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JP6029162B2 - Defect inspection device, component mounting system, defect inspection method, program - Google Patents
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Defect inspection device, component mounting system, defect inspection method, program Download PDF

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Description

本発明は、プリント基板の半田付け不良を検査する不良検査装置、不良検査方法およびプログラムに関する。また、不良検査装置を備える部品実装システムに関する。   The present invention relates to a defect inspection apparatus, a defect inspection method, and a program for inspecting a soldering defect of a printed board. The present invention also relates to a component mounting system including a defect inspection apparatus.

基板に対する部品実装技術としてSMT(Surface Mount Technology:表面実装技術)が知られている。SMTは、プリント基板に部品実装用の孔部を形成するのではなく、プリント基板上に載置するように部品を装着し、装着面に対する半田付けにより部品の固定と接続を行うという技術である。このSMTによる基板への部品実装は、半田印刷工程、部品装着工程、リフロー工程の順に行われる。   SMT (Surface Mount Technology) is known as a component mounting technology for a substrate. SMT is a technique in which components are mounted so as to be placed on a printed circuit board, and components are fixed and connected by soldering to the mounting surface, rather than forming a component mounting hole in the printed circuit board. . Component mounting on the board by this SMT is performed in the order of a solder printing process, a component mounting process, and a reflow process.

このSMTにより実装される部品として、その両端にそれぞれ電極を有するチップ型の部品が広く知られている。このチップ型の部品は、リフロー工程後において「部品浮き」または「部品立ち(マンハッタンあるいはツームストーン)」などと呼ばれるはんだ付け不良が発生する場合がある。この部品浮きとは、チップ型の部品の一方の端部が基板から浮き上がる(立ち上がる)現象である。   As components mounted by this SMT, chip-type components having electrodes at both ends are widely known. This chip-type component may have a soldering defect called “component floating” or “component standing (Manhattan or tombstone)” after the reflow process. This component floating is a phenomenon in which one end of a chip-type component is lifted (rises) from the substrate.

上記部品浮きによる不良を検査するものとして、以下のような技術が知られている。つまり、半田印刷工程、部品装着工程およびリフロー工程の各工程においてプリント基板を撮像し、リフロー工程の撮像画像から浮き不良を検査し、浮き不良が検出された場合に、部品実装工程の撮像画像から半田にじみの有無を判定し、半田にじみが有る場合に、浮き不良の発生原因が半田印刷工程における半田ペースト量の過多であると特定するというものである(例えば、特許文献1参照)。   The following techniques are known for inspecting defects caused by the above-mentioned component floating. In other words, the printed circuit board is imaged in each of the solder printing process, the component mounting process, and the reflow process, the floating defect is inspected from the captured image of the reflow process, and if the floating defect is detected, the captured image of the component mounting process is used. The presence / absence of solder bleeding is determined, and when there is solder bleeding, the cause of the floating defect is specified as an excessive amount of solder paste in the solder printing process (see, for example, Patent Document 1).

特開2006−324424号公報JP 2006-324424 A

上記特許文献1に記載の技術では、SMTにおける工程ごとの撮像画像に基づいて浮き不良の原因を特定することが可能である。しかし、この技術は、以降の不具合対策や品質管理を効率的に実現するために行われるもので、部品実装が完了するまでの工程の途中において不良を検出するための配慮は為されていない。   With the technique described in Patent Document 1, it is possible to identify the cause of the floating defect based on the captured image for each process in the SMT. However, this technique is performed in order to efficiently implement subsequent countermeasures and quality control, and no consideration is given to detecting a defect in the middle of the process until component mounting is completed.

部品実装完了後(リフロー工程後)の基板に不良が検出された場合には、この基板から部品を取り外して付け直しなどの修正を行うことになるが、リフロー工程後においては、部品と基板のパッドと半田により既に接合された状態になっているため、半田を溶かすなどして部品を外す必要があり手間がかかる。これに対して、リフロー工程の前段階で不良が検出可能となれば、まだ半田による接合が完了していないので、基板に実装された部品の取り外し作業は非常に容易なものとなり、製造効率が向上することとなって好ましい。   If a defect is detected on the board after the component mounting is completed (after the reflow process), the parts are removed from the board and reattached. However, after the reflow process, the parts Since it is already joined by the pad and the solder, it is necessary to remove the component by dissolving the solder, which is troublesome. On the other hand, if the defect can be detected in the previous stage of the reflow process, the soldering has not been completed yet, so the removal work of the components mounted on the board becomes very easy and the production efficiency is improved. It is preferable to improve.

そこでこの発明は、上述の課題を解決することのできる不良検査装置、部品実装システム、不良検査方法、プログラムを提供することを目的とする。   Therefore, an object of the present invention is to provide a defect inspection apparatus, a component mounting system, a defect inspection method, and a program that can solve the above-described problems.

本発明は、上述の課題を解決すべくなされたもので、本発明の一態様としての不良検査装置は、半田印刷工程により1つの部品に対応する2つの半田付け箇所である各パッドに半田を塗布したプリント基板を撮像して得られた印刷基板画像データから、前記プリント基板におけるパッド位置の半田面積を少なくとも格納する印刷基板半田情報を生成する印刷基板半田情報生成部と、部品装着工程により前記半田が塗布された前記各パッドに対して前記部品を装着した前記プリント基板を撮像して得られた部品装着基板画像データから、前記プリント基板におけるパッド位置の半田面積を少なくとも格納する部品装着基板半田情報を生成する部品装着基板半田情報生成部と、判定対象部品が接合されるべき2つのパッド位置に対応して前記印刷基板半田情報から取得した半田面積と、前記判定対象部品が接合されるべき2つのパッドに対応して前記部品装着基板半田情報から取得した半田面積とに基づいて、前記2つのパッドのうちの一方のパッドの半田面積部品装着工程後の変動量と、他方のパッドの半田面積の部品装着工程前後の変動量との差分を前記判定対象部品が接合されるべき各パッド位置ごとに対応して算出し、当該算出された各パッドについての前記変動量の差分の絶対値と予め設定された閾値との比較に基づいて前記プリント基板の部品実装について不良の有無を判定する不良判定部とを備え、前記不良判定部は、前記半田面積に基づく不良判定結果が不良有りではない場合、さらに、前記判定対象部品が接合されるべきパッドに対する前記部品装着工程後の半田のはみ出し量に基づいて不良の有無を判定することを特徴とする。 The present invention has been made to solve the above-described problems, and a defect inspection apparatus according to one aspect of the present invention provides solder to each pad, which is two soldering locations corresponding to one component, by a solder printing process. A printed circuit board solder information generation unit that generates printed circuit board solder information that stores at least the solder area of each pad position on the printed circuit board from the printed circuit board image data obtained by imaging the applied printed circuit board, and a component mounting process from the component mounting board image data obtained by imaging the printed circuit board equipped with the components with respect to each pad the solder has been applied, the component mounting of storing at least the solder area of each pad position in the printed circuit board a component mounting board solder information generation unit for generating a substrate solder information, the determination target component corresponding to the two pads position to be joined A solder area acquired from the printed substrate solder information, the determination target component based on the solder area acquired from the component mounting board solder information corresponding to the two pads to be bonded, of said two pads and variation before and after the component mounting process of the solder area of one pad, corresponding to each pad position to said determination target component the difference between the variation amount of the component mounting step before and after the solder area of the other pad is bonded and calculated, and the variation of the absolute value and the defect determining unit for determining the presence or absence of a defective component mounting of the printed circuit board based on a comparison with a preset threshold of the difference for each pad, which is the calculated wherein the defect determining unit, when the solder area based failure determination is not there bad, further, the component mounting step after with the pads to the determination target component is joined And judging the presence or absence of a failure based on the solder protrusion amount.

また、本発明の一態様としての部品実装システムは、プリント基板のパッドに半田を塗布する半田印刷工程を行う半田印刷装置と、前記半田印刷装置により1つの部品に対応する2つの半田付け箇所である各パッドに半田が塗布されたプリント基板を撮像して印刷基板画像データを生成する印刷基板撮像装置と、前記半田印刷装置により半田が塗布された前記プリント基板の前記各パッドに対して部品を装着する部品装着工程を行う部品装着装置と、前記部品装着装置により前記部品が装着されたプリント基板を撮像して部品装着基板画像データを生成する部品装着基板撮像装置と、前記部品装着装置により前記部品が装着されたプリント基板を加熱して前記半田を溶融させることにより、装着された前記部品を前記パッドに半田付けするリフロー工程を行うリフロー炉と、不良検査装置とを備え、前記不良検査装置は、前記印刷基板画像データから、前記プリント基板におけるパッド位置の半田面積を少なくとも格納する印刷基板半田情報を生成する印刷基板半田情報生成部と、前記部品装着基板画像データから、前記プリント基板におけるパッド位置の半田面積を少なくとも格納する部品装着基板半田情報を生成する印刷基板半田情報生成部と、判定対象部品が接合されるべき2つのパッド位置に対応して前記印刷基板半田情報から取得した半田面積と、前記判定対象部品が接合されるべき2つのパッドに対応して前記部品装着基板半田情報から取得した半田面積とに基づいて、前記2つのパッドのうちの一方のパッドの半田面積部品装着工程後の変動量と、他方のパッドの半田面積の部品装着工程前後の変動量との差分を前記判定対象部品が接合されるべき各パッド位置ごとに対応して算出し、当該算出された各パッドについての前記変動量の差分の絶対値と予め設定された閾値との比較に基づいて前記プリント基板の部品実装について不良の有無を判定する不良判定部とを備え前記不良判定部は、前記半田面積に基づく不良判定結果が不良有りではない場合、さらに、前記判定対象部品が接合されるべきパッドに対する前記部品装着工程後の半田のはみ出し量に基づいて不良の有無を判定することを特徴とする。 A component mounting system according to an aspect of the present invention includes a solder printing apparatus that performs a solder printing process for applying solder to pads on a printed circuit board, and two soldering locations corresponding to one component by the solder printing apparatus. A printed circuit board imaging device that captures an image of a printed circuit board in which solder is applied to each pad and generates printed circuit board image data, and a component for each pad of the printed circuit board in which solder is applied by the solder printing device a component mounting device for performing component mounting step of mounting, the component mounting board imaging device for generating component mounting board image data printed board on which the component is mounted by the component mounting apparatus by imaging, the by the component mounting device The printed circuit board on which the component is mounted is heated to melt the solder, whereby the mounted component is soldered to the pad. Comprising a reflow furnace to perform low step, a defect inspection device, the failure inspection apparatus, from the printed substrate image data, generates print substrate solder information storing at least the solder area of each pad position in the printed circuit board printed The board solder information generating section, the printed board solder information generating section for generating the component mounting board solder information for storing at least the solder area of each pad position on the printed board from the component mounting board image data, and the determination target component are joined. Solder area acquired from the printed board solder information corresponding to the two pad positions to be performed and solder area acquired from the component mounting board solder information corresponding to the two pads to which the determination target component should be bonded based on the bets, and the variation amount after the component mounting process prior to solder area of one pad of the two pads, the other path The difference between the component mounting process of the variation before and after the solder area of de calculated corresponding to each pad position to said determination target component are joined, the difference between the variation amount of each pad is the calculated and a absolute value with a preset defect determining unit for determining the presence or absence of a defective component mounting of the printed circuit board on the basis of a comparison with the threshold value, the defect determination unit, the defect determination result based on the solder area bad If not, it is further characterized in that the presence / absence of a defect is determined based on the amount of solder protruding after the component mounting process on the pad to which the determination target component is to be bonded.

また、本発明の一態様としての不良検査方法は、半田印刷工程により1つの部品に対応する2つの半田付け箇所である各パッドに半田を塗布したプリント基板を撮像して得られた印刷基板画像データから、前記プリント基板におけるパッド位置の半田面積を少なくとも格納する印刷基板半田情報を生成する印刷基板半田情報生成ステップと、部品装着工程により前記半田が塗布された前記各パッドに対して前記部品を装着した前記プリント基板を撮像して得られた部品装着基板画像データから、前記プリント基板におけるパッド位置の半田面積を少なくとも格納する部品装着基板半田情報を生成する部品装着基板半田情報生成ステップと、判定対象部品が接合されるべき2つのパッド位置に対応して前記印刷基板半田情報から取得した半田面積と、前記判定対象部品が接合されるべき2つのパッドに対応して前記部品装着基板半田情報から取得した半田面積とに基づいて、前記2つのパッドのうちの一方のパッドの半田面積部品装着工程後の変動量と、他方のパッドの半田面積の部品装着工程前後の変動量との差分を前記判定対象部品が接合されるべき各パッド位置ごとに対応して算出し、当該算出された各パッドについての前記変動量の差分の絶対値と予め設定された閾値との比較に基づいて前記プリント基板の部品実装について不良の有無を判定する不良判定ステップとを備え、前記不良判定ステップにおいて、さらに、前記半田面積に基づく不良判定結果が不良有りではない場合、さらに、前記判定対象部品が接合されるべきパッドに対する前記部品装着工程後の半田のはみ出し量に基づいて不良の有無を判定することを特徴とする。 Also, the defect inspection method as one aspect of the present invention is a printed circuit board image obtained by imaging a printed circuit board in which solder is applied to each pad, which is two soldering locations corresponding to one component, by a solder printing process. from the data, and the print substrate solder information generation step of generating print substrate solder information storing at least the solder area of each pad position in the printed circuit board, said component relative to said each pad the solder has been applied by the component mounting process A component mounting board solder information generating step for generating component mounting board solder information for storing at least the solder area of each pad position on the printed circuit board from the component mounting board image data obtained by imaging the printed board on which , acquired from the printed board solder information determination target component corresponding to the two pads position to be joined half Area and the determination target component based on the solder area acquired from the component mounting board solder information corresponding to the two pads to be bonded, part of the solder area of one pad of said two pads and variation before and after mounting process, is calculated to correspond to each pad position to said determination target component is bonded to the difference between the other component mounting process of the variation before and after the solder area of the pad, is the calculated and a failure determining step to determine the presence or absence of a defective component mounting of the printed circuit board based on a comparison of the absolute value with a preset threshold value of the variation of the difference for each pad, in the defect determining step further, when a defect determination result based on the solder area is not there bad, further, the determination target component half after the component mounting process for the pad to be bonded And judging the presence or absence of a failure based on the amount of protrusion of.

また、本発明の一態様としてのプログラムは、コンピュータを、半田印刷工程により1つの部品に対応する2つの半田付け箇所である各パッドに半田を塗布したプリント基板を撮像して得られた印刷基板画像データから、前記プリント基板におけるパッド位置の半田面積を少なくとも格納する印刷基板半田情報を生成する印刷基板半田情報生成手段、部品装着工程により前記半田が塗布された前記各パッドに対して前記部品を装着した前記プリント基板を撮像して得られた部品装着基板画像データから、前記プリント基板におけるパッド位置の半田面積を少なくとも格納する部品装着基板半田情報を生成する部品装着基板半田情報生成手段、判定対象部品が接合されるべき2つのパッド位置に対応して前記印刷基板半田情報から取得した半田面積と、前記判定対象部品が接合されるべき2つのパッドに対応して前記部品装着基板半田情報から取得した半田面積とに基づいて、前記2つのパッドのうちの一方のパッドの半田面積部品装着工程後の変動量と、他方のパッドの半田面積の部品装着工程前後の変動量との差分を前記判定対象部品が接合されるべき各パッド位置ごとに対応して算出し、当該算出された各パッドについての前記変動量の差分の絶対値と予め設定された閾値との比較に基づいて前記プリント基板の部品実装について不良の有無を判定する不良判定手段として機能させ、前記不良判定手段は、さらに前記半田面積に基づく不良判定結果が不良有りではない場合、さらに、前記判定対象部品が接合されるべきパッドに対する前記部品装着工程後の半田のはみ出し量に基づいて不良の有無を判定する。 The program as one aspect of the present invention is a printed circuit board obtained by imaging a printed circuit board in which solder is applied to each pad, which is two soldering locations corresponding to one component, by a solder printing process. from the image data, the print substrate solder information generation means for generating print substrate solder information storing at least the solder area of each pad position in the printed circuit board, said component relative to said each pad the solder has been applied by the component mounting process Component mounting board solder information generating means for generating component mounting board solder information for storing at least the solder area of each pad position on the printed circuit board from the component mounting board image data obtained by imaging the printed board mounted with obtained from the printed board solder information determination target component corresponding to the two pads position to be joined And field area, the determination target component based on the solder area acquired from the component mounting board solder information corresponding to the two pads to be joined, the solder area of one pad of said two pads and variation before and after the component mounting process, is calculated to correspond to each pad position to said determination target component is bonded to the difference between the component mounting process variation amount before and after the solder area of the other pad, the calculated to function as a defect determination unit for determining the presence or absence of a defective component mounting of the printed circuit board based on a comparison of the absolute value with a preset threshold value of the variation of the difference for each pad that is, the defect determination unit further when the solder area based failure determination is not there bad, further, the solder leaf blade after the component mounting process for the pad to the determination target component is joined It determines the presence or absence of defects based on the amount and.

本発明によれば、部品実装工程の中途段階において半田付け不良を検出可能な不良検査装置を提供可能になるという効果が得られる。   According to the present invention, it is possible to provide a defect inspection apparatus capable of detecting a soldering defect in the middle of the component mounting process.

本発明の実施形態としての不良検査装置を含む部品実装システムの構成例を示す図である。It is a figure which shows the structural example of the component mounting system containing the defect inspection apparatus as embodiment of this invention. 装着時の部品の傾きを原因とする浮き不良に応じた部品と半田の状態例を示す図である。It is a figure which shows the example of a state of the component according to the floating defect resulting from the inclination of the component at the time of mounting | wearing, and solder. 装着時に部品が傾く原因例を示す図である。It is a figure which shows the example of a cause in which components tilt at the time of mounting | wearing. 図2における半田印刷工程後と部品装着工程後の半田面積の変化例を示す図である。It is a figure which shows the example of a change of the solder area after the solder printing process and component mounting process in FIG. 半田印刷時の半田量のアンバランスを原因とする浮き不良に応じた部品と半田の状態例を示す図である。It is a figure which shows the example of a state of the components according to the floating defect resulting from the imbalance of the amount of solder at the time of solder printing, and solder. パッドから半田がはみ出しているに係わらず不良の発生がないとされる部品と半田の状態例を示す図である。It is a figure which shows the example of the state of the components and solder which are considered to be without generating defect even if the solder protrudes from the pad. 本実施形態における不良検査装置の構成例を示す図である。It is a figure which shows the structural example of the defect inspection apparatus in this embodiment. 本実施形態における不良検査装置の機能構成例を示す図である。It is a figure which shows the function structural example of the defect inspection apparatus in this embodiment. 印刷基板半田情報または部品搭載基板半田情報の構造例を示す図である。It is a figure which shows the structural example of printed circuit board solder information or component mounting board solder information. 不良検査装置が実行する処理手順例を示す図である。It is a figure which shows the example of a process sequence which a defect inspection apparatus performs. 不良判定部が実行する不良判定処理の手順例を示す図である。It is a figure which shows the example of a procedure of the defect determination process which a defect determination part performs.

[部品実装システムの構成]
図1は、本実施形態の不良検査装置100を含む部品実装システム1の構成例を示している。本実施形態の部品実装システム1は、プリント基板のしかるべき位置に対して部品を半田付けすることにより部品実装を行うものであり、そのための複数の装置から成る。また、本実施形態の部品実装システム1は、SMT(Surface Mount Technology)に対応する。SMTは、プリント基板上に部品を装着し、基板上の部品実装面に対して半田付けを行うことにより部品の固定と接続を行うというものであり、半田印刷工程、部品装着工程、リフロー工程の順で進行する。
[Component mounting system configuration]
FIG. 1 shows a configuration example of a component mounting system 1 including a defect inspection apparatus 100 of the present embodiment. The component mounting system 1 according to the present embodiment performs component mounting by soldering a component to an appropriate position on a printed circuit board, and includes a plurality of devices for that purpose. Moreover, the component mounting system 1 of this embodiment corresponds to SMT (Surface Mount Technology). The SMT is a method of fixing and connecting a component by mounting the component on a printed circuit board and soldering the component mounting surface on the circuit board. The solder printing process, the component mounting process, and the reflow process are performed. Proceed in order.

半田印刷工程は、プリント基板に形成されたパッドといわれる電極に対してクリーム状の半田を塗布する工程である。部品装着工程は、上記のようにクリーム状の半田が塗布されたパッド位置に対して部品を載せ置くように装着する工程である。リフロー工程は、部品が装着されたプリント基板全体を加熱することにより半田を溶融させ、これによりプリント基板に部品を固定させる工程である。   The solder printing process is a process of applying cream-like solder to electrodes called pads formed on the printed circuit board. The component mounting step is a step of mounting so that the component is placed on the pad position where the cream-like solder is applied as described above. The reflow process is a process of melting the solder by heating the entire printed circuit board on which the component is mounted, thereby fixing the component to the printed circuit board.

本実施形態の部品実装システム1は、半田印刷装置2、部品装着装置3、リフロー炉4、搬送装置5、搬送装置6、印刷基板撮像装置7、部品装着基板撮像装置8および不良検査装置100から成る。   The component mounting system 1 according to the present embodiment includes a solder printing device 2, a component mounting device 3, a reflow furnace 4, a transport device 5, a transport device 6, a printed board imaging device 7, a component mounting substrate imaging device 8, and a defect inspection device 100. Become.

半田印刷装置2は、半田印刷工程としての動作を実行する装置である。半田印刷装置2には、部品が固定される導体であるパッドのパターンが形成されたプリント基板10が搬入されてくる。半田印刷装置2は、搬入されてくるプリント基板10のパッドに対してクリーム状の半田を塗布するためのスクリーン印刷を行う。   The solder printing apparatus 2 is an apparatus that executes an operation as a solder printing process. A printed circuit board 10 on which a pad pattern as a conductor to which a component is fixed is formed is carried into the solder printing apparatus 2. The solder printing apparatus 2 performs screen printing for applying cream-like solder to the pad of the printed board 10 that is carried in.

半田の塗布が終了して半田印刷装置2から排出されたプリント基板10は、搬送装置5に受け渡される。搬送装置5は、この受け渡されたプリント基板10を部品装着装置3に対して搬送する。   The printed circuit board 10 discharged from the solder printing apparatus 2 after the solder application is completed is delivered to the transport apparatus 5. The transport device 5 transports the transferred printed board 10 to the component mounting device 3.

部品装着装置3には、上記のようにパッド上に半田が塗布されたプリント基板10が搬送装置5により搬入される。部品装着装置3は、この搬入されたプリント基板10上の半田が塗布されたパッド位置に載せ置くように部品を装着する。   The printed circuit board 10 with the solder applied on the pads as described above is carried into the component mounting device 3 by the transport device 5. The component mounting apparatus 3 mounts components so as to be placed on a pad position where solder is applied on the carried-in printed circuit board 10.

部品の装着が終了して部品装着装置3から搬出されたプリント基板10は、搬送装置6に対して受け渡される。搬送装置6は、この受け渡されたプリント基板をリフロー炉4に対して搬送する。   The printed circuit board 10 carried out from the component mounting device 3 after the component mounting is completed is delivered to the transport device 6. The transport device 6 transports the delivered printed circuit board to the reflow furnace 4.

リフロー炉4には、部品が装着されたプリント基板10が上記搬送装置6により搬入される。リフロー炉4は、搬入されたプリント基板10全体を所定の温度および時間により加熱することにより半田を溶融させることで半田付けを行い、プリント基板10に対する部品の固定とパッドとの電気的接続を行う。これにより、リフロー炉4からは、部品が固定された状態で実装されたプリント基板10が排出されることになる。   A printed circuit board 10 on which components are mounted is carried into the reflow furnace 4 by the transport device 6. The reflow furnace 4 performs soldering by melting the solder by heating the entire loaded printed circuit board 10 at a predetermined temperature and time, and fixing components to the printed circuit board 10 and electrically connecting the pads. . As a result, the printed circuit board 10 mounted with components fixed is discharged from the reflow furnace 4.

印刷基板撮像装置7は、半田印刷装置2による半田印刷工程が終了した段階のプリント基板10ごとに、その半田が塗布される基板面を平面方向より撮像して画像データを生成する。このように生成された画像データは、プリント基板10ごとの半田印刷工程後の状態を示す印刷基板画像データとして不良検査装置100に出力される。本実施形態において、印刷基板撮像装置7は、搬送装置5により搬送途中のプリント基板10を撮像可能なように設けられているものとする。   The printed circuit board imaging device 7 captures the surface of the substrate to which the solder is applied for each printed circuit board 10 at the stage where the solder printing process by the solder printing device 2 is completed, and generates image data. The image data generated in this way is output to the defect inspection apparatus 100 as printed circuit board image data indicating the state after the solder printing process for each printed circuit board 10. In this embodiment, the printed circuit board imaging device 7 is provided so that the printed circuit board 10 in the middle of conveyance can be imaged by the conveyance device 5.

また、部品装着基板撮像装置8は、部品装着装置3による部品装着工程が終了した段階のプリント基板10ごとに、半田の塗布および部品の装着が行われた基板面(印刷基板撮像装置7が撮像するのと同じ基板面となる)を平面方向より撮像して画像データを生成する。このように生成された画像データは、プリント基板10ごとの部品装着工程後の状態を示す部品装着基板画像データとして不良検査装置100に出力される。また、部品装着基板撮像装置8は、搬送装置6により搬送途中のプリント基板10を撮像可能なように設けられているものとする。   In addition, the component mounting board imaging device 8 has a board surface on which the solder is applied and the components are mounted for each printed board 10 at the stage where the component mounting process by the component mounting apparatus 3 is completed (the printed board imaging device 7 takes an image). Image data is generated by imaging from the plane direction. The image data generated in this way is output to the defect inspection apparatus 100 as component mounting board image data indicating the state after the component mounting process for each printed circuit board 10. Further, it is assumed that the component mounting board imaging device 8 is provided so that the printed board 10 in the middle of conveyance can be imaged by the conveyance device 6.

不良検査装置100は、印刷基板撮像装置7から出力される部品装着基板画像データと、部品装着基板撮像装置8から出力される部品装着基板画像データとを利用して、部品装着工程後の段階でプリント基板10における部品実装不良についての検査を行う。   The defect inspection apparatus 100 uses the component mounting board image data output from the printed board imaging device 7 and the component mounting board image data output from the component mounting board imaging device 8 at a stage after the component mounting process. An inspection for defective component mounting on the printed circuit board 10 is performed.

[不良発生の原因]
本実施形態の不良検査装置100による不良検査のための構成を説明するのに先立ち、不良検査装置100が検査対象とする不良が発生する原因について説明する。SMTにおける部品実装不良として代表的なものは浮き不良である。
[Causes of defects]
Prior to describing the configuration for defect inspection by the defect inspection apparatus 100 according to the present embodiment, the cause of the occurrence of a defect to be inspected by the defect inspection apparatus 100 will be described. A typical component mounting defect in SMT is a floating defect.

図2は、浮き不良が発生する過程の一例を示している。図2(a)および図2(b)は、プリント基板10におけるパッド11a、11bの各々に対して、半田印刷工程により半田20a、20bが塗布された状態を、それぞれ、平面図および側面図により示している。パッド11aと11bは対の関係にあり、それぞれに対して同じ1つの部品が実装される。つまり、部品30はその両端に2つの電極31を備えている。そして、上記2つの電極31のうち一方がパッド11aと半田付けされ、他方の電極31がパッド11bと半田付けされることで、パッド11aおよび11bに対応する位置に部品が固定されるように実装されるものである。   FIG. 2 shows an example of a process in which a floating failure occurs. 2 (a) and 2 (b) show a state in which the solder 20a and 20b are applied to each of the pads 11a and 11b in the printed circuit board 10 by the solder printing process, respectively, according to a plan view and a side view. Show. The pads 11a and 11b are in a pair relationship, and the same component is mounted on each of the pads 11a and 11b. That is, the component 30 includes two electrodes 31 at both ends thereof. Then, one of the two electrodes 31 is soldered to the pad 11a, and the other electrode 31 is soldered to the pad 11b so that the component is fixed at a position corresponding to the pads 11a and 11b. It is what is done.

図2(a)によると、半田20aと半田20bは、それぞれパッド11aと11bにおいて面積が互いにほぼ同じとなっている。また、図2(b)によると、半田20aと半田20bの高さは同じものとして示されている。これは、半田20aと半田20bの各塗布量(すなわち体積)が同じであることを示している。   According to FIG. 2A, the areas of the solder 20a and the solder 20b are substantially the same in the pads 11a and 11b, respectively. Further, according to FIG. 2B, the heights of the solder 20a and the solder 20b are shown to be the same. This indicates that the application amounts (that is, volumes) of the solder 20a and the solder 20b are the same.

部品実装不良を回避するにあたり、同じ部品に対応する複数のパッドに塗布される半田はできるだけ同量であることが求められる。パッドごとにおける半田の塗布量がアンバランスになると、パッドごとにおける半田と部品の電極31との接触面積にもアンバランスが生じる。この状態でリフロー工程を行ったとすると、半田が溶融した際の表面張力にも差異が生じて、部品は表面張力の大きい側のパッドに引き寄せられてしまう。これにより、表面張力が弱い側のパッドにおいて、部品の浮きが生じやすくなる。   In order to avoid component mounting defects, it is required that the amount of solder applied to a plurality of pads corresponding to the same component be as much as possible. When the amount of solder applied to each pad becomes unbalanced, the contact area between the solder and the component electrode 31 for each pad also becomes unbalanced. If the reflow process is performed in this state, a difference occurs in the surface tension when the solder is melted, and the component is attracted to the pad having the higher surface tension. As a result, the component is liable to float on the pad having a weak surface tension.

しかし、図2(a)および図2(b)のように同量の半田20a、20bが塗布されたとしても、次の部品装着工程での不具合によって不良が発生する可能性がある。図2(c)および図2(d)は、部品装着工程を終了した段階のパッド11aと11bの部分を平面図および側面図により示している。これら図2(c)および図2(d)には、パッド11aと11bに塗布された半田20aと20bに対して、その上から部品30を載せ置くようにして装着された状態が示されている。なお、この部品30は、チップ部品ともいわれるもので、その両端に電極31、31をそれぞれ備える。   However, even if the same amount of solder 20a, 20b is applied as shown in FIGS. 2 (a) and 2 (b), a defect may occur due to a failure in the next component mounting process. 2 (c) and 2 (d) show a plan view and a side view of the portions of the pads 11a and 11b at the stage where the component mounting process has been completed. 2 (c) and 2 (d) show a state in which the component 30 is mounted on the solders 20a and 20b applied to the pads 11a and 11b from above. Yes. The component 30 is also called a chip component, and includes electrodes 31 and 31 at both ends thereof.

ここで示される部品30の装着状態には不具合が生じている。つまり、本来であれば、部品30は、半田20aと20bの上においてほぼ水平な姿勢となるように載せ置かれるべきである。しかし、図2(d)に示されるように、この場合の部品30は、半田20aよりも半田20bのほうに傾くように載せ置かれている。   There is a problem in the mounting state of the component 30 shown here. In other words, the component 30 should be placed so as to be in a substantially horizontal posture on the solders 20a and 20b. However, as shown in FIG. 2D, the component 30 in this case is placed so as to be inclined toward the solder 20b rather than the solder 20a.

このような部品30の装着姿勢の傾きが生じる原因の一例について、図3により説明する。図3においてノズル40は、部品装着装置3において備えられ、部品30を装着位置にまで搬送するために、部品30を吸引して持ち上げる部位である。このノズル40が部品30を吸引しようとした際に、ノズル40と部品30の間に異物50があったとすると、この異物50が挟まってしまったまま部品30を持ち上げてしまい、部品30が傾いてしまう。そして、このままの状態で実装位置にまで搬送して装着が行われた場合、部品30は傾いた姿勢のまま半田20aと20bに押し当てられる。例えばこのようなことが原因で、部品30の装着姿勢が傾く。   An example of the cause of the inclination of the mounting posture of the component 30 will be described with reference to FIG. In FIG. 3, the nozzle 40 is a part that is provided in the component mounting apparatus 3 and sucks and lifts the component 30 in order to transport the component 30 to the mounting position. If the foreign object 50 is present between the nozzle 40 and the component 30 when the nozzle 40 tries to suck the component 30, the component 30 is lifted while the foreign object 50 is sandwiched, and the component 30 tilts. End up. Then, when the component 30 is transported to the mounting position and mounted in this state, the component 30 is pressed against the solders 20a and 20b in an inclined posture. For example, due to this, the mounting posture of the component 30 is inclined.

上記のように部品30が半田20b側に傾いて装着された場合、半田20bに対する部品30の押し込み具合は、もう一方の半田20a側よりも大きくなる。図4(a)は、図2(a)と同様の半田印刷工程後のパッド11a、11bにおける半田20a、20bの状態を示している。図4(b)は、図2(c)に示した部品装着工程後の状態において、説明の便宜から部品30の図示を省略したものである。つまり、図4(b)は、図2(c)および図2(d)の状況に対応した半田20a、20bの状態を示している。   As described above, when the component 30 is mounted inclined to the solder 20b side, the degree of pressing of the component 30 against the solder 20b is larger than that of the other solder 20a side. FIG. 4A shows the state of the solders 20a and 20b on the pads 11a and 11b after the solder printing process similar to that shown in FIG. In FIG. 4B, the component 30 is not shown in the state after the component mounting step shown in FIG. 2C for convenience of explanation. That is, FIG. 4B shows the state of the solders 20a and 20b corresponding to the situation of FIGS. 2C and 2D.

図4(a)に示される半田印刷工程後において、パッド11aに塗布された半田20aの面積Sa1とパッド11bに塗布された半田20bの面積Sb1は同じである。しかし、図4(b)の部品装着工程後においては、図2(d)のように部品30が傾いて半田20b側に傾いて装着されたことで、半田20bは、半田20aよりも部品30によって押し込まれる度合いが多くなる。これに伴い、部品30が押し込まれることによる平面方向における半田の拡がり具合は、半田20aよりも半田20bのほうが大きくなってしまう。この結果、図4(b)に示すように、部品装着工程後の半田20aの面積Sa2は、半田印刷工程後の面積Sa1に対してさほど変化していないのに対して、部品装着工程後の半田20bの面積Sb2は、半田印刷工程後の面積Sb1に対して相当に大きく拡大している。   After the solder printing process shown in FIG. 4A, the area Sa1 of the solder 20a applied to the pad 11a and the area Sb1 of the solder 20b applied to the pad 11b are the same. However, after the component mounting process of FIG. 4B, the component 30 is tilted and mounted to the solder 20b side as shown in FIG. 2D, so that the solder 20b is more than the component 20 than the solder 20a. The degree of being pushed in increases. Along with this, the solder 20b is larger in the planar direction due to the component 30 being pushed in than the solder 20a. As a result, as shown in FIG. 4B, the area Sa2 of the solder 20a after the component mounting process does not change so much with respect to the area Sa1 after the solder printing process, but after the component mounting process. The area Sb2 of the solder 20b is considerably larger than the area Sb1 after the solder printing process.

このように面積Sb2が拡大することにより部品30と半田20bの接触面積は半田20a側よりも大きくなり、これにより、前述のようにリフロー工程における半田20aと半田20bの表面張力差によって浮き不良が発生し得ることになる。   As the area Sb2 is increased in this way, the contact area between the component 30 and the solder 20b becomes larger than that on the solder 20a side. Can occur.

図2(e)および図2(f)には、図2(c)および図2()の状態からリフロー工程を経た結果として浮きが発生した状態を示している。この図では、半田20a、20bが溶融した状態において半田20bの表面張力のほうが半田20aよりも大きかったために、半田20bのほうに部品30が引っ張られて偏り、その影響で、半田20a側において部品30の電極31が確実に接合していない浮き不良が発生した状態が示されている。
FIGS. 2 (e) and 2 (f) show a state where floating occurs as a result of the reflow process from the state of FIGS. 2 (c) and 2 ( d ). In this figure, since the surface tension of the solder 20b is larger than that of the solder 20a in a state where the solders 20a and 20b are melted, the component 30 is pulled and biased toward the solder 20b. The state where the floating defect which 30 electrodes 31 were not joined reliably is shown.

また、図5を参照して、半田塗布量のアンバランスを原因とする浮き不良について説明する。図5(a)の平面図と図5(b)の側面図には、半田印刷工程後の状態として、パッド11a、11bのそれぞれに半田20a、20bが塗布された状態が示されている。   In addition, with reference to FIG. 5, the floating defect due to the unbalance of the solder application amount will be described. The plan view of FIG. 5A and the side view of FIG. 5B show a state in which the solders 20a and 20b are applied to the pads 11a and 11b, respectively, after the solder printing process.

図5(a)の平面図によると半田20a、20bの各面積Sa1、Sa2は同じとされているが、図5(b)の側面図に示されるように、半田20aよりも半田20bのほうが厚さ(高さ)が大きい。これは、半田20aと半田20bの塗布量がアンバランスであることを意味している。   According to the plan view of FIG. 5A, the areas Sa1 and Sa2 of the solders 20a and 20b are the same, but as shown in the side view of FIG. 5B, the solder 20b is more than the solder 20a. Thickness (height) is large. This means that the application amounts of the solder 20a and the solder 20b are unbalanced.

次に、上記図5(c)および図5(d)は、上記図5(a)および図5(b)の状態から部品装着工程により部品30を装着した状態を示している。この場合、部品30は、それ自体が傾くことなく正常に装着されたものとする。しかし、半田20bの量が過剰であったために、図5(d)に示すように、部品30は、半田20bの側において半田20aの側より高い度合いで押し込まれた状態となっている。これに伴い、図5(c)に示すように、平面方向からみた半田20bの面積Sb2は、半田20aの面積Sa2よりも大きく拡がっている。   Next, FIG. 5 (c) and FIG. 5 (d) show a state in which the component 30 is mounted by the component mounting process from the state of FIG. 5 (a) and FIG. 5 (b). In this case, it is assumed that the component 30 is normally mounted without tilting itself. However, since the amount of the solder 20b is excessive, as shown in FIG. 5D, the component 30 is pushed in at a higher degree on the solder 20b side than on the solder 20a side. As a result, as shown in FIG. 5C, the area Sb2 of the solder 20b as viewed from the planar direction is larger than the area Sa2 of the solder 20a.

したがって、図5(c)および図5(d)においては、先の図4(c)および図4(d)と同じ半田20a、20bの状態となっており、これに伴って部品30との接触面積も半田20bのほうが大きくなっている。   Therefore, in FIGS. 5 (c) and 5 (d), the same solder 20a and 20b as in FIGS. 4 (c) and 4 (d) are provided. The contact area of the solder 20b is also larger.

これにより、図5(c)および図5(d)の状態からリフロー工程を行った場合には、前述のように溶融した半田20aと半田20bとの間で生じる表面張力差によって図5(e)および図5(f)に示すように浮き不良が発生する。このように、半田印刷工程における塗布量のアンバランスも浮き不良の発生原因となる。   Thus, when the reflow process is performed from the state shown in FIGS. 5C and 5D, the difference in surface tension generated between the solder 20a and the solder 20b melted as described above is caused by the difference in the surface tension shown in FIG. ) And a floating defect occur as shown in FIG. Thus, the imbalance of the coating amount in the solder printing process also causes the occurrence of floating defects.

また、図6を参照して、半田の塗布量が過多の傾向ではあるが不良ではないという状態について説明しておく。図6(a)には、半田印刷工程後のパッド11a、11bが示されている。この場合のパッド11a、11bに塗布された半田20a、20bの塗布量は、過多の傾向ではあるが同量であるという状態を想定する。このとき、平面方向における半田20aの面積Sa1と半田20bの面積Sb1は同じであるとする。   In addition, with reference to FIG. 6, a state where the amount of solder applied tends to be excessive but not defective will be described. FIG. 6A shows the pads 11a and 11b after the solder printing process. In this case, it is assumed that the amount of the solder 20a and 20b applied to the pads 11a and 11b is the same, although it tends to be excessive. At this time, it is assumed that the area Sa1 of the solder 20a and the area Sb1 of the solder 20b in the planar direction are the same.

上記の状態から部品装着工程を行った後の状態を図6(b)に示す。この場合には部品30は、傾くことなく正常に装着されたものとする。装着された部品30が半田20a、20bを押し込むことにより、半田20a、20bは、平面方向において或る程度拡がることになる。ここでは半田20a、20bの塗布量が過多の傾向であったために、半田20a、20bは、いずれもパッド11a、11bの一部からはみ出してしまった状態を示している。ただし、前述のように、半田20aと半田20bは同量であることにより、図6(b)に示される半田20aの面積Sa2と半田20bの面積Sb2は、それぞれ、面積Sa1と面積Sb1よりも大きいが、互いに同等となっている。   FIG. 6B shows a state after the component mounting process is performed from the above state. In this case, it is assumed that the component 30 is normally mounted without tilting. When the mounted component 30 pushes in the solders 20a and 20b, the solders 20a and 20b expand to some extent in the planar direction. Here, since the application amounts of the solders 20a and 20b tend to be excessive, both the solders 20a and 20b are in a state of protruding from a part of the pads 11a and 11b. However, as described above, since the solder 20a and the solder 20b have the same amount, the area Sa2 of the solder 20a and the area Sb2 of the solder 20b shown in FIG. 6B are larger than the areas Sa1 and Sb1, respectively. Big but equal to each other.

図6(c)は、上記図6(b)の状態からリフロー工程を行った後の状態を示している。この場合、半田20a、20bの塗布量が過多の傾向ではあったものの、部品装着工程後の半田20aと半田20bの面積Sa2とSb2は上記図6(b)に示したように同等となっている。このために、浮き不良は生じていない。   FIG. 6C shows a state after the reflow process is performed from the state of FIG. In this case, although the application amounts of the solders 20a and 20b tended to be excessive, the areas Sa2 and Sb2 of the solder 20a and the solder 20b after the component mounting process are equal as shown in FIG. 6B. Yes. For this reason, there is no floating defect.

一方、半田20aと半田20bは、リフロー工程において一度溶融したために、パッド11a、11bからのはみ出しの程度は、図6(b)の状態よりも大きくなっている。しかし、この図6(c)に示される程度の半田20aと半田20bのパッド11a、11bからのはみ出し具合では、パッド間の短絡は生じないものであり、したがって不良にはつながらないものとされる。このように、半田の塗布量が過多であっても半田のパッドからのはみ出し量が許容以下である場合には不良とはならない。   On the other hand, since the solder 20a and the solder 20b are once melted in the reflow process, the extent of the protrusion from the pads 11a and 11b is larger than the state of FIG. However, when the solder 20a and the solder 20b are protruded from the pads 11a and 11b to the extent shown in FIG. 6C, no short circuit occurs between the pads, and therefore it does not lead to a failure. In this way, even if the amount of solder applied is excessive, if the amount of solder protruding from the pad is below an allowable level, it will not be defective.

[不良検査装置の構成例]
本実施形態の不良検査装置100は、上記図2と図4により説明した部品実装不良を、部品装着工程後の段階、つまり、リフロー工程前の段階で検出する。また、半田20a、20bがパッド11a、11bからはみ出していても、図6により説明した状態については不良ではないと検出する。以降、このための不良検査装置100の構成について説明していく。
[Configuration example of defect inspection device]
The defect inspection apparatus 100 of the present embodiment detects the component mounting failure described with reference to FIGS. 2 and 4 at a stage after the component mounting process, that is, a stage before the reflow process. Further, even if the solder 20a, 20b protrudes from the pads 11a, 11b, it is detected that the state described with reference to FIG. 6 is not defective. Hereinafter, the configuration of the defect inspection apparatus 100 for this purpose will be described.

図7は、不良検査装置100の構成例を示している。この図に示す不良検査装置100は、CPU101、RAM102、記憶部103、入力インターフェース104、出力インターフェース105およびデータインターフェース106を備える。また、これらの部位はデータバス107により接続される。   FIG. 7 shows a configuration example of the defect inspection apparatus 100. The defect inspection apparatus 100 shown in this figure includes a CPU 101, a RAM 102, a storage unit 103, an input interface 104, an output interface 105, and a data interface 106. These parts are connected by a data bus 107.

CPU101は、記憶部103に記憶されるプログラムを実行することにより、不良検査装置100としての動作を実現する部位である。   The CPU 101 is a part that realizes an operation as the defect inspection apparatus 100 by executing a program stored in the storage unit 103.

RAM102は、主記憶装置として機能するもので、CPU101が実行すべきプログラムが記憶部103から読み出されて展開される。また、RAM102は、CPU101が演算処理を実行する際の作業領域として使用される。   The RAM 102 functions as a main storage device, and a program to be executed by the CPU 101 is read from the storage unit 103 and expanded. The RAM 102 is used as a work area when the CPU 101 executes arithmetic processing.

記憶部103は、補助記憶装置として機能するもので、CPU101により実行されるプログラムや各種データを格納する。なお、この記憶部103には、例えばハードディスクやフラッシュメモリなどの半導体記憶装置を採用することができる。   The storage unit 103 functions as an auxiliary storage device, and stores programs executed by the CPU 101 and various data. As the storage unit 103, for example, a semiconductor storage device such as a hard disk or a flash memory can be employed.

入力インターフェース104は、例えばキーボードやマウスなどの操作デバイスをはじめとする入力デバイスを一括して示したものである。出力インターフェース105は、例えばディスプレイデバイス(表示部)やスピーカ(音声出力部)などの出力デバイスを一括して示したものである。   The input interface 104 collectively indicates input devices such as operation devices such as a keyboard and a mouse. The output interface 105 collectively represents output devices such as a display device (display unit) and a speaker (audio output unit).

データインターフェース106は、CPU101の制御に応じて、所定の1以上のデータインターフェース規格に対応して通信を実行する。本実施形態においては、印刷基板撮像装置7および部品装着基板撮像装置8がデータインターフェース106と接続される。これにより、不良検査装置100は、印刷基板撮像装置7にて生成された印刷基板画像データと部品装着基板撮像装置8にて生成された部品装着基板画像データをデータインターフェース106経由で入力することができる。なお、この図7に示す構成は、例えばコンピュータ装置により具現化することができる。   The data interface 106 performs communication in accordance with one or more predetermined data interface standards under the control of the CPU 101. In the present embodiment, the printed board imaging device 7 and the component mounting board imaging device 8 are connected to the data interface 106. Thereby, the defect inspection apparatus 100 can input the printed board image data generated by the printed board imaging apparatus 7 and the component mounting board image data generated by the component mounting board imaging apparatus 8 via the data interface 106. it can. The configuration shown in FIG. 7 can be realized by a computer device, for example.

[不良検査装置の機能構成例]
図8は不良検査装置100のCPU101がプログラムを実行することにより実現される機能部の構成例を示している。CPU101は、図示するように、印刷基板画像データ取得部111、印刷基板半田情報生成部112、部品装着基板画像データ取得部113、部品装着基板半田情報生成部114、不良判定部115および通知制御部116としての各機能を備える。また、同図においては、RAM102が記憶するデータのうち、CPU101が不良判定に利用するデータとして、印刷基板半田情報210と部品装着基板半田情報220が示される。
[Example of functional configuration of defect inspection device]
FIG. 8 shows a configuration example of a functional unit realized by the CPU 101 of the defect inspection apparatus 100 executing a program. As illustrated, the CPU 101 includes a printed board image data acquisition unit 111, a printed board solder information generation unit 112, a component mounting board image data acquisition unit 113, a component mounting board solder information generation unit 114, a defect determination unit 115, and a notification control unit. Each function as 116 is provided. Also, in the drawing, among the data stored in the RAM 102, printed board solder information 210 and component mounting board solder information 220 are shown as data used by the CPU 101 for defect determination.

印刷基板画像データ取得部111は、データインターフェース106を経由して入力した印刷基板画像データを取得する。   The printed circuit board image data acquisition unit 111 acquires the printed circuit board image data input via the data interface 106.

印刷基板画像データは、前述のように半田印刷工程後におけるプリント基板10においてパッドが形成されている基板面を印刷基板撮像装置7が平面方向から撮像して得たものである。つまり、印刷基板画像データの画像にはパッドごとの半田の塗布状態が示されている。印刷基板半田情報生成部112は、この印刷基板画像データから、プリント基板10のパッドごとにおける半田の塗布状態を反映した印刷基板半田情報210を生成し、RAM102に記憶させる。   The printed circuit board image data is obtained by the printed circuit board imaging device 7 imaging the surface of the printed circuit board 10 on the printed circuit board 10 after the solder printing process from the plane direction as described above. That is, the image of the printed circuit board image data shows the solder application state for each pad. The printed circuit board solder information generation unit 112 generates printed circuit board solder information 210 reflecting the solder application state for each pad of the printed circuit board 10 from the printed circuit board image data, and stores it in the RAM 102.

また、部品装着基板画像データ取得部113は、データインターフェース106を経由して入力した部品装着基板画像データを取得する。   Further, the component mounting board image data acquisition unit 113 acquires the component mounting board image data input via the data interface 106.

部品装着基板画像データは、部品装着工程後におけるプリント基板10においてパッドが形成されている基板面を平面方向から撮像して得たものである。したがって、部品装着基板画像データの画像には、パッドごとおいて部品が装着されたことにより変化した半田の塗布状態が示される。部品装着基板半田情報生成部114は、この部品装着基板画像データから、プリント基板10のパッドごとにおける部品装着後の半田の塗布状態を反映した部品装着基板半田情報220を生成し、RAM102に記憶させる。   The component mounting board image data is obtained by imaging the board surface on which the pads are formed on the printed board 10 after the component mounting process from the plane direction. Therefore, the image of the component mounting board image data shows the solder application state that has changed due to the mounting of the components for each pad. The component mounting board solder information generation unit 114 generates component mounting board solder information 220 that reflects the solder application state after component mounting for each pad of the printed circuit board 10 from the component mounting board image data, and stores it in the RAM 102. .

本実施形態において、印刷基板半田情報210と部品装着基板半田情報220は同じ構造を有するものとする。図9は、印刷基板半田情報210と部品装着基板半田情報220の構造例を示している。   In the present embodiment, the printed board solder information 210 and the component mounting board solder information 220 are assumed to have the same structure. FIG. 9 shows a structural example of the printed board solder information 210 and the component mounting board solder information 220.

印刷基板半田情報210と部品装着基板半田情報220は、図示するように、工程識別子領域211、221、基板識別子領域212、222、部品識別子領域213、223、パッド情報領域214、224および半田面積領域215、225の各領域から成る。   As shown in the figure, the printed board solder information 210 and the component mounting board solder information 220 include process identifier areas 211 and 221, board identifier areas 212 and 222, component identifier areas 213 and 223, pad information areas 214 and 224, and a solder area area. It consists of 215 and 225 areas.

工程識別子領域211、221は、直前段階において終了した工程を識別する識別子を格納する。印刷基板半田情報210であれば、半田印刷工程を示す識別子が格納される。部品装着基板半田情報220であれば、部品装着工程を示す識別子が格納される。   The process identifier areas 211 and 221 store an identifier for identifying a process completed in the immediately preceding stage. In the case of the printed board solder information 210, an identifier indicating a solder printing process is stored. In the case of the component mounting board solder information 220, an identifier indicating a component mounting process is stored.

基板識別子領域212、222は、当該印刷基板半田情報210または部品装着基板半田情報220が対応するプリント基板10を個々に識別する基板識別子を格納する。基板識別子領域212と222が同じ印刷基板半田情報210と部品装着基板半田情報220は、それぞれ、同じプリント基板10に対応していることになる。   The board identifier areas 212 and 222 store board identifiers for individually identifying the printed board 10 corresponding to the printed board solder information 210 or the component mounting board solder information 220. The printed board solder information 210 and the component mounting board solder information 220 having the same board identifier areas 212 and 222 correspond to the same printed board 10 respectively.

部品識別子領域213、223は、対応のプリント基板10において実装される部品ごとに付された部品識別子を格納する。パッド情報領域214、224は、対応のプリント基板10に形成されたパッドごとの位置を示すパッド位置をはじめ、パッドに関連する所定の情報を格納する。部品識別子領域213、223とパッド情報領域214、224が格納するパッド位置との対応付けにより、各パッドが対応して実装される部品を特定することができる。   The component identifier areas 213 and 223 store a component identifier assigned to each component mounted on the corresponding printed circuit board 10. The pad information areas 214 and 224 store predetermined information related to the pads, including a pad position indicating the position of each pad formed on the corresponding printed circuit board 10. By associating the component identifier areas 213 and 223 with the pad positions stored in the pad information areas 214 and 224, it is possible to identify the component on which each pad is mounted correspondingly.

半田面積領域215、225は、対応のパッド情報領域214、224が格納するパッド位置情報が示すパッドに塗布された半田についての面積を示す半田面積を格納する。この半田面積は、具体的に、図4において説明した半田面積Sa1、Sb1、Sa2、Sb2などに相当する。なお、半田面積は、後述するように半田の画像部分を形成する画素数として示すことができる。しかし、例えば、半田の平面方向における形状が方形であることを前提とした場合には、図4(a)に示すように、半田20aの隣り合う辺Px、Pyを格納してもよい。   The solder area regions 215 and 225 store solder areas indicating the areas of the solder applied to the pads indicated by the pad position information stored in the corresponding pad information regions 214 and 224. Specifically, this solder area corresponds to the solder areas Sa1, Sb1, Sa2, Sb2, etc. described in FIG. The solder area can be shown as the number of pixels forming an image portion of solder as will be described later. However, for example, when it is assumed that the shape of the solder in the plane direction is a square, the adjacent sides Px and Py of the solder 20a may be stored as shown in FIG.

印刷基板半田情報生成部112は、一例として、以下のように上記構造の印刷基板半田情報210を生成する。図示は省略するが、記憶部103には、部品実装システム1により部品実装を行う基板についての各種情報を格納したデータベースが記憶されているものとする。   As an example, the printed circuit board solder information generation unit 112 generates the printed circuit board solder information 210 having the structure described above. Although illustration is omitted, it is assumed that the storage unit 103 stores a database that stores various types of information about boards on which components are mounted by the component mounting system 1.

印刷基板半田情報生成部112は、上記データベースから、現在において半田印刷工程の対象となっているプリント基板の基板識別子と、この基板識別子に対応付けられている部品識別子とパッド位置の情報を読み込む。そして、これらの読み込みを行った基板識別子、部品識別子およびパッド位置の情報を、それぞれ、基板識別子領域212、部品識別子領域213およびパッド情報領域214に格納する。また、工程識別子領域211には、半田印刷工程に対応して予め設定されている工程識別子の値を格納する。   The printed board solder information generation unit 112 reads the board identifier of the printed board currently being subjected to the solder printing process, the component identifier associated with the board identifier, and the pad position information from the database. Then, the board identifier, component identifier, and pad position information that have been read are stored in the board identifier area 212, the component identifier area 213, and the pad information area 214, respectively. The process identifier area 211 stores a process identifier value set in advance corresponding to the solder printing process.

次に、印刷基板半田情報生成部112は、以下のように半田面積領域215に格納する半田面積を求める。印刷基板半田情報生成部112は、印刷基板画像データにおけるプリント基板10の画像とパッド情報領域214に格納される各パッド位置とを照合する。これにより、印刷基板画像データにおけるパッドをパッド情報領域214に格納されるパッド位置と対応付ける。これにより、印刷基板画像データにおけるパッド位置と部品の対応付けが認識される。   Next, the printed circuit board solder information generation unit 112 obtains the solder area stored in the solder area region 215 as follows. The printed circuit board solder information generation unit 112 collates the image of the printed circuit board 10 in the printed circuit board image data with each pad position stored in the pad information area 214. Thereby, the pad in the printed board image data is associated with the pad position stored in the pad information area 214. Thereby, the correspondence between the pad position and the component in the printed board image data is recognized.

そのうえで、印刷基板半田情報生成部112は、印刷基板画像データの画像において上記のように認識されたパッド位置ごとの半田面積を算出する。半田面積の算出手法としてはいくつか考えられるが、一例として、予め半田の画像部分に相当するものとして予め登録された画素値の情報を利用して、印刷基板画像データから半田が塗布されている半田領域を特定する。そして、この半田領域を形成する画素の数を求める。このように求められた画素数を半田面積とすることが考えられる。   In addition, the printed board solder information generation unit 112 calculates the solder area for each pad position recognized as described above in the image of the printed board image data. There are several possible methods for calculating the solder area, but as an example, solder is applied from the printed circuit board image data using pixel value information registered in advance as corresponding to the image portion of the solder. Specify the solder area. Then, the number of pixels forming this solder region is obtained. It is conceivable that the number of pixels obtained in this way is used as the solder area.

印刷基板半田情報生成部112は、上記のように取得した工程識別子、基板識別子、部品識別子、パッド位置および半田面積により、図9に示す印刷基板半田情報210を生成する。   The printed board solder information generation unit 112 generates the printed board solder information 210 shown in FIG. 9 based on the process identifier, board identifier, component identifier, pad position, and solder area acquired as described above.

なお、部品装着基板半田情報生成部114による部品装着基板半田情報220の生成処理も、上記印刷基板半田情報生成部112による印刷基板半田情報210の処理に準ずる。ただし、部品装着基板画像データにおける半田の領域は、部品によってその一部が隠れた状態となるため、半田に相当する画素値の画素の数をそのまま半田面積として求めた場合には、実際の半田面積より小さくなってしまう。そこで、この場合には、部品によって隠れた半田の部分を補間処理などによって推定して半田領域全体を特定したうえで半田面積としての画素数を求めることとすればよい。   The generation process of the component mounting board solder information 220 by the component mounting board solder information generation unit 114 is also similar to the processing of the printing board solder information 210 by the printing board solder information generation unit 112. However, since the solder area in the component mounting board image data is partially hidden by the component, when the number of pixels having a pixel value corresponding to solder is directly obtained as the solder area, the actual solder It becomes smaller than the area. Therefore, in this case, the number of pixels as the solder area may be obtained after estimating the solder portion hidden by the component by interpolation processing or the like and specifying the entire solder region.

説明を図8に戻す。不良判定部115は、印刷基板半田情報210と部品装着基板半田情報220に基づいて半田の部品実装不良の有無についての判定を行う。なお、不良判定部115による不良判定手法例については後述する。   Returning to FIG. The defect determination unit 115 determines whether or not there is a component mounting defect of solder based on the printed board solder information 210 and the component mounting board solder information 220. An example of a failure determination method performed by the failure determination unit 115 will be described later.

通知制御部116は、不良判定部115により部品実装不良であると判定されるのに応じて、作業者に対して部品実装不良の発生を通知するための制御を実行する。具体例として、通知制御部116は、出力インターフェース105におけるスピーカなどから、部品実装不良が発生したことを通知するアラーム音を出力させる。また、不良が発生したプリント基板10を示す情報、不良が発生した箇所を示す情報などを出力インターフェース105におけるディスプレイデバイスなどに表示させる。   The notification control unit 116 performs control for notifying the operator of the occurrence of component mounting failure in response to the failure determining unit 115 determining that there is a component mounting failure. As a specific example, the notification control unit 116 outputs an alarm sound notifying that a component mounting failure has occurred from a speaker or the like in the output interface 105. In addition, information indicating the printed circuit board 10 in which a defect has occurred, information indicating a location in which a defect has occurred, and the like are displayed on a display device or the like in the output interface 105.

不良判定部115による不良判定の一例について、再度、図4を参照して説明する。前述のように、図4(a)に示されるパッド11a、11bは同じ部品に対応している。そのうえで、半田印刷工程によりパッド11a、11bに塗布された半田20a、20bの状態が示されている。また、図4(b)は、図4(a)の状態から部品装着工程を行った後の半田20a、20bの状態について部品の図示を省略して示している。   An example of the defect determination by the defect determination unit 115 will be described again with reference to FIG. As described above, the pads 11a and 11b shown in FIG. 4A correspond to the same components. In addition, the states of the solders 20a and 20b applied to the pads 11a and 11b by the solder printing process are shown. FIG. 4B shows the state of the solder 20a, 20b after performing the component mounting process from the state of FIG.

ここで、図4(a)の半田印刷工程後のパッド11a、11bに塗布された半田20a、20bの半田面積は、それぞれ、印刷基板半田情報210においてパッド11a、11bのパッド位置に対応した半田面積領域215に格納されている。同様に、図4(b)の部品装着工程後のパッド11a、11bに塗布された半田20a、20bの半田面積は、それぞれ、部品装着基板半田情報220において同じパッド11a、11bのパッド位置に対応した半田面積領域225に格納されている。   Here, the solder areas of the solders 20a and 20b applied to the pads 11a and 11b after the solder printing process of FIG. 4A are respectively solders corresponding to the pad positions of the pads 11a and 11b in the printed board solder information 210. It is stored in the area area 215. Similarly, the solder areas of the solders 20a and 20b applied to the pads 11a and 11b after the component mounting process of FIG. 4B correspond to the pad positions of the same pads 11a and 11b in the component mounting board solder information 220, respectively. The solder area region 225 is stored.

不良判定部115は、上記印刷基板半田情報210から、半田印刷工程後のパッド11a、11bに塗布された半田20a、20bの半田面積Sa1、Sb1を読み込む。また、上記部品装着基板半田情報220から、部品装着工程後のパッド11a、11bに塗布された半田20a、20bの半田面積Sa2、Sb2を読み込む。そして、これらの半田面積と予め設定した閾値th1について以下の式が成立するか否かについて判定する。
|(Sb2−Sb1)−(Sa2−Sa1)|≧th1
不良判定部115は、上式が成立すれば不良が発生していると判定し、成立しなければ不良は発生していないと判定する
The defect determination unit 115 reads the solder areas Sa1 and Sb1 of the solders 20a and 20b applied to the pads 11a and 11b after the solder printing process from the printed board solder information 210. Further, from the component mounting board solder information 220, the solder areas Sa2 and Sb2 of the solders 20a and 20b applied to the pads 11a and 11b after the component mounting process are read. Then, it is determined whether or not the following expression holds for these solder areas and a preset threshold value th1.
| (Sb2-Sb1)-(Sa2-Sa1) | ≧ th1
The failure determination unit 115 determines that a failure has occurred if the above equation is satisfied, and determines that no failure has occurred if the above equation is not satisfied.

上式の左辺における(Sb2−Sb1)の項は、パッド11bに塗布された半田20bについての半田印刷工程後と部品装着工程後の半田面積の差分を示している。また、同じ上式の左辺における(Sa2−Sa1)の項は、パッド11aに塗布された半田20aについての半田印刷工程後と部品装着工程後の半田面積の差分を示している。したがって、上式の左辺は、半田印刷工程後と部品装着工程後の間での半田20aの変化量と半田20bの変化量との差分を示している。   The term (Sb2-Sb1) on the left side of the above equation indicates the difference in solder area between the solder printing process and the component mounting process for the solder 20b applied to the pad 11b. Further, the term (Sa2-Sa1) on the left side of the same equation indicates the difference in solder area after the solder printing process and after the component mounting process for the solder 20a applied to the pad 11a. Therefore, the left side of the above formula shows the difference between the change amount of the solder 20a and the change amount of the solder 20b between the solder printing process and the component mounting process.

例えば、図2にて例示したように部品30が傾いて装着されたことでパッド11bのほうの面積が大きく拡大したような場合(図2(a)から図2(c)への遷移)には、上式の左辺の値が大きくなって例えば閾値th1を超えることになる。また、図5にて例示したように半田の塗布量がアンバランスなために部品30の装着による半田面積の拡がりに差が生じたような場合(図5(a)から図5(c)への遷移)にも、上式の左辺の値が大きくなって閾値th1を超えることになる。このように、不良判定部115が上式を利用することにより、図2に例示した装着工程における部品30の傾きや、図5に例示した半田塗布量のアンバランスを原因とする部品実装不良を的確に判定することができる。   For example, as illustrated in FIG. 2, in the case where the area of the pad 11 b is greatly enlarged due to the component 30 being inclined and mounted (transition from FIG. 2 (a) to FIG. 2 (c)). Means that the value on the left side of the above formula increases and exceeds the threshold th1, for example. Further, as illustrated in FIG. 5, when the amount of solder applied is unbalanced, a difference occurs in the expansion of the solder area due to the mounting of the component 30 (from FIG. 5A to FIG. 5C). Also, the value of the left side of the above formula increases and exceeds the threshold value th1. As described above, the defect determination unit 115 uses the above equation to prevent component mounting defects caused by the inclination of the component 30 in the mounting process illustrated in FIG. 2 and the unbalance of the solder application amount illustrated in FIG. It can be judged accurately.

また、図示による説明は省略するが、半田印刷工程によりパッド11aとパッド11bに塗布された半田20a、20bの半田面積が異なっていたのに、部品装着工程後において上記半田面積が同じなるような場合がある。これは、次のような場合に生じ得る。つまり、半田印刷工程後において半田20a、20bの塗布量に差により半田面積が異なる場合がある。この状態から部品30が傾いて装着されるなどした場合には部品30が半田を押し拡げる度合いに差が生じ、この結果、部品装着工程後において上記半田面積が同程度となる場合がある。このような状態も、部品実装不良となる可能性が高い。   Although illustration explanation is omitted, although the solder areas of the solders 20a and 20b applied to the pad 11a and the pad 11b in the solder printing process are different, the solder areas are the same after the component mounting process. There is a case. This can occur in the following cases. That is, after the solder printing process, the solder area may differ depending on the difference in the amount of solder 20a, 20b applied. When the component 30 is mounted in an inclined state from this state, there is a difference in the degree to which the component 30 pushes the solder, and as a result, the solder area may be approximately the same after the component mounting process. Such a state is also likely to cause a component mounting failure.

先の上式によれば、半田20aと半田20bとで、半田印刷工程後と部品装着工程後との間での半田面積の変化量の差を求めている。上記の不良は、部品装着工程後における半田20aと半田20bの半田面積が同等であっても、半田印刷工程後と部品装着工程後の半田面積の変化量は相当に異なっていることになる。したがって、先の上式によれば、半田塗布量が元々アンバランスではあるが、部品装着工程後において半田面積が同等となってしまうような場合にも対応して的確に不良判定を行うことが可能になる。   According to the above equation, the difference in the amount of change in the solder area between the solder 20a and the solder 20b after the solder printing process and after the component mounting process is obtained. Even if the solder areas of the solder 20a and the solder 20b after the component mounting process are equal to each other, the amount of change in the solder area after the solder printing process and after the component mounting process is considerably different. Therefore, according to the above equation, it is possible to accurately determine the defect corresponding to the case where the solder application amount is originally unbalanced but the solder area becomes equal after the component mounting process. It becomes possible.

これまでの説明から理解されるように、不良判定部115は、半田印刷工程と部品装着工程のそれぞれにおける半田面積を利用して不良判定を行っている。これは、不良判定にあたり、印刷基板画像データと部品装着基板画像データを組み合わせて利用していることを意味している。これにより、上述のように、パッドごとにおける半田印刷工程後と部品装着工程後の半田面積の変化量を求めることが可能となり、この変化量に基づいて不良判定を行う。そして、このように半田印刷工程後と部品装着工程後における半田の状態変化を利用していることで、本実施形態では、リフロー工程前の段階で不良判定を的確に行える。このようにリフロー工程前の段階で不良を検出することにより、部品の位置修正のためにプリント基板10から部品を取り外す作業を非常に容易に行うことが可能であり、製造効率の向上につながる。   As can be understood from the above description, the defect determination unit 115 performs defect determination using the solder area in each of the solder printing process and the component mounting process. This means that the printed board image data and the component mounting board image data are used in combination for the defect determination. As a result, as described above, it is possible to determine the amount of change in the solder area after the solder printing process and after the component mounting process for each pad, and the failure determination is performed based on the amount of change. By using the solder state change after the solder printing process and after the component mounting process in this way, in this embodiment, it is possible to accurately determine the defect before the reflow process. Thus, by detecting a defect in the stage before the reflow process, it is possible to very easily perform the operation of removing the component from the printed circuit board 10 for correcting the position of the component, leading to an improvement in manufacturing efficiency.

なお、特許文献1においては、半田印刷工程後と部品装着工程後とリフロー工程後のそれぞれにおけるプリント基板の撮像画像データから不良検出を行うが、不良検出の際には、各工程に対応する撮像画像データをそれぞれ個別に利用しており、工程間の撮像画像データの差分を利用するようなことは行っていない。このために、部品実装工程が進行しているのに応じて、リフロー工程前の段階でリアルタイムに不良判定を行うことはできない。   In Patent Document 1, defect detection is performed from imaged image data of the printed circuit board after the solder printing process, after the component mounting process, and after the reflow process, but when detecting defects, imaging corresponding to each process is performed. The image data is used individually, and the difference of the captured image data between processes is not used. For this reason, according to the progress of the component mounting process, it is not possible to determine the defect in real time at the stage before the reflow process.

さらに、不良判定部115は、図6により説明したように、半田20a、20bがパッド11a、11bからはみ出したとしても、そのはみ出し量が許容範囲内であり、両者の半田面積が同等である場合には不良ではないと判定することが好ましい。本実施形態としては、先に説明した工程間における半田面積の変動量のパッド間の差分に基づいた不良判定により不良を的確に判定可能である。そのうえで、図6の状態について誤検出しないように判定を行うことができれば、不良判定結果の信頼性はさらに向上する。   Further, as described with reference to FIG. 6, the defect determination unit 115 has a case where the amount of protrusion is within an allowable range even if the solder 20 a and 20 b protrude from the pads 11 a and 11 b, and the solder areas of both are equal. It is preferable to determine that it is not defective. In this embodiment, it is possible to accurately determine the defect by the defect determination based on the difference between the pads in the solder area variation amount between the processes described above. In addition, the reliability of the failure determination result is further improved if the determination can be made so as not to erroneously detect the state of FIG.

そこで、本実施形態の不良判定部115は、先の上式が成立すると判定した場合、即座に不良ではないと判定するのではなく、さらに、以下の判定を行う。つまり、部品装着工程後の半田20a、20bのパッドからのはみ出し量が一定量以上か否かについて判定する。つまり、半田20a、半田20bのそれぞれについて、各パッドの設計値から求められるパッドのエリアに対して、各パッド上の半田エリアを算出し、パッドのエリアをPA、半田エリアをSA、PA外にあるSAの面積をS_drop、パッドエリアに対するマージンをmgとして、
S_drop>mg
が成立するか否かについて判定する。
なお、パッドのエリアPAはパッドごとに異なることが想定される。そこで、パッドのエリアPAについては、例えば部品装着基板半田情報220のパッド情報領域224においてパッド位置とともに格納しておき、上式の判定を行うにあたり読み込んで取得することとすればよい。
Therefore, when it is determined that the above equation is satisfied, the defect determination unit 115 of the present embodiment does not immediately determine that the defect is not defective, but further makes the following determination. That is, it is determined whether or not the amount of protrusion of the solder 20a, 20b from the pad after the component mounting process is a certain amount or more. That is, for each of the solder 20a and the solder 20b, the solder area on each pad is calculated with respect to the pad area obtained from the design value of each pad, the pad area is PA, the solder area is SA, and outside the PA. The area of a certain SA is S_drop and the margin for the pad area is mg.
S_drop> mg
Whether or not is satisfied is determined.
It is assumed that the pad area PA is different for each pad. Therefore, the pad area PA may be stored together with the pad position in the pad information area 224 of the component mounting board solder information 220, for example, and read and acquired when the above formula is determined.

半田20a、20bのいずれについても上式が成立しない場合、半田20a、20bは、いずれもパッド11a、11bからはみ出ていないか、はみ出しているとしてもマージンmgに対応する許容範囲内であることになる。そのうえで、先の工程間の半田面積変化量に基づく不良判定が不良ではないと判定されていることで、部品装着工程後における半田20a、20bの半田面積の差も許容範囲に収まっていることが分かっている。つまり、半田20a、20bの半田面積は同等とみてよく、かつ、パッドに対するはみ出し量も一定以内であることになる。そこで、この場合には、図6の説明にしたがって不良はでないと判定する。   If neither of the solders 20a and 20b is satisfied, the solders 20a and 20b do not protrude from the pads 11a and 11b, or even if they protrude, they are within an allowable range corresponding to the margin mg. Become. In addition, it is determined that the defect determination based on the amount of change in the solder area between the previous processes is not defective, and thus the difference in the solder areas of the solders 20a and 20b after the component mounting process is within an allowable range. I know. That is, the solder areas of the solders 20a and 20b may be regarded as being equal, and the amount of protrusion to the pad is within a certain range. Therefore, in this case, it is determined that there is no defect according to the description of FIG.

これに対して、半田20a、20bの少なくともいずれか一方について上式が成立する場合、半田20a、20bの少なくともいずれか一方は、パッドからのはみ出し量が許容範囲を超えていることになる。そこで、この場合には不良であると判定する。   On the other hand, when the above equation holds for at least one of the solders 20a and 20b, the amount of protrusion from the pad exceeds the allowable range for at least one of the solders 20a and 20b. Therefore, in this case, it is determined to be defective.

このように、本実施形態においては、図6に示した状態に対応して的確に不良判定を行える。特許文献1においては、パッドから半田がはみ出しているか否かについてのみ検出し、この検出結果のみにより不良判定を行っており、同一部品に対応するパッド間の半田面積の差については考慮していない。このために、特許文献1では、パッド11a、11bから半田20a、20bがはみ出してはいるが、そのはみ出し量が許容範囲であるために不良が発生していない良品の場合にも不良であると判定されてしまうことになる。   As described above, in the present embodiment, it is possible to accurately determine the defect corresponding to the state shown in FIG. In Patent Document 1, only whether or not the solder protrudes from the pad is detected, and the failure determination is performed based only on the detection result, and the difference in the solder area between the pads corresponding to the same component is not taken into consideration. . For this reason, in Patent Document 1, although the solders 20a and 20b protrude from the pads 11a and 11b, the amount of protrusion is within an allowable range, so that it is defective even in a non-defective product. It will be judged.

[処理手順例]
図10のフローチャートは、不良検査装置100が実行する処理手順例を示している。この図では、図1の部品実装システム1により各工程を経て部品が実装される1つのプリント基板10に対応して実行される処理を示している。また、この図に示す処理は、図8に示すCPU101内の機能部が適宜実行するものとしてみることができる。
[Example of processing procedure]
The flowchart of FIG. 10 shows an example of a processing procedure executed by the defect inspection apparatus 100. In this figure, the process performed by the component mounting system 1 of FIG. 1 corresponding to one printed circuit board 10 on which components are mounted through each process is shown. Further, the processing shown in this figure can be regarded as appropriately executed by the functional unit in the CPU 101 shown in FIG.

まず、印刷基板画像データ取得部111は、印刷基板撮像装置7からデータインターフェース106が入力した印刷基板画像データを取得する(ステップS101)。次に、印刷基板半田情報生成部112は、上記ステップS101により取得された印刷基板画像データから印刷基板半田情報210を生成し、RAM102に記憶させる(ステップS102)。   First, the printed circuit board image data acquisition unit 111 acquires the printed circuit board image data input by the data interface 106 from the printed circuit board imaging device 7 (step S101). Next, the printed circuit board solder information generation unit 112 generates the printed circuit board solder information 210 from the printed circuit board image data acquired in step S101 and stores it in the RAM 102 (step S102).

また、部品装着基板画像データ取得部113は、部品装着基板撮像装置8からデータインターフェース106が入力した部品装着基板画像データを取得する(ステップS103)。なお、このステップS103により取得する部品装着基板画像データは、先のステップS101により取得した印刷基板画像データを生成するために印刷基板撮像装置7が撮像したのと同じプリント基板10を撮像したものである。次に、部品装着基板半田情報生成部114は、上記ステップS103により取得された印刷基板画像データから部品装着基板半田情報220を生成し、RAM102に記憶させる(ステップS104)。   Further, the component mounting board image data acquisition unit 113 acquires the component mounting board image data input by the data interface 106 from the component mounting board imaging device 8 (step S103). The component mounting board image data acquired in step S103 is an image of the same printed circuit board 10 that was imaged by the printing board imaging device 7 in order to generate the printed board image data acquired in step S101. is there. Next, the component mounting board solder information generating unit 114 generates the component mounting board solder information 220 from the printed board image data acquired in step S103 and stores it in the RAM 102 (step S104).

次に、不良判定部115は、印刷基板半田情報210と部品装着基板半田情報220を利用して、部品装着工程後のプリント基板10についての不良判定処理を実行する(ステップS105)。   Next, the defect determination unit 115 executes defect determination processing for the printed circuit board 10 after the component mounting process using the printed circuit board solder information 210 and the component mounting board solder information 220 (step S105).

図11のフローチャートは、上記ステップS105としての不良判定処理のための手順例を示している。先ず、不良判定部115は、印刷基板半田情報210から、判定対象のプリント基板10における1つの対象部品に対応するパッドごとの半田面積を取得する(ステップS201)。つまり、印刷基板半田情報210において、判定対象のプリント基板10の基板識別子と、上記対象部品として選択した部品識別子に対応するパッド位置ごとの半田面積領域215に格納されている半田面積を読み込んで取得する。   The flowchart of FIG. 11 shows an example of a procedure for the defect determination process as step S105. First, the defect determination unit 115 acquires a solder area for each pad corresponding to one target component in the printed circuit board 10 to be determined from the printed circuit board solder information 210 (step S201). That is, in the printed board solder information 210, the board identifier of the judgment target printed board 10 and the solder area stored in the solder area 215 for each pad position corresponding to the component identifier selected as the target part are read and acquired. To do.

また、不良判定部115は、部品装着基板半田情報220から、同じ判定対象のプリント基板10における1つの部品に対応するパッドごとの半田面積を、上記ステップS201に準じた処理によって取得する(ステップS202)。   Further, the defect determination unit 115 acquires, from the component mounting board solder information 220, a solder area for each pad corresponding to one component on the same printed circuit board 10 to be determined by processing according to step S201 (step S202). ).

次に、不良判定部115は、半田面積変化量差分値αを算出する(ステップS203)。半田面積変化量差分値αは、1つの部品に対応するパッド上の半田面積ごとについての、半田印刷工程後と部品装着工程後の変化量の差分値である。つまり、先に示した式における左辺であり、
α=|(Sb2−Sb1)−(Sa2−Sa1)|
のように求めることができる。
Next, the defect determination unit 115 calculates a solder area change amount difference value α (step S203). The solder area change amount difference value α is a difference value between the change amounts after the solder printing process and after the component mounting process for each solder area on the pad corresponding to one component. That is, the left side of the equation shown above,
α = | (Sb2-Sb1)-(Sa2-Sa1) |
Can be obtained as follows.

そして、不良判定部115は、上記半田面積変化量差分値αと予め設定された閾値th1とを比較して、
α≧th1
が成立するか否かについて判定する(ステップS204)。
上式が成立した場合(ステップS204−YES)、不良判定部115は不良が発生した(不良有り)事を記憶する(ステップS206)。これに対して、上式が成立しないと判定した場合には(ステップS204−NO)、対象部品に対応するパッドごとにおける半田のはみ出し量が一定以上であるか否かについて判定する(ステップS205)。このためには、前述のようにパッド位置ごとに、パッド外にある半田の面積をS_dropとして
S_drop>mg
が成立するか否かについて判定する。
Then, the defect determination unit 115 compares the solder area change amount difference value α with a preset threshold value th1,
α ≧ th1
Whether or not is satisfied is determined (step S204).
When the above equation is established (YES in step S204), the defect determination unit 115 stores that a defect has occurred (has a defect) (step S206). On the other hand, when it is determined that the above equation is not satisfied (step S204—NO), it is determined whether or not the amount of solder protrusion for each pad corresponding to the target component is greater than or equal to a certain level (step S205). . For this purpose, as described above, for each pad position, the area of the solder outside the pad is S_drop>S_drop> mg
Whether or not is satisfied is determined.

対象部品に対応するパッドのうち少なくとも1つのパッドにおいて上式が成立した場合には(ステップS205−YES)、そのパッドに対する半田のはみ出し量が許容範囲を超えていることになる。この場合、不良判定部115は、不良が発生した事(不良有り)を記憶する(ステップS206)。   When the above equation is established for at least one of the pads corresponding to the target component (step S205—YES), the amount of solder protruding from the pad exceeds the allowable range. In this case, the defect determination unit 115 stores that a defect has occurred (there is a defect) (step S206).

これに対して、半田のはみ出し量が一定未満とされて、対象部品に対応するいずれのパッドにおいても上式が成立しないと判定した場合(ステップS205−NO)、または上記ステップS206の後、不良判定部115は、プリント基板10上の全部品を対象とする不良判定を終了したか否かについて判定する(ステップS207)。ここで、未だ対象部品が残っている場合には(ステップS207−NO)、ステップS201に戻ることで、次の対象部品についての不良判定を実行する。これに対して、全部品を対象とする不良判定を終了した判定した場合(ステップS207−YES)、これまでにステップS206を実行したことによる「不良有り」の履歴が記憶されているか否かについて判定する(ステップS208)。「不良有り」の履歴が記憶されていない場合には(ステップS208−NO)、結果的に、すべての部品において不良と判定されなかったことになる。そこで、この場合の不良判定部115は、不良が発生していない(不良無し)と判定する(ステップS209)。これに対して、少なくとも1つの「不良有り」の履歴が記憶されている場合(ステップS208−YES)、不良判定部115は、不良が発生した(不良有り)と判定する(ステップS210)。   On the other hand, when the amount of solder protrusion is less than a certain value and it is determined that the above equation does not hold for any of the pads corresponding to the target component (step S205—NO), or after step S206 described above, The determination unit 115 determines whether or not the defect determination for all components on the printed circuit board 10 has been completed (step S207). Here, when the target part still remains (NO in step S207), the process returns to step S201 to execute defect determination for the next target part. On the other hand, if it is determined that the defect determination for all parts has been completed (step S207—YES), whether or not a “defect” history is stored by executing step S206 so far. Determination is made (step S208). If no “defect” history is stored (step S208—NO), as a result, it is determined that all components are not defective. Therefore, the defect determination unit 115 in this case determines that no defect has occurred (no defect) (step S209). On the other hand, when at least one “defect” history is stored (step S208—YES), the defect determination unit 115 determines that a defect has occurred (defect exists) (step S210).

説明を図10に戻す。上記図11に示すようにステップS105としての不良判定処理を実行した後、不良判定部115は、上記ステップS105による判定結果が、不良有りであったか否かについて判定する(ステップS106)。不良有りの判定結果であった場合(ステップS106−YES)、通知制御部116は、不良が発生したことを通知するための音声出力や表示などが出力インターフェース105にて行われるように制御する(ステップS107)。これに対して、不良無しの判定結果であった場合には(ステップS106)、特に通知を行うことなくステップS101に戻ることで、次の検査対象のプリント基板10の不良検査に以降する。   Returning to FIG. As shown in FIG. 11, after performing the defect determination process as step S105, the defect determination unit 115 determines whether or not the determination result in step S105 is defective (step S106). When the determination result indicates that there is a defect (YES in step S106), the notification control unit 116 performs control so that audio output or display for notifying that a defect has occurred is performed on the output interface 105 ( Step S107). On the other hand, if the determination result indicates that there is no defect (step S106), the process returns to step S101 without any particular notification, and the subsequent defect inspection of the printed circuit board 10 to be inspected is performed.

(参考例)
なお上述の処理以外にも、例えば、半田面積変化量差分値αは、1つの部品に対応するパッド上の半田面積ごとについての部品装着工程後の変化量の差分値であるようにしてもよい。この場合、
α2=|Sb2−Sa2|
のように求めることができる。この場合、不良判定部115は、上記半田面積変化量差分値α2と予め設定された閾値th2とを比較して、
α2≧th2
が成立するか否かについて判定する。当該式が成立した場合、不良判定部115は不良が発生した(不良有り)と判定し、当該式が成立しないと判定した場合には、対象部品に対応するパッドごとにおける半田のはみ出し量が一定以上であるか否かについて判定する。
(Reference example)
In addition to the processing described above, for example, the solder area change amount difference value α may be a difference value of the change amount after the component mounting process for each solder area on the pad corresponding to one component. . in this case,
α2 = | Sb2-Sa2 |
Can be obtained as follows. In this case, the defect determination unit 115 compares the solder area change amount difference value α2 with a preset threshold th2.
α2 ≧ th2
Whether or not is satisfied is determined. When the formula is satisfied, the defect determination unit 115 determines that a defect has occurred (has a defect), and when it is determined that the expression does not hold, the amount of solder protrusion for each pad corresponding to the target component is constant. It is determined whether or not this is the case.

なお、これまでの説明においては、説明を分かりやすくすることの便宜上、1つの部品に対応するパッドは2つの例を示している。しかし、1つの部品に対応するパッド数が3以上の場合であっても、これらのパッド間の半田面積の変化量の差分に基づいて不良判定を行うことが可能である。   In the description so far, for the sake of simplicity of description, two examples of pads corresponding to one component are shown. However, even when the number of pads corresponding to one component is three or more, it is possible to determine a defect based on the difference in the amount of change in the solder area between these pads.

また、上述の不良検査装置は内部に、コンピュータシステムを有している。そして、上述した不良判定の過程は、プログラムの形式でコンピュータ読み取り可能な記録媒体に記憶されており、このプログラムをコンピュータが読み出して実行することによって、上記処理が行われる。ここでコンピュータ読み取り可能な記録媒体とは、磁気ディスク、光磁気ディスク、CD−ROM、DVD−ROM、半導体メモリ等をいう。また、このコンピュータプログラムを通信回線によってコンピュータに配信し、この配信を受けたコンピュータが当該プログラムを実行するようにしても良い。   Further, the above-described defect inspection apparatus has a computer system therein. The defect determination process described above is stored in a computer-readable recording medium in the form of a program, and the above processing is performed by the computer reading and executing this program. Here, the computer-readable recording medium means a magnetic disk, a magneto-optical disk, a CD-ROM, a DVD-ROM, a semiconductor memory, or the like. Alternatively, the computer program may be distributed to the computer via a communication line, and the computer that has received the distribution may execute the program.

また、図8における処理部の機能を実現するためのプログラムをコンピュータ読み取り可能な記録媒体に記録して、この記録媒体に記録されたプログラムをコンピュータシステムに読み込ませ、実行することにより本実施形態における不良判定を行ってもよい。なお、ここでいう「コンピュータシステム」とは、OSや周辺機器等のハードウェアを含むものとする。また、「コンピュータシステム」は、ホームページ提供環境(あるいは表示環境)を備えたWWWシステムも含むものとする。また、「コンピュータ読み取り可能な記録媒体」とは、フレキシブルディスク、光磁気ディスク、ROM、CD−ROM等の可搬媒体、コンピュータシステムに内蔵されるハードディスク等の記憶装置のことをいう。さらに「コンピュータ読み取り可能な記録媒体」とは、インターネット等のネットワークや電話回線等の通信回線を介してプログラムが送信された場合のサーバやクライアントとなるコンピュータシステム内部の揮発性メモリ(RAM)のように、一定時間プログラムを保持しているものも含むものとする。   Further, in the present embodiment, a program for realizing the function of the processing unit in FIG. 8 is recorded on a computer-readable recording medium, and the program recorded on the recording medium is read into a computer system and executed. You may perform defect determination. Here, the “computer system” includes an OS and hardware such as peripheral devices. The “computer system” includes a WWW system having a homepage providing environment (or display environment). The “computer-readable recording medium” refers to a storage device such as a flexible medium, a magneto-optical disk, a portable medium such as a ROM and a CD-ROM, and a hard disk incorporated in a computer system. Further, the “computer-readable recording medium” refers to a volatile memory (RAM) in a computer system that becomes a server or a client when a program is transmitted via a network such as the Internet or a communication line such as a telephone line. In addition, those holding programs for a certain period of time are also included.

また、上記プログラムは、このプログラムを記憶装置等に格納したコンピュータシステムから、伝送媒体を介して、あるいは、伝送媒体中の伝送波により他のコンピュータシステムに伝送されてもよい。ここで、プログラムを伝送する「伝送媒体」は、インターネット等のネットワーク(通信網)や電話回線等の通信回線(通信線)のように情報を伝送する機能を有する媒体のことをいう。また、上記プログラムは、前述した機能の一部を実現するためのものであっても良い。さらに、前述した機能をコンピュータシステムにすでに記録されているプログラムとの組み合わせで実現できるもの、いわゆる差分ファイル(差分プログラム)であっても良い。   The program may be transmitted from a computer system storing the program in a storage device or the like to another computer system via a transmission medium or by a transmission wave in the transmission medium. Here, the “transmission medium” for transmitting the program refers to a medium having a function of transmitting information, such as a network (communication network) such as the Internet or a communication line (communication line) such as a telephone line. The program may be for realizing a part of the functions described above. Furthermore, what can implement | achieve the function mentioned above in combination with the program already recorded on the computer system, and what is called a difference file (difference program) may be sufficient.

1 部品実装システム
2 半田印刷装置
3 部品装着装置
4 リフロー炉
7 印刷基板撮像装置
8 部品装着基板撮像装置
10 プリント基板
11a、11b パッド
20a、20b 半田
30 部品
31 電極
100 不良検査装置
111 印刷基板画像データ取得部
112 印刷基板半田情報生成部
113 部品装着基板画像データ取得部
114 部品装着基板半田情報生成部
115 不良判定部
116 通知制御部
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Component mounting system 2 Solder printer 3 Component mounting apparatus 4 Reflow furnace 7 Print board imaging device 8 Component mounting board imaging apparatus 10 Print board 11a, 11b Pad 20a, 20b Solder 30 Parts 31 Electrode 100 Defect inspection apparatus 111 Print board image data Acquisition unit 112 Printed board solder information generation unit 113 Component mounting board image data acquisition unit 114 Component mounting board solder information generation unit 115 Defect determination unit 116 Notification control unit

Claims (4)

半田印刷工程により1つの部品に対応する2つの半田付け箇所である各パッドに半田を塗布したプリント基板を撮像して得られた印刷基板画像データから、前記プリント基板におけるパッド位置の半田面積を少なくとも格納する印刷基板半田情報を生成する印刷基板半田情報生成部と、
部品装着工程により前記半田が塗布された前記各パッドに対して前記部品を装着した前記プリント基板を撮像して得られた部品装着基板画像データから、前記プリント基板におけるパッド位置の半田面積を少なくとも格納する部品装着基板半田情報を生成する部品装着基板半田情報生成部と、
判定対象部品が接合されるべき2つのパッド位置に対応して前記印刷基板半田情報から取得した半田面積と、前記判定対象部品が接合されるべき2つのパッドに対応して前記部品装着基板半田情報から取得した半田面積とに基づいて、前記2つのパッドのうちの一方のパッドの半田面積部品装着工程後の変動量と、他方のパッドの半田面積の部品装着工程前後の変動量との差分を前記判定対象部品が接合されるべき各パッド位置ごとに対応して算出し、当該算出された各パッドについての前記変動量の差分の絶対値と予め設定された閾値との比較に基づいて前記プリント基板の部品実装について不良の有無を判定する不良判定部とを備え、
前記不良判定部は、
前記半田面積に基づく不良判定結果が不良有りではない場合、さらに、前記判定対象部品が接合されるべきパッドに対する前記部品装着工程後の半田のはみ出し量に基づいて不良の有無を判定する
ことを特徴とする不良検査装置。
The solder area at each pad position on the printed circuit board is determined from the printed circuit board image data obtained by imaging the printed circuit board in which the solder is applied to each pad, which is two soldering locations corresponding to one component, in the solder printing process. A printed circuit board solder information generation unit that generates at least printed circuit board solder information to be stored;
From the component mounting process by the solder coated said printed circuit board component mounting board image data obtained by imaging the mounted the component for each pad, at least the solder area of each pad position in the printed circuit board A component mounting board solder information generation unit for generating component mounting board solder information to be stored;
The solder area acquired from the printed board solder information corresponding to the two pad positions where the determination target component is to be bonded, and the component mounting board solder information corresponding to the two pads where the determination target component is to be bonded based on the solder area obtained from, for the one variation after component mounting step before the solder area of the pad of said two pads, the other variation amount of the component mounting step before and after the solder area of the pad the difference is calculated in correspondence with each pad position to said determination target component is joined, based on a comparison between a preset threshold and the absolute value of the difference of the variation for each pad, which is the calculated A defect determination unit that determines the presence or absence of defects for component mounting of the printed circuit board;
The defect determination unit
When the defect determination result based on the solder area is not defective, it is further determined whether or not there is a defect based on a protruding amount of solder after the component mounting process with respect to a pad to which the determination target component is to be bonded. Defect inspection equipment.
プリント基板のパッドに半田を塗布する半田印刷工程を行う半田印刷装置と、
前記半田印刷装置により1つの部品に対応する2つの半田付け箇所である各パッドに半田が塗布されたプリント基板を撮像して印刷基板画像データを生成する印刷基板撮像装置と、
前記半田印刷装置により半田が塗布された前記プリント基板の前記各パッドに対して部品を装着する部品装着工程を行う部品装着装置と、
前記部品装着装置により前記部品が装着されたプリント基板を撮像して部品装着基板画像データを生成する部品装着基板撮像装置と、
前記部品装着装置により前記部品が装着されたプリント基板を加熱して前記半田を溶融させることにより、装着された前記部品を前記パッドに半田付けするリフロー工程を行うリフロー炉と、
不良検査装置とを備え、
前記不良検査装置は、
前記印刷基板画像データから、前記プリント基板におけるパッド位置の半田面積を少なくとも格納する印刷基板半田情報を生成する印刷基板半田情報生成部と、
前記部品装着基板画像データから、前記プリント基板におけるパッド位置の半田面積を少なくとも格納する部品装着基板半田情報を生成する印刷基板半田情報生成部と、
判定対象部品が接合されるべき2つのパッド位置に対応して前記印刷基板半田情報から取得した半田面積と、前記判定対象部品が接合されるべき2つのパッドに対応して前記部品装着基板半田情報から取得した半田面積とに基づいて、前記2つのパッドのうちの一方のパッドの半田面積部品装着工程後の変動量と、他方のパッドの半田面積の部品装着工程前後の変動量との差分を前記判定対象部品が接合されるべき各パッド位置ごとに対応して算出し、当該算出された各パッドについての前記変動量の差分の絶対値と予め設定された閾値との比較に基づいて前記プリント基板の部品実装について不良の有無を判定する不良判定部とを備え
前記不良判定部は、
前記半田面積に基づく不良判定結果が不良有りではない場合、さらに、前記判定対象部品が接合されるべきパッドに対する前記部品装着工程後の半田のはみ出し量に基づいて不良の有無を判定する
ことを特徴とする部品実装システム。
A solder printing apparatus for performing a solder printing process for applying solder to a pad of a printed circuit board;
A printed circuit board imaging device that images printed circuit boards in which solder is applied to each pad, which is two soldering locations corresponding to one component by the solder printing device, and generates printed circuit board image data;
A component mounting device for performing a component mounting step of mounting a component on each pad of the printed circuit board to which solder is applied by the solder printing device;
And the component mounting board imaging device for generating component mounting board image data by imaging a printed circuit board on which the component is mounted by the component mounting apparatus,
By melting the solder by heating the printed circuit board on which the component is mounted by the component mounting apparatus, a reflow furnace to reflow step of soldering the the mounted component on the pad,
A defect inspection device,
The defect inspection apparatus includes:
From the printed circuit board image data, a printed circuit board solder information generating unit that generates printed circuit board solder information that stores at least the solder area of each pad position on the printed circuit board;
From the component mounting board image data, a printed board solder information generating unit that generates component mounting board solder information that stores at least solder areas at the respective pad positions on the printed board;
The solder area acquired from the printed board solder information corresponding to the two pad positions where the determination target component is to be bonded, and the component mounting board solder information corresponding to the two pads where the determination target component is to be bonded based on the solder area obtained from, for the one variation after component mounting step before the solder area of the pad of said two pads, the other variation amount of the component mounting step before and after the solder area of the pad the difference is calculated in correspondence with each pad position to said determination target component is joined, based on a comparison between a preset threshold and the absolute value of the difference of the variation for each pad, which is the calculated A defect determination unit that determines the presence or absence of defects for component mounting of the printed circuit board ;
The defect determination unit
When the defect determination result based on the solder area is not defective, it is further determined whether or not there is a defect based on a protruding amount of solder after the component mounting process with respect to a pad to which the determination target component is to be bonded. Component mounting system.
半田印刷工程により1つの部品に対応する2つの半田付け箇所である各パッドに半田を塗布したプリント基板を撮像して得られた印刷基板画像データから、前記プリント基板におけるパッド位置の半田面積を少なくとも格納する印刷基板半田情報を生成する印刷基板半田情報生成ステップと、
部品装着工程により前記半田が塗布された前記各パッドに対して前記部品を装着した前記プリント基板を撮像して得られた部品装着基板画像データから、前記プリント基板におけるパッド位置の半田面積を少なくとも格納する部品装着基板半田情報を生成する部品装着基板半田情報生成ステップと、
判定対象部品が接合されるべき2つのパッド位置に対応して前記印刷基板半田情報から取得した半田面積と、前記判定対象部品が接合されるべき2つのパッドに対応して前記部品装着基板半田情報から取得した半田面積とに基づいて、前記2つのパッドのうちの一方のパッドの半田面積部品装着工程後の変動量と、他方のパッドの半田面積の部品装着工程前後の変動量との差分を前記判定対象部品が接合されるべき各パッド位置ごとに対応して算出し、当該算出された各パッドについての前記変動量の差分の絶対値と予め設定された閾値との比較に基づいて前記プリント基板の部品実装について不良の有無を判定する不良判定ステップとを備え、
前記不良判定ステップにおいて、さらに、
前記半田面積に基づく不良判定結果が不良有りではない場合、さらに、前記判定対象部品が接合されるべきパッドに対する前記部品装着工程後の半田のはみ出し量に基づいて不良の有無を判定する
ことを特徴とする不良検査方法。
The solder area at each pad position on the printed circuit board is determined from the printed circuit board image data obtained by imaging the printed circuit board in which the solder is applied to each pad, which is two soldering locations corresponding to one component, in the solder printing process. A printed circuit board solder information generation step for generating at least printed circuit board solder information to be stored;
From the component mounting process by the solder coated said printed circuit board component mounting board image data obtained by imaging the mounted the component for each pad, at least the solder area of each pad position in the printed circuit board Component mounting board solder information generation step for generating component mounting board solder information to be stored;
The solder area acquired from the printed board solder information corresponding to the two pad positions where the determination target component is to be bonded, and the component mounting board solder information corresponding to the two pads where the determination target component is to be bonded based on the solder area obtained from, for the one variation after component mounting step before the solder area of the pad of said two pads, the other variation amount of the component mounting step before and after the solder area of the pad the difference is calculated in correspondence with each pad position to said determination target component is joined, based on a comparison between a preset threshold and the absolute value of the difference of the variation for each pad, which is the calculated A defect determination step for determining whether or not there is a defect for component mounting on the printed circuit board,
In the defect determination step,
When the defect determination result based on the solder area is not defective, it is further determined whether or not there is a defect based on a protruding amount of solder after the component mounting process with respect to a pad to which the determination target component is to be bonded. Defect inspection method.
コンピュータを、
半田印刷工程により1つの部品に対応する2つの半田付け箇所である各パッドに半田を塗布したプリント基板を撮像して得られた印刷基板画像データから、前記プリント基板におけるパッド位置の半田面積を少なくとも格納する印刷基板半田情報を生成する印刷基板半田情報生成手段、
部品装着工程により前記半田が塗布された前記各パッドに対して前記部品を装着した前記プリント基板を撮像して得られた部品装着基板画像データから、前記プリント基板におけるパッド位置の半田面積を少なくとも格納する部品装着基板半田情報を生成する部品装着基板半田情報生成手段、
判定対象部品が接合されるべき2つのパッド位置に対応して前記印刷基板半田情報から取得した半田面積と、前記判定対象部品が接合されるべき2つのパッドに対応して前記部品装着基板半田情報から取得した半田面積とに基づいて、前記2つのパッドのうちの一方のパッドの半田面積部品装着工程後の変動量と、他方のパッドの半田面積の部品装着工程前後の変動量との差分を前記判定対象部品が接合されるべき各パッド位置ごとに対応して算出し、当該算出された各パッドについての前記変動量の差分の絶対値と予め設定された閾値との比較に基づいて前記プリント基板の部品実装について不良の有無を判定する不良判定手段
として機能させ、
前記不良判定手段は、さらに
前記半田面積に基づく不良判定結果が不良有りではない場合、さらに、前記判定対象部品が接合されるべきパッドに対する前記部品装着工程後の半田のはみ出し量に基づいて不良の有無を判定する
プログラム。
Computer
The solder area at each pad position on the printed circuit board is determined from the printed circuit board image data obtained by imaging the printed circuit board in which the solder is applied to each pad, which is two soldering locations corresponding to one component, in the solder printing process. Printed circuit board solder information generating means for generating at least stored printed circuit board solder information;
From the component mounting process by the solder coated said printed circuit board component mounting board image data obtained by imaging the mounted the component for each pad, at least the solder area of each pad position in the printed circuit board Component mounting board solder information generating means for generating component mounting board solder information to be stored;
The solder area acquired from the printed board solder information corresponding to the two pad positions where the determination target component is to be bonded, and the component mounting board solder information corresponding to the two pads where the determination target component is to be bonded based on the solder area obtained from, for the one variation after component mounting step before the solder area of the pad of said two pads, the other variation amount of the component mounting step before and after the solder area of the pad the difference is calculated in correspondence with each pad position to said determination target component is joined, based on a comparison between a preset threshold and the absolute value of the difference of the variation for each pad, which is the calculated Function as a defect determination means for determining the presence or absence of defects in the component mounting of the printed circuit board,
In the case where the defect determination result based on the solder area is not defective, the defect determination unit further determines the defect based on the amount of protrusion of the solder after the component mounting process to the pad to which the determination target component is to be bonded. A program that determines the presence or absence.
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