JP6237233B2 - 複合半透膜および複合半透膜エレメント - Google Patents
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Description
そこで本発明の目的は、高い塩除去性、高い透水性を両立しながら、ファウリングに起因した性能低下が小さい複合半透膜および複合半透膜エレメントを安価かつ簡便に提供することにある。
<1> 基材および前記基材上に設けられた多孔性支持層を有する支持膜と、前記支持膜上に設けられた分離機能層とを備えた複合半透膜であって、電子顕微鏡を用いて前記複合半透膜の膜面方向における長さが2.0μmである任意の10箇所の断面を観察したときに、各断面において、前記分離機能層における10点平均面粗さの5分の1以上の高さを有する突起の高さの標準偏差が60nm以下である複合半透膜。
<2> 陽電子消滅寿命測定法により測定された、前記分離機能層中の平均孔半径が0.300nm以上、0.400nm以下である、前記<1>に記載の複合半透膜。
<3> 各断面における前記突起の平均高さが100nm以上、300nm以下である、前記<1>または<2>に記載の複合半透膜。
<4> 各断面における前記突起の平均数密度が10.0個/μm以上、30.0個/μm以下である、前記<1>〜<3>のいずれか1に記載の複合半透膜。
<5> 前記多孔性支持層が、基材側の第1層とその上に形成される第2層の多層構造を有し、かつ前記第1層を形成する高分子溶液Aと前記第2層を形成する高分子溶液Bとが前記基材上に同時に塗布された後に、凝固浴に接触し相分離することで形成される、前記<1>〜<4>のいずれか1に記載の複合半透膜。
<6> 前記高分子溶液Bの固形分濃度b(重量%)が、25重量%を超え、35重量%以下である、前記<5>に記載の複合半透膜。
<7> 前記高分子溶液Aの固形分濃度a(重量%)と前記高分子溶液Bの固形分濃度b(重量%)が、a/b<1.0の関係式を満たす、前記<6>に記載の複合半透膜。
<8> 前記支持膜の基材がポリエステルを含有する長繊維不織布である、前記<1>〜<7>のいずれか1に記載の複合半透膜。
<9> 前記<1>〜<8>のいずれか1に記載の複合半透膜が、原水流路材及び透過水流路材と共に、多数の孔を穿設した筒状の集水管の周りに巻回されている、スパイラル型複合半透膜エレメント。
複合半透膜は、基材および前記基材上に設けられた多孔性支持層を含む支持膜と、前記多孔性支持層上に設けられた分離機能層とを備える。
(1−1)分離機能層
分離機能層は、複合半透膜において溶質の分離機能を担う層である。分離機能層の組成および厚み等の構成は、複合半透膜の使用目的に合わせて設定される。
上述したように、従来の膜は使用によって性能が低下することがある。これに対して、本発明者らは、鋭意検討の結果、ひだ構造を備える分離機能層において、そのひだ(突起)の高さの標準偏差が60nm以下であると、複合半透膜の性能の低下が抑制されることを見いだした。これは、突起の高さが均一化されることで、有機物およびコロイド等のファウリング物質の堆積が抑制されるからであると考えられる。
なお、突起の高さの標準偏差は、電子顕微鏡を用いた10点平均面粗さの5分の1以上の高さを有する突起の高さの標準偏差の値を用いる。10点平均面粗さの測定方法については後述する。
10点平均面粗さとは、次のような算出方法で得られる値である。
まず電子顕微鏡により、膜面に垂直な方向の断面を下記の倍率で観察することで、断面画像を得る。得られた断面画像には、分離機能層(図1に符号“1”で示す。)の表面が、凸部と凹部が連続的に繰り返される、ひだ構造の曲線として表れる。断面画像における複合半透膜の膜面方向(膜の表面に平行な方向)に2.0μmの幅の領域について、この曲線に基づき、ISO4287:1997で定義される粗さ曲線を求める。
次に、上記粗さ曲線の平均線の方向に2.0μmの幅で断面画像を抜き取る(図1)。なお、平均線とは、ISO4287:1997に基づき定義される直線であり、測定長さにおいて、平均線と粗さ曲線とで囲まれる領域の面積の合計が平均線の上下で等しくなるように描かれる直線である。
抜き取った幅2.0μmの画像において、上記平均線を基準線として、分離機能層における突起の山頂の高さと、谷底の深さをそれぞれ測定する。最も高い山頂から5番目までの5つの山頂の高さH1〜H5の絶対値について平均値を算出し、最も深い谷底から5番目まで5つの谷底の深さD1〜D5の絶対値について平均値を算出して、さらに、得られた2つの平均値の絶対値の和を算出する。こうして得られた和が、10点平均面粗さである。なお、図1では、説明の便宜上、基準線を水平方向に平行に描いている。
それぞれの平均寿命はp−Psで125ps、o−Psで140psであるが、凝集状態の物質中でo−Psは自己が結合しているのとは別の電子と重なって、ピックオフ消滅と呼ばれる消滅を起こす確率が高くなる。その結果o−Psの平均寿命は数nsまで短くなる。絶縁材料中のo−Psの消滅は、o−Psが物質中の空孔壁に存在する電子と重なり合うことによるので、空孔が小さいほど消滅速度が速くなる。すなわちo−Psの消滅寿命は、絶縁材料中の空孔径に関連づけることができる。
支持膜は、基材と多孔性支持層とを備えるものであり、実質的にイオン等の分離性能を有さず、実質的に分離性能を有する分離機能層に強度を与えることができる。
多孔性支持層は、下記素材を主成分として含有することが好ましい。多孔性支持層の素材としては、ポリスルホン、ポリエーテルスルホン、ポリアミド、ポリエステル、セルロース系ポリマー、ビニルポリマー、ポリフェニレンスルフィド、ポリフェニレンスルフィドスルホン、ポリフェニレンスルホン、ポリフェニレンオキシドなどのホモポリマーあるいはコポリマーを単独であるいはブレンドして使用することができる。ここでセルロース系ポリマーとしては酢酸セルロース、硝酸セルロースなどが使用され、ビニルポリマーとしてはポリエチレン、ポリプロピレン、ポリ塩化ビニル、ポリアクリロニトリルなどが使用される。中でもポリスルホン、ポリアミド、ポリエステル、酢酸セルロース、硝酸セルロース、ポリ塩化ビニル、ポリアクリロニトリル、ポリフェニレンスルフィド、ポリフェニレンスルフィドスルホン、ポリフェニレンスルホンなどのホモポリマーまたはコポリマーが好ましい。より好ましくは酢酸セルロース、ポリスルホン、ポリフェニレンスルフィドスルホン、またはポリフェニレンスルホンが挙げられる。これらの素材の中では化学的、機械的、熱的に安定性が高く、成型が容易であることからポリスルホンが特に好ましくに使用できる。
そのような構造の例として、多孔性支持層は、多官能アミン水溶液を効率的に移送する第1層と、第1層よりも分離機能層寄りに位置し、突起の数密度を制御する第2層とを備えることが好ましい。特に、第1層は基材に接することが好ましく、第2層は分離機能層に接するように、多孔性支持層の最表層に位置することが好ましい。
なお、上記第1層と第2層は、いずれも高分子溶液を塗布することにより形成されるが、その製造方法については後述する。
支持膜を構成する基材としては、例えば、ポリエステル系重合体、ポリアミド系重合体、ポリオレフィン系重合体、あるいはこれらの混合物や共重合体等が挙げられるが、機械的強度、耐熱性、耐水性等により優れた支持膜を得られることから、ポリエステル系重合体であることが好ましい。これらは単独で用いても、複数種を同時に用いてもよい。
以上より、本発明における支持膜を構成する基材としては、ポリエステルを含む、長繊維不織布であることが好ましい。
次に、上記複合半透膜の製造方法について説明する。製造方法は、支持膜の形成工程および分離機能層の形成工程を含む。
支持膜の形成工程は、多孔性基材に高分子溶液を塗布する工程、多孔性基材に高分子溶液を含浸させる工程、および前記溶液を含浸した前記多孔性基材を、高分子の良溶媒と比較して前記高分子の溶解度が小さい凝固浴に浸漬させて前記高分子を凝固させ、三次元網目構造を形成させる工程を含んでもよい。また、支持膜の形成工程は、多孔性支持層の成分である高分子を、その高分子の良溶媒に溶解して高分子溶液を調製する工程を、さらに含んでいてもよい。
高分子溶液塗布時の高分子溶液の温度は、例えばポリスルホンであれば、通常10〜60℃の範囲内が好ましい。この範囲内であれば、高分子溶液が析出することなく、高分子を含む有機溶媒溶液が基材の繊維間にまで充分含浸したのち固化される。その結果、アンカー効果により支持膜が基材に強固に接合し、本発明の支持膜を得ることができる。なお、高分子溶液の温度範囲は、用いる高分子溶液の粘度などによって適宜調整すればよい。
次に、複合半透膜を構成する分離機能層の形成工程の一例として、ポリアミドを主成分とする層(ポリアミド分離機能層)の形成を挙げて説明する。
ポリアミド分離機能層の形成工程は、前述の多官能アミンを含有する水溶液と、多官能酸ハロゲン化物を含有する水と非混和性の有機溶媒溶液とを用い、支持膜の表面で界面重縮合を行うことにより、ポリアミド骨格を形成することを含む。
支持膜と多官能アミン水溶液との接触時間は、5秒以上10分以下の範囲内であることが好ましく、10秒以上3分以下の範囲内であるとさらに好ましい。
液切りの方法としては、例えば、日本国特開平2−78428号公報に記載されているように、多官能アミン水溶液接触後の支持膜を垂直方向に把持して過剰の水溶液を自然流下させる方法や、エアーノズルから窒素などの気流を吹き付け、強制的に液切りする方法などが挙げられる。また、液切り後、膜面を乾燥させて水溶液の水分を一部除去することもできる。
HLB値=20×親水部のHLB値
=20×(親水部の式量の総和)/(分子量)
このようにして製造される複合半透膜は、プラスチックネットなどの原水流路材と、トリコットなどの透過水流路材と、必要に応じて耐圧性を高めるためのフィルムと共に、多数の孔を穿設した筒状の集水管の周りに巻回され、スパイラル型の複合半透膜エレメントを形成することができる。さらに、このエレメントは、直列または並列に接続されて圧力容器に収納されることで、複合半透膜モジュールを構成することもできる。
(実施例1)
溶質であるポリスルホンと溶媒であるDMFを混合し、攪拌しながら90℃で2時間加熱保持することで、ポリスルホン13重量%のDMF溶液(高分子溶液A)およびポリスルホン26重量%のDMF溶液(高分子溶液B)をそれぞれ調製した。
実施例1において、高分子溶液Aとしてポリスルホン15重量%のDMF溶液を調製した以外は、実施例1と同様にして、実施例2における複合半透膜を得た。
実施例1において、高分子溶液Bとしてポリスルホン30重量%のDMF溶液を調製した以外は、実施例1と同様にして、実施例3における複合半透膜を得た。
実施例1において、高分子溶液Bとしてポリスルホン35重量%のDMF溶液を調製した以外は、実施例1と同様にして、実施例4における複合半透膜を得た。
実施例1において、キャストする膜厚を、高分子溶液Aを150μm、高分子溶液Bを50μmに変更した以外は、実施例1と同様にして、実施例5における複合半透膜を得た。
実施例1において、高分子溶液Aとしてポリスルホン13重量%のNMP溶液を、高分子溶液Bとしてポリスルホン26重量%のNMP溶液を調製した以外は、実施例1と同様にして、実施例6における複合半透膜を得た。
実施例1において、高分子溶液を塗布する基材としてポリエチレンテレフタレート繊維からなる長繊維不織布(糸径:1デシテックス、厚み:約90μm、通気度:1.3mL/cm2/sec、多孔性支持層側表層の繊維配向度:40°、多孔性支持層とは反対側の表層での繊維配向度:20°)を用いた以外は、実施例1と同様にして、実施例7における複合半透膜を得た。
高分子溶液Aは用いず、高分子溶液Bとしてポリスルホン26重量%のDMF溶液のみを、二重スリットダイではなく単スリットダイを用いて、200μmの厚みで不織布上に塗布した以外は、実施例1と同様にして、実施例8における複合半透膜を得た。
実施例8において、ポリスルホン15重量%のDMF溶液を用いて得られた支持膜を、m−PDA1.8質量%を含むアミン水溶液中に2分間浸漬した後、膜面が鉛直になるようにゆっくりと引き上げた。エアーノズルから窒素を吹き付け支持膜表面から余分な水溶液を取り除いた後、トリメシン酸クロリド0.12質量%と脂肪族カルボン酸として吉草酸0.12質量%とを含む25℃のn−デカン溶液を膜表面が完全に濡れるように塗布した。1分間静置した後、膜から余分な溶液を除去するために膜面を1分間鉛直に保持して液切りした。その後、90℃の熱水で2分間洗浄することで、基材、多孔性支持層、およびポリアミド分離機能層を備える、実施例9における複合半透膜を得た。
実施例9の吉草酸に代えて、脂肪族カルボン酸として表1に示すものを用いた以外は、実施例9と同様にして、実施例10〜18における複合半透膜を得た。
実施例1において、トリメシン酸クロリド0.12質量%を含む25℃のn−デカン溶液に脂肪族カルボン酸としてミリスチン酸0.12質量%を混合した以外は、実施例1と同様にして、実施例19における複合半透膜を得た。
実施例19のミリスチン酸に代えて、パルミチン酸を用いた以外は、実施例19と同様にして、実施例20における複合半透膜を得た。
実施例20において、実施例2の支持膜を用いた以外は、実施例20と同様にして、実施例21における複合半透膜を得た。
実施例20において、実施例7の支持膜を用いた以外は、実施例20と同様にして、実施例22における複合半透膜を得た。
高分子溶液Bとしてポリスルホン25重量%のDMF溶液を用いた以外は、実施例1と同様にして、比較例1における複合半透膜を得た。
高分子溶液Bとしてポリスルホン18重量%のDMF溶液を用いた以外は、実施例1と同様にして、比較例2における複合半透膜を得た。
高分子溶液Bとしてポリスルホン37重量%のDMF溶液を用いた以外は、実施例1と同様にして、比較例3における複合半透膜を得た。
高分子溶液Aとしてポリスルホン13重量%のNMP溶液を用い、高分子溶液Bとしてポリスルホン25重量%のNMP溶液を用いた以外は、実施例1と同様にして、比較例4における複合半透膜を得た。
基材として長繊維不織布を用い、かつ高分子溶液Bとしてポリスルホン25重量%のDMF溶液を用いた以外は、実施例1と同様にして、比較例5における複合半透膜を得た。
多孔性支持層の形成に、高分子溶液Aは用いず、高分子溶液Bとしてポリスルホン20重量%のDMF溶液のみを用いた以外は、実施例8と同様にして、比較例6における複合半透膜を得た。
多孔性支持層の形成に、高分子溶液Aは用いず、高分子溶液Bとしてポリスルホン15重量%のDMF溶液のみを用いた以外は、実施例8と同様にして、比較例7における複合半透膜を得た。
多孔性支持層の形成に、高分子溶液Aは用いず、高分子溶液Bとしてポリスルホン37重量%のDMF溶液のみを用いた以外は、実施例8と同様にして、比較例8における複合半透膜を得た。
実施例9の吉草酸に代えて、酢酸を用いた以外は、実施例9と同様にして、比較例9における複合半透膜を得た。
実施例9の吉草酸に代えて、トリフルオロ酢酸を用いた以外は、実施例9と同様にして、比較例10における複合半透膜を得た。
複合半透膜サンプルをエポキシ樹脂で包埋し、断面観察を容易にするためOsO4で染色して、これをウルトラミクロトームで切断し超薄切片を10個作製した。得られた超薄切片について、透過型電子顕微鏡を用いて断面写真を撮影した。観察時の加速電圧は100kVであり、観察倍率は10,000倍であった。
得られた断面写真について、スケールを用いて、支持膜の膜面方向の幅2.0μmの領域における突起の数を測定し、上述した方法で10点平均面粗さを算出した。この10点平均面粗さに基づいて、10点平均面粗さの5分の1以上の高さを有する部分を突起として、断面写真中の全ての突起の高さをスケールで測定し、突起の平均高さを求めると共に、その標準偏差を計算した。また、その数を数え、分離機能層の突起の平均数密度を求めた。
複合半透膜サンプルを、減圧下室温で乾燥させ、膜面方向に1.5cm×1.5cm角に切り取った測定試料を、陽電子ビーム発生装置を持つ薄膜対応陽電子消滅寿命測定装置(例えば、ラジエーション・フィジクス・アンド・ケミストリー、58巻、p603、パーガモン(2000)にその装置の詳細が述べられている。)にて、ビーム強度1keV、室温、真空下、光電子増倍管を使用して二フッ化バリウム製シンチレータを備えるシンチレーションカウンターにより総カウント数500万で測定し、POSITRONFITにて解析を行った。解析により得られた第4成分の平均寿命τから、平均孔半径Rを求めた。
海水と模擬海水を温度25℃、pH6.5、操作圧力5.5MPaで複合半透膜に供給し、24時間に渡って水処理操作(ろ過処理)を行った。その後、さらに同条件で30分間操作を行って透過水を得て、この透過水のTDS濃度を測定した。
TDS除去率(%)=100×{1−(透過水中のTDS濃度/供給水中のTDS濃度)}
なお、供給水である海水のTDS濃度は3.5重量%であった。また、模擬海水としては3.5重量%のNaCl水溶液を用いた。
上記と同様に24時間ろ過処理を実施後、供給水と得られた透過水中のホウ素濃度をICP発光分析装置(日立製作所製のP−4010)で分析し、次の式からホウ素除去率を求めた。
ホウ素除去率=100×{1−(透過水中のホウ素濃度/供給水中のホウ素濃度)}
なお、供給水である海水のホウ素濃度は5ppmであった。
上記と同様に24時間ろ過処理を実施後、得られた透過水量を複合半透膜の面積から膜面1平方メートルあたり、1日あたりの透水量(立方メートル)に換算し、膜透過流束(m3/m2/日)として表した。
海水と模擬海水を温度25℃、pH6.5、操作圧力5.5MPaで複合半透膜に供給し、24時間後、240時間後のそれぞれのTDS除去率、膜透過流速の変化の比較から膜面の耐ファウリング性を確認した。高圧運転下では、圧力に起因した多孔質支持膜の変形による性能変化も伴うため、圧力の影響を切り離した比較ができるよう、海水と模擬海水による平行評価を実施した。なお、海水は一般的にファウリングしやすく、模擬海水は一般的にファウリングしにくい。
本出願は2012年6月27日出願の日本特許出願(特願2012−143918)及び2012年9月26日出願の日本特許出願(特願2012−212710)に基づくものであり、その内容はここに参照として取り込まれる。
H1〜H5 分離機能層のひだ構造における突起の高さ
D1〜D5 分離機能層のひだ構造における谷の深さ
Claims (5)
- 基材および前記基材上に設けられた多孔性支持層を有する支持膜と、前記支持膜上に設けられた分離機能層とを備えた複合半透膜であって、
前記基材がポリエステル系重合体を含有する不織布であり、前記多孔性支持層がポリスルホンを主成分として含有し、
前記分離機能層はひだ構造を備え、かつポリアミドを主成分として含有し、
電子顕微鏡を用いて前記複合半透膜の膜面方向における長さが2.0μmである任意の10箇所の断面を観察したときに、各断面において、前記分離機能層における10点平均面粗さの5分の1以上の高さを有する突起の高さの標準偏差が60nm以下であり、前記突起の平均高さが100nm以上、300nm以下である複合半透膜。 - 陽電子消滅寿命測定法により測定された、前記分離機能層中の平均孔半径が0.300nm以上、0.400nm以下である、請求項1に記載の複合半透膜。
- 各断面における前記突起の平均数密度が10.0個/μm以上、30.0個/μm以下である、請求項1又は2に記載の複合半透膜。
- 前記支持膜の基材がポリエステルを含有する長繊維不織布である、請求項1〜3のいずれか1項に記載の複合半透膜。
- 請求項1〜4のいずれか1項に記載の複合半透膜が、原水流路材及び透過水流路材と共に、多数の孔を穿設した筒状の集水管の周りに巻回されている、スパイラル型複合半透膜エレメント。
Applications Claiming Priority (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2012143918 | 2012-06-27 | ||
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