Deprecated: The each() function is deprecated. This message will be suppressed on further calls in /home/zhenxiangba/zhenxiangba.com/public_html/phproxy-improved-master/index.php on line 456
JP6528974B2 - 撮像素子、撮像方法、並びにプログラム - Google Patents
[go: Go Back, main page]

JP6528974B2 - 撮像素子、撮像方法、並びにプログラム - Google Patents

撮像素子、撮像方法、並びにプログラム Download PDF

Info

Publication number
JP6528974B2
JP6528974B2 JP2015528226A JP2015528226A JP6528974B2 JP 6528974 B2 JP6528974 B2 JP 6528974B2 JP 2015528226 A JP2015528226 A JP 2015528226A JP 2015528226 A JP2015528226 A JP 2015528226A JP 6528974 B2 JP6528974 B2 JP 6528974B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pixel
pixels
exposure
control signal
line
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2015528226A
Other languages
English (en)
Other versions
JPWO2015012121A1 (ja
Inventor
光永 知生
知生 光永
俊 海津
俊 海津
哲平 栗田
哲平 栗田
亨 西
亨 西
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
Publication of JPWO2015012121A1 publication Critical patent/JPWO2015012121A1/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6528974B2 publication Critical patent/JP6528974B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/50Control of the SSIS exposure
    • H04N25/57Control of the dynamic range
    • H04N25/58Control of the dynamic range involving two or more exposures
    • H04N25/581Control of the dynamic range involving two or more exposures acquired simultaneously
    • H04N25/585Control of the dynamic range involving two or more exposures acquired simultaneously with pixels having different sensitivities within the sensor, e.g. fast or slow pixels or pixels having different sizes
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N23/00Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
    • H04N23/70Circuitry for compensating brightness variation in the scene
    • H04N23/73Circuitry for compensating brightness variation in the scene by influencing the exposure time
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N23/00Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
    • H04N23/70Circuitry for compensating brightness variation in the scene
    • H04N23/741Circuitry for compensating brightness variation in the scene by increasing the dynamic range of the image compared to the dynamic range of the electronic image sensors
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/10Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof for transforming different wavelengths into image signals
    • H04N25/11Arrangement of colour filter arrays [CFA]; Filter mosaics
    • H04N25/13Arrangement of colour filter arrays [CFA]; Filter mosaics characterised by the spectral characteristics of the filter elements
    • H04N25/133Arrangement of colour filter arrays [CFA]; Filter mosaics characterised by the spectral characteristics of the filter elements including elements passing panchromatic light, e.g. filters passing white light
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/10Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof for transforming different wavelengths into image signals
    • H04N25/11Arrangement of colour filter arrays [CFA]; Filter mosaics
    • H04N25/13Arrangement of colour filter arrays [CFA]; Filter mosaics characterised by the spectral characteristics of the filter elements
    • H04N25/135Arrangement of colour filter arrays [CFA]; Filter mosaics characterised by the spectral characteristics of the filter elements based on four or more different wavelength filter elements
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/50Control of the SSIS exposure
    • H04N25/57Control of the dynamic range
    • H04N25/571Control of the dynamic range involving a non-linear response
    • H04N25/573Control of the dynamic range involving a non-linear response the logarithmic type
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/50Control of the SSIS exposure
    • H04N25/57Control of the dynamic range
    • H04N25/58Control of the dynamic range involving two or more exposures
    • H04N25/581Control of the dynamic range involving two or more exposures acquired simultaneously
    • H04N25/583Control of the dynamic range involving two or more exposures acquired simultaneously with different integration times
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/70SSIS architectures; Circuits associated therewith
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/70SSIS architectures; Circuits associated therewith
    • H04N25/76Addressed sensors, e.g. MOS or CMOS sensors
    • H04N25/77Pixel circuitry, e.g. memories, A/D converters, pixel amplifiers, shared circuits or shared components
    • H04N25/778Pixel circuitry, e.g. memories, A/D converters, pixel amplifiers, shared circuits or shared components comprising amplifiers shared between a plurality of pixels, i.e. at least one part of the amplifier must be on the sensor array itself
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/70SSIS architectures; Circuits associated therewith
    • H04N25/76Addressed sensors, e.g. MOS or CMOS sensors
    • H04N25/78Readout circuits for addressed sensors, e.g. output amplifiers or A/D converters

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Color Television Image Signal Generators (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)

Description

本技術は、撮像素子、撮像方法、並びにプログラムに関する。詳しくは、複数の画素について複数の露光タイミングで読み出しを行うことで、ダイナミックレンジを拡大するのに好適な撮像素子、撮像方法、並びにプログラムに関する。
近年、人物等の被写体を撮像して画像(画像データ)を生成し、この生成された画像(画像データ)を画像コンテンツ(画像ファイル)として記録する電子機器、例えば、デジタルスチルカメラ等の撮像装置が普及している。これらの電子機器に用いられる撮像素子として、CCD(Charge Coupled Device)センサや、CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)センサ等が普及している。
イメージセンサの性能軸の1つとしてダイナミックレンジがある。ダイナミックレンジとは有効な画像信号として変換できる入射光の明るさの幅であり、ダイナミックレンジが大きいほど、暗い光から明るい光まで画像信号に変換でき、性能が良いということになる。
イメージセンサのダイナミックレンジを拡大するための提案として、例えば特許文献1では、SVE(Spatially Varying Exposure)と称される方式が提案されている。
通常のイメージセンサの画素は、フォトダイオード(PD:Photo Diode)を有し、そのフォトダイオードで、入射された光が光電変換によって電荷に変換される。画素は、蓄積できる電荷量が決まっているので、強すぎる入射光に対しては電荷あふれが生じ、それ以上の信号を取り出すことができない。また、画素および読み出しのための回路で発生するノイズのため、弱すぎる入射光に対しては、生じた電荷がノイズに埋もれて信号を取り出すことができない。
そこで、SVE方式では、異なる感度の画素を所定の配置パターンで配置するようにして、シーン中の暗いところは高感度の画素で、明るいところは低感度の画素で信号が取得できるようにする方式である。画素毎に感度を変える方法としては、画素開口率を変えたり、光透過率の異なるオンチップフィルタを用いたりする方法の他、イメージセンサの電子シャッター制御機構を利用する方法がある。特許文献1では、CCDイメージセンサにおける電子シャッター制御機構を利用した方法が提案されている。
輝度信号を得るための分光感度を持つ画素と、色信号を得るための3種類の分光感度を持つ画素と合わせて4種類の画素を配置するイメージセンサが、特許文献2で提案されている。そのような色配列の例として、特許文献2では、輝度信号を得るための画素が市松状に配置されて、色信号を得るためのR,G,Bの分光感度を持つ画素が残りの市松状の配置位置となっているものが記載されている。
特許文献3には、特許文献2に記載の画素配列で、SVE方式の撮像を行う場合の露光パターンの例が開示されている。
特開2007-135200号公報 特開2007-243334号公報 特開2012-257193号公報
特許文献1では、RGB(赤、緑、青)の3色からなる色配置を持つイメージセンサにおいて、SVE方式での撮影を行うための画素制御方法についての記載はある。特許文献2では、輝度信号を得るための1画素と色信号を得るための3画素を組み合わせて用いることについての記載はある。特許文献3では、特許文献2に記載の画素配列で、SVE方式の撮像を行う場合の露光パターンについての記載はある。
しかしながら、輝度信号を得るための1画素と色信号を得るための3画素を組み合わせて用いるイメージセンサにおいて、SVE方式の撮像を実現する画素制御方法や構成についての記載はない。4画素を用いたときでも、SVE方式での撮像を実現する画素制御が望まれている。4画素を用いたSVE方式での撮像が行えるようになることで、ダイナミックレンジを拡大し、より性能を向上させることが望まれている。
本技術は、このような状況に鑑みてなされたものであり、ダイナミックレンジを拡大することができ、より性能を向上させることができるようにするものである。
本技術の一側面の撮像素子は、全整色性である分光感度の第1の画素を含む4種類の分光感度の画素が撮像面上に配置され、前記4種類の分光感度のそれぞれに、第1の露光を実現する画素と、前記第1の露光より短い第2の露光を実現する画素とが前記撮像面上に配置され、2次元的に、前記第1の画素が市松配列となる、4×4画素の周期的な配置を構成し、前記4×4画素の所定の1ラインの連続する4画素は、前記第2の露光を実現する画素で構成され、画素位置毎に、前記全整色性である第1の分光感度の前記第1の露光の信号の前記画素位置における高周波の補間値を算出する第1の処理部と、前記第1の分光感度の前記第2の露光の信号の前記画素位置における高周波の補間値を算出する第2の処理部と、前記第1の分光感度の前記第1の露光の信号の前記画素位置における低周波の補間値を算出する第3の処理部と、前記第1の分光感度の前記第2の露光の信号の前記画素位置における低周波の補間値を算出する第4の処理部と、第2の分光感度の前記第1の露光の信号の前記画素位置における補間値を算出する第5の処理部と、前記第2の分光感度の前記第2の露光の信号の前記画素位置における補間値を算出する第6の処理部と、第3の分光感度の前記第1の露光の信号の前記画素位置における補間値を算出する第7の処理部と、前記第3の分光感度の前記第2の露光の信号の前記画素位置における補間値を算出する第8の処理部と、第4の分光感度の前記第1の露光の信号の前記画素位置における補間値を算出する第9の処理部と、前記第4の分光感度の前記第2の露光の信号の前記画素位置における補間値を算出する第10の処理部とを備える
特定方向において、前記第1の画素が2画素周期で配置される第1のラインと、前記第1の画素が、前記第1のラインとは前記特定方向に1画素ずれて配置される第2のラインとが、前記特定方向に直交する方向において交互に配置され、前記第1の画素の分光感度とは異なる分光感度の画素が、同じ分光感度毎に、前記特定方向に2画素もしくは4画素周期で配置されているようにすることができる。
前記特定方向における1ラインを構成する複数の画素の露光開始および終了タイミングを制御するための画素転送制御信号線を前記1ライン毎に3本備え、前記第1のラインにおける前記画素転送制御信号線のうち第1の画素転送制御信号線が、前記第1のラインの2画素周期の同じ分光感度の画素に対して転送制御信号を送り、前記第1のラインにおける前記画素転送制御信号線のうち第2の画素転送制御信号線が、前記第1のラインの4画素周期の同じ分光感度の画素に対して転送制御信号を送り、前記第1のラインにおける前記画素転送制御信号線のうち第3の画素転送制御信号線が、前記第1のラインの4画素周期の同じ分光感度の画素に対して転送制御信号を送り、前記第2のラインにおける前記画素転送制御信号線のうち第1の画素転送制御信号線が、前記第2のラインの2画素周期の同じ分光感度の画素に対して転送制御信号を送り、前記第2のラインにおける前記画素転送制御信号線のうち第2の画素転送制御信号線が、前記第2のラインの4画素周期の同じ分光感度の画素に対して転送制御信号を送り、前記第2のラインにおける前記画素転送制御信号線のうち第3の画素転送制御信号線が、前記第2のラインの4画素周期の同じ分光感度の画素に対して転送制御信号を送り、前記画素転送制御信号線のそれぞれが、前記第1の露光を実現する第1のタイミング、または前記第2の露光を実現する第2のタイミングのどちらかで画素転送制御信号を送るようにすることができる。
前記特定方向において隣接する2つの画素間で1つのA/D変換器を共有し、前記画素転送制御信号線のうちの少なくとも2本の画素転送制御信号線を用いて前記隣接する2つの画素の露光タイミングをずらすようにすることができる。
複数の画素により構成される画素群で1つのフローティングディフュージョンを共有するようにすることができる。
前記4×4画素の周期的な配置は、前記特定方向において、前記第1の画素と、第2の分光感度の第2の画素が交互に配置される第1のラインと、前記特定方向において、前記第1の画素が2画素周期で配置され、第3の分光感度の第3の画素と、第4の分光感度の第4の画素が、残りの画素位置に4画素周期で配置される第2のラインとが、前記特定方向に直交する方向において交互に配置されるようにすることができる。
前記第1のラインの前記第1の画素転送制御信号線と、前記第2のラインの前記第1の画素転送制御信号線は、それぞれに異なるタイミングで制御信号を送るように制御され、前記第1のラインの前記第2の画素転送制御信号線と前記第3の画素転送制御信号線は、それぞれに異なるタイミングで制御信号を送るように制御され、前記第2のラインの前記第2の画素転送制御信号線と、第4のラインの前記第3の画素に対する前記画素転送制御信号線とは、それぞれに異なるタイミングで制御信号を送るように制御され、前記第2のラインの前記第4の画素に対する前記画素転送制御信号線と、前記第4のラインの前記第4の画素に対する前記画素転送制御信号線とは、それぞれに異なるタイミングで制御信号を送るように制御されるようにすることができる。
前記第1乃至10の処理部により算出された前記第1乃至4の分光感度の前記第1の露光または前記第2の露光の信号の前記画素位置における補間値から、合成した前記第2の分光感度、前記第3の分光感度、および前記第4の分光感度の補間値をそれぞれ算出する第11の処理部をさらに備えるようにすることができる。
前記第11の処理部から出力される前記補間値を、ベイヤー配列に変換する変換部をさらに備えるようにすることができる。
前記第11の処理部は、各画素より読み出された信号を非線形階調に変換する処理を含むようにすることができる。
前記非線形階調に変換する処理は、上に凸のべき乗関数特性に基づいて変換する処理を含むようにすることができる。
前記非線形階調に変換する処理は、対数階調特性に基づいて変換する処理を含むようにすることができる。
前記撮像面上に配置されている画素からの信号を対数変換する対数変換処理部と、前記第11の処理部から出力される前記補間値を対数逆変換する対数逆変換処理部とをさらに備え、前記第1乃至10の処理部は、それぞれ前記対数変換処理部で変換された値を用いて処理を行うようにすることができる。
前記撮像面上に配置されている画素からの信号を対数変換する対数変換処理部と、前記変換部から出力される前記補間値を対数逆変換する対数逆変換処理部とをさらに備え、前記第1乃至10の処理部は、それぞれ前記対数変換処理部で変換された値を用いて処理を行うようにすることができる。
本技術の一側面の撮像方法は、全整色性である分光感度の画素を含む4種類の分光感度の画素が撮像面上に配置され、前記4種類の分光感度のそれぞれに、第1の露光を実現する画素と、前記第1の露光より短い第2の露光を実現する画素とが前記撮像面上に配置され、特定方向において、前記全整色性である分光感度の第1の画素が2画素周期で配置される第1のラインと、前記第1の画素が、前記第1のラインとは前記特定方向に1画素ずれて配置される第2のラインとが、前記特定方向に直交する方向において交互に配置され、前記第1の画素の分光感度とは異なる分光感度の画素が、同じ分光感度毎に、前記特定方向に2画素もしくは4画素周期で配置され、2次元的に、前記第1の画素が市松配列となる、4×4画素の周期的な配置を構成し、前記4×4画素の所定の1ラインの連続する4画素は、前記第2の露光を実現する画素で構成している撮像素子の撮像方法であり、前記特定方向における1ラインを構成する複数の画素の露光開始および終了タイミングを制御するための画素転送制御信号線であり、前記1ライン毎に3本備えられている前記画素転送制御信号線に、前記第1の露光を実現する第1のタイミング、または前記第2の露光を実現する第2のタイミングのどちらかで画素転送制御信号を送り、画素位置毎に、前記全整色性である第1の分光感度の前記第1の露光の信号の前記画素位置における高周波の補間値を算出し、前記第1の分光感度の前記第2の露光の信号の前記画素位置における高周波の補間値を算出し、前記第1の分光感度の前記第1の露光の信号の前記画素位置における低周波の補間値を算出し、前記第1の分光感度の前記第2の露光の信号の前記画素位置における低周波の補間値を算出し、第2の分光感度の前記第1の露光の信号の前記画素位置における補間値を算出し、前記第2の分光感度の前記第2の露光の信号の前記画素位置における補間値を算出し、第3の分光感度の前記第1の露光の信号の前記画素位置における補間値を算出し、前記第3の分光感度の前記第2の露光の信号の前記画素位置における補間値を算出し、第4の分光感度の前記第1の露光の信号の前記画素位置における補間値を算出し、前記第4の分光感度の前記第2の露光の信号の前記画素位置における補間値を算出するステップを含む。
本技術の一側面のプログラムは、全整色性である分光感度の画素を含む4種類の分光感度の画素が撮像面上に配置され、前記4種類の分光感度のそれぞれに、第1の露光を実現する画素と、前記第1の露光より短い第2の露光を実現する画素とが前記撮像面上に配置され、特定方向において、前記全整色性である分光感度の第1の画素が2画素周期で配置される第1のラインと、前記第1の画素が、前記第1のラインとは前記特定方向に1画素ずれて配置される第2のラインとが、前記特定方向に直交する方向において交互に配置され、前記第1の画素の分光感度とは異なる分光感度の画素が、同じ分光感度毎に、前記特定方向に2画素もしくは4画素周期で配置され、2次元的に、前記第1の画素が市松配列となる、4×4画素の周期的な配置を構成し、前記4×4画素の所定の1ラインの連続する4画素は、前記第2の露光を実現する画素で構成している撮像素子を制御するコンピュータに行わせるプログラムにおいて、前記特定方向における1ラインを構成する複数の画素の露光開始および終了タイミングを制御するための画素転送制御信号線であり、前記1ライン毎に3本備えられている前記画素転送制御信号線に、前記第1の露光を実現する第1のタイミング、または前記第2の露光を実現する第2のタイミングのどちらかで画素転送制御信号を送り、画素位置毎に、前記全整色性である第1の分光感度の前記第1の露光の信号の前記画素位置における高周波の補間値を算出し、前記第1の分光感度の前記第2の露光の信号の前記画素位置における高周波の補間値を算出し、前記第1の分光感度の前記第1の露光の信号の前記画素位置における低周波の補間値を算出し、前記第1の分光感度の前記第2の露光の信号の前記画素位置における低周波の補間値を算出し、第2の分光感度の前記第1の露光の信号の前記画素位置における補間値を算出し、前記第2の分光感度の前記第2の露光の信号の前記画素位置における補間値を算出し、第3の分光感度の前記第1の露光の信号の前記画素位置における補間値を算出し、前記第3の分光感度の前記第2の露光の信号の前記画素位置における補間値を算出し、第4の分光感度の前記第1の露光の信号の前記画素位置における補間値を算出し、前記第4の分光感度の前記第2の露光の信号の前記画素位置における補間値を算出するステップを含む処理を含む。
本技術の一側面の撮像素子、撮像方法、並びにプログラムにおいては、全整色性である分光感度の第1の画素を含む4種類の分光感度の画素が撮像面上に配置され、4種類の分光感度のそれぞれに、第1の露光を実現する画素と、第1の露光より短い第2の露光を実現する画素とが撮像面上に配置され、2次元的に、第1の画素が市松配列となる、4×4画素の周期的な配置が構成され、4×4画素の所定の1ラインの連続する4画素は、第2の露光を実現する画素で構成され、第1の露光と第2の露光を実現するための構成と制御がされる。また、画素位置毎に、全整色性である第1の分光感度の第1の露光の信号の画素位置における高周波の補間値が算出され、第1の分光感度の第2の露光の信号の画素位置における高周波の補間値が算出され、第1の分光感度の第1の露光の信号の画素位置における低周波の補間値が算出され、第1の分光感度の第2の露光の信号の画素位置における低周波の補間値が算出され、第2の分光感度の第1の露光の信号の画素位置における補間値が算出され、第2の分光感度の第2の露光の信号の画素位置における補間値が算出され、第3の分光感度の第1の露光の信号の画素位置における補間値が算出され、第3の分光感度の第2の露光の信号の画素位置における補間値が算出され、第4の分光感度の第1の露光の信号の画素位置における補間値が算出され、第4の分光感度の第2の露光の信号の画素位置における補間値が算出される。
本技術の一側面によれば、ダイナミックレンジを拡大することができ、より性能を向上させることができるようになる。
撮像素子の受光部に装着されるカラーフィルタの配列の一例を示す図である。 本技術を適用した一実施の形態における撮像素子の受光部に装着されるカラーフィルタと露光時間の画素配列を示す図である。 撮像素子の露光時間制御を実現する制御信号線の配線を示す図である。 撮影素子の受光部に装着されるカラーフィルタと露光時間の画素配列の一例を示す図である。 撮影素子の受光部に装着されるカラーフィルタと露光時間の画素配列の一例を示す図である。 撮影素子の受光部に装着されるカラーフィルタと露光時間の画素配列の一例を示す図である。 第1の実施の形態における撮影素子に備えられている画素の基本回路の構成例を示す図である。 第1の実施の形態における撮影素子の画素制御回路および画素配線の構成例を示す図である。 第1の実施の形態における撮影素子を構成する各画素への制御信号を模式的に表すタイミングチャートである。 第1の実施の形態における撮影素子を構成する各画素への制御信号を模式的に表すタイミングチャートである。 第1の実施の形態における撮影素子を構成する各画素への制御信号を模式的に表すタイミングチャートである。 第1の実施の形態における撮影素子を構成する各画素への制御信号を模式的に表すタイミングチャートである。 第2の実施の形態における撮影素子の画素制御回路および画素配線の構成例を示す図である。 第2の実施の形態における撮影素子を構成する各画素への制御信号を模式的に表すタイミングチャートである。 第3の実施の形態における撮影素子に備えられている画素の基本回路の構成例を示す図である。 第3の実施の形態における撮影素子の画素制御回路および画素配線の構成例を示す図である。 第3の実施の形態における撮影素子を構成する各画素への制御信号を模式的に表すタイミングチャートである。 第4の実施の形態における撮影素子に備えられている画素の基本回路の構成例を示す図である。 第4の実施の形態における撮影素子の画素制御回路および画素配線の構成例を示す図である。 第4の実施の形態における撮影素子を構成する各画素への制御信号を模式的に表すタイミングチャートである。 第5の実施の形態における撮像装置の機能構成例を示すブロック図である。 第5の実施の形態における画像処理部の機能構成例を示すブロック図である。 第5の実施の形態におけるWL高周波補間部、WS高周波補間部で利用する補間フィルタ係数の一例を示す図である。 第5の実施の形態におけるWL低周波補間部、WS低周波補間部、GL低周波補間部、GS低周波補間部、RL低周波補間部、RS低周波補間部、BL低周波補間部、BS低周波補間部で利用する補間フィルタ係数の一例を示す図である。 第5の実施の形態におけるHDR合成部の機能構成例を示すブロック図である。 第5の実施の形態におけるHDR合成部の動作を模式的に説明する図である。 第5の実施の形態におけるHDR合成部の重み値特性の一例を示す図である。 他の適用例における撮影素子内でRGBのBayerデータに変換する処理の機能構成例を示すブロック図である。 第5の実施の形態における画像処理部において対数変換の処理位置を変えた機能構成例を示すブロック図である。 他の適用例における撮影素子内でRGBのBayerデータに変換する処理において対数変換の処理位置を変えた機能構成例を示すブロック図である。 対応可能な撮影素子の受光部に装着されるカラーフィルタの配列の他の例を示す図である。 対応可能な撮影素子の受光部に装着されるカラーフィルタの配列の他の例を示す図である。 対応可能な撮影素子の露光制御パターンの例を示す図である。 対応可能な撮影素子の露光制御パターンの例を示す図である。 対応可能な撮影素子の露光制御パターンの例を示す図である。 対応可能な撮影素子の露光制御パターンの例を示す図である。 対応可能な撮影素子の露光制御パターンの例を示す図である。 対応可能な撮影素子の露光制御パターンの例を示す図である。 対応可能な撮影素子の露光制御パターンの例を示す図である。 対応可能な撮影素子の露光制御パターンの例を示す図である。
以下に、本技術を実施するための形態(以下、実施の形態という)について説明する。なお、説明は、以下の順序で行う。
1.第1の実施の形態(水平方向の1ライン上に画素転送制御信号線を3本設ける例)
2.第2の実施の形態(水平方向の2画素が1つのA/D変換器を共有する撮像素子の例)
3.第3の実施の形態(垂直方向の4画素が1つのFDを共有する撮像素子の例)
4.第4の実施の形態(8画素がFDを共有する撮像素子の例)
5.第5の実施の形態(撮像装置の例)
6.他の適用例
本技術は、撮像素子に適用できる。撮像素子として、CCD(Charge Coupled Deviceセンサや、CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)センサなどがある。また本技術は、R(赤)、G(緑)、B(青)、W(白)の各色光を出力する4個の画素が配列されているイメージセンサに適用できる。
R(赤)、G(緑)、B(青)、W(白)の各色光を出力する4個の画素は、例えば、図1に示すように、表示領域にマトリクス状に配置される。図1において、各矩形は画素を模式的に表す。また、各矩形の内部には、カラーフィルタの種類(各画素が出力する色光)を示す記号を示す。例えば、G画素には「G」を付し、R画素には「R」を付し、B画素には「B」を付し、W画素には「W」を付す。以下の説明においても、同様に記載する。
W画素は、全整色性である分光感度の画素として機能し、R画素、G画素、B画素は、それぞれの色に特性のある分光感度の画素として機能する。本技術は、このように、全整色性である分光感度を含む4種類の分光感度の画素が、撮像面上に配置されている撮像素子(イメージセンサ)に適用できる。
図1に示したイメージセンサは、1乃至8行、1乃至8列に配列されたR画素、G画素、B画素、およびW画素の配置を示す。図1に示したのは、イメージセンサの一部分であり、1乃至8行、1乃至8列に配列されたR画素、G画素、B画素、およびW画素以外の他の行、他の列に配列されたR画素、G画素、B画素、およびW画素についての構成も同様である。
以下の説明において、例えば、画素10(m,n)との記載を行うが、mは行を表し、nは列を表すとする。また行とは、水平信号線(不図示)が配置される水平方向とし、列とは、垂直信号線(不図示)が配置される垂直方向とする。例えば、画素10(2,1)とは、2行目の1列目に位置する画素であることを表す。また、ここで、左上の画素を、画素10(1,1)とし、この画素10(1,1)を基準として、各画素の位置を表す。他の図面においても、同様の記載を行う。
イメージセンサの水平方向(図1の左右方向であり、行方向)の構成を説明する。1行目には、W画素10(1,1)、G画素10(1,2)、W画素10(1,3)、G画素10(1,4)、W画素10(1,5)、G画素10(1,6)、W画素10(1,7)、G画素10(1,8)が配置されている。この場合、1行目には、W画素とG画素が、配置されている。
2行目には、R画素10(2,1)、W画素10(2,2)、B画素10(2,3)、W画素10(2,4)、R画素10(2,5)、W画素10(2,6)、B画素10(2,7)、W画素10(2,8)が配置されている。この場合、2行目には、R画素、W画素、B画素が、配置されている。
3行目には、1行目と同じく、W画素とG画素が交互に配置されている。
4行目は、2行目と同じく、R画素、W画素、B画素が配置されているが、開始の画素がR画素ではなく、B画素である点が異なる。すなわち、4行目は、B画素10(4,1)、W画素10(4,2)、R画素10(4,3)、W画素10(4,4)、B画素10(4,5)、W画素10(4,6)、R画素10(4,7)、W画素10(4,8)が配置されている。
5行目、7行目は、それぞれ1行目と同じく、W画素とG画素が交互に配置されている。6行目は、2行目と同じく、R画素、W画素、B画素が、配置されている。また8行目は、4行目と同じく、B画素、W画素、R画素が、配置されている。
図1に示した色配置は、行方向を特定方向とした場合、その特定方向において、全整色性である分光感度のW画素に注目すると、W画素が2画素周期で配置される第1のラインと、W画素が、第1のラインとは特定方向に1画素ずれて配置される第2のラインとがある。そして、第1のラインと第2のラインは、特定方向に直交する方向(列方向)において交互に配置されている。
また、W画素とは異なる分光感度を有するR画素、G画素、およびB画素は、同じ分光感度毎に、特定方向に2画素もしくは4画素周期で配置される。例えば、G画素は、第1のラインにおいて、2画素周期で配置され、R画素とB画素は、第2のラインにおいて、それぞれ4画素周期で配置されている。
このように、2次元的に、W画素が市松配列となる、4×4画素の周期的な配置を構成するように、色配置が行われている。
このように、RGBWの4色のカラーフィルタ(CF:Color Filter)が配置され、各カラーフィルタを透過した光を受光し、各色光を出力する画素が配列されているイメージセンサにおいて、SVE(Spatially Varying Exposure)方式を適用した場合、感度が異なる画素が配置されるため、図2に示すような画素配置となる。
<第1の実施の形態>
<カラーフィルタと露光時間の画素配列例>
図2は、本技術の第1の実施の形態における撮像素子の受光部に装着されるカラーフィルタの画素配列の一例を示す図である。図2に示した画素配列は、図1に示した画素配置と基本的に同様であるが、感度が異なる画素が配列されている点が異なる。
図2において、矩形内部に斜線が付されていない矩形は長時間露光画素を示し、矩形内部に斜線を付された矩形は短時間露光画素を示す。また、各矩形の内部には、カラーフィルタの種類を示す記号を、長時間露光または短時間露光を表す記号とともに示す。
