも、リソグラフィー特性とレジストパターン形状がより向上することから、R”〜R”のうち、少なくとも1つはアリール基であることが好ましく、R”〜R”のいずれもアリール基であることがより好ましい。
Wherein (b-1), R 1 "~R 3" is the same as R 1 "~R 3" in the general formula (c-1). Among them, since the further improved lithography properties and resist pattern shape, of R 1 "to R 3", it is preferable that at least one is an aryl group, among the R 1 "~R 3", 2 one The above is more preferably an aryl group, and it is particularly preferable that all of R 1 ″ to R 3 ″ are aryl groups.
In formula (b-2), R 5 ″ to R 6 ″ are the same as R 5 ″ to R 6 ″ in general formula (c-2). Among them, since the lithography properties and resist pattern shape is further improved, among R 5 "~R 6", it is preferable that at least one is an aryl group, any aryl group R 5 "~R 6" It is more preferable that

前記式(b−1)〜(b−2)中、R”は、置換基を有していてもよいアルキル基、ハロゲン化アルキル基、アリール基、またはアルケニル基を表す。
”におけるアルキル基は、直鎖状、分岐鎖状、環状のいずれであってもよい。
前記直鎖状または分岐鎖状のアルキル基は、炭素数1〜10であることが好ましく、炭素数1〜8であることがさらに好ましく、炭素数1〜4であることが最も好ましい。
前記環状のアルキル基としては、炭素数4〜15であることが好ましく、炭素数4〜10であることがさらに好ましく、炭素数6〜10であることが最も好ましい。
”におけるハロゲン化アルキル基としては、前記直鎖状、分岐鎖状若しくは環状のアルキル基の水素原子の一部または全部がハロゲン原子で置換された基が挙げられる。該ハロゲン原子としては、フッ素原子、塩素原子、臭素原子、ヨウ素原子等が挙げられ、フッ素原子が好ましい。
ハロゲン化アルキル基においては、当該ハロゲン化アルキル基に含まれるハロゲン原子および水素原子の合計数に対するハロゲン原子の数の割合(ハロゲン化率(%))が、10〜100%であることが好ましく、50〜100%であることが好ましく、100%が最も好ましい。該ハロゲン化率が高いほど、酸の強度が強くなるため好ましい。
前記R”におけるアリール基は、炭素数6〜20のアリール基であることが好ましい。
前記R”におけるアルケニル基は、炭素数2〜10のアルケニル基であることが好ましい。
前記R”において、「置換基を有していてもよい」とは、前記のアルキル基、ハロゲン化アルキル基、アリール基、またはアルケニル基における水素原子の一部もしくは全部が置換基(水素原子以外の他の原子または基)で置換されていてもよいことを意味する。
”における置換基の数は、1つであってもよく、2つ以上であってもよい。
In the formulas (b-1) to (b-2), R 4 ″ represents an alkyl group, a halogenated alkyl group, an aryl group, or an alkenyl group which may have a substituent.
The alkyl group for R 4 ″ may be linear, branched or cyclic.
The linear or branched alkyl group preferably has 1 to 10 carbon atoms, more preferably 1 to 8 carbon atoms, and most preferably 1 to 4 carbon atoms.
The cyclic alkyl group preferably has 4 to 15 carbon atoms, more preferably 4 to 10 carbon atoms, and most preferably 6 to 10 carbon atoms.
Examples of the halogenated alkyl group for R 4 ″ include groups in which part or all of the hydrogen atoms of the linear, branched, or cyclic alkyl group have been substituted with halogen atoms. A fluorine atom, a chlorine atom, a bromine atom, an iodine atom, etc. are mentioned, A fluorine atom is preferable.
In the halogenated alkyl group, the ratio of the number of halogen atoms to the total number of halogen atoms and hydrogen atoms contained in the halogenated alkyl group (halogenation rate (%)) is preferably 10 to 100%. 50 to 100% is preferable, and 100% is most preferable. The higher the halogenation rate, the better the acid strength.
The aryl group for R 4 ″ is preferably an aryl group having 6 to 20 carbon atoms.
The alkenyl group in R 4 ″ is preferably an alkenyl group having 2 to 10 carbon atoms.
In the above R 4 ″, “may have a substituent” means that a part or all of the hydrogen atoms in the alkyl group, halogenated alkyl group, aryl group, or alkenyl group are a substituent (hydrogen atom). It may be substituted with other atoms or groups).
The number of substituents in R 4 ″ may be one, or two or more.

前記置換基としては、例えば、ハロゲン原子、ヘテロ原子、アルキル基、式:R−Q−[式中、Qは酸素原子を含む2価の連結基であり、Rは置換基を有していてもよい炭素数3〜30の炭化水素基である。]で表される基等が挙げられる。
前記ハロゲン原子、アルキル基としては、R”において、ハロゲン化アルキル基におけるハロゲン原子、アルキル基として挙げたものと同様のものが挙げられる。
前記ヘテロ原子としては、酸素原子、窒素原子、硫黄原子等が挙げられる。
Examples of the substituent include a halogen atom, a hetero atom, an alkyl group, a formula: R X -Q 1- [where Q 1 is a divalent linking group containing an oxygen atom, and R X represents a substituent. It is a C3-C30 hydrocarbon group which may have. ] Etc. which are represented by these.
Examples of the halogen atom and alkyl group include the same groups as those described as the halogen atom and alkyl group in the halogenated alkyl group in R 4 ″.
Examples of the hetero atom include an oxygen atom, a nitrogen atom, and a sulfur atom.

−Q−で表される基において、Qは、酸素原子を含む2価の連結基である。
は、酸素原子以外の原子を含有してもよい。酸素原子以外の原子としては、たとえば炭素原子、水素原子、酸素原子、硫黄原子、窒素原子等が挙げられる。
酸素原子を含む2価の連結基としては、たとえば、酸素原子(エーテル結合;−O−)、エステル結合(−C(=O)−O−)、アミド結合(−C(=O)−NH−)、カルボニル基(−C(=O)−)、カーボネート結合(−O−C(=O)−O−)等の非炭化水素系の酸素原子含有連結基;該非炭化水素系の酸素原子含有連結基とアルキレン基との組み合わせ等が挙げられる。
該組み合わせとしては、たとえば、−R91−O−、−R92−O−C(=O)−、−C(=O)−O−R92−、−C(=O)−O−R93−O−C(=O)−(式中、R91〜R93はそれぞれ独立にアルキレン基である。)等が挙げられる。
91〜R93におけるアルキレン基としては、直鎖状または分岐鎖状のアルキレン基が好ましく、該アルキレン基の炭素数は、1〜12が好ましく、1〜5がより好ましく、1〜3が特に好ましい。
としては、エステル結合またはエーテル結合を含む2価の連結基が好ましく、なかでも、−R91−O−、−R92−O−C(=O)−または−C(=O)−O−R93−O−C(=O)−が好ましい。
In the group represented by R X —Q 1 —, Q 1 is a divalent linking group containing an oxygen atom.
Q 1 may contain an atom other than an oxygen atom. Examples of atoms other than oxygen atoms include carbon atoms, hydrogen atoms, oxygen atoms, sulfur atoms, and nitrogen atoms.
Examples of the divalent linking group containing an oxygen atom include an oxygen atom (ether bond; —O—), an ester bond (—C (═O) —O—), and an amide bond (—C (═O) —NH. -), A carbonyl group (-C (= O)-), a non-hydrocarbon oxygen atom-containing linking group such as a carbonate bond (-O-C (= O) -O-); the non-hydrocarbon oxygen atom Examples include a combination of a containing linking group and an alkylene group.
Examples of the combination include —R 91 —O—, —R 92 —O—C (═O) —, —C (═O) —O—R 92 —, —C (═O) —O—R. 93 —O—C (═O) — (wherein R 91 to R 93 are each independently an alkylene group).
The alkylene group for R 91 to R 93 is preferably a linear or branched alkylene group, and the alkylene group preferably has 1 to 12 carbon atoms, more preferably 1 to 5 carbon atoms, and particularly preferably 1 to 3 carbon atoms. preferable.
Q 1 is preferably a divalent linking group containing an ester bond or an ether bond, and in particular, —R 91 —O—, —R 92 —O—C (═O) — or —C (═O) — O—R 93 —O—C (═O) — is preferred.

−Q−で表される基において、Rの炭化水素基は、芳香族炭化水素基であってもよく、脂肪族炭化水素基であってもよい。 In the group represented by R X -Q 1- , the hydrocarbon group of R X may be an aromatic hydrocarbon group or an aliphatic hydrocarbon group.

芳香族炭化水素基は、芳香環を有する炭化水素基である。該芳香族炭化水素基の炭素数は3〜30であることが好ましく、5〜30であることがより好ましく、5〜20がさらに好ましく、6〜15が特に好ましく、6〜12が最も好ましい。ただし、該炭素数には、置換基における炭素数を含まないものとする。
芳香族炭化水素基として、具体的には、フェニル基、ビフェニル(biphenyl)基、フルオレニル(fluorenyl)基、ナフチル基、アントリル(anthryl)基、フェナントリル基等の、芳香族炭化水素環から水素原子を1つ除いたアリール基、ベンジル基、フェネチル基、1−ナフチルメチル基、2−ナフチルメチル基、1−ナフチルエチル基、2−ナフチルエチル基等のアリールアルキル基等が挙げられる。前記アリールアルキル基中のアルキル鎖の炭素数は、1〜4であることが好ましく、1〜2であることがより好ましく、1であることが特に好ましい。
The aromatic hydrocarbon group is a hydrocarbon group having an aromatic ring. The aromatic hydrocarbon group preferably has 3 to 30 carbon atoms, more preferably 5 to 30, more preferably 5 to 20, still more preferably 6 to 15, and most preferably 6 to 12. However, the carbon number does not include the carbon number in the substituent.
Specific examples of the aromatic hydrocarbon group include a hydrogen atom from an aromatic hydrocarbon ring such as a phenyl group, a biphenyl group, a fluorenyl group, a naphthyl group, an anthryl group, and a phenanthryl group. Aryl groups such as aryl group, benzyl group, phenethyl group, 1-naphthylmethyl group, 2-naphthylmethyl group, 1-naphthylethyl group, 2-naphthylethyl group, etc., from which one is removed. The number of carbon atoms in the alkyl chain in the arylalkyl group is preferably 1 to 4, more preferably 1 to 2, and particularly preferably 1.

該芳香族炭化水素基は、置換基を有していてもよい。たとえば当該芳香族炭化水素基が有する芳香環を構成する炭素原子の一部がヘテロ原子で置換されていてもよく、当該芳香族炭化水素基が有する芳香環に結合した水素原子が置換基で置換されていてもよい。
前者の例としては、前記アリール基の環を構成する炭素原子の一部が酸素原子、硫黄原子、窒素原子等のヘテロ原子で置換されたヘテロアリール基、前記アリールアルキル基中の芳香族炭化水素環を構成する炭素原子の一部が前記ヘテロ原子で置換されたヘテロアリールアルキル基等が挙げられる。
後者の例における芳香族炭化水素基の置換基としては、たとえば、アルキル基、アルコキシ基、ハロゲン原子、ハロゲン化アルキル基、水酸基、酸素原子(=O)等が挙げられる。
前記芳香族炭化水素基の置換基としてのアルキル基としては、炭素数1〜5のアルキル基が好ましく、メチル基、エチル基、プロピル基、n−ブチル基、tert−ブチル基であることが最も好ましい。
前記芳香族炭化水素基の置換基としてのアルコキシ基としては、炭素数1〜5のアルコキシ基が好ましく、メトキシ基、エトキシ基、n−プロポキシ基、iso−プロポキシ基、n−ブトキシ基、tert−ブトキシ基が好ましく、メトキシ基、エトキシ基が最も好ましい。
前記芳香族炭化水素基の置換基としてのハロゲン原子としては、フッ素原子、塩素原子、臭素原子、ヨウ素原子等が挙げられ、フッ素原子が好ましい。
前記芳香族炭化水素基の置換基としてのハロゲン化アルキル基としては、前記アルキル基の水素原子の一部または全部が前記ハロゲン原子で置換された基が挙げられる。
The aromatic hydrocarbon group may have a substituent. For example, a part of carbon atoms constituting the aromatic ring of the aromatic hydrocarbon group may be substituted with a hetero atom, and the hydrogen atom bonded to the aromatic ring of the aromatic hydrocarbon group is substituted with the substituent. May be.
Examples of the former include heteroaryl groups in which some of the carbon atoms constituting the ring of the aryl group are substituted with heteroatoms such as oxygen atoms, sulfur atoms, nitrogen atoms, and aromatic hydrocarbons in the arylalkyl groups. Examples include heteroarylalkyl groups in which some of the carbon atoms constituting the ring are substituted with the above heteroatoms.
Examples of the substituent of the aromatic hydrocarbon group in the latter example include an alkyl group, an alkoxy group, a halogen atom, a halogenated alkyl group, a hydroxyl group, and an oxygen atom (═O).
The alkyl group as a substituent of the aromatic hydrocarbon group is preferably an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, and most preferably a methyl group, an ethyl group, a propyl group, an n-butyl group, or a tert-butyl group. preferable.
The alkoxy group as a substituent of the aromatic hydrocarbon group is preferably an alkoxy group having 1 to 5 carbon atoms, and is a methoxy group, ethoxy group, n-propoxy group, iso-propoxy group, n-butoxy group, tert- A butoxy group is preferable, and a methoxy group and an ethoxy group are most preferable.
Examples of the halogen atom as a substituent for the aromatic hydrocarbon group include a fluorine atom, a chlorine atom, a bromine atom, and an iodine atom, and a fluorine atom is preferable.
Examples of the halogenated alkyl group as the substituent of the aromatic hydrocarbon group include groups in which part or all of the hydrogen atoms of the alkyl group have been substituted with the halogen atoms.

における脂肪族炭化水素基は、飽和脂肪族炭化水素基であってもよく、不飽和脂肪族炭化水素基であってもよい。また、脂肪族炭化水素基は、直鎖状、分岐鎖状、環状のいずれであってもよい。
において、脂肪族炭化水素基は、当該脂肪族炭化水素基を構成する炭素原子の一部がヘテロ原子を含む置換基で置換されていてもよく、当該脂肪族炭化水素基を構成する水素原子の一部または全部がヘテロ原子を含む置換基で置換されていてもよい。
における「ヘテロ原子」としては、炭素原子および水素原子以外の原子であれば特に限定されず、たとえばハロゲン原子、酸素原子、硫黄原子、窒素原子等が挙げられる。ハロゲン原子としては、フッ素原子、塩素原子、ヨウ素原子、臭素原子等が挙げられる。
ヘテロ原子を含む置換基は、前記ヘテロ原子のみからなるものであってもよく、前記ヘテロ原子以外の基または原子を含む基であってもよい。
炭素原子の一部を置換する置換基として、具体的には、たとえば−O−、−C(=O)−O−、−C(=O)−、−O−C(=O)−O−、−C(=O)−NH−、−NH−(Hがアルキル基、アシル基等の置換基で置換されていてもよい)、−S−、−S(=O)−、−S(=O)−O−等が挙げられる。脂肪族炭化水素基が環状である場合、これらの置換基を環構造中に含んでいてもよい。
水素原子の一部または全部を置換する置換基として、具体的には、たとえばアルコキシ基、ハロゲン原子、ハロゲン化アルキル基、水酸基、酸素原子(=O)、シアノ基等が挙げられる。
前記アルコキシ基としては、炭素数1〜5のアルコキシ基が好ましく、メトキシ基、エトキシ基、n−プロポキシ基、iso−プロポキシ基、n−ブトキシ基、tert−ブトキシ基が好ましく、メトキシ基、エトキシ基が最も好ましい。
前記ハロゲン原子としては、フッ素原子、塩素原子、臭素原子、ヨウ素原子等が挙げられ、フッ素原子が好ましい。
前記ハロゲン化アルキル基としては、炭素数1〜5のアルキル基、たとえばメチル基、エチル基、プロピル基、n−ブチル基、tert−ブチル基等のアルキル基の水素原子の一部または全部が前記ハロゲン原子で置換された基が挙げられる。
The aliphatic hydrocarbon group for R X may be a saturated aliphatic hydrocarbon group or an unsaturated aliphatic hydrocarbon group. The aliphatic hydrocarbon group may be linear, branched or cyclic.
In R X , the aliphatic hydrocarbon group may be a group in which a part of carbon atoms constituting the aliphatic hydrocarbon group may be substituted with a substituent containing a hetero atom, and the hydrogen constituting the aliphatic hydrocarbon group Some or all of the atoms may be substituted with a substituent containing a hetero atom.
The “heteroatom” in R X is not particularly limited as long as it is an atom other than a carbon atom and a hydrogen atom, and examples thereof include a halogen atom, an oxygen atom, a sulfur atom, and a nitrogen atom. Examples of the halogen atom include a fluorine atom, a chlorine atom, an iodine atom, and a bromine atom.
The substituent containing a hetero atom may be composed of only the hetero atom, or may be a group containing a group or atom other than the hetero atom.
Specific examples of the substituent for substituting a part of the carbon atom include —O—, —C (═O) —O—, —C (═O) —, —O—C (═O) —O. —, —C (═O) —NH—, —NH— (H may be substituted with a substituent such as an alkyl group, an acyl group, etc.), —S—, —S (═O) 2 —, — S (= O) 2 —O— and the like can be mentioned. When the aliphatic hydrocarbon group is cyclic, these substituents may be included in the ring structure.
Specific examples of the substituent for substituting part or all of the hydrogen atoms include an alkoxy group, a halogen atom, a halogenated alkyl group, a hydroxyl group, an oxygen atom (═O), and a cyano group.
The alkoxy group is preferably an alkoxy group having 1 to 5 carbon atoms, preferably a methoxy group, an ethoxy group, an n-propoxy group, an iso-propoxy group, an n-butoxy group, or a tert-butoxy group, and a methoxy group or an ethoxy group. Is most preferred.
As said halogen atom, a fluorine atom, a chlorine atom, a bromine atom, an iodine atom, etc. are mentioned, A fluorine atom is preferable.
As the halogenated alkyl group, a part or all of hydrogen atoms of an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, such as a methyl group, an ethyl group, a propyl group, an n-butyl group, a tert-butyl group, etc. And a group substituted with a halogen atom.

脂肪族炭化水素基としては、直鎖状もしくは分岐鎖状の飽和炭化水素基、直鎖状もしくは分岐鎖状の1価の不飽和炭化水素基、または環状の脂肪族炭化水素基(脂肪族環式基)が好ましい。
直鎖状の飽和炭化水素基(アルキル基)としては、炭素数が1〜20であることが好ましく、1〜15であることがより好ましく、1〜10が最も好ましい。具体的には、例えば、メチル基、エチル基、プロピル基、ブチル基、ペンチル基、ヘキシル基、ヘプチル基、オクチル基、ノニル基、デシル基、ウンデシル基、ドデシル基、トリデシル基、イソトリデシル基、テトラデシル基、ペンタデシル基、ヘキサデシル基、イソヘキサデシル基、ヘプタデシル基、オクタデシル基、ノナデシル基、イコシル基、ヘンイコシル基、ドコシル基等が挙げられる。
分岐鎖状の飽和炭化水素基(アルキル基)としては、炭素数が3〜20であることが好ましく、3〜15であることがより好ましく、3〜10が最も好ましい。具体的には、例えば、1−メチルエチル基、1−メチルプロピル基、2−メチルプロピル基、1−メチルブチル基、2−メチルブチル基、3−メチルブチル基、1−エチルブチル基、2−エチルブチル基、1−メチルペンチル基、2−メチルペンチル基、3−メチルペンチル基、4−メチルペンチル基などが挙げられる。
Examples of the aliphatic hydrocarbon group include a linear or branched saturated hydrocarbon group, a linear or branched monovalent unsaturated hydrocarbon group, or a cyclic aliphatic hydrocarbon group (aliphatic ring). Formula group) is preferred.
The linear saturated hydrocarbon group (alkyl group) preferably has 1 to 20 carbon atoms, more preferably 1 to 15 carbon atoms, and most preferably 1 to 10 carbon atoms. Specifically, for example, methyl group, ethyl group, propyl group, butyl group, pentyl group, hexyl group, heptyl group, octyl group, nonyl group, decyl group, undecyl group, dodecyl group, tridecyl group, isotridecyl group, tetradecyl group Group, pentadecyl group, hexadecyl group, isohexadecyl group, heptadecyl group, octadecyl group, nonadecyl group, icosyl group, heicosyl group, docosyl group and the like.
The branched saturated hydrocarbon group (alkyl group) preferably has 3 to 20 carbon atoms, more preferably 3 to 15 carbon atoms, and most preferably 3 to 10 carbon atoms. Specifically, for example, 1-methylethyl group, 1-methylpropyl group, 2-methylpropyl group, 1-methylbutyl group, 2-methylbutyl group, 3-methylbutyl group, 1-ethylbutyl group, 2-ethylbutyl group, Examples include 1-methylpentyl group, 2-methylpentyl group, 3-methylpentyl group, 4-methylpentyl group and the like.

不飽和炭化水素基としては、炭素数が2〜10であることが好ましく、2〜5が好ましく、2〜4が好ましく、3が特に好ましい。直鎖状の1価の不飽和炭化水素基としては、例えば、ビニル基、プロペニル基(アリル基)、ブチニル基などが挙げられる。分岐鎖状の1価の不飽和炭化水素基としては、例えば、1−メチルプロペニル基、2−メチルプロペニル基などが挙げられる。
不飽和炭化水素基としては、上記の中でも、特にプロペニル基が好ましい。
As an unsaturated hydrocarbon group, it is preferable that carbon number is 2-10, 2-5 are preferable, 2-4 are preferable, and 3 is especially preferable. Examples of the linear monovalent unsaturated hydrocarbon group include a vinyl group, a propenyl group (allyl group), and a butynyl group. Examples of the branched monovalent unsaturated hydrocarbon group include a 1-methylpropenyl group and a 2-methylpropenyl group.
Among the above, the unsaturated hydrocarbon group is particularly preferably a propenyl group.

脂肪族環式基としては、単環式基であってもよく、多環式基であってもよい。その炭素数は3〜30であることが好ましく、5〜30であることがより好ましく、5〜20がさらに好ましく、6〜15が特に好ましく、6〜12が最も好ましい。
脂肪族環式基が、その環構造中にヘテロ原子を含む置換基を含まない場合は、脂肪族環式基としては、多環式基が好ましく、ポリシクロアルカンから1個以上の水素原子を除いた基が好ましく、アダマンタンから1個以上の水素原子を除いた基が最も好ましい。
脂肪族環式基が、その環構造中にヘテロ原子を含む置換基を含むものである場合、該ヘテロ原子を含む置換基としては、−O−、−C(=O)−O−、−S−、−S(=O)−、−S(=O)−O−が好ましい。かかる脂肪族環式基の具体例としては、たとえば下記式(L1)〜(L6)、(S1)〜(S4)で表される基等が挙げられる。
The aliphatic cyclic group may be a monocyclic group or a polycyclic group. The number of carbon atoms is preferably 3 to 30, more preferably 5 to 30, further preferably 5 to 20, particularly preferably 6 to 15, and most preferably 6 to 12.
When the aliphatic cyclic group does not contain a substituent containing a hetero atom in the ring structure, the aliphatic cyclic group is preferably a polycyclic group, and has one or more hydrogen atoms from the polycycloalkane. Excluded groups are preferred, and most preferred are groups in which one or more hydrogen atoms have been removed from adamantane.
When the aliphatic cyclic group includes a substituent containing a hetero atom in the ring structure, examples of the substituent containing a hetero atom include —O—, —C (═O) —O—, —S—. , —S (═O) 2 — and —S (═O) 2 —O— are preferable. Specific examples of the aliphatic cyclic group include groups represented by the following formulas (L1) to (L6) and (S1) to (S4).

Figure 0006006928
[式中、Q”は炭素数1〜5のアルキレン基、−O−、−S−、−O−R94−または−S−R95−であり、R94およびR95はそれぞれ独立に炭素数1〜5のアルキレン基であり、mは0または1の整数である。]
Figure 0006006928
[Wherein, Q ″ is an alkylene group having 1 to 5 carbon atoms, —O—, —S—, —O—R 94 — or —S—R 95 —, wherein R 94 and R 95 are each independently carbon. An alkylene group of 1 to 5 and m is an integer of 0 or 1.]

式中、Q”、R94およびR95におけるアルキレン基としては、それぞれ、前記R91〜R93におけるアルキレン基と同様のものが挙げられる。
これらの脂肪族環式基は、その環構造を構成する炭素原子に結合した水素原子の一部が置換基で置換されていてもよい。該置換基としては、たとえばアルキル基、アルコキシ基、ハロゲン原子、ハロゲン化アルキル基、水酸基、酸素原子(=O)等が挙げられる。
前記アルキル基としては、炭素数1〜5のアルキル基が好ましく、メチル基、エチル基、プロピル基、n−ブチル基、tert−ブチル基であることが特に好ましい。
前記アルコキシ基、ハロゲン原子はそれぞれ前記Rが脂肪族炭化水素基であるときの当該脂肪族炭化水素基の水素原子の一部または全部を置換する置換基として挙げたものと同様のものが挙げられる。
In the formula, examples of the alkylene group for Q ″, R 94 and R 95 include the same alkylene groups as those described above for R 91 to R 93 .
In these aliphatic cyclic groups, a part of hydrogen atoms bonded to carbon atoms constituting the ring structure may be substituted with a substituent. Examples of the substituent include an alkyl group, an alkoxy group, a halogen atom, a halogenated alkyl group, a hydroxyl group, and an oxygen atom (═O).
As said alkyl group, a C1-C5 alkyl group is preferable, and it is especially preferable that they are a methyl group, an ethyl group, a propyl group, n-butyl group, and a tert- butyl group.
Examples of the alkoxy group and the halogen atom are the same as those exemplified as the substituent for substituting part or all of the hydrogen atoms of the aliphatic hydrocarbon group when R x is an aliphatic hydrocarbon group. It is done.

上記のなかでも、かかるRとしては、置換基を有していてもよい環式基であることが好ましい。該環式基は、置換基を有していてもよい芳香族炭化水素基であってもよく、置換基を有していてもよい脂肪族環式基であってもよく、置換基を有していてもよい脂肪族環式基であることが好ましい。
前記芳香族炭化水素基としては、置換基を有していてもよいナフチル基、または置換基を有していてもよいフェニル基が好ましい。
置換基を有していてもよい脂肪族環式基としては、置換基を有していてもよい多環式の脂肪族環式基が好ましい。該多環式の脂肪族環式基としては、前記ポリシクロアルカンから1個以上の水素原子を除いた基、前記(L2)〜(L6)、(S3)〜(S4)で表される基等が好ましい。
Among the above, R X is preferably a cyclic group which may have a substituent. The cyclic group may be an aromatic hydrocarbon group which may have a substituent, an aliphatic cyclic group which may have a substituent, or a substituent. It is preferably an aliphatic cyclic group that may be used.
The aromatic hydrocarbon group is preferably a naphthyl group which may have a substituent or a phenyl group which may have a substituent.
As the aliphatic cyclic group which may have a substituent, a polycyclic aliphatic cyclic group which may have a substituent is preferable. Examples of the polycyclic aliphatic cyclic group include groups obtained by removing one or more hydrogen atoms from the polycycloalkane, and groups represented by the above (L2) to (L6) and (S3) to (S4). Etc. are preferred.

また、Rは、リソグラフィー特性、レジストパターン形状がより向上することから、極性部位を有するものが特に好ましい。
極性部位を有するものとしては、たとえば、上述したRの脂肪族環式基を構成する炭素原子の一部がヘテロ原子を含む置換基、すなわち、−O−、−C(=O)−O−、−C(=O)−、−O−C(=O)−O−、−C(=O)−NH−、−NH−(Hがアルキル基、アシル基等の置換基で置換されていてもよい)、−S−、−S(=O)−、−S(=O)−O−等、で置換されたものが挙げられる。
Also, R X, since the lithography properties, resist pattern shape is further improved, which has a polar moiety is particularly preferred.
As having a polar moiety, for example, substituted groups in which some of the carbon atoms constituting the aliphatic cyclic group of the above-mentioned R X includes a heteroatom, i.e., -O -, - C (= O) -O -, -C (= O)-, -O-C (= O) -O-, -C (= O) -NH-, -NH- (H is substituted with a substituent such as an alkyl group or an acyl group. may be), - S -, - S (= O) 2 -, - S (= O) 2 -O- , etc., in include those substituted.

上記のなかでも、R”は、置換基としてR−Q−を有することが好ましい。この場合、R”としては、R−Q−Y−[式中、QおよびRは前記と同じであり、Yは置換基を有していてもよい炭素数1〜4のアルキレン基または置換基を有していてもよい炭素数1〜4のフッ素化アルキレン基である。]で表される基が好ましい。
−Q−Y−で表される基において、Yのアルキレン基としては、前記Qで挙げたアルキレン基のうち炭素数1〜4のものと同様のものが挙げられる。
のフッ素化アルキレン基としては、該アルキレン基の水素原子の一部または全部がフッ素原子で置換された基が挙げられる。
として、具体的には、−CF−、−CFCF−、−CFCFCF−、−CF(CF)CF−、−CF(CFCF)−、−C(CF−、−CFCFCFCF−、−CF(CF)CFCF−、−CFCF(CF)CF−、−CF(CF)CF(CF)−、−C(CFCF−、−CF(CFCF)CF−、−CF(CFCFCF)−、−C(CF)(CFCF)−;−CHF−、−CHCF−、−CHCHCF−、−CHCFCF−、−CH(CF)CH−、−CH(CFCF)−、−C(CH)(CF)−、−CHCHCHCF−、−CHCHCFCF−、−CH(CF)CHCH−、−CHCH(CF)CH−、−CH(CF)CH(CF)−、−C(CFCH−;−CH−、−CHCH−、−CHCHCH−、−CH(CH)CH−、−CH(CHCH)−、−C(CH−、−CHCHCHCH−、−CH(CH)CHCH−、−CHCH(CH)CH−、−CH(CH)CH(CH)−、−C(CHCH−、−CH(CHCH)CH−、−CH(CHCHCH)−、−C(CH)(CHCH)−等が挙げられる。
Among the above, R 4 ″ preferably has R X -Q 1- as a substituent. In this case, R 4 ″ has R X -Q 1 -Y 1- [wherein Q 1 and R X is the same as above, and Y 1 is an optionally substituted alkylene group having 1 to 4 carbon atoms or an optionally substituted fluorinated alkylene group having 1 to 4 carbon atoms. is there. ] Is preferable.
In the group represented by R X —Q 1 —Y 1 —, the alkylene group for Y 1 includes the same alkylene groups as those described above for Q 1 having 1 to 4 carbon atoms.
Examples of the fluorinated alkylene group for Y 1 include groups in which some or all of the hydrogen atoms of the alkylene group have been substituted with fluorine atoms.
As Y 1, specifically, -CF 2 -, - CF 2 CF 2 -, - CF 2 CF 2 CF 2 -, - CF (CF 3) CF 2 -, - CF (CF 2 CF 3) -, -C (CF 3) 2 -, - CF 2 CF 2 CF 2 CF 2 -, - CF (CF 3) CF 2 CF 2 -, - CF 2 CF (CF 3) CF 2 -, - CF (CF 3) CF (CF 3 ) —, —C (CF 3 ) 2 CF 2 —, —CF (CF 2 CF 3 ) CF 2 —, —CF (CF 2 CF 2 CF 3 ) —, —C (CF 3 ) (CF 2 CF 3) -; - CHF -, - CH 2 CF 2 -, - CH 2 CH 2 CF 2 -, - CH 2 CF 2 CF 2 -, - CH (CF 3) CH 2 -, - CH (CF 2 CF 3) -, - C ( CH 3) (CF 3) -, - CH 2 CH 2 CH 2 CF 2 -, - C H 2 CH 2 CF 2 CF 2 —, —CH (CF 3 ) CH 2 CH 2 —, —CH 2 CH (CF 3 ) CH 2 —, —CH (CF 3 ) CH (CF 3 ) —, —C ( CF 3) 2 CH 2 -; - CH 2 -, - CH 2 CH 2 -, - CH 2 CH 2 CH 2 -, - CH (CH 3) CH 2 -, - CH (CH 2 CH 3) -, - C (CH 3) 2 -, - CH 2 CH 2 CH 2 CH 2 -, - CH (CH 3) CH 2 CH 2 -, - CH 2 CH (CH 3) CH 2 -, - CH (CH 3) CH (CH 3) -, - C (CH 3) 2 CH 2 -, - CH (CH 2 CH 3) CH 2 -, - CH (CH 2 CH 2 CH 3) -, - C (CH 3) (CH 2 CH 3 ) — and the like.

としては、フッ素化アルキレン基が好ましく、特に、隣接する硫黄原子に結合する炭素原子がフッ素化されているフッ素化アルキレン基が好ましい。このようなフッ素化アルキレン基としては、−CF−、−CFCF−、−CFCFCF−、−CF(CF)CF−、−CFCFCFCF−、−CF(CF)CFCF−、−CFCF(CF)CF−、−CF(CF)CF(CF)−、−C(CFCF−、−CF(CFCF)CF−;−CHCF−、−CHCHCF−、−CHCFCF−;−CHCHCHCF−、−CHCHCFCF−、−CHCFCFCF−等を挙げることができる。
これらの中でも、−CF−、−CFCF−、−CFCFCF−、又はCHCFCF−が好ましく、−CF−、−CFCF−又は−CFCFCF−がより好ましく、−CF−が特に好ましい。
Y 1 is preferably a fluorinated alkylene group, and particularly preferably a fluorinated alkylene group in which the carbon atom bonded to the adjacent sulfur atom is fluorinated. Examples of such fluorinated alkylene group, -CF 2 -, - CF 2 CF 2 -, - CF 2 CF 2 CF 2 -, - CF (CF 3) CF 2 -, - CF 2 CF 2 CF 2 CF 2 -, - CF (CF 3) CF 2 CF 2 -, - CF 2 CF (CF 3) CF 2 -, - CF (CF 3) CF (CF 3) -, - C (CF 3) 2 CF 2 -, -CF (CF 2 CF 3) CF 2 -; - CH 2 CF 2 -, - CH 2 CH 2 CF 2 -, - CH 2 CF 2 CF 2 -; - CH 2 CH 2 CH 2 CF 2 -, - CH 2 CH 2 CF 2 CF 2 —, —CH 2 CF 2 CF 2 CF 2 — and the like can be mentioned.
Of these, -CF 2 -, - CF 2 CF 2 -, - CF 2 CF 2 CF 2 -, or CH 2 CF 2 CF 2 - is preferable, -CF 2 -, - CF 2 CF 2 - or -CF 2 CF 2 CF 2 - is more preferable, -CF 2 - is particularly preferred.

前記アルキレン基またはフッ素化アルキレン基は、置換基を有していてもよい。アルキレン基またはフッ素化アルキレン基が「置換基を有する」とは、当該アルキレン基またはフッ素化アルキレン基における水素原子またはフッ素原子の一部または全部が、水素原子およびフッ素原子以外の原子または基で置換されていることを意味する。
アルキレン基またはフッ素化アルキレン基が有していてもよい置換基としては、炭素数1〜4のアルキル基、炭素数1〜4のアルコキシ基、水酸基等が挙げられる。
The alkylene group or fluorinated alkylene group may have a substituent. An alkylene group or a fluorinated alkylene group has a “substituent” means that part or all of the hydrogen atom or fluorine atom in the alkylene group or fluorinated alkylene group is substituted with an atom or group other than a hydrogen atom and a fluorine atom. Means that
Examples of the substituent that the alkylene group or fluorinated alkylene group may have include an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms, an alkoxy group having 1 to 4 carbon atoms, and a hydroxyl group.

前記式(b−2)中のR”としては、上記式(b−1)におけるR”と同様のものが挙げられる。 "The, R 4 in the above formula (b-1)" R 4 in the formula (b-2) include the same as.

式(b−1)、(b−2)で表されるオニウム塩系酸発生剤の具体例としては、ジフェニルヨードニウムのトリフルオロメタンスルホネートまたはノナフルオロブタンスルホネート、ビス(4−tert−ブチルフェニル)ヨードニウムのトリフルオロメタンスルホネートまたはノナフルオロブタンスルホネート、トリフェニルスルホニウムのトリフルオロメタンスルホネート、そのヘプタフルオロプロパンスルホネートまたはそのノナフルオロブタンスルホネート、トリ(4−メチルフェニル)スルホニウムのトリフルオロメタンスルホネート、そのヘプタフルオロプロパンスルホネートまたはそのノナフルオロブタンスルホネート、ジメチル(4−ヒドロキシナフチル)スルホニウムのトリフルオロメタンスルホネート、そのヘプタフルオロプロパンスルホネートまたはそのノナフルオロブタンスルホネート、モノフェニルジメチルスルホニウムのトリフルオロメタンスルホネート、そのヘプタフルオロプロパンスルホネートまたはそのノナフルオロブタンスルホネート;ジフェニルモノメチルスルホニウムのトリフルオロメタンスルホネート、そのヘプタフルオロプロパンスルホネートまたはそのノナフルオロブタンスルホネート、(4−メチルフェニル)ジフェニルスルホニウムのトリフルオロメタンスルホネート、そのヘプタフルオロプロパンスルホネートまたはそのノナフルオロブタンスルホネート、(4−メトキシフェニル)ジフェニルスルホニウムのトリフルオロメタンスルホネート、そのヘプタフルオロプロパンスルホネートまたはそのノナフルオロブタンスルホネート、トリ(4−tert−ブチル)フェニルスルホニウムのトリフルオロメタンスルホネート、そのヘプタフルオロプロパンスルホネートまたはそのノナフルオロブタンスルホネート、ジフェニル(1−(4−メトキシ)ナフチル)スルホニウムのトリフルオロメタンスルホネート、そのヘプタフルオロプロパンスルホネートまたはそのノナフルオロブタンスルホネート、ジ(1−ナフチル)フェニルスルホニウムのトリフルオロメタンスルホネート、そのヘプタフルオロプロパンスルホネートまたはそのノナフルオロブタンスルホネート;1−フェニルテトラヒドロチオフェニウムのトリフルオロメタンスルホネート、そのヘプタフルオロプロパンスルホネートまたはそのノナフルオロブタンスルホネート;1−(4−メチルフェニル)テトラヒドロチオフェニウムのトリフルオロメタンスルホネート、そのヘプタフルオロプロパンスルホネートまたはそのノナフルオロブタンスルホネート;1−(3,5−ジメチル−4−ヒドロキシフェニル)テトラヒドロチオフェニウムのトリフルオロメタンスルホネート、そのヘプタフルオロプロパンスルホネートまたはそのノナフルオロブタンスルホネート;1−(4−メトキシナフタレン−1−イル)テトラヒドロチオフェニウムのトリフルオロメタンスルホネート、そのヘプタフルオロプロパンスルホネートまたはそのノナフルオロブタンスルホネート;1−(4−エトキシナフタレン−1−イル)テトラヒドロチオフェニウムのトリフルオロメタンスルホネート、そのヘプタフルオロプロパンスルホネートまたはそのノナフルオロブタンスルホネート;1−(4−n−ブトキシナフタレン−1−イル)テトラヒドロチオフェニウムのトリフルオロメタンスルホネート、そのヘプタフルオロプロパンスルホネートまたはそのノナフルオロブタンスルホネート;1−フェニルテトラヒドロチオピラニウムのトリフルオロメタンスルホネート、そのヘプタフルオロプロパンスルホネートまたはそのノナフルオロブタンスルホネート;1−(4−ヒドロキシフェニル)テトラヒドロチオピラニウムのトリフルオロメタンスルホネート、そのヘプタフルオロプロパンスルホネートまたはそのノナフルオロブタンスルホネート;1−(3,5−ジメチル−4−ヒドロキシフェニル)テトラヒドロチオピラニウムのトリフルオロメタンスルホネート、そのヘプタフルオロプロパンスルホネートまたはそのノナフルオロブタンスルホネート;1−(4−メチルフェニル)テトラヒドロチオピラニウムのトリフルオロメタンスルホネート、そのヘプタフルオロプロパンスルホネートまたはそのノナフルオロブタンスルホネート等が挙げられる。   Specific examples of the onium salt acid generators represented by formulas (b-1) and (b-2) include diphenyliodonium trifluoromethanesulfonate or nonafluorobutanesulfonate, bis (4-tert-butylphenyl) iodonium. Trifluoromethane sulfonate or nonafluorobutane sulfonate, triphenylsulfonium trifluoromethane sulfonate, its heptafluoropropane sulfonate or its nonafluorobutane sulfonate, tri (4-methylphenyl) sulfonium trifluoromethane sulfonate, its heptafluoropropane sulfonate or its Nonafluorobutanesulfonate, dimethyl (4-hydroxynaphthyl) sulfonium trifluoromethanesulfonate, its heptaful Lopropanesulfonate or its nonafluorobutanesulfonate, trifluoromethanesulfonate of monophenyldimethylsulfonium, its heptafluoropropanesulfonate or its nonafluorobutanesulfonate; trifluoromethanesulfonate of diphenylmonomethylsulfonium, its heptafluoropropanesulfonate or its nonafluorobutanesulfonate (4-methylphenyl) diphenylsulfonium trifluoromethanesulfonate, its heptafluoropropane sulfonate or its nonafluorobutane sulfonate, (4-methoxyphenyl) diphenylsulfonium trifluoromethanesulfonate, its heptafluoropropane sulfonate or its nonafluorobutane sulfonate , Trifluoromethanesulfonate of tri (4-tert-butyl) phenylsulfonium, its heptafluoropropanesulfonate or its nonafluorobutanesulfonate, trifluoromethanesulfonate of diphenyl (1- (4-methoxy) naphthyl) sulfonium, its heptafluoropropane Sulfonate or its nonafluorobutane sulfonate, di (1-naphthyl) phenyl sulphonium trifluoromethane sulphonate, its heptafluoropropane sulphonate or its nonafluorobutane sulphonate; 1-phenyltetrahydrothiophenium trifluoromethane sulphonate, its heptafluoropropane sulphonate Or nonafluorobutanesulfonate thereof; 1- (4-methylphenyl) ) Tetrahydrothiophenium trifluoromethanesulfonate, its heptafluoropropane sulfonate or its nonafluorobutane sulfonate; 1- (3,5-dimethyl-4-hydroxyphenyl) tetrahydrothiophenium trifluoromethanesulfonate, its heptafluoropropane sulfonate 1- (4-methoxynaphthalen-1-yl) tetrahydrothiophenium trifluoromethanesulfonate, its heptafluoropropanesulfonate or its nonafluorobutanesulfonate; 1- (4-ethoxynaphthalene-1- Yl) tetrahydrothiophenium trifluoromethanesulfonate, its heptafluoropropanesulfonate or its nonaflu 1- (4-n-butoxynaphthalen-1-yl) tetrahydrothiophenium trifluoromethanesulfonate, its heptafluoropropanesulfonate or its nonafluorobutanesulfonate; 1-phenyltetrahydrothiopyranium trifluoromethanesulfonate , Its heptafluoropropane sulfonate or its nonafluorobutane sulfonate; 1- (4-hydroxyphenyl) tetrahydrothiopyranium trifluoromethane sulfonate, its heptafluoropropane sulfonate or its nonafluorobutane sulfonate; 1- (3,5-dimethyl -4-Hydroxyphenyl) tetrahydrothiopyranium trifluoromethanesulfonate, its heptafluoropropanes Honeto or nonafluorobutanesulfonate; 1- (4-methylphenyl) trifluoromethanesulfonate tetrahydrothiophenium Pila chloride, heptafluoropropane sulfonate or its nonafluorobutane sulfonate, and the like.

また、これらのオニウム塩のアニオン部を、メタンスルホネート、n−プロパンスルホネート、n−ブタンスルホネート、n−オクタンスルホネート、1−アダマンタンスルホネート、2−ノルボルナンスルホネート等のアルキルスルホネート;d−カンファー−10−スルホネート、ベンゼンスルホネート、パーフルオロベンゼンスルホネート、p−トルエンスルホネート等のスルホネートにそれぞれ置き換えたオニウム塩も用いることができる。   In addition, the anion portion of these onium salts may be substituted with alkyl sulfonates such as methanesulfonate, n-propanesulfonate, n-butanesulfonate, n-octanesulfonate, 1-adamantanesulfonate, 2-norbornanesulfonate; d-camphor-10-sulfonate. Further, onium salts substituted with sulfonates such as benzenesulfonate, perfluorobenzenesulfonate, and p-toluenesulfonate can also be used.

また、これらのオニウム塩のアニオン部を、下記式(b1)〜(b8)のいずれかで表されるアニオンに置き換えたオニウム塩も用いることができる。   Moreover, the onium salt which replaced the anion part of these onium salts by the anion represented by either of following formula (b1)-(b8) can also be used.

Figure 0006006928
Figure 0006006928

Figure 0006006928
[式中、yは1〜3の整数であり、q1〜q2はそれぞれ独立に1〜5の整数であり、q3は1〜12の整数であり、t3は1〜3の整数であり、r1〜r2はそれぞれ独立に0〜3の整数であり、iは1〜20の整数であり、R50は置換基であり、m1〜m5はそれぞれ独立に0または1であり、v0〜v5はそれぞれ独立に0〜3の整数であり、w1〜w5はそれぞれ独立に0〜3の整数であり、Q”は前記と同じである。]
Figure 0006006928
[Wherein y is an integer of 1 to 3, q1 and q2 are each independently an integer of 1 to 5, q3 is an integer of 1 to 12, t3 is an integer of 1 to 3, and r1 ~ R2 is each independently an integer of 0 to 3, i is an integer of 1 to 20, R 50 is a substituent, m1 to m5 are each independently 0 or 1, and v0 to v5 are each Are independently an integer of 0 to 3, w1 to w5 are each independently an integer of 0 to 3, and Q ″ is the same as above.]

50の置換基としては、前記Rにおいて、脂肪族炭化水素基が有していてもよい置換基、芳香族炭化水素基が有していてもよい置換基として挙げたものと同様のものが挙げられる。
50に付された符号(r1〜r2、w1〜w5)が2以上の整数である場合、当該化合物中の複数のR50はそれぞれ同じであってもよく、異なっていてもよい。
As the substituent of R 50, the same as those described as the substituent that the aliphatic hydrocarbon group may have and the substituent that the aromatic hydrocarbon group may have in the above R X Is mentioned.
Code (r1 and r2, w1 to w5) attached to R 50 when it is 2 or more integer, a plurality of R 50 in the compound may be the same, respectively, it may be different.

また、オニウム塩系酸発生剤としては、前記一般式(b−1)又は(b−2)において、アニオン部(R”SO )を下記一般式(b−3)又は(b−4)で表されるアニオンに置き換えたオニウム塩系酸発生剤も用いることができる(カチオン部は前記式(b−1)又は(b−2)におけるカチオン部と同様)。 As the onium salt-based acid generator, in the general formula (b-1) or (b-2), the anion moiety (R 4 "SO 3 -) of the following general formula (b-3) or (b- An onium salt acid generator substituted with the anion represented by 4) can also be used (the cation moiety is the same as the cation moiety in the formula (b-1) or (b-2)).

Figure 0006006928
[式中、X”は、少なくとも1つの水素原子がフッ素原子で置換された炭素数2〜6のアルキレン基を表し;Y”、Z”は、それぞれ独立に、少なくとも1つの水素原子がフッ素原子で置換された炭素数1〜10のアルキル基を表す。]
Figure 0006006928
[Wherein X ″ represents an alkylene group having 2 to 6 carbon atoms in which at least one hydrogen atom is substituted with a fluorine atom; Y ″ and Z ″ each independently represent at least one hydrogen atom as a fluorine atom; Represents an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms and substituted with

X”は、少なくとも1つの水素原子がフッ素原子で置換された直鎖状または分岐鎖状のアルキレン基であり、該アルキレン基の炭素数は2〜6であり、好ましくは炭素数3〜5、最も好ましくは炭素数3である。
Y”、Z”は、それぞれ独立に、少なくとも1つの水素原子がフッ素原子で置換された直鎖状または分岐鎖状のアルキル基であり、該アルキル基の炭素数は1〜10であり、好ましくは炭素数1〜7、より好ましくは炭素数1〜3である。
X”のアルキレン基の炭素数またはY”、Z”のアルキル基の炭素数は、上記炭素数の範囲内において、レジスト溶媒への溶解性も良好である等の理由により、小さいほど好ましい。
また、X”のアルキレン基またはY”、Z”のアルキル基において、フッ素原子で置換されている水素原子の数が多いほど、酸の強度が強くなり、また200nm以下の高エネルギー光や電子線に対する透明性が向上するので好ましい。
該アルキレン基またはアルキル基中のフッ素原子の割合、すなわちフッ素化率は、好ましくは70〜100%、さらに好ましくは90〜100%であり、最も好ましくは、全ての水素原子がフッ素原子で置換されたパーフルオロアルキレン基またはパーフルオロアルキル基である。
X ″ is a linear or branched alkylene group in which at least one hydrogen atom is substituted with a fluorine atom, and the alkylene group has 2 to 6 carbon atoms, preferably 3 to 5 carbon atoms, Most preferably, it has 3 carbon atoms.
Y ″ and Z ″ are each independently a linear or branched alkyl group in which at least one hydrogen atom is substituted with a fluorine atom, and the alkyl group has 1 to 10 carbon atoms, preferably Has 1 to 7 carbon atoms, more preferably 1 to 3 carbon atoms.
The carbon number of the alkylene group of X ″ or the carbon number of the alkyl group of Y ″ and Z ″ is preferably as small as possible because the solubility in the resist solvent is good within the above carbon number range.
In addition, in the alkylene group of X ″ or the alkyl group of Y ″ and Z ″, as the number of hydrogen atoms substituted with fluorine atoms increases, the strength of the acid increases, and high-energy light or electron beam of 200 nm or less This is preferable because the transparency to the surface is improved.
The proportion of fluorine atoms in the alkylene group or alkyl group, that is, the fluorination rate is preferably 70 to 100%, more preferably 90 to 100%, and most preferably all hydrogen atoms are substituted with fluorine atoms. A perfluoroalkylene group or a perfluoroalkyl group.

また、オニウム塩系酸発生剤としては、前記一般式(b−1)又は(b−2)において、アニオン部(R”SO )を、R−COO[式中、Rはアルキル基又はフッ素化アルキル基である。]に置き換えたオニウム塩系酸発生剤も用いることができる(カチオン部は前記式(b−1)又は(b−2)におけるカチオン部と同様)。
前記式中、Rとしては、前記R”と同様のものが挙げられる。
上記「R−COO」の具体例としては、たとえばトリフルオロ酢酸イオン、酢酸イオン、1−アダマンタンカルボン酸イオン等が挙げられる。
As the onium salt-based acid generator, in the general formula (b-1) or (b-2), anion - a, R h -COO (R 4 " SO 3) - [ wherein, R h Is an alkyl group or a fluorinated alkyl group.] An onium salt-based acid generator substituted with a cation moiety can also be used (the cation moiety is the same as the cation moiety in the formula (b-1) or (b-2)).
In the above formula, examples of R h include the same as R 4 ″.
Specific examples of the “R h —COO ” include trifluoroacetate ions, acetate ions, 1-adamantanecarboxylate ions and the like.

また、オニウム塩系酸発生剤として、上記式(c−3)又は(c−4)で表されるカチオンをカチオン部に有するスルホニウム塩を用いることもできる。   Moreover, the sulfonium salt which has the cation represented by the said Formula (c-3) or (c-4) in a cation part as an onium salt type acid generator can also be used.

式(c−3)〜(c−4)で表されるカチオンをカチオン部に有するスルホニウム塩のアニオン部は、特に限定されず、これまで提案されているオニウム塩系酸発生剤のアニオン部と同様のものであってよい。かかるアニオン部としては、たとえば上記一般式(b−1)または(b−2)で表されるオニウム塩系酸発生剤のアニオン部(R”SO )等のフッ素化アルキルスルホン酸イオン;上記一般式(b−3)又は(b−4)で表されるアニオン、前記式(b1)〜(b8)のいずれかで表されるアニオン等が挙げられる。 The anion part of the sulfonium salt having cations represented by the formulas (c-3) to (c-4) in the cation part is not particularly limited, It may be similar. Examples of the anion moiety include fluorinated alkyl sulfonate ions such as the anion moiety (R 4 ″ SO 3 ) of the onium salt acid generator represented by the general formula (b-1) or (b-2). An anion represented by the general formula (b-3) or (b-4), an anion represented by any one of the formulas (b1) to (b8), and the like.

本明細書において、オキシムスルホネート系酸発生剤とは、下記一般式(B−1)で表される基を少なくとも1つ有する化合物であって、放射線の照射(露光)によって酸を発生する特性を有するものである。この様なオキシムスルホネート系酸発生剤は、化学増幅型レジスト組成物用として多用されているので、任意に選択して用いることができる。   In this specification, the oxime sulfonate acid generator is a compound having at least one group represented by the following general formula (B-1), and has a property of generating an acid upon irradiation (exposure) of radiation. It is what you have. Such oxime sulfonate-based acid generators are frequently used for chemically amplified resist compositions, and can be arbitrarily selected and used.

Figure 0006006928
(式(B−1)中、R31、R32はそれぞれ独立に有機基を表す。)
Figure 0006006928
(In formula (B-1), R 31 and R 32 each independently represents an organic group.)

31、R32の有機基は、炭素原子を含む基であり、炭素原子以外の原子(たとえば水素原子、酸素原子、窒素原子、硫黄原子、ハロゲン原子(フッ素原子、塩素原子等)等)を有していてもよい。
31の有機基としては、直鎖状、分岐鎖状若しくは環状のアルキル基またはアリール基が好ましい。これらのアルキル基、アリール基は置換基を有していてもよい。該置換基としては、特に制限はなく、たとえばフッ素原子、炭素数1〜6の直鎖状、分岐鎖状または環状のアルキル基等が挙げられる。ここで、「置換基を有する」とは、アルキル基またはアリール基の水素原子の一部若しくは全部が置換基で置換されていることを意味する。
アルキル基としては、炭素数1〜20が好ましく、炭素数1〜10がより好ましく、炭素数1〜8がさらに好ましく、炭素数1〜6が特に好ましく、炭素数1〜4が最も好ましい。アルキル基としては、特に、部分的または完全にハロゲン化されたアルキル基(以下、ハロゲン化アルキル基ということがある)が好ましい。なお、部分的にハロゲン化されたアルキル基とは、水素原子の一部がハロゲン原子で置換されたアルキル基を意味し、完全にハロゲン化されたアルキル基とは、水素原子の全部がハロゲン原子で置換されたアルキル基を意味する。ハロゲン原子としては、フッ素原子、塩素原子、臭素原子、ヨウ素原子等が挙げられ、特にフッ素原子が好ましい。すなわち、ハロゲン化アルキル基は、フッ素化アルキル基であることが好ましい。
アリール基は、炭素数4〜20が好ましく、炭素数4〜10がより好ましく、炭素数6〜10が最も好ましい。アリール基としては、特に、部分的または完全にハロゲン化されたアリール基が好ましい。なお、部分的にハロゲン化されたアリール基とは、水素原子の一部がハロゲン原子で置換されたアリール基を意味し、完全にハロゲン化されたアリール基とは、水素原子の全部がハロゲン原子で置換されたアリール基を意味する。
31としては、特に、置換基を有さない炭素数1〜4のアルキル基、または炭素数1〜4のフッ素化アルキル基が好ましい。
32の有機基としては、直鎖状、分岐鎖状若しくは環状のアルキル基、アリール基またはシアノ基が好ましい。R32のアルキル基、アリール基としては、前記R31で挙げたアルキル基、アリール基と同様のものが挙げられる。
32としては、特に、シアノ基、置換基を有さない炭素数1〜8のアルキル基、または炭素数1〜8のフッ素化アルキル基が好ましい。
The organic groups of R 31 and R 32 are groups containing carbon atoms, and atoms other than carbon atoms (for example, hydrogen atoms, oxygen atoms, nitrogen atoms, sulfur atoms, halogen atoms (fluorine atoms, chlorine atoms, etc.), etc.) You may have.
As the organic group for R 31, a linear, branched, or cyclic alkyl group or aryl group is preferable. These alkyl groups and aryl groups may have a substituent. There is no restriction | limiting in particular as this substituent, For example, a fluorine atom, a C1-C6 linear, branched or cyclic alkyl group etc. are mentioned. Here, “having a substituent” means that part or all of the hydrogen atoms of the alkyl group or aryl group are substituted with a substituent.
As an alkyl group, C1-C20 is preferable, C1-C10 is more preferable, C1-C8 is more preferable, C1-C6 is especially preferable, and C1-C4 is the most preferable. As the alkyl group, a partially or completely halogenated alkyl group (hereinafter sometimes referred to as a halogenated alkyl group) is particularly preferable. The partially halogenated alkyl group means an alkyl group in which a part of hydrogen atoms is substituted with a halogen atom, and the fully halogenated alkyl group means that all of the hydrogen atoms are halogen atoms. Means an alkyl group substituted with Examples of the halogen atom include a fluorine atom, a chlorine atom, a bromine atom, and an iodine atom, and a fluorine atom is particularly preferable. That is, the halogenated alkyl group is preferably a fluorinated alkyl group.
The aryl group preferably has 4 to 20 carbon atoms, more preferably 4 to 10 carbon atoms, and most preferably 6 to 10 carbon atoms. As the aryl group, a partially or completely halogenated aryl group is particularly preferable. The partially halogenated aryl group means an aryl group in which a part of hydrogen atoms is substituted with a halogen atom, and the fully halogenated aryl group means that all of the hydrogen atoms are halogen atoms. Means an aryl group substituted with.
R 31 is particularly preferably an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms having no substituent or a fluorinated alkyl group having 1 to 4 carbon atoms.
As the organic group for R 32, a linear, branched, or cyclic alkyl group, aryl group, or cyano group is preferable. As the alkyl group and aryl group for R 32, the same alkyl groups and aryl groups as those described above for R 31 can be used.
R 32 is particularly preferably a cyano group, an alkyl group having 1 to 8 carbon atoms having no substituent, or a fluorinated alkyl group having 1 to 8 carbon atoms.

オキシムスルホネート系酸発生剤として、さらに好ましいものとしては、下記一般式(B−2)または(B−3)で表される化合物が挙げられる。   More preferable examples of the oxime sulfonate-based acid generator include compounds represented by the following general formula (B-2) or (B-3).

Figure 0006006928
[式(B−2)中、R33は、シアノ基、置換基を有さないアルキル基またはハロゲン化アルキル基である。R34はアリール基である。R35は置換基を有さないアルキル基またはハロゲン化アルキル基である。]
Figure 0006006928
[In Formula (B-2), R 33 represents a cyano group, an alkyl group having no substituent, or a halogenated alkyl group. R 34 is an aryl group. R 35 represents an alkyl group having no substituent or a halogenated alkyl group. ]

Figure 0006006928
[式(B−3)中、R36はシアノ基、置換基を有さないアルキル基またはハロゲン化アルキル基である。R37は2または3価の芳香族炭化水素基である。R38は置換基を有さないアルキル基またはハロゲン化アルキル基である。p”は2または3である。]
Figure 0006006928
[In Formula (B-3), R 36 represents a cyano group, an alkyl group having no substituent, or a halogenated alkyl group. R 37 is a divalent or trivalent aromatic hydrocarbon group. R38 is an alkyl group having no substituent or a halogenated alkyl group. p ″ is 2 or 3.]

前記一般式(B−2)において、R33の置換基を有さないアルキル基またはハロゲン化アルキル基は、炭素数が1〜10であることが好ましく、炭素数1〜8がより好ましく、炭素数1〜6が最も好ましい。
33としては、ハロゲン化アルキル基が好ましく、フッ素化アルキル基がより好ましい。
33におけるフッ素化アルキル基は、アルキル基の水素原子が50%以上フッ素化されていることが好ましく、70%以上フッ素化されていることがより好ましく、90%以上フッ素化されていることが特に好ましい。
34のアリール基としては、フェニル基、ビフェニル(biphenyl)基、フルオレニル(fluorenyl)基、ナフチル基、アントリル(anthryl)基、フェナントリル基等の、芳香族炭化水素の環から水素原子を1つ除いた基、およびこれらの基の環を構成する炭素原子の一部が酸素原子、硫黄原子、窒素原子等のヘテロ原子で置換されたヘテロアリール基等が挙げられる。これらのなかでも、フルオレニル基が好ましい。
34のアリール基は、炭素数1〜10のアルキル基、ハロゲン化アルキル基、アルコキシ基等の置換基を有していてもよい。該置換基におけるアルキル基またはハロゲン化アルキル基は、炭素数が1〜8であることが好ましく、炭素数1〜4がさらに好ましい。また、該ハロゲン化アルキル基は、フッ素化アルキル基であることが好ましい。
35の置換基を有さないアルキル基またはハロゲン化アルキル基は、炭素数が1〜10であることが好ましく、炭素数1〜8がより好ましく、炭素数1〜6が最も好ましい。
35としては、ハロゲン化アルキル基が好ましく、フッ素化アルキル基がより好ましい。
35におけるフッ素化アルキル基は、アルキル基の水素原子が50%以上フッ素化されていることが好ましく、70%以上フッ素化されていることがより好ましく、90%以上フッ素化されていることが、発生する酸の強度が高まるため特に好ましい。最も好ましくは、水素原子が100%フッ素置換された完全フッ素化アルキル基である。
In the general formula (B-2), the alkyl group or halogenated alkyl group having no substituent of R 33 preferably has 1 to 10 carbon atoms, more preferably 1 to 8 carbon atoms, and carbon atoms. Numbers 1 to 6 are most preferable.
R 33 is preferably a halogenated alkyl group, more preferably a fluorinated alkyl group.
The fluorinated alkyl group for R 33 is preferably such that the hydrogen atom of the alkyl group is 50% or more fluorinated, more preferably 70% or more fluorinated, and 90% or more fluorinated. Particularly preferred.
As the aryl group of R 34 , one hydrogen atom is removed from an aromatic hydrocarbon ring such as a phenyl group, a biphenyl group, a fluorenyl group, a naphthyl group, an anthryl group, or a phenanthryl group. And a heteroaryl group in which a part of carbon atoms constituting the ring of these groups is substituted with a heteroatom such as an oxygen atom, a sulfur atom, or a nitrogen atom. Among these, a fluorenyl group is preferable.
The aryl group of R 34 may have a substituent such as an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms, a halogenated alkyl group, or an alkoxy group. The alkyl group or halogenated alkyl group in the substituent preferably has 1 to 8 carbon atoms, and more preferably 1 to 4 carbon atoms. The halogenated alkyl group is preferably a fluorinated alkyl group.
The alkyl group or halogenated alkyl group having no substituent of R 35 preferably has 1 to 10 carbon atoms, more preferably 1 to 8 carbon atoms, and most preferably 1 to 6 carbon atoms.
R 35 is preferably a halogenated alkyl group, more preferably a fluorinated alkyl group.
The fluorinated alkyl group for R 35 is preferably such that the hydrogen atom of the alkyl group is 50% or more fluorinated, more preferably 70% or more fluorinated, and 90% or more fluorinated. Particularly preferred is the strength of the acid generated. Most preferably, it is a fully fluorinated alkyl group in which a hydrogen atom is 100% fluorine-substituted.

前記一般式(B−3)において、R36の置換基を有さないアルキル基またはハロゲン化アルキル基としては、上記R33の置換基を有さないアルキル基またはハロゲン化アルキル基と同様のものが挙げられる。
37の2または3価の芳香族炭化水素基としては、上記R34のアリール基からさらに1または2個の水素原子を除いた基が挙げられる。
38の置換基を有さないアルキル基またはハロゲン化アルキル基としては、上記R35の置換基を有さないアルキル基またはハロゲン化アルキル基と同様のものが挙げられる。
p”は、好ましくは2である。
In the general formula (B-3), the alkyl group or halogenated alkyl group having no substituent for R 36 is the same as the alkyl group or halogenated alkyl group having no substituent for R 33. Is mentioned.
Examples of the divalent or trivalent aromatic hydrocarbon group for R 37 include groups obtained by further removing one or two hydrogen atoms from the aryl group for R 34 .
Examples of the alkyl group or halogenated alkyl group having no substituent of R 38 include the same alkyl groups or halogenated alkyl groups as those having no substituent of R 35 .
p ″ is preferably 2.

オキシムスルホネート系酸発生剤の具体例としては、α−(p−トルエンスルホニルオキシイミノ)−ベンジルシアニド、α−(p−クロロベンゼンスルホニルオキシイミノ)−ベンジルシアニド、α−(4−ニトロベンゼンスルホニルオキシイミノ)−ベンジルシアニド、α−(4−ニトロ−2−トリフルオロメチルベンゼンスルホニルオキシイミノ)−ベンジルシアニド、α−(ベンゼンスルホニルオキシイミノ)−4−クロロベンジルシアニド、α−(ベンゼンスルホニルオキシイミノ)−2,4−ジクロロベンジルシアニド、α−(ベンゼンスルホニルオキシイミノ)−2,6−ジクロロベンジルシアニド、α−(ベンゼンスルホニルオキシイミノ)−4−メトキシベンジルシアニド、α−(2−クロロベンゼンスルホニルオキシイミノ)−4−メトキシベンジルシアニド、α−(ベンゼンスルホニルオキシイミノ)−チエン−2−イルアセトニトリル、α−(4−ドデシルベンゼンスルホニルオキシイミノ)−ベンジルシアニド、α−[(p−トルエンスルホニルオキシイミノ)−4−メトキシフェニル]アセトニトリル、α−[(ドデシルベンゼンスルホニルオキシイミノ)−4−メトキシフェニル]アセトニトリル、α−(トシルオキシイミノ)−4−チエニルシアニド、α−(メチルスルホニルオキシイミノ)−1−シクロペンテニルアセトニトリル、α−(メチルスルホニルオキシイミノ)−1−シクロヘキセニルアセトニトリル、α−(メチルスルホニルオキシイミノ)−1−シクロヘプテニルアセトニトリル、α−(メチルスルホニルオキシイミノ)−1−シクロオクテニルアセトニトリル、α−(トリフルオロメチルスルホニルオキシイミノ)−1−シクロペンテニルアセトニトリル、α−(トリフルオロメチルスルホニルオキシイミノ)−シクロヘキシルアセトニトリル、α−(エチルスルホニルオキシイミノ)−エチルアセトニトリル、α−(プロピルスルホニルオキシイミノ)−プロピルアセトニトリル、α−(シクロヘキシルスルホニルオキシイミノ)−シクロペンチルアセトニトリル、α−(シクロヘキシルスルホニルオキシイミノ)−シクロヘキシルアセトニトリル、α−(シクロヘキシルスルホニルオキシイミノ)−1−シクロペンテニルアセトニトリル、α−(エチルスルホニルオキシイミノ)−1−シクロペンテニルアセトニトリル、α−(イソプロピルスルホニルオキシイミノ)−1−シクロペンテニルアセトニトリル、α−(n−ブチルスルホニルオキシイミノ)−1−シクロペンテニルアセトニトリル、α−(エチルスルホニルオキシイミノ)−1−シクロヘキセニルアセトニトリル、α−(イソプロピルスルホニルオキシイミノ)−1−シクロヘキセニルアセトニトリル、α−(n−ブチルスルホニルオキシイミノ)−1−シクロヘキセニルアセトニトリル、α−(メチルスルホニルオキシイミノ)−フェニルアセトニトリル、α−(メチルスルホニルオキシイミノ)−p−メトキシフェニルアセトニトリル、α−(トリフルオロメチルスルホニルオキシイミノ)−フェニルアセトニトリル、α−(トリフルオロメチルスルホニルオキシイミノ)−p−メトキシフェニルアセトニトリル、α−(エチルスルホニルオキシイミノ)−p−メトキシフェニルアセトニトリル、α−(プロピルスルホニルオキシイミノ)−p−メチルフェニルアセトニトリル、α−(メチルスルホニルオキシイミノ)−p−ブロモフェニルアセトニトリルなどが挙げられる。
また、特開平9−208554号公報(段落[0012]〜[0014]の[化18]〜[化19])に開示されているオキシムスルホネート系酸発生剤、国際公開第04/074242号パンフレット(65〜85頁目のExample1〜40)に開示されているオキシムスルホネート系酸発生剤も好適に用いることができる。
また、好適なものとして以下のものを例示することができる。
Specific examples of the oxime sulfonate acid generator include α- (p-toluenesulfonyloxyimino) -benzyl cyanide, α- (p-chlorobenzenesulfonyloxyimino) -benzyl cyanide, α- (4-nitrobenzenesulfonyloxy). Imino) -benzylcyanide, α- (4-nitro-2-trifluoromethylbenzenesulfonyloxyimino) -benzylcyanide, α- (benzenesulfonyloxyimino) -4-chlorobenzylcyanide, α- (benzenesulfonyl) Oxyimino) -2,4-dichlorobenzyl cyanide, α- (benzenesulfonyloxyimino) -2,6-dichlorobenzyl cyanide, α- (benzenesulfonyloxyimino) -4-methoxybenzyl cyanide, α- ( 2-Chlorobenzenesulfonyloxyimino) 4-methoxybenzylcyanide, α- (benzenesulfonyloxyimino) -thien-2-ylacetonitrile, α- (4-dodecylbenzenesulfonyloxyimino) -benzylcyanide, α-[(p-toluenesulfonyloxyimino) -4-methoxyphenyl] acetonitrile, α-[(dodecylbenzenesulfonyloxyimino) -4-methoxyphenyl] acetonitrile, α- (tosyloxyimino) -4-thienyl cyanide, α- (methylsulfonyloxyimino) -1-cyclo Pentenyl acetonitrile, α- (methylsulfonyloxyimino) -1-cyclohexenylacetonitrile, α- (methylsulfonyloxyimino) -1-cycloheptenylacetonitrile, α- (methylsulfonyloxyimino) -1-cyclooctene Acetonitrile, α- (trifluoromethylsulfonyloxyimino) -1-cyclopentenylacetonitrile, α- (trifluoromethylsulfonyloxyimino) -cyclohexylacetonitrile, α- (ethylsulfonyloxyimino) -ethylacetonitrile, α- (propyl Sulfonyloxyimino) -propylacetonitrile, α- (cyclohexylsulfonyloxyimino) -cyclopentylacetonitrile, α- (cyclohexylsulfonyloxyimino) -cyclohexylacetonitrile, α- (cyclohexylsulfonyloxyimino) -1-cyclopentenylacetonitrile, α- ( Ethylsulfonyloxyimino) -1-cyclopentenylacetonitrile, α- (isopropylsulfonyloxyimino) -1-cyclope Nthenyl acetonitrile, α- (n-butylsulfonyloxyimino) -1-cyclopentenylacetonitrile, α- (ethylsulfonyloxyimino) -1-cyclohexenylacetonitrile, α- (isopropylsulfonyloxyimino) -1-cyclohexenylacetonitrile , Α- (n-butylsulfonyloxyimino) -1-cyclohexenylacetonitrile, α- (methylsulfonyloxyimino) -phenylacetonitrile, α- (methylsulfonyloxyimino) -p-methoxyphenylacetonitrile, α- (trifluoro Methylsulfonyloxyimino) -phenylacetonitrile, α- (trifluoromethylsulfonyloxyimino) -p-methoxyphenylacetonitrile, α- (ethylsulfonyloxyimino) -p- Butoxy phenylacetonitrile, alpha-(propylsulfonyl oxyimino)-p-methylphenyl acetonitrile, alpha-like (methylsulfonyloxyimino)-p-bromophenyl acetonitrile.
Further, an oxime sulfonate-based acid generator disclosed in JP-A-9-208554 (paragraphs [0012] to [0014] [chemical formula 18] to [chemical formula 19]), pamphlet of International Publication No. 04/074242, An oxime sulfonate-based acid generator disclosed in Examples 1 to 40) on pages 65 to 85 can also be suitably used.
Moreover, the following can be illustrated as a suitable thing.

Figure 0006006928
Figure 0006006928

ジアゾメタン系酸発生剤のうち、ビスアルキルまたはビスアリールスルホニルジアゾメタン類の具体例としては、ビス(イソプロピルスルホニル)ジアゾメタン、ビス(p−トルエンスルホニル)ジアゾメタン、ビス(1,1−ジメチルエチルスルホニル)ジアゾメタン、ビス(シクロヘキシルスルホニル)ジアゾメタン、ビス(2,4−ジメチルフェニルスルホニル)ジアゾメタン等が挙げられる。
また、特開平11−035551号公報、特開平11−035552号公報、特開平11−035573号公報に開示されているジアゾメタン系酸発生剤も好適に用いることができる。
また、ポリ(ビススルホニル)ジアゾメタン類としては、例えば、特開平11−322707号公報に開示されている、1,3−ビス(フェニルスルホニルジアゾメチルスルホニル)プロパン、1,4−ビス(フェニルスルホニルジアゾメチルスルホニル)ブタン、1,6−ビス(フェニルスルホニルジアゾメチルスルホニル)ヘキサン、1,10−ビス(フェニルスルホニルジアゾメチルスルホニル)デカン、1,2−ビス(シクロヘキシルスルホニルジアゾメチルスルホニル)エタン、1,3−ビス(シクロヘキシルスルホニルジアゾメチルスルホニル)プロパン、1,6−ビス(シクロヘキシルスルホニルジアゾメチルスルホニル)ヘキサン、1,10−ビス(シクロヘキシルスルホニルジアゾメチルスルホニル)デカンなどを挙げることができる。
Among diazomethane acid generators, specific examples of bisalkyl or bisarylsulfonyldiazomethanes include bis (isopropylsulfonyl) diazomethane, bis (p-toluenesulfonyl) diazomethane, bis (1,1-dimethylethylsulfonyl) diazomethane, Examples include bis (cyclohexylsulfonyl) diazomethane, bis (2,4-dimethylphenylsulfonyl) diazomethane, and the like.
Further, diazomethane acid generators disclosed in JP-A-11-035551, JP-A-11-035552, and JP-A-11-035573 can also be suitably used.
Examples of poly (bissulfonyl) diazomethanes include 1,3-bis (phenylsulfonyldiazomethylsulfonyl) propane and 1,4-bis (phenylsulfonyldiazo) disclosed in JP-A-11-322707. Methylsulfonyl) butane, 1,6-bis (phenylsulfonyldiazomethylsulfonyl) hexane, 1,10-bis (phenylsulfonyldiazomethylsulfonyl) decane, 1,2-bis (cyclohexylsulfonyldiazomethylsulfonyl) ethane, 1,3 -Bis (cyclohexylsulfonyldiazomethylsulfonyl) propane, 1,6-bis (cyclohexylsulfonyldiazomethylsulfonyl) hexane, 1,10-bis (cyclohexylsulfonyldiazomethylsulfonyl) decane, etc. Door can be.

(B)成分は、上述した酸発生剤を1種単独で用いてもよいし、2種以上を組み合わせて用いてもよい。
本発明のレジスト組成物における(B)成分の含有量は、(A)成分100質量部に対して0.5〜60質量部が好ましく、1〜50質量部がより好ましく、1〜40質量部がさらに好ましい。(B)成分の含有量を上記範囲とすることで、パターン形成が充分に行われる。また、レジスト組成物の各成分を有機溶剤に溶解した際、均一な溶液が得られ、保存安定性が良好となるため好ましい。
As the component (B), one type of acid generator described above may be used alone, or two or more types may be used in combination.
0.5-60 mass parts is preferable with respect to 100 mass parts of (A) component, as for content of (B) component in the resist composition of this invention, 1-50 mass parts is more preferable, 1-40 mass parts Is more preferable. By forming the content of the component (B) within the above range, pattern formation is sufficiently performed. Moreover, when each component of a resist composition is melt | dissolved in the organic solvent, since a uniform solution is obtained and storage stability becomes favorable, it is preferable.

[(D)成分]
本発明のレジスト組成物においては、本発明の効果を損なわない範囲で、さらに、前記の(A)成分と(B)成分に該当しない、含窒素有機化合物成分(D)(以下「(D)成分」という。)を含有してもよい。
(D)成分としては、酸拡散制御剤、すなわち露光により前記の(A)成分(構成単位(a0))、又は(A)成分(構成単位(a0))と(B)成分とから発生する酸をトラップするクエンチャーとして作用するものであれば特に限定されず、既に多種多様なものが提案されているので、公知のものから任意に用いればよい。たとえば脂肪族アミン、芳香族アミン等のアミンが挙げられ、なかでも脂肪族アミン、特に第2級脂肪族アミンや第3級脂肪族アミンが好ましい。
脂肪族アミンとは、1つ以上の脂肪族基を有するアミンであり、該脂肪族基は炭素数が1〜20であることが好ましい。
脂肪族アミンとしては、たとえば、アンモニアNHの水素原子の少なくとも1つを、炭素数1〜20のアルキル基またはヒドロキシアルキル基で置換したアミン(アルキルアミンまたはアルキルアルコールアミン)又は環式アミンが挙げられる。
アルキル基、およびヒドロキシアルキル基におけるアルキル基は、直鎖状、分岐鎖状、環状のいずれであってもよい。
該アルキル基が直鎖状または分岐鎖状である場合、その炭素数は2〜20であることがより好ましく、2〜8であることがさらに好ましい。
該アルキル基が環状である場合(シクロアルキル基である場合)、その炭素数は、3〜30であることが好ましく、3〜20がより好ましく、3〜15がさらに好ましく、炭素数4〜12であることが特に好ましく、炭素数5〜10が最も好ましい。該アルキル基は単環式であってもよく、多環式であってもよい。具体的には、モノシクロアルカンから1個以上の水素原子を除いた基、ビシクロアルカン、トリシクロアルカン、テトラシクロアルカンなどのポリシクロアルカンから1個以上の水素原子を除いた基等を例示できる。前記モノシクロアルカンとして、具体的には、シクロペンタン、シクロヘキサン等が挙げられる。また、前記ポリシクロアルカンとして、具体的には、アダマンタン、ノルボルナン、イソボルナン、トリシクロデカン、テトラシクロドデカン等が挙げられる。
前記アルキルアミンの具体例としては、n−ヘキシルアミン、n−ヘプチルアミン、n−オクチルアミン、n−ノニルアミン、n−デシルアミン等のモノアルキルアミン;ジエチルアミン、ジ−n−プロピルアミン、ジ−n−ヘプチルアミン、ジ−n−オクチルアミン、ジシクロヘキシルアミン等のジアルキルアミン;トリメチルアミン、トリエチルアミン、トリ−n−プロピルアミン、トリ−n−ブチルアミン、トリ−n−ペンチルアミン、トリ−n−ヘキシルアミン、トリ−n−ヘプチルアミン、トリ−n−オクチルアミン、トリ−n−ノニルアミン、トリ−n−デカニルアミン、トリ−n−ドデシルアミン等のトリアルキルアミンが挙げられる。
前記アルキルアルコールアミンの具体例としては、ジエタノールアミン、トリエタノールアミン、ジイソプロパノールアミン、トリイソプロパノールアミン、ジ−n−オクタノールアミン、トリ−n−オクタノールアミン、ステアリルジエタノールアミン、ラウリルジエタノールアミン等が挙げられる。
環式アミンとしては、たとえば、ヘテロ原子として窒素原子を含む複素環化合物が挙げられる。該複素環化合物としては、単環式のもの(脂肪族単環式アミン)であっても多環式のもの(脂肪族多環式アミン)であってもよい。
脂肪族単環式アミンとして、具体的には、ピペリジン、ピペラジン等が挙げられる。
脂肪族多環式アミンとしては、炭素数が6〜10のものが好ましく、具体的には、1,5−ジアザビシクロ[4.3.0]−5−ノネン、1,8−ジアザビシクロ[5.4.0]−7−ウンデセン、ヘキサメチレンテトラミン、1,4−ジアザビシクロ[2.2.2]オクタン等が挙げられる。
その他の脂肪族アミンとして、トリス(2−メトキシメトキシエチル)アミン、トリス{2−(2−メトキシエトキシ)エチル}アミン、トリス{2−(2−メトキシエトキシメトキシ)エチル}アミン、トリス{2−(1−メトキシエトキシ)エチル}アミン、トリス{2−(1−エトキシエトキシ)エチル}アミン、トリス{2−(1−エトキシプロポキシ)エチル}アミン、トリス[2−{2−(2−ヒドロキシエトキシ)エトキシ}エチル]アミン等が挙げられる。
芳香族アミンとしては、アニリン、ピリジン、4−ジメチルアミノピリジン、ピロール、インドール、ピラゾール、イミダゾールまたはこれらの誘導体、ジフェニルアミン、トリフェニルアミン、トリベンジルアミンなどが挙げられる。
これらは単独で用いてもよいし、2種以上を組み合わせて用いてもよい。
(D)成分は、(A)成分100質量部に対して、通常、0.01〜5.0質量部の範囲で用いられる。上記範囲とすることにより、レジストパターン形状、引き置き経時安定性等が向上する。
[(D) component]
In the resist composition of the present invention, a nitrogen-containing organic compound component (D) (hereinafter referred to as “(D)” which does not fall under the components (A) and (B), as long as the effects of the present invention are not impaired. Component ")).
As the component (D), an acid diffusion control agent, that is, the component (A) (structural unit (a0)) or the component (A) (structural unit (a0)) and the component (B) is generated by exposure. There is no particular limitation as long as it acts as a quencher for trapping acid, and a wide variety of those have already been proposed. Examples thereof include amines such as aliphatic amines and aromatic amines, among which aliphatic amines, particularly secondary aliphatic amines and tertiary aliphatic amines are preferred.
An aliphatic amine is an amine having one or more aliphatic groups, and the aliphatic groups preferably have 1 to 20 carbon atoms.
Examples of the aliphatic amine include amines (alkyl amines or alkyl alcohol amines) or cyclic amines in which at least one hydrogen atom of ammonia NH 3 is substituted with an alkyl group or hydroxyalkyl group having 1 to 20 carbon atoms. It is done.
The alkyl group and the alkyl group in the hydroxyalkyl group may be linear, branched or cyclic.
When the alkyl group is linear or branched, the carbon number thereof is more preferably 2-20, and further preferably 2-8.
When the alkyl group is cyclic (when it is a cycloalkyl group), the carbon number is preferably 3 to 30, more preferably 3 to 20, still more preferably 3 to 15, and 4 to 12 carbon atoms. It is particularly preferred that the number of carbon atoms is 5-10. The alkyl group may be monocyclic or polycyclic. Specific examples include groups in which one or more hydrogen atoms have been removed from monocycloalkane, groups in which one or more hydrogen atoms have been removed from polycycloalkanes such as bicycloalkane, tricycloalkane, and tetracycloalkane. . Specific examples of the monocycloalkane include cyclopentane and cyclohexane. Specific examples of the polycycloalkane include adamantane, norbornane, isobornane, tricyclodecane, and tetracyclododecane.
Specific examples of the alkylamine include monoalkylamines such as n-hexylamine, n-heptylamine, n-octylamine, n-nonylamine, n-decylamine; diethylamine, di-n-propylamine, di-n- Dialkylamines such as heptylamine, di-n-octylamine, dicyclohexylamine; trimethylamine, triethylamine, tri-n-propylamine, tri-n-butylamine, tri-n-pentylamine, tri-n-hexylamine, tri- Examples include trialkylamines such as n-heptylamine, tri-n-octylamine, tri-n-nonylamine, tri-n-decanylamine, and tri-n-dodecylamine.
Specific examples of the alkyl alcohol amine include diethanolamine, triethanolamine, diisopropanolamine, triisopropanolamine, di-n-octanolamine, tri-n-octanolamine, stearyl diethanolamine, lauryldiethanolamine and the like.
Examples of the cyclic amine include heterocyclic compounds containing a nitrogen atom as a hetero atom. The heterocyclic compound may be monocyclic (aliphatic monocyclic amine) or polycyclic (aliphatic polycyclic amine).
Specific examples of the aliphatic monocyclic amine include piperidine and piperazine.
As the aliphatic polycyclic amine, those having 6 to 10 carbon atoms are preferable. Specifically, 1,5-diazabicyclo [4.3.0] -5-nonene, 1,8-diazabicyclo [5. 4.0] -7-undecene, hexamethylenetetramine, 1,4-diazabicyclo [2.2.2] octane, and the like.
Other aliphatic amines include tris (2-methoxymethoxyethyl) amine, tris {2- (2-methoxyethoxy) ethyl} amine, tris {2- (2-methoxyethoxymethoxy) ethyl} amine, tris {2- (1-methoxyethoxy) ethyl} amine, tris {2- (1-ethoxyethoxy) ethyl} amine, tris {2- (1-ethoxypropoxy) ethyl} amine, tris [2- {2- (2-hydroxyethoxy) ) Ethoxy} ethyl] amine and the like.
Examples of the aromatic amine include aniline, pyridine, 4-dimethylaminopyridine, pyrrole, indole, pyrazole, imidazole or derivatives thereof, diphenylamine, triphenylamine, and tribenzylamine.
These may be used alone or in combination of two or more.
(D) component is normally used in 0.01-5.0 mass parts with respect to 100 mass parts of (A) component. By setting the content in the above range, the resist pattern shape, the stability over time, and the like are improved.

[(E)成分]
本発明のレジスト組成物は、感度劣化の防止や、レジストパターン形状、引き置き経時安定性等の向上の目的で、任意の成分として、有機カルボン酸、ならびにリンのオキソ酸およびその誘導体からなる群から選択される少なくとも1種の化合物(E)(以下「(E)成分」という。)を含有してもよい。
有機カルボン酸としては、例えば、酢酸、マロン酸、クエン酸、リンゴ酸、コハク酸、安息香酸、サリチル酸などが好適である。
リンのオキソ酸としては、リン酸、ホスホン酸、ホスフィン酸等が挙げられ、これらの中でも特にホスホン酸が好ましい。
リンのオキソ酸の誘導体としては、たとえば、上記オキソ酸の水素原子を炭化水素基で置換したエステル等が挙げられ、前記炭化水素基としては、炭素数1〜5のアルキル基、炭素数6〜15のアリール基等が挙げられる。
リン酸の誘導体としては、リン酸ジ−n−ブチルエステル、リン酸ジフェニルエステル等のリン酸エステルなどが挙げられる。
ホスホン酸の誘導体としては、ホスホン酸ジメチルエステル、ホスホン酸−ジ−n−ブチルエステル、フェニルホスホン酸、ホスホン酸ジフェニルエステル、ホスホン酸ジベンジルエステル等のホスホン酸エステルなどが挙げられる。
ホスフィン酸の誘導体としては、フェニルホスフィン酸、ホスフィン酸エステルなどが挙げられる。
(E)成分は、1種を単独で用いてもよく、2種以上を併用してもよい。
(E)成分は、(A)成分100質量部に対して、通常、0.01〜5.0質量部の範囲で用いられる。
[(E) component]
The resist composition of the present invention is a group consisting of organic carboxylic acid, phosphorus oxo acid and derivatives thereof as optional components for the purpose of preventing sensitivity deterioration and improving the resist pattern shape, retention stability over time, etc. May contain at least one compound (E) (hereinafter referred to as “component (E)”) selected from:
As the organic carboxylic acid, for example, acetic acid, malonic acid, citric acid, malic acid, succinic acid, benzoic acid, salicylic acid and the like are suitable.
Examples of phosphorus oxo acids include phosphoric acid, phosphonic acid, and phosphinic acid. Among these, phosphonic acid is particularly preferable.
Examples of the oxo acid derivative of phosphorus include esters in which the hydrogen atom of the oxo acid is substituted with a hydrocarbon group, and the hydrocarbon group includes an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms and 6 to 6 carbon atoms. 15 aryl groups and the like.
Examples of phosphoric acid derivatives include phosphoric acid esters such as di-n-butyl phosphate and diphenyl phosphate.
Examples of phosphonic acid derivatives include phosphonic acid esters such as phosphonic acid dimethyl ester, phosphonic acid-di-n-butyl ester, phenylphosphonic acid, phosphonic acid diphenyl ester, and phosphonic acid dibenzyl ester.
Examples of phosphinic acid derivatives include phenylphosphinic acid and phosphinic acid esters.
(E) A component may be used individually by 1 type and may use 2 or more types together.
(E) A component is normally used in 0.01-5.0 mass parts with respect to 100 mass parts of (A) component.

[(F)成分]
本発明のレジスト組成物には、レジスト膜に撥水性を付与するために、フッ素添加剤(以下「(F)成分」という。)を含有させることができる。(F)成分をさらに含有することにより、レジスト膜表面の疎水性が高まり、現像後のディフェクト発生がより抑制される。
(F)成分としては、例えば、特開2010−002870号公報に記載の含フッ素高分子化合物などを用いることができる。
(F)成分として具体的には、下記一般式(f1)で表される構成単位を有する共重合体が好適に挙げられる。より具体的には、下記式(f1)で表される構成単位のみからなる重合体(ホモポリマー)、下記式(f1)で表される構成単位と前記構成単位(a1)との共重合体、下記式(f1)で表される構成単位と、アクリル酸又はメタクリル酸から誘導される構成単位と、前記構成単位(a1)との共重合体が好ましい。
当該構成単位(a1)のなかでも、前記式(a1−1−32)で表される構成単位が特に好ましい。
[(F) component]
The resist composition of the present invention may contain a fluorine additive (hereinafter referred to as “component (F)”) in order to impart water repellency to the resist film. By further containing the component (F), the hydrophobicity of the resist film surface is increased and the occurrence of defects after development is further suppressed.
As the component (F), for example, a fluorine-containing polymer compound described in JP 2010-002870 A can be used.
Specific examples of the component (F) include a copolymer having a structural unit represented by the following general formula (f1). More specifically, a polymer (homopolymer) consisting only of a structural unit represented by the following formula (f1), a copolymer of the structural unit represented by the following formula (f1) and the structural unit (a1) A copolymer of a structural unit represented by the following formula (f1), a structural unit derived from acrylic acid or methacrylic acid, and the structural unit (a1) is preferable.
Among the structural units (a1), the structural unit represented by the formula (a1-1-32) is particularly preferable.

Figure 0006006928
[式中、Rは水素原子、炭素数1〜5のアルキル基又は炭素数1〜5のハロゲン化アルキル基であり、R”はフッ素原子を含む有機基であり、R”は置換基を有していてもよい炭素数1〜5のアルキレン基である。]
Figure 0006006928
Wherein R is a hydrogen atom, an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms or a halogenated alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, R 7 ″ is an organic group containing a fluorine atom, and R 8 ″ is a substituent. It is a C1-C5 alkylene group which may have. ]

前記式(f1)中、R”はフッ素原子を含む有機基であり、フッ素原子を含む炭化水素基であることが好ましい。フッ素原子を含む炭化水素基としては、フッ素化アルキル基がより好ましく、炭素数1〜5のフッ素化アルキル基がさらに好ましい。なかでも、R”としては、「−(CH)o−CF」で表される基が好ましい(式中、oはCHの繰返し数を示し、1〜3の整数である)。
式(f1)中、R”のアルキレン基の炭素数は1〜5であり、1〜3であることが好ましく、1又は2であることがより好ましい。R”のアルキレン基の水素原子は、フッ素原子、炭素数1〜5のアルキル基、又は炭素数1〜5のフッ素化アルキル基で置換されていてもよい。
式(f1)中、Rは前記と同様である。Rとしては、水素原子またはメチル基が好ましい。
(F)成分は、1種を単独で用いてもよく、2種以上を併用してもよい。
レジスト組成物中の(F)成分の含有量は、(A)成分100質量部あたり1〜10質量部の割合で用いることが好ましい。(F)成分の含有量を上記範囲とすることで、レジスト膜表面の疎水性が高まり、現像後のディフェクト発生がより抑制される。
In the formula (f1), R 7 ″ is an organic group containing a fluorine atom, preferably a hydrocarbon group containing a fluorine atom. The hydrocarbon group containing a fluorine atom is more preferably a fluorinated alkyl group. Further, a fluorinated alkyl group having 1 to 5 carbon atoms is more preferable. Among them, as R 7 ″, a group represented by “— (CH 2 ) o—CF 3 ” is preferable (wherein, o is CH 2). Is an integer of 1 to 3).
In formula (f1), the carbon number of the alkylene group of R 8 ″ is 1 to 5, preferably 1 to 3, and more preferably 1 or 2. The hydrogen atom of the alkylene group of R 8 ″. May be substituted with a fluorine atom, an alkyl group having 1 to 5 carbon atoms, or a fluorinated alkyl group having 1 to 5 carbon atoms.
In the formula (f1), R is the same as described above. R is preferably a hydrogen atom or a methyl group.
(F) A component may be used individually by 1 type and may use 2 or more types together.
The content of the component (F) in the resist composition is preferably 1 to 10 parts by mass per 100 parts by mass of the component (A). By making content of (F) component into the said range, the hydrophobicity of the resist film surface increases, and the defect generation after image development is suppressed more.

本発明のレジスト組成物には、さらに、所望により、混和性のある添加剤、例えばレジスト膜の性能を改良するための付加的樹脂、塗布性を向上させるための界面活性剤、溶解抑制剤、可塑剤、安定剤、着色剤、ハレーション防止剤、染料などを適宜、添加含有させることができる。   The resist composition of the present invention may further contain, if desired, miscible additives such as an additional resin for improving the performance of the resist film, a surfactant for improving coatability, a dissolution inhibitor, Plasticizers, stabilizers, colorants, antihalation agents, dyes, and the like can be added and contained as appropriate.

[(S)成分]
本発明のレジスト組成物は、材料を有機溶剤(以下「(S)成分」ということがある)に溶解させて製造することができる。
(S)成分としては、使用する各成分を溶解し、均一な溶液とすることができるものであればよく、従来、化学増幅型レジストの溶剤として公知のものの中から任意のものを1種または2種以上適宜選択して用いることができる。
例えば、γ−ブチロラクトン等のラクトン類;アセトン、メチルエチルケトン、シクロヘキサノン、メチル−n−ペンチルケトン、メチルイソペンチルケトン、2−ヘプタノンなどのケトン類;エチレングリコール、ジエチレングリコール、プロピレングリコール、ジプロピレングリコールなどの多価アルコール類;エチレングリコールモノアセテート、ジエチレングリコールモノアセテート、プロピレングリコールモノアセテート、またはジプロピレングリコールモノアセテート等のエステル結合を有する化合物、前記多価アルコール類または前記エステル結合を有する化合物のモノメチルエーテル、モノエチルエーテル、モノプロピルエーテル、モノブチルエーテル等のモノアルキルエーテルまたはモノフェニルエーテル等のエーテル結合を有する化合物等の多価アルコール類の誘導体[これらの中では、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート(PGMEA)、プロピレングリコールモノメチルエーテル(PGME)が好ましい];ジオキサンのような環式エーテル類や、乳酸メチル、乳酸エチル(EL)、酢酸メチル、酢酸エチル、酢酸ブチル、ピルビン酸メチル、ピルビン酸エチル、メトキシプロピオン酸メチル、エトキシプロピオン酸エチルなどのエステル類;アニソール、エチルベンジルエーテル、クレジルメチルエーテル、ジフェニルエーテル、ジベンジルエーテル、フェネトール、ブチルフェニルエーテル、エチルベンゼン、ジエチルベンゼン、ペンチルベンゼン、イソプロピルベンゼン、トルエン、キシレン、シメン、メシチレン等の芳香族系有機溶剤などを挙げることができる。
これらの有機溶剤は単独で用いてもよく、2種以上の混合溶剤として用いてもよい。
中でも、γ−ブチロラクトン、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート(PGMEA)、プロピレングリコールモノメチルエーテル(PGME)、シクロヘキサノン、ELが好ましい。
また、PGMEAと極性溶剤とを混合した混合溶媒も好ましい。その配合比(質量比)は、PGMEAと極性溶剤との相溶性等を考慮して適宜決定すればよいが、好ましくは1:9〜9:1、より好ましくは2:8〜8:2の範囲内とすることが好ましい。たとえば極性溶剤としてELを配合する場合は、PGMEA:ELの質量比は、好ましくは1:9〜9:1、より好ましくは2:8〜8:2である。また、極性溶剤としてPGMEを配合する場合は、PGMEA:PGMEの質量比は、好ましくは1:9〜9:1、より好ましくは2:8〜8:2、さらに好ましくは3:7〜7:3である。また、極性溶剤としてPGMEおよびシクロヘキサノンを配合する場合は、PGMEA:(PGME+シクロヘキサノン)の質量比は、好ましくは1:9〜9:1、より好ましくは2:8〜8:2、さらに好ましくは3:7〜7:3である。
また、(S)成分として、その他には、PGMEA、EL、または前記PGMEAと極性溶剤との混合溶媒と、γ−ブチロラクトンとの混合溶剤も好ましい。この場合、混合割合としては、前者と後者の質量比が好ましくは70:30〜95:5とされる。
(S)成分の使用量は、特に限定されず、基板等に塗布可能な濃度で、塗布膜厚に応じて適宜設定されるものであるが、一般的にはレジスト組成物の固形分濃度が1〜20質量%、好ましくは2〜15質量%の範囲内となる様に用いられる。
[(S) component]
The resist composition of the present invention can be produced by dissolving the material in an organic solvent (hereinafter sometimes referred to as “(S) component”).
As the component (S), any component can be used as long as it can dissolve each component to be used to form a uniform solution. Conventionally, any one of known solvents for chemically amplified resists can be used. Two or more types can be appropriately selected and used.
For example, lactones such as γ-butyrolactone; ketones such as acetone, methyl ethyl ketone, cyclohexanone, methyl-n-pentyl ketone, methyl isopentyl ketone, and 2-heptanone; Monohydric alcohols; compounds having an ester bond, such as ethylene glycol monoacetate, diethylene glycol monoacetate, propylene glycol monoacetate, dipropylene glycol monoacetate, monomethyl ether, monoethyl of the polyhydric alcohols or compound having the ester bond Ether alkyl such as ether, monopropyl ether, monobutyl ether or monophenyl ether Derivatives of polyhydric alcohols such as compounds having a propylene glycol monomethyl ether acetate (PGMEA) or propylene glycol monomethyl ether (PGME) among these]; cyclic ethers such as dioxane, methyl lactate, Esters such as ethyl lactate (EL), methyl acetate, ethyl acetate, butyl acetate, methyl pyruvate, ethyl pyruvate, methyl methoxypropionate, ethyl ethoxypropionate; anisole, ethyl benzyl ether, cresyl methyl ether, diphenyl ether, Aromatic organics such as dibenzyl ether, phenetol, butyl phenyl ether, ethylbenzene, diethylbenzene, pentylbenzene, isopropylbenzene, toluene, xylene, cymene, mesitylene A solvent etc. can be mentioned.
These organic solvents may be used independently and may be used as 2 or more types of mixed solvents.
Among these, γ-butyrolactone, propylene glycol monomethyl ether acetate (PGMEA), propylene glycol monomethyl ether (PGME), cyclohexanone, and EL are preferable.
Moreover, the mixed solvent which mixed PGMEA and the polar solvent is also preferable. The blending ratio (mass ratio) may be appropriately determined in consideration of the compatibility between PGMEA and the polar solvent, preferably 1: 9 to 9: 1, more preferably 2: 8 to 8: 2. It is preferable to be within the range. For example, when EL is blended as a polar solvent, the mass ratio of PGMEA: EL is preferably 1: 9 to 9: 1, more preferably 2: 8 to 8: 2. Moreover, when mix | blending PGME as a polar solvent, the mass ratio of PGMEA: PGME becomes like this. Preferably it is 1: 9-9: 1, More preferably, it is 2: 8-8: 2, More preferably, it is 3: 7-7: 3. Further, when PGME and cyclohexanone are blended as polar solvents, the mass ratio of PGMEA: (PGME + cyclohexanone) is preferably 1: 9 to 9: 1, more preferably 2: 8 to 8: 2, and even more preferably 3. : 7 to 7: 3.
In addition, as the component (S), PGMEA, EL or a mixed solvent of PGMEA and a polar solvent and a mixed solvent of γ-butyrolactone are also preferable. In this case, the mixing ratio of the former and the latter is preferably 70:30 to 95: 5.
The amount of the component (S) used is not particularly limited and is a concentration that can be applied to a substrate or the like, and is appropriately set according to the coating film thickness. Generally, the solid content concentration of the resist composition is It is used in a range of 1 to 20% by mass, preferably 2 to 15% by mass.

≪レジストパターン形成方法≫
本発明のレジストパターン形成方法は、支持体上に、前記本発明のレジスト組成物を用いてレジスト膜を形成する工程、前記レジスト膜を露光する工程、及び前記レジスト膜を現像してレジストパターンを形成する工程を含む。
本発明のレジストパターン形成方法は、例えば以下のようにして行うことができる。
すなわち、まず支持体上に前記本発明のレジスト組成物をスピンナーなどで塗布し、ベーク(ポストアプライベーク(PAB))処理を、たとえば80〜150℃の温度条件にて40〜120秒間、好ましくは60〜90秒間施してレジスト膜を形成する。
次に、該レジスト膜に対し、例えばArF露光装置、電子線描画装置、EUV露光装置等の露光装置を用いて、所定のパターンが形成されたマスク(マスクパターン)を介した露光、またはマスクパターンを介さない電子線の直接照射による描画等による選択的露光を行った後、ベーク(ポストエクスポージャーベーク(PEB))処理を、たとえば80〜150℃の温度条件にて40〜120秒間、好ましくは60〜90秒間施す。
次に、前記レジスト膜を現像処理する。
現像処理は、アルカリ現像プロセスの場合は、アルカリ現像液を用い、溶剤現像プロセスの場合は、有機溶剤を含有する現像液(有機系現像液)用いて行う。
現像処理後、好ましくはリンス処理を行う。リンス処理は、アルカリ現像プロセスの場合は、純水を用いた水リンスが好ましく、溶剤現像プロセスの場合は、有機溶剤を含有するリンス液を用いることが好ましい。
溶剤現像プロセスの場合、前記現像処理またはリンス処理の後に、パターン上に付着している現像液またはリンス液を超臨界流体により除去する処理を行ってもよい。
現像処理後またはリンス処理後、乾燥を行う。また、場合によっては、上記現像処理後にベーク処理(ポストベーク)を行ってもよい。このようにして、レジストパターンを得ることができる。
≪Resist pattern formation method≫
The resist pattern forming method of the present invention includes a step of forming a resist film on a support using the resist composition of the present invention, a step of exposing the resist film, and developing the resist film to form a resist pattern. Forming.
The resist pattern forming method of the present invention can be performed, for example, as follows.
That is, first, the resist composition of the present invention is applied onto a support with a spinner or the like, and a baking (post-apply bake (PAB)) treatment is performed, for example, at a temperature of 80 to 150 ° C. for 40 to 120 seconds, preferably A resist film is formed by applying for 60 to 90 seconds.
Next, the resist film is exposed through a mask (mask pattern) on which a predetermined pattern is formed using an exposure apparatus such as an ArF exposure apparatus, an electron beam drawing apparatus, or an EUV exposure apparatus, or a mask pattern. After performing selective exposure by drawing or the like by direct irradiation with an electron beam without passing through, baking (post-exposure baking (PEB)) treatment is performed, for example, at a temperature of 80 to 150 ° C. for 40 to 120 seconds, preferably 60 Apply for ~ 90 seconds.
Next, the resist film is developed.
The development treatment is performed using an alkaline developer in the case of an alkali development process, and using a developer (organic developer) containing an organic solvent in the case of a solvent development process.
A rinsing treatment is preferably performed after the development treatment. The rinse treatment is preferably a water rinse using pure water in the case of an alkali development process, and is preferably a rinse solution containing an organic solvent in the case of a solvent development process.
In the case of a solvent development process, after the development process or the rinse process, a process of removing the developer or rinse liquid adhering to the pattern with a supercritical fluid may be performed.
Drying is performed after development or rinsing. In some cases, a baking process (post-bake) may be performed after the development process. In this way, a resist pattern can be obtained.

支持体としては、特に限定されず、従来公知のものを用いることができ、例えば、電子部品用の基板や、これに所定の配線パターンが形成されたもの等を例示することができる。より具体的には、シリコンウェーハ、銅、クロム、鉄、アルミニウム等の金属製の基板や、ガラス基板等が挙げられる。配線パターンの材料としては、例えば銅、アルミニウム、ニッケル、金等が使用可能である。
また、支持体としては、上述のような基板上に、無機系および/または有機系の膜が設けられたものであってもよい。無機系の膜としては、無機反射防止膜(無機BARC)が挙げられる。有機系の膜としては、有機反射防止膜(有機BARC)や多層レジスト法における下層有機膜等の有機膜が挙げられる。
ここで、多層レジスト法とは、基板上に、少なくとも一層の有機膜(下層有機膜)と、少なくとも一層のレジスト膜(上層レジスト膜)とを設け、上層レジスト膜に形成したレジストパターンをマスクとして下層有機膜のパターニングを行う方法であり、高アスペクト比のパターンを形成できるとされている。すなわち、多層レジスト法によれば、下層有機膜により所要の厚みを確保できるため、レジスト膜を薄膜化でき、高アスペクト比の微細パターン形成が可能となる。
多層レジスト法には、基本的に、上層レジスト膜と、下層有機膜との二層構造とする方法(2層レジスト法)と、上層レジスト膜と下層有機膜との間に一層以上の中間層(金属薄膜等)を設けた三層以上の多層構造とする方法(3層レジスト法)とに分けられる。
The support is not particularly limited, and a conventionally known one can be used, and examples thereof include a substrate for electronic components and a substrate on which a predetermined wiring pattern is formed. More specifically, a silicon substrate, a metal substrate such as copper, chromium, iron, and aluminum, a glass substrate, and the like can be given. As a material for the wiring pattern, for example, copper, aluminum, nickel, gold or the like can be used.
Further, the support may be a substrate in which an inorganic and / or organic film is provided on the above-described substrate. An inorganic antireflection film (inorganic BARC) is an example of the inorganic film. Examples of the organic film include organic films such as an organic antireflection film (organic BARC) and a lower organic film in a multilayer resist method.
Here, the multilayer resist method is a method in which at least one organic film (lower organic film) and at least one resist film (upper resist film) are provided on a substrate, and the resist pattern formed on the upper resist film is used as a mask. This is a method of patterning a lower organic film, and it is said that a pattern with a high aspect ratio can be formed. That is, according to the multilayer resist method, the required thickness can be secured by the lower organic film, so that the resist film can be thinned and a fine pattern with a high aspect ratio can be formed.
In the multilayer resist method, basically, a method of forming a two-layer structure of an upper resist film and a lower organic film (two-layer resist method), and one or more intermediate layers between the upper resist film and the lower organic film And a method of forming a multilayer structure of three or more layers (metal thin film etc.) (three-layer resist method).

露光に用いる波長は、特に限定されず、ArFエキシマレーザー、KrFエキシマレーザー、Fエキシマレーザー、EUV(極紫外線)、VUV(真空紫外線)、EB(電子線)、X線、軟X線等の放射線を用いて行うことができる。前記レジスト組成物は、KrFエキシマレーザー、ArFエキシマレーザー、EBまたはEUV用としての有用性が高い。 The wavelength used for the exposure is not particularly limited, and ArF excimer laser, KrF excimer laser, F 2 excimer laser, EUV (extreme ultraviolet), VUV (vacuum ultraviolet), EB (electron beam), X-ray, soft X-ray, etc. Can be done using radiation. The resist composition is highly useful for KrF excimer laser, ArF excimer laser, EB or EUV.

レジスト膜の露光方法は、空気や窒素等の不活性ガス中で行う通常の露光(ドライ露光)であってもよく、液浸露光(Liquid Immersion Lithography)であってもよい。
液浸露光は、予めレジスト膜と露光装置の最下位置のレンズ間を、空気の屈折率よりも大きい屈折率を有する溶媒(液浸媒体)で満たし、その状態で露光(浸漬露光)を行う露光方法である。
液浸媒体としては、空気の屈折率よりも大きく、かつ露光されるレジスト膜の有する屈折率よりも小さい屈折率を有する溶媒が好ましい。かかる溶媒の屈折率としては、前記範囲内であれば特に制限されない。
空気の屈折率よりも大きく、かつ前記レジスト膜の屈折率よりも小さい屈折率を有する溶媒としては、例えば、水、フッ素系不活性液体、シリコン系溶剤、炭化水素系溶剤等が挙げられる。
フッ素系不活性液体の具体例としては、CHCl、COCH、COC、C等のフッ素系化合物を主成分とする液体等が挙げられ、沸点が70〜180℃のものが好ましく、80〜160℃のものがより好ましい。フッ素系不活性液体が上記範囲の沸点を有するものであると、露光終了後に、液浸に用いた媒体の除去を、簡便な方法で行えることから好ましい。
フッ素系不活性液体としては、特に、アルキル基の水素原子が全てフッ素原子で置換されたパーフロオロアルキル化合物が好ましい。パーフロオロアルキル化合物としては、具体的には、パーフルオロアルキルエーテル化合物やパーフルオロアルキルアミン化合物を挙げることができる。
さらに、具体的には、前記パーフルオロアルキルエーテル化合物としては、パーフルオロ(2−ブチル−テトラヒドロフラン)(沸点102℃)を挙げることができ、前記パーフルオロアルキルアミン化合物としては、パーフルオロトリブチルアミン(沸点174℃)を挙げることができる。
液浸媒体としては、コスト、安全性、環境問題、汎用性等の観点から、水が好ましく用いられる。
The exposure method of the resist film may be normal exposure (dry exposure) performed in an inert gas such as air or nitrogen, or may be immersion exposure (Liquid Immersion Lithography).
In immersion exposure, the space between the resist film and the lens at the lowest position of the exposure apparatus is previously filled with a solvent (immersion medium) having a refractive index larger than that of air, and exposure (immersion exposure) is performed in that state. It is an exposure method.
As the immersion medium, a solvent having a refractive index larger than the refractive index of air and smaller than the refractive index of the resist film to be exposed is preferable. The refractive index of such a solvent is not particularly limited as long as it is within the above range.
Examples of the solvent having a refractive index larger than the refractive index of air and smaller than the refractive index of the resist film include water, a fluorine-based inert liquid, a silicon-based solvent, and a hydrocarbon-based solvent.
Specific examples of the fluorine-based inert liquid include a fluorine-based compound such as C 3 HCl 2 F 5 , C 4 F 9 OCH 3 , C 4 F 9 OC 2 H 5 , and C 5 H 3 F 7 as a main component. Examples thereof include liquids, and those having a boiling point of 70 to 180 ° C are preferable, and those having a boiling point of 80 to 160 ° C are more preferable. It is preferable that the fluorine-based inert liquid has a boiling point in the above range since the medium used for immersion can be removed by a simple method after the exposure is completed.
As the fluorine-based inert liquid, a perfluoroalkyl compound in which all hydrogen atoms of the alkyl group are substituted with fluorine atoms is particularly preferable. Specific examples of the perfluoroalkyl compound include a perfluoroalkyl ether compound and a perfluoroalkylamine compound.
More specifically, examples of the perfluoroalkyl ether compound include perfluoro (2-butyl-tetrahydrofuran) (boiling point: 102 ° C.). Examples of the perfluoroalkylamine compound include perfluorotributylamine ( Boiling point of 174 ° C.).
As the immersion medium, water is preferably used from the viewpoints of cost, safety, environmental problems, versatility, and the like.

アルカリ現像プロセスで現像処理に用いるアルカリ現像液としては、例えば0.1〜10質量%テトラメチルアンモニウムヒドロキシド(TMAH)水溶液が挙げられる。
溶剤現像プロセスで現像処理に用いる有機系現像液が含有する有機溶剤としては、(A)成分(露光前の(A)成分)を溶解し得るものであればよく、公知の有機溶剤のなかから適宜選択できる。具体的には、ケトン系溶剤、エステル系溶剤、アルコール系溶剤、アミド系溶剤、エーテル系溶剤等の極性溶剤及び炭化水素系溶剤を用いることができる。
有機系現像液には、必要に応じて公知の添加剤を配合できる。該添加剤としてはたとえば界面活性剤が挙げられる。界面活性剤としては、特に限定されないが、たとえばイオン性や非イオン性のフッ素系及び/又はシリコン系界面活性剤等を用いることができる。
界面活性剤を配合する場合、その配合量は、有機系現像液の全量に対して、通常0.001〜5質量%であり、0.005〜2質量%が好ましく、0.01〜0.5質量%がより好ましい。
現像処理は、公知の現像方法におり実施でき、該方法としてはたとえば現像液中に支持体を一定時間浸漬する方法(ディップ法)、支持体表面に現像液を表面張力によって盛り上げて一定時間静止する方法(パドル法)、支持体表面に現像液を噴霧する方法(スプレー法)、一定速度で回転している支持体上に一定速度で現像液塗出ノズルをスキャンしながら現像液を塗出しつづける方法(ダイナミックディスペンス法)等が挙げられる。
Examples of the alkali developer used for the development treatment in the alkali development process include a 0.1 to 10% by mass tetramethylammonium hydroxide (TMAH) aqueous solution.
The organic solvent contained in the organic developer used for the development process in the solvent development process is not particularly limited as long as it can dissolve the component (A) (component (A) before exposure). It can be selected as appropriate. Specifically, polar solvents such as ketone solvents, ester solvents, alcohol solvents, amide solvents, ether solvents, and hydrocarbon solvents can be used.
A known additive can be blended in the organic developer as required. Examples of the additive include a surfactant. The surfactant is not particularly limited. For example, ionic or nonionic fluorine-based and / or silicon-based surfactants can be used.
When the surfactant is blended, the blending amount is usually 0.001 to 5% by mass, preferably 0.005 to 2% by mass, and 0.01 to 0. 0% with respect to the total amount of the organic developer. 5 mass% is more preferable.
The development process can be carried out by a known development method, for example, a method in which a support is immersed in a developer for a certain period of time (dip method), a developer is raised on the surface of the support by surface tension, and is left for a certain period of time. (Paddle method), spraying developer on the surface of the support (spray method), coating the developer while scanning the developer coating nozzle at a constant speed on the support rotating at a constant speed The method to continue (dynamic dispensing method) etc. are mentioned.

溶剤現像プロセスで現像処理後のリンス処理に用いるリンス液が含有する有機溶剤としては、たとえば前記有機系現像液が含有する有機溶剤として挙げた有機溶剤のうち、レジストパターンを溶解しにくいものを適宜選択して使用できる。通常、炭化水素系溶剤、ケトン系溶剤、エステル系溶剤、アルコール系溶剤、アミド系溶剤およびエーテル系溶剤から選択される少なくとも1種類の溶剤を使用する。これらのなかでも、炭化水素系溶剤、ケトン系溶剤、エステル系溶剤、アルコール系溶剤及びアミド系溶剤から選択される少なくとも1種類が好ましく、アルコール系溶剤およびエステル系溶剤から選択される少なくとも1種類がより好ましく、アルコール系溶剤が特に好ましい。
リンス液を用いたリンス処理(洗浄処理)は、公知のリンス方法により実施できる。該方法としては、たとえば一定速度で回転している支持体上にリンス液を塗出し続ける方法(回転塗布法)、リンス液中に支持体を一定時間浸漬する方法(ディップ法)、支持体表面にリンス液を噴霧する方法(スプレー法)等が挙げられる。
As the organic solvent contained in the rinsing liquid used for the rinsing treatment after the development process in the solvent development process, for example, among the organic solvents mentioned as the organic solvent contained in the organic developer, those that are difficult to dissolve the resist pattern are appropriately used. You can select and use. Usually, at least one solvent selected from hydrocarbon solvents, ketone solvents, ester solvents, alcohol solvents, amide solvents and ether solvents is used. Among these, at least one selected from hydrocarbon solvents, ketone solvents, ester solvents, alcohol solvents and amide solvents is preferable, and at least one selected from alcohol solvents and ester solvents is preferable. More preferred are alcohol solvents.
The rinse treatment (washing treatment) using the rinse liquid can be performed by a known rinse method. Examples of the method include a method of continuously applying a rinsing liquid on a support rotating at a constant speed (rotary coating method), a method of immersing the support in a rinsing liquid for a predetermined time (dip method), and the surface of the support. And a method of spraying a rinse liquid (spray method).

以下、実施例により本発明をさらに詳細に説明するが、本発明はこれらの例によって限定されるものではない。
本実施例では、化学式(1)で表される化合物を「化合物(1)」と記載し、他の化学式で表される化合物についても同様に記載する。
なお、NMRによる分析において、H−NMRの内部標準および13C−NMRの内部標準はテトラメチルシラン(TMS)である。
EXAMPLES Hereinafter, although an Example demonstrates this invention further in detail, this invention is not limited by these examples.
In this example, the compound represented by the chemical formula (1) is described as “compound (1)”, and the compounds represented by other chemical formulas are also described in the same manner.
In the analysis by NMR, the internal standard of 1 H-NMR and the internal standard of 13 C-NMR is tetramethylsilane (TMS).

[実施例1:高分子化合物2の製造]
温度計、還流管、窒素導入管を繋いだセパラブルフラスコに、38.00g(120.13mmol)の化合物(1)、61.10g(232.84mmol)の化合物(2)、18.25g(37.05mmol)の化合物(3)、を147.76gのメチルエチルケトン/シクロヘキサノン(MEK/CH)混合溶液に溶解させた。この溶液に、重合開始剤としてアゾビスイソ酪酸ジメチル(V−601)を27.30mmol添加し溶解させた。
これを、81.79gのMEK/CHに、窒素雰囲気下、4時間かけて滴下した。滴下終了後、反応液を1時間加熱攪拌し、その後、反応液を室温まで冷却した。
得られた反応重合液を大量のn−ヘプタンに滴下して重合体を析出させる操作を行い、沈殿した白色粉体をろ別、メタノールにて分散洗浄、乾燥して、高分子化合物1(前駆体ポリマー)を76.28g得た。
76.28gの高分子化合物1をナスフラスコに入れ、15.10gの化合物(11)と305gのMEKと305gの水を添加して30分攪拌し有機層を抽出した。抽出した有機層を水で洗浄し、溶媒を留去し高分子化合物2を64.84g得た。
この高分子化合物についてGPC測定により求めた標準ポリスチレン換算の質量平均分子量(Mw)は13200であり、分子量分散度(Mw/Mn)は1.48であった。
また、カーボン13核磁気共鳴スペクトル(600MHz_13C−NMR)により求められた共重合組成比(構造式中の各構成単位の割合(モル比))は、l/m/n=45.6/40.1/14.3であった。
[Example 1: Production of polymer compound 2]
In a separable flask connected with a thermometer, a reflux tube, and a nitrogen introduction tube, 38.00 g (120.13 mmol) of compound (1), 61.10 g (232.84 mmol) of compound (2), 18.25 g (37 .05 mmol) of the compound (3) was dissolved in 147.76 g of a mixed solution of methyl ethyl ketone / cyclohexanone (MEK / CH). To this solution, 27.30 mmol of dimethyl azobisisobutyrate (V-601) as a polymerization initiator was added and dissolved.
This was added dropwise to 81.79 g of MEK / CH over 4 hours under a nitrogen atmosphere. After completion of dropping, the reaction solution was heated and stirred for 1 hour, and then the reaction solution was cooled to room temperature.
The obtained reaction polymerization solution was dropped into a large amount of n-heptane to precipitate a polymer, and the precipitated white powder was filtered, dispersed and washed with methanol, and dried to obtain polymer compound 1 (precursor) Body polymer) was obtained.
76.28 g of the polymer compound 1 was placed in an eggplant flask, 15.10 g of the compound (11), 305 g of MEK and 305 g of water were added and stirred for 30 minutes to extract the organic layer. The extracted organic layer was washed with water, and the solvent was distilled off to obtain 64.84 g of polymer compound 2.
The mass average molecular weight (Mw) in terms of standard polystyrene determined by GPC measurement for this polymer compound was 13200, and the molecular weight dispersity (Mw / Mn) was 1.48.
The copolymer composition ratio (ratio of each structural unit in the structural formula (molar ratio)) determined by carbon-13 nuclear magnetic resonance spectrum (600 MHz — 13C-NMR) was 1 / m / n = 45.6 / 40. It was 1 / 14.3.

Figure 0006006928
Figure 0006006928

[比較例1:比較高分子化合物2の製造]
温度計、還流管、窒素導入管を繋いだセパラブルフラスコに、18.00g(56.90mmol)の化合物(1)、28.94g(110.29mmol)の化合物(2)、9.21g(17.55mmol)の化合物(4)、を70.72gのメチルエチルケトン/シクロヘキサノン(MEK/CH)混合溶液に溶解させた。この溶液に、重合開始剤としてアゾビスイソ酪酸ジメチル(V−601)を17.55mmol添加し溶解させた。
これを、39.13gのMEK/CHに、窒素雰囲気下、4時間かけて滴下した。滴下終了後、反応液を1時間加熱攪拌すると白色固体を生じた。
白色固体をろ別しカーボン13核磁気共鳴スペクトル(600MHz_13C−NMR)により分析を行ったところ化合物(2)の脱保護が確認され、目的の比較高分子化合物2は得られなかった。目的とした反応は以下の通りである。
[Comparative Example 1: Production of Comparative Polymer Compound 2]
In a separable flask connected with a thermometer, a reflux tube, and a nitrogen introduction tube, 18.00 g (56.90 mmol) of compound (1), 28.94 g (110.29 mmol) of compound (2), 9.21 g (17 .55 mmol) of the compound (4) was dissolved in 70.72 g of a mixed solution of methyl ethyl ketone / cyclohexanone (MEK / CH). To this solution, 17.55 mmol of dimethyl azobisisobutyrate (V-601) was added and dissolved as a polymerization initiator.
This was dripped at 39.13g MEK / CH over 4 hours under nitrogen atmosphere. After completion of the dropwise addition, the reaction solution was heated and stirred for 1 hour to produce a white solid.
The white solid was filtered off and analyzed by carbon-13 nuclear magnetic resonance spectrum (600 MHz — 13C-NMR). As a result, deprotection of compound (2) was confirmed, and the desired comparative polymer compound 2 was not obtained. The intended reactions are as follows.

Figure 0006006928
Figure 0006006928

[実施例2:高分子化合物3の製造]
高分子化合物3は、化合物(11)に替えて化合物(12)を等モルで用いた以外は上記実施例1と同様にして製造した。下記式中、高分子化合物1の合成は省略する。
[Example 2: Production of polymer compound 3]
The polymer compound 3 was produced in the same manner as in Example 1 except that the compound (12) was used in an equimolar amount instead of the compound (11). In the following formula, the synthesis of polymer compound 1 is omitted.

Figure 0006006928
[Mw=13700、Mw/Mn=1.52,l/m/n=46.2/39.3/14.5]
Figure 0006006928
[Mw = 13700, Mw / Mn = 1.52, 1 / m / n = 46.2 / 39.3 / 14.5]

[比較例2:比較高分子化合物3の製造]
比較高分子化合物3は、化合物(4)に替えて化合物(5)を等モルで用いた以外は上記比較例1と同様にして製造を試みたが、目的の比較高分子化合物3は得られなかった。目的とした反応は以下の通りである。
[Comparative Example 2: Production of Comparative Polymer Compound 3]
Comparative polymer compound 3 was produced in the same manner as in comparative example 1 except that compound (5) was used in an equimolar amount instead of compound (4), but the desired comparative polymer compound 3 was obtained. There wasn't. The intended reactions are as follows.

Figure 0006006928
Figure 0006006928

[実施例3:高分子化合物4の製造]
温度計、還流管、窒素導入管を繋いだセパラブルフラスコに、38.00g(120.13mmol)の化合物(1)、61.10g(232.84mmol)の化合物(2)、26.93g(37.05mmol)の化合物(3)、を158.91gのメチルエチルケトン/シクロヘキサノン(MEK/CH)混合溶液に溶解させた。この溶液に、重合開始剤としてアゾビスイソ酪酸ジメチル(V−601)を27.30mmol添加し溶解させた。
これを、87.83gのMEK/CHに、窒素雰囲気下、4時間かけて滴下した。滴下終了後、反応液を1時間加熱攪拌し、その後、反応液を室温まで冷却した。
得られた反応重合液を大量のn−ヘプタンに滴下して重合体を析出させる操作を行い、沈殿した白色粉体をろ別、メタノールにて分散洗浄、乾燥して、高分子化合物1(前駆体ポリマー)を75.61g得た。
75.61gの高分子化合物1をナスフラスコに入れ、16.13gの化合物(13)と302gのMEKと302gの水を添加して30分攪拌し有機層を抽出した。抽出した有機層を水で洗浄し、溶媒を留去し高分子化合物4を54.98g得た。
この高分子化合物についてGPC測定により求めた標準ポリスチレン換算の質量平均分子量(Mw)は13000であり、分子量分散度(Mw/Mn)は1.53であった。
また、カーボン13核磁気共鳴スペクトル(600MHz_13C−NMR)により求められた共重合組成比(構造式中の各構成単位の割合(モル比))は、l/m/n=46.3/39.9/13.8であった。
[Example 3: Production of polymer compound 4]
In a separable flask connected with a thermometer, a reflux tube, and a nitrogen introduction tube, 38.00 g (120.13 mmol) of compound (1), 61.10 g (232.84 mmol) of compound (2), 26.93 g (37 .05 mmol) of the compound (3) was dissolved in 158.91 g of a mixed solution of methyl ethyl ketone / cyclohexanone (MEK / CH). To this solution, 27.30 mmol of dimethyl azobisisobutyrate (V-601) as a polymerization initiator was added and dissolved.
This was dripped at 87.83g MEK / CH over 4 hours in nitrogen atmosphere. After completion of dropping, the reaction solution was heated and stirred for 1 hour, and then the reaction solution was cooled to room temperature.
The obtained reaction polymerization solution was dropped into a large amount of n-heptane to precipitate a polymer, and the precipitated white powder was filtered, dispersed and washed with methanol, and dried to obtain polymer compound 1 (precursor) Body polymer) was obtained.
75.61 g of the polymer compound 1 was placed in an eggplant flask, 16.13 g of the compound (13), 302 g of MEK, and 302 g of water were added and stirred for 30 minutes to extract the organic layer. The extracted organic layer was washed with water and the solvent was distilled off to obtain 54.98 g of polymer compound 4.
The mass average molecular weight (Mw) in terms of standard polystyrene determined by GPC measurement for this polymer compound was 13000, and the molecular weight dispersity (Mw / Mn) was 1.53.
The copolymer composition ratio (ratio of each structural unit in the structural formula (molar ratio)) determined by carbon-13 nuclear magnetic resonance spectrum (600 MHz — 13C-NMR) was 1 / m / n = 46.3 / 39. 9 / 13.8.

Figure 0006006928
Figure 0006006928

[比較例3:比較高分子化合物4の製造]
温度計、還流管、窒素導入管を繋いだセパラブルフラスコに、18.00g(56.90mmol)の化合物(1)、28.94g(110.29mmol)の化合物(2)、12.75g(17.55mmol)の化合物(6)、を75.27gのメチルエチルケトン/シクロヘキサノン(MEK/CH)混合溶液に溶解させた。この溶液に、重合開始剤としてアゾビスイソ酪酸ジメチル(V−601)を12.93mmol添加し溶解させた。
これを、41.61gのMEK/CHに、窒素雰囲気下、4時間かけて滴下した。滴下終了後、反応液を1時間加熱攪拌し、その後、反応液を室温まで冷却した。
得られた反応重合液を大量のn−ヘプタンに滴下して重合体を析出させる操作を行い、沈殿した白色粉体をろ別、メタノールにて分散洗浄、乾燥して、比較高分子化合物4を37.95g得た。
この高分子化合物についてGPC測定により求めた標準ポリスチレン換算の質量平均分子量(Mw)は12200であり、分子量分散度(Mw/Mn)は1.70であった。
また、カーボン13核磁気共鳴スペクトル(600MHz_13C−NMR)により求められた共重合組成比(構造式中の各構成単位の割合(モル比))は、l/m/n=46.2/41.4/12.4であった。
[Comparative Example 3: Production of Comparative Polymer Compound 4]
In a separable flask connected with a thermometer, a reflux tube, and a nitrogen introduction tube, 18.00 g (56.90 mmol) of compound (1), 28.94 g (110.29 mmol) of compound (2), 12.75 g (17 .55 mmol) of compound (6) was dissolved in 75.27 g of a mixed solution of methyl ethyl ketone / cyclohexanone (MEK / CH). To this solution, 12.93 mmol of dimethyl azobisisobutyrate (V-601) was added and dissolved as a polymerization initiator.
This was dripped at 41.61 g of MEK / CH over 4 hours under a nitrogen atmosphere. After completion of dropping, the reaction solution was heated and stirred for 1 hour, and then the reaction solution was cooled to room temperature.
The obtained reaction polymerization solution was dropped into a large amount of n-heptane, and a polymer was precipitated. The precipitated white powder was filtered, dispersed and washed with methanol, and dried to give comparative polymer compound 4. 37.95 g was obtained.
The mass average molecular weight (Mw) in terms of standard polystyrene determined by GPC measurement for this polymer compound was 12200, and the molecular weight dispersity (Mw / Mn) was 1.70.
The copolymer composition ratio (ratio of each structural unit in the structural formula (molar ratio)) determined by carbon-13 nuclear magnetic resonance spectrum (600 MHz — 13C-NMR) was 1 / m / n = 46.2 / 41. It was 4 / 12.4.

Figure 0006006928
Figure 0006006928

[実施例4〜6:高分子化合物5〜7の製造]
高分子化合物5〜7は、化合物(11)に替えて化合物(14)〜(16)をそれぞれ等モルで用いた以外は上記実施例1と同様にして製造した。下記式中、高分子化合物1の合成は省略する。
[Examples 4 to 6: Production of polymer compounds 5 to 7]
Polymer compounds 5 to 7 were produced in the same manner as in Example 1 except that the compounds (14) to (16) were used in equimolar amounts instead of the compound (11). In the following formula, the synthesis of polymer compound 1 is omitted.

Figure 0006006928
[Mw=13800、Mw/Mn=1.52、l/m/n(モル比)=46.4/40.5/13.1]
Figure 0006006928
[Mw = 13800, Mw / Mn = 1.52, 1 / m / n (molar ratio) = 46.4 / 40.5 / 13.1]

Figure 0006006928
[Mw=13300、Mw/Mn=1.50、l/m/n(モル比)=46.7/40.5/12.8]
Figure 0006006928
[Mw = 13300, Mw / Mn = 1.50, 1 / m / n (molar ratio) = 46.7 / 40.5 / 12.8]

Figure 0006006928
[Mw=13700、Mw/Mn=1.55、l/m/n=45.8/39.5/14.7]
Figure 0006006928
[Mw = 13700, Mw / Mn = 1.55, 1 / m / n = 45.8 / 39.5 / 14.7]

[比較例4〜6:比較高分子化合物5〜7の製造]
比較高分子化合物3は、化合物(4)に替えて化合物(7)〜(9)をそれぞれ等モルで用いた以外は上記比較例1と同様にして製造を試み、比較高分子化合物7以外は目的の高分子化合物が製造された。目的とした反応は以下の通りである。
[Comparative Examples 4-6: Production of Comparative Polymer Compounds 5-7]
Comparative polymer compound 3 was produced in the same manner as in Comparative Example 1 except that compounds (7) to (9) were used in equimolar amounts instead of compound (4). The target polymer compound was produced. The intended reactions are as follows.

Figure 0006006928
[Mw=11900、Mw/Mn=1.81、l/m/n=44.8/42.2/13.0]
Figure 0006006928
[Mw = 1900, Mw / Mn = 1.81, 1 / m / n = 44.8 / 42.2 / 13.0]

Figure 0006006928
[Mw=12700、Mw/Mn=1.68、l/m/n=45.9/40.7/13.4]
Figure 0006006928
[Mw = 1700, Mw / Mn = 1.68, 1 / m / n = 45.9 / 40.7 / 13.4]

Figure 0006006928
Figure 0006006928

[実施例7〜12、比較例7〜12]
上記実施例1〜6及び比較例1〜6により製造された高分子化合物を用いてレジスト組成物を調製し、レジストパターンの形成を行った後、露光余裕度、ラフネス及び形状の評価を行った。使用した高分子化合物、該高分子化合物中の残存モノマー量、パターン形成時の感度、及び評価結果を表1に示す。なお、高分子化合物が製造できなかった比較高分子化合物2、3及び7については、表1中に「合成できず」と記載する。
また、各例で用いた高分子化合物中のカチオン(実施例においては、第二のスルホニウム又はヨードニウムカチオン由来のカチオン)について、HPLCによりその疎水性を測定した結果(リテンションタイム)を表1中に併せて記載する。なお、化合物(3)及び高分子化合物1中のカチオンのリテンションタイムは2.7分である。
レジスト組成物の組成、パターン形成方法、評価方法は後述する。
[Examples 7 to 12, Comparative Examples 7 to 12]
A resist composition was prepared using the polymer compounds produced in Examples 1 to 6 and Comparative Examples 1 to 6, and after forming a resist pattern, the exposure margin, roughness and shape were evaluated. . Table 1 shows the polymer compound used, the amount of residual monomer in the polymer compound, the sensitivity during pattern formation, and the evaluation results. The comparative polymer compounds 2, 3 and 7 for which the polymer compound could not be produced are described in Table 1 as “Unable to synthesize”.
Table 1 shows the results (retention times) obtained by measuring the hydrophobicity of the cations (polymeric cations derived from the second sulfonium or iodonium cations in the examples) used in each example by HPLC. Also described. In addition, the retention time of the cation in the compound (3) and the polymer compound 1 is 2.7 minutes.
The composition of the resist composition, the pattern formation method, and the evaluation method will be described later.

Figure 0006006928
Figure 0006006928

上記の結果から、本発明の製造方法によれば、各種の露光により酸を発生する高分子化合物を製造可能であることが確認できた。
また、本発明の製造方法によって得られた高分子化合物2〜7は、比較例の高分子化合物に比べて残存モノマー量が低減されることが明らかである。比較例9〜11に使用した比較高分子化合物4〜6と、実施例9〜11に使用した高分子化合物4〜6の前駆体ポリマーとは、いずれも同様のメタノールによる分散洗浄を行っているが、実施例では残存モノマー低減効率がはるかに良いことがわかる。そして、実施例の高分子化合物2〜7を用いた実施例7〜12のレジスト組成物は、比較例のレジスト組成物に比べて、露光余裕度、ラフネス等のリソグラフィー特性およびパターン形状に優れることが確認できた。
From the above results, it was confirmed that according to the production method of the present invention, it is possible to produce a polymer compound that generates an acid by various exposures.
Moreover, it is clear that the amount of residual monomers of the polymer compounds 2 to 7 obtained by the production method of the present invention is reduced as compared with the polymer compound of the comparative example. The comparative polymer compounds 4 to 6 used in Comparative Examples 9 to 11 and the precursor polymers of the polymer compounds 4 to 6 used in Examples 9 to 11 are all subjected to the same dispersion cleaning with methanol. However, it can be seen that the residual monomer reduction efficiency is much better in the examples. And the resist composition of Examples 7-12 using the high molecular compounds 2-7 of an Example is excellent in lithography characteristics and pattern shapes, such as exposure margin and roughness, compared with the resist composition of a comparative example. Was confirmed.

<カチオンの疎水性の測定>
カチオンの疎水性度は、以下の条件のHPLC測定により行った。
溶離液(展開溶媒):アセトニトリル/バッファー液(50/50体積比)
バッファー液:トリフルオロ酢酸/イオン交換水(0.1質量%)。
装置:Dionex U3000(Dionex社製)。
カラム:Speriorex−ODX(資生堂社製)。
検出器:Corona CAD(ESA Biosciences社製)。
流速:1mL/分。
カラム温度:30℃
サンプル濃度:固形分0.1質量%のアセトニトリル溶液
注入量:2μl
なお、上記サンプル濃度は、アニオンがBrで、カチオンが種々の目的の構造となる化合物の固形分濃度を示す。
<Measurement of hydrophobicity of cations>
The degree of hydrophobicity of the cation was measured by HPLC measurement under the following conditions.
Eluent (developing solvent): acetonitrile / buffer solution (50/50 volume ratio)
Buffer solution: trifluoroacetic acid / ion exchange water (0.1% by mass).
Apparatus: Dionex U3000 (manufactured by Dionex).
Column: Superiorex-ODX (manufactured by Shiseido Co., Ltd.).
Detector: Corona CAD (manufactured by ESA Biosciences).
Flow rate: 1 mL / min.
Column temperature: 30 ° C
Sample concentration: acetonitrile solution with a solid content of 0.1% by mass Injection volume: 2 μl
The sample concentration indicates the solid content concentration of a compound in which the anion is Br and the cation has various target structures.

<レジスト組成物の調製>
レジスト組成物の調製は、下記に示す各成分を[ ]内に示す配合量で混合、溶解することにより行った。
(A)成分:表1に示す各高分子化合物[100質量部]。
(D)成分:トリ−n−オクチルアミン[1.6質量部]。
(E)成分:サリチル酸[0.64質量部]。
(S)成分(1):γ−ブチロラクトン[200質量部]。
(S)成分(2):PGMEA/PGME/シクロヘキサノン=30/20/50(質量比)の混合溶剤[4160質量部]。
<Preparation of resist composition>
The resist composition was prepared by mixing and dissolving the following components in the amounts shown in [].
(A) Component: Each polymer compound shown in Table 1 [100 parts by mass].
Component (D): tri-n-octylamine [1.6 parts by mass].
Component (E): salicylic acid [0.64 parts by mass].
(S) Component (1): γ-butyrolactone [200 parts by mass].
(S) Component (2): PGMEA / PGME / cyclohexanone = 30/20/50 (mass ratio) mixed solvent [4160 parts by mass].

<残存モノマー量の測定>
残存モノマー量は、以下の手順により測定した。
手順1:化合物(3)をγ−ブチロラクトンに溶解させた、異なる濃度(5点)の溶液に対してHPLC測定を実施し、検量線を作成して「HPLC面積と水溶性モノマーの濃度」の関係式を求めた。
手順2:各実施例については得られた塩交換前の合成物(高分子化合物1)、比較例については最終的に得られた合成物(比較高分子化合物2〜7)をそれぞれγ−ブチロラクトンに溶解させて濃度1質量%溶液を調製した。
手順3:濃度1質量%溶液に対して下記条件でHPLC測定を実施し、上記関係式より、高分子化合物の固形分に対する残存モノマー量(質量%)を算出した。その結果を「残存モノマー量(ppm)」とした。
<Measurement of residual monomer amount>
The amount of residual monomer was measured by the following procedure.
Procedure 1: HPLC measurement was carried out on solutions of different concentrations (5 points) in which compound (3) was dissolved in γ-butyrolactone, and a calibration curve was prepared to determine “HPLC area and concentration of water-soluble monomer”. The relational expression was obtained.
Procedure 2: For each example, the obtained compound (salt polymer 1) before salt exchange and for the comparative example, finally obtained compounds (comparative polymer compounds 2 to 7) are respectively γ-butyrolactone. 1% by mass solution was prepared.
Procedure 3: HPLC measurement was performed on the solution having a concentration of 1% by mass under the following conditions, and the residual monomer amount (% by mass) relative to the solid content of the polymer compound was calculated from the above relational expression. The result was defined as “residual monomer amount (ppm)”.

HPLC測定は、以下に示す測定条件により実施した。
[HPLC測定条件]
溶離液(展開溶媒):アセトニトリル/バッファー液(80/20体積比)、
バッファー液:トリフルオロ酢酸/イオン交換水(0.1質量%)、
カラム:Superiorex−ODS、
オーブン温度:30℃、
測定波長:210nm、
流速:1mL/分(7分経過まで)3mL/分(20分まで)。
HPLCの展開溶媒の混合比は、用いた水溶性モノマーの種類に応じ、アセトニトリル/バッファー液=90/10〜30/70体積比の間で適宜変更した。
The HPLC measurement was performed under the following measurement conditions.
[HPLC measurement conditions]
Eluent (developing solvent): acetonitrile / buffer solution (80/20 volume ratio),
Buffer solution: trifluoroacetic acid / ion exchange water (0.1% by mass),
Column: Superiorex-ODS,
Oven temperature: 30 ° C
Measurement wavelength: 210 nm,
Flow rate: 1 mL / min (up to 7 minutes) 3 mL / min (up to 20 minutes).
The mixing ratio of the developing solvent for HPLC was appropriately changed between acetonitrile / buffer solution = 90 / 10-30 / 70 volume ratio depending on the type of water-soluble monomer used.

<レジストパターンの形成>
90℃で36秒間のヘキサメチルジシラザン(HMDS)処理を施した8インチシリコン基板上に、各例のレジスト組成物を、スピンナーを用いて均一にそれぞれ塗布し、140℃で60秒間のベーク処理(PAB)を行い、レジスト膜(膜厚60nm)を成膜した。
該レジスト膜に対し、電子線描画機HL800D(VSB)(Hitachi社製)を用い、加速電圧50keVにて描画(露光)を行った。
次いで、110℃で60秒間のベーク処理(露光後加熱PEB)を行い、さらに23℃にてテトラメチルアンモニウムヒドロキシド(TMAH)の2.38質量%水溶液(商品名:NMD−3、東京応化工業(株)製)を用いて60秒間の現像を行った。
その結果、いずれの例においても、ライン幅100nm、ピッチ200nmのラインアンドスペースのレジストパターン(以下「LSパターン」という。)が形成された。併せて、該LSパターンが形成される最適露光量Eop(μC/cm;感度)を求めた。
<Formation of resist pattern>
Each resist composition was uniformly applied using a spinner on an 8-inch silicon substrate that had been subjected to hexamethyldisilazane (HMDS) treatment at 90 ° C. for 36 seconds, and baked at 140 ° C. for 60 seconds. (PAB) was performed to form a resist film (film thickness 60 nm).
The resist film was drawn (exposed) at an acceleration voltage of 50 keV using an electron beam drawing machine HL800D (VSB) (manufactured by Hitachi).
Next, baking treatment (post-exposure PEB) was performed at 110 ° C. for 60 seconds, and a 2.38 mass% aqueous solution of tetramethylammonium hydroxide (TMAH) (trade name: NMD-3, Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd.) at 23 ° C. For 60 seconds.
As a result, in each example, a line-and-space resist pattern (hereinafter referred to as “LS pattern”) having a line width of 100 nm and a pitch of 200 nm was formed. In addition, the optimum exposure dose Eop (μC / cm 2 ; sensitivity) at which the LS pattern was formed was determined.

<露光余裕度(ELマージン)評価>
前記最適露光量EopでLSパターンのラインがターゲット寸法(スペース幅100nm)の±5%(95nm〜105nm)の範囲内で形成される際の露光量を求め、次式によりELマージン(単位:%)を求めた。
ELマージン(%)=(|E1−E2|/Eop)×100
E1:ライン幅95nmのLSパターンが形成された際の露光量(mJ/cm
E2:ライン幅105nmのLSパターンを形成された際の露光量(mJ/cm
なお、ELマージンは、その値が大きいほど、露光量の変動に伴うパターンサイズの変化量が小さいことを示す。
<Evaluation of exposure margin (EL margin)>
The exposure amount when the line of the LS pattern is formed within the range of ± 5% (95 nm to 105 nm) of the target dimension (space width 100 nm) with the optimum exposure amount Eop is obtained, and the EL margin (unit:%) is obtained by the following equation. )
EL margin (%) = (| E1-E2 | / Eop) × 100
E1: Exposure amount (mJ / cm 2 ) when an LS pattern having a line width of 95 nm was formed
E2: exposure amount (mJ / cm 2 ) when an LS pattern having a line width of 105 nm was formed
Note that the larger the value of the EL margin, the smaller the change amount of the pattern size accompanying the change in the exposure amount.

<ラインエッジラフネス(LER)評価>
前記最適露光量Eopで形成したLSパターンについて、LERを示す尺度である3σを求めた。
「3σ」は、測長SEM(走査型電子顕微鏡、加速電圧800V、商品名:S−9380、日立ハイテクノロジーズ社製)により、ライン幅を、ラインの長手方向に400箇所測定し、その結果から求めた標準偏差(σ)の3倍値(3s)(単位:nm)を意味する。この3sの値が小さいほど、ライン側壁のラフネスが小さく、より均一幅のLSパターンが得られたことを意味する。
<Evaluation of line edge roughness (LER)>
With respect to the LS pattern formed with the optimum exposure amount Eop, 3σ, which is a scale indicating LER, was obtained.
“3σ” is a length measurement SEM (scanning electron microscope, acceleration voltage 800 V, trade name: S-9380, manufactured by Hitachi High-Technologies Corporation), and the line width was measured at 400 points in the longitudinal direction of the line. It means a triple value (3 s) (unit: nm) of the obtained standard deviation (σ). The smaller the value of 3s, the smaller the roughness of the line side wall, which means that an LS pattern having a more uniform width was obtained.

<パターン形状評価>
前記最適露光量Eopにおいて形成されたLSパターンの断面形状を、走査型電子顕微鏡(商品名:SU−8000、日立ハイテクノロジー社製)を用いて観察することにより、レジストパターン形状について以下の基準により評価した。
○:矩形性が高い。
×:Top−round形状(パターン断面の上部が丸みを帯びた形状)であり、矩形性が低い。
<Pattern shape evaluation>
By observing the cross-sectional shape of the LS pattern formed at the optimum exposure amount Eop using a scanning electron microscope (trade name: SU-8000, manufactured by Hitachi High-Technology Corporation), the resist pattern shape is determined according to the following criteria. evaluated.
○: The rectangularity is high.
X: Top-round shape (shape in which the upper part of the pattern cross section is rounded) and rectangularity is low.

Claims (2)

スルホン酸アニオン、カルボン酸アニオン、スルホニルイミドアニオン、ビス(アルキルスルホニル)イミドアニオン、及びトリス(アルキルスルホニル)メチドアニオンからなる群より選択される少なくとも一種のアニオン基と、第一のスルホニウム又はヨードニウムカチオンとを有するモノマーを重合して前駆体ポリマーを合成し、洗浄した後、当該前駆体ポリマーを第二のスルホニウム又はヨードニウムカチオンと塩交換させる、高分子化合化合物の製造方法であって、
前記第二のスルホニウム又はヨードニウムカチオンが、前記第一のスルホニウム又はヨードニウムカチオンよりも疎水性が高く、
高速液体クロマトグラフィー法により測定される、前記第二のスルホニウム又はヨードニウムカチオンのリテンションタイムを、前記第二のスルホニウム又はヨードニウムカチオンのリテンションタイムの測定と同条件の高速液体クロマトグラフィー法により測定される、前記第一のスルホニウム又はヨードニウムカチオンのリテンションタイムで割った値が1.05以上であることを特徴とする、露光により分解して酸を発生する構成単位を有する高分子化合物の製造方法。
At least one anion group selected from the group consisting of a sulfonate anion, a carboxylate anion, a sulfonylimide anion, a bis (alkylsulfonyl) imide anion, and a tris (alkylsulfonyl) methide anion, and a first sulfonium or iodonium cation A method for producing a polymer compound comprising polymerizing a monomer having a precursor polymer, washing, and then salt-exchanging the precursor polymer with a second sulfonium or iodonium cation,
The second sulfonium or iodonium cation is more hydrophobic than the first sulfonium or iodonium cation,
The retention time of the second sulfonium or iodonium cation measured by a high performance liquid chromatography method is measured by a high performance liquid chromatography method under the same conditions as the measurement of the retention time of the second sulfonium or iodonium cation. A method for producing a polymer compound having a structural unit capable of decomposing upon exposure to generate an acid, wherein a value divided by a retention time of the first sulfonium or iodonium cation is 1.05 or more.
前記第一のスルホニウム又はヨードニウムカチオンと、前記第二のスルホニウム又はヨードニウムカチオンとの組み合わせが、
前記第一のスルホニウム又はヨードニウムカチオンが下記式(c−1−1)で表されるカチオンであり;前記第二のスルホニウム又はヨードニウムカチオンが下記式(c−1−01)〜(c−1−02)、(c−1−03−2)、(c−1−8)若しくは(c−1−31)で表されるカチオン、又はビス(4−tert−ブチルフェニル)ヨードニウムカチオンである組合せ、
前記第一のスルホニウム又はヨードニウムカチオンがジフェニルヨードニウムカチオンであり;前記第二のスルホニウム又はヨードニウムカチオンが下記式(c−1−1)〜(c−1−31)、(c−1−01)〜(c−1−04)である組み合わせ、又は
前記第一のスルホニウム又はヨードニウムカチオンが、トリメチルスルホニウムカチオンまたは下記式(c−1−33)で表されるカチオンあり;第二のスルホニウム又はヨードニウムカチオンが下記式(c−1−1)〜(c−1−31)、(c−1−01)〜(c−1−04)である組み合わせである、請求項1記載の高分子化合物の製造方法。
Figure 0006006928
Figure 0006006928
Figure 0006006928
Figure 0006006928
Figure 0006006928
Figure 0006006928
Figure 0006006928
Figure 0006006928
Figure 0006006928
Figure 0006006928
Figure 0006006928
Figure 0006006928
Figure 0006006928
[式中、g1は繰返し数を示し、1〜5の整数である。g2は繰返し数を示し、0〜20の整数である。g3は繰返し数を示し、0〜20の整数である。uは1〜3の整数である。R 6a 〜R 8a は置換基を有していてもよいアルキレン基又は置換基を有していてもよいフェニレン基である。R 6b 〜R 8b は水素原子、置換基を有していてもよいアルキル基、置換基を有していてもよいフェニル基またはナフチル基である。R は置換基を有していてもよいアルキル基、置換基を有していてもよいフェニル基またはナフチル基である。]
A combination of the first sulfonium or iodonium cation and the second sulfonium or iodonium cation is
The first sulfonium or iodonium cation is a cation represented by the following formula (c-1-1); and the second sulfonium or iodonium cation is represented by the following formulas (c-1-01) to (c-1- 02), (c-1-03-2), a cation represented by (c-1-8) or (c-1-31), or a combination that is a bis (4-tert-butylphenyl) iodonium cation,
The first sulfonium or iodonium cation is a diphenyliodonium cation; and the second sulfonium or iodonium cation is represented by the following formulas (c-1-1) to (c-1-31), (c-1-01) to The combination of (c-1-04), or the first sulfonium or iodonium cation is a trimethylsulfonium cation or a cation represented by the following formula (c-1-33); the second sulfonium or iodonium cation is The manufacturing method of the high molecular compound of Claim 1 which is the combination which is the following formula (c-1-1)-(c-1-31), (c-1-01)-(c-1-04). .
Figure 0006006928
Figure 0006006928
Figure 0006006928
Figure 0006006928
Figure 0006006928
Figure 0006006928
Figure 0006006928
Figure 0006006928
Figure 0006006928
Figure 0006006928
Figure 0006006928
Figure 0006006928
Figure 0006006928
[Wherein g1 represents the number of repetitions and is an integer of 1 to 5. g2 represents the number of repetitions and is an integer of 0-20. g3 represents the number of repetitions and is an integer of 0-20. u is an integer of 1 to 3. R 6a to R 8a are an alkylene group which may have a substituent or a phenylene group which may have a substituent. R 6b to R 8b are a hydrogen atom, an alkyl group which may have a substituent, a phenyl group which may have a substituent, or a naphthyl group. R 9 is an alkyl group which may have a substituent, a phenyl group which may have a substituent, or a naphthyl group. ]
JP2011241615A 2011-11-02 2011-11-02 Method for producing polymer compound Active JP6006928B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2011241615A JP6006928B2 (en) 2011-11-02 2011-11-02 Method for producing polymer compound

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2011241615A JP6006928B2 (en) 2011-11-02 2011-11-02 Method for producing polymer compound

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2013095880A JP2013095880A (en) 2013-05-20
JP6006928B2 true JP6006928B2 (en) 2016-10-12

Family

ID=48618178

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2011241615A Active JP6006928B2 (en) 2011-11-02 2011-11-02 Method for producing polymer compound

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP6006928B2 (en)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5668710B2 (en) * 2012-02-27 2015-02-12 信越化学工業株式会社 POLYMER COMPOUND, RESIST MATERIAL CONTAINING SAME, PATTERN FORMING METHOD, AND METHOD FOR PRODUCING THE POLYMER COMPOUND
JP5995147B2 (en) * 2013-09-24 2016-09-21 住友電装株式会社 Circuit structure
US9527936B2 (en) 2014-10-10 2016-12-27 Rohm And Haas Electronic Materials Llc Polymer comprising repeat units with photoacid-generating functionality and base-solubility-enhancing functionality, and associated photoresist composition and electronic device forming method
US9557642B2 (en) 2014-10-10 2017-01-31 Rohm And Haas Electronic Materials Llc Photoresist composition and associated method of forming an electronic device
US9606434B2 (en) * 2014-10-10 2017-03-28 Rohm And Haas Electronic Materials, Llc Polymer comprising repeat units with photoacid-generating functionality and base-solubility-enhancing functionality, and associated photoresist composition and electronic device forming method
US9551930B2 (en) 2014-10-10 2017-01-24 Rohm And Haas Electronic Materials Llc Photoresist composition and associated method of forming an electronic device

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2010119910A1 (en) * 2009-04-15 2010-10-21 Jsr株式会社 Radiation-sensitive resin composition, polymer used therein, and compound used therein
JP5715890B2 (en) * 2011-06-10 2015-05-13 東京応化工業株式会社 Method for producing polymer compound
JP5779456B2 (en) * 2011-09-13 2015-09-16 東京応化工業株式会社 Resist composition and resist pattern forming method
JP5785847B2 (en) * 2011-10-17 2015-09-30 東京応化工業株式会社 EUV or EB resist composition, resist pattern forming method

Also Published As

Publication number Publication date
JP2013095880A (en) 2013-05-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5715890B2 (en) Method for producing polymer compound
JP5518671B2 (en) Resist composition, resist pattern forming method, polymer compound
JP5677135B2 (en) Resist composition, resist pattern forming method, and polymer compound
JP5856441B2 (en) Resist composition, resist pattern forming method, and polymer compound
JP5178220B2 (en) Resist composition and resist pattern forming method
JP5814072B2 (en) Resist composition, resist pattern forming method, novel compound, acid generator
JP5802394B2 (en) Resist composition, resist pattern forming method, and polymer compound
JP5462681B2 (en) Positive resist composition, resist pattern forming method, polymer compound, compound
JP5439139B2 (en) Positive resist composition and resist pattern forming method
JP6006928B2 (en) Method for producing polymer compound
JP5358112B2 (en) Resist composition and resist pattern forming method
JP5775783B2 (en) Resist composition and resist pattern forming method
JP5978055B2 (en) Compound, radical polymerization initiator, compound production method, polymer, resist composition, and resist pattern formation method
JP5933328B2 (en) Resist composition and resist pattern forming method
JP2010102333A (en) Positive resist composition, method of forming resist pattern, and polymeric compound
JP5145027B2 (en) Resist composition and resist pattern forming method
JP2013125204A (en) Resist composition and resist pattern formation method
JP5707241B2 (en) Resist composition, resist pattern forming method, and polymer compound
JP2013003512A (en) Resist composition, and resist pattern forming method
JP6170990B2 (en) Compound
JP5923312B2 (en) Resist composition and resist pattern forming method
JP2012252077A (en) Resist composition and method for forming resist pattern, and polymer compound and method for producing the same
JP2013088573A (en) Resist composition for euv or eb, and method for forming resist pattern
JP6336634B2 (en) Compound
JP5645740B2 (en) Resist composition and resist pattern forming method

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20140901

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20150619

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20150804

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20151002

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20151005

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20160315

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20160516

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20160517

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20160816

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20160912

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6006928

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150