JP6072611B2 - 二酸化窒素の変換方法および二酸化窒素変換装置 - Google Patents
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Description
ゼオライトおよびシリカゲルから選ばれる少なくとも1種の還元剤が充填される還元反応器と、
前記原料ガス貯留部に貯留される原料ガスを前記還元反応器に供給する原料ガス供給部と、
前記還元反応器内の温度を調整する温度調整部と、
前記原料ガス供給部の原料ガス供給動作および前記温度調整部の温度調整動作を制御する反応制御部であって、
前記原料ガス供給部の原料ガス供給動作を制御し、前記還元反応器内に供給される原料ガスが還元剤と接触して還元反応器内を流過しているときに、二酸化窒素の還元反応が進行して一酸化窒素が生成されるように、前記温度調整部の温度調整動作を制御して、還元反応器内の温度を50〜200℃に調整させる反応制御部と、を備えることを特徴とする二酸化窒素変換装置である。
(化1)
3NO→NO2+N2O …(1)
(化1)
3NO→NO2+N2O …(1)
(化2)
SiO2+3NO2→SiO(NO3)2+NO …(2)
軸線方向に延びる長さ1m、内径2.84cmに形成された円筒状のSUS316L製還元反応器(カラム)内に、還元剤としてモレキュラーシーブ3A(商品名ゼオラムA−3、東ソー社製)408gを充填した。
還元反応器内に、還元剤としてモレキュラーシーブ4A(商品名MS−4A、ユニオン昭和社製)380gを充填したこと以外は実施例1と同様にして、二酸化窒素の還元反応によって生成される一酸化窒素を含む反応ガスを得た。この反応ガスについてFT−IR分析装置を用いて分析したところ、一酸化窒素(NO)の濃度は790〜800ppmで推移し、二酸化窒素(NO2)および亜酸化窒素(N2O)の濃度は1ppm以下(検出限界以下)であった。ただし、還元反応器に対する原料ガスの通気を継続したところ、2日後に、二酸化窒素(NO2)の濃度が1ppm以上となった。また、亜酸化窒素の濃度は1ppm以下(検出限界以下)であった。
還元反応器内に、還元剤としてシリカゲル(脱水用、和光純薬社製)480gを充填したこと以外は実施例1と同様にして、二酸化窒素の還元反応によって生成される一酸化窒素を含む反応ガスを得た。この反応ガスについてFT−IR分析装置を用いて分析したところ、一酸化窒素(NO)の濃度は790〜800ppmで推移し、二酸化窒素(NO2)および亜酸化窒素(N2O)の濃度は1ppm以下(検出限界以下)であった。ただし、還元反応器に対する原料ガスの通気を継続したところ、4日後に、二酸化窒素(NO2)の濃度が1ppm以上となった。また、亜酸化窒素の濃度は1ppm以下(検出限界以下)であった。
還元反応器に、ヘリウム(He)により希釈されて二酸化窒素(NO2)が2400ppm含有された原料ガスを、500ml/min(線速度1.3cm/sec)で通気したこと以外は実施例1と同様にして、二酸化窒素の還元反応によって生成される一酸化窒素を含む反応ガスを得た。この反応ガスについてFT−IR分析装置を用いて分析したところ、一酸化窒素(NO)の濃度は790〜800ppmで推移し、二酸化窒素(NO2)および亜酸化窒素(N2O)の濃度は1ppm以下(検出限界以下)であった。還元反応器に対する原料ガスの通気を5日間継続したが、一酸化窒素、二酸化窒素および亜酸化窒素の濃度は、上記した濃度から変化しなかった。
還元反応器に原料ガスを通気するときに、還元反応器の温度を室温(25℃)としたこと以外は実施例1と同様にした。還元反応器から導出されたガスについてFT−IR分析装置を用いて分析したところ、一酸化窒素(NO)の濃度は1ppm以下(検出限界以下)であった。二酸化窒素の濃度も1ppm以下(検出限界以下)であったが、原料ガスの通気を継続して3時間後に二酸化窒素の濃度が1ppm以上となった。
還元反応器に原料ガスを通気するときに、還元反応器の温度を250℃に調整したこと以外は実施例1と同様にして、二酸化窒素の還元反応によって生成される一酸化窒素を含む反応ガスを得た。この反応ガスについてFT−IR分析装置を用いて分析したところ、一酸化窒素(NO)の濃度がばらついて500〜650ppmで推移し、二酸化窒素(NO2)および亜酸化窒素(N2O)の濃度は1ppm以上であった。
還元反応器に通気する原料ガスとして、窒素(N2)により希釈されて二酸化窒素(NO2)が10%含有された原料ガスを用いたこと以外は実施例1と同様にして、二酸化窒素の還元反応によって生成される一酸化窒素を含む反応ガスを得た。この反応ガスについてFT−IR分析装置を用いて分析したところ、一酸化窒素(NO)の濃度は約3%で推移したが、原料ガスの通気を継続して18分後に二酸化窒素の濃度が1ppm以上となった。
還元反応器内に、活性アルミナ(商品名KHD−24、住友化学社製)600gを充填したこと以外は実施例1と同様にした。還元反応器から導出されたガスについてFT−IR分析装置を用いて分析したところ、一酸化窒素(NO)の濃度は1ppm以下(検出限界以下)であったが、二酸化窒素(NO2)の濃度が2400ppmで推移した。
2 原料ガス供給部
3 還元反応器
4 温度調整部
5 反応制御部
6 反応ガス冷却部
21 圧力調整部
22 流量調整部
71 第1配管
72 第2配管
73 第3配管
100 二酸化窒素変換装置
Claims (3)
- 二酸化窒素が100〜10000ppm含有される、不活性ガスで希釈された原料ガスを、50〜200℃の温度下で、ゼオライトおよびシリカゲルから選ばれる少なくとも1種の還元剤と接触させることによって、二酸化窒素の還元反応を進行させて、一酸化窒素を生成することを特徴とする二酸化窒素の変換方法。
- 前記ゼオライトは、モレキュラーシーブ3Aまたはモレキュラーシーブ4Aであることを特徴とする請求項1に記載の二酸化窒素の変換方法。
- 二酸化窒素が100〜10000ppm含有される、不活性ガスで希釈された原料ガスを貯留する原料ガス貯留部と、
ゼオライトおよびシリカゲルから選ばれる少なくとも1種の還元剤が充填される還元反応器と、
前記原料ガス貯留部に貯留される原料ガスを前記還元反応器に供給する原料ガス供給部と、
前記還元反応器内の温度を調整する温度調整部と、
前記原料ガス供給部の原料ガス供給動作および前記温度調整部の温度調整動作を制御する反応制御部であって、
前記原料ガス供給部の原料ガス供給動作を制御し、前記還元反応器内に供給される原料ガスが還元剤と接触して還元反応器内を流過しているときに、二酸化窒素の還元反応が進行して一酸化窒素が生成されるように、前記温度調整部の温度調整動作を制御して、還元反応器内の温度を50〜200℃に調整させる反応制御部と、を備えることを特徴とする二酸化窒素変換装置。
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| JP2013112094A JP6072611B2 (ja) | 2013-05-28 | 2013-05-28 | 二酸化窒素の変換方法および二酸化窒素変換装置 |
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| JP2013112094A JP6072611B2 (ja) | 2013-05-28 | 2013-05-28 | 二酸化窒素の変換方法および二酸化窒素変換装置 |
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| JP2013112094A Active JP6072611B2 (ja) | 2013-05-28 | 2013-05-28 | 二酸化窒素の変換方法および二酸化窒素変換装置 |
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