例えば、G画素のうちの長時間露光画素には「GL」を付し、GL画素と記述し、短時間露光画素には「GS」を付し、GS画素と記述する。同様に、R画素のうちの長時間露光画素には「RL」を付し、RL画素と記述し、短時間露光画素には「RS」を付し、RS画素と記述する。
またB画素のうちの長時間露光画素には「BL」を付し、BL画素と記述し、短時間露光画素には「BS」を付し、BS画素と記述する。さらに、W画素のうちの長時間露光画素には「WL」を付し、WL画素と記述し、短時間露光画素には「WS」を付し、WS画素と記述する。
長時間露光画素は、一定の露光期間内に連続して露光(長時間露光)して読み出す画素である。また、短時間露光画素は、一定の露光期間内の所定の露光時間より短い期間の露光で得られる信号のみの読み出しを行う画素である。
なお、本実施の形態としては、長時間露光と短時間露光の2種類の露光をそれぞれ実現する画素が、撮像面上に配置されている場合を例にあげて説明を続けるが、2種類の露光を実現する場合にのみ、本技術が適用できることを意味する記載ではない。2種類以上の露光を実現する場合にも、本技術を適用できる。
また、長時間露光と短時間露光の2種類の露光ではなく、第1の露光と第2の露光といった異なる露光、例えば、第1の露光と第2の露光のどちらも、時間的には長時間露光に分類される露光であっても、露光の時間が異なる2種類の露光であれば、本技術を適用できる。
図2に示すように、本技術の第1の実施の形態におけるカラーフィルタの色配列は、図1に示した4色配列と同じである。この色配列に対して、本技術では、長時間と短時間の2種類の露光時間で制御される画素を色毎に形成する。
イメージセンサの水平方向(図2の左右方向であり、行方向)の構成を説明する。1行目には、WL画素20(1,1)、GL画素20(1,2)、WL画素20(1,3)、GS画素20(1,4)、WL画素20(1,5)、GL画素20(1,6)、WL画素20(1,7)、GS画素20(1,8)が配置されている。この場合、1行目には、長時間露光画素のWL画素、長時間露光画素のGL画素、および短時間露光画素のGS画素が配置されている。
2行目には、RL画素20(2,1)、WS画素20(2,2)、BL画素20(2,3)、WS画素20(2,4)、RL画素20(2,5)、WS画素20(2,6)、BL画素20(2,7)、WS画素20(2,8)が配置されている。この場合、2行目には、短時間露光画素のWS画素、長時間露光画素のRL画素、および長時間露光画素のBL画素が配置されている。
3行目は、1行目と同じく、W画素とG画素が交互に配置されているが、1行目で長時間露光画素のGL画素とされていた画素が、短時間露光画素のGS画素とされ、短時間露光画素のGS画素とされていた画素が、長時間露光画素のGL画素とされている点が異なる。すなわち、3行目には、WL画素20(3,1)、GS画素20(3,2)、WL画素20(3,3)、GL画素20(3,4)、WL画素20(3,5)、GS画素20(3,6)、WL画素20(3,7)、GL画素20(3,8)が配置されている。
このように、同列に位置するG画素、例えば、1列目に配列されているGL画素20(1,2)とGS画素20(3,2)は、互いに異なる露光時間とされている。このように、長時間露光画素と短時間露光の画素は、比較的均等に分散して配置されるように構成されている。
4行目は、2行目と同じく、R画素、W画素、B画素が配置されているが、開始の画素がR画素ではなく、B画素であり、全ての画素が短時間露光画素に設定されている点が異なる。すなわち、4行目は、BS画素20(4,1)、WS画素20(4,2)、RS画素20(4,3)、WS画素20(4,4)、BS画素20(4,5)、WS画素20(4,6)、RS画素20(4,7)、WS画素20(4,8)が配置されている。
R画素とB画素も、G画素と同じく、同列に位置し、近傍に位置するR画素とG画素は、互いに異なる露光時間とされている。このように、長時間露光画素と短時間露光の画素は、比較的均等に分散して配置されるように構成されている。
5乃至8行目は、1行目乃至4行目の画素配置と同様の画素配置とされている。このように、4行毎に繰り返される配置とされる。
このような画素配置についてさらに説明する。図2に示した画素配置において、上から数えて奇数番目の行(1、3、5行目)においては、W画素とG画素が交互に配置され、そのうちのW画素は、全て長時間露光となるWL画素とされ、G画素は、長時間露光となるGL画素と短時間露光となるGS画素が交互に配置される。
偶数番目の行においては、W画素が1画素おきに配置され、残りの画素位置にR画素とB画素が交互に配置される。さらに偶数番目の行のW画素は、全て短時間露光となるWS画素である。R画素とB画素は、同一行においてどちらも長時間露光のRL画素、BL画素か、どちらも短時間露光のRS画素、BS画素とされ、2行おきに交互に配置される。
図2に示したような画素の配置は、一見すると露光の空間パターンが複雑であるように見えるが、各色かつ各露光で画素の配置を見たときには、どれも等方的な配置となっており、後述するように補間フィルタ等の信号処理がやりやすいという効果を期待できる配置である。
<露光制御の配線例>
図3に、図2の露光時間制御を実現する制御信号線の配線を模式的に示す。図3において水平方向(図中左右方向)にのびる実線は、それぞれが画素の露光を制御するための画素転送制御信号線を示す。また画素転送制御信号線上の黒はその位置の画素との接続を示す。
図3には記載していないが、画素の配置は図2に示した画素の配置であり、斜線を付した部分は、短時間露光画素であることを表している。画素の配置については、適宜図2を参照しながら説明を続ける。
図3に示すように、1行あたり3本の画素転送制御信号線が配置される。1行目には、画素転送制御信号線21−1乃至21−3が配置され、2行目には、画素転送制御信号線22−1乃至22−3が配置され、3行目には、画素転送制御信号線23−1乃至23−3が配置され、4行目には、画素転送制御信号線24−1乃至24−3が配置され、5行目には、画素転送制御信号線25−1乃至25−3が配置され、6行目には、画素転送制御信号線26−1乃至26−3が配置され、7行目には、画素転送制御信号線27−1乃至27−3が配置され、8行目には、画素転送制御信号線28−1乃至28−3が配置されている。
1行目に配置されている画素20と画素転送制御信号線21に注目する。画素転送制御信号線21−1は、WL画素20(1,1)、WL画素20(1,3)、WL画素20(1,5)、WL画素20(1,7)に接続されている。すなわち、画素転送制御信号線21−1は、長時間露光画素のWL画素に接続され、それらの露光を制御する。
画素転送制御信号線21−2は、GL画素20(1,2)とGL画素20(1,6)に接続されている。すなわち画素転送制御信号線21−2は、長時間露光画素のGL画素に接続され、それらの露光を制御する。画素転送制御信号線21−3は、GS画素20(1,4)とGS画素20(1,8)に接続されている。すなわち、画素転送制御信号線21−3は、短時間露光画素のGS画素に接続され、それらの露光を制御する。
次に、2行目に配置されている画素20と画素転送制御信号線22に注目する。画素転送制御信号線22−1は、WS画素20(2,2)、WS画素20(2,4)、WS画素20(2,6)、WS画素20(2,8)に接続されている。すなわち、画素転送制御信号線22−1は、短時間露光画素のWS画素に接続され、それらの露光を制御する。
画素転送制御信号線22−2は、RL画素20(2,1)とRL画素20(2,5)に接続されている。すなわち画素転送制御信号線22−2は、長時間露光画素のRL画素に接続され、それらの露光を制御する。画素転送制御信号線22−3は、BL画素20(2,3)とBL画素20(2,7)に接続されている。すなわち、画素転送制御信号線22−3は、長時間露光画素のBL画素に接続され、それらの露光を制御する。
次に、3行目に配置されている画素20と画素転送制御信号線23に注目する。画素転送制御信号線23−1は、WL画素20(3,1)、WL画素20(3,3)、WL画素20(3,5)、WL画素20(3,7)に接続されている。すなわち、画素転送制御信号線23−1は、長時間露光画素のWL画素に接続され、それらの露光を制御する。
画素転送制御信号線23−2は、GL画素20(3,4)とGL画素20(3,8)に接続されている。すなわち画素転送制御信号線23−2は、長時間露光画素のGL画素に接続され、それらの露光を制御する。画素転送制御信号線23−3は、GS画素20(3,2)とGS画素20(3,6)に接続されている。すなわち、画素転送制御信号線23−3は、短時間露光画素のGS画素に接続され、それらの露光を制御する。
次に、4行目に配置されている画素20と画素転送制御信号線24に注目する。画素転送制御信号線24−1は、WS画素20(4,2)、WS画素20(4,4)、WS画素20(4,6)、WS画素20(4,8)に接続されている。すなわち、画素転送制御信号線24−1は、短時間露光画素のWS画素に接続され、それらの露光を制御する。
画素転送制御信号線24−2は、RS画素20(4,3)とRS画素20(4,7)に接続されている。すなわち画素転送制御信号線24−2は、短時間露光画素のRS画素に接続され、それらの露光を制御する。画素転送制御信号線24−3は、BS画素20(4,1)とBS画素20(4,5)に接続されている。すなわち、画素転送制御信号線24−3は、短時間露光画素のBS画素に接続され、それらの露光を制御する。
5行目乃至8行目は、1行目乃至4行目と画素の配置や画素転送制御信号線の接続の仕方は同じであるため、その説明は省略する。
このように1行あたり複数(この場合、3本)の画素転送制御信号線を配置することによって、同一行中に長時間露光の画素と短時間露光の画素が混在しても、制御し分けることが可能となる。また、1行あたり3本の画素転送制御信号線を配置すると、長時間露光と短時間露光の制御に加えて、色毎の独立制御も可能になる。
W画素は可視光の全波長帯にわたって感度を持つためにR,G,B画素と比べて2倍近い感度を持つ場合がある。そのためW画素だけ飽和しやすい。本技術によれば、色毎の露光制御ができるようになる。このことにより、例えば、W画素だけ、R,G,B画素よりも露光時間を短くするといったような制御を行うことが可能となり、W画素が飽和しないように制御することが可能となる。
図1に示した画素の配列(色の配置)に対して、図3に示した画素転送制御信号線の配線を適用した場合の長時間露光画素と短時間露光画素との配置(露光パターン)は、図2に示した露光パターンに限定されるものではない。図4乃至6に、他の露光パターンの例を示す。なお、図2、図4乃至6以外にも、図示はしないが、位相違い、長時間露光と短時間露光の判定などのパターンなどにも、図3に示した画素転送制御信号線の配線を適用することができる。
図4乃至図6の各図に示した色の配列は、図1(図2)と同じ配列である。また図1に示した場合と同じく、1行目乃至4行目の繰り返しで構成されるため、以下の説明では、1行目乃至4行目の画素の配列について説明を加える。
図4を参照するに、1行目には、WL画素40(1,1)、GL画素40(1,2)、WL画素40(1,3)、GS画素40(1,4)、WL画素40(1,5)、GL画素40(1,6)、WL画素40(1,7)、GS画素40(1,8)が配置されている。この場合、1行目には、長時間露光画素のWL画素、長時間露光画素のGL画素、および短時間露光画素のGS画素が配置されている。
2行目には、RL画素40(2,1)、WS画素40(2,2)、BS画素40(2,3)、WS画素40(2,4)、RL画素40(2,5)、WS画素40(2,6)、BS画素40(2,7)、WS画素40(2,8)が配置されている。この場合、2行目には、短時間露光画素のWS画素、長時間露光画素のRL画素、および短時間露光画素のBS画素が配置されている。
3行目には、WL画素40(3,1)、GS画素40(3,2)、WL画素40(3,3)、GL画素40(3,4)、WL画素40(3,5)、GS画素40(3,6)、WL画素40(3,7)、GL画素40(3,8)が配置されている。この場合、3行目には、長時間露光画素のWL画素、長時間露光画素のGL画素、および短時間露光画素のGS画素が配置されている。
4行目は、BL画素40(4,1)、WS画素40(4,2)、RS画素40(4,3)、WS画素40(4,4)、BL画素40(4,5)、WS画素40(4,6)、RS画素40(4,7)、WS画素40(4,8)が配置されている。この場合、4行目には、短時間露光画素のWS画素、長時間露光画素のBL画素、および短時間露光画素のRS画素が配置されている。
図4に示した露光パターンも、図2に示した露光パターンと同じく、同一行中に長時間露光の画素と短時間露光の画素が混在している。図4に示した露光パターンにおいても、図3に示したように、1行に3本の画素転送制御信号線を設けることで、制御し分けることが可能となる。また、長時間露光と短時間露光の制御に加えて、色毎の独立制御も可能になる。
図5を参照するに、1行目には、WL画素50(1,1)、GL画素50(1,2)、WL画素50(1,3)、GL画素50(1,4)、WL画素50(1,5)、GL画素50(1,6)、WL画素50(1,7)、GL画素50(1,8)が配置されている。この場合、1行目には、長時間露光画素のWL画素とGL画素が配置されている。
2行目には、RL画素50(2,1)、WS画素50(2,2)、BL画素50(2,3)、WS画素50(2,4)、RL画素50(2,5)、WS画素50(2,6)、BL画素50(2,7)、WS画素50(2,8)が配置されている。この場合、2行目には、短時間露光画素のWS画素、長時間露光画素のRL画素、および長時間露光画素のBL画素が配置されている。
3行目には、WL画素50(3,1)、GS画素50(3,2)、WL画素50(3,3)、GS画素50(3,4)、WL画素50(3,5)、GS画素50(3,6)、WL画素50(3,7)、GS画素50(3,8)が配置されている。この場合、3行目には、長時間露光画素のWL画素と、短時間露光画素のGS画素が配置されている。
4行目は、BS画素50(4,1)、WS画素50(4,2)、RS画素50(4,3)、WS画素50(4,4)、BS画素50(4,5)、WS画素50(4,6)、RS画素50(4,7)、WS画素50(4,8)が配置されている。この場合、4行目には、短時間露光画素のWS画素、BS画素、およびRS画素が配置されている。
図5に示した露光パターンも、図2に示した露光パターンと同じく、同一行中に長時間露光の画素と短時間露光の画素が混在している行がある。図5に示した露光パターンにおいても、図3に示したように、1行に3本の画素転送制御信号線を設けることで、制御し分けることが可能となる。また、長時間露光と短時間露光の制御に加えて、色毎の独立制御も可能になる。
図6を参照するに、1行目には、WL画素60(1,1)、GL画素60(1,2)、WL画素60(1,3)、GL画素60(1,4)、WL画素60(1,5)、GL画素60(1,6)、WL画素60(1,7)、GL画素60(1,8)が配置されている。この場合、1行目には、長時間露光画素のWL画素とGL画素が配置されている。
2行目には、RL画素60(2,1)、WS画素60(2,2)、BS画素60(2,3)、WS画素60(2,4)、RL画素60(2,5)、WS画素60(2,6)、BS画素60(2,7)、WS画素60(2,8)が配置されている。この場合、2行目には、短時間露光画素のWS画素、長時間露光画素のRL画素、および短時間露光画素のBS画素が配置されている。
3行目には、WL画素60(3,1)、GS画素60(3,2)、WL画素60(3,3)、GS画素60(3,4)、WL画素60(3,5)、GS画素60(3,6)、WL画素60(3,7)、GS画素60(3,8)が配置されている。この場合、3行目には、長時間露光画素のWL画素と、短時間露光画素のGS画素が配置されている。
4行目は、BL画素60(4,1)、WS画素60(4,2)、RS画素60(4,3)、WS画素60(4,4)、BL画素60(4,5)、WS画素60(4,6)、RS画素60(4,7)、WS画素60(4,8)が配置されている。この場合、4行目には、短時間露光画素のWS画素、長時間露光画素のBL画素、および短時間露光画素のRS画素が配置されている。
図6に示した露光パターンも、図2に示した露光パターンと同じく、同一行中に長時間露光の画素と短時間露光の画素が混在している。図6に示した露光パターンにおいても、図3に示したように、1行に3本の画素転送制御信号線を設けることで、制御し分けることが可能となる。また、長時間露光と短時間露光の制御に加えて、色毎の独立制御も可能になる。
<画素の基本回路の構成例>
図7は、本技術の第1の実施の形態における撮像素子に備えられている画素の基本回路の構成例を示す図である。図7では、画素共有を行っていない4Tr(トランジスタ)構成のCIS(CMOSイメージセンサ)の画素回路の構成例を示す。
図7中、破線の矩形で囲った等価回路が1つの画素の構成要素を表す。画素は、受光部であるフォトダイオードPD71、フローティングディフュージョンFD72、および4つのMOS−FET73−1乃至73−4により構成されている。また、画素は、画素転送制御信号線(画素転送ゲート制御信号線)TRG74、画素読み出し選択制御信号線SEL75、垂直信号線(読み出し線)VSL76、および画素リセット制御信号線RST77に接続されている。
画素に照射された光は、PD71において電子に変換され、光量に応じた電荷がPD71に蓄積される。MOS−FET73−1は、PD71とFD72との間の電荷転送を制御する。MOS−FET73−1のゲート電極に画素転送制御信号線TRG74の信号が印加されることにより、PD71に蓄積された電荷が、FD72に転送される。
FD72は、MOS−FET73−3のゲート電極と繋がっている。MOS−FET73−4のゲート電極に画素読み出し選択制御信号線SEL75の制御信号が印加されると、垂直信号線VSL76からFD72に蓄積された電荷に応じた電圧を信号として読み出すことができる。MOS−FET73−2のゲート電極に画素リセット制御信号線RST77のリセット信号が印加されると、FD72に蓄積された電荷は、MOS−FET73−2を通じて流れるため、電荷蓄積状態がリセットされる。
1画素は、このような基本構成を有し、受光された光量に応じた信号が取り出される。
<画素制御回路および画素配線の構成例>
図8は、本技術の第1の実施の形態における撮像素子の画素制御回路および画素配線の構成例を示す図である。
図8に示した撮像素子は、図2に示した撮像素子の1行目乃至4行目を例に挙げて図示してある。よって、その配列は、図2を参照して説明したので、ここではその説明を省略する。例えば、左上に位置するWL画素は、WL画素20(1,1)である。他の画素も、図2に示した画素と同様の符号が付してあるとして説明を続ける。図7に示すように、複数の画素は、2次元正方格子状に配置されている。
また、各画素は、図7に示したような回路構成を有している。図7において、画素転送制御信号線TRG74は、図3における画素転送制御信号線に対応している。図3を参照して説明したように、1行に3本の画素転送制御信号線が配線されているため、図3と同じ符号を付してある。
撮像素子は、さらに、垂直走査制御回路(V SCAN CIRCUIT)81、水平転送回路(H TRANSFER CIRCUIT)82、列毎のA/D(Analog/Digital)変換器(ADC)83、およびメモリ(MEM)84を備える。
垂直操作制御回路81は、行方向に配線されている各信号線(RST77、TRG21乃至24、SEL75)を制御することにより、各画素20と、垂直信号線VSL76との間のスイッチをオン/オフするものである。なお、各信号線の制御については後述する。
水平転送回路82は、列毎のメモリ84に保持されているデジタルデータを水平転送するための回路である。列毎のA/D変換器83は、アナログ値である各画素からの画像データをデジタルデータ(デジタル値)に変換する。列毎のメモリ84は、列毎のA/D変換器83により変換されたデジタルデータを順次保存するメモリである。
垂直方向には垂直信号線VSL76が配線されており、同じ列上にある画素が1つの垂直信号線VSL76を共有する。また、垂直信号線VSL76は、水平転送回路82により排他的に出力端(OUT)と接続される。
このように、垂直走査制御回路81の選択制御により、ある1つの画素を出力端(OUT)と接続させることができる。このため、各画素20を順次選択しながら時分割で全画素の信号を読み出すことができる。また、撮像素子には、水平方向の各行において、3本の画素転送制御信号線TRG21乃至24と、画素読み出し選択制御信号線SEL75と、画素リセット制御信号線RST77とが配線されている。3本の画素転送制御信号線TRG21乃至24は、それぞれ図3に示したパターンで各画素に接続されている。
<制御信号のタイミングチャート例>
図9は、本技術の第1の実施の形態における撮像素子を構成する各画素への制御信号を模式的に表すタイミングチャートである。図9では、図8に示した4行分の画素への制御信号線のタイミングチャートを示す。横軸は時間軸である。
図上部に両矢印線ExpL1乃至4、ExpS1乃至4で示された期間は露光期間を示し、ExpL1乃至4は長時間露光画素の露光期間、ExpS1乃至4は短時間露光画素の露光期間であり、数字は行番号と対応する。
画素電子シャッターは、画素リセット制御信号線RST77をON(リセットトランジスタ73−2はNMOSであるため、Hレベル)するとともに、画素転送制御信号線TRG77を活性化することを同時に行うことを意味する。この画素電子シャッターにより、対象となるPD(フォトダイオード)71の蓄積電荷がリセットされる。このため、画素リセット制御信号線RST77がONであっても、画素転送制御信号線TRG21乃至24がOFFであれば、対象のPD71はリセットされない。
例えば、時刻t1において、画素リセット制御信号線RST77−1と、画素転送制御信号線TRG21−1,21−2がONとなるため、第1行目にあるWL画素20(1,1)、WL画素(1,3)、WL画素20(1,5)、WL画素20(1,7)と、GL画素20(1,2)、GL画素20(1,6)の画素電子シャッターが切られる。
さらに、これらの画素は、時刻t9において、画素転送制御信号線TRG21−1,21−2がONとなり、PD71に蓄積された電荷が転送されるため、時刻t1から時刻t9までの間(ExpL1)が露光期間となる。
また、時刻t5において、画素リセット制御信号線RST75−1と、画素転送制御信号線TRG21−3がONとなるため、第1行目にあるGS画素20(1,4)とGS画素20(1,8)の画素電子シャッターが切られる。さらにこれらの画素は、時刻t9において、画素転送制御信号線TRG21−3がONとなり、PD71に蓄積された電荷が転送されるため、時刻t5から時刻t9までの間(ExpS1)が露光期間となる。
このように、水平方向の1ラインにおける複数の画素について、異なる露光期間で露光されるように各画素を制御することができる。
第2行目についても同様に制御を行うことができる。例えば、時刻t2において、画素リセット制御信号線RST77−2と、画素転送制御信号線TRG22−2,22−3とがONとなるため、第2行目にあるRL画素20(2,1)、RL画素20(2,5)、BL画素20(2,3)、BL画素20(2,7)の画素電子シャッターが切られる。さらにこれらの画素は、時刻t10において、画素転送制御信号線TRG22−2,22−3がONとなり、PD71に蓄積された電荷が転送されるため、時刻t2から時刻t10までの間(ExpL2)が露光期間となる。
また、時刻t6において、画素リセット制御信号線RST77−2と、画素転送制御信号線TRG22−1がONとなるため、第2行目にあるWS画素20(2,2)、WS画素20(2,4)、WS画素20(2,6)、WS画素20(2,8)の画素電子シャッターが切られる。さらにこれらの画素は、時刻t10において、画素転送制御信号線TRG22−1がONとなり、PD71に蓄積された電荷が転送されるため、時刻t6から時刻t10までの間(ExpS2)が露光期間となる。
第3行目についても同様に制御を行うことができる。例えば、時刻t3において、画素リセット制御信号線RS77−3と、画素転送制御信号線TRG23−1,23−2とがONとなるため、第3行目にあるWL画素20(3,1)、WL画素20(3,3)、WL画素20(3,5)、WL画素20(3,7)と、GL画素20(3,4)、GL画素20(3,8)の画素電子シャッターが切られる。
さらにこれらの画素は、時刻t11において、画素転送制御信号線TRG23−1,23−2がONとなり、PD71に蓄積された電荷が転送されるため、時刻t3から時刻t11までの間(ExpL3)が露光期間となる。
また、時刻t7において、画素リセット制御信号線RST77−3と、画素転送制御信号線TRG23−3がONとなるため、第3行目にあるGS画素20(3,2)、GS画素20(3,6)の画素電子シャッターが切られる。さらにこれらの画素は、時刻t11において、画素転送制御信号線TRG23−3がONとなり、PD71に蓄積された電荷が転送されるため、時刻t7から時刻t11までの間(ExpS3)が露光期間となる。
第4行目についても同様に制御を行うことができる。ただし、第4行目においては、時刻t4において、画素リセット制御信号線RST77−4がONとなるが、同時にONとなる画素転送制御信号線24がないため、時刻t4で画素電子シャッターが切られる画素はない。
時刻t8において、画素リセット制御信号線RST77−4と、画素転送制御信号線TRG24−1,24−2,24−3がONとなるため、第4行目にある全ての画素の画素電子シャッターが切られる。すなわち、BS画素20(4,1)、WS画素20(4,2)、RS画素20(4,3)、WS画素20(4,4)、BS画素20(4,5)、WS画素20(4,6)、RS画素20(4,7)、WS画素20(4,8)の画素電子シャッターが切られる。
さらにこれらの画素は、時刻t12において、画素転送制御信号線TRG24−3がONとなり、PD71に蓄積された電荷が転送されるため、時刻t8から時刻t12までの間(ExpS4)が露光期間となる。
なお、時刻t1、時刻t2、時刻t3、時刻t4の間隔、時刻t5、時刻t6、時刻t7、時刻t8の間隔、時刻t9、時刻t10、時刻t11、時刻t12の間隔は、全て1H(1行分の画素データ読み出しにかかる時間)に設定されるため、各行の長時間露光時間ExpL1乃至4および各行の短時間露光時間ExpS1乃至4は同じとなる。
このように、画素リセットのタイミングで、水平方向の1行における画素転送制御信号線TRGの3本を適宜ON/OFFする制御を行うことにより所望の感度パターンを生成することができる。
また、時刻t1乃至t8における画素転送制御信号線TRGのON/OFFを入れ替えることにより、長時間露光画素および短時間露光画素の配列を入れ替えることができる。この例として、図4、図5、図6のそれぞれに示した露光制御パターンを実現するためのタイミングチャートを、図10、図11、図12にそれぞれ示す。
図4に示した露光制御パターンを実現するためのタイミングチャートを図10に示す。図4に示した露光制御パターンのうち、1行目と3行目は、図2に示した露光制御パターンと同様であり、図10に示したタイミングチャートにおける1行目と3行目に対するタイミングも同様であるため、その説明は省略する。
なお、画素転送制御信号線TRG21乃至24と、各画素との配線は、図8に示した場合と同様であるとして説明を続ける。
第2行目に対する制御について説明する。例えば、時刻t2において、画素リセット制御信号線RST77−2と、画素転送制御信号線TRG22−2とがONとなるため、第2行目にあるRL画素40(2,1)、RL画素40(2,5)の画素電子シャッターが切られる。さらにこれらの画素は、時刻t10において、画素転送制御信号線TRG22−2がONとなり、PD71に蓄積された電荷が転送されるため、時刻t2から時刻t10までの間(ExpL2)が露光期間となる。
また、時刻t6において、画素リセット制御信号線RST77−2と、画素転送制御信号線TRG22−1,22−3がONとなるため、第2行目にあるWS画素40(2,2)、WS画素40(2,4)、WS画素40(2,6)、WS画素40(2,8)と、BS画素40(2,3)、BS画素40(2,7)の画素電子シャッターが切られる。さらにこれらの画素は、時刻t10において、画素転送制御信号線TRG22−1,22−3がONとなり、PD71に蓄積された電荷が転送されるため、時刻t6から時刻t10までの間(ExpS2)が露光期間となる。
第4行目に対する制御について説明する。時刻t4において、画素リセット制御信号線RST77−4と、画素転送制御信号線TRG24−3とがONとなるため、第4行目にあるBL画素40(4,1)、BL画素40(4,5)の画素電子シャッターが切られる。さらにこれらの画素は、時刻t12において、画素転送制御信号線TRG24−3がONとなり、PD71に蓄積された電荷が転送されるため、時刻t4から時刻t12までの間(ExpL4)が露光期間となる。
また、時刻t8において、画素リセット制御信号線RST77−4と、画素転送制御信号線TRG24−1,24−3がONとなるため、第2行目にあるWS画素40(4,2)、WS画素40(4,4)、WS画素40(4,6)、WS画素40(4,8)と、RS画素40(4,3)、RS画素40(4,7)の画素電子シャッターが切られる。さらにこれらの画素は、時刻t12において、画素転送制御信号線TRG24−1,24−3がONとなり、PD71に蓄積された電荷が転送されるため、時刻t8から時刻t12までの間(ExpS4)が露光期間となる。
このように、画素リセットのタイミングで、水平方向の1行における画素転送制御信号線TRGの3本を適宜ON/OFFする制御を行うことにより所望の感度パターンを生成することができる。
図5に示した露光制御パターンを実現するためのタイミングチャートを図11に示す。図5に示した露光制御パターンのうち、2行目と4行目は、図2に示した露光制御パターンと同様であり、図11に示したタイミングチャートにおける2行目と4行目に対するタイミングと同様であるため、その説明は省略する。
なお、画素転送制御信号線TRG21乃至24と、各画素との配線は、図8に示した場合と同様であるとして説明を続ける。
第1行目に対する制御について説明する。例えば、時刻t1において、画素リセット制御信号線RST77−1と、画素転送制御信号線TRG21−1,21−2,21−3とがONとなるため、第1行目にある全ての画素の画素電子シャッターが切られる。さらにこれらの画素は、時刻t9において、画素転送制御信号線TRG21−1,21−2,21−3がONとなり、PD71に蓄積された電荷が転送されるため、時刻t1から時刻t9までの間(ExpL1)が露光期間となる。
第3行目に対する制御について説明する。時刻t2において、画素リセット制御信号線RST77−3と、画素転送制御信号線TRG23−1とがONとなるため、第3行目にあるWL画素50(3,1)、WL画素50(3,3)、WL画素50(3,5)、WL画素50(3,7)の画素電子シャッターが切られる。さらにこれらの画素は、時刻t11において、画素転送制御信号線TRG23−1がONとなり、PD71に蓄積された電荷が転送されるため、時刻t3から時刻t11までの間(ExpL3)が露光期間となる。
また、時刻t7において、画素リセット制御信号線RST77−3と、画素転送制御信号線TRG23−2,23−3がONとなるため、第3行目にあるGS画素50(3,2)、GS画素50(3,4)、GS画素50(3,6)、GS画素50(4,8)の画素電子シャッターが切られる。さらにこれらの画素は、時刻t11において、画素転送制御信号線TRG23−2,23−3がONとなり、PD71に蓄積された電荷が転送されるため、時刻t7から時刻t11までの間(ExpS3)が露光期間となる。
このように、画素リセットのタイミングで、水平方向の1行における画素転送制御信号線TRGの3本を適宜ON/OFFする制御を行うことにより所望の感度パターンを生成することができる。
図6に示した露光制御パターンを実現するためのタイミングチャートを図12に示す。なお、画素転送制御信号線TRG21乃至24と、各画素との配線は、図8に示した場合と同様であるとして説明を続ける。
第1行目に対する制御について説明する。例えば、時刻t1において、画素リセット制御信号線RST77−1と、画素転送制御信号線TRG21−1,21−2,21−3とがONとなるため、第1行目にある全ての画素の画素電子シャッターが切られる。さらにこれらの画素は、時刻t9において、画素転送制御信号線TRG21−1,21−2,21−3がONとなり、PD71に蓄積された電荷が転送されるため、時刻t1から時刻t9までの間(ExpL1)が露光期間となる。
第2行目に対する制御について説明する。例えば、時刻t2において、画素リセット制御信号線RST77−2と、画素転送制御信号線TRG22−2とがONとなるため、第2行目にあるRL画素60(2,1)、RL画素60(2,5)の画素電子シャッターが切られる。さらにこれらの画素は、時刻t10において、画素転送制御信号線TRG22−2がONとなり、PD71に蓄積された電荷が転送されるため、時刻t2から時刻t10までの間(ExpL2)が露光期間となる。
また、時刻t6において、画素リセット制御信号線RST77−2と、画素転送制御信号線TRG22−1,22−3がONとなるため、第2行目にあるWS画素60(2,2)、WS画素60(2,4)、WS画素60(2,6)、WS画素60(2,8)と、BS画素60(2,3)、BS画素60(2,7)の画素電子シャッターが切られる。さらにこれらの画素は、時刻t10において、画素転送制御信号線TRG22−1,22−3がONとなり、PD71に蓄積された電荷が転送されるため、時刻t6から時刻t10までの間(ExpS2)が露光期間となる。
第3行目に対する制御について説明する。時刻t3において、画素リセット制御信号線RST77−3と、画素転送制御信号線TRG23−1とがONとなるため、第3行目にあるWL画素60(3,1)、WL画素60(3,3)、WL画素60(3,5)、WL画素60(3,7)の画素電子シャッターが切られる。さらにこれらの画素は、時刻t11において、画素転送制御信号線TRG23−1がONとなり、PD71に蓄積された電荷が転送されるため、時刻t3から時刻t11までの間(ExpL3)が露光期間となる。
また、時刻t7において、画素リセット制御信号線RST77−3と、画素転送制御信号線TRG23−2,23−3がONとなるため、第3行目にあるGS画素60(3,2)、GS画素60(3,4)、GS画素60(3,6)、GS画素60(3,8)の画素電子シャッターが切られる。さらにこれらの画素は、時刻t11において、画素転送制御信号線TRG23−2,23−3がONとなり、PD71に蓄積された電荷が転送されるため、時刻t7から時刻t11までの間(ExpS3)が露光期間となる。
第4行目に対する制御について説明する。時刻t4において、画素リセット制御信号線RST77−4と、画素転送制御信号線TRG24−3とがONとなるため、第4行目にあるBL画素60(4,1)、BL画素60(4,5)の画素電子シャッターが切られる。さらにこれらの画素は、時刻t12において、画素転送制御信号線TRG24−3がONとなり、PD71に蓄積された電荷が転送されるため、時刻t4から時刻t12までの間(ExpL4)が露光期間となる。
また、時刻t8において、画素リセット制御信号線RST77−4と、画素転送制御信号線TRG24−1,24−3がONとなるため、第2行目にあるWS画素60(4,2)、WS画素60(4,4)、WS画素60(4,6)、WS画素60(4,8)と、RS画素60(4,3)、RS画素60(4,7)の画素電子シャッターが切られる。さらにこれらの画素は、時刻t12において、画素転送制御信号線TRG24−1,24−3がONとなり、PD71に蓄積された電荷が転送されるため、時刻t8から時刻t12までの間(ExpS4)が露光期間となる。
このように、画素リセットのタイミングで、水平方向の1行における画素転送制御信号線TRGの3本を適宜ON/OFFする制御を行うことにより所望の感度パターンを生成することができる。
以上のように、本技術の第1の実施の形態では、W画素を含むカラーフィルタ配列を持つCISに対して、水平方向の1行上に画素転送制御信号線TRGを3本設け、これらの各画素転送制御信号線TRGを制御することにより、同一行に異なる露光時間の画素を混在させて高ダイナミックレンジの撮像を実現することができる。また、カラーフィルタ感度差を補償するための色別シャッターとも両立することができる。
<第2の実施の形態>
本技術の第2の実施の形態では、水平方向の2画素について1つのA/D変換器を実装する回路構成について説明する。なお、以降、第1の実施の形態の撮像素子を共通する部分については説明の一部を省略する。
<画素制御回路および画素配線の構成例>
図13は、本技術の第2の実施の形態における撮像素子の画素制御回路および画素配線の構成例を示す図である。撮像素子は、垂直走査制御回路(V SCAN CIRCUIT)81、水平転送回路(H TRANSFER CIRCUIT)82、2行毎のカラムスイッチ(SW)101、2行毎のA/D変換器(ADC)83、2行毎のメモリ(MEM)84、複数の画素20を備える。
なお、図8に示した撮像素子の画素制御回路および画素配線の構成例と同一の箇所には同一の符号を付し説明をする。すなわち、図13に示した撮像素子の画素制御回路および画素配線の構成例は、図8に示した撮像素子の画素制御回路および画素配線の構成例に対して、2行毎の処理を行うためのカラムスイッチ101が追加され、2行毎に処理を行う構成のために、A/D変換器83とメモリ84の数が、半分の数に削減されている点が異なる。また各画素は、図8と同じく、図2に示した画素と同じ色、配置とされているため、図2と同じ符号で説明を続ける。
カラムスイッチ101は、制御部(図示せず)からの信号に基づいて、2つの画素からの信号のうちの一方を選択して、A/D変換器83に出力するものである。A/D変換器83は、カラムスイッチ101からの画像データ(アナログ値)をデジタルデータ(デジタル値)に変換する。メモリ84は、A/D変換器83により変換されたデジタルデータを順次保存するメモリである。
図8に示したように、画素のピッチに合わせてA/D変換器83を実装することも可能であるが、画素の微細化による影響などにより、A/D変換器83の縮小が設計制約上、画素のピッチで収まらなくなりつつある。このため、図13に示すように、2画素のピッチで1つのA/D変換器83を実装する撮像素子とすることで画素の微細化に対応することができる。
ただし、1つのA/D変換器83は、1度に1画素しか読み出せないため、同一行にある2画素を1つのA/D変換器83で読み出すときには、2画素の読み出し時刻をずらして2回に分けて行う必要がある。この場合には、1行分の画素のA/D変換にかかる時間が2倍となる。
<制御信号のタイミングチャート例>
図14は、本技術の第2の実施の形態における撮像素子を構成する各画素への制御信号を模式的に表すタイミングチャートである。図14では、図13に示す4行分の画素への制御信号線のタイミングチャートを示す。横軸は時間軸である。図上部の両矢印線ExpL1乃至4、ExpS1乃至4で示された期間は露光期間を示し、ExpL1乃至4は長時間露光画素の露光期間、ExpS1乃至4は短時間露光画素の露光期間であり、数字は行番号と対応する。
図9で示した第1の実施の形態との違いは、A/D変換器83を共有する同一行の隣接画素の制御タイミングを所定時間ずらすという点である。図14では、その所定時間ずらしたタイミングに’をつけて図示している。例えば、時刻t1に対して所定時間ずらした時刻はt1’である。制御タイミングのずらし方は、例えば、A/D変換器83に対して左側に隣接する列の画素を時刻t1で制御し、同じA/D変換器83に対して右側に隣接する列の画素を時刻t1’で制御するようにする。
例えば、時刻t1において、画素リセット制御信号線RST77−1と、画素転送制御信号線TRG21−1とがONとなるため、第1行目にあるWL画素20(1,1)、WL画素20(1,3)、WL画素20(1,5)、WL画素20(1,7)の画素電子シャッターが切られる。
続いて、時刻t1’において、画素リセット制御信号線RST77−1と、画素転送制御信号線TRG21−2とがONとなるため、第1行目にあるGL画素20(1,2)とGL画素20(1,6)の画素電子シャッターが切られる。
さらにこれらの画素は、時刻t9において画素転送制御信号線TRG21−1が、時刻t9’において画素転送制御信号線TRG21−2がONとなり、PD71に蓄積された電荷が転送されるため、露光期間ExpL1だけ露光される。
また、時刻t5’において、画素リセット制御信号線RST77−1と、画素転送制御信号線TRG21−3がONとなるため、第1行目にあるGS画素20(1,4)とGS画素20(1,8)の画素電子シャッターが切られる。さらにこれらの画素は、時刻t9’において、画素転送制御信号線TRG21−3がONとなり、PDに蓄積された電荷が転送されるため、露光期間ExpS1だけ露光される。
このように、水平方向の1ラインにおける複数の画素について、A/D変換器83を時分割で共有し、かつ、異なる露光期間で露光されるように各画素を制御することができる。
第2行目についても同様に制御を行うことができる。例えば、時刻t2において、画素リセット制御信号線RST77−2と、画素転送制御信号線TRG22−2、22−3とがONとなるため、第2行目にあるRL画素20(2,1)、BL画素20(2,3)、RL画素20(2,5)、BL画素20(2,7)の画素電子シャッターが切られる。さらにこれらの画素は、時刻t10において画素転送制御信号線TRG22−2,22−3がONとなり、PD71に蓄積された電荷が転送されるため、露光期間ExpL2だけ露光される。
また、時刻t6’において、画素リセット制御信号線RST77−2と、画素転送制御信号線TRG22−1がONとなるため、第2行目にあるWS画素20(2,2)、WS画素20(2,4)、WS画素20(2,6)、WS画素20(2,8)の画素電子シャッターが切られる。さらにこれらの画素は、時刻t10’において、画素転送制御信号線TRG22−1がONとなり、PD71に蓄積された電荷が転送されるため、露光期間ExpS2だけ露光される。
第3行目についても同様に制御を行うことができる。例えば、時刻t3において、画素リセット制御信号線RST77−3と、画素転送制御信号線TRG23−1とがONとなるため、第3行目にあるWL画素20(3,1)、WL画素20(3,3)、WL画素20(3,5)、WL画素20(3,7)の画素電子シャッターが切られる。
続いて、時刻t3’において、画素リセット制御信号線RST77−3と、画素転送制御信号線TRG23−2とがONとなるため、第3行目にあるGL画素20(3,4)とGL画素20(3,8)の画素電子シャッターが切られる。さらにこれらの画素は、時刻t11において画素転送制御信号線TRG23−1が、時刻t11’において画素転送制御信号線TRG23−2がONとなり、PD71に蓄積された電荷が転送されるため、露光期間ExpL3だけ露光される。
また、時刻t7’において、画素リセット制御信号線RST77−3と、画素転送制御信号線TRG23−3がONとなるため、第3行目にあるGS画素20(3,2)とGS画素20(3,6)の画素電子シャッターが切られる。さらにこれらの画素は、時刻t11’において、画素転送制御信号線TRG23−3がONとなり、PD71に蓄積された電荷が転送されるため、露光期間ExpS3だけ露光される。
第4行目についても同様に制御を行うことができる。ただし、第4行目においては、時刻t4および時刻t4’において、画素リセット制御信号線RST77−4がONとなるが、同時にONとなる画素転送制御信号線TRGがないため、時刻t4および時刻t4’で画素電子シャッターが切られる画素はない。
一方、時刻t8において、画素リセット制御信号線RST77−4と、画素転送制御信号線TRG24−2,24−3がONとなるため、第4行目にあるBS画素20(4,1)、RS画素20(4,3)、BS画素20(4,5)、RS画素20(4,7)の画素電子シャッターが切られる。
続いて、時刻t8’において、画素リセット制御信号線RST77−4と、画素転送制御信号線TRG24−1とがONとなるため、第4行目にあるWS画素20(4,2)、WS画素20(4,4)、WS画素20(4,6)、WS画素20(4,8)の画素電子シャッターが切られる。さらにこれらの画素は、時刻t12において画素転送制御信号線TRG24−2,24−3が、時刻t12’において画素転送制御信号線TRG24−1がONとなり、PD71に蓄積された電荷が転送されるため、露光期間ExpS4だけ露光される。
以上のように、本技術の第2の実施の形態では、W画素を含むカラーフィルタ配列を持ち、隣接する2列でA/D変換器を共有する構成のCISに対して、水平方向の1行上に画素転送制御信号線TRGを3本設け、これらの各画素転送制御信号線TRGを制御することにより、同一行に異なる露光時間の画素を混在させて高ダイナミックレンジの撮像を実現することができる。また、カラーフィルタ感度差を補償するための色別シャッターとも両立することができる。
なお、以上は図2の露光制御パターンを例で説明したが、第1の実施の形態と同様に、第2の実施の形態においても、図4、図5、図6の露光制御パターンを実現することは、画素転送制御信号線TRGのON/OFFを入れ替えることにより、長時間露光画素および短時間露光画素の配列を入れ替えることによって可能となる。その方法は、第1の実施の形態において説明したところと本質的な違いはないため説明は省略する。
<第3の実施の形態>
本技術の第3の実施の形態では、垂直方向の4画素で1つのFD(フローティングディフュージョン)を共有する回路構成について説明する。なお、以降、第1の実施の形態の撮像素子を共通する部分については説明の一部を省略する。
<垂直方向4画素共有画素回路の構成例>
図15は、本技術の第3の実施の形態における撮像素子に備えられている画素の基本回路の構成例を示す図である。図15では、垂直方向に連続して配置されている4画素が、1つのFD72に、画素転送トランジスタ73−11乃至14を介して接続され、FD72以降の回路構成CMN131を共有する垂直方向4画素共有画素回路を示す。
各画素は、画素転送制御信号線TRG21乃至24、画素読み出し選択制御信号線SEL75、垂直信号線(読み出し線)VSL76と、画素リセット制御信号線RST77とに接続されている。なお、垂直方向において4画素共有を行う点以外の構成および動作については、図7に示した画素回路と略同様であるため、ここでの詳細な説明を省略する。
<画素制御回路および画素配線の構成例>
図16は、本技術の第3の実施の形態における撮像素子の画素制御回路および画素配線の構成例を示す図である。図16に示した撮像素子の画素制御回路および画素配線の基本的な構成は、図8に示した第1の実施の形態における撮像素子の画素制御回路および画素配線の構成と同様であるため、同一の部分には同一の符号を付し、説明を省略する。
図8で説明した第1の実施の形態では、垂直方向に並ぶ4画素は、それぞれ独立した回路構成であったが、図16では、FD72以降の構成CMN131を共有する構成のため、画素読み出し選択制御信号線SEL75と、画素リセット制御信号線RST77は、4行毎に1本配置される。また、垂直信号線(読み出し線)VSL76への接続も垂直4画素で、CMN131介した1つの接続とされる。
<制御信号のタイミングチャート例>
図17は、本技術の第3の実施の形態における撮像素子を構成する各画素への制御信号を模式的に表すタイミングチャートである。図17では、図16に示す4行分の画素への制御信号線のタイミングチャートを示す。横軸は時間軸である。図上部に両矢印線ExpL1乃至4、ExpS1乃至4で示された期間は露光期間を示し、ExpL1乃至4は、長時間露光画素の露光期間、ExpS1乃至4は、短時間露光画素の露光期間であり、数字は行番号と対応する。
図9で説明した第1の実施の形態におけるタイミングチャートとの違いは、行毎の画素リセット制御信号線RST77―1乃至4および行毎の画素読み出し選択制御信号線SEL75−1乃至4を介して与えられていた画素リセット制御信号と画素読み出し選択制御信号が、それぞれ1つの画素リセット制御信号線RST77および画素読み出し選択制御信号線SEL75から与えられるようになったことである。
これらを共有したことによって、信号を重畳するようなタイミングで与えることができないという制約が発生するが、その制約の範囲においては、第1の実施の形態と同様に第3の実施の形態においても、画素リセットのタイミングで、水平方向の1行における画素転送制御信号線TRGの3本を適宜ON/OFFする制御を行うことにより所望の感度パターンを生成することができる。
図17に示したタイミングチャートを参照して、第3の実施の形態における撮像素子を構成する各画素への制御信号と各画素の読み出しのタイミングについて説明する。
図16に示した1行目の画素に対する制御について説明する。例えば、時刻t1において、画素リセット制御信号線RST77と、画素転送制御信号線TRG21−1,21−2がONとなるため、第1行目にあるWL画素20(1,1)、WL画素(1,3)、WL画素20(1,5)、WL画素20(1,7)と、GL画素20(1,2)、GL画素20(1,6)の画素電子シャッターが切られる。
これらの画素は、時刻t9において、画素転送制御信号線TRG21−1,21−2がONとなり、PD71に蓄積された電荷が転送されるため、時刻t1から時刻t9までの間(ExpL1)が露光期間となる。
また、時刻t5において、画素リセット制御信号線RST75と、画素転送制御信号線TRG21−3がONとなるため、第1行目にあるGS画素20(1,4)とGS画素20(1,8)の画素電子シャッターが切られる。さらにこれらの画素は、時刻t9において、画素転送制御信号線TRG21−3がONとなり、PD71に蓄積された電荷が転送されるため、時刻t5から時刻t9までの間(ExpS1)が露光期間となる。
第2行目についても同様に制御を行うことができる。例えば、時刻t2において、画素リセット制御信号線RST77と、画素転送制御信号線TRG22−2,22−3とがONとなるため、第2行目にあるRL画素20(2,1)、RL画素20(2,5)、BL画素20(2,3)、BL画素20(2,7)の画素電子シャッターが切られる。さらにこれらの画素は、時刻t10において、画素転送制御信号線TRG22−2,22−3がONとなり、PD71に蓄積された電荷が転送されるため、時刻t2から時刻t10までの間(ExpL2)が露光期間となる。
また、時刻t6において、画素リセット制御信号線RST77と、画素転送制御信号線TRG22−1がONとなるため、第2行目にあるWS画素20(2,2)、WS画素20(2,4)、WS画素20(2,6)、WS画素20(2,8)の画素電子シャッターが切られる。さらにこれらの画素は、時刻t10において、画素転送制御信号線TRG22−1がONとなり、PD71に蓄積された電荷が転送されるため、時刻t6から時刻t10までの間(ExpS2)が露光期間となる。
第3行目についても同様に制御を行うことができる。例えば、時刻t3において、画素リセット制御信号線RS77と、画素転送制御信号線TRG23−1,23−2とがONとなるため、第3行目にあるWL画素20(3,1)、WL画素20(3,3)、WL画素20(3,5)、WL画素20(3,7)と、GL画素20(3,4)、GL画素20(3,8)の画素電子シャッターが切られる。
さらにこれらの画素は、時刻t11において、画素転送制御信号線TRG23−1,23−2がONとなり、PD71に蓄積された電荷が転送されるため、時刻t3から時刻t11までの間(ExpL3)が露光期間となる。
また、時刻t7において、画素リセット制御信号線RST77と、画素転送制御信号線TRG23−3がONとなるため、第3行目にあるGS画素20(3,2)、GS画素20(3,6)の画素電子シャッターが切られる。さらにこれらの画素は、時刻t11において、画素転送制御信号線TRG23−3がONとなり、PD71に蓄積された電荷が転送されるため、時刻t7から時刻t11までの間(ExpS3)が露光期間となる。
第4行目についても同様に制御を行うことができる。ただし、第4行目においては、時刻t4において、画素リセット制御信号線RST77がONとなるが、同時にONとなる画素転送制御信号線24がないため、時刻t4で画素電子シャッターが切られる画素はない。
時刻t8において、画素リセット制御信号線RST77と、画素転送制御信号線TRG24−1,24−2,24−3がONとなるため、第4行目にある全ての画素の画素電子シャッターが切られる。すなわち、BS画素20(4,1)、WS画素20(4,2)、RS画素20(4,3)、WS画素20(4,4)、BS画素20(4,5)、WS画素20(4,6)、RS画素20(4,7)、WS画素20(4,8)の画素電子シャッターが切られる。
さらにこれらの画素は、時刻t12において、画素転送制御信号線TRG24−1,24−2,24−3がONとなり、PD71に蓄積された電荷が転送されるため、時刻t8から時刻t12までの間(ExpS4)が露光期間となる。
このように、画素リセットのタイミングで、水平方向の1行における画素転送制御信号線TRGの3本を適宜ON/OFFする制御を行うことにより所望の感度パターンを生成することができる。
なお、以上は図2の露光制御パターンの例で説明したが、第1の実施の形態と同様に、第3の実施の形態においても、図4、図5、図6の露光制御パターンを実現することは、画素転送制御信号線TRGのON/OFFを入れ替えることにより、長時間露光画素および短時間露光画素の配列を入れ替えることによって可能となる。その方法は第1の実施の形態において説明したところと本質的な違いはないため説明は省略する。
<第4の実施の形態>
本技術の第4の実施の形態では、垂直方向×水平方向の4×2=8画素で、1つのFD72を共有する回路構成について説明する。なお、以降、第1の実施の形態の撮像素子を共通する部分については説明の一部を省略する。
<8画素共有画素回路の構成例>
図18は、本技術の第4の実施の形態における撮像素子に備えられている画素の基本回路の構成例を示す図である。図18では、垂直方向×水平方向の連続して配置されている4×2=8画素が、1つのFD72に、画素転送トランジスタ73−11乃至73−18を介して接続され、FD72以降の回路構成CMN131を共有する8画素共有画素回路を示す。
各画素は、画素転送制御信号線TRG21乃至24、画素読み出し選択制御信号線SEL75、垂直信号線(読み出し線)VSL76、画素リセット制御信号線RST77に接続されている。なお、8画素共有を行う点以外の構成および動作については、図7に示した画素回路と略同様であるため、ここでの詳細な説明を省略する。
<画素制御回路および画素配線の構成例>
図19は、本技術の第4の実施の形態における撮像素子の画素制御回路および画素配線の構成例を示す図である。図8で説明した第1の実施の形態では、垂直方向×水平方向の連続して配置されている4×2=8画素は、それぞれ独立した回路構成であったが、図19では、FD72以降の構成CMN131を共有するため、画素読み出し選択制御信号線SEL75、画素リセット制御信号線RST77が4行毎に1本配置される。また、垂直信号線(読み出し線)VSL76は、2列毎に1本となり、垂直信号線(読み出し線)VSL76への接続も4×2画素で1つとなる。
<制御信号のタイミングチャート例>
図20は、本技術の第4の実施の形態における撮像素子を構成する各画素への制御信号を模式的に表すタイミングチャートである。図20では、図19に示した4行分の画素への制御信号線のタイミングチャートを示す。横軸は時間軸である。図上部に両矢印線ExpL1乃至4、ExpS1乃至4で示された期間は露光期間を示し、ExpL1乃至4は長時間露光画素の露光期間、ExpS1乃至4は短時間露光画素の露光期間であり、数字は行番号と対応する。
第4の実施の形態においては、垂直信号線(読み出し線)VSL76を隣接する2列で共有するため、A/D変換器83も隣接2列で共有する構成となる。したがってその動作は、隣接2列でA/D変換器83を共有する第2の実施の形態と同様に、水平方向に隣接する2画素を、タイミングを変えて時分割で読み出すような制御が必要となる。その時分割読み出しを実現するために、第2の実施の形態においては、図14に示した場合と同じく、隣接する列への画素転送制御信号を所定時間ずらすようにする。
第4の実施の形態は、第2の実施の形態と同様に、隣接する列への画素転送制御信号を所定時間ずらして供給する。
例えば、時刻t1において、画素転送制御信号線TRG21−1から第1行目のWL画素20(1,1)、WL画素20(1,3)、WL画素20(1,5)、WL画素20(1,7)へ画素転送制御信号を供給し、時刻t1’において、画素転送制御信号線TRG21−2から第1行目のGL画素20(1,2)とGL画素20(1,6)へ画素転送制御信号を供給する。
さらに、時刻t9において、画素読み出し選択制御信号線SEL75に画素読み出し選択制御信号が供給されていると同時に、画素転送制御信号線TRG21−1から第1行目のWL画素20(1,1)、WL画素20(1,3)、WL画素20(1,5)、WL画素20(1,7)へ画素転送制御信号を供給することによって、WL画素20の信号が読み出される。また時刻t9’において、画素転送制御信号線TRG21−2から第1行目のGL画素へ画素転送制御信号を供給することによってGL画素20(1,2)とGL画素20(1,6)の信号が読み出される。
時刻t1と時刻t1’および時刻t9と時刻t9’は同じ所定時間だけずれているので、第1行目のWL画素20とGL画素20は等しい露光期間ExpL1だけ露光される。さらに、第4の実施の形態においては、4行にわたる画素が画素読み出し選択制御信号線SEL75と、画素リセット制御信号線RST77を共有するので、図17で示した第3の実施の形態の制御と同様に、4行分の画素リセット制御信号と画素読み出し選択制御信号を、それぞれ1本の画素読み出し選択制御信号線SEL75と、画素リセット制御信号線RST77から供給する。
なお、以上は図2の露光制御パターンの例で説明したが、第1の実施の形態と同様に、第4の実施の形態においても、図4、図5、図6の露光制御パターンを実現することは、画素転送制御信号線TRGのON/OFFを入れ替えることにより、長時間露光画素および短時間露光画素の配列を入れ替えることによって可能となる。その方法は第1の実施の形態において説明したところと本質的な違いはないため説明は省略する。
<第5の実施の形態>
本技術の第1乃至第4の実施の形態では、1ラインを構成する複数の画素であって露光タイミングが異なる複数の画素に接続される画素転送制御信号線を少なくとも3本とする撮像素子の例を示した。以下では、これらの撮像素子を備える撮像装置の例を示す。
<撮像装置の機能構成例>
図21は、本技術の実施の形態における撮像装置の機能構成例を示すブロック図である。撮像装置300は、撮像素子310、画像処理部311、記録制御部312、コンテンツ記憶部313、表示制御部314、表示部315、制御部316、および操作受付部317を備える。
撮像素子310は、制御部316の指示に基づいて、画像信号を生成するものであり、生成された画像信号を画像処理部311に出力する。具体的には、撮像素子310は、光学系(図示せず)を介して入射された被写体の光を電気信号に変換する。なお、撮像素子310は、本技術の第1乃至第4の実施の形態に示す各撮像素子に対応する。また、光学系は、被写体からの入射光を集光するレンズ群や絞りにより構成され、このレンズ群により集光された光が絞りを介して撮像素子310に入射される。
画像処理部311は、制御部316の指示に基づいて、撮像素子310から出力された画像信号(デジタル信号)について各種画像処理を施すものである。そして、画像処理部311は、各種画像処理が施された画像信号(画像データ)を記録制御部312および表示制御部314に出力する。記録制御部312は、制御部316の指示に基づいて、コンテンツ記憶部313に対する記録制御を行うものである。例えば、記録制御部312は、画像処理部311から出力された画像(画像データ)を画像コンテンツ(静止画ファイルまたは動画ファイル)としてコンテンツ記憶部313に記録させる。
コンテンツ記憶部313は、記録制御部312の制御に基づいて、各種情報(画像コンテンツ等)を記憶する記録媒体である。なお、コンテンツ記憶部313は、撮像装置300に内蔵するようにしてもよく、撮像装置300から着脱可能とするようにしてもよい。
表示制御部314は、制御部316の指示に基づいて、画像処理部311から出力された画像を表示部315に表示させるものである。例えば、表示制御部314は、撮像動作に関する各種操作を行うための表示画面や、撮像素子310により生成された画像(いわゆる、スルー画像)を表示部315に表示させる。
表示部315は、表示制御部314の制御に基づいて各画像を表示する表示パネルである。制御部316は、メモリ(図示せず)に格納されている制御プログラムに基づいて撮像装置300における各部を制御するものである。例えば、制御部316は、画像処理部311により画像処理が施された画像信号(画像データ)の出力制御(表示制御)または記録制御を行う。操作受付部317は、ユーザにより行われた操作を受け付ける操作受付部であり、受け付けられた操作内容に応じた制御信号(操作信号)を制御部316に出力する。
<画像処理部の動作>
以降に画像処理部311の動作を説明する。本技術の撮像素子は、W画素を含む4行の色配列にて長時間および短時間の2種類の露光を行った画素を混在させたRAWデータを出力する。画像処理部311では、そのRAWデータからRGB画像データを生成する処理を行う。
図22は、本技術の第5の実施の形態における画像処理部311の機能構成例を示すブロック図である。画像処理部311は、W画素を含む4行の色配列にて長時間および短時間の2種類の露光を行った画素を混在させたRAWデータを入力し、RGB画像データ、すなわち全画素にR,G,Bをそろえた画像を出力する。
なお、W画素を含む4行とはRGB+Wであり、その色配列と露光制御パターンは図2に示したものとする。画像処理部311は、WL高周波補間部351、WS高周波補間部352、WL低周波補間部353、WS低周波補間部354、GL低周波補間部355、GS低周波補間部356、RL低周波補間部357、RS低周波補間部358、BL低周波補間部359、BS低周波補間部360、W高周波HDR合成部361、W低周波HDR合成部362、G低周波HDR合成部363、R低周波HDR合成部364、B低周波HDR合成部364、W−GCh間相関処理部366、W−RCh間相関処理部367、W−BCh間相関処理部368から構成される。
WL高周波補間部351は、1画素おきの正方格子に配置されているWL画素20の信号を補間フィルタで全画素に補間する。例えば、図23に示すような係数の2次元FIR(Finite Impulse Response)フィルタを全画素位置に適用する。ここで、9×9の係数の中心位置が補間値を算出する画素位置(補間画素位置)に相当するようにし、補間画素位置の周囲9×9画素の範囲でWL画素が存在する画素位置に対して該当する係数を用いて、WL画素以外の画素位置では係数を0にしてフィルタ計算を行うようにする。なお、図23に示した係数は、一例であり、限定を示すものではない。
WS高周波補間部352は、2画素ピッチの正方格子に配置されているWS画素20の信号を補間フィルタで全画素に補間する。例えば、図23に示すような係数の2次元FIRフィルタを全画素位置に適用する。ここで、9×9の係数の中心位置が補間値を算出する画素位置(補間画素位置)に相当するようにし、補間画素位置の周囲9×9画素の範囲でWS画素が存在する画素位置に対して該当する係数を用いて、WS画素以外の画素位置では係数を0にしてフィルタ計算を行うようにする。
WL低周波補間部353は、2画素ピッチの正方格子に配置されているWL画素20の信号を補間フィルタで全画素に補間する。例えば、図24に示すような係数の2次元FIRフィルタを全画素位置に適用する。ここで、9×9の係数の中心位置が補間値を算出する画素位置(補間画素位置)に相当するようにし、補間画素位置の周囲9×9画素の範囲でWL画素が存在する画素位置に対して該当する係数を用いて、WL画素以外の画素位置では係数を0にしてフィルタ計算を行うようにする。なお、図24に示した係数は、一例であり、限定を示すものではない。
WS低周波補間部354は、2画素ピッチの正方格子に配置されているWS画素20の信号を補間フィルタで全画素に補間する。例えば、図24に示すような係数の2次元FIRフィルタを全画素位置に適用する。ここで、9×9の係数の中心位置が補間値を算出する画素位置(補間画素位置)に相当するようにし、補間画素位置の周囲9×9画素の範囲でWS画素が存在する画素位置に対して該当する係数を用いて、WS画素以外の画素位置では係数を0にしてフィルタ計算を行うようにする。
GL低周波補間部355は、4画素ピッチの市松格子に配置されているGL画素20の信号を補間フィルタで全画素に補間する。例えば、図24に示すような係数の2次元のFIRフィルタを全画素位置に適用する。ここで、9×9の係数の中心位置が補間値を算出する画素位置(補間画素位置)に相当するようにし、補間画素位置の周囲9×9画素の範囲でGL画素が存在する画素位置に対して該当する係数を用いて、GL画素以外の画素位置では係数を0にしてフィルタ計算を行うようにする。
GS低周波補間部356は、4画素ピッチの市松格子に配置されているGS画素20の信号を補間フィルタで全画素に補間する。例えば、図24に示すような係数の2次元のFIRフィルタを全画素位置に適用する。ここで、9×9の係数の中心位置が補間値を算出する画素位置(補間画素位置)に相当するようにし、補間画素位置の周囲9×9画素の範囲でGS画素が存在する画素位置に対して該当する係数を用いて、GS画素以外の画素位置では係数を0にしてフィルタ計算を行うようにする。
RL低周波補間部357は、4画素ピッチの正方格子に配置されているRL画素20の信号を補間フィルタで全画素に補間する。例えば、図24に示すような係数の2次元のFIRフィルタを全画素位置に適用する。ここで、9×9の係数の中心位置が補間値を算出する画素位置(補間画素位置)に相当するようにし、補間画素位置の周囲9×9画素の範囲でRL画素が存在する画素位置に対して該当する係数を用いて、RL画素以外の画素位置では係数を0にしてフィルタ計算を行うようにする。
RS低周波補間部358は、4画素ピッチの正方格子に配置されているRS画素20の信号を補間フィルタで全画素に補間する。例えば、図24に示すような係数の2次元のFIRフィルタを全画素位置に適用する。ここで、9×9の係数の中心位置が補間値を算出する画素位置(補間画素位置)に相当するようにし、補間画素位置の周囲9×9画素の範囲でRS画素が存在する画素位置に対して該当する係数を用いて、RS画素以外の画素位置では係数を0にしてフィルタ計算を行うようにする。
BL低周波補間部359は、4画素ピッチの正方格子に配置されているBL画素20の信号を補間フィルタで全画素に補間する。例えば、図24に示すような係数の2次元のFIRフィルタを全画素位置に適用する。ここで、9×9の係数の中心位置が補間値を算出する画素位置(補間画素位置)に相当するようにし、補間画素位置の周囲9×9画素の範囲でBL画素が存在する画素位置に対して該当する係数を用いて、BL画素以外の画素位置では係数を0にしてフィルタ計算を行うようにする。
BS低周波補間部360は、4画素ピッチの正方格子に配置されているBS画素20の信号を補間フィルタで全画素に補間する。例えば、図24に示すような係数の2次元のFIRフィルタを全画素位置に適用する。ここで、9×9の係数の中心位置が補間値を算出する画素位置(補間画素位置)に相当するようにし、補間画素位置の周囲9×9画素の範囲でBS画素が存在する画素位置に対して該当する係数を用いて、BS画素以外の画素位置では係数を0にしてフィルタ計算を行うようにする。
W高周波HDR合成部361は、WL高周波補間部351からの出力である全画素に補間されたWL高周波画素値と、WS高周波補間部352からの出力であるWS高周波画素値を合成して高ダイナミックレンジの画素値を全画素で生成する処理を行う。
W低周波HDR合成部362は、WL低周波補間部353からの出力である全画素に補間されたWL低周波画素値と、WS低周波補間部354からの出力であるWS低周波画素値を合成して高ダイナミックレンジの画素値を全画素で生成する処理を行う。
G低周波HDR合成部363は、GL低周波補間部355からの出力である全画素に補間されたGL低周波画素値と、GS低周波補間部356からの出力であるGS低周波画素値を合成して高ダイナミックレンジの画素値を全画素で生成する処理を行う。
R低周波HDR合成部364は、RL低周波補間部357からの出力である全画素に補間されたRL低周波画素値と、RS低周波補間部358からの出力であるRS低周波画素値を合成して高ダイナミックレンジの画素値を全画素で生成する処理を行う。
B低周波HDR合成部365は、BL低周波補間部359からの出力である全画素に補間されたBL低周波画素値と、BS低周波補間部360からの出力であるBS低周波画素値を合成して高ダイナミックレンジの画素値を全画素で生成する処理を行う。
これらは入力の信号が異なるだけで処理の動作は同じなので、以下に、G低周波HDR合成部363を例にしてまとめて動作を説明する。
図25は、本技術の第5の実施の形態におけるG低周波HDR合成部363の機能構成例を示すブロック図である。G低周波HDR合成部は全画素位置に補間されたGL画素値の信号と全画素位置に補間されたGS画素値の信号を入力として、それらを合成した高ダイナミックレンジのG画素値を全画素位置に出力する。
G低周波HDR合成部363は、2つの対数変換処理部381と対数変換処理部382、重み値決定処理部383、露出補正処理部384、ブレンド処理部385、対数逆変換処理部386から構成される。
2つの対数変換処理部381と対数変換処理部382は、それぞれ画素毎のGL画素値とGS画素値を対数変換した値を出力する。露出補正処理部384は、対数変換処理部382から出力された対数変換されたGS画素値に対して、長時間露光と短時間露光の露出比率に相当する分の対数値を加算することによって、対数変換されたGS画素値のレベルと対数変換されたGL画素値のレベルを合わせる。
重み値決定処理部383は、対数変換処理部381から出力された対数変換されたGL画素値に応じて、対数変換されたGL画素値と露出補正後の対数変換されたGS画素値のブレンド係数を決定する。
ブレンド処理部385は、重み値決定処理部383により決定されたブレンド係数に基づき、対数変換処理部381から出力された対数変換されたGL画素値と、露出補正処理部384から出力された露出補正後の対数変換されたGS画素値をブレンド合成する。
対数逆変換処理部386は、ブレンド処理部385でブレンド合成されたG画素値を元のリニア特性に戻す。
図26は、G低周波HDR合成部363などのHDR合成部の一連の動作を模式的に説明する図である。横軸は被写体の輝度、縦軸はG画素値階調であり、いずれも対数階調とする。実線L1は、GL画素の特性を示し、実線L2は、GS画素の特性を示す。GL画素の方が、露光時間が長いので、同じ被写体輝度に対してGL画素のほうがGS画素よりも大きい値を示す。
この2つの隔たりは、対数階調では、ちょうど露光の比率分となる。高ダイナミックレンジの輝度特性を得るということは、広い範囲の被写体輝度に対してリニアな画素特性を得るということなので、HDR合成部の目的は、GL画素の特性とGS画素の特性を連結して1つの長いリニアな特性を作ることである。そこで、露出補正処理部がGS画素特性に露光比率分のバイアスを加算して、GL画素特性と一直線上に並ぶ特性を作る。
露光比率分だけバイアスされたGS画素特性を破線L3で示す。実線L1で表したGL画素特性と露出補正された実線L2で表したGS画素特性を合成して高ダイナミックレンジのG画素特性を得る処理をブレンド処理部385は行う。
ここで、暗い被写体輝度の領域では、GS画素は、ノイズに埋もれるため、GL画素の特性だけを用いたい。逆に、明るい被写体輝度の領域では、GL画素は、飽和するために、露出補正したGS画素の特性だけを用いたい。そこで、2つの輝度特性が重なる領域において寄与が徐々に移り変わるようにブレンドの重みを制御する。
重み値決定処理部383は、入力されたGL画素値(対数変換後)から被写体輝度を推測し、上記のような要求に応じて予め設定されている特性に従った重み値を算出する。例えば、図27に示すような重み値特性を用いることができる。図27に示した重み値特性は、logGの値が、第1の値まで1をとり、第1の値より大きくなると、徐々に小さくなり、第2の値よりも大きくなると、0をとる特性である。
上記したHDR合成部の処理を、式で表すと、次式(1)のようになる。
Figure 0006528974
このように、HDR合成部は、各画素より読み出された信号を非線形階調に変換する処理を含み、その非線形階調に変換する処理には、上に凸のべき乗関数特性に基づいて変換する処理が含まれる。
図22の画像処理部311の構成の説明に戻る。W−GCh間相関処理部366は、W高周波HDR合成部361からの出力であるHDR合成後のW高周波輝度値、W低周波HDR合成部362の出力であるHDR合成後のW低周波輝度値、G低周波HDR合成部363からの出力であるG低周波輝度値を入力とし、高周波成分が補正されたG輝度値を算出して出力する。
W−RCh間相関処理部367は、W高周波HDR合成部361からの出力であるHDR合成後のW高周波輝度値、W低周波HDR合成部362の出力であるHDR合成後のW低周波輝度値、R低周波HDR合成部364からの出力であるR低周波輝度値を入力とし、高周波成分が補正されたR輝度値を算出して出力する。
W−BCh間相関処理部368は、W高周波HDR合成部361からの出力であるHDR合成後のW高周波輝度値、W低周波HDR合成部362の出力であるHDR合成後のW低周波輝度値、B低周波HDR合成部365からの出力であるB低周波輝度値を入力とし、高周波成分が補正されたB輝度値を算出して出力する。
ここでW−GCh間相関処理部366の動作を説明する。W−RCh間相関処理部367とW−BCh間相関処理部368の動作も、それぞれ、W−GCh間相関処理部366の動作と同様であるため、ここでは、W−GCh間相関処理部366の動作を例に挙げて説明をする。
本技術が対象とするRGB+Wのような4行配列では、W画素は比較的細かいピッチでサンプリングができるので細かい模様なども補間処理で再現できるが、R画素、G画素、B画素は、画素ピッチが粗いために細かい模様を再現することができない。しかしながら、自然画像においては、異なる可視光の分光感度で得られる画像信号は互いに強い相関をもつことが経験的に知られている。
そこで、そのような性質を利用して、W画素で得られる高周波成分を利用してR画素、G画素、B画素の高周波成分を推測する。具体的には、高周波まで再現できているW高周波HDR合成部361の出力と、フィルタの平滑化効果により高周波成分を持っていないW低周波HDR合成部362の出力との差分により、W画素の高周波成分が算出されるようにする。
さらに、Ch間相関の性質に基づいてG画素の高周波成分はW画素の高周波成分とほぼ等しいと仮定して、R、G、Bのそれぞれの低周波HDR合成部の出力に、W画素の高周波成分が加算される。
これを数式で示すと次式(2)のようになる。
Figure 0006528974
式(2)において、左辺が出力値、右辺の3項はそれぞれ入力値である。
以上のように、本技術の第5の実施の形態においては、RGBにWを加えた4行の色配列を持ち、色毎に長時間露光、短時間露光の制御を行う撮像素子の出力RAWデータから、高ダイナミックレンジのRGB画像データを生成することができる画像処理を備えた撮像装置の構成について説明した。
<他の適用例>
本技術の第5の実施の形態においては、撮像素子からはRGB+Wの4行を含むRAWデータを出力した後に画像処理部でRGBデータに変換する構成を説明したが、撮像素子内でRGBのベイヤー(Bayer)配列に変換したデータを撮像素子から出力するような構成も可能である。その場合の画像処理部の動作は通常のカメラシステムで実施されるRGBBayer配列をRGBデータに変換する信号処理部が備えられる。
図28は、画像処理部311(図21)の他の構成を示す図である。図28に示した画像処理部311’(図22に示した画像処理部311と区別するために’を付して記述する)は、図22に示した画像処理部311に、ダウンサンプリング部401を追加した構成である。このような構成によれば、撮像素子内でRGBのBayer配列に変換する処理を行うことができる。
図28に示した画像処理部311’は、WL高周波補間部351乃至W−BCh間相関処理部368による処理によりHDR合成されたRGB画素値が各画素で得られた後に、それらをBayer配列になるようにサンプリングし直すダウンサンプリング部401を備える。ダウンサンプリング部401により、サンプリングし直されることで、撮像素子内でRGBのBayer配列に変換したデータを出力することができる。
また、図22に示した画像処理部311または図28に示した画像処理部311’のいずれについても、HDR合成部361乃至365が備える対数変換処理部381,382および対数逆変換処理部386(いずれも図25)の位置を変えて、各補間手段の前に対数変換処理を行い、Ch相関処理部366乃至368の後(もしくはダウンサンプリング部401の後)に対数逆変換処理を行うようにしてもよい。
図29は、HDR合成部361乃至365が備える対数変換処理部381,382および対数逆変換処理部386の位置を変えて、各補間手段の前に対数変換処理を行い、Ch相関処理部366乃至368の後に対数逆変換処理を行うようにした場合の画像処理部311の構成を示す図である。
図22に示した画像処理部311と図29に示した画像処理部311”(他の画像処理部311と区別するために”を付して記述する)を比較する。画像処理部311”には、入力されたW画素を含む4行の色配列にて長時間および短時間の2種類の露光を行った画素を混在させたRAWデータを、対数変換処理する対数変換処理部421が、WL高周波補間部351乃至BS低周波補間部360の前段に設けられている。
よって、WL高周波補間部351乃至BS低周波補間部360の各補間部は、対数変換処理が施されたデータを用いて、補間処理を行う。対数変換処理部421が、各補間部の前段に設けられたことにより、W高周波HDR合成部361乃至B低周波HDR合成部365は、図示はしないが、対数変換処理部381と対数変換処理部382を備えない構成とされる。また、対数逆変換処理部386も備えない構成とされる。
W高周波HDR合成部361乃至B低周波HDR合成部365の各合成部に設けられていた対数逆変換処理部386は、図29に示した画像処理部311”においては、W−GCh間相関処理部366乃至W−BCh間相関処理部368の各相関処理部の後段に設けられている。
すなわち、W−GCh間相関処理部366の後段に、対数逆変換処理部422が設けられ、W−RCh間相関処理部367の後段に、対数逆変換処理部423が設けられ、W−BCh間相関処理部368の後段に、対数逆変換処理部424が設けられた構成とされる。
このような構成として、R、G、Bのそれぞれのデータが生成され、出力される構成とすることも可能である。
図30は、HDR合成部361乃至365が備える対数変換処理部381,382および対数逆変換処理部386の位置を変えて、各補間手段の前に対数変換処理を行い、ダウンサンプリング部401の後に対数逆変換処理を行うようにした場合の画像処理部311の構成を示す図である。
図22に示した画像処理部311と図30に示した画像処理部311”’(他の画像処理部311と区別するために”’を付して記述する)を比較する。画像処理部311”’には、入力されたW画素を含む4行の色配列にて長時間および短時間の2種類の露光を行った画素を混在させたRAWデータを、対数変換処理する対数変換処理部451が、WL高周波補間部351乃至BS低周波補間部360の前段に設けられている。この点は、図29に示した画像処理部311”と同様である。
画像処理部311”’には、W−GCh間相関処理部366乃至W−BCh間相関処理部368の後段に、ダウンサンプリング部521が設けられている。このダウンサンプリング部452は、図28に示した画像処理部311’のダウンサンプリング部401と同じく、W−GCh間相関処理部366乃至W−BCh間相関処理部368からの出力をダウンサンプリングすることで、撮像素子内でRGBのBayer配列に変換したデータを生成し、出力する。
ダウンサンプリング部452からの出力は、対数逆変換処理部453に供給され、対数逆変換処理が施される。
このような構成として、撮像素子内でRGBのBayer配列に変換したデータが生成され、出力される構成とすることも可能である。
なお、図30に示した画像処理部311”’の構成において、撮像素子内では対数逆変換を行わず、撮像素子からBayerデータを出力した後に画像処理部において対数逆変換を行うような構成も可能である(図示せず)。
また、本技術の第5の実施の形態においては、撮像装置を例にして説明したが、撮像素子を備える撮像部を有する電子機器(例えば、撮像部を内蔵する携帯電話装置)に本技術の実施の形態を適用することができる。
また、本技術の実施の形態では、図1に示したRGB+Wの色配列を前提に、1ラインあたり3本の制御配線とその動作を説明したが、図1に示した色配列に限らなくても同じ仕組みで同様の効果を出す色配列は他にもあり、本技術は図1の色配列に限定されるものではない。以下に、図1の色配置以外でも本技術を適用できる色配置の例を示す。
図31は、本技術が適用される色配置の他の例を示す図である。イメージセンサの水平方向(図31の左右方向であり、行方向)の構成を説明する。1行目には、W画素600(1,1)、G画素600(1,2)、W画素600(1,3)、R画素600(1,4)、W画素600(1,5)、G画素600(1,6)、W画素600(1,7)、R画素600(1,8)が配置されている。この場合、1行目には、W画素、G画素、R画素が配置されている。
2行目には、G画素600(2,1)、W画素600(2,2)、R画素600(2,3)、W画素600(2,4)、G画素600(2,5)、W画素600(2,6)、R画素600(2,7)、W画素600(2,8)が配置されている。この場合、2行目にも、W画素、G画素、R画素が配置されている。
3行目には、W画素600(3,1)、B画素600(3,2)、W画素600(3,3)、G画素600(3,4)、W画素600(3,5)、B画素600(3,6)、W画素600(3,7)、G画素600(3,8)が配置されている。この場合、3行目には、W画素、G画素、B画素が配置されている。
4行目には、B画素600(4,1)、W画素600(4,2)、G画素600(4,3)、W画素600(4,4)、B画素600(4,5)、W画素600(4,6)、G画素600(4,7)、W画素600(4,8)が配置されている。この場合、4行目にも、W画素、G画素、B画素が配置されている。
5乃至8行目は、1乃至4行目と同じ配列とされている。このような色配列に対しても、上記した本技術を適用することができる。
図32は、本技術が適用される色配置の他の例を示す図である。イメージセンサの水平方向(図32の左右方向であり、行方向)の構成を説明する。1行目には、W画素610(1,1)、R画素610(1,2)、W画素610(1,3)、G画素610(1,4)、W画素610(1,5)、R画素610(1,6)、W画素610(1,7)、G画素610(1,8)が配置されている。この場合、1行目には、W画素、G画素、R画素が配置されている。
2行目には、B画素610(2,1)、W画素610(2,2)、G画素610(2,3)、W画素610(2,4)、B画素610(2,5)、W画素610(2,6)、G画素610(2,7)、W画素610(2,8)が配置されている。この場合、2行目には、W画素、G画素、B画素が配置されている。
3行目には、W画素610(3,1)、G画素610(3,2)、W画素610(3,3)、R画素610(3,4)、W画素610(3,5)、G画素610(3,6)、W画素610(3,7)、R画素610(3,8)が配置されている。この場合、3行目には、W画素、G画素、R画素が配置されている。
4行目には、G画素610(4,1)、W画素610(4,2)、B画素610(4,3)、W画素610(4,4)、G画素610(4,5)、W画素610(4,6)、B画素610(4,7)、W画素610(4,8)が配置されている。この場合、4行目には、W画素、G画素、B画素が配置されている。
5乃至8行目は、1乃至4行目と同じ配列とされている。このような色配列に対しても、上記した本技術を適用することができる。
図31や図32に示した色配置に対しても、上記した実施の形態で説明した1ラインあたり3本の制御配線とその動作を適用することが可能である。
さらに、本技術は、図2、図4、図5、図6にそれぞれ示した露光パターン以外の露光パターンにも適用できる。以下に、本技術の実施の形態で説明した1ラインあたり3本の制御配線によって実現できる露光制御のパターンの例を図33乃至図40に示す。
図33乃至図40に示す露光パターンと、図1、図31、図32で示した色配置との組み合わせで実現できる露光パターンと色配置の組み合わせは、全て本技術の適用範囲である。また、ここでは示していない露光パターンと色配置の組み合わせであっても、本技術を適用できる露光パターンと色配置の組み合わせはあり、そのような組み合わせも、本技術の適用範囲内である。
図33は、露光パターンの他の例を示す図である。図33乃至図40においては、露光パターンのみを図示し、色配置に関しては図示していない。そのため、図33乃至図40においては、長時間露光画素は、“L”で示し、L画素と記述し、短時間露光画素は、“S”で示し、S画素と記述する。
図33に示した露光パターンは、行毎に長時間露光画素または短時間露光画素が配置されている例である。換言すれば、行単位で長時間露光画素と短時間露光画素が交互に配置されている例である。すなわち、1行目、3行目、5行目、7行目は、長時間露光画素であり、2行目、4行目、6行目、8行目は、短時間露光画素であるような露光パターンである。このような露光パターンに対しても、上記した本技術を適用することができる。
図34は、露光パターンの他の例を示す図である。図34に示した露光パターンは、列毎に長時間露光画素または短時間露光画素が配置されている例である。換言すれば、列単位で長時間露光画素と短時間露光画素が交互に配置されている例である。すなわち、1列目、3列目、5列目、7列目は、長時間露光画素であり、2列目、4列目、6列目、8列目は、短時間露光画素であるような露光パターンである。このような露光パターンに対しても、上記した本技術を適用することができる。
図35は、露光パターンの他の例を示す図である。図35に示した露光パターンは、1行目には、L画素640(1,1)、L画素640(1,2)、L画素640(1,3)、S画素640(1,4)、L画素640(1,5)、L画素640(1,6)、L画素640(1,7)、S画素640(1,8)が配置されている。
2行目には、S画素640(2,1)、S画素640(2,2)、L画素640(2,3)、S画素640(2,4)、S画素640(2,5)、S画素640(2,6)、L画素640(2,7)、S画素640(2,8)が配置されている。
3行目には、L画素640(3,1)、S画素640(3,2)、L画素640(3,3)、L画素640(3,4)、L画素640(3,5)、S画素640(3,6)、L画素640(3,7)、L画素640(3,8)が配置されている。
4行目には、L画素640(4,1)、S画素640(4,2)、S画素640(4,3)、S画素640(4,4)、L画素640(4,5)、S画素640(4,6)、S画素640(4,7)、S画素640(4,8)が配置されている。
5乃至8行目は、1乃至4行目と同じ配列とされている。このような露光パターンに対しても、上記した本技術を適用することができる。
図36は、露光パターンの他の例を示す図である。図36に示した露光パターンは、1行目に、L画素650(1,1)、S画素650(1,2)、L画素650(1,3)、L画素650(1,4)、L画素650(1,5)、S画素650(1,6)、L画素650(1,7)、L画素650(1,8)が配置されている。
2行目には、L画素650(2,1)、S画素650(2,2)、S画素650(2,3)、S画素650(2,4)、L画素650(2,5)、S画素650(2,6)、S画素650(2,7)、S画素650(2,8)が配置されている。
3行目は、全てL画素とされている。4行目は、全てS画素とされている。
5乃至8行目は、1乃至4行目と同じ配列とされている。このような露光パターンに対しても、上記した本技術を適用することができる。
図37は、露光パターンの他の例を示す図である。図37に示した露光パターンは、1行目に、L画素660(1,1)、L画素660(1,2)、L画素660(1,3)、S画素660(1,4)、L画素660(1,5)、L画素660(1,6)、L画素660(1,7)、S画素660(1,8)が配置されている。
2行目には、S画素660(2,1)、S画素660(2,2)、L画素660(2,3)、S画素660(2,4)、S画素660(2,5)、S画素660(2,6)、L画素660(2,7)、S画素660(2,8)が配置されている。
3行目には、L画素660(3,1)、S画素660(3,2)、L画素660(3,3)、L画素660(3,4)、L画素660(3,5)、S画素660(3,6)、L画素660(3,7)、L画素660(3,8)が配置されている。
4行目には、S画素660(4,1)、S画素660(4,2)、L画素660(4,3)、S画素660(4,4)、S画素660(4,5)、S画素660(4,6)、L画素660(4,7)、S画素660(4,8)が配置されている。
5乃至8行目は、1乃至4行目と同じ配列とされている。このような露光パターンに対しても、上記した本技術を適用することができる。
図38は、露光パターンの他の例を示す図である。図38に示した露光パターンは、1行目に、L画素670(1,1)、L画素670(1,2)、L画素670(1,3)、S画素670(1,4)、L画素670(1,5)、L画素670(1,6)、L画素670(1,7)、S画素670(1,8)が配置されている。
2行目には、L画素670(2,1)、S画素670(2,2)、L画素670(2,3)、S画素670(2,4)、L画素670(2,5)、S画素670(2,6)、L画素670(2,7)、S画素670(2,8)が配置されている。
3行目には、L画素670(3,1)、S画素670(3,2)、L画素670(3,3)、L画素670(3,4)、L画素670(3,5)、S画素670(3,6)、L画素670(3,7)、L画素670(3,8)が配置されている。
4行目は、全てS画素が配置されている。5乃至8行目は、1乃至4行目と同じ配列とされている。このような露光パターンに対しても、上記した本技術を適用することができる。
図39は、露光パターンの他の例を示す図である。図39に示した露光パターンは、1行目には、全てL画素が配置されている。
2行目には、L画素680(2,1)、S画素680(2,2)、S画素680(2,3)、S画素680(2,4)、L画素680(2,5)、S画素680(2,6)、S画素680(2,7)、S画素680(2,8)が配置されている。
3行目には、L画素680(3,1)、S画素680(3,2)、L画素680(3,3)、S画素680(3,4)、L画素680(3,5)、S画素680(3,6)、L画素680(3,7)、S画素680(3,8)が配置されている。
4行目には、L画素680(4,1)、S画素680(4,2)、S画素680(4,3)、S画素680(4,4)、L画素680(4,5)、S画素680(4,6)、S画素680(4,7)、S画素680(4,8)が配置されている。
5乃至8行目は、1乃至4行目と同じ配列とされている。このような露光パターンに対しても、上記した本技術を適用することができる。
図40は、露光パターンの他の例を示す図である。図40に示した露光パターンは、1行目には、L画素690(1,1)、S画素690(1,2)、L画素690(1,3)、S画素690(1,4)、L画素690(1,5)、S画素690(1,6)、L画素690(1,7)、S画素690(1,8)が配置されている。
2行目には、全てS画素が配置されている。3行目には、全てL画素が配置されている。4行目は、1行目と同じく、L画素690(4,1)、S画素690(4,2)、L画素690(4,3)、S画素690(4,4)、L画素690(4,5)、S画素690(4,6)、L画素690(4,7)、S画素690(4,8)が配置されている。
5乃至8行目は、1乃至4行目と同じ配列とされている。このような露光パターンに対しても、上記した本技術を適用することができる。
なお、上記した実施の形態においては、撮像素子の画素の分光感度をRGB+Wとする場合における例について説明したが、その分光感度がどうであるかは本技術を用いるうえで制約とならない。すなわち、RGB+W以外の分光感度を有する画素を用いるようにしてもよい。例えば、Y(イエロー)、C(シアン)、M(マゼンタ)等の補色系にGを加えた4行の組み合わせでもよい。
なお、本技術の実施の形態は、上述した実施の形態に限定されるものではなく、本技術の要旨を逸脱しない範囲において種々の変更が可能である。
なお、本技術は以下のような構成も取ることができる。
(1)
全整色性である分光感度の画素を含む4種類の分光感度の画素が撮像面上に配置され、
前記4種類の分光感度のそれぞれに、第1の露光を実現する画素と、前記第1の露光とは異なる第2の露光を実現する画素とが前記撮像面上に配置されている
撮像素子。
(2)
特定方向において、前記全整色性である分光感度の第1の画素が2画素周期で配置される第1のラインと、前記第1の画素が、前記第1のラインとは前記特定方向に1画素ずれて配置される第2のラインとが、前記特定方向に直交する方向において交互に配置され、
前記第1の画素の分光感度とは異なる分光感度の画素が、同じ分光感度毎に、特定方向に2画素もしくは4画素周期で配置され、2次元的に、前記第1の分光感度画素が市松配列となる、4×4画素の周期的な配置を構成する
前記(1)に記載の撮像素子。
(3)
前記特定方向における1ラインを構成する複数の画素の露光開始および終了タイミングを制御するための画素転送制御信号線を前記1ライン毎に3本備え、
前記第1のラインにおける前記画素転送制御信号線のうち第1の画素転送制御信号線が、前記第1のラインの2画素周期の同じ分光感度の画素に対して転送制御信号を送り、
前記第1のラインにおける前記画素転送制御信号線のうち第2の画素転送制御信号線が、前記第1のラインの4画素周期の同じ分光感度の画素に対して転送制御信号を送り、
前記第1のラインにおける前記画素転送制御信号線のうち第3の画素転送制御信号線が、前記第1のラインの4画素周期の同じ分光感度の画素に対して転送制御信号を送り、
前記第2のラインにおける前記画素転送制御信号線のうち第1の画素転送制御信号線が、前記第2のラインの2画素周期の同じ分光感度の画素に対して転送制御信号を送り、
前記第2のラインにおける前記画素転送制御信号線のうち第2の画素転送制御信号線が、前記第2のラインの4画素周期の同じ分光感度の画素に対して転送制御信号を送り、
前記第2のラインにおける前記画素転送制御信号線のうち第3の画素転送制御信号線が、前記第2のラインの4画素周期の同じ分光感度の画素に対して転送制御信号を送り、
前記画素転送制御信号線のそれぞれが、前記第1の露光を実現する第1のタイミング、または前記第2の露光を実現する第2のタイミングのどちらかで画素転送制御信号を送る
前記(2)に記載の撮像素子。
(4)
前記特定方向において隣接する2つの画素間で1つのA/D変換器を共有し、
前記画素転送制御信号線のうちの少なくとも2本の画素転送制御信号線を用いて前記隣接する2つの画素の露光タイミングをずらす
前記(3)に記載の撮像素子。
(5)
複数の画素により構成される画素群で1つのフローティングディフュージョンを共有する
前記(1)乃至(4)のいずれかに記載の撮像素子。
(6)
前記4×4画素の周期的な配置は、
前記特定方向において、前記第1の画素と、第2の分光感度の第2の画素が交互に配置される第1のラインと、
前記特定方向において、前記第1の画素が2画素周期で配置され、第3の分光感度の第3の画素と、第4の分光感度の第4の画素が、残りの画素位置に4画素周期で配置される第2のラインとが、前記特定方向に直交する方向において交互に配置される
前記(3)に記載の撮像素子。
(7)
前記第1のラインの前記第1の画素転送制御信号線と、前記第2のラインの前記第1の画素転送制御信号線は、それぞれに異なるタイミングで制御信号を送るように制御され、
前記第1のラインの前記第2の画素転送制御信号線と前記第3の画素転送制御信号線は、それぞれに異なるタイミングで制御信号を送るように制御され、
前記第2のラインの前記第2の画素転送制御信号線と、第4のラインの前記第3の画素に対する前記画素転送制御信号線とは、それぞれに異なるタイミングで制御信号を送るように制御され、
前記第2のラインの前記第4の画素に対する前記画素転送制御信号線と、前記第4のラインの前記第4の画素に対する前記画素転送制御信号線とは、それぞれに異なるタイミングで制御信号を送るように制御される
前記(6)に記載の撮像素子。
(8)
画素位置毎に、
前記第1の分光感度の前記第1の露光の信号の前記画素位置における補間値を算出する第1の処理部と、
前記第1の分光感度の前記第2の露光の信号の前記画素位置における補間値を算出する第2の処理部と、
第2の分光感度の前記第1の露光の信号の前記画素位置における補間値を算出する第3の処理部と、
前記第2の分光感度の前記第2の露光の信号の前記画素位置における補間値を算出する第4の処理部と、
第3の分光感度の前記第1の露光の信号の前記画素位置における補間値を算出する第5の処理部と、
前記第3の分光感度の前記第2の露光の信号の前記画素位置における補間値を算出する第6の処理部と、
第4の分光感度の前記第1の露光の信号の前記画素位置における補間値を算出する第7の処理部と、
前記第4の分光感度の前記第2の露光の信号の前記画素位置における補間値を算出する第8の処理部と
をさらに備える前記(1)乃至(7)のいずれかに記載の撮像素子。
(9)
前記第1乃至8の処理部により算出された前記第1乃至4の分光感度の前記第1の露光または前記第2の露光の信号の前記画素位置における補間値から、合成した前記第2の分光感度、前記第3の分光感度、および前記第4の分光感度の補間値をそれぞれ算出する第9の処理部と
をさらに備える前記(8)に記載の撮像素子。
(10)
前記第9の処理部からの出力される前記補間値を、ベイヤー配列に変換する変換部を
さらに備える前記(9)に記載の撮像素子。
(11)
前記第9の処理部は、各画素より読み出された信号を非線形階調に変換する処理を含む
前記(9)に記載の撮像素子。
(12)
前記非線形階調に変換する処理は、上に凸のべき乗関数特性に基づいて変換する処理を含む
前記(11)に記載の撮像素子。
(13)
前記非線形階調に変換する処理は、対数階調特性に基づいて変換する処理を含む
前記(11)に記載の撮像素子。
(14)
前記撮像面上に配置されている画素からの信号を対数変換する対数変換処理部と、
前記第9の処理部からの出力される前記補間値を対数逆変換する対数逆変換処理部と
をさらに備え、
前記第1乃至8の処理部は、それぞれ前記対数変換処理部で変換された値を用いて処理を行う
前記(9)に記載の撮像素子。
(15)
前記撮像面上に配置されている画素からの信号を対数変換する対数変換処理部と、
前記変換部から出力される前記補間値を対数逆変換する対数逆変換処理部と
をさらに備え、
前記第1乃至8の処理部は、それぞれ前記対数変換処理部で変換された値を用いて処理を行う
前記(10)に記載の撮像素子。
(16)
全整色性である分光感度の画素を含む4種類の分光感度の画素が撮像面上に配置され、
前記4種類の分光感度のそれぞれに、第1の露光を実現する画素と、前記第1の露光とは異なる第2の露光を実現する画素とが前記撮像面上に配置され、
特定方向において、前記全整色性である分光感度の第1の画素が2画素周期で配置される第1のラインと、前記第1の画素が、前記第1のラインとは前記特定方向に1画素ずれて配置される第2のラインとが、前記特定方向に直交する方向において交互に配置され、
前記第1の画素の分光感度とは異なる分光感度の画素が、同じ分光感度毎に、特定方向に2画素もしくは4画素周期で配置され、2次元的に、前記第1の分光感度画素が市松配列となる、4×4画素の周期的な配置を構成している撮像素子の撮像方法であり、
前記特定方向における1ラインを構成する複数の画素の露光開始および終了タイミングを制御するための画素転送制御信号線であり、前記1ライン毎に3本備えられている前記画素転送制御信号線に、前記第1の露光を実現する第1のタイミング、または前記第2の露光を実現する第2のタイミングのどちらかで画素転送制御信号を送る
ステップを含む撮像方法。
(17)
全整色性である分光感度の画素を含む4種類の分光感度の画素が撮像面上に配置され、
前記4種類の分光感度のそれぞれに、第1の露光を実現する画素と、前記第1の露光とは異なる第2の露光を実現する画素とが前記撮像面上に配置され、
特定方向において、前記全整色性である分光感度の第1の画素が2画素周期で配置される第1のラインと、前記第1の画素が、前記第1のラインとは前記特定方向に1画素ずれて配置される第2のラインとが、前記特定方向に直交する方向において交互に配置され、
前記第1の画素の分光感度とは異なる分光感度の画素が、同じ分光感度毎に、特定方向に2画素もしくは4画素周期で配置され、2次元的に、前記第1の分光感度画素が市松配列となる、4×4画素の周期的な配置を構成している撮像素子を制御するコンピュータに行わせるプログラムにおいて、
前記特定方向における1ラインを構成する複数の画素の露光開始および終了タイミングを制御するための画素転送制御信号線であり、前記1ライン毎に3本備えられている前記画素転送制御信号線に、前記第1の露光を実現する第1のタイミング、または前記第2の露光を実現する第2のタイミングのどちらかで画素転送制御信号を送る
ステップを含む処理を含むプログラム。
20 画素, 21乃至24 画素転送制御信号線, 300 撮像装置, 310 撮像素子, 311 画像処理部, 312 記録制御部, 313 コンテンツ記憶部, 314 表示制御部, 315 表示部, 316 制御部, 317 操作受付部, 351 WL高周波補間部, 352 WS高周波補間部, 353 WL低周波補間部, 354 WS低周波補間部, 355 GL低周波補間部, 356 GS低周波補間部, 357 RL低周波補間部, 358 RS低周波補間部, 359 BL低周波補間部, 360 BS低周波補間部, 361 W高周波HDR合成部,362 W低周波HDR合成部, 363 G低周波HDR合成部, 364 R低周波HDR合成部, 364 B低周波HDR合成部, 366 W−GCh間相関処理部, 367 W−RCh間相関処理部, 368 W−BCh間相関処理部

Claims (16)

  1. 全整色性である分光感度の第1の画素を含む4種類の分光感度の画素が撮像面上に配置され、
    前記4種類の分光感度のそれぞれに、第1の露光を実現する画素と、前記第1の露光より短い第2の露光を実現する画素とが前記撮像面上に配置され、
    2次元的に、前記第1の画素が市松配列となる、4×4画素の周期的な配置を構成し、
    前記4×4画素の所定の1ラインの連続する4画素は、前記第2の露光を実現する画素で構成され
    画素位置毎に、
    前記全整色性である第1の分光感度の前記第1の露光の信号の前記画素位置における高周波の補間値を算出する第1の処理部と、
    前記第1の分光感度の前記第2の露光の信号の前記画素位置における高周波の補間値を算出する第2の処理部と、
    前記第1の分光感度の前記第1の露光の信号の前記画素位置における低周波の補間値を算出する第3の処理部と、
    前記第1の分光感度の前記第2の露光の信号の前記画素位置における低周波の補間値を算出する第4の処理部と、
    第2の分光感度の前記第1の露光の信号の前記画素位置における補間値を算出する第5の処理部と、
    前記第2の分光感度の前記第2の露光の信号の前記画素位置における補間値を算出する第6の処理部と、
    第3の分光感度の前記第1の露光の信号の前記画素位置における補間値を算出する第7の処理部と、
    前記第3の分光感度の前記第2の露光の信号の前記画素位置における補間値を算出する第8の処理部と、
    第4の分光感度の前記第1の露光の信号の前記画素位置における補間値を算出する第9の処理部と、
    前記第4の分光感度の前記第2の露光の信号の前記画素位置における補間値を算出する第10の処理部と
    を備える撮像素子。
  2. 特定方向において、前記第1の画素が2画素周期で配置される第1のラインと、前記第1の画素が、前記第1のラインとは前記特定方向に1画素ずれて配置される第2のラインとが、前記特定方向に直交する方向において交互に配置され、
    前記第1の画素の分光感度とは異なる分光感度の画素が、同じ分光感度毎に、前記特定方向に2画素もしくは4画素周期で配置されている
    請求項1に記載の撮像素子。
  3. 前記特定方向における1ラインを構成する複数の画素の露光開始および終了タイミングを制御するための画素転送制御信号線を前記1ライン毎に3本備え、
    前記第1のラインにおける前記画素転送制御信号線のうち第1の画素転送制御信号線が、前記第1のラインの2画素周期の同じ分光感度の画素に対して転送制御信号を送り、
    前記第1のラインにおける前記画素転送制御信号線のうち第2の画素転送制御信号線が、前記第1のラインの4画素周期の同じ分光感度の画素に対して転送制御信号を送り、
    前記第1のラインにおける前記画素転送制御信号線のうち第3の画素転送制御信号線が、前記第1のラインの4画素周期の同じ分光感度の画素に対して転送制御信号を送り、
    前記第2のラインにおける前記画素転送制御信号線のうち第1の画素転送制御信号線が、前記第2のラインの2画素周期の同じ分光感度の画素に対して転送制御信号を送り、
    前記第2のラインにおける前記画素転送制御信号線のうち第2の画素転送制御信号線が、前記第2のラインの4画素周期の同じ分光感度の画素に対して転送制御信号を送り、
    前記第2のラインにおける前記画素転送制御信号線のうち第3の画素転送制御信号線が、前記第2のラインの4画素周期の同じ分光感度の画素に対して転送制御信号を送り、
    前記画素転送制御信号線のそれぞれが、前記第1の露光を実現する第1のタイミング、または前記第2の露光を実現する第2のタイミングのどちらかで画素転送制御信号を送る
    請求項2に記載の撮像素子。
  4. 前記特定方向において隣接する2つの画素間で1つのA/D変換器を共有し、
    前記画素転送制御信号線のうちの少なくとも2本の前記画素転送制御信号線を用いて前記隣接する2つの画素の露光タイミングをずらす
    請求項3に記載の撮像素子。
  5. 複数の画素により構成される画素群で1つのフローティングディフュージョンを共有する
    請求項1に記載の撮像素子。
  6. 前記4×4画素の周期的な配置は、
    前記特定方向において、前記第1の画素と、第2の分光感度の第2の画素が交互に配置される前記第1のラインと、
    前記特定方向において、前記第1の画素が2画素周期で配置され、第3の分光感度の第3の画素と、第4の分光感度の第4の画素が、残りの画素位置に4画素周期で配置される前記第2のラインとが、前記特定方向に直交する方向において交互に配置される
    請求項3に記載の撮像素子。
  7. 前記第1のラインの前記第1の画素転送制御信号線と、前記第2のラインの前記第1の画素転送制御信号線は、それぞれに異なるタイミングで制御信号を送るように制御され、
    前記第1のラインの前記第2の画素転送制御信号線と前記第3の画素転送制御信号線は、それぞれに異なるタイミングで制御信号を送るように制御され、
    前記第2のラインの前記第2の画素転送制御信号線と、第4のラインの前記第3の画素に対する前記画素転送制御信号線とは、それぞれに異なるタイミングで制御信号を送るように制御され、
    前記第2のラインの前記第4の画素に対する前記画素転送制御信号線と、前記第4のラインの前記第4の画素に対する前記画素転送制御信号線とは、それぞれに異なるタイミングで制御信号を送るように制御される
    請求項6に記載の撮像素子。
  8. 前記第1乃至10の処理部により算出された前記第1乃至4の分光感度の前記第1の露光または前記第2の露光の信号の前記画素位置における補間値から、合成した前記第2の分光感度、前記第3の分光感度、および前記第4の分光感度の補間値をそれぞれ算出する第11の処理部を
    さらに備える請求項に記載の撮像素子。
  9. 前記第11の処理部から出力される前記補間値を、ベイヤー配列に変換する変換部を
    さらに備える請求項に記載の撮像素子。
  10. 前記第11の処理部は、各画素より読み出された信号を非線形階調に変換する処理を含む
    請求項に記載の撮像素子。
  11. 前記非線形階調に変換する処理は、上に凸のべき乗関数特性に基づいて変換する処理を含む
    請求項10に記載の撮像素子。
  12. 前記非線形階調に変換する処理は、対数階調特性に基づいて変換する処理を含む
    請求項10に記載の撮像素子。
  13. 前記撮像面上に配置されている画素からの信号を対数変換する対数変換処理部と、
    前記第11の処理部から出力される前記補間値を対数逆変換する対数逆変換処理部と
    をさらに備え、
    前記第1乃至10の処理部は、それぞれ前記対数変換処理部で変換された値を用いて処理を行う
    請求項に記載の撮像素子。
  14. 前記撮像面上に配置されている画素からの信号を対数変換する対数変換処理部と、
    前記変換部から出力される前記補間値を対数逆変換する対数逆変換処理部と
    をさらに備え、
    前記第1乃至10の処理部は、それぞれ前記対数変換処理部で変換された値を用いて処理を行う
    請求項に記載の撮像素子。
  15. 全整色性である分光感度の画素を含む4種類の分光感度の画素が撮像面上に配置され、
    前記4種類の分光感度のそれぞれに、第1の露光を実現する画素と、前記第1の露光より短い第2の露光を実現する画素とが前記撮像面上に配置され、
    特定方向において、前記全整色性である分光感度の第1の画素が2画素周期で配置される第1のラインと、前記第1の画素が、前記第1のラインとは前記特定方向に1画素ずれて配置される第2のラインとが、前記特定方向に直交する方向において交互に配置され、
    前記第1の画素の分光感度とは異なる分光感度の画素が、同じ分光感度毎に、前記特定方向に2画素もしくは4画素周期で配置され、2次元的に、前記第1の画素が市松配列となる、4×4画素の周期的な配置を構成し、前記4×4画素の所定の1ラインの連続する4画素は、前記第2の露光を実現する画素で構成している撮像素子の撮像方法であり、
    前記特定方向における1ラインを構成する複数の画素の露光開始および終了タイミングを制御するための画素転送制御信号線であり、前記1ライン毎に3本備えられている前記画素転送制御信号線に、前記第1の露光を実現する第1のタイミング、または前記第2の露光を実現する第2のタイミングのどちらかで画素転送制御信号を送り、
    画素位置毎に、
    前記全整色性である第1の分光感度の前記第1の露光の信号の前記画素位置における高周波の補間値を算出し、
    前記第1の分光感度の前記第2の露光の信号の前記画素位置における高周波の補間値を算出し、
    前記第1の分光感度の前記第1の露光の信号の前記画素位置における低周波の補間値を算出し、
    前記第1の分光感度の前記第2の露光の信号の前記画素位置における低周波の補間値を算出し、
    第2の分光感度の前記第1の露光の信号の前記画素位置における補間値を算出し、
    前記第2の分光感度の前記第2の露光の信号の前記画素位置における補間値を算出し、
    第3の分光感度の前記第1の露光の信号の前記画素位置における補間値を算出し、
    前記第3の分光感度の前記第2の露光の信号の前記画素位置における補間値を算出し、
    第4の分光感度の前記第1の露光の信号の前記画素位置における補間値を算出し、
    前記第4の分光感度の前記第2の露光の信号の前記画素位置における補間値を算出する
    ステップを含む撮像方法。
  16. 全整色性である分光感度の画素を含む4種類の分光感度の画素が撮像面上に配置され、
    前記4種類の分光感度のそれぞれに、第1の露光を実現する画素と、前記第1の露光より短い第2の露光を実現する画素とが前記撮像面上に配置され、
    特定方向において、前記全整色性である分光感度の第1の画素が2画素周期で配置される第1のラインと、前記第1の画素が、前記第1のラインとは前記特定方向に1画素ずれて配置される第2のラインとが、前記特定方向に直交する方向において交互に配置され、
    前記第1の画素の分光感度とは異なる分光感度の画素が、同じ分光感度毎に、前記特定方向に2画素もしくは4画素周期で配置され、2次元的に、前記第1の画素が市松配列となる、4×4画素の周期的な配置を構成し、前記4×4画素の所定の1ラインの連続する4画素は、前記第2の露光を実現する画素で構成している撮像素子を制御するコンピュータに行わせるプログラムにおいて、
    前記特定方向における1ラインを構成する複数の画素の露光開始および終了タイミングを制御するための画素転送制御信号線であり、前記1ライン毎に3本備えられている前記画素転送制御信号線に、前記第1の露光を実現する第1のタイミング、または前記第2の露光を実現する第2のタイミングのどちらかで画素転送制御信号を送り、
    画素位置毎に、
    前記全整色性である第1の分光感度の前記第1の露光の信号の前記画素位置における高周波の補間値を算出し、
    前記第1の分光感度の前記第2の露光の信号の前記画素位置における高周波の補間値を算出し、
    前記第1の分光感度の前記第1の露光の信号の前記画素位置における低周波の補間値を算出し、
    前記第1の分光感度の前記第2の露光の信号の前記画素位置における低周波の補間値を算出し、
    第2の分光感度の前記第1の露光の信号の前記画素位置における補間値を算出し、
    前記第2の分光感度の前記第2の露光の信号の前記画素位置における補間値を算出し、
    第3の分光感度の前記第1の露光の信号の前記画素位置における補間値を算出し、
    前記第3の分光感度の前記第2の露光の信号の前記画素位置における補間値を算出し、
    第4の分光感度の前記第1の露光の信号の前記画素位置における補間値を算出し、
    前記第4の分光感度の前記第2の露光の信号の前記画素位置における補間値を算出する
    ステップを含む処理を含むプログラム。
JP2015528226A 2013-07-23 2014-07-11 撮像素子、撮像方法、並びにプログラム Expired - Fee Related JP6528974B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013152898 2013-07-23
JP2013152898 2013-07-23
PCT/JP2014/068543 WO2015012121A1 (ja) 2013-07-23 2014-07-11 撮像素子、撮像方法、並びにプログラム

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPWO2015012121A1 JPWO2015012121A1 (ja) 2017-03-02
JP6528974B2 true JP6528974B2 (ja) 2019-06-12

Family

ID=52393167

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2015528226A Expired - Fee Related JP6528974B2 (ja) 2013-07-23 2014-07-11 撮像素子、撮像方法、並びにプログラム

Country Status (7)

Country Link
US (3) US10015417B2 (ja)
EP (1) EP3026891A4 (ja)
JP (1) JP6528974B2 (ja)
KR (1) KR102221341B1 (ja)
CN (1) CN105409205B (ja)
TW (1) TWI644568B (ja)
WO (1) WO2015012121A1 (ja)

Families Citing this family (31)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013066140A (ja) 2011-08-31 2013-04-11 Sony Corp 撮像装置、および信号処理方法、並びにプログラム
TWI644568B (zh) 2013-07-23 2018-12-11 新力股份有限公司 攝像元件、攝像方法及攝像程式
JP2016072863A (ja) * 2014-09-30 2016-05-09 株式会社ニコン 電子機器、再生装置、記録媒体、記録プログラム、再生プログラム、記録方法および再生方法
JP6541324B2 (ja) * 2014-10-17 2019-07-10 キヤノン株式会社 固体撮像装置及びその駆動方法、並びに、撮像システム
JP6516446B2 (ja) * 2014-11-14 2019-05-22 キヤノン株式会社 情報処理装置、情報処理方法、及びプログラム
US9866764B2 (en) * 2014-11-21 2018-01-09 Motorola Mobility Llc Method and apparatus for synchronizing auto exposure between chromatic pixels and panchromatic pixels in a camera system
US9367726B1 (en) * 2015-04-28 2016-06-14 The Code Corporation Barcode reader
KR102407036B1 (ko) * 2015-11-03 2022-06-10 삼성전자주식회사 이미지 센서 및 이미지 센서의 동작 방법
CN105516697B (zh) * 2015-12-18 2018-04-17 广东欧珀移动通信有限公司 图像传感器、成像装置、移动终端及成像方法
WO2017179295A1 (ja) * 2016-04-13 2017-10-19 ソニー株式会社 信号処理装置および撮像装置
US20170332000A1 (en) * 2016-05-10 2017-11-16 Lytro, Inc. High dynamic range light-field imaging
US20180188427A1 (en) * 2016-12-29 2018-07-05 Uber Technologies, Inc. Color Filter Array for Image Capture Device
CN111033315B (zh) * 2017-08-08 2023-07-21 国立大学法人静冈大学 距离图像测定装置以及距离图像测定方法
CN109640009B (zh) * 2017-10-09 2021-01-19 比亚迪股份有限公司 像素电路、像素阵列、图像传感器及其曝光控制方法
JP6938352B2 (ja) * 2017-12-08 2021-09-22 キヤノン株式会社 撮像装置及び撮像システム
US11470286B2 (en) * 2019-07-16 2022-10-11 Mritunjay Singh Image sensors with color, panchromatic and infrared pixels
US11653109B2 (en) * 2019-08-28 2023-05-16 Sony Interactive Entertainment Inc. Sensor system, image processing apparatus, image processing method, and program
WO2021046690A1 (zh) * 2019-09-09 2021-03-18 Oppo广东移动通信有限公司 图像传感器、摄像头模组、移动终端及图像采集方法
CN110740272B (zh) * 2019-10-31 2021-05-14 Oppo广东移动通信有限公司 图像采集方法、摄像头组件及移动终端
EP4060986A4 (en) * 2019-11-20 2022-11-30 Guangdong Oppo Mobile Telecommunications Corp., Ltd. IMAGE SENSOR, CONTROL METHOD, CAMERA ASSEMBLY, AND MOBILE TERMINAL
CN111405204B (zh) * 2020-03-11 2022-07-26 Oppo广东移动通信有限公司 图像获取方法、成像装置、电子设备及可读存储介质
CN111432099B (zh) * 2020-03-30 2021-04-30 Oppo广东移动通信有限公司 图像传感器、处理系统及方法、电子设备和存储介质
CN111491110B (zh) * 2020-04-17 2021-09-17 Oppo广东移动通信有限公司 高动态范围图像处理系统及方法、电子设备和存储介质
CN111491111B (zh) * 2020-04-20 2021-03-26 Oppo广东移动通信有限公司 高动态范围图像处理系统及方法、电子设备和可读存储介质
KR20220111770A (ko) * 2021-02-01 2022-08-10 삼성전자주식회사 이미지 센서 및 그를 포함하는 전자 장치
JP7723480B2 (ja) * 2021-02-10 2025-08-14 キヤノン株式会社 画像符号化装置及びその制御方法及びプログラム
JP2023042081A (ja) * 2021-09-14 2023-03-27 キヤノン株式会社 光電変換装置
KR20240089613A (ko) * 2021-10-11 2024-06-20 기가조트 테크널러지 인코포레이티드 높은 동적 범위 이미징을 위한 동적 픽셀 단위 다중-이득 판독
EP4307702A4 (en) * 2022-05-31 2024-08-21 Samsung Electronics Co., Ltd. ELECTRONIC DEVICE COMPRISING AN IMAGE SENSOR AND ASSOCIATED OPERATING METHOD
US12464258B2 (en) * 2022-09-08 2025-11-04 Qualcomm Auto Ltd. Image sensor with red-clear-clear-green (RCCG) color filter array (CFA) for vehicle sensing applications
WO2025016727A1 (en) * 2023-07-14 2025-01-23 Sony Semiconductor Solutions Corporation Image sensor assembly with high-sensitive pixel element and low-sensitive pixel element

Family Cites Families (55)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7880785B2 (en) * 2004-07-21 2011-02-01 Aptina Imaging Corporation Rod and cone response sensor
JP2007135200A (ja) 2005-10-14 2007-05-31 Sony Corp 撮像方法および撮像装置並びに駆動装置
JP4796871B2 (ja) 2006-03-06 2011-10-19 富士フイルム株式会社 撮像装置
JP4187004B2 (ja) * 2006-04-17 2008-11-26 ソニー株式会社 撮像装置および撮像装置の露光制御方法
US8059174B2 (en) * 2006-05-31 2011-11-15 Ess Technology, Inc. CMOS imager system with interleaved readout for providing an image with increased dynamic range
US7825969B2 (en) * 2006-12-15 2010-11-02 Nokia Corporation Image stabilization using multi-exposure pattern
JP4905187B2 (ja) * 2007-03-09 2012-03-28 ソニー株式会社 画像処理装置、撮像装置、および画像処理方法、並びにコンピュータ・プログラム
US7777804B2 (en) * 2007-10-26 2010-08-17 Omnivision Technologies, Inc. High dynamic range sensor with reduced line memory for color interpolation
JP5002421B2 (ja) * 2007-11-14 2012-08-15 富士フイルム株式会社 撮像装置及び撮像方法
US8542315B2 (en) * 2007-11-27 2013-09-24 Broadcom Corporation Method and apparatus for expanded dynamic range imaging
KR101391432B1 (ko) * 2008-01-22 2014-05-07 삼성전기주식회사 영상 획득 장치 및 그 방법과 영상 처리 장치 및 그 방법
US8174603B2 (en) * 2008-05-01 2012-05-08 Alexander Krymski Image sensors and methods with antiblooming channels and two side driving of control signals
US20090290052A1 (en) * 2008-05-23 2009-11-26 Panavision Imaging, Llc Color Pixel Pattern Scheme for High Dynamic Range Optical Sensor
CN101656259A (zh) * 2008-08-20 2010-02-24 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 影像感测器封装结构、封装方法及相机模组
JP4661922B2 (ja) * 2008-09-03 2011-03-30 ソニー株式会社 画像処理装置、撮像装置、固体撮像素子、画像処理方法およびプログラム
JP5359465B2 (ja) * 2009-03-31 2013-12-04 ソニー株式会社 固体撮像装置、固体撮像装置の信号処理方法および撮像装置
JP5304410B2 (ja) * 2009-04-17 2013-10-02 ソニー株式会社 Ad変換装置、固体撮像素子、およびカメラシステム
JP2011114558A (ja) * 2009-11-26 2011-06-09 Fujifilm Corp 撮像装置及び撮像方法
JP5552858B2 (ja) * 2010-03-26 2014-07-16 ソニー株式会社 固体撮像装置、固体撮像装置の駆動方法、及び、電子機器
JP5585208B2 (ja) * 2010-05-20 2014-09-10 ソニー株式会社 固体撮像装置及び電子機器
JP2011250554A (ja) * 2010-05-26 2011-12-08 Sony Corp 電源回路、集積回路装置、固体撮像装置および電子機器
US20130308021A1 (en) * 2010-06-16 2013-11-21 Aptina Imaging Corporation Systems and methods for adaptive control and dynamic range extension of image sensors
US8514322B2 (en) * 2010-06-16 2013-08-20 Aptina Imaging Corporation Systems and methods for adaptive control and dynamic range extension of image sensors
JP5442571B2 (ja) * 2010-09-27 2014-03-12 パナソニック株式会社 固体撮像装置及び撮像装置
JP4988075B1 (ja) * 2010-12-16 2012-08-01 パナソニック株式会社 撮像装置及び画像処理装置
JP2012175234A (ja) 2011-02-18 2012-09-10 Sony Corp 撮像装置、撮像素子、および撮像制御方法、並びにプログラム
JP5655626B2 (ja) 2011-02-24 2015-01-21 ソニー株式会社 画像処理装置、および画像処理方法、並びにプログラム
JP2012182657A (ja) 2011-03-01 2012-09-20 Sony Corp 撮像装置、および撮像装置制御方法、並びにプログラム
JP5128726B1 (ja) * 2011-03-24 2013-01-23 パナソニック株式会社 固体撮像素子および当該素子を備える撮像装置
JP2012234393A (ja) 2011-05-02 2012-11-29 Sony Corp 画像処理装置、および画像処理方法、並びにプログラム
JP2012257193A (ja) 2011-05-13 2012-12-27 Sony Corp 画像処理装置、撮像装置、および画像処理方法、並びにプログラム
JP2013005017A (ja) 2011-06-13 2013-01-07 Sony Corp 撮像装置、および撮像装置制御方法、並びにプログラム
JP2013021660A (ja) 2011-07-14 2013-01-31 Sony Corp 画像処理装置、撮像装置、および画像処理方法、並びにプログラム
JP2013038504A (ja) * 2011-08-04 2013-02-21 Sony Corp 撮像装置、および画像処理方法、並びにプログラム
JP2013066142A (ja) 2011-08-31 2013-04-11 Sony Corp 画像処理装置、および画像処理方法、並びにプログラム
JP2013066145A (ja) 2011-08-31 2013-04-11 Sony Corp 画像処理装置、および画像処理方法、並びにプログラム
JP2013066140A (ja) * 2011-08-31 2013-04-11 Sony Corp 撮像装置、および信号処理方法、並びにプログラム
US9137432B2 (en) * 2011-09-16 2015-09-15 Samsung Electronics Co., Ltd. Backside illumination image sensor, operating method thereof, image processing system and method of processing image using the same
US8599284B2 (en) * 2011-10-11 2013-12-03 Omnivision Technologies, Inc. High dynamic range sub-sampling architecture
JP2013143729A (ja) * 2012-01-12 2013-07-22 Sony Corp 撮像素子、撮像装置、電子機器および撮像方法
JP5935876B2 (ja) * 2012-03-27 2016-06-15 ソニー株式会社 画像処理装置、撮像素子、および画像処理方法、並びにプログラム
US9040892B2 (en) * 2012-07-27 2015-05-26 Apple Inc. High dynamic range image sensor having symmetric interleaved long and short exposure pixels
JP2014175832A (ja) * 2013-03-08 2014-09-22 Toshiba Corp 固体撮像装置
JP2015019293A (ja) * 2013-07-11 2015-01-29 ソニー株式会社 固体撮像装置および方法、並びに、電子機器
TWI644568B (zh) 2013-07-23 2018-12-11 新力股份有限公司 攝像元件、攝像方法及攝像程式
JP2015033107A (ja) * 2013-08-07 2015-02-16 ソニー株式会社 画像処理装置および画像処理方法、並びに、電子機器
TWI690209B (zh) * 2013-09-25 2020-04-01 新力股份有限公司 固體攝像裝置、攝像裝置及電子機器
KR102159256B1 (ko) * 2013-11-25 2020-09-23 삼성전자 주식회사 픽셀 어레이 및 이를 포함하는 이미지 센서
KR102149187B1 (ko) * 2014-02-21 2020-08-28 삼성전자주식회사 전자 장치와, 그의 제어 방법
KR102149453B1 (ko) * 2014-02-21 2020-08-28 삼성전자주식회사 이미지를 획득하기 위한 전자 장치 및 방법
KR102184714B1 (ko) * 2014-04-11 2020-12-02 에스케이하이닉스 주식회사 이미지 센싱 장치
JP2016053849A (ja) * 2014-09-03 2016-04-14 ソニー株式会社 画像処理装置および画像処理方法、並びに固体撮像装置
US9883128B2 (en) * 2016-05-20 2018-01-30 Semiconductor Components Industries, Llc Imaging systems with high dynamic range and phase detection pixels
KR20180031288A (ko) * 2016-09-19 2018-03-28 삼성전자주식회사 이미지 센서 및 이를 포함하는 촬상 장치
KR102354991B1 (ko) * 2017-05-24 2022-01-24 삼성전자주식회사 픽셀 회로 및 이를 포함하는 이미지 센서

Also Published As

Publication number Publication date
TW201505440A (zh) 2015-02-01
US10638065B2 (en) 2020-04-28
US20160173793A1 (en) 2016-06-16
WO2015012121A1 (ja) 2015-01-29
TWI644568B (zh) 2018-12-11
KR20160034897A (ko) 2016-03-30
KR102221341B1 (ko) 2021-02-26
EP3026891A4 (en) 2017-04-19
JPWO2015012121A1 (ja) 2017-03-02
US10015417B2 (en) 2018-07-03
CN105409205B (zh) 2019-08-09
US20170034460A9 (en) 2017-02-02
US20190124281A1 (en) 2019-04-25
CN105409205A (zh) 2016-03-16
US10200639B2 (en) 2019-02-05
US20180160060A1 (en) 2018-06-07
EP3026891A1 (en) 2016-06-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6528974B2 (ja) 撮像素子、撮像方法、並びにプログラム
JP4689620B2 (ja) イメージセンサ
US9380236B2 (en) Imaging sensor, imaging apparatus, electronic device, and imaging method
KR101136222B1 (ko) 촬상소자, 촬상소자의 구동장치, 촬상소자의 구동방법, 화상처리장치, 프로그램을 기록한 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체 및 촬상장치
JP2009504005A (ja) 光感度が改善されたイメージ・センサー
WO2010114594A1 (en) Exposing pixel groups in producing digital images
JP2009504012A (ja) カラー画素とパンクロ画素の処理
US8111298B2 (en) Imaging circuit and image pickup device
JP2009194604A (ja) 撮像装置及び撮像装置の駆動方法
JP5526673B2 (ja) 固体撮像装置及び電子機器
JP2004282552A (ja) 固体撮像素子および固体撮像装置
US8582006B2 (en) Pixel arrangement for extended dynamic range imaging
JP4600315B2 (ja) カメラ装置の制御方法及びこれを用いたカメラ装置
JP2007135200A (ja) 撮像方法および撮像装置並びに駆動装置
JP2017011347A (ja) 画像形成方法、画像形成装置、および画像形成プログラム
JP4852490B2 (ja) 撮像装置及びそのポストビュー画像生成方法
JP2011239460A (ja) 固体撮像装置
JP2006340065A (ja) 画像データ取込装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20170629

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20180807

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20180927

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20181009

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20181129

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20190418

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20190501

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 6528974

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees