JP6136628B2 - Apparatus and method for inspecting sound output of device under test - Google Patents
Apparatus and method for inspecting sound output of device under test Download PDFInfo
- Publication number
- JP6136628B2 JP6136628B2 JP2013132271A JP2013132271A JP6136628B2 JP 6136628 B2 JP6136628 B2 JP 6136628B2 JP 2013132271 A JP2013132271 A JP 2013132271A JP 2013132271 A JP2013132271 A JP 2013132271A JP 6136628 B2 JP6136628 B2 JP 6136628B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- waveform signal
- waveform
- signal
- under test
- test
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Circuit For Audible Band Transducer (AREA)
Description
本発明は、被試験体の音声出力検査装置及びその方法に関する。 The present invention relates to a sound output inspection apparatus and method for a device under test.
コンピュータや携帯電話などのように、スピーカを有するワークの製造工程では、スピーカから実際に音を出力し、その音を検査装置のマイクロフォンで集音してスペクトラム解析することによって周波数特性やノイズ、音割れ等を計測することによってスピーカの動作確認をしている。 In the manufacturing process of a workpiece with a speaker such as a computer or a mobile phone, the frequency characteristics, noise, and sound are output by actually outputting sound from the speaker, collecting the sound with a microphone of the inspection device, and performing spectrum analysis. The operation of the speaker is checked by measuring cracks and the like.
ところで、近年では、生産効率の向上を目的として短時間でスピーカの試験を行うことが要求されている。しかしながら、スペクトラム解析によるスピーカの試験方法では、サンプル長さと検査精度がトレードオフの関係にあるので、検査精度を保証するために検査時間を長く設定しなければならなかった。 In recent years, it has been required to test a speaker in a short time for the purpose of improving production efficiency. However, in the speaker testing method based on spectrum analysis, since the sample length and the inspection accuracy are in a trade-off relationship, the inspection time has to be set long in order to guarantee the inspection accuracy.
ここで、マイクロフォンで収集した信号と、本来スピーカから出力されるはずの信号の相互相関を演算すると、短時間にスピーカの試験が可能になる。しかしながら、生産効率を向上させるためにワークを搬送装置で搬送しながらスピーカを検査すると、音源であるスピーカを搬送装置で移動させながら試験することになるので、マイクロフォンで収集する音声がドップラーシフトによる周波数変動を起こしてしまい、正しい音声データを収集することができなかった。特に、搬送装置の搬送速度が大きくなると、ドップラーシフトが大きくなるのでワークの正確な検査が困難になる。ドップラーシフトを補正するためには、ワークの位置や移動速度を計測するセンサが必要にあるが、これらのセンサは検査装置の装置構成を複雑化させる原因になる。 Here, if the cross-correlation between the signal collected by the microphone and the signal that is supposed to be output from the speaker is calculated, the speaker can be tested in a short time. However, if the speaker is inspected while the work is being transported by the transport device in order to improve production efficiency, the sound source speaker will be tested while being moved by the transport device, so the sound collected by the microphone is the frequency due to the Doppler shift. It fluctuated and correct audio data could not be collected. In particular, when the transport speed of the transport device is increased, the Doppler shift is increased, which makes it difficult to accurately inspect the workpiece. In order to correct the Doppler shift, sensors for measuring the position and moving speed of the workpiece are required, but these sensors cause a complicated configuration of the inspection apparatus.
このために、ワークからの音声がドップラーシフトする場合でも、ワークの位置や速度を計測することなく、正確にワークの評価ができるようにすることが望まれていた。
そこで、1つの側面として、本発明では、ワークからの音声がドップラーシフトする場合でも、ワークの位置や速度を計測することなく、正確にワークの評価ができるようにすることを目的とする。
For this reason, it has been desired to accurately evaluate the workpiece without measuring the workpiece position and speed even when the voice from the workpiece is Doppler shifted.
Accordingly, as one aspect, an object of the present invention is to enable accurate evaluation of a workpiece without measuring the position and speed of the workpiece even when the sound from the workpiece is Doppler shifted.
実施形態の一観点によれば、移動中の被試験体が有する波形信号に基づいてスピーカから出力させた音声を収集し、第1の波形信号を取得するマイクロフォンと、前記マイクロフォンで収集した前記第1の波形信号と、前記被試験体が有する前記波形信号と同じ波形を含む第2の波形信号とを比較し、前記第2の波形信号に対する前記第1の波形信号のドップラーシフト量を算出するドップラー比抽出器と、前記ドップラーシフト量を用いて前記第1の波形信号の周波数変動を補正する波形復元器と、前記波形復元器で復元した前記第1の波形信号と前記第2の波形信号の相互相関値を演算する相互相関演算器と、前記相互相関値が予め定められた閾値以上であった場合に、前記被試験体の前記スピーカを正常と判定する合否判定部と、を含むことを特徴とする移動する被試験体の音声出力検査装置が提供される。
According to one aspect of the embodiment, a microphone that collects audio output from a speaker based on a waveform signal of a moving test subject and acquires a first waveform signal, and the first that is collected by the
また、実施形態の別の観点によれば、移動中の被試験体が有する波形信号に基づいてスピーカから出力された音声を収集し、第1の波形信号を取得する工程と、前記第1の波形信号と、前記被試験体が有する前記波形信号と同じ波形を含む第2の波形信号との間のドップラーシフト量を算出し、前記ドップラーシフト量から前記第1の波形信号のドップラーシフトを補正する工程と、補正した前記第1の波形信号と記第2の波形信号の相互相関値を演算する工程と、前記相互相関値が予め定められた閾値以上であった場合に、前記被試験体の前記スピーカを正常と判定する工程と、を含むことを特徴とする移動する被試験体の音声出力検査方法が提供される。 Further, according to another aspect of the embodiment, the step of collecting the sound output from the speaker based on the waveform signal of the moving test subject and acquiring the first waveform signal; A Doppler shift amount between the waveform signal and a second waveform signal including the same waveform as the waveform signal of the DUT is calculated, and the Doppler shift of the first waveform signal is corrected from the Doppler shift amount. A step of calculating a cross-correlation value between the corrected first waveform signal and the corrected second waveform signal, and the DUT when the cross-correlation value is equal to or greater than a predetermined threshold value. And a step of determining that the speaker is normal. A method for inspecting a moving object under test is provided.
被試験体の位置や移動速度を計測するセンサを設けることなく、サンプル長と試験精度のトレードオフの関係を改善でき、相互相関演算による被試験体の試験が可能になる。 Without providing a sensor for measuring the position and moving speed of the device under test, the relationship between the sample length and the test accuracy can be improved, and the device under test can be tested by cross-correlation calculation.
発明の目的及び利点は、請求の範囲に具体的に記載された構成要素及び組み合わせによって実現され達成される。
前述の一般的な説明及び以下の詳細な説明は、典型例及び説明のためのものであって、本発明を限定するためのものではない。
The objects and advantages of the invention will be realized and attained by means of the elements and combinations particularly pointed out in the appended claims.
The foregoing general description and the following detailed description are exemplary and explanatory only and are not intended to limit the invention.
最初に、実施形態の音声出力検査装置1の検査対象となる被試験体の構成について説明する。
ワークである被試験体2は、ベルトコンベアなどの搬送装置3によって矢印に示す方法に搬送される。被試験体2は、音声を出力するスピーカ11と、スピーカ11を制御するスピーカ制御装置12と、各種のデータ処理を行うCPU(Central Processing Unit)13と、データの記憶装置14とを含んで構成されている。このような被試験体2としては、例えば、ノートパソコンなどのコンピュータがある。この場合、被試験体2には、不図示の表示装置や、出力装置、データ入力装置や、通信制御装置などが必要に応じて付加される。また、被試験体2は、コンピュータ以外の装置でも良い。
Initially, the structure of the to-be-tested object used as the test object of the audio | voice output test |
A device under
さらに、記憶装置14には、第1の検査音源15が記憶されている。第1の検査音源15は、試験時にスピーカ11から音を出力させるための情報を有し、例えば、公知のファイル形式で記憶装置14に格納されている。
CPU13は、第1の検査音源15の読み出しや、第1の検査音源15のデータをスピーカ制御装置12に出力するように構成されている。
スピーカ制御装置12は、第1の検査音源15に基づく音声をスピーカ11から出力できるようにスピーカ11への電流供給を制御するように構成されている。
Further, the
The
The
次に、被試験体2を検査する音声出力検査装置1の構成について説明する。
音声出力検査装置1は、被試験体2のスピーカ11から出力された音声を収集するマイク21と、マイク21の音声をA/D(Analog/Digital)変換するサンプラー22と、サンプラー22で変換した音声データの波形信号を記憶する記憶器23とを有する。さらに、音声出力検査装置1は、データ処理と被試験体2の良否を判定する演算部24と、記憶装置25とを有する。記憶装置25には、データ処理に使用する第2の検査音源26(第2の波形信号)が保存されている。第2の検査音源26は、第1の検査音源15と同じ波形信号が含まれている。
Next, the configuration of the audio
The sound
次に、図2の機能ブロック図を参照して演算部24について説明する。
頭出し信号検出部31は、被試験体2から取得した音声データの波形信号に含まれる頭出し信号を検出する。頭出し信号検出部31で頭出し信号を除去した波形信号は、記憶装置32に出力される。記憶装置32は、波形信号を一時的に保管可能で、その出力は第1の同期トーン抽出器33と、第1の同期トーン除去器34とに接続されている。第1の同期トーン抽出器33は、波形信号から同期トーンを抽出する。第1の同期トーン除去器34は、波形信号から同期トーンを除去する。
Next, the
The
一方、第2の検査音源26からは、第2の同期トーン抽出器35と、第2の同期トーン除去器36とに接続されている。第2の同期トーン抽出器35は、第2の検査音源26から同期トーンを抽出する。第2の同期トーン除去器36は、第2の検査音源26から同期トーンを除去する。
On the other hand, the second
第1の同期トーン抽出器33及び第2の同期トーン抽出器35の出力は、ドップラー比抽出器37に接続されている。ドップラー比抽出器37は、後述する処理によってドップラーシフト量を算出する。ドップラーシフト量は、波形復元器38に出力される。
波形復元器38は、ドップラーシフト量に加えて、第1の同期トーン除去器34から波形信号が入力され、ドップラー効果をキャンセルした波形信号を復元する。波形復元器38の出力は、相互相関演算器39に接続されている。
相互相関演算器39には、第2の同期トーン除去器36の出力も接続されている。相互相関演算器39では、波形復元器38で復元した波形信号の波形と、同期トーンを除去した第2の検査音源26の波形との相互相関を演算する。相互相関演算器39の出力は、合否判定部40に接続されている。
合否判定部40は、相互相関演算器39の演算結果に基づいて被試験体2の良否を判定し、結果を出力するように構成されている。
The outputs of the first
The
The output of the second
The pass /
次に、図3のフローチャートを参照して音声出力検査装置1の処理について説明する。
ステップS101では、被試験体2の記憶装置14に記憶されている検査音声をスピーカ11で出力させる。続くステップS102では、音声出力検査装置1がマイク21を用いて被試験体2のスピーカ11から出力した音声を収集し、サンプラー22で収集した音声のアナログ信号をA/D変換する。さらに、A/D変換後のデジタルの波形信号を記憶器23に記憶する。
Next, processing of the audio
In step S <b> 101, the inspection sound stored in the
ステップS103では、まず、波形信号が演算部24に入力される。演算部24では、頭出し信号検出器31が波形信号の先端部分に設けられている頭出し信号を検出し、頭出し信号を除去し、検査に必要な部分のみの波形信号を抽出する。抽出された波形信号(以下、第1の試験信号という)は、記憶装置32に記憶される。この後のステップS104では、第1の同期トーン抽出器33で第1の試験信号に含まれる同期トーン(受話同期トーン)を抽出する。一方、ステップS105では、第1の同期トーン除去器34で、第1の試験信号から受話同期トーンを除去する。
In step S <b> 103, first, a waveform signal is input to the
一方、ステップS106では、演算部24が、記憶装置25に記憶されている第2の検査音源26の波形信号(以下、基準試験信号という)を読み込む。続いて、ステップS107で、第2の同期トーン抽出器35で基準試験信号に含まれる同期トーン(基準同期トーン)を抽出する。一方、ステップS108で、第2の同期トーン除去器36が、基準試験信号から基準側同期トーンを除去する。
On the other hand, in step S <b> 106, the
さらに、ステップS109では、ドップラー比抽出器37に受話同期トーン及び基準同期トーンが入力され、音声出力検査装置1の検査音源26の基準同期トーンに対する受話同期トーンの周波数変動量、即ちドップラーシフト量を抽出する。ステップS110では、ドップラーシフト量を使用し、ステップS105で受話同期トーンを除去した受話試験信号を補正し、周波数変調による変調を修正する。
Further, in step S109, the reception synchronization tone and the reference synchronization tone are input to the
この後、ステップS111で、補正した受話試験信号と、音声出力検査装置1が保有する第2の検査音源26に基づく基準試験信号を使用し、相互相関演算部39が相互相関演算を行う。続いて、ステップS112で、合否判定部40が相互相関の演算結果に基づいて、被試験体2の良否判定を行う。具体的には、相互相関の演算結果と、予め定められた合否スライスレベルとを比較する。例えば、被試験体2のスピーカ11から出力される音声に異常があれば、補正した受話試験信号と、基準試験信号の一致度が低くなるので、相互相関の演算結果の値が小さくなり、合否スライスレベルを下回る。この場合、合否判定部40は、その被試験体2を不良品と判定する。これに対し、被試験体2のスピーカ11から出力される音声が設計通りであれば、補正した受話試験信号と、基準試験信号の一致度が高くなるので、相互相関の演算結果の値が大きくなり、合否スライスレベル以上になる。この場合、合否判定部40は、その被試験体2を良品と判定する。
Thereafter, in step S111, the
ここで、波形信号の具体例について説明する。
図4に第1の検査音源15の信号波形の一例を示す。図4(a)は、波形信号の信号波形の全体と、波形信号から抽出される各信号を示す。図4(b)は、図4(a)の信号波形の領域AR1を拡大して示す図である。波形信号Sは、第1の検査音源15に記憶されている波形信号に相当する。信号波形Sは、最初に頭出し信号S2を有し、この後に、検査用チャープである基準試験信号S3に基準同期トーン信号S4を重畳させた信号が続いている。頭出し信号S2の周波数は、例えば、1kHzである。基準試験信号S3の周波数は、例えば、100Hz〜10kHzである。また、基準同期トーン信号S4は、24kHzである。
Here, a specific example of the waveform signal will be described.
FIG. 4 shows an example of the signal waveform of the first
試験時には、波形信号Sに相当する音声がスピーカ11から出力されるが、音声出力検査装置1のマイク21にはドップラー効果によって周波数が変調した音声が収集される。即ち、波形信号Sが周波数変調したデータが音声出力検査装置1の記憶器23に入力される。
また、波形信号Sから頭出し信号S2を除去した残りの基準試験信号S3+基準同期トーン信号S4の信号は、基準試験信号として音声出力検査装置1の第2の検査音源26(第2の波形信号)に保存されている。なお、第2の検査音源は、図4(a)に示す頭出し信号を有しても良い。
During the test, sound corresponding to the waveform signal S is output from the
Further, the remaining reference test signal S3 + reference synchronization tone signal S4 obtained by removing the cue signal S2 from the waveform signal S is used as the second test sound source 26 (second waveform signal) of the voice
次に、図4に示すような波形信号を使用したデータ処理の具体例について説明する。
被試験体2の検査は、例えば、搬送装置3の搬送速度を2m/秒、スピーカ11からマイク21までの高さは0.3m、搬送方向に直交する方向のスピーカ11とマイク21のオフセット量は0.2mとなる条件で実行する。このように被試験体2を移動させながらスピーカ11から図4に示す波形信号Sに相当する音声を出力する。被試験体2が移動しているため、音声出力検査装置1のマイク21で検出される信号は、図4に示す波形信号Sではなく、波形信号Sが周波数変動することによって形成される波形信号SWになる。
Next, a specific example of data processing using a waveform signal as shown in FIG. 4 will be described.
Inspecting the device under
波形信号SWは、サンプラー22でA/D変換後に記憶器23に入力される。さらに、波形信号SWは、記憶器23から頭出し信号検出器31に入力される。頭出し信号検出部31では、頭出し信号S2を除去した第1の波形信号S3W+S4Wが抽出される。第1の波形信号S3W+S4Wは、図4(a)に示す波形信号S3+S4がドップラー効果によって周波数変動したものである。第1の波形信号S3W+S4Wは、一旦、記憶装置32に格納され、第1の同期トーン抽出器33によって受話同期トーン信号S4Wが抽出されると共に、第1の同期トーン除去器34によって受話試験信号S3Wが抽出される。受話試験信号S3W及び受話同期トーン信号S4Wは、共に図4(a)にそれぞれ示す基準試験信号S3及び基準同期トーン信号S4がドップラー効果によって周波数変動したものである。
The waveform signal SW is input to the
一方、音声出力検査装置1の記憶装置25の第2の検査音源26からは、本来の信号S3+S4が得られる。この信号S3+S4からは、第2の同期トーン抽出器35によって基準同期トーン信号S4が抽出されると共に、第1の同期トーン除去器36によって基準試験信号S3が抽出される。
On the other hand, the original signal S3 + S4 is obtained from the second
続いて、周波数変動していない基準同期トーン信号S4と、被試験体2から出力された受話同期トーン信号S4Wとからドップラー比抽出器37がドップラーシフト量を算出する。さらに、波形復元器38では、被試験体2から出力された受話試験信号S3Wをドップラーシフト量で逆変調し、被試験体2から出力された波形信号Sdを復元する。
そして、復元した波形信号Sdと、周波数変調していないオリジナルの基準試験信号S3の相関を相互相関演算器39で調べ、被試験体2を評価する。
Subsequently, the
Then, the
ここで、図6を参照し、ドップラー比抽出器37及び波形復元器38の回路構成及び処理の具体例について説明する。
ドップラー比抽出器37は、同期トーン信号S4Wが入力される第1の論理回路51と、第2の論理回路52を有する。また、基準同期トーンS4は、π/4移相器53を介して第1の論理回路51に入力されると共に、第2の論理回路52に入力される。第1の論理回路51の出力は、ローパスフィルタ55を経て論理回路57に入力される。一方、第2の論理回路52の出力は、ローパスフィルタ56を経て論理回路57に入力される。そして、論理回路57で、第1の論理回路51の出力から第2の論理回路52の出力を減算することによってドップラーシフト量が算出される。
A specific example of the circuit configuration and processing of the
The
例えば、図7に信号波形の一例の一部を重ねて示すように、受話同期トーンS4Wは、基準同期トーンS4に対して移送がずれている。図7の例では、受話同期トーンS4Wが基準同期トーンS4に対して移送が進んでいる。そして、これら2つの同期トーンS4,S4Wを用いて計算を行うことにより、図8に示すようなドップラーシフト量が算出される。図8は、横軸が時間を示し、縦軸が位相差検出結果、即ちドップラーシフト量を示している。 For example, as shown in FIG. 7 with a part of an example of the signal waveform overlapped, the reception synchronization tone S4W is shifted from the reference synchronization tone S4. In the example of FIG. 7, the incoming sync tone S4W is moving more than the reference sync tone S4. Then, by performing calculations using these two synchronization tones S4 and S4W, a Doppler shift amount as shown in FIG. 8 is calculated. In FIG. 8, the horizontal axis indicates time, and the vertical axis indicates the phase difference detection result, that is, the Doppler shift amount.
また、図6に示すように、波形復元器38では、ドップラーシフト量が入力されると、符号判定器61で符号を判定させた後、第1の論理回路62と第2の論理回路63に入力される。第1の論理回路62には、受話試験信号S3Wがπ/4移相器64を介して入力される。一方、第2の論理回路62には、受話試験信号S3Wがそのまま入力される。第1の論理回路62の出力は、ローパスフィルタ65を経て論理回路67に入力される。一方、第2の論理回路63の出力は、ローパスフィルタ66を経て論理回路67に入力される。そして、論理回路67で、第1の論理回路62の出力から第2の論理回路63の出力を減算することによって受話試験信号S3Wが周波数補正され、受話試験信号Sdが得られる。なお、ドップラー比抽出器37及び波形復元器38の回路構成や信号処理のアルゴリズムは図7に示す例に限定されない。また、波形復元器38は、同期トーンS4Wが重畳された第1の波形信号(S3W+S4W)の周波数変動を補正しても良い。
Further, as shown in FIG. 6, when the Doppler shift amount is input to the
ここで、周波数の補正前後の受話試験信号S3W,Sdの一例を図9に示す。ドップラーシフト量を用いて周波数を補正することによって、受話試験信号S3Wの位相が補正され、被試験体2のスピーカ11から実際に出力された受話試験信号Sdが得られる。受話試験信号Sdは、被試験体2の移動に伴う波形信号のドップラーシフトの影響を無効化したもので、被試験体2が移動していない状態で試験を行った場合にマイク21で収集される波形信号に相当する。
Here, an example of the reception test signals S3W and Sd before and after the frequency correction is shown in FIG. By correcting the frequency using the Doppler shift amount, the phase of the reception test signal S3W is corrected, and the reception test signal Sd actually output from the
次に、図3のステップS111に示す相互相関演算の一例を説明する
相互相関演算は、相互相関演算器39が、2つの波形の瞬間値の積を取ってその総和を算出することによって得られる。相互相関は、例えば、以下の式で算出される。
Next, an example of the cross-correlation calculation shown in step S111 of FIG. 3 will be described. The cross-correlation calculation is obtained by the
ここで、xnは、基準試験信号の波形のデータを示す。ynは、ドップラーシフトを除去した受話試験信号Sdのデータを示す。Nは、データ列の長さを示す。mは、想定される初期位相のズレ量を示す。例えば、図10の例では、時間1における基準試験信号S3の瞬間値x1と、同時刻の受話試験信号S3dの瞬間値y1との積x1×y1を算出する。同様に、時間2においても積x2×y2を算出する。そして、これら積の総和を算出することによって相互相関値が得られる。そして、前記したように、合否判定部40が相互相関値と合否スライスレベルとを比較して被試験体2の良否を判定する。
Here, xn indicates waveform data of the reference test signal. y n denotes the data of the received test signal Sd removing the Doppler shift. N indicates the length of the data string. m represents an assumed initial phase shift amount. For example, in the example of FIG. 10, the product x 1 × y 1 of the instantaneous value x 1 of the reference test signal S3 at time 1 and the instantaneous value y 1 of the reception test signal S3d at the same time is calculated. Similarly, at
以上、説明したように、この実施の形態では、移動中の被試験体2から収集した第1の波形信号を第2の波形信号で補正することにより、被試験体2の移動によって生じるドップラーシフトを補正するようにした。これによって、被試験体2の位置や移動速度を計測するセンサを設けなくても第1の波形信号のドップラーシフト量の検出と、ドップラーシフトの補正が可能になる。その結果、相互相関演算による被試験体2の試験が可能になり、サンプル長と試験精度のトレードオフの関係が改善され、被試験体2を移動させながら音声出力の試験が行えるようになる。
As described above, in this embodiment, the first waveform signal collected from the moving
ここで挙げた全ての例及び条件的表現は、発明者が技術促進に貢献した発明及び概念を読者が理解するのを助けるためのものであり、ここで具体的に挙げたそのような例及び条件に限定することなく解釈するものであり、また、明細書におけるそのような例の編成は本発明の優劣を示すこととは関係ない。本発明の実施形態を詳細に説明したが、本発明の精神及び範囲から逸脱することなく、それに対して種々の変更、置換及び変形を施すことができる。 All examples and conditional expressions given here are intended to help the reader understand the inventions and concepts that have contributed to the promotion of technology, and such examples and It is to be construed without being limited to the conditions, and the organization of such examples in the specification is not related to showing the superiority or inferiority of the invention. While embodiments of the present invention have been described in detail, various changes, substitutions and variations can be made thereto without departing from the spirit and scope of the present invention.
1 音声出力試験装置
2 被試験体
11 スピーカ
21 マイクロフォン
15 第1の検査音源
25 記憶装置
26 第2の検査音源
37 ドップラー比抽出器
38 波形復元器
39 相互相関演算器
40 合否判定部
S3+S4 第2の波形信号
S3W+S4W 第1の波形信号
S4 基準同期トーン
S4W 受話同期トーン
DESCRIPTION OF
Claims (5)
前記マイクロフォンで収集した前記第1の波形信号と、前記被試験体が有する前記波形信号と同じ波形を含む第2の波形信号とを比較し、前記第2の波形信号に対する前記第1の波形信号のドップラーシフト量を算出するドップラー比抽出器と、
前記ドップラーシフト量を用いて前記第1の波形信号の周波数変動を補正する波形復元器と、
前記波形復元器で復元した前記第1の波形信号と前記第2の波形信号の相互相関値を演算する相互相関演算器と、
前記相互相関値が予め定められた閾値以上であった場合に、前記被試験体の前記スピーカを正常と判定する合否判定部と、
を含むことを特徴とする移動する被試験体の音声出力検査装置。 A microphone that collects the sound output from the speaker based on the waveform signal of the moving device under test and acquires the first waveform signal;
The first waveform signal collected by the microphone is compared with a second waveform signal including the same waveform as the waveform signal of the device under test, and the first waveform signal with respect to the second waveform signal is compared. A Doppler ratio extractor for calculating the amount of Doppler shift of
A waveform restorer that corrects frequency fluctuations of the first waveform signal using the Doppler shift amount;
A cross-correlation calculator for calculating a cross-correlation value between the first waveform signal and the second waveform signal restored by the waveform restorer;
When the cross-correlation value is equal to or greater than a predetermined threshold, a pass / fail determination unit that determines that the speaker of the device under test is normal;
A sound output inspection device for a moving subject to be tested, comprising:
前記ドップラー比抽出器は、前記第1の波形信号及び前記第2の波形信号のそれぞれに含まれる同期トーンの位相シフト量からドップラーシフト量を算出するように構成したことを特徴とする請求項1に記載の移動する被試験体の音声出力検査装置。 The first waveform signal and the second waveform signal include a synchronization tone for synchronizing the waveform signal,
2. The Doppler ratio extractor is configured to calculate a Doppler shift amount from a phase shift amount of a synchronous tone included in each of the first waveform signal and the second waveform signal. 2. An apparatus for inspecting a moving object under test as described in 1.
前記第1の波形信号と、前記被試験体が有する前記波形信号と同じ波形を含む第2の波形信号との間のドップラーシフト量を算出し、
前記ドップラーシフト量から前記第1の波形信号のドップラーシフトを補正する工程と、
補正した前記第1の波形信号と記第2の波形信号の相互相関値を演算する工程と、
前記相互相関値が予め定められた閾値以上であった場合に、前記被試験体の前記スピーカを正常と判定する工程と、
を含むことを特徴とする移動する被試験体の音声出力検査方法。 Collecting the sound output from the speaker based on the waveform signal of the moving device under test, and acquiring the first waveform signal;
Calculating a Doppler shift amount between the first waveform signal and a second waveform signal including the same waveform as the waveform signal of the DUT;
Correcting the Doppler shift of the first waveform signal from the Doppler shift amount;
Calculating a cross-correlation value between the corrected first waveform signal and the second waveform signal;
A step of determining that the speaker of the device under test is normal when the cross-correlation value is equal to or greater than a predetermined threshold;
A method for inspecting a moving object under test, comprising:
前記第1の波形信号及び前記第2の波形信号のそれぞれに含まれる同期トーンの位相シフト量からドップラーシフト量を算出することを特徴とする請求項4に記載の移動する被試験体の音声出力検査方法。 The first waveform signal and the second waveform signal include a synchronization tone for synchronizing the waveform signal,
5. The voice output of the moving test object according to claim 4, wherein a Doppler shift amount is calculated from a phase shift amount of a synchronous tone included in each of the first waveform signal and the second waveform signal. Inspection method.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2013132271A JP6136628B2 (en) | 2013-06-25 | 2013-06-25 | Apparatus and method for inspecting sound output of device under test |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2013132271A JP6136628B2 (en) | 2013-06-25 | 2013-06-25 | Apparatus and method for inspecting sound output of device under test |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2015008373A JP2015008373A (en) | 2015-01-15 |
| JP6136628B2 true JP6136628B2 (en) | 2017-05-31 |
Family
ID=52338399
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2013132271A Expired - Fee Related JP6136628B2 (en) | 2013-06-25 | 2013-06-25 | Apparatus and method for inspecting sound output of device under test |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP6136628B2 (en) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP6620675B2 (en) * | 2016-05-27 | 2019-12-18 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | Audio processing system, audio processing apparatus, and audio processing method |
| CN111192447A (en) * | 2020-01-08 | 2020-05-22 | 国网上海市电力公司 | Transformer substation voiceprint detection and identification device, method and system based on Internet of things |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5973737A (en) * | 1982-10-20 | 1984-04-26 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Speaker system inspecting apparatus |
| JP2004193782A (en) * | 2002-12-09 | 2004-07-08 | Toa Corp | Method of measuring sound wave propagation time between speaker and microphone, and apparatus thereof |
| JP2009302804A (en) * | 2008-06-12 | 2009-12-24 | Sony Corp | Sound processing unit, and sound processing method |
| JP5835039B2 (en) * | 2012-03-16 | 2015-12-24 | 富士通株式会社 | Volume correction method and sound test apparatus |
| JP5845991B2 (en) * | 2012-03-19 | 2016-01-20 | 富士通株式会社 | Speaker inspection device |
| JP5938771B2 (en) * | 2012-08-27 | 2016-06-22 | 富士通株式会社 | Test method and test apparatus |
-
2013
- 2013-06-25 JP JP2013132271A patent/JP6136628B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2015008373A (en) | 2015-01-15 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR101738803B1 (en) | Ultrasonic flaw-detection method and ultrasonic flaw-detection device | |
| TWI481892B (en) | Pulse radar ranging apparatus and ranging algorithm thereof | |
| TW200716969A (en) | Defect detecting method and defect detecting device | |
| KR20160025865A (en) | Apparatus for measuring thickness of thin film, measuring system comprising the same, and method for measuring thickness of thin film | |
| JPWO2005103610A1 (en) | Minute displacement measurement method and apparatus | |
| JP2009092541A5 (en) | ||
| CN108871185B (en) | Method, apparatus, apparatus, and computer-readable storage medium for part inspection | |
| MY204367A (en) | Method and system for vision-based defect detection | |
| JP6136628B2 (en) | Apparatus and method for inspecting sound output of device under test | |
| US9243883B2 (en) | Apparatus and method for conducting and real-time application of EC probe calibration | |
| CN104897353A (en) | Member damage detection method | |
| JP5835039B2 (en) | Volume correction method and sound test apparatus | |
| JP2008166644A (en) | Integrated circuit device abnormality detection apparatus, method and program | |
| KR20210033745A (en) | Apparatus for inspecting insulator | |
| ZA202502227B (en) | Method and system for the automated detection of conveyor belt faults | |
| CN103916198B (en) | Timing Synchronization evaluated error method of testing and system | |
| US11796481B2 (en) | Inspection device and inspection method | |
| JP2005283227A (en) | Abnormal sound inspection method and apparatus | |
| CN109272054B (en) | Independence-based vibration signal denoising method and system | |
| Jha et al. | Robust fault detection in bond graph framework using interval analysis and Fourier-Motzkin elimination technique | |
| KR101191880B1 (en) | Signal measuring apparatus and method therof | |
| CN103576079B (en) | Chip testing system and chip testing method | |
| KR101410734B1 (en) | Signal precessing device and method for elimination partial discharge noise using FFT | |
| WO2020090393A1 (en) | Inspection device and inspection method | |
| JP5948004B2 (en) | Eddy current testing method and eddy current testing equipment |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20160310 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20170404 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20170417 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6136628 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |