JP6090782B2 - 電気接続構造及び端子 - Google Patents

Description

本発明は、異種金属同士の電気接続構造に係る技術に関する。

従来、異種金属同士の電気接続構造として特許文献１に記載のものが知られている。特許文献１には、銅又は銅合金からなる銅端子と、アルミニウム又はアルミニウム合金からなるアルミニウム単芯線とが、冷間圧接により接続された技術が開示されている。上記の構成により、銅端子とアルミニウム単芯線とが冷間圧接されている冷間圧接面においては、銅端子とアルミニウム単芯線とは金属結合により接続されている。この結果、冷間圧接面におけるアルミニウム単芯線の電食が抑制されることが期待された。

国際公開２００６／１０６９７１号公報

しかしながら上記の構成によると、図１３に示すように、冷間圧接面１とは異なる部分において、銅端子２とアルミニウム単芯線３の双方に跨って水４が付着した場合に、いわゆる腐食電流が流れることが懸念される。この腐食電流について以下に説明する。

まず、アルミニウム単芯線３のうち水４と接触した部分においては、アルミニウムは、電子をアルミニウム単芯線３に放出して、Ａｌ^３＋イオンとして水中に溶出する。このようにしてアルミニウム単芯線３で電子が発生する。

一方、水４と銅端子２とが接触した部分においては、水４に溶けている酸素（いわゆる溶存酸素）が銅端子２から電子を受け取る。これにより、水４が酸性の場合には、溶存酸素とＨ^＋イオンと電子とが反応することによりＨ_２０が発生し、水４が中性又はアルカリ性の場合には、溶存酸素とＨ_２０と電子とが反応することによりＯＨ⁻イオンが発生する。このようにして銅端子２で電子が消費される。

上記のようにアルミニウム単芯線３で電子が発生し、銅端子２で電子が消費されることにより、アルミニウム単芯線３と銅端子２との間で水４を介して回路が形成され、この回路中を腐食電流が流れる。これにより、水４とアルミニウム単芯線３とが接触した部分において、アルミニウムが電食により水４の中に溶出することが懸念される。

本発明は上記のような事情に基づいて完成されたものであって、電食が抑制された、異種金属間の電気接続構造に係る技術を提供することを目的とする。

本発明は、電気接続構造であって、銅又は銅合金を含む銅部材と、前記銅部材に接続されると共に銅よりもイオン化傾向の大きな金属を含む金属部材と、前記銅部材のうち少なくとも前記金属部材に接続された接続部と異なる部分に、分子構造中に疎水部とキレート基とを有する表面処理剤が塗布されてなる表面処理層と、を備える。

本発明によれば、銅部材のうち接続部と異なる部分には表面処理層が形成されている。この表面処理層を構成する表面処理剤は分子構造中にキレート部を有する。このキレート部が銅部材の表面と結合することにより、表面処理層は銅部材と強固に結合する。一方、表面処理剤は分子構造中に疎水部を有するので、銅部材と金属部材の双方に跨って水が付着した場合に、銅部材と水とが直接に接触することが抑制される。すると、水に含まれる溶存酸素が銅部材に供給されることが抑制される。これにより、銅部材から溶存酸素が電子を受け取って、水、又はＯＨ⁻イオンが生成することによって電子が消費される反応が抑制される。この結果、銅部材と金属部材との間で水を介した回路が形成されることが抑制されるので、金属部材、水、及び銅部材の間で腐食電流が流れることを抑制できる。本発明によれば、金属部材に表面処理層を形成するのではなく、金属部材に接続された銅部材に表面処理層を形成するという構成により、金属部材が電食により溶出することを抑制することができる。

本発明に係る表面処理剤は、分子構造中に疎水性を有する疎水部を有する。疎水部としては、分子構造の少なくとも一部が疎水性を有していればよい。表面処理剤は、疎水部として、疎水基を含んでいてもよい。また、表面処理剤は、分子構造中に、疎水部と親水部の双方を含んでいてもよい。

本発明の実施態様としては以下の態様が好ましい。前記疎水部はアルキル基を含むことが好ましい。

上記の態様によれば、銅部材と水とが直接に接触することを確実に抑制することができる。アルキル基としては、例えば、直鎖アルキル基、分岐アルキル基、シクロアルキル基等を例示することができる。これらは、１種のみ有していても良いし、２種以上が組み合わされて有していても良い。この際、直鎖アルキル基、分岐アルキル基、シクロアルキル基等にフッ素原子が導入されていれば、より疎水性に優れる。

前記キレート基は、ポリリン酸塩、アミノカルボン酸、１，３−ジケトン、アセト酢酸（エステル）、ヒドロキシカルボン酸、ポリアミン、アミノアルコール、芳香族複素環式塩基類、フェノール類、オキシム類、シッフ塩基、テトラピロール類、イオウ化合物、合成大環状化合物、ホスホン酸、および、ヒドロキシエチリデンホスホン酸から選択された１種または２種以上のキレート配位子に由来するものであることが好ましい。

キレート基が上記各種の基よりなることにより、確実に銅部材の表面と結合することができる。

前記表面処理剤は、分子構造中に前記芳香族複素環式塩基類に由来する前記キレート基を有する下記一般式（１）で表されるベンゾトリアゾール誘導体を含むものであることが好ましい。

［一般式（１）中、Ｘは疎水基を表し、Ｙは水素原子又は低級アルキル基を表す。］

上記の態様によれば、ベンゾトリアゾール誘導体は疎水基を備えるので、水が銅部材の表面に付着することを抑制できる。更に、水中の溶存酸素が銅部材の表面に到達することを抑制できる。これにより、腐食電流が流れることを一層抑制できる。これにより、金属部材の電食を一層抑制できる。

前記Ｘで表される前記疎水基は、下記一般式（２）で表されるものであることが好ましい。

［一般式（２）中、Ｒ^１及びＲ^２はそれぞれ独立に水素原子又は炭素数１〜１５のアルキル基、ビニル基、アリル基、アリール基を表す。］

前記Ｒ^１及び前記Ｒ^２はそれぞれ独立に炭素数５〜１１の直鎖アルキル基、分岐アルキル基、若しくはシクロアルキル基であることが好ましい。

上記の態様によれば、Ｘで表される疎水基の炭素数が比較的に大きくなるので疎水性が高くなる。これにより、腐食電流が流れることを更に抑制することができるから、金属部材の電食を更に抑制することができる。

直鎖アルキル基、分岐アルキル基、若しくはシクロアルキル基は、炭素−炭素不飽和結合や、アミド結合、エーテル結合、エステル結合などを含んでいても良い。また、シクロアルキル基は、単環から形成されていても良いし、複数の環から形成されていても良い。

前記Ｙは水素原子又はメチル基であることが好ましい。

上記の態様によれば、表面処理層の疎水性が向上するので金属部材の電食を更に抑制することができる。

前記金属部材がアルミニウム又はアルミニウム合金を含むことが好ましい。

上記の態様によれば、アルミニウム又はアルミニウム合金は比較的に比重が小さいので、電気接続構造を軽量化することができる。

前記銅部材は第１電線の第１芯線であり、前記金属部材は前記第１電線とは異なる第２電線の第２芯線であることが好ましい。

上記の態様によれば、第１電線と第２電線とを電気的に接続する際に、第２電線の第２芯線を構成する金属部材が電食により溶出することを抑制できる。

前記金属部材は電線の芯線であり、前記銅部材は前記芯線に圧着されるワイヤーバレル部を備えた端子であり、少なくとも前記ワイヤーバレル部の端面には前記表面処理層が形成されていることが好ましい。

端子は金属板材を所定形状にプレス加工することにより形成される。そのため、金属板材がメッキされているか否かにかかわらず、プレス後のワイヤーバレル部の端面においては、金属板材を構成する銅又は銅合金が露出する。ワイヤーバレル部の端面において銅又は銅合金が露出した状態であると、ここに水が付着することにより、芯線に含まれるアルミニウム又はアルミニウム合金とのイオン化傾向の差により、電食が促進され、芯線からアルミニウムが溶出することが懸念される。

この点に鑑み、上記の態様においては、ワイヤーバレル部の端面に表面処理層が形成されているので、ワイヤーバレル部の端面において銅又は銅合金が露出していない。これにより、芯線の電食を防止することができる。

また、本発明は、上記の電気接続構造を用いた端子であって、前記銅部材と前記金属部材とが冷間圧接された金属板材により形成され、前記銅部材からなる銅領域と、前記金属部材からなる金属領域とが並列されており、前記銅領域には前記表面処理層が形成されている。

本発明によれば、銅部材と金属部材とが冷間圧接されて一体に形成された端子について、金属部材が電食により腐食することを抑制できる。

本発明の実施態様としては以下の態様が好ましい。前記銅領域には、イオン化傾向が前記金属部材よりも前記銅部材に近いメッキ用金属がメッキされたメッキ領域が形成されており、前記表面処理層は、少なくとも前記銅部材のうち前記メッキ領域が形成されていない領域に形成されていることが好ましい。

上記の態様によれば、金属領域とメッキ領域とのイオン化傾向の差、及び銅領域とメッキ領域とのイオン化傾向の差は、金属領域と銅領域とのイオン化傾向の差よりも小さくなっている。これにより、電食が起こりにくくなるので電食のスピードが抑制される。

前記金属部材はアルミニウム又はアルミニウム合金を含み、前記金属領域の表面にはアルマイト層が形成されていることが好ましい。

上記の態様によれば、金属領域の表面にはアルマイト層が形成されているので、アルミニウムが水中に溶出することが抑制される。これにより、金属部材が電食により腐食することを一層抑制できる。

本発明によれば、電食が抑制された、異種金属間の電気接続構造において、電食を抑制することができる。

図１は本発明の実施形態１に係る電気接続構造を示す拡大断面図である。 図２は銅部材と金属部材とを重ねた状態を示す斜視図である。 図３は一対の治具で銅部材と金属部材とを挟み付けている状態を示す拡大断面図である。 図４は電気接続構造を示す拡大断面図である。 図５はモデル実験装置を示す模式図である。 図６は本発明の実施形態２に係る端子を示す側面図である。 図７は打ち抜き加工を施した金属板材を示す一部平面図である。 図８はであるメッキ領域を形成する前の金属板材を示す拡大断面図である。 図９はメッキ領域形成後の金属板材を示す一部平面図である。 図１０は本発明の実施形態３に係る端子付き電線を示す側面図である。 図１１は端子付き電線を示す拡大平面図である。 図１２は本発明の実施形態４に係る電気接続構造を示す平面図である。 図１３は従来技術を示す模式図である。

＜実施形態１＞
本発明に係る実施形態１を、図１ないし図５を参照しつつ説明する。本実施形態は、銅部材１０と、銅よりもイオン化傾向の大きな金属を含む金属部材１１と、の電気接続構造３０である。

（金属部材１１）
図１に示すように、金属部材１１は、銅よりもイオン化傾向の大きな金属を含む。金属部材１１に含まれる金属としては、マグネシウム、アルミニウム、マンガン、亜鉛、クロム、鉄、カドミウム、コバルト、ニッケル、錫、鉛等、又はこれらの合金を例示することができる。本実施形態においては、金属部材１１はアルミニウム又はアルミニウム合金を含む板材を所定の形状にプレス加工してなる。

（銅部材１０）
銅部材１０は、銅又は銅合金を含む。本実施形態においては、銅部材１０は銅又は銅合金を含む板材を所定の形状にプレス加工してなる。

（接続構造）
金属部材１１と銅部材１０との接続方法としては、抵抗溶接、超音波溶接、ロウ接（ロウ付け、及びはんだ付けを含む）、冷間圧接、圧接、ボルト締め等、必要に応じて任意の接続方法を適宜に選択できる。本実施形態においては、金属部材１１と銅部材１０とは、一対の治具１４に挟み付けられることにより圧接されている。金属部材１１と銅部材１０とが圧接により接続された接続部１２において、金属部材１１と銅部材１０とは電気的に接続されている。

（表面処理層１３）
銅部材１０のうち接続部１２と異なる部分には、表面処理剤が塗布された表面処理層１３が形成されている。表面処理層１３は、銅部材１０の表面のうち、金属部材１１と接触している接続部１２と異なる部分に形成されている。銅部材１０の表面とは、銅部材１０の上面、下面、及び側面等、外部に露出する全ての表面をいう。

表面処理層１３は、少なくとも銅部材１０に形成されている。この表面処理層１３は、金属部材１１の表面のうち、銅部材１０と接触している部分と異なる部分に形成されていてもよい。なお、表面処理層１３は、金属部材１１の表面（上面、下面、及び側面）に形成されていてもよい。

表面処理剤は分子構造中にキレート基を含む。キレート基は、銅部材１０の表面と結合する。キレート基が銅部材１０の表面と結合することにより、加熱による表面処理剤の揮発や、溶剤による表面処理剤の溶出等、表面処理剤が銅部材１０の表面から離脱することが抑制されるようになっている。これにより、表面処理層１３が長期間にわたって安定して銅部材１０の表面に形成される。キレート基が銅部材１０の表面と結合形成してキレート結合に変化していることは、例えば多重全反射赤外吸収法（ＡＴＲ−ＩＲ）や顕微ＩＲなどで確認することができる。

表面処理剤は分子構造中に疎水部を含む。疎水部としては、分子構造の少なくとも一部が疎水性を有していればよい。表面処理剤は、疎水部として、疎水基を含んでいてもよい。また、表面処理剤は、分子構造中に、疎水部と親水部の双方を含んでいてもよい。表面処理剤は、疎水部の疎水性によって、銅部材１０の表面へ水が浸入することを抑制することができるようになっている。すなわち、銅部材１０の表面に形成された表面処理層１３によって銅部材１０の表面が単に物理的に覆われるだけではなく、疎水部の疎水性によって銅部材１０の表面への水の浸入を抑制することができるようになっている。

キレート基は、各種キレート配位子を用いて導入可能である。このようなキレート配位子としては、例えば、１，３−ジケトン（β−ジケトン）や３−ケトカルボン酸エステル（アセト酢酸エステル等）などのβ−ジカルボニル化合物、ポリリン酸塩、アミノカルボン酸、ヒドロキシカルボン酸、ポリアミン、アミノアルコール、芳香族複素環式塩基類、フェノール類、オキシム類、シッフ塩基、テトラピロール類、イオウ化合物、合成大環状化合物、ホスホン酸、ヒドロキシエチリデンホスホン酸などを例示することができる。これらの化合物は、配位結合可能な非共有電子対を複数有している。これらは、単独で用いても良いし、２種以上組み合わせて用いても良い。

各種キレート配位子としては、より具体的には、ポリリン酸塩としては、トリポリリン酸ナトリウムやヘキサメタリン酸などを例示することができる。アミノカルボン酸としては、エチレンジアミン二酢酸、エチレンジアミン二プロピオン酸、エチレンジアミン四酢酸、Ｎ−ヒドロキシメチルエチレンジアミン三酢酸、Ｎ−ヒドロキシエチルエチレンジアミン三酢酸、ジアミノシクロヘキシル四酢酸、ジエチレントリアミン五酢酸、グリコールエーテルジアミン四酢酸、Ｎ，Ｎ−ビス（２−ヒドロキシベンジル）エチレンジアミン二酢酸、ヘキサメチレンジアミンＮ，Ｎ，Ｎ，Ｎ−四酢酸、ヒドロキシエチルイミノ二酢酸、イミノ二酢酸、ジアミノプロパン四酢酸、ニトリロ三酢酸、ニトリロ三プロピオン酸、トリエチレンテトラミン六酢酸、ポリ（ｐ−ビニルベンジルイミノ二酢酸）などを例示す
ることができる。

１，３−ジケトンとしては、アセチルアセトン、トリフルオロアセチルアセトン、テノイルトリフルオロアセトンなどを例示することができる。また、アセト酢酸エステルとしては、アセト酢酸プロピル、アセト酢酸ｔｅｒｔ−ブチル、アセト酢酸イソブチル、アセト酢酸ヒドロキシプロピルなどを例示することができる。ヒドロキシカルボン酸としては、Ｎ−ジヒドロキシエチルグリシン、エチレンビス（ヒドロキシフェニルグリシン）、ジアミノプロパノール四酢酸、酒石酸、クエン酸、グルコン酸などを例示することができる。ポリアミンとしては、エチレンジアミン、トリエチレンテトラミン、トリアミノトリエチルアミン、ポリエチレンイミンなどを例示することができる。アミノアルコールとしては、トリエタノールアミン、Ｎ−ヒドロキシエチルエチレンジアミン、ポリメタリロイルアセトンなどを例示することができる。

芳香族複素環式塩基としては、ジピリジル、o−フェナントロリン、オキシン、８−ヒドロキシキノリン、ベンゾトリアゾール、ベンゾイミダゾール、ベンゾチアゾールなどを例示することができる。フェノール類としては、５−スルホサリチル酸、サリチルアルデヒド、ジスルホピロカテコール、クロモトロプ酸、オキシンスルホン酸、ジサリチルアルデヒドなどを例示することができる。オキシム類としては、ジメチルグリオキシム、サリチルアドキシムなどを例示することができる。シッフ塩基としては、ジメチルグリオキシム、サリチルアドキシム、ジサリチルアルデヒド、１，２−プロピレンジイミンなどを例示することができる。

テトラピロール類としては、フタロシアニン、テトラフェニルポルフィリンなどを例示することができる。イオウ化合物としては、トルエンジチオール、ジメルカプトプロパノール、チオグリコール酸、エチルキサントゲン酸カリウム、ジエチルジチオカルバミン酸ナトリウム、ジチゾン、ジエチルジチオリン酸などを例示することができる。合成大環状化合物としては、テトラフェニルポルフィリン、クラウンエーテル類などを例示することができる。ホスホン酸としては、エチレンジアミンＮ，Ｎ−ビスメチレンホスホン酸、エチレンジアミンテトラキスメチレンホスホン酸、ニトリロトリスメチレンホスホン酸、ヒドロキシエチリデンジホスホン酸などを例示することができる。

上記キレート配位子には、適宜ヒドロキシル基やアミノ基などを導入することも可能である。上記キレート配位子は、塩として存在可能なものもある。この場合、塩の形態で用いても良い。また、上記キレート配位子またはその塩の水和物や溶媒和物を用いても良い。さらに、上記キレート配位子には、光学活性体のものも含まれているが、任意の立体異性体、立体異性体の混合物、ラセミ体などを用いても良い。

表面処理剤はベンゾトリアゾール及びベンゾトリアゾール誘導体の双方又は一方を含む構成としてもよい。ベンゾトリアゾール誘導体は、下記一般式（１）

［一般式（１）中、Ｘは疎水基を表し、Ｙは水素原子又は低級アルキル基を表す。］で表される。

一般式（１）で表されたベンゾトリアゾール誘導体においては、キレート基は、ベンゾトリアゾールに由来する。また、疎水部は、Ｘで表される疎水基、及びトリアゾールに結合した芳香族六員環とされる。Ｘで表される疎水基は、金属表面と結合形成しているキレート基から外側に張り出すように配置される。

上記のＸで表される疎水基は有機基を含む。有機基としては、直鎖若しくは分岐アルキル基、ビニル基、アリル基、シクロアルキル基、アリール基等を含む。これらは、１種のみ有していても良いし、２種以上が組み合わされて有していても良い。この際、直鎖若しくは分岐アルキル基、ビニル基、アリル基、シクロアルキル基、アリール基等にフッ素原子が導入されていれば、より疎水性に優れる。また、疎水基は、アミド結合、エーテル結合、エステル結合を含んでいてもよい。

また、上記のＸで表される疎水基は、下記一般式（２）

［一般式（２）中、Ｒ^１及びＲ^２はそれぞれ独立に水素原子又は炭素数１〜１５のアルキル基、ビニル基、アリル基、アリール基を表す。］で表される。

アルキル基としては、直鎖アルキル基、分岐アルキル基、またはシクロアルキル基を例示することができる。

直鎖アルキル基としては、メチル基、エチル基、プロピル基、ブチル基、プロピル基、ペンチル基、ヘキシル基、ヘプチル基、オクチル基、ノニル基、デシル基、ウンデシル基、ドデシル基、トリデシル基、テトラデシル基、ペンタデシル基等が挙げられる。直鎖アルキル基の炭素数は１〜１００が好ましく、３〜１５がより好ましく、５〜１１が更に好ましく、７〜９が特に好ましい。

分岐アルキル基としては、イソプロピル基、１−メチルプロピル基、２−メチルプロピル基、tert−ブチル基、１−メチルブチル基、２−メチルブチル基、３−メチルブチル基、１，１−ジメチルプロピル基、１，２−ジメチルプロピル基、２，２−ジメチルプロピル基、１−メチルペンチル基、２−メチルペンチル基、３−メチルペンチル基、４−メチルペンチル基、１，１−ジメチルブチル基、１，２−ジメチルブチル基、１，３−ジメチルブチル基、２，２−ジメチルブチル基、２，３−ジメチルブチル基、５−メチルヘキシル基、６−メチルヘプチル基、２−メチルヘキシル基、２−エチルヘキシル基、２−メチルヘプチル基、２−エチルヘプチル基、が挙げられる。分岐アルキル基の炭素数は１〜１００が好ましく、３〜１５がより好ましく、５〜１１が更に好ましく、７〜９が特に好ましい。

シクロアルキル基としては、シクロプロピル基、シクロブチル基、シクロペンチル基、メチルシクロペンチル基、ジメチルシクロペンチル基、シクロペンチルメチル基、シクロペンチルエチル基、シクロヘキシル基、メチルシクロヘキシル基、ジメチルシクロヘキシル基、シクロヘキシルメチル基、シクロヘキシルエチル基等が挙げられる。シクロアルキル基の炭素数は３〜１００が好ましく、３〜１５がより好ましく、５〜１１が更に好ましく、７〜９が特に好ましい。

アリール基としては、フェニル基、１−ナフチル基、２−ナフチル基、２−フェニルフェニル基、３−フェニルフェニル基、４−フェニルフェニル基、９−アントリル基、メチルフェニル基、ジメチルフェニル基、トリメチルフェニル基、エチルフェニル基、メチルエチルフェニル基、ジエチルフェニル基、プロピルフェニル基、ブチルフェニル基等が挙げられる。アリール基の炭素数は６〜１００が好ましく、６〜１５がより好ましく、６〜１１が更に好ましく、７〜９が特に好ましい。

上記直鎖アルキル基は、直鎖アルキル化合物を用いて導入可能である。直鎖アルキル化合物としては、特に限定されないが、例えば、直鎖アルキルカルボン酸や、直鎖アルキルカルボン酸エステル、直鎖アルキルカルボン酸アミドなどの直鎖アルキルカルボン酸誘導体、直鎖アルキルアルコール、直鎖アルキルチオール、直鎖アルキルアルデヒド、直鎖アルキルエーテル、直鎖アルキルアミン、直鎖アルキルアミン誘導体、直鎖アルキルハロゲンなどを例示することができる。これらのうち、キレート基を導入しやすい点などから、直鎖アルキルカルボン酸、直鎖アルキルカルボン酸誘導体、直鎖アルキルアルコール、直鎖アルキルアミンが好ましい。

直鎖アルキル化合物としては、より具体的には、例えば、オクタン酸、ノナン酸、デカン酸、ヘキサデカン酸、オクタデカン酸、イコサン酸、ドコサン酸、テトラドコサン酸、ヘキサドコサン酸、オクタドコサン酸、オクタノール、ノナノール、デカノール、ドデカノール、ヘキサデカノール、オクタデカノール、エイコサノール、ドコサノール、テトラドコサノール、ヘキサドコサノール、オクタドコサノール、オクチルアミン、ノニルアミン、デシルアミン、ドデシルアミン、ヘキサデシルアミン、オクタデシルアミン、ドデシルカルボン酸クロリド、ヘキサデシルカルボン酸クロリド、オクタデシルカルボン酸クロリドなどを例示することができる。これらのうち、入手が容易である点などにおいては、オクタン酸、ノナン酸、デカン酸、ドデカン酸、オクタデカン酸、ドコサン酸、オクタノール、ノナノール、デカノール、ドデカノール、オクタデカノール、ドコサノール、オクチルアミン、ノニルアミン、デシルアミン、ドデシルアミン、オクタデシルアミン、ドデシルカルボン酸クロリド、オクタデシルカルボン酸クロリドが好適である。

上記シクロアルキル基は、環状アルキル化合物を用いて導入可能である。環状アルキル化合物としては、特に限定されないが、例えば、炭素数が３〜８のシクロアルキル化合物や、ステロイド骨格を有する化合物、アダマンタン骨格を有する化合物などを例示することができる。この際、これら各種化合物には、上記キレート配位子との結合形成が可能であるなどの観点から、カルボン酸基、水酸基、酸アミド基、アミノ基、チオール基などが導入されていることが好ましい。

環状アルキル化合物としては、より具体的には、コール酸、デオキシコール酸、アダマンタンカルボン酸、アダマンタン酢酸、シクロヘキシルシクロヘキサノール、シクロペンタデカノール、イソボルネオール、アダマンタノール、メチルアダマンタノール、エチルアダマンタノール、コレステロール、コレスタノール、シクロオクチルアミン、シクロドデシルアミン、アダマンタンメチルアミン、アダマンタンエチルアミンなどを例示することができる。これらのうち、入手が容易である点などにおいては、アダマンタノール、コレステロールが好適である。

また、上記したＹは、水素原子又は低級アルキル基が好ましく、メチル基が更に好ましい。

表面処理剤は、ベンゾトリアゾール、及び上記した複数のベンゾトリアゾール誘導体からなる群から選ばれる一つ又は複数の化合物を含む構成とすることができる。

表面処理剤は、公知の溶剤に溶解された構成としてもよい。溶剤としては、例えば、水、有機溶剤、ワックス又はオイル等を用いることができる。有機溶剤としては、例えば、ｎ−ヘキサン、イソヘキサン、ｎ−ヘプタン等の脂肪族系溶剤、酢酸エチル、酢酸ブチルなどのエステル系溶剤、テトラヒドロフランなどのエーテル系溶剤、アセトンなどのケトン系溶剤、トルエン、キシレンなどの芳香族系溶剤、メタノール、エタノール、プロプルアルコール、イソプロピルアルコールなどのアルコール系溶剤などが挙げられる。また、ワックスとしては、例えば、ポリエチレンワックス、合成パラフィン、天然パラフィン、マイクロワックス、塩素化炭化水素等を示すことができる。また、オイルとしては、例えば、潤滑油、作動油、熱媒オイル、シリコンオイルなどを示すことができる。

銅部材１０に表面処理剤を塗布する方法としては、銅部材１０を表面処理剤に浸漬してもよく、銅部材１０に表面処理剤を刷毛で塗布してもよく、表面処理剤又は表面処理剤を溶剤に溶解させた溶液を銅部材１０にスプレーしてもよく、銅部材１０をプレス加工する際のプレス油に表面処理剤を混入させてもよい。また、スクイズコーター等による塗布処理、浸漬処理またはスプレー処理の後に、エアナイフ法やロール絞り法により塗布量の調整、外観の均一化、膜厚の均一化を行うことも可能である。塗布する場合、密着性、耐食性を向上させるため、必要に応じて加温または圧縮などの処理を施すことができる。

（製造工程）
続いて、本実施形態の製造工程の一例を示す。なお、製造工程は以下の記載に限定されない。

まず、銅合金を含む板材を所定の形状にプレス加工することにより銅部材１０を形成する。次に、アルミニウム合金を含む板材を所定の形状にプレス加工することにより金属部材１１を形成する。

続いて、銅部材１０を表面処理剤の中に浸漬した後、室温にて風乾することにより、銅部材１０の表面に表面処理層１３を形成する。

続いて、図２に示すように銅部材１０と金属部材１１とを積層させた後、図３に示すように一対の治具１４で挟むことにより、銅部材１０と金属部材１１とを圧接する。図２において、表面処理層１３は網掛けで示した。これにより銅部材１０と金属部材１１とが電気的に接続される（図４参照）。このとき、銅部材１０と金属部材１１とが接続される接続部１２においては、高い圧力が治具１４によって加えられるため、表面処理剤が接続部１２から排除される。これにより、銅部材１０と金属部材１１との間に表面処理層１３が介在しなくなるので、銅部材１０と金属部材１１との電気的な接続信頼性が向上する。

（本実施形態の作用、効果）
続いて、本実施形態の作用、効果について説明する。図１に示すように、本実施形態に係る電気接続構造３０においては、銅部材１０の表面（上面、下面、及び側面を含む外部に露出した全表面）のうち、少なくとも金属部材１１に接続された接続部１２と異なる部分には表面処理層１３が形成されている。これにより、銅部材１０と金属部材１１の双方に跨って水１５が付着した場合に、銅部材１０に形成された表面処理層１３により銅部材１０と水１５とが直接に接触することが抑制される。

また、本実施形態によれば、接続部１２には表面処理層１３は形成されていないので、銅部材１０と金属部材１１との電気的な接続信頼性が低下することを抑制することができる。

また、本実施形態によれば、表面処理層１３を構成する表面処理剤は分子構造中にキレート部を有する。このキレート部が銅部材１０の表面と結合することにより、表面処理層１３は銅部材１０と強固に結合する。一方、表面処理剤は分子構造中に疎水部を有するので、銅部材１０と金属部材１１の双方に跨って水が付着した場合に、銅部材１０と水とが直接に接触することが抑制される。すると、水１５に含まれる溶存酸素が銅部材１０に供給されることが抑制される。これにより、銅部材１０から溶存酸素が電子を受け取って、Ｈ_２Ｏ、又はＯＨ⁻イオンが生成することによって電子が消費される反応が抑制される。この結果、銅部材１０と金属部材１１との間で水１５を介した回路が形成されることが抑制されるので、金属部材１１、水１５、及び銅部材１０の間で腐食電流が流れることを抑制できる。本実施形態によれば、金属部材１１に表面処理層１３を形成するのではなく、金属部材１１に接続された銅部材１０に表面処理層１３を形成するという構成により、金属部材１１が電食により溶出することを抑制することができる。

本実施形態に係る表面処理剤は、分子構造中に疎水性を有する疎水部を有する。疎水部としては、分子構造の少なくとも一部が疎水性を有していればよい。表面処理剤は、疎水部として、疎水基を含んでいてもよい。また、表面処理剤は、分子構造中に、疎水部と親水部の双方を含んでいてもよい。本実施形態によれば、疎水部により、銅部材１０と水１５とが直接に接触することを確実に抑制することができる。

本実施形態に係るキレート基は、ポリリン酸塩、アミノカルボン酸、１，３−ジケトン、アセト酢酸（エステル）、ヒドロキシカルボン酸、ポリアミン、アミノアルコール、芳香族複素環式塩基類、フェノール類、オキシム類、シッフ塩基、テトラピロール類、イオウ化合物、合成大環状化合物、ホスホン酸、および、ヒドロキシエチリデンホスホン酸から選択された１種または２種以上のキレート配位子に由来するものであることが好ましい。キレート基が上記各種の基よりなることにより、確実に銅部材の表面と結合することができる。

また、本実施形態に係る表面処理剤は、下記一般式（１）で表されるベンゾトリアゾール誘導体を含む構成とすることができる。

［一般式（１）中、Ｘは疎水基を表し、Ｙは水素原子又は低級アルキル基を表す。］
本実施形態によれば、ベンゾトリアゾール誘導体は疎水基を備えるので、水１５が銅部材１０の表面に付着することを抑制できる。更に、水中の溶存酸素が銅部材１０の表面に到達することを抑制できる。これにより、腐食電流が流れることを一層抑制できる。これにより、金属部材１１の電食を一層抑制できる。

また、上記したＸで表される疎水基は、下記一般式（２）で表される構成とすることができる。

［一般式（２）中、Ｒ^１及びＲ^２はそれぞれ独立に水素原子又は炭素数１〜１５のアルキル基、ビニル基、アリル基、アリール基を表す。］
本実施形態によれば、比較的容易にベンゾトリアゾール誘導体を合成することができる。

また、上記したＲ^１及び前記Ｒ^２はそれぞれ独立に炭素数５〜１１の直鎖アルキル基、分岐アルキル基、若しくはシクロアルキル基とすることができる。これにより、Ｘで表される疎水基の炭素数が比較的に大きくなるので疎水性が高くなる。これにより、腐食電流が流れることを更に抑制することができるから、金属部材１１の電食を更に抑制することができる。

また、本実施形態においては、金属部材１１はアルミニウム又はアルミニウム合金を含む。アルミニウム又はアルミニウム合金は比較的に比重が小さいので、電気接続構造３０を軽量化することができる。

（腐食電流の評価試験１）
続いて、本発明の電気接続構造に係るモデル実験について説明する。このモデル実験により、銅部材に表面処理層が形成されることにより腐食電流が抑制されることが認められた。

（試験例１）
まず、金属部材２０として、厚さ０．２ｍｍのアルミニウム板をプレス加工することにより、幅１ｃｍ、長さ１ｃｍの試験片を形成した。金属部材２０は５質量％ＮａＯＨ水溶液に１分間浸漬した後、５０％ＨＮＯ_３に１分間浸漬した後、直後に純水にて洗浄した。

一方、銅部材２１として、厚さ０．２ｍｍの銅板をプレス加工することにより、幅１ｃｍ、長さ４ｃｍの試験片を形成した。銅部材２１の表面積は、側面積については無視し、上面の面積（幅１ｃｍ×４ｃｍ＝４ｃｍ^２）と下面の面積（幅１ｃｍ×４ｃｍ＝４ｃｍ^２）との和である８ｃｍ^２とした。この銅部材２１は下記の式（３）で表されるベンゾトリアゾールの１質量％水溶液に５０℃、１０秒間浸漬した後、室温で風乾した。ベンゾトリアゾールは、ＢＴ−１２０（城北化学工業株式会社製）を用いた。

図５に示すように、金属部材２０は、容器に５質量％ＮａＣｌ水溶液５０ｍｌを入れ、この溶液中に浸漬した。一方、銅部材２１は、金属部材が浸漬された容器とは異なる容器に５質量％ＮａＣｌ水溶液２０００ｍｌを入れ、この溶液中に浸漬した。金属部材２０が浸漬されたＮａＣｌ水溶液と、銅部材２１が浸漬されたＮａＣｌ水溶液とは、塩橋２４にて電気的に接続した。また、金属部材２０と、銅部材２１とは、電流計２２を介して導線２３にて電気的に接続した。この電流計２２にて、金属部材２０と銅部材２１との間に流れる腐食電流を測定した。

上記の実験装置にて、水溶液の温度を５０℃に保持し、金属部材２０及び銅部材２１をＮａＣｌ水溶液中に浸漬してから１時間後の電流値を記録した。この電流値を、銅部材２１の表面積８ｃｍ^２で除した値を表１に示した。

（試験例２）
銅部材２１をベンゾトリアゾールの１質量％水溶液に浸漬しなかったこと以外は試験例１と同様にして腐食電流を測定した。

今回の試験においては、試験例１が実施例とされ、試験例２が比較例とされる。試験例２における腐食電流は２４．０μＡ／ｃｍ^２であったのに対し、試験例１における腐食電流は２１．０μＡ／ｃｍ^２に減少しており、腐食電流を１２．５％減少させることができた。

（腐食電流の評価試験２）
続いて、ベンゾトリアゾール誘導体を含む表面処理剤を用いた場合の腐食電流について評価した。

（試験例３）
銅部材２１は下記の式（４）で表されるベンゾトリアゾール誘導体に５０℃、１０秒間浸漬した後、８０℃で１０分間乾燥した。乾燥は、加熱したホットプレート上に新品の銅板を載置し、この銅板の上に、ベンゾトリアゾール誘導体に浸漬した銅部材２１を載置して１０分間静置した。ベンゾトリアゾール誘導体は、ＢＴ−ＬＸ（城北化学工業株式会社製）を用いた。

上記以外は試験例１と同様にして腐食電流を測定した。結果を表２にまとめた。

（試験例４）
ベンゾトリアゾール誘導体に浸漬した銅部材２１の乾燥温度を１００℃とした以外は試験例３と同様にして腐食電流を測定した。結果を表２にまとめた。

（試験例５）
ベンゾトリアゾール誘導体に浸漬した銅部材２１の乾燥温度を１５０℃とした以外は試験例３と同様にして腐食電流を測定した。結果を表２にまとめた。

（試験例６）
ベンゾトリアゾール誘導体に浸漬した銅部材２１をホットプレートで乾燥しなかったこと以外は試験例３と同様にして腐食電流を測定した。結果を表２にまとめた。

今回の試験においては、試験例３〜６が実施例とされ、試験例２が比較例とされる。試験例２における腐食電流は２４．０μＡ／ｃｍ^２であったのに対し、試験例３〜６における腐食電流は１．５μＡ／ｃｍ^２〜６．０μＡ／ｃｍ^２に減少しており、９３．８％〜７５．０％も腐食電流を減少させるという顕著な効果が得られることが分かった。これにより、式（４）に係るベンゾトリアゾール誘導体によって銅部材２１の表面処理を行うことにより、金属部材２０の電食を抑制することができることが分かった。

また、ベンゾトリアゾールによって表面処理をした試験例１とは乾燥温度が異なるので厳密な比較はできないが、試験例１における腐食電流が２１．０μＡ／ｃｍ^２であるのに対し、式（４）に表されたベンゾトリアゾール誘導体を用いた試験例３〜６における腐食電流は１．５μＡ／ｃｍ^２〜６．０μＡ／ｃｍ^２となっており、試験例１と比べて腐食電流を９２．８％〜７１．４％も減少させることができた。これは、式（４）に表されたベンゾトリアゾール誘導体は疎水基を有するので、水が銅部材２１の表面に付着することを抑制できるためと考えられる。これにより、水中の溶存酸素が銅部材２１の表面に到達することを抑制できるので、腐食電流が流れることを一層抑制できたと考えられる。

（腐食電流の評価試験３）
続いて、試験例３〜６で用いたベンゾトリアゾール誘導体とは異なるベンゾトリアゾール誘導体を含む表面処理剤を用いた場合の腐食電流について評価した。

（試験例７）
銅部材２１は下記の化学式（５）で表されるベンゾトリアゾール誘導体と、下記の化学式（６）で表されるベンゾトリアゾール誘導体の双方又は一方を含む表面処理剤に５０℃、１０秒間浸漬した後、８０℃で１０分間乾燥した。乾燥は、加熱したホットプレート上に新品の銅板を載置し、この銅板の上に、ベンゾトリアゾール誘導体に浸漬した銅部材２１を載置して１０分間静置した。ベンゾトリアゾール誘導体は、ＴＴ−ＬＸ（城北化学工業株式会社製）を用いた。

上記以外は試験例１と同様にして腐食電流を測定した。結果を表３にまとめた。

（試験例８）
ベンゾトリアゾール誘導体に浸漬した銅部材２１の乾燥温度を１００℃とした以外は試験例７と同様にして腐食電流を測定した。結果を表３にまとめた。

（試験例９）
ベンゾトリアゾール誘導体に浸漬した銅部材２１の乾燥温度を１５０℃とした以外は試験例７と同様にして腐食電流を測定した。結果を表３にまとめた。

（試験例 １０）
ベンゾトリアゾール誘導体に浸漬した銅部材２１をホットプレートで乾燥しなかったこと以外は試験例７と同様にして腐食電流を測定した。結果を表２にまとめた。

今回の試験においては、試験例７〜１０が実施例とされ、試験例２が比較例とされる。試験例２における腐食電流は２４．０μＡ／ｃｍ^２であったのに対し、試験例７〜１０における腐食電流は０．６μＡ／ｃｍ^２〜３．０μＡ／ｃｍ^２に減少しており、９６．７％〜８７．５％も腐食電流を減少させるという顕著な効果が得られることが分かった。これにより、式（５）及び式（６）で表されたベンゾトリアゾール誘導体によって銅部材２１の表面処理を行うことにより、金属部材２０の電食を抑制することができることが分かった。

また、ベンゾトリアゾールによって表面処理をした試験例１とは乾燥温度が異なるので厳密な比較はできないが、試験例１における腐食電流が２１．０μＡ／ｃｍ^２であるのに対し、式（５）及び式（６）で表されたベンゾトリアゾール誘導体を用いた試験例７〜１０における腐食電流は０．６μＡ／ｃｍ^２〜３．０μＡ／ｃｍ^２となっており、試験例１と比べて腐食電流を９７．１％〜８５．７％も減少させることができた。これは、式（５）及び式（６）で表されたベンゾトリアゾール誘導体において、芳香族環にメチル基が置換されていることにより、疎水性が一層高くなったためと考えられる。

＜実施形態２＞
次に、本発明を具体化した実施形態２を、図６ないし図９を参照しつつ説明する。以下の説明においては、図６、図７および図９における左方を前方とし、右方を後方とする。また、図１における上方を上方とし、下方を下方とする。なお、実施形態１と重複する説明については省略する。

（端子１１０）
図６に示すように、本実施形態に係る端子１１０は、雌型の端子１１０である。端子１１０は、銅よりもイオン化傾向の大きな金属を含む金属領域１０４と、銅または銅合金を含む銅領域１０５とが並列して接合された金属板材１０１（詳細は後述する）から構成されている。本実施形態においては、金属領域１０４はアルミニウムまたはアルミニウム合金を含む。本実施形態の端子１１０は、図７に示すような展開形状の端子片１１０Ａに曲げ加工などを施すことで図６に示すような形状に成形されている。金属領域１０４の上面及び下面にはアルマイト処理が施されることによりアルマイト層（図示せず）が形成されている。

端子１１０は、前後に開口する略箱型をなす本体部１１１を備える。この本体部１１１内には、前方から雄端子のタブ（図示せず）が挿入されるようになっている。本体部１１１の後側には、電線１４０が接続される電線接続部１２３が設けられている。

（本体部１１１）
本体部１１１は、図７に示す展開形状の端子片１１０Ａを折曲線Ｌ１に沿って折り曲げることで角筒状に形成されている。本体部１１１は、前後に延出する底壁１１３と、底壁１１３の両側縁から立ち上げられる一対の側壁１１４，１１５と、側壁１１４から連なり底壁１１３と対向する天井壁１１６と、側壁１１５から連なり天井壁１１６の外側に重ね合わせられる外壁１１７とから構成されている。

天井壁１１６の側縁には、側壁１１５側へ突出する支持片１１８が設けられている。この支持片１１８が外壁１１７に切り欠き形成された差込溝１１９内に差し込まれると共に差込溝１１９の側縁（側壁１１５の上端面）に当接されることで、天井壁１１６は底壁１１３とほぼ平行な姿勢に支持される。

底壁１１３の前端には、タブに対して弾性接触する弾性接触片１２０が突出して設けられている。弾性接触片１２０の構造の詳細は図示しないが、図７に示す展開状態において底壁１１３から前方へ真っ直ぐに延出された舌片１３０を、本体部１１１における前端位置にて後方へ折り返した後、本体部１１１における長さ方向略中央位置にて前方へ折り返して形成されている。

弾性接触片１２０のうち前後の折返部の間の部分は、天井壁１１６と対向するとともにタブに対して直接に接触可能なタブ接触部１２０Ａとされる。一方、弾性接触片１２０の後側の折返部から前方へ突出する部分は、底壁１１３に当接可能とされる支持部１２０Ｂとされる。支持部１２０Ｂの先端部１２０Ｃは上方へ向けて屈曲形成されている。弾性接触片１２０は、本体部１１１内に挿入されたタブを天井壁１１６とタブ接触部１２０Ａとの間で挟圧状態に保持可能とされ、タブにより押圧されることで弾性変形されるようになっている。このとき支持部１２０Ｂが底壁１１３に当接されるとともに支持部１２０Ｂの先端部１２０Ｃがタブ接触部１２０Ａの裏側に当接されることで、弾性接触片１２０が過度撓みするのを規制可能とされる。また弾性接触片１２０は、底壁１１３よりも幅狭に形成されている。底壁１１３には、端子１１０をハウジング（図示せず）のキャビティ内に収容したときにキャビティ内に設けられたランス（図示せず）が進入して係止可能な係止孔１２１が開口して形成されている。また係止孔１２１の両側縁（両側壁１１４，１１５の下端）からは、キャビティ内への挿入動作の案内などに機能するスタビライザ１２２が一対突設されている。

（電線接続部１２３）
端子１１０の電線接続部１２３は、図６に示すように、本体部１１１の底壁１１３の後端から後方へ延出されて設けられている。電線接続部１２３の上面は電線１４０が載置される電線載置面１２３Ａとされる。この電線１４０は２組のバレル部１２５Ａ，１２５Ｂにより圧着されている。

電線１４０は、金属細線（例えば、アルミニウム製またはアルミニウム合金製の金属細線）を撚り合わせてなる芯線１４１を絶縁製の材料からなる絶縁被覆１４２で被覆したものである。本実施形態において電線１４０の材料として用いるアルミニウム合金としては、例えばＪＩＳ規格Ａ５０５２のアルミニウム合金や、ＪＩＳ規格Ａ５０８３のアルミニウム合金などがあげられる。

電線１４０の端末１４０Ａは、図１に示すように、絶縁被覆１４２が剥離されて芯線１４１が露出した状態になっている。電線１４０は、露出した芯線１４１の前端１４１Ａ（端末１４１Ａ）を本体部１１１側に向けて端子１１０に接続される。電線接続部１２３のうち、電線１４０の端末１４０Ａにおいて露出した芯線１４１が接続される部分が芯線接続部１２４である。

端子１１０には、電線１４０の芯線１４１に接続されるワイヤーバレル部１２５Ｂと、電線１４０の絶縁被覆１４２に接続されるインシュレーションバレル部１２５Ａとが、間隔をあけて、本体部１１１の底壁１１３から連なって底壁１１３の幅方向に張り出し形成されている（図７を参照）。２組のバレル部１２５Ａ，１２５Ｂのうち、前側（本体部１１１側）のバレル部１２５Ｂは露出した芯線１４１を圧着して端子１１０と電気的に接続されるワイヤーバレル部１２５Ｂとされ、後側（後端側）のバレル部１２５Ａは電線１４０の絶縁被覆１４２で被覆している部分を圧着して端子１１０と接続されるインシュレーションバレル部１２５Ａとされる。

ワイヤーバレル部１２５Ｂの電線載置面１２３Ａには、電線１４０を圧着する際に芯線１４１の周囲に形成された金属酸化膜を破るための複数の凹部１２８が複数凹設されている（図７参照）。

凹部１２８の孔縁は電線１４０を圧着する前の状態において、図７の紙面を貫通する方向から見て平行四辺形状をなしている。複数の凹部１２８は、ワイヤーバレル部１２５Ｂが芯線１４１に圧着された状態で芯線１４１が延びる方向について間隔を空けて配されるとともに、芯線１４１が延びる方向に交差する方向について間隔を空けて配されている。

ワイヤーバレル部１２５Ｂと本体部１１１の後端との間の領域１２６は、電線１４０の端末１４０Ａが配される端部配置領域１２６であり、この端部配置領域１２６は、電線１４０を接続した状態において一部が上方に開放状態となっており、芯線１４１が露出状態（外側から目視可能な状態）で配されている（図６参照）。

ワイヤーバレル部１２５Ｂとインシュレーションバレル部１２５Ａとの間の領域１２７は絶縁被覆１４２の端末１４２Ａと、絶縁被覆１４２の端末１４２Ａから露出した芯線１４１とが配される芯線配置領域１２７であり、端部配置領域１２６と同様に、電線１４０を接続した状態において一部が上方に開放状態となっており、芯線１４１が露出状態（外側から目視可能な状態）で配されている（図６参照）。

（メッキ領域１０６）
本体部１１１の前端部から後端部寄りの位置には、イオン化傾向がアルミニウム（合金）よりも銅部材に近いメッキ用金属がメッキされたメッキ領域１０６が形成されている。メッキ用金属としては、例えば、亜鉛、ニッケル、錫等を用いることができる。本実施形態においては、メッキ用金属として錫が用いられている。

（表面処理層１２９）
本実施形態の端子１１０においては、電線接続部１２３の前端１２３Ｅと、本体部１１１のうちメッキ層が形成されていない部分とに、面処理剤を含む表面処理層１２９が形成されている。表面処理層１２９は、電線１４０が載置される電線載置面１２３Ａ（図６における上側に配される面）および、その反対側の面１２３Ｂの双方に形成されている（図６および図７を参照）。表面処理層１２９により覆われている部分については、図中、網掛けで示した。表面処理層１２９は電線接続部１２３に接続される電線１４０の前端（芯線１４１の前端１４１Ａ）よりも本体部１１１寄りに形成されているので、端子１１０と電線１４０との電気的な接続に悪影響を与えることはない。

（金属板材１０１）
次に、本実施形態の端子１１０を構成する金属板材１０１について説明する。本実施形態で用いる金属板材１０１は、図８に示すように、アルミニウムまたはアルミニウム合金（「アルミニウム（合金）」ともいう）からなる金属領域１０４と、銅または銅合金（「銅（合金）」ともいう）からなる銅領域１０５とが並列して接合されたクラッド材である。

金属板材１０１は、図８および図９に示すように、アルミニウム（合金）と銅（合金）との接合部１０７を含めて概ね厚みが一定の平板状をなしている。アルミニウム（合金）と銅（合金）との接合部１０７においては、アルミニウム（合金）からなる層および銅（合金）からなる層は、それぞれ厚みが他の部分の厚みの約２分の１に形成され、互いに重なりあっている。金属板材１０１の両面１０１Ａ，１０１Ｂには、それぞれ、銅領域１０５のうちメッキ層が形成されていない領域を覆うように表面処理層１２９が形成されている。

（製造工程）
次に、本実施形態の端子１１０の製造工程の一例について説明する。まず、端子１１０の材料となる金属板材１０１を作製する（板材作製工程）。具体的には、アルミニウム（合金）と銅（合金）とを、冷間圧接により一体化することにより、アルミニウム（合金）からなる金属領域１０４と銅（合金）からなる銅領域１０５とが並列して接合された平板状のクラッド材を作製する。

（メッキ工程）
次に、板材作製工程の実行により得られた金属板材１０１の表面１０１Ａ，１０１Ｂに、イオン化傾向がアルミニウム（合金）よりも銅部材に近いメッキ用金属をメッキするメッキ工程を実行する。本実施形態においては、錫メッキが施される。金属板材１０１のうち、金属領域１０４と、銅領域１０５のうちメッキ領域１０６を形成しない領域とを公知の方法によりマスキングする。次いで、銅領域１０５に公知の方法により錫メッキを施す。その後、マスキングを除去する。

（アルマイト処理工程）
次に、金属板材１０１の金属領域１０４の表面１０１Ａ、１０１Ｂにアルマイト層を形成するアルマイト処理工程を実行する。金属板材１０１のうち、金属領域１０４を除く領域を公知の方法によりマスキングする。次いで、金属領域１０４に公知の方法によりアルマイト層を形成する。その後、マスキングを除去する。

（表面処理工程）
次に、金属板材１０１の表面１０１Ａ，１０１Ｂに表面処理層１２９を形成する表面処理工程を実行する。金属板材１０１のうち、メッキ層が形成された領域と、アルマイト層が形成された領域とを公知の手法によりマスキングする。次いで、金属板材１０１の表面１０１Ａ，１０１Ｂに表面処理剤を塗布する。表面処理剤を塗布する方法は、金属板材１０１を表面処理剤に浸漬してもよく、金属板材１０１に表面処理剤を刷毛で塗布してもよく、表面処理剤又は表面処理剤を溶剤に溶解させた溶液を金属板材１０１にスプレーしてもよく、必要に応じて任意の手法を適宜に選択することができる。その後、マスキングを除去する。これにより金属板材１０１が形成される（図９参照）。

なお、メッキ工程と、アルマイト処理工程と、表面処理工程の順序は、上記の順序に限定されず、任意の順序で実行することができる。

（打ち抜き工程）
次に、金属板材１０１を打抜く（打ち抜き工程）ことにより、図７に示す形状の連鎖端子が得られる。なお、本実施形態では、本体部１１１のほぼ全域が銅領域１０５に形成されるようにするとともに、電線接続部１２３のほぼ全域が金属板材１０１の金属領域１０４に形成されるように、打ち抜き工程が実行される。

（プレス工程）
次に、ワイヤーバレル部１２５Ｂの電線載置面１２３Ａに、図示しない複数の凸部が突出形成された金型を用いてプレス加工を施すことにより（プレス工程）、複数の凹部１２８を形成する。と、図示しない連鎖端子が得られる。

連鎖端子（打ち抜き工程の実行後に得られる金属板材）においては、複数の端子片１１０Ａがキャリア１３１，１３５に連結されている。連鎖端子は、図示横方向に沿って延出する帯状をなす一対のキャリア１３１，１３５に対し、複数の端子片１１０Ａを図示横方向、すなわちキャリア１３１，１３５の長手方向（延出方向）に沿ってほぼ等間隔に並んだ状態で連結した構成とされている。各端子片１１０Ａは、その長さ方向を図示縦方向、すなわち連鎖端子における幅方向に沿わせた姿勢とした状態で、前後の各一端部がそれぞれキャリア１３１，１３５の幅方向の一方の縁部に連結されている。

端子片１１０Ａの前端部は、図７における左側のキャリア１３１に連結されている。端子片１１０Ａの前端部に形成された弾性接触片１２０の先端部１２０Ｃは、キャリア１３１の幅領域内に入り込んだところに形成されている。この端子片１１０Ａの前端部を連結する連結部１３２とキャリア１３１とは、図示横方向に並んで配されている。

端子片１１０Ａの後端部は、図７における右側のキャリア１３５の側縁に突設された連結部１３６に連結されている。連結部１３６は、端子片１１０Ａのうちインシュレーションバレル部１２５Ａの後端幅方向略中央に繋げられている。これら端子片１１０Ａと連結部１３６とキャリア１３５とは、図示縦方向、すなわち連鎖端子全体から見て幅方向に並んで配されている。このキャリア１３５には、連鎖端子を送り出すために加工機に設けられた送り爪（図示せず）が係合可能な送り孔１３３，１３４が開口して形成されている。この送り孔１３３，１３４は、加工機の種類（例えばプレス機や圧着機）によって送り爪の形状が異なることから、その送り爪の形状に合わせて円形の送り孔１３３と方形の送り孔１３４の２種類が設けられている。

次に、キャリア１３１，１３５に形成した送り孔１３３，１３４に送り爪を係合させることで、端子片１１０Ａを順次加工機に送り、その過程で端子片１１０Ａに対して曲げ加工などを施す。本実施形態では、金属板材１０１は概ね厚みが一定であるので、第１の金属材料と第２の金属材料とが接合される接合部１０７においても容易に曲げ加工を施すことができる。

（圧着工程）
次に、個々の端子片１１０Ａの電線接続部１２３に設けられたインシュレーションバレル部１２５Ａおよびワイヤーバレル部１２５Ｂを電線１４０に圧着させて、端子１１０と電線１４０とを接続する圧着工程を実行する。具体的には、電線１４０を、その芯線１４１の前端１４１Ａ（端末１４１Ａ）が電線接続部１２３の端部配置領域１２６に配されるとともに、絶縁被覆１４２の端末１４２Ａが芯線配置領域１２７に配されるように載置してから、ワイヤーバレル部１２５Ｂとインシュレーションバレル部１２５Ａとをそれぞれ電線１４０に圧着させる。

（本実施形態の作用、効果）
続いて、本実施形態の作用、効果について説明する。本実施形態に係る端子１１０は、銅部材と金属部材とが冷間圧接された金属板材１０１により形成され、銅部材からなる銅領域１０５と、金属部材からなる金属領域１０４とが並列されており、銅領域１０５には表面処理層１２９が形成されている。これにより、銅部材と金属部材とが冷間圧接されて一体に形成された端子１１０について、金属部材が電食により腐食することを抑制できる。

また、本実施形態によれば、銅領域１０５には、イオン化傾向が金属部材よりも銅部材に近いメッキ用金属がメッキされたメッキ領域１０６が形成されており、表面処理層１２９は、少なくとも銅領域１０５のうちメッキ領域１０６が形成されていない領域に形成されている。これにより、金属領域１０４とメッキ領域１０６とのイオン化傾向の差、及び銅領域１０５とメッキ領域１０６とのイオン化傾向の差は、金属領域１０４と銅領域１０５とのイオン化傾向の差よりも小さくなっている。これにより、電食が起こりにくくなるので電食のスピードが抑制される。

また、本実施形態によれば、金属部材はアルミニウム又はアルミニウム合金を含み、金属領域１０４の表面にはアルマイト層が形成されている。金属領域１０４の表面がアルマイト層に被覆されていることにより、アルミニウムが水中に溶出することが抑制される。これにより、金属部材が電食により腐食することを一層抑制できる。

上記のアルマイト層は比較的に硬いので、ワイヤーバレル部１２５Ｂが芯線１４１に圧着される際に、芯線１４１と摺接することにより細かく割れて、ワイヤーバレル部１２５Ｂから剥がれる。すると、ワイヤーバレル部１２５Ｂを構成する金属の新生面が露出する。また、細かく割れたアルマイト層が芯線１４１の表面に摺接することにより、芯線１４１の表面に形成された酸化膜を効率よく剥がすことができる。すると、芯線１４１を構成する金属の新生面が露出する。これにより、ワイヤーバレル部１２５Ｂにおいて露出した金属の新生面と、芯線１４１において露出した新生面とが接触することにより、ワイヤーバレル部１２５Ｂと芯線１４１とが電気的に確実に接続される。この結果、ワイヤーバレル部１２５Ｂと芯線１４１との電気的な接続信頼性を向上させることができる。

＜実施形態３＞
次に、本発明の実施形態３を図１０ないし図１１を参照しつつ説明する。本実施形態は、銅又は銅合金を含む端子１５０（銅部材の一例）と、銅よりもイオン化傾向の大きな金属を含む芯線１５１（金属部材の一例）を備えた電線１５２と、を備えた端子付き電線１５３である。なお、実施形態１と重複する説明については省略する。

（電線１５２）
電線１５２は、芯線１５１の外周を合成樹脂製の絶縁被覆１５４で包囲してなる。芯線１５１を構成する金属としては、銅よりもイオン化傾向の大きな金属を用いることが可能であって、例えば、アルミニウム、マンガン、亜鉛、クロム、鉄、カドミウム、コバルト、ニッケル、錫、鉛等、又はこれらの合金を例示することができる。本実施形態においては、芯線１５１はアルミニウム又はアルミニウム合金を含む。本実施形態に係る芯線１５１は複数の金属細線を撚り合わせてなる撚り線である。芯線１５１としては、金属棒材からなる、いわゆる単芯線を用いてもよい。アルミニウム又はアルミニウム合金は比較的に比重が小さいので、端子付き電線１５３を全体として軽量化することができる。

（端子１５０）
図１０に示すように、端子１５０は、電線１５２の端末から露出する芯線１５１に接続されるワイヤーバレル部１５５と、ワイヤーバレル部１５５の後方に形成されて絶縁被覆１５４を保持するインシュレーションバレル部１５６と、ワイヤーバレル部１５５の前方に形成されて雄端子のタブ（図示せず）が挿入される本体部１５７と、を備える。

端子１５０は、銅又は銅合金からなる金属板材を所定の形状にプレス加工してなる。端子１５０の表面には、イオン化傾向がアルミニウムよりも銅に近いメッキ用金属がメッキされている。メッキ用金属としては、例えば、亜鉛、ニッケル、錫等を用いることができる。本実施形態では、芯線とワイヤーバレル部との接触抵抗を低減させることができることから、メッキ用金属として錫が用いられている。

図１１に示すように、端子１５０の端面１５８においては、銅又は銅合金が露出している。この端面１５８には、表面処理剤によって表面処理層（図示せず）が形成されている。本実施形態においては、少なくともワイヤーバレル部１５５の端面１５８には表面処理層が形成されている。また、ワイヤーバレル部１５５の前方及び後方においては、芯線１５１がワイヤーバレル部１５５から露出した状態になっている。

上記の表面処理層は、例えば、電線１５２に端子１５０を圧着した後に、少なくとも端子１５０と、電線１５２から露出した芯線１５１とを、表面処理剤の中に浸漬することにより形成することができる。また、例えば、銅又は銅合金からなる金属板材をプレス加工する際に、プレス油に表面処理剤を混入させることにより、端子１５０の端面１５８に表面処理層を形成することができる。

（本実施形態の作用、効果）
端子１５０は金属板材を所定形状にプレス加工することにより形成される。そのため、金属板材がメッキされているか否かにかかわらず、プレス後のワイヤーバレル部１５５の端面１５８においては、金属板材を構成する銅又は銅合金が露出する。ワイヤーバレル部１５５の端面１５８において銅又は銅合金が露出した状態であると、ここに水が付着することにより、芯線１５１に含まれるアルミニウム又はアルミニウム合金とのイオン化傾向の差により、電食が促進され、芯線１５１からアルミニウムが溶出することが懸念される。

この点に鑑み、本実施形態においては、少なくともワイヤーバレル部１５５の端面１５８に表面処理層が形成されているので、ワイヤーバレル部１５５の端面１５８において銅又は銅合金が露出していない。これにより、芯線１５１の電食を抑制することができる。

また、端子１５０の端面１５８に表面処理層が形成されていることにより、芯線１５１の電食を一層抑制することができる。

＜実施形態４＞
次に、本発明の実施形態４を、図１２を参照しつつ説明する。本実施形態は、銅又は銅合金を含む銅芯線１７０（第１芯線に相当）を備えた銅電線１７１（第１電線に相当）と、銅よりもイオン化傾向の大きなアルミニウム又はアルミニウム合金を含むアルミニウム芯線１７２（第２芯線に相当）を備えたアルミニウム電線１７３（第２電線に相当）と、が接続されたものである。銅芯線１７０の外周は合成樹脂製の絶縁被覆１７４で覆われており、アルミニウム芯線の外周は合成樹脂製の絶縁被覆１７５で覆われている。なお、実施形態１と重複する説明については省略する。

本実施形態においては、銅芯線１７０と、アルミニウム芯線１７２とは、スプライス端子１７６により電気的に接続されている。スプライス端子１７６は、銅芯線１７０及びアルミニウム芯線１７２の双方に巻き付くように圧着されるワイヤーバレル部１７７を備える。

スプライス端子１７６は、銅、銅合金、アルミニウム、アルミニウム合金、鉄、鉄合金等、必要に応じて任意の金属から適宜に選択できる。スプライス端子１７６の表面には、イオン化傾向がアルミニウムよりも銅に近いメッキ用金属がメッキされていてもよい。メッキ用金属としては、例えば、亜鉛、ニッケル、錫等を用いることができる。

銅芯線１７０、アルミニウム芯線１７２、及びスプライス端子１７６が、表面処理剤に浸漬されることにより、銅芯線１７０、アルミニウム芯線１７２、及びスプライス端子１７６の表面に表面処理層（図示せず）が形成されるようになっている。これにより、アルミニウム芯線１７２が電食により溶出することを抑制することができる。

なお、銅芯線１７０とアルミニウム芯線１７２とは、スプライス端子１７６によって接続される場合に限られない。例えば、銅芯線１７０とアルミニウム芯線１７２とは、抵抗溶接、超音波溶接、冷間圧接、加熱圧着等、必要に応じて任意の手法により接続することができる。

＜他の実施形態＞
本発明は上記記述及び図面によって説明した実施形態に限定されるものではなく、例えば次のような実施形態も本発明の技術的範囲に含まれる。

（１）実施形態１においては、金属部材１１に表面処理層１３が形成されている構成としたが、これに限られず、例えば、銅部材１０と金属部材１１とを接続した後に、銅部材１０及び金属部材１１を表面処理剤で処理することにより、銅部材１０及び金属部材１１の双方に表面処理層１３が形成される構成としてもよい。

（２）実施形態２においては、金属板材１０１に対して打ち抜き工程を実行する前に、表面処理工程を実行する構成としたが、表面処理工程は、例えば以下のように実行することができる。例えば、金属板材１０１に対して打ち抜き工程を実行する際に、潤滑油に表面処理剤を混入させることにより表面処理工程を実行してもよい。また、端子片１１０Ａに対して曲げ加工を実行する際に、潤滑油に表面処理剤を混入させることにより表面処理工程を実行してもよい。また、圧着工程を実行した後に、端子１１０を表面処理剤に浸漬することにより表面処理工程を実行してもよい。

（３）実施形態２において、アルマイト層は省略してもよい。

（４）実施形態２において、メッキ領域１０６は省略してもよい。

（５）電気接続構造は、任意の電気接続構造に適用できる。特に、自動車等の車両における電気接続構造に好適に用いることができる。例えば、銅部材からなる電線と金属部材からなる車体との接続構造、銅部材からなる雄端子と金属部材からなる雌端子との接続構造、金属部材からなる雄端子と銅部材からなる雌端子との接続構造、銅部材からなるバスバーと金属部材からなるバスバーとの接続構造等、必要に応じて任意の電気接続構造に適用することができる。

１０，２１：銅部材
１１，２０：金属部材
１２：接続部
１３：表面処理層
３０：電気接続構造
１０１：金属板材
１０４：金属領域
１０５：銅領域
１０６：メッキ領域
１５０：端子（銅部材）
１５１：芯線（金属部材）
１５５：ワイヤーバレル部
１７０：銅芯線（第１芯線）
１７１：銅電線（第１電線）
１７２：アルミニウム芯線（第２芯線）
１７３：アルミニウム電線（第２電線）

Claims (11)

1. 銅又は銅合金を含む銅部材と、
   前記銅部材に接続されると共に銅よりもイオン化傾向の大きな金属を含む金属部材と、
   前記銅部材のうち少なくとも前記金属部材に接続された接続部と異なる部分に、分子構造中に疎水部とキレート基とを有する表面処理剤が塗布されてなる表面処理層と、
   を備え、
   前記表面処理剤は、分子構造中に芳香族複素環式塩基類に由来する前記キレート基を有する下記一般式（１）で表されるベンゾトリアゾール誘導体を含むものである電気接続構造。
   

   

   
   ［一般式（１）中、Ｘは疎水基を表し、Ｙは水素原子又は低級アルキル基を表す。］
   
2. 前記疎水部はアルキル基を含む請求項１に記載の電気接続構造。
3. 前記Ｘで表される前記疎水基は、下記一般式（２）で表されるものである請求項１または請求項２に記載の電気接続構造。
   

   

   
   ［一般式（２）中、Ｒ ^１ 及びＲ ^２ はそれぞれ独立に水素原子又は炭素数１〜１５のアルキル基、ビニル基、アリル基、アリール基を表す。］
4. 前記Ｒ ^１ 及び前記Ｒ ^２ はそれぞれ独立に炭素数５〜１１の直鎖アルキル基、分岐アルキル基、若しくはシクロアルキル基である請求項３に記載の電気接続構造。
5. 前記Ｙは水素原子又はメチル基である請求項１ないし請求項４のいずれか一項に記載の電気接続構造。
6. 前記金属部材がアルミニウム又はアルミニウム合金を含む請求項１ないし請求項５のいずれか一項に記載の電気接続構造。
7. 前記銅部材は第１電線の第１芯線であり、前記金属部材は前記第１電線とは異なる第２電線の第２芯線である請求項１ないし請求項６のいずれか一項に記載の電気接続構造。
8. 前記金属部材は電線の芯線であり、前記銅部材は前記芯線に圧着されるワイヤーバレル部を備えた端子であり、
   少なくとも前記ワイヤーバレル部の端面には前記表面処理層が形成されている請求項１ないし請求項７のいずれか一項に記載の電気接続構造。
9. 請求項１ないし請求項６のいずれか一項に記載の電気接続構造を用いた端子であって、
   前記銅部材と前記金属部材とが冷間圧接された金属板材により形成され、前記銅部材からなる銅領域と、前記金属部材からなる金属領域とが並列されており、
   前記銅領域には前記表面処理層が形成されている端子。
10. 前記銅領域には、イオン化傾向が前記金属部材よりも前記銅部材に近いメッキ用金属がメッキされたメッキ領域が形成されており、
    前記表面処理層は、少なくとも前記銅部材のうち前記メッキ領域が形成されていない領域に形成されている請求項９に記載の端子。
11. 前記金属部材はアルミニウム又はアルミニウム合金を含み、
    前記金属領域の表面にはアルマイト層が形成されている請求項９または請求項１０に記載の端子。

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