JP6570144B2 - マイクロ波プラズマ源 - Google Patents
マイクロ波プラズマ源 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6570144B2 JP6570144B2 JP2017225696A JP2017225696A JP6570144B2 JP 6570144 B2 JP6570144 B2 JP 6570144B2 JP 2017225696 A JP2017225696 A JP 2017225696A JP 2017225696 A JP2017225696 A JP 2017225696A JP 6570144 B2 JP6570144 B2 JP 6570144B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- magnetic circuit
- opening
- antenna
- microwave
- plasma source
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05H—PLASMA TECHNIQUE; PRODUCTION OF ACCELERATED ELECTRICALLY-CHARGED PARTICLES OR OF NEUTRONS; PRODUCTION OR ACCELERATION OF NEUTRAL MOLECULAR OR ATOMIC BEAMS
- H05H1/00—Generating plasma; Handling plasma
- H05H1/24—Generating plasma
- H05H1/46—Generating plasma using applied electromagnetic fields, e.g. high frequency or microwave energy
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05H—PLASMA TECHNIQUE; PRODUCTION OF ACCELERATED ELECTRICALLY-CHARGED PARTICLES OR OF NEUTRONS; PRODUCTION OR ACCELERATION OF NEUTRAL MOLECULAR OR ATOMIC BEAMS
- H05H1/00—Generating plasma; Handling plasma
- H05H1/02—Arrangements for confining plasma by electric or magnetic fields; Arrangements for heating plasma
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05H—PLASMA TECHNIQUE; PRODUCTION OF ACCELERATED ELECTRICALLY-CHARGED PARTICLES OR OF NEUTRONS; PRODUCTION OR ACCELERATION OF NEUTRAL MOLECULAR OR ATOMIC BEAMS
- H05H1/00—Generating plasma; Handling plasma
- H05H1/24—Generating plasma
- H05H1/46—Generating plasma using applied electromagnetic fields, e.g. high frequency or microwave energy
- H05H1/461—Microwave discharges
- H05H1/463—Microwave discharges using antennas or applicators
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Plasma Technology (AREA)
- Electron Sources, Ion Sources (AREA)
Description
筒状磁石部は、第1開口端と、第1開口端とは反対側に位置する第2開口端とを有する。第1開口端は、第1極性を有し、第2開口端は、第1極性とは反対の第2極性を有する。
筒状体は、筒状磁石部に囲まれる。
第1磁気回路部は、第1開口端に接し、第1開口端を閉塞する。
第2磁気回路部は、第2開口端に接し、第1磁気回路部に対向配置される。第2磁気回路部は、筒状体によって囲まれた空間を開口する第1開口部を有する。
アンテナは、第1磁気回路部を貫通し、空間に導入され、空間にマイクロ波電力を供給することができる。
ノズル部は、第1磁気回路部とは反対側において第2磁気回路部に接する。ノズル部は、第1開口部よりも開口面積が小さく第1開口部に連通する第2開口部を有する。
ガスポート部は、筒状磁石部及び筒状体を貫通し、空間に放電ガスを供給することができる。
絶縁部材は、アンテナと第1磁気回路部との間に設けられる。
筒状体の内径をa(mm)、空間に供給されるマイクロ波電力のマイクロ波遮断波長をλ(mm)としたときに、マイクロ波プラズマ源は、λ>3.41×(a/2)の関係式を満たすように構成される。
このようなマイクロ波プラズマ源によれば、マイクロ波と磁場との相互作用によって、空間に電子サイクロトロン共鳴が起こる。これにより、プラズマ中の電子に選択的かつ直接的にエネルギーが供給され、高いエネルギーを持った電子と、放電ガスとが衝突して空間に高密度プラズマが発生する。さらに、λ>3.41×(a/2)の関係式を満たすように構成されているので、空間では、マイクロ波が共振しにくくなり、空間におけるマイクロ波の進行が抑制される。この結果、マイクロ波プラズマ源からはマイクロ波が漏洩しにくくなる。
突出部は、アンテナの一部を囲んでもよい。
突出部は、第2磁気回路部の第1磁気回路部側の主面と第1開口部の内壁とが交差する角部に向かうほど薄くなる先端部を含んでもよい。
先端部と、角部との間に形成される磁場のミラー比は、3以上であってもよい。
このようなマイクロ波プラズマ源によれば、突出部と角部との間に、ミラー磁場が形成され、磁場に閉じ込めた電子が連続的に電子サイクロトロン共鳴により加熱される。これにより、マイクロ波の電界が弱くても、放電ガスを電離できるほどの高エネルギー電子を生成できる。
このようなマイクロ波プラズマ源によれば、突出部と角部との間に、ミラー比の高いミラー磁場が形成され、磁場に閉じ込めた電子が連続的に電子サイクロトロン共鳴により加熱される。これにより、マイクロ波の電界が弱くても、放電ガスを電離できるほどの高エネルギー電子を生成できる。
このようなマイクロ波プラズマ源によれば、磁場において、磁力線が突出部から角部に向かうほど、より疎になり。ノズル部側の磁束密度は、突出部側の磁束密度よりも小さくなる。この結果、空間においては、ノズル部の開口部付近に低磁場領域が形成され、開口部付近では、プラズマが磁場によって捕捉されにくくなり、開口部付近でのプラズマの移動度が高まって、プラズマが開口部から効率よく噴射される。
このようなマイクロ波プラズマ源によれば、放電中に、絶縁部材にコンタミ、被膜等の異物が堆積したとしても、異物は、プラズマによるスパッタリング効果によって即座に除去される。
このようなマイクロ波プラズマ源によれば、アンテナが折れ曲がった構成になり、マイクロ波がプラズマ中に効率よく吸収される。
このようなマイクロ波プラズマ源によれば、複数の部材から供給されるマイクロ波と磁場との相互作用によって、空間に電子サイクロトロン共鳴が起こり、空間にさらに高密度のプラズマが発生する。これにより、マイクロ波プラズマ源から、より大きい電子電流またはイオン電流を取り出すことができる。
このようなマイクロ波プラズマ源によれば、円盤状またはコーン状の第2アンテナ部から万遍なく供給されるマイクロ波と磁場との相互作用によって、空間に電子サイクロトロン共鳴が起こり、空間にさらに高密度のプラズマが発生する。これにより、マイクロ波プラズマ源から、さらに大きい電子電流またはイオン電流を取り出すことができる。
このようなマイクロ波プラズマ源によれば、供給口から空間に導入された放電ガスがアンテナから発せられるマイクロ波によって効率よく電離して、高密度のプラズマが空間に形成される。
このようなマイクロ波プラズマ源によれば、プラズマ中の荷電粒子の中、電子またはイオンを優先的にマイクロ波プラズマ源から引き出すことができる。
10…磁気回路部
20…磁気回路部
20a、20b…主面
30…アンテナ
30p…先端
40…筒状磁石部
40a、40b、50a、50b…開口端
40M…磁石
50…筒状体
51…空間
60…ノズル部
70…ガスポート部
71…供給口
80…絶縁部材
90…電極機構
91…電源
92…電極
110…突出部
111…先端部
210、610…開口部
210w…内壁
220…角部
301…第1アンテナ部
302…第2アンテナ部
302a…部材
Claims (10)
- 第1開口端と、前記第1開口端とは反対側に位置する第2開口端とを有し、前記第1開口端が第1極性を有し、前記第2開口端が前記第1極性とは反対の第2極性を有する筒状磁石部と、
前記筒状磁石部に囲まれた筒状体と、
前記第1開口端に接し、前記第1開口端を閉塞する第1磁気回路部と、
前記第2開口端に接し、前記第1磁気回路部に対向配置され、前記筒状体によって囲まれた空間を開口する第1開口部を有する第2磁気回路部と、
前記第1磁気回路部を貫通し、前記空間に導入され、前記空間にマイクロ波電力を供給することが可能なアンテナと、
前記第1磁気回路部とは反対側において前記第2磁気回路部に接し、前記第1開口部よりも開口面積が小さく前記第1開口部に連通する第2開口部を有するノズル部と、
前記筒状磁石部及び前記筒状体を貫通し、前記空間に放電ガスを供給することが可能なガスポート部と、
前記アンテナと前記第1磁気回路部との間に設けられた絶縁部材と
を具備し、
前記筒状体の内径をa(mm)、前記空間に供給される前記マイクロ波電力のマイクロ波遮断波長をλ(mm)としたときに、λ>3.41×(a/2)の関係式を満たすように構成され、
前記筒状磁石部の中心軸方向から上面視した場合、前記ガスポート部の前記放電ガスの供給口と、前記アンテナの先端とが、互いに対向する
マイクロ波プラズマ源。 - 請求項1に記載されたマイクロ波プラズマ源であって、
前記第1磁気回路部は、前記空間において前記第1磁気回路部から前記ノズル部に向かって突出する筒状の突出部を有し、
前記突出部は、前記アンテナの一部を囲み、
前記突出部は、前記第2磁気回路部の前記第1磁気回路部側の主面と前記第1開口部の内壁とが交差する角部に向かうほど薄くなる先端部を含み、
前記先端部と、前記角部との間に形成される磁場のミラー比が3以上である
マイクロ波プラズマ源。 - 請求項2に記載されたマイクロ波プラズマ源であって、
前記先端部及び前記角部の少なくともいずれかにおいて、その角度が鋭角に構成されている
マイクロ波プラズマ源。 - 請求項2または3に記載されたマイクロ波プラズマ源であって、
前記突出部の外径よりも前記第1開口部の内径のほうが大きい
マイクロ波プラズマ源。 - 請求項1〜4のいずれか1つに記載されたマイクロ波プラズマ源であって、
前記空間に形成される前記放電ガスによるプラズマにおいて、前記絶縁部材に晒されるプラズマの密度が前記第1開口部に形成されるプラズマの密度よりも高い
マイクロ波プラズマ源。 - 請求項1〜5のいずれか1つに記載されたマイクロ波プラズマ源であって、
前記アンテナは、前記第1磁気回路部から前記ノズル部に向かう第1アンテナ部と、第1アンテナ部と交差し前記第1アンテナ部に連結する第2アンテナ部とを有する
マイクロ波プラズマ源。 - 請求項6に記載されたマイクロ波プラズマ源であって、
前記第2アンテナ部は、複数の部材からなり、
前記複数の部材のそれぞれが前記第1アンテナ部と交差する
マイクロ波プラズマ源。 - 第1開口端と、前記第1開口端とは反対側に位置する第2開口端とを有し、前記第1開口端が第1極性を有し、前記第2開口端が前記第1極性とは反対の第2極性を有する筒状磁石部と、
前記筒状磁石部に囲まれた筒状体と、
前記第1開口端に接し、前記第1開口端を閉塞する第1磁気回路部と、
前記第2開口端に接し、前記第1磁気回路部に対向配置され、前記筒状体によって囲まれた空間を開口する第1開口部を有する第2磁気回路部と、
前記第1磁気回路部を貫通し、前記空間に導入され、前記空間にマイクロ波電力を供給することが可能なアンテナと、
前記第1磁気回路部とは反対側において前記第2磁気回路部に接し、前記第1開口部よりも開口面積が小さく前記第1開口部に連通する第2開口部を有するノズル部と、
前記筒状磁石部及び前記筒状体を貫通し、前記空間に放電ガスを供給することが可能なガスポート部と、
前記アンテナと前記第1磁気回路部との間に設けられた絶縁部材と
を具備し、
前記筒状体の内径をa(mm)、前記空間に供給される前記マイクロ波電力のマイクロ波遮断波長をλ(mm)としたときに、λ>3.41×(a/2)の関係式を満たすように構成され、
前記アンテナは、前記第1磁気回路部から前記ノズル部に向かう方向に延在する第1アンテナ部と、円盤状またはコーン状に構成された第2アンテナ部とを有し、
前記第1アンテナ部は、前記第2アンテナ部の中心部に連結している
マイクロ波プラズマ源。 - 第1開口端と、前記第1開口端とは反対側に位置する第2開口端とを有し、前記第1開口端が第1極性を有し、前記第2開口端が前記第1極性とは反対の第2極性を有する筒状磁石部と、
前記筒状磁石部に囲まれた筒状体と、
前記第1開口端に接し、前記第1開口端を閉塞する第1磁気回路部と、
前記第2開口端に接し、前記第1磁気回路部に対向配置され、前記筒状体によって囲まれた空間を開口する第1開口部を有する第2磁気回路部と、
前記第1磁気回路部を貫通し、前記空間に導入され、前記空間にマイクロ波電力を供給することが可能なアンテナと、
前記第1磁気回路部とは反対側において前記第2磁気回路部に接し、前記第1開口部よりも開口面積が小さく前記第1開口部に連通する第2開口部を有するノズル部と、
前記筒状磁石部及び前記筒状体を貫通し、前記空間に放電ガスを供給することが可能なガスポート部と、
前記アンテナと前記第1磁気回路部との間に設けられた絶縁部材と
を具備し、
前記筒状体の内径をa(mm)、前記空間に供給される前記マイクロ波電力のマイクロ波遮断波長をλ(mm)としたときに、λ>3.41×(a/2)の関係式を満たすように構成され、
前記ガスポート部において、前記放電ガスの供給口が前記供給口と前記アンテナの先端との距離が最も短くなるように配置される
マイクロ波プラズマ源。 - 請求項1〜9のいずれか1つに記載されたマイクロ波プラズマ源であって、
前記空間に形成されるプラズマ中の荷電粒子を静電界によって引き出す電極機構をさらに具備する
マイクロ波プラズマ源。
Priority Applications (7)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2017225696A JP6570144B2 (ja) | 2017-11-24 | 2017-11-24 | マイクロ波プラズマ源 |
| TW107141691A TWI769344B (zh) | 2017-11-24 | 2018-11-21 | 微波電漿源 |
| KR1020207008929A KR20200044098A (ko) | 2017-11-24 | 2018-11-22 | 마이크로파 플라즈마 소스 |
| KR1020227042348A KR102641222B1 (ko) | 2017-11-24 | 2018-11-22 | 마이크로파 플라즈마 소스 |
| US16/652,434 US11259397B2 (en) | 2017-11-24 | 2018-11-22 | Microwave plasma source |
| PCT/JP2018/043122 WO2019103083A1 (ja) | 2017-11-24 | 2018-11-22 | マイクロ波プラズマ源 |
| CN201880062705.2A CN111149438B (zh) | 2017-11-24 | 2018-11-22 | 微波等离子体源 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2017225696A JP6570144B2 (ja) | 2017-11-24 | 2017-11-24 | マイクロ波プラズマ源 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2019096504A JP2019096504A (ja) | 2019-06-20 |
| JP6570144B2 true JP6570144B2 (ja) | 2019-09-04 |
Family
ID=66631547
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2017225696A Active JP6570144B2 (ja) | 2017-11-24 | 2017-11-24 | マイクロ波プラズマ源 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US11259397B2 (ja) |
| JP (1) | JP6570144B2 (ja) |
| KR (2) | KR102641222B1 (ja) |
| CN (1) | CN111149438B (ja) |
| TW (1) | TWI769344B (ja) |
| WO (1) | WO2019103083A1 (ja) |
Family Cites Families (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4778561A (en) * | 1987-10-30 | 1988-10-18 | Veeco Instruments, Inc. | Electron cyclotron resonance plasma source |
| JPH0459974A (ja) * | 1990-06-28 | 1992-02-26 | Nippon Steel Corp | 有磁場マイクロ波プラズマcvd法および装置 |
| JPH06325896A (ja) * | 1993-05-11 | 1994-11-25 | Uchu Kagaku Kenkyusho | マイクロ波放電式プラズマ・コンタクター |
| JPH09245658A (ja) * | 1996-03-12 | 1997-09-19 | Nissin Electric Co Ltd | 永久磁石によるecr共鳴を利用するプラズマ生成機構 |
| JP3364830B2 (ja) | 1998-06-09 | 2003-01-08 | 株式会社日立製作所 | イオンビーム加工装置 |
| JP3608416B2 (ja) * | 1999-02-02 | 2005-01-12 | 日新電機株式会社 | プラズマ源 |
| JP2001006898A (ja) | 1999-06-18 | 2001-01-12 | Hitachi Ltd | マイクロ波中和器とイオンビーム処理装置 |
| JP2003162981A (ja) * | 2001-11-27 | 2003-06-06 | Harison Toshiba Lighting Corp | マイクロ波放電照明装置 |
| JP4000517B2 (ja) * | 2002-10-30 | 2007-10-31 | 富山県 | マイクロ波プラズマ処理装置 |
| JP2004247676A (ja) * | 2003-02-17 | 2004-09-02 | Mitsubishi Electric Corp | プラズマ処理装置、プラズマ処理方法および半導体装置の製造方法 |
| DE102006037144B4 (de) * | 2006-08-09 | 2010-05-20 | Roth & Rau Ag | ECR-Plasmaquelle |
| CN100574003C (zh) * | 2007-08-21 | 2009-12-23 | 西安电子科技大学 | 微波谐振腔体 |
| US9288890B1 (en) | 2014-10-31 | 2016-03-15 | Tokyo Electron Limited | Method and apparatus for providing an anisotropic and mono-energetic neutral beam by non-ambipolar electron plasma |
-
2017
- 2017-11-24 JP JP2017225696A patent/JP6570144B2/ja active Active
-
2018
- 2018-11-21 TW TW107141691A patent/TWI769344B/zh active
- 2018-11-22 WO PCT/JP2018/043122 patent/WO2019103083A1/ja not_active Ceased
- 2018-11-22 CN CN201880062705.2A patent/CN111149438B/zh active Active
- 2018-11-22 KR KR1020227042348A patent/KR102641222B1/ko active Active
- 2018-11-22 KR KR1020207008929A patent/KR20200044098A/ko not_active Ceased
- 2018-11-22 US US16/652,434 patent/US11259397B2/en active Active
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN111149438A (zh) | 2020-05-12 |
| KR20200044098A (ko) | 2020-04-28 |
| KR102641222B1 (ko) | 2024-02-29 |
| US11259397B2 (en) | 2022-02-22 |
| TW201927080A (zh) | 2019-07-01 |
| CN111149438B (zh) | 2022-03-18 |
| US20200288560A1 (en) | 2020-09-10 |
| TWI769344B (zh) | 2022-07-01 |
| JP2019096504A (ja) | 2019-06-20 |
| WO2019103083A1 (ja) | 2019-05-31 |
| KR20220165832A (ko) | 2022-12-15 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3328498B2 (ja) | 高速原子線源 | |
| US20160133426A1 (en) | Linear duoplasmatron | |
| US11004649B2 (en) | Ion source device | |
| US7038389B2 (en) | Magnetron plasma source | |
| KR100307070B1 (ko) | 고속원자빔공급원 | |
| JP2000040475A (ja) | 自己電子放射型ecrイオンプラズマ源 | |
| TWI793656B (zh) | 離子槍及真空處理裝置 | |
| JP6570144B2 (ja) | マイクロ波プラズマ源 | |
| JP3010978B2 (ja) | イオン源装置 | |
| JP6656685B1 (ja) | 除電装置及び除電方法 | |
| KR102168952B1 (ko) | 제전 장치 및 플라즈마 발생 장치 | |
| US11574788B1 (en) | Ion source having a magnetic field translatable along an axis of the source | |
| JP7429154B2 (ja) | マイクロ波イオン源とそれを備えた粒子加速システム | |
| EP0095879B1 (en) | Apparatus and method for working surfaces with a low energy high intensity ion beam | |
| JP4900620B2 (ja) | Rf電子銃 | |
| JPH01209633A (ja) | 高速原子線源 | |
| JPS63281337A (ja) | 高速原子線源 | |
| JPH01313897A (ja) | 高速原子線源 | |
| JPH0757891A (ja) | イオン源 | |
| JPH01231299A (ja) | 高速原子線源 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| RD03 | Notification of appointment of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423 Effective date: 20180808 |
|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20180824 |
|
| RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20180809 |
|
| A871 | Explanation of circumstances concerning accelerated examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A871 Effective date: 20190327 |
|
| A975 | Report on accelerated examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971005 Effective date: 20190404 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20190416 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20190617 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20190723 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20190802 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6570144 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |