JP6526239B2 - 電離放射線検出器モジュール - Google Patents
電離放射線検出器モジュール Download PDFInfo
- Publication number
- JP6526239B2 JP6526239B2 JP2017555710A JP2017555710A JP6526239B2 JP 6526239 B2 JP6526239 B2 JP 6526239B2 JP 2017555710 A JP2017555710 A JP 2017555710A JP 2017555710 A JP2017555710 A JP 2017555710A JP 6526239 B2 JP6526239 B2 JP 6526239B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- carrier
- circuit board
- printed circuit
- power supply
- detection
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/24—Measuring radiation intensity with semiconductor detectors
- G01T1/243—Modular detectors, e.g. arrays formed from self contained units
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/24—Measuring radiation intensity with semiconductor detectors
- G01T1/244—Auxiliary details, e.g. casings, cooling, damping or insulation against damage by, e.g. heat, pressure or the like
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/24—Measuring radiation intensity with semiconductor detectors
- G01T1/247—Detector read-out circuitry
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
Description
2 検出セグメント
3 キャリア列
4 検出セグメント保持部
5 センサ層
6 読み取りチップ
7 読み取りチップ重複部分
8 読み取りチップの出力導体
9 リジッドプリント回路基板
10 電力供給安定化手段
11 読み取り電子機器のコネクタ
12 結線
13 フレキシブルプリント回路基板
14 検出器−列
15 熱転写母材
Claims (14)
- 連続的な検出面を作成するために30μmまでの間隙を有して、キャリア列(3)上に並んで配置される少なくとも2つの検出セグメント(2)を有する電離放射線検出器用のモジュール(1)であって、前記キャリア列(3)は、正方形または長方形の断面形状を有する縦断面によって形成され、前記キャリア列(3)の上ベース(16)の表面の少なくとも一部上に、前記検出セグメント(2)の交換可能な保持部(4)が配置されており、該検出セグメント(2)は、読み取りチップの上面上に配置されるセンサ層(5)から成る基本画素検出器を含み、前記読み取りチップ(6)は、この下面の少なくとも一部で前記保持部(4)に固定され、前記チップ(6)の前記下面の残りは、前記キャリア列(3)の前記上ベース(16)を超えて延在する重複部分(7)を形成し、前記基本画素検出器は、電源に接続し、かつ通信信号を読み取り電子機器に送信するために、前記キャリア(3)の前記上ベース(16)上に前記読み取りチップ(6)の側部から導き出された少なくとも2つの導電体(8)を有し、
前記キャリア列(3)の前記上ベース(16)の非占有領域上に、出力導体(8)を接続するための少なくとも1つのプリント回路基板(9)が配置されており、さらには、前記キャリア(3)の垂直壁における、前記キャリア(3)の前記上ベース(16)のレベルより下の領域において前記キャリア列(3)の方へ、前記基本画素検出器の少なくとも1つの電力供給安定化手段(10)が配置されており、前記電力供給安定化手段(10)は前記プリント回路基板(9)に接続され、同時に、前記電力供給安定化手段(10)は前記読み取り電子機器の少なくとも1つのコネクタ(11)に接続され、該コネクタは空間的に前記キャリア列(3)より下に配置され、前記電力供給安定化手段(10)、前記保持部(4)、および前記キャリア列(3)の間に、温度差を排除するために少なくとも1つの熱伝導性接続継ぎ手が形成されていることを特徴とする、モジュール。 - 前記出力導体(8)は前記保持部(4)上に配置され、かつ、結線(12)で前記プリント回路基板(9)に接続されることを特徴とする、請求項1に記載のモジュール。
- 前記プリント回路基板(9)は前記上ベース(16)に着脱可能に固定され、固定点から、前記プリント回路基板(9)は、この長さの少なくとも一部上に、少なくとも1つの可撓性部品(13)を有することを特徴とする、請求項1又は2に記載のモジュール。
- 前記プリント回路基板(9)の前記可撓性部品(13)は、前記キャリア列(3)の前記上ベース(16)上で前記プリント回路基板(9)の前記固定点から前記電力供給安定化手段(10)へと垂直方向下方につなげられることを特徴とする、請求項3に記載のモジュール。
- 前記プリント回路基板(9)は、前記電力供給安定化手段(10)と前記読み取り電子機器の前記コネクタ(11)との間で、垂直方向下方に配向され、かつその長さの一部に沿って可撓性を有することを特徴とする、請求項4に記載のモジュール。
- 正方形または長方形の断面形状を有する縦断面によって形成されるキャリア列(3)を含む母材(15)上に配置される少なくとも1つのモジュール(1)によって形成される連続的な検出面を有する、電離放射線の検出器(14)であって、前記キャリア列(3)の上ベース(16)の表面の少なくとも一部上に、検出セグメント(2)の交換可能な保持部(4)が配置されており、前記検出セグメント(2)は、読み取りチップ(6)の上面上に配置されるセンサ層(5)から成る基本画素検出器を含み、前記読み取りチップ(6)はこの下面の少なくとも一部で前記保持部(4)に締結され、前記チップ(6)の前記下面の残りは、前記キャリア列(3)の表面の外側に延在する突起部(7)を形成し、前記基本画素検出器は、電力供給を接続し、かつ、通信信号を読み取り電子機器に送信するために、前記キャリア(3)の前記上ベース(16)上に前記読み取りチップ(6)の側部から導き出される少なくとも2つの電圧導体(8)が装備されており、
前記検出器(14)の前記検出面は並んで配置される少なくとも2つのモジュール(1)の少なくとも1つの連続的な列を含み、それぞれのモジュール(1)において、前記キャリア列(3)の前記上ベース(16)の非占有面上に、出力導体(8)を接続するための少なくとも1つのプリント回路基板(9)が配置されており、さらにまた前記キャリア列(3)に対して、前記キャリア(3)の垂直壁における前記キャリア(3)の前記上ベース(16)のレベルより下の領域において、前記基本画素検出器の少なくとも1つの電力供給安定化手段(10)が配置されており、前記電力供給安定化手段(10)は前記プリント回路基板(9)に接続され、同時に、前記電力供給安定化手段(10)は、空間的に前記キャリア列(3)より下に配置される、前記読み取り電子機器の少なくとも1つのコネクタ(11)に接続され、前記電力供給安定化手段(10)、前記保持部(4)、および前記キャリア列(3)の間に、温度差を排除するための少なくとも1つの熱伝導性接続継ぎ手が形成されていることを特徴とする、検出器。 - 前記出力導体(8)は前記保持部(4)上に配置され、結線(12)によって前記プリント回路基板(9)に接続されることを特徴とする、請求項6に記載の検出器。
- 前記プリント回路基板(9)は前記上ベース(16)に着脱可能に固定され、この固定点から、前記プリント回路基板(9)は、この長さの少なくとも一部上に少なくとも1つの可撓性部品(13)を有することを特徴とする、請求項6又は7に記載の検出器。
- 前記プリント回路基板(9)の前記可撓性部品(13)は、前記プリント回路基板(9)の前記固定点から、前記電力供給安定化手段(10)の方向へと垂直方向下方に前記キャリア列(3)の前記上ベースにつなげられることを特徴とする、請求項8に記載の検出器。
- 前記プリント回路基板(9)は、前記電力供給安定化手段(10)と前記読み取り電子機器の前記コネクタ(11)との間で、垂直方向下方に配向され、かつその長さの一部において可撓性を有することを特徴とする、請求項9に記載の検出器。
- 前記モジュール(1)の連続的な列は、それぞれが隣り合って並列に、連続的な検出面内に配置されることを特徴とする、請求項6〜10のうちいずれか一項に記載の検出器。
- 前記検出セグメント(2)は、連続して個々の前記セグメント(2)からのデータの逐次読み取りのために直列に、および/または、同時に検出セグメント(2)全てからのデータの並列読み取りのために並列に、前記読み取り電子機器に接続されることを特徴とする、請求項6〜11のうちいずれか一項に記載の検出器。
- 前記母材(15)は熱伝導性を有し、熱交換回路を備えることを特徴とする、請求項6 〜12のうちいずれか一項に記載の検出器。
- 前記検出セグメント(2)の前記保持部(4)、前記キャリア列(3)、および前記母材(15)は、アルミニウムまたはアルミニウム合金のいずれかから作られることを特徴とする、請求項6〜13のうちいずれか一項に記載の検出器。
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CZPV2015-318 | 2015-05-12 | ||
| CZ2015-318A CZ306067B6 (cs) | 2015-05-12 | 2015-05-12 | Modul detektoru ionizujícího záření |
| PCT/CZ2016/000054 WO2016180382A1 (en) | 2015-05-12 | 2016-05-10 | Ionizing radiation detector module |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2018522204A JP2018522204A (ja) | 2018-08-09 |
| JP6526239B2 true JP6526239B2 (ja) | 2019-06-05 |
Family
ID=56092691
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2017555710A Active JP6526239B2 (ja) | 2015-05-12 | 2016-05-10 | 電離放射線検出器モジュール |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US10261199B2 (ja) |
| EP (1) | EP3295214B1 (ja) |
| JP (1) | JP6526239B2 (ja) |
| CZ (1) | CZ306067B6 (ja) |
| WO (1) | WO2016180382A1 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2019144324A1 (en) | 2018-01-24 | 2019-08-01 | Shenzhen Xpectvision Technology Co., Ltd. | Packaging of radiation detectors in an image sensor |
| CN109959963B (zh) * | 2019-04-29 | 2024-01-26 | 中国计量科学研究院 | 一种电离室夹具 |
| US12471877B2 (en) * | 2022-06-07 | 2025-11-18 | GE Precision Healthcare LLC | Photon counting computed tomography (PCCT) detector sensor repair for increased sensor yield |
Family Cites Families (17)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4338521A (en) * | 1980-05-09 | 1982-07-06 | General Electric Company | Modular radiation detector array and module |
| JPS63284485A (ja) * | 1987-05-15 | 1988-11-21 | Shimadzu Corp | 放射線像受像装置 |
| US5991357A (en) * | 1997-12-16 | 1999-11-23 | Analogic Corporation | Integrated radiation detecting and collimating assembly for X-ray tomography system |
| GB2332608B (en) * | 1997-12-18 | 2000-09-06 | Simage Oy | Modular imaging apparatus |
| JP3818271B2 (ja) * | 2003-04-25 | 2006-09-06 | 株式会社島津製作所 | 放射線撮影装置 |
| WO2006119786A1 (en) | 2005-05-09 | 2006-11-16 | European Organisation For Nuclear Research - Cern | Method for stabilization of dc-potential at the output of a preamplifier and amplifier circuit |
| EP1760787A1 (en) * | 2005-09-02 | 2007-03-07 | Paul Scherrer Institut | An imaging device for single X-ray photon counting |
| JP2007155563A (ja) * | 2005-12-07 | 2007-06-21 | Acrorad Co Ltd | 放射線画像検出装置 |
| JP2009139346A (ja) * | 2007-12-11 | 2009-06-25 | Fuji Electric Systems Co Ltd | 放射線検出センサおよび放射線検出センサユニット |
| WO2010058309A2 (en) * | 2008-11-18 | 2010-05-27 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Spectral imaging detector |
| US8553834B2 (en) * | 2010-09-17 | 2013-10-08 | Analog Devices, Inc. | Computed tomography detector module |
| KR101761817B1 (ko) * | 2011-03-04 | 2017-07-26 | 삼성전자주식회사 | 대면적 엑스선 검출기 |
| US9168008B2 (en) * | 2011-11-03 | 2015-10-27 | General Electric Company | Coarse segmented detector architecture and method of making same |
| IN2014CN03499A (ja) * | 2011-11-08 | 2015-10-09 | Koninkl Philips Nv | |
| JP5619717B2 (ja) * | 2011-12-16 | 2014-11-05 | 株式会社日立製作所 | 放射線検出器用電源回路およびそれを用いた半導体放射線検出装置 |
| US9116022B2 (en) * | 2012-12-07 | 2015-08-25 | Analog Devices, Inc. | Compact sensor module |
| CZ2013669A3 (cs) | 2013-08-30 | 2015-01-07 | České vysoké učení technické v Praze Ústav technické a experimentální fyziky | Detektor ionizujícího záření umožňující vytvoření souvislého digitálního obrazu |
-
2015
- 2015-05-12 CZ CZ2015-318A patent/CZ306067B6/cs unknown
-
2016
- 2016-05-10 WO PCT/CZ2016/000054 patent/WO2016180382A1/en not_active Ceased
- 2016-05-10 US US15/572,818 patent/US10261199B2/en active Active
- 2016-05-10 JP JP2017555710A patent/JP6526239B2/ja active Active
- 2016-05-10 EP EP16726004.1A patent/EP3295214B1/en active Active
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CZ2015318A3 (cs) | 2016-07-20 |
| EP3295214B1 (en) | 2020-09-30 |
| EP3295214A1 (en) | 2018-03-21 |
| JP2018522204A (ja) | 2018-08-09 |
| CZ306067B6 (cs) | 2016-07-20 |
| WO2016180382A1 (en) | 2016-11-17 |
| US20180113224A1 (en) | 2018-04-26 |
| US10261199B2 (en) | 2019-04-16 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN102193103B (zh) | 用于辐射检测器的检测模块和辐射检测器 | |
| JP6526239B2 (ja) | 電離放射線検出器モジュール | |
| EP2902808B1 (en) | Radiation imaging device comprising array of Cd(Zn)Te detectors | |
| US9116022B2 (en) | Compact sensor module | |
| US8982275B2 (en) | Imaging apparatus | |
| EP3234650B1 (en) | Routing electrical signals for a radiation detector array | |
| JP2001527295A5 (ja) | ||
| EP2417630B1 (en) | A method for manufacturing a radiation imaging panel comprising imaging tiles | |
| US20120282803A1 (en) | Double Stack Compact Flash Card Connector | |
| US9345137B2 (en) | Partially depopulated interconnection arrays for packaged semiconductor devices and printed circuit boards | |
| US11749701B2 (en) | Reducing noise in an image capturing device, image capturing device unit, and image capturing apparatus | |
| JP5027832B2 (ja) | 放射線検出モジュール及び放射線撮像装置 | |
| CZ28374U1 (cs) | Modul detektoru ionizujícího záření | |
| KR102505432B1 (ko) | 이미지 센서 모듈 및 듀얼 카메라 모듈 | |
| CN109478556A (zh) | 检测器模块、检测器、成像设备和制造检测器模块的方法 | |
| JP2007155563A (ja) | 放射線画像検出装置 | |
| JP2004273747A (ja) | 光検出器および放射線検出装置 | |
| US20100118168A1 (en) | High density composite focal plane array | |
| WO2024235294A1 (zh) | 基于前照式光电二极管的多排ct探测器及其多排ct机 | |
| US20090109636A1 (en) | Multiple package module using a rigid flex printed circuit board | |
| US12282123B2 (en) | Readout and processing arrangement in a sensor system | |
| CN211266975U (zh) | 一种图像传感器串行接口传输模块 | |
| JP2025178903A (ja) | 電子モジュールおよび電子機器 | |
| JP2011209210A (ja) | 放射線検出器 | |
| JP2015161594A (ja) | 放射線検出器 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20171128 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20180322 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20180925 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20181225 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20190416 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20190507 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6526239 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |