JP6469368B2 - マシンビジョン検査システム及び高速合焦高さ測定動作を実行する方法 - Google Patents
マシンビジョン検査システム及び高速合焦高さ測定動作を実行する方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6469368B2 JP6469368B2 JP2014122045A JP2014122045A JP6469368B2 JP 6469368 B2 JP6469368 B2 JP 6469368B2 JP 2014122045 A JP2014122045 A JP 2014122045A JP 2014122045 A JP2014122045 A JP 2014122045A JP 6469368 B2 JP6469368 B2 JP 6469368B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- image
- region
- machine vision
- interest
- height
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/0002—Inspection of images, e.g. flaw detection
- G06T7/0004—Industrial image inspection
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/06—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material
- G01B11/0608—Height gauges
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/50—Depth or shape recovery
- G06T7/55—Depth or shape recovery from multiple images
- G06T7/571—Depth or shape recovery from multiple images from focus
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
- G06T2207/10—Image acquisition modality
- G06T2207/10016—Video; Image sequence
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
- G06T2207/10—Image acquisition modality
- G06T2207/10141—Special mode during image acquisition
- G06T2207/10152—Varying illumination
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
- G06T2207/30—Subject of image; Context of image processing
- G06T2207/30108—Industrial image inspection
- G06T2207/30164—Workpiece; Machine component
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
本発明の上記の態様及び付随する利点の多くは、以下の詳細な説明を、添付図面と併せて参照することによってより良く理解される。
12 ビジョン測定マシン
14 制御コンピュータシステム
16 ディスプレイ
18 プリンタ
20 ワークピース
22 ジョイスティック
24 キーボード
26 マウス
32 可動式ワークピースステージ
34 光学撮像系
100 マシンビジョン検査システム
120 制御システム部
125 コントローラ
130 入出力インタフェース
131 撮像制御インタフェース
132 移動制御インタフェース
132a 位置制御要素
132b 加速度制御要素
133 照明制御インタフェース
133a 照明制御要素
133n 照明制御要素
134 レンズ制御インタフェース
136 表示装置
138 入力装置
140 メモリ
140ed エッジ検出メモリ部
141 画像ファイルメモリ部
142 ワークピースプログラムメモリ部
143 ビデオツール部
143a ビデオツール部
143af オートフォーカスビデオツール
143hs 高速合焦高さツール
143roi 関心領域生成器
170 実行器
190 電源部
200 ビジョンシステム構成要素部
205 光学アセンブリ部
210 ワークピースステージ
212 中央透明部
220 光源
221 バス
222 光源光
230 光源
231 バス
232 光源光
240 照明光
250 交換式対物レンズ
255 ワークピース光
260 カメラシステム
262 信号線
280 ターレットレンズアセンブリ
281 バス
284 軸
286 レンズ
290 ミラー
294 制御可能モータ
296 信号線
300 撮像システム
320 ワークピース
330 光源
332 光源光
350 対物レンズ
351 中継レンズ
352 中継レンズ
355 ワークピース光
360 カメラシステム
361 ビームスプリッタ
370 可変焦点距離レンズ
386 チューブレンズ
390 ミラー
400 撮像システム
410A 撮像アレイ
410B 撮像アレイ
460 カメラシステム
900 撮像システム
910 撮像アレイ
960 カメラシステム
Claims (13)
- 照明源と、電子ロールシャッターを有するカメラシステムを含む撮像システムとを備える高速合焦高さ測定動作をマシンビジョン検査システムで実行する方法であって、
ワークピースを前記マシンビジョン検査システムの視野に配置することと、
前記合焦高さ測定動作の関心領域を特定することと、
前記照明源を動作させて、前記ワークピースをストロボ照明で照明することと、
前記ワークピースの近傍のZ高さ方向に沿った複数の位置にわたり、前記撮像システムの合焦位置を周期的に変調することと、
画像スタック内の各画像を、前記画像スタック内のZ高さに対応する、前記周期的に変調される合焦位置の位相タイミングと同期されたストロボ照明のインスタンスを使用して露光して、前記画像スタックを収集することと、
前記カメラシステムのピクセルの向きに平行する移動方向に沿って前記ワークピースに相対して視野を移動させることと、
前記視野が移動する際、前記画像スタックの画像を収集することと、
前記画像スタックを解析して、前記関心領域の少なくとも一部分の最良の合焦位置に対応するZ高さを特定することに基づいて、前記関心領域の前記少なくとも一部分のZ高さ測定を特定することと、
を含み、
前記画像スタックの各画像は、前記関心領域の前記少なくとも一部分に等しい幅を前記移動方向に沿って有するピクセルアレイのストライプである、
方法。 - 前記撮像システムは可変焦点距離レンズを含み、前記撮像システムの合焦位置を周期的に変調することは、前記可変焦点距離レンズの焦点位置を変調することを含む、請求項1に記載の方法。
- 前記可変焦点距離レンズは、可変音響式屈折率分布型レンズである、請求項2に記載の方法。
- 前記可変焦点距離レンズの焦点位置を変調することは、前記焦点位置を正弦波変調することを含む、請求項2に記載の方法。
- 前記ワークピースをストロボ照明で照明することは、前記撮像システムの前記周期的に変調される合焦位置に一致する周波数で前記ストロボ照明を駆動し、Z高さに対応するタイミングの位相シフトを追加することを含む、請求項1に記載の方法。
- 前記撮像システムは、撮像アレイを含む複数のカメラシステムを含み、前記撮像アレイは、最良の合焦高さの特定に使用される前記関心領域の前記少なくとも一部分の幅に少なくとも等しい距離だけ、互い違いに互いに相対してオフセットされた画像光を受け取る、請求項1に記載の方法。
- 前記関心領域の前記少なくとも一部分は、前記関心領域の小領域である、請求項1に記載の方法。
- 前記関心領域の前記少なくとも一部分のZ高さ測定を特定することは、前記関心領域の複数の小領域のZ高さ測定を特定することを含む、請求項1に記載の方法。
- 複数のZ高さでワークピースの画像スタックを収集して、関心領域の複数の小領域の最良の合焦高さに基づいてZ高さを測定するように構成可能なマシンビジョン検査システムであって、
電子ロールシャッターを有するカメラシステムと可変焦点距離レンズとを含む撮像システムであって、前記可変焦点距離レンズは、前記撮像システムの合焦位置を変更するように電子的に制御可能である、撮像システムと、
前記撮像システムの視野において、ワークピースをストロボ照明で照明するように構成可能な照明源と、
を含み、
前記マシンビジョン検査システムは制御部を含み、前記制御部は、
前記ワークピースの近傍のZ高さ方向に沿った複数の位置にわたり、前記可変焦点距離レンズの合焦位置を周期的に変調することと、
前記画像スタック内の各画像を、前記画像スタック内のZ高さに対応する、前記周期的に変調される合焦位置の位相タイミングと同期されたストロボ照明のインスタンスを使用して露光して、前記画像スタックを収集することと、
前記カメラシステムのピクセルの向きに平行する移動方向に沿って前記ワークピースに相対して視野を移動させることと、
前記視野が移動する際、前記画像スタックの画像を収集することと、
を行うように制御可能であり、
前記マシンビジョン検査システムは、
合焦高さ測定動作の視野内の関心領域を特定することと、
前記画像スタックを解析して、前記関心領域の少なくとも一部分の最良の合焦位置に対応するZ高さを特定することに基づいて、前記関心領域の前記少なくとも一部分のZ高さ測定を特定することと、
を行うように構成可能であり、
前記画像スタックの各画像は、前記関心領域の前記少なくとも一部分に等しい幅を前記移動方向に沿って有するピクセルアレイのストライプである、
マシンビジョン検査システム。 - 前記撮像システムは、前記撮像システムの前記合焦位置を変調するように構成可能な可変音響式屈折率分布型レンズを含む、請求項9に記載のマシンビジョン検査システム。
- 合焦高さビデオツールを更に含み、前記ワークピースの近傍の複数の位置にわたる前記撮像システムの合焦位置を周期的に変調する動作及び前記画像スタックを収集する動作は、前記合焦高さビデオツールの任意に選択できる高速モードとして選択可能である、請求項9に記載のマシンビジョン検査システム。
- 前記撮像システムは複数のカメラシステムを含み、前記複数のカメラシステムのそれぞれは、電子ロールシャッターシステムを有する撮像アレイを含み、
前記撮像アレイのそれぞれは、最良の合焦位置の特定に使用される前記関心領域の前記少なくとも一部分の幅に等しい距離だけ互いに相対してオフセットする画像光を受け取るように、互い違いに構成される、請求項9に記載のマシンビジョン検査システム。 - 前記カメラシステムは、一次元ラインセンサである撮像アレイを含む、請求項9に記載のマシンビジョン検査システム。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US13/917,581 US9143674B2 (en) | 2013-06-13 | 2013-06-13 | Machine vision inspection system and method for performing high-speed focus height measurement operations |
| US13/917,581 | 2013-06-13 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2015001531A JP2015001531A (ja) | 2015-01-05 |
| JP6469368B2 true JP6469368B2 (ja) | 2019-02-13 |
Family
ID=50828765
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2014122045A Active JP6469368B2 (ja) | 2013-06-13 | 2014-06-13 | マシンビジョン検査システム及び高速合焦高さ測定動作を実行する方法 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US9143674B2 (ja) |
| EP (1) | EP2813803B1 (ja) |
| JP (1) | JP6469368B2 (ja) |
| CN (1) | CN104236463B (ja) |
Families Citing this family (80)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE102017203492A1 (de) * | 2017-03-03 | 2018-09-06 | Witec Wissenschaftliche Instrumente Und Technologie Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Abbildung einer Probenoberfläche |
| JP2014103353A (ja) * | 2012-11-22 | 2014-06-05 | Samsung R&D Institute Japan Co Ltd | 認識装置、認識方法、実装装置及び実装方法 |
| JP2014178474A (ja) * | 2013-03-14 | 2014-09-25 | Sony Corp | デジタル顕微鏡装置、その合焦位置探索方法およびプログラム |
| AU2014280332B2 (en) | 2013-06-13 | 2017-09-07 | Basf Se | Detector for optically detecting at least one object |
| US10178321B2 (en) | 2013-11-27 | 2019-01-08 | Mitutoyo Corporation | Machine vision inspection system and method for obtaining an image with an extended depth of field |
| WO2016005893A1 (en) | 2014-07-08 | 2016-01-14 | Basf Se | Detector for determining a position of at least one object |
| US9740190B2 (en) * | 2014-10-09 | 2017-08-22 | Mitutoyo Corporation | Method for programming a three-dimensional workpiece scan path for a metrology system |
| JP2018510320A (ja) * | 2014-12-09 | 2018-04-12 | ビーエーエスエフ ソシエタス・ヨーロピアBasf Se | 光学検出器 |
| US11125880B2 (en) | 2014-12-09 | 2021-09-21 | Basf Se | Optical detector |
| EP3251152B1 (en) | 2015-01-30 | 2023-08-16 | Trinamix GmbH | Detector for an optical detection of at least one object |
| US20180067213A1 (en) * | 2015-03-05 | 2018-03-08 | Basf Se | Detector for an optical detection of at least one object |
| US20160346892A1 (en) * | 2015-06-01 | 2016-12-01 | Caterpillar Inc. | Use of photogrammetry for machining of parts |
| US9602715B2 (en) * | 2015-07-09 | 2017-03-21 | Mitutoyo Corporation | Adaptable operating frequency of a variable focal length lens in an adjustable magnification optical system |
| WO2017012986A1 (en) | 2015-07-17 | 2017-01-26 | Trinamix Gmbh | Detector for optically detecting at least one object |
| US9830694B2 (en) | 2015-08-31 | 2017-11-28 | Mitutoyo Corporation | Multi-level image focus using a tunable lens in a machine vision inspection system |
| JP6755316B2 (ja) | 2015-09-14 | 2020-09-16 | トリナミクス ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング | 少なくとも1つの物体の少なくとも1つの画像を記録するカメラ |
| US9774765B2 (en) | 2015-09-15 | 2017-09-26 | Mitutoyo Corporation | Chromatic aberration correction in imaging system including variable focal length lens |
| US9930243B2 (en) | 2016-05-02 | 2018-03-27 | Mitutoyo Corporation | Variable focal length imaging system |
| US9961253B2 (en) | 2016-05-03 | 2018-05-01 | Mitutoyo Corporation | Autofocus system for a high speed periodically modulated variable focal length lens |
| US9736355B1 (en) | 2016-05-03 | 2017-08-15 | Mitutoyo Corporation | Phase difference calibration in a variable focal length lens system |
| KR102492134B1 (ko) | 2016-07-29 | 2023-01-27 | 트리나미엑스 게엠베하 | 광학 센서 및 광학적 검출용 검출기 |
| US10151962B2 (en) | 2016-09-29 | 2018-12-11 | Mitutoyo Corporation | Variable focal length lens system with focus monitoring and control |
| US11428787B2 (en) | 2016-10-25 | 2022-08-30 | Trinamix Gmbh | Detector for an optical detection of at least one object |
| JP2019532517A (ja) | 2016-10-25 | 2019-11-07 | トリナミクス ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング | 光学的に検出するための光検出器 |
| US10142550B2 (en) | 2016-11-15 | 2018-11-27 | Mitutoyo Corporation | Extending a focus search range in an imaging system including a high speed variable focal length lens |
| EP3542179B1 (en) | 2016-11-17 | 2021-03-24 | trinamiX GmbH | Detector for optically detecting at least one object |
| US11860292B2 (en) | 2016-11-17 | 2024-01-02 | Trinamix Gmbh | Detector and methods for authenticating at least one object |
| DE102017220101A1 (de) | 2016-11-23 | 2018-05-24 | Mitutoyo Corporation | Prüfsystem unter Verwendung von maschinellem Sehen zum Erhalten eines Bilds mit erweiterter Tiefenschärfe |
| US10101572B2 (en) * | 2016-11-23 | 2018-10-16 | Mitutoyo Corporation | Variable focal length lens system with multi-level extended depth of field image processing |
| JP2018106127A (ja) * | 2016-12-28 | 2018-07-05 | 株式会社ミツトヨ | レンズシステムおよび焦点距離可変レンズ装置 |
| US10768404B2 (en) | 2017-03-22 | 2020-09-08 | Mitutoyo Corporation | Modulation monitoring system for use with an imaging system that includes a high speed periodically modulated variable focal length lens |
| JP7204667B2 (ja) | 2017-04-20 | 2023-01-16 | トリナミクス ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング | 光検出器 |
| FI20175410A1 (fi) * | 2017-05-08 | 2018-11-09 | Grundium Oy | Laite ja menetelmä mikroskooppileikkeiden skannaamiseksi |
| JP7237024B2 (ja) | 2017-06-26 | 2023-03-10 | トリナミクス ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング | 少なくとも1つの物体の位置を決定するための検出器 |
| DE102017130211A1 (de) * | 2017-07-27 | 2019-01-31 | Nanofocus Ag | Verfahren und Vorrichtung zur optischen Oberflächenmessung mit Hilfe eines konfokalen Sensors |
| US10225457B1 (en) | 2017-09-06 | 2019-03-05 | Mitutoyo Corporation | Stabilizing operation of a high speed variable focal length tunable acoustic gradient lens in an imaging system |
| US10341646B2 (en) | 2017-09-29 | 2019-07-02 | Mitutoyo Corporation | Variable focal length lens system with optical power monitoring |
| US10281700B1 (en) | 2017-12-21 | 2019-05-07 | Mitutoyo Corporation | Variable focal length lens system including a focus state reference subsystem |
| US10171725B1 (en) | 2017-12-21 | 2019-01-01 | Mitutoyo Corporation | Variable focal length lens system including a focus state reference subsystem |
| US10578827B2 (en) | 2018-04-27 | 2020-03-03 | Mitutoyo Corporation | Variable focal length lens system with quasi-sinusoidal periodic intensity modulated light |
| JP7169092B2 (ja) * | 2018-05-21 | 2022-11-10 | 株式会社ミツトヨ | 焦点距離可変レンズ装置および焦点距離可変レンズ制御方法 |
| US10930001B2 (en) * | 2018-05-29 | 2021-02-23 | Zebra Technologies Corporation | Data capture system and method for object dimensioning |
| US10520650B2 (en) | 2018-06-05 | 2019-12-31 | Mitutoyo Corporation | External reservoir configuration for tunable acoustic gradient lens |
| US10761398B2 (en) | 2018-06-29 | 2020-09-01 | Mitutoyo Corporation | Imaging ellipsometer system utilizing a tunable acoustic gradient lens |
| JP7224804B2 (ja) * | 2018-08-01 | 2023-02-20 | 株式会社ミツトヨ | 非接触式変位計 |
| US10812701B2 (en) | 2018-12-13 | 2020-10-20 | Mitutoyo Corporation | High-speed tag lens assisted 3D metrology and extended depth-of-field imaging |
| US10890693B2 (en) | 2018-12-20 | 2021-01-12 | Mitutoyo Corporation | Tunable acoustic gradient lens with axial compliance portion |
| US11125967B2 (en) | 2018-12-26 | 2021-09-21 | Mitutoyo Corporation | System and method for calibrating variable focal length lens system using calibration object with planar tilted pattern surface |
| JP7390790B2 (ja) * | 2018-12-28 | 2023-12-04 | 株式会社ミツトヨ | 画像測定装置および非接触形状測定装置 |
| JP7181790B2 (ja) * | 2018-12-28 | 2022-12-01 | 株式会社キーエンス | レーザ加工装置 |
| US10520301B1 (en) | 2018-12-31 | 2019-12-31 | Mitutoyo Corporation | Method for measuring Z height values of a workpiece surface with a machine vision inspection system |
| DE102019118600A1 (de) * | 2019-07-09 | 2021-01-14 | Precitec Optronik Gmbh | Phosphor-Lichtquelle für CLS oder Multipoint |
| JP7623360B2 (ja) | 2019-08-30 | 2025-01-28 | 株式会社ミツトヨ | 高速計測撮像のための高速高パワーパルス光源システム |
| US11119214B2 (en) | 2019-09-06 | 2021-09-14 | Mitutoyo Corporation | Triangulation sensing system and method with triangulation light extended focus range using variable focus lens |
| US10809378B1 (en) | 2019-09-06 | 2020-10-20 | Mitutoyo Corporation | Triangulation sensing system and method with triangulation light extended focus range using variable focus lens |
| KR102303073B1 (ko) * | 2019-11-14 | 2021-09-17 | 아나나스엘엘씨 유한책임회사 | 다면 비전 검사 알고리즘 및 이를 이용한 시스템 |
| JP7333744B2 (ja) | 2019-12-03 | 2023-08-25 | 株式会社ミツトヨ | 高さ測定方法および高さ測定装置 |
| US10880468B1 (en) | 2019-12-19 | 2020-12-29 | Mitutoyo Corporation | Metrology system with transparent workpiece surface mode |
| US11119382B2 (en) | 2019-12-20 | 2021-09-14 | Mitutoyo Corporation | Tunable acoustic gradient lens system with amplitude adjustment corresponding to z-height as indicated by calibration data |
| US11112541B2 (en) | 2019-12-20 | 2021-09-07 | Mitutoyo Corporation | Tunable acoustic gradient lens system with reflective configuration and increased power |
| US11249225B2 (en) | 2019-12-20 | 2022-02-15 | Mitutoyo Corporation | Tunable acoustic gradient lens system utilizing amplitude adjustments for acquiring images focused at different z-heights |
| CN111521121A (zh) * | 2020-05-21 | 2020-08-11 | 广州粤芯半导体技术有限公司 | 晶圆厚度的测量方法及测量装置 |
| US11430105B2 (en) | 2020-06-15 | 2022-08-30 | Mitutoyo Corporation | Workpiece inspection and defect detection system including monitoring of workpiece images |
| US11150200B1 (en) | 2020-06-15 | 2021-10-19 | Mitutoyo Corporation | Workpiece inspection and defect detection system indicating number of defect images for training |
| US11328409B2 (en) * | 2020-09-30 | 2022-05-10 | Mitutoyo Corporation | System and method utilizing multi-point autofocus to align an optical axis of an optical assembly portion to be normal to a workpiece surface |
| US11587246B2 (en) | 2020-10-30 | 2023-02-21 | Mitutoyo Corporation | Metrology system with projected pattern for points-from-focus type processes |
| US11486694B2 (en) | 2020-12-18 | 2022-11-01 | Mitutoyo Corporation | Chromatic range sensor system for measuring workpiece thickness |
| CN115655139A (zh) * | 2021-01-06 | 2023-01-31 | 深圳市爱蒂医疗电子有限责任公司 | 提高滚动快门双目相机三维物体测量精度的方法及装置 |
| EP4060394B1 (en) * | 2021-03-17 | 2026-02-18 | Carl Zeiss Microscopy GmbH | Microscope and method for forming a microscopic image with an extended depth of field |
| US11756186B2 (en) | 2021-09-15 | 2023-09-12 | Mitutoyo Corporation | Workpiece inspection and defect detection system utilizing color channels |
| US11714051B2 (en) | 2021-11-30 | 2023-08-01 | Mitutoyo Corporation | Metrology system configured to measure apertures of workpieces |
| US20230421909A1 (en) * | 2022-06-27 | 2023-12-28 | Mitutoyo Corporation | Lighting configuration for metrology system with images acquired at different focus positions |
| EP4551900A1 (en) * | 2022-09-05 | 2025-05-14 | Siemens Aktiengesellschaft | System and method for three dimensional scanning of an object |
| US12536691B2 (en) | 2022-12-16 | 2026-01-27 | Mitutoyo Corporation | Machine vision system utilizing measurement marking device |
| US12204226B2 (en) | 2023-05-25 | 2025-01-21 | Mitutoyo Corporation | Metrology system configured to illuminate and measure apertures of workpieces |
| US12242047B2 (en) | 2023-06-29 | 2025-03-04 | Mitutoyo Corporation | Metrology system utilizing annular optical configuration |
| US12488448B2 (en) | 2023-07-20 | 2025-12-02 | Mitutoyo Corporation | Machine vision system with objective lens and collision protection |
| US12574625B2 (en) | 2023-12-29 | 2026-03-10 | Mitutoyo Corporation | System with lighting control including grouped channels |
| US12423779B1 (en) | 2024-04-29 | 2025-09-23 | Mitutoyo Corporation | Metrology system utilizing points-from-focus type processes with glare reduction |
| CN118898685A (zh) * | 2024-07-15 | 2024-11-05 | 武汉精立电子技术有限公司 | 一种基于图像堆叠的三维成像方法及其应用 |
Family Cites Families (20)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2737484B2 (ja) * | 1991-10-15 | 1998-04-08 | 松下電器産業株式会社 | 配線パターン検査装置 |
| US5790710A (en) | 1991-07-12 | 1998-08-04 | Jeffrey H. Price | Autofocus system for scanning microscopy |
| JPH07336586A (ja) * | 1994-06-10 | 1995-12-22 | Canon Inc | 撮像装置 |
| US6785469B1 (en) * | 1999-11-16 | 2004-08-31 | Olympus Corporation | Distance measuring device installed in camera |
| US6542180B1 (en) | 2000-01-07 | 2003-04-01 | Mitutoyo Corporation | Systems and methods for adjusting lighting of a part based on a plurality of selected regions of an image of the part |
| TW555954B (en) * | 2001-02-28 | 2003-10-01 | Olympus Optical Co | Confocal microscope, optical height-measurement method, automatic focusing method |
| JP3824237B2 (ja) * | 2003-09-05 | 2006-09-20 | ソニー株式会社 | 画像処理装置および方法、記録媒体、並びにプログラム |
| US7030351B2 (en) * | 2003-11-24 | 2006-04-18 | Mitutoyo Corporation | Systems and methods for rapidly automatically focusing a machine vision inspection system |
| US7324682B2 (en) | 2004-03-25 | 2008-01-29 | Mitutoyo Corporation | System and method for excluding extraneous features from inspection operations performed by a machine vision inspection system |
| US7454053B2 (en) | 2004-10-29 | 2008-11-18 | Mitutoyo Corporation | System and method for automatically recovering video tools in a vision system |
| DE102006004060B4 (de) | 2006-01-28 | 2009-09-24 | Basler Ag | Verfahren und Vorrichtung zum Messen der Höhe und/oder des Höhenverlaufs eines Objekts |
| US7728961B2 (en) * | 2006-10-31 | 2010-06-01 | Mitutoyo Coporation | Surface height and focus sensor |
| CN101393328A (zh) * | 2007-09-18 | 2009-03-25 | 财团法人金属工业研究发展中心 | 光学探测装置及包含所述光学探测装置的测量系统 |
| US8111938B2 (en) | 2008-12-23 | 2012-02-07 | Mitutoyo Corporation | System and method for fast approximate focus |
| US8144968B2 (en) | 2009-01-12 | 2012-03-27 | Aceris 3D Inspection Inc. | Method and apparatus for scanning substrates |
| JP5365419B2 (ja) * | 2009-08-28 | 2013-12-11 | 株式会社Jvcケンウッド | 3次元形状センサ |
| US8111905B2 (en) | 2009-10-29 | 2012-02-07 | Mitutoyo Corporation | Autofocus video tool and method for precise dimensional inspection |
| US8581162B2 (en) | 2009-12-08 | 2013-11-12 | Mitutoyo Corporation | Weighting surface fit points based on focus peak uncertainty |
| JP5593750B2 (ja) * | 2010-03-12 | 2014-09-24 | オムロン株式会社 | 画像処理方法および画像処理装置 |
| US20130027538A1 (en) * | 2011-07-29 | 2013-01-31 | Mitutoyo Corporation | Multi-region focus navigation interface |
-
2013
- 2013-06-13 US US13/917,581 patent/US9143674B2/en active Active
-
2014
- 2014-05-29 EP EP14170484.1A patent/EP2813803B1/en active Active
- 2014-06-13 JP JP2014122045A patent/JP6469368B2/ja active Active
- 2014-06-13 CN CN201410265860.8A patent/CN104236463B/zh active Active
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN104236463B (zh) | 2018-12-07 |
| CN104236463A (zh) | 2014-12-24 |
| US20140368726A1 (en) | 2014-12-18 |
| JP2015001531A (ja) | 2015-01-05 |
| US9143674B2 (en) | 2015-09-22 |
| EP2813803B1 (en) | 2019-10-23 |
| EP2813803A1 (en) | 2014-12-17 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP6469368B2 (ja) | マシンビジョン検査システム及び高速合焦高さ測定動作を実行する方法 | |
| US9830694B2 (en) | Multi-level image focus using a tunable lens in a machine vision inspection system | |
| US10101572B2 (en) | Variable focal length lens system with multi-level extended depth of field image processing | |
| JP6239232B2 (ja) | 高性能エッジフォーカスツール | |
| JP5972563B2 (ja) | 構造化照明を用いるエッジ検出 | |
| JP6502071B2 (ja) | 拡張被写界深度を有する画像を得るマシンビジョン検査システム及び方法 | |
| JP6101706B2 (ja) | マシンビジョンシステムにおいて複数の照明設定を使用する合焦点動作 | |
| US10880468B1 (en) | Metrology system with transparent workpiece surface mode | |
| US11119382B2 (en) | Tunable acoustic gradient lens system with amplitude adjustment corresponding to z-height as indicated by calibration data | |
| DE102019219506A1 (de) | System und verfahren zum eichen eines linsensystems mit variabler brennweite unter verwendung eines eichobjekts mit einer ebenen geneigten musterfläche | |
| DE102017207176A1 (de) | Autofokussystem für eine mit Hochgeschwindigkeit periodisch modulierte Linse mit variabler Brennweite | |
| JP2014202751A (ja) | エッジ分解能強化に利用されるオフセットを有する画像を取得するシステム及び方法 | |
| US11249225B2 (en) | Tunable acoustic gradient lens system utilizing amplitude adjustments for acquiring images focused at different z-heights | |
| JP7319903B2 (ja) | 高速tagレンズ支援3d計測及び拡張被写界深度撮像 | |
| US10142550B2 (en) | Extending a focus search range in an imaging system including a high speed variable focal length lens | |
| JP6293453B2 (ja) | エッジ測定ビデオツールパラメータ設定ユーザインタフェース | |
| US20260079335A1 (en) | Metrology system utilizing scan lens for points-from-focus type processes | |
| US20250146949A1 (en) | Machine vision system utilizing autofocus and inspection processes | |
| US20250004263A1 (en) | Metrology system utilizing annular optical configuration |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20170512 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20180302 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20180329 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20180521 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20181011 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20181023 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20181218 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20190116 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6469368 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |