以下に、本発明にかかる3相スイッチング整流回路の実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。なお、これらの実施の形態によりこの発明が限定されるものではない。
(実施の形態1)
実施の形態1にかかる3相スイッチング整流回路160jは、基本の形態にかかる3相スイッチング整流回路160をモジュール化したものである。そこで、実施の形態1にかかるパワーモジュールPMについて説明する前に、基本の形態にかかる3相スイッチング整流回路160を含む3相整流器100について図8を用いて説明する。図8は、3相整流器100の構成を示す図である。
3相整流器100は、3相交流電源PSから入力端子IT−r〜IT−tを介して入力される3相交流電力を直流電力に変換して出力端子OT−p、OT−nから機器MCに出力する。3相交流電力は、例えば、R相の交流電力、S相の交流電力、及びT相の交流電力を含む。
具体的には、3相整流器100は、3相リアクトル8、入力コンデンサ9、3相スイッチング整流回路160、制御部7、直流リアクトル2、及びコンデンサ10を備える。3相スイッチング整流回路160は、全波整流回路4、及び双方向スイッチ回路3を有する。
3相リアクトル8は、入力端子IT−r〜IT−tと双方向スイッチ回路3との間に接続されている。入力コンデンサ9は、入力端子IT−r〜IT−tと双方向スイッチ回路3との間に接続されている。
全波整流回路4は、双方向スイッチ回路3と出力端子OT−p、OT−nとの間に接続されている。全波整流回路4は、例えば、ブリッジ接続された6つのダイオードを有し、6つのダイオードを用いて、双方向スイッチ回路3を介して供給された3相交流電力を全波整流して直流電力を生成する。6つのダイオードのそれぞれは、整流素子として機能するものであり、例えば、いわゆる整流ダイオードが用いられている。
双方向スイッチ回路3は、入力端子IT−r〜IT−t側と全波整流回路4の各相の入力ノードとの接続をON/OFFする。すなわち、双方向スイッチ回路3は、3相交流電源PSから全波整流回路4への各相の交流電力の供給をON/OFFする複数のスイッチング素子IGBT(図9参照)を有する。
すなわち、3相スイッチング整流回路160は、双方向スイッチ回路3及び全波整流回路4を用いて、3相交流電力を直流電力に変換して出力する。
制御部7は、3相交流電源PSの各相の電圧を検出して、各相の検出電圧に基づいて、双方向スイッチ回路3をスイッチング制御する。
具体的には、制御部7は、スイッチングパターン発生器5及び駆動回路6を有する。スイッチングパターン発生器5は、3相交流電源PSの各相の電圧を検出して、各相の検出電圧に基づいて、双方向スイッチ回路3をON/OFFさせるための各相のスイッチングパターンを生成し、生成されたスイッチングパターンを駆動回路6へ供給する。駆動回路6は、生成されたスイッチングパターンに従って、双方向スイッチ回路3の各相のスイッチング素子IGBT(図9参照)をスイッチング制御する。
直流リアクトル2は、全波整流回路4と出力端子OT−pとの間に接続されている。直流リアクトル2は、例えば、全波整流回路4と出力端子OT−pとの間のPラインに直列に挿入されている。
コンデンサ10は、全波整流回路4と出力端子OT−p、OT−nとの間に接続されている。コンデンサ10は、例えば、一端の電極10pが全波整流回路4と出力端子OT−pとの間のPラインに接続され、他端の電極10nが全波整流回路4と出力端子OT−nとの間のNラインとに接続されている。
次に、3相スイッチング整流回路160の構成について図9を用いて説明する。図9は、3相スイッチング整流回路160における双方向スイッチ回路3の1つの相のスイッチの構成例を示す回路図である。
双方向スイッチ回路3は、図9に示すように、複数のダイオードD1〜D5とスイッチング素子IGBTとで構成される。スイッチング素子IGBTは、例えば、絶縁ゲートバイポーラトランジスタである。双方向スイッチ回路3では、スイッチング素子IGBTがオンした際に複数のダイオードD1〜D4を介して左右の双方向に電流が流れ得る。
図9に示す回路構成において、複数のダイオードD1〜D4のそれぞれは、整流素子として機能するものであり、例えば、いわゆる整流ダイオードが用いられている。ダイオードD5は、スイッチング素子IGBTを保護するための還流ダイオードとして機能する。すなわち、ダイオードD5は、スイッチング素子IGBTのコレクタがエミッタより高電圧になるような逆電圧がスイッチング素子IGBTのエミッタ・コレクタ間にかかることを抑制するための逆電圧抑制素子として機能するものであり、例えば、いわゆる整流ダイオードよりも逆回復時間が短いいわゆる高速スイッチングダイオード(FRD:Fast Recovery Diode)が用いられる。なお、逆回復時間とは、ダイオードに逆電圧がかかったときにダイオードに電流が流れなくなるまでの時間を示す。
3相スイッチング整流回路160では、この構成を3相分設けて双方向スイッチ回路3を構成するとともにその後段に図8に示すように全波整流回路4を接続する。例えば、双方向スイッチ回路3は、3相に対応した複数のスイッチング素子IGBT−r〜IGBT−tを含む。すなわち、双方向スイッチ回路3は、各相ごとにスイッチング素子IGBT−r〜IGBT−tを含む。
なお、3相スイッチング整流回路160は、図9に示す回路構成を3相分設けることで双方向スイッチ回路3を構成してその後段に全波整流回路4を接続した回路構成とする代わりに、双方向スイッチ回路3と全波整流回路4とを組み合わせて図17に示すような回路構成としてもよい。すなわち、図17に示すような回路構成において、1点鎖線で示すダイオードD1〜D15及びスイッチング素子IGBT−r〜IGBT−tを含む部分が双方向スイッチ回路3として機能する部分であり、破線で示すダイオードD3、D4、D7、D8、D11、D12を含む部分が全波整流回路4として機能する部分である。
図17に示すような回路構成において、ダイオードD1〜D12は、例えば、いわゆる整流ダイオードが用いられており、ダイオードD13〜D15は、いわゆる高速スイッチングダイオード(FRD)が用いられている。
図17に示すような回路構成を、図8のイ〜チに接続することにより、同様に機能させることが可能である。
図17に示すような回路構成を図8のイ〜チに接続した場合、スイッチング素子IGBT−rは、R相に対応したスイッチング動作を行う。スイッチング素子IGBT−sは、S相に対応したスイッチング動作を行う。スイッチング素子IGBT−tは、T相に対応したスイッチング動作を行う。すなわち、双方向スイッチ回路3は、各相毎にスイッチング素子IGBT−r〜IGBT−tを含む。
図17に示す双方向スイッチ回路3では、交流電力が入力される交流電力入力側「イ」に複数のダイオードD1、D2が、互いに逆極性で並列接続されている。複数のダイオードD1、D2は、スイッチング素子IGBT−rがオンすることにより互いに短絡され、スイッチング素子IGBT−rがオフすることにより互いに開放される。
ダイオードD1は、カソードが入力端子IT−rに電気的に接続され、アノードがスイッチング素子IGBT−rのエミッタに電気的に接続されている。
ダイオードD2は、カソードがスイッチング素子IGBT−rのコレクタに電気的に接続され、アノードが入力端子IT−rに電気的に接続されている。
ダイオードD3は、カソードが出力端子OT−pに電気的に接続され、アノードがスイッチング素子IGBT−rのエミッタに電気的に接続されている。
ダイオードD4は、カソードがスイッチング素子IGBT−rのコレクタに電気的に接続され、アノードが出力端子OT−nに電気的に接続されている。
図17に示す双方向スイッチ回路3では、交流電力が入力される交流電力入力側「ロ」に複数のダイオードD5、D6が、互いに逆極性で並列接続されている。複数のダイオードD5、D6は、スイッチング素子IGBT−sがオンすることにより互いに短絡され、スイッチング素子IGBT−sがオフすることにより互いに開放される。
ダイオードD5は、カソードが入力端子IT−sに電気的に接続され、アノードがスイッチング素子IGBT−sのエミッタに電気的に接続されている。
ダイオードD6は、カソードがスイッチング素子IGBT−sのコレクタに電気的に接続され、アノードが入力端子IT−sに電気的に接続されている。
ダイオードD7は、カソードが出力端子OT−pに電気的に接続され、アノードがスイッチング素子IGBT−sのエミッタに電気的に接続されている。
ダイオードD8は、カソードがスイッチング素子IGBT−sのコレクタに電気的に接続され、アノードが出力端子OT−nに電気的に接続されている。
図17に示す双方向スイッチ回路3では、交流電力が入力される交流電力入力側「ハ」に複数のダイオードD9、D10が、互いに逆極性で並列接続されている。複数のダイオードD9、D10は、スイッチング素子IGBT−tがオンすることにより互いに短絡され、スイッチング素子IGBT−tがオフすることにより互いに開放される。
ダイオードD9は、カソードが入力端子IT−tに電気的に接続され、アノードがスイッチング素子IGBT−tのエミッタに電気的に接続されている。
ダイオードD10は、カソードがスイッチング素子IGBT−tのコレクタに電気的に接続され、アノードが入力端子IT−tに電気的に接続されている。
ダイオードD11は、カソードが出力端子OT−pに電気的に接続され、アノードがスイッチング素子IGBT−tのエミッタに電気的に接続されている。
ダイオードD12は、カソードがスイッチング素子IGBT−tのコレクタに電気的に接続され、アノードが出力端子OT−nに電気的に接続されている。
ダイオードD13は、カソードがスイッチング素子IGBT−rのコレクタに電気的に接続され、アノードがスイッチング素子IGBT−rのエミッタに電気的に接続されている。
ダイオードD14は、カソードがスイッチング素子IGBT−sのコレクタに電気的に接続され、アノードがスイッチング素子IGBT−sのエミッタに電気的に接続されている。
ダイオードD15は、カソードがスイッチング素子IGBT−tのコレクタに電気的に接続され、アノードがスイッチング素子IGBT−tのエミッタに電気的に接続されている。
次に、スイッチングパターン発生器5の構成について図10〜図13を用いて説明する。図10は、スイッチングパターン発生器5の一例を示すブロック図である。図11は、スイッチングパターン発生器5でスイッチングパターンを生成する場合に使用される鋸歯状波W1、W2の波形例を示す図である。図12は、スイッチングパターン発生器5のパターン信号発生器11の構成例を示す回路図である。図13は、スイッチングパターン発生器5の相電圧判別器13の構成例を示す図である。
スイッチングパターン発生器5は、直流電圧の脈動と入力電流の高調波を抑制するために、以下に説明するような、双方向スイッチ回路3のスイッチングパターン(R相パルス、S相パルス、T相パルス)を生成する。スイッチングパターン発生器5は、スイッチング周期の立ち上がり等の所定のタイミングで、3相交流電源PSの各相の電圧の最大電位相、中間電位相、および最小電位相をそれぞれ検出し、最大電位相および最小電位相の場合は、それぞれの電位に比例する時間がONとなり、かつ、スイッチング周期T内で少なくとも一方がONとなるスイッチングパターンを生成し、また、中間電位相の場合は、常にONとなるスイッチングパターンを生成する(図15参照)。なお、スイッチング周期Tは、電源周波数(例えば、50Hz)に対して十分短い周期(例えば、1/100kHz=10μsec)に決定する。
スイッチングパターン発生器5は、図10に示すように、パターン信号発生器11、電圧設定器12、相電圧判別器13、コンパレータ14R〜14T、コンパレータ15R〜15T、AND回路16R〜16T、AND回路17R〜17T、AND回路18R〜18T、及びOR回路19R〜19Tを備えている。
電圧設定器12は、パターン信号発生器11に、直流電圧設定値(降圧したい目標の電圧)に応じて決定した直流電圧設定ゲインk(但し、k=0.5〜1)を設定する。
パターン信号発生器11は、R相電圧a、S相電圧b、T相電圧cを−1〜+1にそれぞれ規格化した後、電圧設定器12から入力される直流電圧設定ゲインk(0.5〜1)との積を演算して、R相制御電圧ka、S相制御電圧kb、T相制御電圧kcとして出力する。
相電圧判別器13は、R相電圧a、S相電圧b、T相電圧cを比較して、いずれの相電圧が最大、最小、中間かを判別し、R相、S相、T相の最大判定信号(最大の場合「1」、最大でない場合「0」)、最小判定信号(最小の場合「1」、最小でない場合「0」)、中間判定信号(中間の場合「1」、中間でない場合「0」)をそれぞれ出力する。
コンパレータ14R〜14Tは、R相制御電圧ka、S相制御電圧kb、T相制御電圧kcと鋸歯状波W1(図11参照)とをそれぞれ比較して、比較信号を出力する。コンパレータ15R〜15Tは、R相制御電圧ka、S相制御電圧kb、T相制御電圧kcと鋸歯状波W2(図11参照)とをそれぞれ比較して、比較信号を出力する。AND回路16R〜16Tは、コンパレータ14R〜14Tの比較信号とR、S、T相最大判定信号とのAND演算をそれぞれ行う。AND回路17R〜17Tは、コンパレータ15R〜15Tの比較信号とR、S、T相最小判定信号とのAND演算をそれぞれ行う。AND回路18R〜18Tは、固定値「1」とR、S、T相中間判定信号とのAND演算をそれぞれ行う。OR回路19R〜19Tは、AND回路16R〜18Rの出力、AND回路16S〜18Sの出力、AND回路16T〜18Tの出力をそれぞれOR演算して最終のR、S、T相パルス(スイッチングパターン)として駆動回路6に出力する。
R相に関する動作を説明する。コンパレータ14Rは、パターン信号発生器11から入力されるR相制御電圧kaと鋸歯状波W1とを比較し、比較信号(R相制御電圧ka>鋸歯状波W1の場合に「1」、R相制御電圧ka≦鋸歯状波W1の場合に「0」)をAND回路16Rに出力する。AND回路16Rは、コンパレータ14Rから入力される比較信号と、R相最大判定信号とのAND演算を行って、OR回路19Rに出力する。
コンパレータ15Rは、鋸歯状波W2とパターン信号発生器11から入力されるR相制御電圧kaとを比較し、比較信号(鋸歯状波W2>R相制御電圧kaの場合に「1」、鋸歯状波W2≦R相制御電圧kaの場合に「0」)をAND回路17Rに出力する。AND回路17Rは、コンパレータ15Rから入力される比較信号と、R相最小判定信号とのAND演算を行って、OR回路19Rに出力する。
AND回路18Rは、固定信号「1」とR相中間判別信号とのAND演算を行って、OR回路19Rに出力する。OR回路19Rは、AND回路16R〜18Rの出力をOR演算して最終のR相パルスとして出力する。
S相に関する動作を説明する。コンパレータ14Sは、パターン信号発生器11から入力されるS相制御電圧kbと鋸歯状波W1とを比較し、比較信号(S相制御電圧kb>鋸歯状波W1の場合に「1」、S相制御電圧ka≦鋸歯状波W1の場合に「0」)をAND回路16Sに出力する。AND回路16Sは、コンパレータ14Sから入力される比較信号と、S相最大判定信号とのAND演算を行って、OR回路19Sに出力する。
コンパレータ15Sは、鋸歯状波W2とパターン信号発生器11から入力されるS相制御電圧kbとを比較し、比較信号(鋸歯状波W2>S相制御電圧kbの場合に「1」、鋸歯状波W2≦S相制御電圧kbの場合に「0」)をAND回路17Sに出力する。AND回路17Sは、コンパレータ15Sから入力される比較信号と、S相最小判定信号とのAND演算を行って、OR回路19Sに出力する。
AND回路18Sは、固定信号「1」とS相中間判別信号とのAND演算を行って、OR回路19Sに出力する。OR回路19Sは、AND回路16S〜18Sの出力をOR演算して最終のS相パルスとして出力する。
T相に関する動作を説明する。コンパレータ14Tは、パターン信号発生器11から入力されるT相制御電圧kcと鋸歯状波W1とを比較し、比較信号(T相制御電圧kc>鋸歯状波W1の場合に「1」、T相制御電圧kc≦鋸歯状波W1の場合に「0」)をAND回路16Tに出力する。AND回路16Tは、コンパレータ14Tから入力される比較信号と、T相最大判定信号とのAND演算を行って、OR回路19Tに出力する。
コンパレータ15Tは、鋸歯状波W2とパターン信号発生器11から入力されるT相制御電圧kcとを比較し、比較信号(鋸歯状波W2>S相制御電圧kcの場合に「1」、鋸歯状波W2≦T相制御電圧kcの場合に「0」)をAND回路17Tに出力する。AND回路17Tは、コンパレータ15Tから入力される比較信号と、T相最小判定信号とのAND演算を行って、OR回路19Tに出力する。
AND回路18Tは、固定信号「1」とT相中間判別信号とのAND演算を行って、OR回路19Tに出力する。OR回路19Tは、AND回路16T〜18Tの出力をOR演算して最終のT相パルスとして出力する。
パターン信号発生器11は、図12に示すように、R、S、T相電圧a、b、cと電圧設定器12から出力される直流電圧制御ゲインkとをそれぞれ乗算して、R相、S相、T相制御パターンka、kb、kcをそれぞれ出力する乗算器30R、30S、30Tを備えている。
相電圧判別器13は、図13に示すように、コンパレータ40R、40S、40Tと、AND回路41R、41S、41Tと、AND回路42R、42S、42Tと、NOR回路43R、43S、43Tとを備えている。
コンパレータ40Rは、R相電圧aとS相電圧bとを比較して、比較信号(R相電圧a>S相電圧bの場合に「1」、R相電圧a≦S相電圧bの場合に「0」)をAND回路41R、42S、41T、42Tに出力する。コンパレータ40Sは、S相電圧bとT相電圧cとを比較して、比較信号(S相電圧b>T相電圧cの場合に「1」、R相電圧a≦T相電圧cの場合に「0」)をAND回路41R、42R、41S、42Tに出力する。コンパレータ40Tは、T相電圧cとR相電圧aとを比較して、比較信号(T相電圧c>R相電圧aの場合に「1」、T相電圧c≦R相電圧aの場合に「0」)をAND回路42R、41S、42S、41Tに出力する。
AND回路41Rは、コンパレータ40Rの比較信号とコンパレータ40Sの比較信号とのAND演算結果をR相最大判定信号として出力する。AND回路42Rは、コンパレータ40Sの比較信号とコンパレータ40Tの比較信号とのAND演算結果をR相最小判定信号として出力する。AND回路41Sは、コンパレータ40Sの比較信号とコンパレータ40Tの比較信号とのAND演算結果をS相最大判定信号として出力する。AND回路42Sは、コンパレータ40Tの比較信号とコンパレータ40Rの比較信号とのAND演算結果をS相最小判定信号として出力する。AND回路41Tは、コンパレータ40Tの比較信号とコンパレータ40Rの比較信号とのAND演算結果をT相最大判定信号として出力する。AND回路42Tは、コンパレータ40Rの比較信号とコンパレータ40Sの比較信号とのAND演算結果をT相最小判定信号として出力する。
NOR回路43Rは、R相最大判定信号とR相最小判定信号とのNOR演算結果をR相中間判定信号として出力する。NOR回路43Sは、S相最大判定信号とS相最小判定信号とのNOR演算結果をS相中間判定信号として出力する。NOR回路43Tは、T相最大判定信号とT相最小判定信号とのNOR演算結果をT相中間判定信号として出力する。
つぎに、基本の形態における直流電圧の脈動と入力電流の高調波を低減する原理を説明する。基本の形態では、スイッチングパターン発生器5および駆動回路6によって、双方向スイッチ回路3を以下のようにスイッチングすることで、直流電圧の脈動と入力電流の高調波との低減を図る。図14は、R相電圧、S相電圧、T相電圧の各区間を説明するための図である。図15は、R、S、T相制御電圧ka、kb、kcと、鋸歯状波W1、W2と、R、S、T相パルス(スイッチングパターン)の一例を示す図である。
まず、直流電圧について説明する。図14において、3相交流電圧は、R相電圧、S相電圧、T相電圧の大小関係により、モード(区間)I〜VIの6つに区分する。R>T>SをモードI、R>S>TをモードII、S>R>TをモードIII、S>T>RをモードIV、T>S>RをモードV、T>R>SをモードVIに区分する。
ここでは、区間IIのR相最大、S相中間、T相最小の場合について説明する。R相電圧a、S相電圧b、T相電圧cは、上述したように、相電圧を「−1」と「1」の間で規格化したものである。直流電圧設定ゲインkは、上述したように、電圧設定器12において直流電圧設定値に応じて決定されるゲインで、0.5〜1の間の定数となる。直流電圧設定ゲインkは、パターン信号発生器11において、R相電圧a、S相電圧b、T相電圧cに乗算され、乗算されたR相制御電圧ka、S相制御電圧kb、T相制御電圧kcは、鋸歯状波W1、W2と切り合いする波形となる(図15参照)。
図15において、Tはスイッチング周期、xはR相パルス幅、yはS相パルス幅、zはT相パルス幅を示している。区間1、2、3の直流電圧は、それぞれ、区間1電圧=ST間電圧=b−c、区間2電圧=RT間電圧=a−c、区間3電圧=RS間電圧=a−bとなる。区間1の幅は、T−x、区間2の幅は、x−(T−z)=x+z−T、区間3の幅は、T−zである。一方、R相パルス幅xは、T:x=1:kaよりx=kaT、T相パルス幅zは、T:z=1:−kcよりz=−kcTである。よって、区間1の幅は、T−x=T−kaT=T(1−ka)、区間3の幅は、T−z=T−(−kcT)=T(1+kc)、区間2の幅は、x+z−T=kaT+(−kcT)−T=T(ka−kc−1)となる。
スイッチング周期Tの直流電圧の平均は、それぞれの区間ごとに直流電圧を積算しそれぞれを加算してスイッチング周期Tで除して、以下のように表すことができる。
スイッチング周期Tの電圧の平均={(b−c)×T×(1−ka)+(a−c)×T×(ka−kc−1)+(a−b)×T×(1+kc)}/T
=k(a2+c2)−kb(a+c)
ここで、a+b+c=0(3相条件)を考慮すると、
=k(a2+b2+c2)
さらに、交流理論から、a2+b2+c2=3/2より
=k×3/2
なお、上記スイッチング周期Tの電圧の平均は、相電圧に基づいて表されている。
従って、直流電圧のスイッチング区間の平均値は一定となり、直流電圧設定ゲインk×3/2となり、鋸歯状波W1、W2と比較する直流電圧設定ゲインkに比例する。このため、直流電圧設定ゲインkを選定することで、降圧して得られる直流電圧の大きさを制御できる。ここで、R相パルスとT相パルスがスイッチング周期Tの中で両方ONするために、直流電圧設定ゲインkの最小値は0.5であり、R相制御電圧ka、S相制御電圧kb、T相制御電圧kcが鋸歯状波W1、W2を越えないために、直流電圧設定ゲインkの最大値は、1となる。したがって、kの設定可能範囲は、0.5〜1の範囲内である。
つぎに、入力電流について説明する。R相の入力電流は、R相制御電圧kaの時間に比例する正の電流が流れる。T相の入力電流は、T相制御電圧kcの絶対値|kc|に比例する負の電流、すなわち、T相制御電圧kcに比例する電流が流れる。S相の入力電流は、区間1=T×(1−ka)で正の電流が流れ、区間3=T×(1+kc)で負の電流が流れる。従って、流れる正の電流は、T×(1−ka)−T×(1+kc)=T×(−ka−kc)=T×k×(−a−c)=T×k×bとなり、スイッチング周期Tの平均をTで除するとS相制御電圧kbとなる。このように、R相、S相、T相の電流は、R相制御電圧ka、S相制御電圧kb、T相制御電圧kcに比例する電流が流れることになり、入力の電圧に比例する電流が平均的に流れることになる。
本スイッチングによる直流電圧と入力電流をまとめると次のようになる。
(1)スイッチング周期Tにおける直流電圧の平均値は、降圧された一定の電圧値となる。
(2)スイッチング周期Tにおける入力電流の平均値は、入力の電圧比に分配される。
つぎに、入力電流が正弦波になることを説明する。3相交流電圧のR相電圧をVsin(ωt)、S相電圧をVsin(ωt+120)、T相電圧をVsin(ωt+240)とする。上記(2)より、入力電流は、R相電流をI(t)sin(ωt)、S相電流をI(t)sin(ωt+120)、T相電流をI(t)sin(ωt+240)と一般化して書くことができる。但し、I(t)は入力電流の振幅である。
この時の入力電力Pは、以下のように表すことができる。
P=Vsin(ωt)×I(t)sin(ωt)+Vsin(ωt+120)×I(t)sin(ωt+120)Vsin(ωt+240)+I(t)sin(ωt+240)
=V×I(t)sin2(ωt)+V×I(t)sin2(ωt+120)+V×I(t)sin2(ωt+240)
=V×I(t){sin2(ωt)+sin2(ωt+120)+sin2(ωt+240)}
{ }内を計算すると、{ }内は、定数3/2であるので、
P=V×I(t)×3/2を変形して、I(t)=P/V×2/3
ここで、Pが一定の場合、Vは一定であるので、I(t)は、時間に依存しない一定値となる。即ち、入力電流は、正弦波である。
(3)上記(2)の条件の下で、電力が一定である場合、入力電流は正弦波となる。
3相整流器100(図8参照)において、スイッチングパターン発生器5および駆動回路6で上記のスイッチングを行い、スイッチング周期T内での直流電圧の変動を除去する直流リアクトル2を全波整流回路4の出力側に接続したため、直流電圧は、上記(1)より一定となる。基本の形態では、機械MCの負荷が、短時間(100msec程度)において、一定電力とみなす。スイッチング周期T内での入力電流変動を除去する入力コンデンサ9を双方向スイッチ回路3の入力側に接続することで、上記(3)より、入力電流は、正弦波となる。
なお、上記では、スイッチングパターンを生成するために、鋸歯状波を使用した場合を説明したが、これに限られるものではなく、最大電圧相と最小電圧相に対する制約を満足させるものであればよく、例えば、三角波等のキャリア波形を用いることにしてもよい。
次に、基本の形態における直流電圧および直流電流のシミュレーション結果について図16を用いて説明する。図16は、3相整流器100の入力交流電力(図16(a))、出力直流電圧(図16(b))、及び出力直流電流(図16(c))のシミュレーション結果を示している。3相整流器100(図8参照)において、直流入力電圧3相=200V(線間電圧)、機器MCの負荷として負荷抵抗=20Ω、入力の3相リアクトル8として系統のリアクタンスを考慮して100μH、入力コンデンサ9=3μF/相、コンデンサ10=2μF、直流リアクトル2=2mH、スイッチング周波数50kHz、直流電圧設定ゲインk=0.9の条件でシミュレーションを行った。3相電圧の全波整流のリップルの下限の電圧(直流電圧として取り出せる最大の電圧)は200×21/2×(31/2/2)=245Vであるのに対し、図16(b)に示すように、基本の形態では、直流電圧は、約DC220Vで一定でほぼ理論通りであり、降圧されており、また、直流電流も一定となっており、入力電流もスイッチングに伴う変動はあるものの正弦波状になっている。なお、上記シミュレーションは、線間電圧に基づいており、直流電圧と直流電流はそれぞれ機器(負荷)MCの両端の電圧と機器(負荷)MCに流入する電流である。
このように、基本の形態にかかる3相スイッチング整流回路160を含む3相整流器100では、機器MCが負荷を有する場合に、各相のスイッチングパターンをPWM変調しながら双方向スイッチ回路3における複数のスイッチング素子IGBT−r〜IGBT−tを所定のタイミングでON/OFFさせることで、入力電流をその高調波を低減した正弦波とすることができ、直流電圧を略一定に安定させることができる。
ここで、仮に、3相スイッチング整流回路160における複数のスイッチング素子IGBT−r〜IGBT−t及び複数のダイオードD1〜D16を互いに別々の部品として基板PCB(図3参照)上に実装する場合を考える。この場合、絶縁性を確保するための空間距離や沿面距離の規格を満たすために、複数のスイッチング素子IGBT−r〜IGBT−t及び複数のダイオードD1〜D16を互いに所定距離以上離間させて基板PCB上に実装する必要がある。これにより、3相スイッチング整流回路160が全体として大型化しやすく、全体にヒートシンクを設けることが困難なため、3相スイッチング整流回路160の放熱を効率的に行うことが困難な傾向にある。この傾向は、3相交流電源PSから入力される交流電圧を高電圧化(例えば、AC400Vに)した場合に顕著になる。
そこで、本発明者は、図17に示すような3相スイッチング整流回路160における複数のスイッチング素子IGBT−r〜IGBT−t及び複数のダイオードD1〜D16の間を絶縁物(例えば、図3に示すシリコンジェルSG)で満たして絶縁パッケージで機械的に一体化すれば、空間距離や沿面距離の制約をなくすことができると考えた。そして、本発明者は、図18に示すような絶縁パッケージPCK900を含むパワーモジュールPM900を試作した。
具体的には、絶縁パッケージPCK900は、図17に示すような3相スイッチング整流回路160と同様な図18に示す3相スイッチング整流回路160iを機械的に一体化する。3相スイッチング整流回路160iは、双方向スイッチ回路3及び全波整流回路4iを有する。双方向スイッチ回路3は、基本の形態における双方向スイッチ回路3(図17参照)と同様である。全波整流回路4iは、PラインとNラインとを接続するダイオードD16がさらに追加されている以外は基本の形態における全波整流回路4(図17参照)と同様であり、基本の形態における全波整流回路4と同様に機能する。ダイオードD16は、カソードが出力端子OT−pに接続され、アノードが出力端子OT−nに接続されている。
すなわち、絶縁パッケージPCK900は、スイッチング素子IGBT−r〜IGBT−t及びダイオードD1〜D16を機械的に一体的に収容する(図19参照)。
例えば、図3に示すように、スイッチング素子IGBT−r〜IGBT−t及びダイオードD1〜D16としての複数のチップCHIP及び複数の端子ピンPINを、樹脂ケースCSの内側で、絶縁シートSHを介してアルミニウムなどの金属基板SBの上に固定し、複数のチップCHIP及び複数の端子ピンPINの間のアルミニウムなどのボンディングワイヤBWで接続する。そして、複数のチップCHIPの間を絶縁物(例えば、シリコンジェル)SGで満たし、上から蓋LDをかぶせる。これにより、絶縁物SG及び樹脂ケースCSを含む絶縁パッケージPCK900は、スイッチング素子IGBT−r〜IGBT−t及びダイオードD1〜D16を機械的に一体的に収容する(図19参照)。
また、図18に示す絶縁パッケージPCK900は、入力端子MIT−r〜MIT−t、出力端子MOT−p、MOT−n、グランド端子GND−r〜GND−t、及び制御端子CNT−r〜CNT−tを外部に引き出す。すなわち、絶縁パッケージPCK900には、図19に示すように、端子ピンPIN1〜PIN11が設けられている。
端子ピンPIN1〜PIN3は、入力端子MIT−r〜MIT−tに電気的に接続されている。入力端子MIT−rには、R相の交流電力が入力される。入力端子MIT−sには、S相の交流電力が入力される。入力端子MIT−tには、T相の交流電力が入力される。
端子ピンPIN4〜PIN6は、グランド端子GND−r〜GND−tに電気的に接続されている。グランド端子GND−rは、スイッチング素子IGBT−rのエミッタに接続されている。グランド端子GND−sは、スイッチング素子IGBT−sのエミッタに接続されている。グランド端子GND−tは、スイッチング素子IGBT−tのエミッタに接続されている。
端子ピンPIN7、PIN8は、出力端子MOT−p、MOT−nに電気的に接続されている。出力端子MOT−pは、P側の直流電力を出力する。出力端子MOT−nは、N側の直流電力を出力する。
端子ピンPIN9〜PIN11は、制御端子CNT−r〜CNT−tに電気的に接続されている。制御端子CNT−rは、スイッチング素子IGBT−rのベースに接続されている。制御端子CNT−sは、スイッチング素子IGBT−sのベースに接続されている。制御端子CNT−tは、スイッチング素子IGBT−tのベースに接続されている。
そして、本発明者は、図18及び図19に示すようなパワーモジュールPM900として実装された3相スイッチング整流回路160iの性能について評価を行ったところ、3相スイッチング整流回路160iをさらに高速化する必要があることが分かった。
本発明者は、図18に示す3相スイッチング整流回路160iの回路構成について高速化のためにどのような変更が必要か詳細に検討を行った。その結果、スイッチング素子IGBT−r〜IGBT−tのエミッタ・コレクタ間に逆電圧が印加された際に、ダイオードD1、D2、D5、D6、D9、D10が還流ダイオードとしても機能しており、ダイオードD13〜D15が高速に動作してもダイオードD1、D2、D5、D6、D9、D10の動作速度が遅いために、3相スイッチング整流回路160iの動作速度が要求レベルに達していないことを見出した。
さらに、本発明者は、ダイオードD1、D2、D5、D6、D9、D10が還流ダイオードとしても機能しているのならば、3相スイッチング整流回路160iからダイオードD13〜D15を除去しても3相スイッチング整流回路160iを動作させることができるのではないかと考えた。
そこで、本発明者は、図1に示すように、3相スイッチング整流回路160jにおける双方向スイッチ回路3jとして機能する部分において、ダイオードD13〜D15(図18参照)を除去し、ダイオードD1j、D2j、D5j、D6j、D9j、D10jを、整流ダイオードから高速スイッチングダイオード(FRD)に変更した。
すなわち、図1に示す3相スイッチング整流回路160jにおいて、各ダイオードD1j、D2j、D5j、D6j、D9j、D10jの逆回復時間は、各ダイオードD3、D4、D7、D8、D11、D12の逆回復時間より短い。
また、図1に示す3相スイッチング整流回路160jにおいて、ダイオードD1j及びダイオードD2jは、高速スイッチングダイオード(FRD)が用いられており、整流素子として機能しながら、スイッチング素子IGBT−rの還流ダイオードとしても機能するように構成されている。すなわち、ダイオードD1j及びダイオードD2jは、整流させる機能とスイッチング素子IGBT−rを保護する機能とを有するように構成されている。
ダイオードD5j及びダイオードD6jは、高速スイッチングダイオード(FRD)が用いられており、整流素子として機能しながら、スイッチング素子IGBT−sの還流ダイオードとしても機能するように構成されている。すなわち、ダイオードD5j及びダイオードD6jは、整流させる機能とスイッチング素子IGBT−sを保護する機能とを有するように構成されている。
ダイオードD9j及びダイオードD10jは、高速スイッチングダイオード(FRD)が用いられており、整流素子として機能しながら、スイッチング素子IGBT−tの還流ダイオードとしても機能する。すなわち、ダイオードD9j及びダイオードD10jは、整流させる機能とスイッチング素子IGBT−tを保護する機能とを有するように構成されている。
そして、本発明者は、図1に示す3相スイッチング整流回路160jの動作速度について評価を行った。その結果、3相スイッチング整流回路160jの動作速度が要求レベルに達していることを確認した。
また、本発明者は、図18及び図19に示すようなパワーモジュールPM900のノイズに関する性能について評価を行った。その結果、スイッチング素子IGBT−r〜IGBT−tのスイッチング動作に伴うスイッチングノイズを低減する必要があることが分かった。
さらに、本発明者は、スイッチングノイズを低減するため、端子ピンPIN7、PIN8にノイズ除去用の雑防回路NRC900を接続してパワーモジュールPM900の性能について評価を行った。雑防回路NRC900は、フィルムコンデンサC901を含む。フィルムコンデンサC901の一方の電極が端子ピンPIN7を介して出力端子MOT−pに接続され、他方の電極が端子ピンPIN8を介して出力端子MOT−nに接続された。
しかし、スイッチング素子IGBT−r〜IGBT−tのスイッチング動作に伴うスイッチングノイズを要求されるノイズレベルまで低減することが困難であることが分かった。すなわち、スイッチング素子IGBT−r〜IGBT−tのエミッタ−コレクタ間電圧には、線間の寄生容量(C分)と寄生誘導(L分)とに起因した共振周波数で振動するノイズが混入しやすい。このノイズを雑防回路NRC900で消費させてノイズを抑える必要があるが、端子ピンPIN7、PIN8に雑防回路NRC900を接続した場合、雑防回路NRC900によるノイズを消費する動作が、雑防回路NRC900とスイッチング素子IGBT−r〜IGBT−tとの間に整流用のダイオードD3、D7、D11により妨げられるため、スイッチング素子IGBT−r〜IGBT−tのエミッタ−コレクタ間電圧におけるノイズを低減することが困難な傾向にある。
また、上記のノイズは寄生容量(C分)と寄生誘導(L分)とを小さくすることで小さくできると考えられるが、端子ピンPIN7、PIN8に雑防回路NRC900を接続した場合、スイッチング素子IGBT−rから端子ピンPIN7、PIN8までの線路長が長くなりやすく、寄生誘導(L分)が大きくなりやすい。さらに、図18に斜線で示すスイッチング素子IGBT−rのエミッタコレクタ間とフィルムコンデンサC901とで形成される領域AR1の面積が大きくなりやすく、寄生容量(C分)が大きくなりやすい。これにより、抑制すべきノイズの値が非常に大きなものになる可能性がある。そのように非常に大きなノイズを低減するためには、フィルムコンデンサC901の容量を、図18に斜線で示すスイッチング素子IGBT−rのエミッタコレクタ間とフィルムコンデンサC901とで形成される領域AR1の面積に応じた大きな容量値にする必要があるが、フィルムコンデンサC901の容量をそのように大きくすることは困難な傾向にある。
そこで、本発明者は、図1に示すように、絶縁パッケージPCKにおけるスイッチング素子IGBT−r〜IGBT−tから距離が近い位置に雑防専用端子NR−r〜NR−tを設けるとともに、3相スイッチング整流回路160jに雑防補助回路161j−r〜161j−tを追加した。
すなわち、絶縁パッケージPCKは、絶縁パッケージPCK900(図18、図19参照)に比べて、雑防専用端子NR−r〜NR−tをさらに外部に引き出す。すなわち、パワーモジュールPMは、図2に示すように、端子ピンPIN12j〜PIN14jをさらに備える。
端子ピンPIN12j〜PIN14jは、雑防専用端子NR−r〜NR−tに電気的に接続されている。
雑防専用端子NR−rは、端子ピンPIN12jに接続され、雑防補助回路161j−rを介してスイッチング素子IGBT−rのコレクタに接続されている。すなわち、雑防専用端子NR−rは、ダイオードD1j及びダイオードD2jとスイッチング素子IGBT−rのコレクタとの間に接続されている。すなわち、雑防専用端子NR−rは、複数のダイオードD1、D2とスイッチング素子IGBT−rとの間から引き出されている。雑防補助回路161j−rは、雑防専用端子NR−rとスイッチング素子IGBT−rのコレクタとを接続するライン162j−rを有する。
グランド端子GND−rは、端子ピンPIN4に接続され、スイッチング素子IGBT−rのエミッタに接続されている。すなわち、グランド端子GND−rは、複数のダイオードD1、D2とスイッチング素子IGBT−rとの間から引き出されている。
雑防専用端子NR−rに接続された端子ピンPIN12jは、グランド端子GND−rに接続された端子ピンPIN4に隣接して配されている。すなわち、グランド端子GND−rと雑防専用端子NR−rとは、互いに隣接して絶縁パッケージPCKから引き出されている。
雑防専用端子NR−sは、端子ピンPIN13jに接続され、雑防補助回路161j−sを介してスイッチング素子IGBT−sのコレクタに接続されている。すなわち、雑防専用端子NR−sは、ダイオードD5j及びダイオードD6jとスイッチング素子IGBT−sのコレクタとの間に接続されている。すなわち、雑防専用端子NR−sは、複数のダイオードD5、D6とスイッチング素子IGBT−sとの間から引き出されている。雑防補助回路161j−sは、雑防専用端子NR−sとスイッチング素子IGBT−rのコレクタとを接続するライン162j−rを有する。
グランド端子GND−sは、端子ピンPIN5に接続され、スイッチング素子IGBT−sのエミッタに接続されている。すなわち、グランド端子GND−sは、複数のダイオードD5、D6とスイッチング素子IGBT−sとの間から引き出されている。
雑防専用端子NR−sに接続された端子ピンPIN13jは、グランド端子GND−sに接続された端子ピンPIN5に隣接して配されている。すなわち、グランド端子GND−sと雑防専用端子NR−sとは、互いに隣接して絶縁パッケージPCKから引き出されている。
雑防専用端子NR−tは、端子ピンPIN14jに接続され、雑防補助回路161j−tを介してスイッチング素子IGBT−tのコレクタに接続されている。すなわち、雑防専用端子NR−tは、ダイオードD9j及びダイオードD10jとスイッチング素子IGBT−tのコレクタとの間に接続されている。すなわち、雑防専用端子NR−tは、複数のダイオードD9、D10とスイッチング素子IGBT−tとの間から引き出されている。雑防補助回路161j−tは、雑防専用端子NR−tとスイッチング素子IGBT−tのコレクタとを接続するライン162j−tを有する。
グランド端子GND−tは、端子ピンPIN6に接続され、スイッチング素子IGBT−tのエミッタに接続されている。すなわち、グランド端子GND−tは、複数のダイオードD9、D10とスイッチング素子IGBT−tとの間から引き出されている。
雑防専用端子NR−tに接続された端子ピンPIN14jは、グランド端子GND−tに接続された端子ピンPIN6に隣接して配されている。すなわち、グランド端子GND−tと雑防専用端子NR−tとは、互いに隣接して絶縁パッケージPCKから引き出されている。
そして、本発明者は、スイッチングノイズを低減するため、端子ピンPIN12j〜PIN14jにノイズ除去用の雑防回路NRC−r〜NRC−tを接続してパワーモジュールPMの性能について評価を行った。
雑防回路NRC−rは、互いに直列接続された抵抗R11及びフィルムコンデンサC11を含む。雑防回路NRC−rの一端が端子ピンPIN12jを介して雑防専用端子NR−rに接続され、雑防回路NRC−rの他端がグランド端子GND−r及びグランド電位に接続されている。すなわち、グランド端子GND−rは、雑防回路NRC−r用のグランド端子になっている。
雑防回路NRC−sは、互いに直列接続された抵抗R12及びフィルムコンデンサC12を含む。雑防回路NRC−sの一端が端子ピンPIN13jを介して雑防専用端子NR−sに接続され、雑防回路NRC−sの他端がグランド端子GND−s及びグランド電位に接続されている。すなわち、グランド端子GND−sは、雑防回路NRC−s用のグランド端子になっている。
雑防回路NRC−tは、互いに直列接続された抵抗R13及びフィルムコンデンサC13を含む。雑防回路NRC−tの一端が端子ピンPIN14jを介して雑防専用端子NR−tに接続され、雑防回路NRC−tの他端がグランド端子GND−t及びグランド電位に接続されている。すなわち、グランド端子GND−tは、雑防回路NRC−t用のグランド端子になっている。
その結果、スイッチング素子IGBT−r〜IGBT−tのスイッチング動作に伴うスイッチングノイズを要求されるノイズレベルまで容易に低減できることを確認した。すなわち、例えば、スイッチング素子IGBT−rからフィルムコンデンサC11までの距離が近いため、スイッチング素子IGBT−rのエミッタコレクタ間とフィルムコンデンサC11とで形成される領域AR2の面積を図18に示す領域AR1に比べて小さくでき、フィルムコンデンサC11の容量を図1に斜線で示す領域AR2の面積に応じた小さな容量値に低減することが可能になる。これにより、フィルムコンデンサC11の容量を低減しながら、スイッチング素子IGBT−rのスイッチング動作に伴うスイッチングノイズを要求されるノイズレベルまで容易に低減できることを確認した。
以上のように、実施の形態1では、3相スイッチング整流回路160jにおいて、ダイオードD1j及びダイオードD2jは、高速スイッチングダイオード(FRD)が用いられており、整流させる機能とスイッチング素子IGBT−rを保護する機能とを有するように構成されている。ダイオードD5j及びダイオードD6jは、高速スイッチングダイオード(FRD)が用いられており、整流させる機能とスイッチング素子IGBT−sを保護する機能とを有するように構成されている。ダイオードD9j及びダイオードD10jは、高速スイッチングダイオード(FRD)が用いられており、整流させる機能とスイッチング素子IGBT−tを保護する機能とを有するように構成されている。これにより、3相スイッチング整流回路160jの動作を高速化できる。
具体的には、3相スイッチング整流回路160jにおいて、各ダイオードD1j、D2j、D5j、D6j、D9j、D10jの逆回復時間が、各ダイオードD3、D4、D7、D8、D11、D12の逆回復時間より短い。これにより、例えば、スイッチング素子IGBT−r〜IGBT−tのエミッタ・コレクタ間に逆電圧が印加された際の動作速度を高速化でき、3相スイッチング整流回路160jの動作を高速化できる。
また、実施の形態1では、ダイオードD1j及びダイオードD2jが、整流素子として機能しながら、スイッチング素子IGBT−rの還流ダイオードとしても機能する。ダイオードD5j及びダイオードD6jが、整流素子として機能しながら、スイッチング素子IGBT−sの還流ダイオードとしても機能する。ダイオードD9j及びダイオードD10jが、整流素子として機能しながら、スイッチング素子IGBT−tの還流ダイオードとしても機能する。これにより、ダイオードD13〜D15(図18参照)を除去しても3相スイッチング整流回路160jを動作させることができ、基本の形態にかかる3相スイッチング整流回路160に比べて素子数を低減できるので、回路構成を簡略化でき、3相スイッチング整流回路160jの実装面積を低減できる。
また、実施の形態1では、絶縁パッケージPCKが、全波整流回路4iと双方向スイッチ回路3jとを機械的に一体的に収容する。すなわち、絶縁パッケージPCKは、スイッチング素子IGBT−r〜IGBT−t及びダイオードD1j〜D16を機械的に一体的に収容する。これにより、空間距離や沿面距離の制約をなくすことができ、この観点からも、3相スイッチング整流回路160jにおけるスイッチング素子IGBT−r〜IGBT−t及びダイオードD1j〜D16の実装密度を向上できる。この結果、3相スイッチング整流回路160jを小型化できる。
したがって、図3に示すように、パワーモジュールPMを小型のヒートシンクHSに接触させることで放熱することが可能になり、効率的に放熱することができる。
また、実施の形態1では、絶縁パッケージPCKが、雑防専用端子NR−r〜NR−tを外部に引き出す。すなわち、パワーモジュールPMは、他の端子とは別に、雑防回路を外部接続するための専用端子である雑防専用端子NR−r〜NR−tを備える。。例えば、雑防専用端子NR−rは、ダイオードD1j及びダイオードD2jとスイッチング素子IGBT−rとの間に接続される。例えば、雑防専用端子NR−sは、ダイオードD5j及びダイオードD6jとスイッチング素子IGBT−sとの間に接続される。例えば、雑防専用端子NR−tは、ダイオードD9j及びダイオードD10jとスイッチング素子IGBT−tとの間に接続される。これにより、雑防回路を外部接続した場合に雑防回路によるノイズを消費する動作が整流用のダイオードD3、D7、D11により妨げられにくい位置に雑防専用端子NR−r〜NR−tを設けることができ、スイッチング素子IGBT−r〜IGBT−tのスイッチング動作に伴うスイッチングノイズを要求されるノイズレベルまで容易に低減できる。
また、実施の形態1では、グランド端子GND−rと雑防専用端子NR−rとが、互いに隣接して絶縁パッケージPCKから引き出されており、グランド端子GND−sと雑防専用端子NR−sとが、互いに隣接して絶縁パッケージPCKから引き出されており、グランド端子GND−tと雑防専用端子NR−tとが、互いに隣接して絶縁パッケージPCKから引き出されている。これにより、フィルムコンデンサを含む雑防回路を雑防専用端子NR−r〜NR−tに接続した際に、スイッチング素子IGBT−r、IGBT−s、IGBT−tから端子ピンPIN12j、PIN13j、PIN14jまでの線路長を低減でき、寄生誘導(L分)を低減できるとともに、スイッチング素子IGBT−r〜IGBT−tのエミッタコレクタ間とフィルムコンデンサとで形成される領域AR2の面積(図1参照)を小さくでき、寄生容量(C分)を低減できるので、抑制すべきノイズの値自体を低減できる。これにより、フィルムコンデンサの容量を小さくしながら、スイッチング素子IGBT−r〜IGBT−tのスイッチング動作に伴うスイッチングノイズを要求されるノイズレベルまで低減できる。言い換えると、接続されるべき雑防回路を小型化できるように雑防専用端子を構成できる。
なお、図1に示す3相リアクトル8iは、例えば、各相のラインに対して直列に挿入されたリアクトルL1〜L3と抵抗R1〜R3との並列接続を有し、基本の形態における3相リアクトル8(図8参照)と同様に機能する。
図1に示す入力コンデンサ9iは、例えば、各相のライン間を接続するコンデンサC1〜C3を有し、基本の形態における入力コンデンサ9(図8参照)と同様に機能する。
図1に示す直流リアクトル2及びコンデンサ10は、基本の形態における直流リアクトル2及びコンデンサ10(図8参照)と同様に機能する。
なお、ダイオードD16は、絶縁パッケージPCKの外部に設けられていてもよい。
(実施の形態2)
次に、実施の形態2にかかる3相スイッチング整流回路160jについて説明する。以下では、実施の形態1と異なる部分を中心に説明する。
実施の形態1では、3相スイッチング整流回路160jを1つの絶縁パッケージPCKで実装しているが、実施の形態2では、3相スイッチング整流回路160jを2つの絶縁パッケージPCK101、102で実装する。
具体的には、図4及び図5に示すように、に示す3相スイッチング整流回路160jは、パワーモジュールPM100として実装される。パワーモジュールPM100において、絶縁パッケージPCK101は、全波整流回路4i(図1参照)におけるR相及びS相に対応した部分と双方向スイッチ回路3j(図1参照)におけるR相及びS相に対応した部分とを機械的に一体的に収容する。絶縁パッケージPCK101は、例えば、スイッチング素子IGBT−r、IGBT−s及びダイオードD1j〜D8を機械的に一体的に収容する。
また、絶縁パッケージPCK101は、入力端子MIT−r、MIT−s、出力端子MOT−p1、MOT−n1、グランド端子GND−r、GND−s、及び雑防専用端子NR−r、NR−sを外部に引き出す。すなわち、絶縁パッケージPCK101には、図5に示すように、端子ピンPIN1、PIN2、PIN4、PIN5、PIN9、PIN10、PIN12j、PIN13j、PIN71、PIN81が設けられている。端子ピンPIN71は、出力端子MOT−p1に電気的に接続されている。端子ピンPIN81は、出力端子MOT−n1に電気的に接続されている。
絶縁パッケージPCK102は、全波整流回路4i(図1参照)におけるT相に対応した部分と双方向スイッチ回路3j(図1参照)におけるT相に対応した部分とを機械的に一体的に収容する。絶縁パッケージPCK102は、例えば、スイッチング素子IGBT−t及びダイオードD9j〜D12、D16を機械的に一体的に収容する。
また、絶縁パッケージPCK102は、入力端子MIT−t、出力端子MOT−p2、MOT−n2、グランド端子GND−t、及び雑防専用端子NR−tを外部に引き出す。すなわち、絶縁パッケージPCK102には、図5に示すように、端子ピンPIN3、PIN6、PIN11、PIN14j、PIN72、PIN82が設けられている。端子ピンPIN72は、出力端子MOT−p2に電気的に接続されている。端子ピンPIN82は、出力端子MOT−n2に電気的に接続されている。
このように、実施の形態2では、3相スイッチング整流回路160jを2つの絶縁パッケージPCK101、102で実装する。これにより、3相スイッチング整流回路160jを1つの絶縁パッケージPCKで実装する場合に比べて、実装に要するコストを低減でき、3相スイッチング整流回路160jの製造コストを低減できる。
なお、実施の形態2では、R相及びS相に対応した構成を絶縁パッケージPCK101に収容しT相に対応した構成を絶縁パッケージPCK102に収容する場合を例示しているが、S相及びT相に対応した構成を絶縁パッケージPCK101に収容しR相に対応した構成を絶縁パッケージPCK102に収容してもよいし、R相及びT相に対応した構成を絶縁パッケージPCK101に収容しT相に対応した構成を絶縁パッケージPCK102に収容してもよい。
また、ダイオードD16は、絶縁パッケージPCK102の代わりに絶縁パッケージPCK101に収容されていてもよい。あるいは、ダイオードD16は、絶縁パッケージPCK101、PCK102のそれぞれに収容されていてもよい。あるいは、ダイオードD16は、各絶縁パッケージPCK101、PCK102の外部に設けられていてもよい。
(実施の形態3)
次に、実施の形態3にかかる3相スイッチング整流回路160jについて説明する。以下では、実施の形態1と異なる部分を中心に説明する。
実施の形態1では、3相スイッチング整流回路160jを1つの絶縁パッケージPCKで実装しているが、実施の形態3では、3相スイッチング整流回路160jを3つの絶縁パッケージPCK201〜PCK203で実装する。
具体的には、図6及び図7に示すように、3相スイッチング整流回路160jは、パワーモジュールPM200として実装される。パワーモジュールPM200において、絶縁パッケージPCK201は、全波整流回路4i(図1参照)におけるR相に対応した部分と双方向スイッチ回路3j(図1参照)におけるR相に対応した部分とを機械的に一体的に収容する。絶縁パッケージPCK201は、例えば、スイッチング素子IGBT−r及びダイオードD1j〜D4を機械的に一体的に収容する。
また、絶縁パッケージPCK201は、入力端子MIT−r、出力端子MOT−p3、MOT−n3、グランド端子GND−r、及び雑防専用端子NR−rを外部に引き出す。すなわち、絶縁パッケージPCK201には、図7に示すように、端子ピンPIN1、PIN4、PIN9、、PIN12j、PIN73、PIN83が設けられている。端子ピンPIN73は、出力端子MOT−p3に電気的に接続されている。端子ピンPIN83は、出力端子MOT−n3に電気的に接続されている。
絶縁パッケージPCK202は、全波整流回路4i(図1参照)におけるS相に対応した部分と双方向スイッチ回路3j(図1参照)におけるS相に対応した部分とを機械的に一体的に収容する。絶縁パッケージPCK202は、例えば、スイッチング素子IGBT−s及びダイオードD5j〜D8を機械的に一体的に収容する。
また、絶縁パッケージPCK202は、入力端子MIT−s、出力端子MOT−p1、MOT−n1、グランド端子GND−s、及び雑防専用端子NR−sを外部に引き出す。すなわち、絶縁パッケージPCK202には、図7に示すように、端子ピンPIN2、PIN5、PIN10、PIN13j、PIN71、PIN81が設けられている。端子ピンPIN71は、出力端子MOT−p1に電気的に接続されている。端子ピンPIN81は、出力端子MOT−n1に電気的に接続されている。
絶縁パッケージPCK203は、全波整流回路4i(図1参照)におけるT相に対応した部分と双方向スイッチ回路3j(図1参照)におけるT相に対応した部分とを機械的に一体的に収容する。絶縁パッケージPCK203は、例えば、スイッチング素子IGBT−t及びダイオードD9j〜D12、D16を機械的に一体的に収容する。
また、絶縁パッケージPCK203は、入力端子MIT−t、出力端子MOT−p2、MOT−n2、グランド端子GND−t、及び雑防専用端子NR−tを外部に引き出す。すなわち、絶縁パッケージPCK203には、図7に示すように、端子ピンPIN3、PIN6、PIN11、PIN14j、PIN72、PIN82が設けられている。端子ピンPIN72は、出力端子MOT−p2に電気的に接続されている。端子ピンPIN82は、出力端子MOT−n2に電気的に接続されている。
このように、実施の形態3では、3相スイッチング整流回路160jを3つの絶縁パッケージPCK201〜PCK203で実装する。これにより、3相スイッチング整流回路160jを1つの絶縁パッケージPCKで実装する場合に比べて、実装に要するコストを低減でき、3相スイッチング整流回路160jの製造コストを低減できる。
なお、ダイオードD16は、絶縁パッケージPCK203の代わりに絶縁パッケージPCK201又は絶縁パッケージPCK202に収容されていてもよい。あるいは、ダイオードD16は、絶縁パッケージPCK201〜PCK203のそれぞれに収容されていてもよい。あるいは、ダイオードD16は、各絶縁パッケージPCK201〜PCK203の外部に設けられていてもよい。
上記の実施の形態1〜実施の形態3では、各スイッチング素子IGBT−r〜IGBT−tがNPN型の絶縁ゲートバイポーラトランジスタ(IGBT)である場合について例示的に説明しているが、各スイッチング素子IGBT−r〜IGBT−tは、NPN型の絶縁ゲートバイポーラトランジスタに限定されない。
例えば、上記の説明でコレクタとエミッタとを入れ替えれば、本願発明の考え方は、各スイッチング素子IGBT−r〜IGBT−tがPNP型の絶縁ゲートバイポーラトランジスタである場合についても同様に適用できる。この場合、例えば、各グランド端子GND−r〜GND−tは、対応するスイッチング素子IGBT−r〜IGBT−tのコレクタに接続されている。例えば、各雑防専用端子NR−r〜NR−tは、対応するスイッチング素子IGBT−r〜IGBT−tのエミッタに接続されている。
あるいは、例えば、上記の説明でコレクタをドレインに置き換え、エミッタをソースに置き換えれば、本願発明の考え方は、各スイッチング素子IGBT−r〜IGBT−tがN型の電界効果トランジスタ(FET)である場合についても同様に適用できる。この場合、例えば、各グランド端子GND−r〜GND−tは、対応するスイッチング素子IGBT−r〜IGBT−tのソースに接続されている。例えば、各雑防専用端子NR−r〜NR−tは、対応するスイッチング素子IGBT−r〜IGBT−tのドレインに接続されている。
あるいは、例えば、上記の説明でコレクタをソースに置き換え、エミッタをドレインに置き換えれば、本願発明の考え方は、各スイッチング素子IGBT−r〜IGBT−tがP型の電界効果トランジスタである場合についても同様に適用できる。この場合、例えば、各グランド端子GND−r〜GND−tは、対応するスイッチング素子IGBT−r〜IGBT−tのドレインに接続されている。例えば、各雑防専用端子NR−r〜NR−tは、対応するスイッチング素子IGBT−r〜IGBT−tのソースに接続されている。