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JP6314904B2 - Method for producing indium hydroxide powder, method for producing indium oxide powder, and method for producing sputtering target - Google Patents
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JP6314904B2 - Method for producing indium hydroxide powder, method for producing indium oxide powder, and method for producing sputtering target - Google Patents

Method for producing indium hydroxide powder, method for producing indium oxide powder, and method for producing sputtering target Download PDF

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Description

本発明は、粒度分布の幅が狭い水酸化インジウム粉を得ることができる水酸化インジウム粉の製造方法、及びその水酸化インジウム粉を用いて酸化インジウム粉を得る酸化インジウム粉の製造方法、並びに酸化インジウム粉を用いて作製したスパッタリングターゲットの製造方法に関するものである。 The present invention relates to a method for producing indium hydroxide powder capable of obtaining indium hydroxide powder having a narrow particle size distribution, a method for producing indium oxide powder using the indium hydroxide powder, and an oxidation method. The present invention relates to a method for producing a sputtering target produced using indium powder.

近年、太陽電池用途とタッチパネル用途として透明導電膜の利用が増えており、それに伴ってスパッタリングターゲット等、透明導電膜形成用材料の需要が増加している。この透明導電膜形成用材料には、酸化インジウム系焼結材料が主に使用されており、その主原料として酸化インジウム粉が使用されている。スパッタリングターゲットに使用される酸化インジウム粉は、高密度ターゲットを得るために出来るだけ粒度分布の幅が狭いことが望ましい。   In recent years, the use of transparent conductive films has increased for solar cell applications and touch panel applications, and accordingly, the demand for transparent conductive film forming materials such as sputtering targets has increased. As the transparent conductive film forming material, an indium oxide-based sintered material is mainly used, and indium oxide powder is used as the main raw material. The indium oxide powder used for the sputtering target desirably has a narrow particle size distribution as much as possible in order to obtain a high-density target.

そのための方法の一つとして、本発明者らは、特許文献1に記載するように、電解液のpHを2.5〜4.0に調整することで電解液中への水酸化インジウム粉の溶解度を制御し、粒度分布の幅の狭い水酸化インジウム粉、及びそれを用いた酸化インジウム粉の製造方法を提案している。この方法によって、相対密度が99.2〜99.6%である高密度な酸化インジウム−酸化スズ焼結体を得ることができる。   As one of the methods for that purpose, as described in Patent Document 1, the present inventors adjusted the pH of the electrolytic solution to 2.5 to 4.0 to adjust the indium hydroxide powder into the electrolytic solution. We have proposed an indium hydroxide powder having a narrow particle size distribution with controlled solubility, and a method for producing indium oxide powder using the same. By this method, a high-density indium oxide-tin oxide sintered body having a relative density of 99.2 to 99.6% can be obtained.

しかしながら、この焼結密度よりもさらに高密度な焼結体が求められるようになってきており、この課題を解決するために、粒度分布の幅をより狭くした酸化インジウム粉の必要性が高まってきた。本発明者らのこれまでの検討結果では、酸化インジウム粉の粒度分布は水酸化インジウム粉の粒度分布とほぼ等しくなることから、水酸化インジウム粉の粒度分布の幅を狭くすることで酸化インジウム粉の粒度分布の幅を制御することが可能である。   However, a sintered body having a higher density than this sintered density has been demanded, and in order to solve this problem, the need for indium oxide powder having a narrower particle size distribution has been increased. It was. According to the results of the present inventors' previous studies, the particle size distribution of indium oxide powder is almost equal to the particle size distribution of indium hydroxide powder. It is possible to control the width of the particle size distribution.

また、特許文献2には、水酸化インジウム粉の粒度分布の幅を狭くする方法として、中和法により、インジウム塩水溶液と塩基性水溶液を混合し、pHを7以上とした後、熟成、濾過、乾燥処理して得られる針状水酸化インジウムを仮焼することにより、BET比表面積が15〜30m/gで、BET径と結晶子径の比が2以下、粒度分布測定により求めた一次粒子の平均粒子径が0.1μm以下である酸化インジウム粉を得ることが記載されている。しかしながら、この酸化インジウム粉を用いることで、ITOターゲットの密度が6.0g/cm、相対密度が84%以上のターゲットしか得られていない。このため、更なる高密度な焼結体が得られる酸化インジウム粉の製造方法が望まれている。 Further, in Patent Document 2, as a method of narrowing the particle size distribution of indium hydroxide powder, an aqueous solution of indium salt and a basic aqueous solution are mixed by neutralization to bring the pH to 7 or higher, and then ripened and filtered. By calcining acicular indium hydroxide obtained by a drying treatment, the BET specific surface area is 15 to 30 m 2 / g, the ratio of the BET diameter to the crystallite diameter is 2 or less, and the primary obtained by particle size distribution measurement It is described that an indium oxide powder having an average particle diameter of 0.1 μm or less is obtained. However, by using this indium oxide powder, only a target having an ITO target density of 6.0 g / cm 3 and a relative density of 84% or more has been obtained. For this reason, the manufacturing method of the indium oxide powder from which a further high-density sintered compact is obtained is desired.

また、特許文献3では、pHが2以上6以下の酸性溶液又はアルカリ性溶液に水酸化インジウムを混合したものを、圧力2〜150kgf/cm、温度80〜300℃の条件下で水熱処理する方法が提案されている。しかしながら、この方法では、オートクレーブ等の専用設備が必要となる等により、コストが高くなる。さらに、特許文献3では、容器サイズ等の問題で1バッチあたりの処理量が制限される等という課題がある。 In Patent Document 3, a method of hydrothermally treating an acidic solution or an alkaline solution having a pH of 2 or more and 6 or less mixed with indium hydroxide under conditions of a pressure of 2 to 150 kgf / cm 2 and a temperature of 80 to 300 ° C. Has been proposed. However, this method increases costs due to the necessity of dedicated equipment such as an autoclave. Furthermore, in Patent Document 3, there is a problem that the processing amount per batch is limited due to problems such as container size.

特開2014−74224号公報JP 2014-74224 A 特開平5−193939号公報JP-A-5-193939 特開平10−17324公報Japanese Patent Laid-Open No. 10-17324

そこで、本発明は、このような実情に鑑みて提案されたものであり、凝集し難く、粒径が均一性に優れ、粒度分布幅が狭い水酸化インジウム粉を得ることができる水酸化インジウム粉の製造方法、及び得られた水酸化インジウム粉を用いることで均一性に優れ、粒度分布の幅が狭い酸化インジウム粉を得る酸化インジウム粉の製造方法、並びに酸化インジウム粉を用いたスパッタリングターゲットの製造方法を提供することを目的とする。 Therefore, the present invention has been proposed in view of such circumstances, and indium hydroxide powder that is difficult to agglomerate, has excellent particle size uniformity, and can provide indium hydroxide powder with a narrow particle size distribution width. the method of manufacturing, and the resulting superior to the uniformity of using the indium hydroxide powder, method for producing an indium oxide powder width of the particle size distribution to obtain a narrow indium oxide powder and the manufacture of sputtering targets with indium oxide powder It aims to provide a method .

上述した目的を達成する本発明の一態様に係る水酸化インジウム粉の製造方法は、電解液として硝酸アンモニウム水溶液に、インジウムを含む陽極を用いた電解反応により水酸化インジウム粉を得る水酸化インジウム粉の製造方法であって、電解液のpHが2.5〜4.0、液温が20℃〜60℃の範囲で、所定時間電解して水酸化インジウム粉を含む電解スラリーを作製する生成工程と、電解スラリーのpHが2.5〜4.0、液温が20℃〜60℃、保持時間が3時間〜24時間の範囲で撹拌して、電解スラリーを溶解及び再結晶化させる溶解及び再結晶化工程とを有し、生成工程における電解スラリーの固形分濃度が5重量%以上、20重量%以下に制御されることを特徴とする。 A method for producing indium hydroxide powder according to one embodiment of the present invention that achieves the above-described object is a method for producing indium hydroxide powder by electrolytic reaction using an anode containing indium in an aqueous ammonium nitrate solution as an electrolytic solution. A production method for producing an electrolytic slurry containing indium hydroxide powder by electrolysis for a predetermined time in a pH range of 2.5 to 4.0 and a liquid temperature of 20 ° C. to 60 ° C. The electrolytic slurry has a pH of 2.5 to 4.0, a liquid temperature of 20 ° C. to 60 ° C., and a holding time in the range of 3 hours to 24 hours to dissolve and recrystallize the electrolytic slurry. And a crystallization process, wherein the solid content concentration of the electrolytic slurry in the production process is controlled to 5 wt% or more and 20 wt% or less .

このとき、本発明の一態様は、生成工程では、所定時間が少なくとも3時間以上で電解することが好ましい。   At this time, according to one embodiment of the present invention, in the generation step, it is preferable to perform electrolysis in a predetermined time of at least 3 hours or more.

このとき、本発明の一態様は、溶解及び再結晶化工程では、電解スラリーが飽和状態から過飽和状態に変化することを、保持時間内に複数回繰り返すことが好ましい。   At this time, according to one embodiment of the present invention, it is preferable that the electrolytic slurry is changed from the saturated state to the supersaturated state a plurality of times within the holding time in the dissolution and recrystallization step.

また、本発明の他の態様に係る酸化インジウム粉の製造方法では、上述した水酸化インジウム粉の製造方法により得られた水酸化インジウム粉を仮焼して酸化インジウム粉を得る酸化インジウム粉の製造方法であって、水酸化インジウム粉の粒度分布の最大値と最小値の差は0.7μm以下であり、仮焼を、600℃〜800℃で1時間〜10時間行うことを特徴とする。 Moreover, in the manufacturing method of the indium oxide powder which concerns on the other aspect of this invention, manufacture of the indium oxide powder which calcines the indium hydroxide powder obtained by the manufacturing method of the indium hydroxide powder mentioned above, and obtains an indium oxide powder The method is characterized in that the difference between the maximum value and the minimum value of the particle size distribution of the indium hydroxide powder is 0.7 μm or less, and the calcination is performed at 600 ° C. to 800 ° C. for 1 hour to 10 hours .

さらに、本発明に他の態様に係るスパッタリングターゲットの製造方法は、スパッタリングターゲットの製造方法であって、上述の酸化インジウム粉の製造方法により得られた酸化インジウム粉と、酸化スズ粉を所定の割合で混合し、混合により得られた造粒粉をコールドプレス法で成形し、成形により得られた成形体を大気圧下で1300℃〜1600℃で焼結し、焼結により得られた焼結体の平面や側面を研磨することを特徴とする

Furthermore, the sputtering target manufacturing method according to another aspect of the present invention is a sputtering target manufacturing method, wherein the indium oxide powder obtained by the above-described indium oxide powder manufacturing method and tin oxide powder are in a predetermined ratio. The granulated powder obtained by mixing is molded by a cold press method, and the molded body obtained by molding is sintered at 1300 ° C. to 1600 ° C. under atmospheric pressure. Sintering obtained by sintering It is characterized by polishing the plane and side surfaces of the body .

本発明では、粒度分布の幅が狭い水酸化インジウム粉を作製することが可能となる。   In the present invention, it is possible to produce indium hydroxide powder having a narrow particle size distribution.

また、本発明では、粒度分布の幅が狭い水酸化インジウム粉を用いることで粒度分布の幅が狭く、且つ比表面積が制御された分散性の良い酸化インジウム粉を作製することも可能となる。   In the present invention, it is also possible to produce indium oxide powder with good dispersibility in which the width of the particle size distribution is narrow and the specific surface area is controlled by using the indium hydroxide powder having a narrow particle size distribution.

さらに、本発明では、このような酸化インジウム粉を用いれば、焼結体の相対密度が高いスパッタリングターゲットを作製することも可能となる。   Furthermore, in this invention, if such an indium oxide powder is used, it becomes possible to produce a sputtering target with a high relative density of the sintered body.

本発明を適用した酸化インジウム粉の製造方法を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the manufacturing method of the indium oxide powder to which this invention is applied.

以下に、本発明を適用した水酸化インジウム粉及び酸化インジウム粉の製造方法、この製造方法により得られた酸化インジウム粉を用いたスパッタリングターゲットについて説明する。なお、本発明は、特に限定がない限り、以下の詳細な説明に限定されるものではない。本発明を適用した水酸化インジウム粉及び酸化インジウム粉の製造方法の実施の形態、並びにスパッタリングターゲットの製造方法について、以下の順序で詳細に説明する。
1.酸化インジウム粉の製造方法
1−1.水酸化インジウム粉の生成工程
1−2.水酸化インジウム粉の溶解及び再結晶化工程
1−3.水酸化インジウム粉の回収工程
1−4.水酸化インジウム粉の乾燥工程
1−5.酸化インジウム粉の生成工程
2.スパッタリングターゲットの製造方法
Below, the manufacturing method of the indium hydroxide powder and indium oxide powder to which this invention is applied, and the sputtering target using the indium oxide powder obtained by this manufacturing method are demonstrated. Note that the present invention is not limited to the following detailed description unless otherwise specified. An embodiment of a method for producing indium hydroxide powder and indium oxide powder to which the present invention is applied and a method for producing a sputtering target will be described in detail in the following order.
1. 1. Method for producing indium oxide powder 1-1. Production process of indium hydroxide powder 1-2. Dissolution and recrystallization process of indium hydroxide powder 1-3. Recovery process of indium hydroxide powder 1-4. Indium hydroxide powder drying step 1-5. 1. Production process of indium oxide powder Manufacturing method of sputtering target

1.酸化インジウム粉の製造方法
本実施の形態に係る酸化インジウム粉の製造方法は、図1に示すように、電解法により水酸化インジウム粉を生成する水酸化インジウム粉の生成工程S1(以下、「生成工程」ともいう。)と、生成された水酸化インジウム粉を溶解及び再結晶化する水酸化インジウム粉の溶解及び再結晶化工程S2(以下、「溶解及び再結晶化工程」ともいう。)と、溶解及び再結晶化された水酸化インジウム粉を回収する水酸化インジウム粉の回収工程S3(以下、「回収工程」ともいう。)と、回収した水酸化インジウム粉を乾燥する水酸化インジウム粉の乾燥工程S4(以下、「乾燥工程」ともいう。)と、乾燥した水酸化インジウム粉を仮焼して酸化インジウム粉を得る酸化インジウム粉の生成工程S5とを有する。
1. Indium Oxide Powder Manufacturing Method As shown in FIG. 1, the indium oxide powder manufacturing method according to the present embodiment includes an indium hydroxide powder generating step S1 (hereinafter referred to as “generation”). And the indium hydroxide powder dissolution and recrystallization step S2 (hereinafter also referred to as “dissolution and recrystallization step”) for dissolving and recrystallizing the produced indium hydroxide powder. Indium hydroxide powder recovery step S3 for recovering dissolved and recrystallized indium hydroxide powder (hereinafter also referred to as “recovery step”), and indium hydroxide powder for drying the recovered indium hydroxide powder A drying step S4 (hereinafter also referred to as a “drying step”) and an indium oxide powder generating step S5 for calcining the dried indium hydroxide powder to obtain indium oxide powder.

(1−1)水酸化インジウム粉の生成工程
生成工程S1では、インジウムを含む陽極と、陰極とを電解液に浸漬させ、電解反応により水酸化インジウム粉を生成する。
(1-1) Production process of indium hydroxide powder In the production process S1, an anode containing indium and a cathode are immersed in an electrolytic solution, and indium hydroxide powder is produced by an electrolytic reaction.

陽極には、金属インジウムを用いる。使用する金属インジウムは、特に限定されないが、水酸化インジウム粉及びこれを焼成して得られる酸化インジウム粉への不純物の混入を抑制するため高純度のものが望ましい。金属インジウムとしては、純度99.999%(通称5N品)以上を好適品として挙げることができる。   Metal indium is used for the anode. The metal indium to be used is not particularly limited, but it is desirable that the metal indium has a high purity in order to suppress the mixing of impurities into the indium hydroxide powder and the indium oxide powder obtained by firing the indium hydroxide powder. As metal indium, a purity of 99.999% (commonly called 5N product) or more can be mentioned as a suitable product.

陰極には、導電性の金属やステンレスやカーボン電極等が用いられ、例えば不溶性のチタンや白金を用いることができ、チタンを白金でコーティングしたものであってもよい。または、陽極と同じ材料を利用してもよい。   For the cathode, a conductive metal, stainless steel, carbon electrode, or the like is used. For example, insoluble titanium or platinum can be used, and titanium may be coated with platinum. Alternatively, the same material as the anode may be used.

陽極と陰極の間の電極間距離は、特に指定されないが、10mm〜50mmが望ましい。陽極と陰極の間の電極間距離が50mmより広くなると、液抵抗による電圧降下が発生し、液温上昇を生じさせるため好ましくない。また、陽極(以下、「アノード」ともいう。)と陰極(以下、「カソード」ともいう。)の間の電極間距離が10mmより狭くなると、電極間での接触・ショートが発生しやすくなるため好ましくない。   The distance between the anode and the cathode is not particularly specified, but is preferably 10 mm to 50 mm. If the distance between the anode and the cathode is greater than 50 mm, a voltage drop due to the liquid resistance occurs, which increases the liquid temperature, which is not preferable. Further, when the distance between the electrodes between the anode (hereinafter also referred to as “anode”) and the cathode (hereinafter also referred to as “cathode”) becomes narrower than 10 mm, contact / short circuit between the electrodes is likely to occur. It is not preferable.

水酸化インジウム粉は、電解反応を利用して得る。水酸化インジウム粉の製造方法は、先ず、水酸化インジウム粉を含む電解液(以下、「電解スラリー」ともいう。)を得る生成工程を行う。生成工程では、金属インジウムをアノードとし、対極のカソードに導電性の金属やカーボン電極を使用し、陽極及び陰極を電解液に浸漬して両極間に電流を流すことで陽極金属が溶解し、水酸化インジウム粉が晶析して、水酸化インジウム粉を含む電解液からなる電解スラリーを得る。   Indium hydroxide powder is obtained using an electrolytic reaction. In the production method of indium hydroxide powder, first, a production step of obtaining an electrolytic solution containing indium hydroxide powder (hereinafter also referred to as “electrolytic slurry”) is performed. In the production process, indium metal is used as an anode, a conductive metal or carbon electrode is used for the cathode of the counter electrode, the anode and cathode are immersed in an electrolytic solution, and an electric current is passed between both electrodes to dissolve the anode metal, Indium oxide powder crystallizes to obtain an electrolytic slurry made of an electrolytic solution containing indium hydroxide powder.

生成工程S1では、電解液として、水溶性の硝酸塩、硫酸塩、塩化物塩等の一般的な電解質塩の水溶液を用いることができる。生成工程では、それらの中でも、硝酸アンモニウム水溶液を用いる。硝酸アンモニウム水溶液は、水酸化インジウム粉を沈殿した後の乾燥、仮焼後に硝酸イオン及びアンモニウムイオンが窒素化合物として除去されて不純物として残らず、生成される水酸化インジウム粉の純度を高め、且つコストを削減することができる。   In the production step S1, an aqueous solution of a general electrolyte salt such as a water-soluble nitrate, sulfate, or chloride salt can be used as the electrolyte. Among them, an ammonium nitrate aqueous solution is used in the generation process. Ammonium nitrate aqueous solution, after drying indium hydroxide powder, drying and calcining, nitrate ions and ammonium ions are removed as nitrogen compounds and do not remain as impurities, increase the purity of the indium hydroxide powder produced and Can be reduced.

本実施の形態に係る水酸化インジウム粉の製造方法では、生成工程S1において、電解液のpHが2.5〜4.0、液温が20℃〜60℃の範囲で、所定時間電解して電解スラリーを作製する。   In the production method of indium hydroxide powder according to the present embodiment, in the production step S1, the electrolytic solution is electrolyzed for a predetermined time in the range of pH of 2.5 to 4.0 and liquid temperature of 20 ° C to 60 ° C. An electrolytic slurry is prepared.

生成工程S1では、電解液のpHが2.5〜4.0の範囲に制御される。電解液のpHが2.5より小さい場合には、電解液に対する水酸化インジウム粉の溶解度が10−3mol/L以上となってしまい、水酸化物の沈殿が生じにくくなってしまう。また、電解液のpHが4.0よりも大きい場合には、電解液に対する水酸化インジウム粉の溶解度が10−6mol/L以下となってしまうため、水酸化インジウム粉の粒度分布の幅が広がってしまう。 In the production step S1, the pH of the electrolytic solution is controlled in the range of 2.5 to 4.0. When the pH of the electrolytic solution is smaller than 2.5, the solubility of the indium hydroxide powder in the electrolytic solution is 10 −3 mol / L or more, and the precipitation of hydroxide is difficult to occur. In addition, when the pH of the electrolytic solution is greater than 4.0, the solubility of the indium hydroxide powder in the electrolytic solution is 10 −6 mol / L or less, so the width of the particle size distribution of the indium hydroxide powder is It spreads.

生成工程S1では、電解液の液温が20℃〜60℃の範囲に制御される。電解液の液温が20℃よりも低い場合には、電解液に対する水酸化インジウム粉の溶解度が10−6mol/L以下になってしまい好ましくない。一方、電解液の液温が60℃よりも高い場合には、電解液に対する水酸化インジウム粉の溶解度が10−3mol/L以上になってしまうことにより、粒度分布の幅が広がってしまう。 In production | generation process S1, the liquid temperature of electrolyte solution is controlled by the range of 20 to 60 degreeC. When the temperature of the electrolytic solution is lower than 20 ° C., the solubility of indium hydroxide powder in the electrolytic solution becomes 10 −6 mol / L or less, which is not preferable. On the other hand, when the liquid temperature of the electrolytic solution is higher than 60 ° C., the solubility of the indium hydroxide powder in the electrolytic solution becomes 10 −3 mol / L or more, thereby widening the width of the particle size distribution.

生成工程S1では、電解するための所定時間(以下、「電解通電時間」ともいう。)として、少なくとも3時間以上であることが好ましい。具体的には、電解通電時間は3時間〜24時間であり、水酸化インジウム粉の粒度を均一にすることができる。電解通電時間が3時間より短い場合には、電解通電時間の不足により一次粒子径の成長が十分でなく、次工程である溶解及び再結晶化工程S2において水酸化インジウム粉の電解液中への溶解が増加し、粒度が小径及び不均一になる。一方、電解通電時間が24時間より長い場合には、生産コスト面より好ましくない。   In the production step S1, a predetermined time for electrolysis (hereinafter also referred to as “electrolytic energization time”) is preferably at least 3 hours. Specifically, the electrolysis energization time is 3 hours to 24 hours, and the particle size of the indium hydroxide powder can be made uniform. When the electrolysis energization time is shorter than 3 hours, the primary particle size is not sufficiently grown due to the lack of electrolysis energization time, and in the dissolution and recrystallization step S2, which is the next step, the indium hydroxide powder into the electrolyte solution Dissolution increases and particle size becomes smaller and non-uniform. On the other hand, when the electrolysis energization time is longer than 24 hours, it is not preferable from the viewpoint of production cost.

生成工程S1では、生成された水酸化インジウム粉の溶解度が10−6mol/L〜10−3mol/Lとなるように、電解液を調整することが好ましい。生成工程S1では、生成された水酸化インジウム粉の溶解度を10−6mol/L〜10−3mol/Lの範囲内とすることで、適度に水酸化インジウム粉の一次粒子の成長が促進される。これにより、生成工程S1では、一次粒子の凝集が抑制されるため、粒度分布の幅が広くならず、粒度分布の幅が狭く、粒径が均一な水酸化インジウム粉を得ることができる。 In production | generation process S1, it is preferable to adjust electrolyte solution so that the solubility of the produced | generated indium hydroxide powder may be 10 < -6 > mol / L-10 < -3 > mol / L. In the production step S1, the growth of primary particles of the indium hydroxide powder is moderately promoted by setting the solubility of the produced indium hydroxide powder within the range of 10 −6 mol / L to 10 −3 mol / L. The Thereby, in production | generation process S1, since aggregation of a primary particle is suppressed, the width | variety of a particle size distribution does not become wide, but the width | variety of a particle size distribution is narrow and the indium hydroxide powder with a uniform particle size can be obtained.

水酸化インジウム粉の溶解度が10−6mol/L未満の場合には、アノードから溶け出した金属イオンが核化しやすくなるため、一次粒子径が微細化し過ぎてしまう。その場合には、後の水酸化インジウム粉の分離回収が困難となるため好ましくない。 When the solubility of the indium hydroxide powder is less than 10 −6 mol / L, the metal ions dissolved from the anode are easily nucleated, so that the primary particle diameter becomes too fine. In that case, it becomes difficult to separate and recover the indium hydroxide powder later.

一方、水酸化インジウム粉の溶解度が10−3mol/Lを超える場合には、粒子成長の促進により一次粒子径が大きくなるため、粒子を成長させるほど、成長する粒子と成長しない粒子の間で粒子径の違いが大きくなる。粒子径の違いは、凝集の度合いに影響を与えるため、結果として水酸化インジウム粉の粒度分布の幅が広くなってしまう。水酸化インジウム粉の粒度分布の幅が広くなると、これらを仮焼して得られる酸化インジウム粉の粒度分布の幅も広くなり、これを焼結して得られるスパッタリングターゲットは高密度となり難いため好ましくない。 On the other hand, when the solubility of the indium hydroxide powder exceeds 10 −3 mol / L, the primary particle diameter increases due to the promotion of particle growth. The difference in particle size increases. Since the difference in particle diameter affects the degree of aggregation, as a result, the width of the particle size distribution of the indium hydroxide powder becomes wide. When the width of the particle size distribution of the indium hydroxide powder is widened, the width of the particle size distribution of the indium oxide powder obtained by calcining these is also widened. Absent.

生成工程S1では、電解液である硝酸アンモニウム水溶液の濃度が0.1mol/L〜2.0mol/Lに制御されることが好ましい。硝酸アンモニウム水溶液の濃度が0.1mol/Lより薄いと、電解時の電圧上昇が大きくなり、通電部が発熱したり、電力コストが高くなる等の問題が生じるため好ましくない。硝酸アンモニウム水溶液の濃度が2.0mol/Lより濃くなると、電解液中の水酸化インジウムの溶解度が高くなるため、水酸化インジウム粒子が粗大化し、粒径のばらつきが大きくなるため好ましくない。   In production | generation process S1, it is preferable that the density | concentration of ammonium nitrate aqueous solution which is electrolyte solution is controlled by 0.1 mol / L-2.0 mol / L. If the concentration of the ammonium nitrate aqueous solution is less than 0.1 mol / L, the voltage rise during electrolysis is increased, and problems such as heating of the energizing part and an increase in power cost are undesirable. When the concentration of the ammonium nitrate aqueous solution is higher than 2.0 mol / L, the solubility of indium hydroxide in the electrolytic solution is increased, so that the indium hydroxide particles are coarsened and the variation in particle size is increased.

生成工程S1では、電解時の電流密度として、4A/dm〜20A/dmが好ましく、広範囲の電流密度とすることができる。電解時の電流密度が4A/dmより低い場合には、水酸化インジウム粉の生産効率が低下してしまう。一方、電解時の電流密度が20A/dmを超える場合には、電解液の上昇、陽極(金属インジウム)の表面に不動態化して電解し難くなる等の問題が生じるので好ましくない。 In the production step S1, the current density during electrolysis is preferably 4 A / dm 2 to 20 A / dm 2, and can be a wide range of current densities. When the current density during electrolysis is lower than 4 A / dm 2 , the production efficiency of indium hydroxide powder is lowered. On the other hand, when the current density during electrolysis exceeds 20 A / dm 2 , problems such as an increase in the electrolytic solution and passivation on the surface of the anode (metal indium), which makes electrolysis difficult, are not preferable.

生成工程S1では、電解後の電解スラリーの固形分濃度は、5重量%以上、20重量%以下であることが好ましい。電解スラリーの固形分濃度が5重量%未満の場合には、溶解が促進され、粒径が微小になってしまう。一方、電解スラリーの固形分濃度が20重量%より大きい場合には、結晶成長が進まず、結果として粒度分布の幅が広がり好ましくない。電解スラリーの固形分濃度は、電解液総液量と電解通電時間により、調整することができる。   In production | generation process S1, it is preferable that the solid content concentration of the electrolysis slurry after electrolysis is 5 to 20 weight%. When the solid content concentration of the electrolytic slurry is less than 5% by weight, dissolution is promoted and the particle size becomes minute. On the other hand, when the solid content concentration of the electrolytic slurry is larger than 20% by weight, crystal growth does not proceed, and as a result, the width of the particle size distribution is widened. The solid content concentration of the electrolytic slurry can be adjusted by the total amount of the electrolytic solution and the electrolysis energization time.

なお、電解後の電解スラリーの固形分濃度(重量%)とは、電解液スラリーの重量に対する電解スラリーを乾燥させることにより得られた水酸化インジウム粉の重さの割合をいう。   In addition, solid content concentration (weight%) of the electrolysis slurry after electrolysis means the ratio of the weight of the indium hydroxide powder obtained by drying the electrolysis slurry with respect to the weight of electrolyte solution slurry.

生成工程S1では、電解が終了した後に、電解スラリーが得られる。   In the production step S1, an electrolytic slurry is obtained after the electrolysis is completed.

(1−2)水酸化インジウム粉の溶解及び再結晶化工程
溶解及び再結晶化工程S2では、水酸化インジウム粉の生成工程S1で生成された水酸化インジウム粉を固液分離せず、電解後の電解スラリーを所定の条件下で、溶解及び再結晶化させる。
(1-2) Indium hydroxide powder dissolution and recrystallization step In the dissolution and recrystallization step S2, the indium hydroxide powder produced in the indium hydroxide powder production step S1 is not subjected to solid-liquid separation, but after electrolysis. The electrolytic slurry is dissolved and recrystallized under predetermined conditions.

本実施の形態に係る水酸化インジウム粉の製造方法では、溶解及び再結晶化工程S2において、電解スラリーのpHが2.5〜4.0、液温が20℃〜60℃、保持時間が3時間〜24時間の範囲で撹拌して、電解スラリーを溶解及び再結晶化させる。これにより、生成工程S1で生成した水酸化インジウム粉が溶解及び再結晶化を起こすことで、後述する乾燥工程S4で得られる水酸化インジウム粉の粒度分布の幅が狭くなる。   In the method for producing indium hydroxide powder according to the present embodiment, the pH of the electrolytic slurry is 2.5 to 4.0, the liquid temperature is 20 ° C. to 60 ° C., and the holding time is 3 in the dissolution and recrystallization step S2. The electrolytic slurry is dissolved and recrystallized by stirring in the range of time to 24 hours. Thereby, the width | variety of the particle size distribution of the indium hydroxide powder obtained by drying process S4 mentioned later becomes narrow because the indium hydroxide powder produced | generated by production | generation process S1 raise | generates and recrystallizes.

溶解及び再結晶化工程S2では、電解スラリーのpHが2.5〜4.0に制御される。電解スラリーのpHが2.5未満の場合、水酸化インジウム粉の溶解量が多くなってしまい、収率が低下してしまう。逆に、電解スラリーのpHが4.0よりも大きい場合には、水酸化インジウムの溶解量が低下してしまい、粒度分布の均一性は向上しない。   In the dissolution and recrystallization step S2, the pH of the electrolytic slurry is controlled to 2.5 to 4.0. When the pH of the electrolytic slurry is less than 2.5, the amount of dissolved indium hydroxide powder increases, and the yield decreases. On the contrary, when the pH of the electrolytic slurry is higher than 4.0, the amount of indium hydroxide dissolved is lowered, and the uniformity of the particle size distribution is not improved.

溶解及び再結晶化工程S2では、電解スラリーの液温が20℃〜60℃に制御される。電解スラリーの液温が20℃よりも低い場合、水酸化インジウム粉の溶解度が低下して粒度分布の均一性が向上しないだけでなく、液温を制御するためのコストが高くなってしまう。一方、電解スラリーの液温が60℃よりも高い場合には、水酸化インジウム粉の溶解量が多くなり収率低下を招くだけでなく、再結晶により成長した水酸化インジウムの結晶状態が変化し、この水酸化インジウムの結晶の凝集等により粒度分布の幅が広くなってしまう。   In the dissolution and recrystallization step S2, the liquid temperature of the electrolytic slurry is controlled to 20 ° C to 60 ° C. When the liquid temperature of the electrolytic slurry is lower than 20 ° C., not only the solubility of the indium hydroxide powder is lowered and the uniformity of the particle size distribution is not improved, but also the cost for controlling the liquid temperature is increased. On the other hand, when the temperature of the electrolytic slurry is higher than 60 ° C., not only does the amount of indium hydroxide powder dissolve and the yield decreases, but the crystal state of indium hydroxide grown by recrystallization changes. The width of the particle size distribution becomes wide due to the aggregation of the crystals of indium hydroxide.

次に、溶解及び再結晶化工程S2における溶解及び再結晶化のメカニズムについて述べる。溶解及び再結晶化工程S2では、電解スラリーを上述したpH及び液温の条件下で撹拌することにより、水酸化インジウム粉が飽和状態の電解スラリーに溶解することで、過飽和状態の電解スラリーとなる。そして、溶解及び再結晶化工程S2では、過飽和状態の電解スラリーから、飽和状態の電解スラリーに戻るため、水酸化インジウムの結晶が析出する。その後、溶解及び再結晶化工程S2では、電解スラリーが飽和状態から過飽和状態に変化することを、保持時間内に複数回繰り返す。   Next, the mechanism of dissolution and recrystallization in the dissolution and recrystallization step S2 will be described. In the dissolution and recrystallization step S2, the electrolytic slurry is stirred under the above-described conditions of pH and liquid temperature, so that the indium hydroxide powder is dissolved in the saturated electrolytic slurry, thereby obtaining a supersaturated electrolytic slurry. . In the dissolution and recrystallization step S2, indium hydroxide crystals are precipitated because the supersaturated electrolytic slurry returns to the saturated electrolytic slurry. Thereafter, in the dissolution and recrystallization step S2, the change of the electrolytic slurry from the saturated state to the supersaturated state is repeated a plurality of times within the holding time.

これにより、水酸化インジウムの結晶の溶解及び析出を複数回繰り返される。その結果、本実施の形態に係る水酸化インジウム粉の製造方法では、粒度分布の幅が狭い水酸化インジウム粉を作製することができる。   Thereby, dissolution and precipitation of indium hydroxide crystals are repeated a plurality of times. As a result, in the method for producing indium hydroxide powder according to the present embodiment, indium hydroxide powder having a narrow particle size distribution can be produced.

溶解及び再結晶化工程S2では、保持時間が3時間〜24時間の範囲で撹拌する。ここで、保持時間とは、溶解及び再結晶化工程S2において電解スラリーを撹拌している間、上述したpH及び液温を保持する時間をいう。   In the dissolution and recrystallization step S2, the holding time is agitated in the range of 3 hours to 24 hours. Here, the holding time refers to the time for maintaining the above-described pH and liquid temperature while stirring the electrolytic slurry in the dissolution and recrystallization step S2.

この保持時間は、必要とする水酸化インジウム粉の粒度分布の幅によって、任意に設定することができる。溶解及び再結晶化工程S2では、溶解及び再結晶化時間が長くなるほど、水酸化インジウム粉の粒度分布の幅は狭くなる。   This holding time can be arbitrarily set according to the width of the required particle size distribution of the indium hydroxide powder. In the dissolution and recrystallization step S2, the width of the particle size distribution of the indium hydroxide powder becomes narrower as the dissolution and recrystallization time becomes longer.

しかしながら、保持時間が3時間未満の場合には、溶解及び再結晶化する保持時間が短すぎるため、水酸化インジウム粉の粒度分布の幅は変化しない。一方、保持時間が24時間より長くした場合には、溶解及び再結晶化してもそれ以上の効果は得られず、コストの無駄となる。   However, when the holding time is less than 3 hours, the holding time for dissolution and recrystallization is too short, so the width of the particle size distribution of the indium hydroxide powder does not change. On the other hand, when the holding time is longer than 24 hours, no further effect can be obtained even if dissolution and recrystallization are performed, and costs are wasted.

溶解及び再結晶化工程S2では、溶解及び再結晶化が終了した後に、粒度分布の幅が狭い水酸化インジウム粉を含むスラリー(以下、「溶解及び再結晶化スラリー」ともいう。)が得られる。   In the dissolution and recrystallization step S2, after completion of the dissolution and recrystallization, a slurry containing indium hydroxide powder having a narrow particle size distribution (hereinafter also referred to as “dissolution and recrystallization slurry”) is obtained. .

(1−3)水酸化インジウム粉の回収工程
回収工程S3は、溶解及び再結晶化工程S2で生成された溶解及び再結晶化スラリーに含まれる水酸化インジウム粉を電解液から固液分離し、分離した水酸化インジウム粉を純水で洗浄して再び固液分離して回収する。
(1-3) Recovery process of indium hydroxide powder The recovery process S3 solid-liquid separates the indium hydroxide powder contained in the dissolution and recrystallization slurry generated in the dissolution and recrystallization process S2 from the electrolytic solution, The separated indium hydroxide powder is washed with pure water, and again solid-liquid separated and recovered.

回収工程S3では、溶解及び再結晶化スラリーのpHが5.0〜9.0の範囲内にある状態で固液分離を行う。固液分離前の溶解及び再結晶化スラリーのpHが5.0〜9.0の範囲内でない場合には、pHの調整を行う。   In the recovery step S3, solid-liquid separation is performed in a state where the pH of the dissolved and recrystallized slurry is in the range of 5.0 to 9.0. When the pH of the dissolution and recrystallization slurry before solid-liquid separation is not within the range of 5.0 to 9.0, the pH is adjusted.

固液分離の際に、溶解及び再結晶化スラリーのpHが5.0よりも小さい場合には、生成した沈殿粒子が正電荷を帯びているため反発しあって分散し、粒度が小さ過ぎるので濾過が困難であり、好ましくない。また、インジウムの再溶解も起こり得るので好ましくない。溶解及び再結晶化スラリーのpHが9.0よりも大きい場合には、反対に負電荷による反発が起こるので反発しあって粒度が小さくなり過ぎ、濾過が困難となるので好ましくない。したがって、固液分離の際に、溶解及び再結晶化スラリーのpHを5.0〜9.0の範囲内とすることによって、水酸化インジウム粉がある程度凝集する。これにより、微細な水酸化インジウム粉が濾材を通過せず、容易に濾過することができる。   When the pH of the dissolved and recrystallized slurry is lower than 5.0 during solid-liquid separation, the generated precipitated particles are positively charged and repelled and dispersed, and the particle size is too small. Filtration is difficult and not preferred. Moreover, since remelting of indium may occur, it is not preferable. If the pH of the dissolved and recrystallized slurry is higher than 9.0, it is not preferable because repulsion due to negative charge occurs on the contrary and the repulsion occurs and the particle size becomes too small and filtration becomes difficult. Therefore, in the solid-liquid separation, the indium hydroxide powder is aggregated to some extent by setting the pH of the dissolved and recrystallized slurry within the range of 5.0 to 9.0. Thereby, the fine indium hydroxide powder does not pass through the filter medium and can be easily filtered.

電解液のpHの調整には、アンモニア水を使用するのが好適であり、他にメチルアミンやエチルアミン等の1級アルキルアミン水溶液を使用することもできる。これらアルカリ性水溶液を添加した後の濾過までの時間は任意でよく、撹拌が十分であれば直ちに濾過を開始してよい。   Ammonia water is preferably used for adjusting the pH of the electrolytic solution, and a primary alkylamine aqueous solution such as methylamine or ethylamine can also be used. The time until the filtration after adding these alkaline aqueous solutions may be arbitrary, and if stirring is sufficient, the filtration may be started immediately.

そして、溶解及び再結晶化スラリーのpHが5.0〜9.0の範囲内の状態で、固液分離を行う。固液分離方法は、例えばロータリーフィルタ、遠心分離、フィルタープレス、加圧濾過、減圧濾過、クロスフロー濾過等による濾過を挙げることができ、これらの中でもクロスフロー濾過が好ましい。   Then, solid-liquid separation is performed in a state where the pH of the dissolved and recrystallized slurry is in the range of 5.0 to 9.0. Examples of the solid-liquid separation method include filtration by a rotary filter, centrifugation, filter press, pressure filtration, vacuum filtration, crossflow filtration, and the like, and among these, crossflow filtration is preferable.

濾過には、微小な濾砕のケーキ濾過という方法があり、このケーキ濾過は、濾過の堆積物が適切な濾材となり濾過が進行する。しかしながら、ケーキ層が厚くなるとケーキ層の厚みに反比例してスラリーの濾過時間が延びる欠点がある。これに対して、クロスフロー方式は、ケーキ層を一定厚みでかき分けるので、この掃流効果でケーキ層を薄い一定の厚さに保つことができる。これにより、濾過抵抗がほぼ一定になり、長時間にわたって一定した濾過時間を維持できる。   For the filtration, there is a method of finely pulverizing cake filtration. In this cake filtration, filtration progresses with a filtration deposit as an appropriate filter medium. However, when the cake layer is thick, there is a disadvantage that the filtration time of the slurry is increased in inverse proportion to the thickness of the cake layer. On the other hand, in the cross flow method, the cake layer is scraped at a constant thickness, so that the cake layer can be kept at a thin constant thickness by this scavenging effect. Thereby, the filtration resistance becomes substantially constant, and a constant filtration time can be maintained over a long time.

濾過後の水酸化インジウム粉には、水分量に比例して不純物である硝酸アンモニウムが随伴するため、洗浄が必要である。   Since the indium hydroxide powder after filtration is accompanied by ammonium nitrate, which is an impurity, in proportion to the amount of water, washing is necessary.

洗浄方法としては、例えば連続加圧クロスフローによる循環洗浄や水再分散濾過法がある。循環洗浄は、濾過物を電解スラリーに戻し、濾過された分の水を加えることにより徐々に洗浄を行う方法である。水再分散濾過法は、一旦、濾過した濾滓を水で再分散して濾過する方法である。   As the cleaning method, for example, there are circulating cleaning by continuous pressure cross flow and water redispersion filtration method. Circulating washing is a method of gradually washing by returning the filtrate to the electrolytic slurry and adding the filtered water. The water redispersion filtration method is a method in which a filtered cake is once redispersed with water and filtered.

循環洗浄は、操作が簡便であるという利点を有するが、排水の量が多いという欠点がある。水再分散濾過法は、再分散の手間はかかるが、廃液量が比較的少なくて済むメリットがある。状況に応じて選ぶことができる。   Circulating washing has the advantage that the operation is simple, but has the disadvantage that the amount of waste water is large. The water redispersion filtration method has the merit of requiring a relatively small amount of waste liquid, although it takes time for redispersion. You can choose according to the situation.

クロスフロー方式の濾過装置としては、例えばロータリーフィルター(寿工業株式会社製)が挙げられる。   An example of the cross-flow filtration device is a rotary filter (manufactured by Kotobuki Industries Co., Ltd.).

回収工程S3では、固液分離した後に、水酸化インジウム粉が回収される。   In the recovery step S3, indium hydroxide powder is recovered after solid-liquid separation.

(1−4)水酸化インジウム粉の乾燥工程
乾燥工程S4では、回収工程S3において回収した水酸化インジウム粉の乾燥を所定の条件で行う。
(1-4) Indium hydroxide powder drying step In the drying step S4, the indium hydroxide powder recovered in the recovery step S3 is dried under predetermined conditions.

乾燥工程S4では、乾燥方法として、特に限定されないが、例えばスプレードライヤ、空気対流型乾燥炉、赤外線乾燥炉等の乾燥機で行う。   In drying process S4, although it does not specifically limit as a drying method, For example, it performs with drying machines, such as a spray dryer, an air convection type drying furnace, an infrared drying furnace.

乾燥工程S4では、乾燥条件として、水酸化インジウム粉の水分を除去できれば特に限定されないが、例えば乾燥温度は80℃〜150℃の範囲が好ましい。乾燥温度が80℃よりも低いと、乾燥が不十分となる。一方、乾燥温度が150℃よりも高いと、水酸化インジウムから酸化インジウムに変化してしまい、次工程である酸化インジウム粉の生成工程S5における酸化インジウム粉の粒度分布の調整において不都合となる。   In drying process S4, it will not specifically limit if the water | moisture content of indium hydroxide powder can be removed as drying conditions, For example, the range of 80 to 150 degreeC is preferable for drying temperature. When the drying temperature is lower than 80 ° C., drying becomes insufficient. On the other hand, when the drying temperature is higher than 150 ° C., the indium hydroxide changes to indium oxide, which is inconvenient in adjusting the particle size distribution of the indium oxide powder in the next step, the indium oxide powder generation step S5.

また、乾燥工程S4では、乾燥時間は上述した乾燥温度により異なるが、約10時間〜24時間である。   Moreover, in drying process S4, although drying time changes with the drying temperature mentioned above, it is about 10 hours-24 hours.

以上のように、水酸化インジウム粉の生成工程S1、溶解及び再結晶化工程S2、回収工程S3、乾燥工程S4を有する水酸化インジウム粉の製造方法では、電解液のpHが2.5〜4.0、液温が20℃〜60℃の範囲で、所定時間電解して電解スラリーを作製した後に、電解スラリーのpHが2.5〜4.0、液温が20℃〜60℃、保持時間が3時間〜24時間の範囲で撹拌して、電解スラリーを溶解及び再結晶化させる。これにより、本実施の形態に係る水酸化インジウム粉の製造方法では、粒度分布の幅が狭い水酸化インジウム粉を作製することができる。   As described above, in the method for producing indium hydroxide powder having the indium hydroxide powder production step S1, the dissolution and recrystallization step S2, the recovery step S3, and the drying step S4, the pH of the electrolytic solution is 2.5-4. 0.0. Electrolysis slurry was prepared by electrolysis for a predetermined time in a liquid temperature range of 20 ° C to 60 ° C, and then the pH of the electrolytic slurry was 2.5 to 4.0, and the liquid temperature was maintained at 20 ° C to 60 ° C. The electrolytic slurry is dissolved and recrystallized by stirring for a time ranging from 3 hours to 24 hours. Thereby, in the method for producing indium hydroxide powder according to the present embodiment, indium hydroxide powder having a narrow particle size distribution can be produced.

また、本実施の形態に係る水酸化インジウム粉の製造方法では、電解後の電解スラリーを所定の条件下で溶解及び再結晶化させることによって、特別な設備を必要としない。   Moreover, in the manufacturing method of the indium hydroxide powder which concerns on this Embodiment, an electrolysis slurry after electrolysis is melt | dissolved and recrystallized on predetermined conditions, and a special installation is not required.

さらに、本実施の形態に係る水酸化インジウム粉の製造方法では、水酸化インジウム粉の粒子径が揃っているため、仮焼後は導電性ペースト、透明導電膜塗料等に高分散を発現し、透明導電性薄膜作製用のターゲット材等には高密度を発現する水酸化インジウム粉を得ることができる。   Furthermore, in the method for producing indium hydroxide powder according to the present embodiment, since the particle diameter of indium hydroxide powder is uniform, after calcination, high dispersion is expressed in the conductive paste, transparent conductive film paint, etc. An indium hydroxide powder exhibiting high density can be obtained as a target material for producing a transparent conductive thin film.

(1−5)酸化インジウム粉の生成工程
酸化インジウム粉の生成工程S5では、乾燥工程S4による乾燥後の水酸化インジウム粉を仮焼して酸化インジウム粉を生成する。仮焼条件は、適宜決定するが、例えば仮焼温度を600℃〜800℃、仮焼時間を1時間〜10時間で行うことが好ましい。
(1-5) Production process of indium oxide powder In the production process S5 of indium oxide powder, the indium hydroxide powder after drying in the drying process S4 is calcined to produce indium oxide powder. The calcination conditions are appropriately determined. For example, the calcination temperature is preferably 600 to 800 ° C., and the calcination time is preferably 1 to 10 hours.

仮焼温度が600℃よりも低いと、酸化インジウム粉のBET値が15m/gを超えてしまい、一次粒子が小さすぎるために、凝集性を有する粉末となる。これにより、得られた酸化インジウム粉では、高密度の焼結材料、例えば酸化インジウムスズ(ITO)焼結材料を得ることができない。仮焼温度が800℃より高いと、酸化インジウム粉のBET値が10m/g未満になり、一次粒子径が大きくなり、粒子間に生じる空孔も大きくなるため、焼結性が低下する。これにより、得られた酸化インジウム粉では、高密度の焼結材料を得ることができない。したがって、高密度の焼結材料を得るためには、仮焼温度を600℃〜800℃の範囲とすることが好ましい。 When the calcining temperature is lower than 600 ° C., the BET value of the indium oxide powder exceeds 15 m 2 / g, and the primary particles are too small, so that the powder has cohesive properties. Thereby, with the obtained indium oxide powder, a high-density sintered material, for example, indium tin oxide (ITO) sintered material cannot be obtained. When the calcination temperature is higher than 800 ° C., the BET value of the indium oxide powder is less than 10 m 2 / g, the primary particle diameter is increased, and the voids generated between the particles are increased, so that the sinterability is lowered. Thereby, with the obtained indium oxide powder, a high-density sintered material cannot be obtained. Therefore, in order to obtain a high-density sintered material, it is preferable to set the calcining temperature in the range of 600 ° C to 800 ° C.

得られた酸化インジウム粉は、比表面積のBET値が10m/g〜15m/gの範囲内に制御されており、粒度分布の累積粒度10%径(D10)が0.3μm以上、累積粒度90%径(D90)が1.1μm以下である。また、累積粒度90%径(D90)と累積粒度10%径(D10)の絶対値の差が、0.4μm以上、0.7μm以下である。このような酸化インジウム粉は、比表面積が制御されており、分散性が良く、凝集が少ないため、高密度の焼結材料を生成することができる。 The obtained indium oxide powder has a BET value of specific surface area is controlled within a range of 10m 2 / g~15m 2 / g, cumulative particle size of 10% the diameter of the particle size distribution (D10) is 0.3μm or more, cumulative The 90% particle size (D90) is 1.1 μm or less. The difference between the absolute values of the 90% cumulative particle size (D90) and the 10% cumulative particle size (D10) is 0.4 μm or more and 0.7 μm or less. Such indium oxide powder has a controlled specific surface area, good dispersibility, and little aggregation, so that a high-density sintered material can be produced.

なお、酸化インジウム粉の生成工程S5では、水酸化インジウム粉をより所望の粒径とするため必要に応じて解砕又は粉砕を行ってもよい。また、この酸化インジウム粉の生成工程S5では、水酸化インジウム粉の電解の際に電解液に硝酸アンモニウム水溶液を用いた場合、硝酸アンモニウムの分解が生じ、酸化インジウム粉への混入を防止することができる。   In addition, in the production | generation process S5 of an indium oxide powder, in order to make an indium hydroxide powder into a more desirable particle size, you may crush or grind | pulverize as needed. Moreover, in this indium oxide powder production | generation process S5, when ammonium nitrate aqueous solution is used for electrolyte solution in the case of electrolysis of indium hydroxide powder, decomposition | disassembly of ammonium nitrate arises and it can prevent mixing in indium oxide powder.

以上のように、インジウムを含む陽極を用いた電解反応により水酸化インジウム粉を得る酸化インジウム粉の製造方法において、電解液のpHが2.5〜4.0、液温が20℃〜60℃の範囲で、所定時間電解して電解スラリーを作製した後に、電解スラリーのpHが2.5〜4.0、液温が20℃〜60℃、保持時間が3時間〜24時間の範囲で撹拌して、電解スラリーを溶解及び再結晶化させる。これにより、本実施の形態に係る酸化インジウム粉の製造方法では、比表面積が制御された分散性の良い酸化インジウム粉を作製することができる。   As described above, in the method for producing indium oxide powder, in which an indium hydroxide powder is obtained by an electrolytic reaction using an anode containing indium, the pH of the electrolyte is 2.5 to 4.0, and the temperature of the solution is 20 ° C. to 60 ° C. In this range, after electrolysis for a predetermined time to prepare an electrolytic slurry, the electrolytic slurry has a pH of 2.5 to 4.0, a liquid temperature of 20 ° C. to 60 ° C., and a holding time of 3 hours to 24 hours. Then, the electrolytic slurry is dissolved and recrystallized. Thereby, in the manufacturing method of the indium oxide powder which concerns on this Embodiment, the dispersible indium oxide powder with which the specific surface area was controlled can be produced.

2.スパッタリングターゲットの製造方法
スパッタリングターゲットの製造方法は、先ず、上述した酸化インジウム粉の製造方法により得られた酸化インジウム粉を酸化スズ粉等のターゲットの他の原料と所定の割合で混合し造粒粉を作製する。次に、造粒粉を用いて例えばコードプレス法により成型体を作製する。次に、成型体を大気圧下で例えば1300℃〜1600℃の温度範囲内で焼結を行う。次に、必要に応じて、焼結体の平面や側面を研磨する等の加工を行う。そして、焼結体をCu製のバッキングプレートにボンディングすることにより、酸化インジウムスズスパッタリングターゲット(ITOスパッタリングターゲット)を得ることができる。
2. Sputtering target manufacturing method The sputtering target manufacturing method is as follows. First, indium oxide powder obtained by the above-described indium oxide powder manufacturing method is mixed with other raw materials of the target such as tin oxide powder in a predetermined ratio, and granulated powder. Is made. Next, a molded body is produced by using, for example, a code press method using the granulated powder. Next, the molded body is sintered in the temperature range of 1300 ° C. to 1600 ° C., for example, under atmospheric pressure. Next, processing such as polishing the flat surface and side surfaces of the sintered body is performed as necessary. Then, the indium tin oxide sputtering target (ITO sputtering target) can be obtained by bonding the sintered body to a Cu backing plate.

スパッタリングターゲットの製造方法では、原料となる酸化インジウム粉の比表面積が制御されており、分散性が良いものであるため、高密度の焼結体を得ることができ、スパッタリングターゲットの密度を高くすることできる。これにより、スパッタリングターゲットは、加工中に割れ欠けが生じず、スパッタの際に異常放電が発生することも抑制できる。   In the sputtering target manufacturing method, the specific surface area of the indium oxide powder as a raw material is controlled and the dispersibility is good, so that a high-density sintered body can be obtained and the density of the sputtering target is increased. I can. Thereby, a crack target does not arise in a sputtering target during a process, but it can also suppress that abnormal discharge generate | occur | produces in the case of sputtering.

以上のように、スパッタリングターゲットの製造方法において、上述した酸化インジウム粉を用いることで高密度の焼結体が得られることができる。   As described above, in the sputtering target manufacturing method, a high-density sintered body can be obtained by using the above-described indium oxide powder.

以下、本発明を適用した具体的な実施例について説明するが、本発明は、これらの実施例に限定されるものではない。   Specific examples to which the present invention is applied will be described below, but the present invention is not limited to these examples.

<実施例1>
電解槽(長さ50cm×幅40cm×高さ50cm)には、巾26cm、高さ40cm、厚み4mmのチタン金属板からなる陰極4枚と、純度99.999%のインジウム金属を巾26cm、高さ40cm、厚み8mmの板状に成型した陽極3枚を交互に配置し、pHを3.5に調整した液温40℃、1.0mol/Lの硝酸アンモニウム水溶液を90L入れたものを用意した。陰極と陽極の間の距離は2.0cmに調節した。生成工程では、アノード電流密度を15A/dm(槽電流936A)に調節して6時間実施した。
<Example 1>
In the electrolytic cell (length 50 cm × width 40 cm × height 50 cm), four cathodes made of a titanium metal plate having a width of 26 cm, a height of 40 cm and a thickness of 4 mm, and indium metal having a purity of 99.999%, a height of 26 cm, Three anodes molded into a plate shape having a thickness of 40 cm and a thickness of 8 mm were alternately arranged, and a solution containing 90 L of 1.0 mol / L ammonium nitrate aqueous solution prepared at a liquid temperature of 40 ° C. adjusted to pH 3.5 was prepared. The distance between the cathode and the anode was adjusted to 2.0 cm. In the production step, the anode current density was adjusted to 15 A / dm 2 (battery current 936 A), and was carried out for 6 hours.

実施例1では、生成工程における電解終了後に、電解槽から電解スラリーを採取し、水酸化インジウム粉の固形分濃度を測定した。   In Example 1, after completion of electrolysis in the production step, an electrolytic slurry was collected from the electrolytic cell, and the solid content concentration of the indium hydroxide powder was measured.

溶解及び再結晶化工程では、生成工程における電解終了後に、水酸化インジウム粉が析出した電解液を、pH2.5、液温20℃で、撹拌しながら16時間、溶解及び再結晶化させた。その後、回収工程では、濾過・水洗を2回行った。そして、乾燥工程では、110℃で15時間乾燥することにより、水酸化インジウム粉を得た。酸化インジウム粉の生成工程では、得られた水酸化インジウム粉を750℃で4時間仮焼を行い、酸化インジウム粉を得た。なお、実施例1では、得られた水酸化インジウム粉及び酸化インジウム粉の粒度分布を、レーザー回折式粒度分布測定機(SALD−2200、株式会社島津製作所製)を用いてそれぞれ測定した。   In the dissolution and recrystallization step, after completion of electrolysis in the production step, the electrolyte solution in which the indium hydroxide powder was deposited was dissolved and recrystallized with stirring at pH 2.5 and a liquid temperature of 20 ° C. for 16 hours. Thereafter, in the recovery step, filtration and washing were performed twice. In the drying step, indium hydroxide powder was obtained by drying at 110 ° C. for 15 hours. In the production process of indium oxide powder, the obtained indium hydroxide powder was calcined at 750 ° C. for 4 hours to obtain indium oxide powder. In Example 1, the particle size distribution of the obtained indium hydroxide powder and indium oxide powder was measured using a laser diffraction particle size distribution analyzer (SALD-2200, manufactured by Shimadzu Corporation).

また、実施例1では、酸化インジウム粉の比表面積を、比表面積測定装置(製品名:macsorb1210、株式会社マウンテック製)を用いて、BET値(気体吸着法)として測定した。   Moreover, in Example 1, the specific surface area of the indium oxide powder was measured as a BET value (gas adsorption method) using a specific surface area measurement device (product name: macsorb 1210, manufactured by Mountec Co., Ltd.).

実施例1では、得られた酸化インジウム粉967gに酸化スズ粉33gを混合した後に、コールドプレス法により成形体を得て大気圧下、1400℃、30時間で焼結し、酸化インジウムスズの焼結体を作製した。焼結体の相対密度は、アルキメデス法により測定した。   In Example 1, 967 g of the obtained indium oxide powder was mixed with 33 g of tin oxide powder, and then a molded body was obtained by a cold press method and sintered at 1400 ° C. for 30 hours under atmospheric pressure. A ligature was prepared. The relative density of the sintered body was measured by the Archimedes method.

<実施例2乃至8>
実施例2乃至8では、電解条件を実施例1と同様にして電解スラリーを生成した。また、実施例2乃至8では、各実施例で得られた電解スラリーの溶解及び再結晶化工程の条件を表1に示すように調整して、水酸化インジウム粉及び酸化インジウム粉を作製した。さらに、実施例2乃至8では、各実施例で得られた酸化インジウム粉を用いること以外は実施例1と同様にして焼結体を作製した。
<Examples 2 to 8>
In Examples 2 to 8, electrolytic slurry was produced in the same manner as in Example 1 for electrolysis conditions. In Examples 2 to 8, the conditions of the electrolytic slurry dissolution and recrystallization steps obtained in each Example were adjusted as shown in Table 1 to produce indium hydroxide powder and indium oxide powder. Further, in Examples 2 to 8, sintered bodies were produced in the same manner as in Example 1 except that the indium oxide powder obtained in each Example was used.

<実施例9,10>
実施例9,10では、電解後の電解スラリーの固形分濃度が表1に示す値になるように、生成工程における電解時間を調整して、電解スラリーを生成した。また、実施例9,10では、各実施例で得られた電解スラリーの溶解及び再結晶化工程の条件を表1に示すように調整して、水酸化インジウム粉及び酸化インジウム粉を作製した。さらに、実施例9,10では、各実施例で得られた酸化インジウム粉を用いること以外は実施例1と同様にして焼結体を作製した。
<Examples 9 and 10>
In Examples 9 and 10, the electrolysis slurry was produced by adjusting the electrolysis time in the production process so that the solid content concentration of the electrolysis slurry after electrolysis was a value shown in Table 1. In Examples 9 and 10, the conditions of the dissolution and recrystallization process of the electrolytic slurry obtained in each Example were adjusted as shown in Table 1 to produce indium hydroxide powder and indium oxide powder. Further, in Examples 9 and 10, sintered bodies were produced in the same manner as in Example 1 except that the indium oxide powder obtained in each Example was used.

以下、実施例1乃至10について、水酸化インジウム粉の粒度分布及び比較例1を基準とする割合を表1に示した。ここで、比較例1を基準とする割合(%)とは、各実施例1乃至10における電解後の水酸化インジウム粉の回収率に対して、比較例1における電解後の水酸化インジウム粉の回収率を基準とした場合に、算出される百分率をいう。また、実施例1乃至10について、酸化インジウム粉の粒度分布及びBET値、並びに焼結体の相対密度を表1に示した。   Hereinafter, for Examples 1 to 10, the particle size distribution of indium hydroxide powder and the ratio based on Comparative Example 1 are shown in Table 1. Here, the ratio (%) based on Comparative Example 1 is the ratio of the indium hydroxide powder after electrolysis in Comparative Example 1 to the recovery rate of indium hydroxide powder after electrolysis in each of Examples 1 to 10. The percentage calculated when the recovery rate is used as a reference. Moreover, about Example 1 thru | or 10, the particle size distribution and BET value of indium oxide powder, and the relative density of the sintered compact were shown in Table 1.

<比較例1乃至7>
比較例1乃至7では、電解条件を実施例1と同様にして電解スラリーを作製した。また、比較例1では、表1に示すように、溶解及び再結晶化工程を行わなかったこと以外実施例1と同様に、水酸化インジウム粉及び酸化インジウム粉を作成した。また、比較例2乃至7では、各比較例で得られた電解スラリーの溶解及び再結晶化工程の条件を表1に示すように調整して、水酸化インジウム粉及び酸化インジウム粉を作製した。さらに、比較例1乃至7では、各比較例で得られた酸化インジウム粉を用いること以外は実施例1と同様にして焼結体を作製した。
<Comparative Examples 1 to 7>
In Comparative Examples 1 to 7, electrolytic slurry was produced in the same electrolytic conditions as in Example 1. In Comparative Example 1, as shown in Table 1, indium hydroxide powder and indium oxide powder were prepared in the same manner as in Example 1 except that the dissolution and recrystallization steps were not performed. In Comparative Examples 2 to 7, the conditions of the electrolytic slurry dissolution and recrystallization process obtained in each Comparative Example were adjusted as shown in Table 1 to produce indium hydroxide powder and indium oxide powder. Further, in Comparative Examples 1 to 7, sintered bodies were produced in the same manner as in Example 1 except that the indium oxide powder obtained in each Comparative Example was used.

<比較例8,9>
比較例8,9では、電解後の電解スラリーの固形分濃度が表1に示す値になるように、生成工程における電解時間を調整して、電解スラリーを作製した。また、比較例8,9では、各比較例で得られた電解スラリーの溶解及び再結晶化工程の条件を表1に示すように調整して、水酸化インジウム粉及び酸化インジウム粉を作製した。さらに、比較例8,9では、各比較例で得られた酸化インジウム粉を用いること以外は実施例1と同様にして焼結体を作製した。
<Comparative Examples 8 and 9>
In Comparative Examples 8 and 9, the electrolytic slurry was prepared by adjusting the electrolysis time in the production step so that the solid content concentration of the electrolytic slurry after electrolysis would be the value shown in Table 1. In Comparative Examples 8 and 9, the conditions of the electrolytic slurry dissolution and recrystallization steps obtained in each Comparative Example were adjusted as shown in Table 1 to produce indium hydroxide powder and indium oxide powder. Further, in Comparative Examples 8 and 9, sintered bodies were produced in the same manner as in Example 1 except that the indium oxide powder obtained in each Comparative Example was used.

以下、比較例1乃至9について、水酸化インジウム粉の粒度分布及び比較例1を基準とする割合を表1に示した。なお、比較例1を基準とする割合(%)とは、各比較例2乃至9における電解後の水酸化インジウム粉の回収率に対して、比較例1における電解後の水酸化インジウム粉の回収率を基準とした場合に、算出される百分率をいう。また、比較例1乃至9について、酸化インジウム粉の粒度分布及びBET値、並びに焼結体の相対密度を表1に示した。   Hereinafter, for Comparative Examples 1 to 9, the particle size distribution of the indium hydroxide powder and the ratio based on Comparative Example 1 are shown in Table 1. The ratio (%) based on Comparative Example 1 is the recovery rate of indium hydroxide powder after electrolysis in Comparative Example 1 with respect to the recovery rate of indium hydroxide powder after electrolysis in Comparative Examples 2 to 9. The percentage calculated when the rate is used as a reference. For Comparative Examples 1 to 9, the particle size distribution and BET value of indium oxide powder and the relative density of the sintered body are shown in Table 1.

Figure 0006314904
Figure 0006314904

実施例1乃至10では、表1に示すように、生成した水酸化インジウム粉を使用し、仮焼後、BET値が10m/g〜15m/gの範囲であり、粒度分布が0.3μm以上1.1μm以下であり、粒度分布の幅が狭い酸化インジウム粉が得られた。 In Examples 1 to 10, as shown in Table 1, using the resulting indium hydroxide powder, after calcination, in the range BET value is 10m 2 / g~15m 2 / g, particle size distribution 0. An indium oxide powder having a width of 3 μm or more and 1.1 μm or less and a narrow particle size distribution was obtained.

一方、比較例1乃至9では、BET値が10m/g〜15m/gの範囲であり、粒度分布が0.3μm以上1.1μm以下である粒度分布の幅が狭い酸化インジウム粉が得られなかった。 On the other hand, in Comparative Examples 1 to 9, in the range BET value is 10m 2 / g~15m 2 / g, the width of the particle size distribution the particle size distribution is 0.3μm or more 1.1μm or less narrow indium oxide powder obtained I couldn't.

そして、実施例1乃至10では、焼結体の相対密度が99.0%を超え、比較例1乃至9と比べて焼結体の相対密度が極めて高密度となった。   In Examples 1 to 10, the relative density of the sintered body exceeded 99.0%, and the relative density of the sintered body was extremely high compared to Comparative Examples 1 to 9.

以上より、電解液として硝酸アンモニウム水溶液に、インジウムを含む陽極を用いた電解反応により水酸化インジウム粉を得る水酸化インジウム粉の製造方法であって、電解液のpHが2.5〜4.0、液温が20℃〜60℃の範囲で、所定時間電解して電解スラリーを作製した後に、電解スラリーのpHが2.5〜4.0、液温が20℃〜60℃、保持時間が3時間〜24時間の範囲で撹拌して、溶解及び再結晶化させることにより、粒度分布の幅が狭い水酸化インジウム粉を得ることを確認した。そして、その水酸化インジウム粉を用いることで、比表面積が制御され、分散性の良い酸化インジウム粉を得ることも確認した。さらに、その酸化インジウム粉を用いることで高密度の焼結体を得ることも確認した。   As mentioned above, it is a manufacturing method of indium hydroxide powder which obtains indium hydroxide powder by electrolytic reaction using an anode containing indium in an ammonium nitrate aqueous solution as an electrolytic solution, and the pH of the electrolytic solution is 2.5 to 4.0, After the electrolytic temperature is electrolyzed for a predetermined time in a liquid temperature range of 20 ° C to 60 ° C, the electrolytic slurry has a pH of 2.5 to 4.0, a liquid temperature of 20 ° C to 60 ° C, and a holding time of 3 It was confirmed that indium hydroxide powder having a narrow particle size distribution width was obtained by stirring and dissolving and recrystallizing in the range of time to 24 hours. It was also confirmed that by using the indium hydroxide powder, the specific surface area was controlled and indium oxide powder with good dispersibility was obtained. It was also confirmed that a high-density sintered body was obtained by using the indium oxide powder.

Claims (5)

電解液として硝酸アンモニウム水溶液に、インジウムを含む陽極を用いた電解反応により水酸化インジウム粉を得る水酸化インジウム粉の製造方法であって、
上記電解液のpHが2.5〜4.0、液温が20℃〜60℃の範囲で、所定時間電解して水酸化インジウム粉を含む電解スラリーを作製する生成工程と、
上記電解スラリーのpHが2.5〜4.0、液温が20℃〜60℃、保持時間が3時間〜24時間の範囲で撹拌して、該電解スラリーを溶解及び再結晶化させる溶解及び再結晶化工程とを有し、
上記生成工程における上記電解スラリーの固形分濃度が5重量%以上、20重量%以下に制御されることを特徴とする水酸化インジウム粉の製造方法。
A method for producing indium hydroxide powder by obtaining an indium hydroxide powder by an electrolytic reaction using an anode containing indium in an aqueous ammonium nitrate solution as an electrolytic solution,
A production step of producing an electrolytic slurry containing indium hydroxide powder by electrolysis for a predetermined time in a pH range of 2.5 to 4.0 and a liquid temperature of 20 ° C. to 60 ° C.
The electrolytic slurry having a pH of 2.5 to 4.0, a liquid temperature of 20 ° C. to 60 ° C., and a holding time of 3 hours to 24 hours are stirred to dissolve and recrystallize the electrolytic slurry. A recrystallization step ,
The method for producing indium hydroxide powder, wherein the solid content concentration of the electrolytic slurry in the generating step is controlled to 5 wt% or more and 20 wt% or less .
上記生成工程では、上記所定時間が少なくとも3時間以上で電解することを特徴とする請求項1に記載の水酸化インジウム粉の製造方法。 In the above generation method of manufacturing an indium hydroxide powder according to claim 1, characterized in that the predetermined time is electrolyzed in at least 3 hours or more. 上記溶解及び再結晶化工程では、上記電解スラリーが飽和状態から過飽和状態に変化することを、上記保持時間内に複数回繰り返すことを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の水酸化インジウム粉の製造方法。 3. The indium hydroxide according to claim 1, wherein in the dissolution and recrystallization step, the electrolytic slurry is changed from a saturated state to a supersaturated state a plurality of times within the holding time. Powder manufacturing method. 請求項1乃至請求項のいずれか1項に記載の水酸化インジウム粉の製造方法により得られた水酸化インジウム粉を仮焼して酸化インジウム粉を得る酸化インジウム粉の製造方法であって、
上記水酸化インジウム粉の粒度分布の最大値と最小値の差は0.7μm以下であり、
上記仮焼を、600℃〜800℃で1時間〜10時間行うことを特徴とする酸化インジウム粉の製造方法
A method for producing indium oxide powder, wherein the indium hydroxide powder obtained by the method for producing indium hydroxide powder according to any one of claims 1 to 3 is calcined to obtain indium oxide powder ,
The difference between the maximum value and the minimum value of the particle size distribution of the indium hydroxide powder is 0.7 μm or less,
A method for producing indium oxide powder, wherein the calcining is performed at 600 ° C to 800 ° C for 1 hour to 10 hours .
スパッタリングターゲットの製造方法であって、A method for producing a sputtering target, comprising:
請求項4に記載の酸化インジウム粉の製造方法により得られた酸化インジウム粉と、酸化スズ粉を所定の割合で混合し、Indium oxide powder obtained by the method for producing indium oxide powder according to claim 4 and tin oxide powder are mixed at a predetermined ratio,
上記混合により得られた造粒粉をコールドプレス法で成形し、The granulated powder obtained by the above mixing is molded by a cold press method,
上記成形により得られた成形体を大気圧下で1300℃〜1600℃で焼結し、The molded body obtained by the above molding is sintered at 1300 ° C. to 1600 ° C. under atmospheric pressure,
上記焼結により得られた焼結体の平面や側面を研磨することを特徴とするスパッタリングターゲットの製造方法。A method for producing a sputtering target, comprising polishing a flat surface and a side surface of a sintered body obtained by the sintering.
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