JP6498397B2 - Transport device - Google Patents
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Description
本発明は、搬送装置に関し、より詳しくは、実装処理に関する基板の搬送装置に関する。 The present invention relates to a transfer device, and more particularly to a substrate transfer device related to a mounting process.
従来、搬送装置としては、電子部品が搭載された基板を検査する検査機と、検査機によって検査された基板を搬送する搬送機と、不良基板に関する情報を表示する表示装置と、不良基板の状態を確認するための作業領域とを備えた検査搬送装置が提案されている（例えば、特許文献１参照）。この装置では、不良基板を生産ラインとは別の作業領域に退避させることにより、基板状態の確認作業を効率よく行えて検査機自体の状態を正確に把握することができるとしている。 Conventionally, as a transfer device, an inspection machine for inspecting a substrate on which electronic components are mounted, a transfer device for transferring a substrate inspected by the inspection machine, a display device for displaying information on the defective substrate, and the state of the defective substrate There has been proposed an inspection / conveyance apparatus including a work area for confirming the above (for example, see Patent Document 1). In this apparatus, the defective substrate is retracted to a work area separate from the production line, whereby the substrate state can be checked efficiently and the state of the inspection machine itself can be accurately grasped.
ところで、この特許文献１に記載された装置では、作業領域で作業者は、不良基板を取り出して戻すことや、不良基板の不良部分（部品のずれなど）を手直しする場合などがある。このような場合、後工程において正常な製品となる場合もあるが、ときには不良製品になってしまう場合もありうる。上記装置では、基板の検査を行うことによって製品の品質を向上するものとしているが、その後の処理に応じては製品の品質が十分でないこともあり得た。 By the way, in the apparatus described in Patent Document 1, in the work area, an operator may take out a defective board and return it, or correct a defective portion (such as component displacement) of the defective board. In such a case, the product may be a normal product in a subsequent process, but sometimes it may be a defective product. In the above apparatus, the quality of the product is improved by inspecting the substrate, but the quality of the product may not be sufficient depending on the subsequent processing.
本発明は、このような課題に鑑みなされたものであり、製品の品質をより向上することができる搬送装置を提供することを主目的とする。 This invention is made | formed in view of such a subject, and it aims at providing the conveying apparatus which can improve the quality of a product more.
本発明は、上述の主目的を達成するために以下の手段を採った。 The present invention adopts the following means in order to achieve the main object described above.
本発明の搬送装置は、
上流側の装置から下流側の装置へ基板を搬送するコンベアと、
前記コンベアで搬送される前記基板を取り出し可能な開口部を有する基板取出部と、
前記コンベアを制御する制御部と、を備え、
前記基板取出部には、前記開口部を開放及び閉鎖する扉部材と、該扉部材の開放及び／又は閉鎖状態を検出する検出部とが配設されており、前記制御部は、前記基板取出部に前記基板があるときに前記扉部材が開放されたときには、該基板取出部にある前記基板を前記下流側の装置へ搬送しないようにする搬送制限処理、及び／又は、
前記基板取出部には、前記開口部での作業者の作業の有無を検出する検出部が配設されており、前記制御部は、前記基板取出部に前記基板があるときに前記開口部での作業者の作業を検出したときには、該基板取出部にある前記基板を前記下流側の装置へ搬送しないようにする搬送制限処理を実行するものである。
The transport device of the present invention is
A conveyor for transporting the substrate from the upstream device to the downstream device;
A substrate extraction portion having an opening from which the substrate conveyed by the conveyor can be extracted;
A control unit for controlling the conveyor,
A door member that opens and closes the opening and a detection unit that detects an open and / or closed state of the door member are disposed in the substrate extraction unit, and the control unit is configured to remove the substrate. When the door member is opened when the substrate is in a portion, a transfer restriction process for preventing the substrate in the substrate take-out portion from being transferred to the downstream apparatus, and / or
The substrate take-out unit is provided with a detection unit that detects the presence or absence of an operator's work in the opening, and the control unit is configured to open the opening when the substrate is in the substrate take-out unit. When the operator's operation is detected, a transfer restriction process is performed so as not to transfer the substrate in the substrate take-out unit to the downstream apparatus.
この搬送装置では、基板取出部に基板があるときに基板取出部の開口部に設けられた扉部材が開放されたときには、基板取出部にある基板を下流側の装置へ搬送しないようにする搬送制限処理を実行する。このように、装置内で作業者が触れられる状態になった基板については、下流側（後段）の装置への搬送を禁止し、最終製品とすることを防止するのである。また、この搬送装置では、基板取出部に基板があるときに開口部での作業者の作業を検出したときには、基板取出部にある基板を下流側の装置へ搬送しないようにする搬送制限処理を実行する。このように、装置内で作業者が触れた可能性のある基板については、下流側（後段）の装置への搬送を禁止し、最終製品とすることを防止するのである。したがって、この搬送装置では、作業者の介在に起因する不具合の発生を防止することにより、製品の品質をより向上することができる。ここで、「上流側の装置」としては、例えば、基板の状態を検査する検査装置が挙げられる。また、「下流側の装置」としては、例えば、基板に部品を実装処理する実装装置が挙げられる。 In this transport apparatus, when there is a substrate in the substrate take-out portion, when the door member provided in the opening of the substrate take-out portion is opened, the transport in which the substrate in the substrate take-out portion is not transported to the downstream apparatus. Perform restriction processing. As described above, the substrate that can be touched by the operator in the apparatus is prohibited from being transported to the downstream (rear stage) apparatus and prevented from being a final product. Further, in this transport apparatus, when there is a substrate in the substrate take-out portion, when a worker's work at the opening is detected, a transport restriction process is performed so that the substrate in the substrate take-out portion is not transported to the downstream apparatus. Run. As described above, the substrate that may be touched by the operator in the apparatus is prohibited from being transported to the apparatus on the downstream side (rear stage) to prevent the final product. Therefore, in this transport device, the quality of the product can be further improved by preventing the occurrence of problems caused by the operator's intervention. Here, examples of the “upstream apparatus” include an inspection apparatus that inspects the state of the substrate. Further, examples of the “downstream apparatus” include a mounting apparatus that mounts components on a substrate.
あるいは、本発明の搬送装置は、
上流側の装置から下流側の装置へ基板を搬送するコンベアと、
前記コンベアで搬送される前記基板を取り出し可能な開口部を有する基板取出部と、
基板に関する管理情報を記憶する記憶部を有し前記コンベアを制御する制御部と、を備え、
前記基板取出部には、前記開口部を開放及び閉鎖する扉部材と、該扉部材の開放及び／又は閉鎖状態を検出する検出部とが配設されており、前記制御部は、前記基板取出部に前記基板があるときに前記扉部材が開放されたときには、該基板取出部にある前記基板に対応する前記管理情報に該検出の情報を含めて該管理情報を前記記憶部に記憶させる情報管理処理、及び／又は、
前記基板取出部には、前記開口部での作業者の作業の有無を検出する検出部が配設されており、前記制御部は、前記基板取出部に前記基板があるときに前記作業者の作業を検出したときには、該基板取出部にある前記基板に対応する前記管理情報に該検出の情報を含めて該管理情報を前記記憶部に記憶させる情報管理処理を実行するものである。
Alternatively, the transport device of the present invention is
A conveyor for transporting the substrate from the upstream device to the downstream device;
A substrate extraction portion having an opening from which the substrate conveyed by the conveyor can be extracted;
A control unit having a storage unit for storing management information about the substrate and controlling the conveyor,
A door member that opens and closes the opening and a detection unit that detects an open and / or closed state of the door member are disposed in the substrate extraction unit, and the control unit is configured to remove the substrate. When the door member is opened when the board is in the part, the management information corresponding to the board in the board take-out part includes the detection information and stores the management information in the storage part Management process and / or
The substrate take-out unit is provided with a detection unit that detects the presence or absence of the operator's work in the opening, and the control unit is configured to detect the operator when the substrate is in the substrate take-out unit. When an operation is detected, an information management process is executed in which the management information corresponding to the substrate in the substrate take-out unit is included in the management information and stored in the storage unit.
この搬送装置では、基板取出部に基板があるときに扉部材が開放されたときには、基板取出部にある基板に対応する管理情報にこの検出の情報を含めて記憶させる情報管理処理を実行する。このように、装置内で作業者が触れられる状態になった基板については、その旨の情報を管理情報で管理するのである。また、この搬送装置では、基板取出部に基板があるときに作業者の作業を検出したときには、基板取出部にある基板に対応する管理情報にこの検出の情報を含めて記憶させる情報管理処理を実行する。このように、装置内で作業者が触れた可能性のある基板については、その旨の情報を管理情報で管理するのである。このため、この搬送装置では、基板の不具合の発生と、作業者の作業の介在との関係を管理情報で確認することができ、その後、作業者の作業を禁止するなどの措置をとりうる。したがって、この搬送装置では、製品の品質をより向上することができる。 In this transfer apparatus, when the door member is opened when there is a substrate in the substrate extraction unit, an information management process is executed to store the detection information in the management information corresponding to the substrate in the substrate extraction unit. As described above, for the board that is in a state where the operator can touch in the apparatus, the information to that effect is managed by the management information. In addition, in this transfer apparatus, when a worker's work is detected when there is a substrate in the substrate take-out unit, an information management process for storing information including this detection information in management information corresponding to the substrate in the substrate take-out unit is performed. Run. In this way, for the board that the operator may have touched in the apparatus, information to that effect is managed by the management information. For this reason, in this transfer apparatus, the relationship between the occurrence of a substrate defect and the intervention of the operator's work can be confirmed by the management information, and then measures such as prohibiting the operator's work can be taken. Therefore, the quality of the product can be further improved in this transport device.
本発明の好適な実施形態を図面を参照しながら以下に説明する。図１は、実装システム１０の概略説明図である。図２は、搬送装置３０の斜視図であり、図２（ａ）が扉部材５１を閉鎖した図、図２（ｂ）は扉部材５１を開放した図である。図３は、搬送装置３０が有する第１コンベア４０及び第２コンベア４３の概略説明図である。図４は、第１コンベア４０及び第２コンベア４３の動作の概略説明図であり、図４（ａ）が基板Ｓ２を第１コンベア４０が搬送する図、図４（ｂ）が基板Ｓ２を基板取出部５０へ配置した図、図４（ｃ）が第２コンベア４３で基板Ｓ２を搬送する図である。図５は、実装システム１０の各装置の構成を表すブロック図である。 Preferred embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a schematic explanatory diagram of the mounting system 10. 2A and 2B are perspective views of the transfer device 30. FIG. 2A is a view in which the door member 51 is closed, and FIG. 2B is a view in which the door member 51 is opened. FIG. 3 is a schematic explanatory diagram of the first conveyor 40 and the second conveyor 43 that the transport device 30 has. FIG. 4 is a schematic explanatory diagram of the operation of the first conveyor 40 and the second conveyor 43. FIG. 4 (a) is a diagram in which the first conveyor 40 transports the substrate S2, and FIG. 4 (b) is the substrate S2. FIG. 4C, which is a diagram arranged at the take-out section 50, is a diagram for transporting the substrate S2 by the second conveyor 43. FIG. FIG. 5 is a block diagram illustrating the configuration of each device of the mounting system 10.
実装システム１０は、印刷装置２０と、印刷検査装置２５と、搬送装置３０と、実装装置６０と、実装検査装置６５と、搬送装置３０Ｂとを備えている。また、実装システム１０は、管理コンピュータ８０と、ＰＣ９０とを備えている。なお、搬送装置３０Ｂは、搬送装置３０と同様の構成であるから、搬送装置３０を説明することにより、その説明を省略する。この実装システム１０は、印刷処理及び実装処理を行う生産ラインとして構成されており、印刷装置２０、搬送装置３０，３０Ｂ、実装装置６０及び実装検査装置６５を統括的に制御する制御コントローラ１１を備えている（図５参照）。基板Ｓには、その基板の識別情報などを含む基板情報Ｃが形成されている（図１参照）。この基板情報Ｃは、バーコードや２Ｄコードなどとしてもよいし、情報を格納したＩＣチップとしてもよい。なお、本実施形態において、左右方向（Ｘ軸）、前後方向（Ｙ軸）及び上下方向（Ｚ軸）は、図１〜３に示した通りとする。 The mounting system 10 includes a printing device 20, a printing inspection device 25, a transport device 30, a mounting device 60, a mounting inspection device 65, and a transport device 30B. The mounting system 10 includes a management computer 80 and a PC 90. In addition, since the conveyance apparatus 30B is the structure similar to the conveyance apparatus 30, description is abbreviate | omitted by describing the conveyance apparatus 30. FIG. The mounting system 10 is configured as a production line that performs printing processing and mounting processing, and includes a control controller 11 that comprehensively controls the printing device 20, the transport devices 30, 30B, the mounting device 60, and the mounting inspection device 65. (See FIG. 5). Substrate information C including identification information of the substrate is formed on the substrate S (see FIG. 1). The board information C may be a bar code, a 2D code, or the like, or an IC chip storing information. In the present embodiment, the left-right direction (X-axis), the front-rear direction (Y-axis), and the up-down direction (Z-axis) are as shown in FIGS.
印刷装置２０は、例えば、スキージを用いてスクリーンマスクに形成されたパターン孔にはんだを押し込むことによりそのパターン孔を介して下方の基板Ｓにはんだを塗布（印刷）する装置である。印刷検査装置２５は、撮像した画像に基づいて、印刷済みの基板Ｓに形成されたはんだの印刷状態を検査する装置である。印刷検査装置２５は、装置全体の制御を司る制御部２６と、基板Ｓの搬送を行う搬送ユニット２７と、基板Ｓを撮像して、はんだの印刷状態を測定する印刷検査ユニット２８とを備えている。実装装置６０は、吸着ノズルなどを用いて部品を採取し基板Ｓ上の所定位置に配置（実装）する装置である。実装検査装置６５は、撮像した画像に基づいて、基板Ｓに配設された部品の実装状態を検査する装置である。実装検査装置６５は、装置全体の制御を司る制御部６６と、基板Ｓの搬送を行う搬送ユニット６７と、基板Ｓを撮像して部品の実装状態を測定する実装検査ユニット６８とを備えている。 The printing apparatus 20 is an apparatus that applies (prints) solder to the lower substrate S through the pattern hole by, for example, pushing solder into the pattern hole formed in the screen mask using a squeegee. The print inspection device 25 is a device that inspects the printed state of the solder formed on the printed substrate S based on the captured image. The print inspection apparatus 25 includes a control unit 26 that controls the entire apparatus, a transport unit 27 that transports the substrate S, and a print inspection unit 28 that captures an image of the substrate S and measures the printed state of the solder. Yes. The mounting device 60 is a device that collects components using a suction nozzle or the like and arranges (mounts) them at a predetermined position on the substrate S. The mounting inspection device 65 is a device that inspects the mounting state of the components disposed on the substrate S based on the captured image. The mounting inspection device 65 includes a control unit 66 that controls the entire device, a transport unit 67 that transports the substrate S, and a mounting inspection unit 68 that images the substrate S and measures the mounting state of components. .
搬送装置３０は、基板をＸ軸方向に搬送すると共に、基板取出部５０から基板Ｓを取出し可能に構成されている。搬送装置３０は、図５に示すように、搬送制御部３１と、第１コンベア４０と、第２コンベア４３と、搬送移動ユニット４６と、基板取出部５０と、操作パネル５５と、基板情報読取装置５８とを備えている。この搬送装置３０は、基本的に第１コンベア４０が基板Ｓを搬送する第１レーンと、基本的に第２コンベア４３が基板Ｓを搬送する第２レーンとのデュアルレーンを有している。なお、第１レーンを搬送された基板Ｓを基板Ｓ１と称し、第２レーンを搬送された基板Ｓを基板Ｓ２とも称する。 The transport device 30 is configured to transport the substrate in the X-axis direction and to take out the substrate S from the substrate take-out unit 50. As shown in FIG. 5, the transfer device 30 includes a transfer control unit 31, a first conveyor 40, a second conveyor 43, a transfer movement unit 46, a substrate take-out unit 50, an operation panel 55, and substrate information reading. Device 58. The transport device 30 basically has a dual lane of a first lane in which the first conveyor 40 transports the substrate S and a second lane in which the second conveyor 43 basically transports the substrate S. In addition, the board | substrate S which conveyed the 1st lane is called board | substrate S1, and the board | substrate S which the 2nd lane was conveyed is also called board | substrate S2.
第１コンベア４０は、図３に示すように、基本的には第１レーン上の第１搬送位置Ｐ１にて上流側の印刷検査装置２５から基板Ｓ１を受け取りＸ軸に沿って搬送して下流側の実装装置６０へ渡すものである。この第１コンベア４０は、間隔を開けて設けられ左右方向に延びる第１レール４１及び第２レール４２を有している。この第１レール４１及び第２レール４２は、それぞれコンベアベルトが設けられている。コンベアベルト上に配置された基板Ｓは、このコンベアベルトが駆動モータにより駆動されることにより搬送される。第２コンベア４３は、第１コンベア４０と同様の構成であり、基本的には第２レーン上の第２搬送位置Ｐ２にて基板Ｓ２をＸ軸に沿って搬送する。この第２コンベア４３は、間隔を開けて設けられ左右方向に延びる第１レール４４及び第２レール４５を有している。 As shown in FIG. 3, the first conveyor 40 basically receives the substrate S1 from the upstream print inspection apparatus 25 at the first transport position P1 on the first lane, transports it along the X-axis, and downstream. To the mounting device 60 on the side. The first conveyor 40 includes a first rail 41 and a second rail 42 that are provided at intervals and extend in the left-right direction. Each of the first rail 41 and the second rail 42 is provided with a conveyor belt. The board | substrate S arrange | positioned on a conveyor belt is conveyed when this conveyor belt is driven by a drive motor. The second conveyor 43 has the same configuration as the first conveyor 40, and basically transports the substrate S2 along the X axis at the second transport position P2 on the second lane. The second conveyor 43 includes a first rail 44 and a second rail 45 that are provided at intervals and extend in the left-right direction.
搬送移動ユニット４６は、移動モータ４７を備え、第１コンベア４０及び第２コンベア４３をＹ軸方向に移動するものである。搬送移動ユニット４６は、第１レール４１と第２レール４２との間隔や、第１レール４４と第２レール４５との間隔を変更可能にそれぞれのレールを支持している。この搬送移動ユニット４６は、第１搬送位置Ｐ１、第２搬送位置Ｐ２及び基板Ｓを取り出す基板取出位置Ｐ３の間で第１コンベア４０を移動させる。また、搬送移動ユニット４６は、第１搬送位置Ｐ１、第２搬送位置Ｐ２及び第２コンベア４３を退避させる退避位置Ｐ４の間で第２コンベア４３を移動させる。搬送移動ユニット４６は、第２コンベア４３を退避位置Ｐ４に移動するときには、第１レール４４と第２レール４５との間隔を狭くするものとする（図４（ａ）参照）。こうすることにより、搬送装置３０では、前後方向のコンパクト化を図ることができる。 The transport movement unit 46 includes a movement motor 47 and moves the first conveyor 40 and the second conveyor 43 in the Y-axis direction. The transport movement unit 46 supports the rails so that the distance between the first rail 41 and the second rail 42 and the distance between the first rail 44 and the second rail 45 can be changed. The transport movement unit 46 moves the first conveyor 40 between the first transport position P1, the second transport position P2, and the substrate take-out position P3 where the substrate S is taken out. Further, the transport movement unit 46 moves the second conveyor 43 between the first transport position P1, the second transport position P2, and the retreat position P4 where the second conveyor 43 is retracted. When moving the second conveyor 43 to the retracted position P4, the transport moving unit 46 narrows the interval between the first rail 44 and the second rail 45 (see FIG. 4A). By doing so, the transport device 30 can be made compact in the front-rear direction.
基板取出部５０は、搬送装置３０の筐体の前方に配設されており、検査後の基板Ｓを作業者が確認等する部分である（図２など参照）。基板取出部５０は、図２、５に示すように、扉部材５１と、開口部５２と、扉センサ５３と、エリアセンサ５４とを備えている。なお、基板取出位置Ｐ３は、基板取出部５０の開口部５２の下方に位置している。扉部材５１は、筐体上部に形成された開口部５２を閉鎖、開放するものであり、透明な部材（例えばアクリル板など）などで形成されている。扉センサ５３は、扉部材５１の開放及び／又は閉鎖状態を検出する検出部であり、例えば、接触式のセンサ（スイッチなど）としてもよいし、非接触式（光学式や磁気式など）のセンサとしてもよい。なお、扉センサ５３は、扉部材５１の開放状態を検出するものとしたときは、開放状態が検出されないときに扉部材５１の閉鎖状態を検出するものとしてもよい。また、扉センサ５３は、扉部材５１の閉鎖状態を検出するものとしたときは、閉鎖状態が検出されないときに扉部材５１の開放状態を検出するものとしてもよい。エリアセンサ５４は、開口部５２での作業者の作業の有無を検出する検出部である。エリアセンサ５４は、開口部５２上での遮光を検出するものであり、光を照射するライン状の照射部と、照射した光を受光するライン状の受光部とを備えている。ここでは、照射部は、Ｘ軸を長手方向とし、第１コンベア４０の第２レール４２上に配設されている。また、受光部は、Ｘ軸を長手方向とし、開口部５２を形成する開口縁の筐体前側の下部に固定されている。このエリアセンサ５４は、遮光が検出された場合、扉部材５１が開放されており且つ何らかの物体が開口部５２から筐体内部へ侵入したものと検出することができる。ここでは、この検出により、作業者が開口部５２から基板Ｓへの作業を実施したものとする。 The substrate take-out unit 50 is disposed in front of the housing of the transfer device 30 and is a portion where the operator confirms the substrate S after inspection (see FIG. 2 and the like). As shown in FIGS. 2 and 5, the substrate take-out unit 50 includes a door member 51, an opening 52, a door sensor 53, and an area sensor 54. The substrate extraction position P3 is located below the opening 52 of the substrate extraction portion 50. The door member 51 closes and opens the opening 52 formed in the upper part of the housing, and is formed of a transparent member (for example, an acrylic plate). The door sensor 53 is a detection unit that detects an open and / or closed state of the door member 51. For example, the door sensor 53 may be a contact type sensor (such as a switch) or a non-contact type (such as an optical type or a magnetic type). It may be a sensor. Note that when the door sensor 53 detects the open state of the door member 51, the door sensor 53 may detect the closed state of the door member 51 when the open state is not detected. Further, when the door sensor 53 detects the closed state of the door member 51, the door sensor 53 may detect the open state of the door member 51 when the closed state is not detected. The area sensor 54 is a detection unit that detects the presence or absence of an operator's work in the opening 52. The area sensor 54 detects light shielding on the opening 52 and includes a line-shaped irradiation unit that irradiates light and a line-shaped light receiving unit that receives the irradiated light. Here, the irradiation unit is disposed on the second rail 42 of the first conveyor 40 with the X axis as the longitudinal direction. The light receiving unit is fixed to the lower part of the front side of the casing of the opening edge that forms the opening 52 with the X axis as the longitudinal direction. The area sensor 54 can detect that the door member 51 is opened and that some object has entered the inside of the housing from the opening 52 when light shielding is detected. Here, it is assumed that the worker has performed work on the substrate S from the opening 52 by this detection.
操作パネル５５は、各種情報を表示し作業者へ情報を報知する表示部５６と、作業者が各種指令を入力するタッチパネル及び入力キーなどを備えた操作部５７とを備えている。 The operation panel 55 includes a display unit 56 that displays various types of information and informs the operator of information, and an operation unit 57 that includes a touch panel and input keys for the operator to input various commands.
基板情報読取装置５８は、基板Ｓ上に形成された基板情報Ｃを読み取る装置である。例えば、基板情報Ｃがバーコードである場合は、基板情報読取装置５８はバーコードリーダであるものとしてもよい。また、基板情報Ｃが２Ｄコードである場合は、基板情報読取装置５８は画像を撮像する撮像装置であるものとしてもよい。また、基板情報ＣがＩＣチップである場合は、基板情報読取装置５８は接触式又は非接触式の読取機としてもよい。この基板情報読取装置５８は、第１搬送位置Ｐ１と基板取出位置Ｐ３との間の所定の読取位置に配設されている（図３参照）。 The substrate information reading device 58 is a device that reads the substrate information C formed on the substrate S. For example, when the board information C is a barcode, the board information reading device 58 may be a barcode reader. When the board information C is a 2D code, the board information reading device 58 may be an imaging device that captures an image. Further, when the substrate information C is an IC chip, the substrate information reading device 58 may be a contact or non-contact reader. This board | substrate information reader 58 is arrange | positioned in the predetermined | prescribed reading position between the 1st conveyance position P1 and the board | substrate extraction position P3 (refer FIG. 3).
搬送制御部３１は、図５に示すようにＣＰＵ３２を中心とするマイクロプロセッサとして構成されており、処理プログラムを記憶するＲＯＭ３３、作業領域として用いられるＲＡＭ３４、各種データを記憶するＨＤＤ３５などを備えている。この搬送制御部３１は、第１コンベア４０、第２コンベア４３、搬送移動ユニット４６、扉センサ５３、エリアセンサ５４、操作パネル５５及び基板情報読取装置５８などと信号のやりとりを行う。ＨＤＤ３５には、生産した基板に関する情報を含む基板管理情報が記憶される。この基板管理情報は、印刷処理、実装処理での履歴を各基板Ｓごとに対応づけた情報を含むものであり、管理コンピュータ８０から受信してＨＤＤ３５に記憶される。このＨＤＤ３５には、搬送装置３０の処理動作について作業者により予め定められた設定情報が記憶されている。 As shown in FIG. 5, the transport control unit 31 is configured as a microprocessor centered on a CPU 32, and includes a ROM 33 that stores a processing program, a RAM 34 that is used as a work area, an HDD 35 that stores various data, and the like. . The conveyance control unit 31 exchanges signals with the first conveyor 40, the second conveyor 43, the conveyance movement unit 46, the door sensor 53, the area sensor 54, the operation panel 55, the substrate information reading device 58, and the like. The HDD 35 stores board management information including information about the produced board. The board management information includes information in which the history of the printing process and the mounting process is associated with each board S, and is received from the management computer 80 and stored in the HDD 35. The HDD 35 stores setting information predetermined by the operator regarding the processing operation of the transport device 30.
管理コンピュータ８０は、実装システム１０の各装置の情報を管理するコンピュータである。管理コンピュータ８０は、図１に示すように、装置全体の制御を司る制御部８１と、各種アプリケーションプログラムや各種データファイルを記憶するＨＤＤ８５と、ＬＡＮ１２に接続された外部機器と双方向の通信を行う通信部８６とを備える。また、管理コンピュータ８０は、作業者が各種指令を入力するキーボード及びマウス等の入力装置８７と、各種情報を表示するディスプレイ８８とを備えている。ＨＤＤ８５は、基板Ｓの生産に関する情報を含む生産ジョブ情報８５ａや、印刷処理、実装処理での履歴を各基板Ｓごとに対応づけた情報を含む基板管理情報８５ｂなどが記憶されている。ＰＣ９０は、例えば、搬送装置３０から取り出されて作業された基板Ｓに関する情報を入力する装置として構成されており、基板情報Ｃを読み取る読取装置９２が接続されている。 The management computer 80 is a computer that manages information of each device of the mounting system 10. As shown in FIG. 1, the management computer 80 performs bidirectional communication with a control unit 81 that controls the entire apparatus, an HDD 85 that stores various application programs and various data files, and an external device connected to the LAN 12. And a communication unit 86. In addition, the management computer 80 includes an input device 87 such as a keyboard and a mouse for an operator to input various commands, and a display 88 for displaying various information. The HDD 85 stores production job information 85a including information related to the production of the substrate S, substrate management information 85b including information in which print processing and mounting processing history are associated with each substrate S, and the like. The PC 90 is configured, for example, as a device that inputs information related to the substrate S that has been taken out from the transport device 30 and is operated, and is connected to a reading device 92 that reads the substrate information C.
次に、こうして構成された本実施形態の実装システム１０の動作、まず、搬送装置３０が基板Ｓを上流側の装置から下流側の装置へ搬送する基板搬送処理について説明する。ここでは、搬送装置３０のＣＰＵ３２が実行するデュアルレーンの基板搬送処理について説明する。作業者からの実行指示の入力に基づきこの処理を開始すると、ＣＰＵ３２は、次のタイミングで上流側の装置から送られてくる基板Ｓの印刷検査結果を上流側装置（印刷検査装置２５）から取得する。基板Ｓの印刷検査結果は、例えば、基板Ｓ上のはんだの位置や面積に基づいて、良好基板とされるか不具合基板とされる。次に、ＣＰＵ３２は、送られてくる基板Ｓが良好基板である場合は、第１コンベア４０又は第２コンベア４３を制御し、そのまま第１レーン又は第２レーンに沿って基板Ｓを搬送させる。一方、次に送られてくる基板Ｓが不具合基板Ｓである場合には、そのレーンに第１コンベア４０を移動させ（図４（ａ））、基板Ｓを第１コンベア４０に載せた状態で第１コンベア４０を基板取出位置Ｐ３へ移動する（図４（ｂ））。この状態において、ＣＰＵ３２は、第１レーン及び第２レーンの基板Ｓ１，Ｓ２を第２コンベア４３で搬送させる（図４（ｃ））。こうすれば、搬送装置３０は、良好基板の搬送停止を避けることができる。 Next, the operation of the mounting system 10 according to the present embodiment configured as described above, first, the substrate transport process in which the transport device 30 transports the substrate S from the upstream device to the downstream device will be described. Here, a dual-lane substrate transfer process executed by the CPU 32 of the transfer apparatus 30 will be described. When this processing is started based on the execution instruction input from the operator, the CPU 32 acquires the print inspection result of the substrate S sent from the upstream apparatus at the next timing from the upstream apparatus (print inspection apparatus 25). To do. The print inspection result of the substrate S is, for example, a good substrate or a defective substrate based on the position and area of solder on the substrate S. Next, when the board | substrate S sent is a favorable board | substrate, CPU32 controls the 1st conveyor 40 or the 2nd conveyor 43, and conveys the board | substrate S along a 1st lane or a 2nd lane as it is. On the other hand, when the substrate S sent next is the defective substrate S, the first conveyor 40 is moved to the lane (FIG. 4A), and the substrate S is placed on the first conveyor 40. The first conveyor 40 is moved to the substrate extraction position P3 (FIG. 4B). In this state, the CPU 32 conveys the substrates S1 and S2 of the first lane and the second lane by the second conveyor 43 (FIG. 4C). By so doing, the transfer device 30 can avoid stopping the transfer of a good substrate.
次に、搬送装置３０が基板Ｓを基板取出部５０へ送る処理について説明する。図６は、搬送装置３０のＣＰＵ３２により実行される基板確認搬送処理ルーチンの一例を表すフローチャートである。このルーチンは、ＨＤＤ３５に記憶され、基板搬送処理において次に送られてくる基板Ｓが不具合基板であるときにＣＰＵ３２により実行される。このルーチンを開始すると、ＣＰＵ３２は、搬送装置３０の設定情報及び基板管理情報を取得する（ステップＳ１００）。これらの情報は、ＨＤＤ３５に予め記憶しておき、このＨＤＤ３５から読み出して取得するものとしてもよい。次に、ＣＰＵ３２は、上述のように、不具合基板を載せた第１コンベア４０を基板取出部５０へ移動させる（ステップＳ１１０）。このとき、ＣＰＵ３２は、基板情報読取装置５８により、基板Ｓから基板情報Ｃを取得する（ステップＳ１２０）。基板情報Ｃを取得すると、ＣＰＵ３２は、タイマーのカウントを開始する（ステップＳ１３０）。なお、搬送制御部３１は、タイマー機能を有するものとする。また、このタイマーカウントの開始は、搬送装置３０に基板Ｓが搬送されたあと、この基板Ｓが実装処理に関係しない状態にある時間をカウントするものである。 Next, a process in which the transfer device 30 sends the substrate S to the substrate extraction unit 50 will be described. FIG. 6 is a flowchart illustrating an example of a substrate check transfer processing routine executed by the CPU 32 of the transfer apparatus 30. This routine is executed by the CPU 32 when the substrate S stored in the HDD 35 and sent next in the substrate transfer process is a defective substrate. When this routine is started, the CPU 32 acquires setting information and substrate management information of the transfer device 30 (step S100). These pieces of information may be stored in advance in the HDD 35 and read out from the HDD 35 for acquisition. Next, as described above, the CPU 32 moves the first conveyor 40 on which the defective substrate is placed to the substrate takeout unit 50 (step S110). At this time, the CPU 32 acquires the substrate information C from the substrate S by the substrate information reading device 58 (step S120). When acquiring the board information C, the CPU 32 starts counting the timer (step S130). In addition, the conveyance control part 31 shall have a timer function. The start of the timer count is to count the time during which the substrate S is not related to the mounting process after the substrate S is transferred to the transfer device 30.
次に、ＣＰＵ３２は、扉部材５１の開放による基板Ｓの搬送制限処理を実行するものと設定されているか否かを設定情報に基づいて判定する（ステップＳ１４０）。ここで、搬送制限処理とは、装置内で作業者が触れられる状態になった基板Ｓ、あるいは、装置内で作業者が触れた可能性がある基板Ｓなど、その後不具合が生じる可能性がある基板Ｓについては、下流側（後段）の装置への搬送を禁止し、最終製品とすることを防止する処理をいうものとする。ここでは、設定情報には、扉部材５１の開放に基づく搬送制限処理を実行するか否かの情報（搬送禁止情報）や、開口部５２での作業者の作業の有無に基づく搬送制限処理を実行するか否かの情報（搬送禁止情報）が含まれているものとする。扉開放による基板Ｓの搬送制限処理を実行するよう設定されているときには、ＣＰＵ３２は、扉部材５１が開放されたか否かを扉センサ５３からの信号に基づいて判定する（ステップＳ１５０）。扉部材５１が開放されていないとき、又はステップＳ１４０で扉開放の搬送制限処理が設定されていないときには、ＣＰＵ３２は、開口部５２での作業者の作業による基板Ｓの搬送制限処理をものと設定されているか否かを設定情報に基づいて判定する（ステップＳ１６０）。開口部作業による基板Ｓの搬送制限処理を実行するよう設定されているときには、ＣＰＵ３２は、開口部５２で作業がなされたか否かをエリアセンサ５４の信号に基づいて判定する（ステップＳ１７０）。 Next, the CPU 32 determines based on the setting information whether or not it is set to execute the transfer restriction process for the substrate S by opening the door member 51 (step S140). Here, the transfer restriction process may cause a malfunction afterwards, such as the substrate S that is in a state where the operator can touch it in the apparatus or the substrate S that the operator may touch in the apparatus. As for the substrate S, it means processing for prohibiting conveyance to a downstream (rear stage) apparatus and preventing it from being a final product. Here, the setting information includes information on whether or not to execute the conveyance restriction process based on the opening of the door member 51 (conveyance prohibition information) and the conveyance restriction process based on the presence or absence of the operator's work at the opening 52. Information on whether or not to execute (conveyance prohibition information) is included. When it is set to execute the transfer restriction process of the substrate S by opening the door, the CPU 32 determines whether or not the door member 51 has been opened based on a signal from the door sensor 53 (step S150). When the door member 51 is not opened, or when the door opening transfer restriction process is not set in step S140, the CPU 32 sets the transfer restriction process for the substrate S by the operator's work in the opening 52. It is determined based on the setting information (step S160). When it is set to execute the transfer restriction processing of the substrate S by the opening operation, the CPU 32 determines whether or not the operation is performed in the opening 52 based on the signal of the area sensor 54 (step S170).
ステップＳ１７０で開口部５２での作業が検出されたとき、又は、ステップＳ１５０で扉部材５１が開放されたとき、ＣＰＵ３２は、その旨の情報をその基板Ｓに対応付けた情報を含めた基板管理情報をＨＤＤ３５へ記憶させる情報管理処理を実行する（ステップＳ１８０）。続いて、ＣＰＵ３２は、搬送制限を行う旨の情報を操作パネル５５に表示することにより、作業者へその旨の情報を報知する（ステップＳ１９０）。図７は、操作パネル５５の表示部５６に表示する搬送制限報知画面７０の一例を表す説明図である。この搬送制限報知画面７０には、基板Ｓを生産ラインへ戻させないメッセージを表示するメッセージ表示欄７１と、作業者が行う作業内容を表示する作業内容表示欄７２と、作業終了後に入力する内容を表示する復帰入力表示欄７４とを含んでいる。扉部材５１を開放したのみの場合、作業者は、例えば、扉部材５１を開放し基板Ｓの状態を直接目視により確認している場合がある。また、開口部５２での作業が検出された場合、作業者は、例えば、基板Ｓ上に形成されたはんだに対して、手直しなどを行っている可能性が高い。これらの場合、例えば、扉部材５１が開放されず非接触状態が確保されている場合に比して、その後の基板Ｓの処理に不具合が生じる可能性が高くなることから、実装システム１０では、そのような基板Ｓをその後の処理に用いないよう設定することができる。そして、この搬送制限報知画面７０を確認した作業者は、基板取出部５０にある基板Ｓに対して、表示内容に応じた作業を行う。即ち、作業者は、基板Ｓを基板取出部５０から取り出し、予め取り決められた作業内容、例えば廃棄などを行う。 When the operation in the opening 52 is detected in step S170, or when the door member 51 is opened in step S150, the CPU 32 performs board management including information indicating that information is associated with the board S. Information management processing for storing information in the HDD 35 is executed (step S180). Subsequently, the CPU 32 displays information to the effect of carrying restriction on the operation panel 55, thereby notifying the operator of the information to that effect (step S190). FIG. 7 is an explanatory diagram illustrating an example of the conveyance restriction notification screen 70 displayed on the display unit 56 of the operation panel 55. The transfer restriction notification screen 70 includes a message display field 71 for displaying a message that does not return the substrate S to the production line, a work content display field 72 for displaying a work content to be performed by the worker, and contents to be input after the work is completed. And a return input display field 74 to be displayed. When only the door member 51 is opened, the operator may open the door member 51 and directly confirm the state of the substrate S by visual observation, for example. Moreover, when the operation | work in the opening part 52 is detected, there is a high possibility that the operator is reworking the solder formed on the substrate S, for example. In these cases, for example, compared to a case where the door member 51 is not opened and a non-contact state is ensured, there is a higher possibility that a problem occurs in the subsequent processing of the substrate S. Such a substrate S can be set not to be used for subsequent processing. Then, the operator who confirms the conveyance restriction notification screen 70 performs an operation corresponding to the display content on the substrate S in the substrate take-out unit 50. That is, the operator takes out the substrate S from the substrate take-out unit 50 and performs a predetermined work content such as disposal.
ステップＳ１９０のあと、又は、ステップＳ１６０で開口部５２での作業の搬送制限が設定されていないとき、あるいは、ステップＳ１７０で開口部５２での作業が検出されないときには、ＣＰＵ３２は、通常搬送への復帰入力がなされたか否かを作業者による操作部５７への入力に基づいて判定する（ステップＳ２００）。通常搬送への復帰とは、第１コンベア４０を基板取出位置Ｐ３から第１搬送位置Ｐ１へ戻すことをいう。なお、通常搬送への復帰は、例えば、検査装置により不良と誤検出された基板Ｓを生産ラインに戻す場合も含む。通常搬送への復帰入力がなされていないときには、ＣＰＵ３２は、基板取出部５０へ搬送された不具合基板に対して作業者が何らかの処理を行っているものとし、ステップＳ１４０以降の処理を実行する。即ち、ＣＰＵ３２は、復帰入力がなされるまで、扉部材５１の開放や開口部５２での作業などを検出する処理を繰り返し実行する（ステップＳ１４０〜Ｓ２００）。 After step S190, or when the transfer restriction of the work in the opening 52 is not set in step S160, or when the work in the opening 52 is not detected in step S170, the CPU 32 returns to the normal transfer. It is determined whether or not an input has been made based on an input to the operation unit 57 by the operator (step S200). The return to the normal conveyance means returning the first conveyor 40 from the substrate take-out position P3 to the first conveyance position P1. Note that the return to the normal transport includes, for example, returning the substrate S erroneously detected as defective by the inspection apparatus to the production line. When the return input to the normal transport is not made, the CPU 32 assumes that the worker is performing some processing on the defective substrate transported to the substrate take-out unit 50, and executes the processing after step S140. That is, the CPU 32 repeatedly executes a process for detecting the opening of the door member 51 and the work at the opening 52 until a return input is made (steps S140 to S200).
一方、ステップＳ２００で通常搬送への復帰入力がなされたときには、ＣＰＵ３２は、第１コンベア４０上に基板Ｓがあるか否かを判定し（ステップＳ２１０）、第１コンベア４０上に基板Ｓがないときには、第１コンベア４０を通常位置（第１搬送位置Ｐ１）へ移動させ（ステップＳ２７０）、そのままこのルーチンを終了する。一方、ステップＳ２１０で第１コンベア４０上に基板Ｓがあるときには、ＣＰＵ３２は、基板情報読取装置５８により、基板Ｓから基板情報Ｃを取得する（ステップＳ２２０）。ここで、基板情報Ｃを取得して基板Ｓを確認するのは、以下の理由に基づく。例えば、不具合のある基板Ｓは、作業者の作業時間の都合などにより、基板取出部５０から取り出されて装置外にストックされる場合がある。また、作業者は、基板取出部５０から取り出した基板Ｓと異なる基板Ｓを基板取出部５０へ返す場合もあり得る。ここでは、不具合が検出されて基板取出部５０へ送られた基板Ｓと、基板取出部５０から戻された基板Ｓとの関係を確認するよう、ＣＰＵ３２は、基板情報Ｃを取得するのである。なお、上記のように装置外でストックされた基板Ｓは、例えば、はんだの硬質化など、時間の経過に応じて不具合がより発生しやすくなる。 On the other hand, when a return input to normal conveyance is made in step S200, the CPU 32 determines whether or not there is a substrate S on the first conveyor 40 (step S210), and there is no substrate S on the first conveyor 40. Sometimes, the first conveyor 40 is moved to the normal position (first transfer position P1) (step S270), and this routine is finished as it is. On the other hand, when there is the substrate S on the first conveyor 40 in step S210, the CPU 32 acquires the substrate information C from the substrate S by the substrate information reading device 58 (step S220). Here, the substrate information C is acquired and the substrate S is confirmed based on the following reason. For example, a defective substrate S may be taken out of the substrate take-out unit 50 and stocked outside the apparatus depending on the working time of the operator. In addition, the operator may return a substrate S different from the substrate S taken out from the substrate take-out unit 50 to the substrate take-out unit 50. Here, the CPU 32 acquires the substrate information C so as to confirm the relationship between the substrate S detected to be defective and sent to the substrate extraction unit 50 and the substrate S returned from the substrate extraction unit 50. In addition, the board | substrate S stocked outside the apparatus as mentioned above becomes easy to generate | occur | produce a malfunction according to progress of time, such as hardening of solder, for example.
次に、ＣＰＵ３２は、取得した基板情報Ｃに対応する基板Ｓが、所定時間を経過しているか否かをタイマーのカウント値に基づいて判定する（ステップＳ２３０）。この所定時間は、はんだの状態など、搬送装置３０で作業する時間であって、のちの実装処理などで不具合が出やすくなる時間を経験的に求め、この時間に基づいて定められているものとする。基板Ｓが所定時間を経過しているときには、ＣＰＵ３２は、ステップＳ１８０でその旨の内容を基板Ｓに対応付けた情報を含めた基板管理情報をＨＤＤ３５に記憶させ、ステップＳ１９０で搬送制限に関する情報（例えば搬送制限報知画面７０）を操作パネル５５に表示させる。このとき、ＣＰＵ３２は、該当する基板Ｓを載置した第１コンベア４０を、基板情報読取装置５８の読取位置から基板取出位置Ｐ３へ移動させるものとする。報知画面を確認した作業者は、基板取出部５０にある基板Ｓに対して、表示内容に応じた作業を行う。即ち、作業者は、基板Ｓを基板取出部５０から取り出し、予め取り決められた作業内容、例えば廃棄などを行う。そして、ＣＰＵ３２は、ステップＳ２００以降の処理を実行する。 Next, the CPU 32 determines whether or not the substrate S corresponding to the acquired substrate information C has passed a predetermined time based on the count value of the timer (step S230). This predetermined time is a time for working on the transfer device 30 such as a solder state, and is determined based on this time by empirically obtaining a time during which a trouble is likely to occur in a subsequent mounting process or the like. To do. When the substrate S has passed the predetermined time, the CPU 32 stores in the HDD 35 substrate management information including information in which the content of that is associated with the substrate S is stored in the HDD 35 in step S180. For example, a conveyance restriction notification screen 70) is displayed on the operation panel 55. At this time, the CPU 32 moves the first conveyor 40 on which the corresponding substrate S is placed from the reading position of the substrate information reading device 58 to the substrate extraction position P3. An operator who has confirmed the notification screen performs an operation corresponding to the display content on the substrate S in the substrate extraction unit 50. That is, the operator takes out the substrate S from the substrate take-out unit 50 and performs a predetermined work content such as disposal. And CPU32 performs the process after step S200.
一方、ステップＳ２３０で、基板Ｓが所定時間を経過していないときには、ＣＰＵ３２は、基板Ｓの照合処理を実行する（ステップＳ２４０）。この処理では、基板取出部５０に運ばれた直近の基板Ｓの情報と、基板取出部５０から戻された基板Ｓの情報とを照合するものとしてもよい。あるいは、この処理では、基板取出部５０から戻された基板Ｓの情報と、基板取出部５０へ送り出された基板Ｓの情報とを照合する、即ち、この実装システム１０で処理された基板Ｓであるかを照合するものとしてもよい。なお、搬送制限処理の実行が設定されている場合、ステップＳ１８０で、搬送制限された基板Ｓの基板情報を照合元の情報から削除するものとしてもよい。こうすれば、搬送制限された基板Ｓは、ステップＳ２４０で照合されることがなくなる。続いて、ＣＰＵ３２は、照合結果に基づき、第１搬送位置Ｐ１側へ送り戻す基板Ｓが、送り戻しに適合するか否かを判定し（ステップＳ２５０）、基板Ｓが送り戻しに適合するとき、ＣＰＵ３２は、第１コンベア４０を通常位置（第１搬送位置Ｐ１）へ移動させ（ステップＳ２７０）、そのままこのルーチンを終了する。ここで、「基板Ｓが送り戻しに適合しない場合」には、例えば、搬送制限処理が設定されているときに該当する状態（扉部材５１の開放や開口部５２での作業）になった基板Ｓである場合が含まれる。具体的には、例えば、ステップＳ１９０での搬送制限表示を作業者が無視し、取り出すべき基板Ｓを生産ラインへ戻そうとする場合などがこれに該当する。また、「基板Ｓが送り戻しに適合しない場合」には、送り戻そうとする基板Ｓが他の実装システム１０で処理されたものである場合なども含まれる。「基板Ｓが送り戻しに適合する場合」とは「基板Ｓが送り戻しに適合しない場合」以外の場合としてもよい。 On the other hand, when the substrate S has not passed the predetermined time in step S230, the CPU 32 executes a verification process for the substrate S (step S240). In this process, the information on the latest substrate S carried to the substrate take-out unit 50 and the information on the substrate S returned from the substrate take-out unit 50 may be collated. Alternatively, in this process, the information on the substrate S returned from the substrate extraction unit 50 is collated with the information on the substrate S sent to the substrate extraction unit 50, that is, the substrate S processed by the mounting system 10. It is good also as what collates. If execution of the transfer restriction process is set, in step S180, the board information of the board S for which transfer is restricted may be deleted from the verification source information. In this way, the substrate S whose transport is restricted is not verified in step S240. Subsequently, based on the collation result, the CPU 32 determines whether or not the substrate S to be fed back to the first transport position P1 side is suitable for sending back (Step S250). When the substrate S is suitable for sending back, The CPU 32 moves the first conveyor 40 to the normal position (first transport position P1) (step S270) and ends this routine as it is. Here, in the case where “the substrate S is not suitable for sending back”, for example, the substrate that is in a corresponding state (opening of the door member 51 or work in the opening 52) when the transport restriction process is set. The case of S is included. Specifically, for example, this is the case where the operator ignores the transport restriction display in step S190 and tries to return the substrate S to be taken out to the production line. Further, “when the board S is not suitable for sending back” includes a case where the board S to be sent back is processed by another mounting system 10. “When the substrate S is suitable for sending back” may be other than “when the substrate S is not suitable for sending back”.
一方、ステップＳ２５０で基板Ｓが送り戻しに適合しないときには、エラーメッセージを表示部５６に表示させ（ステップＳ２６０）、そのままこのルーチンを終了する。このとき、ＣＰＵ３２は、該当する基板Ｓを載置した第１コンベア４０を、基板情報読取装置５８の読取位置から基板取出位置Ｐ３へ移動させるものとする。エラーメッセージは、例えば、その基板Ｓを生産ラインへ戻すことを禁止する旨のメッセージとしてもよいし、その基板Ｓを廃棄する旨のメッセージとしてもよい。エラーメッセージを確認した作業者は、基板取出部５０にある基板Ｓに対して、表示内容に応じた作業を行う。例えば、作業者は、基板Ｓを基板取出部５０から取り出し、予め取り決められた作業内容、例えば基板Ｓの廃棄などを行う。その後、ＣＰＵ３２は、ステップＳ２００以降の処理を実行してもよい。このように、実装システム１０では、基板Ｓに対して作業者による何らかの作業がなされた場合や、送り戻す基板Ｓが照合されない場合、送り戻す基板が長時間放置された場合など、不具合が起きる可能性がある基板Ｓを生産ラインへ戻さない処理を行うのである。また、実装システム１０では、不具合が起きる可能性がある基板Ｓに対する履歴を基板管理情報に登録しておき、その後の生産管理にこの基板管理情報を用いるのである。 On the other hand, when the substrate S is not suitable for sending back in step S250, an error message is displayed on the display unit 56 (step S260), and this routine is ended as it is. At this time, the CPU 32 moves the first conveyor 40 on which the corresponding substrate S is placed from the reading position of the substrate information reading device 58 to the substrate extraction position P3. The error message may be, for example, a message that prohibits returning the substrate S to the production line, or a message that discards the substrate S. The worker who has confirmed the error message performs work corresponding to the display contents on the substrate S in the substrate take-out unit 50. For example, the operator takes out the substrate S from the substrate take-out unit 50 and performs a predetermined work content such as disposal of the substrate S. Thereafter, the CPU 32 may execute the processes after step S200. As described above, in the mounting system 10, there is a possibility that a trouble occurs when an operator performs some work on the substrate S, when the substrate S to be fed back is not verified, or when the substrate to be fed back is left for a long time. The process which does not return the property board | substrate S to a production line is performed. Further, in the mounting system 10, the history for the substrate S that may cause a failure is registered in the substrate management information, and this substrate management information is used for subsequent production management.
ここで、本実施形態の構成要素と本発明の構成要素との対応関係を明らかにする。本実施形態の搬送制御部３１が本発明の制御部に相当し、扉センサ５３及び／又はエリアセンサ５４が検出部に相当し、操作パネル５５が報知部に相当し、搬送制御部３１が情報取得部に相当し、ＨＤＤ３５が記憶部に相当し、基板管理情報が管理情報に相当する。 Here, the correspondence between the components of the present embodiment and the components of the present invention will be clarified. The conveyance control unit 31 of the present embodiment corresponds to the control unit of the present invention, the door sensor 53 and / or the area sensor 54 corresponds to the detection unit, the operation panel 55 corresponds to the notification unit, and the conveyance control unit 31 performs information. It corresponds to an acquisition unit, the HDD 35 corresponds to a storage unit, and the board management information corresponds to management information.
以上説明した実施形態の搬送装置３０では、基板取出部５０に基板Ｓがあるときに、基板取出部５０の開口部５２に設けられた扉部材５１が開放されたときや、開口部５２での作業者の作業を検出したときには、基板取出部５０にある基板Ｓを下流側の装置へ搬送しないようにする搬送制限処理を実行する。このように、装置内で作業者が触れられる状態になった基板Ｓや装置内で作業者が触れた可能性のある基板Ｓについては、下流側の装置への搬送を禁止し、最終製品とすることを防止するのである。したがって、搬送装置３０では、作業者の介在に起因する不具合の発生を防止することにより、製品の品質をより向上することができる。また、搬送装置３０は、搬送制限処理を実行する際に、基板取出部５０にある基板Ｓを下流側の装置へ搬送しない旨の情報を操作パネル５５により作業者へ報知するため、作業者の介在した基板Ｓを下流側の装置へ搬送することをより確実に防止することができる。 In the transfer device 30 according to the embodiment described above, when the substrate S is in the substrate extraction unit 50, when the door member 51 provided in the opening 52 of the substrate extraction unit 50 is opened, or in the opening 52 When the operator's work is detected, a transfer restriction process is performed so as not to transfer the substrate S in the substrate take-out unit 50 to the downstream apparatus. As described above, the substrate S that can be touched by the worker in the apparatus and the substrate S that may be touched by the worker in the apparatus are prohibited from being transported to the downstream apparatus, It is prevented from doing. Therefore, in the conveyance apparatus 30, the quality of a product can be improved more by preventing generation | occurrence | production of the malfunction resulting from an operator's intervention. In addition, when the transport device 30 executes the transport restriction process, the operation panel 55 notifies the operator of information that the substrate S in the substrate take-out unit 50 is not transported to the downstream device. It is possible to more reliably prevent the intervening substrate S from being transferred to the downstream apparatus.
また、搬送制御部３１は、作業者が設定した設定情報を取得し、取得した設定情報に所定の搬送禁止情報が含まれるときに、搬送制限処理を実行するため、作業者の要求に応じて搬送制限処理を実行することができ、製品に応じて品質を向上することができる。更に、搬送制御部３１は、扉部材５１が開放される前に取得した基板情報Ｃと、基板取出部５０に基板Ｓがあり且つ扉部材５１の開放が検出されたあとに取得した基板情報Ｃとを照合し、これらの基板情報Ｃが照合されないときには、この基板Ｓを下流側の装置へ搬送しないようにする搬送制限処理を実行する。また、搬送制御部３１は、基板取出部５０に基板Ｓが搬送される前に取得した基板情報Ｃと、基板取出部５０に基板Ｓを搬送し開口部５２での作業者の作業が検出されたあとに取得した基板情報Ｃとを照合し、これらの基板情報が照合されないときには、基板取出部５０にある基板Ｓを下流側の装置へ搬送しないようにする搬送制限処理を実行する。このため、搬送装置３０は、基板情報の照合を用いて不明な基板Ｓの搬送や不適な基板Ｓの搬送を防止することにより、製品の品質をより向上することができる。更にまた、搬送制御部３１は、基板取出部５０に基板Ｓを搬送したあと所定時間が経過したあとはこの基板取出部５０にある基板Ｓを下流側の装置へ搬送しないようにする搬送制限処理を実行する。基板取出部５０で所定時間経過した基板Ｓは、例えば、その後に不具合が生じる可能性が高まる。搬送装置３０では、このような基板Ｓを下流側の装置へ搬送しないことによって、製品の品質をより向上することができる。 Further, the conveyance control unit 31 acquires the setting information set by the operator, and executes the conveyance restriction process when the acquired setting information includes predetermined conveyance prohibition information. The conveyance restriction process can be executed, and the quality can be improved according to the product. Further, the conveyance control unit 31 acquires the substrate information C acquired before the door member 51 is opened, and the substrate information C acquired after the substrate extraction unit 50 has the substrate S and the opening of the door member 51 is detected. And when these pieces of substrate information C are not verified, a transfer restriction process is performed so that the substrate S is not transferred to the downstream apparatus. Further, the transport control unit 31 detects the substrate information C acquired before the substrate S is transported to the substrate take-out unit 50 and the work of the operator at the opening 52 by transporting the substrate S to the substrate take-out unit 50. After that, the obtained substrate information C is collated, and when these pieces of substrate information are not collated, a transfer restriction process is performed so as not to transfer the substrate S in the substrate take-out unit 50 to the downstream apparatus. For this reason, the conveyance apparatus 30 can improve the quality of a product more by preventing conveyance of the unknown board | substrate S and conveyance of the unsuitable board | substrate S using collation of board | substrate information. Furthermore, the transport control unit 31 transports the substrate S in the substrate take-out unit 50 to a downstream apparatus after a predetermined time has passed after the substrate S is carried to the substrate take-out unit 50. Execute. For example, the substrate S that has passed for a predetermined time in the substrate take-out unit 50 is more likely to be defective thereafter. In the transfer device 30, the quality of the product can be further improved by not transferring such a substrate S to the downstream device.
そして、搬送制御部３１は、基板取出部５０に基板Ｓがあるときに扉部材５１が開放されたときには、この検出の情報を、この基板取出部５０にある基板Ｓに対応する基板管理情報に含めてＨＤＤ３５に記憶させる情報管理処理を実行する。また、搬送制御部３１は、基板取出部５０に基板Ｓがあるときに作業者の作業を検出したときには、この検出の情報を、この基板取出部５０にある基板Ｓに対応する基板管理情報に含めてＨＤＤ３５に記憶させる情報管理処理を実行する。このため、搬送装置３０では、基板管理情報を利用することにより、その後に不具合が発生した基板Ｓと基板取出部５０での作業者の作業との関係が明確になるから、基板管理情報を利用して製品の品質をより向上することができる。そしてまた、搬送制御部３１は、基板取出部５０に基板Ｓがあり扉部材５１の開放が検出されたあとに取得した基板情報Ｃに対応する基板管理情報に、この検出の情報を含めてＨＤＤ３５に記憶させる情報管理処理を実行する。また、搬送制御部３１は、基板取出部５０に基板Ｓを搬送し開口部５２での作業者の作業が検出されたあとに取得した基板情報Ｃに対応する基板管理情報に、この検出の情報を含めてＨＤＤ３５に記憶させる情報管理処理を実行する。このため、搬送装置３０では、基板取出部５０に存在した基板Ｓと作業者の作業との関係をより確実に対応づけることができる。また、搬送装置３０では、例えば、基板処理部５０から取り出した基板Ｓと、直後に戻された基板Ｓとが同じであるか、異なるかを把握することもできる。そして更に、搬送制御部３１は、基板取出部５０に基板Ｓを搬送したあと所定時間が経過したあとは、基板管理情報に、この所定時間経過した旨の経過情報を含めてＨＤＤ３５に記憶させる情報管理処理を実行する。基板取出部５０で所定時間経過した基板Ｓは、例えば、はんだの硬質化など、その後に不具合が生じる可能性が高まる。ここでは、このような基板Ｓの基板管理情報にその旨の情報を記憶することによって、時間経過とその後の製品の不具合との関連を把握することができる。 Then, when the door member 51 is opened when the substrate extraction unit 50 has the substrate S, the transfer control unit 31 converts the detection information into the substrate management information corresponding to the substrate S in the substrate extraction unit 50. Information management processing to be stored in the HDD 35 is executed. Further, when the conveyance control unit 31 detects the work of the operator when the substrate extraction unit 50 has the substrate S, the detection information is converted into substrate management information corresponding to the substrate S in the substrate extraction unit 50. Information management processing to be stored in the HDD 35 is executed. For this reason, the substrate management information is used in the transfer device 30 because the relationship between the substrate S in which a problem has occurred subsequently and the operator's work in the substrate take-out unit 50 becomes clear by using the substrate management information. The product quality can be further improved. Further, the transfer control unit 31 includes the detection information in the board management information corresponding to the board information C acquired after the board S is in the board take-out part 50 and the opening of the door member 51 is detected. The information management process to be stored in is executed. In addition, the transport control unit 31 transports the substrate S to the substrate take-out unit 50 and adds the detection information to the substrate management information corresponding to the substrate information C acquired after the operator's work at the opening 52 is detected. Information management processing to be stored in the HDD 35 including the. For this reason, in the conveyance apparatus 30, the relationship between the board | substrate S which existed in the board | substrate extraction part 50, and an operator's operation | work can be matched more reliably. Further, in the transfer device 30, for example, it is possible to grasp whether the substrate S taken out from the substrate processing unit 50 and the substrate S returned immediately after are the same or different. Further, after a predetermined time has elapsed after the substrate S is transferred to the substrate take-out unit 50, the transfer control unit 31 stores information that is stored in the HDD 35 including the progress information indicating that the predetermined time has elapsed in the substrate management information. Execute management processing. The substrate S that has passed for a predetermined time in the substrate take-out unit 50 is more likely to have a subsequent defect such as, for example, hardening of the solder. Here, by storing such information in the board management information of the board S, it is possible to grasp the relationship between the passage of time and subsequent product defects.
なお、本発明は上述した実施形態に何ら限定されることはなく、本発明の技術的範囲に属する限り種々の態様で実施し得ることはいうまでもない。 It should be noted that the present invention is not limited to the above-described embodiment, and it goes without saying that the present invention can be implemented in various modes as long as it belongs to the technical scope of the present invention.
例えば、上述した実施形態では、情報管理処理（ステップＳ１８０など）及び搬送制限処理（ステップＳ１９０、Ｓ２６０など）の両方を行うものとして説明したが、これらのうちいずれか一方を省略するものとしてもよい。また、搬送装置３０では、複数ある情報管理処理のうち１以上を省略してもよいし、複数ある搬送制限処理のうち１以上を省略してもよい。図８は、別の基板確認搬送処理ルーチンの一例を表すフローチャートである。ここでは、上述した実施形態と同様の処理については、同じステップ番号を付し、その詳細な説明を省略する。図８のルーチンでは、扉開放及び開口部作業に基づく搬送制限処理（ステップＳ１９０）を省略している。このほか、搬送装置３０では、所定時間経過に基づく基板Ｓの搬送制限処理（ステップＳ１３０、Ｓ２３０）を省略するものとしてもよい。また、搬送装置３０では、基板Ｓの照合処理に基づく基板Ｓの搬送制限処理（ステップＳ２２０、Ｓ２４０〜Ｓ２６０）を省略するものとしてもよい。また、搬送装置３０では、扉開放及び／又は開口部作業に基づく情報管理処理（ステップＳ１４０〜Ｓ１８０）のいずれかを省略するものとしてもよい。また、搬送装置３０では、所定時間経過に基づく基板Ｓの情報管理処理（ステップＳ２３０、Ｓ１８０）を省略するものとしてもよい。こうしても、搬送装置３０では、情報管理処理又は搬送制限処理のいずれかにより、製品の品質をより向上することができる。 For example, in the above-described embodiment, it has been described that both the information management process (step S180, etc.) and the conveyance restriction process (steps S190, S260, etc.) are performed, but either one of them may be omitted. . Further, in the transport device 30, one or more of a plurality of information management processes may be omitted, and one or more of a plurality of transport restriction processes may be omitted. FIG. 8 is a flowchart showing an example of another substrate check transfer processing routine. Here, processes similar to those in the above-described embodiment are given the same step numbers, and detailed descriptions thereof are omitted. In the routine of FIG. 8, the conveyance restriction process (step S190) based on the door opening and opening work is omitted. In addition, the transfer device 30 may omit the transfer restriction process (steps S130 and S230) of the substrate S based on the passage of a predetermined time. Further, in the transfer device 30, the transfer restriction process (steps S220 and S240 to S260) of the substrate S based on the verification process of the substrate S may be omitted. Moreover, in the conveying apparatus 30, you may abbreviate | omit either of the information management processing (step S140-S180) based on a door opening and / or opening part operation | work. Further, in the transfer device 30, the information management processing (steps S230 and S180) of the substrate S based on the passage of a predetermined time may be omitted. Even in this case, the transport device 30 can further improve the quality of the product by either the information management process or the transport restriction process.
上述した実施形態では、扉センサ５３及びエリアセンサ５４の両方を備えるものとして説明したが、これらのうちいずれかを省略してもよい。こうしても、扉部材５１の開放又は開口部５２での作業者の作業のいずれかを検出することができる。また、上述した実施形態では、基板情報読取装置５８を備えるものとしたが、これを省略してもよい。なお、扉センサ５３、エリアセンサ５４及び基板情報読取装置５８のうちいずれかを省略した場合は、省略したものに応じた情報管理処理及び搬送制限処理を省略するものとする。 In the above-described embodiment, it has been described that both the door sensor 53 and the area sensor 54 are provided, but any of these may be omitted. Even in this case, it is possible to detect either the opening of the door member 51 or the operator's work at the opening 52. In the above-described embodiment, the board information reading device 58 is provided, but this may be omitted. When any one of the door sensor 53, the area sensor 54, and the board information reading device 58 is omitted, the information management process and the conveyance restriction process corresponding to the omitted ones are omitted.
上述した実施形態では、説明していないが、基板Ｓを送り戻したあと、この基板Ｓを上流側の装置（印刷検査装置２５や実装検査装置６５などの検査装置）へ搬送するものとしてもよい。この処理について、図８、９を用いて説明する。図９は、第１コンベア４０及び第２コンベア４３の逆搬送処理の動作の説明図であり、図９（ａ）が基板Ｓ１を送り戻す図、図９（ｂ）が基板Ｓ１を逆搬送する前の図、図９（ｃ）が基板Ｓ１を逆搬送したあとの図である。図８に示す基板確認搬送処理ルーチンでは、搬送制御部３１のＣＰＵ３２は、上述したステップＳ１００〜Ｓ２７０の処理を実行する。そして、ＣＰＵ３２は、ステップＳ２５０で、送り戻す基板Ｓが適合すると判定したあと、基板Ｓを上流側の装置へ搬送する逆搬送処理を実行するか否かを判定する（ステップＳ３００）。ここでは、ＣＰＵ３２は、例えば、扉部材５１が開放されたあとの送り戻しや、開口部５２での作業が検出されたあとの送り戻し、即ち、不具合基板に対して何らかの作業を行った可能性がある基板Ｓを送り戻す際に、逆搬送処理を実行するものと判定してもよい。逆搬送処理を実行しないときには、ＣＰＵ３２は、ステップＳ２７０で第１コンベア４０を通常位置へ移動させ、そのままこのルーチンを終了する。一方、逆搬送処理を実行するときには、ＣＰＵ３２は、逆搬送する旨の指令を上流側の装置（印刷検査装置２５）へ出力し（ステップＳ３１０）、ステップＳ２７０で第１コンベア４０を通常位置へ移動させ（図９（ａ））、逆搬送処理を開始し（ステップＳ３２０、図９（ｂ））、このルーチンを終了する。逆搬送処理を行うと、基板取出部５０にあった基板Ｓが上流側の印刷検査装置２５に搬送される。そして、逆搬送指令を受けた印刷検査装置２５の制御部２６は、この基板Ｓを逆搬送するよう搬送ユニット２７を制御し、基板Ｓを検査するよう印刷検査ユニット２８を制御する。このように、搬送制御部３１は、基板取出部５０に基板Ｓがあるときに扉部材５１の開放を検出したあと、基板取出部５０にある基板Ｓを上流側の検査装置（印刷検査装置２５）へ搬送するよう第１コンベア４０を制御する。また、搬送制御部３１は、基板取出部５０に基板Ｓがあるときに開口部５２での作業者の作業を検出したあと、基板取出部５０にある基板Ｓを上流側の検査装置（印刷検査装置２５）へ搬送するよう第１コンベア４０を制御する。このため、基板取出部５０にて作業者が作業した基板Ｓをより容易に再検査することができ、製品の品質をより向上しやすい。また、実装システム１０では、再検査を要する基板Ｓを再度生産ラインへ投入するため、印刷検査装置２５や実装検査装置６５などの検査装置の上流に配設すべき搬送装置を省略することができ、生産ラインのコンパクト化やコストダウンを図ることができる。 Although not described in the above-described embodiment, after the substrate S is sent back, the substrate S may be transported to an upstream device (an inspection device such as the print inspection device 25 or the mounting inspection device 65). . This process will be described with reference to FIGS. FIG. 9 is an explanatory diagram of the operation of the reverse conveying process of the first conveyer 40 and the second conveyer 43, FIG. 9 (a) is a diagram for returning the substrate S1, and FIG. 9 (b) is the reverse convey of the substrate S1. FIG. 9C is a diagram after the substrate S1 is transported in the reverse direction. In the substrate check transfer processing routine shown in FIG. 8, the CPU 32 of the transfer control unit 31 executes the processes of steps S100 to S270 described above. Then, after determining that the substrate S to be sent back is suitable in Step S250, the CPU 32 determines whether or not to perform reverse transport processing for transporting the substrate S to the upstream apparatus (Step S300). Here, for example, the CPU 32 may send back after the door member 51 is opened, or send back after the work in the opening 52 is detected, that is, the possibility of performing some work on the defective board. When a certain substrate S is sent back, it may be determined that the reverse transport process is performed. When the reverse conveyance process is not executed, the CPU 32 moves the first conveyor 40 to the normal position in step S270 and ends this routine as it is. On the other hand, when executing the reverse conveyance process, the CPU 32 outputs a command for reverse conveyance to the upstream apparatus (print inspection apparatus 25) (step S310), and moves the first conveyor 40 to the normal position in step S270. (FIG. 9 (a)), reverse conveyance processing is started (step S320, FIG. 9 (b)), and this routine is finished. When the reverse transport process is performed, the substrate S that has been in the substrate take-out unit 50 is transported to the upstream print inspection apparatus 25. Then, the control unit 26 of the print inspection apparatus 25 that has received the reverse conveyance command controls the conveyance unit 27 to reversely convey the substrate S and controls the print inspection unit 28 to inspect the substrate S. As described above, the conveyance control unit 31 detects the opening of the door member 51 when the substrate S is in the substrate extraction unit 50, and then detects the substrate S in the substrate extraction unit 50 on the upstream inspection device (printing inspection device 25). ) To control the first conveyor 40. Further, the conveyance control unit 31 detects the operator's work in the opening 52 when the substrate extraction unit 50 has the substrate S, and then detects the substrate S in the substrate extraction unit 50 on the upstream side inspection apparatus (print inspection). The first conveyor 40 is controlled to be conveyed to the apparatus 25). For this reason, the board | substrate S which the operator worked in the board | substrate extraction part 50 can be reexamined more easily, and it is easy to improve the quality of a product. Further, in the mounting system 10, since the substrate S that needs to be reinspected is put into the production line again, a transport device that should be arranged upstream of the inspection device such as the print inspection device 25 and the mounting inspection device 65 can be omitted. The production line can be made compact and the cost can be reduced.
上述した実施形態では、上流側を印刷検査装置２５とし、下流側を実装装置６０とする搬送装置３０について説明したが、特にこれに限定されず、上流側を実装検査装置６５とする搬送装置３０Ｂとしてもよい。あるいは、実装システム１０は、搬送装置３０と搬送装置３０Ｂとのいずれか１以上を備えるものとしてもよい。こうしても、製品の品質をより向上することができる。なお、搬送装置３０Ｂの下流側には、更に実装装置６０が配設されていてもよいし、はんだのリフローを行うリフロー炉などが配設されているものとしてもよい。また、上流側の装置としては、例えば、基板の状態を検査する検査装置が挙げられるが、それ以外の装置としてもよい。また、下流側の装置としては、例えば、基板に部品を実装処理する実装装置が挙げられるが、それ以外の装置としてもよい。 In the above-described embodiment, the transport apparatus 30 having the upstream side as the print inspection apparatus 25 and the downstream side as the mounting apparatus 60 has been described. However, the present invention is not particularly limited thereto, and the transport apparatus 30B having the upstream side as the mounting inspection apparatus 65. It is good. Alternatively, the mounting system 10 may include any one or more of the transport device 30 and the transport device 30B. Even in this case, the quality of the product can be further improved. Note that a mounting device 60 may be further provided on the downstream side of the transfer device 30B, or a reflow furnace for performing solder reflow may be provided. Moreover, as an upstream apparatus, for example, an inspection apparatus that inspects the state of a substrate can be cited, but other apparatuses may be used. Moreover, as a downstream apparatus, for example, a mounting apparatus that mounts components on a substrate can be cited, but other apparatuses may be used.
上述した実施形態では、表示部５６に画像を表示することにより作業者へ情報を報知するものとしたが、特にこれに限定されず、音により作業者へ情報を報知するものとしてもよい。こうしても、製品の品質をより向上することができる。 In the above-described embodiment, information is notified to the worker by displaying an image on the display unit 56. However, the present invention is not particularly limited thereto, and the information may be notified to the worker by sound. Even in this case, the quality of the product can be further improved.
上述した実施形態では、搬送制限を受けた基板Ｓは、例えば作業者により廃棄されるものとして説明したが、取り決めに応じた処理を行うものとすればよい。例えば、搬送制限を受けた基板Ｓは、専用の生産ラインで実装処理など、後工程を行い最終製品とするものとしてもよい。専用の生産ラインにおいて品質確保が可能であれば、搬送制限を受けた基板Ｓであっても、最終製品としても問題ない。 In the above-described embodiment, the substrate S subjected to the transfer restriction has been described as being discarded by, for example, an operator. However, the processing according to the agreement may be performed. For example, the substrate S subjected to the conveyance restriction may be processed into a final product by performing a post-process such as a mounting process on a dedicated production line. As long as quality can be ensured in a dedicated production line, there is no problem even if the substrate S is subjected to a transfer restriction even as a final product.
上述した実施形態では、開口部５２での作業者の作業の有無を検出する検出部は、遮光を検出するエリアセンサであるものとして説明したが、開口部５２での作業者の作業の有無を検出するものとすれば、特にこれに限定されない。例えば、基板Ｓに作業者が触れたか否かを検出する接触式センサとしてもよいし、基板Ｓを撮像することにより基板Ｓに作業者が触れたか否かを検出するカメラとしてもよい。また、第１コンベア４０に接触式又は非接触式のセンサを設けて基板取出部５０における基板Ｓの取り出しを検出するものとしてもよい。 In the above-described embodiment, the detection unit that detects the presence / absence of the worker's work at the opening 52 has been described as an area sensor that detects light shielding. However, the presence / absence of the worker's work at the opening 52 is determined. If it detects, it will not specifically limit to this. For example, a contact sensor that detects whether or not an operator touches the substrate S may be used, or a camera that detects whether or not the operator touches the substrate S by imaging the substrate S may be used. In addition, a contact-type or non-contact-type sensor may be provided on the first conveyor 40 to detect the removal of the substrate S in the substrate extraction unit 50.
上述した実施形態では、基板情報読取装置５８により基板情報Ｃを読み取り搬送制御部３１がこの基板情報Ｃを取得するものとして説明したが、特にこれに限定されない。例えば、作業者は、基板取出部５０から基板Ｓを取り出し、ＰＣ９０の読取装置９２により基板情報Ｃを読み取るものとし、搬送制御部３１は、ＬＡＮ１２を介してＰＣ９０から基板情報Ｃを取得するものとしてもよい。この場合、作業者は、例えば、基板情報Ｃを読み取った基板Ｓを必ず基板取出部５０へ返すなど一定の取り決めに従い作業するものとする。 In the above-described embodiment, the substrate information C is read by the substrate information reading device 58 and the conveyance control unit 31 acquires the substrate information C. However, the present invention is not limited to this. For example, it is assumed that the operator takes out the substrate S from the substrate take-out unit 50 and reads the substrate information C by the reading device 92 of the PC 90, and the transfer control unit 31 acquires the substrate information C from the PC 90 via the LAN 12. Also good. In this case, it is assumed that the worker works according to a certain rule, for example, by returning the substrate S from which the substrate information C is read to the substrate extraction unit 50.
上述した実施形態では、搬送装置３０は、デュアルレーンのコンベアを備えるものとして説明したが、特にこれに限定されず、シングルレーンや３以上のレーンを備えるものとしてもよい。また、上述した実施形態では、搬送装置３０は、退避位置Ｐ４が狭く形成されており、搬送移動ユニット４６は、退避位置Ｐ４では、第１レール４４及び第２レール４５の間隔を狭めるものとしたが、この間隔を狭めないものとしても構わない。 In the above-described embodiment, the transport device 30 has been described as including a dual-lane conveyor, but is not particularly limited thereto, and may include a single lane or three or more lanes. In the above-described embodiment, the transport device 30 has the retracted position P4 narrow, and the transport movement unit 46 narrows the interval between the first rail 44 and the second rail 45 at the retracted position P4. However, this interval may not be reduced.
１０ 実装システム、１１ 制御コントローラ、１２ ＬＡＮ、２０ 印刷装置、２５ 印刷検査装置、２６ 制御部、２７ 搬送ユニット、２８ 印刷検査ユニット、３０，３０Ｂ 搬送装置、３１ 搬送制御部、３２ ＣＰＵ、３３ ＲＯＭ、３４ ＲＡＭ、３５ ＨＤＤ、４０ 第１コンベア、４１ 第１レール、４２ 第２レール、４３ 第２コンベア、４４ 第１レール、４５ 第２レール、４６ 搬送移動ユニット、４７ 移動モータ、５０ 基板取出部、５１ 扉部材、５２ 開口部、５３ 扉センサ、５４ エリアセンサ、５５ 操作パネル、５６ 表示部、５７ 操作部、５８ 基板情報読取装置、６０ 実装装置、６５ 実装検査装置、６６ 制御部、６７ 搬送ユニット、６８ 実装検査ユニット、７０ 搬送制限報知画面、７１ メッセージ表示欄、７２ 作業内容表示欄、７４ 復帰入力表示欄、８０ 管理コンピュータ、８１ 制御部、８５ ＨＤＤ、８５ａ 生産ジョブ情報、８５ｂ 基板管理情報、８６ 通信部、８７ 入力装置、８８ ディスプレイ、９０ ＰＣ、９２ 読取装置、Ｐ１ 第１搬送位置、Ｐ２ 第２搬送位置、Ｐ３ 基板取出位置、Ｐ４ 退避位置、Ｃ 基板情報、Ｓ，Ｓ１，Ｓ２ 基板。 DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 mounting system, 11 control controller, 12 LAN, 20 printing apparatus, 25 printing inspection apparatus, 26 control part, 27 conveyance unit, 28 printing inspection unit, 30, 30B conveyance apparatus, 31 conveyance control part, 32 CPU, 33 ROM, 34 RAM, 35 HDD, 40 1st conveyor, 41 1st rail, 42 2nd rail, 43 2nd conveyor, 44 1st rail, 45 2nd rail, 46 transfer movement unit, 47 movement motor, 50 substrate takeout part, 51 door member, 52 opening, 53 door sensor, 54 area sensor, 55 operation panel, 56 display unit, 57 operation unit, 58 board information reading device, 60 mounting device, 65 mounting inspection device, 66 control unit, 67 transport unit , 68 Mounting inspection unit, 70 Transport restriction notification screen, 71 Message table Display column, 72 work content display column, 74 return input display column, 80 management computer, 81 control unit, 85 HDD, 85a production job information, 85b board management information, 86 communication unit, 87 input device, 88 display, 90 PC, 92 Reading device, P1 first transport position, P2 second transport position, P3 substrate take-out position, P4 retreat position, C substrate information, S, S1, S2 substrate.
Claims (6)
前記コンベアで搬送される前記基板を取り出し可能な開口部を有する基板取出部と、
前記コンベアを制御する制御部と、を備え、
前記基板取出部には、前記開口部を開放及び閉鎖する扉部材と、該扉部材の開放及び／又は閉鎖状態を検出する検出部とが配設されており、前記制御部は、前記基板取出部に前記基板があるときに前記扉部材が開放されたときには、該基板取出部にある前記基板を前記下流側の装置へ搬送しないようにする搬送制限処理、及び／又は、
前記基板取出部には、前記開口部での作業者の作業の有無を検出する検出部が配設されており、前記制御部は、前記基板取出部に前記基板があるときに前記開口部での作業者の作業を検出したときには、該基板取出部にある前記基板を前記下流側の装置へ搬送しないようにする搬送制限処理を実行し、
前記制御部は、前記基板取出部に基板を搬送したあと所定時間が経過したあとは該基板取出部にある前記基板を前記下流側の装置へ搬送しないようにする搬送制限処理を実行する、搬送装置。 A conveyor for transporting the substrate from the upstream device to the downstream device;
A substrate extraction portion having an opening from which the substrate conveyed by the conveyor can be extracted;
A control unit for controlling the conveyor,
A door member that opens and closes the opening and a detection unit that detects an open and / or closed state of the door member are disposed in the substrate extraction unit, and the control unit is configured to remove the substrate. When the door member is opened when the substrate is in a portion, a transfer restriction process for preventing the substrate in the substrate take-out portion from being transferred to the downstream apparatus, and / or
The substrate take-out unit is provided with a detection unit that detects the presence or absence of an operator's work in the opening, and the control unit is configured to open the opening when the substrate is in the substrate take-out unit. When a worker's work is detected, a transport restriction process is performed so as not to transport the substrate in the substrate take-out unit to the downstream apparatus,
The control unit executes a transfer restriction process that prevents the substrate in the substrate extraction unit from being transferred to the downstream apparatus after a predetermined time has elapsed after the substrate is transferred to the substrate extraction unit. apparatus.
前記コンベアで搬送される前記基板を取り出し可能な開口部を有する基板取出部と、
前記コンベアを制御する制御部と、を備え、
前記基板取出部には、前記開口部を開放及び閉鎖する扉部材と、該扉部材の開放及び／又は閉鎖状態を検出する検出部とが配設されており、前記制御部は、前記基板取出部に前記基板があるときに前記扉部材が開放されたときには、該基板取出部にある前記基板を前記下流側の装置へ搬送しないようにする搬送制限処理、及び／又は、
前記基板取出部には、前記開口部での作業者の作業の有無を検出する検出部が配設されており、前記制御部は、前記基板取出部に前記基板があるときに前記開口部での作業者の作業を検出したときには、該基板取出部にある前記基板を前記下流側の装置へ搬送しないようにする搬送制限処理を実行し、
前記制御部は、基板に関する管理情報を記憶する記憶部を有しており、
前記制御部は、前記基板取出部に前記基板があるときに前記扉部材が開放されたときには、該基板取出部にある前記基板に対応する前記管理情報に該検出の情報を含めて該管理情報を前記記憶部に記憶させる情報管理処理、及び／又は、
前記制御部は、前記基板取出部に前記基板があるときに前記作業者の作業を検出したときには、該基板取出部にある前記基板に対応する前記管理情報に該検出の情報を含めて該管理情報を前記記憶部に記憶させる情報管理処理を実行する、搬送装置。 A conveyor for transporting the substrate from the upstream device to the downstream device;
A substrate extraction portion having an opening from which the substrate conveyed by the conveyor can be extracted;
A control unit for controlling the conveyor,
A door member that opens and closes the opening and a detection unit that detects an open and / or closed state of the door member are disposed in the substrate extraction unit, and the control unit is configured to remove the substrate. When the door member is opened when the substrate is in a portion, a transfer restriction process for preventing the substrate in the substrate take-out portion from being transferred to the downstream apparatus, and / or
The substrate take-out unit is provided with a detection unit that detects the presence or absence of an operator's work in the opening, and the control unit is configured to open the opening when the substrate is in the substrate take-out unit. When a worker's work is detected, a transport restriction process is performed so as not to transport the substrate in the substrate take-out unit to the downstream apparatus,
The control unit includes a storage unit that stores management information about the substrate,
The control unit includes the management information including the detection information in the management information corresponding to the substrate in the substrate extraction unit when the door member is opened when the substrate is in the substrate extraction unit. Information management processing for storing the information in the storage unit, and / or
When the control unit detects the operator's work when the substrate is in the substrate extraction unit, the control unit includes the management information corresponding to the substrate in the substrate extraction unit and includes the detection information. A conveying apparatus that executes information management processing for storing information in the storage unit.
前記コンベアで搬送される前記基板を取り出し可能な開口部を有する基板取出部と、
前記コンベアを制御する制御部と、を備え、
前記基板取出部には、前記開口部を開放及び閉鎖する扉部材と、該扉部材の開放及び／又は閉鎖状態を検出する検出部とが配設されており、前記制御部は、前記基板取出部に前記基板があるときに前記扉部材が開放されたときには、該基板取出部にある前記基板を前記下流側の装置へ搬送しないようにする搬送制限処理、及び／又は、
前記基板取出部には、前記開口部での作業者の作業の有無を検出する検出部が配設されており、前記制御部は、前記基板取出部に前記基板があるときに前記開口部での作業者の作業を検出したときには、該基板取出部にある前記基板を前記下流側の装置へ搬送しないようにする搬送制限処理を実行し、
前記上流側の装置は、基板に関する検査を行う検査装置であり、
前記制御部は、前記基板取出部に前記基板があるときに前記扉部材の開放を検出したあと、前記基板取出部にある基板を前記上流側の検査装置へ搬送するよう前記コンベアを制御する逆搬送処理、及び／又は、
前記制御部は、前記基板取出部に前記基板があるときに前記開口部での作業者の作業を検出したあと、前記基板取出部にある基板を前記上流側の検査装置へ搬送するよう前記コンベアを制御する逆搬送処理を実行する、搬送装置。 A conveyor for transporting the substrate from the upstream device to the downstream device;
A substrate extraction portion having an opening from which the substrate conveyed by the conveyor can be extracted;
A control unit for controlling the conveyor,
A door member that opens and closes the opening and a detection unit that detects an open and / or closed state of the door member are disposed in the substrate extraction unit, and the control unit is configured to remove the substrate. When the door member is opened when the substrate is in a portion, a transfer restriction process for preventing the substrate in the substrate take-out portion from being transferred to the downstream apparatus, and / or
The substrate take-out unit is provided with a detection unit that detects the presence or absence of an operator's work in the opening, and the control unit is configured to open the opening when the substrate is in the substrate take-out unit. When a worker's work is detected, a transport restriction process is performed so as not to transport the substrate in the substrate take-out unit to the downstream apparatus,
The upstream apparatus is an inspection apparatus that performs an inspection on a substrate,
The control unit detects the opening of the door member when the substrate is in the substrate extraction unit, and then controls the conveyor to convey the substrate in the substrate extraction unit to the upstream inspection apparatus. Transport processing and / or
The conveyor detects the operator's work in the opening when the substrate is in the substrate take-out unit, and then conveys the substrate in the substrate take-out unit to the upstream inspection apparatus. A conveyance device that executes reverse conveyance processing for controlling the motor.
情報を作業者へ報知する報知部、を備え、
前記制御部は、前記搬送制限処理を実行する際に、前記基板取出部にある基板を前記下流側の装置へ搬送しない旨の情報を前記報知部により前記作業者へ報知する、搬送装置。 It is a conveyance device given in any 1 paragraph of Claims 1-3 ,
An informing unit for informing the operator of information,
The control unit, when executing the transport restriction process, informs the operator of information indicating that the substrate in the substrate take-out unit is not transported to the downstream apparatus by the notification unit.
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