JP6330566B2 - Circuit device and electronic device - Google Patents
Circuit device and electronic device Download PDFInfo
- Publication number
- JP6330566B2 JP6330566B2 JP2014163409A JP2014163409A JP6330566B2 JP 6330566 B2 JP6330566 B2 JP 6330566B2 JP 2014163409 A JP2014163409 A JP 2014163409A JP 2014163409 A JP2014163409 A JP 2014163409A JP 6330566 B2 JP6330566 B2 JP 6330566B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- transistor
- voltage
- resistance
- switch
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 121
- 230000003213 activating effect Effects 0.000 claims 1
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 10
- 102100030621 Carboxypeptidase A4 Human genes 0.000 description 9
- FLEHQRTTWKDNGI-XTJILODYSA-N (1s,3r)-5-[(2e)-2-[(7ar)-1-[(2s)-5-(cyclopropylamino)pentan-2-yl]-7a-methyl-2,3,3a,5,6,7-hexahydro-1h-inden-4-ylidene]ethylidene]-2-methylidenecyclohexane-1,3-diol Chemical compound C([C@H](C)C1[C@]2(CCCC(/C2CC1)=C\C=C1C[C@@H](O)C(=C)[C@@H](O)C1)C)CCNC1CC1 FLEHQRTTWKDNGI-XTJILODYSA-N 0.000 description 8
- 102100030613 Carboxypeptidase A1 Human genes 0.000 description 8
- 102100035024 Carboxypeptidase B Human genes 0.000 description 8
- 101000772551 Homo sapiens Carboxypeptidase A1 Proteins 0.000 description 8
- 101000946524 Homo sapiens Carboxypeptidase B Proteins 0.000 description 8
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 8
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 8
- 102100030614 Carboxypeptidase A2 Human genes 0.000 description 7
- 101150070410 DGD1 gene Proteins 0.000 description 7
- 101150011858 DGD2 gene Proteins 0.000 description 7
- 108091006675 Monovalent cation:proton antiporter-2 Proteins 0.000 description 7
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 7
- 101000772572 Homo sapiens Carboxypeptidase A4 Proteins 0.000 description 5
- 101100007538 Neurospora crassa (strain ATCC 24698 / 74-OR23-1A / CBS 708.71 / DSM 1257 / FGSC 987) cpc-1 gene Proteins 0.000 description 5
- 108091006676 Monovalent cation:proton antiporter-3 Proteins 0.000 description 4
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 4
- 230000006378 damage Effects 0.000 description 4
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 4
- 101150037468 CPD1 gene Proteins 0.000 description 3
- 101100108853 Mus musculus Anp32e gene Proteins 0.000 description 3
- 101100221809 Neurospora crassa (strain ATCC 24698 / 74-OR23-1A / CBS 708.71 / DSM 1257 / FGSC 987) cpd-7 gene Proteins 0.000 description 3
- 101100165815 Oryza sativa subsp. japonica CYP90A3 gene Proteins 0.000 description 3
- 101100490727 Saccharomyces cerevisiae (strain ATCC 204508 / S288c) AIF1 gene Proteins 0.000 description 3
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 3
- 101150025236 dmaW gene Proteins 0.000 description 3
- 102100035023 Carboxypeptidase B2 Human genes 0.000 description 2
- 101000946518 Homo sapiens Carboxypeptidase B2 Proteins 0.000 description 2
- 101150023172 cpb-3 gene Proteins 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Power Conversion In General (AREA)
- Inverter Devices (AREA)
Description
本発明は、回路装置及び電子機器等に関する。 The present invention relates to a circuit device, an electronic device, and the like.
直流モーターやステッピングモーターを駆動するモータードライバーとして、Hブリッジ回路を用いたものが知られている。このHブリッジ回路は、駆動用の第1〜第4のトランジスター(スイッチ素子)を有し、第1、第4のトランジスターと第2、第3のトランジスターとは、モーターに対して電気的に対角に接続される。そしてチャージ期間では、第1、第4のトランジスターがオンになる。これによりモーターの正極側(+)端子が高電位の電圧に設定され、負極側(−)端子が低電位の電圧に設定される。一方、ディケイ期間では、第2、第3のトランジスターがオンになる。これによりモーターの正極側端子が低電位の電圧に設定され、負極側端子が高電位の電圧に設定される。 As a motor driver for driving a direct current motor or a stepping motor, one using an H bridge circuit is known. This H-bridge circuit has first to fourth transistors (switch elements) for driving, and the first, fourth, second, and third transistors are electrically coupled to the motor. Connected to the corner. In the charge period, the first and fourth transistors are turned on. As a result, the positive side (+) terminal of the motor is set to a high potential voltage, and the negative side (−) terminal is set to a low potential voltage. On the other hand, in the decay period, the second and third transistors are turned on. As a result, the positive terminal of the motor is set to a low potential voltage, and the negative terminal is set to a high potential voltage.
このHブリッジ回路において例えばモーターの故障や端子の短絡等により過電流が流れると、その過電流によってモータードライバーのICが破壊される可能性がある。そのため、モータードライバーには過電流検出回路が設けられる。ブリッジ回路の第1〜第4のトランジスターはオン抵抗を持ち、そのドレインノード(モーターの正極側端子又は負極側端子)にはオン抵抗による電圧降下が生じる。過電流検出回路は、そのドレインノードの電圧降下を監視することで過電流を検出する。即ち、ブリッジ回路に大きな電流が流れるとドレインノードの電圧がオン抵抗により大きく降下するので、過電流検出回路は、その電圧降下が所定値よりも大きくなった場合に過電流が流れたと判定する。このような過電流検出回路の従来技術としては特許文献1に開示された技術がある。
In this H-bridge circuit, if an overcurrent flows due to, for example, a motor failure or a short circuit of a terminal, the IC of the motor driver may be destroyed due to the overcurrent. Therefore, the motor driver is provided with an overcurrent detection circuit. The first to fourth transistors of the bridge circuit have an on-resistance, and a voltage drop due to the on-resistance occurs at the drain node (a positive terminal or a negative terminal of the motor). The overcurrent detection circuit detects an overcurrent by monitoring a voltage drop at the drain node. That is, when a large current flows through the bridge circuit, the voltage at the drain node greatly drops due to the on-resistance. Therefore, the overcurrent detection circuit determines that an overcurrent has flowed when the voltage drop exceeds a predetermined value. As a conventional technique of such an overcurrent detection circuit, there is a technique disclosed in
上記のように過電流の検出にトランジスターのオン抵抗を用いる場合、トランジスターをオフからオンさせる際にオン抵抗が変動し、正確に過電流を検出できないという課題がある。即ち、トランジスターをオフからオンさせる場合には過渡的にゲート電圧が上昇していくが、十分にゲート電圧が上昇していない時点ではオン抵抗は高い。そのため、小さい電流でも電圧降下が大きくなり、実際には小さい電流であるにも関わらず過電流として誤検出し、モータードライバーの動作を停止させる可能性がある。 As described above, when the on-resistance of the transistor is used to detect the overcurrent, there is a problem that the on-resistance varies when the transistor is turned on from off, and the overcurrent cannot be detected accurately. That is, when the transistor is turned on from off, the gate voltage rises transiently, but the on-resistance is high when the gate voltage does not rise sufficiently. Therefore, the voltage drop becomes large even with a small current, and although it is actually a small current, it may be erroneously detected as an overcurrent, and the operation of the motor driver may be stopped.
本発明の幾つかの態様によれば、ブリッジ回路の過電流を正確に検出することが可能な回路装置及び電子機器等を提供できる。 According to some aspects of the present invention, it is possible to provide a circuit device, an electronic device, and the like that can accurately detect an overcurrent of a bridge circuit.
本発明の一態様は、ハイサイド側の第1のトランジスターと、ローサイド側の第2のトランジスターと、を有するブリッジ回路と、前記第1のトランジスターを駆動する第1のドライバー回路と、前記第2のトランジスターを駆動する第2のドライバー回路と、を有するプリドライバーと、前記第1のトランジスターと前記第2のトランジスターの間の第1のノードに一端が接続される第1のスイッチ素子を有するスイッチ回路と、前記第1のドライバー回路の出力に基づいて、前記第1のスイッチ素子のオン・オフを制御する第1のスイッチ制御信号を出力するスイッチング制御回路と、前記第1のスイッチ素子の他端のノードの電圧に基づいて、前記ブリッジ回路の電流を検出する検出回路と、前記ブリッジ回路のオン・オフ制御信号を前記第1のドライバー回路と前記第2のドライバー回路に出力し、前記検出回路により電流が検出された場合に前記ブリッジ回路のオン・オフ動作を停止させる制御回路と、を含み、前記スイッチング制御回路は、前記第1のトランジスターのオン抵抗が所与の第1オン抵抗より小さくなったと判断される場合に、前記第1のスイッチ制御信号をアクティブにする回路装置に関係する。 One embodiment of the present invention includes a bridge circuit including a first transistor on a high side and a second transistor on a low side, a first driver circuit that drives the first transistor, and the second A pre-driver having a second driver circuit for driving the transistor, and a switch having a first switch element having one end connected to a first node between the first transistor and the second transistor A circuit, a switching control circuit that outputs a first switch control signal for controlling on / off of the first switch element based on an output of the first driver circuit, and other than the first switch element A detection circuit for detecting a current of the bridge circuit based on a voltage at an end node; and an on / off control signal of the bridge circuit. A control circuit that outputs to the first driver circuit and the second driver circuit and stops the on / off operation of the bridge circuit when a current is detected by the detection circuit, and the switching control circuit Relates to a circuit arrangement that activates the first switch control signal when it is determined that the on-resistance of the first transistor is less than a given first on-resistance.
本発明の一態様によれば、ブリッジ回路の第1のトランジスターのオン抵抗が所与の第1オン抵抗より小さくなったと判断される場合に、第1のスイッチ制御信号がアクティブになり、スイッチ回路の第1のスイッチ素子がオンになり、第1のトランジスターと第2のトランジスターの間の第1のノードの電圧が第1のスイッチ素子を介して検出回路に入力される。これにより、ブリッジ回路の第1のトランジスターのオン抵抗が所与の第1オン抵抗より小さくなったと判断される場合に過電流の検出が行われることになり、ブリッジ回路の過電流を正確に検出することが可能になる。 According to one aspect of the present invention, the first switch control signal becomes active when it is determined that the on-resistance of the first transistor of the bridge circuit is less than a given first on-resistance, and the switch circuit The first switch element is turned on, and the voltage of the first node between the first transistor and the second transistor is input to the detection circuit via the first switch element. As a result, when it is determined that the on-resistance of the first transistor of the bridge circuit is smaller than the given first on-resistance, the overcurrent is detected, and the overcurrent of the bridge circuit is accurately detected. It becomes possible to do.
また本発明の一態様では、前記第1のトランジスターのゲート・ソース間電圧が最大となるときのオン抵抗をRonM1とし、前記所与の第1オン抵抗をRG1とした場合に、RG1≦2×RonM1であってもよい。 In one embodiment of the present invention, when the on-resistance when the gate-source voltage of the first transistor is maximum is RonM1, and the given first on-resistance is RG1, RG1 ≦ 2 × RonM1 may be used.
第1のトランジスターがオンした直後ではオン抵抗は非常に大きく、小さな電流が流れただけで第1のノードの電圧が大きく降下し、過電流として誤検出する可能性がある。この点、本発明の一態様によれば、スイッチ回路の第1のスイッチ素子がオンしている期間では、ブリッジ回路の第1のトランジスターのオン抵抗は最大でもRonM1の2倍である。RonM1はオン抵抗の最小値なので、その最小値の2倍以下ということである。これにより、第1のトランジスターのオン抵抗が十分小さい状態で過電流を検出することが可能となり、過電流の検出精度が向上する。 Immediately after the first transistor is turned on, the on-resistance is very large, and the voltage at the first node drops greatly when only a small current flows, which may be erroneously detected as an overcurrent. In this regard, according to one aspect of the present invention, the on-resistance of the first transistor of the bridge circuit is at most twice RonM1 during the period when the first switch element of the switch circuit is on. Since RonM1 is the minimum value of the on-resistance, it is less than twice the minimum value. As a result, overcurrent can be detected in a state where the on-resistance of the first transistor is sufficiently small, and the detection accuracy of the overcurrent is improved.
また本発明の一態様では、前記スイッチング制御回路は、前記第1のドライバー回路の出力に基づく電圧と第1の基準電圧とを比較する第1の比較回路を有し、前記第1の比較回路による比較の結果に基づいて前記第1のスイッチ制御信号をアクティブにしてもよい。 In one embodiment of the present invention, the switching control circuit includes a first comparison circuit that compares a voltage based on an output of the first driver circuit with a first reference voltage, and the first comparison circuit. The first switch control signal may be activated based on the result of the comparison.
第1のドライバー回路の出力に応じてブリッジ回路の第1のトランジスターのオン抵抗が変わるので、第1のドライバー回路の出力に基づく電圧と第1の基準電圧とを比較することで、第1のトランジスターのオン抵抗が所与の第1オン抵抗になったことを検出し、第1のスイッチ制御信号をアクティブにできる。 Since the on-resistance of the first transistor of the bridge circuit changes according to the output of the first driver circuit, the voltage based on the output of the first driver circuit is compared with the first reference voltage, so that the first The first switch control signal can be activated by detecting that the on-resistance of the transistor has reached a given first on-resistance.
また本発明の一態様では、前記ブリッジ回路の高電位側電源電圧を基準として、前記第1のトランジスターの閾値電圧をVth1とし、前記第1のトランジスターをオンさせる際に前記第1のドライバー回路が出力する電圧をVDR1とし、前記第1の基準電圧をVref1とする場合に、Vref1=(VDR1−Vth1)/2+Vth1であってもよい。 In one embodiment of the present invention, when the first transistor is turned on by setting the threshold voltage of the first transistor to Vth1 with reference to the high-potential side power supply voltage of the bridge circuit, the first driver circuit When the output voltage is VDR1 and the first reference voltage is Vref1, Vref1 = (VDR1−Vth1) / 2 + Vth1.
第1の基準電圧Vref1は、第1のトランジスターをオンさせるゲート・ソース間電圧VDR1と第1のトランジスターの閾値電圧Vth1の中間の電圧である。本発明の一態様によれば、第1のドライバー回路の出力が、この第1の基準電圧Vref1になったときの第1のトランジスターのオン抵抗が所与の第1オン抵抗に設定される。これにより、第1のトランジスターのオン抵抗が十分小さい状態で過電流を検出することが可能となり、過電流の検出精度が向上する。 The first reference voltage Vref1 is an intermediate voltage between the gate-source voltage VDR1 for turning on the first transistor and the threshold voltage Vth1 of the first transistor. According to one aspect of the present invention, the on-resistance of the first transistor when the output of the first driver circuit becomes the first reference voltage Vref1 is set to a given first on-resistance. As a result, overcurrent can be detected in a state where the on-resistance of the first transistor is sufficiently small, and the detection accuracy of the overcurrent is improved.
また本発明の一態様では、前記スイッチ回路は、前記第1のノードに一端が接続される第2のスイッチ素子を有し、前記検出回路は、前記第2のスイッチ素子の他端のノードの電圧に基づいて前記ブリッジ回路の電流を検出し、前記スイッチング制御回路は、前記第2のスイッチ素子のオン・オフを制御する第2のスイッチ制御信号を出力し、前記第2のトランジスターのオン抵抗が所与の第2オン抵抗より小さくなったと判断される場合に、前記第2のスイッチ制御信号をアクティブにしてもよい。 In one embodiment of the present invention, the switch circuit includes a second switch element having one end connected to the first node, and the detection circuit includes a node at the other end of the second switch element. A current of the bridge circuit is detected based on a voltage, and the switching control circuit outputs a second switch control signal for controlling on / off of the second switch element, and an on-resistance of the second transistor The second switch control signal may be activated when it is determined that is less than a given second on-resistance.
本発明の一態様によれば、ブリッジ回路の第2のトランジスターのオン抵抗が所与の第2オン抵抗より小さくなったと判断される場合に、第2のスイッチ制御信号がアクティブになり、スイッチ回路の第2のスイッチ素子がオンになり、第1のトランジスターと第2のトランジスターの間の第1のノードの電圧が第2のスイッチ素子を介して検出回路に入力される。これにより、ブリッジ回路の第2のトランジスターのオン抵抗が所与の第2オン抵抗より小さくなったと判断される場合に過電流の検出が行われることになり、ブリッジ回路の過電流を正確に検出することが可能になる。 According to one aspect of the present invention, the second switch control signal is activated when it is determined that the on-resistance of the second transistor of the bridge circuit is less than a given second on-resistance, and the switch circuit The second switch element is turned on, and the voltage of the first node between the first transistor and the second transistor is input to the detection circuit via the second switch element. As a result, when it is determined that the on-resistance of the second transistor of the bridge circuit is smaller than the given second on-resistance, the overcurrent is detected, and the overcurrent of the bridge circuit is accurately detected. It becomes possible to do.
また本発明の一態様では、前記第2のトランジスターのゲート・ソース間電圧が最大となるときのオン抵抗をRonM2とし、前記所与の第2オン抵抗をRG2とする場合に、RG2≦2×RonM2であってもよい。 In one embodiment of the present invention, when the on-resistance when the gate-source voltage of the second transistor is maximum is RonM2, and the given second on-resistance is RG2, RG2 ≦ 2 × RonM2 may be used.
第2のトランジスターがオンした直後ではオン抵抗は非常に大きく、小さな電流が流れただけで第1のノードの電圧が大きく上昇し、過電流として誤検出する可能性がある。この点、本発明の一態様によれば、スイッチ回路の第2のスイッチ素子がオンしている期間では、ブリッジ回路の第2のトランジスターのオン抵抗は最大でもRonM2の2倍である。RonM2はオン抵抗の最小値なので、その最小値の2倍以下ということである。これにより、第2のトランジスターのオン抵抗が十分小さい状態で過電流を検出することが可能となり、過電流の検出精度が向上する。 Immediately after the second transistor is turned on, the on-resistance is very large, and the voltage at the first node rises greatly only when a small current flows, which may be erroneously detected as an overcurrent. In this regard, according to one aspect of the present invention, the ON resistance of the second transistor of the bridge circuit is at most twice RonM2 during the period when the second switch element of the switch circuit is ON. Since RonM2 is the minimum value of the on-resistance, it is equal to or less than twice the minimum value. As a result, overcurrent can be detected in a state where the on-resistance of the second transistor is sufficiently small, and the detection accuracy of the overcurrent is improved.
また本発明の一態様では、前記スイッチング制御回路は、前記第2のドライバー回路の出力に基づく電圧と第2の基準電圧とを比較する第2の比較回路を有し、前記第2の比較回路による比較の結果に基づいて前記第2のスイッチ制御信号をアクティブにしてもよい。 In one embodiment of the present invention, the switching control circuit includes a second comparison circuit that compares a voltage based on an output of the second driver circuit with a second reference voltage, and the second comparison circuit. The second switch control signal may be activated based on the result of the comparison.
第2のドライバー回路の出力に応じてブリッジ回路の第2のトランジスターのオン抵抗が変わるので、第2のドライバー回路の出力に基づく電圧と第2の基準電圧とを比較することで、第2のトランジスターのオン抵抗が所与の第2オン抵抗になったことを検出し、第2のスイッチ制御信号をアクティブにできる。 Since the on-resistance of the second transistor of the bridge circuit changes according to the output of the second driver circuit, the voltage based on the output of the second driver circuit is compared with the second reference voltage, so that the second A second switch control signal can be activated by detecting that the on-resistance of the transistor has reached a given second on-resistance.
また本発明の一態様では、前記第2のトランジスターの閾値電圧をVth2とし、前記第2のトランジスターをオンさせる際に前記第2のドライバー回路が出力する電圧をVDR2とし、前記第2の基準電圧をVref2とする場合に、Vref2=(VDR2−Vth2)/2+Vth2であってもよい。 In one embodiment of the present invention, the threshold voltage of the second transistor is set to Vth2, the voltage output from the second driver circuit when the second transistor is turned on is set to VDR2, and the second reference voltage is set. Vref2 may be Vref2 = (VDR2-Vth2) / 2 + Vth2.
第2の基準電圧Vref2は、第2のトランジスターをオンさせる電圧VDR2と第2のトランジスターの閾値電圧Vth2の中間の電圧である。本発明の一態様によれば、第2のドライバー回路の出力が、この第2の基準電圧Vref2になったときの第2のトランジスターのオン抵抗が所与の第2オン抵抗に設定される。これにより、第2のトランジスターのオン抵抗が十分小さい状態で過電流を検出することが可能となり、過電流の検出精度が向上する。 The second reference voltage Vref2 is an intermediate voltage between the voltage VDR2 for turning on the second transistor and the threshold voltage Vth2 of the second transistor. According to one aspect of the present invention, the on-resistance of the second transistor when the output of the second driver circuit becomes the second reference voltage Vref2 is set to a given second on-resistance. As a result, overcurrent can be detected in a state where the on-resistance of the second transistor is sufficiently small, and the detection accuracy of the overcurrent is improved.
また本発明の一態様では、前記検出回路は、前記第1のトランジスターのソースノードの電圧と前記第1のスイッチ素子の他端のノードの電圧との差分が、第1の所定値より大きいか否かを判定する第1の判定回路と、前記第2のスイッチ素子の他端のノードの電圧と前記第2のトランジスターのソースノードの電圧との差分が、第2の所定値より大きいか否かを判定する第2の判定回路と、前記第1の判定回路の出力及び前記第2の判定回路の出力のうち少なくとも1つの出力がアクティブとなった場合に、電流の検出信号をアクティブにする検出信号出力回路と、を有してもよい。 In one embodiment of the present invention, the detection circuit may be configured such that a difference between a voltage at a source node of the first transistor and a voltage at a node at the other end of the first switch element is greater than a first predetermined value. A difference between a voltage at a node at the other end of the second switch element and a voltage at a source node of the second transistor is greater than a second predetermined value. A current detection signal is activated when at least one of the second determination circuit and the output of the first determination circuit and the output of the second determination circuit becomes active. And a detection signal output circuit.
第1の所定値は、第1のトランジスターに流れる過電流の検出値に対応しており、第2の所定値は、第2のトランジスターに流れる過電流の検出値に対応している。本発明の一態様によれば、第1のトランジスターと第2のトランジスターのうち1つでも過電流が流れたと判定された場合に、過電流の検出信号をアクティブにできる。これにより、各トランジスターを過電流による破壊から確実に保護できる。 The first predetermined value corresponds to the detected value of the overcurrent flowing through the first transistor, and the second predetermined value corresponds to the detected value of the overcurrent flowing through the second transistor. According to one aspect of the present invention, an overcurrent detection signal can be activated when it is determined that an overcurrent has flowed in one of the first transistor and the second transistor. Thereby, each transistor can be reliably protected from destruction due to overcurrent.
また本発明の一態様では、前記ブリッジ回路は、ハイサイド側の第3のトランジスターと、ローサイド側の第4のトランジスターと、を有するHブリッジ回路であり、前記プリドライバーは、前記第3のトランジスターを駆動する第3のドライバー回路と、前記第4のトランジスターを駆動する第4のドライバー回路と、を有し、前記制御回路は、前記ブリッジ回路のオン・オフ制御信号を前記第3のドライバー回路と前記第4のドライバー回路に出力し、前記スイッチ回路は、前記第3のトランジスターと前記第4のトランジスターの間の第2のノードに一端が接続される第3のスイッチ素子と、前記第2のノードに一端が接続される第4のスイッチ素子と、を有し、前記スイッチング制御回路は、前記第3のスイッチ素子のオン・オフを制御する第3のスイッチ制御信号と、前記第4のスイッチ素子のオン・オフを制御する第4のスイッチ制御信号と、を出力し、前記第3のトランジスターのオン抵抗が所与の第3オン抵抗より小さくなったと判断される場合に前記第3のスイッチ制御信号をアクティブにし、前記第4のトランジスターのオン抵抗が所与の第4オン抵抗より小さくなったと判断される場合に前記第4のスイッチ制御信号をアクティブにし、前記検出回路は、前記第3のスイッチ素子の他端のノードの電圧と前記第4のスイッチ素子の他端のノードの電圧とに基づいて、前記ブリッジ回路の電流を検出してもよい。 In one embodiment of the present invention, the bridge circuit is an H-bridge circuit having a third transistor on the high side and a fourth transistor on the low side, and the pre-driver is the third transistor. A third driver circuit that drives the fourth transistor, and a fourth driver circuit that drives the fourth transistor, wherein the control circuit sends an on / off control signal for the bridge circuit to the third driver circuit. Output to the fourth driver circuit, the switch circuit including a third switch element having one end connected to a second node between the third transistor and the fourth transistor; A fourth switch element having one end connected to the node of the second switch element, wherein the switching control circuit turns on and off the third switch element. A third switch control signal to be controlled and a fourth switch control signal to control on / off of the fourth switch element, and the on-resistance of the third transistor is a given third on-state. The third switch control signal is activated when it is determined that the resistance is smaller than the resistance, and the fourth switch is activated when it is determined that the on-resistance of the fourth transistor is smaller than a given fourth on-resistance. A switch control signal is activated, and the detection circuit calculates a current of the bridge circuit based on a voltage at a node at the other end of the third switch element and a voltage at a node at the other end of the fourth switch element. It may be detected.
このようにすれば、ブリッジ回路をHブリッジ回路で構成し、そのHブリッジ回路に含まれる第1〜第4のトランジスターに流れる過電流を正確に検出でき、Hブリッジ回路を破壊から保護できる。 In this way, the bridge circuit is configured as an H bridge circuit, and the overcurrent flowing through the first to fourth transistors included in the H bridge circuit can be accurately detected, and the H bridge circuit can be protected from destruction.
本発明の他の態様は、ハイサイド側の第1のトランジスターと、ローサイド側の第2のトランジスターと、を有するブリッジ回路と、前記第1のトランジスターを駆動する第1のドライバー回路と、前記第2のトランジスターを駆動する第2のドライバー回路と、を有するプリドライバーと、前記第1のトランジスターと前記第2のトランジスターの間の第1のノードに一端が接続されるスイッチ素子を有するスイッチ回路と、前記第2のドライバー回路の出力に基づいて、前記スイッチ素子のオン・オフを制御するスイッチ制御信号を出力するスイッチング制御回路と、前記スイッチ素子の他端のノードの電圧に基づいて、前記ブリッジ回路の電流を検出する検出回路と、前記ブリッジ回路のオン・オフ制御信号を前記第1のドライバー回路と前記第2のドライバー回路に出力し、前記検出回路により電流が検出された場合に前記ブリッジ回路のオン・オフ動作を停止させる制御回路と、を含み、前記スイッチング制御回路は、前記第2のトランジスターのオン抵抗が所与のオン抵抗より小さくなったと判断される場合に、前記スイッチ制御信号をアクティブにする回路装置に関係する。 According to another aspect of the present invention, there is provided a bridge circuit including a first transistor on a high side and a second transistor on a low side, a first driver circuit that drives the first transistor, A pre-driver having a second driver circuit for driving two transistors, and a switch circuit having a switch element having one end connected to a first node between the first transistor and the second transistor; A switching control circuit for outputting a switch control signal for controlling on / off of the switch element based on an output of the second driver circuit, and the bridge based on a voltage at a node at the other end of the switch element. A detection circuit for detecting a circuit current; and an on / off control signal for the bridge circuit. And a control circuit that outputs to the second driver circuit and stops the on / off operation of the bridge circuit when a current is detected by the detection circuit, and the switching control circuit includes the second control circuit. The present invention relates to a circuit device that activates the switch control signal when it is determined that the on-resistance of a transistor has become smaller than a given on-resistance.
本発明の更に他の態様は、上記のいずれかに記載された回路装置を含む電子機器に関係する。 Still another embodiment of the present invention relates to an electronic apparatus including the circuit device described above.
以下、本発明の好適な実施の形態について詳細に説明する。なお以下に説明する本実施形態は特許請求の範囲に記載された本発明の内容を不当に限定するものではなく、本実施形態で説明される構成の全てが本発明の解決手段として必須であるとは限らない。 Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail. The present embodiment described below does not unduly limit the contents of the present invention described in the claims, and all the configurations described in the present embodiment are indispensable as means for solving the present invention. Not necessarily.
1.回路装置の回路構成
図1に本実施形態の回路装置の構成例を示す。本実施形態の回路装置は、ブリッジ回路10、制御回路20、チョッピング電流検出回路30、プリドライバー40、レジスター部50、過電流検出回路60を含む。
1. Circuit Configuration of Circuit Device FIG. 1 shows a configuration example of a circuit device according to this embodiment. The circuit device according to the present embodiment includes a
ブリッジ回路10は、ハイサイド側のトランジスターQ1、Q3とローサイド側のトランジスターQ2、Q4を有する。ブリッジ回路10は、モーター100(例えば直流モーター或はステッピングモーター等)への駆動電流を出力する回路であり、図1ではHブリッジの回路構成となっている。
The
ハイサイド側のトランジスターQ1、Q3は例えばP型(広義には第1導電型)のトランジスターであり、ローサイド側のトランジスターQ2、Q4は例えばN型(広義には第2導電型)のトランジスターである。ハイサイド側のトランジスターとは、ローサイド側のトランジスターよりも高電位電源側に接続されるトランジスターである。ローサイド側のトランジスターとは、ハイサイド側のトランジスターよりも低電位電源側に接続されるトランジスターである。なおトランジスターQ1、Q2、Q3、Q4の全てがN型のトランジスターであってもよい。またQ1、Q2、Q3、Q4のソース・ドレイン間には図示しないボディーダイオード(寄生ダイオード)が存在する。 The high-side transistors Q1 and Q3 are, for example, P-type (first conductivity type in a broad sense), and the low-side transistors Q2, Q4 are, for example, N-type (second conductivity type in a broad sense) transistors. . The high-side transistor is a transistor connected to the higher potential power supply side than the low-side transistor. The low-side transistor is a transistor connected to the low-potential power supply side rather than the high-side transistor. Note that all of the transistors Q1, Q2, Q3, and Q4 may be N-type transistors. A body diode (parasitic diode) (not shown) exists between the source and drain of Q1, Q2, Q3, and Q4.
ハイサイド側のトランジスターQ1、Q3のソースは、高電位側の電源VBB(第1の電源)のノードに接続される。ローサイド側のトランジスターQ2、Q4のソースは、センス抵抗RSの一端が接続されるノードN3に接続される。ノードN3は、回路装置の端子TMCを介して、外付け部品であるセンス抵抗RSの一端に接続される。 The sources of the high-side transistors Q1 and Q3 are connected to the node of the high-potential-side power supply VBB (first power supply). The sources of the low-side transistors Q2 and Q4 are connected to a node N3 to which one end of the sense resistor RS is connected. The node N3 is connected to one end of a sense resistor RS, which is an external component, via a terminal TMC of the circuit device.
トランジスターQ1のドレインとトランジスターQ2のドレインは、外部のモーター100(広義には駆動対象)の一端に接続されるノードN1に接続される。ノードN1は、回路装置の端子TMAを介してモーター100の一端に接続される。
The drain of the transistor Q1 and the drain of the transistor Q2 are connected to a node N1 connected to one end of the external motor 100 (drive target in a broad sense). The node N1 is connected to one end of the
トランジスターQ3のドレインとトランジスターQ4のドレインは、モーター100の他端に接続されるノードN2に接続される。ノードN2は、回路装置の端子TMBを介してモーター100の他端に接続される。
The drain of the transistor Q3 and the drain of the transistor Q4 are connected to a node N2 connected to the other end of the
チョッピング電流検出回路30は、ブリッジ回路10に流れる電流を検出する。例えばセンス抵抗RSの一端の電圧VSを検出することで、チャージ期間でのチャージ電流を検出する。具体的には、チョッピング電流検出回路30は、基準電圧生成回路32とD/A変換回路34と比較回路36(コンパレーター)を含む。
The chopping
基準電圧生成回路32は、定電圧の基準電圧VRFを生成する。D/A変換回路34は、基準電圧VRFを受けて、設定データDRFに基づき可変に変化する基準電圧VRを生成する。設定データDRFはレジスター部50に記憶されており、例えば外部のコントローラー(例えばマイクロコンピューター等)から設定データDRFがレジスター部50に書き込まれる。比較回路36は、第1の入力端子(非反転入力端子)に基準電圧VRが入力され、第2の入力端子(反転入力端子)に、センス抵抗RSの一端の電圧である電圧VSが入力され、検出結果信号RQを出力する。例えば後述するようにチョッピング電流は、比較回路36に入力される基準電圧VRにより決まるため、設定データDRFを変更して基準電圧VRを変化させることで、モーター100のトルクを制御できる。
The reference
制御回路20は、チョッピング電流検出回路30での検出結果に基づいて、ハイサイド側のトランジスターQ1、Q3及びローサイド側のトランジスターQ2、Q4のオン・オフ制御を行う。具体的には、チョッピング電流検出回路30からの検出結果信号RQがアクティブとなったときにチャージ期間からディケイ期間に切り替わるPWM信号として、制御信号IN1、IN2、IN3、IN4を生成する。
The
プリドライバー40は、ドライバー回路PR1、PR2、PR3、PR4を有する。ドライバー回路PR1、PR2、PR3、PR4は、制御回路20からの制御信号IN1、IN2、IN3、IN4をバッファリングして、駆動信号DG1、DG2、DG3、DG4をトランジスターQ1、Q2、Q3、Q4のゲートに出力する。
The pre-driver 40 has driver circuits PR1, PR2, PR3, and PR4. The driver circuits PR1, PR2, PR3, and PR4 buffer the control signals IN1, IN2, IN3, and IN4 from the
過電流検出回路60は、ブリッジ回路10のノードN1の電圧V1とノードN2の電圧V2に基づいて過電流の検出を行い、ブリッジ回路10に過電流が流れたことを検出した場合には制御回路20に通知する。この通知がされた場合、制御回路20はブリッジ回路10の駆動動作を停止させる。即ち、ブリッジ回路10のトランジスターQ1〜Q4をオフにする制御信号IN1、IN2、IN3、IN4を出力する。過電流が発生する状況としては、例えばモーター100を接続する端子TMAと端子TMBの間の短絡や、端子TMA又は端子TMBとグランド(又は電源)との短絡、モーター100の故障(モーター100内部の短絡)、ブリッジ回路10のトランジスターQ1〜Q4の破壊等が考えられる。
The
なお、図1の回路装置は例えばICチップで構成されており、端子TMA、TMB、TMC、TMDは、ICチップのパッケージの端子或いは半導体基板上のパッドに相当する。また、この場合に、ICチップである回路装置は回路基板(プリント基板等)に実装され、外付けの回路部品であるセンス抵抗RSも回路基板に実装される。そして、センス抵抗RSと端子TMC、TMDとは回路基板上の配線により電気的に接続される。 The circuit device shown in FIG. 1 is composed of, for example, an IC chip, and terminals TMA, TMB, TMC, and TMD correspond to IC chip package terminals or pads on a semiconductor substrate. In this case, the circuit device that is an IC chip is mounted on a circuit board (printed board or the like), and a sense resistor RS that is an external circuit component is also mounted on the circuit board. The sense resistor RS and the terminals TMC and TMD are electrically connected by wiring on the circuit board.
次に図2(A)〜図3を用いて本実施形態の回路装置のブリッジ回路10の動作について説明する。
Next, the operation of the
図2(A)に示すように、チャージ期間では、トランジスターQ1、Q4がオンになる。これにより、高電位側の電源VBBからトランジスターQ1、モーター100(モーターコイル)、トランジスターQ4を介して低電位側の電源VSS(GND)に、チャージ電流ICが流れる。 As shown in FIG. 2A, in the charge period, the transistors Q1 and Q4 are turned on. As a result, the charge current IC flows from the power source VBB on the high potential side to the power source VSS (GND) on the low potential side via the transistor Q1, the motor 100 (motor coil), and the transistor Q4.
一方、ディケイ期間では、図2(B)に示すように、トランジスターQ2、Q3がオンになり、電源VSSからトランジスターQ2、モーター100、トランジスターQ3を介して電源VBBに、ディケイ電流IDが流れる。これらのチャージ電流IC、ディケイ電流IDは、いずれもモーター100の正極側端子から負極側端子へと流れることになる。
On the other hand, in the decay period, as shown in FIG. 2B, the transistors Q2 and Q3 are turned on, and a decay current ID flows from the power supply VSS to the power supply VBB via the transistor Q2, the
図1で説明したように、トランジスターQ2、Q4のソースが接続されるノードN3と電源VSSのノードとの間にはセンス抵抗RSが設けられており、比較回路36が、ノードN3の電圧VSと基準電圧VRとを比較する。そして図3に示すように、制御回路20は、ブリッジ回路10に流れるチョッピング電流ICPを一定に保つチョッピング動作の制御を行う。具体的には制御回路20は、チョッピング電流ICPが一定になるようにPWM信号(IN1〜IN4)のパルス幅を制御し、そのPWM信号に基づいて、トランジスターQ1〜Q4のオン・オフが制御される。
As described in FIG. 1, the sense resistor RS is provided between the node N3 to which the sources of the transistors Q2 and Q4 are connected and the node of the power supply VSS, and the
例えば図3のタイミングt0でモーター100の駆動が開始されると、図2(A)に示すチャージ期間となり、トランジスターQ1、Q4がオンになり、トランジスターQ2、Q3がオフになる。これにより、電源VBBからトランジスターQ1、モーター100、トランジスターQ4を介して電源VSSへと、駆動電流(チャージ電流IC)が流れる。そしてタイミングt1で、モーター100の駆動電流がチョッピング電流ICPに達すると、ディケイ期間TD1に切り替わる。具体的には、駆動電流が大きくなり、ノードN3の電圧VSが基準電圧VRを越えると、比較回路36の比較結果信号RQがローレベルからハイレベルになり、タイミングt1でディケイ期間TD1に切り替わる。このタイミングt1でのモーター100の駆動電流がチョッピング電流ICPであり、電圧VSの検出によりチョッピング電流ICPが検出されたことになる。
For example, when the driving of the
ディケイ期間TD1に切り替わると、図2(B)に示すように、トランジスターQ2、Q3がオンになり、トランジスターQ1、Q4がオフになる。これにより、電源VSSからトランジスターQ2、モーター100、トランジスターQ3を介して電源VBBへと、駆動電流(ディケイ電流ID)が流れる。このディケイ期間TD1では、図3に示すようにモーター100の駆動電流は時間経過とともに減少して行く。
When switching to the decay period TD1, as shown in FIG. 2B, the transistors Q2 and Q3 are turned on and the transistors Q1 and Q4 are turned off. As a result, a drive current (decay current ID) flows from the power supply VSS to the power supply VBB via the transistor Q2, the
そして制御回路20は、例えばタイマー(カウンター回路)等を用いて、ディケイ期間TD1の開始から所定時間が経過したことを検出し、ディケイ期間TD1からチャージ期間TC1に切り替える。チャージ期間TC1では、モーター100の駆動電流が増加し、チョッピング電流ICPに達すると、再びディケイ期間TD2に切り替わる。以降、これを繰り返すことで、駆動電流のピーク電流であるチョッピング電流ICPが一定になるような制御が行われて、モーター100のトルクが一定に保たれる。
The
なお、以上では、ブリッジ回路10がHブリッジ型である場合について説明したが、本実施形態はこれに限定されず、ブリッジ回路10はハーフブリッジ型であってもよい。この場合にはブリッジ回路10としてトランジスターQ3、Q4は設けられず、トランジスターQ1、Q2が設けられることになる。また、以上では、回路装置が、モーター100を駆動するモータードライバーである場合を例にとり説明したが、本実施形態の回路装置の駆動対象はモーター100には限定されず、インダクター(コイル)を有する様々な素子、デバイスを駆動対象とすることができる。また図1ではセンス抵抗RSの一端の電圧VSを検出することで、ブリッジ回路10のトランジスターQ1〜Q4のオン・オフ制御を行う例について説明したが、本実施形態はこれに限定されない。例えばセンス抵抗RSを用いずにブリッジ回路10に流れる電流を検出して、トランジスターQ1〜Q4のオン・オフ制御を行うようにしてもよい。
In addition, although the case where the
2.過電流検出回路の比較例
図4に、過電流検出回路60の比較構成例を示す。図4の過電流検出回路60は、スイッチ回路62と検出回路64を含む。
2. Comparative Example of Overcurrent Detection Circuit FIG. 4 shows a comparative configuration example of the
スイッチ回路62は、ドライバー回路PR1〜PR4の出力にゲートが接続される第1〜第4のスイッチ素子SW1〜SW4を含む。スイッチ素子SW1、SW2の一端は、ブリッジ回路10のトランジスターQ1、Q2のドレインノードN1に接続され、スイッチ素子SW3、SW4の一端は、ブリッジ回路10のトランジスターQ3、Q4のドレインノードN2に接続される。スイッチ素子SW1、SW3は例えばP型トランジスターであり、スイッチ素子SW2、SW4は例えばN型トランジスターである。なお、スイッチ素子SW1〜SW4をトランスファーゲート等で構成してもよい。
The
図4に示すように、チャージ期間ではドライバー回路PR1〜PR4の出力が“L”、“L”、“H”、“H”となるので、スイッチ素子SW1、SW4がオンになり、スイッチ素子SW2、SW3がオフになる。このとき、スイッチ素子SW1の他端からは、トランジスターQ1のドレインノードN1の電圧V1が電圧SQ1として出力され、スイッチ素子SW4の他端からは、トランジスターQ4のドレインノードN2の電圧V2が電圧SQ4として出力される。 As shown in FIG. 4, since the outputs of the driver circuits PR1 to PR4 are “L”, “L”, “H”, and “H” in the charge period, the switch elements SW1 and SW4 are turned on and the switch element SW2 is turned on. , SW3 is turned off. At this time, the voltage V1 of the drain node N1 of the transistor Q1 is output as the voltage SQ1 from the other end of the switch element SW1, and the voltage V2 of the drain node N2 of the transistor Q4 is output as the voltage SQ4 from the other end of the switch element SW4. Is output.
トランジスターQ1、Q4のオン抵抗をRon1、Ron4とした場合、電圧SQ1=V1=VBB−Ron1・ICであり、電圧SQ4=V2=VS+Ron4・ICである。過電流によってブリッジ回路10に流れる電流ICが増加した場合、電圧SQ1の降下幅Ron1・ICや電圧SQ4の上昇幅Ron4・ICが大きくなる。検出回路64は、電圧SQ1の降下幅Ron1・ICと電圧SQ4の上昇幅Ron4・ICのうち少なくとも一方が所定値を超えた場合に、ブリッジ回路10に過電流が流れたと判定し、検出信号DETをアクティブにする。制御回路20は、検出信号DETがアクティブになった場合、ブリッジ回路10の駆動信号DG1〜DG4を“H”、“L”、“H”、“L”にして、トランジスターQ1〜Q4を全てオフにし、ブリッジ回路10に流れる電流を停止させる。
When the on-resistances of the transistors Q1 and Q4 are Ron1 and Ron4, the voltage SQ1 = V1 = VBB−Ron1 · IC and the voltage SQ4 = V2 = VS + Ron4 · IC. When the current IC flowing through the
一方、ディケイ期間ではスイッチ素子SW2、SW3がオンになり、スイッチ素子SW1、SW4がオフになる。このとき、スイッチ素子SW2の他端からは、トランジスターQ2のドレインノードN1の電圧V1が電圧SQ2として出力され、スイッチ素子SW3の他端からは、トランジスターQ3のドレインノードN2の電圧V2が電圧SQ3として出力される。トランジスターQ2、Q3のオン抵抗をRon2、Ron3とした場合、電圧SQ2=V1=VS−Ron2・IDであり、電圧SQ3=V2=VBB+Ron3・IDである。検出回路64は、電圧SQ2の降下幅Ron2・IDと電圧SQ3の上昇幅Ron3・IDのうち少なくとも一方が所定値を超えた場合に、ブリッジ回路10に過電流が流れたと判定し、検出信号DETをアクティブにする。なお、チャージ期間においてブリッジ回路に流れるよりもディケイ期間においてブリッジ回路に流れる電流が大きくなることはないと考えられるため、ディケイ期間における過電流検出を省略することが可能である。
On the other hand, in the decay period, the switch elements SW2 and SW3 are turned on, and the switch elements SW1 and SW4 are turned off. At this time, the voltage V1 of the drain node N1 of the transistor Q2 is output as the voltage SQ2 from the other end of the switch element SW2, and the voltage V2 of the drain node N2 of the transistor Q3 is output as the voltage SQ3 from the other end of the switch element SW3. Is output. When the on-resistances of the transistors Q2 and Q3 are Ron2 and Ron3, the voltage SQ2 = V1 = VS−Ron2 · ID and the voltage SQ3 = V2 = VBB + Ron3 · ID. The
以上のように、図4の比較例ではスイッチ素子SW1〜SW4のゲートがドライバー回路PR1〜PR4の出力に接続されている。このことから、比較例では過電流を誤検出し、不必要に駆動動作を停止させる可能性がある。この点について以下に説明する。 As described above, in the comparative example of FIG. 4, the gates of the switch elements SW1 to SW4 are connected to the outputs of the driver circuits PR1 to PR4. Therefore, in the comparative example, there is a possibility that the overcurrent is erroneously detected and the driving operation is stopped unnecessarily. This will be described below.
図5(A)、図5(B)には、チャージ期間を例にとって図4の比較例のタイミングチャートを示す。なお、図5(A)において、42Vはブリッジ回路10の電源VBBの電圧であり、37Vは、回路装置が内蔵する不図示のバイアス回路が生成したバイアス電圧VHBである。図5(B)において、0Vは電源VSSの電圧(グランド電圧)であり、5Vは、回路装置が内蔵する不図示のバイアス回路が生成したバイアス電圧VLBである。
FIGS. 5A and 5B are timing charts of the comparative example of FIG. 4 taking the charge period as an example. In FIG. 5A, 42V is a voltage of the power supply VBB of the
図5(A)に示すように、ブリッジ回路10のトランジスターQ1のゲート電圧(駆動信号DG1)はディケイ期間では42V(Hレベル)であり、チャージ期間では37V(Lレベル)である。P型トランジスターの閾値電圧を例えばVth1=1.5Vとすると、トランジスターQ1のゲート電圧がVBB−Vth1=40.5V(ゲート・ソース間電圧がVth=1.5V)となったときにスイッチ回路62のスイッチ素子SW1もオンになる。
As shown in FIG. 5A, the gate voltage (drive signal DG1) of the transistor Q1 of the
トランジスターQ1のゲート電圧が十分に37Vに漸近した場合には、そのオン抵抗Ron1は例えば1Ωとなるが、トランジスターQ1がオンした直後にはゲート・ソース間電圧が閾値電圧Vth1の付近なので、オン抵抗Ron1は1Ωよりも高い。スイッチ回路62のスイッチ素子SW1は、このオン抵抗Ron1が高い状態でオンすることになる。オン抵抗Ron1が高ければブリッジ回路10に流れるチャージ電流ICも小さいが、オン抵抗による電圧の降下幅はRon1・ICなので、チャージ電流ICが小さくても所定値を超え、検出回路64が過電流として検出し、ブリッジ回路10の駆動動作を停止させる可能性がある。例えばIC=1.5Aで過電流として検出する場合、通常はRon1・IC=1Ω・1.5A=1.5Vの電圧降下で過電流と判断する。一方、トランジスターQ1がオンした直後に例えばオン抵抗Ron1=10Ωとすると、Ron1/1.5V=10Ω/1.5V=150mAで過電流と判断してしまう。
When the gate voltage of the transistor Q1 is sufficiently asymptotic to 37V, the on-resistance Ron1 is, for example, 1Ω. However, immediately after the transistor Q1 is turned on, the gate-source voltage is near the threshold voltage Vth1, so the on-resistance Ron1 is higher than 1Ω. The switch element SW1 of the
以上はハイサイド側であるが、ローサイド側も同様である。即ち、図5(B)に示すように、ブリッジ回路10のトランジスターQ4のゲート電圧(駆動信号DG4)はディケイ期間では5V(Hレベル)であり、チャージ期間では0V(Lレベル)である。N型トランジスターの閾値電圧を例えばVth4=1.5Vとすると、トランジスターQ4のゲート電圧(ゲート・ソース間電圧)がVth4=1.5Vとなったときにスイッチ回路62のスイッチ素子SW4もオンになる。スイッチ素子SW4は、トランジスターQ4オン抵抗Ron4が高い状態でオンすることになるので、実際にはチャージ電流ICが小さいにも関わらず検出回路64が過電流として検出し、ブリッジ回路10の駆動動作を停止させる可能性がある。
The above is the high side, but the same applies to the low side. That is, as shown in FIG. 5B, the gate voltage (drive signal DG4) of the transistor Q4 of the
以上のように過電流を正確に検出できない場合、例えば検出の閾値(上記の例では1.5V(1.5A))を大きくして、誤検出による駆動動作の停止を防ぐことになる。しかしながら、ブリッジ回路10の破壊を防ぐという安全性を考えれば、誤検出を起こさない範囲で出来るだけ検出の閾値が低い方が望ましい。図4の比較例では、上述のようにチャージ期間とディケイ期間の切り替えの過渡期において、実際には短絡等による過電流がブリッジ回路10に流れていない場合でも過電流として検出する可能性があるため、検出の閾値を下げることができない。
If the overcurrent cannot be accurately detected as described above, for example, the detection threshold (1.5 V (1.5 A) in the above example) is increased to prevent the drive operation from being stopped due to erroneous detection. However, considering the safety of preventing the
3.本実施形態の過電流検出回路
図6に、上記のような課題を解決できる本実施形態の過電流検出回路60の構成例を示す。本実施形態の過電流検出回路60は、スイッチ回路62、検出回路64、スイッチング制御回路66を含む。なお、上述した構成要素と同一の構成要素には同一の符号を付し、適宜説明を省略する。
3. Overcurrent Detection Circuit According to this Embodiment FIG. 6 shows a configuration example of an
まず、ブリッジ回路10のハイサイド側トランジスターQ1、Q3に流れる過電流を検出する構成について説明する。
First, a configuration for detecting an overcurrent flowing through the high-side transistors Q1 and Q3 of the
スイッチ回路62は、第1のトランジスターQ1と第2のトランジスターQ2の間の第1のノードN1に一端が接続される第1のスイッチ素子SW1を有する。検出回路64は、第1のスイッチ素子SW1の他端のノードの電圧SQ1に基づいて、ブリッジ回路10の電流(過電流)を検出する。制御回路20は、ブリッジ回路10のオン・オフ制御信号IN1、IN2を第1のドライバー回路PR1と第2のドライバー回路PR2に出力し、検出回路64により電流(過電流)が検出された場合にブリッジ回路10のオン・オフ動作を停止させる。
The
そして、スイッチング制御回路66は、第1のドライバー回路PR1の出力(駆動信号DG1)に基づいて、第1のスイッチ素子SW1のオン・オフを制御する第1のスイッチ制御信号CT1を出力する。このとき、第1のトランジスターQ1のオン抵抗が所与の第1オン抵抗より小さくなったと判断される場合に、第1のスイッチ制御信号CT1をアクティブにする。
Then, the switching
また、スイッチ回路62は、第3のトランジスターQ3と第4のトランジスターQ4の間の第2のノードN2に一端が接続される第3のスイッチ素子SW3を有する。検出回路64は、第3のスイッチ素子SW3の他端のノードの電圧SQ3に基づいて、ブリッジ回路10の電流(過電流)を検出する。制御回路20は、ブリッジ回路10のオン・オフ制御信号IN3、IN4を第3のドライバー回路PR3と第4のドライバー回路PR4に出力し、検出回路64により電流(過電流)が検出された場合にブリッジ回路10のオン・オフ動作を停止させる。
The
そして、スイッチング制御回路66は、第3のドライバー回路PR3の出力(駆動信号DG3)に基づいて、第3のスイッチ素子SW3のオン・オフを制御する第3のスイッチ制御信号CT3を出力する。このとき、第3のトランジスターQ3のオン抵抗が所与の第3オン抵抗より小さくなったと判断される場合に、第3のスイッチ制御信号CT3をアクティブにする。所与の第3オン抵抗は、例えば所与の第1オン抵抗に等しい。
The switching
以下では、チャージ期間においてトランジスターQ1に流れる過電流を検出する場合を例にとり、過電流検出回路60の動作について説明する。ディケイ期間においてトランジスターQ3に流れる過電流を検出する場合も動作は同様である。
Hereinafter, the operation of the
図7に、本実施形態の過電流検出回路60のタイミングチャートを示す。図7に示すように、ディケイ期間からチャージ期間への切り替わったときにブリッジ回路10のトランジスターQ1のゲート電圧(駆動信号DG1)がVBB−Vth1よりも小さくなる(ゲート・ソース間電圧が閾値電圧Vth1よりも小さくなる)と、トランジスターQ1がオンになり、ゲート電圧(駆動信号DG1)が下がると共にオン抵抗Ron1が小さくなっていく。そして、トランジスターQ1のオン抵抗Ron1が所与の第1オン抵抗RG1より小さくなったときに、スイッチ回路62のスイッチ素子SW1がオンになる。
FIG. 7 shows a timing chart of the
一方、チャージ期間からディケイ期間に切り替わるときには、トランジスターQ1のゲート電圧(駆動信号DG1)が上がると共にオン抵抗Ron1が大きくなっていき、トランジスターQ1のオン抵抗Ron1が所与の第1オン抵抗RG1より大きくなったときに、スイッチ回路62のスイッチ素子SW1がオフになる。
On the other hand, when the charge period is switched to the decay period, the gate voltage (drive signal DG1) of the transistor Q1 increases and the on-resistance Ron1 increases, so that the on-resistance Ron1 of the transistor Q1 is larger than a given first on-resistance RG1. When this happens, the switch element SW1 of the
図4、図5の比較例ではトランジスターQ1の駆動信号DG1によってスイッチ素子SW1のオン・オフ制御を行っていたが、本実施形態ではドライバー回路PR1とスイッチ素子SW1のゲートとの間にスイッチング制御回路66を設けている。そして、そのスイッチング制御回路66がスイッチ素子SW1のオン・オフ制御を行うことで、ブリッジ回路10のトランジスターQ1がオンになるタイミングから、スイッチ回路62のスイッチ素子SW1がオンになるタイミングを遅らせることができる。
In the comparative example of FIG. 4 and FIG. 5, the on / off control of the switch element SW1 is performed by the drive signal DG1 of the transistor Q1, but in this embodiment, a switching control circuit is provided between the driver circuit PR1 and the gate of the switch element SW1. 66 is provided. The switching
即ち、トランジスターQ1がオンした後、そのオン抵抗Ron1が所与の第1オン抵抗RG1になったタイミングで、スイッチ回路62のスイッチ素子SW1をオンさせることが可能になる。これにより、トランジスターQ1のオン抵抗Ron1が十分に小さくなった後に、トランジスターQ1のドレインノードN1の電圧V1=SQ1=VBB−Ron1・ICを検出回路64に入力できる。オン抵抗Ron1が十分に小さいので、ドレインノードN1の電圧降下Ron1・ICが所定値を超えるためにはブリッジ回路10に大きな電流が流れる必要があるので、過電流の誤検出を抑制できる。図4、図5の比較例では誤検出による動作停止を避けるために検出の閾値(1.5A)を上げる必要があったが、本実施形態では破壊が起きない程度の閾値を設定しつつ、誤検出による動作停止を抑制できる。
That is, after the transistor Q1 is turned on, the switch element SW1 of the
なお、「判断される場合」とは、実際に何らかの判断を行う場合に限らず、判断は行わないが間接的にオン抵抗が所与の第1オン抵抗より小さくなったと見なせる場合を含む。実際に判断を行う例としては、後述のようにトランジスターQ1のゲート電圧(駆動信号DG1)と基準電圧を比較する例がある。判断を行わない例としては、後述のようにスイッチ制御信号CT1のエッジをトランジスターQ1のゲート電圧(駆動信号DG1)のエッジから遅延させ、その遅延時間によって間接的にオン抵抗が所与の第1オン抵抗より小さくなったと見なす例がある。 Note that “when judged” is not limited to actually making any judgment, and includes a case where it is considered that the on-resistance has become smaller than a given first on-resistance indirectly although no judgment is made. As an example of actual determination, there is an example in which the gate voltage (drive signal DG1) of the transistor Q1 and the reference voltage are compared as will be described later. As an example in which the determination is not performed, the edge of the switch control signal CT1 is delayed from the edge of the gate voltage (drive signal DG1) of the transistor Q1, as described later, and an on-resistance is indirectly given by the delay time. There is an example in which it is considered that the resistance is smaller than the on-resistance.
さて、上述した所与の第1オン抵抗RG1は、具体的には次のように設定される。即ち、図7に示すように、所与の第1オン抵抗RG1は、トランジスターQ1のゲート・ソース間電圧が最大(VBB−DG1=VBB−VHB=5V)となるときのオン抵抗をRonM1(1Ω)とした場合に、RG1≦2×RonM1である。 Now, the given first on-resistance RG1 described above is specifically set as follows. That is, as shown in FIG. 7, a given first on-resistance RG1 has an on-resistance RonM1 (1Ω) when the gate-source voltage of the transistor Q1 becomes maximum (VBB−DG1 = VBB−VHB = 5V). ), RG1 ≦ 2 × RonM1.
図8に、ハイサイド側のトランジスターQ1(Q3)のオン抵抗の特性例を示す。図8の横軸にはゲート・ソース間電圧を示す。図8の例では、トランジスターQ1のゲート・ソース間電圧が最大の5Vとなるときのオン抵抗RonM1は約1.7Ωである。この場合、所与の第1オン抵抗RG1は、2×1.7Ω以下に設定される。例えば、ゲート・ソース間電圧が4.5Vのときのオン抵抗である約2Ω(≦2×1.7Ω)を、所与の第1オン抵抗RG1に設定すればよい。 FIG. 8 shows an example of on-resistance characteristics of the high-side transistor Q1 (Q3). The horizontal axis of FIG. 8 shows the gate-source voltage. In the example of FIG. 8, the on-resistance RonM1 is about 1.7Ω when the gate-source voltage of the transistor Q1 reaches a maximum of 5V. In this case, a given first on-resistance RG1 is set to 2 × 1.7Ω or less. For example, about 2Ω (≦ 2 × 1.7Ω), which is an on-resistance when the gate-source voltage is 4.5 V, may be set to a given first on-resistance RG1.
このようにすれば、スイッチ回路62のスイッチ素子SW1がオンしている期間(過電流の検出期間)において、トランジスターQ1のオン抵抗Ron1の変動を、最小値RonM1の2倍以下にできる。例えばトランジスターQ1が完全にオンしたとき(Ron1=RonM1のとき)にチャージ電流IC≧1.5Aを過電流として検出する場合を考える。正常なチャージ電流を例えばIC=0.5Aとすると、更に1.0A流れたときに過電流として判断される。電圧降下はRon1・ICなので、Ron1=2×RonM1の場合には、チャージ電流ICとして1.5A/2=0.75A程度まで許容されることになる。オン抵抗Ron1が2倍なので正常なチャージ電流はIC=0.5A/2=0.25Aであり、更に0.5A流れたときに過電流として判断される。即ち、過電流を検出する許容範囲として最低でも0.5Aが確保されることになる。このように、過電流の検出期間においてオン抵抗Ron1の誤差が小さくなることで、過電流の検出誤差(上記の例では1Aと0.5Aの差)が小さくなり、誤検出が抑制される。
In this way, during the period in which the switch element SW1 of the
以上のように、本実施形態ではトランジスターQ1のオン抵抗Ron1が所与の第1オン抵抗RG1より小さくなったことを検出するが、具体的には以下の構成により実現される。 As described above, in the present embodiment, it is detected that the on-resistance Ron1 of the transistor Q1 is smaller than the given first on-resistance RG1, but this is specifically realized by the following configuration.
即ち、スイッチング制御回路66は、第1のドライバー回路PR1の出力(駆動信号DG1)に基づく電圧と第1の基準電圧とを比較する第1の比較回路CPA1を有する。そして、スイッチング制御回路66は、第1の比較回路CPA1による比較の結果(出力信号CPQ1)に基づいて第1のスイッチ制御信号CT1をアクティブにする。
That is, the switching
具体的には、スイッチング制御回路66は論理和回路OR1を含む。論理和回路OR1は、第1のドライバー回路PR1の出力と第1の比較回路CPA1の出力との論理和を、第1のスイッチ制御信号CT1として出力する。図7に示すように、VSSを基準とした場合には第1の基準電圧は例えば37.5V(>37V=VHB)である。VBBを基準とした場合には第1の基準電圧は4.5V(>5V)である。この場合、駆動信号DG1の電圧が第1の基準電圧37.5V以下(VBB−DG1≧4.5V)となったときに第1の比較回路CPA1の出力信号CPQ1がLレベル(アクティブ)となり、論理和回路OR1の出力信号である第1のスイッチ制御信号CT1がLレベル(アクティブ)となる。
Specifically, the switching
このようにして、比較回路CPA1による電圧検出により、トランジスターQ1のオン抵抗Ron1が所与の第1オン抵抗RG1より小さくなったことを検出できる。所与の第1オン抵抗RG1は、第1のドライバー回路PR1の出力に基づく電圧が電源VBBの電圧を基準として第1の基準電圧に等しくなったときのトランジスターQ1のオン抵抗である。第1のドライバー回路PR1の出力に基づく電圧は、例えば図10で後述するように、電源VBBと第1のドライバー回路PR1の出力(駆動信号DG1)の間を抵抗分割した電圧DGD1である。なお、これに限らず、第1のドライバー回路PR1の出力に基づく電圧は、第1のドライバー回路PR1の出力そのものであってもよい。 In this way, it is possible to detect that the on-resistance Ron1 of the transistor Q1 has become smaller than the given first on-resistance RG1 by voltage detection by the comparison circuit CPA1. The given first on-resistance RG1 is the on-resistance of the transistor Q1 when the voltage based on the output of the first driver circuit PR1 becomes equal to the first reference voltage with reference to the voltage of the power supply VBB. The voltage based on the output of the first driver circuit PR1 is, for example, a voltage DGD1 obtained by resistance-dividing between the power supply VBB and the output of the first driver circuit PR1 (drive signal DG1), as will be described later with reference to FIG. Note that the voltage based on the output of the first driver circuit PR1 is not limited thereto, and may be the output itself of the first driver circuit PR1.
なお、トランジスターQ3に流れる過電流を検出する場合には、トランジスターQ3のオン抵抗Ron3が所与の第3オン抵抗より小さくなったことを検出するが、具体的には以下の構成により実現される。 In addition, when detecting the overcurrent flowing through the transistor Q3, it is detected that the on-resistance Ron3 of the transistor Q3 is smaller than a given third on-resistance. Specifically, this is realized by the following configuration. .
即ち、スイッチング制御回路66は、第3のドライバー回路PR3の出力(駆動信号DG3)に基づく電圧と第3の基準電圧(例えば第1の基準電圧に等しい)とを比較する第3の比較回路CPA3を有する。そして、スイッチング制御回路66は、第3の比較回路CPA3による比較の結果(出力信号CPQ3)に基づいて第3のスイッチ制御信号CT3をアクティブにする。具体的には、スイッチング制御回路66は論理和回路OR3を含む。論理和回路OR3は、第3のドライバー回路PR3の出力と第1の比較回路CPA3の出力との論理和を、第3のスイッチ制御信号CT3として出力する。
That is, the switching
さて、上記では電源VBBの電圧42Vを基準として第1の基準電圧を4.5Vとしたが、第1の基準電圧はトランジスターQ1の閾値電圧Vth1=1.5Vからゲート・ソース間電圧のLレベル(VBB−VHB=5V)の範囲で種々の選択が可能である。例えば、ブリッジ回路の高電位側電源VBBの電圧42V(トランジスターQ1のソース電圧)を基準として、第1のトランジスターQ1をオンさせる際に第1のドライバー回路PR1が出力する電圧をVDR1とし、第1の基準電圧をVref1とする場合に、Vref1=(VDR1−Vth1)/2+Vth1である。
In the above description, the first reference voltage is 4.5 V with reference to the
本実施形態ではVDR1=VBB−VHBなので、Vref1=((VBB−VHB)−Vth1)/2+Vth1となる。図8に示すように、この基準電圧Vref1は閾値電圧Vth1とLレベル(VBB−VHB)との中間の電圧となる。ゲート・ソース間電圧に対するオン抵抗の特性は、閾値電圧Vth1の付近では傾きが急峻である。一方、上記中間の電圧からLレベル(VHB)までの区間では傾きが緩やかであり、オン抵抗が最小値に漸近している。そのため、上記中間の電圧を基準電圧Vref1とすることで、オン抵抗が最小値に十分近づいたときに過電流の検出を開始できる。図8の例では、実際にVref1=((VBB−VHB)−Vth1)/2+Vth1においてオン抵抗Ron1は約3.5Ω(2×RonM1)であり、最小値1.7Ω(RonM1)の約2倍となっている。 In this embodiment, since VDR1 = VBB−VHB, Vref1 = ((VBB−VHB) −Vth1) / 2 + Vth1. As shown in FIG. 8, the reference voltage Vref1 is an intermediate voltage between the threshold voltage Vth1 and the L level (VBB-VHB). The on-resistance characteristic with respect to the gate-source voltage has a steep slope in the vicinity of the threshold voltage Vth1. On the other hand, in the section from the intermediate voltage to the L level (VHB), the slope is gentle, and the on-resistance is asymptotic to the minimum value. Therefore, by setting the intermediate voltage as the reference voltage Vref1, detection of overcurrent can be started when the on-resistance is sufficiently close to the minimum value. In the example of FIG. 8, when Vref1 = ((VBB−VHB) −Vth1) / 2 + Vth1, the on-resistance Ron1 is about 3.5Ω (2 × RonM1), which is about twice the minimum value of 1.7Ω (RonM1). It has become.
次に、ブリッジ回路10のローサイド側トランジスターQ2、Q4に流れる過電流を検出する構成について説明する。
Next, a configuration for detecting an overcurrent flowing through the low-side transistors Q2 and Q4 of the
図6に示すように、スイッチ回路62は、第1のトランジスターQ1と第2のトランジスターQ2の間の第1のノードN1に一端が接続される第2のスイッチ素子SW2を有する。検出回路64は、第2のスイッチ素子SW2の他端のノードの電圧SQ2に基づいてブリッジ回路10の電流(過電流)を検出する。
As shown in FIG. 6, the
そして、スイッチング制御回路66は、第2のスイッチ素子SW2のオン・オフを制御する第2のスイッチ制御信号CT2を出力する。このとき、スイッチング制御回路66は、第2のトランジスターQ2のオン抵抗が所与の第2オン抵抗より小さくなったと判断される場合に、第2のスイッチ制御信号CT2をアクティブにする。
Then, the switching
また、スイッチ回路62は、第3のトランジスターQ3と第4のトランジスターQ4の間の第2のノードN2に一端が接続される第4のスイッチ素子SW4を有する。検出回路64は、第4のスイッチ素子SW4の他端のノードの電圧SQ4に基づいてブリッジ回路10の電流(過電流)を検出する。
The
そして、スイッチング制御回路66は、第4のスイッチ素子SW4のオン・オフを制御する第4のスイッチ制御信号CT4を出力する。このとき、スイッチング制御回路66は、第4のトランジスターQ4のオン抵抗が所与の第4オン抵抗より小さくなったと判断される場合に、第4のスイッチ制御信号CT4をアクティブにする。所与の第4オン抵抗は、例えば所与の第2オン抵抗に等しい。
Then, the switching
以下では、ディケイ期間においてトランジスターQ2に流れる過電流を検出する場合を例にとり、過電流検出回路60の動作について説明する。チャージ期間においてトランジスターQ4に流れる過電流を検出する場合も動作は同様である。
Hereinafter, the operation of the
図9に、本実施形態の過電流検出回路60のタイミングチャートを示す。図9に示すように、チャージ期間からディケイ期間への切り替わったときにブリッジ回路10のトランジスターQ2のゲート電圧(駆動信号DG2)が閾値電圧Vth2よりも小さくなると、トランジスターQ2がオンになり、ゲート電圧(駆動信号DG2)が下がると共にオン抵抗Ron2が小さくなっていく。そして、トランジスターQ2のオン抵抗Ron2が所与の第2オン抵抗RG2より小さくなったときに、スイッチ回路62のスイッチ素子SW2がオンになる。
FIG. 9 shows a timing chart of the
一方、ディケイ期間からチャージ期間に切り替わるときには、トランジスターQ2のゲート電圧(駆動信号DG2)が上がると共にオン抵抗Ron2が大きくなっていき、トランジスターQ2のオン抵抗Ron2が所与の第2オン抵抗RG2より大きくなったときに、スイッチ回路62のスイッチ素子SW2がオフになる。
On the other hand, when switching from the decay period to the charge period, the gate voltage (drive signal DG2) of the transistor Q2 increases and the on-resistance Ron2 increases, so that the on-resistance Ron2 of the transistor Q2 is larger than a given second on-resistance RG2. When this happens, the switch element SW2 of the
以上によれば、トランジスターQ2のオン抵抗Ron2が十分に小さくなった後に、トランジスターQ2のドレインノードN1の電圧V1=SQ2=VS−Ron2・IDを検出回路64に入力できる。オン抵抗Ron2が十分に小さいので、ドレインノードN2の電圧降下Ron2・IDが所定値を超えるためにはブリッジ回路10に大きな電流が流れる必要があるので、過電流の誤検出を抑制できる。
According to the above, the voltage V1 = SQ2 = VS−Ron2 · ID of the drain node N1 of the transistor Q2 can be input to the
さて、上述した所与の第2オン抵抗RG2は、具体的には次のように設定される。即ち、第2のトランジスターQ2のゲート・ソース間電圧が最大(DG2−VSS=VLB−VSS=5V)となるときのオン抵抗をRonM2とし、所与の第2オン抵抗をRG2とする場合に、Ron2≦2×RonM2である。 Now, the given second on-resistance RG2 described above is specifically set as follows. That is, when the on-resistance when the gate-source voltage of the second transistor Q2 is maximum (DG2-VSS = VLB-VSS = 5V) is RonM2, and the given second on-resistance is RG2, Ron2 ≦ 2 × RonM2.
このようにすれば、スイッチ回路62のスイッチ素子SW2がオンしている期間(過電流の検出期間)において、トランジスターQ2のオン抵抗Ron2の変動を、最小値RonM2の2倍以下にできる。トランジスターQ1の過電流検出において説明したのと同様に、過電流の検出期間においてオン抵抗Ron2の誤差が小さくなることで、過電流の検出誤差が小さくなり、誤検出が抑制される。
In this way, during the period in which the switch element SW2 of the
トランジスターQ2のオン抵抗Ron2が所与の第2オン抵抗RG2より小さくなったことを検出する構成は、具体的には以下のように実現される。 The configuration for detecting that the on-resistance Ron2 of the transistor Q2 is smaller than a given second on-resistance RG2 is specifically realized as follows.
即ち、スイッチング制御回路66は、第2のドライバー回路PR2の出力(駆動信号DG2)に基づく電圧と第2の基準電圧とを比較する第2の比較回路CPA2を有する。そして、スイッチング制御回路66は、第2の比較回路CPA2による比較の結果(出力信号CPQ2)に基づいて第2のスイッチ制御信号CT2をアクティブにする。
That is, the switching
具体的には、スイッチング制御回路66は論理積回路AN2を含む。論理積回路AN2は、第2のドライバー回路PR2の出力と第2の比較回路CPA2の出力との論理積を、第2のスイッチ制御信号CT2として出力する。図9に示すように、第2の基準電圧は例えば4.5V(<5V=VLB)である。この場合、駆動信号DG2の電圧が第2の基準電圧4.5V以上となったときに第2の比較回路CPA2の出力信号CPQ2がHレベル(アクティブ)となり、論理積回路AN2の出力信号である第2のスイッチ制御信号CT2がHレベル(アクティブ)となる。
Specifically, the switching
このようにして、比較回路CPA2による電圧検出により、トランジスターQ2のオン抵抗Ron2が所与の第2オン抵抗RG2より小さくなったことを検出できる。所与の第2オン抵抗RG2は、第2のドライバー回路PR2の出力に基づく電圧が第2の基準電圧に等しくなったときのトランジスターQ2のオン抵抗である。第2のドライバー回路PR2の出力に基づく電圧は、例えば図11で後述するように、第1のドライバー回路PR2の出力(駆動信号DG2)と電源VSSの間を抵抗分割した電圧DGD2である。なお、これに限らず、第2のドライバー回路PR2の出力に基づく電圧は、第2のドライバー回路PR2の出力そのものであってもよい。 In this way, it is possible to detect that the on-resistance Ron2 of the transistor Q2 is smaller than the given second on-resistance RG2 by detecting the voltage using the comparison circuit CPA2. The given second on-resistance RG2 is the on-resistance of the transistor Q2 when the voltage based on the output of the second driver circuit PR2 becomes equal to the second reference voltage. The voltage based on the output of the second driver circuit PR2 is, for example, a voltage DGD2 obtained by resistance-dividing between the output (drive signal DG2) of the first driver circuit PR2 and the power supply VSS, as will be described later with reference to FIG. The voltage based on the output of the second driver circuit PR2 is not limited to this, and may be the output itself of the second driver circuit PR2.
なお、トランジスターQ4に流れる過電流を検出する場合には、トランジスターQ4のオン抵抗Ron4が所与の第4オン抵抗より小さくなったことを検出するが、具体的には以下の構成により実現される。 When detecting the overcurrent flowing through the transistor Q4, it is detected that the on-resistance Ron4 of the transistor Q4 is smaller than a given fourth on-resistance. Specifically, this is realized by the following configuration. .
即ち、スイッチング制御回路66は、第4のドライバー回路PR4の出力(駆動信号DG4)に基づく電圧と第4の基準電圧(例えば第2の基準電圧に等しい)とを比較する第4の比較回路CPA4を有する。そして、スイッチング制御回路66は、第4の比較回路CPA4による比較の結果(出力信号CPQ4)に基づいて第4のスイッチ制御信号CT4をアクティブにする。具体的には、スイッチング制御回路66は論理積回路AN4を含む。論理積回路AN4は、第4のドライバー回路PR4の出力と第4の比較回路CPA4の出力との論理積を、第4のスイッチ制御信号CT4として出力する。
That is, the switching
さて、上記では第2の基準電圧を4.5Vとしたが、第2の基準電圧はトランジスターQ2の閾値電圧Vth2からゲート電圧のHレベル(VLB)の範囲で種々の選択が可能である。例えば、ブリッジ回路の低電位側電源VSSの電圧を基準として、第2のトランジスターQ2をオンさせる際に第2のドライバー回路PR2が出力する電圧をVDR2とし、第2の基準電圧をVref2とする場合に、Vref2=(VDR2−Vth2)/2+Vth2である。 In the above description, the second reference voltage is 4.5 V. However, the second reference voltage can be variously selected in the range from the threshold voltage Vth2 of the transistor Q2 to the H level (VLB) of the gate voltage. For example, when the voltage of the low potential side power supply VSS of the bridge circuit is used as a reference, the voltage output by the second driver circuit PR2 when turning on the second transistor Q2 is VDR2, and the second reference voltage is Vref2. Vref2 = (VDR2−Vth2) / 2 + Vth2.
本実施形態ではVDR2=VLBなので、Vref2=(VLB−Vth2)/2+Vth2となる。この基準電圧Vref2は閾値電圧Vth2とHレベル(VLB)との中間の電圧となる。図8で基準電圧Vref1について説明したのと同様に、閾値電圧Vth2とHレベルとの中間の電圧を基準電圧Vref2とすることで、オン抵抗が最小値に十分近づいたときに過電流の検出を開始できる。 In this embodiment, since VDR2 = VLB, Vref2 = (VLB−Vth2) / 2 + Vth2. The reference voltage Vref2 is an intermediate voltage between the threshold voltage Vth2 and the H level (VLB). In the same manner as described for the reference voltage Vref1 in FIG. 8, by setting the intermediate voltage between the threshold voltage Vth2 and the H level as the reference voltage Vref2, the overcurrent is detected when the on-resistance is sufficiently close to the minimum value. You can start.
次に、検出回路64の詳細な構成について説明する。検出回路64は、第1〜第4の判定回路CPB1〜CPB4と、検出信号出力回路DTQと、を含む。
Next, a detailed configuration of the
第1の判定回路CPB1は、第1のトランジスターQ1のソースノードの電圧(電源VBBの電圧)と第1のスイッチ素子SW1の他端のノードの電圧SQ1との差分が、第1の所定値より大きいか否かを判定する。差分はVBB−SQ1=Ron1・ICであり、オン抵抗Ron1による電圧降下に相当する。この差分が第1の所定値より大きい場合には、第1の判定回路CPB1は出力CBQ1をアクティブにする。 In the first determination circuit CPB1, the difference between the voltage of the source node of the first transistor Q1 (the voltage of the power supply VBB) and the voltage SQ1 of the node at the other end of the first switch element SW1 is less than the first predetermined value. Determine whether it is larger. The difference is VBB−SQ1 = Ron1 · IC, which corresponds to a voltage drop due to the on-resistance Ron1. When this difference is larger than the first predetermined value, the first determination circuit CPB1 activates the output CBQ1.
第2の判定回路CPB2は、第2のスイッチ素子SW2の他端のノードの電圧SQ2と第2のトランジスターQ2のソースノードN3の電圧VSとの差分が、第2の所定値より大きいか否かを判定する。差分はVS−SQ2=Ron2・IDであり、オン抵抗Ron2による電圧降下に相当する。この差分が第2の所定値より大きい場合には、第2の判定回路CPB2は出力CBQ2をアクティブにする。 The second determination circuit CPB2 determines whether the difference between the voltage SQ2 at the other end of the second switch element SW2 and the voltage VS at the source node N3 of the second transistor Q2 is greater than a second predetermined value. Determine. The difference is VS−SQ2 = Ron2 · ID, which corresponds to a voltage drop due to the on-resistance Ron2. When this difference is larger than the second predetermined value, the second determination circuit CPB2 activates the output CBQ2.
第3の判定回路CPB3は、第3のトランジスターQ3のソースノードの電圧(電源VBBの電圧)と第3のスイッチ素子SW3の他端のノードの電圧SQ3との差分が、第3の所定値より大きいか否かを判定する。第3の所定値は例えば第1の所定値に等しい。差分はSQ3−VBB=Ron3・IDであり、オン抵抗Ron3による電圧降下に相当する。この差分が第3の所定値より大きい場合には、第3の判定回路CPB3は出力CBQ3をアクティブにする。 In the third determination circuit CPB3, the difference between the voltage of the source node of the third transistor Q3 (voltage of the power supply VBB) and the voltage SQ3 of the node at the other end of the third switch element SW3 is greater than the third predetermined value. Determine whether it is larger. The third predetermined value is equal to the first predetermined value, for example. The difference is SQ3−VBB = Ron3 · ID, which corresponds to a voltage drop due to the on-resistance Ron3. When this difference is larger than the third predetermined value, the third determination circuit CPB3 activates the output CBQ3.
第4の判定回路CPB4は、第4のスイッチ素子SW4の他端のノードの電圧SQ4と第4のトランジスターQ4のソースノードN4の電圧VSとの差分が、第4の所定値より大きいか否かを判定する。第4の所定値は例えば第2の所定値に等しい。差分はSQ4−VS=Ron4・ICであり、オン抵抗Ron4による電圧降下に相当する。この差分が第4の所定値より大きい場合には、第4の判定回路CPB4は出力CBQ4をアクティブにする。 The fourth determination circuit CPB4 determines whether the difference between the voltage SQ4 at the other end of the fourth switch element SW4 and the voltage VS at the source node N4 of the fourth transistor Q4 is greater than a fourth predetermined value. Determine. For example, the fourth predetermined value is equal to the second predetermined value. The difference is SQ4−VS = Ron4 · IC, which corresponds to a voltage drop due to the on-resistance Ron4. When this difference is larger than the fourth predetermined value, the fourth determination circuit CPB4 activates the output CBQ4.
検出信号出力回路DTQは、第1〜第4の判定回路CPB1〜CPB4の出力CBQ1〜CBQ4のうち少なくとも1つの出力がアクティブとなった場合に、電流(過電流)の検出信号DETをアクティブにする。即ち、出力CBQ1〜CBQ4のうち1つでもアクティブになれば、ブリッジ回路10に過電流が流れたと判定できる。
The detection signal output circuit DTQ activates the current (overcurrent) detection signal DET when at least one of the outputs CBQ1 to CBQ4 of the first to fourth determination circuits CPB1 to CPB4 becomes active. . That is, if any one of the outputs CBQ1 to CBQ4 becomes active, it can be determined that an overcurrent has passed through the
例えば、第1の判定回路CPB1は図12で後述する判定回路(コンパレーター)によって実現され、検出信号出力回路DTQは図14で後述する論理和回路によって実現される。この場合、例えば第1の所定値とは、図12の判定回路の出力CBQ1が図14の論理和回路のN型トランジスターTG1の閾値電圧となるときの電圧SQ1である。 For example, the first determination circuit CPB1 is realized by a determination circuit (comparator) described later in FIG. 12, and the detection signal output circuit DTQ is realized by an OR circuit described later in FIG. In this case, for example, the first predetermined value is the voltage SQ1 when the output CBQ1 of the determination circuit of FIG. 12 becomes the threshold voltage of the N-type transistor TG1 of the OR circuit of FIG.
4.スイッチング制御回路の比較回路
図10に、スイッチング制御回路66の第1の比較回路CPA1(ハイサイド側の比較回路)の詳細な構成例を示す。なお、第3の比較回路CPA3も同様に構成できる。
4). Comparison Circuit of Switching Control Circuit FIG. 10 shows a detailed configuration example of the first comparison circuit CPA1 (high-side comparison circuit) of the switching
第1の比較回路CPA1は、抵抗素子RC1、RC2と、基準電圧生成回路VRC1と、コンパレーターCPC1と、を含む。 The first comparison circuit CPA1 includes resistance elements RC1 and RC2, a reference voltage generation circuit VRC1, and a comparator CPC1.
基準電圧生成回路VRC1は、基準電圧VRHを出力する。基準電圧VRHは、コンパレーターCPC1の第1入力端子(正極端子)に入力される。抵抗素子RC1、RC2は、電源VBBの電圧と第1のトランジスターQ1のゲート電圧(駆動信号DG1)との間を抵抗分割する。抵抗分割により得られた電圧DGD1は、コンパレーターCPC1の第2入力端子(負極端子)に入力される。コンパレーターCPC1は、基準電圧VRHと電圧DGD1を比較し、DGD1>VRHの場合にはLレベル(非アクティブ)の出力信号CPQ1を出力し、DGD1≦VRHの場合にはHレベル(アクティブ)の出力信号CPQ1を出力する。 The reference voltage generation circuit VRC1 outputs a reference voltage VRH. The reference voltage VRH is input to the first input terminal (positive terminal) of the comparator CPC1. The resistance elements RC1 and RC2 perform resistance division between the voltage of the power supply VBB and the gate voltage (drive signal DG1) of the first transistor Q1. The voltage DGD1 obtained by resistance division is input to the second input terminal (negative electrode terminal) of the comparator CPC1. The comparator CPC1 compares the reference voltage VRH with the voltage DGD1, outputs an L level (inactive) output signal CPQ1 when DGD1> VRH, and outputs an H level (active) when DGD1 ≦ VRH. The signal CPQ1 is output.
抵抗素子RC1、RC2の抵抗値をrc1、rc2とした場合、DGD1=VBB−{rc2/(rc1+rc2)}(VBB−DG1)である。DGD1=VRHとなるときの駆動信号DG1の電圧を検出レベルVDETHとすると、VDETH=VBB−{(rc1+rc2)/rc2}(VBB−VRH)が得られる。このVDETHは、DG1=VDETHとなった場合にトランジスターQ1のオン抵抗Ron1が所与の第1オン抵抗RG1となるように設定される。 When the resistance values of the resistance elements RC1 and RC2 are rc1 and rc2, DGD1 = VBB− {rc2 / (rc1 + rc2)} (VBB−DG1). If the voltage of the drive signal DG1 when DGD1 = VRH is the detection level VDETH, VDETH = VBB-{(rc1 + rc2) / rc2} (VBB-VRH) is obtained. This VDETH is set so that the on-resistance Ron1 of the transistor Q1 becomes a given first on-resistance RG1 when DG1 = VDETH.
図11に、スイッチング制御回路66の第2の比較回路CPA2(ローサイド側の比較回路)の詳細な構成例を示す。なお、第4の比較回路CPA4も同様に構成できる。
FIG. 11 shows a detailed configuration example of the second comparison circuit CPA2 (low-side comparison circuit) of the switching
第2の比較回路CPA2は、抵抗素子RD1、RD2と、基準電圧生成回路VRD1と、コンパレーターCPD1と、を含む。 The second comparison circuit CPA2 includes resistance elements RD1 and RD2, a reference voltage generation circuit VRD1, and a comparator CPD1.
基準電圧生成回路VRD1は、基準電圧VRLを出力する。基準電圧VRLは、コンパレーターCPC1の第1入力端子(正極端子)に入力される。抵抗素子RD1、RD2は、第2のトランジスターQ2のゲート電圧(駆動信号DG2)と電源VSSの電圧との間を抵抗分割する。抵抗分割により得られた電圧DGD2は、コンパレーターCPD1の第2入力端子(負極端子)に入力される。コンパレーターCPD1は、基準電圧VRLと電圧DGD2を比較し、DGD2>VRLの場合にはLレベル(非アクティブ)の出力信号CPQ2を出力し、DGD2≦VRLの場合にはHレベル(アクティブ)の出力信号CPQ2を出力する。 The reference voltage generation circuit VRD1 outputs a reference voltage VRL. The reference voltage VRL is input to the first input terminal (positive terminal) of the comparator CPC1. The resistance elements RD1 and RD2 perform resistance division between the gate voltage (drive signal DG2) of the second transistor Q2 and the voltage of the power supply VSS. The voltage DGD2 obtained by the resistance division is input to the second input terminal (negative terminal) of the comparator CPD1. The comparator CPD1 compares the reference voltage VRL with the voltage DGD2, outputs an L level (inactive) output signal CPQ2 when DGD2> VRL, and outputs an H level (active) when DGD2 ≦ VRL. Signal CPQ2 is output.
抵抗素子RD1、RD2の抵抗値をrd1、rd2とした場合、DGD2={rd1/(rd1+rd2)}DG2である。DGD2=VRLとなるときの駆動信号DG2の電圧を検出レベルVDETLとすると、VDETL={(rd1+rd2)/rd1}VRLが得られる。このVDETLは、DG2=VDETLとなった場合にトランジスターQ2のオン抵抗Ron2が所与の第2オン抵抗RG2となるように設定される。 When the resistance values of the resistance elements RD1 and RD2 are rd1 and rd2, DGD2 = {rd1 / (rd1 + rd2)} DG2. When the voltage of the drive signal DG2 when DGD2 = VRL is the detection level VDETL, VDETL = {(rd1 + rd2) / rd1} VRL is obtained. This VDETL is set so that the on-resistance Ron2 of the transistor Q2 becomes a given second on-resistance RG2 when DG2 = VDETL.
5.検出回路の判定回路、検出信号出力回路
図12に、検出回路64の第1の判定回路CPB1(ハイサイド側の判定回路)の詳細な構成例を示す。
5. FIG. 12 shows a detailed configuration example of the first determination circuit CPB1 (high-side determination circuit) of the
第1の判定回路CPB1は、抵抗素子RE1、RE2と、バイポーラートランジスターBPE1、BPE2と、P型トランジスターTE1、TE2と、N型トランジスターTE3〜TE6と、を含む。 The first determination circuit CPB1 includes resistance elements RE1 and RE2, bipolar transistors BPE1 and BPE2, P-type transistors TE1 and TE2, and N-type transistors TE3 to TE6.
N型トランジスターTE3、TE4のゲートにはバイアス電圧NBHが供給され、N型トランジスターTE5、TE6のゲートにはバイアス電圧NBLが供給される。また、P型トランジスターはカレントミラー接続される。これらのトランジスターTE1〜TE6によりバイポーラートランジスターBPE1、BPF2のコレクターにバイアス電流が供給される。 The bias voltage NBH is supplied to the gates of the N-type transistors TE3 and TE4, and the bias voltage NBL is supplied to the gates of the N-type transistors TE5 and TE6. The P-type transistor is connected in a current mirror. These transistors TE1 to TE6 supply a bias current to the collectors of the bipolar transistors BPE1 and BPF2.
バイポーラートランジスターBPE1のエミッターには、スイッチ回路62の第1のスイッチ素子SW1の他端(即ち、ブリッジ回路10の第1のトランジスターQ1のドレイン)が接続される。また、抵抗素子RE1を介して電源VBBのノードが接続される。バイポーラートランジスターBPE2のエミッターには、抵抗素子RE2を介して電源VBBのノードが接続される。第1のスイッチ素子SW1がオンしている場合には、第1のトランジスターQ1のドレイン電圧V1が下がると、第1のスイッチ素子SW1の他端の電圧SQ1が下がる。このとき、バイポーラートランジスターBPE1のコレクターの電圧が下がる。バイポーラートランジスターBPE2のベースはバイポーラートランジスターBPE1のコレクターに接続されているので、バイポーラートランジスターBPE2のベース電流が増加する。そうするとバイポーラートランジスターBPE2のコレクター電流が増加し、出力CBQ1の電圧が上がる。 The other end of the first switch element SW1 of the switch circuit 62 (that is, the drain of the first transistor Q1 of the bridge circuit 10) is connected to the emitter of the bipolar transistor BPE1. Further, the node of the power supply VBB is connected through the resistance element RE1. The node of the power supply VBB is connected to the emitter of the bipolar transistor BPE2 via the resistance element RE2. When the first switch element SW1 is on, when the drain voltage V1 of the first transistor Q1 decreases, the voltage SQ1 at the other end of the first switch element SW1 decreases. At this time, the collector voltage of the bipolar transistor BPE1 decreases. Since the base of the bipolar transistor BPE2 is connected to the collector of the bipolar transistor BPE1, the base current of the bipolar transistor BPE2 increases. Then, the collector current of the bipolar transistor BPE2 increases and the voltage of the output CBQ1 increases.
この出力CBQ1は、図14で後述する検出信号出力回路のN型トランジスターTG1のゲートに入力されており、出力CBQ1の電圧がN型トランジスターTG1の閾値電圧を超えるとN型トランジスターTG1がオンになる。出力CBQ1の電圧がN型トランジスターTG1の閾値電圧となるときの電圧SQ1をSQDET1とすると、SQ1>SQDET1のときN型トランジスターTG1はオフになり、SQ1≦SQDET1のときN型トランジスターTG1はオンになる。 This output CBQ1 is input to the gate of an N-type transistor TG1 of a detection signal output circuit, which will be described later with reference to FIG. 14. When the voltage of the output CBQ1 exceeds the threshold voltage of the N-type transistor TG1, the N-type transistor TG1 is turned on. . When the voltage SQ1 when the voltage of the output CBQ1 becomes the threshold voltage of the N-type transistor TG1 is SQDET1, the N-type transistor TG1 is turned off when SQ1> SQDET1, and the N-type transistor TG1 is turned on when SQ1 ≦ SQDET1. .
出力CBQ1の電圧がN型トランジスターTG1の閾値電圧となるときのトランジスターQ1に流れる電流をIDETHとする。トランジスターQ1のソース・ドレイン間電圧はRon1・IDETHなので、SQDET1=VBB−Ron1・IDETHである。このIDETHが所望の過電流検出値となるように、例えば抵抗素子RE1、RE2の抵抗値等を調整し、SQDET1を決める。 Let IDETH be the current flowing through the transistor Q1 when the voltage of the output CBQ1 becomes the threshold voltage of the N-type transistor TG1. Since the source-drain voltage of the transistor Q1 is Ron1 · IDETH, SQDET1 = VBB−Ron1 · IDETH. For example, the resistance values of the resistance elements RE1 and RE2 are adjusted to determine SQDET1 so that the IDETH becomes a desired overcurrent detection value.
図13に、検出回路64の第4の判定回路CPB4(ローサイド側の比較回路)の詳細な構成例を示す。
FIG. 13 shows a detailed configuration example of the fourth determination circuit CPB4 (low-side comparison circuit) of the
第4の判定回路CPB4は、抵抗素子RF1〜RF4と、バイポーラートランジスターBPF1〜BPF5と、P型トランジスターTF1〜TF3と、を含む。 The fourth determination circuit CPB4 includes resistance elements RF1 to RF4, bipolar transistors BPF1 to BPF5, and P-type transistors TF1 to TF3.
P型トランジスターTF1、TF2のゲートにはバイアス電圧PBが供給され、これらのトランジスターTF1、TF2によりバイポーラートランジスターBPF1、BPF2のコレクターにバイアス電流が供給される。 A bias voltage PB is supplied to the gates of the P-type transistors TF1 and TF2, and a bias current is supplied to the collectors of the bipolar transistors BPF1 and BPF2 by the transistors TF1 and TF2.
バイポーラートランジスターBPF1のエミッターには、抵抗素子RF1を介して、ブリッジ回路10の第4のトランジスターQ4のソースノードN3(電圧VS)が接続される。バイポーラートランジスターBPF2のエミッターには、抵抗素子RF2を介してスイッチ回路62の第4のスイッチ素子SW4の他端(即ち、第4のトランジスターQ4のドレイン)が接続される。第4のスイッチ素子SW4がオンしている場合には、第4のトランジスターQ4のドレイン電圧V2が上がると、第4のスイッチ素子SW4の他端の電圧SQ4が上がる。このとき、バイポーラートランジスターBPF1、BPF2はカレントミラー接続されているのでバイポーラートランジスターBPF2のベース電位は変わらない。そのため、バイポーラートランジスターBPE2のベース電流が減少し、コレクター電流が減少する。バイアス電流一定なので、バイポーラートランジスターBPF3のベース電流が増加する。
The source node N3 (voltage VS) of the fourth transistor Q4 of the
バイポーラートランジスターBPF3のコレクターには、抵抗素子RF3を介してバイアス電圧VLBのノードが接続される。また、P型トランジスターTF3のゲートが接続される。P型トランジスターTF3のドレインは出力CBQ4のノードである。そのドレインには、抵抗素子RF4を介して電源VSSのノードが接続される。バイポーラートランジスターBPF3のベース電流が増加すると、コレクター電流が増加し、P型トランジスターTF3のゲート電圧が下がる。P型トランジスターTF3のドレイン電流が増加するので出力CBQ4の電圧が上がる。 The node of the bias voltage VLB is connected to the collector of the bipolar transistor BPF3 via the resistance element RF3. Further, the gate of the P-type transistor TF3 is connected. The drain of the P-type transistor TF3 is a node of the output CBQ4. A node of the power source VSS is connected to the drain via the resistance element RF4. When the base current of the bipolar transistor BPF3 increases, the collector current increases and the gate voltage of the P-type transistor TF3 decreases. Since the drain current of the P-type transistor TF3 increases, the voltage of the output CBQ4 increases.
この出力CBQ4は、図14で後述する検出信号出力回路のN型トランジスターTG4のゲートに入力されており、出力CBQ4の電圧がN型トランジスターTG4の閾値電圧を超えるとN型トランジスターTG4がオンになる。出力CBQ4の電圧がN型トランジスターTG4の閾値電圧となるときの電圧SQ4をSQDET4とすると、SQ4>SQDET4のときN型トランジスターTG4はオフになり、SQ4≦SQDET4のときN型トランジスターTG4はオンになる。 This output CBQ4 is input to the gate of an N-type transistor TG4 of a detection signal output circuit, which will be described later with reference to FIG. 14. When the voltage of the output CBQ4 exceeds the threshold voltage of the N-type transistor TG4, the N-type transistor TG4 is turned on. . When the voltage SQ4 when the voltage of the output CBQ4 becomes the threshold voltage of the N-type transistor TG4 is SQDET4, the N-type transistor TG4 is turned off when SQ4> SQDET4, and the N-type transistor TG4 is turned on when SQ4 ≦ SQDET4. .
出力CBQ4の電圧がN型トランジスターTG4の閾値電圧となるときのトランジスターQ4に流れる電流をIDETLとする。トランジスターQ4のソース・ドレイン間電圧はRon4・IDETLなので、SQDET4=VS+Ron4・IDETLである。このIDETLが所望の過電流検出値となるように、例えば抵抗素子RF1、RF2の抵抗値等を調整し、SQDET4を決める。 Let IDETL be the current flowing through the transistor Q4 when the voltage of the output CBQ4 becomes the threshold voltage of the N-type transistor TG4. Since the source-drain voltage of the transistor Q4 is Ron4 · IDETL, SQDET4 = VS + Ron4 · IDETL. For example, the resistance values of the resistance elements RF1 and RF2 are adjusted to determine SQDET4 so that the IDETL becomes a desired overcurrent detection value.
図14に、検出回路64の検出信号出力回路DTQの詳細な構成例を示す。検出信号出力回路DTQは、抵抗素子RGと、N型トランジスターTG1〜TG4と、インバーターINGと、を含む。
FIG. 14 shows a detailed configuration example of the detection signal output circuit DTQ of the
抵抗素子RGの一端にはバイアス電圧VLBのノードが接続される。抵抗素子RGの他端には、N型トランジスターTG1〜TG4のドレインが共通接続され、インバーターINGの入力端子が接続される。N型トランジスターTG1〜TG4のソースには電源VSSのノードが共通接続される。この検出信号出力回路DTQは、第1〜第4の判定回路CPB1〜CPB4の出力CBQ1〜CBQ4に対して論理和回路となる。即ち、出力CBQ1〜CBQ4のうち1つでもアクティブとなり(N型トランジスターTG1〜TG4の閾値電圧を超え)、N型トランジスターTG1〜TG4が1つでもオンになると、インバーターINGにLレベルが入力され、検出信号DETがハイレベル(アクティブ)になる。 A node of the bias voltage VLB is connected to one end of the resistance element RG. The other ends of the resistance elements RG are commonly connected to the drains of the N-type transistors TG1 to TG4, and connected to the input terminal of the inverter ING. A node of the power source VSS is commonly connected to sources of the N-type transistors TG1 to TG4. The detection signal output circuit DTQ becomes a logical sum circuit with respect to the outputs CBQ1 to CBQ4 of the first to fourth determination circuits CPB1 to CPB4. That is, when one of the outputs CBQ1 to CBQ4 becomes active (exceeds the threshold voltage of the N-type transistors TG1 to TG4) and even one of the N-type transistors TG1 to TG4 is turned on, the L level is input to the inverter ING. The detection signal DET becomes high level (active).
6.スイッチング制御回路の変形例
次に、スイッチング制御回路66の変形例について説明する。変形例では、第1〜第4の比較回路CPA1〜CPA4が第1〜第4の遅延回路に置き換えられている。即ち、駆動信号DG1〜DG4がアクティブになった後、遅延して第1〜第4のスイッチ制御信号CT1〜CT4がアクティブになる。この遅延時間は、ブリッジ回路10の第1〜第4のトランジスターQ1〜Q4のオン抵抗が所与の第1〜第4オン抵抗より小さくなったと判断される時間に設定される。
6). Modification Example of Switching Control Circuit Next, a modification example of the switching
図15に、第1の遅延回路(ハイサイド側の遅延回路)の詳細な構成例を示す。なお、第3の遅延回路も同様に構成できる。 FIG. 15 shows a detailed configuration example of the first delay circuit (high-side delay circuit). The third delay circuit can be configured similarly.
第1の遅延回路は、P型トランジスターTK1、TK3と、N型トランジスターTK2、TK4と、抵抗素子RK1、RK2と、キャパシターCKと、を含む。 The first delay circuit includes P-type transistors TK1 and TK3, N-type transistors TK2 and TK4, resistance elements RK1 and RK2, and a capacitor CK.
P型トランジスターTK1とN型トランジスターTK2が第1インバーターを構成し、P型トランジスターTK3とN型トランジスターTK4が第2インバーターを構成する。抵抗素子RK1とキャパシターCKはローパスフィルターを構成し、第1インバーターにより駆動される。遅延時間は基本的にローパスフィルターの時定数で決まる。また、遅延時間はトランジスターTK1〜TK4のオン抵抗や抵抗素子RK2の抵抗値にも依存する。例えば、ブリッジ回路10の第1のトランジスターQ1のオン抵抗が所与の第1オン抵抗(図7のRG1)になるタイミング(図7の例ではDG1=37.5Vになるタイミング)よりも遅いタイミングで第1の遅延回路の出力信号CPQ1がアクティブになるように、公差を考慮して遅延時間を決定する。
The P-type transistor TK1 and the N-type transistor TK2 constitute a first inverter, and the P-type transistor TK3 and the N-type transistor TK4 constitute a second inverter. The resistance element RK1 and the capacitor CK constitute a low-pass filter and are driven by the first inverter. The delay time is basically determined by the time constant of the low-pass filter. The delay time also depends on the ON resistance of the transistors TK1 to TK4 and the resistance value of the resistance element RK2. For example, the timing later than the timing at which the on-resistance of the first transistor Q1 of the
図16に、第2の遅延回路(ローサイド側の遅延回路)の詳細な構成例を示す。なお、第4の遅延回路も同様に構成できる。 FIG. 16 shows a detailed configuration example of the second delay circuit (low-side delay circuit). The fourth delay circuit can be configured similarly.
第2の遅延回路は、P型トランジスターTJ1、TJ3と、N型トランジスターTJ2、TJ4と、抵抗素子RJ1、RJ2と、キャパシターCJと、を含む。 The second delay circuit includes P-type transistors TJ1 and TJ3, N-type transistors TJ2 and TJ4, resistance elements RJ1 and RJ2, and a capacitor CJ.
P型トランジスターTJ1とN型トランジスターTJ2が第1インバーターを構成し、P型トランジスターTJ3とN型トランジスターTJ4が第2インバーターを構成する。抵抗素子RJ1とキャパシターCJはローパスフィルターを構成し、第1インバーターにより駆動される。遅延時間は基本的にローパスフィルターの時定数で決まる。また、遅延時間はトランジスターTJ1〜TJ4のオン抵抗や抵抗素子RJ2の抵抗値にも依存する。例えば、ブリッジ回路10の第2のトランジスターQ2のオン抵抗が所与の第2オン抵抗(図9のRG2)になるタイミング(図9の例ではDG2=4.5Vになるタイミング)よりも遅いタイミングで第1の遅延回路の出力信号CPQ1がアクティブになるように、公差を考慮して遅延時間を決定する。
The P-type transistor TJ1 and the N-type transistor TJ2 constitute a first inverter, and the P-type transistor TJ3 and the N-type transistor TJ4 constitute a second inverter. The resistance element RJ1 and the capacitor CJ constitute a low-pass filter and are driven by the first inverter. The delay time is basically determined by the time constant of the low-pass filter. The delay time also depends on the ON resistance of the transistors TJ1 to TJ4 and the resistance value of the resistance element RJ2. For example, a timing later than the timing at which the on-resistance of the second transistor Q2 of the
7.電子機器
図17に、本実施形態の回路装置(モータードライバー)が適用された電子機器の構成例を示す。電子機器は、処理部300、記憶部310、操作部320、入出力部330、回路装置200、これらの各部を接続するバス340、モーター280を含む。以下ではモーター駆動によりヘッドや紙送りを制御するプリンターを例にとり説明するが、本実施形態はこれに限定されず、種々の電子機器に適用可能である。
7). Electronic Device FIG. 17 shows a configuration example of an electronic device to which the circuit device (motor driver) of this embodiment is applied. The electronic device includes a
入出力部330は例えばUSBコネクターや無線LAN等のインターフェースで構成され、画像データや文書データが入力される。入力されたデータは、例えばDRAM等の内部記憶装置である記憶部310に記憶される。操作部320により印刷指示を受け付けると、処理部300は、記憶部310に記憶されたデータの印刷動作を開始する。処理部300は、データの印刷レイアウトに合わせて回路装置200(モータードライバー)に指示を送り、回路装置200は、その指示に基づいてモーター280を回転させ、ヘッドの移動や紙送りを行う。
The input /
なお、上記のように本実施形態について詳細に説明したが、本発明の新規事項および効果から実体的に逸脱しない多くの変形が可能であることは当業者には容易に理解できるであろう。従って、このような変形例はすべて本発明の範囲に含まれるものとする。例えば、明細書又は図面において、少なくとも一度、より広義または同義な異なる用語と共に記載された用語は、明細書又は図面のいかなる箇所においても、その異なる用語に置き換えることができる。また本実施形態及び変形例の全ての組み合わせも、本発明の範囲に含まれる。またブリッジ回路、過電流検出回路、回路装置、電子機器の構成・動作等も、本実施形態で説明したものに限定されず、種々の変形実施が可能である。 Although the present embodiment has been described in detail as described above, it will be easily understood by those skilled in the art that many modifications can be made without departing from the novel matters and effects of the present invention. Accordingly, all such modifications are intended to be included in the scope of the present invention. For example, a term described at least once together with a different term having a broader meaning or the same meaning in the specification or the drawings can be replaced with the different term in any part of the specification or the drawings. All combinations of the present embodiment and the modified examples are also included in the scope of the present invention. Further, the configurations and operations of the bridge circuit, overcurrent detection circuit, circuit device, and electronic device are not limited to those described in the present embodiment, and various modifications can be made.
10 ブリッジ回路、20 制御回路、30 チョッピング電流検出回路、
32 基準電圧生成回路、34 D/A変換回路、36 コンパレーター、
40 プリドライバー、50 レジスター部、60 過電流検出回路、
62 スイッチ回路、64 検出回路、66 スイッチング制御回路、
100 モーター、200 回路装置、280 モーター
300 処理部、310 記憶部、320 操作部、330 入出力部、340 バス、
AN2、AN4 論理積回路、CPA1〜CPA4 比較回路、
CPB1〜CPB4 判定回路、CT1〜CT4 スイッチ制御信号、
DG1〜DG4 駆動信号(ドライバー回路の出力)、DTQ 検出信号出力回路、
IC チャージ電流、ID ディケイ電流、N1 第1のノード、N2 第2のノード、
OR1、OR3 論理和回路、PR1〜PR4 ドライバー回路、
Q1〜Q4 トランジスター、RG1 所与の第1オン抵抗、
RG2 所与の第2オン抵抗、SW1〜SW4 スイッチ素子、
10 bridge circuit, 20 control circuit, 30 chopping current detection circuit,
32 reference voltage generation circuit, 34 D / A conversion circuit, 36 comparator,
40 pre-driver, 50 register section, 60 overcurrent detection circuit,
62 switch circuit, 64 detection circuit, 66 switching control circuit,
100 motor, 200 circuit device, 280
AN2, AN4 AND circuit, CPA1-CPA4 comparison circuit,
CPB1-CPB4 determination circuit, CT1-CT4 switch control signal,
DG1 to DG4 drive signal (driver circuit output), DTQ detection signal output circuit,
IC charge current, ID decay current, N1 first node, N2 second node,
OR1, OR3 OR circuit, PR1 to PR4 driver circuit,
Q1-Q4 transistors, RG1 given first on-resistance,
RG2 a given second on-resistance, SW1-SW4 switch element,
Claims (12)
前記第1のトランジスターを駆動する第1のドライバー回路と、前記第2のトランジスターを駆動する第2のドライバー回路と、を有するプリドライバーと、
前記第1のトランジスターと前記第2のトランジスターの間の第1のノードに一端が接続される第1のスイッチ素子を有するスイッチ回路と、
前記第1のドライバー回路の出力に基づいて、前記第1のスイッチ素子のオン・オフを制御する第1のスイッチ制御信号を出力するスイッチング制御回路と、
前記第1のスイッチ素子の他端のノードの電圧に基づいて、前記ブリッジ回路の電流を検出する検出回路と、
前記ブリッジ回路のオン・オフ制御信号を前記第1のドライバー回路と前記第2のドライバー回路に出力し、前記検出回路により電流が検出された場合に前記ブリッジ回路のオン・オフ動作を停止させる制御回路と、
を含み、
前記スイッチング制御回路は、
前記第1のトランジスターのオン抵抗が所与の第1オン抵抗より小さくなったと判断される場合に、前記第1のスイッチ制御信号をアクティブにすることを特徴とする回路装置。 A bridge circuit having a first transistor on the high side and a second transistor on the low side;
A pre-driver having a first driver circuit for driving the first transistor and a second driver circuit for driving the second transistor;
A switch circuit having a first switch element having one end connected to a first node between the first transistor and the second transistor;
A switching control circuit for outputting a first switch control signal for controlling on / off of the first switch element based on an output of the first driver circuit;
A detection circuit that detects a current of the bridge circuit based on a voltage of a node at the other end of the first switch element;
Control for outputting an on / off control signal of the bridge circuit to the first driver circuit and the second driver circuit, and stopping an on / off operation of the bridge circuit when a current is detected by the detection circuit. Circuit,
Including
The switching control circuit includes:
The circuit device, wherein the first switch control signal is activated when it is determined that the on-resistance of the first transistor is smaller than a given first on-resistance.
前記第1のトランジスターのゲート・ソース間電圧が最大となるときのオン抵抗をRonM1とし、前記所与の第1オン抵抗をRG1とした場合に、
RG1≦2×RonM1であることを特徴とする回路装置。 In claim 1,
When the on-resistance when the gate-source voltage of the first transistor becomes maximum is RonM1, and the given first on-resistance is RG1,
RG1 ≦ 2 × RonM1 circuit device.
前記スイッチング制御回路は、
前記第1のドライバー回路の出力に基づく電圧と第1の基準電圧とを比較する第1の比較回路を有し、
前記第1の比較回路による比較の結果に基づいて前記第1のスイッチ制御信号をアクティブにすることを特徴とする回路装置。 In claim 1 or 2,
The switching control circuit includes:
A first comparison circuit that compares a voltage based on the output of the first driver circuit with a first reference voltage;
The circuit device characterized in that the first switch control signal is activated based on a result of comparison by the first comparison circuit.
前記ブリッジ回路の高電位側電源電圧を基準として、前記第1のトランジスターの閾値電圧をVth1とし、前記第1のトランジスターをオンさせる際に前記第1のドライバー回路が出力する電圧をVDR1とし、前記第1の基準電圧をVref1とする場合に、
Vref1=(VDR1−Vth1)/2+Vth1であることを特徴とする回路装置。 In claim 3,
The threshold voltage of the first transistor is set to Vth1 with reference to the high-potential-side power supply voltage of the bridge circuit, and the voltage output by the first driver circuit when turning on the first transistor is set to VDR1. When the first reference voltage is Vref1,
Vref1 = (VDR1−Vth1) / 2 + Vth1
前記スイッチ回路は、
前記第1のノードに一端が接続される第2のスイッチ素子を有し、
前記検出回路は、
前記第2のスイッチ素子の他端のノードの電圧に基づいて前記ブリッジ回路の電流を検出し、
前記スイッチング制御回路は、
前記第2のスイッチ素子のオン・オフを制御する第2のスイッチ制御信号を出力し、
前記第2のトランジスターのオン抵抗が所与の第2オン抵抗より小さくなったと判断される場合に、前記第2のスイッチ制御信号をアクティブにすることを特徴とする回路装置。 In any one of Claims 1 thru | or 4,
The switch circuit is
A second switch element having one end connected to the first node;
The detection circuit includes:
Detecting the current of the bridge circuit based on the voltage of the node at the other end of the second switch element;
The switching control circuit includes:
Outputting a second switch control signal for controlling on / off of the second switch element;
2. The circuit device according to claim 1, wherein the second switch control signal is activated when it is determined that the on-resistance of the second transistor is smaller than a given second on-resistance.
前記第2のトランジスターのゲート・ソース間電圧が最大となるときのオン抵抗をRonM2とし、前記所与の第2オン抵抗をRG2とする場合に、
RG2≦2×RonM2であることを特徴とする回路装置。 In claim 5,
When the on-resistance when the gate-source voltage of the second transistor is maximized is RonM2, and the given second on-resistance is RG2,
RG2 ≦ 2 × RonM2 circuit device.
前記スイッチング制御回路は、
前記第2のドライバー回路の出力に基づく電圧と第2の基準電圧とを比較する第2の比較回路を有し、
前記第2の比較回路による比較の結果に基づいて前記第2のスイッチ制御信号をアクティブにすることを特徴とする回路装置。 In claim 5 or 6,
The switching control circuit includes:
A second comparison circuit that compares a voltage based on the output of the second driver circuit with a second reference voltage;
The circuit device characterized in that the second switch control signal is activated based on a result of comparison by the second comparison circuit.
前記第2のトランジスターの閾値電圧をVth2とし、前記第2のトランジスターをオンさせる際に前記第2のドライバー回路が出力する電圧をVDR2とし、前記第2の基準電圧をVref2とする場合に、
Vref2=(VDR2−Vth2)/2+Vth2であることを特徴とする回路装置。 In claim 7,
When the threshold voltage of the second transistor is Vth2, the voltage output by the second driver circuit when turning on the second transistor is VDR2, and the second reference voltage is Vref2.
Vref2 = (VDR2−Vth2) / 2 + Vth2
前記検出回路は、
前記第1のトランジスターのソースノードの電圧と前記第1のスイッチ素子の他端のノードの電圧との差分が、第1の所定値より大きいか否かを判定する第1の判定回路と、
前記第2のスイッチ素子の他端のノードの電圧と前記第2のトランジスターのソースノードの電圧との差分が、第2の所定値より大きいか否かを判定する第2の判定回路と、
前記第1の判定回路の出力及び前記第2の判定回路の出力のうち少なくとも1つの出力がアクティブとなった場合に、電流の検出信号をアクティブにする検出信号出力回路と、
を有することを特徴とする回路装置。 In any of claims 5 to 8,
The detection circuit includes:
A first determination circuit that determines whether or not a difference between a voltage at a source node of the first transistor and a voltage at a node at the other end of the first switch element is greater than a first predetermined value;
A second determination circuit that determines whether or not a difference between a voltage at a node at the other end of the second switch element and a voltage at a source node of the second transistor is greater than a second predetermined value;
A detection signal output circuit that activates a current detection signal when at least one of the output of the first determination circuit and the output of the second determination circuit becomes active;
A circuit device comprising:
前記ブリッジ回路は、
ハイサイド側の第3のトランジスターと、ローサイド側の第4のトランジスターと、を有するHブリッジ回路であり、
前記プリドライバーは、
前記第3のトランジスターを駆動する第3のドライバー回路と、前記第4のトランジスターを駆動する第4のドライバー回路と、を有し、
前記制御回路は、
前記ブリッジ回路のオン・オフ制御信号を前記第3のドライバー回路と前記第4のドライバー回路に出力し、
前記スイッチ回路は、
前記第3のトランジスターと前記第4のトランジスターの間の第2のノードに一端が接続される第3のスイッチ素子と、前記第2のノードに一端が接続される第4のスイッチ素子と、を有し、
前記スイッチング制御回路は、
前記第3のスイッチ素子のオン・オフを制御する第3のスイッチ制御信号と、前記第4のスイッチ素子のオン・オフを制御する第4のスイッチ制御信号と、を出力し、前記第3のトランジスターのオン抵抗が所与の第3オン抵抗より小さくなったと判断される場合に前記第3のスイッチ制御信号をアクティブにし、前記第4のトランジスターのオン抵抗が所与の第4オン抵抗より小さくなったと判断される場合に前記第4のスイッチ制御信号をアクティブにし、
前記検出回路は、
前記第3のスイッチ素子の他端のノードの電圧と前記第4のスイッチ素子の他端のノードの電圧とに基づいて、前記ブリッジ回路の電流を検出することを特徴とする回路装置。 In any one of Claims 1 thru | or 9,
The bridge circuit is
An H-bridge circuit having a third transistor on the high side and a fourth transistor on the low side;
The pre-driver is
A third driver circuit for driving the third transistor; and a fourth driver circuit for driving the fourth transistor;
The control circuit includes:
Outputting an on / off control signal of the bridge circuit to the third driver circuit and the fourth driver circuit;
The switch circuit is
A third switch element having one end connected to a second node between the third transistor and the fourth transistor; and a fourth switch element having one end connected to the second node. Have
The switching control circuit includes:
A third switch control signal for controlling on / off of the third switch element; and a fourth switch control signal for controlling on / off of the fourth switch element; and Activating the third switch control signal when it is determined that the on-resistance of a transistor is less than a given third on-resistance, and the on-resistance of the fourth transistor is less than a given fourth on-resistance If it is determined that the fourth switch control signal is activated,
The detection circuit includes:
A circuit device that detects a current of the bridge circuit based on a voltage at a node at the other end of the third switch element and a voltage at a node at the other end of the fourth switch element.
前記第1のトランジスターを駆動する第1のドライバー回路と、前記第2のトランジスターを駆動する第2のドライバー回路と、を有するプリドライバーと、
前記第1のトランジスターと前記第2のトランジスターの間の第1のノードに一端が接続されるスイッチ素子を有するスイッチ回路と、
前記第2のドライバー回路の出力に基づいて、前記スイッチ素子のオン・オフを制御するスイッチ制御信号を出力するスイッチング制御回路と、
前記スイッチ素子の他端のノードの電圧に基づいて、前記ブリッジ回路の電流を検出する検出回路と、
前記ブリッジ回路のオン・オフ制御信号を前記第1のドライバー回路と前記第2のドライバー回路に出力し、前記検出回路により電流が検出された場合に前記ブリッジ回路のオン・オフ動作を停止させる制御回路と、
を含み、
前記スイッチング制御回路は、
前記第2のトランジスターのオン抵抗が所与のオン抵抗より小さくなったと判断される場合に、前記スイッチ制御信号をアクティブにすることを特徴とする回路装置。 A bridge circuit having a first transistor on the high side and a second transistor on the low side;
A pre-driver having a first driver circuit for driving the first transistor and a second driver circuit for driving the second transistor;
A switch circuit having a switch element having one end connected to a first node between the first transistor and the second transistor;
A switching control circuit for outputting a switch control signal for controlling on / off of the switch element based on the output of the second driver circuit;
A detection circuit that detects a current of the bridge circuit based on a voltage of a node at the other end of the switch element;
Control for outputting an on / off control signal of the bridge circuit to the first driver circuit and the second driver circuit, and stopping an on / off operation of the bridge circuit when a current is detected by the detection circuit. Circuit,
Including
The switching control circuit includes:
The circuit device, wherein the switch control signal is activated when it is determined that the on-resistance of the second transistor is smaller than a given on-resistance.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2014163409A JP6330566B2 (en) | 2014-08-11 | 2014-08-11 | Circuit device and electronic device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2014163409A JP6330566B2 (en) | 2014-08-11 | 2014-08-11 | Circuit device and electronic device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2016039745A JP2016039745A (en) | 2016-03-22 |
| JP6330566B2 true JP6330566B2 (en) | 2018-05-30 |
Family
ID=55530434
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2014163409A Expired - Fee Related JP6330566B2 (en) | 2014-08-11 | 2014-08-11 | Circuit device and electronic device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP6330566B2 (en) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN113359881A (en) * | 2021-06-04 | 2021-09-07 | 李红双 | Double-capacity water tank teaching equipment |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5543632A (en) * | 1991-10-24 | 1996-08-06 | International Business Machines Corporation | Temperature monitoring pilot transistor |
| JP5114818B2 (en) * | 2001-08-13 | 2013-01-09 | ヤマハ株式会社 | Current detection method, current detection circuit and overcurrent protection circuit |
| JP4040013B2 (en) * | 2003-10-28 | 2008-01-30 | シャープ株式会社 | Switching circuit, audio signal reproducing apparatus using the same, and switching element protection method |
| JP4504222B2 (en) * | 2005-02-21 | 2010-07-14 | 矢崎総業株式会社 | Overcurrent detection device |
| JP2014054157A (en) * | 2012-09-10 | 2014-03-20 | Shunzo Oshima | Overcurrent protection power unit |
-
2014
- 2014-08-11 JP JP2014163409A patent/JP6330566B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2016039745A (en) | 2016-03-22 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US10355472B2 (en) | Over temperature protection circuit and semiconductor device | |
| US10109995B2 (en) | Switch drive circuit | |
| US10715132B2 (en) | Gate driver circuit of power transistor, and motor driver circuit | |
| US20120242375A1 (en) | Switching circuit device and control circuit | |
| JP2011223829A (en) | Control circuit for negative voltage charge pump circuit, negative voltage charge pump circuit, and electronic device and audio system each employing them | |
| CN104852645A (en) | Circuit device and electronic apparatus | |
| US10361618B2 (en) | Driving circuit for high-side transistor | |
| US9722587B2 (en) | Power supply circuit | |
| CN106134050A (en) | Driving means | |
| CN114646897A (en) | Gate driver, circuit and method for detecting short circuit | |
| JP6722070B2 (en) | DC/DC converter and its control circuit, electronic device | |
| JP2017527131A (en) | DV / DT detection and protection device and DV / DT detection and protection method | |
| JP6780596B2 (en) | Switching circuit | |
| TWI385887B (en) | Over current protecting apparatus and method applied to dc-dc converter | |
| JP6330566B2 (en) | Circuit device and electronic device | |
| CN106409246A (en) | Dc-dc converter and driving method thereof | |
| JP2021039076A (en) | Short-circuit detection circuit | |
| CN113067459B (en) | Driving device and power module | |
| CN114026761B (en) | Switch control circuit, semiconductor device | |
| US9231508B2 (en) | Motor driver apparatus and method of controlling the same | |
| CN116134719A (en) | Current Limiting Techniques for Buck Converters | |
| JP6753348B2 (en) | Switching element drive circuit | |
| US12620984B2 (en) | Semiconductor device | |
| US20240313763A1 (en) | Semiconductor device | |
| US20250192773A1 (en) | Gate driver circuit, motor drive device using same, and electronic apparatus |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| RD03 | Notification of appointment of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423 Effective date: 20160623 |
|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20170704 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20180322 |
|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20180327 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20180409 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6330566 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |