JP6405320B2 - 物的資産の改良された自動外観検査のための方法およびシステム - Google Patents
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Description
105 物的資産
110 外観検査装置
115 現在の画像データ、現在の画像
120 計算装置
125 プロセッサ
130 メモリ装置
135 記憶装置
140 過去の画像データ、過去の画像
145 エンジニアリングモデルデータ
155 サービサー
160 外部記憶装置
220 提示インターフェース
225 ユーザ
230 ユーザ入力インターフェース
235 通信インターフェース
300 処理
305 ステップ
315 ステップ
320 キーポイントマッチング
325 カメラ姿勢推定
330 ステップ
335 物理測定
400 方法
415 ステップ
420 ステップ
425 ステップ
Claims (14)
- 物的資産(105)の改良された自動外観検査のためのコンピュータにより実行されるシステム(100)であって、
前記物的資産(105)の画像を生成する外観検査装置(110)と、
プロセッサ(125)と、前記プロセッサ(125)に結合されるメモリ装置(130)と、前記メモリ装置(130)および前記プロセッサ(125)に結合される記憶装置(135)と、を含むコンピュータと、を備え、前記記憶装置(135)は、前記物的資産(105)の少なくとも1つの過去の画像(140)と、前記物的資産(105)を実質的に表す少なくとも1つのエンジニアリングモデル(145)と、を含み、前記コンピュータは、
現在の画像源から、前記外観検査装置(110)によって取り込まれた前記物的資産(105)の少なくとも1つの現在の画像(115)を受信し、
前記少なくとも1つの現在の画像(115)から、現在の特徴の集合を決定し、
前記少なくとも1つの過去の画像(140)から、過去の特徴の集合を決定し、
前記現在の特徴の集合と前記過去の特徴の集合とを比較し、
前記現在の特徴の集合および前記過去の特徴の集合を使用する少なくとも1つの画像検索方法を用いて、前記少なくとも1つの過去の画像から、前記少なくとも1つの現在の画像(115)に対応する少なくとも1つのマッチする過去の画像(140)を識別し、
前記少なくとも1つのエンジニアリングモデルから、前記少なくとも1つの現在の画像(115)に対応する少なくとも1つのマッチするエンジニアリングモデル(145)を識別し、
前記エンジニアリングモデルに基づいて、前記物的資産(105)に対する前記外観検査装置(110)の物理的姿勢を決定する、
ように構成される、コンピュータにより実行されるシステム(100)。 - 前記現在の画像源は、
前記外観検査装置(110)と、
前記記憶装置(135)と、
前記メモリ装置(130)と、
外部記憶装置(160)と、のうちの少なくとも1つである、請求項1に記載のコンピュータにより実行されるシステム(100)。 - 前記少なくとも1つの過去の画像(140)と前記少なくとも1つの現在の画像(115)との間のマッチング点の最良の集合を識別するためにキーポイントマッチングを用いるようにさらに構成される、請求項1または2に記載のコンピュータにより実行されるシステム(100)。
- 前記少なくとも1つのマッチする過去の画像(140)の2次元の画素位置を決定し、
前記2次元の画素位置から、前記マッチするエンジニアリングモデル(145)の3次元の点位置を決定し、
前記3次元の点位置から、前記マッチするエンジニアリングモデル(145)の投影の数学的モデルであって、前記外観検査装置(110)の特性、前記外観検査装置(110)の回転、および前記外観検査装置(110)の並進の機能を表す数学的モデルを生成し、
前記マッチするエンジニアリングモデル(145)の投影の前記数学的モデルおよび前記少なくとも1つの現在の画像(115)から、前記物的資産(105)に対する前記外観検査装置(110)の位置を決定する
ようにさらに構成される、請求項1から3のいずれかに記載のコンピュータにより実行されるシステム(100)。 - 前記少なくとも1つの現在の画像(115)に対応する少なくとも1つのマッチするエンジニアリングモデル(145)を識別するように構成される前記コンピュータにより実行されるシステム(100)は、
前記外観検査装置(110)の前記位置を用いて、前記マッチするエンジニアリングモデル(145)の投影を作成し、
前記マッチするエンジニアリングモデル(145)の上に、前記少なくとも1つの現在の画像(115)の前記投影を重ね合わせ、
前記投影と前記少なくとも1つの現在の画像(115)との差を測定する
ようにさらに構成される、請求項4に記載のコンピュータにより実行されるシステム(100)。 - 物的資産(105)の改良された自動外観検査のためのコンピュータに基づく方法(400)であって、前記方法(400)は、コンピュータによって実行され、前記コンピュータは、プロセッサ(125)と、前記プロセッサ(125)に結合されるメモリ装置(130)と、前記メモリ装置(130)および前記プロセッサ(125)に結合される記憶装置(135)と、を含み、前記記憶装置(135)は、前記物的資産(105)の少なくとも1つの過去の画像(140)と、前記物的資産(105)を実質的に表す少なくとも1つのエンジニアリングモデル(145)と、を含み、前記方法は、
現在の画像源から、外観検査装置(110)によって取り込まれた前記物的資産(105)の少なくとも1つの現在の画像(115)を受信するステップ(415)であって、前記現在の画像源は、前記外観検査装置(110)と、前記記憶装置(135)と、前記メモリ装置(130)と、外部記憶装置(160)とのうちの少なくとも1つである、ステップ(415)と、
前記少なくとも1つの現在の画像(115)から、現在の特徴の集合を決定するステップと、
前記少なくとも1つの過去の画像(140)から、過去の特徴の集合を決定するステップと、
前記現在の特徴の集合と前記過去の特徴の集合とを比較するステップと、
前記現在の特徴の集合および前記過去の特徴の集合を使用する少なくとも1つの画像検索方法を用いて、前記少なくとも1つの過去の画像から、前記少なくとも1つの現在の画像(115)に対応する少なくとも1つのマッチする過去の画像(140)を識別するステップと、
前記少なくとも1つのエンジニアリングモデルから、前記少なくとも1つの現在の画像(115)に対応する少なくとも1つのマッチするエンジニアリングモデル(145)を識別するステップと、
前記エンジニアリングモデルに基づいて、前記物的資産(105)に対する前記外観検査装置(110)の物理的姿勢を決定するステップと、
を含む、コンピュータに基づく方法(400)。 - 前記少なくとも1つの過去の画像(140)と前記少なくとも1つの現在の画像(115)との間のマッチング点の最良の集合を識別するためにキーポイントマッチングを用いるステップ(320)をさらに含む、請求項6に記載のコンピュータに基づく方法(400)。
- 前記少なくとも1つのマッチする過去の画像(140)の2次元の画素位置を決定するステップと、
前記2次元の画素位置から、前記マッチするエンジニアリングモデル(145)の3次元の点位置を決定するステップと、
前記3次元の点位置から、前記マッチするエンジニアリングモデル(145)の投影の数学的モデルであって、前記外観検査装置(110)の特性、前記外観検査装置(110)の回転、および前記外観検査装置(110)の並進の機能を表す数学的モデルを生成するステップと、
前記マッチするエンジニアリングモデル(145)の投影の前記数学的モデルおよび前記少なくとも1つの現在の画像(115)から、前記物的資産(105)に対する前記外観検査装置(110)の位置を決定するステップと、
をさらに含む、請求項6または7に記載のコンピュータに基づく方法(400)。 - 前記少なくとも1つの現在の画像(115)に対応する少なくとも1つのマッチするエンジニアリングモデル(145)を識別するステップ(425)は、
前記外観検査装置(110)の前記位置を用いて、前記エンジニアリングモデル(145)の投影を作成するステップと、
前記エンジニアリングモデル(145)の上に、前記少なくとも1つの現在の画像(115)を重ね合わせるステップと、
前記投影と前記少なくとも1つの現在の画像(115)との差を測定するステップと、をさらに含む、請求項8に記載のコンピュータに基づく方法(400)。 - 物的資産(105)の改良された自動外観検査のためのコンピュータであって、前記コンピュータは、プロセッサ(125)と、前記プロセッサ(125)に結合されるメモリ装置(130)と、前記メモリ装置(130)および前記プロセッサ(125)に結合される記憶装置(135)と、を含み、前記記憶装置(135)は、前記物的資産(105)の少なくとも1つの過去の画像(140)と、前記物的資産(105)を実質的に表す少なくとも1つのエンジニアリングモデル(145)と、を含み、前記コンピュータは、
現在の画像源から、外観検査装置(110)によって取り込まれた前記物的資産(105)の少なくとも1つの現在の画像(115)を受信し、
前記少なくとも1つの現在の画像(115)から、現在の特徴の集合を決定し、
前記少なくとも1つの過去の画像(140)から、過去の特徴の集合を決定し、
前記現在の特徴の集合と前記過去の特徴の集合とを比較し、
前記現在の特徴の集合および前記過去の特徴の集合を使用する少なくとも1つの画像検索方法を用いて、前記少なくとも1つの過去の画像から、前記少なくとも1つの現在の画像(115)に対応する少なくとも1つのマッチする過去の画像(140)を識別し、
前記少なくとも1つのエンジニアリングモデルから、前記少なくとも1つの現在の画像(115)に対応する少なくとも1つのマッチするエンジニアリングモデル(145)を識別し、
前記エンジニアリングモデルに基づいて、前記物的資産(105)に対する前記外観検査装置(110)の物理的姿勢を決定する、
ように構成される、コンピュータ。 - 前記現在の画像源は、
前記外観検査装置(110)と、
前記記憶装置(135)と、
前記メモリ装置(130)と、
外部記憶装置(160)と、
のうちの少なくとも1つである、請求項10に記載のコンピュータ。 - 前記少なくとも1つの過去の画像(140)と前記少なくとも1つの現在の画像(115)との間のマッチング点の最良の集合を識別するためにキーポイントマッチングを用いるようにさらに構成される、請求項11に記載のコンピュータ。
- 前記少なくとも1つのマッチする過去の画像(140)の2次元の画素位置を決定し、
前記2次元の画素位置から、前記マッチするエンジニアリングモデル(145)の3次元の点位置を決定し、
前記3次元の点位置から、前記マッチするエンジニアリングモデル(145)の投影の数学的モデルであって、前記外観検査装置(110)の特性、前記外観検査装置(110)の回転、および前記外観検査装置(110)の並進の機能を表す数学的モデルを生成し、
前記マッチするエンジニアリングモデル(145)の投影の前記数学的モデルおよび前記少なくとも1つの現在の画像(115)から、前記物的資産(105)に対する前記外観検査装置(110)の位置を決定する
ようにさらに構成される、請求項10から12のいずれかに記載のコンピュータ。 - 前記少なくとも1つの現在の画像(115)に対応する少なくとも1つのマッチするエンジニアリングモデル(145)を識別するように構成される前記コンピュータは、
前記外観検査装置(110)の前記位置を用いて、前記エンジニアリングモデル(145)の投影を作成し、
前記エンジニアリングモデル(145)の上に、前記少なくとも1つの現在の画像(115)を重ね合わせ、
前記投影と前記少なくとも1つの現在の画像(115)との差を測定する
ようにさらに構成される、請求項13に記載のコンピュータ。
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