Deprecated: The each() function is deprecated. This message will be suppressed on further calls in /home/zhenxiangba/zhenxiangba.com/public_html/phproxy-improved-master/index.php on line 456
JP6136614B2 - Permeability detector, permeability detector mounting method, developing device - Google Patents
[go: Go Back, main page]

JP6136614B2 - Permeability detector, permeability detector mounting method, developing device - Google Patents

Permeability detector, permeability detector mounting method, developing device Download PDF

Info

Publication number
JP6136614B2
JP6136614B2 JP2013125932A JP2013125932A JP6136614B2 JP 6136614 B2 JP6136614 B2 JP 6136614B2 JP 2013125932 A JP2013125932 A JP 2013125932A JP 2013125932 A JP2013125932 A JP 2013125932A JP 6136614 B2 JP6136614 B2 JP 6136614B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
magnetic permeability
coil
pattern
developing device
permeability sensor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2013125932A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2015001617A (en
Inventor
正洋 渡部
正洋 渡部
廣田 哲郎
哲郎 廣田
細川 浩
浩 細川
山根 正行
正行 山根
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ricoh Co Ltd filed Critical Ricoh Co Ltd
Priority to JP2013125932A priority Critical patent/JP6136614B2/en
Publication of JP2015001617A publication Critical patent/JP2015001617A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP6136614B2 publication Critical patent/JP6136614B2/en
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Measuring Magnetic Variables (AREA)
  • Dry Development In Electrophotography (AREA)

Description

本発明は、透磁率検知器、透磁率検知器の取り付け方法、現像装置に関し、特に、透磁率検知器の取り付け態様に関する。   The present invention relates to a magnetic permeability detector, a method of attaching a magnetic permeability detector, and a developing device, and more particularly, to an attachment mode of the magnetic permeability detector.

近年、情報の電子化が推進される傾向にあり、電子化された情報の出力に用いられるプリンタやファクシミリ及び書類の電子化に用いるスキャナ等の画像処理装置は欠かせない機器となっている。このような画像処理装置は、撮像機能、画像形成機能及び通信機能等を備えることにより、プリンタ、ファクシミリ、スキャナ、複写機として利用可能なMFP(Multi Function Peripheral:複合機)として構成されることが多い。   In recent years, there has been a tendency to digitize information, and image processing apparatuses such as printers and facsimiles used for outputting digitized information and scanners used for digitizing documents have become indispensable devices. Such an image processing apparatus is configured as an MFP (Multi Function Peripheral) that can be used as a printer, a facsimile, a scanner, and a copier by providing an imaging function, an image forming function, a communication function, and the like. Many.

このような画像処理装置のうち、トナー等の顕色剤を転写紙に付着させることにより作像し、作像された転写紙を加熱・加圧することにより、付着されたトナーを上記転写紙に定着させることで画像を形成する電子写真方式の画像形成装置が知られている。そして、このような電子写真方式の画像形成装置のうち、磁性粒子であるキャリアと非磁性のトナーとが混合された2成分現像剤を使用しているものがある。   In such an image processing apparatus, an image is formed by attaching a developer such as toner to the transfer paper, and the attached toner is applied to the transfer paper by heating and pressurizing the formed transfer paper. There is known an electrophotographic image forming apparatus that forms an image by fixing. Among such electrophotographic image forming apparatuses, there are those that use a two-component developer in which a carrier that is magnetic particles and a non-magnetic toner are mixed.

このような2成分現像剤を使用する画像形成装置においては、画像形成によってトナーのみが消費されるが、安定した品質の画像を形成するために、容器内におけるトナーの濃度を適正な範囲に保つ必要がある。従って、このような2成分現像剤を使用する画像形成装置においては、その容器内における現像剤中のトナーの濃度を測定する必要がある。   In such an image forming apparatus using a two-component developer, only toner is consumed by image formation, but in order to form a stable quality image, the toner concentration in the container is kept within an appropriate range. There is a need. Therefore, in an image forming apparatus using such a two-component developer, it is necessary to measure the concentration of toner in the developer in the container.

そこで、このような2成分現像剤を使用する画像形成装置には、通常、上記容器内における現像剤中のトナーの濃度を測定するためのトナー濃度検知器が備えられている。このトナー濃度検知器としては、基板上に平面パターンによって形成されたコイルを含むLC発振回路を利用したものが提案され既に知られている(例えば、特許文献1参照)。   Therefore, an image forming apparatus using such a two-component developer is usually provided with a toner concentration detector for measuring the concentration of toner in the developer in the container. As this toner concentration detector, one using an LC oscillation circuit including a coil formed by a planar pattern on a substrate has been proposed and already known (see, for example, Patent Document 1).

このようなコイルを含むLC発振回路を利用したトナー濃度検知器は、LC発振回路から出力される信号の周波数に基づき、上記コイルが形成された平面に対向する容器内の透磁率を検知することで、上記容器内における現像剤中のトナーの濃度を検知するものである。   The toner concentration detector using the LC oscillation circuit including such a coil detects the magnetic permeability in the container facing the plane on which the coil is formed based on the frequency of the signal output from the LC oscillation circuit. Thus, the density of the toner in the developer in the container is detected.

即ち、このようなコイルを含むLC発振回路を利用したトナー濃度検知器は、画像形成によりトナーのみが消費されて容器内における現像剤中のトナーの濃度が変化することで発生する透磁率変化を、上記コイルのインダクタンス変化を介して検知するものである。   That is, a toner concentration detector using an LC oscillation circuit including such a coil exhibits a change in magnetic permeability that occurs when only the toner is consumed by image formation and the concentration of the toner in the developer in the container changes. This is detected through the inductance change of the coil.

ところが、このようなLC発振回路から出力される信号の周波数は、環境温度に対する応答性を有することが一般的である。従って、このようなLC発振回路を利用したトナー濃度検知器は、環境温度の変化により検知濃度に誤差が生じることになる。これは、LC発振回路を構成する各素子の抵抗値や電気容量といった物理量が環境温度に応じて変化し、その結果として発振周波数が変化するためである。   However, the frequency of a signal output from such an LC oscillation circuit is generally responsive to ambient temperature. Therefore, in the toner concentration detector using such an LC oscillation circuit, an error occurs in the detected concentration due to a change in the environmental temperature. This is because a physical quantity such as a resistance value or electric capacity of each element constituting the LC oscillation circuit changes according to the environmental temperature, and as a result, the oscillation frequency changes.

そこで、回路を構成する各素子の物理量が環境温度に応じて変化しても発振周波数へのその影響を軽減することができるLC発振回路をトナー濃度検知器に用いることで、上記問題を回避することができる。このようなLC発振回路として、上記パターンコイルの形成面と同一の面に平面パターンによって形成されたパターン抵抗をそのパターンコイルに直列に接続したLC発振回路が考えられる。   Therefore, the above problem can be avoided by using an LC oscillation circuit in the toner density detector that can reduce the influence on the oscillation frequency even if the physical quantity of each element constituting the circuit changes according to the environmental temperature. be able to. As such an LC oscillation circuit, an LC oscillation circuit in which a pattern resistor formed by a planar pattern on the same plane as the pattern coil is connected in series to the pattern coil is conceivable.

このように、パターンコイルとパターン抵抗とを直列に接続し、そのパターン抵抗の抵抗値を調整するだけで、回路を構成する各素子の物理量の温度変化による影響を軽減するLC発振回路を容易に設計することが可能となる。そして、このようなLC発振回路を利用したトナー濃度検知器が、パターンコイルの形成面を上記容器に対向するように配置されて固定されることにより、環境温度に依存せず安定して容器内における現像剤中のトナーの濃度を検知することが可能となる。   In this way, by simply connecting the pattern coil and the pattern resistor in series and adjusting the resistance value of the pattern resistor, an LC oscillation circuit that reduces the effects of temperature changes in the physical quantities of the elements that make up the circuit can be easily achieved. It becomes possible to design. The toner concentration detector using such an LC oscillation circuit is disposed and fixed so that the surface on which the pattern coil is formed is opposed to the container. It is possible to detect the concentration of toner in the developer.

ところで、通常、電子写真方式の画像形成装置においては、内部に充填された現像剤を搬送するスクリューが上記容器内に設けられており、この搬送スクリューが回転することにより、内部に充填された現像剤が容器全体に行き渡るように構成されている。そのため、このような電子写真方式の画像形成装置においては、上記搬送スクリューの軸とその軸受けとの摩擦によって熱が発生し、その部分を熱源として容器を構成する筐体に温度勾配が生じる。そして、容器を構成する筐体に温度勾配が生じると、その筐体部分に取り付けられているトナー濃度検知器にも温度勾配が生じることになる。   By the way, in an electrophotographic image forming apparatus, a screw for transporting a developer filled inside is usually provided in the container, and the developer filled inside is rotated by the rotation of the transport screw. The agent is configured to spread throughout the container. For this reason, in such an electrophotographic image forming apparatus, heat is generated by friction between the shaft of the conveying screw and the bearing thereof, and a temperature gradient is generated in the casing constituting the container using that portion as a heat source. When a temperature gradient is generated in the casing constituting the container, a temperature gradient is also generated in the toner concentration detector attached to the casing portion.

ここで、パターンコイル及びパターン抵抗を含むLC発振回路を利用したトナー濃度検知器は、その両者間で温度差がないことを前提として使用されるものである。そのため、上述したようにトナー濃度検知器に温度勾配が生じると、検知濃度に誤差が生じるといった問題がある。   Here, the toner concentration detector using the LC oscillation circuit including the pattern coil and the pattern resistor is used on the assumption that there is no temperature difference between the two. Therefore, as described above, when a temperature gradient occurs in the toner density detector, there is a problem that an error occurs in the detected density.

尚、このような問題は、現像剤が収容された容器に取り付けられてその容器内における現像剤中のトナーの濃度を検知するトナー濃度検知器に限らず、上述したように温度勾配が生じる使用環境において、パターンコイル及びパターン抵抗を含むLC発振回路を利用して、パターンコイルが形成された平面に対向する所定空間の透磁率を検知する透磁率検知器であれば同様に発生し得る問題である。   Such a problem is not limited to a toner concentration detector that is attached to a container containing a developer and detects the concentration of toner in the developer in the container. In the environment, a magnetic permeability detector that detects the magnetic permeability of a predetermined space facing the plane on which the pattern coil is formed by using an LC oscillation circuit including a pattern coil and a pattern resistor may similarly occur. is there.

本発明は、上記実情を考慮してなされたものであり、基板上に平面パターンによって形成され直列に接続されたパターンコイルとパターン抵抗とを含むLC発振回路から所定空間の透磁率に応じて出力される信号の周波数に基づいて上記所定空間の透磁率を検知する透磁率検知器において、その透磁率の検知精度を向上することを目的とする。   The present invention has been made in consideration of the above situation, and outputs an LC oscillation circuit including a pattern coil formed in a planar pattern on a substrate and connected in series according to the magnetic permeability of a predetermined space. An object of the present invention is to improve the accuracy of detecting the magnetic permeability in the magnetic permeability detector that detects the magnetic permeability of the predetermined space based on the frequency of the transmitted signal.

上記課題を解決するために、所定空間の透磁率に応じた周波数の信号を出力する透磁率検知器であって、基板上に平面パターンによって形成され、前記所定空間の透磁率によってインダクタンスが変化するコイルと、前記コイルと共振電流ループを構成するように接続されたコンデンサと、前記共振電流ループの一部の電位に応じた信号を出力する出力端子と、前記共振電流ループに直列に接続され、前記基板上に形成された前記コイルと同一面上につづら折状の平面パターンによって形成されたパターン抵抗と、前記コイルの形成面が対向する面よりも熱伝導性が高く、前記基板上において前記コイル及び前記パターン抵抗を含む連続する範囲を覆うように設けられ、前記コイルの形成面が前記所定空間に対向した状態で前記透磁率検知器を固定するための接着層と、を含むことを特徴とする。   In order to solve the above-described problem, a magnetic permeability detector that outputs a signal having a frequency corresponding to the magnetic permeability of a predetermined space, is formed by a planar pattern on a substrate, and an inductance changes depending on the magnetic permeability of the predetermined space. A coil, a capacitor connected to form a resonance current loop with the coil, an output terminal for outputting a signal corresponding to a potential of a part of the resonance current loop, and connected in series to the resonance current loop; The pattern resistance formed by a folded planar pattern on the same surface as the coil formed on the substrate and the thermal conductivity is higher than the surface on which the formation surface of the coil is opposed, The magnetic permeability detector is provided so as to cover a continuous range including the coil and the pattern resistor, and the formation surface of the coil faces the predetermined space. Characterized in that it comprises a and a bonding layer for securing.

また、本発明の他の態様は、所定空間の透磁率に応じた周波数の信号を出力する透磁率検知器の取り付け方法であって、前記透磁率検知器は、基板上に平面パターンによって形成され、前記所定空間の透磁率によってインダクタンスが変化するコイルと、前記コイルと共振電流ループを構成するように接続されたコンデンサと、前記共振電流ループの一部の電位に応じた信号を出力する出力端子と、前記共振電流ループに直列に接続され、前記基板上に形成された前記コイルと同一面上につづら折状の平面パターンによって形成されたパターン抵抗と、前記コイルの形成面が対向する面よりも熱伝導性が高く、前記基板上において前記コイル及び前記パターン抵抗を含む連続する範囲を覆うように設けられ、前記コイルの形成面が前記所定空間に対向した状態で前記透磁率検知器を固定するための接着層と、を含み、前記接着層により前記コイルの形成面が前記所定空間に対向した状態で取り付けられることを特徴とする。   According to another aspect of the present invention, there is provided a method of attaching a magnetic permeability detector that outputs a signal having a frequency corresponding to the magnetic permeability of a predetermined space, wherein the magnetic permeability detector is formed in a planar pattern on a substrate. A coil whose inductance varies depending on the magnetic permeability of the predetermined space, a capacitor connected to the coil so as to form a resonance current loop, and an output terminal that outputs a signal corresponding to a potential of a part of the resonance current loop And a pattern resistance formed by a folded planar pattern on the same plane as the coil formed on the substrate and connected in series to the resonance current loop, and a surface on which the formation surface of the coil faces. Is provided so as to cover a continuous area including the coil and the pattern resistor on the substrate, and a surface on which the coil is formed is the predetermined void. Wherein the adhesive layer for securing said permeability detector in the opposing state, the forming surface of the coil by the adhesive layer, characterized in that the mounted while facing the said predetermined space.

また、本発明の更に他の態様は、画像形成装置において静電潜像を現像する現像装置であって、前記静電潜像を現像するためのトナーを含む現像剤を収容する現像剤収容部と、前記現像剤収容部における現像剤中のトナーの濃度を検知するトナー濃度検知器と、を含み、前記トナー濃度検知器は、基板上に平面パターンによって形成され、前記所定空間の透磁率によってインダクタンスが変化するコイルと、前記コイルと共振電流ループを構成するように接続されたコンデンサと、前記共振電流ループの一部の電位に応じた信号を出力する出力端子と、前記共振電流ループに直列に接続され、前記基板上に形成された前記コイルと同一面上につづら折状の平面パターンによって形成されたパターン抵抗と、前記コイルの形成面が対向する面よりも熱伝導性が高く、前記基板上において前記コイル及び前記パターン抵抗を含む連続する範囲を覆うように設けられ、前記コイルの形成面が前記現像剤収容部に対向した状態で前記トナー濃度検知器を固定するための接着層と、を含み、前記トナー濃度検知器が前記接着層により、前記コイルの形成面が前記現像剤収容部に対向した状態で取り付けられていることを特徴とする現像装置。   According to still another aspect of the present invention, there is provided a developing device for developing an electrostatic latent image in an image forming apparatus, the developer containing portion containing a developer containing toner for developing the electrostatic latent image. And a toner concentration detector for detecting the concentration of toner in the developer in the developer accommodating portion, wherein the toner concentration detector is formed in a planar pattern on a substrate, and has a magnetic permeability in the predetermined space. A coil whose inductance varies, a capacitor connected to the coil to form a resonance current loop, an output terminal for outputting a signal corresponding to a potential of a part of the resonance current loop, and a series connection to the resonance current loop A pattern resistor formed by a folded planar pattern on the same surface as the coil formed on the substrate and a surface on which the coil forming surface faces. The toner concentration detector is provided with a high thermal conductivity so as to cover a continuous area including the coil and the pattern resistor on the substrate, and the coil forming surface faces the developer accommodating portion. A developer layer, wherein the toner density detector is attached by the adhesive layer in a state where the surface on which the coil is formed faces the developer accommodating portion. .

本発明によれば、基板上に平面パターンによって形成され直列に接続されたパターンコイルとパターン抵抗とを含むLC発振回路から所定空間の透磁率に応じて出力される信号の周波数に基づいて上記所定空間の透磁率を検知する透磁率検知器において、その透磁率の検知精度を向上することが可能となる。   According to the present invention, the predetermined frequency based on the frequency of a signal output in accordance with the magnetic permeability of a predetermined space from an LC oscillation circuit including a pattern coil and a pattern resistor formed in a planar pattern on a substrate and connected in series. In the magnetic permeability detector that detects the magnetic permeability of the space, it is possible to improve the detection accuracy of the magnetic permeability.

本発明の実施形態に係る透磁率センサの回路構成を示す図である。It is a figure which shows the circuit structure of the magnetic permeability sensor which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施形態に係る透磁率センサの概観を示す斜視図である。It is a perspective view showing an outline of a magnetic permeability sensor concerning an embodiment of the present invention. 本発明の実施形態に係る透磁率センサを示す六面図である。It is a 6-face figure which shows the magnetic permeability sensor which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施形態に係る透磁率センサを含む装置の機能構成を示す図である。It is a figure which shows the function structure of the apparatus containing the magnetic permeability sensor which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施形態に係る透磁率センサの出力信号を処理するインタフェースの構成を示す図である。It is a figure which shows the structure of the interface which processes the output signal of the magnetic permeability sensor which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施形態に係る透磁率センサが搭載される現像器を含む画像形成装置の機械的構成を示す図である。1 is a diagram illustrating a mechanical configuration of an image forming apparatus including a developing device on which a magnetic permeability sensor according to an embodiment of the present invention is mounted. 本発明の実施形態に係る透磁率センサが搭載される現像器を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the developing device by which the magnetic permeability sensor which concerns on embodiment of this invention is mounted. 本発明の実施形態に係る現像器の内部を示す斜視図である。FIG. 3 is a perspective view showing the inside of the developing device according to the embodiment of the present invention. 本発明の実施形態に係る透磁率センサの現像器への搭載態様を示す図である。It is a figure which shows the mounting aspect to the developing device of the magnetic permeability sensor which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施形態に係る透磁率センサを、現像器に取り付けられている状態においてその検知面から見た図である。It is the figure which looked at the magnetic permeability sensor which concerns on embodiment of this invention from the detection surface in the state attached to the developing device. 本発明の実施形態に係る透磁率センサを、現像器に取り付けられている状態において、その検知面に水平な方向であって、パターンコイルとパターン抵抗との接続方向に垂直な方向から見た図である。The magnetic permeability sensor which concerns on embodiment of this invention is the state seen from the direction perpendicular | vertical to the connection direction of a pattern coil and a pattern resistance in the state attached to the image development device in the horizontal direction. It is. 本発明の実施形態に係る現像器における熱源からの熱の伝導の様子を、透磁率センサが取り付けられている状態においてその検知面から見た図である。It is the figure which looked at the mode of conduction of the heat from the heat source in the developing device concerning the embodiment of the present invention from the detection side in the state where the magnetic permeability sensor is attached. 本発明の実施形態に係る現像器における熱源からの熱の伝導の様子を、透磁率センサが取り付けられている状態においてその検知面に水平な方向であって、パターンコイルとパターン抵抗との接続方向に垂直な方向から見た図である。The state of heat conduction from the heat source in the developing device according to the embodiment of the present invention is a direction horizontal to the detection surface in a state where the magnetic permeability sensor is attached, and the connection direction of the pattern coil and the pattern resistor It is the figure seen from the direction perpendicular | vertical to. 本発明の実施形態に係る現像器における主走査方向に対する温度分布の様子を示す図である。It is a figure which shows the mode of the temperature distribution with respect to the main scanning direction in the developing device which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施形態に係る現像器における主走査方向に対する温度分布の様子を示す図である。It is a figure which shows the mode of the temperature distribution with respect to the main scanning direction in the developing device which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施形態に係る透磁率センサを、その検知面から見た図である。It is the figure which looked at the magnetic permeability sensor which concerns on embodiment of this invention from the detection surface. 本発明の実施形態に係る透磁率センサを、その検知面に水平な方向であって、パターンコイルとパターン抵抗との接続方向に垂直な方向から見た図である。It is the figure which looked at the magnetic permeability sensor which concerns on embodiment of this invention from the direction perpendicular | vertical to the detection surface, and perpendicular | vertical to the connection direction of a pattern coil and pattern resistance. 本発明の実施形態に係る透磁率センサを、その検知面から見た図である。It is the figure which looked at the magnetic permeability sensor which concerns on embodiment of this invention from the detection surface. 本発明の実施形態に係る透磁率センサを、その検知面に水平な方向であって、パターンコイルとパターン抵抗との接続方向に垂直な方向から見た図である。It is the figure which looked at the magnetic permeability sensor which concerns on embodiment of this invention from the direction perpendicular | vertical to the detection surface, and perpendicular | vertical to the connection direction of a pattern coil and pattern resistance. 本発明の実施形態に係る透磁率センサを、現像器に取り付けられている状態においてその検知面から見た図である。It is the figure which looked at the magnetic permeability sensor which concerns on embodiment of this invention from the detection surface in the state attached to the developing device. 本発明の実施形態に係る透磁率センサを、現像器に取り付けられている状態において、その検知面に水平な方向であって、パターンコイルとパターン抵抗との接続方向に垂直な方向から見た図である。The magnetic permeability sensor which concerns on embodiment of this invention is the state seen from the direction perpendicular | vertical to the connection direction of a pattern coil and a pattern resistance in the state attached to the image development device in the horizontal direction. It is. 本発明の実施形態に係る透磁率センサの出力信号のカウント態様を示す図である。It is a figure which shows the count aspect of the output signal of the magnetic permeability sensor which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施形態に係る透磁率センサの出力信号のカウント態様を示す図である。It is a figure which shows the count aspect of the output signal of the magnetic permeability sensor which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施形態に係る水晶発振回路による発振周波数の温度特性を示す図である。It is a figure which shows the temperature characteristic of the oscillation frequency by the crystal oscillation circuit which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施形態に係るコイルのインダクタンスの温度特性を示す図である。It is a figure which shows the temperature characteristic of the inductance of the coil which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施形態に係るコンデンサの容量の温度特性を示す図である。It is a figure which shows the temperature characteristic of the capacity | capacitance of the capacitor | condenser which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施形態に係る抵抗の温度特性を示す図である。It is a figure which shows the temperature characteristic of the resistance which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施形態に係るパターン抵抗のインダクタンス成分のグラフを示す図である。It is a figure which shows the graph of the inductance component of the pattern resistance which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施形態に係るパターン抵抗において周囲の透磁率が変化した場合のインダクタンス成分について説明する図である。It is a figure explaining an inductance component when the surrounding magnetic permeability changes in pattern resistance concerning an embodiment of the present invention. 本発明の実施形態に係る透磁率センサにおいて複数の抵抗値による発振周波数の温度特性の差異を示す図である。It is a figure which shows the difference of the temperature characteristic of the oscillation frequency by the some resistance value in the magnetic permeability sensor which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施形態に係る透磁率センサに含まれるパターン抵抗の形成態様を示す図である。It is a figure which shows the formation aspect of the pattern resistance contained in the magnetic permeability sensor which concerns on embodiment of this invention. 本発明の他の実施形態に係るパターン抵抗の例を示す図である。It is a figure which shows the example of the pattern resistance which concerns on other embodiment of this invention. 本発明の実施形態における透磁率センサの現像器への取り付け態様の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the attachment aspect to the developing device of the magnetic permeability sensor in embodiment of this invention.

以下、図面を参照して、本発明の実施形態を詳細に説明する。本実施形態においては、基板上に平面パターンにより形成されたパターンコイル及び同基板上に平面パターンによりつづら折状に形成されたパターン抵抗を含むLC発振回路を用いた透磁率センサにおける検知精度の向上方法について説明する。尚、本実施形態においては、磁性粒子であるキャリアと非磁性の顕色剤であるトナーとが混合された2成分現像剤を使用する電子写真方式の画像形成装置における現像器に取り付けられて、その現像器内部における現像剤中のトナーの濃度を測定するトナー濃度検知器として上記透磁率センサが利用される場合を例としている。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. In this embodiment, improvement in detection accuracy in a magnetic permeability sensor using an LC oscillation circuit including a pattern coil formed in a planar pattern on a substrate and a pattern resistor formed in a folded shape in a planar pattern on the substrate. A method will be described. In this embodiment, it is attached to a developing device in an electrophotographic image forming apparatus using a two-component developer in which a carrier that is magnetic particles and a toner that is a nonmagnetic developer are mixed, As an example, the magnetic permeability sensor is used as a toner concentration detector for measuring the concentration of toner in the developer inside the developing device.

まず、本実施形態に係る透磁率センサ100の回路構成について、図1を参照して説明する。図1は、本実施形態に係る透磁率センサの回路構成を模式的に示すブロック図である。図1に示すように、本実施形態に係る透磁率センサ100は、コルピッツ型のLC発振回路を基本とする発振回路であり、パターンコイル101、パターン抵抗102、第一コンデンサ103、第二コンデンサ104、フィードバック抵抗105、アンバッファIC106、107及び出力端子108を含む。   First, the circuit configuration of the magnetic permeability sensor 100 according to the present embodiment will be described with reference to FIG. FIG. 1 is a block diagram schematically showing a circuit configuration of the magnetic permeability sensor according to the present embodiment. As shown in FIG. 1, the magnetic permeability sensor 100 according to the present embodiment is an oscillation circuit based on a Colpitts-type LC oscillation circuit, and includes a pattern coil 101, a pattern resistor 102, a first capacitor 103, and a second capacitor 104. , Feedback resistor 105, unbuffered ICs 106 and 107, and output terminal 108.

パターンコイル101は、透磁率センサ100を構成する基板上に平面上にパターニングされた信号線によって構成される平面上のコイルである。図1に示すように、パターンコイル101は、コイルによって得られるインダクタンスLを有する。パターンコイル101は、コイルが形成された平面に対抗する空間の透磁率によってインダクタンスLの値が変化する。その結果、本実施形態に係る透磁率センサ100は、パターンコイル101のコイル面が対向する空間の透磁率に応じた周波数の信号を発振する。   The pattern coil 101 is a coil on a plane constituted by signal lines patterned on the plane on the substrate constituting the magnetic permeability sensor 100. As shown in FIG. 1, the pattern coil 101 has an inductance L obtained by the coil. In the pattern coil 101, the value of the inductance L varies depending on the magnetic permeability of the space opposed to the plane on which the coil is formed. As a result, the magnetic permeability sensor 100 according to the present embodiment oscillates a signal having a frequency corresponding to the magnetic permeability of the space where the coil surfaces of the pattern coil 101 face each other.

パターン抵抗102は、パターンコイル101と同様に基板上に形成された信号線のパターンによって構成される抵抗である。本実施形態に係るパターン抵抗102は、つづら折り状に形成されたパターンであり、これによって直線状のパターンよりも電流の流れにくい状態を作り出している。図1に示すように、このパターン抵抗102は、抵抗値Rを有する。また、図1に示すように、パターンコイル101とパターン抵抗102とは直列に接続されている。このように、パターン抵抗102がパターンコイル101と直列に接続されることで、本実施形態に係る透磁率センサ100は、後述するように、自身の発振周波数の温度特性が水晶発振回路70の発振周波数の温度特性と類似することにより発振周波数の算出誤差をキャンセルしかつ、パターンコイル101が形成された平面に対抗する空間の透磁率を温度に依存せずに安定して検知することが可能となる。 The pattern resistor 102 is a resistor configured by a pattern of signal lines formed on the substrate in the same manner as the pattern coil 101. The pattern resistor 102 according to the present embodiment is a pattern formed in a zigzag shape, and thereby creates a state in which current does not flow more easily than a linear pattern. As shown in FIG. 1, the pattern resistor 102 has a resistance value R P. As shown in FIG. 1, the pattern coil 101 and the pattern resistor 102 are connected in series. Thus, by connecting the pattern resistor 102 in series with the pattern coil 101, the magnetic permeability sensor 100 according to the present embodiment has its own oscillation frequency temperature characteristic oscillated by the crystal oscillation circuit 70, as will be described later. It is possible to cancel the calculation error of the oscillation frequency by being similar to the temperature characteristic of the frequency, and to stably detect the magnetic permeability of the space that opposes the plane on which the pattern coil 101 is formed without depending on the temperature. Become.

第一コンデンサ103及び第二コンデンサ104は、パターンコイル101と共にコルピッツ型LC発振回路を構成する容量である。従って、第一コンデンサ103及び第二コンデンサ104は、パターンコイル101及びパターン抵抗102と直列に接続されている。パターンコイル101、パターン抵抗102、第一コンデンサ103及び第二コンデンサ104によって構成されるループによって共振電流ループが構成される。   The first capacitor 103 and the second capacitor 104 are capacitors that together with the pattern coil 101 constitute a Colpitts LC oscillation circuit. Therefore, the first capacitor 103 and the second capacitor 104 are connected in series with the pattern coil 101 and the pattern resistor 102. A resonance current loop is constituted by a loop constituted by the pattern coil 101, the pattern resistor 102, the first capacitor 103 and the second capacitor 104.

フィードバック抵抗105は、バイアス電圧を安定化させるために挿入される。アンバッファIC106及びアンバッファIC107の機能により、共振電流ループの一部の電位の変動が、共振周波数に応じた矩形波として出力端子108から出力される。このような構成により、本実施形態に係る透磁率センサ100は、インダクタンスL、抵抗値R、第一コンデンサ103及び第二コンデンサ104の静電容量Cに応じた周波数で発振する。 The feedback resistor 105 is inserted to stabilize the bias voltage. Due to the functions of the unbuffered IC 106 and the unbuffered IC 107, the potential fluctuation of a part of the resonant current loop is output from the output terminal 108 as a rectangular wave corresponding to the resonant frequency. With such a configuration, the magnetic permeability sensor 100 according to the present embodiment oscillates at a frequency corresponding to the inductance L, the resistance value R P , and the electrostatic capacitance C of the first capacitor 103 and the second capacitor 104.

そして、インダクタンスLは、パターンコイル101の近傍における磁性体の存在やその濃度によっても変化する。従って、透磁率センサ100の発振周波数により、パターンコイル101近傍の空間における透磁率を判断することが可能となる。また、図3に示すように、透磁率センサ100の発振周波数を高精度に設計する上では、回路を構成する信号線等によって生じる回路抵抗Rを無視することが出来ない。透磁率センサ100を構成する各部のパラメータ値に応じた周波数については後に詳述する。 The inductance L also changes depending on the presence of the magnetic substance in the vicinity of the pattern coil 101 and its concentration. Therefore, the magnetic permeability in the space near the pattern coil 101 can be determined from the oscillation frequency of the magnetic permeability sensor 100. Further, as shown in FIG. 3, in designing the oscillation frequency of the magnetic permeability sensor 100 with high accuracy, the circuit resistance RL generated by the signal line or the like constituting the circuit cannot be ignored. The frequency corresponding to the parameter value of each part constituting the magnetic permeability sensor 100 will be described in detail later.

このように、本実施形態に係る透磁率センサ100は、パターンコイル101とパターン抵抗102とが直列に接続されることで、パターンコイル101が形成された平面に対抗する空間の透磁率を温度に依存せずに安定して検知することが可能となる。   As described above, the magnetic permeability sensor 100 according to this embodiment has the pattern coil 101 and the pattern resistor 102 connected in series, so that the magnetic permeability of the space that opposes the plane on which the pattern coil 101 is formed is set to the temperature. It becomes possible to detect stably without depending.

但し、本実施形態に係る透磁率センサ100は、パターンコイル101とパターン抵抗102との間で温度差がないことを前提として使用されるものであり、その両者間で温度差が生じると透磁率を正しく検知することができなくなってしまう。従って、本実施形態に係る透磁率センサ100は、パターンコイル101とパターン抵抗102との間で温度差が生じないような環境で使用されることが好適であるが、必ずしもそのような環境で使用されるとは限らない。   However, the magnetic permeability sensor 100 according to the present embodiment is used on the premise that there is no temperature difference between the pattern coil 101 and the pattern resistor 102, and if a temperature difference occurs between the two, the magnetic permeability is increased. Cannot be detected correctly. Therefore, the magnetic permeability sensor 100 according to the present embodiment is preferably used in an environment in which a temperature difference does not occur between the pattern coil 101 and the pattern resistor 102, but is not necessarily used in such an environment. It is not always done.

例えば、本実施形態に係る透磁率センサ100は、上述したように、2成分現像剤を使用する電子写真方式の画像形成装置における現像器に取り付けられて、その現像器内部における現像剤中のトナーの濃度を測定するトナー濃度検知器として利用される。そして、上記現像器は、現像器内で現像剤を搬送するための搬送スクリューを備えており、その搬送スクリューの軸端部は軸受け等により回転可能に支持されている。そして、現像器内で現像剤を搬送するように搬送スクリューが回転すると、その搬送スクリューの軸端部とその軸受けとの間の摩擦により現像器における現像ケーシングの軸受けが設けられた軸方向端部において熱を発生する。つまり、現像ケーシングにおける搬送スクリューの回転軸を軸受け等によって支持している箇所が、熱の発生源(以下、「熱源」とする)となる。従って、透磁率センサ100がこのような現像器に取り付けられてトナー濃度検知器として利用されると、パターンコイル101とパターン抵抗102とでは熱源からの距離が異なるため伝わる熱の量も異なり、その両者間で温度差が生じてしまうことになる。   For example, the magnetic permeability sensor 100 according to this embodiment is attached to a developing device in an electrophotographic image forming apparatus using a two-component developer as described above, and the toner in the developer inside the developing device. It is used as a toner density detector for measuring the density of toner. The developing device includes a conveying screw for conveying the developer in the developing device, and a shaft end portion of the conveying screw is rotatably supported by a bearing or the like. When the conveying screw rotates so as to convey the developer in the developing device, the axial end portion where the bearing of the developing casing in the developing device is provided by friction between the shaft end portion of the conveying screw and the bearing Generates heat. That is, the location where the rotation shaft of the conveying screw in the developing casing is supported by a bearing or the like becomes a heat generation source (hereinafter referred to as “heat source”). Therefore, when the magnetic permeability sensor 100 is attached to such a developing device and used as a toner concentration detector, the pattern coil 101 and the pattern resistor 102 have different distances from the heat source, so that the amount of heat transferred is also different. A temperature difference will occur between the two.

このように、透磁率センサ100は、パターンコイル101とパターン抵抗102との間で温度差が生じないような環境で使用されることが好適ではあっても、必ずしもそのような環境で使用されるとは限らない。   As described above, the magnetic permeability sensor 100 is preferably used in such an environment even though it is preferable to use it in an environment where no temperature difference occurs between the pattern coil 101 and the pattern resistor 102. Not necessarily.

そこで、本実施形態に係る透磁率センサ100は、上述したような熱源を持つ装置や機器等に取り付けられた状態であってもパターンコイル101とパターン抵抗102との間で温度差が生じ難いように、上記装置や機器におけるセンサ取り付け面よりも熱伝導性が高い接着層により取り付けられることを特徴としている。このように、透磁率センサ100が上記センサ取り付け面よりも熱伝導性が高い接着層により取り付けられると、パターンコイル101とパターン抵抗102とで熱源からの距離が異なっても、伝わる熱の量の差が小さくなるため、その両者間で温度差が生じ難くなる。尚、このとき、本実施形態に係る接着層は、パターンコイル101とパターン抵抗102とを連続性をもって覆うようにして接着されて、透磁率センサ100を上記センサ取り付け面に固定している。   Therefore, the magnetic permeability sensor 100 according to the present embodiment is unlikely to cause a temperature difference between the pattern coil 101 and the pattern resistor 102 even when attached to an apparatus or device having a heat source as described above. Furthermore, it is characterized in that it is attached by an adhesive layer having higher thermal conductivity than the sensor attachment surface in the above-mentioned apparatus or device. As described above, when the magnetic permeability sensor 100 is attached by the adhesive layer having higher thermal conductivity than the sensor attachment surface, even if the distance from the heat source is different between the pattern coil 101 and the pattern resistor 102, the amount of heat transmitted is reduced. Since the difference is small, it is difficult to produce a temperature difference between the two. At this time, the adhesive layer according to the present embodiment is adhered so as to continuously cover the pattern coil 101 and the pattern resistor 102, thereby fixing the magnetic permeability sensor 100 to the sensor mounting surface.

次に、本実施形態に係る透磁率センサ100の概観について、図2及び図3(a)〜(f)を参照して説明する。図2は、本実施形態に係る透磁率センサ100の概観を示す斜視図である。図3(a)〜(f)は、本実施形態に係る透磁率センサ100を示す6面図である。尚、図2においては、図1において説明したパターンコイル101及びパターン抵抗102が形成されている面、即ち、透磁率を検知するべき空間に対向させる検知面が上面に向けられている。   Next, an overview of the magnetic permeability sensor 100 according to the present embodiment will be described with reference to FIGS. 2 and 3A to 3F. FIG. 2 is a perspective view showing an overview of the magnetic permeability sensor 100 according to the present embodiment. 3A to 3F are six views showing the magnetic permeability sensor 100 according to this embodiment. In FIG. 2, the surface on which the pattern coil 101 and the pattern resistor 102 described in FIG. 1 are formed, that is, the detection surface facing the space where the magnetic permeability is to be detected is directed to the upper surface.

図2及び図3(a)に示すように、パターンコイル101が形成された検知面においては、パターンコイル101と直列に接続されるパターン抵抗102がパターニングされている。図1において説明したように、パターンコイル101は平面上に螺旋状に形成された信号線のパターンである。また、パターン抵抗102は、平面上につづら折状に形成された信号のパターンであり、これらのパターンによって上述したような透磁率センサ100の機能が実現されると共に、図2及び図3(a)に示すように視覚的に興味深い模様となる。   As shown in FIGS. 2 and 3A, the pattern resistor 102 connected in series with the pattern coil 101 is patterned on the detection surface on which the pattern coil 101 is formed. As described with reference to FIG. 1, the pattern coil 101 is a signal line pattern formed in a spiral shape on a plane. Further, the pattern resistor 102 is a signal pattern formed in a zigzag pattern on the plane, and the function of the magnetic permeability sensor 100 as described above is realized by these patterns, and FIG. 2 and FIG. ) And visually interesting patterns.

このパターンコイル101及びパターン抵抗102によって形成される部分が、本実施形態に係る透磁率センサ100における透磁率の検知部である。透磁率センサ100を現像器212に取り付ける際には、この検知部が後述するトナー移動空間に対向するように取り付けられる。   A portion formed by the pattern coil 101 and the pattern resistor 102 is a magnetic permeability detecting unit in the magnetic permeability sensor 100 according to the present embodiment. When the magnetic permeability sensor 100 is attached to the developing device 212, the detection unit is attached so as to face a toner movement space described later.

また、図3(b)〜(f)に示すように、図1において説明した第一コンデンサ103、第二コンデンサ104、フィードバック抵抗105、アンバッファIC106、107及び出力端子108は、透磁率センサ100を構成する基板において、パターンコイル101及びパターン抵抗102が形成された面とは反対側の面に形成されている。   Further, as shown in FIGS. 3B to 3F, the first capacitor 103, the second capacitor 104, the feedback resistor 105, the unbuffer ICs 106 and 107, and the output terminal 108 described in FIG. Is formed on the surface opposite to the surface on which the pattern coil 101 and the pattern resistor 102 are formed.

これにより、透磁率センサ100においてセンシング機能を発揮する部分であるパターンコイル101が形成された面が透磁率を検知する対象の空間に対向するように、その面を接触させて透磁率センサ100を配置することが可能となる。   Thus, the magnetic permeability sensor 100 is brought into contact with the surface of the magnetic permeability sensor 100 so that the surface on which the pattern coil 101, which is a portion that exhibits the sensing function, is opposed to the space where the magnetic permeability is to be detected. It becomes possible to arrange.

また、それらの部品が実装されている面において、パターンコイル101及びパターン抵抗102が裏側に形成されている部分には電子部品や信号線が実装されていない。これにより、他の電子部品や信号線によって生じる磁束がパターンコイル101やパターン抵抗102に影響することを防ぎ、透磁率の検知精度を向上することができる。   Further, on the surface on which these components are mounted, no electronic component or signal line is mounted on the portion where the pattern coil 101 and the pattern resistor 102 are formed on the back side. Thereby, it is possible to prevent the magnetic flux generated by other electronic components and signal lines from affecting the pattern coil 101 and the pattern resistor 102, and to improve the magnetic permeability detection accuracy.

次に、本実施形態に係る画像形成装置200のコントローラ1の機能構成について、図4を参照して説明する。図4は、本実施形態に係るコントローラ1の機能構成を模式的に示すブロック図である。図4に示すように、本実施形態に係るコントローラ1は、一般的なPC(Personal Computer)やサーバ等の情報処理装置と同様の構成を有する。即ち、本実施形態に係るコントローラ1は、CPU(Central Processing Unit)10、ROM(Read Only Memory)20、RAM(Random Access Memory)30、DMAC(Direct Memory Access Controller)40、ASIC(Application Specific Integrated Circuit)50、入出力制御ASIC60及び水晶発振回路70を含む。   Next, a functional configuration of the controller 1 of the image forming apparatus 200 according to the present embodiment will be described with reference to FIG. FIG. 4 is a block diagram schematically showing a functional configuration of the controller 1 according to the present embodiment. As shown in FIG. 4, the controller 1 according to the present embodiment has the same configuration as an information processing apparatus such as a general PC (Personal Computer) or a server. That is, the controller 1 according to the present embodiment includes a CPU (Central Processing Unit) 10, a ROM (Read Only Memory) 20, a RAM (Random Access Memory) 30, a DMAC (Direct Memory Access Controller), and an ASIC Controller. ) 50, an input / output control ASIC 60 and a crystal oscillation circuit 70.

CPU10は演算手段であり、コントローラ1全体の動作を制御する。ROM20は、読み出し専用の不揮発性記憶媒体であり、ファームウェア等のプログラムが格納されている。RAM30は、情報の高速な読み書きが可能な揮発性の記憶媒体であり、CPU10が情報を処理する際の作業領域として用いられる。DMAC40は、CPU10を介しないRAM30への直接のアクセスを制御する。   The CPU 10 is a calculation means and controls the operation of the entire controller 1. The ROM 20 is a read-only nonvolatile storage medium and stores a program such as firmware. The RAM 30 is a volatile storage medium capable of reading and writing information at high speed, and is used as a work area when the CPU 10 processes information. The DMAC 40 controls direct access to the RAM 30 not via the CPU 10.

ASIC50は、CPU10やRAM30が接続されたシステムバスと他の機器との接続インタフェースとして機能する。入出力制御ASIC60は、透磁率センサ100が出力する検知信号を取得して、コントローラ1内部において処理可能な情報に変換する。即ち、透磁率センサ100が透磁率検知器として用いられる。水晶発振回路70は、コントローラ1内部の各デバイスを動作させるための基準クロックを発振する。   The ASIC 50 functions as a connection interface between the system bus to which the CPU 10 and the RAM 30 are connected and other devices. The input / output control ASIC 60 acquires a detection signal output from the magnetic permeability sensor 100 and converts it into information that can be processed in the controller 1. That is, the magnetic permeability sensor 100 is used as a magnetic permeability detector. The crystal oscillation circuit 70 oscillates a reference clock for operating each device in the controller 1.

次に、本実施形態に係る画像形成装置200のコントローラ1において、入出力制御ASIC60の機能構成について、図5を参照して説明する。図5は、本実施形態に係る入出力制御ASIC60の機能構成を模式的に示すブロック図である。図5に示すように本実施形態に係る入出力制御ASIC60は、カウンタ61、リード信号取得部62及びカウント値出力部63を含む。本実施形態に係る透磁率センサ100は、検知対象の空間における透磁率に応じた周波数の矩形波を出力する発振回路である。カウンタ61は、そのような透磁率センサ100が出力する矩形波に応じて値をインクリメントするカウンタである。   Next, the functional configuration of the input / output control ASIC 60 in the controller 1 of the image forming apparatus 200 according to the present embodiment will be described with reference to FIG. FIG. 5 is a block diagram schematically showing a functional configuration of the input / output control ASIC 60 according to the present embodiment. As shown in FIG. 5, the input / output control ASIC 60 according to the present embodiment includes a counter 61, a read signal acquisition unit 62, and a count value output unit 63. The magnetic permeability sensor 100 according to the present embodiment is an oscillation circuit that outputs a rectangular wave having a frequency corresponding to the magnetic permeability in a space to be detected. The counter 61 is a counter that increments a value in accordance with a rectangular wave output from such a magnetic permeability sensor 100.

リード信号取得部62は、CPU10からのカウンタ61のカウント値の取得命令であるリード信号を、ASIC50を介して取得する。リード信号取得部62は、CPU10からのリード信号を取得すると、カウント値出力部63にカウント値を出力させるための信号を入力する。カウント値出力部63は、リード信号取得部62からの信号に応じて、カウンタ61のカウント値を出力する。   The read signal acquisition unit 62 acquires a read signal that is an instruction to acquire the count value of the counter 61 from the CPU 10 via the ASIC 50. When the read signal is acquired from the CPU 10, the read signal acquisition unit 62 inputs a signal for causing the count value output unit 63 to output a count value. The count value output unit 63 outputs the count value of the counter 61 in accordance with the signal from the read signal acquisition unit 62.

図5に示すように、コントローラ1はタイマ11を含む。タイマ11は、水晶発振回路70から入力される基準クロックのカウント値が所定の値になる度にCPU10に対して割込み信号を出力する。CPU10は、タイマ11から入力される割込み信号に応じて、上述したリード信号を出力する。   As shown in FIG. 5, the controller 1 includes a timer 11. The timer 11 outputs an interrupt signal to the CPU 10 every time the count value of the reference clock input from the crystal oscillation circuit 70 reaches a predetermined value. The CPU 10 outputs the above-described read signal in response to the interrupt signal input from the timer 11.

尚、入出力制御ASIC60へのCPU10からのアクセスは、例えばレジスタを介して行われる。そのため、上述したリード信号は、入出力制御ASIC60に含まれる所定のレジスタにCPU10によって値が書き込まれることによって行われる。また、カウント値出力部63によるカウント値の出力は、入出力制御ASIC60に含まれる所定のレジスタにカウント値が格納され、その値をCPU10が取得することによって行われる。   Note that the CPU 10 accesses the input / output control ASIC 60 via, for example, a register. For this reason, the above-described read signal is performed by the CPU 10 writing a value in a predetermined register included in the input / output control ASIC 60. The count value is output by the count value output unit 63 when the count value is stored in a predetermined register included in the input / output control ASIC 60 and the CPU 10 acquires the value.

次に、本実施形態に係る画像形成装置200に含まれる画像形成出力のための機構について、図6を参照して説明する。図6は、本実施形態に係る画像形成装置200に含まれる画像形成出力のための機構を示す側面図である。   Next, a mechanism for image formation output included in the image forming apparatus 200 according to the present embodiment will be described with reference to FIG. FIG. 6 is a side view showing a mechanism for image formation output included in the image forming apparatus 200 according to the present embodiment.

図6に示すように、本実施形態に係る画像形成装置200は、無端状移動手段である搬送ベルト205に沿って各色の画像形成部206K〜206Yが並べられた構成を備えるものであり、所謂タンデムタイプといわれるものである。すなわち、給紙トレイ201から給紙ローラ202により分離給紙される用紙(記録媒体の一例)204に転写するための中間転写画像が形成される中間転写ベルトである搬送ベルト205に沿って、この搬送ベルト205の搬送方向の上流側から順に、複数の画像形成部(電子写真プロセス部)206Y、206M、206C、206K(以降、総じて画像形成部206とする)が配列されている。   As shown in FIG. 6, the image forming apparatus 200 according to the present embodiment includes a configuration in which image forming units 206 </ b> K to 206 </ b> Y for each color are arranged along a conveyor belt 205 that is an endless moving unit. It is said to be a tandem type. That is, along the transport belt 205, which is an intermediate transfer belt on which an intermediate transfer image is formed to be transferred from a paper feed tray 201 to a sheet (an example of a recording medium) 204 separated and fed by a paper feed roller 202. A plurality of image forming units (electrophotographic process units) 206Y, 206M, 206C, and 206K (hereinafter collectively referred to as image forming unit 206) are arranged in order from the upstream side of the conveying belt 205 in the conveying direction.

また、給紙トレイ201から給紙された用紙204は、レジストローラ203によって一度止められ、画像形成部206における画像形成のタイミングに応じて搬送ベルト205からの画像の転写位置に送り出される。   The paper 204 fed from the paper feed tray 201 is stopped once by the registration rollers 203 and sent out to the image transfer position from the transport belt 205 in accordance with the image formation timing in the image forming unit 206.

複数の画像形成部206Y、206M、206C、206Kは、形成するトナー画像の色が異なるだけで内部構成は共通である。画像形成部206Kはブラックの画像を、画像形成部206Mはマゼンタの画像を、画像形成部206Cはシアンの画像を、画像形成部206Yはイエローの画像をそれぞれ形成する。尚、以下の説明においては、画像形成部206Yについて具体的に説明するが、他の画像形成部206M、206C、206Kは画像形成部206Yと同様であるので、その画像形成部206M、206C、206Kの各構成要素については、画像形成部206Yの各構成要素に付したYに替えて、M、C、Kによって区別した符号を図に表示するにとどめ、説明を省略する。   The plurality of image forming units 206Y, 206M, 206C, and 206K have the same internal configuration except that the colors of toner images to be formed are different. The image forming unit 206K forms a black image, the image forming unit 206M forms a magenta image, the image forming unit 206C forms a cyan image, and the image forming unit 206Y forms a yellow image. In the following description, the image forming unit 206Y will be described in detail. However, since the other image forming units 206M, 206C, and 206K are the same as the image forming unit 206Y, the image forming units 206M, 206C, and 206K are the same. For each of these components, instead of Y added to each component of the image forming unit 206Y, only the symbols distinguished by M, C, and K are displayed in the figure, and the description thereof is omitted.

搬送ベルト205は、回転駆動される駆動ローラ207と従動ローラ208とに架け渡されたエンドレスのベルト、即ち無端状ベルトである。この駆動ローラ207は、不図示の駆動モータにより回転駆動させられ、この駆動モータと、駆動ローラ207と、従動ローラ208とが、無端状移動手段である搬送ベルト205を移動させる駆動手段として機能する。   The conveyor belt 205 is an endless belt, that is, an endless belt that is stretched between a driving roller 207 and a driven roller 208 that are rotationally driven. The drive roller 207 is driven to rotate by a drive motor (not shown), and the drive motor, the drive roller 207, and the driven roller 208 function as a drive unit that moves the conveyance belt 205 that is an endless moving unit. .

画像形成に際しては、回転駆動される搬送ベルト205に対して、最初の画像形成部206Yが、イエローのトナー画像を転写する。画像形成部206Yは、感光体としての感光体ドラム209Y、この感光体ドラム209Yの周囲に配置された帯電器210Y、光書き込み装置211、現像器212Y、感光体クリーナ213Y、除電器(図示せず)等から構成されている。光書き込み装置211は、夫々の感光体ドラム209Y、209M、209C、209K(以降、総じて「感光体ドラム209」という)に対して光を照射するように構成されている。   At the time of image formation, the first image forming unit 206Y transfers a yellow toner image to the conveyance belt 205 that is rotationally driven. The image forming unit 206Y includes a photoconductor drum 209Y as a photoconductor, a charger 210Y disposed around the photoconductor drum 209Y, an optical writing device 211, a developing device 212Y, a photoconductor cleaner 213Y, and a static eliminator (not shown). ) Etc. The optical writing device 211 is configured to irradiate the respective photoconductive drums 209Y, 209M, 209C, and 209K (hereinafter collectively referred to as “photosensitive drum 209”).

画像形成に際し、感光体ドラム209Yの外周面は、暗中にて帯電器210Yにより一様に帯電された後、光書き込み装置211からのイエロー画像に対応した光源からの光により書き込みが行われ、静電潜像が形成される。現像器212Yは、この静電潜像をイエロートナーにより可視像化する現像装置であり、これにより感光体ドラム209Y上にイエローのトナー画像が形成される。   In the image formation, the outer peripheral surface of the photosensitive drum 209Y is uniformly charged by the charger 210Y in the dark, and then writing is performed by light from the light source corresponding to the yellow image from the optical writing device 211. An electrostatic latent image is formed. The developing device 212Y is a developing device that visualizes the electrostatic latent image with yellow toner, whereby a yellow toner image is formed on the photosensitive drum 209Y.

このトナー画像は、感光体ドラム209Yと搬送ベルト205とが当接若しくは最も接近する位置(転写位置)で、転写器215Yの働きにより搬送ベルト205上に転写される。この転写により、搬送ベルト205上にイエローのトナーによる画像が形成される。トナー画像の転写が終了した感光体ドラム209Yは、外周面に残留した不要なトナーを感光体クリーナ213Yにより払拭された後、除電器により除電され、次の画像形成のために待機する。   This toner image is transferred onto the conveyance belt 205 by the action of the transfer unit 215Y at a position (transfer position) where the photosensitive drum 209Y and the conveyance belt 205 are in contact with or closest to each other. By this transfer, an image of yellow toner is formed on the conveyor belt 205. After the transfer of the toner image is completed, the photosensitive drum 209Y is wiped away with unnecessary toner remaining on the outer peripheral surface by the photoconductor cleaner 213Y, and then is neutralized by the static eliminator and stands by for the next image formation.

以上のようにして、画像形成部206Yにより搬送ベルト205上に転写されたイエローのトナー画像は、搬送ベルト205のローラ駆動により次の画像形成部206Mに搬送される。画像形成部206Mでは、画像形成部206Yでの画像形成プロセスと同様のプロセスにより感光体ドラム209M上にマゼンタのトナー画像が形成され、そのトナー画像が既に形成されたイエローの画像に重畳されて転写される。   As described above, the yellow toner image transferred onto the conveying belt 205 by the image forming unit 206Y is conveyed to the next image forming unit 206M by driving the rollers of the conveying belt 205. In the image forming unit 206M, a magenta toner image is formed on the photosensitive drum 209M by a process similar to the image forming process in the image forming unit 206Y, and the toner image is superimposed and transferred onto the already formed yellow image. Is done.

搬送ベルト205上に転写されたイエロー、マゼンタのトナー画像は、さらに次の画像形成部206C、206Kに搬送され、同様の動作により、感光体ドラム209C上に形成されたシアンのトナー画像と、感光体ドラム209K上に形成されたブラックのトナー画像とが、既に転写されている画像上に重畳されて転写される。こうして、搬送ベルト205上にフルカラーの中間転写画像が形成される。   The yellow and magenta toner images transferred onto the conveyance belt 205 are further conveyed to the next image forming units 206C and 206K, and the cyan toner image formed on the photosensitive drum 209C and the photosensitive drum are subjected to the same operation. The black toner image formed on the body drum 209K is superimposed on the already transferred image and transferred. Thus, a full-color intermediate transfer image is formed on the conveyance belt 205.

給紙トレイ201に収納された用紙204は最も上のものから順に送り出され、その搬送経路が搬送ベルト205と接触する位置若しくは最も接近する位置において、搬送ベルト205上に形成された中間転写画像がその紙面上に転写される。これにより、用紙204の紙面上に画像が形成される。紙面上に画像が形成された用紙204は更に搬送され、定着器216にて画像を定着された後、画像形成装置の外部に排紙される。   The sheets 204 stored in the sheet feeding tray 201 are sent out in order from the top, and the intermediate transfer image formed on the conveyance belt 205 is transferred at a position where the conveyance path is in contact with or closest to the conveyance belt 205. It is transferred onto the paper. As a result, an image is formed on the paper surface of the paper 204. The sheet 204 on which the image is formed on the sheet surface is further conveyed, and after the image is fixed by the fixing device 216, the sheet 204 is discharged outside the image forming apparatus.

また、搬送ベルト205に対してベルトクリーナ218が設けられている。ベルトクリーナ218は、図6に示すように、搬送ベルト205から用紙204への画像の転写位置の下流側であって、感光体ドラム209よりも上流側において搬送ベルト205に押し当てられたクリーニングブレードであり、搬送ベルト205の表面に付着したトナーを掻きとるトナー除去部である。   Further, a belt cleaner 218 is provided for the conveyor belt 205. As shown in FIG. 6, the belt cleaner 218 is a cleaning blade pressed against the conveyance belt 205 on the downstream side of the transfer position of the image from the conveyance belt 205 to the sheet 204 and upstream of the photosensitive drum 209. And a toner removing unit that scrapes off toner adhering to the surface of the transport belt 205.

このような構成の画像形成装置200は、図4において説明したコントローラ1により制御されて駆動される。そして、図6に示す構成のうち、現像器212に本実施形態に係る透磁率センサ100が設けられている。   The image forming apparatus 200 having such a configuration is driven by being controlled by the controller 1 described with reference to FIG. In the configuration illustrated in FIG. 6, the developing device 212 is provided with the magnetic permeability sensor 100 according to the present embodiment.

次に、本実施形態に係る現像器212の構成について、図7及び図8を参照して説明する。図7は、本実施形態に係る現像器212の概観を示す斜視図である。尚、図7は、現像器212が画像形成装置200に搭載された状態、即ち、現像器212の使用時における状態とは上下を反転させて示している。図8は、本実施形態に係る現像器212の内部を示す斜視図である。尚、図7と図8とでは上下を反転させて示している。従って、図8には、現像器212が画像形成装置200に搭載された状態、即ち、現像器212の使用時における状態が示されている。また、図7及び図8に示す現像器212の長手方向は、図6の図面に垂直な方向、即ち、搬送ベルト205のベルト面と並行であってベルトの搬送方向と垂直な主走査方向である。   Next, the configuration of the developing device 212 according to the present embodiment will be described with reference to FIGS. FIG. 7 is a perspective view showing an overview of the developing device 212 according to the present embodiment. 7 shows the state in which the developing device 212 is mounted on the image forming apparatus 200, that is, the state in which the developing device 212 is used in an upside down manner. FIG. 8 is a perspective view showing the inside of the developing device 212 according to this embodiment. 7 and 8 are shown upside down. Accordingly, FIG. 8 shows a state in which the developing device 212 is mounted on the image forming apparatus 200, that is, a state when the developing device 212 is in use. The longitudinal direction of the developing device 212 shown in FIGS. 7 and 8 is a direction perpendicular to the drawing of FIG. 6, that is, a main scanning direction parallel to the belt surface of the conveyor belt 205 and perpendicular to the belt conveyance direction. is there.

図7及び図8に示すように、現像器212には、内部に充填された非磁性の顕色剤であるトナー及び磁性粒子であるキャリア、即ち、現像剤を搬送する搬送スクリュー212b、212cが設けられている。この搬送スクリュー212bは、軸受け212d及び212eにより支持され、搬送スクリュー212cは、軸受け212f、212gにより支持されている。そして、この搬送スクリュー212b、212cが夫々反対の方向に回転することにより、内部に充填された現像剤が、現像器212の内部において上述した主走査方向の全体に行き渡るように構成されている。即ち、現像器212内部の全体が現像剤収容部として用いらえる。   As shown in FIGS. 7 and 8, the developing device 212 includes toners that are nonmagnetic developer filled therein and carriers that are magnetic particles, that is, conveying screws 212b and 212c that convey the developer. Is provided. The conveying screw 212b is supported by bearings 212d and 212e, and the conveying screw 212c is supported by bearings 212f and 212g. The conveying screws 212b and 212c rotate in opposite directions, so that the developer filled therein is spread over the entire main scanning direction described above inside the developing device 212. That is, the entire inside of the developing device 212 can be used as a developer accommodating portion.

図8に示すように、現像器212内部において搬送スクリュー212b、212cにより搬送される現像剤は、主走査方向の端部において搬送スクリュー212bによる搬送経路から搬送スクリュー212cによる搬送経路に受け渡される。従って、現像器212の主走査方向端部において夫々の搬送経路間を現像剤が移動する空間(以降、「トナー移動空間」とする)が、最も現像剤が密集する空間となる。本実施形態に係る透磁率センサ100は、このトナー移動空間に対向して配置されたセンサ取り付け面212aに取り付けられることでトナー濃度検知器として用いられる。   As shown in FIG. 8, the developer conveyed by the conveying screws 212b and 212c inside the developing device 212 is transferred from the conveying path by the conveying screw 212b to the conveying path by the conveying screw 212c at the end in the main scanning direction. Therefore, the space in which the developer moves between the respective transport paths at the end portion in the main scanning direction of the developing device 212 (hereinafter referred to as “toner movement space”) is the space where the developer is most concentrated. The magnetic permeability sensor 100 according to the present embodiment is used as a toner concentration detector by being attached to a sensor attachment surface 212a disposed to face the toner movement space.

このように、透磁率センサ100がトナー移動空間に対向する位置212aに取り付けられる理由について説明する。透磁率は、現像剤が密集しているほどその変化量が大きくなる。そのため、透磁率センサ100が、最も現像剤が密集するトナー移動空間に対向する位置に取り付けられることで現像器212内部の空間の透磁率をより好適に検知することが可能となるためである。   The reason why the magnetic permeability sensor 100 is attached to the position 212a facing the toner moving space will be described. The amount of change in the magnetic permeability increases as the developer density increases. Therefore, the magnetic permeability sensor 100 is attached at a position facing the toner movement space where the developer is most densely packed, so that the magnetic permeability of the space inside the developing device 212 can be detected more suitably.

尚、透磁率の変化に大小はあるものの、現像剤が充填されている空間であればどの空間でも透磁率は発生するため、透磁率センサ100は必ずしも位置212aに取り付けられる必要はない。即ち、透磁率センサ100は、現像剤が充填されている空間に対向するように取り付けられていればどこに取り付けられても透磁率を検知することが可能である。   Although the change in the magnetic permeability is large or small, the magnetic permeability sensor 100 does not necessarily have to be attached to the position 212a because the magnetic permeability is generated in any space filled with the developer. In other words, the magnetic permeability sensor 100 can detect the magnetic permeability wherever it is attached so as to face the space filled with the developer.

次に、本実施形態に係る透磁率センサ100の現像器212への取り付け態様について、図9〜図11を参照して説明する。図9は、本実施形態に係る透磁率センサ100の現像器212への取り付け態様を示す図である。図9においては、現像器212を側断面図で示している。また、図9においては、図7の斜視図とは上下を反転させて示している。即ち、図9においては、図8の斜視図と上下を一致させて示している。従って、図9には、現像器212が画像形成装置200に搭載された状態、即ち、現像器212の使用時における状態が示されている。   Next, how the magnetic permeability sensor 100 according to this embodiment is attached to the developing device 212 will be described with reference to FIGS. FIG. 9 is a diagram illustrating a manner in which the magnetic permeability sensor 100 according to this embodiment is attached to the developing device 212. In FIG. 9, the developing device 212 is shown in a side sectional view. Further, FIG. 9 is shown upside down from the perspective view of FIG. That is, FIG. 9 shows the perspective view of FIG. Accordingly, FIG. 9 shows a state in which the developing device 212 is mounted on the image forming apparatus 200, that is, a state when the developing device 212 is in use.

図10は、本実施形態に係る透磁率センサ100を、現像器212に取り付けられている状態においてその検知面から見た図である。図11は、本実施形態に係る透磁率センサ100を、現像器212に取り付けられている状態において、その検知面に水平な方向であって、パターンコイル101とパターン抵抗102との接続方向に垂直な方向から見た図である。即ち、図11は、本実施形態に係る透磁率センサ100を、図10に示す破線の矢印の方向に向かって見た図である。   FIG. 10 is a view of the magnetic permeability sensor 100 according to the present embodiment as viewed from the detection surface in a state where the magnetic permeability sensor 100 is attached to the developing device 212. FIG. 11 shows the magnetic permeability sensor 100 according to the present embodiment mounted in the developing device 212 in a direction horizontal to the detection surface and perpendicular to the connection direction of the pattern coil 101 and the pattern resistor 102. It is the figure seen from various directions. That is, FIG. 11 is a view of the magnetic permeability sensor 100 according to the present embodiment as viewed in the direction of the broken arrow shown in FIG.

図9に示すように、現像器212内部には搬送スクリュー212b、212cが配置されており、それぞれ、図示しない軸受け212d及び212eにより支持され、軸受け212f、212gにより支持されている。そして、上述したように、この搬送スクリュー212b、212cが夫々反対の方向に回転することにより、内部に充填された現像剤が、現像器212の内部において上述した主走査方向の全体に行き渡るように構成されている。これにより主走査方向に現像剤が搬送される。   As shown in FIG. 9, conveying screws 212b and 212c are arranged inside the developing device 212, supported by bearings 212d and 212e (not shown), and supported by bearings 212f and 212g, respectively. As described above, the conveying screws 212b and 212c rotate in opposite directions, so that the developer filled therein reaches the entire main scanning direction described above inside the developing device 212. It is configured. As a result, the developer is conveyed in the main scanning direction.

センサ取り付け面212aは、平面基板を基礎として構成されている透磁率センサ100の取り付けが容易なように平面状に形成されており、この平面に対して透磁率センサ100の検知面を対向させて取り付けることにより、透磁率センサ100が現像器212に取り付けられる。尚、このとき、図10及び図11に示すように、本実施形態に係る透磁率センサ100は、接着層109の接着力により、現像器212におけるセンサ取り付け面212aに取り付けられる。また、本実施形態に係る接着層109は、図10及び図11に示すように、パターンコイル101とパターン抵抗102とを覆うように接着されて、透磁率センサ100をセンサ取り付け面212aに固定している。また、図9に示すように、現像器212の筐体は2つの搬送スクリュー212b、212cの断面形状である円に合わせて弧状に形成されている。そして、センサ取り付け面212aは、上記のように弧状に形成された筐体の一部が平面上に成形されて構成されている。   The sensor mounting surface 212a is formed in a planar shape so that the magnetic permeability sensor 100 configured on the basis of a flat substrate can be easily mounted, and the detection surface of the magnetic permeability sensor 100 is opposed to this plane. By attaching, the magnetic permeability sensor 100 is attached to the developing device 212. At this time, as shown in FIGS. 10 and 11, the magnetic permeability sensor 100 according to this embodiment is attached to the sensor attachment surface 212 a of the developing device 212 by the adhesive force of the adhesive layer 109. Further, as shown in FIGS. 10 and 11, the adhesive layer 109 according to the present embodiment is adhered so as to cover the pattern coil 101 and the pattern resistor 102, and fixes the magnetic permeability sensor 100 to the sensor mounting surface 212a. ing. Further, as shown in FIG. 9, the housing of the developing device 212 is formed in an arc shape in accordance with a circle which is a cross-sectional shape of the two conveying screws 212b and 212c. The sensor mounting surface 212a is configured by molding a part of the casing formed in an arc shape as described above on a flat surface.

このように、センサ取り付け面212aは、弧状に形成された筐体の一部が平面上に成形されて構成されているため、現像器212におけるセンサ取り付け面212aの表面と現像器212内部の空間との間隔が狭くなっている。本実施形態においては、このように構成されたセンサ取り付け面212aに透磁率センサ100が取り付けられることによって、現像器212内部の空間の透磁率をより好適に検知することが可能となる。   As described above, since the sensor mounting surface 212a is formed by molding a part of the arc-shaped casing on a flat surface, the surface of the sensor mounting surface 212a in the developing device 212 and the space inside the developing device 212 are formed. The interval between and is narrower. In the present embodiment, by attaching the magnetic permeability sensor 100 to the sensor attachment surface 212a configured as described above, it is possible to more suitably detect the magnetic permeability of the space inside the developing device 212.

このような構成において、電子写真方式の画像形成装置において用いられる現像剤は、感光体ドラム209上の静電潜像を現像器212により現像するために、発色用の粉末(トナー)と、その粉末を搬送するための粒状の磁性体であるキャリアとが混合されて構成される。従って、感光体ドラム209上の静電潜像が現像剤中のトナーにより現像されると、現像器212内部における現像剤中のトナーの濃度が変動し、センサ取り付け面212aに対向する空間における透磁率が変化することとなる。その変化を透磁率センサ100によって検知することにより、現像器212内部における現像剤中のトナー濃度を検知することが可能となる。   In such a configuration, the developer used in the electrophotographic image forming apparatus includes a color developing powder (toner) and a developer for developing the electrostatic latent image on the photosensitive drum 209 by the developing device 212. A carrier, which is a granular magnetic material for conveying powder, is mixed. Therefore, when the electrostatic latent image on the photosensitive drum 209 is developed with the toner in the developer, the density of the toner in the developer in the developing unit 212 changes, and the transparency in the space facing the sensor mounting surface 212a changes. The magnetic susceptibility will change. By detecting the change by the magnetic permeability sensor 100, the toner concentration in the developer in the developing device 212 can be detected.

そして、このような現像器212の内部に充填された現像剤をその内部において主走査方向の全体に行き渡らせるために、搬送スクリュー212b、212cが回転すると、それぞれ、その軸受け212d、212fとの摩擦により、その摩擦部を熱源として熱が発生して周囲に放射される。そのため、センサ取り付け面212aに取り付けられている透磁率センサ100は、放射されたその熱により温度が上昇するが、パターンコイル101とパターン抵抗102とでは上記熱源からの距離が異なるため伝わる熱の量も異なり、その両者間で温度差が生じてしまうことになる。   Then, when the conveying screws 212b and 212c rotate in order to spread the developer filled in the developing device 212 throughout the main scanning direction, friction with the bearings 212d and 212f, respectively. Thus, heat is generated using the friction part as a heat source and radiated to the surroundings. Therefore, the temperature of the magnetic permeability sensor 100 attached to the sensor attachment surface 212a rises due to the radiated heat, but the amount of heat transmitted because the distance from the heat source differs between the pattern coil 101 and the pattern resistor 102. However, there is a temperature difference between the two.

このときの様子を図12〜図14を参照して説明する。図12は、本実施形態に係る現像器212における熱源からの熱の伝導の様子を、透磁率センサ100が取り付けられている状態においてその検知面から見た図である。図13は、本実施形態に係る現像器212における熱源からの熱の伝導の様子を、透磁率センサ100が取り付けられている状態においてその検知面に水平な方向であって、パターンコイル101とパターン抵抗102との接続方向に垂直な方向から見た図である。即ち、図13は、本実施形態に係る現像器212における熱源からの熱の伝導の様子を、図12に示す破線の矢印の方向に向かって見た図である。図12及び図13に示す網掛けの矢印は、熱源からの熱の伝導を示すものである。   The situation at this time will be described with reference to FIGS. FIG. 12 is a view of the state of heat conduction from the heat source in the developing device 212 according to the present embodiment as seen from the detection surface in a state where the magnetic permeability sensor 100 is attached. FIG. 13 shows the state of heat conduction from the heat source in the developing device 212 according to the present embodiment in a direction horizontal to the detection surface in a state where the magnetic permeability sensor 100 is attached, and the pattern coil 101 and the pattern FIG. 5 is a diagram viewed from a direction perpendicular to the direction of connection with a resistor 102. That is, FIG. 13 is a view of the state of heat conduction from the heat source in the developing device 212 according to the present embodiment as seen in the direction of the broken arrow shown in FIG. The shaded arrows shown in FIGS. 12 and 13 indicate the conduction of heat from the heat source.

図14は、本実施形態に係る現像器212における主走査方向に対する温度分布の様子を示す図である。但し、図14においては、センサ取り付け面212aを構成する素材よりも熱伝導性が低いか若しくは同程度の素材により構成された接着層109により透磁率センサ100が取り付けられていることを前提としている。   FIG. 14 is a diagram illustrating a temperature distribution in the main scanning direction in the developing device 212 according to the present embodiment. However, in FIG. 14, it is assumed that the magnetic permeability sensor 100 is attached by the adhesive layer 109 having a thermal conductivity lower than that of the material constituting the sensor attachment surface 212a or made of the same material. .

図12及び図13に示すように、搬送スクリュー212bとその軸受け212dとの摩擦部及び搬送スクリュー212cとその軸受け212fとの摩擦部において、即ち、熱源において発生した熱は、現像器212の筐体を伝って、現像器212の長手方向である主走査方向に向かって伝導していく。この際の熱の伝導量は、熱源からの距離が近い位置ほど大きく、遠くなるに従って小さくなる。   As shown in FIGS. 12 and 13, the heat generated in the friction portion between the conveying screw 212b and its bearing 212d and the friction portion between the conveying screw 212c and its bearing 212f, that is, the heat source is generated in the housing of the developing device 212. Then, the light is conducted in the main scanning direction, which is the longitudinal direction of the developing device 212. The amount of heat conduction at this time increases as the distance from the heat source decreases, and decreases as the distance increases.

従って、本実施形態に係る現像器212が運転を開始して搬送スクリュー212bと軸受け212dとの摩擦及び搬送スクリュー212cと軸受け212fとの摩擦により熱が発生すると、図14に示すように、その熱源からの距離が近いほど温度が高く、遠くなるに従って低くなる。   Therefore, when the developing device 212 according to the present embodiment starts operation and heat is generated due to friction between the conveying screw 212b and the bearing 212d and friction between the conveying screw 212c and the bearing 212f, as shown in FIG. The closer the distance from, the higher the temperature and the lower the distance.

そのため、図14に示すように、熱源からの距離が異なるパターンコイル101とパターン抵抗102との間で温度差が生じることになる。ところが、本実施形態に係る透磁率センサ100は、上述したように、パターンコイル101とパターン抵抗102との間で温度差がないことを前提として使用されるものであり、その両者間で温度差が生じると透磁率を正しく検知することができなくなってしまう。   Therefore, as shown in FIG. 14, a temperature difference occurs between the pattern coil 101 and the pattern resistor 102 having different distances from the heat source. However, the magnetic permeability sensor 100 according to the present embodiment is used on the assumption that there is no temperature difference between the pattern coil 101 and the pattern resistor 102 as described above. If this occurs, the magnetic permeability cannot be detected correctly.

そこで、本実施形態に係る透磁率センサ100は、現像器212におけるセンサ取り付け面212aを構成する素材よりも熱伝導性が高い素材により構成された接着層109により取り付けられることを特徴としている。   Therefore, the magnetic permeability sensor 100 according to the present embodiment is characterized in that it is attached by the adhesive layer 109 made of a material having higher thermal conductivity than the material constituting the sensor attachment surface 212a of the developing device 212.

例えば、現像器212におけるセンサ取り付け面212aは、一般的にはABS(Acrylonitrile‐Butadiene‐Styrene)樹脂やPC(Polycarbonate)樹脂等の樹脂により構成され、その熱伝導率は0.15(W/m・k)〜0.40(W/m・k)程度である。これに対して、接着層109として、カプトン層を設けることで熱伝導率を高めた両面テープを採用すれば、その熱伝導率は1.0(W/m・k)程度であり、シリコン系質の接着剤を採用すれば、その熱伝導率は4.5(W/m・k)程度である。従って、これらを採用した接着層109を用いることにより、本実施形態に係る透磁率センサ100は、現像器212におけるセンサ取り付け面212aを構成する素材よりも熱伝導性が高い素材により構成された接着層109により取り付けられることが可能となる。   For example, the sensor mounting surface 212a in the developing device 212 is generally made of a resin such as ABS (acrylonitrile-butadiene-styrene) resin or PC (polycarbonate) resin, and its thermal conductivity is 0.15 (W / m). K) to about 0.40 (W / m · k). On the other hand, if a double-sided tape whose thermal conductivity is increased by providing a kapton layer as the adhesive layer 109 is adopted, the thermal conductivity is about 1.0 (W / m · k), which is silicon-based. If a high quality adhesive is used, the thermal conductivity is about 4.5 (W / m · k). Therefore, by using the adhesive layer 109 that employs these, the magnetic permeability sensor 100 according to the present embodiment is an adhesive composed of a material having higher thermal conductivity than the material constituting the sensor mounting surface 212a of the developing device 212. Layer 109 can be attached.

このように、本実施形態においては、透磁率センサ100が上記センサ取り付け面212aを構成する素材よりも熱伝導性が高い素材により構成された接着層109により取り付けられることで、パターンコイル101とパターン抵抗102とで熱源からの距離が異なっても、伝わる熱の量の差が小さくなるため、その両者間で温度差が生じ難くなる。尚、このとき、本実施形態に係る接着層109は、パターンコイル101とパターン抵抗102とを連続性をもって覆うようにして接着されて、透磁率センサ100をセンサ取り付け面212aに固定している。   Thus, in this embodiment, the magnetic permeability sensor 100 is attached by the adhesive layer 109 made of a material having higher thermal conductivity than the material constituting the sensor attachment surface 212a, so that the pattern coil 101 and the pattern Even if the distance from the heat source is different between the resistor 102 and the difference in the amount of heat transmitted, the temperature difference is less likely to occur between the two. At this time, the adhesive layer 109 according to the present embodiment is bonded so as to cover the pattern coil 101 and the pattern resistor 102 with continuity, thereby fixing the magnetic permeability sensor 100 to the sensor mounting surface 212a.

このときの現像器212における主走査方向に対する温度分布の様子を図15に示す。図15は、本実施形態に係る現像器212における主走査方向に対する温度分布の様子を示す図である。本実施形態に係る現像器212が運転を開始して搬送スクリュー212bと軸受け212dとの摩擦及び搬送スクリュー212cと軸受け212fとの摩擦により熱が発生すると、図15に示すように、その熱源からの距離が近いほど温度が高く、遠くなるに従って低くなる。   The state of the temperature distribution in the main scanning direction in the developing device 212 at this time is shown in FIG. FIG. 15 is a view showing a temperature distribution in the main scanning direction in the developing device 212 according to this embodiment. When the developing device 212 according to the present embodiment starts operation and heat is generated due to friction between the conveying screw 212b and the bearing 212d and friction between the conveying screw 212c and the bearing 212f, as shown in FIG. The closer the distance, the higher the temperature and the lower the distance.

ところが、図15においては、透磁率センサ100は、センサ取り付け面212aを構成する素材よりも熱伝導性が高い素材により構成された接着層109により取り付けられているため、図14と比較してパターンコイル101とパターン抵抗102との間での温度差が小さくなっている。   However, in FIG. 15, the permeability sensor 100 is attached by the adhesive layer 109 made of a material having higher thermal conductivity than the material constituting the sensor attachment surface 212a. The temperature difference between the coil 101 and the pattern resistor 102 is small.

このように、本実施形態においては、接着層109がセンサ取り付け面212aよりも熱伝導性が高くなるように構成されており、透磁率センサ100がその接着層109により取り付けられることで、パターンコイル101とパターン抵抗102との間の温度差が生じ難くなるように構成されていることを要旨としている。従って、本実施形態によれば、所定空間の透磁率を精度よく検知することが可能となる。その結果、現像器212内部における現像剤中のトナーの濃度をより精度良く測定することが可能となる。   Thus, in the present embodiment, the adhesive layer 109 is configured to have higher thermal conductivity than the sensor attachment surface 212a, and the magnetic permeability sensor 100 is attached by the adhesive layer 109, whereby the pattern coil The gist is that the temperature difference between the pattern resistor 101 and the pattern resistor 102 is less likely to occur. Therefore, according to the present embodiment, it is possible to accurately detect the magnetic permeability of the predetermined space. As a result, the concentration of toner in the developer inside the developing device 212 can be measured with higher accuracy.

尚、透磁率センサ100における検知面と検知対象となる空間との距離が短ければ短いほど透磁率センサ100による透磁率の検知精度は向上するため、接着層109及びセンサ取り付け面212aの肉厚をできる限り薄くすれば良いが、接着層109の接着力の確保や現像剤212の耐久性等の制約により、それらの肉厚を薄くするには限度がある。そのため、透磁率センサ100における検知面と検知対象となる空間との間にはある程度の距離ができてしまう。しかし、その距離が1.0mm以内となるように透磁率センサ100が現像器212に取り付けられれば十分な精度で以って透磁率を検知することができる。従って、上記制約を犠牲にしてまで接着層109及びセンサ取り付け面212aの肉厚を薄くする必要はなく、上記範囲で透磁率センサ100が現像器212に取り付けられるように、接着層109及びセンサ取り付け面212aの肉厚を設計すれば十分である。   The shorter the distance between the detection surface of the magnetic permeability sensor 100 and the space to be detected, the better the accuracy of magnetic permeability detection by the magnetic permeability sensor 100. Therefore, the thickness of the adhesive layer 109 and the sensor mounting surface 212a is reduced. Although the thickness may be as thin as possible, there is a limit to reducing the thickness of the adhesive layer 109 due to restrictions such as securing the adhesive strength of the adhesive layer 109 and durability of the developer 212. For this reason, a certain distance is formed between the detection surface of the magnetic permeability sensor 100 and the space to be detected. However, if the magnetic permeability sensor 100 is attached to the developing device 212 so that the distance is within 1.0 mm, the magnetic permeability can be detected with sufficient accuracy. Therefore, it is not necessary to reduce the thickness of the adhesive layer 109 and the sensor attachment surface 212a until the above-mentioned restrictions are sacrificed, and the adhesive layer 109 and the sensor attachment are provided so that the magnetic permeability sensor 100 can be attached to the developing device 212 within the above range. It is sufficient to design the thickness of the surface 212a.

例えば、接着層109の肉厚が一般的に流通している接着層の肉厚である0.16mm、センサ取り付け面212aの肉厚が0.75mm程度であれば、接着層109の浮きや透磁率センサ100の基板のうねり等を考慮しても十分に上記範囲に収まる距離で透磁率センサ100を現像器212に取り付けることができる。但し、上述したように、透磁率センサ100における検知面と検知対象となる空間との距離が短いに越したことはないため、実現可能な範囲を考慮して、その距離が0.75mm〜0.8mm以内となるように透磁率センサ100が現像器212に取り付けられればより検知精度が向上する。このとき、例えば、接着層109の肉厚が0.01mm、センサ取り付け面212aの肉厚が0.7mm〜0.8mmであれば良い。   For example, if the thickness of the adhesive layer 109 is 0.16 mm, which is the thickness of the adhesive layer that is generally circulated, and the thickness of the sensor mounting surface 212a is about 0.75 mm, the adhesive layer 109 is floated or transparent. The magnetic permeability sensor 100 can be attached to the developing device 212 at a distance that is sufficiently within the above range even when the undulation of the substrate of the magnetic permeability sensor 100 is taken into consideration. However, as described above, since the distance between the detection surface of the magnetic permeability sensor 100 and the space to be detected has never been short, the distance is 0.75 mm to 0 in consideration of the realizable range. If the magnetic permeability sensor 100 is attached to the developing device 212 so that it is within .8 mm, the detection accuracy is further improved. At this time, for example, the thickness of the adhesive layer 109 may be 0.01 mm, and the thickness of the sensor mounting surface 212a may be 0.7 mm to 0.8 mm.

尚、接着層109が電気伝導性を有すると仮定すると、接着層109と現像剤中の磁性粒子であるキャリアとの相互作用により磁場が発生し、発生した磁場がパターンコイル101によるインダクタンスに影響を及ぼすため、透磁率を正しく検知することができない。但し、透磁率の検知精度に影響を及ぼすが、その影響が許容範囲内であれば完全な電気伝導性である必要はない。そのため、接着層109は電気伝導性を有さない絶縁体により構成されるか、若しくは、電気伝導性が小さい素材により構成されるとより好適である。   Assuming that the adhesive layer 109 has electrical conductivity, a magnetic field is generated by the interaction between the adhesive layer 109 and the carrier that is a magnetic particle in the developer, and the generated magnetic field affects the inductance of the pattern coil 101. Therefore, the magnetic permeability cannot be detected correctly. However, although it affects the detection accuracy of the magnetic permeability, it is not necessary to have complete electrical conductivity if the influence is within an allowable range. Therefore, it is more preferable that the adhesive layer 109 is made of an insulator having no electrical conductivity, or is made of a material having low electrical conductivity.

また、本実施形態においては、透磁率センサ100が現像器212におけるセンサ取り付け面212aに取り付けられた状態で説明したが、透磁率センサ100は、それ単体で供給される可能性があることを考慮すると、予め接着層109が接着された状態で供給されることも考えられる。   Further, in the present embodiment, the magnetic permeability sensor 100 has been described as being attached to the sensor attachment surface 212a of the developing device 212. However, the magnetic permeability sensor 100 may be supplied alone. Then, it is conceivable that the adhesive layer 109 is supplied in a state of being bonded in advance.

そこで、予め接着層109が接着された透磁率センサ100の現像器212への取り付け方法について、図16及び図17を参照して説明する。図16は、本実施形態に係る透磁率センサ100を、その検知面から見た図である。図17は、本実施形態に係る透磁率センサ100を、その検知面に水平な方向であって、パターンコイル101とパターン抵抗102との接続方向に垂直な方向から見た図である。即ち、図17は、本実施形態に係る透磁率センサ100を、図16に示す破線の矢印の方向に向かって見た図である。   Therefore, a method for attaching the magnetic permeability sensor 100 to which the adhesive layer 109 has been bonded in advance to the developing device 212 will be described with reference to FIGS. 16 and 17. FIG. 16 is a view of the magnetic permeability sensor 100 according to the present embodiment as seen from its detection surface. FIG. 17 is a view of the magnetic permeability sensor 100 according to the present embodiment as seen from a direction horizontal to the detection surface and perpendicular to the connection direction of the pattern coil 101 and the pattern resistor 102. That is, FIG. 17 is a view of the magnetic permeability sensor 100 according to the present embodiment as viewed in the direction of the broken arrow shown in FIG.

図16及び図17に示すように、本実施形態に係る透磁率センサ100は、その検知面の略全面に渡って両面テープや接着剤等の接着層109が接着されている。また、図16及び図17に示すように、本実施形態に係る透磁率センサ100は、接着層109の接着面がセロファン等のフィルム110により覆われている。   As shown in FIGS. 16 and 17, the magnetic permeability sensor 100 according to the present embodiment has an adhesive layer 109 such as a double-sided tape or an adhesive bonded to substantially the entire detection surface. As shown in FIGS. 16 and 17, in the magnetic permeability sensor 100 according to this embodiment, the adhesive surface of the adhesive layer 109 is covered with a film 110 such as cellophane.

そして、このような透磁率センサ100を現像器212へ取り付ける際には、作業者は、まず、接着層109の接着面を覆っているフィルム110を剥がす。作業者は、フィルム110を剥がすと、図10及び図11に示したように、露出した接着層109の接着面を現像器212におけるセンサ取り付け位置212aに押し当てる。このようにして、本実施形態に係る透磁率センサ100は、接着層109の接着面における接着力により、現像器212におけるセンサ取り付け位置212aに取り付けられる。このように、本実施形態によれば、作業者は簡単に透磁率センサ100を現像器212に取り付けることができる。   When attaching such a magnetic permeability sensor 100 to the developing device 212, the operator first peels off the film 110 covering the adhesive surface of the adhesive layer 109. When the operator peels off the film 110, the exposed adhesive surface of the adhesive layer 109 is pressed against the sensor attachment position 212 a in the developing device 212 as shown in FIGS. 10 and 11. In this way, the magnetic permeability sensor 100 according to the present embodiment is attached to the sensor attachment position 212a in the developing device 212 by the adhesive force on the adhesive surface of the adhesive layer 109. As described above, according to the present embodiment, the operator can easily attach the magnetic permeability sensor 100 to the developing device 212.

尚、本実施形態においては、図10、図11、図16、図17を参照して説明したように、透磁率センサ100が、その検知面の略全面に渡って接着されている接着層109によりセンサ取り付け位置212aに取り付けられる例について説明した。この他、透磁率センサ100が、図18〜図21に示すように、その検知面の略全面ではなく、その検知面におけるパターンコイル101及びパターン抵抗102が形成されている部位にのみ接着された接着層109によりセンサ取り付け位置212aに取り付けられるように構成されていても良い。   In the present embodiment, as described with reference to FIGS. 10, 11, 16, and 17, the magnetic permeability sensor 100 is bonded to substantially the entire detection surface of the adhesive layer 109. The example in which the sensor is attached to the sensor attachment position 212a has been described. In addition, as shown in FIGS. 18 to 21, the magnetic permeability sensor 100 is adhered only to a portion where the pattern coil 101 and the pattern resistor 102 are formed on the detection surface instead of substantially the entire detection surface. It may be configured to be attached to the sensor attachment position 212a by the adhesive layer 109.

透磁率センサ100がこのように構成されると、本実施形態により得られる効果と同様の効果を得ることができるだけでなく、透磁率センサ100をより安価に製造することが可能となる。このように、パターンコイル101及びパターン抵抗102が形成されている部位さえ接着層109により覆われていれば、本実施形態に係る効果を得るためには、即ち、パターンコイル101とパターン抵抗102との間の温度差が生じ難くなるようにするためには十分である。   When the magnetic permeability sensor 100 is configured in this way, it is possible not only to obtain the same effects as those obtained by the present embodiment, but also to manufacture the magnetic permeability sensor 100 at a lower cost. As described above, if even the portion where the pattern coil 101 and the pattern resistor 102 are formed is covered with the adhesive layer 109, in order to obtain the effect according to the present embodiment, that is, the pattern coil 101 and the pattern resistor 102. It is sufficient to make it difficult for the temperature difference between the two to occur.

このように構成された透磁率センサ100の構造を、図18〜図21に示す。図18は、本実施形態に係る透磁率センサ100を、その検知面から見た図である。図19は、本実施形態に係る透磁率センサ100を、その検知面に水平な方向であって、パターンコイル101とパターン抵抗102との接続方向に垂直な方向から見た図である。即ち、図19は、本実施形態に係る透磁率センサ100を、図18に示す破線の矢印の方向に向かって見た図である。   The structure of the magnetic permeability sensor 100 configured as described above is shown in FIGS. FIG. 18 is a view of the magnetic permeability sensor 100 according to the present embodiment as seen from its detection surface. FIG. 19 is a view of the magnetic permeability sensor 100 according to the present embodiment as viewed from the direction horizontal to the detection surface and perpendicular to the connection direction of the pattern coil 101 and the pattern resistor 102. That is, FIG. 19 is a view of the magnetic permeability sensor 100 according to the present embodiment as viewed in the direction of the broken arrow shown in FIG.

図20は、本実施形態に係る透磁率センサ100を、現像器212に取り付けられている状態においてその検知面から見た図である。図21は、本実施形態に係る透磁率センサ100を、現像器212に取り付けられている状態において、その検知面に水平な方向であって、パターンコイル101とパターン抵抗102との接続方向に垂直な方向から見た図である。即ち、図21は、本実施形態に係る透磁率センサ100を、図20に示す破線の矢印の方向に向かって見た図である。   FIG. 20 is a view of the magnetic permeability sensor 100 according to the present embodiment as viewed from the detection surface in a state where the magnetic permeability sensor 100 is attached to the developing device 212. FIG. 21 shows the magnetic permeability sensor 100 according to the present embodiment mounted in the developing device 212 in a direction horizontal to the detection surface and perpendicular to the connection direction of the pattern coil 101 and the pattern resistor 102. It is the figure seen from various directions. That is, FIG. 21 is a view of the magnetic permeability sensor 100 according to the present embodiment as viewed in the direction of the broken arrow shown in FIG.

次に、本実施形態に係る透磁率センサ100の発振周波数のカウント方法について、図22を参照して説明する。図22は、本実施形態に係る入出力制御ASIC60の機能によってカウントされる透磁率センサ100のカウント値の態様を示す図である。透磁率センサ100周辺に存在する磁性体の濃度に変化がなければ、原則として透磁率センサ100は同一の周波数で発振を続ける。その結果、図22に示すように、時間経過に応じてカウンタ61のカウント値は一様に増加する。   Next, a method of counting the oscillation frequency of the magnetic permeability sensor 100 according to this embodiment will be described with reference to FIG. FIG. 22 is a diagram showing an aspect of the count value of the magnetic permeability sensor 100 counted by the function of the input / output control ASIC 60 according to the present embodiment. If there is no change in the concentration of the magnetic substance present around the magnetic permeability sensor 100, the magnetic permeability sensor 100 continues to oscillate at the same frequency in principle. As a result, as shown in FIG. 22, the count value of the counter 61 increases uniformly with time.

また、CPU10に対してタイマ11から割込み信号が入力されると、CPU10が入出力制御ASIC60に対してリード信号を出力し、そのタイミングにおけるカウンタ61のカウント値がCPU10によって取得される。図22に示すように、t、t、t、t、t夫々のタイミングにおいて、aaaah、bbbbh、cccch、ddddh、AAAAhといったカウント値が取得される。 When an interrupt signal is input from the timer 11 to the CPU 10, the CPU 10 outputs a read signal to the input / output control ASIC 60, and the count value of the counter 61 at that timing is acquired by the CPU 10. As shown in FIG. 22, count values such as aaaah, bbbbbh, cccch, ddddh, AAAAh are acquired at timings t 1 , t 2 , t 3 , t 4 , t 5 .

CPU10は、夫々のタイミングにおいてカウント値を取得すると、図22に示すT、T、T、T夫々の期間における周波数を計算する。本実施形態に係るタイマ11は、2(msec)に相当する基準クロックをカウントすると割込み信号を出力する。従って、CPU10は、夫々の期間におけるカウンタ61のカウント値を2(msec)で割ることにより、図22に示すT、T、T、T夫々の期間における透磁率センサ100の発振周波数f(Hz)を算出する。 When the CPU 10 acquires the count value at each timing, the CPU 10 calculates the frequency in each of the periods T 1 , T 2 , T 3 , and T 4 shown in FIG. The timer 11 according to the present embodiment outputs an interrupt signal when a reference clock corresponding to 2 (msec) is counted. Therefore, the CPU 10 divides the count value of the counter 61 in each period by 2 (msec) to thereby oscillate the permeability sensor 100 in each period T 1 , T 2 , T 3 , T 4 shown in FIG. f (Hz) is calculated.

また、図22に示すように、本実施形態に係るカウンタ61のカウント値の上限はFFFFhである。従って、CPU10は、期間Tにおける周波数の算出に際して、FFFFhからddddhを引いた値と、AAAAhとの値の合計値を2(msec)で割ることにより発振周波数f(Hz)を算出する。 As shown in FIG. 22, the upper limit of the count value of the counter 61 according to the present embodiment is FFFFh. Therefore, CPU 10 may, when calculating the frequency in the period T 4, a value obtained by subtracting ddddh from FFFFh, calculates the oscillation frequency f (Hz) by dividing the sum of the values of the AAAAh in 2 (msec).

次に、本実施形態に係る透磁率センサ100の発振周波数の他のカウント方法について、図23を参照して説明する。図23は、本実施形態に係る入出力制御ASIC60の機能によってカウントされる透磁率センサ100のカウント値の他の態様を示す図である。図23の場合、入出力制御ASIC60において、カウンタ61はカウント値出力部63によってカウント値を読み出された後、カウント値をリセットする。このリセット処理は、カウント値出力部63がカウント値の読み出し後にカウンタ61にリセット信号を入力しても良いし、カウンタ61の仕様として、カウント値が一度読み出される度にリセットされるような機能を設けても良い。   Next, another method of counting the oscillation frequency of the magnetic permeability sensor 100 according to this embodiment will be described with reference to FIG. FIG. 23 is a diagram showing another aspect of the count value of the magnetic permeability sensor 100 counted by the function of the input / output control ASIC 60 according to the present embodiment. In the case of FIG. 23, in the input / output control ASIC 60, the counter 61 resets the count value after the count value is read by the count value output unit 63. In this reset process, the count value output unit 63 may input a reset signal to the counter 61 after the count value is read, or the specification of the counter 61 has a function that is reset every time the count value is read. It may be provided.

図23の態様の場合、夫々のタイミングにおいて取得されるカウント値は、夫々の期間T、T、T、T内にカウントされた値である。従って、CPU10は、夫々のタイミングにおいて取得したカウント値を2(msec)で割ることにより、発振周波数f(Hz)を算出する。 In the case of the aspect of FIG. 23, the count value acquired at each timing is a value counted in each period T 1 , T 2 , T 3 , T 4 . Therefore, the CPU 10 calculates the oscillation frequency f (Hz) by dividing the count value acquired at each timing by 2 (msec).

このように、本実施形態に係るコントローラ1においては、透磁率センサ100が発振する信号の周波数を取得し、その取得結果に基づいて透磁率センサ100の発振周波数に対応する事象を判断することができる。そして、本実施形態に係る透磁率センサ100においては、パターンコイル101のコイル面が対向する空間に存在する磁性体の濃度に応じてインダクタンスLが変化し、結果として出力端子108から出力される信号の周波数が変化する。その結果、コントローラ1においては、パターンコイル101のコイル面が対向する空間に存在する磁性体の濃度を検知することが可能となる。   Thus, in the controller 1 according to the present embodiment, the frequency of the signal oscillated by the magnetic permeability sensor 100 is acquired, and an event corresponding to the oscillation frequency of the magnetic permeability sensor 100 can be determined based on the acquisition result. it can. In the magnetic permeability sensor 100 according to the present embodiment, the inductance L changes according to the concentration of the magnetic material existing in the space where the coil surfaces of the pattern coil 101 face each other, and as a result, a signal output from the output terminal 108 The frequency of changes. As a result, the controller 1 can detect the concentration of the magnetic substance existing in the space where the coil surfaces of the pattern coil 101 face each other.

このような透磁率センサ100は、上述したように所定の空間における磁性体の濃度に応じた周波数で発振する。また、水晶発振回路70は、予め定められた周波数で発振する。しかしながら、それらはいずれも、使用環境の温度に応じて発振周波数が変動する温度特性を有する。   Such a magnetic permeability sensor 100 oscillates at a frequency corresponding to the concentration of the magnetic material in a predetermined space as described above. The crystal oscillation circuit 70 oscillates at a predetermined frequency. However, they all have a temperature characteristic in which the oscillation frequency varies depending on the temperature of the use environment.

ここで、本実施形態に係る水晶発振回路70の発振周波数の温度特性について、図24を参照して説明する。図24は、水晶発振回路70の温度特性グラフを示す図である。図24に示すように、水晶発振回路70は、ある温度をピークとした放物線状の温度特性を有する。   Here, the temperature characteristics of the oscillation frequency of the crystal oscillation circuit 70 according to the present embodiment will be described with reference to FIG. FIG. 24 is a graph showing a temperature characteristic graph of the crystal oscillation circuit 70. As shown in FIG. As shown in FIG. 24, the crystal oscillation circuit 70 has a parabolic temperature characteristic having a certain temperature as a peak.

コントローラ1において、透磁率センサ100が発振する信号の周波数に基づいて所定空間における磁性体の濃度を高精度に検知するためには、温度変動に応じた発振周波数の変化は可能な限り小さいことが好ましい。また、上述したようにコントローラ1における発振周波数の算出は、タイマ11によってカウントされる2(msec)毎にカウント値を取得し、そのカウント値を2(msec)で割ることにより行われる。   In the controller 1, in order to detect the concentration of the magnetic material in the predetermined space with high accuracy based on the frequency of the signal oscillated by the magnetic permeability sensor 100, the change in the oscillation frequency according to the temperature variation should be as small as possible. preferable. As described above, the calculation of the oscillation frequency in the controller 1 is performed by obtaining a count value every 2 (msec) counted by the timer 11 and dividing the count value by 2 (msec).

ここで、タイマ11は、水晶発振回路70から入力される基準クロックに基づいて2(msec)をカウントするため、図24に示すような温度特性によって水晶発振回路70の発振周波数が変動すると、2(msec)分のカウント値が同一である限り、2(msec)分のカウント期間が変動してしまう。その結果、CPU10によって算出される透磁率センサ100の発振周波数に誤差が生じる。   Here, since the timer 11 counts 2 (msec) based on the reference clock input from the crystal oscillation circuit 70, if the oscillation frequency of the crystal oscillation circuit 70 fluctuates due to temperature characteristics as shown in FIG. As long as the count values for (msec) are the same, the count period for 2 (msec) varies. As a result, an error occurs in the oscillation frequency of the magnetic permeability sensor 100 calculated by the CPU 10.

これに対して、透磁率センサ100の温度特性が、図24に示すような水晶発振回路70の温度特性と類似していれば、上述したような発振周波数の算出誤差をキャンセルすることが可能である。即ち、温度変動によって水晶発振回路70の発振周波数が変動したとしても、透磁率センサ100の発振周波数も同様に変動していれば、2(msec)分のカウント期間においてカウンタ61によりカウントされるカウント値の変動が少なくなるため、最終的に算出される透磁率センサ100の発振周波数の誤差を小さくすることができる。   On the other hand, if the temperature characteristic of the magnetic permeability sensor 100 is similar to the temperature characteristic of the crystal oscillation circuit 70 as shown in FIG. 24, it is possible to cancel the oscillation frequency calculation error as described above. is there. That is, even if the oscillation frequency of the crystal oscillation circuit 70 varies due to temperature variation, if the oscillation frequency of the magnetic permeability sensor 100 also varies in the same way, the count counted by the counter 61 in the count period of 2 (msec). Since the fluctuation of the value is reduced, the error of the oscillation frequency of the finally calculated permeability sensor 100 can be reduced.

このような趣旨により、透磁率センサ100の発振周波数の温度特性を、任意に調整することが求められる。ここで、LC発振回路の発振周波数について説明する。図1に示すLC発振回路からパターン抵抗102を除いた従来のLC発振回路の発振周波数は、以下の式(1)により表される。

Figure 0006136614
For this purpose, it is required to arbitrarily adjust the temperature characteristic of the oscillation frequency of the magnetic permeability sensor 100. Here, the oscillation frequency of the LC oscillation circuit will be described. The oscillation frequency of the conventional LC oscillation circuit obtained by removing the pattern resistor 102 from the LC oscillation circuit shown in FIG. 1 is expressed by the following equation (1).
Figure 0006136614

従って、透磁率センサ100の発振周波数の温度特性を調整するためには、上記式(1)に含まれる夫々のパラメータ“L”、“C”、“R”を調整することとなる。ここで、本実施形態に係るパターンコイル101のインダクタンスLの温度特性について、図25を参照して説明し、本実施形態に係る第一コンデンサ103、第二コンデンサ104の静電容量Cの温度特性について、図26を参照して説明し、本実施形態に係る回路抵抗Rの温度特性について、図27を参照して説明する。 Therefore, in order to adjust the temperature characteristic of the oscillation frequency of the magnetic permeability sensor 100, the respective parameters “L”, “C”, and “R L ” included in the equation (1) are adjusted. Here, the temperature characteristics of the inductance L of the pattern coil 101 according to the present embodiment will be described with reference to FIG. 25, and the temperature characteristics of the capacitance C of the first capacitor 103 and the second capacitor 104 according to the present embodiment. Will be described with reference to FIG. 26, and the temperature characteristics of the circuit resistance RL according to the present embodiment will be described with reference to FIG.

図25は、本実施形態に係るパターンコイル101のインダクタンスLの温度特性グラフを示す図である。図26は、本実施形態に係る第一コンデンサ103、第二コンデンサ104の静電容量Cの温度特性グラフを示す図である。図27は、本実施形態に係る回路抵抗Rの温度特性グラフを示す図である。 FIG. 25 is a graph showing a temperature characteristic graph of the inductance L of the pattern coil 101 according to the present embodiment. FIG. 26 is a diagram illustrating a temperature characteristic graph of the capacitance C of the first capacitor 103 and the second capacitor 104 according to the present embodiment. FIG. 27 is a graph showing a temperature characteristic graph of the circuit resistance RL according to the present embodiment.

図25に示すように、パターンコイル101のインダクタンスLは、温度上昇に応じて増大する特性を有する。また、図26に示すように、第一コンデンサ103、第二コンデンサ104の静電容量Cは、温度上昇に応じて減少する特性を有する。また、図27に示すように、回路抵抗Rは、温度上昇に応じて増大する特性を有する。 As shown in FIG. 25, the inductance L of the pattern coil 101 has a characteristic of increasing as the temperature rises. Further, as shown in FIG. 26, the electrostatic capacitance C of the first capacitor 103 and the second capacitor 104 has a characteristic of decreasing as the temperature rises. Further, as shown in FIG. 27, the circuit resistance RL has a characteristic of increasing as the temperature rises.

このような温度特性に基づき、夫々のパラメータを調整することが出来れば、透磁率センサ100の温度特性を良好に、即ち、温度変化に対する発振周波数の変動を少なくすることが出来ると共に、図24において説明したような水晶発振回路70の温度特性に合わせることが可能となる。   If each parameter can be adjusted based on such a temperature characteristic, the temperature characteristic of the magnetic permeability sensor 100 can be improved, that is, the fluctuation of the oscillation frequency with respect to the temperature change can be reduced. It becomes possible to match the temperature characteristics of the crystal oscillation circuit 70 as described.

しかしながら、上記式(1)に含まれる各パラメータのうち、“R”は独立して調整することが困難なパラメータである。また、“R”の値は“L”の影響を受けるため、“R”と“L”とを独立して調整することも難しい。また、透磁率センサ100の発振周波数を考慮すると、“C”の値も他のパラメータと独立して調整することが難しい。 However, among the parameters included in the equation (1), “R L ” is a parameter that is difficult to adjust independently. Further, since the value of “R L ” is affected by “L”, it is difficult to adjust “R L ” and “L” independently. Also, considering the oscillation frequency of the magnetic permeability sensor 100, it is difficult to adjust the value of “C” independently of the other parameters.

これに対して、本実施形態に係る透磁率センサ100においては、共振電流ループにおいて直列にパターン抵抗102を挿入し、このパターン抵抗102の抵抗値Rを調整することによって透磁率センサ100の発振周波数の温度特性を調整する。抵抗値Rは上述したような制約を受けることなく独立して調整することが可能なパラメータであるため、このような温度特性の調整が可能となる。 In contrast, in the magnetic permeability sensor 100 according to this embodiment, by inserting a pattern resistor 102 in series resonance current loop, the oscillation of the magnetic permeability sensor 100 by adjusting the resistance value R P of the pattern resistors 102 Adjust the temperature characteristics of frequency. Since the resistance value RP is a parameter that can be adjusted independently without being restricted as described above, such temperature characteristics can be adjusted.

まず、パターン抵抗102の抵抗値Rを調整することにより透磁率センサ100の温度特性を調整可能であることの原理について説明する。上記式(1)は、共振電流ループにおける回路のインピーダンスが最少となる条件において、共振電流ループにおける回路のインピーダンスを示す式の一部を角速度ωについて解いた式である。従って、式(1)を共振電流ループにおける回路のインピーダンスが最少となる条件を示す式に変形すると、下記の式(2)のようになる。

Figure 0006136614
First, a description will be given of the principle that by adjusting the resistance value R P of the pattern resistors 102 can adjust the temperature characteristic of the magnetic permeability sensor 100. The above equation (1) is an equation obtained by solving a part of the equation representing the impedance of the circuit in the resonance current loop with respect to the angular velocity ω under the condition that the impedance of the circuit in the resonance current loop is minimized. Therefore, when Expression (1) is transformed into an expression indicating a condition that minimizes the impedance of the circuit in the resonance current loop, the following Expression (2) is obtained.
Figure 0006136614

上記式(2)は、パターン抵抗102が含まれない場合の式であるため、上記式(2)に基づき、パターン抵抗102の抵抗値Rを含み、共振電流ループのインピーダンスを示す式は以下の式(3)のようになる。

Figure 0006136614
The formula (2) are the expressions not contain a pattern resistor 102, based on the equation (2), wherein the resistance value R P of the pattern resistors 102, wherein indicating the impedance of the resonant current loop below Equation (3) is obtained.
Figure 0006136614

ここで、本実施形態に係るパターン抵抗102のインダクタンスの周波数特性について、図28を参照して説明する。図28は、周波数を変化させてパターン抵抗102のインダクタンスを測定した結果のグラフを示す図である。図28に示すように、パターン抵抗102はつづら折状のパターンによって発生する磁束によるインダクタンス成分を有し、そのインダクタンスは、例えば3×10(Hz)前後では13(nH)程度の値である。従って、上記式(3)のZRPは、パターン抵抗102のインダクタンス成分をLRPとして以下の式(4)によってあらわされる。

Figure 0006136614
Here, the frequency characteristic of the inductance of the pattern resistor 102 according to the present embodiment will be described with reference to FIG. FIG. 28 is a graph showing a result of measuring the inductance of the pattern resistor 102 by changing the frequency. As shown in FIG. 28, the pattern resistor 102 has an inductance component due to the magnetic flux generated by the zigzag pattern, and the inductance is a value of about 13 (nH) around 3 × 10 6 (Hz), for example. . Therefore, Z RP in the above formula (3) is expressed by the following formula (4), where the inductance component of the pattern resistor 102 is L RP .
Figure 0006136614

すると、上記式(3)に基づき、インピーダンスZが最少になる条件において、以下の式(5)の関係が成り立つ。

Figure 0006136614
Then, based on the above equation (3), the following equation (5) is satisfied under the condition that the impedance Z is minimized.
Figure 0006136614

上記式(5)に基づいて図1に示す回路の発振周波数fを求めると、以下の式(6)のようになる。

Figure 0006136614
When the oscillation frequency f 0 of the circuit shown in FIG. 1 is obtained based on the above equation (5), the following equation (6) is obtained.
Figure 0006136614

上記式(6)において、“R”、“L”、“C”の値の調整は困難であるが、LRPは他のパラメータとは独立して調整することが可能である。図25において説明したように、一般的に、温度変動に対するインダクタンスの応答は比例関係にある。結果的に、LRPの値は、発振周波数に対しては、温度の上昇に対して周波数を下げる方向に作用する。従って、式(6)においてLRP以外の部分によって決まる温度特性を温度の上昇に対して周波数を上げる方向に作用させることにより、広範な温度領域に対して温度特性を安定化させることが可能となる。 In the above equation (6), it is difficult to adjust the values of “R L ”, “L”, and “C”, but L RP can be adjusted independently of other parameters. As described with reference to FIG. 25, generally, the response of the inductance to the temperature variation is proportional. As a result, the value of LRP acts on the oscillation frequency in the direction of decreasing the frequency as the temperature increases. Therefore, by causing the temperature characteristic determined by the part other than LRP in Equation (6) to act in the direction of increasing the frequency with respect to the temperature rise, the temperature characteristic can be stabilized over a wide temperature range. Become.

ここで、図28及び上記式(4)に示すように、パターン抵抗102はインダクタンス成分を有するため、パターンコイル101と同様に、周囲の透磁率の変化によってインダクタンス値LRPが変化してしまうことが考えられる。その結果、パターンコイル101によるセンシング部の範囲がパターン抵抗102の実装範囲によって拡大されたことと同義にもなることも考えられる。その点について図29(a)〜(c)を参照して説明する。 Here, as shown in FIG. 28 and the above equation (4), since the pattern resistor 102 has an inductance component, the inductance value L RP changes due to a change in the surrounding magnetic permeability, like the pattern coil 101. Can be considered. As a result, it can be considered that the range of the sensing unit by the pattern coil 101 is synonymous with the fact that the range of the pattern resistor 102 is expanded. This will be described with reference to FIGS. 29 (a) to 29 (c).

図29(a)はパターン抵抗102の形成態様を示す図であり、図29(b)、(c)は、図29(a)の切断線AAにおける断面図である。図29(b)に示すように、パターン抵抗102に電流が流れることにより、図中の破線で示すような磁束が発生する。その結果、隣接するパターン間の磁束は強められ、結果的に図29(b)に示すように、つづら折状のパターンにおいて、隣接するパターン間に互い違いの方向に磁束が発生することとなる。この磁束がパターン抵抗102のインダクタンス値LRPを生成することとなる。 FIG. 29A is a diagram showing how the pattern resistor 102 is formed, and FIGS. 29B and 29C are cross-sectional views taken along the cutting line AA in FIG. As shown in FIG. 29B, when a current flows through the pattern resistor 102, a magnetic flux as indicated by a broken line in the figure is generated. As a result, the magnetic flux between the adjacent patterns is strengthened. As a result, as shown in FIG. 29B, the magnetic flux is generated in the alternate direction between the adjacent patterns in the zigzag pattern. The magnetic flux is able to produce an inductance value L RP pattern resistor 102.

ここで、図29(b)に示すように発生する磁束の影響範囲における透磁率に変化が生じると、夫々のパターン間に発生している磁束によるインダクタンス成分にも変化が生じることとなる。しかしながら、図29(c)に示すように、夫々のパターン間に発生する磁束のうち、一方向の磁束における透磁率変化の成分と、反対方向の磁束における透磁率変化の成分との符号は、磁束の方向が異なるために正負が反対でキャンセルされる。   Here, as shown in FIG. 29B, when a change occurs in the magnetic permeability in the affected range of the generated magnetic flux, the inductance component due to the magnetic flux generated between the patterns also changes. However, as shown in FIG. 29 (c), among the magnetic fluxes generated between the patterns, the signs of the component of permeability change in the magnetic flux in one direction and the component of permeability change in the magnetic flux in the opposite direction are Since the direction of the magnetic flux is different, the positive and negative are reversed and canceled.

結果としてパターン抵抗102全体におけるインダクタンス成分は、周囲の透磁率が変化したとしても変化しないこととなる。即ち、パターン抵抗102は、周囲の透磁率に影響を受けず、透磁率に対するセンシング機能のないインダクタとして用いることが可能である。尚、本実施形態に係る透磁率センサ100は、共振電流ループにおいてパターンコイル101と直列にパターン抵抗102を挿入し、そのパターン抵抗102の抵抗値を調整することによって発振周波数の温度特性の調整を容易に行うものであり、仮にパターン抵抗102が、周囲の透磁率に対するセンシング機能を有したとしても問題ない。   As a result, the inductance component in the entire pattern resistor 102 does not change even if the surrounding magnetic permeability changes. That is, the pattern resistor 102 is not affected by the surrounding magnetic permeability, and can be used as an inductor having no sensing function for the magnetic permeability. The magnetic permeability sensor 100 according to the present embodiment adjusts the temperature characteristic of the oscillation frequency by inserting the pattern resistor 102 in series with the pattern coil 101 in the resonance current loop and adjusting the resistance value of the pattern resistor 102. Even if the pattern resistor 102 has a sensing function for the surrounding magnetic permeability, there is no problem.

従って、図1に示すように共振電流ループ中にパターン抵抗102を設けることは、パターンコイル101によるセンシング部の範囲がパターン抵抗102の実装範囲によって拡大されたことにはならない。換言すると、つづら折状のパターン抵抗102を設けることにより、透磁率センサとして用いるLC発振回路において、透磁率のセンシング機能とは無関係なインダクタンス成分を設けることが可能となる。   Therefore, providing the pattern resistor 102 in the resonance current loop as shown in FIG. 1 does not mean that the range of the sensing portion by the pattern coil 101 is expanded by the mounting range of the pattern resistor 102. In other words, by providing the zigzag pattern resistor 102, it is possible to provide an inductance component unrelated to the magnetic permeability sensing function in the LC oscillation circuit used as the magnetic permeability sensor.

ここで、図1に示す回路においてパターン抵抗102のインダクタンス値LRPの値を諸々に変化させ、温度変動に対する周波数の変化を測定した結果を図30(a)〜(d)に示す。尚、図30(a)〜(d)において、LRP1<LRP2<LRP3<LRP4である。図30(a)〜(d)に示すように、パターン抵抗102のインダクタンス値が大きいほど、温度変動に対して放物線状に変化する周波数において、ピーク、即ち極値となる温度が下がっていることがわかる。従って、パターン抵抗102のインダクタンス値LRPを調整することにより、透磁率センサ100の発振周波数の温度特性の調整が可能であることがわかる。 Here, by changing to various values of the inductance value L RP pattern resistor 102 in the circuit shown in FIG. 1 shows the result of measuring the change in frequency with respect to temperature variations in FIG 30 (a) ~ (d) . 30A to 30D , L RP1 <L RP2 <L RP3 <L RP4 . As shown in FIGS. 30A to 30D, as the inductance value of the pattern resistor 102 increases, the peak, that is, the extreme temperature decreases at a frequency that changes in a parabolic manner with respect to temperature fluctuation. I understand. Therefore, by adjusting the inductance value L RP pattern resistor 102, it can be seen that it is possible to adjust the temperature characteristic of the oscillation frequency of the magnetic permeability sensor 100.

ここで、パターン抵抗102のインダクタンス成分の調整方法の例について、図31を参照して説明する。図31(a)〜(d)は、図30(a)〜(d)に示すLRP1〜LRP4に対応するパターン抵抗102の形成態様を示す図である。図31(a)〜(d)に示すように、パターン抵抗102の形状であるつづら折の折数を増やすことにより、インダクタンス値を大きくすることができる。このように、つづら折状のパターン抵抗102を用いることにより、図30(a)〜(d)に示すような温度特性の調整が可能であるという効果に加えて、温度特性を調整するためのインダクタンス値の調整を、つづら折の折数を変更するだけで容易に実現可能であるという効果もある。 Here, an example of a method for adjusting the inductance component of the pattern resistor 102 will be described with reference to FIG. FIGS. 31A to 31D are diagrams showing how the pattern resistors 102 corresponding to L RP1 to L RP4 shown in FIGS. 30A to 30D are formed. As shown in FIGS. 31A to 31D, the inductance value can be increased by increasing the number of spells that are the shape of the pattern resistor 102. As described above, by using the zigzag pattern resistor 102, the temperature characteristics can be adjusted as shown in FIGS. 30A to 30D, and the temperature characteristics can be adjusted. There is also an effect that the adjustment of the inductance value can be easily realized only by changing the number of folds.

また、実験結果においては、図30(a)〜(d)に示すような温度特性において放物線のピークにおける温度が図24に示す水晶発振回路70の温度特性における放物線のピークに合致するようにパターン抵抗102を形成すると、そのパターン抵抗の抵抗値は0.3(Ω)であった。その場合において、想定される使用環境の温度範囲である10〜50(℃)の範囲における周波数の変動は、±37(ppm:part per million)という結果となり、従来技術に対して良好な温度変動が得られると共に、水晶発振回路70の周波数の変動範囲である±10〜40(ppm)に概ね合致する結果となった。   Further, in the experimental result, the pattern is such that the temperature at the parabolic peak in the temperature characteristic as shown in FIGS. 30A to 30D matches the parabolic peak in the temperature characteristic of the crystal oscillation circuit 70 shown in FIG. When the resistor 102 was formed, the resistance value of the pattern resistor was 0.3 (Ω). In that case, the frequency fluctuation in the range of 10 to 50 (° C.), which is the temperature range of the assumed usage environment, results in ± 37 (ppm: part per million), which is a favorable temperature fluctuation compared to the prior art. Was obtained, and the result generally matched ± 10 to 40 (ppm), which is the frequency fluctuation range of the crystal oscillation circuit 70.

このように、本実施形態においては、共振電流ループにおいて直列にパターン抵抗102を挿入することにより、発振周波数の温度特性の調整が容易なLC発振回路を用いた透磁率センサを提供することができる。   Thus, in the present embodiment, a magnetic permeability sensor using an LC oscillation circuit that can easily adjust the temperature characteristic of the oscillation frequency can be provided by inserting the pattern resistor 102 in series in the resonance current loop. .

尚、本実施形態においては、パターンコイル101及びパターン抵抗102を用いることにより、所定空間の透磁率を検知する透磁率センサ100について説明した。これに対して、図2に示すセンサのパターンコイル101のインダクタンスに影響する範囲の透磁率が一定であることを前提とすると、図1に示す回路の発振周波数変動は、図30(a)〜(d)において説明したような温度に対する変動成分のみとなる。   In the present embodiment, the magnetic permeability sensor 100 that detects the magnetic permeability of a predetermined space by using the pattern coil 101 and the pattern resistor 102 has been described. On the other hand, assuming that the permeability in the range affecting the inductance of the pattern coil 101 of the sensor shown in FIG. 2 is constant, the oscillation frequency fluctuation of the circuit shown in FIG. Only the fluctuation component with respect to the temperature as described in (d) is provided.

従って、本実施形態において説明した透磁率センサ100は、透磁率センサとしてのみでなく、温度センサとしても用いることが可能である。この場合、図30(a)〜(d)において説明した温度特性としては、検知対象とするべき温度範囲においては、単純上昇または単純下降となるような温度特性を選択することが好ましい。これにより、センサの発振周波数に基づく単純な計算で、センサが設置された部分の温度を検知することが可能となる。このような観点からも、上述したようにパターン抵抗102を調整することによって、回路の発振周波数の温度特性を調整可能であることは有意義である。   Therefore, the magnetic permeability sensor 100 described in the present embodiment can be used not only as a magnetic permeability sensor but also as a temperature sensor. In this case, as the temperature characteristics described in FIGS. 30A to 30D, it is preferable to select a temperature characteristic that is simply increased or decreased in the temperature range to be detected. Thereby, it becomes possible to detect the temperature of the portion where the sensor is installed with a simple calculation based on the oscillation frequency of the sensor. Also from this point of view, it is significant that the temperature characteristic of the oscillation frequency of the circuit can be adjusted by adjusting the pattern resistor 102 as described above.

また、本実施形態においては、図31(a)〜(d)において説明したように、直線及び直角のみで構成されたつづら折のパターンをパターン抵抗102として用いる場合を例として説明した。しかしながらこれは一例であり、つづら折のパターンとしてはさまざまなパターンが考えられる。例えば、図32(a)に示すように、曲線で構成されたつづら折のパターンや、図32(b)に示すように直線と鋭角で構成されたつづら折のパターンを用いることが出来る。また、図32(c)、(d)に示すように、図32(a)、(b)のつづら折パターンを構成する山の角度が傾いたパターンを用いることが出来る。   Further, in the present embodiment, as described in FIGS. 31A to 31D, the case where a spell pattern composed only of straight lines and right angles is used as the pattern resistor 102 has been described as an example. However, this is only an example, and various patterns can be considered as the spelling pattern. For example, as shown in FIG. 32A, a zigzag folding pattern composed of a curved line, or as shown in FIG. 32B, a zigzag folding pattern composed of a straight line and an acute angle can be used. Further, as shown in FIGS. 32 (c) and 32 (d), a pattern in which the angle of the mountain constituting the spelling pattern shown in FIGS. 32 (a) and 32 (b) is inclined can be used.

次に、本実施形態に係る透磁率センサ100が現像器212に取り付けられた状態における各部の配置関係について、図33(a)〜(c)を参照して説明する。図33(a)、(b)は、本実施形態に係る透磁率センサ100の現像器212への取り付け態様の一例を示す図である。図33(c)は、本実施形態に係る透磁率センサ100が現像器212に取り付けられた状態における各部の配置関係を示す図である。   Next, the positional relationship of each part in a state where the magnetic permeability sensor 100 according to the present embodiment is attached to the developing device 212 will be described with reference to FIGS. FIGS. 33A and 33B are diagrams illustrating an example of a manner in which the magnetic permeability sensor 100 according to the present embodiment is attached to the developing device 212. FIG. FIG. 33 (c) is a diagram showing an arrangement relationship of each part in a state where the magnetic permeability sensor 100 according to this embodiment is attached to the developing device 212.

図33(a)においては、本実施形態に係る透磁率センサ100を、現像器212に取り付けられている状態においてその検知面から見た図で示している。図33(b)においては、本実施形態に係る透磁率センサ100を、現像器212に取り付けられている状態において、その検知面に水平な方向であって、パターンコイル101とパターン抵抗102との接続方向に垂直な方向から見た図で示している。即ち、図33(b)においては、本実施形態に係る透磁率センサ100を、図33(a)に示す破線の矢印の方向に向かって見た図で示している。図33(c)においては、透磁率センサ100が現像器212に取り付けられた状態での現像器212の長手方向における各部の長さ及び距離を示している。   FIG. 33A shows the magnetic permeability sensor 100 according to the present embodiment as viewed from the detection surface in a state where the magnetic permeability sensor 100 is attached to the developing device 212. In FIG. 33B, the magnetic permeability sensor 100 according to the present embodiment is in a direction horizontal to the detection surface in a state where the magnetic permeability sensor 100 is attached to the developing device 212 and includes a pattern coil 101 and a pattern resistor 102. It is shown in a diagram viewed from a direction perpendicular to the connection direction. That is, in FIG. 33 (b), the magnetic permeability sensor 100 according to the present embodiment is shown as viewed in the direction of the broken arrow shown in FIG. 33 (a). FIG. 33C shows the length and distance of each part in the longitudinal direction of the developing device 212 when the magnetic permeability sensor 100 is attached to the developing device 212.

本実施形態においては、図33(a)〜(c)に示すような態様で、透磁率センサ100にパターンコイル101、パターン抵抗102、電装部が配置され、その透磁率センサ100がセンサ取り付け面212aに取り付けられている。   In the present embodiment, the pattern coil 101, the pattern resistor 102, and the electrical component are arranged in the magnetic permeability sensor 100 in a manner as shown in FIGS. 33A to 33C, and the magnetic permeability sensor 100 is a sensor mounting surface. It is attached to 212a.

即ち、図33(a)〜(c)に示すように、本実施形態に係る透磁率センサ100は、パターンコイル101の全長が12mm、パターン抵抗102の全長が3mmとなるように構成されている。また、図33(a)〜(c)に示すように、本実施形態に係る透磁率センサ100は、パターンコイル101と軸受け212dの端部との重なりが1.5mm、電装部端部と軸受け212の端部との距離が15.5mmとなるように、センサ取り付け面212aに取り付けられている。従って、本実施形態に係るパターン抵抗102は、透磁率センサ100の基板上において、パターンコイル101の端部と電装部端部との間に含まれるように形成されることになる。即ち、本実施形態に係るパターン抵抗102は、透磁率センサ100の基板上において、軸受け212dの端部から10.5mm〜15.5mmの範囲に含まれるように形成されることになる。   That is, as shown in FIGS. 33A to 33C, the magnetic permeability sensor 100 according to this embodiment is configured such that the total length of the pattern coil 101 is 12 mm and the total length of the pattern resistor 102 is 3 mm. . Further, as shown in FIGS. 33A to 33C, the magnetic permeability sensor 100 according to the present embodiment has an overlap between the pattern coil 101 and the end of the bearing 212d of 1.5 mm, and the electrical component end and the bearing. It is attached to the sensor attachment surface 212a so that the distance from the end of 212 is 15.5 mm. Therefore, the pattern resistor 102 according to the present embodiment is formed so as to be included between the end of the pattern coil 101 and the end of the electrical component on the substrate of the magnetic permeability sensor 100. That is, the pattern resistor 102 according to the present embodiment is formed on the substrate of the magnetic permeability sensor 100 so as to fall within the range of 10.5 mm to 15.5 mm from the end of the bearing 212d.

尚、本実施形態においては、透磁率センサ100が、磁性粒子であるキャリアと非磁性の顕色剤であるトナーとが混合された2成分現像剤を使用する電子写真方式の画像形成装置200における現像器212に取り付けられて、その現像器212内部における現像剤中のトナーの濃度を測定するトナー濃度検知器として利用される場合を例として説明したが、これに限らず、パターンコイル101及びパターン抵抗102を含むLC発振回路を用いて、それらが形成された平面に対向する所定空間の透磁率を検知する透磁率検知器であれば同様に適用可能である。   In this embodiment, in the image forming apparatus 200 of the electrophotographic system, the magnetic permeability sensor 100 uses a two-component developer in which a carrier that is magnetic particles and a toner that is a nonmagnetic developer are mixed. The case where it is attached to the developing device 212 and used as a toner concentration detector that measures the concentration of toner in the developer inside the developing device 212 has been described as an example. The present invention can be similarly applied to any magnetic permeability detector that uses a LC oscillation circuit including the resistor 102 to detect the magnetic permeability of a predetermined space facing the plane on which the resistor is formed.

1 コントローラ
10 CPU
11 タイマ
20 ROM
30 RAM
40 DMAC
50 ASIC
60 入出力制御ASIC
61 カウンタ
62 リード信号取得部
63 カウント値出力部
70 水晶発振回路
100 透磁率センサ
101 パターンコイル
102 パターン抵抗
103 第一コンデンサ
104 第二コンデンサ
105 フィードバック抵抗
106、107 アンバッファIC
108 出力端子
200 画像形成装置
201 給紙トレイ
202 給紙ローラ
203 レジストローラ
204 用紙
205 搬送ベルト
206K、206C、206M、206Y 画像形成部
207 駆動ローラ
208 従動ローラ
209K、209C、209M、209Y 感光体ドラム
210K、210C、210M、210Y 帯電器
211 光書き込み装置
212K、212C、212M、212Y 現像器
212a センサ取り付け面
212b、212c 搬送スクリュー
212d、212e、212f、212g 軸受け
213K、213C、213M、213Y 感光体クリーナ
215K、215C、215M、215Y 転写器
216 定着器
1 Controller 10 CPU
11 Timer 20 ROM
30 RAM
40 DMAC
50 ASIC
60 I / O control ASIC
61 Counter 62 Read signal acquisition unit 63 Count value output unit 70 Crystal oscillation circuit 100 Magnetic permeability sensor 101 Pattern coil 102 Pattern resistor 103 First capacitor 104 Second capacitor 105 Feedback resistor 106, 107 Unbuffer IC
DESCRIPTION OF SYMBOLS 108 Output terminal 200 Image forming apparatus 201 Paper feed tray 202 Paper feed roller 203 Registration roller 204 Paper 205 Conveying belt 206K, 206C, 206M, 206Y Image forming unit 207 Drive roller 208 Driven roller 209K, 209C, 209M, 209Y Photosensitive drum 210K , 210C, 210M, 210Y Charger 211 Optical writing device 212K, 212C, 212M, 212Y Developer 212a Sensor mounting surface 212b, 212c Transport screw 212d, 212e, 212f, 212g Bearing 213K, 213C, 213M, 213Y Photoconductor cleaner 215K, 215C, 215M, 215Y Transfer device 216 Fixing device

特開2010−26031号公報JP 2010-26031 A

Claims (5)

所定空間の透磁率に応じた周波数の信号を出力する透磁率検知器であって、
基板上に平面パターンによって形成され、前記所定空間の透磁率によってインダクタンスが変化するコイルと、
前記コイルと共振電流ループを構成するように接続されたコンデンサと、
前記共振電流ループの一部の電位に応じた信号を出力する出力端子と、
前記共振電流ループに直列に接続され、前記基板上に形成された前記コイルと同一面上につづら折状の平面パターンによって形成されたパターン抵抗と、
前記コイルの形成面が対向する面よりも熱伝導性が高く、前記基板上において前記コイル及び前記パターン抵抗を含む連続する範囲を覆うように設けられ、前記コイルの形成面が前記所定空間に対向した状態で前記透磁率検知器を固定するための接着層と、
を含むことを特徴とする透磁率検知器。
A magnetic permeability detector that outputs a signal having a frequency corresponding to the magnetic permeability of a predetermined space,
A coil formed on a substrate in a planar pattern, the inductance of which varies depending on the magnetic permeability of the predetermined space;
A capacitor connected to form a resonant current loop with the coil;
An output terminal for outputting a signal corresponding to a potential of a part of the resonance current loop;
A pattern resistor connected in series to the resonant current loop and formed by a folded planar pattern on the same plane as the coil formed on the substrate;
The coil formation surface is higher in thermal conductivity than the opposing surface, and is provided so as to cover a continuous range including the coil and the pattern resistance on the substrate, and the coil formation surface faces the predetermined space. An adhesive layer for fixing the magnetic permeability detector in a state where
A magnetic permeability detector comprising:
前記接着層は、絶縁体であることを特徴とする請求項1に記載の透磁率検知器。   The magnetic permeability detector according to claim 1, wherein the adhesive layer is an insulator. 前記コイルの形成面が画像形成装置において静電潜像を現像するためのトナーを含む現像剤を収容する現像剤収容部に対向した状態で取り付けられて、前記現像剤収容部における前記現像剤中のトナーの濃度を検知することを特徴とする請求項1又は2に記載の透磁率検知器。   The coil forming surface is attached in a state facing the developer containing portion containing a developer containing toner for developing the electrostatic latent image in the image forming apparatus, and the inside of the developer in the developer containing portion The magnetic permeability detector according to claim 1, wherein the toner concentration is detected. 所定空間の透磁率に応じた周波数の信号を出力する透磁率検知器の取り付け方法であって、
前記透磁率検知器は、
基板上に平面パターンによって形成され、前記所定空間の透磁率によってインダクタンスが変化するコイルと、
前記コイルと共振電流ループを構成するように接続されたコンデンサと、
前記共振電流ループの一部の電位に応じた信号を出力する出力端子と、
前記共振電流ループに直列に接続され、前記基板上に形成された前記コイルと同一面上につづら折状の平面パターンによって形成されたパターン抵抗と、
前記コイルの形成面が対向する面よりも熱伝導性が高く、前記基板上において前記コイル及び前記パターン抵抗を含む連続する範囲を覆うように設けられ、前記コイルの形成面が前記所定空間に対向した状態で前記透磁率検知器を固定するための接着層と、
を含み、
前記接着層により前記コイルの形成面が前記所定空間に対向した状態で取り付けられることを特徴とする透磁率検知器の取り付け方法。
A method of attaching a magnetic permeability detector that outputs a signal having a frequency corresponding to the magnetic permeability of a predetermined space,
The magnetic permeability detector is
A coil formed on a substrate in a planar pattern, the inductance of which varies depending on the magnetic permeability of the predetermined space;
A capacitor connected to form a resonant current loop with the coil;
An output terminal for outputting a signal corresponding to a potential of a part of the resonance current loop;
A pattern resistor connected in series to the resonant current loop and formed by a folded planar pattern on the same plane as the coil formed on the substrate;
The coil formation surface is higher in thermal conductivity than the opposing surface, and is provided so as to cover a continuous range including the coil and the pattern resistance on the substrate, and the coil formation surface faces the predetermined space. An adhesive layer for fixing the magnetic permeability detector in a state where
Including
A method of attaching a magnetic permeability detector, wherein the adhesive layer is attached in a state where a surface on which the coil is formed faces the predetermined space.
画像形成装置において静電潜像を現像する現像装置であって、
前記静電潜像を現像するためのトナーを含む現像剤を収容する現像剤収容部と、
前記現像剤収容部における現像剤中のトナーの濃度を検知するトナー濃度検知器と、
を含み、
前記トナー濃度検知器は、
基板上に平面パターンによって形成され、前記所定空間の透磁率によってインダクタンスが変化するコイルと、
前記コイルと共振電流ループを構成するように接続されたコンデンサと、
前記共振電流ループの一部の電位に応じた信号を出力する出力端子と、
前記共振電流ループに直列に接続され、前記基板上に形成された前記コイルと同一面上につづら折状の平面パターンによって形成されたパターン抵抗と、
前記コイルの形成面が対向する面よりも熱伝導性が高く、前記基板上において前記コイル及び前記パターン抵抗を含む連続する範囲を覆うように設けられ、前記コイルの形成面が前記現像剤収容部に対向した状態で前記トナー濃度検知器を固定するための接着層と、
を含み、
前記トナー濃度検知器が前記接着層により、前記コイルの形成面が前記現像剤収容部に対向した状態で取り付けられていることを特徴とする現像装置。
A developing device for developing an electrostatic latent image in an image forming apparatus,
A developer containing portion containing a developer containing toner for developing the electrostatic latent image;
A toner concentration detector for detecting the concentration of toner in the developer in the developer container;
Including
The toner concentration detector
A coil formed on a substrate in a planar pattern, the inductance of which varies depending on the magnetic permeability of the predetermined space;
A capacitor connected to form a resonant current loop with the coil;
An output terminal for outputting a signal corresponding to a potential of a part of the resonance current loop;
A pattern resistor connected in series to the resonant current loop and formed by a folded planar pattern on the same plane as the coil formed on the substrate;
The coil formation surface is higher in thermal conductivity than the opposing surface, and is provided so as to cover a continuous range including the coil and the pattern resistance on the substrate, and the coil formation surface is the developer container An adhesive layer for fixing the toner concentration detector in a state opposite to
Including
The developing device according to claim 1, wherein the toner density detector is attached by the adhesive layer in a state where a surface on which the coil is formed faces the developer accommodating portion.
JP2013125932A 2013-06-14 2013-06-14 Permeability detector, permeability detector mounting method, developing device Expired - Fee Related JP6136614B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013125932A JP6136614B2 (en) 2013-06-14 2013-06-14 Permeability detector, permeability detector mounting method, developing device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013125932A JP6136614B2 (en) 2013-06-14 2013-06-14 Permeability detector, permeability detector mounting method, developing device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2015001617A JP2015001617A (en) 2015-01-05
JP6136614B2 true JP6136614B2 (en) 2017-05-31

Family

ID=52296170

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2013125932A Expired - Fee Related JP6136614B2 (en) 2013-06-14 2013-06-14 Permeability detector, permeability detector mounting method, developing device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP6136614B2 (en)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6708822B2 (en) * 2015-03-13 2020-06-10 株式会社リコー Developer remaining amount detecting device, developing device, image forming apparatus, process cartridge, and developer remaining amount detecting method
JP6544042B2 (en) * 2015-02-18 2019-07-17 株式会社リコー Powder detection device, developer residual amount detection device and powder detection method
JP6562295B2 (en) 2015-06-24 2019-08-21 株式会社リコー Developing device, image forming apparatus, and process cartridge
JP6701769B2 (en) * 2016-02-04 2020-05-27 株式会社リコー Powder detecting device, image forming apparatus, and mounting method of oscillator of powder detecting device
JP6928893B2 (en) * 2017-06-20 2021-09-01 株式会社リコー Image forming device and powder storage device

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06109643A (en) * 1992-09-24 1994-04-22 Toshiba Corp Image forming device
JPH08271481A (en) * 1995-03-28 1996-10-18 Konica Corp Toner density sensor
JPH10282782A (en) * 1997-04-02 1998-10-23 Konica Corp Toner density detector for developing device
JPH11223620A (en) * 1998-02-06 1999-08-17 Konica Corp Toner concentration detecting device and manufacture of toner concentration detecting device
JP2009250931A (en) * 2008-04-10 2009-10-29 Rohm Co Ltd Magnetic sensor, operation method thereof, and magnetic sensor system
JP2010266761A (en) * 2009-05-15 2010-11-25 Konica Minolta Business Technologies Inc Toner concentration sensor and toner concentration control method

Also Published As

Publication number Publication date
JP2015001617A (en) 2015-01-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6136614B2 (en) Permeability detector, permeability detector mounting method, developing device
US9170233B2 (en) Magnetic permeability detector, developing device, image forming apparatus, and oscillation signal frequency calculation method therefor
US10114323B2 (en) Sheet size detector and image processing apparatus
JP2000122398A (en) Electrophotographic image forming device, process cartridge, developing device, developer feeding container, and measuring equipment
JP2010049285A (en) Abnormality determining method, and abnormality determining apparatus, and image forming apparatus using same
JP6331269B2 (en) Magnetic permeability detector, developing device, image forming apparatus
JP6205910B2 (en) Development device, oscillation circuit detector, image forming apparatus, and method of attaching oscillation circuit detector to development device
JP7296052B2 (en) Powder supply device and image forming device
JP2014235386A (en) Developing device, image forming apparatus, and manufacturing method of developing device
JP6451205B2 (en) Powder detector, developer remaining amount detector, and powder detection method
JP2016012078A (en) Development device
US20160349101A1 (en) Powder detection device, image forming apparatus, powder detection method, and non-transitory recording medium
JP6237072B2 (en) Frequency calculation apparatus, image forming apparatus, and frequency calculation method
JP6572519B2 (en) Permeability detector, developing device and image forming apparatus
JP6446999B2 (en) Powder detector, developer remaining amount detector, and powder detection method
JP2006220909A (en) Development device
US20170115598A1 (en) Developing device, image forming apparatus including developing device, fitting method of coil board to developing device
JP5796505B2 (en) Toner concentration detection device, image forming apparatus, and toner concentration detection method
EP2813898B1 (en) Magnetic permeability detector, developing device, image forming apparatus, and oscillation signal frequency calculation method therefor
JP6561457B2 (en) Powder detector, developer remaining amount detector, and image forming apparatus
JP3984800B2 (en) Electrophotographic image forming apparatus
JP3571898B2 (en) Developing apparatus and electrophotographic image forming apparatus
JP2019200228A (en) Estimation device estimating remaining amount of developer, control method, recording medium, and image forming apparatus
JP7452256B2 (en) Toner supply device and image forming device
JP2016053700A (en) Developer concentration detecting device, developing device, and developer concentration detecting method

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20160607

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20170322

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20170404

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20170417

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 6136614

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees