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JP6232168B2 - Solder resist composition, film, coated printed wiring board, film manufacturing method, and coated printed wiring board manufacturing method - Google Patents
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Solder resist composition, film, coated printed wiring board, film manufacturing method, and coated printed wiring board manufacturing method Download PDF

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Description

本発明は、ソルダーレジスト組成物、被膜、被覆プリント配線板、被膜の製造方法、及び被覆プリント配線板の製造方法に関する。   The present invention relates to a solder resist composition, a film, a coated printed wiring board, a method for producing a film, and a method for producing a coated printed wiring board.

プリント配線板上には、配線の保護、部品実装時の短絡防止等のために、ソルダーレジスト層等の被膜が形成される。また、プリント配線板には、製品情報等を表示する文字、記号等が、マーキングされることがある。   A film such as a solder resist layer is formed on the printed wiring board to protect the wiring and prevent a short circuit when mounting the component. In addition, characters, symbols or the like that display product information may be marked on the printed wiring board.

マーキングの視認性に優れた被覆配線板として、プリント配線板上に、第二の被膜、及び第一の被膜をこの順で形成した被覆配線板が知られている(日本国特許番号5643416)。第二の被膜は着色層として機能する。第一の被膜は、第一の領域と、第一の領域よりも光透過性の高い第二の領域とを備える。第一の被膜は特定の融点を有し且つ光重合性を有しない有機化合物を含有する感光性の被膜形成用組成物から形成される。この場合、被膜形成用組成物から形成される塗膜を露光する際の露光量を部分的に異ならせるだけで、第一の領域と第二の領域とを備える第一の被膜を作製できる。   As a coated wiring board having excellent marking visibility, a coated wiring board in which a second coating and a first coating are formed in this order on a printed wiring board is known (Japanese Patent No. 5634416). The second coating functions as a colored layer. The first coating includes a first region and a second region having higher light transmittance than the first region. The first film is formed from a photosensitive film-forming composition containing an organic compound having a specific melting point and not having photopolymerizability. In this case, a first film having the first region and the second region can be produced only by partially varying the exposure amount when exposing the coating film formed from the film forming composition.

この被覆配線板において、例えば、第一の被膜(ソルダーレジスト層)が緑色の着色剤を含有し、第二の被膜(ソルダーレジスト層)が黒色の着色剤を含有する場合には、第一の領域の外観色は緑色に見え、第二の領域の外観色は第一の被膜の色(緑色)と第一の被膜から透けて見える第二の被膜の色(黒色)とが混合して黒色又は暗緑色に見える。これにより、第一の領域と第二の領域との相違が明確に視認され、マーキングの視認性が高くなる。   In this coated wiring board, for example, when the first film (solder resist layer) contains a green colorant and the second film (solder resist layer) contains a black colorant, The appearance color of the area appears green, and the appearance color of the second area is black by mixing the color of the first film (green) and the color of the second film that is visible through the first film (black). Or it looks dark green. Thereby, the difference between the first region and the second region is clearly visually recognized, and the marking visibility is increased.

しかしながら、特許文献1に記載の被覆配線板では、プリント配線板上に第一の被膜及び第二の被膜からなる二層の被膜が形成されるため、生産性の低下を招いていた。また、プリント配線板を覆う被膜全体の膜厚が厚いため、被覆配線板を作製する際、露光(UV光)が二層の被膜の表層から深部まで十分に届きにくい。その結果、被膜の硬化が不十分となって、プリント配線板と二層の被膜との密着性が十分ではないおそれがあった。   However, in the coated wiring board described in Patent Document 1, since a two-layered film including the first film and the second film is formed on the printed wiring board, the productivity is lowered. Moreover, since the film thickness of the entire coating covering the printed wiring board is thick, it is difficult for exposure (UV light) to sufficiently reach from the surface layer to the deep part of the two-layer coating film when the coated wiring board is manufactured. As a result, the film was not sufficiently cured, and there was a possibility that the adhesion between the printed wiring board and the two-layer film was not sufficient.

本発明は上記事由に鑑みてなされたものであり、露光時の露光量を部分的に異ならせるだけで、単層であっても優れた視認性を有するマーキングを有する被膜を作製できるソルダーレジスト組成物、このソルダーレジスト組成物から作製された被膜、この被膜を備える被覆プリント配線板、被膜の製造方法、及び被覆プリント配線板の製造方法を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above reasons, and a solder resist composition capable of producing a film having a marking having excellent visibility even in a single layer only by partially varying the exposure amount during exposure. It is an object of the present invention to provide a product, a coating produced from this solder resist composition, a coated printed wiring board provided with this coating, a method for producing a coating, and a method for producing a coated printed wiring board.

本発明の一態様に係るソルダーレジスト組成物は、カルボキシル基含有樹脂(A)、光重合性モノマー及び光重合性プレポリマーからなる群から選択される一種以上の光重合性化合物(B)、光重合開始剤(C)、融点130℃以上の結晶性エポキシ樹脂(D)及び青色分散剤(E)を含有する。   The solder resist composition according to one aspect of the present invention includes one or more photopolymerizable compounds (B) selected from the group consisting of a carboxyl group-containing resin (A), a photopolymerizable monomer, and a photopolymerizable prepolymer, light It contains a polymerization initiator (C), a crystalline epoxy resin (D) having a melting point of 130 ° C. or higher, and a blue dispersant (E).

本発明の一態様に係る被膜は、前記ソルダーレジスト組成物の硬化物からなり、第一の領域と、前記第一の領域よりも光透過率が高い第二の領域とを含む。   The film which concerns on 1 aspect of this invention consists of hardened | cured material of the said soldering resist composition, and contains the 1st area | region and the 2nd area | region where the light transmittance is higher than a said 1st area | region.

本発明の一態様に係る被覆プリント配線板は、プリント配線板と、前記被膜とを備える。前記プリント配線板は、絶縁層と、前記絶縁層上にある銅製の配線とを備える。前記被膜は、前記絶縁層及び前記配線を覆っている。 The covering printed wiring board concerning one mode of the present invention is provided with a printed wiring board and the above-mentioned coat. The printed wiring board includes an insulating layer and a copper wiring on the insulating layer. The coating covers the insulating layer and the wiring.

本発明の一態様に係る被膜の製造方法は、
〈a〉前記ソルダーレジスト組成物からなる塗膜を形成する工程、〈b〉前記塗膜を露光する工程、及び〈c〉露光後の前記塗膜を加熱することで被膜を形成する工程を含む。前記〈b〉の工程では、前記塗膜における第一の部分に光を照射し、前記塗膜における前記第一の部分とは異なる第二の部分には光を照射せず、或いは前記第一の部分よりも露光量が低くなるように光を照射し、前記〈c〉の工程では、加熱により前記第一の部分内に気泡を発生させることで、前記被膜に気泡を含有する第一の領域と、気泡を含有せず或いは気泡の割合が前記第一の領域よりも低い第二の領域を形成する。
The method for producing a coating according to one aspect of the present invention includes:
<a> forming a coating film comprising the solder resist composition, <b> exposing the coating film, and <c> forming the coating film by heating the exposed coating film. . In the step <b>, the first portion of the coating film is irradiated with light, and the second portion of the coating film different from the first portion is not irradiated with light, or the first portion In the step <c>, by generating light bubbles in the first portion by heating, a first bubble containing bubbles in the coating is irradiated. A region and a second region that does not contain bubbles or have a lower bubble ratio than the first region are formed.

本発明の一態様に係る被覆プリント配線板の製造方法は、
〈d〉第1乃至第4のいずれか一の態様に係るソルダーレジスト組成物を、絶縁層と、前記絶縁層上にある銅製の配線とを備えるプリント配線板上に前記絶縁層及び前記配線を覆うように配置することで、塗膜を形成する工程、
〈e〉前記塗膜を露光する工程、
〈f〉露光後の前記塗膜をアルカリ性現像液で現像する工程、及び
〈g〉現像後の前記塗膜を加熱することで前記被膜を形成する工程を含む。
The method for producing a coated printed wiring board according to one aspect of the present invention,
<D> The solder resist composition according to any one of the first to fourth aspects, the insulating layer and the wiring on a printed wiring board including an insulating layer and a copper wiring on the insulating layer. The process of forming a coating film by arranging to cover,
<E> a step of exposing the coating film;
<F> The process of developing the said coating film after exposure with an alkaline developing solution, <g> The process of forming the said coating film by heating the said coating film after image development.

前記〈e〉の工程では、前記塗膜における第一の部分に光を照射し、前記塗膜における前記第一の部分とは異なる第二の部分には前記第一の部分よりも露光量が低くなるように光を照射し、
前記〈g〉の工程では、加熱により前記第一の部分内に気泡を発生させることで、前記被膜に気泡を含有する第一の領域と、気泡を含有せず或いは気泡の割合が前記第一の領域よりも低い第二の領域を形成する。
In the step <e>, the first part of the coating film is irradiated with light, and the second part different from the first part of the coating film has an exposure amount that is higher than that of the first part. Irradiate with light to lower it,
In the step <g>, by generating bubbles in the first portion by heating, the first region containing bubbles in the coating and the ratio of bubbles not containing bubbles or the first ratio A second region lower than the first region is formed.

本発明によれば、ソルダーレジスト組成物から形成された塗膜を露光し、かつ露光時の露光量を部分的に異ならせるだけで、単層であっても優れた視認性を有するマーキングを有する被膜を作製することができる。   According to the present invention, the coating film formed from the solder resist composition is exposed, and it has a marking having excellent visibility even if it is a single layer only by partially varying the exposure amount at the time of exposure. A coating can be made.

本発明の一実施形態における、被膜及び被膜を備える被膜プリント配線板の製造方法を示す概略の断面図である。It is general | schematic sectional drawing which shows the manufacturing method of the film printed wiring board provided with a film and a film in one Embodiment of this invention. 本発明の一実施形態における、被膜及び被膜を備える被膜プリント配線板の製造方法を示す概略の断面図である。It is general | schematic sectional drawing which shows the manufacturing method of the film printed wiring board provided with a film and a film in one Embodiment of this invention. 本発明の一実施形態における、被膜及び被膜を備える被膜プリント配線板の製造方法を示す概略の断面図である。It is general | schematic sectional drawing which shows the manufacturing method of the film printed wiring board provided with a film and a film in one Embodiment of this invention.

以下、本発明の実施の形態を説明する。尚、本明細書においては、アクリロイル及び/又はメタクリロイルを(メタ)アクリロイルと表す場合がある。また、アクリレート及び/又はメタクリレートを(メタ)アクリレートと表す場合がある。また、アクリル酸及び/又はメタクリル酸を(メタ)アクリル酸と表す場合がある。   Embodiments of the present invention will be described below. In the present specification, acryloyl and / or methacryloyl may be represented as (meth) acryloyl. In addition, acrylate and / or methacrylate may be represented as (meth) acrylate. Moreover, acrylic acid and / or methacrylic acid may be represented as (meth) acrylic acid.

{ソルダーレジスト組成物}
本実施形態のソルダーレジスト組成物は、カルボキシル基含有樹脂(A)、光重合性モノマー及び光重合性プレポリマーからなる群から選択される一種以上の光重合性化合物(B)、光重合開始剤(C)、融点130℃以上の結晶性エポキシ樹脂(D)及び青色分散剤(E)を含有する。
{Solder resist composition}
The solder resist composition of the present embodiment includes one or more photopolymerizable compounds (B) selected from the group consisting of a carboxyl group-containing resin (A), a photopolymerizable monomer, and a photopolymerizable prepolymer, a photopolymerization initiator. (C), a crystalline epoxy resin (D) having a melting point of 130 ° C. or higher and a blue dispersant (E) are contained.

本実施形態のソルダーレジスト組成物から塗膜を形成し、この塗膜を露光すると共にこの露光時の露光量を部分的に異ならせると、単層であっても視認性に優れたマーキングを有する被膜を形成することができる。銅製の配線を備えるプリント配線板上に被膜を形成すると、マーキングの視認性が特に優れる。   When a coating film is formed from the solder resist composition of the present embodiment, and this coating film is exposed and the exposure amount at the time of this exposure is partially different, it has a marking with excellent visibility even in a single layer. A film can be formed. When a film is formed on a printed wiring board provided with copper wiring, the marking visibility is particularly excellent.

ソルダーレジスト組成物の組成について、更に詳しく説明する。   The composition of the solder resist composition will be described in more detail.

[カルボキシル基含有樹脂(A)]
カルボキシル基含有樹脂(A)は、ソルダーレジスト組成物から形成される塗膜に、アルカリ性溶液による現像性、すなわちアルカリ現像性を付与することができる。
[Carboxyl group-containing resin (A)]
The carboxyl group-containing resin (A) can impart developability with an alkaline solution, that is, alkali developability, to the coating film formed from the solder resist composition.

(カルボキシル基含有樹脂(A1))
カルボキシル基含有樹脂(A)は、光重合性官能基を有するカルボキシル基含有樹脂(A1)(以下、(A1)成分ともいう)を含有することもできる。光重合性官能基は、例えばエチレン性不飽和基である。
(Carboxyl group-containing resin (A1))
The carboxyl group-containing resin (A) can also contain a carboxyl group-containing resin (A1) having a photopolymerizable functional group (hereinafter also referred to as component (A1)). The photopolymerizable functional group is, for example, an ethylenically unsaturated group.

(A1)成分は、例えば一分子中に二個以上のエポキシ基を有するエポキシ化合物(a1)における前記エポキシ基のうち少なくとも一つに、カルボキシル基を有するエチレン性不飽和化合物(a2)が反応し、更に多価カルボン酸及びその無水物から選択される少なくとも一種の化合物(a3)が付加した構造を有する樹脂(以下、第一の樹脂(a)という)を、含有することができる。   As the component (A1), for example, an ethylenically unsaturated compound (a2) having a carboxyl group reacts with at least one of the epoxy groups in the epoxy compound (a1) having two or more epoxy groups in one molecule. Furthermore, a resin having a structure to which at least one compound (a3) selected from a polyvalent carboxylic acid and an anhydride thereof is added (hereinafter referred to as the first resin (a)) can be contained.

エポキシ化合物(a1)は、例えばクレゾールノボラック型エポキシ樹脂、フェノールノボラック型エポキシ樹脂、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、ビスフェノールAノボラック型エポキシ樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、ビフェニルアラルキル型エポキシ樹脂、トリグリシジルイソシアヌレート、脂環式エポキシ樹脂、ビスフェノールフルオレン型エポキシ樹脂及びエポキシ基を有する化合物を含むエチレン性不飽和化合物の重合体からなる群から選ばれる少なくとも一種の化合物を含有することができる。   The epoxy compound (a1) is, for example, a cresol novolak type epoxy resin, a phenol novolak type epoxy resin, a bisphenol A type epoxy resin, a bisphenol F type epoxy resin, a bisphenol A novolak type epoxy resin, a naphthalene type epoxy resin, a biphenyl type epoxy resin, or biphenyl. Contains at least one compound selected from the group consisting of aralkyl-type epoxy resins, triglycidyl isocyanurates, alicyclic epoxy resins, bisphenolfluorene-type epoxy resins, and polymers of ethylenically unsaturated compounds including compounds having an epoxy group be able to.

エポキシ化合物(a1)が、エポキシ基を備える化合物(p1)を含むエチレン性不飽和化合物(p)の重合体を含有してもよい。エチレン性不飽和化合物(p)の重合体の合成に供される原料は、エポキシ基を備える化合物(p1)のみを含有してもよく、エポキシ基を備える化合物(p1)とエポキシ基を備えない化合物(p2)とを含有してもよい。   The epoxy compound (a1) may contain a polymer of an ethylenically unsaturated compound (p) including the compound (p1) having an epoxy group. The raw material used for the synthesis of the polymer of the ethylenically unsaturated compound (p) may contain only the compound (p1) having an epoxy group, and does not have the compound (p1) having an epoxy group and the epoxy group. You may contain a compound (p2).

エポキシ基を備える化合物(p1)は、適宜のポリマー及びプレポリマーから選択される化合物を含有することができる。具体的には、エポキシ基を備える化合物(p1)は、アクリル酸のエポキシシクロヘキシル誘導体類、メタクリル酸のエポキシシクロヘキシル誘導体類、アクリレートの脂環エポキシ誘導体、メタクリレートの脂環エポキシ誘導体、β−メチルグリシジルアクリレート、及びβ−メチルグリシジルメタクリレートからなる群から選択される一種以上の化合物を含有することができる。特に、エポキシ基を備える化合物(p1)が、汎用されて入手が容易なグリシジル(メタ)アクリレートを含有することが好ましい。   The compound (p1) having an epoxy group can contain a compound selected from appropriate polymers and prepolymers. Specifically, the compound (p1) having an epoxy group is an epoxy cyclohexyl derivative of acrylic acid, an epoxy cyclohexyl derivative of methacrylic acid, an alicyclic epoxy derivative of acrylate, an alicyclic epoxy derivative of methacrylate, or β-methylglycidyl acrylate. And one or more compounds selected from the group consisting of β-methylglycidyl methacrylate. In particular, it is preferable that the compound (p1) having an epoxy group contains glycidyl (meth) acrylate which is widely used and easily available.

エポキシ基を備えない化合物(p2)は、エポキシ基を備える化合物(p1)と共重合可能な化合物であればよい。エポキシ基を備えない化合物(p2)は、例えば2−(メタ)アクリロイロキシエチルフタレート、2−(メタ)アクリロイロキシエチル−2−ヒドロキシエチルフタレート、2−(メタ)アクリロイロキシプロピルフタレート、ベンジル(メタ)アクリレート、ネオペンチルグリコールベンゾエート(メタ)アクリレート、パラクミルフェノキシエチレングリコール(メタ)アクリレート、EO変性クレゾール(メタ)アクリレート、エトキシ化フェニル(メタ)アクリレート、ノニルフェノキシポリエチレングリコール(メタ)アクリレート(重合度n=2〜17)、ECH変性フェノキシ(メタ)アクリレート、フェノキシジエチレングリコール(メタ)アクリレート、フェノキシエチル(メタ)アクリレート、フェノキシヘキサエチレングリコール(メタ)アクリレート、フェノキシテトラエチレングリコール(メタ)アクリレート、トリブロモフェニル(メタ)アクリレート、EO変性トリブロモフェニル(メタ)アクリレート、EO変性ビスフェノールAジ(メタ)アクリレート、PO変性ビスフェノールAジ(メタ)アクリレート、変性ビスフェノールAジ(メタ)アクリレート、EO変性ビスフェノールFジ(メタ)アクリレート、ECH変性フタル酸ジ(メタ)アクリレート、トリメチロールプロパンベンゾエート(メタ)アクリレート、EO変性フタル酸(メタ)アクリレート、EO,PO変性フタル酸(メタ)アクリレート、ビニルカルバゾール、スチレン、N−フェニルマレイミド、N−ベンジルマレイミド、3−マレイミド安息香酸N−スクシンイミジル、直鎖状或いは分岐を有する脂肪族又は脂環族(但し、環中に一部不飽和結合を有してもよい)の(メタ)アクリル酸エステル、ヒドロキシアルキル(メタ)アクリレート、アルコキシアルキル(メタ)アクリレート、及びN−置換マレイミド類からなる群から選択される一種以上の化合物を含有することができる。N−置換マレイミド類としては、例えば、N−シクロヘキシルマレイミドなどが挙げられる。   The compound (p2) not having an epoxy group may be a compound copolymerizable with the compound (p1) having an epoxy group. Examples of the compound (p2) having no epoxy group include 2- (meth) acryloyloxyethyl phthalate, 2- (meth) acryloyloxyethyl-2-hydroxyethyl phthalate, 2- (meth) acryloyloxypropyl phthalate, Benzyl (meth) acrylate, neopentyl glycol benzoate (meth) acrylate, paracumylphenoxyethylene glycol (meth) acrylate, EO-modified cresol (meth) acrylate, ethoxylated phenyl (meth) acrylate, nonylphenoxypolyethylene glycol (meth) acrylate ( Degree of polymerization n = 2 to 17), ECH-modified phenoxy (meth) acrylate, phenoxydiethylene glycol (meth) acrylate, phenoxyethyl (meth) acrylate, phenoxyhexaeth Glycol (meth) acrylate, phenoxytetraethylene glycol (meth) acrylate, tribromophenyl (meth) acrylate, EO-modified tribromophenyl (meth) acrylate, EO-modified bisphenol A di (meth) acrylate, PO-modified bisphenol A di ( (Meth) acrylate, modified bisphenol A di (meth) acrylate, EO modified bisphenol F di (meth) acrylate, ECH modified phthalic acid di (meth) acrylate, trimethylolpropane benzoate (meth) acrylate, EO modified phthalic acid (meth) acrylate , EO, PO modified phthalic acid (meth) acrylate, vinyl carbazole, styrene, N-phenylmaleimide, N-benzylmaleimide, 3-maleimidobenzoic acid N-succinimid , (Meth) acrylic acid ester, hydroxyalkyl (meth) acrylate, alkoxyalkyl (which may have a linear or branched aliphatic or alicyclic group (but may partially have an unsaturated bond in the ring)) One or more compounds selected from the group consisting of (meth) acrylates and N-substituted maleimides can be contained. Examples of N-substituted maleimides include N-cyclohexylmaleimide.

エポキシ基を備えない化合物(p2)が、更に一分子中にエチレン性不飽和基を二個以上備える化合物を含有してもよい。この化合物が使用され、その配合量が調整されることで、被膜の硬度及び油性が容易に調整される。一分子中にエチレン性不飽和基を二個以上備える化合物は、例えばポリエチレングリコールジ(メタ)アクリレート、ポリプロピレングリコールジ(メタ)アクリレート、トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、及びペンタエリスリトールトリ(メタ)アクリレートからなる群から選択される一種以上の化合物を含有することができる。   The compound having no epoxy group (p2) may further contain a compound having two or more ethylenically unsaturated groups in one molecule. By using this compound and adjusting the amount of the compound, the hardness and oiliness of the coating can be easily adjusted. Examples of the compound having two or more ethylenically unsaturated groups in one molecule include polyethylene glycol di (meth) acrylate, polypropylene glycol di (meth) acrylate, trimethylolpropane tri (meth) acrylate, and pentaerythritol tri (meth). One or more compounds selected from the group consisting of acrylates can be contained.

エチレン性不飽和化合物(p)が、例えば溶液重合法、エマルション重合法等の公知の重合法により重合することで、重合体が得られる。溶液重合法の具体例として、エチレン性不飽和化合物(p)を適当な有機溶剤中で、重合開始剤の存在下、窒素雰囲気下で加熱攪拌する方法並びに共沸重合法が、挙げられる。   A polymer is obtained by polymerizing the ethylenically unsaturated compound (p) by a known polymerization method such as a solution polymerization method or an emulsion polymerization method. Specific examples of the solution polymerization method include a method of heating and stirring the ethylenically unsaturated compound (p) in a suitable organic solvent in the presence of a polymerization initiator in a nitrogen atmosphere and an azeotropic polymerization method.

エチレン性不飽和化合物(p)の重合のために使用される有機溶剤は、例えばケトン類、芳香族炭化水素類、酢酸エステル類、及びジアルキルグリコールエーテル類からなる群から選択される一種以上の化合物を含有することができる。ケトン類としては、例えば、メチルエチルケトン、シクロヘキサノン等が挙げられる。芳香族炭化水素類としては、例えば、トルエン、キシレン等が挙げられる。酢酸エステル類としては、例えば、酢酸エチル、酢酸ブチル、セロソルブアセテート、ブチルセロソルブアセテート、カルビトールアセテート、ブチルカルビトールアセテート、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート等が挙げられる。   The organic solvent used for the polymerization of the ethylenically unsaturated compound (p) is, for example, one or more compounds selected from the group consisting of ketones, aromatic hydrocarbons, acetic acid esters, and dialkyl glycol ethers Can be contained. Examples of ketones include methyl ethyl ketone and cyclohexanone. Examples of aromatic hydrocarbons include toluene, xylene and the like. Examples of acetates include ethyl acetate, butyl acetate, cellosolve acetate, butyl cellosolve acetate, carbitol acetate, butyl carbitol acetate, and propylene glycol monomethyl ether acetate.

エチレン性不飽和化合物(p)の重合のために使用される重合開始剤は、例えばハイドロパーオキサイド類、ジアルキルパーオキサイド類、ジアシルパーオキサイド類、ケトンパーオキサイド類、アルキルパーエステル類、パーオキシジカーボネート類、アゾ化合物、並びにレドックス系の開始剤からなる群から選択される一種以上の化合物を含有することができる。ハイドロパーオキサイド類としては、例えば、ジイソプロピルベンゼンハイドロパーオキサイド等が挙げられる。ジアルキルパーオキサイド類としては、例えば、ジクミルパーオキサイド、2,5−ジメチル−2,5−ジ−(t−ブチルパーオキシ)−ヘキサン等が挙げられる。ジアシルパーオキサイド類としては、例えば、イソブチリルパーオキサイド等が挙げられる。ケトンパーオキサイド類としては、例えば、メチルエチルケトンパーオキサイド等が挙げられる。アルキルパーエステル類としては、例えば、t−ブチルパーオキシピバレート等が挙げられる。パーオキシジカーボネート類としては、例えば、ジイソプロピルパーオキシジカーボネート等が挙げられる。アゾ化合物としては、例えば、アゾビスイソブチロニトリル等が挙げられる。   Polymerization initiators used for the polymerization of the ethylenically unsaturated compound (p) are, for example, hydroperoxides, dialkyl peroxides, diacyl peroxides, ketone peroxides, alkyl peresters, peroxydi. One or more compounds selected from the group consisting of carbonates, azo compounds, and redox initiators can be contained. Examples of hydroperoxides include diisopropylbenzene hydroperoxide. Examples of dialkyl peroxides include dicumyl peroxide, 2,5-dimethyl-2,5-di- (t-butylperoxy) -hexane, and the like. Examples of diacyl peroxides include isobutyryl peroxide. Examples of ketone peroxides include methyl ethyl ketone peroxide. Examples of alkyl peresters include t-butyl peroxypivalate. Examples of peroxydicarbonates include diisopropyl peroxydicarbonate. Examples of the azo compound include azobisisobutyronitrile.

エチレン性不飽和化合物(a2)は、適宜のポリマー及びプレポリマーからなる群から選択される化合物を含有することができる。エチレン性不飽和化合物(a2)は、エチレン性不飽和基を一個のみ有する化合物を含有することができる。エチレン性不飽和基を一個のみ有する化合物は、例えばアクリル酸、メタクリル酸、クロトン酸、桂皮酸、2−アクリロイルオキシエチルコハク酸、2−メタクリロイルオキシエチルコハク酸、2−アクリロイルオキシエチルフタル酸、2−メタクリロイルオキシエチルフタル酸、β−カルボキシエチルアクリレート、アクリロイルオキシエチルサクシネート、メタクリロイルオキシエチルサクシネート、2−プロペノイックアシッド,3−(2−カルボキシエトキシ)−3−オキシプロピルエステル、2−アクリロイルオキシエチルテトラヒドロフタル酸、2−メタクリロイルオキシエチルテトラヒドロフタル酸、2−アクリロイルオキシエチルヘキサヒドロフタル酸、及び2−メタクリロイルオキシエチルヘキサヒドロフタル酸からなる群から選択される一種以上の化合物を含有することができる。エチレン性不飽和化合物(a2)は、エチレン性不飽和基を複数個備える化合物を更に含有することができる。エチレン性不飽和基を複数個備える化合物は、例えばヒドロキシル基を備える多官能アクリレート、並びに多官能メタクリレートに二塩基酸無水物を反応させて得られる化合物からなる群から選択される一種以上の化合物を含有することができる。ヒドロキシル基を備える多官能アクリレート並びに多官能メタクリレートとしては、例えば、ペンタエリスリトールトリアクリレート、ペンタエリスリトールトリメタクリレート、トリメチロールプロパンジアクリレート、トリメチロールプロパンジメタクリレート、ジペンタエリスリトールペンタアクリレート、ジペンタエリスリトールペンタメタクリレート等が挙げられる。   The ethylenically unsaturated compound (a2) can contain a compound selected from the group consisting of appropriate polymers and prepolymers. The ethylenically unsaturated compound (a2) can contain a compound having only one ethylenically unsaturated group. Examples of the compound having only one ethylenically unsaturated group include acrylic acid, methacrylic acid, crotonic acid, cinnamic acid, 2-acryloyloxyethyl succinic acid, 2-methacryloyloxyethyl succinic acid, 2-acryloyloxyethyl phthalic acid, 2 -Methacryloyloxyethylphthalic acid, β-carboxyethyl acrylate, acryloyloxyethyl succinate, methacryloyloxyethyl succinate, 2-propenoic acid, 3- (2-carboxyethoxy) -3-oxypropyl ester, 2-acryloyl Consists of oxyethyl tetrahydrophthalic acid, 2-methacryloyloxyethyl tetrahydrophthalic acid, 2-acryloyloxyethyl hexahydrophthalic acid, and 2-methacryloyloxyethyl hexahydrophthalic acid It can contain one or more compounds selected from. The ethylenically unsaturated compound (a2) can further contain a compound having a plurality of ethylenically unsaturated groups. The compound having a plurality of ethylenically unsaturated groups is, for example, one or more compounds selected from the group consisting of a polyfunctional acrylate having a hydroxyl group, and a compound obtained by reacting a difunctional anhydride with a polyfunctional methacrylate. Can be contained. Examples of the polyfunctional acrylate having a hydroxyl group and the polyfunctional methacrylate include pentaerythritol triacrylate, pentaerythritol trimethacrylate, trimethylolpropane diacrylate, trimethylolpropane dimethacrylate, dipentaerythritol pentaacrylate, dipentaerythritol pentamethacrylate and the like. Is mentioned.

特にエチレン性不飽和化合物(a2)が、アクリル酸及びメタクリル酸のうち少なくとも一方を含有することが好ましい。この場合、アクリル酸及びメタクリル酸に由来するエチレン性不飽和基は特に光反応性に優れるため、第一の樹脂(a)の光反応性が高くなる。   In particular, the ethylenically unsaturated compound (a2) preferably contains at least one of acrylic acid and methacrylic acid. In this case, since the ethylenically unsaturated group derived from acrylic acid and methacrylic acid is particularly excellent in photoreactivity, the photoreactivity of the first resin (a) is increased.

エチレン性不飽和化合物(a2)の使用量は、エポキシ化合物(a1)のエポキシ基1モルに対してエチレン性不飽和化合物(a2)のカルボキシル基が0.4〜1.2モルの範囲内となる量であることが好ましく、特に前記カルボキシル基が0.5〜1.1モルの範囲内となる量であることが好ましい。   The amount of the ethylenically unsaturated compound (a2) used is such that the carboxyl group of the ethylenically unsaturated compound (a2) is in the range of 0.4 to 1.2 mol with respect to 1 mol of the epoxy group of the epoxy compound (a1). It is preferable that the amount is such that the carboxyl group is in the range of 0.5 to 1.1 mol.

多価カルボン酸及びその無水物からなる群から選択される化合物(a3)は、例えばジカルボン酸;三塩基酸以上の多価カルボン酸;並びにこれらの多価カルボン酸の無水物からなる群から選択される一種以上の化合物を含有することができる。ジカルボン酸としては、例えば、フタル酸、テトラヒドロフタル酸、メチルテトラヒドロフタル酸、メチルナジック酸、ヘキサヒドロフタル酸、メチルヘキサヒドロフタル酸、コハク酸、メチルコハク酸、マレイン酸、シトラコン酸、グルタル酸、イタコン酸等が挙げられる。三塩基酸以上の多価カルボン酸としては、例えば、シクロヘキサン−1,2,4−トリカルボン酸、トリメリット酸、ピロメリット酸、ベンゾフェノンテトラカルボン酸、メチルシクロヘキセンテトラカルボン酸等が挙げられる。   The compound (a3) selected from the group consisting of polyvalent carboxylic acids and anhydrides thereof is, for example, selected from the group consisting of dicarboxylic acids; tribasic acid or higher polycarboxylic acids; and anhydrides of these polycarboxylic acids One or more compounds can be included. Examples of the dicarboxylic acid include phthalic acid, tetrahydrophthalic acid, methyltetrahydrophthalic acid, methylnadic acid, hexahydrophthalic acid, methylhexahydrophthalic acid, succinic acid, methylsuccinic acid, maleic acid, citraconic acid, glutaric acid, and itacone. An acid etc. are mentioned. Examples of the polybasic carboxylic acid having a tribasic acid or higher include cyclohexane-1,2,4-tricarboxylic acid, trimellitic acid, pyromellitic acid, benzophenone tetracarboxylic acid, and methylcyclohexene tetracarboxylic acid.

化合物(a3)は、第一の樹脂(a)に酸価を与えることで、ソルダーレジスト組成物に希アルカリ水溶液による再分散、再溶解性を付与することを主たる目的として使用される。化合物(a3)の使用量は、第一の樹脂(a)の酸価が好ましくは30mgKOH/g以上、特に好ましくは60mgKOH/g以上となるように調整される。また、化合物(a3)の使用量は、第一の樹脂(a)の酸価が好ましくは160mgKOH/g以下、特に好ましくは130mgKOH/g以下となるように調整される。   The compound (a3) is used mainly for imparting redispersion and resolubility with a dilute alkaline aqueous solution to the solder resist composition by giving an acid value to the first resin (a). The amount of the compound (a3) used is adjusted so that the acid value of the first resin (a) is preferably 30 mgKOH / g or more, particularly preferably 60 mgKOH / g or more. The amount of the compound (a3) used is adjusted so that the acid value of the first resin (a) is preferably 160 mgKOH / g or less, particularly preferably 130 mgKOH / g or less.

第一の樹脂(a)が合成される際に、エポキシ化合物(a1)とエチレン性不飽和化合物(a2)との付加反応、並びにこの付加反応による生成物(付加反応生成物)と化合物(a3)との付加反応を進行させるにあたっては、公知の方法が採用され得る。例えばエポキシ化合物(a1)とエチレン性不飽和化合物(a2)との付加反応にあたっては、エポキシ化合物(a1)の溶剤溶液にエチレン性不飽和化合物(a2)を加え、更に必要に応じて熱重合禁止剤及び触媒を加えて攪拌混合することで、反応性溶液が得られる。この反応性溶液を常法により好ましくは60〜150℃、特に好ましくは80〜120℃の反応温度で反応させることで、付加反応生成物が得られる。熱重合禁止剤としてはハイドロキノン、ハイドロキノンモノメチルエーテル等が挙げられる。触媒としては第3級アミン類、第4級アンモニウム塩類、トリフェニルホスフィン、トリフェニルスチビンなどが挙げられる。第3級アミン類としては、例えば、ベンジルジメチルアミン、トリエチルアミン等が挙げられる。第4級アンモニウム塩類としては、例えば、トリメチルベンジルアンモニウムクロライド、メチルトリエチルアンモニウムクロライド等が挙げられる。   When the first resin (a) is synthesized, an addition reaction between the epoxy compound (a1) and the ethylenically unsaturated compound (a2), and a product (addition reaction product) and a compound (a3) obtained by the addition reaction. In the case of proceeding the addition reaction with (), a known method may be employed. For example, in the addition reaction between the epoxy compound (a1) and the ethylenically unsaturated compound (a2), the ethylenically unsaturated compound (a2) is added to the solvent solution of the epoxy compound (a1), and thermal polymerization is prohibited as necessary. A reactive solution is obtained by adding an agent and a catalyst and stirring and mixing. An addition reaction product is obtained by reacting this reactive solution at a reaction temperature of preferably 60 to 150 ° C., particularly preferably 80 to 120 ° C., by a conventional method. Examples of the thermal polymerization inhibitor include hydroquinone and hydroquinone monomethyl ether. Examples of the catalyst include tertiary amines, quaternary ammonium salts, triphenylphosphine, and triphenylstibine. Examples of tertiary amines include benzyldimethylamine and triethylamine. Examples of the quaternary ammonium salts include trimethylbenzylammonium chloride and methyltriethylammonium chloride.

付加反応生成物と化合物(a3)との付加反応を進行させるにあたっては、付加反応生成物の溶剤溶液に化合物(a3)を加え、更に必要に応じて熱重合禁止剤及び触媒を加えて撹拌混合することで、反応性溶液が得られる。この反応性溶液を常法により反応させることで、第一の樹脂(a)が得られる。反応条件はエポキシ化合物(a1)とエチレン性不飽和化合物(a2)との付加反応の場合と同じ条件でよい。熱重合禁止剤及び触媒としては、エポキシ化合物(a1)とカルボキシル基を有するエチレン性不飽和化合物(a2)との付加反応時に使用された化合物をそのまま使用することができる。   In proceeding the addition reaction between the addition reaction product and the compound (a3), the compound (a3) is added to the solvent solution of the addition reaction product, and a thermal polymerization inhibitor and a catalyst are further added as necessary, followed by stirring and mixing. By doing so, a reactive solution is obtained. The first resin (a) is obtained by reacting this reactive solution by a conventional method. The reaction conditions may be the same as in the addition reaction of the epoxy compound (a1) and the ethylenically unsaturated compound (a2). As the thermal polymerization inhibitor and the catalyst, the compound used in the addition reaction between the epoxy compound (a1) and the ethylenically unsaturated compound (a2) having a carboxyl group can be used as it is.

(A1)成分は、第二の樹脂(b)を含有してもよい。第二の樹脂(b)は、カルボキシル基を有するエチレン性不飽和化合物を含むエチレン性不飽和単量体の重合体におけるカルボキシル基の一部にエポキシ基を有するエチレン性不飽和化合物を反応させることで得られる。エチレン性不飽和単量体には必要に応じてカルボキシル基を有さないエチレン性不飽和化合物も含まれていてもよい。   The component (A1) may contain the second resin (b). The second resin (b) is obtained by reacting an ethylenically unsaturated compound having an epoxy group with a part of the carboxyl group in a polymer of ethylenically unsaturated monomers including an ethylenically unsaturated compound having a carboxyl group. It is obtained by. The ethylenically unsaturated monomer may contain an ethylenically unsaturated compound having no carboxyl group, if necessary.

第二の樹脂(b)を得るためのカルボキシル基を有するエチレン性不飽和化合物は、適宜のポリマー及びプレポリマーを含有することができる。例えばカルボキシル基を有するエチレン性不飽和化合物は、エチレン性不飽和基を1個のみ有する化合物を含有することができる。より具体的には、カルボキシル基を有するエチレン性不飽和化合物は、アクリル酸、メタクリル酸、ω−カルボキシ−ポリカプロラクトン(n≒2)モノアクリレート、クロトン酸、桂皮酸、2−アクリロイルオキシエチルコハク酸、2−メタクリロイルオキシエチルコハク酸、2−アクリロイルオキシエチルフタル酸、2−メタクリロイルオキシエチルフタル酸、β−カルボキシエチルアクリレート、アクリロイルオキシエチルサクシネート、メタクリロイルオキシエチルサクシネート、2−プロペノイックアシッド,3−(2−カルボキシエトキシ)−3−オキシプロピルエステル、2−アクリロイルオキシエチルテトラヒドロフタル酸、2−メタクリロイルオキシエチルテトラヒドロフタル酸、2−アクリロイルオキシエチルヘキサヒドロフタル酸、及び2−メタクリロイルオキシエチルヘキサヒドロフタル酸からなる群から選択される一種以上の化合物を含有することができる。カルボキシル基を有するエチレン性不飽和化合物は、エチレン性不飽和基を複数有する化合物を含有することもできる。より具体的には、カルボキシル基を有するエチレン性不飽和化合物は、ヒドロキシル基を有する多官能の(メタ)アクリレートに、二塩基酸無水物を反応させて得られる化合物を含有することができる。これらの化合物は一種単独で使用され、或いは複数種が併用される。ヒドロキシル基を有する多官能の(メタ)アクリレートは、例えば、ペンタエリスリトールトリアクリレート、ペンタエリスリトールトリメタクリレート、トリメチロールプロパンジアクリレート、トリメチロールプロパンジメタクリレート、ジペンタエリスリトールペンタアクリレート、及びジペンタエリスリトールペンタメタクリレートからなる群から選択される一種以上の化合物である。   The ethylenically unsaturated compound having a carboxyl group for obtaining the second resin (b) can contain an appropriate polymer and prepolymer. For example, an ethylenically unsaturated compound having a carboxyl group can contain a compound having only one ethylenically unsaturated group. More specifically, the ethylenically unsaturated compound having a carboxyl group is acrylic acid, methacrylic acid, ω-carboxy-polycaprolactone (n≈2) monoacrylate, crotonic acid, cinnamic acid, 2-acryloyloxyethyl succinic acid. 2-methacryloyloxyethyl succinic acid, 2-acryloyloxyethyl phthalic acid, 2-methacryloyloxyethyl phthalic acid, β-carboxyethyl acrylate, acryloyloxyethyl succinate, methacryloyloxyethyl succinate, 2-propenoic acid, 3- (2-carboxyethoxy) -3-oxypropyl ester, 2-acryloyloxyethyl tetrahydrophthalic acid, 2-methacryloyloxyethyl tetrahydrophthalic acid, 2-acryloyloxyethyl hexahydride One or more compounds selected from the group consisting of lophthalic acid and 2-methacryloyloxyethyl hexahydrophthalic acid can be contained. The ethylenically unsaturated compound having a carboxyl group can also contain a compound having a plurality of ethylenically unsaturated groups. More specifically, the ethylenically unsaturated compound having a carboxyl group can contain a compound obtained by reacting a difunctional acid anhydride with a polyfunctional (meth) acrylate having a hydroxyl group. These compounds are used individually by 1 type, or multiple types are used together. The polyfunctional (meth) acrylate having a hydroxyl group is, for example, pentaerythritol triacrylate, pentaerythritol trimethacrylate, trimethylolpropane diacrylate, trimethylolpropane dimethacrylate, dipentaerythritol pentaacrylate, and dipentaerythritol pentamethacrylate. One or more compounds selected from the group consisting of:

第二の樹脂(b)を得るためのカルボキシル基を有さないエチレン性不飽和化合物は、カルボキシル基を有するエチレン性不飽和化合物と共重合可能な化合物であればよい。カルボキシル基を有さないエチレン性不飽和化合物は、芳香環を有する化合物と、芳香環を有さない化合物のうち、いずれも含有することができる。   The ethylenically unsaturated compound having no carboxyl group for obtaining the second resin (b) may be any compound that can be copolymerized with the ethylenically unsaturated compound having a carboxyl group. The ethylenically unsaturated compound having no carboxyl group can contain both a compound having an aromatic ring and a compound having no aromatic ring.

芳香環を有する化合物は、例えば2−(メタ)アクリロイロキシエチルフタレート、2−(メタ)アクリロイロキシエチル−2−ヒドロキシエチルフタレート、2−(メタ)アクリロイロキシプロピルフタレート、ベンジル(メタ)アクリレート、ネオペンチルグリコールベンゾエート(メタ)アクリレート、パラクミルフェノキシエチレングリコール(メタ)アクリレート、EO変性クレゾール(メタ)アクリレート、エトキシ化フェニル(メタ)アクリレート、ノニルフェノキシポリエチレングリコール(メタ)アクリレート(n=2〜17)、ECH変性フェノキシ(メタ)アクリレート、フェノキシジエチレングリコール(メタ)アクリレート、フェノキシエチル(メタ)アクリレート、フェノキシヘキサエチレングリコール(メタ)アクリレート、フェノキシテトラエチレングリコール(メタ)アクリレート、トリブロモフェニル(メタ)アクリレート、EO変性トリブロモフェニル(メタ)アクリレート、EO変性ビスフェノールAジ(メタ)アクリレート、PO変性ビスフェノールAジ(メタ)アクリレート、変性ビスフェノールAジ(メタ)アクリレート、EO変性ビスフェノールFジ(メタ)アクリレート、ECH変性フタル酸ジ(メタ)アクリレート、トリメチロールプロパンベンゾエート(メタ)アクリレート、EO変性フタル酸(メタ)アクリレート、EO,PO変性フタル酸(メタ)アクリレート、ビニルカルバゾール、スチレン、ビニルナフタレン、及びビニルビフェニルからなる群から選択される一種以上の化合物を含有することができる。   Examples of the compound having an aromatic ring include 2- (meth) acryloyloxyethyl phthalate, 2- (meth) acryloyloxyethyl-2-hydroxyethyl phthalate, 2- (meth) acryloyloxypropyl phthalate, and benzyl (meth). Acrylate, neopentyl glycol benzoate (meth) acrylate, paracumylphenoxyethylene glycol (meth) acrylate, EO-modified cresol (meth) acrylate, ethoxylated phenyl (meth) acrylate, nonylphenoxypolyethylene glycol (meth) acrylate (n = 2 to 2) 17), ECH-modified phenoxy (meth) acrylate, phenoxydiethylene glycol (meth) acrylate, phenoxyethyl (meth) acrylate, phenoxyhexaethylene glycol (meth) Acrylate, phenoxytetraethylene glycol (meth) acrylate, tribromophenyl (meth) acrylate, EO modified tribromophenyl (meth) acrylate, EO modified bisphenol A di (meth) acrylate, PO modified bisphenol A di (meth) acrylate, modified Bisphenol A di (meth) acrylate, EO modified bisphenol F di (meth) acrylate, ECH modified phthalic acid di (meth) acrylate, trimethylolpropane benzoate (meth) acrylate, EO modified phthalic acid (meth) acrylate, EO, PO modified One or more compounds selected from the group consisting of phthalic acid (meth) acrylate, vinyl carbazole, styrene, vinyl naphthalene, and vinyl biphenyl can be contained.

芳香環を有さない化合物は、例えば直鎖又は分岐の脂肪族、或いは脂環族(但し、環中に一部不飽和結合を有してもよい)の(メタ)アクリル酸エステル、ヒドロキシアルキル(メタ)アクリレート、アルコキシアルキル(メタ)アクリレート;及びN−置換マレイミド類からなる群から選択される一種以上の化合物を含有することができる。N−置換マレイミド類としては、N−シクロヘキシルマレイミド等が挙げられる。芳香環を有さない化合物は、更にポリエチレングリコールジ(メタ)アクリレート、ポリプロピレングリコールジ(メタ)アクリレート、トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールトリ(メタ)アクリレート等の、1分子中にエチレン性不飽和基を2個以上有する化合物を含有してもよい。これらの化合物は一種単独で使用され、或いは複数種が併用される。これらの化合物は被膜の硬度及び油性の調節が容易である等の点で好ましい。   The compound having no aromatic ring is, for example, a linear or branched aliphatic or alicyclic (however, the ring may partially have an unsaturated bond) (meth) acrylic acid ester, hydroxyalkyl One or more compounds selected from the group consisting of (meth) acrylates, alkoxyalkyl (meth) acrylates; and N-substituted maleimides can be contained. Examples of N-substituted maleimides include N-cyclohexylmaleimide. Compounds that do not have an aromatic ring include ethylene glycol in one molecule such as polyethylene glycol di (meth) acrylate, polypropylene glycol di (meth) acrylate, trimethylolpropane tri (meth) acrylate, and pentaerythritol tri (meth) acrylate. You may contain the compound which has 2 or more of unsaturated unsaturated groups. These compounds are used individually by 1 type, or multiple types are used together. These compounds are preferable in that the hardness and oiliness of the film can be easily adjusted.

第二の樹脂(b)を得るためのエポキシ基を有するエチレン性不飽和化合物としては、適宜のポリマー又はプレポリマーが挙げられる。このエポキシ基を有するエチレン性不飽和化合物の具体例として、アクリル酸又はメタクリル酸のエポキシシクロヘキシル誘導体類;アクリレート又はメタクリレートの脂環エポキシ誘導体;β−メチルグリシジルアクリレート、β−メチルグリシジルメタクリレート等が挙げられる。これらの化合物は一種単独で使用され、或いは複数種が併用される。特に、汎用されて入手が容易なグリシジル(メタ)アクリレートが用いられることが好ましい。   As the ethylenically unsaturated compound having an epoxy group for obtaining the second resin (b), an appropriate polymer or prepolymer may be mentioned. Specific examples of the ethylenically unsaturated compound having an epoxy group include epoxycyclohexyl derivatives of acrylic acid or methacrylic acid; alicyclic epoxy derivatives of acrylate or methacrylate; β-methylglycidyl acrylate, β-methylglycidyl methacrylate, and the like. . These compounds are used individually by 1 type, or multiple types are used together. In particular, it is preferable to use glycidyl (meth) acrylate which is widely used and easily available.

(A1)成分は、第三の樹脂(c)を含有してもよい。第三の樹脂(c)は、カルボキシル基を有するエチレン性不飽和化合物とヒドロキシル基を有するエチレン性不飽和化合物とを含むエチレン性不飽和単量体の重合体におけるヒドロキシル基の一部又は全部にエチレン性不飽和基及びイソシアネート基を有する化合物を付加して得られる。エチレン性不飽和単量体には必要に応じてカルボキシル基及びヒドロキシル基を有さないエチレン性不飽和化合物が含まれていてもよい。   The component (A1) may contain a third resin (c). The third resin (c) is prepared by adding a part or all of hydroxyl groups in a polymer of ethylenically unsaturated monomers including an ethylenically unsaturated compound having a carboxyl group and an ethylenically unsaturated compound having a hydroxyl group. It is obtained by adding a compound having an ethylenically unsaturated group and an isocyanate group. The ethylenically unsaturated monomer may contain an ethylenically unsaturated compound having no carboxyl group and hydroxyl group, if necessary.

第三の樹脂(c)を得るためのカルボキシル基を有するエチレン性不飽和化合物は、例えば上述の第二の樹脂(b)を得るためのカルボキシル基を有するエチレン性不飽和化合物と同じでよい。   The ethylenically unsaturated compound having a carboxyl group for obtaining the third resin (c) may be, for example, the same as the ethylenically unsaturated compound having a carboxyl group for obtaining the second resin (b).

第三の樹脂(c)を得るためのヒドロキシル基を有するエチレン性不飽和化合物の具体例としては、ヒドロキシアルキル(メタ)アクリレート、ヒドロキシブチルビニルエーテル、ヒドロキシエチルビニルエーテル、及びN−ヒドロキシエチル(メタ)アクリルアミド等が挙げられる。ヒドロキシアルキル(メタ)アクリレートとしては、例えば、2−ヒドロキシエチル(メタ)アクリレート、2−ヒドロキシプロピル(メタ)アクリレート、4−ヒドロキシブチル(メタ)アクリレート、シクロヘキサンジメタノールモノ(メタ)アクリレート、2−(メタ)アクリロイロキシエチル−2−ヒドロキシエチルフタレート、カプロラクトン(メタ)アクリレート、ポリエチレングリコール(メタ)アクリレート、ポリプロピレングリコール(メタ)アクリレート、トリメチロールプロパンジ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールトリ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールペンタ(メタ)アクリレート等が挙げられる。   Specific examples of the ethylenically unsaturated compound having a hydroxyl group for obtaining the third resin (c) include hydroxyalkyl (meth) acrylate, hydroxybutyl vinyl ether, hydroxyethyl vinyl ether, and N-hydroxyethyl (meth) acrylamide. Etc. Examples of the hydroxyalkyl (meth) acrylate include 2-hydroxyethyl (meth) acrylate, 2-hydroxypropyl (meth) acrylate, 4-hydroxybutyl (meth) acrylate, cyclohexanedimethanol mono (meth) acrylate, 2- ( (Meth) acryloyloxyethyl-2-hydroxyethyl phthalate, caprolactone (meth) acrylate, polyethylene glycol (meth) acrylate, polypropylene glycol (meth) acrylate, trimethylolpropane di (meth) acrylate, pentaerythritol tri (meth) acrylate, Examples include dipentaerythritol penta (meth) acrylate.

第三の樹脂(c)を得るためのエチレン性不飽和基及びイソシアネート基を有する化合物の具体例としては、2−アクリロイルオキシエチルイソシアネート(具体例として昭和電工株式会社;品名「カレンズAOI」)、2−メタクリロイルオキシエチルイソシアネート(具体例として昭和電工株式会社;品名「カレンズMOI」)、メタクリロイルオキシエトキシエチルイソシアネート(具体例として昭和電工株式会社;品名「カレンズMOI−EG」)、カレンズMOIのイソシアネートブロック体(具体例として昭和電工株式会社;品名「カレンズMOI一BM」)、カレンズMOIのイソシアネートブロック体(具体例として昭和電工株式会社;品名「カレンズMOI−BP」)、及び1,1−(ビスアクリロイルオキシメチル)エチルイソシアネート)(具体例として昭和電工株式会社;品名「カレンズBEI」)等が挙げられる。   Specific examples of the compound having an ethylenically unsaturated group and an isocyanate group for obtaining the third resin (c) include 2-acryloyloxyethyl isocyanate (as a specific example, Showa Denko KK; product name “Karenz AOI”), 2-Methacryloyloxyethyl isocyanate (specific example Showa Denko KK; product name “Karenz MOI”), methacryloyloxyethoxyethyl isocyanate (specific example Showa Denko KK; product name “Karenz MOI-EG”), isocyanate block of Karenz MOI Body (as a specific example Showa Denko KK; product name “Karenz MOI-BM”), Karenz MOI isocyanate block (as a specific example Showa Denko KK; product name “Karenz MOI-BP”), and 1,1- (bis Acryloyloxymethyl) Le isocyanate) (Examples Showa Denko KK; product name "Karenz BEI") and the like.

(A1)成分全体の重量平均分子量は、800〜100000の範囲内であることが好ましい。この範囲内において、ソルダーレジスト組成物に特に優れた感光性と解像性とが付与される。   The weight average molecular weight of the entire component (A1) is preferably in the range of 800 to 100,000. Within this range, particularly excellent photosensitivity and resolution are imparted to the solder resist composition.

(A1)成分全体の酸価は30mgKOH/g以上であることが好ましく、この場合、ソルダーレジスト組成物に良好な現像性が付与される。この酸価は60mgKOH/g以上であれば更に好ましい。また、(A1)成分全体の酸価は160mgKOH/g以下であることが好ましく、この場合、ソルダーレジスト組成物から形成される被膜中のカルボキシル基の残留量が低減し、被膜の良好な電気特性、耐電蝕性及び耐水性等が維持される。この酸価は130mgKOH/g以下であれば更に好ましい。   The acid value of the entire component (A1) is preferably 30 mgKOH / g or more. In this case, good developability is imparted to the solder resist composition. The acid value is more preferably 60 mgKOH / g or more. The acid value of the entire component (A1) is preferably 160 mgKOH / g or less. In this case, the residual amount of carboxyl groups in the coating formed from the solder resist composition is reduced, and the coating has good electrical properties. In addition, electric corrosion resistance and water resistance are maintained. The acid value is more preferably 130 mgKOH / g or less.

(カルボキシル基含有樹脂(A2))
カルボキシル基含有樹脂(A)は、カルボキシル基を有し、光重合性官能基を有さないカルボキシル基含有樹脂(A2)(以下、(A2)成分ともいう)を含有することができる。
(Carboxyl group-containing resin (A2))
The carboxyl group-containing resin (A) can contain a carboxyl group-containing resin (A2) (hereinafter also referred to as component (A2)) that has a carboxyl group and does not have a photopolymerizable functional group.

(A2)成分は、例えばカルボキシル基を有するエチレン性不飽和化合物を含むエチレン性不飽和単量体の重合体を含有する。エチレン性不飽和単量体には更にカルボキシル基を有さないエチレン性不飽和化合物が含まれていてもよい。   (A2) A component contains the polymer of the ethylenically unsaturated monomer containing the ethylenically unsaturated compound which has a carboxyl group, for example. The ethylenically unsaturated monomer may further contain an ethylenically unsaturated compound having no carboxyl group.

カルボキシル基を有するエチレン性不飽和化合物は、適宜のポリマー及びプレポリマーを含有することができ、例えばエチレン性不飽和基を1個のみ有する化合物を含有することができる。より具体的には、カルボキシル基を有するエチレン性不飽和化合物は、アクリル酸、メタクリル酸、ω−カルボキシ−ポリカプロラクトン(n≒2)モノアクリレート、クロトン酸、桂皮酸、2−アクリロイルオキシエチルコハク酸、2−メタクリロイルオキシエチルコハク酸、2−アクリロイルオキシエチルフタル酸、2−メタクリロイルオキシエチルフタル酸、β−カルボキシエチルアクリレート、アクリロイルオキシエチルサクシネート、メタクリロイルオキシエチルサクシネート、2−プロペノイックアシッド,3−(2−カルボキシエトキシ)−3−オキシプロピルエステル、2−アクリロイルオキシエチルテトラヒドロフタル酸、2−メタクリロイルオキシエチルテトラヒドロフタル酸、2−アクリロイルオキシエチルヘキサヒドロフタル酸、及び2−メタクリロイルオキシエチルヘキサヒドロフタル酸からなる群から選択される一種以上の化合物を含有することができる。カルボキシル基を有するエチレン性不飽和化合物は、エチレン性不飽和基を複数有する化合物を含有することもできる。より具体的には、カルボキシル基を有するエチレン性不飽和化合物は、ヒドロキシル基を有する多官能の(メタ)アクリレートに、二塩基酸無水物を反応させて得られる化合物を含有することができる。これらの化合物は一種単独で使用され、或いは複数種が併用される。ヒドロキシル基を有する多官能の(メタ)アクリレートとしては、例えば、ペンタエリスリトールトリアクリレート、ペンタエリスリトールトリメタクリレート、トリメチロールプロパンジアクリレート、トリメチロールプロパンジメタクリレート、ジペンタエリスリトールペンタアクリレート、及びジペンタエリスリトールペンタメタクリレートからなる群から選択される。   The ethylenically unsaturated compound having a carboxyl group can contain an appropriate polymer and prepolymer, for example, a compound having only one ethylenically unsaturated group. More specifically, the ethylenically unsaturated compound having a carboxyl group is acrylic acid, methacrylic acid, ω-carboxy-polycaprolactone (n≈2) monoacrylate, crotonic acid, cinnamic acid, 2-acryloyloxyethyl succinic acid. 2-methacryloyloxyethyl succinic acid, 2-acryloyloxyethyl phthalic acid, 2-methacryloyloxyethyl phthalic acid, β-carboxyethyl acrylate, acryloyloxyethyl succinate, methacryloyloxyethyl succinate, 2-propenoic acid, 3- (2-carboxyethoxy) -3-oxypropyl ester, 2-acryloyloxyethyl tetrahydrophthalic acid, 2-methacryloyloxyethyl tetrahydrophthalic acid, 2-acryloyloxyethyl hexahydride One or more compounds selected from the group consisting of lophthalic acid and 2-methacryloyloxyethyl hexahydrophthalic acid can be contained. The ethylenically unsaturated compound having a carboxyl group can also contain a compound having a plurality of ethylenically unsaturated groups. More specifically, the ethylenically unsaturated compound having a carboxyl group can contain a compound obtained by reacting a difunctional acid anhydride with a polyfunctional (meth) acrylate having a hydroxyl group. These compounds are used individually by 1 type, or multiple types are used together. Examples of the polyfunctional (meth) acrylate having a hydroxyl group include pentaerythritol triacrylate, pentaerythritol trimethacrylate, trimethylolpropane diacrylate, trimethylolpropane dimethacrylate, dipentaerythritol pentaacrylate, and dipentaerythritol pentamethacrylate. Selected from the group consisting of

カルボキシル基を有さないエチレン性不飽和化合物は、カルボキシル基を有するエチレン性不飽和化合物と共重合可能な化合物であればよい。カルボキシル基を有さないエチレン性不飽和化合物は、芳香環を有する化合物と、芳香環を有さない化合物のうち、いずれも含有することができる。   The ethylenically unsaturated compound which does not have a carboxyl group should just be a compound copolymerizable with the ethylenically unsaturated compound which has a carboxyl group. The ethylenically unsaturated compound having no carboxyl group can contain both a compound having an aromatic ring and a compound having no aromatic ring.

芳香環を有する化合物は、例えば2−(メタ)アクリロイロキシエチルフタレート、2−(メタ)アクリロイロキシエチル−2−ヒドロキシエチルフタレート、2−(メタ)アクリロイロキシプロピルフタレート、ベンジル(メタ)アクリレート、ネオペンチルグリコールベンゾエート(メタ)アクリレート、パラクミルフェノキシエチレングリコール(メタ)アクリレート、EO変性クレゾール(メタ)アクリレート、エトキシ化フェニル(メタ)アクリレート、ノニルフェノキシポリエチレングリコール(メタ)アクリレート(n=2〜17)、ECH変性フェノキシ(メタ)アクリレート、フェノキシジエチレングリコール(メタ)アクリレート、フェノキシエチル(メタ)アクリレート、フェノキシヘキサエチレングリコール(メタ)アクリレート、フェノキシテトラエチレングリコール(メタ)アクリレート、トリブロモフェニル(メタ)アクリレート、EO変性トリブロモフェニル(メタ)アクリレート、EO変性ビスフェノールAジ(メタ)アクリレート、PO変性ビスフェノールAジ(メタ)アクリレート、変性ビスフェノールAジ(メタ)アクリレート、EO変性ビスフェノールFジ(メタ)アクリレート、ECH変性フタル酸ジ(メタ)アクリレート、トリメチロールプロパンベンゾエート(メタ)アクリレート、EO変性フタル酸(メタ)アクリレート、EO、PO変性フタル酸(メタ)アクリレート、ビニルカルバゾール、スチレン、ビニルナフタレン、及びビニルビフェニルからなる群から選択される一種以上の化合物を含有することができる。   Examples of the compound having an aromatic ring include 2- (meth) acryloyloxyethyl phthalate, 2- (meth) acryloyloxyethyl-2-hydroxyethyl phthalate, 2- (meth) acryloyloxypropyl phthalate, and benzyl (meth). Acrylate, neopentyl glycol benzoate (meth) acrylate, paracumylphenoxyethylene glycol (meth) acrylate, EO-modified cresol (meth) acrylate, ethoxylated phenyl (meth) acrylate, nonylphenoxypolyethylene glycol (meth) acrylate (n = 2 to 2) 17), ECH-modified phenoxy (meth) acrylate, phenoxydiethylene glycol (meth) acrylate, phenoxyethyl (meth) acrylate, phenoxyhexaethylene glycol (meth) Acrylate, phenoxytetraethylene glycol (meth) acrylate, tribromophenyl (meth) acrylate, EO modified tribromophenyl (meth) acrylate, EO modified bisphenol A di (meth) acrylate, PO modified bisphenol A di (meth) acrylate, modified Bisphenol A di (meth) acrylate, EO modified bisphenol F di (meth) acrylate, ECH modified phthalic acid di (meth) acrylate, trimethylolpropane benzoate (meth) acrylate, EO modified phthalic acid (meth) acrylate, EO, PO modified One or more compounds selected from the group consisting of phthalic acid (meth) acrylate, vinyl carbazole, styrene, vinyl naphthalene, and vinyl biphenyl can be contained.

芳香環を有さない化合物は、例えば直鎖又は分岐の脂肪族、或いは脂環族(但し、環中に一部不飽和結合を有してもよい)の(メタ)アクリル酸エステル、ヒドロキシアルキル(メタ)アクリレート、アルコキシアルキル(メタ)アクリレート等;及びN−シクロヘキシルマレイミド等のN−置換マレイミド類からなる群から選択される一種以上の化合物を含有することができる。芳香環を有さない化合物は、更に1分子中にエチレン性不飽和基を2個以上有する化合物を含有してもよい。1分子中にエチレン性不飽和基を2個以上有する化合物としては、例えば、ポリエチレングリコールジ(メタ)アクリレート、ポリプロピレングリコールジ(メタ)アクリレート、トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールトリ(メタ)アクリレート等が挙げられる。これらの化合物は一種単独で使用され、或いは複数種が併用される。これらの化合物は被膜の硬度及び油性の調節が容易である等の点で好ましい。   The compound having no aromatic ring is, for example, a linear or branched aliphatic or alicyclic (however, the ring may partially have an unsaturated bond) (meth) acrylic acid ester, hydroxyalkyl One or more compounds selected from the group consisting of (meth) acrylates, alkoxyalkyl (meth) acrylates, etc .; and N-substituted maleimides such as N-cyclohexylmaleimide can be contained. The compound having no aromatic ring may further contain a compound having two or more ethylenically unsaturated groups in one molecule. Examples of the compound having two or more ethylenically unsaturated groups in one molecule include polyethylene glycol di (meth) acrylate, polypropylene glycol di (meth) acrylate, trimethylolpropane tri (meth) acrylate, pentaerythritol tri (meta ) Acrylate and the like. These compounds are used individually by 1 type, or multiple types are used together. These compounds are preferable in that the hardness and oiliness of the film can be easily adjusted.

(A2)成分を得るために用いられる化合物の種類、比率等は、(A2)成分の酸価が適当な値となるように適宜選択される。(A2)成分の酸価は20〜180mgKOH/gの範囲内であることが好ましく、35〜165mgKOH/gの範囲内であれば更に好ましい。   The type, ratio, and the like of the compound used to obtain the component (A2) are appropriately selected so that the acid value of the component (A2) becomes an appropriate value. The acid value of the component (A2) is preferably in the range of 20 to 180 mgKOH / g, more preferably in the range of 35 to 165 mgKOH / g.

[光重合性化合物(B)]
光重合性化合物(B)は、ソルダーレジスト組成物に光硬化性を付与する。光重合性化合物(B)は、光重合性モノマー及び光重合性プレポリマーからなる群から選択される一種以上の化合物を含有する。
[Photopolymerizable compound (B)]
The photopolymerizable compound (B) imparts photocurability to the solder resist composition. The photopolymerizable compound (B) contains one or more compounds selected from the group consisting of a photopolymerizable monomer and a photopolymerizable prepolymer.

光重合性モノマーは、例えばエチレン性不飽和基を有する。光重合性モノマーは、例えば単官能(メタ)アクリレート;並びに多官能(メタ)アクリレートからなる群から選択される一種以上の化合物を含有することができる。単官能(メタ)アクリレートとしては、例えば、2−ヒドロキシエチル(メタ)アクリレート等が挙げられる。多官能(メタ)アクリレートとしては、例えば、ジエチレングリコールジ(メタ)アクリレート、トリメチロールプロパンジ(メタ)アクリレート、トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールトリ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールテトラ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールペンタ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールヘキサ(メタ)アクリレート、ε―カプロラクトン変性ペンタエリストールヘキサアクリレート等が挙げられる。   The photopolymerizable monomer has, for example, an ethylenically unsaturated group. The photopolymerizable monomer can contain, for example, one or more compounds selected from the group consisting of monofunctional (meth) acrylates; and polyfunctional (meth) acrylates. As monofunctional (meth) acrylate, 2-hydroxyethyl (meth) acrylate etc. are mentioned, for example. Examples of the polyfunctional (meth) acrylate include diethylene glycol di (meth) acrylate, trimethylolpropane di (meth) acrylate, trimethylolpropane tri (meth) acrylate, pentaerythritol tri (meth) acrylate, and pentaerythritol tetra (meth). Examples thereof include acrylate, dipentaerythritol penta (meth) acrylate, dipentaerythritol hexa (meth) acrylate, and ε-caprolactone-modified pentaerythritol hexaacrylate.

光重合性モノマーが、リン含有化合物(リン含有光重合性化合物)を含有することも好ましい。この場合、ソルダーレジスト組成物の硬化物の難燃性が向上する。リン含有光重合性化合物は、例えば2−メタクリロイロキシエチルアシッドホスフェート(具体例として共栄社化学株式会社製の品名ライトエステルP−1M、及びライトエステルP−2M)、2−アクリロイルオキシエチルアシッドホスフェート(具体例として共栄社化学株式会社製の品名ライトアクリレートP−1A)、ジフェニル−2−メタクリロイルオキシエチルホスフェート(具体例として大八工業株式会社製の品名MR−260)、並びに昭和高分子株式会社製のHFAシリーズ(具体例としてジペンタエリストールヘキサアクリレートとHCAとの付加反応物である品名HFA―6003、及びHFA−6007、カプロラクトン変性ジペンタエリストールヘキサアクリレートとHCAとの付加反応物である品名HFAー3003、及びHFA−6127等)からなる群から選択される一種以上の化合物を含有することができる。   It is also preferred that the photopolymerizable monomer contains a phosphorus-containing compound (phosphorus-containing photopolymerizable compound). In this case, the flame retardancy of the cured product of the solder resist composition is improved. Phosphorus-containing photopolymerizable compounds include, for example, 2-methacryloyloxyethyl acid phosphate (as specific examples, product names Light Ester P-1M and Light Ester P-2M manufactured by Kyoeisha Chemical Co., Ltd.), 2-acryloyloxyethyl acid phosphate ( As specific examples, product name light acrylate P-1A manufactured by Kyoeisha Chemical Co., Ltd., diphenyl-2-methacryloyloxyethyl phosphate (product name MR-260 manufactured by Daihachi Industry Co., Ltd.), and Showa Polymer Co., Ltd. HFA series (specifically, product names HFA-6003 and HFA-6003, which are addition reaction products of dipentaerystol hexaacrylate and HCA, product name HFA which is an addition reaction product of caprolactone-modified dipentaerystol hexaacrylate and HCA) -30 3, and it can contain one or more compounds selected from the group consisting of HFA-6127, etc.).

光重合性プレポリマーとしては、光重合性モノマーを重合させて得られるプレポリマーに、エチレン性不飽和基を付加したプレポリマーや、オリゴ(メタ)アクリレートプレポリマー類等が挙げられる。オリゴ(メタ)アクリレートプレポリマー類としては、例えば、エポキシ(メタ)アクリレート、ポリエステル(メタ)アクリレート、ウレタン(メタ)アクリレート、アルキド樹脂(メタ)アクリレート、シリコーン樹脂(メタ)アクリレート、スピラン樹脂(メタ)アクリレート等が挙げられる。   Examples of the photopolymerizable prepolymer include a prepolymer obtained by polymerizing a photopolymerizable monomer and an ethylenically unsaturated group added thereto, and oligo (meth) acrylate prepolymers. Examples of the oligo (meth) acrylate prepolymers include epoxy (meth) acrylate, polyester (meth) acrylate, urethane (meth) acrylate, alkyd resin (meth) acrylate, silicone resin (meth) acrylate, and spirane resin (meth). An acrylate etc. are mentioned.

[光重合開始剤(C)]
光重合開始剤(C)は、例えば、ベンゾインとそのアルキルエーテル類;アセトフェノン類;アントラキノン類;チオキサントン類;ベンゾフェノン類;キサントン類;窒素原子を含む化合物;α-ヒドロキシアルキルフェノン類;α-アミノアルキルフェノン類;モノアシルホスフィンオキサイド系光重合開始剤;アシルホスフィン系光重合開始剤;並びに、オキシムエステル系光重合開始剤からなる群から選択される一種以上の成分を含有することができる。アセトフェノン類としては、例えば、アセトフェノン、ベンジルジメチルケタール等が挙げられる。アントラキノン類としては、例えば、2−メチルアントラキノン等が挙げられる。チオキサントン類としては、例えば、2,4−ジメチルチオキサントン、2,4−ジエチルチオキサントン、2−イソプロピルチオキサントン、4−イソプロピルチオキサントン、2,4−ジイソプロピルチオキサントン等が挙げられる。ベンゾフェノン類としては、例えば、ベンゾフェノン、4−ベンゾイル−4’−メチルジフェニルスルフィド等が挙げられる。キサントン類としては、例えば、2,4−ジイソプロピルキサントン等が挙げられる。窒素原子を含む化合物としては、例えば、2−メチル−1−[4−(メチルチオ)フェニル]−2−モルフォリノ−1−プロパノン等が挙げられる。α-ヒドロキシアルキルフェノン類としては、例えば、1−ヒドロキシ−シクロヘキシル−フェニル-ケトン、2−ヒドロキシ−2−メチル−1−フェニル−プロパン−1−オン、1−[4−(2−ヒドロキシエトキシ)−フェニル]−2−ヒドロキシ−2−メチル−1−プロパン−1−オン、2−ヒロドキシ−1−{4−[4−(2−ヒドロキシ−2−メチル−プロピオニル)−ベンジル]フェニル}−2−メチル−プロパン−1−オン、フェニルグリオキシリックアシッドメチルエステル等が挙げられる。α-アミノアルキルフェノン類としては、例えば、2−メチル−1−(4−メチルチオフェニル)−2−モルフォリノプロパン−1−オン、2−ベンジル−2−ジメチルアミノ−1−(4−モルフォリノフェニル)−ブタノン−1、2−(ジメチルアミノ)−2−[(4-メチルフェニル)メチル]−1−[4−(4−モルホリニル)フェニル]−1−ブタノン等が挙げられる。モノアシルホスフィンオキサイド系光重合開始剤としては、例えば、2,4,6−トリメチルベンゾイル−ジフェニル−ホスフィンオキサイド、2,4,6−トリメチルベンゾイル−エチル−フェニル−ホスフィネート等が挙げられる。アシルホスフィン系光重合開始剤としては、例えば、ビス−(2,4,6−トリメチルベンゾイル)−フェニルホスフィンオキサイド、ビス−(2,6−ジクロロベンゾイル)フェニルホスフィンオキサイド、ビス−(2,6−ジクロロベンゾイル)−2,5−ジメチルフェニルホスフィンオキサイド、ビス−(2,6−ジクロロベンゾイル)−4−プロピルフェニルホスフィンオキサイド、ビス−(2,6−ジクロロベンゾイル)−1−ナフチルホスフィンオキサイド、ビス−(2,6−ジメトキシベンゾイル)フェニルホスフィンオキサイド、ビス−(2,6−ジメトキシベンゾイル)−2,4,4−トリメチルペンチルホスフィンオキサイド、ビス−(2,6−ジメトキシベンゾイル)−2,5−ジメチルフェニルホスフィンオキサイド、(2,5,6−トリメチルベンゾイル)−2,4,4−トリメチルペンチルホスフィンオキサイド等が挙げられる。オキシムエステル系光重合開始剤としては、例えば、1,2−オクタンジオン,1−[4−(フェニルチオ)−,2−(О‐ベンゾイルオキシム)]、エタノン,1−[9−エチル−6−(2−メチルベンゾイル) −9H−カルバゾール−3−イル] −,1−(0−アセチルオキシム)等が挙げられる。光重合開始剤(C)は、α-ヒドロキシアルキルフェノン類、α-アミノアルキルフェノン類、チオキサントン類、及びアシルホスフィンオキサイド系光重合開始剤からなる群から選択される2種以上の成分が含まれていることが特に好ましい。
[Photoinitiator (C)]
The photopolymerization initiator (C) is, for example, benzoin and its alkyl ethers; acetophenones; anthraquinones; thioxanthones; benzophenones; xanthones; compounds containing a nitrogen atom; α-hydroxyalkylphenones; One or more components selected from the group consisting of phenones; monoacylphosphine oxide photopolymerization initiators; acylphosphine photopolymerization initiators; and oxime ester photopolymerization initiators can be contained. Examples of acetophenones include acetophenone and benzyl dimethyl ketal. Examples of anthraquinones include 2-methylanthraquinone. Examples of the thioxanthones include 2,4-dimethylthioxanthone, 2,4-diethylthioxanthone, 2-isopropylthioxanthone, 4-isopropylthioxanthone, 2,4-diisopropylthioxanthone, and the like. Examples of benzophenones include benzophenone and 4-benzoyl-4′-methyldiphenyl sulfide. Examples of xanthones include 2,4-diisopropylxanthone. Examples of the compound containing a nitrogen atom include 2-methyl-1- [4- (methylthio) phenyl] -2-morpholino-1-propanone. Examples of α-hydroxyalkylphenones include 1-hydroxy-cyclohexyl-phenyl-ketone, 2-hydroxy-2-methyl-1-phenyl-propan-1-one, and 1- [4- (2-hydroxyethoxy). -Phenyl] -2-hydroxy-2-methyl-1-propan-1-one, 2-hydroxy-1- {4- [4- (2-hydroxy-2-methyl-propionyl) -benzyl] phenyl} -2 -Methyl-propan-1-one, phenylglyoxylic acid methyl ester and the like. Examples of α-aminoalkylphenones include 2-methyl-1- (4-methylthiophenyl) -2-morpholinopropan-1-one, 2-benzyl-2-dimethylamino-1- (4-morpholino Phenyl) -butanone-1,2- (dimethylamino) -2-[(4-methylphenyl) methyl] -1- [4- (4-morpholinyl) phenyl] -1-butanone and the like. Examples of the monoacylphosphine oxide photopolymerization initiator include 2,4,6-trimethylbenzoyl-diphenyl-phosphine oxide, 2,4,6-trimethylbenzoyl-ethyl-phenyl-phosphinate, and the like. Examples of the acylphosphine photopolymerization initiator include bis- (2,4,6-trimethylbenzoyl) -phenylphosphine oxide, bis- (2,6-dichlorobenzoyl) phenylphosphine oxide, and bis- (2,6- Dichlorobenzoyl) -2,5-dimethylphenylphosphine oxide, bis- (2,6-dichlorobenzoyl) -4-propylphenylphosphine oxide, bis- (2,6-dichlorobenzoyl) -1-naphthylphosphine oxide, bis- (2,6-dimethoxybenzoyl) phenylphosphine oxide, bis- (2,6-dimethoxybenzoyl) -2,4,4-trimethylpentylphosphine oxide, bis- (2,6-dimethoxybenzoyl) -2,5-dimethyl Phenylphosphine oxide (2,5,6-trimethylbenzoyl) -2,4,4-trimethylpentyl phosphine oxide and the like. Examples of the oxime ester photopolymerization initiator include 1,2-octanedione, 1- [4- (phenylthio)-, 2- (О-benzoyloxime)], ethanone, 1- [9-ethyl-6- (2-methylbenzoyl) -9H-carbazol-3-yl]-, 1- (0-acetyloxime) and the like. The photopolymerization initiator (C) includes two or more components selected from the group consisting of α-hydroxyalkylphenones, α-aminoalkylphenones, thioxanthones, and acylphosphine oxide photopolymerization initiators. It is particularly preferable.

[結晶性エポキシ樹脂(D)]
結晶性エポキシ樹脂(D)は、ソルダーレジスト組成物から形成される被膜中に気泡を形成しやすくする。
[Crystalline epoxy resin (D)]
The crystalline epoxy resin (D) facilitates the formation of bubbles in the film formed from the solder resist composition.

結晶性エポキシ樹脂(D)は、融点が130℃以上であり、好ましくは138℃〜230℃である。   The crystalline epoxy resin (D) has a melting point of 130 ° C or higher, preferably 138 ° C to 230 ° C.

結晶性エポキシ樹脂(D)は、エポキシ基を有し且つ結晶性を有するモノマー、プレポリマー及びポリマーからなる群から選択される一種以上の化合物を含有することができる。このような化合物は市販され、容易に入手可能である。例えば結晶性エポキシ樹脂(D)は、1,3,5−トリス(2,3−エポキシプロピル)−1,3,5−トリアジン−2,4,6(1H,3H,5H)−トリオン(高融点タイプ)、新日鉄住金化学株式会社製の品名YDC−1312(ハイドロキノン型結晶性エポキシ樹脂)、日本化薬株式会社製の品名GTR−1800(テトラキスフェノールエタン型結晶性エポキシ樹脂)からなる群から選択される一種以上の化合物を含有することができる。   The crystalline epoxy resin (D) can contain one or more compounds selected from the group consisting of monomers, prepolymers and polymers having an epoxy group and crystallinity. Such compounds are commercially available and are readily available. For example, crystalline epoxy resin (D) is 1,3,5-tris (2,3-epoxypropyl) -1,3,5-triazine-2,4,6 (1H, 3H, 5H) -trione (high Melting point type), product name YDC-1312 (hydroquinone type crystalline epoxy resin) manufactured by Nippon Steel & Sumikin Chemical Co., Ltd., product name GTR-1800 (tetrakisphenol ethane type crystalline epoxy resin) manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd. One or more compounds can be included.

[青色分散剤(E)]
青色分散剤(E)は、着色剤には分類されないものの、被膜に色を付与することができる。ソルダーレジスト組成物が着色剤(F)を含有しない場合、被膜は青色分散剤(E)によって青色になる。更に、青色分散剤(E)は、結晶性エポキシ樹脂(D)の分散性を向上させる。そのため、ソルダーレジスト組成物から形成される被膜中に、青色分散剤(E)を含有しない場合よりも気泡をより均一に発生させやすくなる。これにより、視認性に優れたマーキングを有する被膜を作製することができる。
[Blue dispersant (E)]
The blue dispersant (E) is not classified as a colorant, but can impart a color to the coating. When the solder resist composition does not contain a colorant (F), the coating becomes blue due to the blue dispersant (E). Further, the blue dispersant (E) improves the dispersibility of the crystalline epoxy resin (D). Therefore, it becomes easy to generate air bubbles more uniformly in the film formed from the solder resist composition than when the blue dispersant (E) is not contained. Thereby, the film which has the marking excellent in visibility can be produced.

青色分散剤(E)は、銅フタロシアニンスルホネート誘導体を含有することができる。銅フタロシアニンスルホネート誘導体の具体例としては、ルブリゾール社製の品名ソルスパース5000、ソルスパース12000、ソルスパース22000(いずれも銅フタロシアニンスルホネート誘導体)などが挙げられる。   The blue dispersant (E) can contain a copper phthalocyanine sulfonate derivative. Specific examples of the copper phthalocyanine sulfonate derivative include product names Solsperse 5000, Solsperse 12000, Solsperse 22000 (all of which are copper phthalocyanine sulfonate derivatives) manufactured by Lubrizol.

[着色剤(F)]
本実施形態のソルダーレジスト組成物は着色剤(F)を含有することができる。これにより被膜の色を調整し、特に銅製の配線を備えるプリント配線板上に被膜を形成する場合のマーキングの視認性を更に向上することができる。尚、着色剤(F)は、顔料と染料のいずれも含み得る。
[Colorant (F)]
The solder resist composition of this embodiment can contain a colorant (F). Thereby, the color of the film can be adjusted, and in particular, the visibility of the marking can be further improved when the film is formed on a printed wiring board having a copper wiring. The colorant (F) can contain both pigments and dyes.

着色剤(F)は、プリント配線基板の絶縁層の色などに応じて適宜選択すればよく、例えば青色着色剤、黒色着色剤、赤色着色剤、緑色着色剤、黄色着色剤、紫色着色剤、オレンジ色着色剤、茶色着色剤などを含有することができる。   The colorant (F) may be appropriately selected according to the color of the insulating layer of the printed wiring board. For example, a blue colorant, a black colorant, a red colorant, a green colorant, a yellow colorant, a purple colorant, An orange colorant, a brown colorant and the like can be contained.

特に着色剤(F)は、黒色着色剤及び赤色着色剤のうち少なくとも一方を含むのが好ましい。これにより、銅製の配線を備えるプリント配線板上に被膜を形成する場合に、被膜におけるマーキングの視認性が特に高くなる。   In particular, the colorant (F) preferably contains at least one of a black colorant and a red colorant. Thereby, when forming a film on a printed wiring board provided with copper wiring, the visibility of the marking in a film becomes high especially.

黒色着色剤は、ペリレン系黒色着色剤を含有することができる。ペリレン系黒色着色剤は、例えば、カラーインデックス(C.I.)ピグメントブラック31、及びカラーインデックス(C.I.)ピグメントブラック32からなる群から選択される一種以上の成分を含有することができる。また、ペリレン系黒色着色剤は上記の成分以外に、カラーインデックスの番号はないが、ペリレン系の近赤外線透過黒色着色剤として知られているBASF社の「Lumogen Black FK 4280」及び「Lumogen Black FK 4281」のうち、少なくとも一方を含有することができる。   The black colorant can contain a perylene-based black colorant. The perylene-based black colorant can contain, for example, one or more components selected from the group consisting of a color index (CI) pigment black 31 and a color index (CI) pigment black 32. . In addition to the above components, the perylene-based black colorant has no color index number, but “Lumogen Black FK 4280” and “Lumogen Black FK” manufactured by BASF are known as perylene-based near-infrared transmitting black colorants. At least one of “4281” can be contained.

赤色着色剤は、例えば、アントラキノン系赤色顔料、アゾ系赤色顔料、レーキ系赤色顔料、キナクリドン系赤色顔料、及びジケトピロール系赤色顔料からなる群から選択される一種以上の成分を含有することができる。アントラキノン系赤色顔料は、例えば、カラーインデックス(C.I.)ピグメントレッド83、カラーインデックス(C.I.)ピグメントレッド168、カラーインデックス(C.I.)ピグメントレッド177、カラーインデックス(C.I.)ピグメントレッド216などが挙げられる。赤色着色剤がアントラキノン系赤色着色剤であることにより、ソルダーレジスト組成物から形成される被膜による導体配線の隠蔽性を特に確保しやすい。また、分散性と耐候性に優れている。   The red colorant can contain, for example, one or more components selected from the group consisting of an anthraquinone red pigment, an azo red pigment, a lake red pigment, a quinacridone red pigment, and a diketopyrrole red pigment. Anthraquinone red pigments include, for example, Color Index (CI) Pigment Red 83, Color Index (CI) Pigment Red 168, Color Index (CI) Pigment Red 177, Color Index (C.I). .) Pigment Red 216 and the like. When the red colorant is an anthraquinone-based red colorant, it is particularly easy to ensure the concealability of the conductor wiring by the film formed from the solder resist composition. Moreover, it is excellent in dispersibility and weather resistance.

青色着色剤は、フタロシアニン系青色着色剤、アントラキノン系青色着色剤などの着色剤を含有することができる。   The blue colorant can contain a colorant such as a phthalocyanine blue colorant and an anthraquinone blue colorant.

緑色着色剤は、例えば、フタロシアニン系緑色着色剤、アントラキノン系緑色着色剤、ペリレン系緑色着色剤、及び金属置換もしくは無置換のフタロシアニン化合物からなる群から選択される一種以上の着色剤を含有することができる。緑色着色剤のより具体的な例として、ピグメントグリーン7;ピグメントグリーン36などが挙げられる。   The green colorant contains, for example, one or more colorants selected from the group consisting of phthalocyanine green colorants, anthraquinone green colorants, perylene green colorants, and metal-substituted or unsubstituted phthalocyanine compounds. Can do. More specific examples of the green colorant include pigment green 7; pigment green 36.

[その他の成分]
ソルダーレジスト組成物は、融点130℃未満の結晶性エポキシ樹脂を含有してもよい。融点130℃未満の結晶性エポキシ樹脂は、例えば、新日鉄住金化学株式会社製の品名YSLV−80XY(ビスフェノール型結晶性エポキシ樹脂)、新日鉄住金化学株式会社製の品名YSLV−120TE(チオエーテル型結晶性エポキシ樹脂)、ビスフェノールフルオレン型結晶性エポキシ樹脂、三菱化学株式会社製の品名YX−4000(ビフェニル型結晶性エポキシ樹脂)、及び1,3,5−トリス(2,3−エポキシプロピル)−1,3,5−トリアジン−2,4,6(1H,3H,5H)−トリオン(低融点タイプ)からなる群から選択される一種以上の化合物を含有することができる。
[Other ingredients]
The solder resist composition may contain a crystalline epoxy resin having a melting point of less than 130 ° C. The crystalline epoxy resin having a melting point of less than 130 ° C. is, for example, product name YSLV-80XY (bisphenol type crystalline epoxy resin) manufactured by Nippon Steel & Sumikin Chemical Co., Ltd., product name YSLV-120TE (thioether type crystalline epoxy manufactured by Nippon Steel & Sumikin Chemical Co., Ltd.) Resin), bisphenolfluorene type crystalline epoxy resin, product name YX-4000 (biphenyl type crystalline epoxy resin) manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, and 1,3,5-tris (2,3-epoxypropyl) -1,3 , 5-triazine-2,4,6 (1H, 3H, 5H) -trione (low melting point type) can be contained.

また、ソルダーレジスト組成物は、非晶性エポキシ樹脂を含有してもよい。非晶性エポキシ樹脂は、例えば、非晶性のクレゾールノボラック型エポキシ樹脂(具体例としてDIC株式会社製の品名EPICLON N−695)、非晶性のフェノールノボラック型エポキシ樹脂(具体例としてDIC株式会社製の品名EPICLON N−775)、非晶性のビスフェノールAノボラック型エポキシ樹脂(具体例としてDIC株式会社製の品名EPICLON N−865)、非晶性のビスフェノールA型エポキシ樹脂(具体例として三菱化学株式会社製の品名jER1001)、非晶性のビスフェノールF型エポキシ樹脂(具体例として三菱化学株式会社製の品名jER4004P)、非晶性のビスフェノールS型エポキシ樹脂(具体例としてDIC株式会社製の品名EPICLON EXA−1514)、非晶性のビスフェノールAD型エポキシ樹脂、非晶性の水添ビスフェノールA型エポキシ樹脂、非晶性のビフェニルノボラック型エポキシ樹脂、及び非晶性の特殊二官能型エポキシ樹脂(具体例として、三菱化学株式会社製の品名YL7175−500、及びYL7175−1000;DIC株式会社製の品名EPICLON TSR−960、EPICLON TER−601、EPICLON TSR−250−80BX、EPICLON 1650−75MPX、EPICLON EXA−4850、EPICLON EXA−4816、EPICLON EXA−4822、及びEPICLON EXA−9726;新日鉄住金化学株式会社製の品名YSLV−120T)、及び前記以外の非晶性のビスフェノール系エポキシ樹脂からなる群から選択される一種以上の化合物を含有することができる。   The solder resist composition may contain an amorphous epoxy resin. The amorphous epoxy resin includes, for example, an amorphous cresol novolac type epoxy resin (specifically, product name EPICLON N-695 manufactured by DIC Corporation), and an amorphous phenol novolac type epoxy resin (specifically, DIC Corporation). Product name EPICLON N-775), amorphous bisphenol A novolak type epoxy resin (specifically, product name EPICLON N-865 manufactured by DIC Corporation), amorphous bisphenol A type epoxy resin (specifically Mitsubishi Chemical) Product name jER1001), amorphous bisphenol F epoxy resin (specifically, product name jER4004P manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation), amorphous bisphenol S type epoxy resin (specifically, product name manufactured by DIC Corporation) EPICLON EXA-1514), amorphous Sphenol AD type epoxy resin, amorphous hydrogenated bisphenol A type epoxy resin, amorphous biphenyl novolac type epoxy resin, and amorphous special bifunctional type epoxy resin (specifically, manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation) Product names EPICLON TSR-960, EPICLON TER-601, EPICLON TSR-250-80BX, EPICLON 1650-75MPX, EPICLON EXA-4850, EPICLON EXICA4816, manufactured by DIC Corporation EXA-4822, and EPICLON EXA-9726; product name YSLV-120T manufactured by Nippon Steel & Sumikin Chemical Co., Ltd., and other than the above-mentioned amorphous bisphenol-based epoxy resins It is the may contain one or more compounds.

ソルダーレジスト組成物は、有機溶剤を含有してもよい。有機溶剤は、ソルダーレジスト組成物の液状化又はワニス化、粘度調整、塗布性の調整、造膜性の調整などの目的で使用される。   The solder resist composition may contain an organic solvent. The organic solvent is used for the purpose of liquefaction or varnishing of the solder resist composition, viscosity adjustment, application property adjustment, film formation property adjustment, and the like.

有機溶剤は、例えば直鎖、分岐、2級或いは多価のアルコール類;ケトン類;芳香族炭化水素類;石油系芳香族系混合溶剤;セロソルブ類;カルビトール類;プロピレングリコールアルキルエーテル類;ポリプロピレングリコールアルキルエーテル類;酢酸エステル類;並びにジアルキルグリコールエーテル類からなる群から選択される一種以上の化合物を含有することができる。直鎖、分岐、2級或いは多価のアルコール類としては、例えば、エタノール、プロピルアルコール、イソプロピルアルコール、ヘキサノール、エチレングリコール等が挙げられる。ケトン類としては、例えば、メチルエチルケトン、シクロヘキサノン等が挙げられる。芳香族炭化水素類としては、例えば、トルエン、キシレン等が挙げられる。石油系芳香族系混合溶剤としては、例えば、スワゾールシリーズ(丸善石油化学社製)、ソルベッソシリーズ(エクソン・ケミカル社製)等が挙げられる。セロソルブ類としては、例えば、セロソルブ、ブチルセロソルブ等が挙げられる。カルビトール類としては、例えば、カルビトール、ブチルカルビトール等が挙げられる。プロピレングリコールアルキルエーテル類としては、例えば、プロピレングリコールメチルエーテル等が挙げられる。ポリプロピレングリコールアルキルエーテル類としては、例えば、ジプロピレングリコールメチルエーテル等が挙げられる。酢酸エステル類としては、例えば、酢酸エチル、酢酸ブチル、セロソルブアセテート、カルビトールアセテート等が挙げられる。   Organic solvents include, for example, linear, branched, secondary or polyhydric alcohols; ketones; aromatic hydrocarbons; petroleum-based aromatic mixed solvents; cellosolves; carbitols; propylene glycol alkyl ethers; One or more compounds selected from the group consisting of glycol alkyl ethers; acetate esters; and dialkyl glycol ethers can be contained. Examples of linear, branched, secondary or polyhydric alcohols include ethanol, propyl alcohol, isopropyl alcohol, hexanol, and ethylene glycol. Examples of ketones include methyl ethyl ketone and cyclohexanone. Examples of aromatic hydrocarbons include toluene, xylene and the like. Examples of the petroleum-based aromatic solvent mixture include the Swazol series (manufactured by Maruzen Petrochemical Co., Ltd.) and the Solvesso series (manufactured by Exxon Chemical Co., Ltd.). Examples of cellosolves include cellosolve and butyl cellosolve. Examples of carbitols include carbitol and butyl carbitol. Examples of propylene glycol alkyl ethers include propylene glycol methyl ether. Examples of polypropylene glycol alkyl ethers include dipropylene glycol methyl ether. Examples of acetates include ethyl acetate, butyl acetate, cellosolve acetate, carbitol acetate and the like.

ソルダーレジスト組成物中の有機溶剤の割合は、ソルダーレジスト組成物から形成される塗膜を乾燥させる際に有機溶剤が速やかに揮散するように、すなわち有機溶剤が乾燥膜に残存しないように、調整されることが好ましい。特に、ソルダーレジスト組成物全体に対して、有機溶剤が5〜99.5質量%の範囲内であることが好ましく、15〜80質量%の範囲内であれば更に好ましい。尚、有機溶剤の好適な割合は、塗布方法などにより異なるので、塗布方法に応じて割合が適宜調節されることが好ましい。   The ratio of the organic solvent in the solder resist composition is adjusted so that when the coating film formed from the solder resist composition is dried, the organic solvent is volatilized quickly, that is, the organic solvent does not remain in the dry film. It is preferred that In particular, the organic solvent is preferably in the range of 5 to 99.5% by mass and more preferably in the range of 15 to 80% by mass with respect to the entire solder resist composition. In addition, since the suitable ratio of an organic solvent changes with application methods etc., it is preferable that a ratio is suitably adjusted according to the application method.

本発明の主旨を逸脱しない限りにおいて、ソルダーレジスト組成物は、上記成分以外の成分を更に含有してもよい。   Unless it deviates from the main point of this invention, the soldering resist composition may further contain components other than the said component.

例えば、ソルダーレジスト組成物は、ブロックドイソシアネート;アミノ樹脂;前記以外の各種熱硬化性樹脂;紫外線硬化性エポキシ(メタ)アクリレート;エポキシ樹脂に(メタ)アクリル酸を付加して得られる樹脂;並びに高分子化合物からなる群から選択される一種以上の樹脂を含有してもよい。ブロックドイソシアネートとしては、例えば、カプロラクタム、オキシム、マロン酸エステル等でブロックされたトリレンジイソシアネート系、モルホリンジイソシアネート系、イソホロンジイソシアネート系、ヘキサメチレンジイソシアネート系のブロックドイソシアネートなどが挙げられる。アミノ樹脂としては、例えば、メラミン樹脂、n−ブチル化メラミン樹脂、イソブチル化メラミン樹脂、ブチル化尿素樹脂、ブチル化メラミン尿素共縮合樹脂、ベンゾグアナミン系共縮合樹脂などが挙げられる。エポキシ樹脂としては、例えば、ビスフェノールA型、フェノールノボラック型、クレゾールノボラック型、脂環型のエポキシ樹脂などが挙げられる。高分子化合物としては、例えば、ジアリルフタレート樹脂、フェノキシ樹脂、ウレタン樹脂、フッ素樹脂などが挙げられる。   For example, the solder resist composition includes a blocked isocyanate; an amino resin; various other thermosetting resins; an ultraviolet curable epoxy (meth) acrylate; a resin obtained by adding (meth) acrylic acid to an epoxy resin; You may contain 1 or more types of resin selected from the group which consists of a high molecular compound. Examples of the blocked isocyanate include tolylene diisocyanate-based, morpholine diisocyanate-based, isophorone diisocyanate-based, hexamethylene diisocyanate-based blocked isocyanate blocked with caprolactam, oxime, malonic acid ester and the like. Examples of amino resins include melamine resins, n-butylated melamine resins, isobutylated melamine resins, butylated urea resins, butylated melamine urea cocondensation resins, benzoguanamine-based cocondensation resins, and the like. Examples of the epoxy resin include bisphenol A type, phenol novolac type, cresol novolac type, and alicyclic type epoxy resin. Examples of the polymer compound include diallyl phthalate resin, phenoxy resin, urethane resin, and fluororesin.

ソルダーレジスト組成物がエポキシ化合物を含有する場合、ソルダーレジスト組成物は、更にエポキシ化合物を硬化させるための硬化剤を含有してもよい。硬化剤は、例えば、イミダゾール誘導体;アミン化合物;ヒドラジン化合物;リン化合物;酸無水物;フェノール;メルカプタン;ルイス酸アミン錯体;及びオニウム塩からなる群から選択される一種以上の成分を含有することができる。イミダゾール誘導体としては、例えば、イミダゾール、2−メチルイミダゾール、2−エチルイミダゾール、2−エチル−4−メチルイミダゾール、2−フェニルイミダゾール、4−フェニルイミダゾール、1−シアノエチル−2−フェニルイミダゾール、1−(2−シアノエチル)−2−エチル−4−メチルイミダゾールなどが挙げられる。アミン化合物としては、例えば、ジシアンジアミド、ベンジルジメチルアミン、4−(ジメチルアミノ)−N,N−ジメチルベンジルアミン、4−メトキシ−N,N−ジメチルベンジルアミン、4−メチル−N,N−ジメチルベンジルアミンなどが挙げられる。ヒドラジン化合物としては、例えば、アジピン酸ヒドラジド、セバシン酸ヒドラジドなどが挙げられる。リン化合物としては、トリフェニルホスフィンなどが挙げられる。これらの成分の市販品の例として、四国化成株式会社製の2MZ−A、2MZ−OK、2PHZ、2P4BHZ、2P4MHZ(いずれもイミダゾール系化合物の商品名)、サンアプロ株式会社製のU−CAT3503N、U−CAT3502T(いずれもジメチルアミンのブロックイソシアネート化合物の商品名)、DBU、DBN、U−CATSA102、U−CAT5002(いずれも二環式アミジン化合物及びその塩)が挙げられる。   When the solder resist composition contains an epoxy compound, the solder resist composition may further contain a curing agent for curing the epoxy compound. The curing agent may contain, for example, one or more components selected from the group consisting of an imidazole derivative; an amine compound; a hydrazine compound; a phosphorus compound; an acid anhydride; a phenol; a mercaptan; a Lewis acid amine complex; it can. Examples of imidazole derivatives include imidazole, 2-methylimidazole, 2-ethylimidazole, 2-ethyl-4-methylimidazole, 2-phenylimidazole, 4-phenylimidazole, 1-cyanoethyl-2-phenylimidazole, 1- ( 2-cyanoethyl) -2-ethyl-4-methylimidazole and the like. Examples of amine compounds include dicyandiamide, benzyldimethylamine, 4- (dimethylamino) -N, N-dimethylbenzylamine, 4-methoxy-N, N-dimethylbenzylamine, 4-methyl-N, N-dimethylbenzyl. An amine etc. are mentioned. Examples of the hydrazine compound include adipic acid hydrazide and sebacic acid hydrazide. Examples of the phosphorus compound include triphenylphosphine. Examples of commercially available products of these components include 2MZ-A, 2MZ-OK, 2PHZ, 2P4BHZ, 2P4MHZ (both trade names of imidazole compounds) manufactured by Shikoku Kasei Co., Ltd., U-CAT3503N, U manufactured by San Apro Co., Ltd. -CAT3502T (all are trade names of blocked isocyanate compounds of dimethylamine), DBU, DBN, U-CATSA102, U-CAT5002 (all are bicyclic amidine compounds and salts thereof).

ソルダーレジスト組成物は、密着性付与剤を含有してもよい。密着性付与剤としては、例えばグアナミン、アセトグアナミン、ベンゾグアナミン、メラミン、並びにS−トリアジン誘導体が、挙げられる。S−トリアジン誘導体としては、例えば、2,4−ジアミノ−6−メタクリロイルオキシエチル−S−トリアジン、2−ビニル−4,6−ジアミノ−S−トリアジン、2−ビニル−4,6−ジアミノ−S−トリアジン・イソシアヌル酸付加物、2,4−ジアミノ−6−メタクリロイルオキシエチル−S−トリアジン・イソシアヌル酸付加物などが挙げられる。   The solder resist composition may contain an adhesion promoter. Examples of the adhesion-imparting agent include guanamine, acetoguanamine, benzoguanamine, melamine, and S-triazine derivatives. Examples of S-triazine derivatives include 2,4-diamino-6-methacryloyloxyethyl-S-triazine, 2-vinyl-4,6-diamino-S-triazine, 2-vinyl-4,6-diamino-S. -Triazine-isocyanuric acid adduct, 2,4-diamino-6-methacryloyloxyethyl-S-triazine-isocyanuric acid adduct, and the like.

ソルダーレジスト組成物は、硬化促進剤;共重合体;レベリング剤;密着性付与剤;チクソトロピー剤;重合禁止剤;ハレーション防止剤;難燃剤;消泡剤;酸化防止剤;界面活性剤;高分子分散剤;並びに無機フィラーからなる群から選択される一種以上の成分を含有してもよい。共重合体としては、例えば、シリコーン、アクリレートなどが挙げられる。密着性付与剤としては、例えば、シランカップリング剤などが挙げられる。無機フィラーとしては、例えば、硫酸バリウム、結晶性シリカ、ナノシリカ、カーボンナノチューブ、タルク、ベントナイト、水酸化アルミニウム、水酸化マグネシウム、酸化マグネシウム、炭酸カルシウムなどが挙げられる。   The solder resist composition comprises a curing accelerator; a copolymer; a leveling agent; an adhesion-imparting agent; a thixotropic agent; a polymerization inhibitor; an antihalation agent; a flame retardant; an antifoaming agent; One or more components selected from the group consisting of a dispersant; and an inorganic filler may be contained. Examples of the copolymer include silicone and acrylate. Examples of the adhesion imparting agent include a silane coupling agent. Examples of the inorganic filler include barium sulfate, crystalline silica, nano silica, carbon nanotube, talc, bentonite, aluminum hydroxide, magnesium hydroxide, magnesium oxide, and calcium carbonate.

ソルダーレジスト組成物は、更に公知の光重合促進剤、増感剤等を含有してもよい。例えばソルダーレジスト組成物は、p−ジメチル安息香酸エチルエステル、p−ジメチルアミノ安息香酸イソアミルエステル、2−ジメチルアミノエチルベンゾエート等を含有してもよい。   The solder resist composition may further contain a known photopolymerization accelerator, sensitizer and the like. For example, the solder resist composition may contain p-dimethylbenzoic acid ethyl ester, p-dimethylaminobenzoic acid isoamyl ester, 2-dimethylaminoethylbenzoate and the like.

[ソルダーレジスト組成物に含まれる各成分の配合量及び調製方法]
ソルダーレジスト組成物中の成分の量は、ソルダーレジスト組成物が光硬化性を有しアルカリ性溶液で現像可能であるように、適宜調整される。
[Blend amount and preparation method of each component contained in solder resist composition]
The amount of the components in the solder resist composition is appropriately adjusted so that the solder resist composition has photocurability and can be developed with an alkaline solution.

カルボキシル基含有樹脂(A)の含有割合は、ソルダーレジスト組成物の固形分量に対して20〜65質量%の範囲内であれば好ましく、25〜55質量%の範囲内であればより好ましく、30〜50質量%の範囲内であれば更に好ましい。尚、ここでいう固形分量とは、ソルダーレジスト組成物から被膜を形成する過程で揮発する溶剤などの成分を除いた、全成分の合計量のことである。   The content ratio of the carboxyl group-containing resin (A) is preferably in the range of 20 to 65% by mass with respect to the solid content of the solder resist composition, more preferably in the range of 25 to 55% by mass, 30 More preferably, it is in the range of ˜50 mass%. The solid content here means the total amount of all components excluding components such as a solvent that volatilizes in the process of forming a film from the solder resist composition.

光重合性化合物(B)の含有割合は、ソルダーレジスト組成物に含まれるカルボキシル基含有樹脂(A)に対して5〜60質量%の範囲内であれば好ましく、10〜50質量%の範囲内であればより好ましく、15〜40質量%の範囲内であれば更に好ましい。   The content of the photopolymerizable compound (B) is preferably in the range of 5 to 60% by mass, and in the range of 10 to 50% by mass with respect to the carboxyl group-containing resin (A) contained in the solder resist composition. It is more preferable if it is in the range of 15 to 40% by mass.

光重合開始剤(C)の含有割合は、ソルダーレジスト組成物に含まれるカルボキシル基含有樹脂(A)に対して1〜50質量%の範囲内であることが好ましく、3〜40質量%の範囲内であればより好ましく、5〜25質量%の範囲内であれば更に好ましい。   The content of the photopolymerization initiator (C) is preferably in the range of 1 to 50% by mass, and in the range of 3 to 40% by mass with respect to the carboxyl group-containing resin (A) contained in the solder resist composition. It is more preferable if it is in the range, and it is more preferable if it is in the range of 5 to 25% by mass.

結晶性エポキシ樹脂(D)の含有割合は、ソルダーレジスト組成物に含まれるカルボキシル基含有樹脂(A)に対して15〜200質量%の範囲内であることが好ましく、20〜100質量%の範囲内であればより好ましく、25〜80質量%の範囲内であれば更に好ましく、30〜60質量%の範囲内であれば特に好ましい。   The content of the crystalline epoxy resin (D) is preferably in the range of 15 to 200% by mass with respect to the carboxyl group-containing resin (A) contained in the solder resist composition, and in the range of 20 to 100% by mass. It is more preferable if it is within the range, more preferably within the range of 25 to 80% by mass, and particularly preferably within the range of 30 to 60% by mass.

青色分散剤(E)の含有割合は、ソルダーレジスト組成物に含まれるカルボキシル基含有樹脂(A)に対して0.1〜10質量%であることが好ましく、0.5〜5質量%であることがより好ましく、1〜3質量%であることが更に好ましい。青色分散剤(E)の含有割合が上記範囲内であれば、後述するプリント配線板1と被膜3との密着性をより高くすることができ、さらに後述する第一の領域33と第二の領域34との境界をより明確にすることができる。特に、青色分散剤(E)の含有割合が5質量%以下であれば、プリント配線板1と被膜3との密着性を特に高くすることができる。青色分散剤(E)の含有割合が3質量%以下であれば、プリント配線板1と被膜3との密着性を特に高くすることができるとともに、第一の領域33と第二の領域34との境界を特に明確にすることができる。   The content of the blue dispersant (E) is preferably 0.1 to 10% by mass, and 0.5 to 5% by mass with respect to the carboxyl group-containing resin (A) contained in the solder resist composition. It is more preferable, and it is still more preferable that it is 1-3 mass%. If the content ratio of the blue dispersant (E) is within the above range, the adhesion between the printed wiring board 1 and the coating 3 described later can be further increased, and further, the first region 33 and the second region described later are provided. The boundary with the region 34 can be made clearer. In particular, when the content of the blue dispersant (E) is 5% by mass or less, the adhesion between the printed wiring board 1 and the coating 3 can be particularly increased. If the content of the blue dispersant (E) is 3% by mass or less, the adhesion between the printed wiring board 1 and the coating 3 can be particularly increased, and the first region 33 and the second region 34 The boundaries can be made particularly clear.

ソルダーレジスト組成物が着色剤(F)を含有する場合、着色剤(F)の含有割合は、ソルダーレジスト組成物に含まれるカルボキシル基含有樹脂(A)に対して0.01〜5質量%の範囲内であることが好ましく、0.05〜1質量%の範囲内であればより好ましい。着色剤(F)の含有割合が上記範囲内であれば、被膜におけるマーキングの視認性をより高くすることができる。黒色着色剤の含有割合は、ソルダーレジスト組成物に含まれるカルボキシル基含有樹脂(A)に対して0.01〜5質量%の範囲内であることが好ましく、0.05〜1質量%の範囲内であればより好ましい。赤色着色剤の含有割合は、ソルダーレジスト組成物に含まれるカルボキシル基含有樹脂(A)に対して0.01〜5質量%の範囲内であることが好ましく、0.05〜1質量%の範囲内であればより好ましい。   When a soldering resist composition contains a coloring agent (F), the content rate of a coloring agent (F) is 0.01-5 mass% with respect to carboxyl group containing resin (A) contained in a soldering resist composition. It is preferably within the range, and more preferably within the range of 0.05 to 1% by mass. If the content rate of a coloring agent (F) is in the said range, the visibility of the marking in a film can be made higher. The content of the black colorant is preferably in the range of 0.01 to 5% by mass, and in the range of 0.05 to 1% by mass with respect to the carboxyl group-containing resin (A) contained in the solder resist composition. If it is in, it is more preferable. The content ratio of the red colorant is preferably in the range of 0.01 to 5% by mass, and in the range of 0.05 to 1% by mass with respect to the carboxyl group-containing resin (A) contained in the solder resist composition. If it is in, it is more preferable.

上記のようなソルダーレジスト組成物の原料が配合され、例えば三本ロール、ボールミル、サンドミル等を用いる公知の混練方法によって混練されることにより、ソルダーレジスト組成物が調製され得る。ソルダーレジスト組成物をロール混練することで、結晶性エポキシ樹脂(D)や無機顔料の良好な分散性が得られ、視認性を向上させることができる。   The raw material of the solder resist composition as described above is blended, and the solder resist composition can be prepared by kneading by a known kneading method using, for example, a three roll, ball mill, sand mill or the like. By roll kneading the solder resist composition, good dispersibility of the crystalline epoxy resin (D) and the inorganic pigment can be obtained, and visibility can be improved.

保存安定性等を考慮して、ソルダーレジスト組成物の原料の一部を混合することで第一剤を調製し、原料の残部を混合することで第二剤を調製してもよい。例えば、ソルダーレジスト組成物の原料のうち、光重合性化合物(B)と、有機溶剤の一部と、結晶性エポキシ樹脂(D)とを予め混合して分散させることで第一剤を調製し、ソルダーレジスト組成物の原料のうち残部を混合して分散させることで第二剤を調製してもよい。この場合、適時必要量の第一剤と第二剤とを混合することで、ソルダーレジスト組成物を調製することができる。   In consideration of storage stability and the like, the first agent may be prepared by mixing a part of the raw material of the solder resist composition, and the second agent may be prepared by mixing the remainder of the raw material. For example, the first agent is prepared by previously mixing and dispersing the photopolymerizable compound (B), a part of the organic solvent, and the crystalline epoxy resin (D) among the raw materials of the solder resist composition. The second agent may be prepared by mixing and dispersing the remainder of the raw material of the solder resist composition. In this case, a solder resist composition can be prepared by mixing the necessary amount of the first agent and the second agent in a timely manner.

{被膜及び被覆プリント配線板}
被覆プリント配線板は、図3に示すように、プリント配線板1と、ソルダーレジスト組成物から形成された被膜3とを備える。プリント配線板1は、絶縁層と、絶縁層上にある銅製の配線とを備える。被膜3は、絶縁層及び配線を覆っている。
{Coating and coated printed wiring board}
As shown in FIG. 3, the coated printed wiring board includes a printed wiring board 1 and a coating 3 formed from a solder resist composition. The printed wiring board 1 includes an insulating layer and copper wiring on the insulating layer. The coating 3 covers the insulating layer and the wiring.

絶縁層の色は特に限定されず、例えば、黄色、黄緑色、白色、クリーム色、褐色、オレンジ色、緑色又は黒色であるのが好ましい。   The color of an insulating layer is not specifically limited, For example, it is preferable that they are yellow, yellowish green, white, cream color, brown, orange, green, or black.

プリント配線板1としては、例えば、紙フェノール基板(FR−1、FR−2)、紙エポキシ基板(FR−3、アイボリー色)、ガラスエポキシ基板(ガラス布エポキシ)(FR−4、FR−5)、ガラスマットポリエステル基板(FR−6)、ガラスコンポジット基板(ガラス紙エポキシ)(CEM−1)、ガラスコンポジット基板(ガラス基材エポキシ)(CEM−3)、ガラスポリイミド基板、ポリイミドフィルム、フッ素樹脂(テフロン(登録商標))基板、金属基板(主にアルミニウム)、セラミック基板などが挙げられる。   As the printed wiring board 1, for example, a paper phenol substrate (FR-1, FR-2), a paper epoxy substrate (FR-3, ivory color), a glass epoxy substrate (glass cloth epoxy) (FR-4, FR-5). ), Glass mat polyester substrate (FR-6), glass composite substrate (glass paper epoxy) (CEM-1), glass composite substrate (glass base epoxy) (CEM-3), glass polyimide substrate, polyimide film, fluororesin (Teflon (registered trademark)) substrate, metal substrate (mainly aluminum), ceramic substrate and the like.

プリント配線板1が、リジッド材及びフレキシブル材のうち少なくとも一方を含むのが好ましい。   The printed wiring board 1 preferably includes at least one of a rigid material and a flexible material.

被膜3は、図3に示すように、第一の領域33と、この第一の領域33よりも光透過率が高い第二の領域34とを備える。第一の領域33は、気泡を含有する。第二の領域34は、気泡を含有せず或いは気泡の割合が第一の領域33よりも低い。このため、第一の領域33は第二の領域34よりも光透過性が低い。   As shown in FIG. 3, the coating 3 includes a first region 33 and a second region 34 having a higher light transmittance than the first region 33. The first region 33 contains bubbles. The second region 34 does not contain bubbles or the ratio of bubbles is lower than that of the first region 33. For this reason, the first region 33 is less light transmissive than the second region 34.

被膜3を外部から観察すると、第一の領域33では気泡による光の散乱が生じるため白っぽい色調になり、かつ下地であるプリント配線板1の色は透けて見えにくい。一方、第二の領域34では気泡による光の散乱が無いか少ないためプリント配線板1の色が透けて見えやすい。そのため第二の領域34の外観色は、第二の領域34自身の色とプリント配線板1の色とが混ざった色になる。すなわち、第一の領域33と第二の領域34との間には外観の相違がある。本実施形態では、被膜3が青色分散剤(E)を含有するため、第二の領域34の外観色(すなわち第二の領域34自身の色とプリント配線板1の色とが混ざった色)の色調と、第一の領域33の外観色の色調とが、大きく異なる。このため、第一の領域33と第二の領域34を利用して、視認性の高いマーキングを得ることができる。被膜3が着色剤(F)を更に含有すると、第一の領域33の外観色と第二の領域34の外観色との色調の差が更に大きくなり、マーキングの視認性が更に向上する。   When the coating 3 is observed from the outside, light scattering due to bubbles occurs in the first region 33, resulting in a whitish color tone, and the color of the printed wiring board 1 as a base is difficult to see through. On the other hand, in the second region 34, the color of the printed wiring board 1 is easily seen through because there is little or no light scattering due to bubbles. Therefore, the appearance color of the second region 34 is a color in which the color of the second region 34 itself and the color of the printed wiring board 1 are mixed. That is, there is a difference in appearance between the first region 33 and the second region 34. In the present embodiment, since the coating 3 contains the blue dispersant (E), the appearance color of the second region 34 (that is, the color of the second region 34 itself and the color of the printed wiring board 1 is mixed). And the color tone of the appearance color of the first region 33 are greatly different. For this reason, marking with high visibility can be obtained using the first region 33 and the second region 34. When the coating 3 further contains a colorant (F), the difference in color tone between the appearance color of the first region 33 and the appearance color of the second region 34 is further increased, and the visibility of the marking is further improved.

このように被膜3に第一の領域33及び第二の領域34を形成することで、被膜3に視認性の高いマーキングを容易に形成することができる。例えば第一の領域33が適宜の図形、文字等の形状に形成されることで、第一の領域33によるマーキングが形成される。また、第二の領域34が適宜の図形、文字等の形状に形成されることで、第二の領域34によるマーキングが形成されてもよい。このため、被膜3の形成と同時に、マーキングを施すことができる。   By forming the first region 33 and the second region 34 in the coating 3 in this way, a highly visible marking can be easily formed on the coating 3. For example, the first region 33 is formed into an appropriate figure, character, or the like, so that the marking by the first region 33 is formed. Moreover, the marking by the 2nd area | region 34 may be formed by forming the 2nd area | region 34 in shapes, such as a suitable figure and a character. For this reason, marking can be performed simultaneously with the formation of the coating 3.

被膜3の厚みは、例えば5〜60μmの範囲内である。このように被膜3は、従来の二層の被膜よりも被膜全体の厚みを薄くすることができるので、例えば、被覆プリント配線板1を作製する際、露光(UV光)が被膜3の表層から深部まで十分に届きやすく、プリント配線板1と被膜3との密着性を向上させることができる。また、この厚み範囲において、第一の領域33の外観色と第二の領域34の外観色との相違が明確に視認可能である。   The thickness of the coating 3 is, for example, in the range of 5 to 60 μm. Thus, since the coating 3 can make the thickness of the whole coating thinner than the conventional two-layer coating, for example, when producing the coated printed wiring board 1, exposure (UV light) is applied from the surface layer of the coating 3. It is easy to reach the deep part sufficiently, and the adhesion between the printed wiring board 1 and the coating 3 can be improved. Further, in this thickness range, the difference between the appearance color of the first region 33 and the appearance color of the second region 34 is clearly visible.

第一の領域33における気泡の割合は3〜70%の範囲内であることが好ましく、5〜60%の範囲内であれば更に好ましい。また、第一の領域33における気泡の割合の値に対する、第二の領域34における気泡の割合の値の割合は、0〜5%の範囲内であることが好ましい。   The ratio of bubbles in the first region 33 is preferably in the range of 3 to 70%, and more preferably in the range of 5 to 60%. Moreover, it is preferable that the ratio of the value of the bubble ratio in the second region 34 to the value of the bubble ratio in the first region 33 is in the range of 0 to 5%.

尚、この気泡の割合は、被膜3の表面を研磨することで現れる面(すなわち、被膜3の表面に沿った被膜3の断面)における、長径0.5μm以上の気泡の面積割合である。この面積割合は、例えば塗膜における20μmの表面積を有する面における長径0.5μm以上の気泡の面積に基づいて導出される。The ratio of the bubbles is the area ratio of bubbles having a major axis of 0.5 μm or more on the surface appearing by polishing the surface of the coating 3 (that is, the cross section of the coating 3 along the surface of the coating 3). This area ratio is derived, for example, based on the area of bubbles having a major axis of 0.5 μm or more on the surface having a surface area of 20 μm 2 in the coating film.

これらの割合は、後述する被膜及び被膜を備える被覆プリント配線板の製造方法において、露光時の第一の部分21の露光量及び第二の部分22の露光量を適宜調整することで、制御されうる。   These ratios are controlled by appropriately adjusting the exposure amount of the first portion 21 and the exposure amount of the second portion 22 at the time of exposure in the manufacturing method of the coated printed wiring board including the coating film and the coating film described later. sell.

{被膜及び被膜を備えるプリント配線板の製造方法}
本実施形態の被膜及び被膜を備えるプリント配線板の製造方法を、図1〜3を参照して説明する。
{Film and method for producing printed wiring board provided with film}
The manufacturing method of a printed wiring board provided with the film and film of this embodiment is demonstrated with reference to FIGS.

本実施形態の被膜の製造方法は、
〈a〉本実施形態のソルダーレジスト組成物からなる塗膜2を形成する工程、
〈b〉塗膜2を露光する工程、及び
〈c〉露光後の塗膜2を加熱することで被膜3を形成する工程を含む。
The method for producing the coating of the present embodiment is as follows:
<a> forming the coating film 2 comprising the solder resist composition of the present embodiment,
<B> The process of exposing the coating film 2 and <c> The process of forming the coating film 3 by heating the coating film 2 after exposure.

前記〈b〉の工程では、塗膜2における第一の部分21に光を照射し、塗膜2における第一の部分21とは異なる第二の部分22には光を照射せず、或いは第一の部分21よりも露光量が低くなるように光を照射する。   In the step <b>, the first portion 21 in the coating film 2 is irradiated with light, and the second portion 22 different from the first portion 21 in the coating film 2 is not irradiated with light. Light is irradiated so that the exposure amount is lower than that of the first portion 21.

前記〈c〉の工程では、加熱により第一の部分21内に気泡を発生させることで、被膜3に気泡を含有する第一の領域33と、気泡を含有せず或いは気泡の割合が第一の領域33よりも低い第二の領域34を形成する。   In the step <c>, by generating bubbles in the first portion 21 by heating, the first region 33 containing bubbles in the coating 3 and the ratio of the bubbles not containing bubbles are first. The second region 34 lower than the region 33 is formed.

上記の被膜の製造方法は、〈b〉の工程の後、〈c〉の工程の前に、塗膜2を現像液で現像する工程を含まなくてもよく、塗膜2を現像液で現像する工程を含んでもよい。   The coating film production method described above may not include the step of developing the coating film 2 with a developer after the step <b> and before the step of <c>, and developing the coating film 2 with the developer. The process of carrying out may be included.

本実施形態の被覆プリント配線板の製造方法は、
被覆プリント配線板を製造する方法であって、
〈d〉本実施形態のソルダーレジスト組成物を、プリント配線板5上に絶縁層及び配線を覆うように配置することで、塗膜2を形成する工程、
〈e〉塗膜2を露光する工程、
〈f〉露光後の塗膜2をアルカリ性現像液で現像する工程、及び
〈g〉現像後の塗膜2を加熱することで被膜3を形成する工程を含む。
The method for producing the coated printed wiring board of the present embodiment is as follows:
A method for producing a coated printed wiring board, comprising:
<D> a step of forming the coating film 2 by disposing the solder resist composition of the present embodiment on the printed wiring board 5 so as to cover the insulating layer and the wiring;
<E> a step of exposing the coating film 2;
<F> A step of developing the exposed coating film 2 with an alkaline developer, and <g> a step of forming the coating film 3 by heating the coated film 2 after development.

前記〈e〉の工程では、塗膜2における第一の部分21に光を照射し、塗膜2における第一の部分21とは異なる第二の部分22には第一の部分21よりも露光量が低くなるように光を照射する。   In the step <e>, the first portion 21 in the coating film 2 is irradiated with light, and the second portion 22 different from the first portion 21 in the coating film 2 is exposed more than the first portion 21. Light is irradiated so that the amount is low.

前記〈g〉の工程では、加熱により第一の部分21内に気泡を発生させることで、被膜3に気泡を含有する第一の領域33と、気泡を含有せず或いは気泡の割合が第一の領域33よりも低い第二の領域34を形成する。   In the step <g>, by generating bubbles in the first portion 21 by heating, the first region 33 containing bubbles in the coating 3 and the ratio of the bubbles not containing bubbles are first. The second region 34 lower than the region 33 is formed.

[工程〈a〉,〈d〉]
工程〈a〉,〈d〉では、プリント配線板1上に、本実施形態のソルダーレジスト組成物を塗布して、図1に示すように本実施形態のソルダーレジスト組成物からなる塗膜2を形成する。この際、工程〈d〉では、本実施形態のソルダーレジスト組成物を、プリント配線板上に絶縁層及び配線を覆うように配置することで、塗膜2を形成する。
[Process <a>, <d>]
In the steps <a> and <d>, the solder resist composition of the present embodiment is applied onto the printed wiring board 1, and the coating film 2 made of the solder resist composition of the present embodiment is applied as shown in FIG. Form. At this time, in the step <d>, the coating film 2 is formed by disposing the solder resist composition of the present embodiment on the printed wiring board so as to cover the insulating layer and the wiring.

ソルダーレジスト組成物の塗布方法は、公知の方法、例えば浸漬法、スプレー法、スピンコート法、ロールコート法、カーテンコート法、及びスクリーン印刷法からなる群から選択される。   The method for applying the solder resist composition is selected from the group consisting of known methods such as dipping, spraying, spin coating, roll coating, curtain coating, and screen printing.

必要に応じて、ソルダーレジスト組成物中の有機溶剤を揮発させるために、塗膜2を加熱する(予備乾燥)。この場合の加熱温度は、ソルダーレジスト組成物中の結晶性エポキシ樹脂(D)の融点よりも低い温度であることが好ましく、特にソルダーレジスト組成物中の結晶性エポキシ樹脂(D)の融点から30℃減じた温度よりも低い温度であることが好ましい。この加熱温度は、例えば60〜100℃の範囲内である。   As needed, in order to volatilize the organic solvent in a soldering resist composition, the coating film 2 is heated (preliminary drying). The heating temperature in this case is preferably a temperature lower than the melting point of the crystalline epoxy resin (D) in the solder resist composition, and in particular 30 from the melting point of the crystalline epoxy resin (D) in the solder resist composition. It is preferable that the temperature is lower than the temperature reduced by ° C. This heating temperature is, for example, in the range of 60 to 100 ° C.

プリント配線板1上に塗膜2を形成するにあたっては、予め適宜の支持体上にソルダーレジスト組成物を塗布してから乾燥することでドライフィルムを形成する。乾燥条件は、ソルダーレジスト組成物中の結晶性エポキシ樹脂(D)の融点よりも低い温度であることが好ましく、特にソルダーレジスト組成物中の結晶性エポキシ樹脂(D)の融点から30℃減じた温度よりも低い温度であることが好ましい。この加熱温度は、例えば60〜100℃の範囲内である。このドライフィルムをプリント配線板1に重ねてから、ドライフィルムとプリント配線板1に圧力をかけることで、プリント配線板1上にドライフィルムを転着させてもよい(ドライフィルム法)。このドライフィルムが塗膜2となる。この場合、予備乾燥が省略されてもよい。   In forming the coating film 2 on the printed wiring board 1, a dry film is formed by applying a solder resist composition on an appropriate support in advance and then drying. The drying condition is preferably a temperature lower than the melting point of the crystalline epoxy resin (D) in the solder resist composition, particularly 30 ° C. lower than the melting point of the crystalline epoxy resin (D) in the solder resist composition. It is preferable that the temperature is lower than the temperature. This heating temperature is, for example, in the range of 60 to 100 ° C. After the dry film is overlaid on the printed wiring board 1, the dry film may be transferred onto the printed wiring board 1 by applying pressure to the dry film and the printed wiring board 1 (dry film method). This dry film becomes the coating film 2. In this case, preliminary drying may be omitted.

[工程〈b〉,〈e〉]
工程〈b〉,〈e〉では、図2に示すように、塗膜2にマスク4を介して光を照射することで、塗膜2を露光する。これにより、塗膜2の表層から深部にわたって効率良く光硬化反応が進む。特に、塗膜2は単層であるので、従来の二層の被膜よりも全体の膜厚が薄く、塗膜2は表層から深部に亘って充分に硬化される。
[Process <b>, <e>]
In steps <b> and <e>, as shown in FIG. 2, the coating film 2 is exposed by irradiating the coating film 2 with light through a mask 4. Thereby, photocuring reaction advances efficiently from the surface layer of the coating film 2 to the deep part. In particular, since the coating film 2 is a single layer, the entire film thickness is thinner than the conventional two-layer coating film, and the coating film 2 is sufficiently cured from the surface layer to the deep part.

この際、塗膜2における第一の部分21に光を照射し、塗膜2における第一の部分21とは異なる第二の部分22には第一の部分21よりも露光量が低くなるように光を照射する。また、塗膜2における第一の部分21及び第二の部分22とは異なる第三の部分23には光を照射しない。このように光を照射すると、塗膜2における第一の部分21では光重合性化合物の光重合反応が進行する。一方、第二の部分22では、第一の部分21よりも程度が低いものの、光重合性化合物の光重合反応が進行する。第三の部分23では、光重合性化合物の光重合反応が進行しない。   At this time, the first portion 21 in the coating film 2 is irradiated with light so that the second portion 22 different from the first portion 21 in the coating film 2 has a lower exposure amount than the first portion 21. Irradiate light. Further, the third portion 23 different from the first portion 21 and the second portion 22 in the coating film 2 is not irradiated with light. When light is thus irradiated, the photopolymerization reaction of the photopolymerizable compound proceeds in the first portion 21 of the coating film 2. On the other hand, in the second portion 22, although the degree is lower than that of the first portion 21, the photopolymerization reaction of the photopolymerizable compound proceeds. In the third portion 23, the photopolymerization reaction of the photopolymerizable compound does not proceed.

第一の部分21における露光量は均一であってもよく、第一の部分21内に互いに露光量の異なる複数の部分が存在してもよい。また、第二の部分22に光を照射する場合、第二の部分22における露光量は均一であってもよく、第二の部分22内に互いに露光量の異なる複数の部分が存在してもよい。   The exposure amount in the first portion 21 may be uniform, or a plurality of portions having different exposure amounts may exist in the first portion 21. Moreover, when irradiating light to the 2nd part 22, the exposure amount in the 2nd part 22 may be uniform, and even if the several part from which the exposure amount differs in the 2nd part 22 exists, Good.

露光のための光は、この光の照射を受けてソルダーレジスト組成物中の光重合性化合物の光重合反応が進行するように、選択される。例えば露光のための光として、紫外線、可視光、又は近赤外線が選択される。紫外線が選択される場合、紫外線源は、例えばケミカルランプ、低圧水銀灯、中圧水銀灯、高圧水銀灯、超高圧水銀灯、キセノンランプ及びメタルハライドランプからなる群から選択される。   The light for exposure is selected so that the photopolymerization reaction of the photopolymerizable compound in the solder resist composition proceeds upon irradiation with this light. For example, ultraviolet light, visible light, or near infrared light is selected as light for exposure. When ultraviolet light is selected, the ultraviolet light source is selected from the group consisting of, for example, chemical lamps, low pressure mercury lamps, medium pressure mercury lamps, high pressure mercury lamps, ultra high pressure mercury lamps, xenon lamps and metal halide lamps.

マスク4は、互いに光透過性の程度が異なる三種類の部分を備える。例えばマスク4は、光透過性を有する部分(以下、透過性部41という)と、透過性部41よりも低い光透過性を有する部分(以下、低透過性部42という)と、光透過性を有しない部分(以下、非透過性部43という)とを備える。   The mask 4 includes three types of portions having different degrees of light transmission. For example, the mask 4 includes a light transmissive portion (hereinafter referred to as a transmissive portion 41), a light transmissive portion lower than the transmissive portion 41 (hereinafter referred to as a low transmissive portion 42), and a light transmissive property. A portion (hereinafter referred to as a non-permeable portion 43).

このマスク4を介して塗膜2が露光されると、塗膜2における透過性部41に対応する部分(第一の部分21)には光が照射される。塗膜2における低透過性部42に対応する部分(第二の部分22)には、第一の部分21よりも低い露光量で光が照射される。塗膜2における非透過性部43に対応する部分(第三の部分23)には、光が照射されない。尚、第一の部分21は露光時に光が照射される部分であり、第二の部分22は露光時に光が第一の部分21よりも低い露光量で光が照射される部分であり、第三の部分23は露光時に光が照射されない部分であると、いうこともできる。マスク4は、第一の部分21、第二の部分22及び第三の部分23が、塗膜2における所定の箇所に位置するように、設計される。   When the coating film 2 is exposed through the mask 4, light is irradiated to a portion (first portion 21) corresponding to the transmissive portion 41 in the coating film 2. The portion (second portion 22) corresponding to the low-permeability portion 42 in the coating film 2 is irradiated with light at an exposure amount lower than that of the first portion 21. The portion (third portion 23) corresponding to the non-permeable portion 43 in the coating film 2 is not irradiated with light. The first portion 21 is a portion irradiated with light at the time of exposure, the second portion 22 is a portion irradiated with light at an exposure amount lower than that of the first portion 21 at the time of exposure, It can also be said that the third portion 23 is a portion that is not irradiated with light during exposure. The mask 4 is designed so that the first portion 21, the second portion 22, and the third portion 23 are located at predetermined positions in the coating film 2.

第一の部分21の露光量に対する、第二の部分22の露光量の割合は、例えば1〜75%の範囲内であり、特に1.2〜60%の範囲内であることが好ましい。   The ratio of the exposure amount of the second portion 22 to the exposure amount of the first portion 21 is, for example, in the range of 1 to 75%, and particularly preferably in the range of 1.2 to 60%.

第一の部分21の露光量は、例えば100〜5000mJ/cmの範囲内であり、第二の部分22の露光量は、例えば20〜500mJ/cmの範囲内である。The exposure amount of the first portion 21 is, for example, in the range of 100 to 5000 mJ / cm 2 , and the exposure amount of the second portion 22 is, for example, in the range of 20 to 500 mJ / cm 2 .

尚、本実施形態ではマスク4を用いたが、第一の部分21、第二の部分22及び第三の部分23における露光量が所望の値にコントロール可能であれば、上記のようなマスク4が用いられなくてもよい。例えば、まず塗膜2に、第三の部分23を遮蔽し、かつ第一の部分21及び第二の部分22を遮蔽しないマスク(第一のマスク)を介して、光を照射する。続いて第一のマスクに、第二の部分22を遮蔽し、かつ第一の部分21は遮蔽しないマスク(第二のマスク)を重ね、この第一のマスクと第二のマスクを介して、更に光を照射してもよい。この場合でも、第一の部分21には光が照射され、第二の部分22には、第一の部分21よりも低い露光量で光が照射され、第三の部分23には、光が照射されない。   In the present embodiment, the mask 4 is used. However, if the exposure amounts in the first portion 21, the second portion 22, and the third portion 23 can be controlled to desired values, the mask 4 as described above is used. May not be used. For example, first, the coating film 2 is irradiated with light through a mask (first mask) that shields the third portion 23 and does not shield the first portion 21 and the second portion 22. Subsequently, a mask (second mask) that shields the second portion 22 and does not shield the first portion 21 is superimposed on the first mask, and through the first mask and the second mask, Further, light may be irradiated. Even in this case, the first portion 21 is irradiated with light, the second portion 22 is irradiated with light at a lower exposure amount than the first portion 21, and the third portion 23 is irradiated with light. Not irradiated.

プリント配線板1上に、ソルダーレジスト組成物からなる塗膜2を形成した時点から、塗膜2の露光が完了する時点までの間、塗膜2の温度を、結晶性エポキシ樹脂(D)の融点よりも低い温度に維持することが好ましい。この場合、第一の領域33内の気泡の割合が、より高くなる。このため第一の領域33と第二の領域34との間の外観色の相違が、より顕著になる。これは、第一の部分21内の光重合性化合物が重合する前に第一の部分21内で結晶性エポキシ樹脂(D)が溶融すると、第一の部分21内で結晶性エポキシ樹脂(D)が安定してしまい、このため塗膜2の露光後に第一の部分21を加熱しても、第一の部分21が変形しにくくなるためであると、推察される。更に好ましくは、ソルダーレジスト組成物をプリント配線板1上に配置する時点から、塗膜2の露光が完了する時点までの間、塗膜2の温度を、結晶性エポキシ樹脂(D)の融点から30℃減じた温度よりも低い温度に維持する。   From the time when the coating film 2 made of the solder resist composition is formed on the printed wiring board 1 to the time when the exposure of the coating film 2 is completed, the temperature of the coating film 2 is changed to that of the crystalline epoxy resin (D). It is preferable to maintain the temperature lower than the melting point. In this case, the ratio of bubbles in the first region 33 is higher. For this reason, the difference in appearance color between the first region 33 and the second region 34 becomes more prominent. This is because when the crystalline epoxy resin (D) melts in the first portion 21 before the photopolymerizable compound in the first portion 21 is polymerized, the crystalline epoxy resin (D Therefore, even if the first portion 21 is heated after the coating film 2 is exposed, the first portion 21 is less likely to be deformed. More preferably, the temperature of the coating film 2 is determined from the melting point of the crystalline epoxy resin (D) from the time when the solder resist composition is disposed on the printed wiring board 1 until the time when the exposure of the coating film 2 is completed. Maintain a temperature lower than the temperature reduced by 30 ° C.

[工程〈f〉]
工程〈f〉では、露光後の塗膜2をアルカリ性現像液で現像する。これにより、塗膜2における非透過性部43に対応する部分である塗膜2の第三の部分23が、プリント配線板1上から除去される。塗膜2の第一の部分21及び第二の部分22は、プリント配線板1上に残存する。
[Process <f>]
In step <f>, the exposed coating film 2 is developed with an alkaline developer. Thereby, the third portion 23 of the coating film 2, which is a portion corresponding to the non-permeable portion 43 in the coating film 2, is removed from the printed wiring board 1. The first portion 21 and the second portion 22 of the coating film 2 remain on the printed wiring board 1.

アルカリ性現像液の具体例として、炭酸ナトリウム水溶液、炭酸カリウム水溶液、炭酸アンモニウム水溶液、炭酸水素ナトリウム水溶液、炭酸水素カリウム水溶液、炭酸水素アンモニウム水溶液、水酸化ナトリウム水溶液、水酸化カリウム水溶液、水酸化アンモニウム水溶液、水酸化テトラメチルアンモニウム水溶液、水酸化リチウム水溶液等が挙げられる。現像液として、有機アミンなどを使用することもできる。有機アミンとしては、例えば、モノエタノールアミン、ジエタノールアミン、トリエタノールアミン、モノイソプロパノールアミン、ジイソプロパノールアミン、トリイソプロパノールアミン等が挙げられる。アルカリ性現像液中の溶媒は、水のみであっても、水と低級アルコール類等の親水性有機溶媒との混合物であってもよい。   Specific examples of the alkaline developer include sodium carbonate aqueous solution, potassium carbonate aqueous solution, ammonium carbonate aqueous solution, sodium hydrogen carbonate aqueous solution, potassium hydrogen carbonate aqueous solution, ammonium hydrogen carbonate aqueous solution, sodium hydroxide aqueous solution, potassium hydroxide aqueous solution, ammonium hydroxide aqueous solution, Examples include tetramethylammonium hydroxide aqueous solution and lithium hydroxide aqueous solution. An organic amine or the like can also be used as the developer. Examples of the organic amine include monoethanolamine, diethanolamine, triethanolamine, monoisopropanolamine, diisopropanolamine, triisopropanolamine and the like. The solvent in the alkaline developer may be water alone or a mixture of water and a hydrophilic organic solvent such as lower alcohols.

[工程〈c〉,〈g〉]
工程〈c〉,〈g〉では、プリント配線板1上の露光後の塗膜2を加熱することで被膜3を形成する。このように塗膜2が加熱されると、第一の部分21内には、気泡が形成される。特に、本実施形態のソルダーレジスト組成物は、青色分散剤(E)を含有し、結晶性エポキシ樹脂(D)の分散性が高いので、青色分散剤(E)を含有しない場合より第一の部分21内に気泡が形成されやすくなる。一方、第二の部分22内には、加熱されても気泡は形成されず、或いは、気泡は形成されるが、この気泡の割合が第一の部分21よりも低くなる。このため、被膜3における第一の領域33の光透過性が、第二の領域34よりも低くなる。また、第一の領域33では、第二の領域34よりも光の散乱が生じやすくなる。また、このように塗膜2を加熱すると、ソルダーレジスト組成物がエポキシ化合物を含有する場合は、エポキシ化合物の熱硬化反応が進行する。
[Process <c>, <g>]
In steps <c> and <g>, the coating film 3 is formed by heating the coating film 2 after exposure on the printed wiring board 1. When the coating film 2 is heated in this way, bubbles are formed in the first portion 21. In particular, since the solder resist composition of the present embodiment contains a blue dispersant (E) and the dispersibility of the crystalline epoxy resin (D) is high, the solder resist composition is more first than the case of not containing the blue dispersant (E). Bubbles are easily formed in the portion 21. On the other hand, bubbles are not formed in the second portion 22 even when heated, or bubbles are formed, but the ratio of the bubbles is lower than that of the first portion 21. For this reason, the light transmittance of the first region 33 in the coating 3 is lower than that of the second region 34. Further, light scattering is more likely to occur in the first region 33 than in the second region 34. Moreover, when the coating film 2 is heated in this way, when the solder resist composition contains an epoxy compound, a thermosetting reaction of the epoxy compound proceeds.

このように第一の部分21内に気泡が形成されるのは、次の理由によるためと推察される。   The reason why bubbles are formed in the first portion 21 in this way is assumed to be due to the following reason.

第一の部分21は、塗膜2の露光時に光が照射されているため、光重合性化合物の光重合反応により生成した重合体を含んでいる。この状態で塗膜2を加熱すると、塗膜2内の結晶性エポキシ樹脂(D)が溶融することで、塗膜2が変形しようとするが、第一の部分21は、重合体を含有するため、結晶性エポキシ樹脂(D)の溶融に追随して変形しにくい。このために、第一の部分21内に気泡が生じるものと、考えられる。一方、第二の部分22は、光重合性化合物の重合体を含まず、或いはこの重合体の割合が第一の部分よりも低い。このため、塗膜2を加熱すると、第二の部分22は、第一の部分21と比べて、結晶性エポキシ樹脂(D)の溶融に追随して変形しやすい。このために、第二の部分22内に気泡が生じず、或いは第二の部分22内に気泡の割合が第一の部分21よりも低くなるものと、考えられる。   Since the first portion 21 is irradiated with light when the coating film 2 is exposed, the first portion 21 contains a polymer generated by a photopolymerization reaction of a photopolymerizable compound. When the coating film 2 is heated in this state, the crystalline epoxy resin (D) in the coating film 2 is melted so that the coating film 2 tends to deform, but the first portion 21 contains a polymer. Therefore, it hardly deforms following the melting of the crystalline epoxy resin (D). For this reason, it is considered that bubbles are generated in the first portion 21. On the other hand, the 2nd part 22 does not contain the polymer of a photopolymerizable compound, or the ratio of this polymer is lower than a 1st part. For this reason, when the coating film 2 is heated, the second portion 22 is more easily deformed following the melting of the crystalline epoxy resin (D) than the first portion 21. For this reason, it is considered that bubbles are not generated in the second portion 22, or the ratio of bubbles in the second portion 22 is lower than that of the first portion 21.

塗膜2の加熱温度は、好ましくはTh≧Tm−30の関係を満たし、より好ましくはTm+100≧Th≧Tm−30の関係を満たす。塗膜2の加熱温度が上記範囲内であれば、ソルダーレジスト組成物中の成分の熱による劣化を抑制することができる。この式において、Th(℃)は塗膜2の加熱温度であり、Tm(℃)は、結晶性エポキシ樹脂(D)の融点である。加熱温度は、例えば100〜200℃の範囲内である。また加熱時間は10分〜5時間の範囲内である。   The heating temperature of the coating film 2 preferably satisfies the relationship of Th ≧ Tm−30, more preferably satisfies the relationship of Tm + 100 ≧ Th ≧ Tm−30. When the heating temperature of the coating film 2 is within the above range, deterioration of components in the solder resist composition due to heat can be suppressed. In this formula, Th (° C.) is the heating temperature of the coating film 2, and Tm (° C.) is the melting point of the crystalline epoxy resin (D). The heating temperature is, for example, in the range of 100 to 200 ° C. The heating time is in the range of 10 minutes to 5 hours.

尚、塗膜2を加熱する際の加熱温度が、結晶性エポキシ樹脂(D)の融点よりも低くても、結晶性エポキシ樹脂(D)の融点から30℃を減じた温度以上であれば、第一の部分21内に気泡が生じる。その理由は明確には解明されていないが、塗膜2内では結晶性エポキシ樹脂(D)に別の化合物が混入することで、結晶性エポキシ樹脂(D)の融点降下(凝固点降下)が生じるのが、理由の一つであると推察される。   In addition, even if the heating temperature at the time of heating the coating film 2 is lower than the melting point of the crystalline epoxy resin (D), if it is equal to or higher than the temperature obtained by subtracting 30 ° C. from the melting point of the crystalline epoxy resin (D), Bubbles are generated in the first portion 21. The reason is not clearly understood, but the melting point drop (freezing point depression) of the crystalline epoxy resin (D) occurs when another compound is mixed into the crystalline epoxy resin (D) in the coating film 2. This is presumed to be one of the reasons.

塗膜2の加熱後に、塗膜2全体に光を照射してもよい。この場合、塗膜2内に未反応のまま残存する光重合性化合物の、光重合反応が進行する。   After the coating film 2 is heated, the entire coating film 2 may be irradiated with light. In this case, the photopolymerization reaction of the photopolymerizable compound remaining unreacted in the coating film 2 proceeds.

以下、本発明を実施例によって具体的に説明する。   Hereinafter, the present invention will be specifically described by way of examples.

[カルボキシル基含有樹脂溶液の調製]
還流冷却管、温度計、空気吹き込み管及び攪拌機を取り付けた四つ口フラスコ内に、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂(新日鉄住金化学株式会社製、品名YDCN−700−5、エポキシ当量203)203質量部、ジエチレングリコールモノエチルエーテルアセテート103質量部、メチルハイドロキノン0.2質量部、アクリル酸72質量部、及びトリフェニルホスフィン1.5質量部を入れることで、混合物を調製した。この混合物を加熱温度110℃、加熱時間10時間の条件で加熱することで、付加反応を進行させた。続いて、混合物にテトラヒドロ無水フタル酸60.8質量部、及びジエチレングリコールモノエチルエーテルアセテート78.9質量部を加えてから、更に混合物を加熱温度80℃、加熱時間3時間の条件で加熱した。これにより、カルボキシル基含有樹脂の65質量%溶液(カルボキシル基含有樹脂溶液A)を得た。
[Preparation of carboxyl group-containing resin solution]
In a four-necked flask equipped with a reflux condenser, a thermometer, an air blowing tube and a stirrer, 203 parts by mass of a cresol novolac type epoxy resin (manufactured by Nippon Steel & Sumikin Chemical Co., Ltd., product name YDCN-700-5, epoxy equivalent 203), A mixture was prepared by adding 103 parts by mass of diethylene glycol monoethyl ether acetate, 0.2 parts by mass of methylhydroquinone, 72 parts by mass of acrylic acid, and 1.5 parts by mass of triphenylphosphine. This mixture was heated under the conditions of a heating temperature of 110 ° C. and a heating time of 10 hours, thereby allowing the addition reaction to proceed. Subsequently, 60.8 parts by mass of tetrahydrophthalic anhydride and 78.9 parts by mass of diethylene glycol monoethyl ether acetate were added to the mixture, and the mixture was further heated under the conditions of a heating temperature of 80 ° C. and a heating time of 3 hours. This obtained the 65 mass% solution (carboxyl group containing resin solution A) of carboxyl group containing resin.

[原料]
カルボキシル基含有樹脂溶液A以外に、次の原料を用意した。
・結晶性エポキシ化合物A:1,3,5−トリス(2,3−エポキシプロピル)−1,3,5−トリアジン−2,4,6(1H,3H,5H)−トリオン(高融点タイプ)、融点150〜158℃
・結晶性エポキシ化合物B:ハイドロキノン型結晶性エポキシ樹脂、新日鉄住金化学株式会社製の品名YDC−1312、融点138〜145℃
・結晶性エポキシ化合物C:ビスフェノール型結晶性エポキシ樹脂、新日鉄住金化学株式会社製の品名YSLV−80XY、融点75〜85℃
・非晶性エポキシ化合物溶液:非晶性のクレゾールノボラック型エポキシ樹脂、DIC株式会社製の品名EPICLON N−695を固形分70%でジエチレングリコールモノエチルエーテルアセテートに溶解した溶液
・光重合性化合物:ジペンタエリスリトールヘキサアクリレート(日本化薬株式会社製の品名KAYARAD DPHA)
・光重合開始剤A:BASF社製の品名Irgacure TPO
・光重合開始剤B:BASF社製の品名Irgacure 184
・硫酸バリウム:堺化学工業株式会社製の品名バリエースB30
・微粉シリカ:株式会社トクヤマ製の品名レオロシールMT−10C
・メラミン:日産化学工業株式会社製の品名メラミンHM
・消泡剤:信越化学工業株式会社製の品名KS−66
・溶剤:ジエチレングリコールモノエチルエーテルアセテート
・青色分散剤:銅フタロシアニンスルホネート誘導体、ルブリゾール社製の品名ソルスパース5000
・青色着色剤:フタロシアニンブルー、大日精化工業株式会社製の品名シアニンブルー4940
・黒色着色剤:ペリレン系黒色顔料、BASF社製の品名Paliogen Black S 0084
・赤色着色剤:アントラキノン系赤色顔料、BASF社製の品名Paliogen Red L 4045
・緑色着色剤:東洋インキ製造社製の品名リオノールグリーン6Y−501
[material]
In addition to the carboxyl group-containing resin solution A, the following raw materials were prepared.
Crystalline epoxy compound A: 1,3,5-tris (2,3-epoxypropyl) -1,3,5-triazine-2,4,6 (1H, 3H, 5H) -trione (high melting point type) , Melting point 150-158 ° C
Crystalline epoxy compound B: Hydroquinone type crystalline epoxy resin, product name YDC-1312 manufactured by Nippon Steel & Sumikin Chemical Co., Ltd., melting point 138-145 ° C.
Crystalline epoxy compound C: Bisphenol type crystalline epoxy resin, product name YSLV-80XY, manufactured by Nippon Steel & Sumikin Chemical Co., Ltd., melting point 75-85 ° C.
-Amorphous epoxy compound solution: Amorphous cresol novolac type epoxy resin, a solution obtained by dissolving DIC Corporation product name EPICLON N-695 at a solid content of 70% in diethylene glycol monoethyl ether acetate-Photopolymerizable compound: Di Pentaerythritol hexaacrylate (product name KAYARAD DPHA manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.)
Photopolymerization initiator A: Product name Irgacure TPO manufactured by BASF
Photopolymerization initiator B: Product name Irgacure 184 manufactured by BASF
-Barium sulfate: Product name Variace B30 manufactured by Sakai Chemical Industry Co., Ltd.
・ Fine silica: Product name Leoroseal MT-10C manufactured by Tokuyama Corporation
・ Melamine: Product name Melamine HM manufactured by Nissan Chemical Industries, Ltd.
-Antifoaming agent: Product name KS-66 manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.
Solvent: Diethylene glycol monoethyl ether acetate Blue dispersant: Copper phthalocyanine sulfonate derivative, product name Solsperse 5000 manufactured by Lubrizol
Blue colorant: phthalocyanine blue, product name cyanine blue 4940 manufactured by Dainichi Seika Kogyo Co., Ltd.
Black colorant: Perylene-based black pigment, product name Paliogen Black S 0084 manufactured by BASF
Red colorant: Anthraquinone red pigment, product name Palogen Red L 4045 manufactured by BASF
Green colorant: Product name Lionol Green 6Y-501 manufactured by Toyo Ink Manufacturing Co., Ltd.

[実施例及び比較例]
後掲の表1及び表2に示す原料を混合し、三本ロールにより分散させて、ソルダーレジスト組成物を調製した。尚、結晶性エポキシ化合物A,Bは、予めジェットミル或いは乳鉢により、平均粒径が20μm以下となるように粉砕した。
[Examples and Comparative Examples]
The raw materials shown in Tables 1 and 2 below were mixed and dispersed by a three roll to prepare a solder resist composition. The crystalline epoxy compounds A and B were previously pulverized by a jet mill or a mortar so that the average particle size was 20 μm or less.

実施例1〜12、比較例1〜4においては、次のプリント配線板を用意し、各プリント配線板上に、得られたソルダーレジスト組成物をスクリーン印刷法で塗布することで、絶縁層と、絶縁層上にある銅製の配線を覆う1層の塗膜を形成した。
・厚み35μmの銅製の配線を備える、絶縁層表面の色が黄色であるプリント配線板(ガラスエポキシ基板)
・厚み35μmの銅製の配線を備える、絶縁層表面の色が黄緑色であるプリント配線板(ガラスエポキシ基板)
・厚み35μmの銅製の配線を備える、絶縁層表面の色が白色(クリーム色)であるプリント配線板(ガラスコンポジット基板)
・厚み35μmの銅製の配線を備える、絶縁層表面の色が明るい褐色であるプリント配線板(紙フェノール基板)
・厚み35μmの銅製の配線を備える、絶縁層表面がオレンジ色であるプリント配線板(ポリイミド基板)
・厚み35μmの銅製の配線を備える、絶縁層表面の色が黒色であるプリント配線板(黒化処理ガラスエポキシ基板)
In Examples 1 to 12 and Comparative Examples 1 to 4, the following printed wiring boards were prepared, and by applying the obtained solder resist composition on each printed wiring board by a screen printing method, the insulating layer and A one-layer coating film was formed covering the copper wiring on the insulating layer.
・ Printed wiring board (glass epoxy board) with copper wiring with a thickness of 35μm, whose insulating layer surface is yellow in color
・ Printed wiring board (glass epoxy board) with copper wiring with a thickness of 35μm, and the color of the insulating layer surface is yellow-green
・ A printed wiring board (glass composite board) with copper wiring with a thickness of 35 μm and a white insulating surface color (cream)
・ Printed wiring board (paper phenolic board) with 35μm thick copper wiring and a light brown color on the insulating layer surface
・ Printed wiring board (polyimide substrate) with copper wiring with a thickness of 35μm and an insulating layer surface of orange
・ Printed wiring board (blackened glass epoxy board) with 35μm thick copper wiring and black insulating layer surface

また、比較例5においては、厚さ35μmの銅製の配線を備える、絶縁層表面の色が黄色であるプリント配線板(ガラスエポキシ基板)を用意し、このプリント配線板上に、黒色のネガ型フォトソルダーレジストインク(表2の比較例5Uに示す原料を混合したもの)を塗布し、80℃で15分間加熱した。この加熱後の銅製の配線上でのフォトソルダーレジストインクの塗膜の厚みは15μmであった。このフォトソルダーレジストインクの塗膜の上に、得られた混合物(表2の比較例5Tに示す原料を混合したもの)をスクリーン印刷法で塗布することで、2層の塗膜を形成した。   In Comparative Example 5, a printed wiring board (glass epoxy board) having a copper wiring having a thickness of 35 μm and having a yellow insulating layer surface color is prepared, and a black negative type is provided on the printed wiring board. A photo solder resist ink (mixed with raw materials shown in Comparative Example 5U in Table 2) was applied and heated at 80 ° C. for 15 minutes. The thickness of the coating film of the photo solder resist ink on the copper wiring after heating was 15 μm. On the coating film of this photo solder resist ink, the obtained mixture (mixed raw materials shown in Comparative Example 5T in Table 2) was applied by a screen printing method to form a two-layer coating film.

この塗膜を80℃で30分間、予備加熱した。   This coating film was preheated at 80 ° C. for 30 minutes.

続いて、光透過性を有する透過性部と透過性部よりも低い光透過性を有する低透過性部と光透過性を有さない非透過性部とを備えるマスクを介して、塗膜に紫外線を照射することで、塗膜を露光した。塗膜における透過性部を透過する光が照射される部分における露光量は500mJ/cm(第一の領域)、低透過性部を透過する光が照射される部分における露光量は80mJ/cm(第二の領域)であった。Subsequently, the coating film is passed through a mask having a light-transmissive part, a low-light part having a light transmittance lower than that of the light-transmissive part, and a non-light-transmissive part having no light permeability. The coating film was exposed by irradiating with ultraviolet rays. The exposure amount in the portion irradiated with light that passes through the transmissive part in the coating film is 500 mJ / cm 2 (first region), and the exposure amount in the part that is irradiated with light that passes through the low transmissive part is 80 mJ / cm 2 (second region).

露光後の塗膜に、1%NaCO水溶液を0.2MPaの圧力で60秒間スプレー噴射することで、現像した。The exposed coating film was developed by spraying a 1% Na 2 CO 3 aqueous solution at a pressure of 0.2 MPa for 60 seconds.

続いて、塗膜を160℃で1時間加熱した。これにより実施例1〜12、比較例1〜4においては、銅製の配線上25μmの厚みの被膜を形成した。また、比較例5においては、銅製の配線上40μmの厚みの被膜を形成した。   Subsequently, the coating film was heated at 160 ° C. for 1 hour. Thus, in Examples 1 to 12 and Comparative Examples 1 to 4, a film having a thickness of 25 μm was formed on the copper wiring. In Comparative Example 5, a film having a thickness of 40 μm was formed on the copper wiring.

尚、ダム残り、密着性、耐酸性、耐アルカリ性、耐メッキ性、はんだ耐熱性、鉛筆硬度及び耐電蝕性の評価項目においては、絶縁層表面の色が黄色であるプリント配線板(ガラスエポキシ基板)上に形成した被膜を用いて、評価を行った。   In addition, in the evaluation items of dam residue, adhesion, acid resistance, alkali resistance, plating resistance, solder heat resistance, pencil hardness and electric corrosion resistance, a printed wiring board (glass epoxy board) whose insulating layer surface color is yellow ) Evaluation was performed using the film formed above.

[評価]
1.外観色
各実施例及び比較例で形成された被膜の外観を目視で観察し、第一の領域と第二の領域とが、明瞭に区別可能か否かを確認した。その結果、明瞭に区別可能の場合を「A」、区別可能の場合を「B」、区別不明瞭の場合を「C」と、評価した。
[Evaluation]
1. Appearance color The appearance of the film formed in each Example and Comparative Example was visually observed, and it was confirmed whether the first region and the second region could be clearly distinguished. As a result, it was evaluated that “A” was clearly distinguishable, “B” was distinguishable, and “C” was unclear.

2.ダム残り
500mJ/cmの照射量で露光される箇所と露光されない箇所を有し、幅40μm、50μm、60μm、及び70μmのソルダーダムが形成されるようなマスクを用い、絶縁層上にダムを形成した。形成したソルダーダムに対して、セロハン粘着テープを貼り付けた後、これを剥離する剥離試験(テープテスト)を行った。この剥離試験の結果、残存したソルダーダムのうち、最も線幅の細いもの(ダム残り)を測定して、下記のように判定した。
A:最も細いソルダーダムの線幅が、40μmであるもの
B:最も細いソルダーダムの線幅が、50μm、60μmであるもの
C:最も細いソルダーダムの線幅が、70μm、あるいは70μmのソルダーダムが剥離したもの
2. Form a dam on an insulating layer using a mask that has a portion that is exposed at an irradiation dose of 500 mJ / cm 2 and a portion that is not exposed and that forms solder dams with widths of 40 μm, 50 μm, 60 μm, and 70 μm. did. A cellophane adhesive tape was applied to the formed solder dam, and then a peeling test (tape test) was performed to peel it off. As a result of this peeling test, the remaining solder dam having the narrowest line width (dam remaining) was measured and determined as follows.
A: The line width of the thinnest solder dam is 40 μm B: The line width of the thinnest solder dam is 50 μm or 60 μm C: The line width of the thinnest solder dam is 70 μm or 70 μm

3.密着性
JIS D0202の試験方法に従って、テストピースの銅製の配線上における被膜に碁盤目状に100マスのクロスカットを入れ、次いでセロハン粘着テープによるピーリング試験後の剥がれの状態を目視により観察した。その結果を次の評価基準により評価した。
A:クロスカット残存率が81〜100%
B:クロスカット残存率が71〜80%
C:クロスカット残存率が70%以下
3. Adhesiveness According to the test method of JIS D0202, a cross cut of 100 squares was made in a grid pattern on the coating on the copper wiring of the test piece, and then the state of peeling after the peeling test with a cellophane adhesive tape was visually observed. The results were evaluated according to the following evaluation criteria.
A: Cross cut residual rate is 81 to 100%
B: Cross cut residual ratio is 71 to 80%
C: Cross-cut remaining rate is 70% or less

4.耐酸性
室温下でテストピースを10%の硫酸に30分間浸漬した後、被膜の外観を目視で観察した。その結果を、次の評価基準により評価した。
A:異常が認められない。
B:少し変化が認められる。
C:被膜の剥離等の大きな変化が認められる。
4). Acid resistance After immersing the test piece in 10% sulfuric acid for 30 minutes at room temperature, the appearance of the coating was visually observed. The results were evaluated according to the following evaluation criteria.
A: No abnormality is observed.
B: A little change is recognized.
C: A large change such as peeling of the film is observed.

5.耐アルカリ性
室温下でテストピースを10%の水酸化ナトリウムに1時間浸漬した後、被膜の外観を目視で観察した。その結果を、次の評価基準により評価した。
A:異常が認められない。
B:少し変化が認められる。
C:被膜の剥離等の大きな変化が認められる。
5. Alkali resistance After immersing the test piece in 10% sodium hydroxide for 1 hour at room temperature, the appearance of the coating was visually observed. The results were evaluated according to the following evaluation criteria.
A: No abnormality is observed.
B: A little change is recognized.
C: A large change such as peeling of the film is observed.

6.耐メッキ性
市販品の無電解ニッケルメッキ浴及び無電解金メッキ浴を用いて、テストピースにめっきを施した。メッキの状態を観察した。更に、メッキ後の被膜に対してセロハン粘着テープ剥離試験をおこなった。その結果を次の評価基準により評価した。
A:被膜に、メッキによる外観変化、テープ剥離試験による剥離、メッキの潜り込みの、いずれも認められない。
B:被膜にメッキによる外観変化は認められないが、テープ剥離試験による剥離が一部認められる。
C:被膜にメッキによる浮き上がりが認められ、テープ剥離試験による剥離も認められる。
6). Plating resistance The test piece was plated using a commercially available electroless nickel plating bath and electroless gold plating bath. The state of plating was observed. Furthermore, the cellophane adhesive tape peeling test was done with respect to the film after plating. The results were evaluated according to the following evaluation criteria.
A: Neither change in appearance due to plating, peeling due to tape peeling test, or penetration of plating is observed in the coating.
B: Appearance change due to plating is not recognized in the coating, but some peeling by the tape peeling test is recognized.
C: Lifting due to plating is recognized on the coating, and peeling by a tape peeling test is also recognized.

7.はんだ耐熱性
テストピースに水溶性フラックス(ロンドンケミカル社製、品名LONCO 3355−11)を塗布し、続いてこのテストピースを260℃の溶融はんだ浴に10秒間浸漬し、続いてこれを水洗した。この一連の操作を3回繰り返した後のテストピースにおける被膜の外観を観察し、次の評価基準により評価した。
A:異常が認められない。
B:少し変化が認められる。
C:被膜の剥離等の大きな変化が認められる。
7). Solder heat resistance A water-soluble flux (product name: LONCO 3355-11, manufactured by London Chemical Co., Ltd.) was applied to the test piece, and the test piece was subsequently immersed in a molten solder bath at 260 ° C. for 10 seconds, followed by washing with water. The appearance of the coating on the test piece after repeating this series of operations three times was observed and evaluated according to the following evaluation criteria.
A: No abnormality is observed.
B: A little change is recognized.
C: A large change such as peeling of the film is observed.

8.鉛筆硬度
テストピースにおける被膜の鉛筆硬度を、三菱ハイユニ(三菱鉛筆社製)を用いて、JIS K5400に準拠して測定して評価した。
8). Pencil Hardness The pencil hardness of the coating on the test piece was measured and evaluated in accordance with JIS K5400 using Mitsubishi High Uni (manufactured by Mitsubishi Pencil Co., Ltd.).

9.耐電蝕性
IPC B−25くし型電極Bクーポン上に、上記テストピースの場合と同じ条件で被膜を形成することで、評価用のプリント配線板を得た。この評価用のプリント配線板のくし型電極にDC100Vのバイアス電圧を引加しながら、評価用のプリント配線板を40℃、90%R.H.の条件下に500時間曝露した。この試験後の評価用のプリント配線板におけるマイグレーションの有無を確認した。その結果を次に示すように評価した。
A:全くマイグレーションが確認されない。
B:若干のマイグレーションが確認される。
C:マイグレーションが発生している。
9. Electrolytic Corrosion Resistance A printed wiring board for evaluation was obtained by forming a film on the IPC B-25 comb-type electrode B coupon under the same conditions as in the test piece. While applying a DC 100V bias voltage to the comb-shaped electrode of this evaluation printed wiring board, the evaluation printed wiring board was placed at 40 ° C. and 90% R.D. H. For 500 hours. The presence or absence of migration in the printed wiring board for evaluation after this test was confirmed. The results were evaluated as follows.
A: Migration is not confirmed at all.
B: Some migration is confirmed.
C: Migration has occurred.

10.L値(明るさ)評価
色差計により銅製の配線上での第一の領域のL値(L)と第二の領域のL値(L)との差(ΔL=L−L)を測定し、その結果を次に示すように評価した。L値(明るさ)とは、JIS 8781−4:2013に規定する CIE 1976 L色空間における明度指数「L」を指す。
A:ΔLが+6以上
B:ΔLが+4以上、+6未満
C:ΔL+4未満
10. The difference between the L value (brightness) evaluation L value of the first region on the copper wiring by a color difference meter (L a) and L value of the second region and (L b) (ΔL = L a -L b ) Was measured and the results were evaluated as follows. The L value (brightness) refers to the lightness index “L * ” in the CIE 1976 L * a * b * color space defined in JIS 8781-4: 2013.
A: ΔL is +6 or more B: ΔL is +4 or more and less than +6 C: Less than ΔL + 4

11.Y値評価
色差計により銅製の配線上での第一の領域のY値(Y)と第二の領域のY値(Y)との差(ΔY=Y−Y)を測定し、その結果を次に示すように評価した。Y値とは、XYZ表色系における刺激値「Y」を指す。
A:ΔYが+3以上
B:ΔYが+1.5以上、+3未満
C:ΔYが+1.5未満
11. The Y value evaluation colorimeter measures the difference (ΔY = Y a -Y b) the Y value of the first region on the copper wiring (Y a) and Y value of the second region and (Y b) The results were evaluated as follows. The Y value refers to the stimulus value “Y” in the XYZ color system.
A: ΔY is +3 or more B: ΔY is +1.5 or more and less than +3 C: ΔY is less than +1.5

Figure 0006232168
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表1及び表2によると、融点130℃以上の結晶性エポキシ樹脂(D)および青色分散剤(E)が用いられている実施例1〜12では、銅製の配線上、黄色の絶縁層上、黄緑色の絶縁層上、白色の絶縁層上、褐色の絶縁層上、及びオレンジ色の絶縁層上の被膜の外観色が「A」又は「B」と評価されている。これに対して、青色分散剤(E)が用いられていない比較例1〜3や融点130℃以上の結晶性エポキシ樹脂(D)が用いられていない比較例4では、黄色の絶縁層上、黄緑色の絶縁層上、白色の絶縁層上、褐色の絶縁層上、及びオレンジ色の絶縁層上の被膜の外観色が「C」と評価されている。比較例4においては、黒色の絶縁層上の外観色も「C」と評価されている。   According to Table 1 and Table 2, in Examples 1-12 in which the crystalline epoxy resin (D) having a melting point of 130 ° C. or higher and the blue dispersant (E) are used, on the copper wiring, on the yellow insulating layer, The appearance color of the coating on the yellow-green insulating layer, the white insulating layer, the brown insulating layer, and the orange insulating layer is evaluated as “A” or “B”. On the other hand, in Comparative Examples 1 to 3 in which the blue dispersant (E) is not used and Comparative Example 4 in which the crystalline epoxy resin (D) having a melting point of 130 ° C. or higher is not used, on the yellow insulating layer, The appearance color of the coating on the yellow-green insulating layer, the white insulating layer, the brown insulating layer, and the orange insulating layer is evaluated as “C”. In Comparative Example 4, the appearance color on the black insulating layer is also evaluated as “C”.

これは、実施例1〜12では、青色分散剤(E)を用いることで結晶性エポキシ樹脂(D)の分散性が向上し、青色分散剤(E)を用いない場合よりも、第一の領域に気泡がより均一に発生したため、すなわち第一の領域の光透過率がより低くなったため、下地の色である絶縁層の色にかかわらず、第一の領域と第二の領域との境界が明瞭となったと考えられる。また、比較例4においては、融点130℃以上の結晶性エポキシ樹脂(D)を用いなかったため、第一の領域に気泡がほとんど発生せず、黒色の絶縁層上においても第一の領域と第二の領域との境界が不明瞭であったと考えられる。   In Examples 1 to 12, the use of the blue dispersant (E) improves the dispersibility of the crystalline epoxy resin (D), which is more than the case where the blue dispersant (E) is not used. Because the air bubbles are generated more uniformly in the region, that is, the light transmittance of the first region is lower, the boundary between the first region and the second region regardless of the color of the insulating layer that is the background color. It is thought that became clear. In Comparative Example 4, since the crystalline epoxy resin (D) having a melting point of 130 ° C. or higher was not used, almost no bubbles were generated in the first region, and the first region and the first region were also formed on the black insulating layer. It seems that the boundary between the two areas was unclear.

表1及び表2によると、1層の塗膜を硬化させて得られた被膜を備える実施例1〜12では、ダム残り及び密着性が「A」又は「B」と評価されている。これに対して、2層の塗膜を硬化させて得られた被膜を備える比較例5では、ダム残り及び密着性がともに「C」と評価されている。   According to Table 1 and Table 2, in Examples 1-12 provided with the film obtained by hardening the coating film of one layer, the dam remainder and adhesiveness are evaluated as "A" or "B". On the other hand, in the comparative example 5 provided with the coating film obtained by curing the two-layer coating film, both the dam residue and the adhesiveness are evaluated as “C”.

これは、比較例5の被膜は2層の塗膜を硬化させて得られた被膜であるので、実施例1〜12の被膜よりも膜厚が厚く、露光の際、塗膜が表層から深部に亘って充分に硬化されていないためであると考えられる。   This is because the film of Comparative Example 5 is a film obtained by curing a two-layer coating film, so the film thickness is thicker than the coating films of Examples 1 to 12, and the coating film is deeper than the surface layer during exposure. It is thought that this is because the resin is not sufficiently cured over the entire area.

表1及び表2によると、融点130℃以上の結晶性エポキシ樹脂(D)が用いられている実施例1〜12では、L値評価及びY値評価が「A」又は「B」と評価されている。これに対して、融点130℃以上の結晶性エポキシ樹脂(D)が用いられていない比較例4では、L値評価及びY値評価がともに「C」と評価されている。   According to Table 1 and Table 2, in Examples 1-12 in which the crystalline epoxy resin (D) having a melting point of 130 ° C. or higher is used, the L value evaluation and the Y value evaluation are evaluated as “A” or “B”. ing. On the other hand, in Comparative Example 4 in which the crystalline epoxy resin (D) having a melting point of 130 ° C. or higher is not used, both the L value evaluation and the Y value evaluation are evaluated as “C”.

これは、実施例1〜12では、融点130℃以上の結晶性エポキシ樹脂(D)を用いることで融点130℃以上の結晶性エポキシ樹脂(D)を用いない場合よりも第一の領域に気泡が多く発生し、気泡が光を反射したため、L値評価およびY値評価が高い評価であったと考えられる。   In Examples 1 to 12, bubbles were formed in the first region by using a crystalline epoxy resin (D) having a melting point of 130 ° C. or higher than when not using a crystalline epoxy resin (D) having a melting point of 130 ° C. or higher. It is considered that the L value evaluation and the Y value evaluation were highly evaluated because many bubbles were generated and the bubbles reflected light.

表1及び表2によると、カルボキシル基含有樹脂に対する青色分散剤の含有割合が、1.9質量%である実施例2、及び3質量%である実施例8では、銅製の配線上、黄色の絶縁層上、黄緑色の絶縁層上、白色の絶縁層上、褐色の絶縁層上、オレンジ色の絶縁層上及び黒色の絶縁層上の被膜の外観色、並びに、ダム残り及び密着性が「A」と評価されている。カルボキシル基含有樹脂に対する青色分散剤の含有割合が、5質量%である実施例9では、黄色の絶縁層上、黄緑色の絶縁層上、白色の絶縁層上、褐色の絶縁層上、及びオレンジ色の絶縁層上の絶縁層上の外観色が「B」と評価され、ダム残り及び密着性が「A」と評価されている。カルボキシル基含有樹脂に対する青色分散剤の含有割合が、9.6質量%である実施例10、11.5質量%である実施例11では、銅製の配線上、黄色の絶縁層上、黄緑色の絶縁層上、白色の絶縁層上、褐色の絶縁層上、及びオレンジ色の絶縁層上の外観色が「B」と評価され、ダム残りが「B」と評価されている。   According to Table 1 and Table 2, in Example 2 where the content ratio of the blue dispersant with respect to the carboxyl group-containing resin is 1.9% by mass, and in Example 8 where the content is 3% by mass, yellow wiring is formed on the copper wiring. The appearance color of the coating on the insulating layer, the yellow-green insulating layer, the white insulating layer, the brown insulating layer, the orange insulating layer and the black insulating layer, as well as the dam residue and adhesion are A ”. In Example 9 in which the content of the blue dispersant with respect to the carboxyl group-containing resin is 5% by mass, the yellow insulating layer, the yellow-green insulating layer, the white insulating layer, the brown insulating layer, and orange The appearance color on the insulating layer on the color insulating layer is evaluated as “B”, and the remaining dam and adhesion are evaluated as “A”. In Example 10 in which the content of the blue dispersant with respect to the carboxyl group-containing resin is 9.6% by mass, and in Example 11 which is 11.5% by mass, the copper wiring, the yellow insulating layer, the yellow green The appearance color on the insulating layer, on the white insulating layer, on the brown insulating layer, and on the orange insulating layer is evaluated as “B”, and the rest of the dam is evaluated as “B”.

これらの結果から、カルボキシル基含有樹脂に対する青色分散剤の含有割合が5質量%以下であればプリント配線板と被膜との密着性が特に高く、3質量%以下であれば第一の領域と第二の領域との境界が特に明確になることがわかる。   From these results, the adhesiveness between the printed wiring board and the coating is particularly high if the content of the blue dispersant with respect to the carboxyl group-containing resin is 5% by mass or less, and the first region and the second region are 3% by mass or less. It can be seen that the boundary with the second region is particularly clear.

青色分散剤(E)は、ソルダーレジスト組成物に含まれるカルボキシル基含有樹脂(A)に対して0.1〜10質量%であることが好ましく、0.5〜5質量%であることがより好ましく、1〜3質量%であることが更に好ましい。   The blue dispersant (E) is preferably 0.1 to 10% by mass and more preferably 0.5 to 5% by mass with respect to the carboxyl group-containing resin (A) contained in the solder resist composition. Preferably, it is 1 to 3 mass%.

Claims (11)

カルボキシル基含有樹脂(A)、
光重合性モノマー及び光重合性プレポリマーからなる群から選択される一種以上の光重合性化合物(B)、
光重合開始剤(C)、
融点130℃以上の結晶性エポキシ樹脂(D)及び
青色分散剤(E)
を含有することを特徴とするソルダーレジスト組成物。
Carboxyl group-containing resin (A),
One or more photopolymerizable compounds (B) selected from the group consisting of photopolymerizable monomers and photopolymerizable prepolymers,
Photopolymerization initiator (C),
Crystalline epoxy resin (D) having a melting point of 130 ° C. or higher and blue dispersant (E)
A solder resist composition comprising:
前記青色分散剤(E)が、銅フタロシアニンスルホネート誘導体を含む請求項1に記載のソルダーレジスト組成物。   The solder resist composition according to claim 1, wherein the blue dispersant (E) contains a copper phthalocyanine sulfonate derivative. 黒色着色剤及び赤色着色剤のうち少なくとも一方を含む着色剤(F)を含有する請求項1又は2に記載のソルダーレジスト組成物。   The soldering resist composition of Claim 1 or 2 containing the coloring agent (F) containing at least one among a black coloring agent and a red coloring agent. 前記カルボキシル基含有樹脂(A)が、光重合性官能基を有するカルボキシル基含有樹脂(A1)を含む請求項1乃至3のいずれか一項に記載のソルダーレジスト組成物。   The solder resist composition according to any one of claims 1 to 3, wherein the carboxyl group-containing resin (A) includes a carboxyl group-containing resin (A1) having a photopolymerizable functional group. 請求項1乃至4のいずれか一項に記載のソルダーレジスト組成物の硬化物からなり、
第一の領域と、前記第一の領域よりも光透過率が高い第二の領域とを含む被膜。
It consists of a cured product of the solder resist composition according to any one of claims 1 to 4.
A film comprising a first region and a second region having a light transmittance higher than that of the first region.
前記第一の領域は気泡を含有し、
前記第二の領域は気泡を含有しない或いは気泡の割合が前記第一の領域よりも低い請求項5に記載の被膜。
The first region contains air bubbles;
The coating according to claim 5, wherein the second region does not contain bubbles or a ratio of bubbles is lower than that of the first region.
プリント配線板と、請求項5又は6に記載の被膜とを備え、
前記プリント配線板は、絶縁層と、前記絶縁層上にある銅製の配線とを備え、
前記被膜は、前記絶縁層及び前記配線を覆っている被覆プリント配線板。
Comprising a printed wiring board and the coating according to claim 5 or 6,
The printed wiring board includes an insulating layer and a copper wiring on the insulating layer,
The coated film is a coated printed wiring board covering the insulating layer and the wiring.
前記絶縁層の色が黄色、黄緑色、白色、クリーム色、褐色、オレンジ色、緑色又は黒色である請求項7に記載の被覆プリント配線板。   The coated printed wiring board according to claim 7, wherein the color of the insulating layer is yellow, yellow-green, white, cream, brown, orange, green, or black. 前記プリント配線板が、リジッド材及びフレキシブル材のうち少なくとも一方を含む請求項7又は8に記載の被覆プリント配線板。   The coated printed wiring board according to claim 7 or 8, wherein the printed wiring board includes at least one of a rigid material and a flexible material. 〈a〉請求項1乃至4のいずれか一項に記載のソルダーレジスト組成物からなる塗膜を形成する工程、
〈b〉前記塗膜を露光する工程、及び
〈c〉露光後の前記塗膜を加熱することで被膜を形成する工程を含み、
前記〈b〉の工程では、前記塗膜における第一の部分に光を照射し、前記塗膜における前記第一の部分とは異なる第二の部分には光を照射せず、或いは前記第一の部分よりも露光量が低くなるように光を照射し、
前記〈c〉の工程では、加熱により前記第一の部分内に気泡を発生させることで、前記被膜に気泡を含有する第一の領域と、気泡を含有せず或いは気泡の割合が前記第一の領域よりも低い第二の領域を形成することを特徴とする被膜の製造方法。
<a> a step of forming a coating film comprising the solder resist composition according to any one of claims 1 to 4,
<B> including the step of exposing the coating film, and <c> forming the coating film by heating the coating film after exposure,
In the step <b>, the first portion of the coating film is irradiated with light, and the second portion of the coating film different from the first portion is not irradiated with light, or the first portion Irradiate light so that the exposure amount is lower than the part of
In the step <c>, by generating bubbles in the first portion by heating, the first region containing bubbles in the coating and the ratio of bubbles not containing bubbles or the first ratio A method for producing a film, wherein a second region lower than the region is formed.
〈d〉請求項1乃至4のいずれか一項に記載のソルダーレジスト組成物を、絶縁層と、前記絶縁層上にある銅製の配線とを備えるプリント配線板上に前記絶縁層及び前記配線を覆うように配置することで、塗膜を形成する工程、
〈e〉前記塗膜を露光する工程、
〈f〉露光後の前記塗膜をアルカリ性現像液で現像する工程、及び
〈g〉現像後の前記塗膜を加熱することで前記被膜を形成する工程を含み、
前記〈e〉の工程では、前記塗膜における第一の部分に光を照射し、前記塗膜における前記第一の部分とは異なる第二の部分には前記第一の部分よりも露光量が低くなるように光を照射し、
前記〈g〉の工程では、加熱により前記第一の部分内に気泡を発生させることで、前記被膜に気泡を含有する第一の領域と、気泡を含有せず或いは気泡の割合が前記第一の領域よりも低い第二の領域を形成することを特徴とする被覆プリント配線板の製造方法。
<D> The solder resist composition according to any one of claims 1 to 4, wherein the insulating layer and the wiring are disposed on a printed wiring board including an insulating layer and a copper wiring on the insulating layer. The process of forming a coating film by arranging to cover,
<E> a step of exposing the coating film;
<F> a step of developing the coating film after exposure with an alkaline developer, and <g> a step of forming the coating film by heating the coating film after development,
In the step <e>, the first part of the coating film is irradiated with light, and the second part different from the first part of the coating film has an exposure amount that is higher than that of the first part. Irradiate with light to lower it,
In the step <g>, by generating bubbles in the first portion by heating, the first region containing bubbles in the coating and the ratio of bubbles not containing bubbles or the first ratio A method for producing a coated printed wiring board, wherein a second region lower than the region is formed.
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