JP6124780B2 - ガラス製品材料からガラス製品を製造する方法及び該方法を実施する組立装置 - Google Patents

Description

本発明は、ガラス製品、例えば、窓ガラス、ガラス管、テーブルガラス、包装ガラス、及び／又はガラス容器、特にボトルを、ガラス製品材料から製造する方法に関し、前記方法は、ガラス製品材料を加熱するステップと、加熱されたガラス製品材料をガラス製品に成形するステップと、成形されたガラス製品を冷却するステップと、少なくとも１つの感光センサにより、特に、赤外線放射に対する感度を有するセンサにより、成形されたガラス製品を検査して、前記ガラス製品が欠陥を含むか否かを検出するステップとを含む。さらに詳細には、本発明は、ガラス製品材料からガラス製品を製造する方法に関し、前記方法は、以下のステップ、すなわち、
ａ．ガラス製品材料を加熱するステップと；
ｂ．加熱されたガラス製品材料をガラス製品に成形するステップと；
ｃ．成形されたガラス製品を冷却するステップと；及び
ｄ．少なくとも１つの感光センサにより、特に、赤外線放射に対する感度を有するセンサにより、成形されたガラス製品を検査するステップと；
を含み、
さらに、ガラス製品の複数の画像を撮影するステップと；複数の画像を比較して、製品の潜在的な欠陥を検出し、そのような欠陥の範囲を特定するステップと；さらに、前記画像情報に基づいて前記潜在的な欠陥を実際の欠陥として分類せず、若しくは寄生反射や、実際の欠陥に分類するステップとを含む構成からなり、
製品の形状に関係なく、寄生反射の影響を容易に取り除くことができる、改良された方法を提供するものである。

ガラス製品製造の分野では、製品の表面又は内部に生じるおそれがある欠陥を検出するために、成形機から出る製品が発する赤外線放射を利用して、制御又は検査を実行することが知られている。そのような製品の品質制御は、プロセスパラメータについてのフィードバックを提供するためにも使用することができる。発せられた放射線の局所的な強度増大は、実際の欠陥に起因する可能性がある。また、発せられる放射線の局所的な低減も、実際の欠陥に起因する可能性がある。実際の欠陥は、ガラス分布（例えば、局所的に変化するガラス厚）の局所変化及び／又は温度分布の局所変化により生じ得る。実際の欠陥は、ガラス製品内の気泡又はガラス製品の内包物によっても生じ得る。したがって、実際の欠陥は、ガラス製品が発する赤外線放射の強度の局所的な増大又は低減で認識することができる。

この情報を使用して、オペレータに正しい是正措置をとるように警告することができ、又はガラス形成プロセスを自動的に制御することができる。

しかし、ガラス製品の赤外線放射の測定は、放射線が検査中の表面内又は表面上で反射する他の赤外線放射線源により、エラーを受けやすい。例えば、寄生（ｐａｒａｓｉｔｉｃ）と見なされるこれらの赤外線放射線源は、被検査ガラス製品の上流又は下流に配置された製品、別の製造ラインに配置されたガラス製品、及び製造設備内の他の赤外線放射線源であり得る。これらの放射線源は、検査すべきガラス製品での反射を提供する可能性があり、ガラス製品の欠陥として誤検出されるおそれがある。別の寄生反射源は、検査すべきガラス製品それ自体の内部反射から生じる。そのような内部反射は、平滑ではない製品表面により生じ得る。表面は、例えば、ファセット、圧痕表面、及び刻まれた表面により形成される遷移等の急な遷移を含む可能性がある。内部反射は、ボトル及び深鍋の口でも生じ、その理由は、それらのエリアが変化する壁厚及び／又はねじ山を含むためである。

これらのすべての寄生反射も、ガラス製品でのガラス分布又は温度分布の変化の測定に悪影響を及ぼす可能性がある。寄生反射は、赤外線放射の強度が低いエリアに生じ得、ガラス製品のガラス分布又は温度分布の変化について誤った結論をもたらす可能性がある。

ＵＳ−Ａ１−２００９／０２９４６７４（特許文献１）から既知の方法では、これらの寄生反射は、偏光ベクトルが、被検査製品により反射されるビームの偏光ベクトルに略直交する偏光子を使用することにより除かれる。しかし、特に湾曲形を有するガラス製品が検査される場合、製品の湾曲部分から反射される赤外線放射ビームは、複数の偏光ベクトルを有する可能性があり、そのため、単一の偏光子の使用では、そのような寄生反射をなくすことができないか、又は極めて高い複雑性をもってのみ、そのような寄生反射をなくすことができる。

米国特許出願公開第２００９／０２９４６７４ Ａ１

したがって、本発明の目的は、製品の形状に関係なく、ガラス製品での測定値の解釈に対する寄生反射の誤った影響をなくすことができる、改良された方法を提供することである。本発明の別の目的は、寄生反射の影響を容易に取り除くことである。

本発明によれば、上記検査するステップは、
ｅ．製品に対してそれぞれが相互に異なる複数の撮影方向で、ガラス製品の複数の画像を撮影するステップと；及び
ｆ．複数の画像を比較して、製品の潜在的な欠陥を検出するステップ、若しくは前記潜在的な欠陥を検出し、そのような欠陥の範囲を特定するステップと、
を含む構成からなる。

ステップｆにおける複数の画像の比較により、例えば、画像のうちの１つのみ若しくは画像のうちの少数のみの製品の同じ位置に生じるか、又は所定数未満の画像の製品の同じ位置に生じる潜在的な欠陥は、無視するか、又は寄生反射として分類することが可能である。代替又は追加として、ステップｆにおける複数の画像の比較により、複数の画像内の製品の異なる位置に生じる潜在的な欠陥は、無視するか、又は寄生反射として分類することが可能である。代替又は追加として、ステップｆにおける複数の画像の比較により、例えば、各画像で製品の同じ位置若しくは画像の大半（５０％以上）で製品の同じ位置に生じる潜在的な欠陥又は少なくとも所定数の画像で製品の同じ位置に生じる潜在的な欠陥は、実際の欠陥として分類することが可能である。

実際の欠陥は、例えば、局所的に変化するガラス分布、局所的に変化する温度分布、又は局所的に異なる赤外線放射パターンとして定義され、それぞれは、ガラス製品の変形、又はガラス製品内の、石若しくは金属、のような非ガラス粒子の存在、に起因する。

ほぼすべての場合、寄生反射は、製品に対して特定の撮影方向でのみガラス製品から反射される。これは、ガラス製品の複数の画像の撮影により、寄生反射が１枚のみの画像又は画像のうちの少数のみで製品の同じ位置において、又は異なる画像でガラス製品の異なる位置において生じることを意味する。この洞察に基づいて、寄生反射を認識し、且つ／又は無視することができる。ガラス製品の画像での寄生反射の位置の違いは、表面法線及び反射の発端方向に依存する。しかし、実際の欠陥は、複数の画像で物体の同じ位置に見えることになる。したがって、実際の欠陥は、画像において異なる位置を有するが、画像の撮影方向が既知であるか、又は測定されるため、そのような欠陥が製品の同じ位置にあるか否かをチェックすることができる。この洞察に基づいて、実際の欠陥を検出することができる。

換言すれば、撮影方向が既知であるため、複数の画像のうちのどの画像で、欠陥が製品の同じ位置にあるかをチェックすることができる。

本発明による方法の好ましい実施形態では、複数の画像は、同じセンサにより撮影される。異なる撮影角度で画像を撮影することができるように、ガラス製品及びセンサを互いに相対して変位させる必要がある。

しかし、それに追加又は代替するものとして、その方法は、光学システムを提供するステップと、上記ガラス製品の複数の画像のいずれか１つの撮影に上記光学システムを使用するステップとを含む。そのような光学システムは、例えば、異なる撮影角度での画像の撮影を支援する、可動式であってもよく、又は可動式でなくてもよいミラー、レンズ、プリズム等を備えることができる。例えば、光学システムは、ガラス製品が発する赤外線放射を１つ又は複数のセンサに向けるか、又は反射させるように配置することができる。

それに追加又は代替するものとして、異なるセンサにより複数の画像を撮影することができる。

本発明による方法の実施形態において、少なくとも２つのセンサが使用され、上記少なくとも２つのセンサがガラス製品の両側に配置される場合、ガラス製品のほぼ完全な画像を容易に提供することが可能である。他方、任意の他の数のセンサにより、ガラス製品のほぼ完全な画像を提供することも可能である。

成形されたガラス製品がコンベアにより搬送され、画像が搬送中に撮影される場合、特に有利な方法が提供される。好ましくは、この方法は、複数の成形されたガラス製品をコンベアに配置するステップと、複数の成形されたガラス製品をコンベアにより同時に搬送するステップと、異なるガラス製品の画像を交互に撮影するステップとをさらに含む。このようにして、１つのセンサ又は任意選択的に、コンベアの両側に配置された２つ以上のセンサにより複数のガラス製品を検査することが可能である。

本発明は、本発明によりガラス製品材料からガラス製品を製造する方法を実施する組立装置に関し、上記組立装置は、
ガラス製品材料を加熱する加熱ユニットと；
加熱されたガラス製品材料をガラス製品に成形する製品成形ユニットと；
成形されたガラス製品を冷却する焼きなまし炉と；
成形されたガラス製品を検査する検査ユニットであって、上記検査ユニットは少なくとも１つの感光センサを含み、センサは、特に赤外線放射に対する感度を有する、検査ユニットと；及び
少なくとも１つのセンサに接続され、少なくとも１つのセンサにより送られる、ガラス製品の少なくとも１枚の画像を示す出力信号を受信し、ガラス製品が製品に欠陥を含むか否かを判断する、若しくは前記潜在的な欠陥を含むか否かを判断し、そのような欠陥の範囲を特定するように構成される制御及び処理ユニットと、
を備え、検査ユニットは、製品に対してそれぞれが相互に異なる複数の撮影方向でガラス製品の複数の画像を撮影するように構成され、処理ユニットは、複数の画像を比較して、製品の欠陥を検出し、場合により、そのような欠陥の範囲を特定するように構成される。

組立装置のさらなる実施形態が、組立装置の従属請求項に記載される。

本発明のさらなる目的、特徴、効果、利点、及び詳細が、図面に示される例を参照して説明される。

これより、添付図面を参照して本発明を限定することなく示す。

本発明による、ガラス製品材料からガラス製品を製造する組立装置を概略的に示す。 図２Ａ−２Ｃは、搬送中のある瞬間での複数のガラス製品及びカメラを搬送する図１の組立装置のコンベアの一部を示す。 図３Ａ−３Ｃは、異なる撮影方向で撮影されたガラス製品ＰＲ１の画像を示す。 図４Ａ−４Ｃは、異なる撮影方向で撮影されたガラス製品ＰＲ２の画像を示す。 図５Ａ−５Ｃは、異なる撮影方向で撮影されたガラス製品ＰＬ１の画像を示す。 図６Ａ−６Ｅは、搬送中の５つの異なる瞬間での複数のガラス製品及びカメラを搬送する図１の組立装置のコンベアの一部を示す。 第２のカメラが設けられた図６Ａ−６Ｅの組立装置を示す。

図１に、本発明による、ガラス製品材料からガラス製品Ｐを製造する組立装置１の例示的な実施形態を示す。記載の例示的な実施形態では、ガラス製品はボトルであるが、窓ガラス、ガラス管、テーブルガラス、包装ガラス、及び／又はガラス容器等の他のガラス製品を本発明による方法及び本発明による組立装置により製造することもできる。

この実施形態では、組立装置１は、ガラス製品材料を加熱する、概略的に示される加熱ユニット２を備える。加熱された材料は、必要であれば、さらに指定されない他の材料及び／又は半製品と共に、製品成形ユニット３に移される。この実施形態では、製品成形ユニット３は６つのガラス製品を同時に成形する。６つのガラス製品は、成形直後はまだ熱く、配置ユニット５によりコンベア４に同時に配置される。製品成形ユニット３は、加熱されたガラス製品材料の一部分が配置される、それ自体が既知の金型と、金型内のガラス製品をブロー又はプレスして、最終形状を得るブロー手段とを備える。示される実施形態では、６つのガラス製品が同時に成形され、コンベアに配置されるが、本発明は、特に、２つ以上の任意の複数のガラス製品に適用可能であり、しかし、１つのみのガラス製品の繰り返し製造にも適用可能なことに留意されたい。

同時に成形された製品Ｐは、徐々に冷えながら、矢印６の方向に同時に搬送もされる。このために、組立装置には、例えば、さらに指定されない焼きなまし炉７が設けられる。図１に示されるように、前に成形されたガラス製品は、焼きなまし炉７内で冷却されており、その間、さらに先に製造され冷却されたガラス製品は焼きなまし炉７から（ほとんど）出ており、さらなる処理のために搬送される。

成形されたガラス製品は１つずつ、検査ユニット８に沿って通過し、成形されたガラス製品が検査される。この検査ユニットは、赤外線放射に感度を有する少なくとも１つのセンサ９、１０を備える（図１の実施形態では、２つのセンサがコンベア４の両側に存在する）。そのようなセンサは、例えば、赤外線放射に感度を有するカメラあるいは垂直及び／又は垂直及び水平行に配置された赤外線高感度ピクセルを備える検出器要素により形成することができる。発せられる放射線の局所的な強度増大は、実際の欠陥により生じ得る。発せられる放射線の局所的な強度低減も実際の欠陥により生じ得る。実際の欠陥は、ガラス分布の局所的な変化（例えば、局所的に変化するガラス厚）及び／又は温度分布の局所的な変化により生じ得る。実際の欠陥は、ガラス製品内の気泡又はガラス製品の内包物によっても生じ得る。したがって、実際の欠陥は、ガラス製品が発する赤外線放射の強度の局所的な増大又は逓減において認識することができる。

組立装置１は、制御及び処理ユニット１１も備え、該制御及び処理ユニット１１は、２つのセンサ９、１０に接続され、該２つのセンサにより送られるガラス製品の画像を示す出力信号を受信し、ガラス製品が欠陥を有するか否かを判断するように構成される。２つのセンサの出力信号は、実際に、センサがカメラにより形成される場合、完全なガラス製品の画像又はガラス製品の部分の画像であることができる。

制御及び処理ユニット１１は、ガラス製品の第１の画像が、ガラス製品に相対して第１の撮影方向で撮影され、同ガラス製品の第２の画像が、ガラス製品に相対して、第１の方向と異なる第２の撮影方向で撮影されるようにセンサ９、１０を制御するように適用される。これを実現するために、センサ９、１０は、それぞれ、例えば、回転軸１２、１３を中心として回転可能に配置され、制御及び処理ユニット１１は、センサ９、１０の回転を制御する。必要な場合、又は所望の場合、図２を参照して後述するように、第１の撮影角度及び第２の撮影角度の両方と異なるさらなる撮影角度でガラス製品のさらなる画像を撮影することができる。

制御及び処理ユニット１１は、比較ユニット１４を備え、該比較ユニット１４は、図３〜図５を参照して概略的に後述されるように、寄生反射をなくすために、第１の画像を第２の画像と比較し、任意選択的に、さらなる画像をガラス製品の第１及び／又は第２の画像と比較するように採用され、例えば、適宜プログラムされる。さらに、比較ユニット１４は、画像を解析して、製品の狂いを正確に検出し、場合により、そのような狂いの範囲を特定するように構成され、例えば、適宜プログラムされる。そのような狂いが特定される場合、例えば、検出された狂いを所定の基準と比較することにより、ガラス製品が欠陥を有するか否かを判断することが可能である。

それ自体が既知の様式で、比較ユニット１４は、組立装置のプロセスパラメータを採用若しくは調整し、及び／又は他方で、例えば、欠陥のあるガラス製品を自動的に拒絶することにより、製造プロセスに介入する制御信号を生成することができる。

検査ユニット８は、好ましくは、矢印６の方向から見て、ガラス製品が焼きなまし炉７に入る前に測定されるように配置される。検査ユニット８により検出される際、成形されたガラス製品は、赤外線放射を発するように、１００℃を超えるか、又はさらには４００℃を超える温度を有することができる。ガラス製品の欠陥は、通常とは異なる強度で赤外線放射を発する。例えば、ガラス製品の特定の位置において、強度差が指定の閾値を超えるか、又は別の閾値を下回る場合、製品がこれらの位置に狂いを含むことを示す信号を制御及び処理ユニット１１により生成することができる。より詳細には、そのような信号は、いくつかの製品が同じ位置にそのような強度差を連続して含むことが分かった場合に生成される。特定の閾値は、製品の異なる部分で異なる可能性がある。しかし、検査中のガラス製品からの寄生反射が、ガラス欠陥のこの特定を邪魔するおそれがある。そのような寄生反射は、近隣のガラス製品が発する赤外線放射及び検査中のガラス製品の表面から反射した赤外線放射の結果である可能性がある。特に、複数のガラス製品が同時に搬送される場合、そのような寄生反射は、所望よりも頻繁に発生する。別の寄生反射源は、検査すべきガラス製品それ自体の内部反射から生じる。そのような内部反射は、平滑ではない製品表面により生じ得る。表面は、例えば、ファセット、圧痕表面、及び刻まれた表面により形成される遷移等の急な遷移を含み得る。内部反射は、ボトル及び深鍋の口でも生じ、その理由は、それらのエリアが変化する壁厚及び／又はねじ山を含むためである。本発明による組立装置及び方法によりなくすか、又は無視することができるすべてのこれらのタイプの寄生反射である。これらの寄生反射は、常に、強度が局所的に増大する赤外線放射を生成する。

センサ９、１０に加えて、光学システム１５を使用して、上記ガラス製品の第１、第２、及び／又はさらなる画像のいずれか１つを撮影することができる。そのような光学システムは、例えば、異なる撮影角度での画像の撮影を支援する、可動式であってもよく、又は可動式でなくてもよいミラー、レンズ、プリズム、又は赤外線高感度ピクセル等のアレイ１６を備えることができる。例えば、光学システム１５は、ガラス製品が発する赤外線放射をセンサ９に向けるか、又は反射させるように配置することができる。その場合、センサ９は固定することができ、光学システム１５は、製品が搬送される時間での異なる瞬間で、同一の製品から画像を取得する回転部分を備える。これにより、製品に相対してそれぞれが異なる撮影方向からの異なる画像が提供される。それに代わる実施形態では、そのような光学システムは、センサそれ自体をそういうものとして形成することが可能である。

制御及び処理ユニット１１により制御される動作において、上述した組立装置は、ガラス製品材料からガラス製品を製造する方法を実施する。この本発明による方法では、ガラス製品材料は、加熱ユニット２により加熱され、その後、加熱されたガラス製品材料は、複数のガラス製品が成形ユニット３により同時に成形されるように成形される。複数の成形されたガラス製品は、コンベア４に配置され、同時に搬送されて、最終的に焼きなまし炉７により冷却される。

焼きなまし炉７に入る前に、ガラス製品は、欠陥について検査され、そのような検査により可能性のある結果の例について、図２Ａ〜図２Ｃを参照してここに説明する。

これらの図２Ａ〜図２Ｃでは、１つのカメラ９のみが示されるが、同じ説明が、有り得る他のカメラ１０又は他のセンサ若しくは光学システムに対しても当てはまることが明らかである。

図２Ａでは、瞬間ｔ_０での複数の６つのガラス製品ＰＲ２、ＰＲ１、ＰＲ０、ＰＬ１、ＰＬ２、及びＰＬ３が示される。これらの６つのガラス製品は、コンベア４で同時に搬送される。制御及び処理ユニットは、コンベア速度及びコンベアに対してカメラが向けられる角度φ（すなわち、撮影角度）に関する情報を受信又は検索し、この情報を使用して、ガラス製品の画像撮影を制御するとともに、欠陥の可能性について画像を解析する。この例では、製品に対する撮影方向は、製品の輸送方向６に対する撮影角度φとして定義される。そのような情報は、例えば、コンベアベルトの駆動及び／又はカメラの回転に使用されるステッパモータ、エンコーダ等により提供することができる。

図２Ａでは、カメラ９は、ｔ_０において、第１の角度φ＝φ１（＝製品に対して第１の撮影方向＝第１の撮影角度）でガラス製品ＰＲ１の第１の画像を撮影するように回転する。この第１の画像は、図３Ａにおいて表される。この画像では、例えば、エリア１７及びエリア１９のそれぞれが、ガラス製品ＰＲ１の他の部分よりも大きな局所的に膨脹した強度を示すことが分かる。したがって、両エリアは、図３Ａにおいて潜在的な欠陥を示す。この画像だけに基づいて、これらのエリアがガラス製品の実際の欠陥を示すか否かを確実に推測することはできない。しかし、ガラス製品ＰＲ１、は矢印６で示される方向に輸送されるため、第２の画像が、第２の瞬間ｔ_１において、第１の角度φと異なる第２の角度φ＝０（＝製品に対する第２の撮影方向＝第２の撮影角度）でカメラ９により撮影される。これは、図２Ｂに示され、図２Ｂでは、ガラス製品ＰＲ１が、第２の画像を撮影することができる撮影方向が０度であるような距離にわたって搬送されたことが示される。制御及び処理ユニット制御下で、カメラ９は、この第２の画像を正確に撮影することができるように回転する。第２の画像は、図３Ｂに示される。この画像では、局所的に増大した膨脹強度（＝潜在的な欠陥）を有するエリア１７がもはや存在しない。局所的に増大した膨脹強度（＝潜在的な欠陥）を有するエリア１９は、図３Ｂにおいて、まだ存在する。

しかし、ガラス製品ＰＲ１は、矢印６で示される方向に輸送されるため、第３の画像は、第１の角度φと異なる第２の角度φ＝φ３（＝製品に相対する第３の撮影方向＝第３の撮影角度）で、第３の瞬間ｔ_２において、カメラ９により撮影される。これは、図２Ｃに示され、図２Ｃでは、ガラス製品ＰＲ１が、第２の画像を撮影することができる撮影方向がφ３度であるような距離を搬送されたことが示される。制御及び処理ユニットの制御下で、カメラ９は、この第３の画像を正確に撮影することができるように回転する。第３の画像は、図３Ｃに示される。この画像では、局所的に増大する膨脹強度を有するエリア１７はもはや存在しない。しかし、局所的に増大する膨脹強度を有するエリア１８は、図３Ｃに存在する。したがって、この例では、組立装置は、製品に相対してさらなる撮影方向（φ＝φ３）でガラス製品の少なくとも１枚のさらなる画像を撮影するようにも構成され、上記さらなる撮影方向は、第１の撮影方向と異なり、且つ第２の撮影方向と異なる。図３Ａの画像と図３Ｂの画像との比較に基づいて、制御及び処理ユニットの比較ユニットは、エリア１７が反射（又は屈折）によるものであり、いかなる実際の欠陥によるものではないことを導出することができる。したがって、寄生反射を示すエリア１７を画像からなくすことができる。既知のコンベア速度に基づいて、制御及び処理ユニットは、図３Ａの画像から、増大する膨脹強度のエリア１７が図３Ｂの画像の（すなわち、撮影方向０度で）どこに存在するかを推定可能なことに留意されたい。これは、図３Ａにおける製品と同じ位置にある。そのようなエリアが、実際の第２の画像に存在しないか、又は異なる位置に存在する場合、これを使用して、潜在的な欠陥をなくすか、又は無視することもできる。無視とは、この文脈の中では、潜在的な欠陥の検出に応答して、製品製造プロセスでのさらなる措置がとられないことを意味し得るものである。なくすとは、製品の画像において、潜在的な欠陥が削除される（除かれる）ことを意味し得るものである。潜在的な欠陥が寄生反射として分類されることもあり得る。これは、寄生反射を示すラベルを製品の画像において示すことにより行うことができる。したがって、この場合、エリア１７は、実際の欠陥として分類されない。エリア１７を無視するか、又は寄生反射として分類することができる。しかし、図３Ａの画像と図３Ｂの画像との比較に基づいて、制御及び処理ユニットの比較ユニットは、エリア１９が、両画像で製品の同じ位置に存在するため、実際の欠陥によるものであると判断することができる。既知のコンベア速度に基づいて、制御及び処理ユニットが、図３Ａの画像から、増大する膨脹強度のエリア１９が図３Ｂの画像において（すなわち、撮影方向０度で）存在することになる場所を推定可能なことに留意されたい。これは、図３Ａにおける製品と同じ位置になる。そのようなエリアが図３Ｂの画像に存在する場合、このエリアを実際の欠陥として分類することができる。潜在的な欠陥が実際の欠陥として分類される場合、制御及び処理ユニットは、製品の画像において欠陥を実際の欠陥としてラベル付ける等のさらなる措置をとるように構成することができる。制御及び処理ユニットは、実際の欠陥の範囲、サイズ、及び／又は寸法を特定するようにも構成することができる。制御及び処理ユニットは、アラームを生成し、製品をコンベアから取り出し、又は実際の欠陥の検出に応答して、製品を製造するプロセスを構成するようにも構成することができる。

加えて、図３Ｃの画像は、製品の検査に使用することもできる。図３Ｃのこの画像を図３Ａの画像及び図３Ｂの画像と比較することにより、このエリア１８が、第３の図には存在しないため、強度が増大するこのエリア１８が実際に寄生反射を示し、ガラス製品の欠陥を示さないという結果になる。さらに、エリア１９は、図３Ｃの画像にも存在し、実際に、このエリアが実際の欠陥であることを確認する。加えて、図３Ｃの画像は、強度が局所的に増大するエリア１８を示す。したがって、これは潜在的な欠陥である。このエリアは、図３Ａに示される第１の画像及び図３Ｂに示される第２の画像に存在しないため、このエリア１８は、実際の欠陥として分類されない。制御及び処理ユニットは、この場合、潜在的な欠陥１８を無視するか、又は潜在的な欠陥を寄生反射として分類するように構成される。最後に、図３Ｂが、局所的に増大する膨脹強度を有するエリア２０を示すことが観測される。このエリア２０も潜在的な欠陥である。しかし、図３Ｃでは、この潜在的な欠陥が、エリア２０に相対してシフトされた製品のエリア２０”にも存在するように見える。寄生反射が、一般に、２枚以上の画像に存在せず、又は２枚以上の画像で製品の異なる位置（エリア）に存在するため、そのようなエリアも、寄生反射として見なされる。

カメラ９を適宜回転させ、撮影方向／角度、コンベアベルトの位置等のすべての関連情報を記憶することにより、同時に搬送される複数のガラス製品のすべてのガラス製品の異なる撮影方向／角度での画像を交互に撮影することが可能である。

したがって、上述したように、制御及び処理ユニットは、第１の画像において可視であり（この例では、図３Ａ）、ガラス製品の第１の位置１７、１９に位置する潜在的な欠陥が、少なくとも１枚の第２の画像（この例では、図３Ｂ）でも製品の第１の位置１７、１９において可視であるか否かを判断するように構成される。さらに、第１の画像（この例では、図３Ａ）において可視であり、ガラス製品の第１の位置１９に位置する潜在的な欠陥が、少なくとも１枚の第２の画像（この例では、図３Ｂ）でも製品の第１の位置１９において可視である場合、制御及び処理ユニットは、潜在的な欠陥１９を実際の欠陥として分類するように構成される。

制御及び処理ユニットは、第１の画像（例えば、図３Ｂ）において可視であり、第１の位置２０に位置する潜在的な欠陥が、少なくとも１枚の第２の画像（例えば、図３Ｃ）でも製品の第２の位置２０’において可視であるか否かを判断するようにも構成され、第１の位置２０は第２の位置２０’と異なる。

この例では、第１の画像（例えば、図３Ｂ）において可視であり、第１の位置に位置する潜在的な欠陥が、少なくとも１枚の第２の画像（例えば、図３Ｃ）でも製品の第２の位置において可視である場合、制御及び処理ユニットは、潜在的な欠陥２０、２０’を実際の欠陥として分類せず、第１の位置２０は第２の位置２０’と異なる。

さらに、この例では、制御及び処理ユニットは、第１の画像（例えば、図３Ｂ）において可視であり、第１の位置２０に位置する潜在的な欠陥２０が、少なくとも１枚の第２の画像（例えば、図３Ｃ）でも製品の第２の位置２０’において可視である場合、潜在的な欠陥２０を寄生反射として分類し、第１の位置２０は第２の位置２０’と異なる。

制御及び処理ユニットは、第１の画像（例えば、図３Ａ）において可視であり、ガラス製品の第１の位置１７に位置する潜在的な欠陥が、少なくとも１枚の第２の画像（例えば、図３Ｂ）において非可視であるか否かを判断するようにも構成される。この例では、第１の画像において可視であり、ガラス製品の第１の位置に位置する潜在的な欠陥（例えば、図３Ａの位置１７において可視の潜在的な欠陥）が、少なくとも１枚の第２の画像（例えば、図３Ｂ）において非可視である場合、制御及び処理ユニットは、潜在的な欠陥を実際の欠陥として分類しない。この例では、制御及び処理ユニットは、第１の画像において可視であり、ガラス製品の第１の位置１７に位置する潜在的な欠陥が、少なくとも１枚の第２の画像（図３Ｂ及び／又は図３Ｃ）において非可視である場合、潜在的な欠陥１７を寄生反射として分類するように構成される。

上記から、この例では、上述したように第１の画像と第２の画像とを比較するために、図３Ａを第１の画像と見なし得、図３Ｂを第２の画像と見なし得るという結果になる。上述した第１の画像と第２の画像とを比較するために、図３Ｂを第１の図と見なすことができ、図３Ｃを第２の画像と見なすこともできる。

しかし、同一の製品を検査するために、３枚以上の画像を比較することも可能である。３枚以上の画像を比較するように制御及び処理ユニットをいかに構成することができるかの例を提供する。

制御及び処理ユニットは、例えば、第１の画像（この例では、図３Ａ）で製品の第１の位置１９において可視である潜在的な欠陥が、第２の画像（この例では、図３Ｂ）で製品の第１の位置又は少なくとも１枚のさらなる画像（この例では、図３Ｃ）で製品の第１の位置においても可視であるか否かを判断するように構成することができ、いずれか又は好ましくは両方の条件が満たされる場合、潜在的な欠陥は実際の欠陥として分類される。

制御及び処理ユニットは、例えば、第１の画像（例えば、ｔ＝ｔ_３において撮影されたφ＝φ１での製品ＰＲ２の画像を示す図４Ａ、ｔ_３はｔ_１のわずかに前にある）において可視であり、製品ＰＲ２の第１の位置２１に位置する潜在的な欠陥が、第２の画像（例えば、ｔ＝ｔ_４において撮影されたφ＝０での製品ＰＲ２の画像を示す図４Ｂ、ｔ_４はｔ_２のわずかに前にある）で製品の第２の位置２１’及び少なくとも１枚のさらなる画像（例えば、ｔ＝ｔ_５において撮影されたφ＝φ３での製品ＰＲ２の画像を示す図４Ｃ、ｔ_５−ｔ_４はｔ_４−ｔ_３、ｔ_２−ｔ_１、及びｔ_１−ｔ_０と同じである）での製品の第３の位置２１”においても可視であるか否かを判断するようにも構成することができ、第１の位置２１は第２の位置２１’と異なり、及び／又は第１の位置２１は第３の位置２１”と異なり、潜在的な欠陥は、実際の欠陥として分類されず、無視され、及び／又は寄生反射として分類される。この点に関して、図４Ａは、図４Ｂと異なる撮影方向からの製品ＰＲ２を示すため、製品の位置２１が製品の位置２１’と異なることに留意されたい。図４Ｂは図４Ｃと異なる撮影方向からの製品ＰＲ２を示すため、製品の位置２１’は、製品の位置２１”とも異なる。

制御及び処理ユニットは、第１の画像において可視であり、製品の第１の位置１７に位置する（例えば、図３Ａ参照）潜在的な欠陥が、第２の画像（例えば、図３Ｂ参照）において非可視であり、及び／又は少なくとも１枚のさらなる画像（例えば、図３Ｃ参照）において非可視である否かを判断するようにも構成でき、好ましくは、任意の条件が満たされる場合、制御及び処理ユニットは、潜在的な欠陥を実際の欠陥として分類されず、無視され、又は寄生反射として分類される。

より一般的には、同一の製品の複数（＝２枚以上）の画像が比較される場合に機能する組立装置の例が以下のように説明することができる。

制御及び処理ユニットは、複数の画像を比較し、潜在的な欠陥が画像のうちの１枚のみ、画像のうちの少数のみで製品の同じ位置、又は所定数未満の画像で製品の同じ位置において生じる場合、潜在的な欠陥を無視するか、又は潜在的な欠陥を寄生反射として分類するように構成することができる。本発明において、「少数」とは、例えば、５０％未満を意味する。例えば、５枚の画像が比較される場合、少数の画像は３枚未満を意味する。例えば、６枚の画像が比較される場合も、少数の画像は３枚未満を意味する。例えば、４枚の画像が比較される場合、例えば、「所定数」は３であり得る。

制御及び処理ユニットは、複数の画像を比較し、潜在的な欠陥が複数の画像内の製品の異なる位置に生じる場合、潜在的な欠陥を無視するか、又は潜在的な欠陥を寄生反射として分類するように構成することができる。例えば、４枚の画像が比較され、潜在的な欠陥が少なくとも２枚の画像に現れる場合、潜在的な欠陥を無視するか、又は寄生反射として分類し得る。あるいは、例えば、４枚の画像が比較され、潜在的な欠陥が少なくとも３枚の画像に現れる場合、潜在的な欠陥を無視するか、又は寄生反射として分類することができる。あるいは、例えば、４枚の画像が比較され、潜在的な欠陥が各画像に現れる場合、潜在的な欠陥を無視するか、又は寄生反射として分類することができる。

制御及び処理ユニットは、複数の画像を比較し、潜在的な欠陥が各画像で製品の同じ位置、多数の画像で製品の同じ位置、又は少なくとも所定数の画像で製品の同じ位置で生じる場合、潜在的な欠陥を実際の欠陥として分類するように構成し得る。多数の画像は上記と同じ意味を有する。

したがって、制御及び処理ユニットは、複数の画像において、複数の画像のうちの少なくとも所定数の画像、好ましくは、各画像において潜在的な欠陥を示す製品の位置を特定するように調整し得る。例えば、潜在的な欠陥が、複数の画像のうちの少なくとも所定数の画像において製品の同じ位置に配置される場合、潜在的な欠陥を実際の欠陥として分類することができる。

例えば、４枚の画像が利用可能な場合、少なくとも３枚の画像に現れる潜在的な欠陥を見つけることが試みられる。潜在的な欠陥が同じ位置に配置される場合、例えば、潜在的な欠陥を実際の欠陥として分類することができる。

別の可能性は、実際の欠陥が寄生反射内に「隠れる」ことであり得る。この状況は、ガラス製品ＰＬ１の画像が示される図５Ａ〜図５Ｃに示される。図５Ａに示される第１の画像では、強度が増大したエリア２３を見ることができる。さらなる搬送後、ガラス製品ＰＬ１の第２の画像が撮影され、それを図５Ｂに示す。この位置では、エリア２３が破線で示される位置に存在することが予期される。見て分かるように、例えば、強度が増大するエリア２４のみが存在する。このエリア２４が寄生反射であるか否かを解析するために、図５Ｃに示される第３の画像を使用することができる。この画像では、エリア２４はなお存在し、それにより、このエリア２４が実際の欠陥を表すことをより確実に示す。反射は常に増大した膨脹放射を有するが、欠陥が低減又は増大した膨脹放射を有し得ることに留意する。しかし、図５Ａのように、反射が、反射低減を有する欠陥と同じエリアに生じる場合、反射により膨脹の増大値により、図５Ａからだけでは、これが実際の欠陥であるか否かを判断することはできない。

上記例では、例えば、製品ＰＲ１及び製品ＰＲ２の相互に異なる３つの撮影方向からの３枚の画像をいかに取得することができるかを説明した。同じ方法で、各製品の相互に異なる３つの撮影方向からの３枚の画像を取得可能なことが明らかである。より一般的には、同じ方法で、相互に異なるｎ個の撮影方向からのｎ枚の画像（ｎ＝２、３、４、．．．）を取得することができる。製品Ｐｊ（ｊ＝０、＋／−１、＋／−２、＋／−３、．．．）での別の例が図６Ａ〜図６Ｅに示される。この例では、コンベア４の速度はｖであり、コンベア上の隣接する製品の間隔はＳである。

ｔ＝ｔ_０において、φ＝φ０である製品Ｐ０の画像が得られる。ｔ＝ｔ_１において、φ＝φ１である製品Ｐ１の画像が得られる。ｔ＝ｔ_２において、φ＝φ２である製品Ｐ２の画像が得られる。ｔ＝ｔ_３において、φ＝φ３である製品Ｐ３の画像が得られる。ｔ＝ｔ_４において、φ＝φ４である製品Ｐ４の画像が得られる。ｔ_４−ｔ_０＝ＣがＳ／ｖよりも小さい（例えば、１／１０である）とされる。ｔ_ｉ−ｔ_ｉ−１＝Ｃ／４であるともされ、ｉ＝１、２、３、４である。これは、時間期間ｔ_０−ｔ_４以内で、製品がＳよりも短い距離のみにわたりコンベアで移動することを意味する。これにより、上記シーケンスを製品Ｐ−１、Ｐ０、Ｐ１、Ｐ２、及びＰ３に対して繰り返すことができる。

したがって、ｔ＝ｔ_５において、φ＝φ０である製品Ｐ−１の画像を得ることが可能であり、ｔ_５−ｔ_０＝Ｓ／ｖであるとされる。続けて、ｔ＝ｔ_６において、φ＝φ１である製品Ｐ０の画像が得られる。ｔ＝ｔ_７において、φ＝φ２である製品Ｐ１の画像が得られる。ｔ＝ｔ_８において、φ＝φ３である製品Ｐ２の画像が得られる。ｔ＝ｔ_９において、φ＝φ４である製品Ｐ３の画像が得られる。ｔ_ｉ−ｔ_ｉ−１＝Ｃ／４であるともされ、ｉ＝６、７、８、９である。これは、時間期間ｔ_５−ｔ_９以内で、製品がＳよりも短い距離のみにわたりコンベアで移動することを意味する。これにより、上記シーケンスを製品Ｐ−２、Ｐ−１、Ｐ０、Ｐ１、及びＰ２に対して繰り返すことができる。

したがって、ｔ＝ｔ_１０において、φ＝φ０である製品Ｐ−２の画像を得ることが可能であり、ｔ_１０−ｔ_５＝Ｓ／ｖであるとされる。続けて、ｔ＝ｔ_１１において、φ＝φ１である製品Ｐ−１の画像が得られる。ｔ＝ｔ_１２において、φ＝φ２である製品Ｐ０の画像が得られる。ｔ＝ｔ_１３において、φ＝φ３である製品Ｐ１画像が得られる。ｔ＝ｔ_１４において、φ＝φ４である製品Ｐ２の画像が得られる。ｔ_ｉ−ｔ_ｉ−１＝Ｃ／４であるともされ、ｉ＝１１、１２、１３、１４である。したがって、このシーケンスを製品Ｐ−３、Ｐ−２、Ｐ−１、Ｐ０、及びＰ１に対しても繰り返すことができる。

したがって、一般に、異なる撮影方向で５枚の写真を得るシーケンスを製品セットＰｊ、Ｐｊ−１、Ｐｊ−２、Ｐｊ−３、及びＰｊ−４に対して実施可能とされ、ｊ＝０、＋／−１、＋／−２、．．．等である。これは、製品Ｐｊ毎に、５枚の画像が相互に異なる各撮影方向φｋから得られることを意味し、ｋ＝０、１、２、３、４である。製品毎に、上述したように５枚の画像を結合して、寄生反射を識別し、及び／又はなくし（除き）得る。したがって、より一般的な言葉では、異なる撮影方向でｍ枚（ｍ＝２、３、４、．．．）の写真を得るシーケンスを製品セットＰｊ、Ｐｊ−１、Ｐｊ−２、Ｐｊ−３、．．．、Ｐｊ−（ｍ−１）に対して実施可能とされ、ｊ＝０、＋／−１、＋／−２、．．．等である。これは、製品Ｐｊ毎に、ｍ枚の画像が相互に異なる各撮影方向φｋから得られることを意味し、ｋ＝０、１、２、３、４、．．．、ｍ−１である。製品毎に、上述したようにｍ枚の画像を結合して、寄生反射を識別し、及び／又はなくし（除き）得る。

上述したように、２台以上のカメラを使用することも可能である。図７に示されるように、第２のカメラ９’を図６Ａ〜図６Ｅに示される組立装置に追加することができる。カメラ９’は、図６Ａ〜図６Ｅにおいてカメラ９に関して説明した様式とまったく同じように使用することができる。しかし、カメラは、コンベアの逆側から画像を撮影する。図７では、図６Ａと同じ瞬間が示される。したがって、カメラ９’は、撮影角度φ’＝φ’０で、ｔ＝ｔ_０において製品Ｐ０から画像を取得する。カメラ９’は、カメラ９に関して考察したものと同じシーケンスを辿り、これは、製品毎に、５つの異なる撮影角度φ’ｋで５枚の画像を取得し、ｋ＝０、１、２、３、４であり − したがって、その場合、２台のカメラの１０枚の画像が、相互に異なる撮影方向から得られる。これらの１０枚の画像をここでも、上述したように結合して、寄生反射を識別し、無視し、及び／又は除く（なくす）ことができる。

上述したように、第１、第２、及びさらなる画像が、同一のカメラを用いて撮影される。しかし、他の実施形態では、それぞれが１枚又は複数枚の異なる画像を撮影する数台のカメラを使用することが可能である。これらのすべての画像は、寄生反射をなくし、例えば、既知の画像処理技法によりガラス製品が欠陥を含むか否かを解析するために、制御及び処理ユニットに中継することができる。上述したように、それに追加又は代替するものとして、画像の撮影に光学システムを使用することができる。

上述したように、発せられた放射の局所的な強度増大は実際の欠陥によるものであり得る。発せられた局所的に低減する放射も実際の欠陥によるものであり得る。実際の欠陥は、ガラス分布の局所的な変化（例えば、局所的に変化するガラス厚）及び／又は温度分布の局所的な変化により生じ得る。実際の欠陥は、ガラス製品内の気泡又はガラス製品の内包物によっても生じ得る。したがって、実際の欠陥は、ガラス製品が発する赤外線放射の局所的な強度増大又は低減において認識することができる。

上述したように、そのような実際の欠陥が検出される場合、実際の欠陥のサイズ及び寸法は自動的に特定することができる。実際の欠陥は、参照モデルと比較し得、又は実際の欠陥のサイズ及び寸法を参照値と比較して、製品を拒絶する必要があるか否か、及び／又はガラス製品製造プロセスを構成する必要があるか否かを判断することができる。これは、すべて、制御及び処理ユニットにより行われる。制御及び処理ユニットは、実際の欠陥を１つの大きな実際の欠陥等の群にすることもできる。上述したように、検出された実際の欠陥に基づいて、ガラス製品の狂いを既知のように自動的に特定することができる。

しかし、上記システム及び方法は、可視光を用いて機能するように構成することもできる。この可視光は、製品に向けて提出され、例えば、製品を通して投射される。ここでも、潜在的な欠陥は、製品に送られた可視光の局所的に増大又は局所的に低減する強度である。この場合、センサが、実際の光を検出しながら、製品の画像を撮影するのに適する。加えて、センサを、赤外線光（＝赤外線放射）も検出するように構成する必要がなくてもよい。ここでも、製品に相対して異なる撮影方向からの製品を示す、製品からの画像を比較することにより、広く上述したように、実際の欠陥を寄生反射から分けることができる。

製品が欠陥を有するか否かを判断することに代えて、上述したものと同じ方法に従って、製品の狂い及び場合によりそのような狂いの範囲を特定することも可能である。異なる撮影角度で複数の画像を撮影する追加の利点は、限られた数のみのセンサを使用して、ガラス製品の略完全な画像を生成可能なことである。上記説明及び特許請求の範囲では、センサは、赤外線放射に対する感度を有すると述べられるが、本発明は、可視放射に対する感度を有するセンサに適用することも可能である。

１ 組立装置
２ 加熱ユニット
３ 製品成形ユニット
４ コンベア
５ 配置ユニット
６ 矢印
７ 焼きなまし炉
８ 検査ユニット
９、１０ センサ
９’ カメラ
１１ 制御及び処理ユニット
１２、１３ 回転軸
１４ 比較ユニット
１５ 光学システム
１６ アレイ
１７、１８、１９、２０、２１、２１’、２１”、２３、２４位置（エリア）

Claims (35)

1. ガラス製品材料からガラス製品を製造する方法であって、
   ａ．前記ガラス製品材料を加熱するステップと；
   ｂ．加熱された前記ガラス製品材料をガラス製品に成形するステップと；
   ｃ．成形された前記ガラス製品を冷却するステップと；
   ｄ．少なくとも１つの感光センサ若しくは赤外線放射に対する感度を有するセンサにより、前記成形されたガラス製品を検査するステップと；
   を含み、
   前記検査するステップが、
   ｅ．前記製品に対してそれぞれが相互に異なる複数の撮影方向で、前記ガラス製品の複数の画像を撮影するステップと；
   ｆ．前記複数の画像を比較して、前記製品の潜在的な欠陥を検出するステップ、若しくは前記潜在的な欠陥を検出し、そのような欠陥の範囲を特定するステップと；
   を含み、
   ステップｆは、前記複数の画像を比較することにより、潜在的な欠陥が前記画像のうちの１つのみにおいて生じるか、若しくは前記製品の同じ位置で前記画像の少数（５０％未満）においてのみ生じるか、若しくは前記製品の同じ位置で所定数未満の画像において生じる場合、前記潜在的な欠陥を無視するか、若しくは前記潜在的な欠陥を実際の欠陥として分類せず、若しくは前記潜在的な欠陥を寄生反射として分類することを含み、及び／又は、
   ステップｆは、前記複数の画像を比較することにより、潜在的な欠陥が前記複数の画像で前記製品の異なる位置において生じる場合、前記潜在的な欠陥を無視するか、若しくは前記潜在的な欠陥を寄生反射として分類することを含み、
   ステップｆは、前記複数の画像を比較することにより、潜在的な欠陥が前記画像のそれぞれで前記製品の同じ位置において生じるか、若しくは前記画像の大半（５０％以上）で前記製品の同じ位置において生じるか、若しくは少なくとも所定数の画像で前記製品の同じ位置において生じる場合、前記潜在的な欠陥を実際の欠陥として分類することを含む、ことを特徴とする、前記方法。
2. ステップｆは、前記複数の画像のうちの少なくとも所定数の画像において潜在的な欠陥を示す前記製品の位置を、前記複数の画像において特定することを含む、請求項１に記載の方法。
3. ステップｆにおいて、潜在的な欠陥が前記複数の画像のうちの少なくとも所定数の画像の前記製品の同じ位置に配置される場合、前記潜在的な欠陥は実際の欠陥として分類される、請求項２に記載の方法。
4. ステップｅは、
   − ｅ１．前記製品に対して第１の撮影方向で前記ガラス製品の第１の画像を撮影するステップと；
   − ｅ２．前記製品に対して第２の撮影方向で前記ガラス製品の少なくとも１枚の第２の画像を撮影するステップと；
   を含み、前記第１の撮影方向は前記第２の撮影方向と異なり、
   ステップｆは、前記第１の画像と前記少なくとも１枚の第２の画像とを比較し、前記製品の潜在的な欠陥を検出することを含む、請求項１−３のいずれか一項に記載の方法。
5. ステップｆは、ｆ１．前記第１の画像において可視であり、前記ガラス製品の第１の位置に位置する潜在的な欠陥が、前記少なくとも１枚の第２の画像の前記製品の前記第１の位置でも可視であるか否かを判断するステップを含み、及び／又は、
   ｆ２．前記第１の画像において可視であり、前記第１の位置に位置する潜在的な欠陥が、前記少なくとも１枚の第２の画像の前記製品の第２の位置でも可視であるか否かを判断するステップを含み、前記第１の位置は前記第２の位置と異なり、及び／又は、
   ｆ３．前記第１の画像において可視であり、前記ガラス製品の第１の位置に位置する潜在的な欠陥が、前記少なくとも１枚の第２の画像において非可視であるか否かを判断するステップを含む、請求項４に記載の方法。
6. ステップｆ１において、前記第１の画像において可視であり、前記ガラス製品の前記第１の位置に位置する前記潜在的な欠陥が、前記製品の前記第１の位置において前記少なくとも１枚の第２の画像でも可視である場合、前記潜在的な欠陥は実際の欠陥として分類される、請求項５に記載の方法。
7. ステップｆ２において、前記第１の画像において可視であり、前記第１の位置に位置する前記潜在的な欠陥が、前記製品の第２の位置において前記少なくとも１枚の第２の画像でも可視である場合、前記潜在的な欠陥は実際の欠陥として分類されず、又は無視され、前記第１の位置は前記第２の位置と異なる、請求項５又は６に記載の方法。
8. ステップｆ２において、前記第１の画像において可視であり、前記第１の位置に位置する前記潜在的な欠陥が、前記製品の第２の位置において前記少なくとも１枚の第２の画像でも可視である場合、前記潜在的な欠陥は寄生反射として分類され、前記第１の位置は前記第２の位置と異なる、請求項７に記載の方法。
9. ステップｆ３において、前記第１の画像において可視であり、前記ガラス製品の前記第１の位置に位置する前記潜在的な欠陥が、前記少なくとも１枚の第２の画像では非可視である場合、前記潜在的な欠陥は実際の欠陥として分類されず、又は無視される、請求項５−８のいずれか一項に記載の方法。
10. ステップｆ３において、前記第１の画像において可視であり、前記ガラス製品の前記第１の位置に位置する前記潜在的な欠陥が、前記少なくとも１枚の第２の画像において非可視である場合、前記潜在的な欠陥は寄生反射として分類される、請求項９に記載の方法。
11. ステップｅは、前記製品に対するさらなる撮影方向で前記ガラス製品の少なくとも１枚のさらなる画像を撮影するステップｅ３をさらに含み、前記さらなる撮影方向は、前記第１の撮影方向と異なり、且つ前記第２の撮影方向と異なる、請求項４−１０のいずれか一項に記載の方法。
12. ステップｆは、前記第１の画像の前記製品の第１の位置で可視である潜在的な欠陥が、前記第２の画像の前記製品の前記第１の位置及び前記少なくとも１枚のさらなる画像の前記製品の前記第１の位置でも可視であるか否かを判断するステップｆ５を含み、潜在的な欠陥が、製品の第１の位置に位置する第２の画像において、及び製品の第１の位置に位置する少なくとも１つの他の画像において可視である場合、前記潜在的な欠陥は実際の欠陥として分類される、請求項１１に記載の方法。
13. ステップｆは、前記第１の画像において可視であり、前記製品の前記第１の位置に位置する前記潜在的な欠陥が、前記第２の画像の前記製品の第２の位置及び前記少なくとも１枚のさらなる画像の前記製品の第３の位置でも可視であるか否かを判断することを含むステップｆ６を含み、前記第１の位置が前記第２の位置と異なり、及び／又は前記第１の位置が前記第３の位置と異なる場合、前記潜在的な欠陥は、実際の欠陥として分類されず、無視され、又は寄生反射として分類される、請求項１１又は１２に記載の方法。
14. ステップｆは、前記第１の画像において可視であり、前記製品の前記第１の位置に位置する前記潜在的な欠陥が、前記第２の画像では非可視であるか否か、及び／又は前記少なくとも１枚のさらなる画像では非可視であるか否かを判断することを含むステップｆ６を含み、潜在的な欠陥が、第２の画像及び／又は少なくとも１つの他の画像において非可視である場合、前記潜在的な欠陥は、実際の欠陥として分類されず、無視され、又は寄生反射として分類される、請求項１１−１３のいずれか一項に記載の方法。
15. ステップｅにおいて、前記複数の画像は異なるセンサにより撮影される、請求項１−１４のいずれか一項に記載の方法。
16. 前記方法は、前記成形されたガラス製品をコンベアにより搬送するステップをさらに含み、前記画像は搬送中に撮影される、請求項１−１５のいずれか一項に記載の方法。
17. ステップｅにおいて、少なくとも２つのセンサが使用され、前記少なくとも２つのセンサは、前記コンベアの両側に位置決めされる、請求項１６に記載の方法。
18. ステップｅにおいて、前記複数の画像は同じセンサにより撮影される、請求項１−１４のいずれか一項に記載の方法。
19. 前記方法は、光学システムを提供するステップを含み、ステップｅは、少なくとも１つのセンサを使用しての前記製品の前記画像のいずれか１枚の撮影に前記光学システムを使用することを含む、請求項１−１８のいずれか一項に記載の方法。
20. 前記製品の撮影方向は、前記製品が搬送される方向に対する前記製品の撮影角度により定義される、請求項１９に記載の方法。
21. 前記方法は、
    複数の成形されたガラス製品を前記コンベアに配置するステップと；
    前記複数の成形されたガラス製品を前記コンベアにより同時に搬送するステップと；
    ステップｅにおいて、前記複数の製品の搬送中、前記複数の画像が、前記複数の製品の各製品の組み合わせで、前記製品に対して異なる撮影方向を有する前記製品の画像を含むように、異なる時点で、且つ前記複数の製品が搬送される方向に対して相互に異なる撮影方向で、前記複数の成形されたガラス製品の前記複数の画像を作成するステップと、
    をさらに含む、請求項１９又は２０に記載の方法。
22. ステップｆにおいて、前記複数の画像から、少なくとも同一の製品の複数の画像が取得され、前記少なくとも１つの製品の前記複数の画像は、前記少なくとも１つの製品の前記複数の画像を比較するために、それぞれが前記製品に対して異なる撮影角度を有する画像を含む、請求項２１に記載の方法。
23. 前記コンベアの速度はｖであり、前記コンベア上の前記製品は、隣接する製品の間隔がＳであるように、前記コンベア方向において離間され、一連のｍ個１セットの隣接する製品で、Ｓ／ｖ未満の時間間隔以内でｍ枚の画像が取得され、前記ｍ枚の画像は、ｍ個の製品に対して相互に異なる撮影角度を有し、前記相互に異なる撮影方向での一連のｍ枚（ｍ＝２、３、４、．．．）の画像を取得することは、製品セットＰｊ、Ｐｊ−１、Ｐｊ−２、Ｐｊ−３、．．．、Ｐｊ・（ｍ−１）に対して実施可能とされ、製品Ｐｊ毎（ｊ＝０、＋／−１、＋／−２、＋／−３、．．．）に、ｍ枚の画像が相互に異なる各撮影方向φｋ（ｋ＝０、１、２，３，４・・・ｍ−１）から得られ、ｊの各値で、Ｐｊ及びＰｊ−１が前記コンベア上で隣接する製品であり、且つＰｊはＰｊ−１に対して上流に配置される、請求項２１又は２２に記載の方法。
24. 前記複数の画像を使用して、前記ガラス製品の全体の画像を作成するか、前記第１の画像及び前記第２の画像、及び／又はさらなる画像を使用して、前記ガラス製品の全体の画像を作成する、請求項１−２３のいずれか一項に記載の方法。
25. 赤外線強度が局所的に増大する前記製品のエリアが、前記製品の潜在的な欠陥として見なされる、請求項１−２４のいずれか一項に記載の方法。
26. 前記請求項１−２５のいずれか一項に記載の、ガラス製品材料からガラス製品を製造する方法を実施する組立装置であって、
    前記ガラス製品材料を加熱する加熱ユニットと；
    加熱された前記ガラス製品材料をガラス製品に成形する製品成形ユニットと；
    成形された前記ガラス製品を冷却する焼きなまし炉と；
    前記成形されたガラス製品を検査する検査ユニットであって、前記検査ユニットは少なくとも１つの感光センサ若しくは赤外線放射に対する感度を有するセンサを含む、検査ユニットと；及び、
    前記少なくとも１つのセンサに接続され、前記少なくとも１つのセンサにより送られる、前記ガラス製品の少なくとも１枚の画像を示す出力信号を受信し、ガラス製品が前記製品に潜在的な欠陥を含むか否かを判断する、若しくは前記潜在的な欠陥を含むか否かを判断し、そのような欠陥の範囲を特定するように構成される制御及び処理ユニットと；
    を備え、
    前記検査ユニットは、前記製品に対してそれぞれが相互に異なる複数の撮影方向で前記ガラス製品の複数の画像を撮影するように構成され、前記処理ユニットは、前記複数の画像を比較して、前記製品の潜在的な欠陥を検出する、若しくは前記潜在的な欠陥を検出し、そのような欠陥の範囲を特定するように構成され、
    前記処理ユニットは、潜在的な欠陥が前記画像のうちの１つのみにおいて生じるか、若しくは前記製品の同じ位置で前記画像の少数（５０％未満）においてのみ生じるか、若しくは前記製品の同じ位置で所定数未満の画像において生じる場合、前記潜在的な欠陥を無視するか、若しくは前記潜在的な欠陥を寄生反射として分類するように構成され、及び／又は、
    前記処理ユニットは、潜在的な欠陥が前記複数の画像内の前記製品の異なる位置で生じる場合、前記潜在的な欠陥を無視するか、若しくは前記潜在的な欠陥を寄生反射として分類するように構成され、
    前記処理ユニットは、潜在的な欠陥が前記製品の同じ位置で前記画像のそれぞれにおいて生じるか、若しくは前記製品の同じ位置で前記画像の大半（５０％以上）において生じるか、若しくは前記製品の同じ位置で少なくとも所定数の画像において生じる場合、前記潜在的な欠陥を実際の欠陥として分類するように構成される、組立装置。
27. 前記処理ユニットは、前記複数の画像のうちの少なくとも所定数の画像において潜在的な欠陥を示す前記製品の位置を、前記複数の画像において特定するように構成される、請求項２６に記載の組立装置。
28. 前記処理ユニットは、潜在的な欠陥が前記複数の画像のうちの少なくとも所定数の画像の前記製品の同じ位置に配置される場合、前記潜在的な欠陥を実際の欠陥として分類するように構成される、請求項２７に記載の組立装置。
29. 前記検査ユニットは、前記製品に対して第１の撮影方向で前記ガラス製品の第１の画像を撮影するとともに、前記製品に対して第２の撮影方向で撮影される前記ガラス製品の第２の画像を撮影するように構成され、前記第１の撮影方向は前記第２の撮影方向と異なり、前記処理ユニットは、前記第１の画像と前記少なくとも１枚の第２の画像とを比較し、前記製品の潜在的な欠陥を検出するように構成される、請求項２６−２８のいずれか一項に記載の組立装置。
30. 前記処理ユニットは、前記第１の画像において可視であり、前記ガラス製品の第１の位置に位置する潜在的な欠陥が、前記少なくとも１枚の第２の画像の前記製品の前記第１の位置でも可視であるか否かを判断するように構成され、前記処理ユニットは、前記第１の画像において可視であり、前記ガラス製品の第１の位置に位置する潜在的な欠陥が、前記少なくとも１枚の第２の画像の前記製品の前記第１の位置でも可視である場合、前記潜在的な欠陥を実際の欠陥として分類し、及び／又は、
    前記第１の画像において可視であり、前記第１の位置に位置する潜在的な欠陥が、前記少なくとも１枚の第２の画像の前記製品の第２の位置でも可視であるか否かを判断するようにさらに構成され、前記第１の位置は前記第２の位置と異なり、前記処理ユニットは、前記第１の画像において可視であり、前記第１の位置に位置する潜在的な欠陥が、前記少なくとも１枚の第２の画像の前記製品の第２の位置でも可視である場合、前記潜在的な欠陥を実際の欠陥として分類しないようにさらに構成され、前記第１の位置は前記第２の位置と異なり、及び／又は、
    前記処理ユニットは、前記第１の画像において可視であり、前記第１の位置に位置する潜在的な欠陥が、前記少なくとも１枚の第２の画像の前記製品の第２の位置でも可視である場合、前記潜在的な欠陥を寄生反射として分類し、及び／又は、
    前記第１の画像において可視であり、前記ガラス製品の前記第１の位置に位置する潜在的な欠陥が、前記少なくとも１枚の第２の画像で非可視であるか否かを判断するようにさらに構成され、前記第１の位置は前記第２の位置と異なり、前記処理ユニットは、前記第１の画像において可視であり、前記ガラス製品の前記第１の位置に位置する潜在的な欠陥が、前記少なくとも１枚の第２の画像で非可視である場合、前記潜在的な欠陥を実際の欠陥として分類しないようにさらに構成される、請求項２９に記載の組立装置。
31. 前記検査ユニットは、前記第１及び第２の撮影方向とは異なる前記製品に対するさらなる撮影方向で撮影されたさらなる画像を作成するように構成され、前記処理ユニットは、前記ガラス製品の前記さらなる画像を前記ガラス製品の前記第１及び／又は第２の画像と比較して、前記製品の潜在的な欠陥を検出するように構成される、請求項２９又は３０に記載の組立装置。
32. 前記検査ユニットは、前記少なくとも１つのセンサにより前記ガラス製品の前記複数の画像のいずれか１つを撮影する光学システムをさらに備える、請求項２６−３１のいずれか一項に記載の組立装置。
33. 前記組立装置は、成形されたガラス製品を搬送するコンベアと、複数の成形されたガラス製品を前記コンベアに配置する配置ユニットと、をさらに備え、前記制御ユニットは、前記複数の成形されたガラス製品を同時に搬送するように前記コンベアを制御するとともに、搬送中に画像を撮影するように前記検査ユニットを制御するように構成され、前記製品の撮影方向は、前記コンベアの輸送方向に対する撮影角度として定めることができる、請求項２６−３２のいずれか一項に記載の組立装置。
34. 前記検査ユニットは少なくとも２つのセンサを含み、前記少なくとも２つのセンサは、前記コンベアの両側に位置決めされる、請求項３３に記載の組立装置。
35. 前記制御及び処理ユニットは、赤外線強度が局所的に増大する前記製品のエリアを、前記製品の潜在的な欠陥として分類するように構成される、請求項２６−３４のいずれか一項に記載の組立装置。

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