JP6281352B2 - Solder inspection apparatus and solder inspection method - Google Patents
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Description
本発明は、はんだ検査装置及びはんだ検査方法に関し、特に表面実装部品のリードを固着するはんだ検査装置及びはんだ検査方法に関する。 The present invention relates to a solder inspection apparatus and a solder inspection method, and more particularly to a solder inspection apparatus and a solder inspection method for fixing leads of surface mount components.
表面実装技術(SMT: Surface mount Technology)におけるリフロー後の外観検査においては、バックフィレット部のはんだ量の計測や計算が重要である。クアッドフラットパッケージ(QFP: Quad Flat Package)のような、フラットガルウィングリード形状の部品については、バックフィレット部のはんだ量がはんだ付け強度に影響する(図1参照)。 In appearance inspection after reflow in surface mount technology (SMT), it is important to measure and calculate the amount of solder in the back fillet. For flat gull wing lead shaped parts such as the Quad Flat Package (QFP), the amount of solder in the back fillet affects the soldering strength (see FIG. 1).
IPC(Institute for Interconnecting and Packaging Electronics Circuits)規格などの国際的な規格においても、バックフィレットのはんだ濡れ上がり高さが規定されており、バックフィレットのはんだ濡れ上がり高さを計測する必要がある。 Even in international standards such as the IPC (Institute for Interconnecting and Packaging Electronics Circuits) standard, the solder wetting height of the back fillet is defined, and it is necessary to measure the solder wetting height of the back fillet.
表面実装技術に用いられるリフロー後外観検査においては、光学方式の外観検査機(AOI: Automatic Observation Inspection machine)とX線検査機が使用される。光学方式の外観検査機13は図2のように検査対象部品を俯瞰して検査するのでトップフィレット2は検査できるが、バックフィレット3は検査できない。光学方式の外観検査機13では、バックフィレット3ははんだ付けされたリード部品の影となるためである。このような課題に対処するために、X線検査機が使用される。
In the post-reflow visual inspection used in the surface mounting technology, an optical appearance inspection machine (AOI: Automatic Observation Inspection machine) and an X-ray inspection machine are used. Since the optical
しかしながら、基板裏面の実装状態(部品・はんだの配置)によっては、バックフィレット3を正確に計測できない。また、X線検査機は高価であり検査速度が遅いため、使用できないこともある。
However, the
これらの課題に対して特許文献1では、はんだ印刷検査機(SPI: Solder Paste Inspection machine)及びAOIによりバックフィレット3のはんだ量を予測する手法を提案している。この予測手法は次の手順で行われる。
(1)SPIではんだ量を計測
(2)AOIでトップフィレットのはんだ量を計測
(3)部品高さを計測
(4)上記(1)、(2)及び(3)の結果から、バックフィレットのはんだ量を予測して良否判定
例えば、(1)で計測したはんだ量が小さく、(2)で計測したはんだ量が大きく、(3)で計測した部品高さが大きい場合には、バックフィレットのはんだ量が少ないと予測する。特許文献1はこのように計測結果を用いて、バックフィレットのはんだ量を予測し、良否判定を行っている。
To deal with these problems, Patent Document 1 proposes a method for predicting the solder amount of the
(1) Measure solder amount with SPI
(2) Measure top fillet solder amount with AOI
(3) Measure part height
(4) Based on the results of (1), (2) and (3) above, the solder amount of the back fillet is predicted to determine pass / fail.For example, the solder amount measured in (1) is small and the solder measured in (2) If the amount is large and the part height measured in (3) is large, the amount of solder in the back fillet is expected to be small. In this way, Patent Literature 1 predicts the solder amount of the back fillet using the measurement result and makes a pass / fail judgment.
しかしながら、上述した特許文献1の関連するはんだ検査装置では以下のような課題がある。特許文献1の検査装置が導き出したバックフィレット3のはんだ量は、予測値である。また、はんだ濡れ上がり高さはバックフィレット3の部分に存在するリード付け根より後方のランド長に影響される。さらに、リード付け根より後方のランド長は搭載精度や部品や基板の精度に左右されるため、一定ではない。特許文献1の検査装置では、リード付け根より後方のランド長について考慮されていないため、はんだ付け部の強度に影響するはんだ濡れ上がり高さが判断できない。
However, the solder inspection apparatus related to Patent Document 1 described above has the following problems. The solder amount of the
本発明の目的は、上述した課題である、関連するはんだ検査装置においては、はんだ付け部の強度に影響するはんだ濡れ上がり高さを高精度に予測することができないという課題を解決するはんだ検査装置及びはんだ検査方法を提供することにある。 The object of the present invention is a solder inspection apparatus that solves the above-described problem that, in the related solder inspection apparatus, the solder wetting height that affects the strength of the soldering portion cannot be predicted with high accuracy. And providing a solder inspection method.
上記目的を達成するため、本発明に係るはんだ検査装置は、印刷されたはんだ体積を計測するはんだ印刷検査機と、リードのトップフィレットのはんだ量、上記リードの付け根より後方のランド長、及び上記リードの部品高さを計測する外観検査機と、リフロー後のはんだ量を計算し、上記計測された上記リードのトップフィレットのはんだ量、上記リードの付け根より後方のランド長、及び上記リードの部品高さからバックフィレットのはんだ濡れ上がり高さを推定する処理手段とを有する。 In order to achieve the above object, a solder inspection apparatus according to the present invention includes a solder print inspection machine for measuring a printed solder volume, a solder amount of a top fillet of a lead, a land length behind a root of the lead, and the above Appearance inspection machine for measuring the lead component height, the amount of solder after reflow is calculated, the measured solder amount of the top fillet of the lead, the land length behind the lead root, and the lead component And processing means for estimating the solder fill height of the back fillet from the height.
本発明に係るはんだ検査方法は、はんだ印刷後に、印刷されたはんだ体積を計測し、リフロー後のはんだ量を計算し、リードのトップフィレットのはんだ量を計測し、上記リードの付け根より後方のランド長を計測し、上記リードの部品高さを計測し、これを基に上記リードの下に位置するはんだ量を計算し、上記リフロー後のはんだ量、上記トップフィレットのはんだ量、上記リードの付け根より後方のランド長、及び上記リードの下に位置するはんだ量から、バックフィレットのはんだ濡れ上がり高さを推定する。 In the solder inspection method according to the present invention, after solder printing, the printed solder volume is measured, the solder amount after reflow is calculated, the solder amount of the top fillet of the lead is measured, and the land behind the root of the lead is measured. Measure the length, measure the height of the lead part, calculate the amount of solder located under the lead based on this, and determine the amount of solder after the reflow, the solder amount of the top fillet, the root of the lead From the back land length and the amount of solder located under the lead, the solder fill height of the back fillet is estimated.
本発明のはんだ検査装置及びはんだ検査方法によれば、バックフィレットのはんだ濡れ上がり高さをより高精度に予測することができる。 According to the solder inspection apparatus and the solder inspection method of the present invention, the solder wetting height of the back fillet can be predicted with higher accuracy.
本発明の好ましい実施形態について、図面を参照しながら詳細に説明する。 Preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
〔第1実施形態〕
初めに、本発明の第1実施形態によるはんだ検査装置及びはんだ検査方法について、説明する。図3は、本発明の第1実施形態による検査装置などの構成を示すブロック図である。本実施形態によるはんだ検査装置10は図3に示すように、印刷されたはんだ体積を計測するはんだ印刷検査機12を備える。さらに、本実施形態によるはんだ検査装置10は、搭載部品のリードのトップフィレットのはんだ量、上記リードの付け根より後方のランド長、及び上記リードの高さを計測する外観検査機13を備える。
[First Embodiment]
First, the solder inspection apparatus and the solder inspection method according to the first embodiment of the present invention will be described. FIG. 3 is a block diagram showing the configuration of the inspection apparatus according to the first embodiment of the present invention. As shown in FIG. 3, the
さらに、本実施形態によるはんだ検査装置10は、バックフィレットのはんだ量を計算する処理手段の一例としての情報処理装置11を備える。この処理手段は、リフロー後のはんだ量を計算し、上記計測されたリードのトップフィレットのはんだ量、上記リードの付け根より後方のランド長、上記リードの角度、及び上記リードの高さからバックフィレットのはんだ濡れ上がり高さを推定する。
Furthermore, the
はんだ印刷検査機12は、プリント基板17上に印刷されたはんだ体積を3次元的に計測する。外観検査機13は、3次元的に光学方式で外観を検査する3次元光学外観検査機(Three Dimensional AOI machine)である。情報処理装置11、はんだ印刷検査機12、及び外観検査機13の各装置間は、ローカルエリアネットワーク(LAN: Local Area Network)等の通信回線により相互に接続され、データの送受信を行うことができる。
The solder
次に、プリント基板への部品搭載処理及びはんだ付け処理と共に、このはんだ検査装置を用いたはんだ検査方法について、説明する。図4は、本発明の第1実施形態によるはんだ検査方法を示すフローチャートである。 Next, a solder inspection method using this solder inspection apparatus will be described together with component mounting processing and soldering processing on a printed circuit board. FIG. 4 is a flowchart showing a solder inspection method according to the first embodiment of the present invention.
初めにプリント基板17のランドなどに対して、印刷機14によりはんだ印刷処理を施す。プリント基板17に対するはんだ印刷処理が完了すると、プリント基板17は印刷機14から搬送方向に搬出されて、搭載機15に送られる。
First, a solder printing process is performed on the land of the printed
次に、本実施形態のはんだ検査装置10のはんだ印刷検査機12が、プリント基板17上のはんだ量に関する光学的な3次元外観検査を実施する。はんだ印刷検査機12は、プリント基板17上のはんだ量に関する3次元データを収集する(ステップS1)。そして、図3に示すように、収集した検査対象部品に関する3次元データvd1を、3D SPIの検査結果18として、情報処理装置11に対して出力する。
Next, the solder
次に、情報処理装置11は、はんだ印刷検査機12からのプリント基板17上にはんだに関する3次元データvd1(3D SPIの検査結果18)を基にして、リフロー後のはんだ量を計算する(ステップS2)。
Next, the
ここで、リフロー後のはんだ量を計算する方法としては、例えば、図5に示すような手段を用いても良い。図5(a)は印刷時のはんだの状態を示し、図5(b)はリフロー後のはんだの状態を示している。予め、一定量のはんだに対してSPIで体積を計測し、これをリフローする。リフロー後のはんだに対して、3D AOIではんだ体積を計測し、リフロー前のはんだ量とリフロー後のはんだ量に関して、以下の対応式におけるα(係数)を求める。リフロー後のはんだ量(S_r)は、フラックス体積分を差し引いたものとなる。 Here, as a method of calculating the solder amount after reflow, for example, a means as shown in FIG. 5 may be used. FIG. 5A shows the state of solder during printing, and FIG. 5B shows the state of solder after reflow. In advance, the volume is measured with SPI for a certain amount of solder and reflowed. For the solder after reflow, measure the solder volume with 3D AOI, and obtain α (coefficient) in the following correspondence equation for the solder amount before reflow and the solder amount after reflow. The solder amount (S_r) after reflow is obtained by subtracting the flux volume.
リフロー後のはんだ量S_r = 印刷時のはんだ量S×α(係数)
この対応式は、はんだの種類ごとに求めるようにする。はんだの成分組成が変わると、α(係数)が異なるからである。また、同じ種類のはんだでもロットにより、成分組成が変わる場合がある。このため同じ種類のはんだでも、ロットごとに求めることが望ましい。
Solder amount after reflow S_r = Solder amount during printing S x α (coefficient)
This correspondence formula is obtained for each type of solder. This is because α (coefficient) differs when the component composition of the solder changes. In addition, the component composition may change depending on the lot even with the same type of solder. Therefore, it is desirable to obtain the same type of solder for each lot.
さらに、搭載機15でプリント基板17のランドに搭載部品のリードが位置合わせされて、搭載部品が搭載される。プリント基板17は搭載機15から搬送方向に搬出されて、リフロー炉16に送られる。プリント基板17に対してリフロー炉16においてリフロー処理を施して、はんだ付けを行う。プリント基板17に搭載される搭載部品に対するはんだ付けが完了すると、プリント基板17はリフロー炉16から搬送方向に搬出される。はんだ検査装置10の光学外観検査機13において、プリント基板17上に搭載された検査対象部品に関する光学的な3次元外観検査が実施される(ステップS3)。ここで搭載部品のリード長も計測される。
Furthermore, the lead of the mounting component is aligned with the land of the printed
光学外観検査機13は、リフロー炉16から搬出されてきたプリント基板17上に搭載されている検査対象部品に関する3次元データ(トップフィレットのはんだ量(S_r_t)や部品高さを少なくとも含む情報)を収集する。そして、図3に示すように、収集した検査対象部品に関する3次元データvd2を、3D AOIの検査結果19として、情報処理装置11に対して出力する。
The optical
ここで、トップフィレットのはんだ量(S_r_t)と部品高さを計算する方法として、3次元光学検査を用いる方法がある。3次元光学検査機は、次のようないくつかの計測方式がある。例えば、レーザによる計測・縞パターン投影法による計測レーザによる計測では、ある角度をもったレーザ光を計測対象に当て、その反射光をセンサで受光する。計測対象の高さにより、センサで受光される位置が変わる。この位置情報を元に、計測対象の高さを求める。また、縞パターン投影による計測では、ある角度をもった照明(通常はプロジェクタ)から、縞パターン光を計測対象に当てる。計測対象の高さに応じた縞パターン光のズレ量が発生する。この縞パターン光のズレ量と光の入射角度から、計測対象の高さを求める。どちらの方法も、上方に設置されたカメラにより撮像された画像中の色情報を用いて、計測対象の識別が行われる。 Here, as a method for calculating the solder amount (S_r_t) and the component height of the top fillet, there is a method using a three-dimensional optical inspection. The three-dimensional optical inspection machine has several measurement methods as follows. For example, in measurement using a laser or measurement laser using a fringe pattern projection method, laser light having a certain angle is applied to a measurement target, and the reflected light is received by a sensor. The position received by the sensor changes depending on the height of the measurement object. Based on this position information, the height of the measurement target is obtained. Further, in the measurement by the fringe pattern projection, the fringe pattern light is applied to the measurement object from illumination (usually a projector) having a certain angle. A shift amount of the stripe pattern light according to the height of the measurement target is generated. From the amount of deviation of the stripe pattern light and the incident angle of the light, the height of the measurement object is obtained. In both methods, the measurement target is identified using color information in an image captured by a camera installed above.
次に、情報処理装置11はバックフィレット3のはんだ量を計算する(ステップS4)。ここで、図6を参照して、バックフィレット3のはんだ量の計算方法をより詳細に説明する。バックフィレット3のはんだ量の計算は、図6に示すように、ステップS3で計測した部品高さと部品厚さから、リード下のはんだ4のはんだ量を計算して行う(ステップS4−1)。より具体的には、外観検査機13からの、3次元形状に関する情報vd2(3D AOIの検査結果19)を基にして、リード下のはんだ量を計算する。図8(a)や図8(b)に示されるリード下のはんだ4のはんだ量(S_r_u)を計算する方法としては、まずAOIで求めた部品高さに対して、部品仕様書に記載されている部品厚を減算する。これによって、リード下のはんだ4の厚さを求め、このはんだ厚さに部品仕様書記載のリード面積を掛け算することで求める。
Next, the
次に、情報処理装置11はバックフィレットのはんだ量を計算する(ステップS4−2)。リフロー後のはんだ量(S_r)、リード下のはんだ4のはんだ量(S_r_u)、及び計測されたトップフィレット2のはんだ量(S_r_t)から、情報処理装置11はバックフィレット3のはんだ量(S_r_b)を計算する。バックフィレット3のはんだ量(S_r_b)は、以下の計算式で求められる。
Next, the
バックフィレット3のはんだ量S_r_b = リフロー後のはんだ量S_r −(トップフィレット2のはんだ量S_r_t + リード下のはんだ4のはんだ量S_r_u)
次に、図4のフローチャートに戻り、バックフィレット3のはんだ量、リード付け根より後方のランド長、及びリードの角度から、情報処理装置11はバックフィレット3のはんだ濡れ上がり高さを推定する(ステップS5)。はんだ濡れ上がり高さの推定には、バックフィレット3のはんだ量と、リード長さ・位置と基板仕様書記載のランド位置・長さから求めたリード付け根より後方のランド長(l_b)を用いる。さらに、はんだ濡れ上がり高さの推定には、部品仕様書に記載のリード角度を用いる。
Solder amount of
Next, returning to the flowchart of FIG. 4, the
図7は、搭載部品のリード1が、プリント基板のランド5にはんだで固着されている状態を示している。リード1の先にはトップフィレット2が存在しており、リード1の下にはバックフィレット3が存在している。ランド長(l_b)は図7のように、ランド5全体の長さからリード長とリード先端からランド端までの距離を減算することで求める。ここで、ステップS3で求めたリード長は、AOIによる計測が上方からのため、リード上部の長さとなる。リード下部の長さは、以下の計算式で求める。
FIG. 7 shows a state in which the lead 1 of the mounted component is fixed to the
リード下部の長さ = リード上部の長さ×リード上部の長さとリード下部の長さの比
このとき、リード上部の長さとリード下部の長さの比は、情報部品仕様書に記載されたものを用いればよい。
Lead bottom length = Lead top length x Lead top length to lead bottom length ratio At this time, the ratio of the lead top length to the lead bottom length is the one described in the information component specifications. May be used.
リード先端からランド端までの距離は、トップフィレット2の長さとして求めても良い。或いは、AOIによる検査結果から、位置決めマークを原点とした基板上でのリードの先端位置は求められているので、ランド端の位置からリード先端の位置を減算して求めても良い。こうして、バックフィレット3のはんだ濡れ上がり高さが推定される。
The distance from the lead tip to the land end may be obtained as the length of the
図8(a)のように、リード付け根より後方のランド長(l_b)が長いと、ランド部分にはんだが濡れ広がってしまうために、バックフィレット3があまり濡れ上らない。図8(b)のように、バックフィレット3のはんだ量(S_r_b)が同じでもリード付け根より後方のランド長(l_b)が短いと、バックフィレット3の濡れ上がりが高くなる。また、リードの角度が急な場合、はんだが濡れ上がりにくく、リードの角度が緩やかな場合、はんだが濡れ上がり易い。推定したバックフィレット3のはんだ濡れ上がり高さから、情報処理装置11は検査対象部品のはんだ付けの良否を判定する。(ステップS6)
上述のような構成とすることで、SPI及びAOIのみで、低コストかつ高速にリードのバックフィレットのはんだ濡れ上がり高さを検査することができる。言い換えると、高価なX線検査機を用意しなくても、バックフィレット3のはんだ量をより正確に求めることができる。クアッドフラットパッケージのような、フラットガルウィング形態の搭載部品のバックフィレットのはんだ濡れ上がり高さを検査することができる。
As shown in FIG. 8A, when the land length (l_b) behind the lead root is long, the solder fills the land portion so that the
With the above-described configuration, it is possible to inspect the solder wet height of the lead back fillet at low cost and at high speed with only SPI and AOI. In other words, the amount of solder of the
実施例として、上述した本発明の実施形態の、バックフィレットの濡れ上がり高さの推定と、これに基づく良否判定とについて、より具体的に説明する。例えば、あらかじめリード付け根より後方のランド長(l_b)、リードの角度、及びバックフィレット3のはんだ量(S_r_b)をいくつかの水準に振り、それに対するバックフィレット3の濡れ上がり高さを求める実験を行う。実験結果から、リード付け根より後方のランド長(l_b)、リードの角度、及びバックフィレット3のはんだ量(S_r_b)に対する、バックフィレット3の濡れ上がり高さの表を作成する。表1はリード付け根より後方のランド長(l_b)とバックフィレット3のはんだ量(S_r_b)に対する、バックフィレット3の濡れ上がり高さを示している。
As an example, the estimation of the backfillet wetting height and the pass / fail judgment based on this in the above-described embodiment of the present invention will be described more specifically. For example, the land length (l_b), the lead angle, and the solder amount of the back fillet 3 (S_r_b) at the rear of the lead root are assigned to several levels in advance, and the experiment for obtaining the wetting height of the
良否判定ではこの表を参照する。求めたバックフィレット3のはんだ濡れ上がり高さが閾値以上になっていた場合には、バックフィレット3の濡れ上がりが十分であり、当該はんだによるはんだ付け(リフロー処理)が良好であったと判定する。逆に、濡れ上がり高さの閾値までに達していない場合には、当該はんだによるはんだ付け(リフロー処理)が不良であったと判定する。
Refer to this table for pass / fail judgment. When the calculated solder fill height of the
バックフィレット3のはんだ濡れ上がり高さの推定については、次のように行うことも考えられる。まず、リードの付け根より後方のランド長、リードの角度、及びバックフィレットのはんだ量をいくつかの水準に振り、それに対するバックフィレット3の濡れ上がり高さを求める。次に、リフロー後に計測されたバックフィレット3の濡れの結果を用い、リードの付け根より後方のランド長、リードの角度、及びバックフィレットのはんだ量から、バックフィレット3の濡れ上がり高さを推定する計算式を作成する。
The estimation of the solder wetting height of the
以上、本発明の好ましい実施形態を説明したが、本発明はこれに限定されるものではない。情報処理装置11は、上述した計算処理、推定処理や良否判定処理を実行できる専用ハードウェアによって実現されてもよいし、ソフトウェアによって実現されてもよい。情報処理装置11が実行する計算処理、推定処理や良否判定処理は、このような処理を情報処理装置11などに実行させるプログラムによっても、実現されうる。また、このようなプログラムは記録媒体に記録されて、情報処理装置11に読み取り可能な情報記録媒体の形態にて流通されうる。
As mentioned above, although preferable embodiment of this invention was described, this invention is not limited to this. The
上述した実施形態の図4に示される各工程は、この順番に限られない。例えば、リフロー後のはんだ量計算(ステップS2)は、3D AOIによる計測(ステップS3)の後に行われても問題ない。図4のステップS1でプリント基板17上のはんだ量に関する3次元データは収集され、情報処理装置11に対して出力されるので、リフロー後のはんだ量計算(ステップS2)は、搭載機15による部品搭載の前に行われても後に行われても構わない。特許請求の範囲に記載した発明の範囲内で、種々の変形が可能であり、それらも本発明の範囲に含まれることはいうまでもない。
Each process shown by FIG. 4 of embodiment mentioned above is not restricted to this order. For example, there is no problem even if the solder amount calculation after reflow (step S2) is performed after measurement by 3D AOI (step S3). Since three-dimensional data related to the amount of solder on the printed
上記の実施形態の一部又は全部は、以下の付記のようにも記載されうるが、以下には限られない。
(付記1)印刷されたはんだ体積を計測するはんだ印刷検査機と、
リードのトップフィレットのはんだ量、前記リードの付け根より後方のランド長、及び前記リードの部品高さを計測する外観検査機と、
リフロー後のはんだ量を計算し、前記計測された前記リードのトップフィレットのはんだ量、前記リードの付け根より後方のランド長、及び前記リードの部品高さからバックフィレットのはんだ量を計算する処理手段とを有する、はんだ検査装置。
(付記2)前記処理手段は、前記はんだの組成式から前記リフロー後のはんだ量を計算する、付記1に記載のはんだ検査装置。
(付記3)前記処理手段は、前記リードの付け根より後方のランド長、前記リードの角度、及び前記計算されたバックフィレットのはんだ量から、前記バックフィレットの濡れ上がり高さを推定する、付記1又は付記2に記載のはんだ検査装置。
(付記4)前記処理手段は、前記推定した前記バックフィレットの濡れ上がり高さから、はんだ付けの良否判定を行う、付記3に記載のはんだ検査装置。
(付記5)前記はんだ印刷検査機は、リフロー後のはんだ体積を、前記はんだの組成式からフラックス含有量を差分として引いて計算する、付記1乃至付記4のいずれか一つに記載のはんだ検査装置。
(付記6)前記処理手段は、印刷されたはんだの体積を予め計測し、そのはんだのリフロー後のはんだ体積を計測し、リフロー前のはんだ量とリフロー後のはんだ量の対応式を求め、この対応式とリフロー前のはんだ体積により計算する、付記1乃至付記4のいずれか一つに記載のはんだ検査装置。
(付記7)はんだ印刷後に、印刷されたはんだ体積を計測し、
リフロー後のはんだ量を計算し、
リードのトップフィレットのはんだ量を計測し、
前記リードの付け根より後方のランド長を計測し、
前記リードの部品高さを計測し、これを基に前記リードの下に位置するはんだ量を計算し、
前記リフロー後のはんだ量、前記トップフィレットのはんだ量、前記リードの付け根より後方のランド長、及び前記リードの下に位置するはんだ量から、バックフィレットのはんだ量を計算する、はんだ検査方法。
(付記8)前記リフロー後のはんだ量の計算は、前記はんだの組成式から計算される、付記7に記載のはんだ検査方法。
(付記9)前記リードの付け根より後方のランド長、前記リードの角度、及び前記計算されたバックフィレットのはんだ量から、前記バックフィレットの濡れ上がり高さを推定する、付記7に記載のはんだ検査方法。
(付記10)前記推定した前記バックフィレットの濡れ上がり高さから、はんだ付けの良否判定を行う、付記9に記載のはんだ検査方法。
(付記11)リフロー後のはんだ体積を、前記はんだの組成式からフラックス含有量を差分として引いて計算する、付記7乃至付記10のいずれか一つに記載のはんだ検査方法。
(付記12)印刷されたはんだの体積を予め計測し、そのはんだのリフロー後のはんだ体積を計測し、リフロー前のはんだ量とリフロー後のはんだ量の対応式を求め、この対応式とリフロー前のはんだ体積により計算する、付記7乃至付記11のいずれか一つに記載のはんだ検査方法。
(付記13)はんだ印刷後に、印刷されたはんだ体積を計測し、
リフロー後のはんだ量を計算し、
リードのトップフィレットのはんだ量を計測し、
前記リードの付け根より後方のランド長を計測し、
前記リードの部品高さを計測し、これを基に前記リードの下に位置するはんだ量を計算し、
前記リフロー後のはんだ量、前記トップフィレットのはんだ量、前記リードの付け根より後方のランド長、及び前記リードの下に位置するはんだ量から、バックフィレットのはんだ量を計算することを、コンピュータに実行させるプログラム。
(付記14)コンピュータに読み取り可能な情報記録媒体であって、付記13に記載のプログラムを記録している記録媒体。
A part or all of the above-described embodiment can be described as in the following supplementary notes, but is not limited thereto.
(Appendix 1) A solder printing inspection machine for measuring the printed solder volume;
An appearance inspection machine that measures the amount of solder in the top fillet of the lead, the land length behind the base of the lead, and the component height of the lead;
Processing means for calculating the solder amount after reflow and calculating the solder amount of the back fillet from the measured solder amount of the top fillet of the lead, the land length behind the root of the lead, and the component height of the lead And a solder inspection apparatus.
(Supplementary note 2) The solder inspection apparatus according to supplementary note 1, wherein the processing means calculates the amount of solder after the reflow from the composition formula of the solder.
(Additional remark 3) The said processing means estimates the wetting height of the said back fillet from the land length behind the base of the said lead, the angle of the said lead, and the calculated amount of solder of the said back fillet, Additional remark 1 Or the solder inspection apparatus according to
(Additional remark 4) The said processing means is a solder inspection apparatus of
(Additional remark 5) The said solder printing inspection machine calculates the solder volume after reflow by subtracting the flux content from the said solder composition formula as a difference, The solder inspection as described in any one of Additional remark 1 thru | or
(Additional remark 6) The said processing means measures the volume of the printed solder beforehand, measures the solder volume after the reflow of the solder, calculates | requires the correspondence type of the solder amount before reflow, and the solder amount after reflow, and this The solder inspection apparatus according to any one of Supplementary Note 1 to
(Appendix 7) After solder printing, measure the printed solder volume,
Calculate the amount of solder after reflow,
Measure the amount of solder in the top fillet of the lead,
Measure the land length behind the base of the lead,
Measure the component height of the lead, based on this, calculate the amount of solder located under the lead,
A solder inspection method of calculating a solder amount of a back fillet from a solder amount after the reflow, a solder amount of the top fillet, a land length behind a root of the lead, and a solder amount located under the lead.
(Supplementary note 8) The solder inspection method according to supplementary note 7, wherein the calculation of the amount of solder after the reflow is calculated from the composition formula of the solder.
(Supplementary note 9) The solder inspection according to supplementary note 7, wherein the wetting height of the back fillet is estimated from the land length behind the root of the lead, the angle of the lead, and the calculated solder amount of the back fillet. Method.
(Additional remark 10) The solder inspection method of Additional remark 9 which performs the quality determination of soldering from the estimated wet-up height of the said back fillet.
(Supplementary note 11) The solder inspection method according to any one of supplementary notes 7 to 10, wherein the solder volume after reflow is calculated by subtracting a flux content from the solder composition formula as a difference.
(Supplementary note 12) Pre-measure the volume of the printed solder, measure the solder volume after reflow of the solder, and obtain a correspondence formula between the solder amount before reflow and the solder amount after reflow. The solder inspection method according to any one of appendix 7 to appendix 11, wherein the solder volume is calculated based on the solder volume of.
(Appendix 13) After solder printing, measure the printed solder volume,
Calculate the amount of solder after reflow,
Measure the amount of solder in the top fillet of the lead,
Measure the land length behind the base of the lead,
Measure the component height of the lead, based on this, calculate the amount of solder located under the lead,
The computer executes calculation of the back fillet solder amount from the solder amount after the reflow, the solder amount of the top fillet, the land length behind the root of the lead, and the solder amount located under the lead. Program to make.
(Supplementary note 14) A computer-readable information recording medium on which the program according to
本発明の活用例として、電子機器の実装検査が考えられる。特に、QFP等のフラットガルウィングリード形状の搭載部品について、バックフィレットのはんだ検査に関し有用である。 As an application example of the present invention, mounting inspection of an electronic device can be considered. In particular, it is useful for solder inspection of back fillets for mounted parts with flat gull wing leads such as QFP.
10 はんだ検査装置
11 情報処理装置
12 はんだ印刷検査機
13 外観検査機
14 印刷機
15 搭載機
16 リフロー炉
17 プリント基板
DESCRIPTION OF
Claims (10)
リードのトップフィレットのはんだ量、前記リードの付け根より後方のランド長、及び前記リードの部品高さを計測する外観検査機と、
リフロー後のはんだ量を計算し、前記計測された前記リードのトップフィレットのはんだ量、前記リードの付け根より後方のランド長、及び前記リードの部品高さからバックフィレットのはんだ量を計算する処理手段とを有する、
はんだ検査装置。 A solder printing inspection machine for measuring the printed solder volume;
An appearance inspection machine that measures the amount of solder in the top fillet of the lead, the land length behind the base of the lead, and the component height of the lead;
Processing means for calculating the solder amount after reflow and calculating the solder amount of the back fillet from the measured solder amount of the top fillet of the lead, the land length behind the root of the lead, and the component height of the lead And having
Solder inspection device.
リフロー後のはんだ量を計算し、
リードのトップフィレットのはんだ量を計測し、
前記リードの付け根より後方のランド長を計測し、
前記リードの部品高さを計測し、これを基に前記リードの下に位置するはんだ量を計算し、
前記リフロー後のはんだ量、前記トップフィレットのはんだ量、前記リードの付け根より後方のランド長、及び前記リードの下に位置するはんだ量から、バックフィレットのはんだ量を計算する、
はんだ検査方法。 After solder printing, measure the printed solder volume,
Calculate the amount of solder after reflow,
Measure the amount of solder in the top fillet of the lead,
Measure the land length behind the base of the lead,
Measure the component height of the lead, based on this, calculate the amount of solder located under the lead,
From the amount of solder after the reflow, the amount of solder of the top fillet, the land length behind the root of the lead, and the amount of solder located under the lead, the amount of solder of the back fillet is calculated,
Solder inspection method.
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