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JP6120648B2 - Correction member manufacturing apparatus and correction member manufacturing method - Google Patents
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Description

本発明は、修正部材製造装置および修正部材の製造方法に関し、より詳細には、基板上の微細パターンの欠陥を修正する欠陥修正装置において欠陥の除去に用いられる修正部材を製造する修正部材製造装置および修正部材の製造方法に関する。   The present invention relates to a correction member manufacturing apparatus and a correction member manufacturing method, and more particularly, a correction member manufacturing apparatus for manufacturing a correction member used for removing defects in a defect correction apparatus for correcting a defect of a fine pattern on a substrate. The present invention also relates to a method for manufacturing a correction member.

フラットパネルディスプレイに用いられる基板は、ガラスや樹脂などの基板上にパターンや薄膜などを積層することにより作製される。たとえばフラットパネルディスプレイに用いられるカラーフィルタ基板は、ガラス基板上に着色層および保護層を積層することにより作製される。   A substrate used for a flat panel display is manufactured by laminating a pattern or a thin film on a substrate such as glass or resin. For example, a color filter substrate used for a flat panel display is produced by laminating a colored layer and a protective layer on a glass substrate.

カラーフィルタ基板の作製においては、着色層および保護層の薄膜中に、着色層や保護層を形成するための材料であるレジストなどの液体材料に含まれる塊状物、あるいは大気中の埃などが異物として混入する場合がある。薄膜中に混入した異物を、洗浄やエアブローなどの方法により除去することは困難であり、異物は、たとえばレーザ照射や研磨などの方法により除去される。また、異物を除去する他の方法としては、修正針を操作して異物を除去する方法が提案されている(たとえば、特許文献1〜5参照)。なお、一般に修正針により異物を除去する欠陥修正装置において、修正針は、針ホルダに接続固定された修正部材として、該針ホルダを介して欠陥修正装置の修正針保持部に保持されている。   In the production of the color filter substrate, a lump in a liquid material such as a resist, which is a material for forming the colored layer or the protective layer, or dust in the atmosphere is a foreign substance in the colored layer and the protective layer. May be mixed. It is difficult to remove foreign matter mixed in the thin film by a method such as cleaning or air blowing, and the foreign matter is removed by a method such as laser irradiation or polishing. Further, as another method for removing foreign matter, a method for removing foreign matter by operating a correction needle has been proposed (see, for example, Patent Documents 1 to 5). In general, in a defect correction apparatus that removes foreign matter with a correction needle, the correction needle is held by a correction needle holding portion of the defect correction apparatus as a correction member connected and fixed to the needle holder.

特開2002−131527号公報JP 2002-131527 A 特開2008−261995号公報JP 2008-261995 A 特開2009−272484号公報JP 2009-272484 A 特開2010−152078号公報JP 2010-152078 A 特開2005−107318号公報JP-A-2005-107318

しかし、特許文献1〜5において提案されている方法では、修正針として、円錐形状を有し、かつ先端部に平坦面あるいは球面部が形成された修正針が用いられる。修正針の先端部に形成された平坦面および球面部の半径は、数μm〜数十μmとされる。この場合、修正針による異物の除去においては、修正針がガラス基板上に形成された着色層および保護層、またはガラス基板に点接触するため、カラーフィルタ基板が損傷を受けやすいという問題点がある。   However, in the methods proposed in Patent Documents 1 to 5, a correction needle having a conical shape and having a flat surface or a spherical surface formed at the tip is used as the correction needle. The radius of the flat surface and spherical surface formed at the tip of the correction needle is several μm to several tens of μm. In this case, in the removal of the foreign matter by the correction needle, there is a problem that the color filter substrate is easily damaged because the correction needle makes point contact with the colored layer and the protective layer formed on the glass substrate or the glass substrate. .

本願発明者らは、上記課題を解決するため鋭意研究を重ね、修正針の稜線部が基板の表面に対し線接触した状態で、異物を除去可能な欠陥修正装置の開発を進めている。   The inventors of the present application have made extensive studies to solve the above-mentioned problems, and are developing a defect correction apparatus capable of removing foreign matters while the ridge line portion of the correction needle is in line contact with the surface of the substrate.

図6および図9を参照して、修正針11によって基板22上の異物23を除去する欠陥修正装置においては、修正の際に修正針11によって基板22が受ける損傷を低減するために、修正針11の先端部に直線状の稜線部11dを形成し、当該稜線部11dを基板22の表面に対し線接触させるのが好ましい。基板22の表面に対し線接触を実現するためには、修正針11の稜線部11dと修正対象の基板22の表面との位置関係が理想的には平行であることが求められる。   With reference to FIGS. 6 and 9, in the defect correction apparatus for removing the foreign matter 23 on the substrate 22 by the correction needle 11, the correction needle is used to reduce damage to the substrate 22 by the correction needle 11 during correction. It is preferable that a linear ridge line part 11 d is formed at the tip of 11 and the ridge line part 11 d is in line contact with the surface of the substrate 22. In order to achieve line contact with the surface of the substrate 22, it is required that the positional relationship between the ridge line portion 11d of the correction needle 11 and the surface of the substrate 22 to be corrected is ideally parallel.

このとき、上述のように、修正針が欠陥修正装置の修正針保持部に修正部材として保持されたときに、その稜線部を基板の表面に対して線接触させるには、以下の課題が存在する。   At this time, as described above, when the correction needle is held as a correction member in the correction needle holding portion of the defect correction device, there is the following problem in bringing the ridge line portion into line contact with the surface of the substrate. To do.

加工して稜線部が形成された修正針を、針ホルダに接続固定して修正部材とするためには、修正針の針ホルダに対する接触角度について極めて高い精度の角度調整が必要となる。これは、欠陥修正装置において、欠陥修正の対象とする基板を搭載する基板搭載部と修正針保持部との平行度は、厳密に一定ではなく装置固有の値を持つため、各装置の平行度に応じて修正部材を製造する必要があるためである。   In order to connect and fix the correction needle formed with the ridge line portion to the needle holder as a correction member, it is necessary to adjust the contact angle of the correction needle with the needle holder with extremely high accuracy. This is because the parallelism between the substrate mounting portion for mounting the substrate to be corrected and the correction needle holding portion in the defect correction device is not strictly constant but has a value unique to the device. This is because it is necessary to manufacture a correction member according to the above.

しかしながら、修正針の稜線部と基板の表面とが平行となるように、針ホルダに対して修正針に形成された稜線部の角度を精度良く調整して、修正針を針ホルダに接続固定することは難しい。つまり、上記のような方法では、修正針によって基板上の異物を除去する際に当該基板に与える損傷を低減することができる修正針を作製することは困難である。   However, the angle of the ridge line formed on the correction needle with respect to the needle holder is accurately adjusted so that the ridge line of the correction needle and the surface of the substrate are parallel, and the correction needle is connected and fixed to the needle holder. It ’s difficult. That is, with the above method, it is difficult to produce a correction needle that can reduce damage to the substrate when the foreign matter on the substrate is removed by the correction needle.

本発明は上記のような課題を解決するためになされたものである。本発明の主たる目的は、修正針により基板上の異物を除去する際に当該基板に与える損傷を低減することができる修正針を、容易に製造することができる修正部材製造装置および修正部材の製造方法を提供することにある。   The present invention has been made to solve the above-described problems. A main object of the present invention is to provide a correction member manufacturing apparatus and a correction member that can easily manufacture a correction needle that can reduce damage to the substrate when foreign substances on the substrate are removed by the correction needle. It is to provide a method.

本発明の修正部材製造装置は、基板上の微細パターンの欠陥を修正する欠陥修正装置において欠陥の除去に用いられる、修正部材を製造する修正部材製造装置であって、針ホルダに接続された修正針を含む修正部材を、針ホルダを介して保持する修正針保持部と、修正針の針先端部を研磨する研磨部と、針先端部が研磨部の表面に接触した状態で、修正針保持部を研磨部に対して相対的に移動させる駆動部とを備える。修正針保持部は、接触した状態において駆動部により研磨部に対して相対的に特定の方向に移動し、上記研磨部は当該方向と交差する面内において、表面の傾き角度が変更可能である。修正針保持部は、研磨部の表面に対する針先端部の接触角度を変更可能となっている。ここで、研磨部の表面に対する修正針の接触角度とは、研磨部の表面と修正針の長手方向との成す角度をいう。これにより、修正針を針ホルダに接続固定した状態で、つまり、修正部材として修正針の針先端部を研磨できるので、修正針の針先端部に、針ホルダに対して正確に角度が決められた稜線部を形成できる。したがって、修正針により基板上の異物を除去する際に当該基板に与える損傷を低減することができる修正部材を容易に製造することができる。さらに、表面の傾き角度を欠陥修正装置における基板搭載面の機械的条件(傾き)に応じて設定し、修正針の針先端部を研磨することで、当該基板に適した修正針を作製することができる。さらに、修正針の針先端部において稜線部をはさんで隣接する面の交差する角度(あるいは稜線部を頂点としたときの頂角)を任意に選択することができ、欠陥修正装置にて処理対象とする基板および異物に適した修正針を作製することができる。 The correction member manufacturing apparatus of the present invention is a correction member manufacturing apparatus for manufacturing a correction member, which is used for removing defects in a defect correction apparatus for correcting a defect of a fine pattern on a substrate, and is a correction member connected to a needle holder. A correction needle holding part that holds a correction member including a needle through a needle holder, a polishing part that polishes the needle tip part of the correction needle, and a correction needle holding part with the needle tip part contacting the surface of the polishing part And a drive unit that moves the part relative to the polishing unit. The correction needle holding unit moves in a specific direction relative to the polishing unit by the driving unit in a contact state, and the polishing unit can change the inclination angle of the surface in a plane intersecting the direction. . The correction needle holding part can change the contact angle of the needle tip part with respect to the surface of the polishing part. Here, the contact angle of the correction needle to the surface of the polishing portion refers to an angle formed by the surface of the polishing portion and the longitudinal direction of the correction needle. This makes it possible to polish the tip of the correction needle with the correction needle connected to the needle holder, that is, as the correction member, so that the angle of the correction needle relative to the needle holder can be accurately determined. A ridge line portion can be formed. Therefore, it is possible to easily manufacture a correction member that can reduce damage to the substrate when the foreign matter on the substrate is removed by the correction needle. Furthermore, a correction needle suitable for the substrate is prepared by setting the surface inclination angle according to the mechanical condition (tilt) of the substrate mounting surface in the defect correction apparatus and polishing the needle tip of the correction needle. Can do. Furthermore, the angle at which the adjacent surfaces across the ridge line at the needle tip of the correction needle intersect (or the apex angle when the ridge line is the apex) can be arbitrarily selected and processed by the defect correction device. A correction needle suitable for the target substrate and foreign matter can be produced.

上記修正針保持部は、針ホルダを磁力により吸着する磁場発生部材を含んでもよい。これにより、修正針保持部は、針ホルダを磁力により保持することができる。   The correction needle holding part may include a magnetic field generating member that attracts the needle holder by magnetic force. Thereby, the correction needle holding part can hold the needle holder by magnetic force.

上記修正針保持部は、接触した状態において駆動部により研磨部に対して相対的に特定の方向に移動し、上記研磨部は当該方向と交差する面内において、表面の傾き角度が変更可能となっていてもよい。これにより、表面の傾き角度を欠陥修正装置における基板搭載面の機械的条件(傾き)に応じて設定し、修正針の針先端部を研磨することで、当該基板に適した修正針を作製することができる。   The correction needle holding unit moves in a specific direction relative to the polishing unit by the driving unit in a contact state, and the polishing unit can change the inclination angle of the surface in a plane intersecting the direction. It may be. As a result, the inclination angle of the surface is set according to the mechanical condition (inclination) of the substrate mounting surface in the defect correction apparatus, and the correction needle suitable for the substrate is manufactured by polishing the needle tip of the correction needle. be able to.

上記研磨部は表面に研磨材料を含むことができる。これにより、修正針保持部を研磨部に対して相対的に移動させることで、修正針の針先端部を研磨することができる。   The polishing part may include an abrasive material on the surface. Thereby, the needle tip portion of the correction needle can be polished by moving the correction needle holding portion relative to the polishing portion.

上記修正針保持部は、研磨部の表面に対する修正針の接触角度を変更可能となっていてもよい。ここで、研磨部の表面に対する修正針の接触角度とは、研磨部の表面と修正針の長手方向との成す角度をいう。これにより、修正針の針先端部において稜線部をはさんで隣接する面の交差する角度(あるいは稜線部を頂点としたときの頂角)を任意に選択することができ、欠陥修正装置にて処理対象とする基板および異物に適した修正針を作製することができる。   The correction needle holding part may be capable of changing the contact angle of the correction needle with the surface of the polishing part. Here, the contact angle of the correction needle to the surface of the polishing portion refers to an angle formed by the surface of the polishing portion and the longitudinal direction of the correction needle. As a result, it is possible to arbitrarily select an angle at which the adjacent surfaces across the ridge line part at the needle tip part of the correction needle (or an apex angle when the ridge line part is a vertex) can be selected. A correction needle suitable for a substrate and foreign matter to be processed can be produced.

上記駆動部は、修正針が研磨部と接触した際、修正針に負荷される外力を緩和するように、修正針保持部を移動可能とすることができる。これにより、修正針の損傷を抑制することができる。   The drive unit can make the correction needle holding unit movable so as to relieve an external force applied to the correction needle when the correction needle comes into contact with the polishing unit. Thereby, damage to the correction needle can be suppressed.

本発明の修正部材の製造方法は、基板搭載部上に搭載された基板上の微細パターンの欠陥を修正する欠陥修正装置において修正部材保持部に保持されるとともに欠陥の除去に用いられる、修正部材を製造する修正部材の製造方法であって、針ホルダに接続された修正針を、針ホルダを介して修正針保持部に取り付ける工程と、修正針の針先端部を研磨部の表面に接触させた状態で、修正針保持部を研磨部に対して相対的に駆動することにより、針先先端部を研磨する工程とを備える。研磨する工程では、あらかじめ取得した欠陥修正装置の修正部材保持部と基板搭載部との平行度に基づき、研磨部の表面に対する針先端部の接触角度と、接触させた状態で修正針保持部が研磨部に対して相対的に移動する方向と交差する面内において研磨部の表面の傾き角度とが設定された後、針先端部を研磨する。これにより、修正針を針ホルダに接続固定した状態で、つまり修正部材として修正針の針先端部を研磨できるので、修正針により基板上の異物を除去する際に当該基板に与える損傷を低減することができる修正針を、容易に製造することができる。 The correction member manufacturing method of the present invention is a correction member that is held by a correction member holding unit and used for removing defects in a defect correction device that corrects a defect in a fine pattern on a substrate mounted on a substrate mounting unit. A method of manufacturing a correction member for manufacturing a correction needle, the step of attaching a correction needle connected to the needle holder to the correction needle holding portion via the needle holder, and bringing the needle tip of the correction needle into contact with the surface of the polishing portion And a step of polishing the tip end portion of the needle tip by driving the correction needle holding portion relative to the polishing portion. In the polishing process, based on the parallelism between the correction member holding part and the substrate mounting part of the defect correction device acquired in advance, the contact angle of the needle tip with respect to the surface of the polishing part and the correction needle holding part in the contact state are After the inclination angle of the surface of the polishing part is set in a plane that intersects the direction of movement relative to the polishing part, the tip of the needle is polished. As a result, the tip of the correction needle can be polished as a correction member in a state where the correction needle is connected to the needle holder, that is, when the foreign matter on the substrate is removed by the correction needle, the damage to the substrate is reduced. A correction needle that can be easily manufactured.

本発明によれば、修正針により基板上の異物を除去する際に当該基板に与える損傷を低減することができる修正針を、容易に製造することができる。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the correction needle | hook which can reduce the damage given to the said board | substrate when removing the foreign material on a board | substrate with a correction needle | hook can be manufactured easily.

本実施の形態に係る修正部材製造装置の概略図である。It is the schematic of the correction member manufacturing apparatus which concerns on this Embodiment. 本実施の形態に係る修正部材製造装置に用いる修正部材の概略図である。It is the schematic of the correction member used for the correction member manufacturing apparatus which concerns on this Embodiment. 本実施の形態に係る修正部材製造装置の修正針保持部を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the correction needle | hook holding | maintenance part of the correction member manufacturing apparatus which concerns on this Embodiment. 本実施の形態に係る修正部材製造装置の動作を説明するための図である。It is a figure for demonstrating operation | movement of the correction member manufacturing apparatus which concerns on this Embodiment. 本実施の形態に係る修正部材製造装置に、修正部材を取り付けたときの概略図である。It is the schematic when a correction member is attached to the correction member manufacturing apparatus which concerns on this Embodiment. 本実施の形態に係る修正部材製造装置により製造された修正部材を、欠陥修正に用いた例を示す概略図である。It is the schematic which shows the example which used the correction member manufactured by the correction member manufacturing apparatus which concerns on this Embodiment for defect correction. 図6の側面図である。FIG. 7 is a side view of FIG. 6. 図7中の矢印Dに示す向きから見た実施の形態に係る修正部材の構造を示す概略端面図である。It is a schematic end view which shows the structure of the correction member which concerns on embodiment seen from the direction shown by the arrow D in FIG. 本実施の形態に係る修正部材製造装置により製造された修正部材の変形例を、欠陥修正に用いた例を示す概略図である。It is the schematic which shows the example which used the modification of the correction member manufactured by the correction member manufacturing apparatus concerning this Embodiment for defect correction. 図9の側面図である。FIG. 10 is a side view of FIG. 9. 図10中の矢印Eに示す向きから見た実施の形態に係る修正部材の構造を示す概略端面図である。It is a schematic end view which shows the structure of the correction member which concerns on embodiment seen from the direction shown by the arrow E in FIG. 本実施の形態に係る修正部材の製造方法のフローを示す図である。It is a figure which shows the flow of the manufacturing method of the correction member which concerns on this Embodiment.

以下、本発明の実施の形態について説明する。本実施の形態に係る修正部材製造装置は、基板上の微細パターンの欠陥を修正する欠陥修正装置において欠陥の除去に用いられる修正針を、修正部材として製造する修正部材製造装置である。   Embodiments of the present invention will be described below. The correction member manufacturing apparatus according to the present embodiment is a correction member manufacturing apparatus that manufactures, as a correction member, a correction needle that is used to remove a defect in a defect correction apparatus that corrects a fine pattern defect on a substrate.

修正針は、欠陥修正装置においてその針先先端が基板表面と線接触するように設けられるのが好ましい。そのため、欠陥修正装置の機械的条件や、欠陥修正の対象とする基板の状態に応じて、適切な修正針の形状が決められる。本実施の形態に係る修正部材製造装置は、修正針を針ホルダに接続固定した状態で、修正針の針先先端が基板表面と線接触するように修正針の針先先端を加工することで、適切な形状を有する修正針を備えた修正部材を製造する、修正部材製造装置である。   The correction needle is preferably provided so that the tip of the needle tip is in line contact with the substrate surface in the defect correction apparatus. For this reason, an appropriate correction needle shape is determined according to the mechanical conditions of the defect correction apparatus and the state of the substrate to be corrected. The correction member manufacturing apparatus according to the present embodiment processes the tip of the correction needle so that the tip of the correction needle is in line contact with the substrate surface while the correction needle is connected and fixed to the needle holder. A correction member manufacturing apparatus for manufacturing a correction member including a correction needle having an appropriate shape.

まず、図1および図5を参照して、本実施の形態に係る修正部材製造装置1の構成について説明する。本実施の形態に係る修正部材製造装置1は、定盤2と、Xステージ3と、修正針保持装置4と、Zステージ5と、修正針保持部6と、磁場発生部材7と、研磨部8と、研磨材料9とを備えている。   First, with reference to FIG. 1 and FIG. 5, the structure of the correction member manufacturing apparatus 1 which concerns on this Embodiment is demonstrated. The correction member manufacturing apparatus 1 according to the present embodiment includes a surface plate 2, an X stage 3, a correction needle holding device 4, a Z stage 5, a correction needle holding part 6, a magnetic field generating member 7, and a polishing part. 8 and an abrasive material 9.

定盤2には、Xステージ3が設けられている。Xステージ3は、図1中X方向に修正針保持装置4を移動可能に保持している。   The surface plate 2 is provided with an X stage 3. The X stage 3 holds the correction needle holding device 4 movably in the X direction in FIG.

修正針保持装置4には、Zステージ5が設けられている。Zステージ5は、図1中Z方向に修正針保持部6を移動可能に保持している。   The correction needle holding device 4 is provided with a Z stage 5. The Z stage 5 holds the correction needle holder 6 so as to be movable in the Z direction in FIG.

修正針保持部6は、修正針11を針ホルダ12を介して保持可能とするように構成されている。つまり、修正針保持部6は、修正部材10を保持可能に構成されている。具体的には、修正針保持部6には、保持面6a(図3参照)に針ホルダ12を磁力により吸着する磁場発生部材7が設けられている。磁場発生部材7は、磁場を発生する任意の材料からなり、例えば磁石とする。また、電磁場を発生する材料でもよく、磁性材料とコイルとからなる電磁石としてもよい。   The correction needle holder 6 is configured to hold the correction needle 11 via the needle holder 12. That is, the correction needle holding part 6 is configured to hold the correction member 10. Specifically, the correction needle holder 6 is provided with a magnetic field generating member 7 that attracts the needle holder 12 to the holding surface 6a (see FIG. 3) by a magnetic force. The magnetic field generating member 7 is made of any material that generates a magnetic field, and is, for example, a magnet. Moreover, the material which generate | occur | produces an electromagnetic field may be sufficient, and it is good also as an electromagnet which consists of a magnetic material and a coil.

また、図3を参照して、修正針保持部6はZステージ5と修正針保持部6との接続部である支点6bを中心として保持面6aを回動可能に構成されている。   Referring to FIG. 3, the correction needle holding portion 6 is configured to be able to rotate the holding surface 6 a around a fulcrum 6 b that is a connection portion between the Z stage 5 and the correction needle holding portion 6.

さらに、修正針保持部6に対して、上方向に一定以上の力が負荷された場合には、修正針保持部6はZステージ5の駆動から独立して、当該力の加えられた方向への自由に移動するように構成されている。   Further, when a force above a certain level is applied to the correction needle holding unit 6 in the upward direction, the correction needle holding unit 6 moves in the direction in which the force is applied independently of driving the Z stage 5. Is configured to move freely.

定盤2には、さらに研磨部8が設置されている。研磨部8のZ方向上面には研磨材料9が設けられている。研磨材料9を構成する材料としては、修正針の材料よりも硬度の高い任意の材料を用いることができる。このとき、修正針保持部6は、上述のように保持面6aを回動可能に構成されているため、図4中のXZ平面内において研磨材料9に対する修正針11の接触角度θ1は変更可能である。   A polishing unit 8 is further installed on the surface plate 2. A polishing material 9 is provided on the upper surface of the polishing portion 8 in the Z direction. As a material constituting the polishing material 9, any material having a higher hardness than the material of the correction needle can be used. At this time, since the correction needle holding part 6 is configured to be able to rotate the holding surface 6a as described above, the contact angle θ1 of the correction needle 11 with respect to the polishing material 9 can be changed in the XZ plane in FIG. It is.

研磨部8は、修正針11の針先端部と研磨部8の表面とを接触させた状態で、駆動部によって修正針保持部6が研磨部8に対して相対的に移動させられる方向と交差する面内において、当該表面の傾き角度が変更可能に設けられている。ここで、「表面」とは、研磨材料9が設けられた研磨部8の表面をいう。また、「表面の傾き角度」とは、図5を参照して、修正針11の長手方向と交差する面(図5では長手方向と垂直な面)と針ホルダ12の主表面(もっとも大きい面。図3における保持面6a)に沿った平面との交線Lと、研磨部8の当該表面とが成す角度θ2をいう。研磨部8において研磨材料9がその上面(XY平面)に設けられている場合には、修正針保持部6は研磨の際に針先端部が研磨材料9と接触した状態でX軸方向に往復移動させられる。そのため、この場合の研磨部8は、X軸方向と交差する面内において、表面の傾き角度θ2が矢印Cの方向に変更可能に設けられている。好ましくは、研磨部8は、X軸方向と垂直な面であるYZ平面内において、表面の傾き角度θ2が矢印Cの方向に変更可能に設けられている。   The polishing unit 8 intersects the direction in which the correction needle holding unit 6 is moved relative to the polishing unit 8 by the drive unit in a state where the needle tip of the correction needle 11 and the surface of the polishing unit 8 are in contact with each other. The inclination angle of the surface can be changed in the plane to be changed. Here, the “surface” refers to the surface of the polishing portion 8 provided with the polishing material 9. The “surface inclination angle” refers to a surface intersecting with the longitudinal direction of the correction needle 11 (a surface perpendicular to the longitudinal direction in FIG. 5) and a main surface (largest surface) of the needle holder 12 with reference to FIG. 3 is the angle θ2 formed by the intersection line L with the plane along the holding surface 6a) in FIG. When the polishing material 9 is provided on the upper surface (XY plane) of the polishing unit 8, the correction needle holding unit 6 reciprocates in the X-axis direction with the tip of the needle being in contact with the polishing material 9 during polishing. Moved. Therefore, the polishing unit 8 in this case is provided such that the surface inclination angle θ2 can be changed in the direction of the arrow C in a plane intersecting the X-axis direction. Preferably, the polishing section 8 is provided such that the surface inclination angle θ2 can be changed in the direction of arrow C in the YZ plane which is a plane perpendicular to the X-axis direction.

表面の傾き角度θ2の変更の方法は、任意の方法を用いることができる。たとえば、研磨材料9の上部表面(研磨面)が研磨材料9の底面に対して傾いており、その傾き角度が異なる複数種の研磨材料9を準備しておいて、必要な傾き角度に応じて研磨材料9を交換してもよい。   Any method can be used to change the surface inclination angle θ2. For example, the upper surface (polishing surface) of the abrasive material 9 is inclined with respect to the bottom surface of the abrasive material 9, and a plurality of types of abrasive materials 9 having different inclination angles are prepared, according to the required inclination angle. The abrasive material 9 may be replaced.

Xステージ3およびZステージ5は、研磨部8および研磨材料9に対して図1中のX方向およびZ方向に、修正針保持部6を相対的に移動可能に保持している。Xステージ3およびZステージ5は、制御部(図示しない)からの指示によって駆動する。   The X stage 3 and the Z stage 5 hold the correction needle holding part 6 movably relative to the polishing part 8 and the polishing material 9 in the X direction and the Z direction in FIG. The X stage 3 and the Z stage 5 are driven by an instruction from a control unit (not shown).

次に、図2を参照して、修正針保持部6に保持される被加工材料としての修正部材10について説明する。修正部材10は、修正針11および針ホルダ12を含む。修正針11は、円錐形状を有し、底面側を針ホルダ12に接続固定されている。例えば、針ホルダ12には修正針11の底面側を挿入可能とする穴が端面に設けられており、修正針11は該穴に挿入され、針ホルダ12に接着されている。さらに、針ホルダ12には、修正針保持部6の保持面6aに対向する主表面である被保持面12aに、磁場発生部材13が設けられている。磁場発生部材13は、磁場を発生する任意の材料からなり、たとえば磁石などの強磁性体とする。このようにすることによって、図5を参照して、針ホルダ12は、磁場発生部材13と修正針保持部6に設けられた磁場発生部材7(図1参照)との間に発生する磁力によって、修正針保持部6に対して上方(図5中Z方向の上方)より着脱可能に保持されている。   Next, with reference to FIG. 2, the correction member 10 as a workpiece material held by the correction needle holding part 6 will be described. The correction member 10 includes a correction needle 11 and a needle holder 12. The correction needle 11 has a conical shape, and the bottom surface side is connected and fixed to the needle holder 12. For example, the needle holder 12 is provided with a hole through which the bottom surface side of the correction needle 11 can be inserted, and the correction needle 11 is inserted into the hole and bonded to the needle holder 12. Further, the needle holder 12 is provided with a magnetic field generating member 13 on a held surface 12a that is a main surface facing the holding surface 6a of the correction needle holding portion 6. The magnetic field generating member 13 is made of any material that generates a magnetic field, and is a ferromagnetic material such as a magnet. In this way, referring to FIG. 5, the needle holder 12 is caused by the magnetic force generated between the magnetic field generating member 13 and the magnetic field generating member 7 (see FIG. 1) provided in the correction needle holding unit 6. Further, it is detachably held from above the correction needle holding portion 6 (upward in the Z direction in FIG. 5).

図4および図5を参照して、修正針保持部6に針ホルダ12を介して修正針11を保持させた後、Xステージ3を矢印Aの方向に、Zステージ5を矢印Bの方向に駆動する。このようにして、修正針11の針先端部を研磨部8の表面に接触させ、かつ、接触した状態で修正針保持部6を研磨材料9に対して相対的に移動させることで、修正針11を研磨することができる。   4 and 5, after the correction needle holding portion 6 holds the correction needle 11 via the needle holder 12, the X stage 3 is in the direction of arrow A and the Z stage 5 is in the direction of arrow B. To drive. In this way, the needle tip of the correction needle 11 is brought into contact with the surface of the polishing portion 8, and the correction needle holding portion 6 is moved relative to the polishing material 9 in the contacted state, thereby correcting the correction needle. 11 can be polished.

以上のように、本実施の形態に係る修正部材製造装置は、修正針保持部6が支点6bを中心として保持面6aを回動可能に構成されているため、保持面6a上に針ホルダ12を保持した場合に、研磨部8の表面に対する修正針11の接触角度θ1を変更可能とすることができる。また、研磨部8が修正針11の長手方向と垂直な方向において、表面の傾き角度θ2を変更可能に設けられている。   As described above, in the correction member manufacturing apparatus according to the present embodiment, since the correction needle holding unit 6 is configured to be able to rotate the holding surface 6a around the fulcrum 6b, the needle holder 12 is placed on the holding surface 6a. Can be changed, the contact angle θ1 of the correction needle 11 with respect to the surface of the polishing portion 8 can be changed. Further, the polishing section 8 is provided so that the surface inclination angle θ <b> 2 can be changed in a direction perpendicular to the longitudinal direction of the correction needle 11.

このようにすることにより、本実施の形態に係る修正部材製造装置1における修正針保持部6と研磨材料9との位置関係は、欠陥修正装置における修正針保持部と欠陥修正の対象とする基板との相対的な位置関係と同一に設定することができる。たとえば、接触角度θ1を欠陥修正装置における修正針保持部の保持面と基板表面とが当該保持面と垂直な平面内においてなす角度に応じて設定し、かつ、表面の傾き角度θ2を当該欠陥修正装置における基板搭載面の機械的条件(水平面に対する傾き等)に応じて設定することができる。このように設定した上で、修正針11の針先端部を研磨することで、当該欠陥修正装置において欠陥修正の対象とする基板に対して平行でかつ線接触可能な稜線部11dを有する修正針を容易に作製することができる。この結果、本実施の形態に係る修正部材製造装置により作製される修正針は、欠陥修正の対象とする基板に与える損傷を低減することができる。   By doing in this way, the positional relationship between the correction needle holding part 6 and the polishing material 9 in the correction member manufacturing apparatus 1 according to the present embodiment is such that the correction needle holding part and the substrate to be corrected in the defect correction apparatus. It can be set to be the same as the relative positional relationship. For example, the contact angle θ1 is set according to the angle formed between the holding surface of the correction needle holding portion and the substrate surface in the defect correction apparatus in a plane perpendicular to the holding surface, and the surface inclination angle θ2 is set to the defect correction. It can be set according to the mechanical conditions (tilt with respect to the horizontal plane, etc.) of the substrate mounting surface in the apparatus. After setting in this way, by correcting the tip of the correction needle 11, the correction needle having a ridge line portion 11 d that is parallel and line-contactable with the substrate to be corrected in the defect correction apparatus. Can be easily manufactured. As a result, the correction needle produced by the correction member manufacturing apparatus according to the present embodiment can reduce damage to the substrate that is the target of defect correction.

本実施の形態において、修正針保持部6はZステージ5と修正針保持部6との接続部である支点6bを中心として保持面6aを回動可能に構成され、かつ研磨部8は、修正針保持部6が針先端部と研磨部8の表面とが接触した状態で駆動部によって研磨部8に対して相対的に移動させられる方向と垂直な面内において、表面の傾き角度θ2が変更可能に設けられているが、これに限られるものではない。たとえば、保持面6aが支点6bに対して固定され、かつ研磨部8の表面の傾き角度θ2が一定として設けられていてもよい。このようにしても、欠陥修正装置における修正針と欠陥修正の対象とする基板との相対的な位置関係が一定であって、単一の形状の修正針11を作製すれば足りる場合には、修正針11により基板上の異物を除去する際に当該基板に与える損傷を低減することができる修正針11を、容易に製造することができる。また、保持面6aが支点6bに対して固定され、かつ研磨部8の表面の傾き角度θ2を変更可能に設けられていてもよい。このようにすれば、欠陥修正装置において基板を搭載する基板搭載部と修正針保持部との平行度が複数の欠陥修正装置でそれぞれ装置固有の値を持つ場合にも、各欠陥修正装置ごとに、その修正針保持部に保持させたときに基板搭載部に対して平行となる修正針11を作製することができる。   In the present embodiment, the correction needle holding portion 6 is configured to be able to rotate the holding surface 6a around a fulcrum 6b that is a connection portion between the Z stage 5 and the correction needle holding portion 6, and the polishing portion 8 is corrected. The inclination angle θ2 of the surface is changed in a plane perpendicular to the direction in which the needle holding unit 6 is moved relative to the polishing unit 8 by the drive unit in a state where the tip of the needle and the surface of the polishing unit 8 are in contact with each other. Although it is possible, it is not limited to this. For example, the holding surface 6a may be fixed with respect to the fulcrum 6b, and the inclination angle θ2 of the surface of the polishing unit 8 may be provided constant. Even in this case, when the relative positional relationship between the correction needle in the defect correction apparatus and the substrate to be corrected is constant and it is sufficient to produce the correction needle 11 having a single shape, The correction needle 11 that can reduce damage to the substrate when the foreign matter on the substrate is removed by the correction needle 11 can be easily manufactured. Further, the holding surface 6a may be fixed to the fulcrum 6b and provided so that the inclination angle θ2 of the surface of the polishing portion 8 can be changed. In this way, even when the parallelism between the substrate mounting portion on which the substrate is mounted in the defect correction device and the parallelism of the correction needle holding portion has a value unique to each of the plurality of defect correction devices, each defect correction device The correction needle 11 that is parallel to the substrate mounting portion when held by the correction needle holding portion can be produced.

また、図4を参照して、本実施の形態に係る修正部材製造装置1は、修正針保持部6が上方向に一定以上の力が負荷された場合には、修正針保持部6はZステージ5の駆動から独立して移動可能なように構成されている。これにより、修正針11が研磨材料9と接触した状態で、さらに修正針保持部6を下降させるようにZステージ5を駆動させた場合のように修正針11に過大な力が加えられた場合には、修正針保持部6は研磨材料9から退避する向きに移動することができる。その結果、修正針保持部6に負荷された当該力を緩和することができ、修正針11の損傷を抑制することができる。   In addition, referring to FIG. 4, in the correction member manufacturing apparatus 1 according to the present embodiment, when the correction needle holding unit 6 is applied with a certain force or more upward, the correction needle holding unit 6 is The stage 5 is configured to be movable independently of the drive of the stage 5. Thereby, when the correction needle 11 is in contact with the polishing material 9 and an excessive force is applied to the correction needle 11 as in the case where the Z stage 5 is further driven to lower the correction needle holding portion 6. In other words, the correction needle holding portion 6 can move in a direction to retract from the abrasive material 9. As a result, the force applied to the correction needle holding unit 6 can be reduced, and damage to the correction needle 11 can be suppressed.

本実施の形態に係る修正部材製造装置では、Xステージ3およびZステージ5によって修正針保持部6は移動可能に構成されているが、これに限られるものではない。たとえば、図1中Y方向に修正針保持部6を移動可能とするYステージが設けられていてもよい。   In the correction member manufacturing apparatus according to the present embodiment, the correction needle holding unit 6 is configured to be movable by the X stage 3 and the Z stage 5, but is not limited thereto. For example, a Y stage that can move the correction needle holder 6 in the Y direction in FIG. 1 may be provided.

また、図4および図5を参照して、本実施の形態に係る修正部材製造装置1では、研磨部8のZ方向上面に研磨材料9が設けられていたが、これに限られるものではない。研磨部8において、定盤2と接していない表面に研磨材料9が設けられていればよい。たとえば、研磨部8において、研磨材料9がその側面(YZ平面)に設けられていてもよい。この場合には、針先端部が研磨材料9と接触した状態で、研磨部8に対して修正針保持部6をZ軸方向に相対的に駆動させることにより、修正針11の針先端部を研磨材料9により研磨することができる。そのため、この場合の表面の傾き角度は、Z軸と交差する面内において変更可能に設けられていればよく、好ましくはZ軸と垂直なXY平面内において変更可能に設けられていればよい。   4 and 5, in the correction member manufacturing apparatus 1 according to the present embodiment, the polishing material 9 is provided on the upper surface in the Z direction of the polishing portion 8, but the present invention is not limited to this. . In the polishing unit 8, the polishing material 9 may be provided on the surface that is not in contact with the surface plate 2. For example, in the polishing unit 8, the polishing material 9 may be provided on the side surface (YZ plane). In this case, the needle tip portion of the correction needle 11 is moved by driving the correction needle holding portion 6 relative to the polishing portion 8 in the Z-axis direction with the needle tip portion in contact with the polishing material 9. Polishing with the polishing material 9 is possible. Therefore, the inclination angle of the surface in this case may be provided so as to be changeable within a plane intersecting the Z axis, and preferably provided so as to be changeable within an XY plane perpendicular to the Z axis.

また、本実施の形態に係る修正部材製造装置1では、研磨部8の同一表面上に、複数種類の研磨材料が並べて設けられてもよい。これにより、修正針11に対して複数種の加工を施すことができる。   In the correction member manufacturing apparatus 1 according to the present embodiment, a plurality of types of polishing materials may be provided side by side on the same surface of the polishing unit 8. Thereby, a plurality of types of processing can be performed on the correction needle 11.

また、図2を参照して、本実施の形態における、被加工材料としての修正針11は円錐形状であったが、これに限られるものではない。たとえば、角錐形状でもよいし、円柱、角柱形状でもよい。上述した修正針の適切な形状に最も近い形状とすれば、これを研磨して適切な形状とするまでの加工時間を低減することができる。円錐形状の修正針を本実施の形態に係る修正部材製造装置1により加工すれば、たとえば図6〜8に示す修正針11を得ることができる。また、角柱形状の修正針を本実施の形態に係る修正部材製造装置により加工すれば、たとえば図9〜11に示す修正針11を得ることができる。   In addition, referring to FIG. 2, the correction needle 11 as the work material in the present embodiment has a conical shape, but is not limited thereto. For example, a pyramid shape, a cylinder, or a prism shape may be used. If the shape closest to the appropriate shape of the correction needle described above is used, it is possible to reduce the processing time until this is polished to obtain an appropriate shape. If the conical correction needle is processed by the correction member manufacturing apparatus 1 according to the present embodiment, for example, the correction needle 11 shown in FIGS. 6 to 8 can be obtained. Moreover, if the prismatic correction needle is processed by the correction member manufacturing apparatus according to the present embodiment, for example, the correction needle 11 shown in FIGS. 9 to 11 can be obtained.

次に、本実施の形態に係る修正部材の製造方法について説明する。本実施の形態に係る修正部材の製造方法は、基板上の微細パターンの欠陥を修正する欠陥修正装置において欠陥の除去に用いられる修正部材を製造する修正部材の製造方法であって、本実施の形態に係る修正部材製造装置1を使用し、動作させることにより実施される。上述のように、欠陥修正装置の機械的条件や、欠陥修正の対象とする基板に応じて、修正針11には適切な形状が存在する。本実施の形態に係る修正部材10の製造方法は、針ホルダ12に接続固定された修正針11を加工して、適切な形状を有する修正針11を備える修正部材10を製造する、修正部材の製造方法である。   Next, the manufacturing method of the correction member which concerns on this Embodiment is demonstrated. A method for manufacturing a correction member according to the present embodiment is a method for manufacturing a correction member for manufacturing a correction member used for removing a defect in a defect correction apparatus for correcting a fine pattern defect on a substrate. It implements by using and operating the correction member manufacturing apparatus 1 which concerns on a form. As described above, the corrective needle 11 has an appropriate shape depending on the mechanical conditions of the defect correcting device and the substrate to be corrected. The manufacturing method of the correction member 10 according to the present embodiment is a correction member manufacturing the correction member 10 including the correction needle 11 having an appropriate shape by processing the correction needle 11 connected and fixed to the needle holder 12. It is a manufacturing method.

図12を参照して、本実施の形態に係る修正部材の製造方法は、針ホルダ12に接続された修正針11を、針ホルダを12介して修正針保持部6に取り付ける工程(S01)と、修正針11の針先端部を研磨材料9の表面に接触させた状態で、修正針保持部を研磨部に対して相対的に駆動することにより、針先先端部を研磨する工程(S02)とを備える。   Referring to FIG. 12, the method for manufacturing a correction member according to the present embodiment includes a step of attaching correction needle 11 connected to needle holder 12 to correction needle holding portion 6 via needle holder 12 (S01). The step of polishing the tip end portion of the needle tip by driving the correction needle holding portion relative to the polishing portion while the tip end portion of the correction needle 11 is in contact with the surface of the polishing material 9 (S02). With.

まず、図1および2を参照して、工程(S01)では、針ホルダ12に接続固定された円錐形状の修正針11を準備する。針ホルダ12には磁場発生部材13が設けられており、針ホルダ12を修正針保持部6の保持面6a上に載置することで、該磁場発生部材13と保持面6aに設けられた磁場発生部材7とが互いに吸着する。これにより、針ホルダ12を修正針保持部6に取り付けることができる。   First, referring to FIGS. 1 and 2, in step (S01), a conical correction needle 11 connected and fixed to the needle holder 12 is prepared. The needle holder 12 is provided with a magnetic field generating member 13, and the magnetic field provided on the magnetic field generating member 13 and the holding surface 6 a by placing the needle holder 12 on the holding surface 6 a of the correction needle holding unit 6. The generating member 7 is adsorbed to each other. Thereby, the needle holder 12 can be attached to the correction needle holding part 6.

次に、図3〜5を参照して、工程(S02)では、まず、あらかじめ取得した欠陥修正装置における修正針保持部と基板搭載部との平行度等に基づき、本実施の形態に係る修正部材製造装置1の機械的条件を設定する。該機械的条件とは、たとえば、修正針11と研磨部8との相対的な位置関係を決める条件であって、研磨部8の表面に対する修正針11の接触角度θ1や、修正針11の長手方向と垂直な方向における研磨部8の表面の傾き角度等が挙げられる。   Next, referring to FIGS. 3 to 5, in the step (S <b> 02), first, the correction according to the present embodiment is performed based on the parallelism between the correction needle holding unit and the substrate mounting unit in the defect correction apparatus acquired in advance. The mechanical conditions of the member manufacturing apparatus 1 are set. The mechanical condition is, for example, a condition for determining the relative positional relationship between the correction needle 11 and the polishing portion 8, and the contact angle θ 1 of the correction needle 11 with respect to the surface of the polishing portion 8 and the length of the correction needle 11. The inclination angle of the surface of the polishing part 8 in a direction perpendicular to the direction is exemplified.

修正針保持部6および研磨部8を設定した後、Xステージ3およびZステージ5を駆動させることにより修正針保持部6を移動させ、研磨材料9に修正針11の針先先端を接触させる。この後、さらにZステージ5を駆動させて修正針保持部6を研磨材料9に接近、あるいは研磨材料9から退避させて、修正針11の接触荷重を調整してもよい。このとき、修正針11に加えられた接触荷重は、針ホルダ12を介して修正針保持部6にも伝わる。そして、修正針保持部6は一定以上の力を受けると、研磨材料9から退避する向きに移動する。   After setting the correction needle holding unit 6 and the polishing unit 8, the correction needle holding unit 6 is moved by driving the X stage 3 and the Z stage 5, and the tip of the correction needle 11 is brought into contact with the polishing material 9. Thereafter, the contact load of the correction needle 11 may be adjusted by further driving the Z stage 5 so that the correction needle holding portion 6 approaches the polishing material 9 or is retracted from the polishing material 9. At this time, the contact load applied to the correction needle 11 is also transmitted to the correction needle holding portion 6 via the needle holder 12. When the correction needle holding portion 6 receives a force exceeding a certain level, the correction needle holding portion 6 moves in a direction to retract from the abrasive material 9.

修正針11と研磨材料9とを接触後、Xステージ3およびZステージ5を駆動させることにより、修正針11を研磨する。研磨の進行に伴い修正針11と研磨材料9との接触面積が増加する。そのため、接触圧を一定とするために、Zステージを駆動させてもよい。   After the correction needle 11 and the polishing material 9 are in contact with each other, the correction needle 11 is polished by driving the X stage 3 and the Z stage 5. As the polishing progresses, the contact area between the correction needle 11 and the polishing material 9 increases. Therefore, the Z stage may be driven to keep the contact pressure constant.

また、一つの修正針に対して両面を研磨する必要がある場合には、工程(S02)が終了した後、再び工程(S01)において当該修正針11の針ホルダ12を修正針保持部6に取り付け直して、工程(S02)を施してもよい。   Further, when it is necessary to polish both surfaces of one correction needle, after the step (S02) is completed, the needle holder 12 of the correction needle 11 is again attached to the correction needle holding unit 6 in the step (S01). You may reattach and perform a process (S02).

次に、本実施の形態に係る修正部材製造装置および修正部材の製造方法により製造した修正針を例示する。   Next, the correction needle manufactured by the correction member manufacturing apparatus and the correction member manufacturing method according to the present embodiment will be exemplified.

図6〜8を参照して、円錐形状の修正針11を、修正針11の長手方向に垂直な第1の平坦面11aと、第1の平坦面11aと交差し基板22と対峙する第2の平坦面11bと、第1の平坦面11aから見て第2の平坦面11bとは反対側に形成された第3の平坦面とを含んでいる修正針11に加工する場合について説明する。このとき、修正針11を、第2の平坦面11bと第3の平坦面11cとが成す角度はθ3であって、修正針11の針先端部に針ホルダ12の被保持面12aに対して所定の傾き角θ4を有するように加工する。   With reference to FIGS. 6 to 8, a conical correction needle 11 includes a first flat surface 11 a perpendicular to the longitudinal direction of the correction needle 11 and a second surface that intersects the first flat surface 11 a and faces the substrate 22. A case of processing the correction needle 11 including the flat surface 11b and the third flat surface formed on the side opposite to the second flat surface 11b when viewed from the first flat surface 11a will be described. At this time, the angle formed between the second flat surface 11b and the third flat surface 11c of the correction needle 11 is θ3, and the needle tip portion of the correction needle 11 is held with respect to the held surface 12a of the needle holder 12. Processing is performed to have a predetermined inclination angle θ4.

まず、欠陥修正装置における修正針保持部と基板搭載部との平行度に応じて、研磨部8の表面の傾き角度θ2を設定する。次に、研磨部8の表面に対する修正針11の接触角度θ1をθ3/2として研磨を行い、第2の平坦面11bを形成する。所定の研磨が終了した後、針ホルダ12を反転させて、被保持面12aの対面を修正針保持部6の保持面6aと対向させて取り付ける。その後、再び接触角度θ1をθ3/2として研磨を行うことで、第3の平坦面11cを形成する。   First, the inclination angle θ2 of the surface of the polishing unit 8 is set according to the parallelism between the correction needle holding unit and the substrate mounting unit in the defect correction apparatus. Next, polishing is performed by setting the contact angle θ1 of the correction needle 11 to the surface of the polishing portion 8 to θ3 / 2 to form the second flat surface 11b. After the predetermined polishing is completed, the needle holder 12 is reversed and attached so that the held surface 12a faces the holding surface 6a of the correction needle holding portion 6. Thereafter, the third flat surface 11c is formed by polishing again with the contact angle θ1 as θ3 / 2.

さらに、修正針保持部6の保持面6aを研磨材料9に垂直として研磨をおこない第1の平坦面11aを形成する。これにより、図6〜8に示す修正針11を作製することができる。このとき、稜線部11dは、第1の平坦面11aと第2の平坦面11bとの交線により構成されており、修正針11を欠陥修正装置における修正針保持部に保持させたときに、基板搭載部に対して平行とすることができる。   Further, the first flat surface 11 a is formed by polishing the holding surface 6 a of the correction needle holding portion 6 perpendicular to the polishing material 9. Thereby, the correction needle | hook 11 shown to FIGS. 6-8 is producible. At this time, the ridge line portion 11d is constituted by an intersection line of the first flat surface 11a and the second flat surface 11b, and when the correction needle 11 is held by the correction needle holding portion in the defect correction device, It can be parallel to the substrate mounting portion.

また、図9〜11を参照して、角柱形状の修正針11を、第1の平坦面11aと、第1の平坦面11aと交差し基板22と対峙する第2の平坦面11bとを含み、第2の平坦面11bが修正針11の長手方向に平行な面として形成されている修正針11に加工する場合について説明する。   9 to 11, the prismatic correction needle 11 includes a first flat surface 11 a and a second flat surface 11 b that intersects the first flat surface 11 a and faces the substrate 22. The case where the second flat surface 11b is processed into the correction needle 11 formed as a surface parallel to the longitudinal direction of the correction needle 11 will be described.

この場合、第1の平坦面11aと第2の平坦面11bとが成す角度がθ5となるように加工するには、研磨部8の表面に対する修正針11の接触角度θ1をθ5として研磨を行い、第2の平坦面11bを形成する。これにより、図9〜11に示す修正針11を作製することができる。このとき、稜線部11dは、第1の平坦面11aと第2の平坦面11bとの交線により構成されている。   In this case, in order to process the angle formed by the first flat surface 11a and the second flat surface 11b to be θ5, polishing is performed with the contact angle θ1 of the correction needle 11 with respect to the surface of the polishing portion 8 as θ5. The second flat surface 11b is formed. Thereby, the correction needle | hook 11 shown to FIGS. 9-11 is producible. At this time, the ridge line portion 11d is configured by a line of intersection between the first flat surface 11a and the second flat surface 11b.

以上のように、本実施の形態に係る修正部材製造装置の製造方法によれば、本実施の形態に係る修正部材製造装置を用いることで、修正針により基板上の異物を除去する際に基板に与える損傷を低減することができる修正針を、容易に製造することができる。   As described above, according to the manufacturing method of the correction member manufacturing apparatus according to the present embodiment, the substrate can be removed when the foreign matter on the substrate is removed by the correction needle by using the correction member manufacturing apparatus according to the present embodiment. It is possible to easily manufacture a correction needle that can reduce damage to the needle.

以上のように本発明の実施の形態について説明を行ったが、上述の実施の形態を様々に変形することも可能である。また、本発明の範囲は上述の実施の形態に限定されるものではない。本発明の範囲は、特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更を含むことが意図される。   Although the embodiment of the present invention has been described above, the above-described embodiment can be variously modified. The scope of the present invention is not limited to the above-described embodiment. The scope of the present invention is defined by the terms of the claims, and is intended to include any modifications within the scope and meaning equivalent to the terms of the claims.

本発明の修正部材製造装置および修正部材の製造方法は、修正針の接触による基板の損傷を抑制することが求められる欠陥修正装置および欠陥修正方法に対して、特に有利に適用される。   The correction member manufacturing apparatus and the correction member manufacturing method of the present invention are particularly advantageously applied to a defect correction apparatus and a defect correction method that are required to suppress damage to a substrate due to contact of a correction needle.

1 修正部材製造装置、2 定盤、3 Xステージ、4 修正針保持装置、5 Zステージ、6 修正針保持部、6a 保持面、6b 支点、7,13 磁場発生部材、8 研磨部、9 研磨材料、10 修正部材、11 修正針、11a 第1の平坦面、11b 第2の平坦面、11c 第3の平坦面、11d 稜線部、12 針ホルダ、12a 被保持面、22 基板、23 異物。   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Correction member manufacturing apparatus, 2 Surface plate, 3 X stage, 4 Correction needle holding device, 5 Z stage, 6 Correction needle holding part, 6a Holding surface, 6b A fulcrum, 7, 13 Magnetic field generating member, 8 Polishing part, 9 Polishing Materials 10 Correction member 11 Correction needle 11a 1st flat surface 11b 2nd flat surface 11c 3rd flat surface 11d ridgeline part 12 needle holder 12a surface to be held 22 substrate 23 foreign material

Claims (5)

基板上の微細パターンの欠陥を修正する欠陥修正装置において前記欠陥の除去に用いられる、修正部材を製造する修正部材製造装置であって、
針ホルダに接続された修正針を含む前記修正部材を、前記針ホルダを介して保持する修正針保持部と、
前記修正針の針先端部を研磨する研磨部と、
前記針先端部が前記研磨部の表面に接触した状態で、前記修正針保持部を前記研磨部に対して相対的に移動させる駆動部とを備え
前記修正針保持部は、前記接触した状態において、前記駆動部により前記研磨部に対して相対的に特定の方向に移動し、
前記研磨部は、前記方向と交差する面内において、前記表面の傾き角度が変更可能となっており、
前記修正針保持部は、前記研磨部の前記表面に対する前記針先端部の接触角度を変更可能となっている、修正部材製造装置。
A correction member manufacturing apparatus for manufacturing a correction member used for removing the defect in a defect correction apparatus for correcting a defect of a fine pattern on a substrate,
A correction needle holding portion that holds the correction member including the correction needle connected to the needle holder via the needle holder;
A polishing portion for polishing the needle tip of the correction needle;
A drive unit that moves the correction needle holding unit relative to the polishing unit in a state where the needle tip is in contact with the surface of the polishing unit ;
The correction needle holding unit moves in a specific direction relative to the polishing unit by the driving unit in the contact state,
The polishing section is capable of changing the tilt angle of the surface in a plane intersecting the direction,
The correction needle holding unit is a correction member manufacturing apparatus capable of changing a contact angle of the needle tip with respect to the surface of the polishing unit .
前記修正針保持部は、前記針ホルダを磁力により吸着する磁場発生部材を含む、請求項1に記載の修正部材製造装置。   The correction member manufacturing apparatus according to claim 1, wherein the correction needle holding unit includes a magnetic field generation member that adsorbs the needle holder by a magnetic force. 前記研磨部は前記表面に研磨材料を含む、請求項1または2に記載の修正部材製造装置。 It said polishing unit includes a polishing material to the surface, modifying member manufacturing apparatus according to claim 1 or 2. 前記駆動部は、前記修正針が前記研磨部と接触した際、前記修正針に負荷される外力を緩和するように、前記修正針保持部を移動可能とする、請求項1〜のいずれか1項に記載の修正部材製造装置。 The drive unit, when the modified needle is in contact with the polishing portion, so as to alleviate the external force is loaded to the modified needle, to allow moving the modified needle holder, claim 1-3 The correction member manufacturing apparatus according to Item 1. 基板搭載部上に搭載された基板上の微細パターンの欠陥を修正する欠陥修正装置において修正部材保持部に保持されるとともに前記欠陥の除去に用いられる、修正部材を製造する修正部材の製造方法であって、
針ホルダに接続された修正針を、前記針ホルダを介して修正針保持部に取り付ける工程と、
前記修正針の針先端部を研磨部の表面に接触させた状態で、前記修正針保持部を前記研磨部に対して相対的に駆動することにより、前記針先端部を研磨する工程とを備え
前記研磨する工程では、あらかじめ取得した前記欠陥修正装置の前記修正部材保持部と前記基板搭載部との平行度に基づき、前記研磨部の前記表面に対する前記針先端部の接触角度と、前記接触させた状態で前記修正針保持部が前記研磨部に対して相対的に移動する方向と交差する面内における前記研磨部の前記表面の傾き角度とが設定された後、前記針先端部を研磨する、修正部材の製造方法。
A correction member manufacturing method for manufacturing a correction member that is held by a correction member holding unit and used to remove the defect in a defect correction device that corrects a fine pattern defect on a substrate mounted on the substrate mounting unit. There,
Attaching the correction needle connected to the needle holder to the correction needle holder via the needle holder;
And a step of polishing the needle tip by driving the correction needle holding part relative to the polishing part in a state where the needle tip of the correction needle is in contact with the surface of the polishing part. ,
In the polishing step, based on the parallelism between the correction member holding portion and the substrate mounting portion of the defect correction device acquired in advance, the contact angle of the needle tip with respect to the surface of the polishing portion, and the contact In this state, after the correction needle holding part is set with the inclination angle of the surface of the polishing part in a plane intersecting with the direction of movement relative to the polishing part, the needle tip part is polished. The manufacturing method of a correction member.
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JPH0469143A (en) * 1990-07-05 1992-03-04 Sonotetsuku:Kk Tool holder for ultrasonic machining and jig for attaching machining tool
JP2507058Y2 (en) * 1991-10-02 1996-08-14 日本オートマチックマシン株式会社 Tool holder
JP2005249431A (en) * 2004-03-01 2005-09-15 Honda Motor Co Ltd V block device
JP2007155369A (en) * 2005-12-01 2007-06-21 Matsushita Electric Ind Co Ltd Probe needle polishing apparatus and probe needle polishing method
JP5103989B2 (en) * 2007-03-30 2012-12-19 富士通株式会社 Microinjection needle manufacturing apparatus and manufacturing method
JP5775374B2 (en) * 2011-06-20 2015-09-09 Ntn株式会社 Defect correction apparatus and defect correction method

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