JP6059605B2 - Electromagnetic interference proof simple test equipment - Google Patents
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Description
本発明は装置の電磁妨害波に対する耐性を評価するイミュニティ試験に関する。 The present invention relates to an immunity test for evaluating a device's resistance to electromagnetic interference.
通信サービスの進展、電子機器の利用環境の変化に伴い、電子機器では、他の装置に対して電磁妨害波(エミッション)の影響を与えないこと、および他の装置や外部からの電磁妨害波の影響を受けない電磁妨害波耐力(イミュニティ)の両立が求められている。 With the progress of communication services and changes in the usage environment of electronic devices, electronic devices should not affect other devices with electromagnetic interference (emissions), and other devices or external electromagnetic interference There is a need for both immunity to electromagnetic interference that is not affected.
電子機器から漏れ出る電磁妨害波の評価は、スペクトラム・アナライザ等の測定器を用いて電磁妨害波のレベルを観察することにより行われる。また、電磁妨害波耐力試験(イミュニティ試験)は、電子機器の電磁妨害波に対する耐性評価を行うため、電子機器に装置が受ける電磁妨害波を模擬した電磁波を印加し、その際の装置の振舞いを観察することにより行われる(特許文献1参照)。 The evaluation of the electromagnetic interference wave leaking from the electronic device is performed by observing the level of the electromagnetic interference wave using a measuring instrument such as a spectrum analyzer. In addition, the electromagnetic interference immunity test (immunity test) applies an electromagnetic wave simulating the electromagnetic interference received by the device to the electronic device in order to evaluate the resistance to the electromagnetic interference of the electronic device. This is done by observing (see Patent Document 1).
通信機器の電磁妨害波による誤動作を防ぐため、イミュニティ試験法(IEC61000-4-3)が定められている。従来のイミュニティ試験法では数多くの電子機器に対して周波数を推移させ、何度もイミュニティ試験を行うため、多大な時間と稼働が必要である。さらに、80〜1000MHzまで1%ステップで試験を実施することから、妨害波に対する耐力レベルが低いため妨害波の影響を受けやすいにも関わらず、イミュニティ試験が実施されていない周波数も存在する。 The immunity test method (IEC61000-4-3) has been established to prevent malfunctions caused by electromagnetic interference in communication equipment. In the conventional immunity test method, the frequency is changed for many electronic devices, and the immunity test is performed many times. Furthermore, since the test is performed in steps of 1% from 80 to 1000 MHz, there is a frequency where the immunity test is not performed even though it is easily affected by the interference wave because the tolerance level against the interference wave is low.
そのため、誤動作の発生する周波数をある程度予測することが必要である。また、近年の電子機器の高周波化に伴い、80〜1000MHzより高い周波数においてもイミュニティ試験が必要であり、広帯域での電磁妨害波耐力試験実施のため、試験にかかる時間の短縮が必要である。 Therefore, it is necessary to predict to some extent the frequency at which malfunction occurs. Further, with the recent increase in the frequency of electronic devices, immunity tests are required even at frequencies higher than 80 to 1000 MHz, and the time required for the tests needs to be shortened in order to perform an electromagnetic interference wave tolerance test in a wide band.
本発明は上記事情に鑑みてなされたものであり、本発明の目的は、イミュニティ試験と比較して短時間で実施できるエミッション試験の結果を用いることで、イミュニティ試験にかかる時間を大幅に短縮することにある。 The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object of the present invention is to significantly reduce the time required for the immunity test by using the result of the emission test that can be performed in a short time compared to the immunity test. There is.
上記目的を達成するために、第1の発明に係る電磁妨害波耐力簡易試験装置は、電子機器から放射される電磁妨害波を受信する受信アンテナと、前記受信アンテナに接続され、前記受信アンテナが受信した前記電磁妨害波を前記受信アンテナから受信する受信部と、前記受信部に接続され、前記受信した前記電磁妨害波の時間波形を周波数スペクトルに変換し、電界強度レベルを算出する信号処理部と、前記信号処理部に接続され、前記周波数スペクトルに変換された前記電磁妨害波を一時的に蓄積する記憶部であって、複数の前記周波数スペクトルに変換された前記電磁妨害波を蓄積する機能を有する、記憶部と、前記記憶部に接続され、前記記憶部に前記複数の前記周波数スペクトルに変換された前記電磁妨害波が蓄積されていた場合に、前記記憶部に蓄積された、前記電子機器の停止時の前記電磁妨害波と前記電子機器の動作時の前記電磁妨害波との差分をとる演算部と、前記演算部に接続され、前記差分と予め設定した閾値との電界強度レベルを比較し、前記閾値を上回る電界強度レベルに対応した周波数の抽出を行う比較部と、前記比較部に接続され、抽出した前記周波数を表示する表示部と、前記比較部に接続され、前記抽出した前記周波数を設定周波数とし、印加レベル、印加時間をさらに設定する印加条件制御部と、前記印加条件制御部に接続され、設定された設定周波数と、印加レベルと、印加時間とに基づき無線電波を生成する送信部と、前記送信部に接続され、前記送信部で生成された前記無線電波を放射する送信アンテナとからなることを特徴とする。 In order to achieve the above object, an electromagnetic interference wave resistance simple test apparatus according to a first invention includes a reception antenna that receives an electromagnetic interference wave radiated from an electronic device, and is connected to the reception antenna. A reception unit that receives the received electromagnetic interference wave from the reception antenna, and a signal processing unit that is connected to the reception unit, converts a time waveform of the received electromagnetic interference wave into a frequency spectrum, and calculates an electric field strength level. If, connected to said signal processing unit, said converted into the frequency spectrum a storage unit for temporarily storing the electromagnetic interference, function of storing the electromagnetic interference that is converted to a plurality of said frequency spectrum the a, a storage unit, coupled to said storage unit, wherein when said in the storage unit has been converted into the plurality of the frequency spectrum electromagnetic interference is accumulated Wherein stored in the storage unit, a calculation unit calculating a difference between the electromagnetic interference during the operation of the electromagnetic interference with the electronic device at the time of stopping the electronic apparatus connected to said computing unit, and the difference A comparison unit that compares the electric field strength level with a preset threshold value, extracts a frequency corresponding to the electric field strength level that exceeds the threshold value, and a display unit that is connected to the comparison unit and displays the extracted frequency, Connected to the comparison unit, the extracted frequency as a set frequency, an application condition control unit for further setting an application level and an application time, and a set frequency and application level set and connected to the application condition control unit And a transmission unit that generates radio waves based on the application time, and a transmission antenna that is connected to the transmission unit and radiates the radio waves generated by the transmission unit.
また、第2の発明に係る電磁妨害波耐力簡易試験装置は、第1の発明に係る電磁妨害波耐力簡易試験装置であって、受信アンテナと送信アンテナが、送信、受信の両方が可能である同一のアンテナであり、同一のアンテナと、受信部および送信部に接続され、同一のアンテナの、受信用アンテナである場合と送信用アンテナである場合との間の切替を行う送受信切替部をさらに有することを特徴とする。 The electromagnetic interference wave resistance simple test apparatus according to the second invention is the electromagnetic interference wave resistance simple test apparatus according to the first invention, wherein the reception antenna and the transmission antenna can both transmit and receive. A transmission / reception switching unit that is the same antenna, is connected to the same antenna, the reception unit and the transmission unit, and switches between the reception antenna and the transmission antenna of the same antenna; It is characterized by having.
また、第3の発明に係る電子機器の電磁妨害波耐力試験を行う方法は、電子機器停止時の電磁妨害波を測定するステップと、測定した電子機器停止時の電磁妨害波を周波数スペクトルに変換するステップと、電子機器停止時の周波数スペクトルを記憶部に記憶させるステップと、記憶部に複数の周波数スペクトルが記憶されているかを判定するステップと、複数の周波数スペクトルが記憶されていないと判定されたとき、電子機器動作時の電磁妨害波を測定するステップと、測定した電子機器動作時の電磁妨害波を周波数スペクトルに変換するステップと、電子機器動作時の周波数スペクトルを記憶部に記憶させるステップと、電子機器停止時の周波数スペクトルと電子機器動作時の周波数スペクトルとの差分をとるステップと、差分を、あらかじめ設定した閾値と比較するステップと、差分が閾値よりも小さいとき、電磁妨害波耐力試験を終了するステップと、差分が閾値以上のとき、差分が閾値以上である周波数を抽出するステップと、電磁妨害波印加時間および電磁妨害波印加レベルを設定するステップと、抽出した周波数と、設定した電磁妨害波印加時間と、設定した電磁妨害波印加レベルとを有する妨害波を電子機器に向けて印加するステップとを備えたことを特徴とする。 According to a third aspect of the present invention, there is provided a method for performing an electromagnetic interference proof test of an electronic device, the step of measuring the electromagnetic interference when the electronic device is stopped, and converting the measured electromagnetic interference when the electronic device is stopped into a frequency spectrum. Determining, storing the frequency spectrum when the electronic device is stopped in the storage unit, determining whether a plurality of frequency spectra are stored in the storage unit, and determining that the plurality of frequency spectra are not stored. Measuring the electromagnetic interference wave when the electronic device is operating, converting the measured electromagnetic interference wave when the electronic device is operating into a frequency spectrum, and storing the frequency spectrum when the electronic device is operating in the storage unit And calculating the difference between the frequency spectrum when the electronic device is stopped and the frequency spectrum when the electronic device is operating. A step of comparing with the threshold set in advance, a step of terminating the electromagnetic interference proof test when the difference is smaller than the threshold, and a step of extracting a frequency at which the difference is greater than or equal to the threshold when the difference is greater than or equal to the threshold; A step of setting an electromagnetic interference wave application time and an electromagnetic interference wave application level, an interference wave having an extracted frequency, a set electromagnetic interference wave application time, and a set electromagnetic interference wave application level is applied to an electronic device. And a step of performing.
また、第4の発明に係る電子機器の電磁妨害波耐力試験を行う方法は、第3の発明に係る電子機器の電磁妨害波耐力試験を行う方法であって、前記電磁妨害波を測定するステップの前に、前記電磁妨害波を測定し、かつ前記妨害波を印加するアンテナの機能を、前記電磁妨害波を測定するように切り替えるステップと、前記妨害波を前記電子機器に向けて印加するステップの前に、前記アンテナの機能を、前記妨害波を印加するように切り替えるステップとをさらに備えたことを特徴とする。 A method for performing an electromagnetic interference proof test of an electronic device according to a fourth invention is a method of performing an electromagnetic immunity test of an electronic device according to the third invention, wherein the step of measuring the electromagnetic interference is performed. before, applying the electromagnetic interference is measured, and the antenna of the function of applying the disturbance, and switching Operation Order step to measure the electromagnetic interference, toward the interfering wave to the electronic device prior to the step of the function of the antenna, characterized by comprising further a switching Operation Order step to apply the disturbance.
電子機器内部の基盤、ケーブル等の電子部品のうち、電磁妨害波を放射する部分は、アンテナの可逆性により、電磁妨害波を受信する部分となりうる。このため、電磁妨害波の放射が発生する周波数においては、イミュニティレベルが弱いと考えられる。この考えに基き、本発明による電磁妨害波簡易試験装置および電磁妨害波耐力試験を行う方法を提供する。 Of the electronic components such as the board inside the electronic device and the cable, the portion that radiates electromagnetic interference can be a portion that receives the electromagnetic interference due to the reversibility of the antenna. For this reason, it is considered that the immunity level is weak at the frequency at which electromagnetic interference waves are emitted. Based on this idea, an electromagnetic interference simple test apparatus and a method for performing an electromagnetic interference tolerance test according to the present invention are provided.
以下、図面に基づいて本発明による電磁妨害波簡易試験装置について説明する。 Hereinafter, an electromagnetic interference simple test apparatus according to the present invention will be described with reference to the drawings.
<第1の実施形態>
図1は本発明の第1の実施形態が適用された電磁妨害波耐力簡易試験装置の概略構成図を示している。本実施形態の電磁妨害波耐力簡易試験装置は、電子機器の放射妨害波の測定結果を用いることで、その電子機器のイミュニティ試験を短時間で行うことができる。図示する電磁妨害波耐力簡易試験装置は、受信アンテナ101と、受信部102と、処理部103と、記憶部104と、演算部105と、比較部106と、閾値設定部107と、表示部108と、印加条件制御部109と、送信部110と送信アンテナ111と、を有する。
<First Embodiment>
FIG. 1 shows a schematic configuration diagram of a simple electromagnetic interference wave resistance test apparatus to which the first embodiment of the present invention is applied. The electromagnetic interference wave resistance simple test apparatus of the present embodiment can perform an immunity test of an electronic device in a short time by using the measurement result of the radiation interference wave of the electronic device. The electromagnetic interference wave proof test apparatus shown in the figure includes a
受信アンテナ101は測定対象の電子機器動作時や電子機器停止時の電磁妨害波を受信する。処理部103は、フーリエ変換を行うことで、受信した電磁妨害波の時間波形を周波数スペクトラムに変換し、電界強度レベルを算出する。記憶部104は、複数の信号処理結果を一時保存する。演算部105では、記憶部104で蓄積した電子機器動作時の電磁妨害波と電子機器停止時の電磁妨害波のデータの差分を取ることで、電波暗室を使用せずに電子機器から発生する電磁妨害波そのものを測定する。比較部106では、電磁妨害波の電界強度が設定した閾値よりも高い場合に、対応する周波数を抽出する。印加条件制御部109では、電子機器の電磁妨害波耐力試験を行う際の周波数ごとの電磁妨害波の印加時間、印加レベルを設定する。送信部110および送信アンテナ111により、電子機器に、印加条件制御部109において設定した電磁妨害波の印加時間、印加レベル、および比較部106において抽出した周波数の電磁妨害波を印加する。
The
図2は本発明の電磁妨害波耐力簡易試験装置の動作を示すフローチャートである。まず、受信アンテナ101、受信部102を用いて電子機器停止時の電磁妨害波を測定する(S1)。測定した時間波形をフーリエ変換等を用いて周波数スペクトルに変換し、変換後のデータを記憶部104へと蓄積する(S2)。記憶部104に2つ以上のデータが蓄積されていなければ(S3:NO)、もう一度受信アンテナ101、受信部102を用いて電子機器動作時の電磁妨害波を測定する。同様に電子機器動作時の時間波形を周波数スペクトルに変換した後、データを記憶部104に蓄積し(S3:YES)、電子機器動作時のデータと電子機器停止時のデータの差分をとる(S4)。そして、演算後のデータの電界強度が、設定した閾値を超えていなければ(S5:NO)対応する周波数の電磁妨害波耐力試験は実施不要となる(S7)。一方で、演算後のデータの電界強度が設定した閾値を超えている場合(S5:YES)には、対応する周波数を抽出し、印加条件制御部109において、電磁妨害波印加時間および印加レベルを設定し、送信アンテナ111を用いて電子機器へと妨害波を印加することで電磁妨害波耐力試験を行う(S6)。
FIG. 2 is a flowchart showing the operation of the electromagnetic interference wave proof test apparatus of the present invention. First, the electromagnetic interference wave when the electronic device is stopped is measured using the
以上説明した本実施形態の電磁妨害波耐力簡易試験装置では、電子機器から発生する電磁妨害波の電界強度の高い周波数のみについて電磁妨害波耐力試験を行うことで、通常の試験と比べ、大幅な時間短縮が可能である。また、通常の試験では80〜1000MHzまで1%ステップで放射妨害波を印加するため、電磁妨害波耐力について確認できていない周波数が多く存在する。しかし、本実施形態の電磁妨害波耐力簡易試験装置では、電磁妨害波の発生する周波数、すなわち80〜1000MHzに限らず電磁妨害波を測定した全ての周波数について試験を行うため、電磁妨害波の影響を受けやすい周波数について的を絞った電磁妨害波耐力試験を行うことができる。 In the electromagnetic interference proof strength simple test apparatus of the present embodiment described above, the electromagnetic interference immunity test is performed only on the frequency where the electric field strength of the electromagnetic interference generated from the electronic device is high. Time can be shortened. In addition, since a radiation interference wave is applied in a 1% step from 80 to 1000 MHz in a normal test, there are many frequencies that have not been confirmed for electromagnetic interference wave resistance. However, in the electromagnetic interference wave resistance simple test apparatus of the present embodiment, the test is performed not only on the frequency at which the electromagnetic interference wave is generated, that is, not only 80 to 1000 MHz but also the electromagnetic interference wave is measured. It is possible to carry out targeted electromagnetic interference immunity tests for frequencies that are susceptible to exposure.
さらに、電子機器動作時と電子機器停止時の差分データを取ることで、通常は電波暗室を用いて行う測定を、電波暗室を使用せず、簡易に低コストで試験を行うことが可能である。 Furthermore, by taking the difference data between when the electronic device is operating and when the electronic device is stopped, it is possible to perform tests that are normally performed using an anechoic chamber without using the anechoic chamber and at a low cost. .
<第2の実施形態>
図3は本発明の第2の実施形態が適用された電磁妨害波耐力簡易試験装置の概略構成図である。本実施形態の電磁妨害波耐力簡易装置は、受信アンテナおよび送信アンテナを1つのアンテナで実現している。
<Second Embodiment>
FIG. 3 is a schematic block diagram of an electromagnetic interference wave proof test apparatus to which the second embodiment of the present invention is applied. In the electromagnetic interference wave proof simple apparatus of the present embodiment, the reception antenna and the transmission antenna are realized by one antenna.
図示する電磁妨害波耐力簡易試験装置では、アンテナに送受信切替部113を取付けることで、1つの送受信アンテナ112で受信および送信を可能としている。
In the illustrated electromagnetic interference wave resistance simple test apparatus, a transmission /
101 受信アンテナ
102 受信部
103 処理部
104 記憶部
105 演算部
106 比較部
107 閾値設定部
108 表示部
109 印加条件制御部
110 送信部
111 送信アンテナ
112 送受信アンテナ
113 送受信切替部
101
Claims (4)
電子機器から放射される電磁妨害波を受信する受信アンテナと、
前記受信アンテナに接続され、前記受信アンテナが受信した前記電磁妨害波を前記受信アンテナから受信する受信部と、
前記受信部に接続され、前記受信した前記電磁妨害波の時間波形を周波数スペクトルに変換し、電界強度レベルを算出する信号処理部と、
前記信号処理部に接続され、前記周波数スペクトルに変換された前記電磁妨害波を一時的に蓄積する記憶部であって、複数の前記周波数スペクトルに変換された前記電磁妨害波を蓄積する機能を有する、記憶部と、
前記記憶部に接続され、前記記憶部に前記複数の前記周波数スペクトルに変換された前記電磁妨害波が蓄積されていた場合に、前記記憶部に蓄積された、前記電子機器の停止時の前記電磁妨害波と前記電子機器の動作時の前記電磁妨害波との差分をとる演算部と、
前記演算部に接続され、前記差分と予め設定した閾値との電界強度レベルを比較し、前記閾値を上回る電界強度レベルに対応した周波数の抽出を行う比較部と、
前記比較部に接続され、抽出した前記周波数を表示する表示部と、
前記比較部に接続され、前記抽出した前記周波数を設定周波数とし、印加レベル、印加時間をさらに設定する印加条件制御部と、
前記印加条件制御部に接続され、設定された設定周波数と、印加レベルと、印加時間とに基づき無線電波を生成する送信部と、
前記送信部に接続され、前記送信部で生成された前記無線電波を放射する送信アンテナと
からなることを特徴とする電磁妨害波耐力簡易試験装置。 Electromagnetic interference wave resistance simple test device,
A receiving antenna for receiving electromagnetic interference radiated from an electronic device;
A receiving unit connected to the receiving antenna and receiving the electromagnetic interference wave received by the receiving antenna from the receiving antenna;
A signal processing unit that is connected to the receiving unit, converts a time waveform of the received electromagnetic interference wave into a frequency spectrum, and calculates a field strength level;
Connected to said signal processor, wherein a storage unit that temporarily stores the electromagnetic disturbance converted into a frequency spectrum, having a function of storing the electromagnetic interference that is converted to a plurality of said frequency spectrum , Memory part,
Is connected to the storage unit, when said electromagnetic disturbance converted into the plurality of the frequency spectrum in the storage unit has been accumulated, the accumulated in the storage unit, wherein the at stop said electronic equipment An arithmetic unit that takes a difference between the electromagnetic interference wave and the electromagnetic interference wave during operation of the electronic device ,
A comparison unit that is connected to the calculation unit, compares a field intensity level between the difference and a preset threshold value, and extracts a frequency corresponding to the field intensity level exceeding the threshold value;
A display unit connected to the comparison unit and displaying the extracted frequency;
An application condition control unit connected to the comparison unit, setting the extracted frequency as a set frequency, and further setting an application level and an application time;
A transmitter that is connected to the application condition controller and generates a radio wave based on a set frequency, an application level, and an application time;
An electromagnetic interference wave proof test apparatus characterized by comprising: a transmitting antenna that is connected to the transmitting unit and radiates the radio wave generated by the transmitting unit.
電子機器停止時の電磁妨害波を測定するステップと、
測定した前記電子機器停止時の電磁妨害波を周波数スペクトルに変換するステップと、
前記電子機器停止時の前記周波数スペクトルを記憶部に記憶させるステップと、
前記記憶部に複数の前記周波数スペクトルが記憶されているかを判定するステップと、
前記複数の前記周波数スペクトルが記憶されていないと判定されたとき、電子機器動作時の電磁妨害波を測定するステップと、
測定した前記電子機器動作時の電磁妨害波を周波数スペクトルに変換するステップと、
前記電子機器動作時の前記周波数スペクトルを記憶部に記憶させるステップと、
前記電子機器停止時の前記周波数スペクトルと前記電子機器動作時の前記周波数スペクトルとの差分をとるステップと、
前記差分を、あらかじめ設定した閾値と比較するステップと、
前記差分が前記閾値よりも小さいとき、電磁妨害波耐力試験を終了するステップと、
前記差分が前記閾値以上のとき、前記差分が前記閾値以上である周波数を抽出するステップと、
電磁妨害波印加時間および電磁妨害波印加レベルを設定するステップと、
前記抽出した周波数と、設定した前記電磁妨害波印加時間と、設定した前記電磁妨害波印加レベルとを有する妨害波を前記電子機器に向けて印加するステップと
を備えたことを特徴とする電磁妨害波耐力試験を行う方法。 A method for conducting an electromagnetic interference immunity test of electronic equipment,
Measuring electromagnetic interference when the electronic equipment is stopped;
Converting the measured electromagnetic interference wave when the electronic device is stopped into a frequency spectrum;
Storing the frequency spectrum when the electronic device is stopped in a storage unit;
Determining whether a plurality of the frequency spectra are stored in the storage unit;
When it is determined that the plurality of frequency spectra are not stored, measuring electromagnetic interference waves during operation of the electronic device; and
Converting the measured electromagnetic interference wave during operation of the electronic device into a frequency spectrum;
Storing the frequency spectrum during operation of the electronic device in a storage unit;
Taking the difference between the frequency spectrum when the electronic device is stopped and the frequency spectrum when the electronic device is operating;
Comparing the difference with a preset threshold;
When the difference is less than the threshold, terminating the electromagnetic interference immunity test;
Extracting the frequency at which the difference is greater than or equal to the threshold when the difference is greater than or equal to the threshold;
Setting the electromagnetic interference wave application time and electromagnetic interference wave application level;
Applying an interference wave having the extracted frequency, the set electromagnetic interference wave application time, and the set electromagnetic interference wave application level toward the electronic device. A method of conducting a wave strength test.
前記妨害波を前記電子機器に向けて印加するステップの前に、前記アンテナの機能を、前記妨害波を印加するように切り替えるステップと
をさらに備えたことを特徴とする請求項3に記載の電磁妨害波耐力試験を行う方法。 Before the step of measuring the electromagnetic interference, and measuring the electromagnetic interference, and the functions of antennas for applying the disturbance, a step to switch to measure the electromagnetic interference,
Wherein the interference wave before the step of applying toward the electronic device, wherein the function of the antenna, to claim 3, further comprising a Switching Operation Order step to apply the disturbance To conduct electromagnetic interference wave resistance test.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2013118214A JP6059605B2 (en) | 2013-06-04 | 2013-06-04 | Electromagnetic interference proof simple test equipment |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2013118214A JP6059605B2 (en) | 2013-06-04 | 2013-06-04 | Electromagnetic interference proof simple test equipment |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2014235131A JP2014235131A (en) | 2014-12-15 |
| JP6059605B2 true JP6059605B2 (en) | 2017-01-11 |
Family
ID=52137939
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2013118214A Expired - Fee Related JP6059605B2 (en) | 2013-06-04 | 2013-06-04 | Electromagnetic interference proof simple test equipment |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP6059605B2 (en) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN107356819B (en) * | 2016-05-10 | 2019-11-15 | 中国人民解放军理工大学 | A Smart Household Electromagnetic Radiation Information Service System |
| JP6702218B2 (en) * | 2017-02-08 | 2020-05-27 | 株式会社デンソー | Immunity test equipment |
| CN113188666B (en) * | 2021-04-16 | 2023-11-14 | 麦克斯(郑州)医疗科技有限公司 | Automatic starting device for radiation immunity test of forehead thermometer |
| CN115704842B (en) * | 2021-08-17 | 2026-04-24 | 梅特勒-托利多仪器(上海)有限公司 | Test methods and systems for electromagnetic radiation immunity of electronic devices |
| CN114895137B (en) * | 2022-06-29 | 2023-04-07 | 广东电网有限责任公司佛山供电局 | Power supply quality testing method for power supply equipment |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06324098A (en) * | 1993-05-14 | 1994-11-25 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | Electromagnetic-interference-wave measuring instrument |
| JP5266888B2 (en) * | 2008-06-03 | 2013-08-21 | 三菱電機株式会社 | Radiation immunity test apparatus and radiation immunity test method |
-
2013
- 2013-06-04 JP JP2013118214A patent/JP6059605B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2014235131A (en) | 2014-12-15 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20150915 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20160808 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20160816 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20160928 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20161206 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20161209 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |