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JP6136628B2 - Apparatus and method for inspecting sound output of device under test - Google Patents
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JP6136628B2 - Apparatus and method for inspecting sound output of device under test - Google Patents

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Description

本発明は、被試験体の音声出力検査装置及びその方法に関する。   The present invention relates to a sound output inspection apparatus and method for a device under test.

コンピュータや携帯電話などのように、スピーカを有するワークの製造工程では、スピーカから実際に音を出力し、その音を検査装置のマイクロフォンで集音してスペクトラム解析することによって周波数特性やノイズ、音割れ等を計測することによってスピーカの動作確認をしている。   In the manufacturing process of a workpiece with a speaker such as a computer or a mobile phone, the frequency characteristics, noise, and sound are output by actually outputting sound from the speaker, collecting the sound with a microphone of the inspection device, and performing spectrum analysis. The operation of the speaker is checked by measuring cracks and the like.

特開2006−279758号公報JP 2006-279758 A

ところで、近年では、生産効率の向上を目的として短時間でスピーカの試験を行うことが要求されている。しかしながら、スペクトラム解析によるスピーカの試験方法では、サンプル長さと検査精度がトレードオフの関係にあるので、検査精度を保証するために検査時間を長く設定しなければならなかった。   In recent years, it has been required to test a speaker in a short time for the purpose of improving production efficiency. However, in the speaker testing method based on spectrum analysis, since the sample length and the inspection accuracy are in a trade-off relationship, the inspection time has to be set long in order to guarantee the inspection accuracy.

ここで、マイクロフォンで収集した信号と、本来スピーカから出力されるはずの信号の相互相関を演算すると、短時間にスピーカの試験が可能になる。しかしながら、生産効率を向上させるためにワークを搬送装置で搬送しながらスピーカを検査すると、音源であるスピーカを搬送装置で移動させながら試験することになるので、マイクロフォンで収集する音声がドップラーシフトによる周波数変動を起こしてしまい、正しい音声データを収集することができなかった。特に、搬送装置の搬送速度が大きくなると、ドップラーシフトが大きくなるのでワークの正確な検査が困難になる。ドップラーシフトを補正するためには、ワークの位置や移動速度を計測するセンサが必要にあるが、これらのセンサは検査装置の装置構成を複雑化させる原因になる。   Here, if the cross-correlation between the signal collected by the microphone and the signal that is supposed to be output from the speaker is calculated, the speaker can be tested in a short time. However, if the speaker is inspected while the work is being transported by the transport device in order to improve production efficiency, the sound source speaker will be tested while being moved by the transport device, so the sound collected by the microphone is the frequency due to the Doppler shift. It fluctuated and correct audio data could not be collected. In particular, when the transport speed of the transport device is increased, the Doppler shift is increased, which makes it difficult to accurately inspect the workpiece. In order to correct the Doppler shift, sensors for measuring the position and moving speed of the workpiece are required, but these sensors cause a complicated configuration of the inspection apparatus.

このために、ワークからの音声がドップラーシフトする場合でも、ワークの位置や速度を計測することなく、正確にワークの評価ができるようにすることが望まれていた。
そこで、1つの側面として、本発明では、ワークからの音声がドップラーシフトする場合でも、ワークの位置や速度を計測することなく、正確にワークの評価ができるようにすることを目的とする。
For this reason, it has been desired to accurately evaluate the workpiece without measuring the workpiece position and speed even when the voice from the workpiece is Doppler shifted.
Accordingly, as one aspect, an object of the present invention is to enable accurate evaluation of a workpiece without measuring the position and speed of the workpiece even when the sound from the workpiece is Doppler shifted.

実施形態の一観点によれば、移動中の被試験体が有する波形信号に基づいてスピーカから出力させた音声を収集し、第1の波形信号を取得するマイクロフォンと、前記マイクロフォンで収集した前記第1の波形信号と、前記被試験体が有する前記波形信号と同じ波形を含む第2の波形信号とを比較し、前記第2の波形信号に対する前記第1の波形信号のドップラーシフト量を算出するドップラー比抽出器と、前記ドップラーシフト量を用いて前記第1の波形信号の周波数変動を補正する波形復元器と、前記波形復元器で復元した前記第1の波形信号と前記第2の波形信号の相互相関値を演算する相互相関演算器と、前記相互相関値が予め定められた閾値以上であった場合に、前記被試験体の前記スピーカを正常と判定する合否判定部と、を含むことを特徴とする移動する被試験体の音声出力検査装置が提供される。   According to one aspect of the embodiment, a microphone that collects audio output from a speaker based on a waveform signal of a moving test subject and acquires a first waveform signal, and the first that is collected by the microphone 1 waveform signal is compared with a second waveform signal including the same waveform as the waveform signal of the DUT, and a Doppler shift amount of the first waveform signal with respect to the second waveform signal is calculated. A Doppler ratio extractor; a waveform restorer that corrects frequency fluctuations of the first waveform signal using the Doppler shift amount; the first waveform signal and the second waveform signal restored by the waveform restorer; A cross-correlation calculator that calculates a cross-correlation value of the test object, and a pass / fail determination unit that determines that the speaker of the DUT is normal when the cross-correlation value is equal to or greater than a predetermined threshold. Audio output test apparatus of the test body is provided to move, characterized in that.

また、実施形態の別の観点によれば、移動中の被試験体が有する波形信号に基づいてスピーカから出力された音声を収集し、第1の波形信号を取得する工程と、前記第1の波形信号と、前記被試験体が有する前記波形信号と同じ波形を含む第2の波形信号との間のドップラーシフト量を算出し、前記ドップラーシフト量から前記第1の波形信号のドップラーシフトを補正する工程と、補正した前記第1の波形信号と記第2の波形信号の相互相関値を演算する工程と、前記相互相関値が予め定められた閾値以上であった場合に、前記被試験体の前記スピーカを正常と判定する工程と、を含むことを特徴とする移動する被試験体の音声出力検査方法が提供される。   Further, according to another aspect of the embodiment, the step of collecting the sound output from the speaker based on the waveform signal of the moving test subject and acquiring the first waveform signal; A Doppler shift amount between the waveform signal and a second waveform signal including the same waveform as the waveform signal of the DUT is calculated, and the Doppler shift of the first waveform signal is corrected from the Doppler shift amount. A step of calculating a cross-correlation value between the corrected first waveform signal and the corrected second waveform signal, and the DUT when the cross-correlation value is equal to or greater than a predetermined threshold value. And a step of determining that the speaker is normal. A method for inspecting a moving object under test is provided.

被試験体の位置や移動速度を計測するセンサを設けることなく、サンプル長と試験精度のトレードオフの関係を改善でき、相互相関演算による被試験体の試験が可能になる。   Without providing a sensor for measuring the position and moving speed of the device under test, the relationship between the sample length and the test accuracy can be improved, and the device under test can be tested by cross-correlation calculation.

図1は、本発明の実施の形態に係る音声出力検査装置及び被試験体の概略構成の一例を示すブロック図である。FIG. 1 is a block diagram showing an example of a schematic configuration of an audio output inspection apparatus and a device under test according to an embodiment of the present invention. 図2は、本発明の実施の形態に係る音声出力検査装置の演算部の構成の一例を示すブロック図である。FIG. 2 is a block diagram showing an example of the configuration of the calculation unit of the audio output inspection apparatus according to the embodiment of the present invention. 図3は、本発明の実施の形態に係る音声出力検査装置の処理の一例を説明するフローチャートである。FIG. 3 is a flowchart for explaining an example of processing of the audio output inspection apparatus according to the embodiment of the present invention. 図4は、本発明の実施の形態に係る音声出力検査装置で処理される信号波形の一例を示す図である。FIG. 4 is a diagram illustrating an example of a signal waveform processed by the audio output inspection apparatus according to the embodiment of the present invention. 図5は、本発明の実施の形態に係る音声出力検査装置の演算部の処理の一例を説明する図である。FIG. 5 is a diagram for explaining an example of processing of the arithmetic unit of the audio output inspection apparatus according to the embodiment of the present invention. 図6は、本発明の実施の形態に係る音声出力検査装置のドップラー比抽出器と波形復元器の構成の一例を示す図である。FIG. 6 is a diagram illustrating an example of a configuration of a Doppler ratio extractor and a waveform restorer of the audio output inspection apparatus according to the embodiment of the present invention. 図7は、本発明の実施の形態に係る音声出力検査装置のドップラー比抽出器に入力される波形信号の一例を示す図である。FIG. 7 is a diagram illustrating an example of a waveform signal input to the Doppler ratio extractor of the audio output inspection apparatus according to the embodiment of the present invention. 図8は、本発明の実施の形態に係る音声出力検査装置のドップラー比抽出器の出力の一例を示す図である。FIG. 8 is a diagram illustrating an example of the output of the Doppler ratio extractor of the audio output inspection apparatus according to the embodiment of the present invention. 図9は、本発明の実施の形態に係る音声出力検査装置の波形復元器の入力と出力の一例を並べて示す図である。FIG. 9 is a diagram showing an example of input and output of the waveform decompressor of the audio output inspection apparatus according to the embodiment of the present invention. 図10は、本発明の実施の形態に係る音声出力検査装置の相互相関演算の処理の一例を模式的に示す図である。FIG. 10 is a diagram schematically illustrating an example of the cross-correlation calculation process of the audio output inspection apparatus according to the embodiment of the present invention.

発明の目的及び利点は、請求の範囲に具体的に記載された構成要素及び組み合わせによって実現され達成される。
前述の一般的な説明及び以下の詳細な説明は、典型例及び説明のためのものであって、本発明を限定するためのものではない。
The objects and advantages of the invention will be realized and attained by means of the elements and combinations particularly pointed out in the appended claims.
The foregoing general description and the following detailed description are exemplary and explanatory only and are not intended to limit the invention.

最初に、実施形態の音声出力検査装置1の検査対象となる被試験体の構成について説明する。
ワークである被試験体2は、ベルトコンベアなどの搬送装置3によって矢印に示す方法に搬送される。被試験体2は、音声を出力するスピーカ11と、スピーカ11を制御するスピーカ制御装置12と、各種のデータ処理を行うCPU(Central Processing Unit)13と、データの記憶装置14とを含んで構成されている。このような被試験体2としては、例えば、ノートパソコンなどのコンピュータがある。この場合、被試験体2には、不図示の表示装置や、出力装置、データ入力装置や、通信制御装置などが必要に応じて付加される。また、被試験体2は、コンピュータ以外の装置でも良い。
Initially, the structure of the to-be-tested object used as the test object of the audio | voice output test | inspection apparatus 1 of embodiment is demonstrated.
A device under test 2 that is a workpiece is transported in a method indicated by an arrow by a transport device 3 such as a belt conveyor. The device under test 2 includes a speaker 11 that outputs sound, a speaker control device 12 that controls the speaker 11, a CPU (Central Processing Unit) 13 that performs various data processing, and a data storage device 14. Has been. Examples of such a device under test 2 include a computer such as a notebook computer. In this case, a display device (not shown), an output device, a data input device, a communication control device, and the like are added to the device under test 2 as necessary. Further, the device under test 2 may be a device other than a computer.

さらに、記憶装置14には、第1の検査音源15が記憶されている。第1の検査音源15は、試験時にスピーカ11から音を出力させるための情報を有し、例えば、公知のファイル形式で記憶装置14に格納されている。
CPU13は、第1の検査音源15の読み出しや、第1の検査音源15のデータをスピーカ制御装置12に出力するように構成されている。
スピーカ制御装置12は、第1の検査音源15に基づく音声をスピーカ11から出力できるようにスピーカ11への電流供給を制御するように構成されている。
Further, the storage device 14 stores a first inspection sound source 15. The first inspection sound source 15 has information for outputting sound from the speaker 11 at the time of the test, and is stored in the storage device 14 in a known file format, for example.
The CPU 13 is configured to read out the first inspection sound source 15 and output data of the first inspection sound source 15 to the speaker control device 12.
The speaker control device 12 is configured to control current supply to the speaker 11 so that sound based on the first inspection sound source 15 can be output from the speaker 11.

次に、被試験体2を検査する音声出力検査装置1の構成について説明する。
音声出力検査装置1は、被試験体2のスピーカ11から出力された音声を収集するマイク21と、マイク21の音声をA/D(Analog/Digital)変換するサンプラー22と、サンプラー22で変換した音声データの波形信号を記憶する記憶器23とを有する。さらに、音声出力検査装置1は、データ処理と被試験体2の良否を判定する演算部24と、記憶装置25とを有する。記憶装置25には、データ処理に使用する第2の検査音源26(第2の波形信号)が保存されている。第2の検査音源26は、第1の検査音源15と同じ波形信号が含まれている。
Next, the configuration of the audio output inspection apparatus 1 that inspects the device under test 2 will be described.
The sound output inspection device 1 converts the sound output from the speaker 11 of the device under test 2, the sampler 22 that performs A / D (Analog / Digital) conversion of the sound of the microphone 21, and the sampler 22. And a storage device 23 for storing a waveform signal of audio data. Further, the audio output inspection device 1 includes a calculation unit 24 that determines data processing and pass / fail of the device under test 2, and a storage device 25. The storage device 25 stores a second inspection sound source 26 (second waveform signal) used for data processing. The second inspection sound source 26 includes the same waveform signal as that of the first inspection sound source 15.

次に、図2の機能ブロック図を参照して演算部24について説明する。
頭出し信号検出部31は、被試験体2から取得した音声データの波形信号に含まれる頭出し信号を検出する。頭出し信号検出部31で頭出し信号を除去した波形信号は、記憶装置32に出力される。記憶装置32は、波形信号を一時的に保管可能で、その出力は第1の同期トーン抽出器33と、第1の同期トーン除去器34とに接続されている。第1の同期トーン抽出器33は、波形信号から同期トーンを抽出する。第1の同期トーン除去器34は、波形信号から同期トーンを除去する。
Next, the calculation unit 24 will be described with reference to the functional block diagram of FIG.
The cue signal detector 31 detects a cue signal included in the waveform signal of the audio data acquired from the DUT 2. The waveform signal from which the cue signal has been removed by the cue signal detector 31 is output to the storage device 32. The storage device 32 can temporarily store the waveform signal, and its output is connected to the first sync tone extractor 33 and the first sync tone remover 34. The first sync tone extractor 33 extracts a sync tone from the waveform signal. The first sync tone remover 34 removes the sync tone from the waveform signal.

一方、第2の検査音源26からは、第2の同期トーン抽出器35と、第2の同期トーン除去器36とに接続されている。第2の同期トーン抽出器35は、第2の検査音源26から同期トーンを抽出する。第2の同期トーン除去器36は、第2の検査音源26から同期トーンを除去する。   On the other hand, the second inspection sound source 26 is connected to a second synchronization tone extractor 35 and a second synchronization tone remover 36. The second synchronization tone extractor 35 extracts a synchronization tone from the second inspection sound source 26. The second sync tone remover 36 removes the sync tone from the second inspection sound source 26.

第1の同期トーン抽出器33及び第2の同期トーン抽出器35の出力は、ドップラー比抽出器37に接続されている。ドップラー比抽出器37は、後述する処理によってドップラーシフト量を算出する。ドップラーシフト量は、波形復元器38に出力される。
波形復元器38は、ドップラーシフト量に加えて、第1の同期トーン除去器34から波形信号が入力され、ドップラー効果をキャンセルした波形信号を復元する。波形復元器38の出力は、相互相関演算器39に接続されている。
相互相関演算器39には、第2の同期トーン除去器36の出力も接続されている。相互相関演算器39では、波形復元器38で復元した波形信号の波形と、同期トーンを除去した第2の検査音源26の波形との相互相関を演算する。相互相関演算器39の出力は、合否判定部40に接続されている。
合否判定部40は、相互相関演算器39の演算結果に基づいて被試験体2の良否を判定し、結果を出力するように構成されている。
The outputs of the first sync tone extractor 33 and the second sync tone extractor 35 are connected to a Doppler ratio extractor 37. The Doppler ratio extractor 37 calculates a Doppler shift amount by a process described later. The Doppler shift amount is output to the waveform restoring unit 38.
The waveform restoring unit 38 receives the waveform signal from the first synchronous tone remover 34 in addition to the Doppler shift amount, and restores the waveform signal in which the Doppler effect is canceled. The output of the waveform restoring unit 38 is connected to a cross correlation calculator 39.
The output of the second synchronous tone remover 36 is also connected to the cross correlation calculator 39. The cross-correlation calculator 39 calculates the cross-correlation between the waveform of the waveform signal restored by the waveform restorer 38 and the waveform of the second inspection sound source 26 from which the sync tone has been removed. The output of the cross-correlation calculator 39 is connected to the pass / fail determination unit 40.
The pass / fail determination unit 40 is configured to determine pass / fail of the device under test 2 based on the calculation result of the cross-correlation calculator 39 and output the result.

次に、図3のフローチャートを参照して音声出力検査装置1の処理について説明する。
ステップS101では、被試験体2の記憶装置14に記憶されている検査音声をスピーカ11で出力させる。続くステップS102では、音声出力検査装置1がマイク21を用いて被試験体2のスピーカ11から出力した音声を収集し、サンプラー22で収集した音声のアナログ信号をA/D変換する。さらに、A/D変換後のデジタルの波形信号を記憶器23に記憶する。
Next, processing of the audio output inspection apparatus 1 will be described with reference to the flowchart of FIG.
In step S <b> 101, the inspection sound stored in the storage device 14 of the device under test 2 is output from the speaker 11. In subsequent step S102, the sound output inspection apparatus 1 collects the sound output from the speaker 11 of the device under test 2 using the microphone 21, and A / D converts the analog signal of the sound collected by the sampler 22. Further, the digital waveform signal after A / D conversion is stored in the storage device 23.

ステップS103では、まず、波形信号が演算部24に入力される。演算部24では、頭出し信号検出器31が波形信号の先端部分に設けられている頭出し信号を検出し、頭出し信号を除去し、検査に必要な部分のみの波形信号を抽出する。抽出された波形信号(以下、第1の試験信号という)は、記憶装置32に記憶される。この後のステップS104では、第1の同期トーン抽出器33で第1の試験信号に含まれる同期トーン(受話同期トーン)を抽出する。一方、ステップS105では、第1の同期トーン除去器34で、第1の試験信号から受話同期トーンを除去する。   In step S <b> 103, first, a waveform signal is input to the calculation unit 24. In the calculation unit 24, the cue signal detector 31 detects a cue signal provided at the front end portion of the waveform signal, removes the cue signal, and extracts the waveform signal of only the portion necessary for the examination. The extracted waveform signal (hereinafter referred to as the first test signal) is stored in the storage device 32. In subsequent step S104, the first synchronization tone extractor 33 extracts the synchronization tone (received synchronization tone) included in the first test signal. On the other hand, in step S105, the first sync tone remover 34 removes the received sync tone from the first test signal.

一方、ステップS106では、演算部24が、記憶装置25に記憶されている第2の検査音源26の波形信号(以下、基準試験信号という)を読み込む。続いて、ステップS107で、第2の同期トーン抽出器35で基準試験信号に含まれる同期トーン(基準同期トーン)を抽出する。一方、ステップS108で、第2の同期トーン除去器36が、基準試験信号から基準側同期トーンを除去する。   On the other hand, in step S <b> 106, the calculation unit 24 reads a waveform signal (hereinafter referred to as a reference test signal) of the second inspection sound source 26 stored in the storage device 25. Subsequently, in step S107, the second synchronization tone extractor 35 extracts a synchronization tone (reference synchronization tone) included in the reference test signal. On the other hand, in step S108, the second sync tone remover 36 removes the reference side sync tone from the reference test signal.

さらに、ステップS109では、ドップラー比抽出器37に受話同期トーン及び基準同期トーンが入力され、音声出力検査装置1の検査音源26の基準同期トーンに対する受話同期トーンの周波数変動量、即ちドップラーシフト量を抽出する。ステップS110では、ドップラーシフト量を使用し、ステップS105で受話同期トーンを除去した受話試験信号を補正し、周波数変調による変調を修正する。   Further, in step S109, the reception synchronization tone and the reference synchronization tone are input to the Doppler ratio extractor 37, and the frequency fluctuation amount of the reception synchronization tone with respect to the reference synchronization tone of the inspection sound source 26 of the audio output inspection apparatus 1, that is, the Doppler shift amount is calculated. Extract. In step S110, the Doppler shift amount is used, the reception test signal from which the reception synchronization tone is removed in step S105 is corrected, and the modulation by frequency modulation is corrected.

この後、ステップS111で、補正した受話試験信号と、音声出力検査装置1が保有する第2の検査音源26に基づく基準試験信号を使用し、相互相関演算部39が相互相関演算を行う。続いて、ステップS112で、合否判定部40が相互相関の演算結果に基づいて、被試験体2の良否判定を行う。具体的には、相互相関の演算結果と、予め定められた合否スライスレベルとを比較する。例えば、被試験体2のスピーカ11から出力される音声に異常があれば、補正した受話試験信号と、基準試験信号の一致度が低くなるので、相互相関の演算結果の値が小さくなり、合否スライスレベルを下回る。この場合、合否判定部40は、その被試験体2を不良品と判定する。これに対し、被試験体2のスピーカ11から出力される音声が設計通りであれば、補正した受話試験信号と、基準試験信号の一致度が高くなるので、相互相関の演算結果の値が大きくなり、合否スライスレベル以上になる。この場合、合否判定部40は、その被試験体2を良品と判定する。   Thereafter, in step S111, the cross-correlation calculation unit 39 performs cross-correlation calculation using the corrected reception test signal and the reference test signal based on the second inspection sound source 26 possessed by the audio output inspection apparatus 1. Subsequently, in step S112, the pass / fail determination unit 40 determines pass / fail of the device under test 2 based on the calculation result of the cross correlation. Specifically, the calculation result of the cross correlation is compared with a predetermined pass / fail slice level. For example, if the sound output from the speaker 11 of the device under test 2 is abnormal, the degree of coincidence between the corrected reception test signal and the reference test signal is low, so that the value of the calculation result of the cross-correlation becomes small, and pass / fail Below slice level. In this case, the pass / fail determination unit 40 determines that the DUT 2 is a defective product. On the other hand, if the sound output from the speaker 11 of the device under test 2 is as designed, the degree of coincidence between the corrected reception test signal and the reference test signal is high, and the value of the calculation result of the cross correlation is large. It becomes more than pass / fail slice level. In this case, the pass / fail determination unit 40 determines that the DUT 2 is a non-defective product.

ここで、波形信号の具体例について説明する。
図4に第1の検査音源15の信号波形の一例を示す。図4(a)は、波形信号の信号波形の全体と、波形信号から抽出される各信号を示す。図4(b)は、図4(a)の信号波形の領域AR1を拡大して示す図である。波形信号Sは、第1の検査音源15に記憶されている波形信号に相当する。信号波形Sは、最初に頭出し信号S2を有し、この後に、検査用チャープである基準試験信号S3に基準同期トーン信号S4を重畳させた信号が続いている。頭出し信号S2の周波数は、例えば、1kHzである。基準試験信号S3の周波数は、例えば、100Hz〜10kHzである。また、基準同期トーン信号S4は、24kHzである。
Here, a specific example of the waveform signal will be described.
FIG. 4 shows an example of the signal waveform of the first inspection sound source 15. FIG. 4A shows the entire signal waveform of the waveform signal and each signal extracted from the waveform signal. FIG. 4B is an enlarged view showing the area AR1 of the signal waveform of FIG. The waveform signal S corresponds to the waveform signal stored in the first inspection sound source 15. The signal waveform S first has a cue signal S2, followed by a signal obtained by superimposing a reference synchronization tone signal S4 on a reference test signal S3 which is a chirp for inspection. The frequency of the cue signal S2 is, for example, 1 kHz. The frequency of the reference test signal S3 is, for example, 100 Hz to 10 kHz. The reference synchronization tone signal S4 is 24 kHz.

試験時には、波形信号Sに相当する音声がスピーカ11から出力されるが、音声出力検査装置1のマイク21にはドップラー効果によって周波数が変調した音声が収集される。即ち、波形信号Sが周波数変調したデータが音声出力検査装置1の記憶器23に入力される。
また、波形信号Sから頭出し信号S2を除去した残りの基準試験信号S3+基準同期トーン信号S4の信号は、基準試験信号として音声出力検査装置1の第2の検査音源26(第2の波形信号)に保存されている。なお、第2の検査音源は、図4(a)に示す頭出し信号を有しても良い。
During the test, sound corresponding to the waveform signal S is output from the speaker 11, but sound whose frequency is modulated by the Doppler effect is collected in the microphone 21 of the sound output inspection apparatus 1. That is, data obtained by frequency-modulating the waveform signal S is input to the storage device 23 of the audio output inspection apparatus 1.
Further, the remaining reference test signal S3 + reference synchronization tone signal S4 obtained by removing the cue signal S2 from the waveform signal S is used as the second test sound source 26 (second waveform signal) of the voice output test apparatus 1 as the reference test signal. ). Note that the second inspection sound source may have a cueing signal shown in FIG.

次に、図4に示すような波形信号を使用したデータ処理の具体例について説明する。
被試験体2の検査は、例えば、搬送装置3の搬送速度を2m/秒、スピーカ11からマイク21までの高さは0.3m、搬送方向に直交する方向のスピーカ11とマイク21のオフセット量は0.2mとなる条件で実行する。このように被試験体2を移動させながらスピーカ11から図4に示す波形信号Sに相当する音声を出力する。被試験体2が移動しているため、音声出力検査装置1のマイク21で検出される信号は、図4に示す波形信号Sではなく、波形信号Sが周波数変動することによって形成される波形信号SWになる。
Next, a specific example of data processing using a waveform signal as shown in FIG. 4 will be described.
Inspecting the device under test 2 includes, for example, a conveyance speed of the conveyance device 3 of 2 m / second, a height from the speaker 11 to the microphone 21 of 0.3 m, and an offset amount between the speaker 11 and the microphone 21 in a direction orthogonal to the conveyance direction. Is executed under the condition of 0.2 m. The sound corresponding to the waveform signal S shown in FIG. 4 is output from the speaker 11 while moving the device under test 2 in this way. Since the device under test 2 is moving, the signal detected by the microphone 21 of the audio output inspection apparatus 1 is not the waveform signal S shown in FIG. 4 but a waveform signal formed by the frequency fluctuation of the waveform signal S. It becomes SW.

波形信号SWは、サンプラー22でA/D変換後に記憶器23に入力される。さらに、波形信号SWは、記憶器23から頭出し信号検出器31に入力される。頭出し信号検出部31では、頭出し信号S2を除去した第1の波形信号S3W+S4Wが抽出される。第1の波形信号S3W+S4Wは、図4(a)に示す波形信号S3+S4がドップラー効果によって周波数変動したものである。第1の波形信号S3W+S4Wは、一旦、記憶装置32に格納され、第1の同期トーン抽出器33によって受話同期トーン信号S4Wが抽出されると共に、第1の同期トーン除去器34によって受話試験信号S3Wが抽出される。受話試験信号S3W及び受話同期トーン信号S4Wは、共に図4(a)にそれぞれ示す基準試験信号S3及び基準同期トーン信号S4がドップラー効果によって周波数変動したものである。   The waveform signal SW is input to the storage device 23 after A / D conversion by the sampler 22. Further, the waveform signal SW is input from the storage device 23 to the cue signal detector 31. The cue signal detection unit 31 extracts the first waveform signal S3W + S4W from which the cue signal S2 has been removed. The first waveform signal S3W + S4W is obtained by changing the frequency of the waveform signal S3 + S4 shown in FIG. 4A due to the Doppler effect. The first waveform signal S3W + S4W is temporarily stored in the storage device 32, and the reception synchronization tone signal S4W is extracted by the first synchronization tone extractor 33, and the reception test signal S3W by the first synchronization tone remover 34. Is extracted. Both the reception test signal S3W and the reception synchronization tone signal S4W are obtained by changing the frequency of the reference test signal S3 and the reference synchronization tone signal S4 shown in FIG. 4A due to the Doppler effect.

一方、音声出力検査装置1の記憶装置25の第2の検査音源26からは、本来の信号S3+S4が得られる。この信号S3+S4からは、第2の同期トーン抽出器35によって基準同期トーン信号S4が抽出されると共に、第1の同期トーン除去器36によって基準試験信号S3が抽出される。   On the other hand, the original signal S3 + S4 is obtained from the second inspection sound source 26 of the storage device 25 of the audio output inspection apparatus 1. From this signal S3 + S4, the second sync tone extractor 35 extracts the reference sync tone signal S4, and the first sync tone remover 36 extracts the reference test signal S3.

続いて、周波数変動していない基準同期トーン信号S4と、被試験体2から出力された受話同期トーン信号S4Wとからドップラー比抽出器37がドップラーシフト量を算出する。さらに、波形復元器38では、被試験体2から出力された受話試験信号S3Wをドップラーシフト量で逆変調し、被試験体2から出力された波形信号Sdを復元する。
そして、復元した波形信号Sdと、周波数変調していないオリジナルの基準試験信号S3の相関を相互相関演算器39で調べ、被試験体2を評価する。
Subsequently, the Doppler ratio extractor 37 calculates the Doppler shift amount from the reference synchronization tone signal S4 that does not fluctuate in frequency and the reception synchronization tone signal S4W output from the DUT 2. Further, the waveform restoring unit 38 inversely modulates the reception test signal S3W outputted from the device under test 2 by the Doppler shift amount, and restores the waveform signal Sd outputted from the device under test 2.
Then, the cross-correlation calculator 39 checks the correlation between the restored waveform signal Sd and the original reference test signal S3 that is not frequency-modulated, and evaluates the device under test 2.

ここで、図6を参照し、ドップラー比抽出器37及び波形復元器38の回路構成及び処理の具体例について説明する。
ドップラー比抽出器37は、同期トーン信号S4Wが入力される第1の論理回路51と、第2の論理回路52を有する。また、基準同期トーンS4は、π/4移相器53を介して第1の論理回路51に入力されると共に、第2の論理回路52に入力される。第1の論理回路51の出力は、ローパスフィルタ55を経て論理回路57に入力される。一方、第2の論理回路52の出力は、ローパスフィルタ56を経て論理回路57に入力される。そして、論理回路57で、第1の論理回路51の出力から第2の論理回路52の出力を減算することによってドップラーシフト量が算出される。
A specific example of the circuit configuration and processing of the Doppler ratio extractor 37 and the waveform restorer 38 will be described with reference to FIG.
The Doppler ratio extractor 37 includes a first logic circuit 51 to which the synchronization tone signal S4W is input and a second logic circuit 52. The reference synchronization tone S4 is input to the first logic circuit 51 through the π / 4 phase shifter 53 and also input to the second logic circuit 52. The output of the first logic circuit 51 is input to the logic circuit 57 through the low pass filter 55. On the other hand, the output of the second logic circuit 52 is input to the logic circuit 57 through the low-pass filter 56. Then, the logic circuit 57 calculates the Doppler shift amount by subtracting the output of the second logic circuit 52 from the output of the first logic circuit 51.

例えば、図7に信号波形の一例の一部を重ねて示すように、受話同期トーンS4Wは、基準同期トーンS4に対して移送がずれている。図7の例では、受話同期トーンS4Wが基準同期トーンS4に対して移送が進んでいる。そして、これら2つの同期トーンS4,S4Wを用いて計算を行うことにより、図8に示すようなドップラーシフト量が算出される。図8は、横軸が時間を示し、縦軸が位相差検出結果、即ちドップラーシフト量を示している。   For example, as shown in FIG. 7 with a part of an example of the signal waveform overlapped, the reception synchronization tone S4W is shifted from the reference synchronization tone S4. In the example of FIG. 7, the incoming sync tone S4W is moving more than the reference sync tone S4. Then, by performing calculations using these two synchronization tones S4 and S4W, a Doppler shift amount as shown in FIG. 8 is calculated. In FIG. 8, the horizontal axis indicates time, and the vertical axis indicates the phase difference detection result, that is, the Doppler shift amount.

また、図6に示すように、波形復元器38では、ドップラーシフト量が入力されると、符号判定器61で符号を判定させた後、第1の論理回路62と第2の論理回路63に入力される。第1の論理回路62には、受話試験信号S3Wがπ/4移相器64を介して入力される。一方、第2の論理回路62には、受話試験信号S3Wがそのまま入力される。第1の論理回路62の出力は、ローパスフィルタ65を経て論理回路67に入力される。一方、第2の論理回路63の出力は、ローパスフィルタ66を経て論理回路67に入力される。そして、論理回路67で、第1の論理回路62の出力から第2の論理回路63の出力を減算することによって受話試験信号S3Wが周波数補正され、受話試験信号Sdが得られる。なお、ドップラー比抽出器37及び波形復元器38の回路構成や信号処理のアルゴリズムは図7に示す例に限定されない。また、波形復元器38は、同期トーンS4Wが重畳された第1の波形信号(S3W+S4W)の周波数変動を補正しても良い。   Further, as shown in FIG. 6, when the Doppler shift amount is input to the waveform restoring unit 38, the sign determining unit 61 determines the sign, and then the first logic circuit 62 and the second logic circuit 63 are used. Entered. The reception test signal S3W is input to the first logic circuit 62 via the π / 4 phase shifter 64. On the other hand, the reception test signal S3W is input to the second logic circuit 62 as it is. The output of the first logic circuit 62 is input to the logic circuit 67 through the low pass filter 65. On the other hand, the output of the second logic circuit 63 is input to the logic circuit 67 through the low-pass filter 66. Then, the logic circuit 67 subtracts the output of the second logic circuit 63 from the output of the first logic circuit 62, thereby correcting the frequency of the reception test signal S3W and obtaining the reception test signal Sd. The circuit configurations and signal processing algorithms of the Doppler ratio extractor 37 and the waveform restoration unit 38 are not limited to the example shown in FIG. In addition, the waveform restorer 38 may correct the frequency variation of the first waveform signal (S3W + S4W) on which the synchronization tone S4W is superimposed.

ここで、周波数の補正前後の受話試験信号S3W,Sdの一例を図9に示す。ドップラーシフト量を用いて周波数を補正することによって、受話試験信号S3Wの位相が補正され、被試験体2のスピーカ11から実際に出力された受話試験信号Sdが得られる。受話試験信号Sdは、被試験体2の移動に伴う波形信号のドップラーシフトの影響を無効化したもので、被試験体2が移動していない状態で試験を行った場合にマイク21で収集される波形信号に相当する。   Here, an example of the reception test signals S3W and Sd before and after the frequency correction is shown in FIG. By correcting the frequency using the Doppler shift amount, the phase of the reception test signal S3W is corrected, and the reception test signal Sd actually output from the speaker 11 of the device under test 2 is obtained. The reception test signal Sd is obtained by invalidating the influence of the Doppler shift of the waveform signal accompanying the movement of the device under test 2 and is collected by the microphone 21 when the test is performed without the device under test 2 moving. This corresponds to a waveform signal.

次に、図3のステップS111に示す相互相関演算の一例を説明する
相互相関演算は、相互相関演算器39が、2つの波形の瞬間値の積を取ってその総和を算出することによって得られる。相互相関は、例えば、以下の式で算出される。
Next, an example of the cross-correlation calculation shown in step S111 of FIG. 3 will be described. The cross-correlation calculation is obtained by the cross-correlation calculator 39 taking the product of the instantaneous values of the two waveforms and calculating the sum. . The cross-correlation is calculated by the following formula, for example.

Figure 0006136628
Figure 0006136628

ここで、xは、基準試験信号の波形のデータを示す。yは、ドップラーシフトを除去した受話試験信号Sdのデータを示す。Nは、データ列の長さを示す。mは、想定される初期位相のズレ量を示す。例えば、図10の例では、時間1における基準試験信号S3の瞬間値xと、同時刻の受話試験信号S3dの瞬間値yとの積x×yを算出する。同様に、時間2においても積x×yを算出する。そして、これら積の総和を算出することによって相互相関値が得られる。そして、前記したように、合否判定部40が相互相関値と合否スライスレベルとを比較して被試験体2の良否を判定する。 Here, xn indicates waveform data of the reference test signal. y n denotes the data of the received test signal Sd removing the Doppler shift. N indicates the length of the data string. m represents an assumed initial phase shift amount. For example, in the example of FIG. 10, the product x 1 × y 1 of the instantaneous value x 1 of the reference test signal S3 at time 1 and the instantaneous value y 1 of the reception test signal S3d at the same time is calculated. Similarly, at time 2, the product x 2 × y 2 is calculated. A cross-correlation value is obtained by calculating the sum of these products. Then, as described above, the pass / fail determination unit 40 compares the cross-correlation value with the pass / fail slice level to determine pass / fail of the device under test 2.

以上、説明したように、この実施の形態では、移動中の被試験体2から収集した第1の波形信号を第2の波形信号で補正することにより、被試験体2の移動によって生じるドップラーシフトを補正するようにした。これによって、被試験体2の位置や移動速度を計測するセンサを設けなくても第1の波形信号のドップラーシフト量の検出と、ドップラーシフトの補正が可能になる。その結果、相互相関演算による被試験体2の試験が可能になり、サンプル長と試験精度のトレードオフの関係が改善され、被試験体2を移動させながら音声出力の試験が行えるようになる。   As described above, in this embodiment, the first waveform signal collected from the moving test object 2 is corrected with the second waveform signal, so that the Doppler shift caused by the movement of the test object 2 is performed. Was corrected. This makes it possible to detect the Doppler shift amount of the first waveform signal and correct the Doppler shift without providing a sensor for measuring the position and moving speed of the DUT 2. As a result, the test of the device under test 2 by cross-correlation calculation becomes possible, the relationship between the sample length and the test accuracy is improved, and the sound output test can be performed while moving the device under test 2.

ここで挙げた全ての例及び条件的表現は、発明者が技術促進に貢献した発明及び概念を読者が理解するのを助けるためのものであり、ここで具体的に挙げたそのような例及び条件に限定することなく解釈するものであり、また、明細書におけるそのような例の編成は本発明の優劣を示すこととは関係ない。本発明の実施形態を詳細に説明したが、本発明の精神及び範囲から逸脱することなく、それに対して種々の変更、置換及び変形を施すことができる。   All examples and conditional expressions given here are intended to help the reader understand the inventions and concepts that have contributed to the promotion of technology, and such examples and It is to be construed without being limited to the conditions, and the organization of such examples in the specification is not related to showing the superiority or inferiority of the invention. While embodiments of the present invention have been described in detail, various changes, substitutions and variations can be made thereto without departing from the spirit and scope of the present invention.

1 音声出力試験装置
2 被試験体
11 スピーカ
21 マイクロフォン
15 第1の検査音源
25 記憶装置
26 第2の検査音源
37 ドップラー比抽出器
38 波形復元器
39 相互相関演算器
40 合否判定部
S3+S4 第2の波形信号
S3W+S4W 第1の波形信号
S4 基準同期トーン
S4W 受話同期トーン
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Audio | voice output test apparatus 2 Test object 11 Speaker 21 Microphone 15 1st test | inspection sound source 25 Memory | storage device 26 2nd test | inspection sound source 37 Doppler ratio extractor 38 Waveform decompressor 39 Cross correlation calculator 40 Pass / fail judgment part S3 + S4 2nd Waveform signal S3W + S4W First waveform signal S4 Reference synchronization tone S4W Reception synchronization tone

Claims (5)

移動中の被試験体が有する波形信号に基づいてスピーカから出力させた音声を収集し、第1の波形信号を取得するマイクロフォンと、
前記マイクロフォンで収集した前記第1の波形信号と、前記被試験体が有する前記波形信号と同じ波形を含む第2の波形信号とを比較し、前記第2の波形信号に対する前記第1の波形信号のドップラーシフト量を算出するドップラー比抽出器と、
前記ドップラーシフト量を用いて前記第1の波形信号の周波数変動を補正する波形復元器と、
前記波形復元器で復元した前記第1の波形信号と前記第2の波形信号の相互相関値を演算する相互相関演算器と、
前記相互相関値が予め定められた閾値以上であった場合に、前記被試験体の前記スピーカを正常と判定する合否判定部と、
を含むことを特徴とする移動する被試験体の音声出力検査装置。
A microphone that collects the sound output from the speaker based on the waveform signal of the moving device under test and acquires the first waveform signal;
The first waveform signal collected by the microphone is compared with a second waveform signal including the same waveform as the waveform signal of the device under test, and the first waveform signal with respect to the second waveform signal is compared. A Doppler ratio extractor for calculating the amount of Doppler shift of
A waveform restorer that corrects frequency fluctuations of the first waveform signal using the Doppler shift amount;
A cross-correlation calculator for calculating a cross-correlation value between the first waveform signal and the second waveform signal restored by the waveform restorer;
When the cross-correlation value is equal to or greater than a predetermined threshold, a pass / fail determination unit that determines that the speaker of the device under test is normal;
A sound output inspection device for a moving subject to be tested, comprising:
前記第1の波形信号及び前記第2の波形信号には、波形信号の同期を取るための同期トーンが含まれており、
前記ドップラー比抽出器は、前記第1の波形信号及び前記第2の波形信号のそれぞれに含まれる同期トーンの位相シフト量からドップラーシフト量を算出するように構成したことを特徴とする請求項1に記載の移動する被試験体の音声出力検査装置。
The first waveform signal and the second waveform signal include a synchronization tone for synchronizing the waveform signal,
2. The Doppler ratio extractor is configured to calculate a Doppler shift amount from a phase shift amount of a synchronous tone included in each of the first waveform signal and the second waveform signal. 2. An apparatus for inspecting a moving object under test as described in 1.
前記第2の波形信号を記憶する記憶装置25を有することを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の移動する被試験体の音声出力検査装置。   The voice output inspection apparatus for a moving object under test according to claim 1 or 2, further comprising a storage device (25) for storing the second waveform signal. 移動中の被試験体が有する波形信号に基づいてスピーカから出力された音声を収集し、第1の波形信号を取得する工程と、
前記第1の波形信号と、前記被試験体が有する前記波形信号と同じ波形を含む第2の波形信号との間のドップラーシフト量を算出し、
前記ドップラーシフト量から前記第1の波形信号のドップラーシフトを補正する工程と、
補正した前記第1の波形信号と記第2の波形信号の相互相関値を演算する工程と、
前記相互相関値が予め定められた閾値以上であった場合に、前記被試験体の前記スピーカを正常と判定する工程と、
を含むことを特徴とする移動する被試験体の音声出力検査方法。
Collecting the sound output from the speaker based on the waveform signal of the moving device under test, and acquiring the first waveform signal;
Calculating a Doppler shift amount between the first waveform signal and a second waveform signal including the same waveform as the waveform signal of the DUT;
Correcting the Doppler shift of the first waveform signal from the Doppler shift amount;
Calculating a cross-correlation value between the corrected first waveform signal and the second waveform signal;
A step of determining that the speaker of the device under test is normal when the cross-correlation value is equal to or greater than a predetermined threshold;
A method for inspecting a moving object under test, comprising:
前記第1の波形信号及び前記第2の波形信号には、波形信号の同期を取るための同期トーンが含まれており、
前記第1の波形信号及び前記第2の波形信号のそれぞれに含まれる同期トーンの位相シフト量からドップラーシフト量を算出することを特徴とする請求項4に記載の移動する被試験体の音声出力検査方法。
The first waveform signal and the second waveform signal include a synchronization tone for synchronizing the waveform signal,
5. The voice output of the moving test object according to claim 4, wherein a Doppler shift amount is calculated from a phase shift amount of a synchronous tone included in each of the first waveform signal and the second waveform signal. Inspection method.
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CN111192447A (en) * 2020-01-08 2020-05-22 国网上海市电力公司 Transformer substation voiceprint detection and identification device, method and system based on Internet of things

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5973737A (en) * 1982-10-20 1984-04-26 Matsushita Electric Ind Co Ltd Speaker system inspecting apparatus
JP2004193782A (en) * 2002-12-09 2004-07-08 Toa Corp Method of measuring sound wave propagation time between speaker and microphone, and apparatus thereof
JP2009302804A (en) * 2008-06-12 2009-12-24 Sony Corp Sound processing unit, and sound processing method
JP5835039B2 (en) * 2012-03-16 2015-12-24 富士通株式会社 Volume correction method and sound test apparatus
JP5845991B2 (en) * 2012-03-19 2016-01-20 富士通株式会社 Speaker inspection device
JP5938771B2 (en) * 2012-08-27 2016-06-22 富士通株式会社 Test method and test apparatus

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