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JP6204042B2 - Delay circuit element and delay circuit device - Google Patents
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JP6204042B2 JP2013061185A JP2013061185A JP6204042B2 JP 6204042 B2 JP6204042 B2 JP 6204042B2 JP 2013061185 A JP2013061185 A JP 2013061185A JP 2013061185 A JP2013061185 A JP 2013061185A JP 6204042 B2 JP6204042 B2 JP 6204042B2
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Description

本発明は、コンピュータ、通信機器および通信機器等の電子機器において信号を遅延させるために用いられる遅延回路素子および遅延回路装置に関する。   The present invention relates to a delay circuit element and a delay circuit device used for delaying a signal in electronic devices such as computers, communication devices, and communication devices.

コンピュータ、通信機器および通信機器等の電子機器において、複数の伝送線路に分かれて伝送された複数の電気信号同士が合成されるときに、複数の電気信号間の位相を揃えるために、一部の電気信号に対して所定時間の遅延処理が行なわれる場合がある。このような場合、必要な遅延時間に対応した遅延回路(ディレイライン)が設けられた遅延用の回路板が用いられる。   In an electronic device such as a computer, a communication device, and a communication device, when a plurality of electric signals transmitted separately in a plurality of transmission lines are combined, in order to align the phases between the plurality of electric signals, There is a case where a delay process for a predetermined time is performed on the electric signal. In such a case, a circuit board for delay provided with a delay circuit (delay line) corresponding to a required delay time is used.

従来用いられている遅延用の回路板としては、所定の遅延時間に対応した遅延回路が、セラミック基板等の基板に設けられたものが挙げられる(特許文献1および2等を参照)。このような遅延用の回路板は、絶縁性の基板と、基板の内部等に設けられた遅延回路とを有し、遅延回路の両端部が基板の主面に電気的に導出されて形成されている。基板の主面に導出された遅延回路の両端部のうち一方端部から電気信号が入力され、遅延回路によって所定時間の遅延処理が行なわれた後、遅延回路の両端部のうち他方端部から電気信号が出力される。   Conventionally used circuit boards for delay include those in which a delay circuit corresponding to a predetermined delay time is provided on a substrate such as a ceramic substrate (see Patent Documents 1 and 2, etc.). Such a circuit board for delay has an insulating substrate and a delay circuit provided inside the substrate, and is formed by electrically leading both ends of the delay circuit to the main surface of the substrate. ing. After an electrical signal is input from one end of the both ends of the delay circuit led to the main surface of the substrate and subjected to delay processing for a predetermined time by the delay circuit, from the other end of both ends of the delay circuit An electrical signal is output.

特開平6−152208号公報JP-A-6-152208 特開平10−22709号公報Japanese Patent Laid-Open No. 10-22709

上記従来技術の遅延用の回路板においては、求められる遅延時間に応じて、そのような遅延時間を有する遅延回路を絶縁板に設けて回路板を準備する必要がある。例えば、複数種類の遅延時間にそれぞれ対応して、複数の遅延用の回路板を準備する必要がある。そのため、遅延回路素子を有する電子機器としての生産性および経済性等が低くなる可能性がある。   In the conventional circuit board for delay, it is necessary to prepare a circuit board by providing a delay circuit having such a delay time on an insulating plate in accordance with a required delay time. For example, it is necessary to prepare a plurality of delay circuit boards corresponding to a plurality of types of delay times. For this reason, the productivity and economy as an electronic device having a delay circuit element may be lowered.

本発明の一つの態様の遅延回路素子は、第1主面および該第1主面と反対側の第2主面を有する絶縁基板と、前記絶縁基板の前記第1主面および前記第2主面に設けられており、前記第1主面と前記第2主面との間で、平面視で重なり合うとともに互いに電気的に接続された3つ以上の電極と、前記絶縁基板に、前記複数の電極のうちいずれか一対の電極の間を接続するようにして設けられた遅延回路とを備えており、前記複数の電極が、平面視において前記絶縁基板と重なる仮想の円の円周に沿って、それぞれの電極間の隣接間隔同士が互いに同じ長さになるように配置されており、前記絶縁基板を前記仮想の円の中心を中心として回転させて上下に積層したときに、上側の前記一対の電極のうちの一方の電極が下側の前記一対の電極のうちの他方の電極と重なり、上側の前記一対の電極のうちの他方の電極が下側の前記一対の電極以外の他の電極と重なることを特徴とする。
The delay circuit element according to one aspect of the present invention includes an insulating substrate having a first main surface and a second main surface opposite to the first main surface, and the first main surface and the second main surface of the insulating substrate. Three or more electrodes provided in a plane, overlapping in a plan view and electrically connected to each other between the first main surface and the second main surface, and the insulating substrate, the plurality of electrodes A delay circuit provided so as to connect between a pair of electrodes, and the plurality of electrodes along a circumference of a virtual circle that overlaps the insulating substrate in a plan view. The adjacent gaps between the respective electrodes are arranged so as to have the same length , and the upper pair of the upper and lower electrodes are stacked when the insulating substrate is rotated up and down around the center of the virtual circle. One of the electrodes is a pair of the lower pair of electrodes. Overlaps with the other electrode, the other electrode of the upper side of the pair of electrodes, wherein the overlap with Rukoto and other electrodes other than the pair of electrodes of the lower.

また、本発明の一つの態様の遅延回路装置は、上記構成の複数の遅延回路素子が、前記第1主面を下にして上下に積層されるとともに、上下に隣接する2つの前記遅延回路素子間において、下側の前記遅延回路素子が有する前記一対の電極のうち前記第2主面側の他方の電極と、上側の前記遅延回路素子が有する前記一対の電極のうち前記第1主面側の一方の電極とが、互いに電気的に接続されてなることを特徴とする。
Also, in the delay circuit device according to one aspect of the present invention, the plurality of delay circuit elements having the above-described configuration are stacked vertically with the first main surface facing down, and the two delay circuit elements adjacent vertically Among the pair of electrodes of the lower delay circuit element, the other electrode on the second main surface side and the first main surface side of the pair of electrodes of the upper delay circuit element One of the electrodes is electrically connected to each other.

本発明の一つの態様の遅延回路素子によれば、上記構成であることから、複数個が上下
に積層されて、それぞれの遅延回路素子の遅延回路同士が順次電気的に接続されて、所定時間の遅延回路を有する遅延回路装置が容易に形成され得る。複数の遅延回路素子が互いに同じ構成であるため、複数の遅延回路素子の生産および積層が、容易である。例えば、一つの遅延回路素子が有する一対の電極のうち一方の電極と、その側の遅延回路素子が有する一対の電極のうち他方の電極とが互いに接続されたときに、両方の遅延回路素子の遅延回路同士が互いに直列に接続される。そのため、これらの遅延回路素子のそれぞれの遅延回路における遅延時間の合計の遅延時間を有する遅延回路装置が容易に形成され得る。
According to the delay circuit element of one aspect of the present invention, because of the above configuration, a plurality of the delay circuit elements are stacked one above the other, and the delay circuits of the respective delay circuit elements are sequentially electrically connected to each other for a predetermined time. The delay circuit device having the delay circuit can be easily formed. Since the plurality of delay circuit elements have the same configuration, the production and lamination of the plurality of delay circuit elements are easy. For example, when one electrode of a pair of electrodes included in one delay circuit element and the other electrode of a pair of electrodes included in the lower delay circuit element are connected to each other, both delay circuit elements The delay circuits are connected in series with each other. Therefore, it is possible to easily form a delay circuit device having a total delay time in the delay circuits of these delay circuit elements.

また、遅延回路装置においては、その最下層の遅延回路素子の第1主面に設けられた入力端子および出力端子が外部の伝送線路に電気的に接続されれば、その伝送線路を伝送されて来た電気信号を遅延回路に通して所定時間遅延させた後に、再度伝送線路に出力することができる。したがって、例えば遅延素子を有する電子機器の生産性等を高くする上で有利な遅延回路素子および遅延装置を提供することができる。   In the delay circuit device, if the input terminal and the output terminal provided on the first main surface of the lowermost delay circuit element are electrically connected to an external transmission line, the transmission line is transmitted. The incoming electric signal can be delayed through a delay circuit for a predetermined time and then output to the transmission line again. Therefore, for example, it is possible to provide a delay circuit element and a delay device that are advantageous in increasing the productivity of an electronic device having a delay element.

(a)は本発明の実施形態の遅延回路素子を示す上面図であり、(b)は(a)のA−A線における断面図であり、(c)は(a)に示す遅延回路素子の下面図である。(A) is a top view which shows the delay circuit element of embodiment of this invention, (b) is sectional drawing in the AA of (a), (c) is the delay circuit element shown to (a). FIG. 図1に示す遅延回路素子における貫通導体の位置を示すための模式図(上面図)である。FIG. 2 is a schematic diagram (top view) for illustrating positions of through conductors in the delay circuit element shown in FIG. 1. 本発明の実施形態の遅延回路装置を示す分解斜視図である。It is a disassembled perspective view which shows the delay circuit apparatus of embodiment of this invention. (a)は図1に示す遅延回路素子の第1の変形例を示す上面図であり、(b)は(a)の遅延回路素子により作製された遅延回路装置の要部を示す分解斜視図である。(A) is a top view showing a first modification of the delay circuit element shown in FIG. 1, and (b) is an exploded perspective view showing the main part of the delay circuit device manufactured by the delay circuit element of (a). It is. (a)および(b)は、図1に示す遅延回路素子の第2および第3の変形例を示す上面図である。(A) And (b) is a top view which shows the 2nd and 3rd modification of the delay circuit element shown in FIG. (a)は図1に示す遅延回路素子の第4の変形例を示す上面図であり、(b)は(a)のA−A線における断面図である。(A) is a top view which shows the 4th modification of the delay circuit element shown in FIG. 1, (b) is sectional drawing in the AA of (a). 図1に示す遅延回路素子の第5の変形例を示す上面図である。FIG. 10 is a top view showing a fifth modification of the delay circuit element shown in FIG. 1. 図1に示す遅延回路素子の第6の変形例を示す上面透視図である。FIG. 10 is a top perspective view showing a sixth modification of the delay circuit element shown in FIG. 1. 図1に示す遅延回路素子の第7の変形例を示す断面図である。FIG. 10 is a cross-sectional view showing a seventh modification of the delay circuit element shown in FIG. 1.

本発明の実施形態の遅延回路素子および遅延装置を添付の図面を参照して説明する。なお、以下の説明における上下の区別は、上記図面を参照した説明における便宜的なものであり、実際に遅延回路素子が用いられるときの上下を特定するものではない。   A delay circuit element and a delay device according to embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. Note that the distinction between the upper and lower sides in the following description is for convenience in the description with reference to the above drawings, and does not specify the upper and lower sides when the delay circuit element is actually used.

図1(a)は本発明の実施形態の遅延回路素子を示す上面図であり、図1(b)は図1(a)のA−A線における断面図であり、図1(c)は図1(a)に示す遅延回路素子の下面図である。   1A is a top view showing a delay circuit element according to an embodiment of the present invention, FIG. 1B is a cross-sectional view taken along the line AA in FIG. 1A, and FIG. FIG. 2 is a bottom view of the delay circuit element shown in FIG.

平板状の絶縁基板1と、絶縁基板1に設けられた複数の貫通導体2と、複数の貫通導体のうち一対の貫通導体2の間を接続している遅延回路3とによって、遅延回路素子9が基本的に形成されている。なお、図1および以下の各図において、遅延回路3等の線路状の導体は、図を見やすくするために幅のない線として示している。実際には、これらの遅延回路3等は所定の線幅(例えば約50〜500μm程度)を有している。   A delay circuit element 9 includes a flat insulating substrate 1, a plurality of through conductors 2 provided on the insulating substrate 1, and a delay circuit 3 connecting a pair of through conductors 2 among the plurality of through conductors. Is basically formed. In FIG. 1 and each of the following figures, line-shaped conductors such as the delay circuit 3 are shown as lines having no width in order to make the drawing easier to see. Actually, these delay circuits 3 and the like have a predetermined line width (for example, about 50 to 500 μm).

絶縁基板1は、図1に示す例では、平面視において正方形状等の四角形状であり、平板状である。絶縁基板1は、複数個の遅延回路素子9が互いに上下に積層できるような形態であれば、正方形状等の四角形状以外の形状でも構わない。   In the example shown in FIG. 1, the insulating substrate 1 has a quadrangular shape such as a square shape in plan view, and a flat plate shape. The insulating substrate 1 may have a shape other than a square shape, such as a square shape, as long as a plurality of delay circuit elements 9 can be stacked on top of each other.

すなわち、絶縁基板1は、第1主面(図1の例では下面)11と、第1主面と反対側の第2主面(図1の例では上面)12とを有する平板状等の形状である。第1主面11と第2主面12とは、複数個の遅延回路素子9が傾くことなく積層されるように、互いに平行であることが好ましい。この場合、互いに平行な第1主面11および第2主面12の少なくとも一方に、凹状の部分(図示せず)等が含まれていてもよい。言い換えれば、複数個の遅延回路素子9が上下に積層が妨げられない範囲であれば、第1主面11および第2主面12が互いに完全に平行になっていなくても構わない。凹状の部分は、例えば容量素子、抵抗器等の電子部品の収納用のスペース等として利用され得る。   That is, the insulating substrate 1 is a flat plate having a first main surface (lower surface in the example of FIG. 1) 11 and a second main surface (upper surface in the example of FIG. 1) 12 opposite to the first main surface. Shape. The first main surface 11 and the second main surface 12 are preferably parallel to each other so that the plurality of delay circuit elements 9 are stacked without tilting. In this case, a concave portion (not shown) or the like may be included in at least one of the first main surface 11 and the second main surface 12 that are parallel to each other. In other words, the first main surface 11 and the second main surface 12 do not have to be completely parallel to each other as long as the plurality of delay circuit elements 9 are within the range where stacking is not hindered. The concave portion can be used as a space for storing electronic components such as a capacitive element and a resistor, for example.

絶縁基板1は、例えば酸化アルミニウム質焼結体や窒化アルミニウム質焼結体、ムライト質焼結体およびガラスセラミック焼結体等のセラミック焼結体からなる絶縁層1aが複数層積層されて形成されている。   The insulating substrate 1 is formed by laminating a plurality of insulating layers 1a made of ceramic sintered bodies such as aluminum oxide sintered bodies, aluminum nitride sintered bodies, mullite sintered bodies, and glass ceramic sintered bodies. ing.

絶縁基板1は、例えば各絶縁層1aが酸化アルミニウム質焼結体からなる場合であれば、酸化アルミニウムおよび酸化ケイ素等の原料粉末を適当な有機バインダおよび有機溶剤とともにシート状に成形した複数のセラミックグリーンシートを積層した後に焼成することによって製作されている。   For example, if each insulating layer 1a is made of an aluminum oxide sintered body, the insulating substrate 1 includes a plurality of ceramics obtained by forming raw material powders such as aluminum oxide and silicon oxide into a sheet shape together with an appropriate organic binder and organic solvent. It is manufactured by firing after laminating green sheets.

また、絶縁基板1は、エポキシ樹脂、ポリイミド樹脂およびポリアミドイミド樹脂等の有機樹脂材料によって形成されていてもよい。この場合、例えば未硬化のエポキシ樹脂を金型等で所定の絶縁基板1の形状に成形し、加熱して硬化させることによって、絶縁基板1を作製することができる。この有機樹脂材料には、ガラス粉末等の無機物の添加物(フィラー)が添加されていてもよい。   The insulating substrate 1 may be formed of an organic resin material such as an epoxy resin, a polyimide resin, and a polyamideimide resin. In this case, for example, the insulating substrate 1 can be manufactured by forming an uncured epoxy resin into a predetermined shape of the insulating substrate 1 using a mold or the like, and curing it by heating. An inorganic additive (filler) such as glass powder may be added to the organic resin material.

絶縁基板1には、第1主面11から第2主面12にかけて、つまり厚み方向に、貫通する複数の貫通導体2が設けられている。複数の貫通導体2は、それぞれ、絶縁基板1の第1主面11と第2主面12との間を導通する導電路である。複数の遅延回路素子9が上下に積層されたときに、最上層の遅延回路素子9から最下層の遅延回路素子9にかけて、この複数の貫通導体2による導電路が形成される。   The insulating substrate 1 is provided with a plurality of through conductors 2 penetrating from the first main surface 11 to the second main surface 12, that is, in the thickness direction. Each of the plurality of through conductors 2 is a conductive path that conducts between the first main surface 11 and the second main surface 12 of the insulating substrate 1. When the plurality of delay circuit elements 9 are stacked one above the other, a conductive path is formed by the plurality of through conductors 2 from the uppermost delay circuit element 9 to the lowermost delay circuit element 9.

なお、絶縁基板1の第1主面11と第2主面12との間の電気的な導通は、貫通導体2に限らず、他の形態の導体でもよい。すなわち、絶縁基板1には、第1主面11と第2主面12との間を導通する配線導体が設けられていればよく、この配線導体の一つの形態が上記貫通導体2である。このような配線導体としては、貫通導体2以外に、絶縁基板1の外側面に設けられた側面導体(いわゆるキャスタレーション導体等)、絶縁基板1の厚み方向の一部を貫通するビア導体および複数の絶縁層1aの層間の設けられた内部配線等の導体が挙げられる。配線導体は、このような形態の導体の複数が組み合わされたものであってもよい。   The electrical continuity between the first main surface 11 and the second main surface 12 of the insulating substrate 1 is not limited to the through conductor 2 and may be another form of conductor. That is, the insulating substrate 1 only needs to be provided with a wiring conductor that conducts between the first main surface 11 and the second main surface 12, and one form of the wiring conductor is the through conductor 2. As such wiring conductors, in addition to the through conductors 2, side conductors (so-called castoration conductors and the like) provided on the outer surface of the insulating substrate 1, via conductors penetrating a part in the thickness direction of the insulating substrate 1, and plural Examples thereof include a conductor such as an internal wiring provided between the insulating layers 1a. The wiring conductor may be a combination of a plurality of such conductors.

また、絶縁基板1には、複数の貫通導体2のうちいずれか一対の貫通導体2の間を接続するようにして遅延回路3が設けられている。遅延回路3は、遅延回路素子9に入力される信号を、所定の時間遅延させるためのものである。遅延回路3による遅延時間Tは、下記式によって算出することができる。   The insulating substrate 1 is provided with a delay circuit 3 so as to connect any one of the plurality of through conductors 2 between the pair of through conductors 2. The delay circuit 3 is for delaying a signal input to the delay circuit element 9 for a predetermined time. The delay time T by the delay circuit 3 can be calculated by the following equation.

(式)T=L×√(ε)/c
ただし、Lは遅延回路3の長さ(m)、εは絶縁基板1の比誘電率、cは真空中の光速(m/s)である。
(Formula) T = L × √ (ε r ) / c
Where, L is the length of the delay circuit 3 (m), ε r the relative dielectric constant of the insulating substrate 1, c is the speed of light in vacuum (m / s).

言い換えれば、遅延回路の長さ、または絶縁基板1の比誘電率を調整することによって
、所定時間の遅延時間を有する遅延回路3を絶縁基板1に設けることができる。この所定時間は、例えば単位時間(例えば、0.01ns、0.1ns、0.5nsおよび1ns等)であることが、実用上、好ましい。遅延時間が単位時間であれば、この遅延回路素子9が用いられる電子機器において必要な遅延時間に対して、必要な遅延回路素子の個数が容易に算出できる。
In other words, the delay circuit 3 having a predetermined delay time can be provided on the insulating substrate 1 by adjusting the length of the delay circuit or the relative dielectric constant of the insulating substrate 1. For example, the predetermined time is preferably a unit time (for example, 0.01 ns, 0.1 ns, 0.5 ns, 1 ns, etc.). If the delay time is a unit time, the required number of delay circuit elements can be easily calculated with respect to the required delay time in the electronic device in which the delay circuit element 9 is used.

上記のように遅延回路3は一対の貫通導体2の間を接続しているので、この一対の貫通導体2の間で、所定の遅延時間が生じることになる。この一対の貫通導体2のうち一方の貫通導体2(2a)を入力側の導体として用い、他方の貫通導体2(2b)を出力側の導体として用いれば、入力側の導体と出力側の導体との間で所定の遅延時間を生じる遅延回路素子9としての利用ができる。   Since the delay circuit 3 connects the pair of through conductors 2 as described above, a predetermined delay time occurs between the pair of through conductors 2. If one through conductor 2 (2a) of the pair of through conductors 2 is used as an input side conductor and the other through conductor 2 (2b) is used as an output side conductor, the input side conductor and the output side conductor are used. Can be used as the delay circuit element 9 that generates a predetermined delay time between the two.

すなわち、貫通導体2の端部は、上下の遅延回路素子9同士の電気的な接続、または複数の遅延回路素子9が積層されてなる遅延回路装置(後述)と外部電気回路との電気的な接続等のための電極として機能する。図1に示す例においては、貫通導体2の端部に接続して後述するランド4が設けられており、これらの貫通導体2の端部とランド4とにより電極が構成されている。電極は、貫通導体2の端部のみからなるものであっても構わない。なお、第1主面側の複数の電極のそれぞれの電極と、第2主面側の複数の電極のそれぞれの電極とは、平面視で重なるとともに、互いに電気的に接続されているものである必要がある。これにより、複数の遅延回路素子9を上下に積層するとともに互いに電気的に接続させることが容易に行なえる。   That is, the end portion of the through conductor 2 is electrically connected between the upper and lower delay circuit elements 9 or an electrical connection between a delay circuit device (described later) in which a plurality of delay circuit elements 9 are laminated and an external electric circuit. Functions as an electrode for connection or the like. In the example shown in FIG. 1, lands 4 which will be described later are provided connected to the end portions of the through conductors 2, and the end portions of these through conductors 2 and the lands 4 constitute electrodes. The electrode may be composed only of the end portion of the through conductor 2. The electrodes of the plurality of electrodes on the first main surface side and the electrodes of the plurality of electrodes on the second main surface side overlap with each other in plan view and are electrically connected to each other. There is a need. Thereby, a plurality of delay circuit elements 9 can be easily stacked and electrically connected to each other.

貫通導体2(配線導体)および遅延回路3は、例えばタングステン、モリブデン、マンガン、銅、銀、パラジウム、金または白金等の金属材料、もしくはこれらの金属材料の合金によって形成されている。貫通導体2および遅延回路3は、例えばタングステンからなる場合であれば、タングステンの粉末を有機溶剤および有機バインダと混合して作製した金属ペーストを絶縁層1aとなるセラミックグリーンシートの主面の所定位置にスクリーン印刷法等の方法で印刷して焼成する方法で、絶縁層1a(絶縁基板1)に所定パターンで設けられている。なお、貫通導体2の場合には、上記セラミックグリーンシートにあらかじめ貫通孔を設けておいて、この貫通孔内に金属ペーストを充填する。貫通孔内への金属ペーストの充填に際しては、真空吸引等の手段が併用されてもよい。   The through conductor 2 (wiring conductor) and the delay circuit 3 are made of, for example, a metal material such as tungsten, molybdenum, manganese, copper, silver, palladium, gold, or platinum, or an alloy of these metal materials. If the through conductor 2 and the delay circuit 3 are made of tungsten, for example, a predetermined position on the main surface of the ceramic green sheet that becomes the insulating layer 1a is a metal paste prepared by mixing tungsten powder with an organic solvent and an organic binder. The insulating layer 1a (insulating substrate 1) is provided in a predetermined pattern by a method such as screen printing and printing. In the case of the through conductor 2, a through hole is provided in advance in the ceramic green sheet, and a metal paste is filled in the through hole. In filling the metal paste into the through hole, means such as vacuum suction may be used in combination.

また、貫通導体2および遅延回路3は、例えば樹脂材料からなる絶縁基体に、蒸着層等の薄膜、めっき層または金属箔等の形態で銅等の金属材料を被着させることによって形成することもできる。   The through conductor 2 and the delay circuit 3 may be formed by depositing a metal material such as copper on an insulating base made of a resin material in the form of a thin film such as a vapor deposition layer, a plating layer, or a metal foil. it can.

また、例えば遅延回路3が銅からなり、絶縁基板1が有機樹脂材料からなる場合であれば、蒸着法、めっき法または銅箔の貼り付け等の手段で銅からなる遅延回路3を、有機樹脂材料かなる絶縁基板1の主面に設けるようにすればよい。この場合、マスキングおよびエッチング等の手段を併用することもできる。   Further, for example, when the delay circuit 3 is made of copper and the insulating substrate 1 is made of an organic resin material, the delay circuit 3 made of copper is replaced with an organic resin by means such as vapor deposition, plating, or copper foil bonding. It may be provided on the main surface of the insulating substrate 1 made of a material. In this case, means such as masking and etching can be used in combination.

また、平面視において、複数の貫通導体2は、絶縁基板1と重なる仮想の円の円周に沿って位置しており、互いに隣接間隔が同じである。言い換えれば、例えば図2に示すように、複数の貫通導体2は、中心角および半径が互いに同じである複数(図2の例では四つ)の仮想の円弧Bのそれぞれの端部に位置している。これらの複数の円弧Bは、互いに連続して上記円Cを形成している。なお、図2は、実施形態の遅延回路素子9における貫通導体2の配置を示す模式図(平面図)である。図2においては、見やすくするために、絶縁基板1と貫通導体2以外の部位を省略している。   Further, when seen in a plan view, the plurality of through conductors 2 are located along the circumference of a virtual circle that overlaps the insulating substrate 1 and have the same adjacent interval. In other words, as shown in FIG. 2, for example, the plurality of through conductors 2 are located at the ends of a plurality of (four in the example of FIG. 2) virtual arcs B having the same central angle and radius. ing. The plurality of arcs B are continuous with each other to form the circle C. FIG. 2 is a schematic diagram (plan view) showing the arrangement of the through conductors 2 in the delay circuit element 9 of the embodiment. In FIG. 2, portions other than the insulating substrate 1 and the through conductor 2 are omitted for easy viewing.

仮想の円Cは、平面視において絶縁基板1と重なっている。平面視において絶縁基板1
と重なる仮想の円Cは、その円Cの円周に沿って位置する複数の貫通導体2が絶縁基板1内に収まるような円であればよい。
The virtual circle C overlaps with the insulating substrate 1 in plan view. Insulating substrate 1 in plan view
The virtual circle C that overlaps with the circle may be a circle in which the plurality of through conductors 2 positioned along the circumference of the circle C are accommodated in the insulating substrate 1.

平面視において、それぞれ隣り合う二つの貫通導体2の間の円弧Bの中心角θ同士は、互いに同じ角度となっている。言い換えれば、複数の貫通導体2は、仮想の円Cの円周上に、ほぼ一定の間隔(同じ程度のラジアン)で配置されている。すなわち、互いに隣り合う貫通導体2同士の間隔は同じである。   In plan view, the central angles θ of the arcs B between two adjacent through conductors 2 are the same as each other. In other words, the plurality of through conductors 2 are arranged on the circumference of the virtual circle C at substantially constant intervals (same radians). That is, the interval between the adjacent through conductors 2 is the same.

なお、隣り合う貫通導体2同士の隣接間隔(上記複数の円弧Bの中心角θ同士)は、互いに完全に同じ値でなくても構わず、互いに数度程度の差があっても構わない。これらの貫通導体2は、複数個の遅延回路素子9が上下に積層されたときに、上下の遅延回路素子9の遅延回路3同士を互いに接続するためのものであるため、この機能を有する範囲であれば、中心角が互いに多少異なっていても構わない。   It should be noted that the adjacent interval between adjacent through conductors 2 (center angles θ of the plurality of arcs B) may not be completely the same value, or may be different from each other by several degrees. These through conductors 2 are for connecting the delay circuits 3 of the upper and lower delay circuit elements 9 to each other when a plurality of delay circuit elements 9 are stacked one above the other. If so, the central angles may be slightly different from each other.

図1に示す例においては、絶縁基板1の第1主面11および第2主面12のそれぞれから貫通導体2の端面にかけて、ランド4が設けられている。ランド4は、例えば複数の遅延回路素子9が上下に積層されるときに、上下の遅延回路素子9の互いの貫通導体2同士の電気的な接続をより容易とするためのものであり、電極の一部となっている。貫通導体2の端面の面積に比べてランド4の面積の方が広いため、上下の遅延回路素子9の貫通導体2同士の電気的な接続がより容易な電極になっている。   In the example shown in FIG. 1, a land 4 is provided from each of the first main surface 11 and the second main surface 12 of the insulating substrate 1 to the end surface of the through conductor 2. The land 4 is for facilitating electrical connection between the through conductors 2 of the upper and lower delay circuit elements 9 when, for example, a plurality of delay circuit elements 9 are stacked one above the other. It has become a part of. Since the area of the land 4 is larger than the area of the end face of the through conductor 2, the electrodes are easier to electrically connect between the through conductors 2 of the upper and lower delay circuit elements 9.

ランド4は、例えば遅延回路3と同様の金属材料を用い、同様の方法で設けることができる。また、ランド4は、その露出する表面にニッケル、コバルト、金および銅等の金属材料、ならびにこれらの金属材料の合金等から適宜選択される、一層または複数層のめっき層が被着されていてもよい。   The land 4 can be provided by the same method using the same metal material as that of the delay circuit 3, for example. The land 4 has an exposed surface coated with one or more plating layers, which are appropriately selected from metal materials such as nickel, cobalt, gold and copper, and alloys of these metal materials. Also good.

なお、上記入力側の導体としての貫通導体2(2a)の端面のうち第1主面11側に設けられたランド4(4a)は、遅延回路素子9の入力電極(符号なし)として機能する。また、上記出力側の導体としての貫通導体2(2b)の端面のうち第2主面12側に設けられたランド4(4b)は、遅延回路素子9の出力電極(符号なし)となる。   The land 4 (4a) provided on the first main surface 11 side of the end surface of the through conductor 2 (2a) serving as the input-side conductor functions as an input electrode (no symbol) of the delay circuit element 9. . The land 4 (4b) provided on the second main surface 12 side of the end surface of the through conductor 2 (2b) serving as the output-side conductor serves as an output electrode (no symbol) of the delay circuit element 9.

このような遅延回路素子9を複数個、上下に積層することによって、例えば図3に示すような遅延回路装置10を作製することができる。複数個の遅延回路素子9を上下に積層するときに、上側の遅延回路素子9が有する一対の貫通導体2のうち一方の貫通導体(入力側)2(2a)と、下側の遅延回路素子9が有する他方の貫通導体(出力側)2(2b)とが互いに電気的に接続される。言い換えれば、下側の遅延回路素子の上記出力電極と、上側の遅延回路素子の上記入力電極とが、互いに電気的に接続される。   For example, a delay circuit device 10 as shown in FIG. 3 can be manufactured by stacking a plurality of such delay circuit elements 9 in the vertical direction. When a plurality of delay circuit elements 9 are stacked one above the other, one through conductor (input side) 2 (2a) of the pair of through conductors 2 included in the upper delay circuit element 9 and the lower delay circuit element The other through conductor (output side) 2 (2b) of 9 is electrically connected to each other. In other words, the output electrode of the lower delay circuit element and the input electrode of the upper delay circuit element are electrically connected to each other.

これにより、上下の遅延回路素子9がそれぞれに有する遅延回路3同士が直列に接続されて、個々の遅延回路3が有する遅延時間の合計の遅延時間を有する一まとまりの遅延回路(符号なし)が形成される。これが繰り返されて、所定時間の遅延時間を有する遅延回路装置10が形成される。   As a result, the delay circuits 3 included in the upper and lower delay circuit elements 9 are connected in series, and a group of delay circuits (no sign) having a total delay time of the delay times of the individual delay circuits 3 is obtained. It is formed. This is repeated to form the delay circuit device 10 having a predetermined delay time.

この場合、複数の貫通導体2同士の隣接間隔が同じであり、互いに同じ中心角の円弧Bの端部に位置しているので、上下の遅延回路素子9同士を相対的に90度回転させれば、上側の遅延回路素子9の一方の貫通導体(入力側)2(2a)と、下側の遅延回路素子9の他方の貫通導体(出力側)2(2b)とを容易に電気的に接続できる。なお、上記相対的な回転の角度は、貫通導体2の本数に応じて変更する。例えば、貫通導体2が6個の場合(図示せず)であれば、上下の遅延回路素子9を相対的に60度回転させればよい。つまり、回転の角度は、360×1/n(度)である(ただし、nは貫通導体2の個数)。   In this case, since the adjacent intervals of the plurality of through conductors 2 are the same and are located at the ends of the arc B having the same central angle, the upper and lower delay circuit elements 9 can be rotated relatively by 90 degrees. For example, one through conductor (input side) 2 (2a) of the upper delay circuit element 9 and the other through conductor (output side) 2 (2b) of the lower delay circuit element 9 can be easily and electrically connected. Can connect. The relative rotation angle is changed according to the number of through conductors 2. For example, if there are six through conductors 2 (not shown), the upper and lower delay circuit elements 9 may be rotated by 60 degrees relatively. That is, the rotation angle is 360 × 1 / n (degrees) (where n is the number of through conductors 2).

遅延回路装置10において、最下層の遅延回路素子3が、外部電気回路(図示せず)に対する入出力を行なうための層となる。最下層の遅延回路素子3の第1主面11(つまり、遅延回路装置10の最下面)に位置する貫通導体2の端部(実際にはランド4)が、はんだ等の導電性接続材8図示せず)を介して外部電気回路の所定位置に電気的および機械的に接
続される。これにより、遅延回路装置10の外部電気回路に対する実装が行なわれる。外部電気回路に実装された遅延回路装置10に対して外部電気回路から電気信号が入力され、遅延回路装置10で所定時間遅延された後に、遅延回路装置10から外部電気回路に電気信号が出力される。
In the delay circuit device 10, the lowermost delay circuit element 3 is a layer for performing input / output with respect to an external electric circuit (not shown). The end portion (actually land 4) of the through conductor 2 located on the first main surface 11 of the lowermost delay circuit element 3 (that is, the lowermost surface of the delay circuit device 10) is a conductive connecting material 8 such as solder. (Not shown) and electrically and mechanically connected to a predetermined position of the external electric circuit. Thereby, the delay circuit device 10 is mounted on the external electric circuit. An electrical signal is input from the external electrical circuit to the delay circuit device 10 mounted on the external electrical circuit, and after being delayed by the delay circuit device 10 for a predetermined time, the electrical signal is output from the delay circuit device 10 to the external electrical circuit. The

図4(a)は、上記遅延回路素子9の第1の変形例を示す上面図であり、図4(b)は図4(a)の遅延回路素子9により作製された遅延回路装置10の要部を示す分解斜視図である。図4において図1および図2と同様の部位には同様の符号を付している。   FIG. 4A is a top view showing a first modification of the delay circuit element 9, and FIG. 4B shows a delay circuit device 10 manufactured by the delay circuit element 9 of FIG. 4A. It is a disassembled perspective view which shows the principal part. 4, parts similar to those in FIGS. 1 and 2 are denoted by the same reference numerals.

図4に示す例においては、絶縁基板1が平面視で長方形状である。このような場合でも、複数の貫通導体2が仮想の円弧Bの端部に隣り合うように位置していれば、図1に示す遅延回路素子9および遅延回路装置10と同様の効果を得ることができる。   In the example shown in FIG. 4, the insulating substrate 1 has a rectangular shape in plan view. Even in such a case, if the plurality of through conductors 2 are positioned so as to be adjacent to the end of the virtual arc B, the same effects as those of the delay circuit element 9 and the delay circuit device 10 shown in FIG. Can do.

なお、この例のように絶縁基板1が長方形状(長辺と短辺とを有するもの)である場合には、複数の遅延回路素子9が上下に積層されたときに、それぞれの外側面同士が互いに上下に連続しない(いわゆる面一にならない)。そのため、作製された遅延回路装置の外側面に凹凸が生じる。このような場合には、この凹凸部分で絶縁基板1に機械的な破壊が生じやすいこと、凹凸部分が外部電気回路への実装時等に用いられるジグおよび装置(図示せず)等に引っ掛かりやすいこと等の、実用上の取扱性の低下を招く可能性がある。   When the insulating substrate 1 has a rectangular shape (having a long side and a short side) as in this example, when a plurality of delay circuit elements 9 are stacked one above the other, Are not continuous with each other (so-called not flush). Therefore, unevenness is generated on the outer surface of the manufactured delay circuit device. In such a case, this concavo-convex portion is likely to cause mechanical breakage of the insulating substrate 1, and the concavo-convex portion is likely to be caught by jigs and devices (not shown) used when mounted on an external electric circuit. There is a possibility that the practical handling will be reduced.

すなわち、絶縁基板1は、正多角形状または円形状であることが好ましい。この場合には、複数個の遅延回路素子9が積層されたときに、それぞれの外側面が上下に連続する(面一になる)ため、実用性等においてより良好な遅延回路素子9および遅延回路装置10を提供できる。   That is, the insulating substrate 1 is preferably a regular polygon or a circle. In this case, when a plurality of delay circuit elements 9 are stacked, the outer surfaces of the delay circuit elements 9 are vertically continuous (become flush with each other), so that the delay circuit element 9 and the delay circuit are better in practicality and the like. Device 10 can be provided.

正多角形状としては、図1に示すような正方形状に限らず、正三角形状、正五角形状、正六角形状および正八角形状等が挙げられる。この場合、絶縁基板1は、完全な正多角形には限られず、例えば正方形であって、その角部が円弧状に成形(いわゆる面取り)されたもの、または辺の一部に内側への凹みを有するもの等であってもよい。面取りにより、例えば、角部における絶縁基板1のクラック等の機械的な破壊がより効果的に抑制され得る。また、辺の一部における内側への凹みは、例えば、絶縁基板1をジグ等で持ち上げる際の持ち位置等として利用され得る。   The regular polygonal shape is not limited to a square shape as shown in FIG. 1, and includes a regular triangular shape, a regular pentagonal shape, a regular hexagonal shape, a regular octagonal shape, and the like. In this case, the insulating substrate 1 is not limited to a perfect regular polygon. For example, the insulating substrate 1 has a square shape and its corners are formed in a circular arc shape (so-called chamfering), or a part of the side is recessed inward. It may be one having By chamfering, for example, mechanical destruction such as cracks of the insulating substrate 1 at the corners can be more effectively suppressed. Further, the inward dent in a part of the side can be used as, for example, a holding position when the insulating substrate 1 is lifted by a jig or the like.

図5(a)および(b)はそれぞれ図1に示す遅延回路素子の第2および第3の変形例を示す上面図である。図5(a)は、絶縁基板1が正八角形である場合の例を示す。また、図5(b)は、絶縁基板が円形である場合の例を示す。   FIGS. 5A and 5B are top views showing second and third modifications of the delay circuit element shown in FIG. 1, respectively. FIG. 5A shows an example in which the insulating substrate 1 is a regular octagon. FIG. 5B shows an example where the insulating substrate is circular.

図5(a)に示すように、絶縁基板1が正八角形等の正多角形状である場合には、複数の遅延回路素子9を積層するときに、上下の遅延回路素子9の角部同士を位置合わせすることも容易である。   As shown in FIG. 5A, when the insulating substrate 1 has a regular polygonal shape such as a regular octagon, when the plurality of delay circuit elements 9 are stacked, the corners of the upper and lower delay circuit elements 9 are connected to each other. It is easy to align.

また、正多角形状の絶縁基板1の角部にそれぞれ貫通導体2が位置している場合には、角部同士の位置合わせと併せて、上下の貫通導体2の端部(またはランド4)同士の位置合わせも容易に実施および確認することができる。そのため、より実用性の高い遅延回路素子9を提供することができる。また、この場合、複数の貫通導体2同士の間の距離をよ
り大きくして、貫通導体2同士の電磁的な干渉を低減する上でも有利である。
In addition, when the through conductors 2 are located at the corners of the regular polygonal insulating substrate 1, the ends (or lands 4) of the upper and lower through conductors 2 are aligned together with the alignment of the corners. It is also possible to easily carry out and confirm the alignment of these. Therefore, the delay circuit element 9 with higher practicality can be provided. Further, in this case, it is advantageous to increase the distance between the plurality of through conductors 2 and reduce electromagnetic interference between the through conductors 2.

また、絶縁基板1が円形状である場合には、クラック等が生じやすい角部分がない(または少ない)ため、絶縁基板1におけるクラック等の機械的な破壊がより発生しにくい遅延回路素子9および遅延回路装置10を提供することができる。   Further, when the insulating substrate 1 is circular, there are no (or few) corner portions where cracks or the like are likely to occur, and therefore the delay circuit element 9 and the mechanical breakdown such as cracks in the insulating substrate 1 are less likely to occur. The delay circuit device 10 can be provided.

また、図5(b)に示すように、絶縁基板の中心部に、平面視において正多角形状の貫通孔5が設けられていてもよい。この場合には、複数の遅延回路素子9を積層するときに、貫通孔5の角部等の所定の位置を上下の遅延回路素子9同士の位置合わせ用に使うことができる。例えば、二つの遅延回路素子9を上下に積層し、上下の遅延回路素子9の貫通孔5の角部同士を位置合わせすれば、上下の遅延回路素子9の貫通導体2(ランド)4同士を容易に位置合わせすることができる。そのため、複数の遅延回路素子9が積層されてなる遅延回路装置10が製作されるときの作業性および生産性がより高い遅延回路素子9を提供することができる。   Moreover, as shown in FIG.5 (b), the regular polygonal through-hole 5 may be provided in the center part of the insulated substrate in planar view. In this case, when a plurality of delay circuit elements 9 are stacked, a predetermined position such as a corner of the through hole 5 can be used for alignment between the upper and lower delay circuit elements 9. For example, if two delay circuit elements 9 are stacked one above the other and the corners of the through holes 5 of the upper and lower delay circuit elements 9 are aligned, the through conductors 2 (lands) 4 of the upper and lower delay circuit elements 9 are connected to each other. Can be easily aligned. Therefore, it is possible to provide the delay circuit element 9 with higher workability and productivity when the delay circuit device 10 in which the plurality of delay circuit elements 9 are laminated is manufactured.

なお、この場合、貫通孔5の複数の角部のうちいずれか一つについて他のものと識別できるようなものとしておいて、出力電極としてのランド4(積層される二つの遅延回路素子9の一方のもの)と、入力電極としてのランド(他方の遅延回路素子9のもの)との位置合わせをより容易に行なえるようにしてもよい。このような識別手段としては、例えば染料または顔料等の着色材を用いた、絶縁基板1の第1または第2主面11、12への識別用のマークの印刷、または第1または第2主面11、12へのくぼみの形成等の手段が挙げられる。   In this case, any one of the plurality of corners of the through-hole 5 can be distinguished from the other, and the land 4 as the output electrode (the two delay circuit elements 9 to be stacked) It is also possible to make it easier to align the position of one of them) and the land as the input electrode (of the other delay circuit element 9). As such identification means, for example, printing of a mark for identification on the first or second main surface 11, 12 of the insulating substrate 1 using a coloring material such as dye or pigment, or the first or second main Means such as formation of recesses in the surfaces 11 and 12 can be mentioned.

この場合、複数の貫通導体2が、それぞれ、平面視において貫通孔5の中心から角を通る仮想の直線上に位置していてもよい。この場合には、上下の遅延回路素子9の貫通導体2(ランド4)同士の位置合わせ、および電気的な接続を、より容易かつ確実なものとすることができる。   In this case, each of the plurality of through conductors 2 may be positioned on a virtual straight line passing through the corner from the center of the through hole 5 in plan view. In this case, the alignment and electrical connection between the through conductors 2 (lands 4) of the upper and lower delay circuit elements 9 can be made easier and more reliable.

図6(a)は図1に示す遅延回路素子の第4の変形例を示す上面図であり、図6(b)は図6(a)のA−A線における断面図である。図6に示す例において、絶縁基板1の第2主面12に、接地導体層6が設けられている。このような接地導体層6が設けられていれば、複数の遅延回路素子9が上下に積層されたときに、上下に隣り合う遅延回路素子9の遅延回路3同士の間の電磁的な干渉を効果的に低減することができる。   6A is a top view showing a fourth modification of the delay circuit element shown in FIG. 1, and FIG. 6B is a cross-sectional view taken along the line AA in FIG. 6A. In the example shown in FIG. 6, the ground conductor layer 6 is provided on the second main surface 12 of the insulating substrate 1. If such a ground conductor layer 6 is provided, when a plurality of delay circuit elements 9 are stacked one above the other, electromagnetic interference between the delay circuits 3 of the delay circuit elements 9 adjacent to each other in the vertical direction is prevented. It can be effectively reduced.

接地導体層6は、上記電磁的なシールドの効果を十分に得る上では、平面透視で遅延回路3の全体を覆うような範囲で設けられていることが望ましい。また、接地導体層6が絶縁基板1の第1主面11または第2主面12に設けられている場合、遅延回路3は、他の遅延回路素子9の接地導体層6との電気的な短絡を避けるために、絶縁基板1の内部に位置するように設けられる。なお、接地導体層6は、例えば遅延回路3と同様の金属材料を用い、同様の方法で設けることができる。   The ground conductor layer 6 is desirably provided in a range that covers the entirety of the delay circuit 3 in a plan view in order to sufficiently obtain the electromagnetic shielding effect. When the ground conductor layer 6 is provided on the first main surface 11 or the second main surface 12 of the insulating substrate 1, the delay circuit 3 is electrically connected to the ground conductor layer 6 of the other delay circuit element 9. In order to avoid a short circuit, it is provided so as to be located inside the insulating substrate 1. The ground conductor layer 6 can be provided by the same method using, for example, the same metal material as that of the delay circuit 3.

接地導体層6が絶縁基板1の第1主面11および第2主面12のうち少なくとも一方の主面に設けられていれば、一定のシールド効果が得られる。さらに、接地導体層6が絶縁基板1の第1および第2主面11、12の両方に設けられていれば、上記電磁的なシールドの効果をより十分に得ることができる。また、接地導体層6が絶縁基板1の第1および第2主面11、12の両方に設けられていれば、例えば、酸化アルミニウム質焼結体等からなる絶縁基板1と、タングステン等のメタライズ層からなる接地導体層6が同時焼成で形成されるようなときに、絶縁基板1の反り等の変形がより確実に抑制できる。すなわち、絶縁基板1となるセラミックグリーンシート(積層体等)の第1および第2主面11、12に接地導体層6となる金属ペーストが印刷されて焼成されるとき、セラミックグリーンシートと金属ペ
ーストとの焼成時の収縮率の差に起因する応力がセラミックグリーンシートの上下で打ち消し合う。そのため、絶縁基板1の反りが効果的に抑制される。
If the ground conductor layer 6 is provided on at least one main surface of the first main surface 11 and the second main surface 12 of the insulating substrate 1, a certain shielding effect can be obtained. Furthermore, if the ground conductor layer 6 is provided on both the first and second main surfaces 11 and 12 of the insulating substrate 1, the electromagnetic shielding effect can be obtained more sufficiently. Further, if the ground conductor layer 6 is provided on both the first and second main surfaces 11 and 12 of the insulating substrate 1, for example, the insulating substrate 1 made of an aluminum oxide sintered body and the metallization of tungsten or the like. When the ground conductor layer 6 composed of layers is formed by simultaneous firing, deformation of the insulating substrate 1 such as warpage can be more reliably suppressed. That is, when the metal paste that becomes the ground conductor layer 6 is printed and fired on the first and second main surfaces 11 and 12 of the ceramic green sheet (laminated body or the like) that becomes the insulating substrate 1, the ceramic green sheet and the metal paste The stress caused by the difference in shrinkage during firing cancels out between the upper and lower sides of the ceramic green sheet. Therefore, the warp of the insulating substrate 1 is effectively suppressed.

図7は、図1に示す遅延回路素子の第5の変形例を示す上面図である。図7において図1および図2と同様の部位には同様の符号を付している。図7に示す例においては、複数の貫通導体2が、正方形状の絶縁基板1の辺の中央部にそれぞれ設けられている。このように、複数の貫通導体2は、正多角形状等の絶縁基板1の角部に位置してなくても構わない。   FIG. 7 is a top view showing a fifth modification of the delay circuit element shown in FIG. In FIG. 7, the same parts as those in FIGS. 1 and 2 are denoted by the same reference numerals. In the example shown in FIG. 7, a plurality of through conductors 2 are respectively provided in the central part of the side of the square insulating substrate 1. As described above, the plurality of through conductors 2 may not be located at corners of the insulating substrate 1 such as a regular polygonal shape.

例えば絶縁基板1における遅延回路3の配置スペース等の都合に応じて、図7に示すように、複数の貫通導体6の位置を適宜調整してもよい。貫通導体2が辺部分にある場合には、例えば絶縁基板1のうちクラック等の機械的な破壊が生じやすい角部から貫通導体2が離れている。そのため、例えば角部においてクラックが発生したとしても、その影響が貫通導体2に及ぶこと(貫通導体2の一部の破壊等)が、より効果的に抑制される。   For example, as shown in FIG. 7, the positions of the plurality of through conductors 6 may be appropriately adjusted according to the arrangement space of the delay circuit 3 on the insulating substrate 1 or the like. When the penetrating conductor 2 is on the side portion, the penetrating conductor 2 is separated from a corner portion of the insulating substrate 1 where mechanical breakage such as a crack is likely to occur. Therefore, for example, even if a crack occurs at the corner, it is more effectively suppressed that the influence reaches the through conductor 2 (partial destruction of the through conductor 2 and the like).

図8は、図1に示す遅延回路素子の第6の変形例を示す上面透視図である。図8において図1と同様の部位には同様の符号を付している。図8に示す例では、遅延回路3に隣り合って接地線路7が設けられている。接地線路7は、遅延回路3に対して離間している。この例において、互いに隣り合う遅延回路3と接地線路7とは、互いに同じ絶縁層1aの層間に設けられている。なお、図6においては、見やすくするために、遅延回路3および接地線路7が設けられた層間よりも上側の絶縁層1aを省略して透視図としている。   FIG. 8 is a top perspective view showing a sixth modification of the delay circuit element shown in FIG. In FIG. 8, the same parts as those in FIG. In the example shown in FIG. 8, the ground line 7 is provided adjacent to the delay circuit 3. The ground line 7 is separated from the delay circuit 3. In this example, the delay circuit 3 and the ground line 7 adjacent to each other are provided between the same insulating layers 1a. In FIG. 6, for the sake of clarity, the insulating layer 1a above the layer where the delay circuit 3 and the ground line 7 are provided is omitted from the perspective view.

なお、遅延回路3および接地線路7は、絶縁基板1の上面または下面に離間していても構わない。ただし、この場合には、複数の遅延回路素子3が積層されるときに上下の遅延回路素子3同士の間で電気的な短絡が生じないような位置に、遅延回路3および接地線路7が配置されている必要がある。   The delay circuit 3 and the ground line 7 may be separated from the upper surface or the lower surface of the insulating substrate 1. However, in this case, the delay circuit 3 and the ground line 7 are arranged at a position where an electrical short circuit does not occur between the upper and lower delay circuit elements 3 when the plurality of delay circuit elements 3 are stacked. Need to be.

遅延回路3に隣り合って接地線路7が設けられている場合には、遅延回路3の外部電気回路に対する電磁的なシールドの効果を高めることができる。そのため、例えば遅延回路装置10の遅延回路3と、遅延回路装置10が実装される外部電気回路との間の電磁的な干渉を効果的に低減することができる。このような接地線路7は、例えば遅延回路3と同様の金属材料を用い、同様の方法で設けることができる。   When the ground line 7 is provided adjacent to the delay circuit 3, the effect of electromagnetic shielding on the external electric circuit of the delay circuit 3 can be enhanced. Therefore, for example, electromagnetic interference between the delay circuit 3 of the delay circuit device 10 and the external electric circuit on which the delay circuit device 10 is mounted can be effectively reduced. Such a ground line 7 can be provided by the same method using the same metal material as the delay circuit 3, for example.

接地線路7は、上記電磁的なシールドの効果を十分に得る上では、遅延回路3の全長にわたって、これに隣り合うように設けられていることが望ましい。また、互いに隣り合っている遅延回路3と接地線路7とが、複数の絶縁層1aの層間、つまり絶縁基板1の内部に位置している場合には、例えば複数の遅延回路装置10が積層されときに、遅延回路装置10同士の間で遅延回路3または接地線路7における電気的短絡が抑制される。そのため、例えば複数の遅延回路装置10が積層されて用いられるようなときの実用性等を考慮すれば、遅延回路3および接地線路7が絶縁基板1の内部に位置していることが好ましい。   In order to sufficiently obtain the above-described electromagnetic shielding effect, the ground line 7 is desirably provided adjacent to the entire length of the delay circuit 3. When the delay circuit 3 and the ground line 7 which are adjacent to each other are located between the plurality of insulating layers 1a, that is, inside the insulating substrate 1, for example, a plurality of delay circuit devices 10 are stacked. Sometimes, the electrical short circuit in the delay circuit 3 or the ground line 7 is suppressed between the delay circuit devices 10. Therefore, for example, in consideration of practicality when a plurality of delay circuit devices 10 are stacked and used, it is preferable that the delay circuit 3 and the ground line 7 are located inside the insulating substrate 1.

また、接地線路7は、例えば図6に示すような接地導体層6を有する遅延回路素子9において、接地導体層6と電気的に接続されていてもよい。この場合には、接地線路7における接地電位がさらに安定して、遅延回路3に対する接地線路7による電磁的なシールドの効果がさらに高められる。   The ground line 7 may be electrically connected to the ground conductor layer 6 in a delay circuit element 9 having the ground conductor layer 6 as shown in FIG. In this case, the ground potential in the ground line 7 is further stabilized, and the effect of electromagnetic shielding by the ground line 7 on the delay circuit 3 is further enhanced.

接地線路7と接地導体層6との電気的な接続は、例えば絶縁層1aを厚み方向に貫通する接地用のビア導体7aを介して行なわれる。接地用のビア導体7aは、例えば貫通導体2と同様の金属材料を用い、同様の方法で形成することができる。   The electrical connection between the ground line 7 and the ground conductor layer 6 is made, for example, via a ground via conductor 7a that penetrates the insulating layer 1a in the thickness direction. The grounding via conductor 7a can be formed by using the same metal material as that of the through conductor 2, for example, by the same method.

なお、図8の例においては、遅延回路3がミアンダ状のパターンであり、複数の直線(線分)状の接地線路7が遅延回路3に隣り合って設けられている。複数の接地線路7は、ビア導体7aを介して接地導体層6と電気的に接続されていることによって、より確実に互いに同電位とされている。   In the example of FIG. 8, the delay circuit 3 has a meander pattern, and a plurality of straight (line segment) ground lines 7 are provided adjacent to the delay circuit 3. The plurality of ground lines 7 are electrically connected to the ground conductor layer 6 through the via conductors 7a, so that they are more reliably at the same potential.

図9は、図1に示す遅延回路素子の第7の変形例を示す断面図である。図9において図1と同様の部位には同様の符号を付している。図9に示す例においては、互いに積層された複数の絶縁層1aの層間に遅延回路3が位置している。また、その層間には、遅延回路3以外の部分に充填層8が充填されている。充填層8は、絶縁層1aよりも比誘電率が高い誘電体材料からなる。この例では、複数の絶縁層1aと、絶縁層1aの層間の充填層8とによって絶縁基板1Aが形成されている。   FIG. 9 is a sectional view showing a seventh modification of the delay circuit element shown in FIG. 9, parts similar to those in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals. In the example shown in FIG. 9, the delay circuit 3 is located between a plurality of stacked insulating layers 1a. Further, between the layers, a filling layer 8 is filled in portions other than the delay circuit 3. The filling layer 8 is made of a dielectric material having a relative dielectric constant higher than that of the insulating layer 1a. In this example, an insulating substrate 1A is formed by a plurality of insulating layers 1a and a filling layer 8 between the insulating layers 1a.

このような場合には、層間における遅延回路3以外の部分が充填層8で充填されているため、遅延回路3の厚みに応じて上下の絶縁層1aの間に空隙が生じるような可能性が低減される。そのため、複数の絶縁層1a同士の密着性が向上した絶縁基板1Aを含む遅延回路素子9、および遅延回路装置10を提供することができる。   In such a case, since the portion other than the delay circuit 3 between the layers is filled with the filling layer 8, there is a possibility that a gap is generated between the upper and lower insulating layers 1a according to the thickness of the delay circuit 3. Reduced. Therefore, it is possible to provide the delay circuit element 9 and the delay circuit device 10 including the insulating substrate 1A in which the adhesion between the plurality of insulating layers 1a is improved.

また、上記構成の充填層8を含む場合の大きな効果としては、遅延回路3の長さ(L)をより短くする上で有効であり、遅延回路素子9および遅延回路装置10としての小型化が容易である点が挙げられる。つまり、(式)T=L×√(ε)/cにおいて、同じ遅延時間Tを得る場合、比誘電率(二乗根)√(ε)が絶縁層1aよりも大きな充填層3が遅延回路3に隣接していると、遅延回路3の長さLが小さくてすみ、小型化に有利になる。 In addition, a large effect when the filling layer 8 having the above-described configuration is included is effective in shortening the length (L) of the delay circuit 3, and downsizing as the delay circuit element 9 and the delay circuit device 10 is effective. It is easy to mention. That is, when the same delay time T is obtained in (Expression) T = L × √ (ε r ) / c, the filling layer 3 having a relative dielectric constant (root) √ (ε r ) larger than that of the insulating layer 1a is delayed. If it is adjacent to the circuit 3, the length L of the delay circuit 3 can be small, which is advantageous for miniaturization.

充填層8は、その厚みが遅延回路3の厚みよりも大きいもの(図示せず)であってもよい。この場合には、充填層8が遅延回路3の全体を覆うように層間に充填される。   The filling layer 8 may have a thickness (not shown) larger than the thickness of the delay circuit 3. In this case, the filling layer 8 is filled between the layers so as to cover the entire delay circuit 3.

充填層8は、例えば絶縁層1aよりもガラス含有率が小さいセラミック焼結体によって形成されている。充填層8は、例えば絶縁層1aがガラスセラミック焼結体からなるときに、このガラスセラミック焼結体となるセラミックグリーンシートよりもガラス含有率を小さくしたセラミックペーストを作製し、このセラミックペーストを絶縁層1aとなるセラミックグリーンシートの表面に印刷し、同時焼成することによって形成することができる。この場合、セラミックペーストは、遅延回路3となる金属ペーストが印刷された部位を避けるようなパターンが設けられた版面を用いてスクリーン印刷法により印刷する。   The filling layer 8 is formed of, for example, a ceramic sintered body having a glass content smaller than that of the insulating layer 1a. For example, when the insulating layer 1a is made of a glass ceramic sintered body, the filling layer 8 is made of a ceramic paste having a glass content smaller than that of the ceramic green sheet to be the glass ceramic sintered body, and the ceramic paste is insulated. It can be formed by printing on the surface of the ceramic green sheet to be the layer 1a and co-firing. In this case, the ceramic paste is printed by a screen printing method using a printing plate provided with a pattern that avoids a portion where the metal paste to be the delay circuit 3 is printed.

なお、充填層8の比誘電率は、上記のようにガラス含有率によって適宜調整することができる。例えば絶縁層1aが、ガラス含有率が約60質量%程度であり、比誘電率が約7程度のガラスセラミック焼結体からなる場合であれば、充填層8は、ガラス含有率が約50質量%程度であり、比誘電率が約8程度のガラスセラミック焼結体からなるものが用いられ得る。   In addition, the relative dielectric constant of the filling layer 8 can be appropriately adjusted according to the glass content as described above. For example, if the insulating layer 1a is made of a glass ceramic sintered body having a glass content of about 60% by mass and a relative dielectric constant of about 7, the filler layer 8 has a glass content of about 50% by mass. % And a glass ceramic sintered body having a relative dielectric constant of about 8 can be used.

また、充填層8の比誘電率は、例えばその内部における空隙の割合または組成等の、ガラス含有率以外の手段で調整することもできる。例えば、充填層8における空隙の割合を小さくするほど、充填層8全体としての比誘電率を大きくすることができる。   In addition, the relative dielectric constant of the filling layer 8 can be adjusted by means other than the glass content, such as the ratio or composition of the voids inside. For example, the relative permittivity of the entire filling layer 8 can be increased as the proportion of the voids in the filling layer 8 is reduced.

充填層8は、例えば上記のようにセラミックペーストの印刷によって形成することができる。また、セラミックペーストは、絶縁層1aとなるセラミックグリーンシートのようにシート状に成形する必要がない。そのため、充填層8の形成は容易である。また、充填層8のガラス含有率の調整は、絶縁層1aのガラス含有率の調整よりも容易である。   The filling layer 8 can be formed, for example, by printing a ceramic paste as described above. Further, the ceramic paste does not need to be formed into a sheet shape unlike the ceramic green sheet that becomes the insulating layer 1a. Therefore, formation of the filling layer 8 is easy. Moreover, adjustment of the glass content rate of the filling layer 8 is easier than adjustment of the glass content rate of the insulating layer 1a.

1(1A)・・絶縁基板
11・・・第1主面
12・・・第2主面
1a・・絶縁層
2・・・貫通導体(配線導体)
3・・・遅延回路
4・・・ランド(電極)
5・・・貫通孔
6・・・接地導体層
7・・・接地線路
8・・・充填層
9・・・遅延回路素子
10・・・遅延回路装置
1 (1A) .. Insulating substrate
11 ・ ・ ・ First surface
12 ... 2nd main surface 1a .... Insulating layer 2 ... Through conductor (wiring conductor)
3 ... Delay circuit 4 ... Land (electrode)
5 ... through hole 6 ... grounding conductor layer 7 ... grounding line 8 ... filling layer 9 ... delay circuit element
10 ... Delay circuit device

Claims (10)

第1主面および該第1主面と反対側の第2主面を有する絶縁基板と、
前記絶縁基板の前記第1主面および前記第2主面に設けられており、前記第1主面と前記第2主面との間で、平面視で重なり合うとともに互いに電気的に接続された3つ以上の電極と、
前記絶縁基板に、前記複数の電極のうちいずれか一対の電極の間を接続するようにして設けられた遅延回路とを備えており、
前記複数の電極が、平面視において前記絶縁基板と重なる仮想の円の円周に沿って、それぞれの電極間の隣接間隔同士が互いに同じ長さになるように配置されており、
前記絶縁基板を前記仮想の円の中心を中心として回転させて上下に積層したときに、上側の前記一対の電極のうちの一方の電極が下側の前記一対の電極のうちの他方の電極と重なり、上側の前記一対の電極のうちの他方の電極が下側の前記一対の電極以外の他の電極と重なることを特徴とする遅延回路素子。
An insulating substrate having a first main surface and a second main surface opposite to the first main surface;
The insulation is provided on the first main surface and the second main surface of the substrate, between said first major surface and said second major surface, 3, which are electrically connected to each other with overlap in a plan view Two or more electrodes,
A delay circuit provided on the insulating substrate so as to connect between any one of the plurality of electrodes;
The plurality of electrodes are arranged along the circumference of a virtual circle that overlaps the insulating substrate in plan view so that adjacent intervals between the electrodes have the same length .
When the insulating substrate is rotated around the center of the virtual circle and stacked vertically, one electrode of the upper pair of electrodes is connected to the other electrode of the lower pair of electrodes. overlap, the delay circuit elements other electrode of the upper side of the pair of electrodes, wherein the overlap with Rukoto and other electrodes other than the pair of electrodes of the lower.
前記絶縁基板が、平面視において正多角形状または円形状であることを特徴とする請求項1記載の遅延回路素子。 The delay circuit element according to claim 1, wherein the insulating substrate has a regular polygonal shape or a circular shape in a plan view. 前記絶縁基板が、平面視において正多角形状であり、前記複数の電極が、それぞれ前記絶縁基板の角部に位置していることを特徴とする請求項2記載の遅延回路素子。 The delay circuit element according to claim 2, wherein the insulating substrate has a regular polygonal shape in a plan view, and the plurality of electrodes are respectively positioned at corners of the insulating substrate. 前記該絶縁基板の中心部に、平面視において正多角形状の貫通孔が設けられていることを特徴とする請求項2記載の遅延回路素子。 3. The delay circuit element according to claim 2, wherein a through-hole having a regular polygonal shape in a plan view is provided at a central portion of the insulating substrate. 前記複数の電極が、それぞれ、平面視において前記貫通孔の中心から角を通る仮想の直線上に位置していることを特徴とする請求項4記載の遅延回路素子。 5. The delay circuit element according to claim 4, wherein each of the plurality of electrodes is positioned on an imaginary straight line passing through a corner from the center of the through hole in plan view. 前記遅延回路が前記絶縁基板の内部に位置しており、前記絶縁基板の前記第1主面および前記第2主面のうち少なくとも一方の主面に、接地導体層が設けられていることを特徴とする請求項1〜請求項5のいずれかに記載の遅延回路素子。 The delay circuit is located inside the insulating substrate, and a ground conductor layer is provided on at least one main surface of the first main surface and the second main surface of the insulating substrate. The delay circuit element according to any one of claims 1 to 5. 前記遅延回路に隣り合って、該遅延回路と離間して設けられた接地線路をさらに備えることを特徴とする請求項1に記載の遅延回路素子。 The delay circuit element according to claim 1, further comprising a ground line provided adjacent to the delay circuit and spaced from the delay circuit. 前記遅延回路および前記接地線路が前記絶縁基板の内部に位置していることを特徴とする
請求項7記載の遅延回路素子。
8. The delay circuit element according to claim 7, wherein the delay circuit and the ground line are located inside the insulating substrate.
前記絶縁基板が、互いに積層された複数の絶縁層を含んでいるとともに、前記遅延回路が、前記複数の絶縁層の層間に位置しており、
前記絶縁層よりも比誘電率が高い誘電体材料からなり、前記遅延回路が位置している前記層間において前記遅延回路以外の部分に充填された充填層をさらに備えることを特徴とする請求項1記載の遅延回路素子。
The insulating substrate includes a plurality of insulating layers stacked on each other, and the delay circuit is located between the plurality of insulating layers,
2. The method according to claim 1, further comprising a filling layer made of a dielectric material having a relative dielectric constant higher than that of the insulating layer and filled in a portion other than the delay circuit between the layers where the delay circuit is located. The delay circuit element described.
請求項1に記載の遅延回路素子が前記第1主面を下にして上下に複数個積層されてなり、上下に隣接する2つの前記遅延回路素子間において、下側の前記遅延回路素子が有する前記一対の電極のうち前記第2主面側の前記他方の電極と、上側の前記遅延回路素子が有する前記一対の電極のうち前記第1主面側の前記一方の電極とが、電気的に接続されていることを特徴とする遅延回路装置。 The delay circuit element according to claim 1, wherein a plurality of the delay circuit elements are vertically stacked with the first main surface facing downward, and the lower delay circuit element has between the two delay circuit elements adjacent vertically. and said other side of the electrode of the second main surface side of the pair of electrodes, and the electrodes of the hand of the first main surface side of the pair of electrodes of the upper side of the delay circuit elements, electrical Delay circuit device, characterized in that the delay circuit devices are connected in a connected manner.
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