JP6295035B2 - 荷電粒子ビーム描画装置及び荷電粒子ビーム描画方法 - Google Patents
荷電粒子ビーム描画装置及び荷電粒子ビーム描画方法Info
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Description
可変成形型電子ビーム描画装置は、以下のように動作する。第1のアパーチャ410には、電子線330を成形するための矩形の開口411が形成されている。また、第2のアパーチャ420には、第1のアパーチャ410の開口411を通過した電子線330を所望の矩形形状に成形するための可変成形開口421が形成されている。荷電粒子ソース430から照射され、第1のアパーチャ410の開口411を通過した電子線330は、偏向器により偏向され、第2のアパーチャ420の可変成形開口421の一部を通過して、所定の一方向(例えば、X方向とする)に連続的に移動するステージ上に搭載された試料340に照射される。すなわち、第1のアパーチャ410の開口411と第2のアパーチャ420の可変成形開口421との両方を通過できる矩形形状が、X方向に連続的に移動するステージ上に搭載された試料340の描画領域に描画される。第1のアパーチャ410の開口411と第2のアパーチャ420の可変成形開口421との両方を通過させ、任意形状を作成する方式を可変成形方式(VSB方式)という。
試料の描画領域が複数の処理領域に仮想分割された処理領域毎に描画データを並列にデータ変換処理する複数の変換処理部と、
互いに一方相手がデータ転送処理中に、他方が、データ変換処理された、予め設定されたn個の処理領域よりも多いN個の処理領域分の処理データを並列に入力し、互いに一方がデータ入力処理中に、他方が(N−n)個の処理領域分の処理データを順に転送する第1の転送処理と、第1の転送処理の終了後に残りのn個の処理領域分の処理データを順に転送する第2の転送処理と、に分けたデータ転送処理を行い、互いに一方がデータ入力処理を行う際、他方の第1の転送処理中において処理データの入力を開始し、第2の転送処理開始後にはさらなる新たな処理領域分の処理データの入力を行わない、第1と第2の転送部と、
第1と第2の転送部から転送された処理領域毎の処理データに沿って、荷電粒子ビームを偏向する偏向量を制御する偏向制御回路と、
偏向量に基づいて荷電粒子ビームを偏向することによって、試料にパターンを描画する描画部と、
を備え、
上述したnは、複数の変換処理部の1以上の変換処理部から第1と第2の転送部の一方への1回のデータ入力処理にかかる時間を第1と第2の転送部の他方から偏向制御回路への1つの処理領域分の処理データの転送にかかる時間で割った値以上の値に設定され、
前記複数の処理領域は、前記第1と第2の転送部が前記処理データを並列に入力する場合に、入力処理時間が入力される処理領域数に関わらず一定にできるサイズで分割されることを特徴とする。
試料の描画領域が複数の処理領域に仮想分割された処理領域毎に描画データを並列にデータ変換処理する複数の変換処理部と、
互いに一方が転送処理中に、他方が、データ変換処理された、描画処理順序が連続する予め設定されたn個以上の処理領域分の処理データを並列に入力し、互いに一方がデータ入力処理中に、他方が、描画処理順序が連続するn個以上の処理領域分の処理データを転送する、第1と第2の転送部と、
第1と第2の転送部から順に転送された処理領域毎の処理データに沿って、荷電粒子ビームを偏向する偏向量を制御する偏向制御回路と、
偏向量に基づいて荷電粒子ビームを偏向することによって、試料にパターンを描画する描画部と、
を備え、
上述したnは、複数の変換処理部の1以上の変換処理部から第1と第2の転送部の一方への1回のデータ入力処理にかかる時間を第1と第2の転送部の他方から偏向制御回路への1つの処理領域分の処理データの転送にかかる時間で割った値以上の値に設定され、
前記複数の処理領域は、前記第1と第2の転送部が前記処理データを並列に入力する場合に、入力処理時間が入力される処理領域数に関わらず一定にできるサイズで分割されることを特徴とする。
第1と第2の転送部は、互いに一方が第1の転送処理と第2の転送処理とを行う場合に、他方がデータ入力処理を行う際、一方の第1の転送処理中において処理データの入力を開始し、第2の転送処理開始後にはさらなる新たな処理領域分の処理データの入力を行わないように構成すると好適である。
描画部は、ストライプ領域毎に描画処理を行い、
第1と第2の転送部は、ストライプ領域毎に、当該ストライプ領域の終端の処理領域の処理データを入力が完了した際には、データ入力処理を終了し、
第1と第2の転送部は、ストライプ領域の終端の処理領域の処理データを転送する際には、入力された処理データがn個未満であっても転送処理を行うように構成すると好適である。
複数の変換処理部を用いて、試料の描画領域が複数の処理領域に仮想分割された処理領域毎に描画データを並列にデータ変換処理する工程と、
第1の転送部が、データ変換処理された、予め設定されたn個の処理領域よりも多いN1個の処理領域分の処理データを並列に入力する工程と、
第1の転送部が、(N1−n)個の処理領域分の処理データを順に転送する第1の転送処理と、第1の転送処理の終了後に残りのn個の処理領域分の処理データを順に転送する第2の転送処理と、に分けた偏向制御回路へのデータ転送処理を行う工程と、
第2の転送部が、第1の転送部による第1の転送処理中に、データ変換処理された、予め設定されたn個の処理領域よりも多いN2個の処理領域分の処理データの並列入力を開始し、第2の転送処理開始後にはさらなる新たな処理領域分の処理データの入力を行わない工程と、
第2の転送部が、第1の転送部による第2の転送処理終了後、(N2−n)個の処理領域分の処理データを順に転送する第1の転送処理と、第1の転送処理の終了後に残りのn個の処理領域分の処理データを順に転送する第2の転送処理と、に分けた偏向制御回路への転送処理を行う工程と、
第1と第2の転送部から転送された処理領域毎の処理データに基づいて、荷電粒子ビームを偏向することによって、試料にパターンを描画する工程と、
を備え、
上述したnは、複数の変換処理部の1以上の変換処理部から第1と第2の転送部の一方への1回のデータ入力処理にかかる時間を第1と第2の転送部の他方から偏向制御回路への1つの処理領域分の処理データの転送にかかる時間で割った値以上の値に設定され、
前記複数の処理領域は、前記第1と第2の転送部が前記処理データを並列に入力する場合に、入力処理時間が入力される処理領域数に関わらず一定にできるサイズで分割されることを特徴とする。
図1は、実施の形態1における描画装置の構成を示す概念図である。図1において、描画装置100は、描画部150と制御部160を備えている。描画装置100は、荷電粒子ビーム描画装置の一例である。特に、可変成形型の描画装置の一例である。描画部150は、電子鏡筒102と描画室103を備えている。電子鏡筒102内には、電子銃201、照明レンズ202、第1のアパーチャ203、投影レンズ204、偏向器205、第2のアパーチャ206、対物レンズ207、主偏向器208及び副偏向器209が配置されている。描画室103内には、XYステージ105が配置される。XYステージ105上には、描画時には描画対象となるマスク等の試料101が配置される。試料101には、半導体装置を製造する際の露光用マスクが含まれる。また、試料101には、レジストが塗布された、まだ何も描画されていないマスクブランクスが含まれる。
データ転送工程(S106b)において、データ転送計算機ユニット120a(第1の転送部)は、その内部工程として、転送処理(1)工程(S108b)と転送処理(2)工程(S110b)とを実施する。
32 転送部
34 入力部
42 偏向量演算部
101,340 試料
102 電子鏡筒
103 描画室
105 XYステージ
110 制御計算機ユニット
120 データ転送計算機ユニット
130 偏向制御回路
132 制御回路
140 記憶装置
150 描画部
160 制御部
200 電子ビーム
201 電子銃
202 照明レンズ
203,410 第1のアパーチャ
204 投影レンズ
205 偏向器
206,420 第2のアパーチャ
207 対物レンズ
208 主偏向器
209 副偏向器
330 電子線
411 開口
421 可変成形開口
430 荷電粒子ソース
Claims (5)
- 試料の描画領域が複数の処理領域に仮想分割された処理領域毎に描画データを並列にデータ変換処理する複数の変換処理部と、
互いに一方がデータ転送処理中に、他方が、データ変換処理された、予め設定されたn個の処理領域よりも多いN個の処理領域分の処理データを並列に入力し、互いに一方がデータ入力処理中に、他方が(N−n)個の処理領域分の処理データを順に転送する第1の転送処理と、前記第1の転送処理の終了後に残りのn個の処理領域分の処理データを順に転送する第2の転送処理と、に分けたデータ転送処理を行い、互いに一方が前記データ入力処理を行う際、前記他方の前記第1の転送処理中において前記処理データの入力を開始し、前記第2の転送処理開始後にはさらなる新たな処理領域分の処理データの入力を行わない、第1と第2の転送部と、
前記第1と第2の転送部から転送された処理領域毎の処理データに沿って、荷電粒子ビームを偏向する偏向量を制御する偏向制御回路と、
前記偏向量に基づいて荷電粒子ビームを偏向することによって、試料にパターンを描画する描画部と、
を備え、
前記nは、前記複数の変換処理部の1以上の変換処理部から前記第1と第2の転送部の一方への1回のデータ入力処理にかかる時間を前記第1と第2の転送部の他方から前記偏向制御回路への1つの処理領域分の処理データの転送にかかる時間で割った値以上の値に設定され、
前記複数の処理領域は、前記第1と第2の転送部が前記処理データを並列に入力する場合に、入力処理時間が入力される処理領域数に関わらず一定にできるサイズで分割されることを特徴とする荷電粒子ビーム描画装置。 - 試料の描画領域が複数の処理領域に仮想分割された処理領域毎に描画データを並列にデータ変換処理する複数の変換処理部と、
互いに一方が転送処理中に、他方が、データ変換処理された、描画処理順序が連続する予め設定されたn個以上の処理領域分の処理データを並列に入力し、互いに一方がデータ入力処理中に、他方が、描画処理順序が連続するn個以上の処理領域分の処理データを転送する、第1と第2の転送部と、
前記第1と第2の転送部から順に転送された処理領域毎の処理データに沿って、荷電粒子ビームを偏向する偏向量を制御する偏向制御回路と、
前記偏向量に基づいて荷電粒子ビームを偏向することによって、試料にパターンを描画する描画部と、
を備え、
前記nは、前記複数の変換処理部の1以上の変換処理部から前記第1と第2の転送部の一方への1回のデータ入力処理にかかる時間を前記第1と第2の転送部の他方から前記偏向制御回路への1つの処理領域分の処理データの転送にかかる時間で割った値以上の値に設定され、
前記複数の処理領域は、前記第1と第2の転送部が前記処理データを並列に入力する場合に、入力処理時間が入力される処理領域数に関わらず一定にできるサイズで分割されることを特徴とする荷電粒子ビーム描画装置。 - 前記第1と第2の転送部は、前記n個の処理領域よりも多いN個の処理領域分の処理データを転送する場合に、描画処理順序が連続する(N−n)個の処理領域分の処理データを順に転送する第1の転送処理と、前記第1の転送処理の終了後に描画処理順序が連続する残りのn個の処理領域分の処理データを順に転送する第2の転送処理と、の2回に分けたデータ転送処理を行い、
前記第1と第2の転送部は、互いに一方が前記第1の転送処理と前記第2の転送処理とを行う場合に、他方が前記データ入力処理を行う際、前記一方の前記第1の転送処理中において前記処理データの入力を開始し、前記第2の転送処理開始後にはさらなる新たな処理領域分の処理データの入力を行わないことを特徴とする請求項2記載の荷電粒子ビーム描画装置。 - 前記試料の描画領域は、短冊状に複数のストライプ領域に分割され、
前記描画部は、ストライプ領域毎に描画処理を行い、
前記第1と第2の転送部は、ストライプ領域毎に、当該ストライプ領域の終端の処理領域の処理データを入力が完了した際には、データ入力処理を終了し、
前記第1と第2の転送部は、ストライプ領域の終端の処理領域の処理データを転送する際には、入力された処理データがn個未満であっても転送処理を行うことを特徴とする請求項2又は3記載の荷電粒子ビーム描画装置。 - 複数の変換処理部を用いて、試料の描画領域が複数の処理領域に仮想分割された処理領域毎に描画データを並列にデータ変換処理する工程と、
第1の転送部が、データ変換処理された、予め設定されたn個の処理領域よりも多いN1個の処理領域分の処理データを並列に入力する工程と、
前記第1の転送部が、(N1−n)個の処理領域分の処理データを順に転送する第1の転送処理と、前記第1の転送処理の終了後に残りのn個の処理領域分の処理データを順に転送する第2の転送処理と、に分けた偏向制御回路へのデータ転送処理を行う工程と、
第2の転送部が、前記第1の転送部による前記第1の転送処理中に、データ変換処理された、予め設定されたn個の処理領域よりも多いN2個の処理領域分の処理データの並列入力を開始し、前記第2の転送処理開始後にはさらなる新たな処理領域分の処理データの入力を行わない工程と、
第2の転送部が、前記第1の転送部による前記第2の転送処理終了後、(N2−n)個の処理領域分の処理データを順に転送する第1の転送処理と、前記第1の転送処理の終了後に残りのn個の処理領域分の処理データを順に転送する第2の転送処理と、に分けた前記偏向制御回路への転送処理を行う工程と、
前記第1と第2の転送部から転送された処理領域毎の処理データに基づいて、荷電粒子ビームを偏向することによって、試料にパターンを描画する工程と、
を備え、
前記nは、前記複数の変換処理部の1以上の変換処理部から前記第1と第2の転送部の一方への1回のデータ入力処理にかかる時間を前記第1と第2の転送部の他方から前記偏向制御回路への1つの処理領域分の処理データの転送にかかる時間で割った値以上の値に設定され、
前記複数の処理領域は、前記第1と第2の転送部が前記処理データを並列に入力する場合に、入力処理時間が入力される処理領域数に関わらず一定にできるサイズで分割されることを特徴とする荷電粒子ビーム描画方法。
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