JP6086017B2 - Data processing apparatus and data processing program - Google Patents
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Description
本発明は、LSI(Large Scale Integration)製造におけるマスクパターンの形状を抽出することに関する。 The present invention relates to extracting a mask pattern shape in LSI (Large Scale Integration) manufacturing.
現在、LSI製造工程の設計やマスクパターン処理において、多種多様な設計データのマスクパターン(単に、パターンと言う)をMDP(Mask Data Preparation、マスクデータ変換処理)やOPC(光近接効果補正処理)にて、複雑な処理やパターン間のルールやシミュレーションの検証及び演算処理をしている。 Currently, in the design of LSI manufacturing processes and mask pattern processing, mask patterns (simply referred to as patterns) of various design data are converted into MDP (Mask Data Preparation, mask data conversion processing) and OPC (Optical Proximity Effect Correction Processing). Thus, complex processing, rules between patterns, simulation verification, and arithmetic processing are performed.
効率的に検証期間を短縮するために、レイアウトデータから取得した代表形式データに基づいて、レイアウトデータが設計ルールに違反しているか否かを検証することが知られている。 In order to efficiently shorten the verification period, it is known to verify whether layout data violates a design rule based on representative format data acquired from layout data.
LSI製造工程の設計に係る処理は、近年、チップ処理規模が増大していくことや、パターン処理の精度を追及することにより、より複雑で大規模かつ高度なものになっている。 Processing related to the design of an LSI manufacturing process has become more complicated, large-scale, and sophisticated in recent years as the chip processing scale has increased and the accuracy of pattern processing has been pursued.
これら複雑な処理を行う場合、予め処理前に内在するパターンの特徴や特性を抽出し把握することで、パターンデータ処理の処理精度の向上や演算処理の高速化等に必要な情報としてフィードバックさせることが求められている。例えば、OPC補正するようなパターン補正する処理においては、補正処理アルゴリズムの苦手な(例えば、ホットスポット)パターンに対して、予めこのホットスポットパターンが存在するか否かを処理前に把握することで、そのパターンを避けたり、修正したりすることが求められるようになっている。 When performing these complex processes, the features and characteristics of the patterns that exist before processing are extracted and grasped in advance, and fed back as information necessary for improving the processing accuracy of pattern data processing and speeding up arithmetic processing. Is required. For example, in a pattern correction process such as OPC correction, for a pattern (for example, a hot spot) that is not good for the correction processing algorithm, it is determined in advance whether or not this hot spot pattern exists before the process. , It is required to avoid or modify the pattern.
レイアウトデータが設計ルールに違反しているか否かを検証する前述した技術では、ホットスポットの存在を事前に把握することが困難である。従って、ホットスポット形状や特徴を抽出することを効率的に行うことができなかった。 With the above-described technique for verifying whether layout data violates a design rule, it is difficult to grasp the presence of a hot spot in advance. Therefore, it has not been possible to efficiently extract hot spot shapes and features.
1つの側面において、本発明の目的は、設計されたマスクパターンの特徴的な形状の存在を事前に抽出して把握することである。 In one aspect, an object of the present invention is to extract and grasp in advance the existence of a characteristic shape of a designed mask pattern.
本実施例の一態様によれば、データ処理装置は、チップに設計されたマスクパターンの部分形状を表す記号配列を登録した配列ライブラリを記憶した記憶部と、設計データで示されるパターンが形成される領域を記号化して、前記配列ライブラリの前記記号配列で検索することによって前記部分形状を抽出する抽出部とを有する。 According to one aspect of the present embodiment, the data processing apparatus includes a storage unit that stores an array library in which a symbol array representing a partial shape of a mask pattern designed on a chip is stored, and a pattern indicated by design data. An extraction unit that extracts the partial shape by symbolizing a region to be extracted and searching the symbol array in the sequence library.
また、上記課題を解決するための手段として、コンピュータに上記データ処理装置として機能させるためのプログラム、そのプログラムを記録した記録媒体、及びデータ処理方法とすることもできる。 Further, as means for solving the above problems, a program for causing a computer to function as the data processing apparatus, a recording medium recording the program, and a data processing method may be used.
本実施例の一態様によれば、LSI製造におけるマスクパターンの特徴的な形状を効率的に抽出でき、チップ特性の分析を精度良く行える。 According to one aspect of the present embodiment, a characteristic shape of a mask pattern in LSI manufacturing can be efficiently extracted, and chip characteristics can be analyzed with high accuracy.
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。先ず、本発明を適用しなかった場合の、ホットスポットのパターン形状又は特徴的な形状部分を抽出する方法(関連技術)について説明する。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. First, a method (related art) for extracting a hot spot pattern shape or a characteristic shape portion when the present invention is not applied will be described.
先ず、設計者によるデータビューイングによる方法がある。図1は、データビューイングによる方法例を説明するための図である。図1において、マスクパターンデータを階層化した設計データ構成情報1aに基づいて、設計者が、パーソナルコンピュータ(PC)等のコンピュータ装置を使用して、パターン形状BB222を表示装置に表示させた例が示されている。パターン形状BB222のデータ1bが表示装置に表示されると、設計者が、ホットスポットと成り得る形状を目視で確認する。 First, there is a method based on data viewing by a designer. FIG. 1 is a diagram for explaining an example of a method by data viewing. In FIG. 1, an example in which a designer displays a pattern shape BB222 on a display device using a computer device such as a personal computer (PC) based on design data configuration information 1a in which mask pattern data is hierarchized. It is shown. When the data 1b of the pattern shape BB222 is displayed on the display device, the designer visually confirms a shape that can be a hot spot.
この方法では、設計データ構成情報1aを用いて、設計者が階層毎のマスクパターンデータを表示装置に表示させて確認する必要があり、設計者の負担となっている。また、ホットスポットと成り得る形状の抽出は、設計者の経験に依存してその精度に違いがある。一定の精度で抽出できない場合がある。 In this method, it is necessary for the designer to display and confirm the mask pattern data for each layer on the display device using the design data configuration information 1a, which is a burden on the designer. In addition, the extraction of shapes that can be hot spots differs in accuracy depending on the experience of the designer. There are cases where extraction cannot be performed with a certain degree of accuracy.
上述したように、LSI内のチップ内の局所的かつ特別なパターンについて把握することができるが、設計者等の人による場合は工数がかかり過ぎる上、類似した形状が多く含まれている場合、人の視認では正確さに欠け、チップ内を全て把握することは非常に艱難である。 As described above, it is possible to grasp the local and special pattern in the chip in the LSI, but it takes too much man-hours if it is by a person such as a designer, and if many similar shapes are included, It is inaccurate for human vision, and it is very difficult to grasp the entire chip.
また、パターンマッチングによりホットスポットと成り得る形状を抽出する方法がある。図2は、パターンマッチングによる方法例を説明するための図である。図2において、補正処理アルゴリズムが苦手とするホットスポットパターンが予めライブラリ2aに登録されている。チップ内にそのパターンが存在するか否かの判断は、ライブラリ2aに登録されてパターン形状の1つ1つと、マスクパターンのデータ2bによって表されるパターン形状[A]、[B]、[C]等の夫々とを比較することによって、パターン種の抽出が行われる。 There is also a method of extracting a shape that can be a hot spot by pattern matching. FIG. 2 is a diagram for explaining a method example by pattern matching. In FIG. 2, hot spot patterns that the correction algorithm is not good at are registered in the library 2a in advance. It is determined whether or not the pattern exists in the chip by determining the pattern shape [A], [B], [C] registered in the library 2a and represented by each pattern shape and the mask pattern data 2b. ] Are compared with each other to extract the pattern type.
パターンマッチング技術では、予め目的としたパターン図形及びセルをライブラリとして登録し、その登録したパターンが、検索する対象(ここではチップ内パターン)の中に存在するかを見つけ出す技術である。パターンマッチング技術では、ライブラリ登録したパターンデータと完全に一致するパターン及びセルを検出するだけでなく、ルーズマッチングと呼ばれる先に登録したライブラリに許容値を持たせる事で、許容値内のパターンに対して抽出する汎用性を向上させることもできる。 The pattern matching technique is a technique in which target pattern figures and cells are registered in advance as a library, and the registered pattern is found in a search target (in-chip pattern here). Pattern matching technology not only detects patterns and cells that completely match the pattern data registered in the library, but also gives tolerance values to the previously registered library called loose matching. The versatility of extraction can also be improved.
データビューイングやパターンマッチング技術によるパターン特徴(例えば、ホットスポットのパターン形状)の識別及び抽出は、目的とするパターンについて検索を繰り返し、登録パターンの存在有無を認識する技術である。これら技術は、ある抽出したい目的パターンに対しての検索作業となるが、その目的パターンが多種多様に多数存在し、それら全てを検索する場合、パターンマッチング技術では検索する対象が膨大となり、検索する時間も膨大となってしまうため非現実的となってしまう。 Identification and extraction of pattern features (for example, hot spot pattern shape) by data viewing or pattern matching technology is a technology for recognizing the presence or absence of a registered pattern by repeatedly searching for a target pattern. These technologies are search operations for a target pattern to be extracted, but when there are a wide variety of target patterns and all of them are searched, the pattern matching technology has a huge search target, and the search is performed. Since the time is enormous, it becomes unrealistic.
本実施の形態では、多種多様なパターン特徴の識別及び抽出において、汎用的なパターンライブラリの作成と登録を簡単に実行し、チップ内に存在するパターンの全てに対してラベリングを施すこと、そのラベリングされた情報を分類して蓄積することから、チップ内にどんなパターンがどれだけ存在するのかを把握する。 In this embodiment, in the identification and extraction of a wide variety of pattern features, a general-purpose pattern library is easily created and registered, and all the patterns existing in the chip are labeled. Since the collected information is classified and stored, it is understood how many patterns exist in the chip.
そのために、本実施の形態では、チップパターンデータを全て記号化し、図形を表す記号の配列ライブラリに基づいてパターン形状の特徴を識別して分類する。これらの分類した情報は、チップ内全てのパターンに対して行い、パターン情報を蓄積し、全パターン情報の形状、出現頻度、出現場所(Map)等をチップ特性として出力する。 Therefore, in this embodiment, all the chip pattern data is symbolized, and the features of the pattern shape are identified and classified based on the symbol array library representing the figure. These classified information is applied to all patterns in the chip, pattern information is accumulated, and the shape, appearance frequency, appearance location (Map), etc. of all pattern information are output as chip characteristics.
本実施の形態に係るデータ処理装置は、図3に示すようなハードウェア構成を有する。図3は、データ処理装置のハードウェア構成を示す図である。図3において、データ処理装置100は、コンピュータによって制御される端末であって、CPU(Central Processing Unit)11と、RAM(Random Access Memory)12と、ROM(Read-Only Memory)13と、補助記憶装置14と、インタフェース(I/F)装置15と、表示装置16と、通信装置17と、キーボード18と、マウス19と、ドライブ装置19とを有する。CPU11、と、RAM12と、ROM13と、補助記憶装置14と、I/F15と、ドライブ装置19とは、バスBに接続される。表示装置16と、通信装置17と、入力装置18とは、I/F装置15を介してバスBに接続される。 The data processing apparatus according to the present embodiment has a hardware configuration as shown in FIG. FIG. 3 is a diagram illustrating a hardware configuration of the data processing apparatus. In FIG. 3, a data processing apparatus 100 is a terminal controlled by a computer, and includes a central processing unit (CPU) 11, a random access memory (RAM) 12, a read-only memory (ROM) 13, and an auxiliary memory. The device 14 includes an interface (I / F) device 15, a display device 16, a communication device 17, a keyboard 18, a mouse 19, and a drive device 19. The CPU 11, RAM 12, ROM 13, auxiliary storage device 14, I / F 15, and drive device 19 are connected to the bus B. The display device 16, the communication device 17, and the input device 18 are connected to the bus B via the I / F device 15.
CPU11は、主記憶装置12に格納されたプログラムに従ってデータ処理装置100を制御する。RAM12及びROM13は主記憶装置としての役割を有し、CPU11にて実行されるプログラム、CPU11での処理に必要なデータ、CPU11での処理にて得られたデータ等を格納する。また、RAM12の一部の領域が、CPU11での処理に利用されるワークエリアとして割り付けられる。 The CPU 11 controls the data processing device 100 according to a program stored in the main storage device 12. The RAM 12 and the ROM 13 serve as main storage devices, and store programs executed by the CPU 11, data necessary for processing by the CPU 11, data obtained by processing by the CPU 11, and the like. Further, a partial area of the RAM 12 is allocated as a work area used for processing by the CPU 11.
補助記憶装置14には、ハードディスクドライブが用いられ、各種処理を実行するためのプログラム等のデータを格納する。補助記憶装置14に格納されているプログラムの一部がRAM12にロードされ、CPU11に実行されることによって、各種処理が実現される。記憶部130は、RAM12、ROM13、及び補助記憶装置14に相当する。 The auxiliary storage device 14 uses a hard disk drive, and stores data such as programs for executing various processes. A part of the program stored in the auxiliary storage device 14 is loaded into the RAM 12 and executed by the CPU 11 to realize various processes. The storage unit 130 corresponds to the RAM 12, the ROM 13, and the auxiliary storage device 14.
入力装置14は、キーボード18a、マウス18b等を有し、ユーザがデータ処理装置100による処理に必要な各種情報を入力するために用いられる。表示装置15は、CPU11の制御のもとに必要な各種情報を表示する。 The input device 14 includes a keyboard 18a, a mouse 18b, and the like, and is used for a user to input various information necessary for processing by the data processing device 100. The display device 15 displays various information required under the control of the CPU 11.
通信装置17は、例えばインターネット、LAN(Local Area Network)等に接続し、外部装置との間の通信制御をするための装置である。通信装置17による通信は無線又は有線に限定されるものではない。 The communication device 17 is a device that is connected to, for example, the Internet, a LAN (Local Area Network), etc., and controls communication with an external device. Communication by the communication device 17 is not limited to wireless or wired communication.
データ処理装置100によって行われる処理を実現するプログラムは、例えば、CD−ROM(Compact Disc Read-Only Memory)等の記憶媒体20によってデータ処理装置100に提供される。即ち、プログラムが保存された記憶媒体20がドライブ装置19にセットされると、ドライブ装置19が記憶媒体20からプログラムを読み出し、その読み出されたプログラムがバスBを介して補助記憶装置14にインストールされる。そして、プログラムが起動されると、補助記憶装置14にインストールされたプログラムに従ってCPU11がその処理を開始する。尚、プログラムを格納する媒体としてCD−ROMに限定するものではなく、コンピュータが読み取り可能な媒体であればよい。コンピュータ読取可能な記憶媒体として、CD−ROMの他に、DVDディスク、USBメモリ等の可搬型記録媒体、フラッシュメモリ等の半導体メモリであっても良い。 A program that realizes processing performed by the data processing apparatus 100 is provided to the data processing apparatus 100 by a storage medium 20 such as a CD-ROM (Compact Disc Read-Only Memory). That is, when the storage medium 20 storing the program is set in the drive device 19, the drive device 19 reads the program from the storage medium 20, and the read program is installed in the auxiliary storage device 14 via the bus B. Is done. When the program is activated, the CPU 11 starts its processing according to the program installed in the auxiliary storage device 14. The medium for storing the program is not limited to a CD-ROM, and any medium that can be read by a computer may be used. As a computer-readable storage medium, in addition to a CD-ROM, a portable recording medium such as a DVD disk or a USB memory, or a semiconductor memory such as a flash memory may be used.
図4は、データ処理装置の機能構成例を示す図である。図4において、データ処理装置100は、主に、抽出部40と、配列ライブラリ登録部50とを有する。また、記憶部130には、設計データ31と、レイヤーテーブル32と、記号ライブラリ33と、ラベリングデータ34と、配列ライブラリ35と、特徴抽出データ36と、ライブラリ用図形データ37とが記憶される。 FIG. 4 is a diagram illustrating a functional configuration example of the data processing apparatus. In FIG. 4, the data processing apparatus 100 mainly includes an extraction unit 40 and an array library registration unit 50. The storage unit 130 also stores design data 31, a layer table 32, a symbol library 33, labeling data 34, an array library 35, feature extraction data 36, and library graphic data 37.
抽出部40は、ブロック化部41と、記号化部42と、検索部43と、分析部44と、結果出力部45と、新規配列ライブラリ作成部46とを有する。 The extracting unit 40 includes a blocking unit 41, a symbolizing unit 42, a searching unit 43, an analyzing unit 44, a result output unit 45, and a new sequence library creating unit 46.
ブロック化部41は、設計データ31とレイヤーテーブル32とから配線等のパターンが形成されるレイヤーを特定して、任意のブロックサイズでブロック化する。 The blocking unit 41 identifies a layer on which a pattern such as a wiring is formed from the design data 31 and the layer table 32, and blocks it with an arbitrary block size.
記号化部42は、記号ライブラリ33を参照して、1ブロック毎にドット単位で、所定の記号化方法でパターン形状を記号に変換する。1ドットサイズは、最小線幅又は最小間隔に基づいて任意に設定される。 The symbolization unit 42 refers to the symbol library 33 and converts the pattern shape into symbols by a predetermined symbolization method in units of dots for each block. One dot size is arbitrarily set based on the minimum line width or the minimum interval.
検索部43は、記号化部42によって記号変換されたデータが、配列ライブラリ35に該当する記号の配列がないか検索するラベル検索を行う。ラベル検索とは、ブロック全体に対して、同一記号配列を検索することである。検索部43は、同一記号配列にはラベリングを行い、該当データ箇所はラベリングデータ34として記憶する。検索部43は、ラベリングされたデータ箇所をスキップすることによって、処理を効率的に行える。 The search unit 43 performs a label search that searches the sequence library 35 for the symbol sequence corresponding to the data converted by the symbolization unit 42. The label search is a search for the same symbol arrangement for the entire block. The search unit 43 performs labeling on the same symbol arrangement, and stores the corresponding data portion as labeling data 34. The search unit 43 can perform the processing efficiently by skipping the labeled data portion.
分析部44は、全てのブロックの検索結果をラベリングデータ34から取得して、特徴を同じとするパターン形状毎の出現頻度、累積数等を分析する。 The analysis unit 44 acquires search results of all blocks from the labeling data 34, and analyzes the appearance frequency, the cumulative number, and the like for each pattern shape having the same feature.
結果出力部45は、分析部44による分析結果を示すチップ特徴集出データ36を記憶部130に出力し、表示装置16に表示する。 The result output unit 45 outputs the chip feature collection data 36 indicating the analysis result by the analysis unit 44 to the storage unit 130 and displays it on the display device 16.
新規配列ライブラリ作成部46は、検索部43によって記号化部42によって作成された記号配列が新規な配列であると判断された場合、即ち、配列ライブラリ35に存在しなかった場合、新規配列に係るライブラリを作成する。新規配列が配列ライブラリ35に追加される。 The new sequence library creation unit 46 relates to the new sequence when the search unit 43 determines that the symbol sequence created by the symbolization unit 42 is a new sequence, that is, when it does not exist in the sequence library 35. Create a library. A new sequence is added to the sequence library 35.
配列ライブラリ登録部50は、ブロック化部51と、記号化部52と、選定部53と、登録部54とを有する。 The sequence library registration unit 50 includes a blocking unit 51, a symbolization unit 52, a selection unit 53, and a registration unit 54.
ブロック化部51は、ライブラリ用図形データ37とレイヤーテーブル32とから配線等のパターンが形成されるレイヤーを特定して、任意のブロックサイズでブロック化する。配列ライブラリ35の作成の初回では、抽出部40のブロック化部41における設計データ31の代わりに任意のライブラリ用図形データ37を用いる。 The blocking unit 51 identifies a layer on which a pattern such as a wiring is formed from the library graphic data 37 and the layer table 32 and blocks the layer with an arbitrary block size. In the first creation of the sequence library 35, arbitrary library graphic data 37 is used instead of the design data 31 in the blocking unit 41 of the extraction unit 40.
記号化部52は、記号ライブラリ33を参照して、1ブロック毎にドット単位で、所定の記号化方法でパターン形状を記号に変換する。1ドットサイズは、最小線幅又は最小間隔に基づいて任意に設定される。抽出部40の記号化部42と同様の処理を行う。 The symbolizing unit 52 refers to the symbol library 33 and converts the pattern shape into symbols by a predetermined symbolizing method in units of dots for each block. One dot size is arbitrarily set based on the minimum line width or the minimum interval. The same processing as the symbolizing unit 42 of the extracting unit 40 is performed.
選定部53は、1ブロック内の、配列ライブラリ35への登録対象となる記号領域を1以上取得する。 The selection unit 53 acquires one or more symbol areas to be registered in the sequence library 35 in one block.
登録部54は、選定部53によって選定された領域の記号を配列ライブラリ35への登録する記号配列にして登録する。配列ライブラリ35への登録の際に、登録部54は、上下左右のいずれかへズレたパターン形状であっても、同一のパターン形状として認識できるようにグループ化する。ズレによるパターン形状の誤認識を防止すると共に、不要な登録データを削減することができる。 The registration unit 54 registers the symbol of the area selected by the selection unit 53 as a symbol array to be registered in the array library 35. At the time of registration in the array library 35, the registration unit 54 groups the pattern shapes so that they can be recognized as the same pattern shape even if the pattern shape is shifted vertically or horizontally. In addition to preventing erroneous recognition of the pattern shape due to misalignment, unnecessary registration data can be reduced.
記憶部130に記憶されるデータについて説明する。 Data stored in the storage unit 130 will be described.
設計データ31は、設計されたチップの全レイヤーの配線、接続、セル等のデータを含み、レイヤー毎にデータが管理されている。レイヤーテーブル32には、層(レイヤー)情報が予め登録されている。 The design data 31 includes data on wiring, connections, cells, etc. of all layers of the designed chip, and the data is managed for each layer. In the layer table 32, layer (layer) information is registered in advance.
記号ライブラリ33は、ドット内のパターンの部分形状毎に1記号を対応付けたライブラリである。パターン形状を記号化する際に参照され、任意の領域内のパターン形状が領域内でドット毎に記号に置き換えられる。 The symbol library 33 is a library in which one symbol is associated with each partial shape of the pattern in the dot. The pattern shape is referred to when symbolizing the pattern shape, and the pattern shape in an arbitrary region is replaced with a symbol for each dot in the region.
ラベリングデータ34は、パターン形状の特徴抽出対象の設計データ31に対して、1度検出された記号配列をラベリングしたデータである。同一の記号配列をラベリングしておくことで、特徴抽出処理を効率的に行うことができる。 The labeling data 34 is data obtained by labeling the symbol arrangement detected once with respect to the design data 31 of the pattern shape feature extraction target. Feature extraction processing can be performed efficiently by labeling the same symbol arrangement.
配列ライブラリ35は、所定領域内のパターン形状を該所定領域の形状に対応させて変換された記号配列をライブラリとして記憶したデータファイルである。配列ライブラリ35では、上下左右のいずれかにズレたのみで同一のパターン形状は、同一のグループとして管理される。 The array library 35 is a data file that stores a symbol array converted as a library by making the pattern shape in a predetermined area correspond to the shape of the predetermined area. In the arrangement library 35, the same pattern shape is managed as the same group only by shifting to the upper, lower, left or right.
特徴抽出データ36は、分析部44によって分析された設計データ31から抽出された特徴となるパターン形状の分析結果を示す。 The feature extraction data 36 indicates the analysis result of the pattern shape that is the feature extracted from the design data 31 analyzed by the analysis unit 44.
ライブラリ用図形データ37は、設計者によって予め認識されている1以上のパターン形状を有する。 The library graphic data 37 has one or more pattern shapes recognized in advance by the designer.
次に、データ処理装置100によって行われるパターン形状の特徴を抽出する抽出処理について説明する。図5は、抽出処理を説明するためのフローチャート図である。図5において、データ処理装置100では、抽出部40のブロック化部41によってブロック化処理が行われる(STEP1)。 Next, an extraction process for extracting pattern shape features performed by the data processing apparatus 100 will be described. FIG. 5 is a flowchart for explaining the extraction process. In FIG. 5, in the data processing apparatus 100, the blocking process is performed by the blocking unit 41 of the extraction unit 40 (STEP 1).
STEP1において、ブロック化部41は、設計データ31を読み込み、レイヤーテーブル32から予め登録されている層(レイヤー)情報を設定後(ステップS11)、設計データ31を参照して処理対象のレイヤーのデータ領域を分解して(ステップS12)、層(レイヤー)単位でチップ全体をブロック化(フィールド化)する(ステップS13)。ブロック化後に、ブロック化部41は、ブロック毎にマスクパターンを記憶部130の作業域に展開する(ステップS14)。 In STEP 1, the blocking unit 41 reads the design data 31, sets layer information registered in advance from the layer table 32 (step S 11), and refers to the design data 31 to process layer data. The region is decomposed (step S12), and the entire chip is blocked (fielded) in units of layers (step S13). After the blocking, the blocking unit 41 develops a mask pattern for each block in the work area of the storage unit 130 (step S14).
ブロック化する1ブロックの大きさは特に設定せず、任意の大きさとする。層(レイヤー)単位とは、設計データの構造が階層状になっており、それを構成する一つ一つの階層、例えば、それがISO層であったり、トランジスタ層であったり、或いはメタル層であったりする。 The size of one block to be blocked is not particularly set and is set to an arbitrary size. A layer unit is a hierarchical structure of design data. Each layer constituting the structure, for example, an ISO layer, a transistor layer, or a metal layer. There is.
次に、抽出部40は、記号化部42による記号化処理を行う(STEP2)。ステップS15〜S17がSTEP2に相当する。 Next, the extraction unit 40 performs a symbolization process by the symbolization unit 42 (STEP 2). Steps S15 to S17 correspond to STEP2.
STEP2において、記号化部42は、記号ライブラリ33を参照して、記号化ルールに準じて1ブロック内の全てのパターンに対して記号変換を行う(ステップS15)。 In STEP 2, the symbolizing unit 42 refers to the symbol library 33 and performs symbol conversion on all patterns in one block according to the symbolization rule (step S 15).
記号ライブラリ33で管理される1記号に変換される領域の大きさは、1ドットで定義される矩形である。また、1ドットは、テクノロジにより異なるが、対象テクノロジのミニマム線幅・間隔以下(任意)とする。 The size of the area converted into one symbol managed by the symbol library 33 is a rectangle defined by one dot. In addition, although one dot varies depending on the technology, it is set to be equal to or smaller than the minimum line width / interval of the target technology (arbitrary).
記号化部42は、1ブロック内の各ドットを1記号で置き換えた記号マップ6a(図9)を、記憶部130の作業領域に展開して(ステップS16)、記号ラベルを読み込む(ステップS17)。 The symbolizing unit 42 expands the symbol map 6a (FIG. 9) in which each dot in one block is replaced with one symbol in the work area of the storage unit 130 (step S16), and reads the symbol label (step S17). .
次に、抽出部40は、検索部43によって検索処理を行う(STEP3)。ステップS18〜S22がSTEP3に相当する。 Next, the extraction unit 40 performs a search process by the search unit 43 (STEP 3). Steps S18 to S22 correspond to STEP3.
STEP3において、検索部43は、1ブロック内の記号変換されたデータに対して、辞書的存在である配列ライブラリ35の各記号配列に一致する箇所を検索し、記号配列が一致する箇所を検出した場合、ラベル検索を行う(ステップS18)。 In STEP 3, the search unit 43 searches the symbol-converted data in one block for a location that matches each symbol sequence in the sequence library 35 that is lexicographically present, and detects a location that matches the symbol sequence. If so, a label search is performed (step S18).
ラベル検索では、ラベリングデータ34を参照することによって、既に記録されているラベリングされた領域をスキップする。また、ラベル検索によって、配列ライブラリ35によって同一のグループに分類された記号配列を記号マップ6a(図9)内で検出した場合、同一の形状であると判断する。 In the label search, by referring to the labeling data 34, an already recorded labeled area is skipped. Further, when the symbol search classified into the same group by the sequence library 35 is detected in the symbol map 6a (FIG. 9) by the label search, it is determined that they have the same shape.
検索部43は、一度検出した記号配列が一致する場所をラベリングデータ34として記録して(ステップS20)、次の記号配列で検索する際はその場所をスキップする。 The search unit 43 records the place where the symbol arrangement once detected matches as the labeling data 34 (step S20), and skips the place when searching with the next symbol arrangement.
そして、検索部43は、ブロック内の配列ライブラリ35を参照した検索を終了したか否かを判断する(ステップS20)。配列ライブラリ35の全ラベルについて検索終了したか否かが判断される。配列ライブラリ35に未検索のラベルが存在する場合、検索部43は、ステップS18へ戻り、上述した同様の処理を繰り返す。 Then, the search unit 43 determines whether or not the search with reference to the sequence library 35 in the block has been completed (step S20). It is determined whether or not the search has been completed for all the labels in the sequence library 35. If there is an unsearched label in the sequence library 35, the search unit 43 returns to step S18 and repeats the same processing described above.
一方、配列ライブラリ35の全ラベルについて検索終了した場合、検索部43は、新規配列が有るか否かを判断する(ステップS20−2)。即ち、ブロック内に未だラベル検索を終了していないドット領域が存在するか否かが判断される。 On the other hand, when the search is completed for all the labels in the sequence library 35, the search unit 43 determines whether there is a new sequence (step S20-2). That is, it is determined whether or not there is a dot area in the block for which label search has not been completed yet.
新規配列が有る場合、検索部43は、何れの記号配列も未検出のドット領域の新規配列を、新規配列ライブラリ作成部46によって配列ライブラリ35へ登録する(ステップS25)。 When there is a new sequence, the search unit 43 registers the new sequence of the dot area in which no symbol sequence is detected in the sequence library 35 by the new sequence library creation unit 46 (step S25).
新規配列ライブラリ作成部46は、後述される図14で説明されるように、新規配列の記号領域の形状に従って、所定の左上端から記号が抽出され、記号領域内で折り返す毎に折り返し記号「*」を付加して、記号領域の右下端まで抽出することによって、登録用の記号配列を作成して、配列ライブラリ35に登録する。登録後、抽出部40は、ステップS20へ進み、検索部43にラベリングデータ34として記録させる。 As will be described later with reference to FIG. 14, the new sequence library creation unit 46 extracts symbols from a predetermined upper left corner according to the shape of the symbol area of the new sequence, and each time it wraps within the symbol area, the return symbol “* ”And extracting to the lower right end of the symbol area, a registration symbol array is created and registered in the sequence library 35. After registration, the extraction unit 40 proceeds to step S20 and causes the search unit 43 to record it as the labeling data 34.
一方、新規配列が無かった場合、即ち、未検出のドット領域は無く、全域をいずれかの記号配列で埋めることができた場合、検索部43は、ブロック内の全域に対してラベリングを終了したと判断して、ラベリングデータ34を用いて、ブロック内を分類する(ステップS21)。 On the other hand, when there is no new arrangement, that is, when there is no undetected dot area and the whole area can be filled with any symbol arrangement, the search unit 43 finishes labeling for the whole area in the block. And labeling data 34 is used to classify the block (step S21).
ブロック内分類後、検索部43は、未処理のブロックが有るか否かを判定する(ステップS22)。検索部43によって未処理のブロックが有ると判断された場合、抽出部40は、記号化部43による処理から上述した処理を繰り返す。 After the intra-block classification, the search unit 43 determines whether there is an unprocessed block (step S22). When the search unit 43 determines that there is an unprocessed block, the extraction unit 40 repeats the above-described processing from the processing by the symbolizing unit 43.
一方、検索部43によって未処理のブロックがない、即ち、全てのブロックに対して処理を完了したと判断された場合、抽出部40は、分析部44によって分析処理を行う(STEP4)。ステップS23がSTEP4に相当する。 On the other hand, when the search unit 43 determines that there is no unprocessed block, that is, it is determined that the processing has been completed for all blocks, the extraction unit 40 performs analysis processing by the analysis unit 44 (STEP 4). Step S23 corresponds to STEP4.
分析部44は、検索部43によるブロック毎のブロック内分類結果を用いて、設計したチップ全体における記号配列の出現頻度及び累積を分析する(ステップS23)。 The analysis unit 44 analyzes the appearance frequency and accumulation of the symbol arrangement in the entire designed chip using the intra-block classification result for each block by the search unit 43 (step S23).
分析後、抽出部40は、結果出力部45によって結果出力処理を行う(STEP5)。ステップS24がSTEP5に相当する。 After the analysis, the extraction unit 40 performs a result output process by the result output unit 45 (STEP 5). Step S24 corresponds to STEP5.
結果出力部45は、分析部44による記号配列の出現頻度及び累積を分析することによって得られた、1チップ内のマスクパターンの特徴に係る特徴抽出データ36を記憶部130に記憶する(ステップS24)。また、結果出力部45は、表示装置16に特徴抽出データ36を表示する。 The result output unit 45 stores, in the storage unit 130, the feature extraction data 36 relating to the features of the mask pattern in one chip obtained by analyzing the appearance frequency and accumulation of the symbol array by the analysis unit 44 (step S24). ). In addition, the result output unit 45 displays the feature extraction data 36 on the display device 16.
特徴抽出データ36によって、全パターンの形状や頻度のヒストグラム化、出現場所等のマップ化を行うことができ、チップの特性の把握を適切に行うことができる。 With the feature extraction data 36, it is possible to form a histogram of the shape and frequency of all patterns, map the appearance location, etc., and properly understand the characteristics of the chip.
上述した抽出処理では、パターンの記号化を行うことにより、検索が済んだパターンやライブラリを把握することができ、且つ、ブロック内に検索によって検出しなかった領域がある場合、つまり、1ブロック内でラベリングされていない記号配列が残った場合、未検出の状態を維持して次のステップへ進むことも可能である。検出しなかった記号配列は、新規配列ライブラリ作成部40によって配列ライブラリ35に随時登録されることにより、チップ全体の特性(例えば、マスクパターンの形状)を漏れなく抽出することができる。 In the extraction process described above, by performing pattern symbolization, it is possible to grasp a pattern or library that has been searched, and when there is an area that has not been detected by the search within the block, that is, within one block If a symbol array that is not labeled in (2) remains, it is possible to maintain the undetected state and proceed to the next step. The symbol sequences that have not been detected are registered in the sequence library 35 as needed by the new sequence library creation unit 40, so that the characteristics of the entire chip (for example, the shape of the mask pattern) can be extracted without omission.
ブロック化部51によって行われるSTEP1(ステップS11〜S14)での処理例について図6で説明する。図6は、ブロック化部によって行われるSTEP1での処理例を示す図である。図6では、STEP1での処理に対応付けて同一ステップ番号が付されている。 A processing example in STEP 1 (steps S11 to S14) performed by the blocking unit 51 will be described with reference to FIG. FIG. 6 is a diagram illustrating a processing example in STEP 1 performed by the blocking unit. In FIG. 6, the same step number is assigned in association with the processing in STEP 1.
ブロック化部51は、設計データ31とレイヤーテーブル32とから、マスクパターンが形成されるレイヤーを設定する(ステップS11)。ブロック化部51は、設定したレイヤーに対して、データ領域を分解して(ステップS12)、任意の大きさでブロック化する(ステップS13)。 The blocking unit 51 sets a layer on which a mask pattern is formed from the design data 31 and the layer table 32 (step S11). The blocking unit 51 decomposes the data area with respect to the set layer (step S12), and blocks it with an arbitrary size (step S13).
ブロック化部51は、ブロック化後、ブロック毎にパターン展開を行う(ステップS14)。マスクパターンの形状に係るデータが記憶部130の作業領域に展開される。 The blocking unit 51 performs pattern development for each block after the blocking (step S14). Data relating to the shape of the mask pattern is developed in the work area of the storage unit 130.
記号ライブラリ33について図7及び図8を参照して説明する。図7は、記号ライブラリの例を示す図である。 The symbol library 33 will be described with reference to FIGS. FIG. 7 is a diagram illustrating an example of a symbol library.
図7(A)は、記号ライブラリ33には1ドット内のパターンが登録されている。基準となるマスクパターンの部分形状と記号とが対応付けられて管理され、記号ライブラリ33は有限で表される。1ドット内は4分割される。1ドット内の4つの矩形の0〜4個の塗り潰しの組み合わせによって、マスクパターンの部分形状が分類される。16個の塗り潰しの組み合わせに対して、記号A〜Pが対応付けられる。記号Aは、1ドット内の4つの矩形のいずれも塗り潰しのない空のドットに対応付けられている。 In FIG. 7A, a pattern within one dot is registered in the symbol library 33. The reference mask pattern partial shape and the symbol are managed in association with each other, and the symbol library 33 is represented in a finite manner. One dot is divided into four. The partial shape of the mask pattern is classified by a combination of 0 to 4 fills of four rectangles in one dot. Symbols A to P are associated with the 16 combinations of fills. The symbol A is associated with an empty dot that is not filled in any of the four rectangles in one dot.
図7(B)及び図7(C)では、後述される同一記号と見なす記号化ルールによって同一と見なされる塗り潰しパターンを示している。図7(A)において1ドット全体が空の記号Aと、1ドット全体が塗り潰しの記号Fとは除かれる。 FIG. 7B and FIG. 7C show the filling patterns that are regarded as the same by the symbolization rule that is regarded as the same symbol, which will be described later. In FIG. 7A, the symbol A in which the entire dot is empty and the symbol F in which the entire dot is filled are excluded.
図7(B)では、図7(A)に示す記号に'(ダッシュ)を付加し、図7(C)では、図7(A)に示す記号に''(ダブルダッシュ)を付加して示している。図7(B)と図7(C)とは、互いに逆の方向に部分形状がズレた状態となる。図7(B)では、部分形状が1ドットの外側へとズレた場合を示し、図7(C)では、部分形状が1ドットの内側へとズレた場合を示している。 In FIG. 7B, “(dash) is added to the symbol shown in FIG. 7A, and in FIG. 7C,“ (double dash) is added to the symbol shown in FIG. 7A. Show. FIG. 7B and FIG. 7C are in a state where the partial shapes are shifted in opposite directions. FIG. 7B shows a case where the partial shape is shifted to the outside of one dot, and FIG. 7C shows a case where the partial shape is shifted to the inside of one dot.
図8は、同一記号と見なす記号化ルールを説明するための図である。図8にて、1ドットの4つの頂点を左上から時計回りに、LU、RU、RD、及びLDとする。 FIG. 8 is a diagram for explaining a symbolization rule regarded as the same symbol. In FIG. 8, four vertices of one dot are LU, RU, RD, and LD clockwise from the upper left.
記号化ルール1:同じ位置の1つの頂点のみに接している1ドット内の部分形状は同一であると見なす。 Symbolization rule 1: The partial shapes in one dot contacting only one vertex at the same position are considered to be the same.
図7(A)の記号Bの部分形状は頂点LUのみに接している。図7(B)の記号B'と図7(C)の記号B''のように、頂点LUのみに接している部分形状は、全て記号Bの部分形状と同一であると見なす。 The partial shape of the symbol B in FIG. 7A is in contact with only the vertex LU. Like the symbol B ′ in FIG. 7B and the symbol B ″ in FIG. 7C, the partial shapes in contact with only the vertex LU are all considered to be the same as the partial shape of the symbol B.
同様に、頂点RUのみに接している図7(B)の記号C'と図7(C)の記号C''の部分形状は、図7(A)の記号Cの部分形状と同一であると見なす。 Similarly, the partial shapes of the symbol C ′ in FIG. 7B and the symbol C ″ in FIG. 7C that are in contact with only the vertex RU are the same as the partial shape of the symbol C in FIG. Is considered.
また、頂点LDのみに接している図7(B)の記号D'と図7(C)の記号D''の部分形状は、図7(A)の記号Dの部分形状と同一であると見なす。 Further, the partial shapes of the symbol D ′ in FIG. 7B and the symbol D ″ in FIG. 7C that are in contact with only the vertex LD are the same as the partial shape of the symbol D in FIG. Consider.
更に、頂点RDのみに接している図7(B)の記号E'と図7(C)の記号E''の部分形状は、図7(A)の記号Eの部分形状と同一であると見なす。 Furthermore, the partial shapes of the symbol E ′ in FIG. 7B and the symbol E ″ in FIG. 7C that are in contact with only the vertex RD are the same as the partial shape of the symbol E in FIG. Consider.
記号化ルール2:同じ位置の左右又は上下の2つの頂点に接している1ドット内の部分形状は同一であると見なす。 Symbolization rule 2: It is considered that the partial shapes in one dot contacting the left and right or upper and lower vertices of the same position are the same.
図7(A)の記号Gの部分形状は左右の2つの頂点LDと頂点RDに接している。図7(B)の記号G'と図7(C)の記号G''のように、頂点LDと頂点RDに接している部分形状は、全て記号Gの部分形状と同一であると見なす。 The partial shape of the symbol G in FIG. 7A is in contact with the left and right vertices LD and RD. Like the symbol G ′ in FIG. 7B and the symbol G ″ in FIG. 7C, the partial shapes in contact with the vertex LD and the vertex RD are all considered to be the same as the partial shape of the symbol G.
同様に、左右の2つの頂点LUと頂点RUに接する図7(B)の記号H'と図7(C)の記号H''の部分形状は、図7(A)の記号Hの部分形状と同一であると見なす。 Similarly, the partial shape of the symbol H ′ in FIG. 7B and the symbol H ″ in FIG. 7C contacting the two left and right vertices LU and RU is the partial shape of the symbol H in FIG. Is considered the same.
また、上下の2つの頂点LUと頂点LDに接する図7(B)の記号I'と図7(C)の記号I''の部分形状は、図7(A)の記号Iの部分形状と同一であると見なす。 Further, the partial shape of the symbol I ′ in FIG. 7 (B) and the symbol I ″ in FIG. 7 (C) in contact with the two upper and lower vertices LU and LD is the partial shape of the symbol I in FIG. 7 (A). Consider identical.
更に、上下の2つの頂点RUと頂点RDに接する図7(B)の記号J'と図7(C)の記号J''の部分形状は、図7(A)の記号Jの部分形状と同一であると見なす。 Furthermore, the partial shape of the symbol J ′ in FIG. 7B and the symbol J ″ in FIG. 7C that are in contact with the upper and lower vertices RU and RD is the partial shape of the symbol J in FIG. Consider identical.
記号化ルール3:同じ方向の対角線上の2つの頂点に接している1ドット内の部分形状は同一であると見なす。 Symbolization rule 3: Partial shapes in one dot that are in contact with two vertices on a diagonal line in the same direction are considered to be the same.
図7(A)の記号Kの部分形状は対角線上の2つの頂点LUと頂点RDに接している。図7(B)の記号K'と図7(C)の記号K''のように、頂点LUと頂点RDに接している部分形状は、全て記号Kの部分形状と同一であると見なす。 The partial shape of the symbol K in FIG. 7A is in contact with the two vertices LU and RD on the diagonal line. Like the symbol K ′ in FIG. 7B and the symbol K ″ in FIG. 7C, the partial shapes in contact with the vertex LU and the vertex RD are all considered to be the same as the partial shape of the symbol K.
同様に、対角線上の2つの頂点LDと頂点RUに接する図7(A)の記号Lの部分形状と、図7(B)の記号L'と図7(C)の記号L''の部分形状とは同一であると見なす。 Similarly, the partial shape of the symbol L in FIG. 7A that touches the two vertices LD and RU on the diagonal line, the portion of the symbol L ′ in FIG. 7B and the symbol L ″ in FIG. 7C. The shape is considered the same.
記号化ルール4:同じ位置の3つの頂点に接している1ドット内の部分形状は同一であると見なす。 Symbolization rule 4: Partial shapes within one dot that are in contact with three vertices at the same position are considered to be the same.
図7(A)の記号Mの部分形状は3つの頂点LUと頂点LDと頂点RDとに接している。図7(B)の記号M'と図7(C)の記号M''のように、頂点LUと頂点LDと頂点RDに接している部分形状は、全て記号Mの部分形状と同一であると見なす。 The partial shape of the symbol M in FIG. 7A is in contact with the three vertices LU, vertices LD, and vertices RD. Like the symbol M ′ in FIG. 7B and the symbol M ″ in FIG. 7C, the partial shapes in contact with the vertex LU, the vertex LD, and the vertex RD are all the same as the partial shape of the symbol M. Is considered.
同様に、3つの頂点LDと頂点RUと頂点RDとに接する図7(A)の記号Nの部分形状と、図7(B)の記号N'と図7(C)の記号N''の部分形状とは同一であると見なす。 Similarly, the partial shape of the symbol N in FIG. 7A that contacts the three vertices LD, RU, and RD, the symbol N ′ in FIG. 7B, and the symbol N ″ in FIG. 7C. The partial shape is considered to be the same.
また、3つの頂点LUと頂点RUと頂点RDとに接する図7(A)の記号Oの部分形状と、図7(B)の記号O'と図7(C)の記号O''の部分形状とは同一であると見なす。 Further, the partial shape of the symbol O in FIG. 7A that contacts the three vertices LU, the vertex RU, and the vertex RD, the symbol O ′ in FIG. 7B, and the symbol O ″ in FIG. 7C. The shape is considered the same.
更に、3つの頂点LDと頂点LUと頂点RUとに接する図7(A)の記号Pの部分形状と、図7(B)の記号P'と図7(C)の記号P''の部分形状とは同一であると見なす。 Further, the partial shape of the symbol P in FIG. 7A that touches the three vertices LD, LU, and RU, the symbol P ′ in FIG. 7B, and the symbol P ″ in FIG. 7C. The shape is considered the same.
このように、1ドット内の部分形状が接する頂点の個数と接する頂点の位置関係とに基づいて、ズレのある部分形状を同一と見なすことができる。 Thus, based on the number of vertices touched by the partial shape in one dot and the positional relationship between the touching vertices, the shifted partial shapes can be regarded as the same.
図9は、記号化部による記号化処理を説明するための図である。図9において、記号化部42は、ブロック毎に、記号ライブラリ33を参照して、1ドットずつ順にマスクパターンの部分形状を記号化して、記号マップ6aを展開する。1ドット全体が部分形状である場合、4つの頂点全てと接するため、記号ライブラリ33から記号Fを取得し、ドット位置に対応付けて「F」が記憶部130に記憶される。 FIG. 9 is a diagram for explaining the encoding process by the encoding unit. In FIG. 9, the symbolizing section 42 refers to the symbol library 33 for each block, symbolizes the partial shape of the mask pattern one by one in order, and develops the symbol map 6a. When one dot is in a partial shape, it touches all four vertices, so the symbol F is acquired from the symbol library 33 and “F” is stored in the storage unit 130 in association with the dot position.
記号化部42による記号化処理後の検索処理について図10で詳述する。図10は、検索部による検索処理を説明するための図である。図10において、記号化処理後、抽出部40の検索部43は、記号マップ位置を設定する(ステップS50)。検索部43は、ブロック内に座標系を設定して検索処理を開始する。 The search process after the encoding process by the encoding unit 42 will be described in detail with reference to FIG. FIG. 10 is a diagram for explaining search processing by the search unit. In FIG. 10, after the symbolization process, the search unit 43 of the extraction unit 40 sets a symbol map position (step S50). The search unit 43 sets the coordinate system in the block and starts the search process.
検索部43は、配列ライブラリ33から配列の大きい順に記号配列を取り出して、記号マップ位置に基づいて、ブロック内の記号配列と比較して(ステップS51)、ブロック内に配列ライブラリ33の記号配列と一致する部分が有ったか否かを判断する(ステップS52)。 The search unit 43 extracts the symbol arrays from the array library 33 in the descending order of the sequences, compares the symbol arrays with the symbol arrays in the block based on the symbol map position (step S51), and the symbol array of the array library 33 in the block. It is determined whether or not there is a matching part (step S52).
検索部43は、配列ライブラリ33の記号配列と一致する部分が無かった場合、配列ライブラリ33から次の記号配列を取得して(ステップS51−2)、ステップS51及びS52の処理を繰り返す。 If there is no portion that matches the symbol array of the sequence library 33, the search unit 43 acquires the next symbol sequence from the sequence library 33 (step S51-2), and repeats the processes of steps S51 and S52.
検索部43は、配列ライブラリ33の記号配列と一致する部分が有った場合、記号配列に対応付けられた形状情報と、ブロック内の記号配列が一致した部分の位置情報とをラベリングデータ34に登録する(ステップS53)。 When there is a portion that matches the symbol arrangement of the sequence library 33, the search unit 43 uses the shape information associated with the symbol arrangement and the position information of the portion that matches the symbol arrangement in the block as the labeling data 34. Register (step S53).
検索部43は、記憶部130に展開した記号マップ6aに対して、一致した部分に登録済みを設定して更新する(ステップS54)。 The search unit 43 updates the symbol map 6a developed in the storage unit 130 by setting registered to the matched portion (step S54).
そして、検索部43は、配列ライブラリ33内の全ての記号配列を検索したか否かを判断する(ステップS55)。検索部43は、全ての記号配列を検索したか否かを判断する(ステップS55)。検索していない記号配列が配列ライブラリ33に残っている場合、検索部43は、ステップS51−2へと進み、上述した同様の処理を繰り返す。 Then, the search unit 43 determines whether or not all the symbol sequences in the sequence library 33 have been searched (step S55). The search unit 43 determines whether all the symbol sequences have been searched (step S55). If a symbol sequence that has not been searched remains in the sequence library 33, the search unit 43 proceeds to step S51-2 and repeats the same processing described above.
一方、配列ライブラリ33内の全ての記号配列を検索した場合、検索部43は、ブロック内のラベリングデータ34をソートする(ステップS56)。ソートは、形状情報、座標等に基づいて行う。また、形状情報でソートすることにより、形状毎の頻度を得ることができる。 On the other hand, when all the symbol sequences in the sequence library 33 have been searched, the search unit 43 sorts the labeling data 34 in the blocks (step S56). Sorting is performed based on shape information, coordinates and the like. Moreover, the frequency for every shape can be obtained by sorting by shape information.
抽出部40は、検索部43での処理を終了し、未処理のブロックが有るか否かを判断する(ステップS56)。未処理のブロックが有る場合、即ち、チップ内の全てのブロックに対して処理を終了した場合、抽出部40は、次のブロックを検索対象として(ステップS56−2)、ステップS50へ戻り上述同様の処理を繰り返す。 The extraction unit 40 ends the process in the search unit 43 and determines whether there is an unprocessed block (step S56). When there is an unprocessed block, that is, when the processing is completed for all the blocks in the chip, the extraction unit 40 sets the next block as a search target (step S56-2), returns to step S50, and performs the same as described above. Repeat the process.
一方、未処理のブロックが無い場合、抽出部40は、分析部44によって分析処理を行う。分析部44は、各形状の出現頻度及び累積を分析する(ステップS58)。分析は、ブロック毎にソートしてブロック毎に行っても良いし、1レイヤー全体でソートしてレイヤーに対して行ってもよい。分析部44は、ラベリングデータ34から形状、位置、出現頻度等の情報を取得して、チップ情報として分析をして再集計を行う。分析部44によって、ヒストグラム、マップ等による分析結果が得られる。 On the other hand, when there is no unprocessed block, the extraction unit 40 performs analysis processing by the analysis unit 44. The analysis unit 44 analyzes the appearance frequency and accumulation of each shape (step S58). The analysis may be performed for each block after sorting for each block, or may be performed for each layer after sorting for one entire layer. The analysis unit 44 acquires information such as a shape, a position, and an appearance frequency from the labeling data 34, analyzes the information as chip information, and performs recalculation. The analysis unit 44 obtains an analysis result using a histogram, a map, or the like.
図11は、ラベリングデータのデータ構成を説明するための図である。図11において、ラベリングデータ34は、ラベルNo.、位置情報(領域)、形状、記号配列、ブロックNo.、回転角度、ズレ等の項目を有する。 FIG. 11 is a diagram for explaining the data structure of labeling data. In FIG. 11, the labeling data 34 is labeled No. , Position information (region), shape, symbol arrangement, block No. , Items such as rotation angle and displacement.
ラベルNo.は、配列ライブラリ35の記号配列に一致する部分に、一致した記号配列に対して一意に与えられる番号である。同一ブロック中に1回又は複数回ラベリングされる番号である。位置情報(領域)は、配列ライブラリ35の記号配列に一致する部分を特定する座標情報である。1ドットを1目盛りとした尺度で、位置が指定される。記号配列の領域が特定される。 Label No. Is a number that is uniquely given to a matching symbol sequence in a portion that matches the symbol sequence of the sequence library 35. It is a number that is labeled once or multiple times in the same block. The position information (region) is coordinate information that identifies a portion that matches the symbol array of the array library 35. The position is specified on a scale with one dot as one scale. The region of the symbol array is specified.
形状情報は、記号配列によって表されるパターン形状を示す情報である。記号配列は、ブロック内で検出された配列ライブラリ35の記号配列を示す。ブロックNo.は、レイヤー内のブロックを特定する番号である。 The shape information is information indicating the pattern shape represented by the symbol array. The symbol sequence indicates the symbol sequence of the sequence library 35 detected in the block. Block No. Is a number that identifies a block in the layer.
回転角度は、基準となる形状(基準形状)に対する回転角度を示す。回転角度が異なる場合であっても、形状情報は、基準形状で管理される。ズレは、形状のズレ方向を示している。パターン形状がズレて配置されている場合であっても、形状情報は、基準形状で管理される。 The rotation angle indicates a rotation angle with respect to a reference shape (reference shape). Even when the rotation angles are different, the shape information is managed by the reference shape. The shift indicates the shift direction of the shape. Even when the pattern shapes are shifted and arranged, the shape information is managed by the reference shape.
図11では、ブロックBL1内のパターンに対して、ラベルNo.[1]〜[5]でラベリングされた例を示している。図11に示すラベリングデータ34では、ラベルNo.[1]の形状と、ラベルNo.[2]の90度回転した形状とは、同一形状「I字−1」で検索されたことを示している。また、ラベルNo.[4]の形状と、ラベルNo.[5]の半ドットLR方向にズレた形状とは、同一形状「L字−1」で検索されたことを示している。LR方向は、左又は右に半ドットズレていることを示し、UD方向が示されれば、上又は下に半ドットズレていることを示す。 In FIG. 11, the label No. is assigned to the pattern in the block BL1. The example labeled in [1]-[5] is shown. In the labeling data 34 shown in FIG. The shape of [1] and the label No. The shape rotated by 90 degrees in [2] indicates that the same shape “I-character-1” is searched. Also, label No. The shape of [4] and label No. The shape displaced in the half dot LR direction of [5] indicates that the search was performed with the same shape “L-character −1”. The LR direction indicates a half-dot shift to the left or right, and if the UD direction is indicated, it indicates a half-dot shift upward or downward.
次に、検索部43の検索処理例について図12で説明する。図12は、検索処理例を示す図である。図12において、辞書的存在である配列ライブラリ35には、ラベルNo.[1]、[2]、[3]、・・・で特定される記号配列が含まれているとする。検索部43は、記号配列の大きなものから順に、ブロック内に同じ記号配列が存在するか否かを検索する。この例において、検索順番を[1]−>[8]−>[3]−>・・・−>[2]とする。 Next, a search processing example of the search unit 43 will be described with reference to FIG. FIG. 12 is a diagram illustrating an example of search processing. In FIG. 12, the sequence library 35 which is a lexicographic entity has a label No. It is assumed that the symbol arrangement specified by [1], [2], [3],. The search unit 43 searches whether the same symbol arrangement exists in the block in order from the largest symbol arrangement. In this example, the search order is [1]-> [8]-> [3]-> ...-> [2].
記号マップMP1に対して、ラベルNo.[1]の記号配列で検索し、ラベルNo.[1]の記号配列を2箇所検出する。次に、ラベルNo.[1]を記録した領域をスキップして、ラベルNo.[8]の記号配列で検索し、ラベルNo.[8]の記号配列を1箇所検出する。 For the symbol map MP1, label No. Search with the symbol array of [1], label No. Two symbol sequences of [1] are detected. Next, label No. The area in which [1] is recorded is skipped and the label No. Search with the symbol sequence of [8], label No. One place of the symbol array of [8] is detected.
続けて、ラベルNo.[1]及び[8]を記録した領域をスキップして、ラベルNo.[3]の記号配列で検索し、ラベルNo.[3]の記号配列を1箇所検出する。このように順に検索処理を行い、ラベルNo.[2]の記号配列で検索し、ラベルNo.[2]の記号配列を1箇所検出する。 Subsequently, label No. By skipping the area where [1] and [8] are recorded, the label No. Search with the symbol sequence of [3], label No. One symbol array of [3] is detected. In this way, the search process is sequentially performed, and the label No. Search with the symbol sequence of [2], label No. One place of the symbol array of [2] is detected.
上述したように、記号配列の大きなものから順にラベル検索を行い、検出毎にラベリングデータ34にラベル記録が行われる。ブロック全体の領域に対してラベル記録が完了すると、次のブロックに対する上述同様の処理により、ラベリングデータ34には、一致した領域に対応付けてラベルが記録される。 As described above, label search is performed in order from the largest symbol array, and label recording is performed on the labeling data 34 for each detection. When label recording is completed for the entire area of the block, a label is recorded in the labeling data 34 in association with the matched area by the same processing as described above for the next block.
次に、配列ライブラリ登録部50による登録処理について説明する。図13は、配列ライブラリの登録処理を説明するためのフローチャート図である。図13において、データ処理装置100では、配列ライブラリ登録部50のブロック化部51によってブロック化処理が行われる(STEP1)。STEP1の処理は、抽出部40のSTEP1の処理と同様(図5)であるが、設計データ31の代わりにライブラリ用図形データ37が用いられる。 Next, registration processing by the sequence library registration unit 50 will be described. FIG. 13 is a flowchart for explaining the sequence library registration process. In FIG. 13, in the data processing apparatus 100, the blocking process is performed by the blocking unit 51 of the array library registration unit 50 (STEP 1). The processing of STEP 1 is the same as the processing of STEP 1 of the extraction unit 40 (FIG. 5), but library graphic data 37 is used instead of the design data 31.
STEP1において、ブロック化部51は、ライブラリ用図形データ37を読み込み、レイヤーテーブル32から予め登録されている層(レイヤー)情報を設定後(ステップS71)、ライブラリ用図形データ37を参照して処理対象のレイヤーのデータ領域を分解して(ステップS72)、層(レイヤー)単位でチップ全体をブロック化(フィールド化)する(ステップS73)。ブロック化後に、ブロック化部51は、ブロック毎にマスクパターンを記憶部130の作業域に展開する(ステップS74)。 In STEP 1, the blocking unit 51 reads the library graphic data 37, sets layer information registered in advance from the layer table 32 (step S 71), and then refers to the library graphic data 37 to be processed. The layer data area is decomposed (step S72), and the entire chip is made into blocks (fields) in units of layers (step S73). After the blocking, the blocking unit 51 develops the mask pattern for each block in the work area of the storage unit 130 (step S74).
次に、配列ライブラリ登録部50は、記号化部52によって記号化処理を行う(STEP2)。ステップS75〜S76がSTEP2に相当する。STEP2において、記号化部52は、記号ライブラリ33を参照して、記号化ルールに準じて1ブロック内の全てのパターンに対して記号変換を行う(ステップS75)。 Next, the sequence library registration unit 50 performs symbolization processing by the symbolization unit 52 (STEP 2). Steps S75 to S76 correspond to STEP2. In STEP 2, the symbolizing unit 52 refers to the symbol library 33 and performs symbol conversion on all patterns in one block according to the symbolization rule (step S 75).
記号ライブラリ33で管理される1記号に変換される領域の大きさは、1ドットで定義される矩形であることは、抽出部40での処理の場合と同様である。 The size of the area converted into one symbol managed by the symbol library 33 is a rectangle defined by one dot, as in the case of the processing in the extraction unit 40.
記号化部52は、1ブロック内の各ドットを1記号で置き換えた記号マップを、記憶部130の作業領域に展開する(ステップS76)。 The symbolizing unit 52 develops a symbol map in which each dot in one block is replaced with one symbol in the work area of the storage unit 130 (step S76).
次に、配列ライブラリ登録部50は、選定部53による選定処理を行う(STEP3)。ステップS77がSTEP3に相当する。STEP3において、選定部53は、記号領域を選定する(ステップS77)。選定する領域の大きさは任意である。また、選定した領域が互いに重ならなければ、選定する位置は任意である。設計者が適宜選定して良い。 Next, the sequence library registration unit 50 performs selection processing by the selection unit 53 (STEP 3). Step S77 corresponds to STEP3. In STEP 3, the selection unit 53 selects a symbol area (step S77). The size of the area to be selected is arbitrary. If the selected areas do not overlap each other, the position to be selected is arbitrary. The designer may select appropriately.
そして、配列ライブラリ登録部50は、選定した記号領域に対して登録部54による登録処理を行う(STEP3)。ステップS78〜S81がSTEP4に相当する。 Then, the sequence library registration unit 50 performs registration processing by the registration unit 54 on the selected symbol area (STEP 3). Steps S78 to S81 correspond to STEP4.
STEP4において、登録部54は、記号マップから選定部53によって選定された記号領域から所定順で記号を抽出し(ステップS78)、配列ライブラリ35に登録用の記号配列に加工する(ステップS79)。ステップS78及びS79は、記号配列を作成することに相当する。 In STEP 4, the registration unit 54 extracts symbols in a predetermined order from the symbol area selected by the selection unit 53 from the symbol map (step S78), and processes the symbol array for registration in the array library 35 (step S79). Steps S78 and S79 correspond to creating a symbol array.
また、登録部54は、記号配列を基準配列とし、基準配列と実質的に同一形状であると見なしてグルーピングされる記号配列を基準配列から作成する(ステップS80)。そして、登録部54は、基準配列とグルーピングされる記号配列とを、配列ライブラリ35に登録する(ステップS81)。登録時には、登録する記号配列によってブロック内を検索し、一致した記号領域の選定を抑止するようにすることが望ましい。配列ライブラリ登録部50は、この処理を終了する。 Further, the registration unit 54 uses the symbol array as a reference array, and creates a symbol array that is grouped by regarding the symbol array as substantially the same shape as the reference array (step S80). Then, the registration unit 54 registers the reference array and the grouped symbol array in the array library 35 (step S81). At the time of registration, it is desirable to search within the block by the symbol arrangement to be registered and to suppress the selection of matching symbol areas. The sequence library registration unit 50 ends this process.
図14は、記号配列の登録処理の概要を説明するための図である。図14において、図13で説明したSTEP3及びSTEP4は、抽出する形状に係る記号配列の登録を終了するまで繰り返される。 FIG. 14 is a diagram for explaining the outline of the symbol array registration process. In FIG. 14, STEP 3 and STEP 4 described in FIG. 13 are repeated until registration of the symbol array relating to the shape to be extracted is completed.
STEP3のステップS77において、ブロック内で選定された記号領域8aは、4×6ドットの領域である。 In step S77 of STEP 3, the symbol area 8a selected in the block is a 4 × 6 dot area.
STEP4のステップS78及びS79において、記号領域8aの左上端から記号が抽出され、記号領域8a内で折り返す毎に折り返し記号「*」が付加される。記号領域8aの右下端まで抽出されることによって、記号領域8aの記号配列が作成される。 In steps S78 and S79 of STEP 4, a symbol is extracted from the upper left end of the symbol area 8a, and a return symbol “*” is added every time it is turned back in the symbol area 8a. By extracting to the lower right end of the symbol area 8a, a symbol array of the symbol area 8a is created.
記号領域8aに対して、記号配列8b「GGGG*HHHF*HHAF*GGGF*HHHH」が作成され、例えば、配列ライブラリ35に、ラベルNo.「5」で登録される。また、記号配列8bと実質同一であると見なされる記号配列が作成され、グルーピングされて配列ライブラリ35に登録される。 A symbol array 8b “GGGG * HHHF * HHAF * GGGF * HHHH” is created for the symbol region 8a. Registered with “5”. Also, a symbol array that is considered to be substantially the same as the symbol array 8 b is created, grouped, and registered in the array library 35.
STEP3及びSTEP4の繰り返しによる記号配列の登録処理例について図15及び図16で説明する。図15及び図16は、記号配列の登録処理例を説明するための図である。 An example of symbol array registration processing by repeating STEP 3 and STEP 4 will be described with reference to FIGS. 15 and 16 are diagrams for explaining an example of symbol array registration processing.
図15では、図13のSTEP2〜STEP3に相当する処理例が示されている。記号領域の選定がなされた1ブロックに対して、記号領域毎にラベリングがなされた状態が示されている。 FIG. 15 shows a processing example corresponding to STEP2 to STEP3 of FIG. A state where labeling is performed for each symbol area is shown for one block in which the symbol area is selected.
図16では、ラベリングされた記号領域から、図14で説明した手順によって記号配列が作成され配列ライブラリ35に登録された状態を示している。ラベルNo.[1]〜[7]の記号配列が配列ライブラリ35に登録される。 FIG. 16 shows a state in which a symbol array is created from the labeled symbol area by the procedure described in FIG. 14 and registered in the array library 35. Label No. The symbol sequences [1] to [7] are registered in the sequence library 35.
図15及び図16において、抽出した部分形状[1]の記号配列が配列ライブラリ35に登録される。次に、部分形状[2]の記号配列も登録され、順に、部分形状[3]・・・[7]の記号配列も登録されることにより、配列ライブラリ35が構築されていく。 In FIG. 15 and FIG. 16, the symbol array of the extracted partial shape [1] is registered in the array library 35. Next, the symbol array of the partial shape [2] is also registered, and the symbol library of the partial shapes [3]... [7] is also registered in order, whereby the sequence library 35 is constructed.
配列ライブラリ35へは、できるだけ特徴ある形状部分を表した記号配列を登録していく。大きすぎても小さすぎても特徴が見出せなくなるため、図18に示すように、部分形状を包囲する位の大きさで記号化して登録することが望ましい。また、登録用の記号配列の作成ルールは、図14で説明した通りであり、左から右へ上から下への順で登録用の記号配列が作成される。 In the sequence library 35, symbol sequences representing as many characteristic shape parts as possible are registered. Since features cannot be found if the size is too large or too small, it is desirable that the partial shape be symbolized and registered as shown in FIG. Further, the rule for creating the symbol array for registration is as described with reference to FIG. 14, and the symbol array for registration is created in the order from top to bottom from left to right.
配列ライブラリ35への登録の際のグルーピング処理について図17で説明する。図17は、配列ライブラリのデータ構成例を示す図である。図17において、配列ライブラリ35は、ラベル、ズレ分類、記号配列、記号領域サイズ等の項目を有し、グループ毎に記号配列が記憶される。 The grouping process at the time of registration in the sequence library 35 will be described with reference to FIG. FIG. 17 is a diagram illustrating a data configuration example of the sequence library. In FIG. 17, the array library 35 has items such as a label, a deviation classification, a symbol array, and a symbol area size, and a symbol array is stored for each group.
記号領域内の部分形状は類似する文字、数値等の形で分類され、文字、数値等で表現した情報をラベルと言う。ズレ分類は、ズレのない基準、上下(UD)、左右(LR)、上下左右の4つの分類を含む。 The partial shapes in the symbol area are classified in the form of similar characters, numerical values, etc., and information expressed by the characters, numerical values, etc. is called a label. The deviation classification includes four classifications: a standard without deviation, top and bottom (UD), left and right (LR), and top and bottom and left and right.
基準は、ドット単位で塗り潰しで部分形状を示す記号配列に相当する。従って、記号配列は、A、F、*で表される。上下(UD)のズレは、基準の記号配列(基準配列)が半ドット上にズレる、又は、下にズレた場合の記号配列であることを示す。左右(LR)のズレは、基準配列が半ドット左にズレる、又は、右にズレた場合の記号配列であることを示す。上下左右のズレは、基準配列が左上にズレる、右上にズレる、左下にズレる、又は、右下にズレた場合の記号配列であることを示す。 The reference corresponds to a symbol array that shows a partial shape by filling in dots. Therefore, the symbol arrangement is represented by A, F, *. The vertical (UD) shift indicates that the reference symbol array (reference array) is a symbol array when shifted half a dot up or down. The left / right (LR) shift indicates that the reference array is a symbol array when shifted to the left by half a dot or to the right. The vertical / horizontal shift indicates that the reference array is a symbol array when shifted to the upper left, shifted to the upper right, shifted to the lower left, or shifted to the lower right.
記号配列は、ズレ分類に対応した記号領域内の部分形状を記号で示す。記号領域サイズは、記号領域をドットで示す。 The symbol arrangement indicates a partial shape in the symbol region corresponding to the deviation classification with a symbol. The symbol area size indicates the symbol area with dots.
図17の配列ライブラリ35では、ラベル「コの字」として認識されるグループと、ラベル「T字」として認識されるグループとが例示されている。「コの字」のグループにおいて、基準となる記号配列は「*FFF*AAF*FAF*AAF*FFF*」であり、その記号領域サイズは「3×5」ドットである。 In the array library 35 of FIG. 17, a group recognized as a label “U-shaped” and a group recognized as a label “T-shaped” are illustrated. In the “U-shaped” group, the reference symbol arrangement is “* FFF * AAF * FAF * AAF * FFF *”, and the symbol area size is “3 × 5” dots.
上下(UD)のズレでは、記号配列は「*GGG*HHF*GAF*HAF*GGF*HHH*」であり、その記号領域サイズは「3×6」ドットである。左右(LR)のズレでは、記号配列は「*JFFI*AAJI*JIJI*AAJI*JFFI*」であり、その記号領域サイズは「4×5」ドットである。上下左右のズレでは、記号配列は「*EGGD*CHOI*EDJI*CBJI*EGNI*CHHB*」であり、その記号領域サイズは「4×6」ドットである。 In the vertical (UD) shift, the symbol arrangement is “* GGG * HHF * GAF * HAF * GGF * HHH *”, and the symbol area size is “3 × 6” dots. In the left / right (LR) shift, the symbol array is “* JFFI * AAJI * JIJI * AAJI * JFFI *”, and the symbol area size is “4 × 5” dots. In the vertical and horizontal misalignment, the symbol array is “* EGGD * CHOI * EDJI * CBJI * EGNI * CHHB *”, and the symbol area size is “4 × 6” dots.
ラベル「T字」のグループでは、基準となる記号配列は「*FFF*AFA*AFA*AFA*」であり、その記号領域サイズは「3×4」ドットである。また、上下(UD)、左右(LR)、上下左右の各ズレに対応した記号配列が示されている。 In the group of the label “T”, the reference symbol arrangement is “* FFF * AFA * AFA * AFA *”, and the symbol area size is “3 × 4” dots. In addition, symbol arrangements corresponding to vertical (UD), horizontal (LR), vertical and horizontal misalignments are shown.
次に、記号領域の選定とパターンのラベルについて図18で説明する。図18は、配列ライブラリへの登録例を示す図である。図18において、点線で示される矩形が選定された領域を示す。特徴的なパターンの部分形状を抽出できるように記号領域が選定される。自由度、抽出制約等は、調整可能で任意設定である。 Next, the selection of the symbol area and the label of the pattern will be described with reference to FIG. FIG. 18 is a diagram illustrating an example of registration in the sequence library. In FIG. 18, a region indicated by a rectangle indicated by a dotted line is shown. A symbol area is selected so that a partial shape of a characteristic pattern can be extracted. The degree of freedom, extraction constraints, and the like are adjustable and can be arbitrarily set.
図18(A)には、部分形状は同一であるが、記号領域の選定の仕方の違いにより抽出パターンが変わる例を示している。同じL/S形状、L端形状であっても余白部分を含めて選定した場合(左)と、余白部分を含めないで選定した場合(右)とで、配列ライブラリ35への登録は異なる。例えば、左の場合は、ラベル「L/S−1」と「L端−1」として登録される。右の場合は、ラベル「L/S−2」と「L端−2」として登録される。 FIG. 18A shows an example in which the extraction pattern changes depending on the selection method of the symbol area, although the partial shapes are the same. Even when the L / S shape and the L end shape are the same, registration in the sequence library 35 differs depending on whether the selection is made including the blank portion (left) or not (left). For example, in the case of the left, the labels “L / S-1” and “L end-1” are registered. In the case of the right, the labels “L / S-2” and “L end-2” are registered.
図18(B)には、パターン形成時に、パターン同士が接触するブリッジ(BRIDGE)と、パターンが断線するネック(NECK)が発生するようなホットスポット(危険箇所)のパターンの登録において、同様なL合形状が登録された場合を示している。例えば、左の場合は、ラベル「L合−1」として登録される。右の場合は、ラベル「L合−2」として登録される。 FIG. 18B shows a similar pattern for registering a hot spot (dangerous part) pattern in which a bridge (BRIDGE) where the patterns are in contact with each other and a neck (NECK) where the pattern is disconnected occurs during pattern formation. The case where the L shape is registered is shown. For example, in the case of the left, it is registered as the label “L go-1”. In the case of the right, it is registered as the label “L go-2”.
図18(C)には、ホットスポットになり得る他の部分形状の例を示している。同様なコ合形状の場合、左の場合は、ラベル「コ合−1」として登録される。右の場合は、ラベル「コ合−2」として登録される。このように、回転やミラー等のパターンの登録も可能である。 FIG. 18C shows an example of another partial shape that can become a hot spot. In the case of the similar joint shape, in the case of the left, it is registered as a label “co-join-1”. In the case of the right, it is registered as a label “Kou-2”. In this way, patterns such as rotation and mirror can be registered.
図19は、分析処理の結果例を示す図である。図19(A)には、ラベリングデータ34から得られた特徴抽出データ36に基づいて、ラベルを横軸に示し、縦軸にラベル毎の累計を示している。また、図19(B)には、抽出されたラベル毎に色分けしたレイヤーの表示例を示している。 FIG. 19 is a diagram illustrating an example of a result of the analysis process. In FIG. 19A, based on the feature extraction data 36 obtained from the labeling data 34, the labels are shown on the horizontal axis, and the total for each label is shown on the vertical axis. FIG. 19B shows a display example of a layer color-coded for each extracted label.
このように、上述した記号化ルールに基づく記号化処理、記号配列のグルーピング等により、特徴ある部分形状の抽出を精度良く行うことができる。 In this way, characteristic partial shapes can be extracted with high accuracy by the symbolization processing based on the above-described symbolization rules, grouping of symbol arrays, and the like.
上述した本実施の形態におけるデータ処理装置100では、抽出部40におけるマスクパターンの特徴的な形状部分の抽出処理を効率的に行うことができる。本実施の形態を適用しない場合(図20)と、本実施の形態を適用したデータ処理装置100の場合(図21)との比較で説明する。図20は、本実施の形態を適用しない場合の処理例を示す図である。図21は、本実施の形態を適用したデータ処理装置の処理例を示す図である。 In the data processing apparatus 100 according to the present embodiment described above, the extraction process of the characteristic shape portion of the mask pattern in the extraction unit 40 can be performed efficiently. Description will be made by comparing the case where the present embodiment is not applied (FIG. 20) and the case of the data processing apparatus 100 to which the present embodiment is applied (FIG. 21). FIG. 20 is a diagram illustrating a processing example when the present embodiment is not applied. FIG. 21 is a diagram illustrating a processing example of the data processing device to which the present embodiment is applied.
図20の本実施の形態を適用しない場合の例として、ライブラリの個数n=3、ブロックBL1内の部分形状のデータ個数m=6を例示している。 As an example when the present embodiment of FIG. 20 is not applied, the number of libraries n = 3 and the number of partial shape data m = 6 in the block BL1 are illustrated.
予めライブラリに登録されたラベル[A]、[B]、及び[C]の3種類の1つ1つとブロック内の部分形状データ[a]、[b]、[c]、及び[d]の各々とのマッチングが行われる。ブロック内に部分形状データ[a]及び[b]の夫々が2箇所ずつに存在し、[c]及び[d]が1箇所ずつに存在している。 Each of the three types of labels [A], [B], and [C] registered in advance in the library and the partial shape data [a], [b], [c], and [d] in the block Matching with each other is performed. Each of the partial shape data [a] and [b] exists in two places in the block, and [c] and [d] exist in one place.
部分形状データ[a]は、ラベル[A]で検出される特徴を有した形状であり、部分形状データ[b]は、ラベル[B]で検出される特徴を有した形状であり、部分形状データ[c]は、ラベル[C]で検出される特徴を有した形状であるとする。部分形状データ[c]及び[d]は、ラベル[A]、[B]、及び[C]以外の特徴を有する形状であるとする。 The partial shape data [a] is a shape having a characteristic detected by the label [A], and the partial shape data [b] is a shape having a characteristic detected by the label [B]. The data [c] is assumed to have a shape having a feature detected by the label [C]. The partial shape data [c] and [d] are shapes having characteristics other than the labels [A], [B], and [C].
このマッチング処理例では、ラベル[A]に対して、6箇所にある部分形状データの夫々とマッチングを行うため6通りの組み合わせの処理が必要となる。ラベル[B]についても同様に6通りの組み合わせの処理が必要となる。また、ラベル[C]についても同様に6通りの組み合わせの処理が必要となる。従って、合計18通りの組み合わせでマッチング処理が必要となる。 In this matching processing example, the label [A] is matched with each of the partial shape data at the six locations, so that six combinations of processing are required. Similarly, the label [B] needs to be processed in six combinations. Similarly, for label [C], six combinations of processing are required. Therefore, matching processing is required for a total of 18 combinations.
一方、図21の本実施の形態を適用したデータ処理装置の場合においても、図20と同様に、ライブラリの個数n=3、ブロックBL1内の部分形状のデータ個数m=6を例示している。本実施の形態におけるラベル検索が、図20の本実施の形態を適用しない場合のマッチングに相当する。 On the other hand, in the case of the data processing apparatus to which the present embodiment of FIG. 21 is applied, the number of libraries n = 3 and the number of partial shape data m = 6 in the block BL1 are illustrated as in FIG. . The label search in the present embodiment corresponds to matching when the present embodiment in FIG. 20 is not applied.
予めライブラリに登録されたラベル[a]、[b]、及び[c]の3種類の1つ1つとブロック内の部分形状データ[A]、[B]、[C]、及び[D]の各々とのラベル検索が行われる。ブロック内に部分形状データ[A]及び[B]の夫々が2箇所ずつに存在し、[C]及び[D]が1箇所ずつに存在している。 Each of the three types of labels [a], [b], and [c] registered in advance in the library and the partial shape data [A], [B], [C], and [D] in the block A label search with each is performed. Each of the partial shape data [A] and [B] exists in two places in the block, and [C] and [D] exist in one place.
部分形状データ[A]は、ラベル[a]で検出される特徴を有した形状であり、部分形状データ[B]は、ラベル[b]で検出される特徴を有した形状であり、部分形状データ[C]は、ラベル[c]で検出される特徴を有した形状であるとする。部分形状データ[C]及び[D]は、ラベル[a]、[b]、及び[c]以外の特徴を有する形状であるとする。 The partial shape data [A] is a shape having a characteristic detected by the label [a], and the partial shape data [B] is a shape having a characteristic detected by the label [b]. It is assumed that the data [C] has a shape having the characteristics detected by the label [c]. The partial shape data [C] and [D] are shapes having characteristics other than the labels [a], [b], and [c].
本実施の形態では、配列ライブラリ32内の記号配列の大きい順(記号領域の大きい順であるとも言える)に、ラベル[a]−>[b]−>[c]でブロックBL1内の部分形状データとのラベル検索を行う。一端、ラベル検索が確認された記号領域は配列ライブラリ32内の次のラベルとのラベル検索を行わずスキップする。 In the present embodiment, the partial shapes in the block BL1 are labeled [a]-> [b]-> [c] in the descending order of the symbol arrangement in the arrangement library 32 (which can be said to be in the descending order of the symbol area). Perform a label search with the data. On the other hand, the symbol area where the label search is confirmed is skipped without performing a label search with the next label in the sequence library 32.
従って、最大の記号配列を示すラベル[a]とのラベル検索は、ブロックBL1内の部分形状データ[A]、[B]、[C]、及び[D]との全てで行われるが、[a]と2箇所の[A]との一致確認後には、2箇所の[A]に対しては、以降の部分形状データ[b]及び[c]とのラベル検索は行わない。 Therefore, the label search with the label [a] indicating the maximum symbol arrangement is performed on all of the partial shape data [A], [B], [C], and [D] in the block BL1, After confirming the coincidence between [a] and the two [A], the subsequent label search with the partial shape data [b] and [c] is not performed for the two [A].
ラベル[a]の次に大きな記号配列であるラベル[b]とのラベル検索は、ブロックBL1内の部分形状データ[A]を除いて、部分形状データ[B]、[C]、及び[D]とで行われるが、[b]と2箇所の[B]との一致確認後には、2箇所の[B]に対しては、以降の部分形状データ[C]とのラベル検索は行わない。 The label search with the label [b], which is the next largest symbol array after the label [a], except for the partial shape data [A] in the block BL1, the partial shape data [B], [C], and [D ], But after confirming the coincidence between [b] and the two [B], the label search for the subsequent partial shape data [C] is not performed for the two [B]. .
更に、ラベル[b]の次に大きな記号配列であるラベル[c]とのラベル検索は、ブロックBL1内の部分形状データ[A]及び[B]を除いて、ブロックBL1内の部分形状データ[C]及び[D]とで行われる。 Further, the label search with the label [c], which is the next largest symbol array after the label [b], is performed except for the partial shape data [A] and [B] in the block BL1. C] and [D].
ブロックBL1おけるラベル検索された記号領域から見た形状部分の種類との組み合わせは、上側の部分形状データ[B]ではラベル[a]と[b]との2組であり、上側の部分形状データ[A]ではラベル[a]との1組であり、上側の部分形状データ[D]ではラベル[a]と[b]と[c]との3組である。 The combination of the shape portion type as viewed from the symbol area searched for the label in the block BL1 is two sets of the labels [a] and [b] in the upper partial shape data [B], and the upper partial shape data. [A] is one set with the label [a], and the upper partial shape data [D] is three sets with the labels [a], [b], and [c].
下側の部分形状データ[B]ではラベル[a]と[b]との2組であり、下側の部分形状データ[B]ではラベル[a]と[b]との2組であり、下側の部分形状データ[A]ではラベル[a]との1組であり、下側の部分形状データ[C]ではラベル[a]と[b]と[c]との3組である。このように、検索順番の後半程、組み合わせ数が減り、ラベル検索を効率的に行うことができる。 The lower partial shape data [B] has two sets of labels [a] and [b], and the lower partial shape data [B] has two sets of labels [a] and [b]. The lower partial shape data [A] is one set with the label [a], and the lower partial shape data [C] is three sets with the labels [a], [b], and [c]. Thus, the number of combinations decreases in the second half of the search order, and the label search can be performed efficiently.
よって、合計12通りの組み合わせでラベル検索が行われる。図20に示す本実施の形態を適用しない場合と比べると、6通り分の処理を削減することができる。ブロックBL1内の部分形状データの量が膨大である程、本実施の形態の効果は大きい。 Therefore, a label search is performed with a total of 12 combinations. Compared to the case where the present embodiment shown in FIG. 20 is not applied, it is possible to reduce six processes. The greater the amount of partial shape data in the block BL1, the greater the effect of the present embodiment.
上述したように、本実施の形態では、順次出現するパターンに対して記号化、ラベリングを行うラベル検索によって、チップ内の全てのパターンに対して検索及び分類を可能とし、高速かつ容易に処理できる。 As described above, according to the present embodiment, all patterns in a chip can be searched and classified by label search that performs symbolization and labeling for sequentially appearing patterns, and can be processed quickly and easily. .
LSIのチップ内のパターンの特徴部分の形状、出現頻度、出現場所等のチップ特性を全て把握することにより、データ処理前に、ホットスポットと成り得るパターンの存在、規模や占有率、更に、処理時間等を把握することが可能となる。 By grasping all the chip characteristics such as the shape, appearance frequency, appearance location, etc. of the feature part of the pattern in the LSI chip, the presence, scale and occupation rate of patterns that can become hot spots before data processing, and further processing It becomes possible to grasp time and the like.
よって、本実施の形態は、MDP(マスクデータ変換処理)やOPC(光近接効果補正)処理等の複雑なパターン処理の予測や補正処理精度の向上、及び、処理時間を短縮する等の効果を奏する。 Therefore, this embodiment has effects such as prediction of complex pattern processing such as MDP (mask data conversion processing) and OPC (optical proximity effect correction) processing, improvement of correction processing accuracy, and reduction of processing time. Play.
本発明は、具体的に開示された実施例に限定されるものではなく、特許請求の範囲から逸脱することなく、種々の変形や変更が可能である。 The present invention is not limited to the specifically disclosed embodiments, and various modifications and changes can be made without departing from the scope of the claims.
以上の実施例を含む実施形態に関し、更に以下の付記を開示する。
(付記1)
チップに設計されたマスクパターンの部分形状を表す記号配列を登録した配列ライブラリを記憶した記憶部と、
設計データで示されるマスクパターンが形成される領域を記号化して、前記配列ライブラリの前記記号配列で検索することによって前記部分形状を抽出する抽出部と
を有することを特徴とするデータ処理装置。
(付記2)
前記領域を記号化した記号マップを前記記憶部に展開する第1記号化部と、
前記配列ライブラリに登録された前記記号配列を用いて、前記記号マップから前記部分形状を検索する検索部と、
前記検索部による検索結果に基づいてチップ特性を分析する分析部と
を有することを特徴とする付記1記載のデータ処理装置。
(付記3)
前記分析部は、前記記号配列と同一とみなされた記号配列の少なくとも出現頻度又は累積数を、チップ特性として分析することを特徴とする付記2記載のデータ処理装置。
(付記4)
前記記憶部は、1単位を示すドット内のマスクパターンの部分形状の、前記ドットの頂点に重なる位置及び個数毎に1記号を対応付けたパターンを有する記号ライブラリを記憶し、
前記記号化部は、前記記号ライブラリを参照して、前記領域をドット毎に1記号に置き換えることによって、前記記号マップを前記記憶部に展開することを特徴とする付記2記載のデータ処理装置。
(付記5)
前記記号化部は、前記パターン中の一のパターンと同一の前記ドットの頂点に重なる部分形状の部分を、前記一のパターンに対応する記号と同一の記号で置き換えることを特徴とする付記3記載のデータ処理装置。
(付記6)
前記マスクパターンの部分形状は、各部分形状を特定するラベルに対応付けて前記配列ライブラリに登録され、
前記検索部は、前記記号マップ内において検出された記号配列に対応付けられる前記ラベルを用いて該部分形状の領域をラベリングし、次の部分形状の検索においてはラベリングされた領域をスキップすることを特徴とする付記2乃至5のいずれか一項記載のデータ処理装置。
(付記7)
前記配列ライブラリは、複数の前記記号配列を有し、
前記検索部は、前記配列ライブラリから前記記号配列の大きい順に前記記号マップを検索することを特徴とする付記6記載のデータ処理装置。
(付記8)
前記検索部は、前記記号マップ内に前記記号配列を検出すると、少なくとも該記号配列に対応付けられる前記ラベルと該記号配列の位置とを示すラベリングデータを前記記憶部に記憶することを特徴とする付記6又は7記載のデータ処理装置。
(付記9)
前記分析部は、前記ラベリングデータを参照して、前記ラベルとラベル毎の少なくとも出現頻度とを用いて、前記チップ特性を分析することを特徴とする付記8記載のデータ処理装置。
(付記10)
登録用の図形データで示されるマスクパターンが形成される領域を記号化して、該マスクパターンの部分形状に相当する記号配列を前記配列ライブラリに登録する配列ライブラリ登録部を有することを特徴とする付記1乃至9のいずれか一項記載のデータ処理装置。
(付記11)
前記図形データで示されるマスクパターンが形成される領域を記号化した記号マップを前記記憶部に展開する第2記号化部と、
前記第2記号化部によって展開された記号マップから記号領域を選定する選定部と、
前記記号領域内の記号配列を前記配列ライブラリに登録する登録部と
を有することを特徴とする付記10のいずれか一項記載のデータ処理装置。
(付記12)
前記登録部は、前記記号領域内の記号配列を基準記号配列として、前記ドットの1辺の長さ以下に上下、左右、又は上下左右に前記基準記号配列をずらした場合の別の記号配列を作成し、前記基準記号配列と前記別の記号配列とをグルーピングして前記配列ライブラリに登録することを特徴とする付記11記載のデータ処理装置。
(付記13)
記憶部に記憶されるチップに設計されたマスクマスクパターンの部分形状を表す記号配列を格納するための配列ライブラリに、登録用の図形データで示されるマスクパターンが形成される領域を記号化して、該マスクパターンの部分形状に相当する記号配列を登録し、
設計データで示されるマスクパターンが形成される領域を記号化して、前記配列ライブラリの前記記号配列で検索することによって前記部分形状を抽出する
処理をコンピュータに実行させるデータ処理プログラム。
(付記14)
コンピュータによって実行されるデータ処理方法であって、
記憶部に記憶されるチップに設計されたマスクパターンの部分形状を表す記号配列を格納するための配列ライブラリに、登録用の図形データで示されるマスクパターンが形成される領域を記号化して、該マスクパターンの部分形状に相当する記号配列を登録し、
設計データで示されるマスクパターンが形成される領域を記号化して、前記配列ライブラリの前記記号配列で検索することによって前記部分形状を抽出する
ことを特徴とするデータ処理方法。
(付記15)
記憶部に記憶されるチップに設計されたマスクパターンの部分形状を表す記号配列を格納するための配列ライブラリに、登録用の図形データで示されるマスクパターンが形成される領域を記号化して、該マスクパターンの部分形状に相当する記号配列を登録し、
設計データで示されるマスクパターンが形成される領域を記号化して、前記配列ライブラリの前記記号配列で検索することによって前記部分形状を抽出する
処理をコンピュータに実行させるデータ処理プログラムを記憶したコンピュータ読取可能な記憶媒体。
The following additional notes are further disclosed with respect to the embodiment including the above examples.
(Appendix 1)
A storage unit storing an array library in which a symbol array representing a partial shape of a mask pattern designed on a chip is registered;
A data processing apparatus comprising: an extraction unit that extracts a partial shape by symbolizing a region where a mask pattern indicated by design data is formed and searching the symbol array in the array library.
(Appendix 2)
A first symbolizing unit that develops a symbol map in which the region is symbolized in the storage unit;
A search unit that searches for the partial shape from the symbol map using the symbol array registered in the sequence library;
The data processing apparatus according to claim 1, further comprising an analysis unit that analyzes chip characteristics based on a search result obtained by the search unit.
(Appendix 3)
3. The data processing apparatus according to claim 2, wherein the analysis unit analyzes at least the appearance frequency or the cumulative number of the symbol array regarded as the same as the symbol array as a chip characteristic.
(Appendix 4)
The storage unit stores a symbol library having a pattern in which one symbol is associated with each position and number of the partial shape of a mask pattern in a dot indicating one unit, the position overlapping with the vertex of the dot,
The data processing apparatus according to claim 2, wherein the symbolizing unit expands the symbol map in the storage unit by referring to the symbol library and replacing the region with one symbol for each dot.
(Appendix 5)
The supplementary note 3 is characterized in that the symbolizing unit replaces a portion of a partial shape overlapping the vertex of the same dot as the one pattern in the pattern with the same symbol as the symbol corresponding to the one pattern. Data processing equipment.
(Appendix 6)
The partial shape of the mask pattern is registered in the array library in association with a label specifying each partial shape,
The search unit labels the region of the partial shape using the label associated with the symbol arrangement detected in the symbol map, and skips the labeled region in the search of the next partial shape. The data processing device according to any one of appendices 2 to 5, which is characterized by the following.
(Appendix 7)
The sequence library has a plurality of the symbol sequences,
The data processing apparatus according to claim 6, wherein the search unit searches the symbol map from the sequence library in descending order of the symbol sequence.
(Appendix 8)
The search unit, when detecting the symbol arrangement in the symbol map, stores labeling data indicating at least the label associated with the symbol arrangement and the position of the symbol arrangement in the storage unit. The data processing device according to appendix 6 or 7.
(Appendix 9)
9. The data processing apparatus according to appendix 8, wherein the analysis unit analyzes the chip characteristics by using the label and at least the appearance frequency for each label with reference to the labeling data.
(Appendix 10)
A supplementary note, comprising: an array library registration unit that symbolizes an area in which a mask pattern indicated by registration graphic data is formed and registers a symbol array corresponding to a partial shape of the mask pattern in the array library The data processing apparatus according to any one of 1 to 9.
(Appendix 11)
A second symbolizing unit that develops in the storage unit a symbol map that symbolizes an area in which the mask pattern indicated by the graphic data is formed;
A selection unit for selecting a symbol region from the symbol map developed by the second symbolization unit;
11. The data processing apparatus according to claim 10, further comprising: a registration unit that registers a symbol array in the symbol area in the array library.
(Appendix 12)
The registration unit uses the symbol arrangement in the symbol area as a reference symbol arrangement, and another symbol arrangement when the reference symbol arrangement is shifted up and down, left and right, or up and down and left and right within the length of one side of the dot. 12. The data processing apparatus according to claim 11, wherein the data processing device is created, the reference symbol array and the another symbol array are grouped and registered in the array library.
(Appendix 13)
In the array library for storing the symbol array representing the partial shape of the mask mask pattern designed on the chip stored in the storage unit, the region where the mask pattern indicated by the graphic data for registration is formed is symbolized, Register a symbol array corresponding to the partial shape of the mask pattern,
A data processing program for causing a computer to execute a process of extracting a partial shape by symbolizing a region where a mask pattern indicated by design data is formed and searching the symbol array in the array library.
(Appendix 14)
A data processing method executed by a computer,
In the array library for storing the symbol array representing the partial shape of the mask pattern designed on the chip stored in the storage unit, the area where the mask pattern indicated by the graphic data for registration is formed is symbolized, Register the symbol array corresponding to the partial shape of the mask pattern,
A data processing method comprising extracting a partial shape by symbolizing a region where a mask pattern indicated by design data is formed and searching the symbol array in the array library.
(Appendix 15)
In the array library for storing the symbol array representing the partial shape of the mask pattern designed on the chip stored in the storage unit, the area where the mask pattern indicated by the graphic data for registration is formed is symbolized, Register the symbol array corresponding to the partial shape of the mask pattern,
A computer-readable data storage program storing a data processing program for causing a computer to execute a process of extracting the partial shape by encoding a region where a mask pattern indicated by design data is formed and searching the symbol array in the array library Storage medium.
11 CPU
12 RAM
13 ROM
14 補助記憶装置
15 I/F装置
16 表示装置
17 通信装置
18 入力装置
18a キーボード
18b マウス
19 ドライブ装置
20 記憶媒体
31 設計データ
32 レイヤーテーブル
33 記号ライブラリ
34 ラベリングデータ
35 配列ライブラリ
36 特徴抽出データ
37 ライブラリ用図形データ
40 抽出部
41 ブロック化部
42 記号化部
43 検索部
44 分析部
45 結果出力部
46 新規配列ライブラリ作成部
50 配列ライブラリ登録部
51 ブロック化部
52 記号化部
53 選定部
54 登録部
100 データ処理装置
130 記憶部
11 CPU
12 RAM
13 ROM
14 Auxiliary storage device 15 I / F device 16 Display device 17 Communication device 18 Input device 18a Keyboard 18b Mouse 19 Drive device 20 Storage medium 31 Design data 32 Layer table 33 Symbol library 34 Labeling data 35 Array library 36 Feature extraction data 37 For library Graphic data 40 Extraction unit 41 Blocking unit 42 Symbolization unit 43 Search unit 44 Analysis unit 45 Result output unit 46 New sequence library creation unit 50 Sequence library registration unit 51 Blocking unit 52 Symbolization unit 53 Selection unit 54 Registration unit 100 Data Processing device 130 storage unit
Claims (10)
設計データで示されるマスクパターンが形成される領域を記号化して、前記配列ライブラリの前記記号配列で検索することによって前記部分形状を抽出する抽出部と
を有することを特徴とするデータ処理装置。 A storage unit storing an array library in which a symbol array representing a partial shape of a mask pattern designed on a chip is registered;
A data processing apparatus comprising: an extraction unit that extracts a partial shape by symbolizing a region where a mask pattern indicated by design data is formed and searching the symbol array in the array library.
前記配列ライブラリに登録された前記記号配列を用いて、前記記号マップから前記部分形状を検索する検索部と、
前記検索部による検索結果に基づいてチップ特性を分析する分析部と
を有することを特徴とする請求項1記載のデータ処理装置。 A first symbolizing unit that develops a symbol map in which the region is symbolized in the storage unit;
A search unit that searches for the partial shape from the symbol map using the symbol array registered in the sequence library;
The data processing apparatus according to claim 1, further comprising an analysis unit that analyzes chip characteristics based on a search result obtained by the search unit.
前記記号化部は、前記記号ライブラリを参照して、前記領域をドット毎に1記号に置き換えることによって、前記記号マップを前記記憶部に展開することを特徴とする請求項2記載のデータ処理装置。 The storage unit stores a symbol library having a pattern in which one symbol is associated with each position and number of the partial shape of a mask pattern in a dot indicating one unit, the position overlapping with the vertex of the dot,
3. The data processing apparatus according to claim 2, wherein the symbolizing unit develops the symbol map in the storage unit by referring to the symbol library and replacing the region with one symbol for each dot. .
前記検索部は、前記記号マップ内において検出された記号配列に対応付けられる前記ラベルを用いて該部分形状の領域をラベリングし、次の部分形状の検索においてはラベリングされた領域をスキップすることを特徴とする請求項2乃至4のいずれか一項記載のデータ処理装置。 The partial shape of the mask pattern is registered in the array library in association with a label specifying each partial shape,
The search unit labels the region of the partial shape using the label associated with the symbol arrangement detected in the symbol map, and skips the labeled region in the search of the next partial shape. The data processing device according to claim 2, wherein the data processing device is a data processing device.
前記第2記号化部によって展開された記号マップから記号領域を選定する選定部と、
前記記号領域内の記号配列を前記配列ライブラリに登録する登録部と
を有することを特徴とする請求項7のいずれか一項記載のデータ処理装置。 A second symbolizing unit that develops in the storage unit a symbol map that symbolizes an area in which the mask pattern indicated by the graphic data is formed;
A selection unit for selecting a symbol region from the symbol map developed by the second symbolization unit;
The data processing apparatus according to claim 7, further comprising: a registration unit that registers a symbol array in the symbol region in the array library.
設計データで示されるマスクパターンが形成される領域を記号化して、前記配列ライブラリの前記記号配列で検索することによって前記部分形状を抽出する
処理をコンピュータに実行させるデータ処理プログラム。 In the array library for storing the symbol array representing the partial shape of the mask pattern designed on the chip stored in the storage unit, the area where the mask pattern indicated by the graphic data for registration is formed is symbolized, Register the symbol array corresponding to the partial shape of the mask pattern,
A data processing program for causing a computer to execute a process of extracting a partial shape by symbolizing a region where a mask pattern indicated by design data is formed and searching the symbol array in the array library.
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