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JP6064803B2 - Sensor, method for adjusting sensor and method for measuring using sensor - Google Patents
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JP6064803B2 - Sensor, method for adjusting sensor and method for measuring using sensor - Google Patents

Sensor, method for adjusting sensor and method for measuring using sensor Download PDF

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Description

本発明は、センサ、センサを調整する方法及びセンサを用いて測定する方法に関する。   The present invention relates to a sensor, a method for adjusting the sensor, and a method for measuring using the sensor.

従来、電子機器等の金属部品の腐食による劣化を調べるための腐食センサが用いられている。   Conventionally, a corrosion sensor for examining deterioration due to corrosion of metal parts such as electronic devices has been used.

例えば、電子機器の故障原因の多くは、機器内部の金属部品の腐食であるという報告がなされている。硫化水素等の腐食性ガスは、電子機器等が設置される環境中の大気に含まれており、このような腐食性ガスはたとえ低濃度であっても電子機器の劣化を促進するなどの影響を及ぼすことが知られている。   For example, it has been reported that the cause of failure of electronic equipment is corrosion of metal parts inside the equipment. Corrosive gases such as hydrogen sulfide are contained in the atmosphere in the environment where electronic devices are installed, and such corrosive gases have the effect of promoting the deterioration of electronic devices even at low concentrations. Is known to affect.

硫化水素等の腐食性ガスに起因する金属部品の腐食は、腐食性ガスの濃度と共に、電子機器の設置環境における温度又は湿度等の条件によって、腐食の速度が促進される場合がある。そこで、電子機器の腐食が起こりやすい状態又は環境を調べて、設置環境を改善する等の対策を行うことにより、電子機器の信頼性を向上させることが望ましい。   Corrosion of metal parts due to corrosive gas such as hydrogen sulfide may be accelerated in accordance with the concentration of the corrosive gas and the conditions such as temperature or humidity in the installation environment of the electronic device. Therefore, it is desirable to improve the reliability of the electronic device by examining the state or environment in which the electronic device is likely to corrode and taking measures such as improving the installation environment.

このため、電子機器の設置環境では雰囲気中に含まれる腐食性ガスの影響を監視することが求められている。   For this reason, it is required to monitor the influence of corrosive gas contained in the atmosphere in the installation environment of electronic equipment.

従来、このような電子機器の設置環境の腐蝕性ガスを監視するために、腐食センサが用いられている。   Conventionally, a corrosion sensor has been used to monitor the corrosive gas in the installation environment of such an electronic device.

図1(A)は、従来例の腐食センサを示す平面図であり、図1(B)は、正面図である。   FIG. 1A is a plan view showing a conventional corrosion sensor, and FIG. 1B is a front view.

図1に示す腐食センサは、水晶微小天秤型のセンサの例である。   The corrosion sensor shown in FIG. 1 is an example of a quartz crystal microbalance type sensor.

センサ110は、厚み滑りモードで振動する水晶板111と、水晶板111の第1面上に配置される第1センサ電極112a、及び第2面上に配置される第2センサ電極112bを備える。第1センサ電極112a及び第2センサ電極112bは、金属により形成されており、円板状の水晶板111の中央部に配置される。   The sensor 110 includes a quartz plate 111 that vibrates in a thickness-shear mode, a first sensor electrode 112a disposed on the first surface of the quartz plate 111, and a second sensor electrode 112b disposed on the second surface. The first sensor electrode 112a and the second sensor electrode 112b are made of metal, and are arranged at the center of the disc-shaped crystal plate 111.

水晶板111の一方の端部からは、第1センサ電極112aに電力を供給する電極配線112cが第1センサ電極112aに延びている。同様に、水晶板111の他方の端部からは、第2センサ電極112bに電力を供給する電極配線112dが第2センサ電極112bに延びている。   From one end of the crystal plate 111, an electrode wiring 112c for supplying power to the first sensor electrode 112a extends to the first sensor electrode 112a. Similarly, an electrode wiring 112d for supplying power to the second sensor electrode 112b extends from the other end of the crystal plate 111 to the second sensor electrode 112b.

水晶板111の両端部は、縦長の板バネである一対のバネ支持部116a、116bによって支持される。一対のバネ支持部116a、116bは、基部117に立設される。一対のバネ支持部116a、116bは、電気導電性を有しており、それぞれと接続する端子線118a、118bが延びている。   Both ends of the quartz plate 111 are supported by a pair of spring support portions 116a and 116b which are vertically long plate springs. The pair of spring support portions 116 a and 116 b are erected on the base portion 117. The pair of spring support portions 116a and 116b have electrical conductivity, and terminal wires 118a and 118b connected to the respective spring support portions 116a and 116b extend.

第1センサ電極112a及び第2センサ電極112bに対して、図示しない駆動回路から駆動信号が印加されることにより、水晶板111が厚み滑りモードで共振周波数において振動するように駆動される。   When a drive signal is applied from a drive circuit (not shown) to the first sensor electrode 112a and the second sensor electrode 112b, the crystal plate 111 is driven to vibrate at the resonance frequency in the thickness shear mode.

第1センサ電極112a又は第2センサ電極112bが腐食すると質量が変化するので、水晶板111の共振周波数が変化する。   Since the mass changes when the first sensor electrode 112a or the second sensor electrode 112b corrodes, the resonance frequency of the quartz plate 111 changes.

センサ110が出力する共振周波数を測定することにより、第1センサ電極112a又は第2センサ電極112bの腐食の程度を調べて、設置環境の腐蝕性ガスを監視することができる。   By measuring the resonance frequency output from the sensor 110, the degree of corrosion of the first sensor electrode 112a or the second sensor electrode 112b can be examined, and the corrosive gas in the installation environment can be monitored.

特開2005−134161号公報JP 2005-134161 A

図1に示すセンサ110は、電子機器の設置環境の腐食性の高さを評価できるが、電子機器自体の腐食の程度を必ずしも正しく評価するものではない。   The sensor 110 shown in FIG. 1 can evaluate the corrosiveness of the installation environment of the electronic device, but does not necessarily correctly evaluate the degree of corrosion of the electronic device itself.

これは、電子機器の金属部品の腐食には、腐食性ガス、温度又は湿度等の設置環境の腐食性と共に、腐食する部分の形状も影響するためである。   This is because the shape of the corroded part influences the corrosion of the metal parts of the electronic device as well as the corrosiveness of the installation environment such as corrosive gas, temperature or humidity.

図2は、電子機器の配線構造を示す図である。   FIG. 2 is a diagram illustrating a wiring structure of an electronic device.

電子機器の配線構造150は、配線151の配線端子152が、ねじ154によって、電極端子153と接続されている。   In the wiring structure 150 of the electronic device, the wiring terminal 152 of the wiring 151 is connected to the electrode terminal 153 by a screw 154.

ここで、配線端子152と電極端子153との間には隙間が存在する。同様に、ねじ154と配線端子152との間にも隙間が存在する。   Here, there is a gap between the wiring terminal 152 and the electrode terminal 153. Similarly, there is a gap between the screw 154 and the wiring terminal 152.

このような隙間には、水分が吸着し易い。また、隙間には、塵埃等がたまり易いので、隙間にたまった塵埃等に水分が吸着されることもある。また、隙間は、水分が吸着すると、平面部と比べて乾きにくいので、水分が滞留し易い部位である。   Moisture is easily adsorbed in such gaps. Further, since dust or the like tends to accumulate in the gap, moisture may be adsorbed by the dust or the like that has accumulated in the gap. Further, the gap is a portion where moisture tends to stay because moisture hardly adsorbs compared to the flat portion when moisture is adsorbed.

従って、隙間を有する部分は、平面部と比べて腐食し易い部位であるといえる。電子機器は、配線構造等の隙間を有する多くの金属部品を有している。   Therefore, it can be said that the part which has a clearance gap is a part which corrodes easily compared with a plane part. Electronic devices have many metal parts having gaps such as wiring structures.

そこで、隙間等の腐食を起こし易い部位における腐食の程度を精確に評価できるセンサが求められている。   Therefore, there is a need for a sensor that can accurately evaluate the degree of corrosion at a site that is susceptible to corrosion such as a gap.

本明細書では、上述した課題を解決し得るセンサを提供することを目的とする。   In this specification, it aims at providing the sensor which can solve the subject mentioned above.

また、本明細書では、上述した課題を解決し得るセンサを調整する方法を提供することを目的とする。   Another object of the present specification is to provide a method for adjusting a sensor that can solve the above-described problems.

更に、本明細書では、上述した課題を解決し得るセンサを用いて測定する方法を提供することを目的とする。   Furthermore, an object of the present specification is to provide a measurement method using a sensor that can solve the above-described problems.

本明細書に開示するセンサの一形態によれば、水晶板と、上記水晶板の第1面上に配置される第1センサ電極、及び第2面上に配置される第2センサ電極と、上記第1センサ電極と間隔をあけて対向する第1対向板、及び上記第2センサ電極と間隔をあけて対向する第2対向板と、上記第1対向板及び上記第2対向板を上記水晶板側に押圧することにより、上記第1対向板と上記第1センサ電極との間隔及び上記第2対向板と上記第2センサ電極との間隔を変化させる間隔調整部と、を備える。   According to one embodiment of the sensor disclosed in the present specification, a quartz plate, a first sensor electrode disposed on the first surface of the quartz plate, and a second sensor electrode disposed on the second surface; The first counter plate facing the first sensor electrode with a gap, the second counter plate facing the second sensor electrode with a gap, the first counter plate and the second counter plate being the quartz crystal And an interval adjusting unit that changes the interval between the first counter plate and the first sensor electrode and the interval between the second counter plate and the second sensor electrode by pressing toward the plate side.

また、本明細書に開示するセンサを調整する方法の一形態によれば、水晶板と、上記水晶板の第1面上に配置される第1センサ電極、及び第2面上に配置される第2センサ電極と、上記第1センサ電極と間隔をあけて対向する第1対向板、及び上記第2センサ電極と間隔をあけて対向する第2対向板と、上記第1対向板及び上記第2対向板を上記水晶板側に押圧することにより、上記第1対向板と上記第1センサ電極との間隔及び上記第2対向板と上記第2センサ電極との間隔を変化させる間隔調整部と、を備えるセンサにおける上記第1対向板と上記第1センサ電極との間隔及び上記第2対向板と上記第2センサ電極との間隔を調整する方法であって、上記センサの共振周波数を測定しながら、上記間隔調整部を用いて、上記第1対向板と上記第1センサ電極との間隔及び上記第2対向板と上記第2センサ電極との間隔を調整する。   Moreover, according to one form of the method of adjusting the sensor disclosed in this specification, the crystal plate, the first sensor electrode disposed on the first surface of the crystal plate, and the second surface are disposed. A second sensor electrode, a first counter plate facing the first sensor electrode with a gap, a second counter plate facing the second sensor electrode with a gap, the first counter plate, and the first counter plate A distance adjusting unit that changes a distance between the first counter plate and the first sensor electrode and a distance between the second counter plate and the second sensor electrode by pressing the two counter plates toward the crystal plate side; A method of adjusting a distance between the first counter plate and the first sensor electrode and a distance between the second counter plate and the second sensor electrode in a sensor comprising: measuring a resonance frequency of the sensor. However, using the distance adjusting unit, the first counter plate and Serial distance between the distance and the second opposing plate and the second sensor electrode and the first sensor electrode to adjust.

更に、本明細書に開示するセンサを用いて測定する方法の一形態によれば、水晶板と、上記水晶板の第1面上に配置される第1センサ電極、及び第2面上に配置される第2センサ電極と、上記第1センサ電極と間隔をあけて対向する第1対向板、及び上記第2センサ電極と間隔をあけて対向する第2対向板と、上記第1対向板及び上記第2対向板を上記水晶板側に押圧することにより、上記第1対向板と上記第1センサ電極との間隔及び上記第2対向板と上記第2センサ電極との間隔を変化させる間隔調整部と、を備えるセンサにおける上記第1対向板と上記第1センサ電極との間隔、又は上記第2対向板と上記第2センサ電極との間隔を、測定対象の隙間と等しくして、上記センサの共振周波数を測定する。   Furthermore, according to one form of the measurement method using the sensor disclosed in the present specification, the quartz plate, the first sensor electrode arranged on the first surface of the quartz plate, and the second surface are arranged. The second sensor electrode, the first counter plate facing the first sensor electrode with a gap, the second counter plate facing the second sensor electrode with a gap, the first counter plate, By adjusting the distance between the first counter plate and the first sensor electrode and the distance between the second counter plate and the second sensor electrode by pressing the second counter plate toward the quartz plate side. A gap between the first counter plate and the first sensor electrode, or a gap between the second counter plate and the second sensor electrode is made equal to the gap of the measurement object. Measure the resonance frequency.

上述した本明細書に開示するセンサの一形態によれば、腐食の程度を精確に評価できる。   According to one embodiment of the sensor disclosed in this specification, the degree of corrosion can be accurately evaluated.

また、本明細書に開示するセンサを調整する方法の一形態によれば、隙間等の腐食を起こし易い部位に対応する空間を、センサ電極と対向板との間に形成することができる。   In addition, according to one embodiment of the method for adjusting a sensor disclosed in the present specification, a space corresponding to a portion where corrosion such as a gap is likely to occur can be formed between the sensor electrode and the counter plate.

更に、本明細書に開示するセンサを用いて測定する方法の一形態によれば、腐食の程度を精確に評価できる。   Furthermore, according to one embodiment of the method of measuring using the sensor disclosed in this specification, the degree of corrosion can be accurately evaluated.

本発明の目的及び効果は、特に請求項において指摘される構成要素及び組み合わせを用いることによって認識され且つ得られるだろう。   The objects and advantages of the invention will be realized and obtained by means of the elements and combinations particularly pointed out in the appended claims.

前述の一般的な説明及び後述の詳細な説明の両方は、例示的及び説明的なものであり、特許請求の範囲に記載されている本発明を制限するものではない。   Both the foregoing general description and the following detailed description are exemplary and explanatory and are not restrictive of the invention as claimed.

(A)は、従来例の腐食センサを示す平面図であり、(B)は、正面図である。(A) is a top view which shows the corrosion sensor of a prior art example, (B) is a front view. 電子機器の配線構造を示す図である。It is a figure which shows the wiring structure of an electronic device. (A)は、本明細書に開示するセンサの第1実施形態の正面図であり、(B)は、側面図である。(A) is a front view of 1st Embodiment of the sensor disclosed in this specification, (B) is a side view. 対向板とセンサ電極との間に吸着した水滴を示す図である。It is a figure which shows the water droplet adsorb | sucked between the opposing board and the sensor electrode. 対向板とセンサ電極との間隔の寸法を説明する図である。It is a figure explaining the dimension of the space | interval of an opposing board and a sensor electrode. (A)〜(C)は、対向板とセンサ電極との間隔を調整する方法の第1実施形態を説明する図である。(A)-(C) is a figure explaining 1st Embodiment of the method of adjusting the space | interval of an opposing board and a sensor electrode. 対向板とセンサ電極との間隔を調整する方法の第2実施形態を説明する図(その1)である。It is FIG. (1) explaining 2nd Embodiment of the method of adjusting the space | interval of an opposing board and a sensor electrode. (A)〜(C)は、対向板とセンサ電極との間隔を調整する方法の第1実施形態を説明する図(その2)である。(A)-(C) is a figure (the 2) explaining 1st Embodiment of the method of adjusting the space | interval of an opposing board and a sensor electrode. (A)は、本明細書に開示するセンサの第2実施形態の正面図であり、(B)は、断面図である。(A) is a front view of 2nd Embodiment of the sensor disclosed in this specification, (B) is sectional drawing. (A)は、本明細書に開示するセンサの第3実施形態の平面図であり、(B)は、正面図である。(A) is a top view of 3rd Embodiment of the sensor disclosed in this specification, (B) is a front view. 本明細書に開示するセンサの使用例を説明する図である。It is a figure explaining the usage example of the sensor disclosed in this specification.

以下、本明細書で開示するセンサの好ましい第1実施形態を、図を参照して説明する。但し、本発明の技術範囲はそれらの実施形態に限定されず、特許請求の範囲に記載された発明とその均等物に及ぶものである。   Hereinafter, a preferred first embodiment of a sensor disclosed in this specification will be described with reference to the drawings. However, the technical scope of the present invention is not limited to these embodiments, but extends to the invention described in the claims and equivalents thereof.

図3(A)は、本明細書に開示するセンサの第1実施形態の正面図であり、図3(B)は、側面図である。   FIG. 3A is a front view of the first embodiment of the sensor disclosed in this specification, and FIG. 3B is a side view thereof.

本実施形態のセンサ10は、水晶微小天秤型の腐食センサである。センサ10は、金属部品を有する電子機器等の設置環境における電子機器自体の腐食の程度を測定する。   The sensor 10 of this embodiment is a quartz crystal microbalance type corrosion sensor. The sensor 10 measures the degree of corrosion of the electronic device itself in an installation environment such as an electronic device having metal parts.

センサ10は、第1面11a及び第2面11bを有する水晶板11と、水晶板11の第1面11a上に配置される第1センサ電極12a、及び第2面11b上に配置される第2センサ電極12bを備える。圧電体である水晶板11は、厚み滑りモードで振動するようにカットされている。厚み滑りモードで振動する水晶板11としては、例えば、ATカット又はBTカットされた水晶を用いることができる。本実施形態では、水晶板11は、円板状にATカットされている。   The sensor 10 includes a crystal plate 11 having a first surface 11a and a second surface 11b, a first sensor electrode 12a disposed on the first surface 11a of the crystal plate 11, and a second surface disposed on the second surface 11b. Two sensor electrodes 12b are provided. The crystal plate 11 that is a piezoelectric body is cut so as to vibrate in a thickness-slip mode. As the quartz plate 11 that vibrates in the thickness sliding mode, for example, AT cut or BT cut quartz can be used. In the present embodiment, the crystal plate 11 is AT-cut in a disc shape.

また、センサ10は、第1センサ電極12aと間隔をあけて対向する第1対向板13a、及び第2センサ電極12bと間隔をあけて対向する第2対向板13bを備える。   In addition, the sensor 10 includes a first counter plate 13a that faces the first sensor electrode 12a with a gap and a second counter plate 13b that faces the second sensor electrode 12b with a gap.

水晶板11の一方の端部からは、第1センサ電極12aに電力を供給する電極配線12cが第1センサ電極12aに延びている。同様に、水晶板11の他方の端部からは、第2センサ電極12bに電力を供給する電極配線12dが第2センサ電極12bに延びている。   From one end of the crystal plate 11, an electrode wiring 12c that supplies power to the first sensor electrode 12a extends to the first sensor electrode 12a. Similarly, an electrode wiring 12d that supplies power to the second sensor electrode 12b extends from the other end of the crystal plate 11 to the second sensor electrode 12b.

水晶板11は、縦長の板バネである一対のバネ支持部16a、16bによって、厚み滑りモードで振動可能に支持される。バネ支持部16aは、電極配線12dが積層された水晶板11の他方の端部が嵌めこまれるスリット16cを有する。同様に、バネ支持部16bは、電極配線12cが積層された水晶板11の一方の端部が嵌めこまれるスリット16cを有する。このように、水晶板11は、対向する端部が一対のバネ支持部16a、16bによって支持される。   The quartz plate 11 is supported by a pair of spring support portions 16a and 16b, which are vertically long plate springs, so as to vibrate in a thickness sliding mode. The spring support portion 16a has a slit 16c into which the other end of the crystal plate 11 on which the electrode wiring 12d is laminated is fitted. Similarly, the spring support portion 16b has a slit 16c into which one end of the crystal plate 11 on which the electrode wiring 12c is laminated is fitted. In this manner, the opposite ends of the quartz plate 11 are supported by the pair of spring support portions 16a and 16b.

一対のバネ支持部16a、16bは、基部17に立設される。一対のバネ支持部16a、16bは電気導電性を有しており、それぞれと接続する端子線18a、18bが基部17の下方に延びている。   The pair of spring support portions 16 a and 16 b is erected on the base portion 17. The pair of spring support portions 16 a and 16 b have electrical conductivity, and terminal wires 18 a and 18 b connected to the spring support portions 16 a and 16 b extend below the base portion 17.

第1センサ電極12a及び第2センサ電極12bに対しては、端子線18a、18b及び一対のバネ支持部16a、16bを介して、図示しない駆動回路から駆動信号が印加される。第1センサ電極12a及び第2センサ電極12bにより駆動信号が印加された水晶板11は、厚み滑りモードで共振周波数において振動するように駆動される。この共振周波数は、水晶板11のカット形状による固有周波数並びに第1センサ電極12a及び第2センサ電極12bの質量並びに駆動回路が有する容量(図示せず)等の条件によって決定され得る。   A drive signal is applied to the first sensor electrode 12a and the second sensor electrode 12b from a drive circuit (not shown) via the terminal wires 18a and 18b and the pair of spring support portions 16a and 16b. The quartz plate 11 to which the drive signal is applied by the first sensor electrode 12a and the second sensor electrode 12b is driven to vibrate at the resonance frequency in the thickness-shear mode. This resonance frequency can be determined by conditions such as the natural frequency due to the cut shape of the crystal plate 11, the masses of the first sensor electrode 12a and the second sensor electrode 12b, and the capacitance (not shown) of the drive circuit.

圧電体である水晶板11は、共振周波数で振動すると共に、共振周波数で発電して電気的な信号を出力する。水晶板11が出力する共振周波数は、図示しない外部測定回路で測定される。   The quartz crystal plate 11 that is a piezoelectric body vibrates at a resonance frequency and generates an electric signal at the resonance frequency to output an electrical signal. The resonance frequency output from the quartz plate 11 is measured by an external measurement circuit (not shown).

第1センサ電極12a又は第2センサ電極12bが腐食すると、センサ電極の質量が変化する。通常、腐食により電極の質量は増加する。このように、第1センサ電極12a及び第2センサ電極12bの質量が変化すると、水晶板11が発振する共振周波数も変化する。この共振周波数の変化を測定することにより、第1センサ電極12a及び第2センサ電極12bの腐食の程度を調べることができる。通常、センサ電極12a、12bの質量が増加すると、共振周波数は減少するように変化する。   When the first sensor electrode 12a or the second sensor electrode 12b is corroded, the mass of the sensor electrode changes. Usually, the mass of the electrode increases due to corrosion. Thus, when the masses of the first sensor electrode 12a and the second sensor electrode 12b change, the resonance frequency at which the quartz plate 11 oscillates also changes. By measuring the change in the resonance frequency, the degree of corrosion of the first sensor electrode 12a and the second sensor electrode 12b can be examined. Normally, when the mass of the sensor electrodes 12a and 12b increases, the resonance frequency changes so as to decrease.

センサ10では、第1センサ電極12a及び第2センサ電極12bの質量変化に対する共振周波数の変化の感度を向上するために、第1センサ電極12a及び第2センサ電極12bが、水晶板11の中央部に配置される。   In the sensor 10, the first sensor electrode 12 a and the second sensor electrode 12 b are arranged at the center of the quartz plate 11 in order to improve the sensitivity of the change of the resonance frequency with respect to the mass change of the first sensor electrode 12 a and the second sensor electrode 12 b. Placed in.

センサ10は、電子機器の腐食の程度を正しく評価するために、腐食する部分の隙間の空間を再現する構造を有する。   The sensor 10 has a structure that reproduces the space of the corroded portion in order to correctly evaluate the degree of corrosion of the electronic device.

具体的には、センサ10は、第1対向板13a及び第2対向板13bを水晶板11側に押圧することにより、第1対向板13aと第1センサ電極12aとの間隔d1及び第2対向板13bと第2センサ電極12bとの間隔d2を変化させる間隔調整部20を備える。   Specifically, the sensor 10 presses the first counter plate 13a and the second counter plate 13b to the quartz plate 11 side, whereby the distance d1 between the first counter plate 13a and the first sensor electrode 12a and the second counter plate. An interval adjusting unit 20 that changes an interval d2 between the plate 13b and the second sensor electrode 12b is provided.

センサ10では、間隔調整部20を用いて、第1対向板13aと第1センサ電極12aとの間隔d1、及び/又は第2対向板13bと第2センサ電極12bとの間隔d2が、測定対象である電子機器の金属部品が有する隙間と等しくなるように調整される。   In the sensor 10, the distance d 1 between the first counter plate 13 a and the first sensor electrode 12 a and / or the distance d 2 between the second counter plate 13 b and the second sensor electrode 12 b is measured using the distance adjusting unit 20. It is adjusted so that it may become equal to the clearance gap which the metal component of the electronic device which is.

次に、上述した第1対向板13a及び第2対向板13bについて、更に説明する。   Next, the first counter plate 13a and the second counter plate 13b described above will be further described.

第1対向板13a及び第2対向板13bは、縦長であり、それらの長手方向の一方の端部は、電気絶縁性のスペーサ15を介して、接合されている。第1対向板13a及び第2対向板13bにおける長手方向の他方の端部は、間隔調整部20を用いて、基部17を挟むようにして、基部17に固定される。   The first counter plate 13 a and the second counter plate 13 b are vertically long, and one end in the longitudinal direction thereof is joined via an electrically insulating spacer 15. The other ends in the longitudinal direction of the first counter plate 13 a and the second counter plate 13 b are fixed to the base portion 17 by using the interval adjusting portion 20 so as to sandwich the base portion 17.

第1対向板13a及び第2対向板13bは、板を貫通する複数の貫通孔14a、14bを有する。具体的には、第1対向板13aは、第1の貫通孔14aと、第1の貫通孔14aに対して、点対称に配置される複数の第2の貫通孔14bを有する。同様に、第2対向板13bも、第1の貫通孔14aと、第1の貫通孔14aに対して、点対称に配置される複数の第2の貫通孔14bを有する。第1の貫通孔14aは、第1センサ電極12a及び第2センサ電極12bの中央と対向するように配置される。   The first counter plate 13a and the second counter plate 13b have a plurality of through holes 14a and 14b penetrating the plate. Specifically, the first counter plate 13a includes a first through hole 14a and a plurality of second through holes 14b arranged in point symmetry with respect to the first through hole 14a. Similarly, the second opposing plate 13b also has a first through hole 14a and a plurality of second through holes 14b arranged symmetrically with respect to the first through hole 14a. The first through hole 14a is disposed so as to face the center of the first sensor electrode 12a and the second sensor electrode 12b.

上述した貫通孔14a、14bは、大気中の水蒸気又は埃塵等が、第1対向板13a又は第2対向板13bを通り抜けて、第1センサ電極12a又は第2センサ電極12bに吸着できるように設けられている。   The above-described through holes 14a and 14b allow water vapor or dust in the atmosphere to pass through the first counter plate 13a or the second counter plate 13b and be adsorbed to the first sensor electrode 12a or the second sensor electrode 12b. Is provided.

第1対向板13a及び第2対向板13bに貫通孔14a、14bを設けた理由を、更に説明する。   The reason why the through holes 14a and 14b are provided in the first counter plate 13a and the second counter plate 13b will be further described.

仮に、第1対向板13a及び第2対向板13bに貫通孔14a、14bが設けられていない場合、第1センサ電極12a又は第2センサ電極12bの腐食は、第1対向板13a又は第2対向板13bの側部と対向するセンサ電極12a、12bの部分から生じ易い。一方、対向板に覆われた第1センサ電極12a又は第2センサ電極12bの部分は、水蒸気又は埃塵等の供給が妨げられるので、電極の腐食は生じ難い。   If the through holes 14a and 14b are not provided in the first counter plate 13a and the second counter plate 13b, the corrosion of the first sensor electrode 12a or the second sensor electrode 12b is caused by the first counter plate 13a or the second counter plate. It tends to occur from the portions of the sensor electrodes 12a and 12b facing the side portions of the plate 13b. On the other hand, the portion of the first sensor electrode 12a or the second sensor electrode 12b covered with the counter plate is prevented from being corroded because the supply of water vapor or dust is hindered.

第1対向板13a又は第2対向板13bの側部と対向するセンサ電極12a、12bの腐食生成物が成長すると、対向板の内側への水蒸気又は埃塵等の供給が妨げられるので、依然として、対向板に覆われた第1センサ電極12a又は第2センサ電極12bの部分の腐食は生じ難い。特に、質量変化に対する感度が高い第1センサ電極12a又は第2センサ電極12bの中央部における腐食が生じ難くなる。また、第1対向板13a又は第2対向板13bの側部と対向する電極との間に水滴が吸着しても、対向板13a、13bの内側への水蒸気又は埃塵等の供給が妨げられる。   When the corrosion products of the sensor electrodes 12a and 12b facing the side portions of the first counter plate 13a or the second counter plate 13b grow, supply of water vapor or dust to the inside of the counter plate is hindered. Corrosion of the portion of the first sensor electrode 12a or the second sensor electrode 12b covered with the counter plate hardly occurs. In particular, corrosion at the center of the first sensor electrode 12a or the second sensor electrode 12b, which is highly sensitive to mass changes, is less likely to occur. Further, even if water droplets are adsorbed between the electrodes facing the side portions of the first counter plate 13a or the second counter plate 13b, the supply of water vapor, dust or the like to the inside of the counter plates 13a, 13b is hindered. .

そこで、センサ10では、第1対向板13a及び第2対向板13bに覆われている第1センサ電極12a又は第2センサ電極12bの部分に対して、大気中の水蒸気又は埃塵等が供給されるように、貫通孔14a、14bが設けられている。特に、第1センサ電極12a及び第2センサ電極12bの中央と対向する対向板の部分に第1の貫通孔14aを配置することにより、第1センサ電極12a及び第2センサ電極12bの中央部への水蒸気又は埃塵等の供給が妨げられないようにしている。   Therefore, in the sensor 10, water vapor, dust, or the like in the atmosphere is supplied to the first sensor electrode 12a or the second sensor electrode 12b covered with the first counter plate 13a and the second counter plate 13b. As shown, through holes 14a and 14b are provided. In particular, by disposing the first through hole 14a in the portion of the opposing plate that faces the center of the first sensor electrode 12a and the second sensor electrode 12b, to the center of the first sensor electrode 12a and the second sensor electrode 12b. The supply of water vapor or dust is not hindered.

図4は、対向板とセンサ電極との間に吸着した水滴を示す図である。   FIG. 4 is a diagram showing water droplets adsorbed between the counter plate and the sensor electrode.

図4に示すように、大気中の水蒸気等が、貫通孔14a、14bを通って、第1センサ電極12aと第1対向板13aとの間に水滴Wを形成し得るようになされている。そして、大気中に腐食性ガスが存在すると、腐食性ガスが水滴Wに溶解して、第1センサ電極12aを腐食させることになり得る。   As shown in FIG. 4, water vapor or the like in the atmosphere can form water droplets W between the first sensor electrode 12a and the first counter plate 13a through the through holes 14a and 14b. And if corrosive gas exists in air | atmosphere, corrosive gas will melt | dissolve in the water droplet W and will corrode the 1st sensor electrode 12a.

また、センサ10では、上述したように、第1の貫通孔14aに対して、複数の第2の貫通孔14bが点対称に配置される。これは、第1センサ電極12a及び第2センサ電極12bの表面が均一に腐食されるようにするためである。   In the sensor 10, as described above, the plurality of second through holes 14b are arranged point-symmetrically with respect to the first through hole 14a. This is for the purpose of uniformly corroding the surfaces of the first sensor electrode 12a and the second sensor electrode 12b.

図3(A)に示すように、複数の貫通孔14a、14bを、第1対向板13a及び第2対向板13bに設けることにより、対向板13a、13bに覆われたセンサ電極12a、12bの部分に対しても、大気中の水蒸気又は埃塵等が均一に拡散して供給される。その結果、第1センサ電極12a及び第2センサ電極12bの表面が均一に腐食され得る。   As shown in FIG. 3A, by providing a plurality of through holes 14a and 14b in the first counter plate 13a and the second counter plate 13b, the sensor electrodes 12a and 12b covered by the counter plates 13a and 13b are provided. Even in the portion, water vapor or dust in the atmosphere is uniformly diffused and supplied. As a result, the surfaces of the first sensor electrode 12a and the second sensor electrode 12b can be uniformly corroded.

例えば、第1センサ電極12a又は第2センサ電極12bが、腐食により同じ量の質量変化が生じた時でも、均一に腐食した時と、不均一に腐食した時とでは、共振周波数の変化量が異なり、センサ10の腐食に対する感度が異なり得る。そこで、第1センサ電極12a及び第2センサ電極12bが均一に腐食されるようにして、センサ10の腐食に対する感度を同じにしている。   For example, even when the first sensor electrode 12a or the second sensor electrode 12b undergoes the same amount of mass change due to corrosion, the amount of change in the resonance frequency varies between when it is uniformly corroded and when it is corroded unevenly. Unlikely, the sensitivity of the sensor 10 to corrosion can be different. Therefore, the first sensor electrode 12a and the second sensor electrode 12b are uniformly corroded so that the sensitivity of the sensor 10 to corrosion is the same.

また、センサ10では、第1対向板13a及び第2対向板13bは電気導電性を有している。第1対向板13aは、配線13dを用いてバネ支持部16bと電気的に接続されており、第1センサ電極12aと等電位にある。同様に、第2対向板13bは、配線13eを用いてバネ支持部16aと電気的に接続されており、第2センサ電極12bと等電位にある。   Moreover, in the sensor 10, the 1st opposing board 13a and the 2nd opposing board 13b have electrical conductivity. The first counter plate 13a is electrically connected to the spring support 16b using the wiring 13d and is equipotential with the first sensor electrode 12a. Similarly, the second opposing plate 13b is electrically connected to the spring support portion 16a using the wiring 13e and is equipotential with the second sensor electrode 12b.

これは、センサ電極12a、12b又は対向板13a、13bの内の何れか一方に対して、埃塵等が選択的に吸着することを防止して、両者の腐食が同様に生じるようにするためである。   This is to prevent dust and the like from being selectively adsorbed to any one of the sensor electrodes 12a and 12b or the opposing plates 13a and 13b, and to cause both to corrode similarly. It is.

腐食のメカニズムとして、金属部品に対して、まず、静電気を帯びた埃塵等が吸着し、次に、腐食性ガスが、金属部品に吸着した埃塵等に吸着して、金属部品の腐食が進行する場合がある。ここで、センサ電極と対向板との間で、帯電の極性又は電位が異なると、埃塵等の吸着の仕方が異なり得る。そこで、対向するセンサ電極12a、12b及び対向板13a、13bを等電位にして、静電気を帯びた埃塵等が同様に吸着するようにしている。   As a mechanism of corrosion, first, dust charged with static electricity is adsorbed on metal parts, and then corrosive gas is adsorbed on dust etc. adsorbed on metal parts, causing corrosion of metal parts. May progress. Here, if the polarity or potential of charging is different between the sensor electrode and the counter plate, the method of adsorbing dust or the like may be different. Therefore, the opposing sensor electrodes 12a and 12b and the opposing plates 13a and 13b are made to be equipotential so that static dust and the like are similarly adsorbed.

センサ電極12a、12b及び対向板13a、13bの形成材料としては、測定対象である電子機器における隙間を形成する材料と同じ材料を用いることが、センサ10の腐食の状態を、測定対象と近づける上で好ましい。   As the material for forming the sensor electrodes 12a and 12b and the counter plates 13a and 13b, the same material as that used to form the gap in the electronic device that is the measurement target is used to bring the state of corrosion of the sensor 10 closer to the measurement target. Is preferable.

金属部品と金属部品とにより、電子機器の隙間が形成される場合には、センサ電極12a、12b及び対向板13a、13bそれぞれは、対応する金属部品の材料により形成され得る。一方、金属部品と、樹脂等の非導電性部品とにより、電子機器の隙間が形成される場合には、センサ電極12a、12bが金属部品の材料により形成され、対向板13a、13bが非導電性部品の材料により形成されることが好ましい。   When the gap between the electronic devices is formed by the metal parts and the metal parts, the sensor electrodes 12a and 12b and the opposing plates 13a and 13b can be formed by the material of the corresponding metal parts. On the other hand, when a gap between electronic devices is formed by a metal part and a non-conductive part such as resin, the sensor electrodes 12a and 12b are formed by the material of the metal part, and the opposing plates 13a and 13b are non-conductive. It is preferable that it be formed of a material for the functional parts.

次に、間隔調整部20について、以下に説明する。   Next, the interval adjusting unit 20 will be described below.

間隔調整部20は、ねじ部21と、ねじ部21とら合するナット部22を有する。ねじ部21は、ナット部22とら合するねじ山が形成されたねじ本体21aと、第1対向板13aを押圧する押圧部21bと、ねじ本体21aを回転させるために用いられるつまみ部21cを有する。   The interval adjusting unit 20 includes a screw portion 21 and a nut portion 22 that mates with the screw portion 21. The screw portion 21 includes a screw main body 21a formed with a thread that mates with the nut portion 22, a pressing portion 21b that presses the first counter plate 13a, and a knob portion 21c that is used to rotate the screw main body 21a. .

第1対向板13aにおける長手方向の他方の端部と、第2対向板13bにおける長手方向の他方の端部には、それぞれ、対応するねじ孔13cが設けられている。   Corresponding screw holes 13c are provided at the other end in the longitudinal direction of the first counter plate 13a and the other end in the longitudinal direction of the second counter plate 13b, respectively.

ねじ部21は、ねじ部21のねじ本体21aを、第1対向板13aのねじ孔13c及び第2対向板13bのねじ孔13cに挿通させて、ナット部22とら合している。つまみ部21cを所定の方向に回転することにより、押圧部21bとナット部22との間に挟まれた第1対向板13a及び第2対向板13bが水晶板11側に押圧される。このようにして、第1対向板13aと第1センサ電極12aとの間隔d1及び第2対向板13bと第2センサ電極12bとの間隔d2が調整される。   The screw portion 21 is engaged with the nut portion 22 by inserting the screw body 21a of the screw portion 21 into the screw hole 13c of the first counter plate 13a and the screw hole 13c of the second counter plate 13b. By rotating the knob portion 21c in a predetermined direction, the first opposing plate 13a and the second opposing plate 13b sandwiched between the pressing portion 21b and the nut portion 22 are pressed toward the quartz plate 11 side. In this way, the distance d1 between the first counter plate 13a and the first sensor electrode 12a and the distance d2 between the second counter plate 13b and the second sensor electrode 12b are adjusted.

また、つまみ部21cを所定の方向とは逆方向に回転することにより、一方の端部がスペーサ15に固定された対向板13a、13bの反力によって、第1対向板13a及び第2対向板13bが水晶板11から離れる。   Further, by rotating the knob portion 21c in the direction opposite to the predetermined direction, the first counter plate 13a and the second counter plate are caused by the reaction force of the counter plates 13a and 13b whose one end is fixed to the spacer 15. 13 b is separated from the crystal plate 11.

センサ10では、つまみ部21cを回転することにより、第1対向板13aと第1センサ電極12aとの間隔は、第2対向板13bと第2センサ電極12bとの間隔と、同じ量変化する。   In the sensor 10, by rotating the knob portion 21c, the interval between the first counter plate 13a and the first sensor electrode 12a changes by the same amount as the interval between the second counter plate 13b and the second sensor electrode 12b.

図5は、対向板とセンサ電極との間隔の寸法を説明する図である。   FIG. 5 is a diagram for explaining the dimension of the interval between the counter plate and the sensor electrode.

第1対向板13a及び第2対向板13bにおける長手方向の一方の端部の間隔は、スペーサ15により固定されている。一方、第1対向板13a及び第2対向板13bにおける長手方向の他方の端部の間隔は、間隔調整部20を用いて調整可能である。   A distance between one end portions in the longitudinal direction of the first counter plate 13 a and the second counter plate 13 b is fixed by a spacer 15. On the other hand, the interval between the other ends in the longitudinal direction of the first counter plate 13 a and the second counter plate 13 b can be adjusted using the interval adjusting unit 20.

そのため、間隔調整部20を用いて、第1対向板13a及び第2対向板13bにおける長手方向の他方の端部の間隔が狭められた状態では、第1センサ電極12aと第1対向板13aとの間隔は一定ではない。即ち、第1センサ電極12aと第1対向板13aとの間隔は、スペーサ15に近い方が、間隔調整部20に近い方よりも広い。   Therefore, in the state where the interval between the other ends in the longitudinal direction of the first counter plate 13a and the second counter plate 13b is narrowed using the interval adjustment unit 20, the first sensor electrode 12a and the first counter plate 13a The interval is not constant. That is, the distance between the first sensor electrode 12 a and the first counter plate 13 a is wider near the spacer 15 than near the distance adjusting unit 20.

ここで、図5に示すように、第1対向板13aの長手方向の一方の端部と第1センサ電極12aとの間の距離を6.5mmとし、第1センサ電極12aの寸法を3.5mmとする。また、第1対向板13aの長手方向の他方の端部と第1センサ電極12aとの間の距離を6.5mmとする。また、第1対向板13aと第1センサ電極12aとが平行な状態における両者の間隔を0.05mmとする。   Here, as shown in FIG. 5, the distance between one end of the first opposing plate 13a in the longitudinal direction and the first sensor electrode 12a is 6.5 mm, and the dimension of the first sensor electrode 12a is 3. 5 mm. Further, the distance between the other end in the longitudinal direction of the first counter plate 13a and the first sensor electrode 12a is set to 6.5 mm. Further, the distance between the first counter plate 13a and the first sensor electrode 12a in a parallel state is set to 0.05 mm.

そして、間隔調整部20を用いて、第1対向板13aの長手方向の他方の端部と、水晶板11とが接するように間隔を調整した場合、第1センサ電極12aと第1対向板13aとの間隔は、最大で約0.030mmとなり、最小で約0.020mmとなる。   When the interval is adjusted so that the other end in the longitudinal direction of the first counter plate 13a is in contact with the crystal plate 11, the first sensor electrode 12a and the first counter plate 13a are used. Is about 0.030 mm at the maximum and about 0.020 mm at the minimum.

この場合、第1センサ電極12aと第1対向板13aとの間隔には、場所によって約0.010mmの差が生じるが、通常、電子機器の金属部品が有する隙間の寸法に対しては、この程度の差は、誤差として無視できる場合が多い。第2センサ電極12bと第2対向板13bとの間隔についても同様である。   In this case, the gap between the first sensor electrode 12a and the first counter plate 13a varies by about 0.010 mm depending on the location. The difference in degree is often negligible as an error. The same applies to the distance between the second sensor electrode 12b and the second counter plate 13b.

次に、センサ10において、間隔調整部20を用いて、対向するセンサ電極12a、12bと対向板13a、13bの間隔を調整する方法の第1実施形態を、図6を参照して、以下に説明する。   Next, a first embodiment of a method for adjusting the distance between the opposing sensor electrodes 12a, 12b and the opposing plates 13a, 13b using the distance adjusting unit 20 in the sensor 10 will be described below with reference to FIG. explain.

本実施形態の方法は、センサ10の共振周波数を測定しながら、間隔調整部20を用いて、第1対向板13aと第1センサ電極12aとの間隔d1及び第2対向板13bと第2センサ電極12bとの間隔d2を調整する。   In the method of this embodiment, the distance d1 between the first counter plate 13a and the first sensor electrode 12a and the second counter plate 13b and the second sensor are measured by using the interval adjuster 20 while measuring the resonance frequency of the sensor 10. The distance d2 from the electrode 12b is adjusted.

まず、図6(A)に示すように、間隔調整部20を用いて、第1対向板13aと第1センサ電極12aとが離れた状態にあり、第2対向板13bと第2センサ電極12bとが離れた状態になるように、センサ10が調整される。   First, as shown in FIG. 6 (A), the first counter plate 13a and the first sensor electrode 12a are separated from each other by using the distance adjusting unit 20, and the second counter plate 13b and the second sensor electrode 12b are separated. The sensor 10 is adjusted so as to be separated from each other.

そして、センサ10の共振周波数の測定が開始される。ここで、センサ10の共振周波数の測定として、予め測定しておいた共振周波数と、間隔を調整する時に測定される共振周波数との差である差周波数Δfが測定される。   Then, measurement of the resonance frequency of the sensor 10 is started. Here, as a measurement of the resonance frequency of the sensor 10, a difference frequency Δf that is a difference between the resonance frequency measured in advance and the resonance frequency measured when adjusting the interval is measured.

そして、間隔調整部20を用いて、第1対向板13aと第1センサ電極12aとの間隔及び第2対向板13bと第2センサ電極12bとの間隔を狭めていく。   Then, using the interval adjusting unit 20, the interval between the first counter plate 13a and the first sensor electrode 12a and the interval between the second counter plate 13b and the second sensor electrode 12b are reduced.

次に、図6(B)に示すように、センサ10の差周波数Δfが低下した時点に基づいて、第1対向板13aと第1センサ電極12aが接触し、且つ第2対向板13bと第2センサ電極12bが接触したことを判断する。対向するセンサ電極12a、12bと対向板13a、13bとが接触することは、センサ電極12a、12bの質量の増加に対応するので、センサ10の共振周波数が低下する。   Next, as shown in FIG. 6B, the first counter plate 13a and the first sensor electrode 12a are in contact with each other and the second counter plate 13b and the second counter plate 13 It is determined that the two sensor electrodes 12b are in contact. The contact between the opposing sensor electrodes 12a, 12b and the opposing plates 13a, 13b corresponds to an increase in the mass of the sensor electrodes 12a, 12b, so that the resonance frequency of the sensor 10 decreases.

次に、図6(C)に示すように、間隔調整部20を用いて、第1対向板13aと第1センサ電極12aとの間隔及び第2対向板13bと第2センサ電極12bとの間隔を広げて、第1対向板13aと第1センサ電極12aとの間隔及び第2対向板13bと第2センサ電極12bとの間隔を所定の間隔に調整する。ここで、つまみ部21cの回転量と、対向するセンサ電極12a、12bに対する対向板13a、13bの移動量との関係は、予め調べておく。   Next, as shown in FIG. 6C, using the interval adjusting unit 20, the interval between the first opposing plate 13a and the first sensor electrode 12a and the interval between the second opposing plate 13b and the second sensor electrode 12b. And the interval between the first counter plate 13a and the first sensor electrode 12a and the interval between the second counter plate 13b and the second sensor electrode 12b are adjusted to a predetermined interval. Here, the relationship between the amount of rotation of the knob portion 21c and the amount of movement of the opposing plates 13a and 13b relative to the opposing sensor electrodes 12a and 12b is examined in advance.

このようにして、間隔調整部20を用いて、第1対向板13aと第1センサ電極12aとの間隔d1、及び第2対向板13bと第2センサ電極12bとの間隔d2が、測定対象である電子機器の金属部品が有する隙間と等しくなるように調整される。   In this way, using the distance adjusting unit 20, the distance d1 between the first counter plate 13a and the first sensor electrode 12a and the distance d2 between the second counter plate 13b and the second sensor electrode 12b are measured objects. It is adjusted so as to be equal to the gap of a metal part of an electronic device.

次に、センサ10において、間隔調整部20を用いて、対向するセンサ電極12a、12bと対向板13a、13bの間隔を調整する方法の第2実施形態を、図7及び図8を参照して、以下に説明する。   Next, in the sensor 10, a second embodiment of a method for adjusting the distance between the opposing sensor electrodes 12 a and 12 b and the opposing plates 13 a and 13 b using the distance adjusting unit 20 will be described with reference to FIGS. 7 and 8. This will be described below.

まず、図7に示すように、第1対向板13aと第1センサ電極12aとの間に第1スペーサ19aが配置され、且つ第2対向板13bと第2センサ電極12bとの間に第2スペーサ19bが配置される。第1スペーサ19a及び第2スペーサ19bの厚さは、測定対象である電子機器の金属部品が有する隙間と等しい。   First, as shown in FIG. 7, the first spacer 19a is disposed between the first counter plate 13a and the first sensor electrode 12a, and the second spacer is interposed between the second counter plate 13b and the second sensor electrode 12b. A spacer 19b is arranged. The thickness of the 1st spacer 19a and the 2nd spacer 19b is equal to the clearance gap which the metal component of the electronic device which is a measuring object has.

次に、図8(A)に示すように、センサ10の差周波数Δfの測定が開始される。そして、間隔調整部20を用いて、第1対向板13aと第1センサ電極12aとの間隔及び第2対向板13bと第2センサ電極12bとの間隔を狭めていく。   Next, as shown in FIG. 8A, measurement of the difference frequency Δf of the sensor 10 is started. Then, using the interval adjusting unit 20, the interval between the first counter plate 13a and the first sensor electrode 12a and the interval between the second counter plate 13b and the second sensor electrode 12b are reduced.

次に、図8(B)に示すように、センサ10の差周波数Δfが低下した時点に基づいて、第1対向板13aが第1スペーサ19aを介して第1センサ電極12aと接触し、且つ第2対向板13bが第2スペーサ19bを介して第2センサ電極12bと接触したことを判断する。   Next, as shown in FIG. 8B, based on the time when the difference frequency Δf of the sensor 10 decreases, the first counter plate 13a contacts the first sensor electrode 12a via the first spacer 19a, and It is determined that the second counter plate 13b is in contact with the second sensor electrode 12b through the second spacer 19b.

次に、図8(C)に示すように、第1対向板13aと第1センサ電極12aとの間から第1スペーサ19aを除去し、且つ第2対向板13bと第2センサ電極12bとの間から第2スペーサ19bを除去する。   Next, as shown in FIG. 8C, the first spacer 19a is removed from between the first counter plate 13a and the first sensor electrode 12a, and the second counter plate 13b and the second sensor electrode 12b The second spacer 19b is removed from between.

このようにして、間隔調整部20及びスペーサ19a、19bを用いて、第1対向板13aと第1センサ電極12aとの間隔及び第2対向板13bと第2センサ電極12bとの間隔が、測定対象である電子機器の金属部品が有する隙間と等しくなるように調整される。   In this way, the distance between the first counter plate 13a and the first sensor electrode 12a and the distance between the second counter plate 13b and the second sensor electrode 12b are measured using the distance adjusting unit 20 and the spacers 19a and 19b. It is adjusted so as to be equal to the gap of the metal part of the target electronic device.

第1スペーサ19a及び第2スペーサ19bの形成材料は、対向するセンサ電極12a、12bと対向板13a、13bとの間から除去するときに、センサ電極等を傷つけにくいものを用いることが好ましい。具体的には、第1スペーサ19a及び第2スペーサ19bの形成材料として、PE樹脂シートやフッ素樹脂シート等を用いることができる。   As the material for forming the first spacer 19a and the second spacer 19b, it is preferable to use a material that hardly damages the sensor electrode or the like when it is removed from between the opposing sensor electrodes 12a and 12b and the opposing plates 13a and 13b. Specifically, a PE resin sheet, a fluororesin sheet, or the like can be used as a material for forming the first spacer 19a and the second spacer 19b.

上述した本実施形態のセンサ10によれば、対向するセンサ電極12a、12bと対向板13a、13bとの間隔を、測定対象である電子機器の金属部品が有する隙間と等しくできるので、腐食の程度を正確に評価できる。   According to the sensor 10 of the present embodiment described above, the distance between the opposing sensor electrodes 12a, 12b and the opposing plates 13a, 13b can be made equal to the gap of the metal part of the electronic device that is the measurement target, so the degree of corrosion Can be evaluated accurately.

測定対象である電子機器の内部には多数の金属部品が配置されて重なり合い、多数の隙間が存在する。それら隙間の大きさは、金属部品の形状又は配置のされ方等によってさまざまである。また、隙間の大きさの違いにより、腐食が進行する速さも異なる。   A large number of metal parts are arranged and overlapped inside the electronic device to be measured, and a large number of gaps exist. The size of these gaps varies depending on the shape or arrangement of metal parts. Moreover, the speed at which corrosion proceeds varies depending on the size of the gap.

センサ10は、対向するセンサ電極12a、12bと対向板13a、13bとの間隔を調整することにより、測定対象である電子機器の内部に存在する腐食し易い隙間の空間を擬似的に再現して、その腐食の程度を測定することができる。   The sensor 10 reproduces the space of the easily corroded gap existing inside the electronic device to be measured by adjusting the distance between the opposing sensor electrodes 12a, 12b and the opposing plates 13a, 13b. The degree of corrosion can be measured.

次に、上述したセンサの他の実施形態を、図9及び図10を参照しながら以下に説明する。他の実施形態について特に説明しない点については、上述の第1実施形態に関して詳述した説明が適宜適用される。また、同一の構成要素には同一の符号を付してある。   Next, another embodiment of the sensor described above will be described below with reference to FIGS. 9 and 10. For points that are not particularly described in the other embodiments, the description in detail regarding the first embodiment is applied as appropriate. Moreover, the same code | symbol is attached | subjected to the same component.

図9(A)は、本明細書に開示するセンサの第2実施形態の正面図であり、図9(B)は、図9(A)のX−X線に沿った断面図である。   FIG. 9A is a front view of a second embodiment of the sensor disclosed in this specification, and FIG. 9B is a cross-sectional view taken along line XX in FIG. 9A.

本実施形態のセンサ10は、上述した第1実施形態と同様に、水晶板11と、第1センサ電極12aと間隔をあけて対向する第1対向板31と、第2センサ電極12bと間隔をあけて対向する第2対向板32を備える。   Similar to the first embodiment described above, the sensor 10 of the present embodiment is spaced apart from the crystal plate 11, the first counter plate 31 facing the first sensor electrode 12a with a gap, and the second sensor electrode 12b. A second opposing plate 32 that is open and opposed is provided.

第1対向板31及び第2対向板32は、板を貫通する複数の貫通孔34a、34bを有する。具体的には、第1対向板31は、第1の貫通孔34aと、第1の貫通孔34aに対して、点対称に配置される複数の第2の貫通孔34bを有する。同様に、第2対向板32も、第1の貫通孔34aと、第1の貫通孔34aに対して、点対称に配置される複数の第2の貫通孔34bを有する。第1の貫通孔34aは、第1センサ電極12a及び第2センサ電極12bの中央と対向するように配置される。   The first counter plate 31 and the second counter plate 32 have a plurality of through holes 34a and 34b penetrating the plate. Specifically, the first counter plate 31 includes a first through hole 34a and a plurality of second through holes 34b arranged in point symmetry with respect to the first through hole 34a. Similarly, the second opposing plate 32 also has a first through hole 34a and a plurality of second through holes 34b arranged symmetrically with respect to the first through hole 34a. The first through hole 34a is disposed so as to face the center of the first sensor electrode 12a and the second sensor electrode 12b.

センサ10における水晶板11及び水晶板11上に配置された各電極配線の構成は、上述した第1実施形態と同様である。図9(A)及び図9(B)には、これらの構成要素に対する符号の全ては記載されていないが、記載されていない構成要素に対する符号については、第1実施形態の図面を参照されたい。   The configuration of the crystal plate 11 in the sensor 10 and each electrode wiring disposed on the crystal plate 11 is the same as that of the first embodiment described above. In FIG. 9A and FIG. 9B, not all of the reference numerals for these components are described, but for the reference numerals of the components not described, refer to the drawings of the first embodiment. .

本実施形態のセンサ10では、3つの間隔調整部20a、20b、20cを用いて、第1対向板31と第1センサ電極12aとの間隔d1、及び/又は第2対向板32と第2センサ電極12bとの間隔d2が、測定対象である電子機器の金属部品が有する隙間と等しくなるように調整される。   In the sensor 10 of the present embodiment, the interval d1 between the first counter plate 31 and the first sensor electrode 12a and / or the second counter plate 32 and the second sensor are used by using the three interval adjusters 20a, 20b, and 20c. The distance d2 from the electrode 12b is adjusted to be equal to the gap of the metal part of the electronic device that is the measurement target.

そして、本実施形態のセンサ10では、3つの間隔調整部20a、20b、20cを用いて、対向するセンサ電極12a、12bと対向板31、32との間隔を一定に調整することができる。   And in the sensor 10 of this embodiment, the space | interval of the sensor electrodes 12a and 12b and the opposing plates 31 and 32 which oppose can be adjusted uniformly using three space | interval adjustment parts 20a, 20b, and 20c.

3つの間隔調整部20a、20b、20cの構成は、上述した第1実施形態の間隔調整部と同じである。   The configuration of the three interval adjustment units 20a, 20b, and 20c is the same as that of the interval adjustment unit of the first embodiment described above.

一対のバネ支持部16a、16bによって支持される水晶板11は、開口部36を有する支持枠35の内部に支持されている。支持枠35は、第1支持枠35aと第2支持枠35bとが、それぞれの開口部を一致させて、基部17を挟むように重ね合わされて、ねじ37により接合されて形成される。   The crystal plate 11 supported by the pair of spring support portions 16 a and 16 b is supported inside a support frame 35 having an opening 36. The support frame 35 is formed by superimposing the first support frame 35 a and the second support frame 35 b so that the respective openings are aligned and sandwiching the base portion 17, and is joined by screws 37.

一対のバネ支持部16a、16bによって支持される水晶板11は、開口部36内に配置されており、第1センサ電極12a及び第2センサ電極12bには、大気中の水蒸気又は塵埃等が拡散して供給可能になされている。   The crystal plate 11 supported by the pair of spring support portions 16a and 16b is disposed in the opening 36, and water vapor or dust in the atmosphere diffuses into the first sensor electrode 12a and the second sensor electrode 12b. And can be supplied.

センサ10における第1対向板31は、対向板の中心に対して、回転対称に延びる3つの延出部31a、31b、31cを有しており、延出部それぞれには、ねじ孔33が設けられている。3つの延出部31a、31b、31cは、対向板の中心に対して、120度の中心角を有するように間隔をあけて配置される。   The first counter plate 31 in the sensor 10 has three extending portions 31a, 31b, 31c extending in a rotationally symmetrical manner with respect to the center of the counter plate, and a screw hole 33 is provided in each of the extending portions. It has been. The three extending portions 31a, 31b, 31c are arranged at intervals so as to have a central angle of 120 degrees with respect to the center of the opposing plate.

同様に、第2対向板32は、対向板の中心に対して、回転対称に延びる3つの延出部32a、32b、32cを有しており、延出部それぞれには、ねじ孔33が設けられている。   Similarly, the second opposing plate 32 has three extending portions 32a, 32b, and 32c that extend rotationally symmetrically with respect to the center of the opposing plate, and each of the extending portions is provided with a screw hole 33. It has been.

第1対向板31の延出部31aは、第2対向板32の延出部32aと対向するように配置される。同様に、第1対向板31の延出部31bは、第2対向板32の延出部32bと対向するように配置され、第1対向板31の延出部31cは、第2対向板32の延出部32cと対向するように配置される。   The extension part 31 a of the first counter plate 31 is disposed so as to face the extension part 32 a of the second counter plate 32. Similarly, the extension part 31 b of the first counter plate 31 is disposed so as to face the extension part 32 b of the second counter plate 32, and the extension part 31 c of the first counter plate 31 is the second counter plate 32. It arrange | positions so that the extension part 32c may be opposed.

第1対向板31の3つの延出部31a、31b、31cに設けられたねじ孔33それぞれは、第2対向板32の3つの延出部32a、32b、32cのねじ孔33と対応するように配置される。   The screw holes 33 provided in the three extending portions 31a, 31b, and 31c of the first counter plate 31 correspond to the screw holes 33 of the three extending portions 32a, 32b, and 32c of the second counter plate 32, respectively. Placed in.

間隔調整部20aは、第1対向板31の延出部31aと、第2対向板32の延出部32aとを、水晶板11側に押圧する。具体的には、間隔調整部20aのねじ部21は、ねじ部21のねじ本体21aを、第1対向板31の延出部31aのねじ孔33及び第2対向板32の延出部32aのねじ孔33に挿通させて、ナット部22とら合している。つまみ部21cを所定の方向に回転することにより、押圧部21bとナット部22との間に挟まれた第1対向板31の延出部31a及び第2対向板32の延出部32aが水晶板11側に押圧される。   The interval adjusting unit 20a presses the extending portion 31a of the first opposing plate 31 and the extending portion 32a of the second opposing plate 32 toward the quartz plate 11 side. Specifically, the screw portion 21 of the gap adjusting portion 20a is formed by connecting the screw body 21a of the screw portion 21 to the screw hole 33 of the extending portion 31a of the first opposing plate 31 and the extending portion 32a of the second opposing plate 32. The nut portion 22 is engaged with the screw hole 33. By rotating the knob portion 21c in a predetermined direction, the extension portion 31a of the first counter plate 31 and the extension portion 32a of the second counter plate 32 sandwiched between the pressing portion 21b and the nut portion 22 are crystallized. Pressed toward the plate 11 side.

同様に、間隔調整部20bは、第1対向板31の延出部31b及び第2対向板32の延出部32bを水晶板11側に押圧し、間隔調整部20cは、第1対向板31の延出部31c及び第2対向板32の延出部32cを水晶板11側に押圧する。   Similarly, the interval adjusting unit 20b presses the extending portion 31b of the first opposing plate 31 and the extending portion 32b of the second opposing plate 32 toward the crystal plate 11 side, and the interval adjusting unit 20c is the first opposing plate 31. The extension part 31c of the second and the extension part 32c of the second counter plate 32 are pressed against the quartz plate 11 side.

このようにして、3つの延出部31a、31b、31cを有する第1対向板13aと第1センサ電極12aとの間隔d1、及び3つの延出部32a、32b、32cを有する第2対向板13bと第2センサ電極12bとの間隔d2が調整される。   In this way, the distance d1 between the first opposing plate 13a having the three extending portions 31a, 31b and 31c and the first sensor electrode 12a, and the second opposing plate having the three extending portions 32a, 32b and 32c. The distance d2 between 13b and the second sensor electrode 12b is adjusted.

第1対向板31における3つの延出部31a、31b、31cの端部には係止部31dが形成されており、水晶板11側に押圧された延出部31a、31b、31cの係止部31dは、開口部36の縁に係止される。同様に、第2対向板32における3つの延出部32a、32b、32cの端部には係止部32dが形成されており、水晶板11側に押圧された延出部32a、32b、32cの係止部32dは、開口部36の縁に係止される。   Locking portions 31d are formed at the ends of the three extending portions 31a, 31b, 31c of the first counter plate 31, and the extending portions 31a, 31b, 31c pressed against the quartz plate 11 side are locked. The portion 31 d is locked to the edge of the opening 36. Similarly, locking portions 32d are formed at the ends of the three extending portions 32a, 32b, 32c of the second opposing plate 32, and the extending portions 32a, 32b, 32c pressed toward the quartz plate 11 side. The locking portion 32 d is locked to the edge of the opening 36.

本実施形態のセンサ10は、3つの間隔調整部20a、20b、20cを用いて、第1対向板31と第1センサ電極12aとが平行になり、且つ第2対向板32と第2センサ電極12bとが実質的に平行になるように調整可能である。即ち、本実施形態のセンサ10では、対向する対向板31,32とセンサ電極12a、12bとの間隔が、上述した第1実施形態よりも一定になるように調整可能である。   In the sensor 10 of the present embodiment, the first counter plate 31 and the first sensor electrode 12a are parallel to each other and the second counter plate 32 and the second sensor electrode using the three gap adjusting units 20a, 20b, and 20c. It can be adjusted so that 12b is substantially parallel. That is, in the sensor 10 of the present embodiment, the distance between the opposed plates 31 and 32 and the sensor electrodes 12a and 12b can be adjusted to be more constant than in the first embodiment described above.

また、第1対向板31と第1センサ電極12aとの間隔d1、及び第2対向板32と第2センサ電極12bとの間隔d2は、測定対象である電子機器の金属部品が有する隙間に対応させて、狭い間隔から広い間隔まで調整可能である。   Further, the distance d1 between the first counter plate 31 and the first sensor electrode 12a and the distance d2 between the second counter plate 32 and the second sensor electrode 12b correspond to the gaps of the metal parts of the electronic device to be measured. It is possible to adjust from a narrow interval to a wide interval.

本実施形態のセンサ10は、3つの間隔調整部を有しているが、センサ10は、2つの間隔調整部又は4つ以上の間隔調整部を有していても良い。   Although the sensor 10 of the present embodiment includes three interval adjustment units, the sensor 10 may include two interval adjustment units or four or more interval adjustment units.

本実施形態のセンサ10では、センサ10の共振周波数を測定しながら、3つの間隔調整部20a、20b、20cを用いて、第1対向板31と第1センサ電極12aとの間隔d1及び第2対向板32と第2センサ電極12bとの間隔d2が調整される。   In the sensor 10 of the present embodiment, while measuring the resonance frequency of the sensor 10, the distance d1 between the first counter plate 31 and the first sensor electrode 12a and the second distance are adjusted using the three distance adjusters 20a, 20b, and 20c. The distance d2 between the counter plate 32 and the second sensor electrode 12b is adjusted.

具体的には、各間隔調整部の調整に対して、図6に示す方法又は図7及び図8に示す方法を用いることができる。例えば、まず、間隔調整部20aを用いて間隔の調整を行った後、次に、間隔調整部20b及び間隔調整部20cの間隔の調整を順番に行うことができる。この際、間隔調整部20a〜20cの調整を行った後、更に、間隔調整部20a〜20cの調整を少なくとも1回以上繰り返すことが、間隔d1及び間隔d2を精度良く設定する上で好ましい。   Specifically, the method shown in FIG. 6 or the methods shown in FIGS. 7 and 8 can be used for the adjustment of each interval adjustment unit. For example, first, the interval adjustment unit 20a is used to adjust the interval, and then the interval adjustment unit 20b and the interval adjustment unit 20c can be adjusted in order. At this time, it is preferable to repeat the adjustment of the interval adjusting units 20a to 20c at least once after the adjustment of the interval adjusting units 20a to 20c, in order to accurately set the interval d1 and the interval d2.

上述した本実施形態のセンサ10によれば、対向するセンサ電極12a、12bと対向板31、32とが実質的に平行になるように、間隔d1及び間隔d2を調整することができる。   According to the sensor 10 of this embodiment described above, the distance d1 and the distance d2 can be adjusted so that the opposing sensor electrodes 12a, 12b and the opposing plates 31, 32 are substantially parallel.

また、本実施形態のセンサ10によれば、上述した第1実施形態と同様の効果が得られる。   Further, according to the sensor 10 of the present embodiment, the same effects as those of the first embodiment described above can be obtained.

次に、本明細書に開示するセンサの第3実施形態を、図面を参照して、以下に説明する。   Next, a third embodiment of the sensor disclosed in this specification will be described below with reference to the drawings.

図10(A)は、本明細書に開示するセンサの第3実施形態の平面図であり、図10(B)は、正面図である。   FIG. 10A is a plan view of a third embodiment of the sensor disclosed in this specification, and FIG. 10B is a front view thereof.

本実施形態のセンサ10における間隔調整部40は、上述した各実施形態とは構造が異なっている。   The interval adjustment unit 40 in the sensor 10 of the present embodiment is different in structure from the above-described embodiments.

本実施形態のセンサ10は、第1対向板13a及び第2対向板13bがねじ孔を有さないことと、間隔調整部40の構造を除いては、水晶板11及び水晶板11上に配置された各電極配線の構成は、上述した第1実施形態と同様である。   The sensor 10 of the present embodiment is arranged on the crystal plate 11 and the crystal plate 11 except that the first counter plate 13a and the second counter plate 13b do not have screw holes and the structure of the interval adjustment unit 40. The configuration of each of the electrode wirings is the same as that of the first embodiment described above.

本実施形態のセンサ10の間隔調整部40は、縦長の押圧本体41と、押圧本体41から間隔をあけて延びる一対の押圧部42を有する。一対の押圧部42の間に、第1対向板13a及び第2対向板13bが挟まれて、第1対向板13a及び第2対向板13bが水晶板11側に押圧される。   The interval adjusting unit 40 of the sensor 10 according to the present embodiment includes a vertically long pressing body 41 and a pair of pressing portions 42 extending from the pressing body 41 with a space therebetween. The first counter plate 13a and the second counter plate 13b are sandwiched between the pair of pressing portions 42, and the first counter plate 13a and the second counter plate 13b are pressed toward the crystal plate 11 side.

具体的には、センサ10では、押圧本体41の長手方向に間隔をあけて、2組の一対の押圧部42が配置される。なお、1組の一対の押圧部42又は3組以上の一対の押圧部42を、押圧本体41に配置しても良い。   Specifically, in the sensor 10, two pairs of the pressing portions 42 are arranged at intervals in the longitudinal direction of the pressing body 41. A pair of pressing parts 42 or three or more pairs of pressing parts 42 may be arranged on the pressing body 41.

押圧部42は、板バネとして機能しており、押圧部42の内側の面が対向板13a、13bを水晶板11側に押圧するようになされている。   The pressing portion 42 functions as a leaf spring, and the inner surface of the pressing portion 42 presses the opposing plates 13a and 13b toward the quartz plate 11 side.

第1対向板13a及び第2対向板13bは、押圧部42に押されることにより、水晶板11側に撓む可撓性を有する。   The first counter plate 13a and the second counter plate 13b have flexibility to be bent toward the crystal plate 11 side when pressed by the pressing portion 42.

押圧部42と押圧部42との間隔は、第1対向板13aと第1センサ電極12aとの間隔d1及び第2対向板13bと第2センサ電極12bとの間隔d2が、所定の間隔になるように設定される。   The distance between the pressing part 42 and the pressing part 42 is a predetermined distance between the distance d1 between the first counter plate 13a and the first sensor electrode 12a and the distance d2 between the second counter plate 13b and the second sensor electrode 12b. Is set as follows.

測定対象である電子機器の金属部品が有する隙間に対応させて、押圧部42と押圧部42との間隔が決定され得る。測定対象の隙間に対応させて、押圧部42と押圧部42との間隔が異なる間隔調整部40を用いることにより、第1対向板13aと第1センサ電極12aとの間隔d1及び第2対向板13bと第2センサ電極12bとの間隔d2を調整できる。   The distance between the pressing part 42 and the pressing part 42 can be determined in correspondence with the gap of the metal part of the electronic device to be measured. The distance d1 between the first opposing plate 13a and the first sensor electrode 12a and the second opposing plate are used by using the interval adjusting unit 40 in which the interval between the pressing unit 42 and the pressing unit 42 is different according to the gap of the measurement target. The distance d2 between 13b and the second sensor electrode 12b can be adjusted.

センサ10の基部17は、押圧本体41を嵌合するための嵌合凸部17aを有する。また、押圧本体41は、嵌合凸部17aと嵌合する嵌合凹部41aを有する。   The base portion 17 of the sensor 10 has a fitting convex portion 17 a for fitting the pressing body 41. Moreover, the press main body 41 has the fitting recessed part 41a fitted with the fitting convex part 17a.

間隔調整部40は、押圧本体41の嵌合凹部41aを、基部17の嵌合凸部17aと嵌合させて、一対の押圧部42の間に第1対向板13a及び第2対向板13bが挟まれた状態で、基部17に脱着自在に固定される。   The interval adjusting unit 40 is configured such that the fitting concave portion 41 a of the pressing body 41 is fitted with the fitting convex portion 17 a of the base portion 17, and the first opposing plate 13 a and the second opposing plate 13 b are interposed between the pair of pressing portions 42. In a state of being sandwiched, the base 17 is detachably fixed.

押圧部42には、押圧部42と押圧部42との間隔を広げるためのつまみ部42aが設けられている。間隔調整部40を基部17に固定するか、又は脱着する時には、つまみ部42aを用いて、押圧部42と押圧部42との間隔を広げて、一対の押圧部42を、対向板13a、13bから取り外す。   The pressing portion 42 is provided with a knob portion 42 a for widening the interval between the pressing portion 42 and the pressing portion 42. When fixing or detaching the distance adjusting part 40 to the base part 17, the distance between the pressing part 42 and the pressing part 42 is widened by using the knob part 42 a, and the pair of pressing parts 42 are connected to the opposing plates 13 a and 13 b. Remove from.

上述した本実施形態のセンサ10によれば、間隔調整部40を基部17に固定することにより、間隔d1及び間隔d2が調整されるので、上述した各実施形態において行われた間隔を調整するための作業は不要となる。   According to the sensor 10 of the present embodiment described above, the interval d1 and the interval d2 are adjusted by fixing the interval adjusting unit 40 to the base 17, so that the interval performed in each of the embodiments described above is adjusted. This work becomes unnecessary.

また、本実施形態のセンサ10によれば、上述した第1実施形態と同様の効果が得られる。   Further, according to the sensor 10 of the present embodiment, the same effects as those of the first embodiment described above can be obtained.

次に、上述した本明細書に開示するセンサを用いて、電子機器自体の腐食の程度と共に、電子機器の設置環境の腐食性を評価する一形態を、図11を参照して、以下に説明する。   Next, with reference to FIG. 11, one embodiment for evaluating the corrosivity of the installation environment of the electronic device together with the degree of corrosion of the electronic device itself using the sensor disclosed in the present specification will be described below. To do.

図11は、本明細書に開示するセンサの使用例を説明する図である。   FIG. 11 is a diagram illustrating an example of use of the sensor disclosed in this specification.

上述した第1〜第3実施形態の内の何れかのセンサAが、電子機器の内部に配置される。電子機器は、空調装置を有する部屋に配置されている。また、この部屋には、他の電子機器等である発熱体も配置されている。   Any one of the sensors A in the first to third embodiments described above is arranged inside the electronic apparatus. The electronic device is arranged in a room having an air conditioner. In addition, a heating element such as another electronic device is also arranged in this room.

センサAは、対向板とセンサ電極との間の間隔が、電子機器の金属部品が有する隙間の寸法と一致するように調整されている。また、対向板及びセンサ電極の形成材料は、対応する金属部品の材料により形成されている。センサAは、主に電子機器自体の腐食の程度を評価することを目的に使用される。   In the sensor A, the distance between the counter plate and the sensor electrode is adjusted so as to match the size of the gap of the metal component of the electronic device. Further, the material for forming the counter plate and the sensor electrode is formed of the material of the corresponding metal part. The sensor A is mainly used for the purpose of evaluating the degree of corrosion of the electronic device itself.

また、図1に示すような従来の複数のセンサB1〜B3が、同じ部屋の中に配置されている。センサB1は、センサAと共に、電子機器の内部に配置される。センサB2は、電子機器近傍に配置される。センサB3は、空調装置からの送風が直接吹き付けられる室内の位置に配置される。センサB1〜B3は、主に電子機器の設置環境の腐食性を評価することを目的に使用される。   A plurality of conventional sensors B1 to B3 as shown in FIG. 1 are disposed in the same room. The sensor B1 is arranged inside the electronic device together with the sensor A. The sensor B2 is disposed in the vicinity of the electronic device. Sensor B3 is arrange | positioned in the indoor position where the ventilation from an air conditioner is sprayed directly. The sensors B1 to B3 are mainly used for the purpose of evaluating the corrosiveness of the installation environment of the electronic device.

図11には、センサA及びセンサB1〜B3の測定結果の例がグラフで示されている。各グラフの縦軸は、センサから出力される共振周波数の変化量を腐食量に換算した値を示している。   FIG. 11 is a graph showing an example of measurement results of the sensor A and the sensors B1 to B3. The vertical axis of each graph represents a value obtained by converting the amount of change in the resonance frequency output from the sensor into the amount of corrosion.

例えば、センサB1とセンサB2又はセンサB3の測定結果を比較することにより、腐食の原因が、電子機器の内部の環境によるものなのか、又は、室内の環境によるものなのかを調べることができる。   For example, by comparing the measurement results of the sensor B1 and the sensor B2 or the sensor B3, it is possible to check whether the cause of corrosion is due to the internal environment of the electronic device or the indoor environment.

また、センサAとセンサB1の測定結果を比較することにより、腐食の原因が、隙間のような部品の形状と関連する水蒸気若しくは埃塵等の吸着によるものなのか、又は、腐食性ガス若しくは温度等のような部品の形状とは関係の低いものなのかを調べることができる。   Further, by comparing the measurement results of the sensor A and the sensor B1, whether the cause of corrosion is due to adsorption of water vapor or dust related to the shape of the part such as a gap, or corrosive gas or temperature. It is possible to check whether the shape of the component is low.

このようにして、腐食の原因を明確にすることにより、各原因に対して、腐食を防止するための具体的な対策をたてることが可能となる。   Thus, by clarifying the cause of corrosion, it is possible to take specific measures for preventing corrosion for each cause.

本発明では、上述した実施形態のセンサ、センサを調整する方法及びセンサを用いて測定する方法は、本発明の趣旨を逸脱しない限り適宜変更が可能である。また、一の実施形態が有する構成要件は、他の実施形態にも適宜適用することができる。   In the present invention, the sensor of the above-described embodiment, the method for adjusting the sensor, and the method for measuring using the sensor can be appropriately changed without departing from the spirit of the present invention. In addition, the configuration requirements of one embodiment can be applied to other embodiments as appropriate.

例えば、上述した各実施形態では、センサの第1対向板及び第2対向板の両方が、板を貫通する貫通孔を有していたが、第1対向板及び第2対向板の内の何れか一方が、貫通孔を有していても良い。   For example, in each of the above-described embodiments, both the first counter plate and the second counter plate of the sensor have a through-hole penetrating the plate, but any one of the first counter plate and the second counter plate One of them may have a through hole.

また、上述した各実施形態では、第1対向板と第1センサ電極との間隔d1及び第2対向板と第2センサ電極との間隔d2が同じになるように調整されていたが、間隔d1と間隔d2とは異なるように調整しても良い。   In each of the above-described embodiments, the distance d1 between the first counter plate and the first sensor electrode and the distance d2 between the second counter plate and the second sensor electrode are adjusted to be the same, but the distance d1. And the interval d2 may be adjusted to be different.

ここで述べられた全ての例及び条件付きの言葉は、読者が、発明者によって寄与された発明及び概念を技術を深めて理解することを助けるための教育的な目的を意図する。ここで述べられた全ての例及び条件付きの言葉は、そのような具体的に述べられた例及び条件に限定されることなく解釈されるべきである。また、明細書のそのような例示の機構は、本発明の優越性及び劣等性を示すこととは関係しない。本発明の実施形態は詳細に説明されているが、その様々な変更、置き換え又は修正が本発明の精神及び範囲を逸脱しない限り行われ得ることが理解されるべきである。   All examples and conditional words mentioned herein are intended for educational purposes to help the reader deepen and understand the inventions and concepts contributed by the inventor. All examples and conditional words mentioned herein are to be construed without limitation to such specifically stated examples and conditions. Also, such exemplary mechanisms in the specification are not related to showing the superiority and inferiority of the present invention. While embodiments of the present invention have been described in detail, it should be understood that various changes, substitutions or modifications can be made without departing from the spirit and scope of the invention.

10 センサ
11 水晶板
11a 第1面
11b 第2面
12a 第1センサ電極
12b 第2センサ電極
12c、12d 電極配線
13a 第1対向板
13b 第2対向板
13c ねじ孔
13d、13e 配線
14a 第1の貫通孔
14b 第2の貫通孔
15 スペーサ
16a、16b バネ支持部
16c スリット
17 基部
17a 嵌合凸部
18a、18b 端子線
19a 第1スペーサ
19b 第2スペーサ
20、20a、20b、20c 間隔調整部
21 ねじ部
21a ねじ本体
21b 押圧部
21c つまみ部
22 ナット部
31 第1対向板
31a、31b、31c 延出部
31d 係止部
32 第2対向板
32a、32b、32c 延出部
32d 係止部
33 ねじ孔
34a 第1の貫通孔
34b 第2の貫通孔
35 支持枠
35a 第1支持枠
35b 第2支持枠
36 開口部
37 ねじ
40 間隔調整部
41 押圧本体
41a 嵌合凹部
42 押圧部
42a つまみ部
150 電子機器の配線構造
151 配線
152 配線端子
153 電極端子
154 ねじ
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Sensor 11 Quartz plate 11a 1st surface 11b 2nd surface 12a 1st sensor electrode 12b 2nd sensor electrode 12c, 12d Electrode wiring 13a 1st opposing plate 13b 2nd opposing plate 13c Screw hole 13d, 13e Wiring 14a 1st penetration Hole 14b Second through hole 15 Spacer 16a, 16b Spring support portion 16c Slit 17 Base portion 17a Fitting convex portion 18a, 18b Terminal wire 19a First spacer 19b Second spacer 20, 20a, 20b, 20c Spacing adjustment portion 21 Screw portion 21a Screw body 21b Pressing portion 21c Knob portion 22 Nut portion 31 First counter plate 31a, 31b, 31c Extension portion 31d Locking portion 32 Second counter plate 32a, 32b, 32c Extension portion 32d Locking portion 33 Screw hole 34a First through hole 34b Second through hole 35 Support frame 35a First support frame 35 b Second support frame 36 Opening 37 Screw 40 Interval adjusting part 41 Pressing body 41a Fitting recess 42 Pressing part 42a Knob part 150 Wiring structure of electronic device 151 Wiring 152 Wiring terminal 153 Electrode terminal 154 Screw

Claims (13)

水晶板と、
前記水晶板の第1面上に配置される第1センサ電極、及び第2面上に配置される第2センサ電極と、
前記第1センサ電極と間隔をあけて対向する第1対向板、及び前記第2センサ電極と間隔をあけて対向する第2対向板と、
前記第1対向板及び前記第2対向板を前記水晶板側に押圧することにより、前記第1対向板と前記第1センサ電極との間隔及び前記第2対向板と前記第2センサ電極との間隔を変化させる間隔調整部と、
を備えるセンサ。
A crystal plate,
A first sensor electrode disposed on the first surface of the quartz plate and a second sensor electrode disposed on the second surface;
A first counter plate facing the first sensor electrode with a gap, and a second counter plate facing the second sensor electrode with a gap;
By pressing the first counter plate and the second counter plate toward the quartz plate, the distance between the first counter plate and the first sensor electrode and the distance between the second counter plate and the second sensor electrode. An interval adjustment unit for changing the interval;
Comprising a sensor.
前記第1対向板又は前記第2対向板は、板を貫通する貫通孔を有する請求項1に記載のセンサ。   The sensor according to claim 1, wherein the first counter plate or the second counter plate has a through-hole penetrating the plate. 前記第1対向板又は前記第2対向板は、第1の前記貫通孔と、第1の前記貫通孔に対して、点対称に配置される複数の第2の前記貫通孔を有する請求項2に記載のセンサ。   The first counter plate or the second counter plate has a first through hole and a plurality of second through holes arranged symmetrically with respect to the first through hole. Sensor. 前記第1対向板及び前記第2対向板は、電気導電性を有し、
前記第1対向板は、前記第1センサ電極と等電位であり、前記第2対向板は、前記第2センサ電極と等電位である請求項1〜3の何れか一項に記載のセンサ。
The first counter plate and the second counter plate have electrical conductivity,
The sensor according to any one of claims 1 to 3, wherein the first counter plate is equipotential with the first sensor electrode, and the second counter plate is equipotential with the second sensor electrode.
前記第1センサ電極及び前記第2センサ電極は、前記水晶板の中央部に配置される請求項1〜4の何れか一項に記載のセンサ。   The sensor according to any one of claims 1 to 4, wherein the first sensor electrode and the second sensor electrode are disposed in a central portion of the crystal plate. 前記第1対向板及び前記第2対向板には、対応するねじ孔が設けられており、
前記間隔調整部は、ねじ部と、ねじ部とら合するナット部を有し、
前記ねじ部は、前記第1対向板のねじ孔及び前記第2対向板のねじ孔を挿通して、前記ナット部とら合している請求項1〜5の何れか一項に記載のセンサ。
The first counter plate and the second counter plate are provided with corresponding screw holes,
The gap adjusting portion has a screw portion and a nut portion mated with the screw portion,
The sensor according to any one of claims 1 to 5, wherein the screw portion is inserted through the screw hole of the first counter plate and the screw hole of the second counter plate and mated with the nut portion.
前記第1対向板の一方の端部は、スペーサを挟んで、前記第2対向板の一方の端部と接合しており、
前記第1対向板の他方の端部と、前記第2対向板の他方の端部には、対応する前記ねじ孔が設けられている請求項6に記載のセンサ。
One end of the first counter plate is joined to one end of the second counter plate across a spacer,
The sensor according to claim 6, wherein the corresponding screw hole is provided in the other end of the first counter plate and the other end of the second counter plate.
前記第1対向板及び前記第2対向板は、板の中心に対して、回転対称に延びる複数の延出部を有しており、
前記延出部それぞれには、前記ねじ孔が設けられている請求項6に記載のセンサ。
The first counter plate and the second counter plate have a plurality of extending portions extending rotationally symmetrically with respect to the center of the plate,
The sensor according to claim 6, wherein each of the extending portions is provided with the screw hole.
前記間隔調整部は、押圧本体と、前記押圧本体から間隔をあけて延びる一対の押圧部を有しており、
前記一対の押圧部の間に、前記第1対向板及び前記第2対向板が挟まれて、前記第1対向板及び前記第2対向板は、前記水晶板側に押圧される請求項1〜5の何れか一項に記載のセンサ。
The spacing adjustment section has a pressing body and a pair of pressing sections extending from the pressing body with a space therebetween,
The first counter plate and the second counter plate are sandwiched between the pair of pressing portions, and the first counter plate and the second counter plate are pressed toward the crystal plate side. The sensor according to any one of 5.
水晶板と、
前記水晶板の第1面上に配置される第1センサ電極、及び第2面上に配置される第2センサ電極と、
前記第1センサ電極と間隔をあけて対向する第1対向板、及び前記第2センサ電極と間隔をあけて対向する第2対向板と、
前記第1対向板及び前記第2対向板を前記水晶板側に押圧することにより、前記第1対向板と前記第1センサ電極との間隔及び前記第2対向板と前記第2センサ電極との間隔を変化させる間隔調整部と、
を備えるセンサにおける前記第1対向板と前記第1センサ電極との間隔及び前記第2対向板と前記第2センサ電極との間隔を調整する方法であって、
前記センサの共振周波数を測定しながら、前記間隔調整部を用いて、前記第1対向板と前記第1センサ電極との間隔及び前記第2対向板と前記第2センサ電極との間隔を調整する方法。
A crystal plate,
A first sensor electrode disposed on the first surface of the quartz plate and a second sensor electrode disposed on the second surface;
A first counter plate facing the first sensor electrode with a gap, and a second counter plate facing the second sensor electrode with a gap;
By pressing the first counter plate and the second counter plate toward the quartz plate, the distance between the first counter plate and the first sensor electrode and the distance between the second counter plate and the second sensor electrode. An interval adjustment unit for changing the interval;
A distance between the first opposing plate and the first sensor electrode and a distance between the second opposing plate and the second sensor electrode in a sensor comprising:
While measuring the resonance frequency of the sensor, the interval adjusting unit is used to adjust the interval between the first counter plate and the first sensor electrode and the interval between the second counter plate and the second sensor electrode. Method.
前記間隔調整部を用いて、前記第1対向板と前記第1センサ電極との間隔及び前記第2対向板と前記第2センサ電極との間隔を狭めていき、前記センサの共振周波数が低下した時点に基づいて、前記第1対向板と前記第1センサ電極が接触し、且つ前記第2対向板と前記第2センサ電極が接触したことを判断し、
前記間隔調整部を用いて、前記第1対向板と前記第1センサ電極との間隔及び前記第2対向板と前記第2センサ電極との間隔を広げて、前記第1対向板と前記第1センサ電極との間隔及び前記第2対向板と前記第2センサ電極との間隔を所定の間隔に調整する請求項10に記載の方法。
Using the gap adjusting unit, the gap between the first counter plate and the first sensor electrode and the gap between the second counter plate and the second sensor electrode were narrowed, and the resonance frequency of the sensor was lowered. Based on the time point, it is determined that the first counter plate and the first sensor electrode are in contact, and the second counter plate and the second sensor electrode are in contact,
Using the distance adjusting unit, the distance between the first counter plate and the first sensor electrode and the distance between the second counter plate and the second sensor electrode are widened, and the first counter plate and the first sensor electrode are expanded. The method according to claim 10, wherein the distance between the sensor electrode and the distance between the second counter plate and the second sensor electrode are adjusted to a predetermined distance.
前記第1対向板と前記第1センサ電極との間に第1スペーサを配置し、且つ前記第2対向板と前記第2センサ電極との間に第2スペーサを配置し、
前記間隔調整部を用いて、前記第1対向板と前記第1センサ電極との間隔及び前記第2対向板と前記第2センサ電極との間隔を狭めていき、前記センサの共振周波数が低下した時点に基づいて、前記第1対向板が第1スペーサを介して前記第1センサ電極と接触し、且つ前記第2対向板が第2スペーサを介して前記第2センサ電極と接触したことを判断し、
前記第1対向板と前記第1センサ電極との間から前記第1スペーサを除去し、且つ前記第2対向板と前記第2センサ電極との間から前記第2スペーサを除去する請求項10に記載の方法。
A first spacer is disposed between the first counter plate and the first sensor electrode, and a second spacer is disposed between the second counter plate and the second sensor electrode;
Using the gap adjusting unit, the gap between the first counter plate and the first sensor electrode and the gap between the second counter plate and the second sensor electrode were narrowed, and the resonance frequency of the sensor was lowered. Based on the time point, it is determined that the first counter plate is in contact with the first sensor electrode through a first spacer, and the second counter plate is in contact with the second sensor electrode through a second spacer. And
11. The method according to claim 10, wherein the first spacer is removed from between the first counter plate and the first sensor electrode, and the second spacer is removed from between the second counter plate and the second sensor electrode. The method described.
水晶板と、
前記水晶板の第1面上に配置される第1センサ電極、及び第2面上に配置される第2センサ電極と、
前記第1センサ電極と間隔をあけて対向する第1対向板、及び前記第2センサ電極と間隔をあけて対向する第2対向板と、
前記第1対向板及び前記第2対向板を前記水晶板側に押圧することにより、前記第1対向板と前記第1センサ電極との間隔及び前記第2対向板と前記第2センサ電極との間隔を変化させる間隔調整部と、
を備えるセンサにおける前記第1対向板と前記第1センサ電極との間隔、又は前記第2対向板と前記第2センサ電極との間隔を、測定対象の隙間と等しくして、前記センサの共振周波数を測定する方法。
A crystal plate,
A first sensor electrode disposed on the first surface of the quartz plate and a second sensor electrode disposed on the second surface;
A first counter plate facing the first sensor electrode with a gap, and a second counter plate facing the second sensor electrode with a gap;
By pressing the first counter plate and the second counter plate toward the quartz plate, the distance between the first counter plate and the first sensor electrode and the distance between the second counter plate and the second sensor electrode. An interval adjustment unit for changing the interval;
The distance between the first counter plate and the first sensor electrode or the distance between the second counter plate and the second sensor electrode in a sensor comprising: How to measure.
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