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JP6166565B2 - Glow discharge mass spectrometer and glow discharge mass spectrometry using the same - Google Patents
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Description

本発明は、グロー放電質量分析装置及びそれを用いたグロー放電質量分析法に関し、特に、フラットセル式のグロー放電質量分析装置及びそれを用いたグロー放電質量分析法に関する。   The present invention relates to a glow discharge mass spectrometer and a glow discharge mass spectrometry method using the same, and more particularly to a flat cell type glow discharge mass spectrometry device and a glow discharge mass spectrometry method using the same.

グロー放電質量分析法は、試料中の原子のイオン化にグロー放電を用いる質量分析法である。不活性ガス雰囲気下で導電性の固体試料を陰極として電圧を加えると、正に帯電したアルゴンプラズマが生成され、そのプラズマが試料表面に衝突し、試料中の原子を叩き出す。それと同時に、発生したグロー放電により原子がイオン化されて二重収束型の質量分析計に導入され、イオン化された構成元素を質量分析計で測定する。グロー放電質量分析法によれば、周期律表のほとんどの元素の微量分析が可能となる。   Glow discharge mass spectrometry is a mass spectrometry that uses glow discharge for ionization of atoms in a sample. When a voltage is applied using a conductive solid sample as a cathode in an inert gas atmosphere, a positively charged argon plasma is generated, and the plasma collides with the sample surface and knocks out atoms in the sample. At the same time, atoms are ionized by the generated glow discharge and introduced into a double-focusing mass spectrometer, and the ionized constituent elements are measured by the mass spectrometer. Glow discharge mass spectrometry enables trace analysis of most elements in the periodic table.

グロー放電質量分析法は、固体試料を直接分析でき、元素間の感度差が小さいことから、主成分と目的元素とのイオン強度比により半定量分析及び定量分析ができる。グロー放電質量分析法は電子材料分野では非常に注目されている分析法であり、他に置き換わる方法は現在のところ存在していない。   Since the glow discharge mass spectrometry can directly analyze a solid sample and the sensitivity difference between elements is small, semi-quantitative analysis and quantitative analysis can be performed based on the ionic strength ratio between the main component and the target element. Glow discharge mass spectrometry is an analysis method that has received much attention in the field of electronic materials, and no alternative method exists at present.

グロー放電質量分析法には、ピン状に成形した試料についてグロー放電分析を行うピンセル式と、フラットな板状に成形した試料についてグロー放電分析を行うフラットセル式とがある(特許文献1)。このうち、フラットセル式のグロー放電分析によれば、ピンセル式に比べて一段とマクロ領域における試料表面の微量分析あるいは深さ方向分析が可能となり、その適用範囲が広がっている。   The glow discharge mass spectrometry includes a pin cell type that performs glow discharge analysis on a pin-shaped sample and a flat cell type that performs glow discharge analysis on a flat plate-shaped sample (Patent Document 1). Among these, the flat cell type glow discharge analysis enables a minute amount analysis or depth direction analysis of the sample surface in the macro region as compared with the pin cell type, and its application range is widened.

特開平7−122606号公報JP-A-7-122606

フラットセル式のグロー放電質量分析法では、上述のように不活性ガスのプラズマが試料表面に衝突し、試料中の原子を叩き出すことで、試料の表面が削られる。本発明者によれば、従来のフラットセル式のグロー放電質量分析法を用いた場合、分析後の試料表面の形状を観察すると、図1に示すように、均一な深さに表面が削られていないことがわかった。詳細には、図1の試料表面の放電跡(削られた跡)は、試料表面のエッジ近辺で深くなっており(エッジドロップともいう。図1に丸印で示す。)、中央に行くにつれて浅くなっている。このような不均一な表面部分の分析を行ったところで、マクロ領域における試料表面あるいは深さ分析に対する組成情報の正確な質量分析が困難であることは明らかである。   In the flat cell type glow discharge mass spectrometry, the surface of the sample is shaved by the plasma of the inert gas colliding with the sample surface and knocking out atoms in the sample as described above. According to the present inventor, when a conventional flat cell type glow discharge mass spectrometry is used, when the shape of the sample surface after analysis is observed, the surface is shaved to a uniform depth as shown in FIG. I found out. Specifically, the discharge trace (scraped trace) on the sample surface in FIG. 1 is deep near the edge of the sample surface (also referred to as an edge drop; indicated by a circle in FIG. 1), and as it goes to the center. It is shallow. When such a non-uniform surface portion is analyzed, it is apparent that accurate mass analysis of composition information for sample surface or depth analysis in the macro region is difficult.

本発明者は上記課題を解決するために研究を重ねたところ、上記エッジドロップは、フラットセル式のグロー放電質量分析装置に用いる、放電用電極のアノードリングの縁部に対応する部位に発生していることに着目した。そして、当該アノードリングと試料表面との距離を遠ざけることで、上記エッジドロップの発生を抑制することができることを見出した。そして、その手段として、アノードリングを備える放電用電極と試料ホルダーとの電気的短絡を防ぐための絶縁性リングの厚みを制御することで、アノードリングと試料表面との距離を遠ざけ、エッジドロップの発生を抑制し、それにより試料の正確な質量分析が可能となることを見出した。   The present inventor has conducted research to solve the above problems, and the edge drop occurs at a portion corresponding to the edge of the anode ring of the discharge electrode used in the flat cell type glow discharge mass spectrometer. I paid attention to. And it discovered that generation | occurrence | production of the said edge drop could be suppressed by keeping the distance of the said anode ring and the sample surface away. And as the means, by controlling the thickness of the insulating ring to prevent electrical short-circuit between the discharge electrode provided with the anode ring and the sample holder, the distance between the anode ring and the sample surface is increased, and the edge drop is prevented. It has been found that generation is suppressed, thereby enabling accurate mass analysis of the sample.

以上の知見を背景にして完成した本発明は一側面において、フラットセル式のグロー放電質量分析装置であって、放電用電極と、対電極となる試料を支持するための試料ホルダーと、前記放電用電極と前記試料ホルダーとの電気的短絡を防ぐための絶縁性リングとを備え、前記絶縁性リングの厚さが1.5〜3.0mmである、分析後の前記試料の表面のエッジドロップを形成させないでグロー放電質量分析を行うためのグロー放電質量分析装置である。 The present invention completed on the background of the above knowledge is, in one aspect, a flat cell type glow discharge mass spectrometer, a discharge electrode, a sample holder for supporting a sample serving as a counter electrode, and the discharge. Edge drop on the surface of the sample after analysis, comprising an insulating ring for preventing an electrical short circuit between the electrode for electrode and the sample holder, wherein the thickness of the insulating ring is 1.5 to 3.0 mm Is a glow discharge mass spectrometry apparatus for performing glow discharge mass spectrometry without forming a gas.

本発明は別の一側面において、本発明のグロー放電質量分析装置を用いて試料の質量分析を行うグロー放電質量分析法である。   In another aspect, the present invention is a glow discharge mass spectrometry method for performing mass analysis of a sample using the glow discharge mass spectrometer of the present invention.

本発明によれば、グロー放電質量分析において、マクロ領域における試料表面あるいは深さ方向の正確な質量分析を実現することができる。   According to the present invention, in glow discharge mass spectrometry, accurate mass analysis in the sample surface or depth direction in the macro region can be realized.

従来の(例1の)グロー放電質量分析法で得られた試料表面の放電跡を示すグラフである。It is a graph which shows the discharge trace of the sample surface obtained by the conventional glow discharge mass spectrometry (Example 1). 本発明の実施形態に係るフラットセル式のグロー放電質量分析装置の模式図である。It is a schematic diagram of a flat cell type glow discharge mass spectrometer according to an embodiment of the present invention. 本発明の実施形態に係るグロー放電部の模式図である。It is a schematic diagram of the glow discharge part which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施形態に係る試料のスパッタ領域の模式図である。It is a schematic diagram of the sputter | spatter area | region of the sample which concerns on embodiment of this invention. 例2のグロー放電質量分析で得られた試料表面の深さ方向の放電跡を示すグラフである。6 is a graph showing the discharge trace in the depth direction of the sample surface obtained by glow discharge mass spectrometry of Example 2. 例3のグロー放電質量分析で得られた試料表面の深さ方向の放電跡を示すグラフである。4 is a graph showing discharge traces in the depth direction of a sample surface obtained by glow discharge mass spectrometry of Example 3. 例4のグロー放電質量分析で得られた試料表面の深さ方向の放電跡を示すグラフである。6 is a graph showing discharge traces in the depth direction of a sample surface obtained by glow discharge mass spectrometry of Example 4.

図2に、本発明の実施形態に係るフラットセル式のグロー放電質量分析装置の模式図を示す。グロー放電質量分析装置は、試料表面に不活性ガスのプラズマを衝突させてグロー放電を発生させるグロー放電部と、グロー放電部においてグロー放電で生成したイオンを磁場及びスリットにて目的イオンに分離、選択し、続いて電場にてエネルギーを収束した後、検出部でイオン化された構成元素を測定する。   FIG. 2 is a schematic diagram of a flat cell type glow discharge mass spectrometer according to an embodiment of the present invention. A glow discharge mass spectrometer separates ions generated by glow discharge in the glow discharge portion into a target ion using a magnetic field and a slit. After selecting and subsequently converging the energy in the electric field, the constituent elements ionized by the detector are measured.

図3に、本発明の実施形態に係るグロー放電部の模式図を示す。グロー放電質量分析装置はフラットセル式であり、測定対象の試料は円柱状及び角形状に形成されている。グロー放電部は、試料を支持する試料ホルダーを備える。試料ホルダー内には、測定対象の試料を試料ホルダー内へ挿入するためのばね付きの試料挿入部が挿入される。試料ホルダーの対面側には、放電用電極と試料ホルダーとの電気的短絡を防ぐための絶縁性リング及び絶縁部材が設けられている。また、絶縁性リングを介して、内部に不活性ガスが導入される空間を有するアノードリングとアノードボディーとで構成されたグロー放電室が設けられている。試料は導電性材を用いており、グロー放電室に対する対電極となっている。   FIG. 3 shows a schematic diagram of a glow discharge section according to an embodiment of the present invention. The glow discharge mass spectrometer is a flat cell type, and the sample to be measured is formed in a cylindrical shape and a square shape. The glow discharge unit includes a sample holder that supports the sample. A sample insertion portion with a spring for inserting a sample to be measured into the sample holder is inserted into the sample holder. On the opposite side of the sample holder, an insulating ring and an insulating member for preventing an electrical short circuit between the discharge electrode and the sample holder are provided. Further, a glow discharge chamber composed of an anode ring having a space into which an inert gas is introduced and an anode body is provided via an insulating ring. The sample uses a conductive material and serves as a counter electrode for the glow discharge chamber.

図3において、グロー放電室に、不活性ガス雰囲気下、例えば、アルゴン雰囲気下で導電性の固体試料を陰極として電圧を加えると、正に帯電したアルゴンプラズマが生成され、そのプラズマが試料表面に衝突し、スパッタリングにより試料中の原子を叩き出す。それと同時に、発生したグロー放電により試料中の原子がイオン化されて、グロー放電部から放出され、磁場及びスリットにて目的イオンに分離、選択される。続いて電場にてエネルギーを収束した後、イオン化された構成元素を質量分析計で測定する。   In FIG. 3, when a voltage is applied to a glow discharge chamber in an inert gas atmosphere, for example, an argon atmosphere, using a conductive solid sample as a cathode, positively charged argon plasma is generated, and the plasma is applied to the sample surface. Colliding and knocking out atoms in the sample by sputtering. At the same time, atoms in the sample are ionized by the generated glow discharge, emitted from the glow discharge portion, and separated and selected into target ions by a magnetic field and a slit. Subsequently, after the energy is converged by an electric field, the ionized constituent elements are measured with a mass spectrometer.

上記のプラズマが円柱状及び角形状の試料の表面をスパッタリングする際、図4に示すような円形の領域をスパッタリングすることになる。当該領域は、放電用電極がアルゴンプラズマを試料表面に放出するアノードリングの形状に依存される。従来は、試料表面のスパッタ領域において、アノードリングの円形の穴の縁部に対応する部位が特に深くスパッタされて、エッジドロップを形成する傾向にあった。これに対し、本発明では、アノードリングと試料表面との間に介在する絶縁性リングの厚さを1.5mm以上に形成させることにより、試料表面のスパッタ領域においてアノードリングの形状から受ける影響が抑制され、当該エッジドロップの発生が良好に抑制される。また、アノードリングと試料表面との距離が大きすぎると、不活性ガスのプラズマによって試料表面を良好にスパッタすることが困難となる。このため、絶縁性リングの厚さは1.5〜3.0mmに形成されているのが好ましい。   When the above plasma sputters the surface of a cylindrical or square sample, a circular region as shown in FIG. 4 is sputtered. This region depends on the shape of the anode ring in which the discharge electrode emits argon plasma to the sample surface. Conventionally, in the sputter region on the sample surface, the portion corresponding to the edge of the circular hole of the anode ring has been sputtered particularly deeply to form an edge drop. On the other hand, in the present invention, the thickness of the insulating ring interposed between the anode ring and the sample surface is formed to be 1.5 mm or more, so that the influence of the shape of the anode ring in the sputter region on the sample surface is affected. It is suppressed and the occurrence of the edge drop is suppressed well. In addition, if the distance between the anode ring and the sample surface is too large, it is difficult to satisfactorily sputter the sample surface with the plasma of the inert gas. For this reason, it is preferable that the thickness of the insulating ring is 1.5 to 3.0 mm.

絶縁性リングの材質は絶縁性がある物であればよいが、試料ホルダーとアノードリングとの接触を良好にするため、柔軟なテフロン(登録商標)、セラミックス系酸化物、セラミックス系窒化物などが好ましい。   The insulating ring may be made of any insulating material, but flexible Teflon (registered trademark), ceramic oxide, ceramic nitride, etc. are used to improve the contact between the sample holder and the anode ring. preferable.

本発明においては、試料表面のスパッタ領域がアノードリングの形状から受ける影響を抑制するためには、絶縁性リングの厚さを制御することで行っており、絶縁性リングの表面積や、リング内径の大きさは特に限定されない。   In the present invention, in order to suppress the influence of the sputter region on the sample surface from the shape of the anode ring, the thickness of the insulating ring is controlled, and the surface area of the insulating ring and the inner diameter of the ring are controlled. The size is not particularly limited.

放電用電極で囲まれた空間に、不活性ガス雰囲気下で導電性の固体試料を陰極として電圧を加え、正に帯電した不活性ガスのプラズマを生成し、そのプラズマを試料表面に衝突させてスパッタリングにより試料中の原子を叩き出すが、放電電流及び放電電圧を設定すれば、より良好に試料表面のエッジドロップを抑制できるとともに、必要な試料表面のスパッタリングを行うことができ、マクロ領域における試料表面あるいは深さ分析に対する組成情報の正確な質量分析が実施できる。   A voltage is applied to the space surrounded by the discharge electrode using an electrically conductive solid sample as a cathode in an inert gas atmosphere to generate a positively charged inert gas plasma, and the plasma collides with the sample surface. The atoms in the sample are sputtered by sputtering, but if the discharge current and discharge voltage are set, the edge drop on the sample surface can be suppressed more favorably, and the necessary sample surface can be sputtered. Accurate mass analysis of composition information for surface or depth analysis can be performed.

以下に本発明の実施例を示すが、これらの実施例は本発明及びその利点をよりよく理解するために提供するものであり、発明が限定されることを意図するものではない。   Examples of the present invention are shown below, but these examples are provided for better understanding of the present invention and its advantages, and are not intended to limit the invention.

(例1)
図2及び図3に示したようなフラットセル式のグロー放電質量分析装置を用いて、円柱状及び角形状の銅板を測定対象の試料として、グロー放電質量分析を行った。絶縁性リングとして、厚みが0.5mmのものを用いた。放電電流を2mAとし、放電電圧を1kVとした。試料表面のスパッタ速度は0.25μm/分とした。
(Example 1)
Using a flat cell type glow discharge mass spectrometer as shown in FIGS. 2 and 3, glow discharge mass spectrometry was performed using a cylindrical and square copper plate as a sample to be measured. An insulating ring having a thickness of 0.5 mm was used. The discharge current was 2 mA and the discharge voltage was 1 kV. The sputtering rate on the sample surface was 0.25 μm / min.

(例2)
絶縁性リングの厚みが1.0mmであること以外は、例1と同様の条件にてグロー放電質量分析を行った。
(Example 2)
Glow discharge mass spectrometry was performed under the same conditions as in Example 1 except that the thickness of the insulating ring was 1.0 mm.

(例3)
絶縁性リングの厚みが1.5mmであること以外は、例1と同様の条件にてグロー放電質量分析を行った。
(Example 3)
Glow discharge mass spectrometry was performed under the same conditions as in Example 1 except that the thickness of the insulating ring was 1.5 mm.

(例4)
絶縁性リングの厚みが2.0mmであること以外は、例1と同様の条件にてグロー放電質量分析を行った。
(Example 4)
Glow discharge mass spectrometry was performed under the same conditions as in Example 1 except that the thickness of the insulating ring was 2.0 mm.

例1〜例4について、試料表面の深さ方向の放電跡をサーモフィッシャーサイエンティフィック社製VG9000型及びNu instruments社製ASTRUMによって観察し、結果を例1については図1に示し、例2については図5に示す、例3については図6に示し、例4については図7に示す。図1及び図5で示される例1及び例2の結果からわかるように、絶縁性リングの厚みが0.5mm、1.0mmでは、アノードボディーと試料表面との距離が近く、試料表面に形成されたエッジドロップが大きかった。一方、図6及び図7で示される例3及び例4の結果からわかるように、絶縁性リングの厚みが1.5mm、2.0mmでは、アノードボディーと試料表面との距離が十分離れており、試料表面にはエッジドロップが形成されなかった。   For Examples 1 to 4, the discharge trace in the depth direction of the sample surface was observed with Thermo Fisher Scientific VG9000 type and Nu instruments ASTRUM, and the results are shown in FIG. Is shown in FIG. 5, Example 3 is shown in FIG. 6, and Example 4 is shown in FIG. 7. As can be seen from the results of Example 1 and Example 2 shown in FIG. 1 and FIG. 5, when the insulating ring thickness is 0.5 mm and 1.0 mm, the distance between the anode body and the sample surface is close and the sample is formed on the sample surface. The edge drop that was made was great. On the other hand, as can be seen from the results of Example 3 and Example 4 shown in FIGS. 6 and 7, when the insulating ring thickness is 1.5 mm and 2.0 mm, the distance between the anode body and the sample surface is sufficiently large. No edge drop was formed on the sample surface.

Claims (2)

フラットセル式のグロー放電質量分析装置であって、
放電用電極と、対電極となる試料を支持するための試料ホルダーと、前記放電用電極と前記試料ホルダーとの電気的短絡を防ぐための絶縁性リングとを備え、
前記絶縁性リングの厚さが1.5〜3.0mmである、分析後の前記試料の表面のエッジドロップを形成させないでグロー放電質量分析を行うためのグロー放電質量分析装置。
A flat cell glow discharge mass spectrometer,
A discharge electrode, a sample holder for supporting a sample serving as a counter electrode, and an insulating ring for preventing an electrical short circuit between the discharge electrode and the sample holder,
A glow discharge mass spectrometer for performing glow discharge mass spectrometry without forming an edge drop on the surface of the sample after analysis, wherein the insulating ring has a thickness of 1.5 to 3.0 mm.
請求項1に記載のグロー放電質量分析装置を用いて試料の質量分析を行うグロー放電質量分析法。   A glow discharge mass spectrometry method for performing mass analysis of a sample using the glow discharge mass spectrometer according to claim 1.
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