JP6574737B2 - 整合器及びプラズマ処理装置 - Google Patents
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Description
VR>VDC+VP …(1)
なお、プラズマ処理装置10の整合器において利用されるダイオードは、例えば1000V以上の逆方向耐電圧VRを有することが望ましい。
Claims (7)
- プラズマ処理装置のインピーダンス整合のための整合器であって、
可変容量を有する第1のダイオードを含み、高周波の入力端と高周波の出力端との間に設けられた直列部と、
可変容量を有する第2のダイオードを含み、前記入力端と前記出力端との間のノードとグランドとの間に設けられた並列部と、
前記第1のダイオード及び前記第2のダイオードのそれぞれに逆バイアス電圧を印加するように設けられた可変直流電源である複数の直流電源と、
を備え、
前記直列部は、前記第1のダイオードに直列接続された第1のコンデンサを更に含み、
前記並列部は、前記第2のダイオードに直列接続された第2のコンデンサを更に含み、
前記第1のコンデンサは、前記ノードと前記第1のダイオードとの間において接続されており、
前記第2のコンデンサは、前記グランドと前記第2のダイオードとの間に接続されており、
前記直列部は、
各々が可変容量を有するダイオードであり、前記第1のダイオードを含む複数の第1のダイオードであって、前記第1のコンデンサに対して前記出力端の側に設けられた、該複数の第1のダイオードと、
前記第1のコンデンサを含む複数の第1のコンデンサと、
を含み、
各々が、前記複数の第1のダイオードのうち一つの第1のダイオード、及び、前記複数の第1のコンデンサのうち前記一つの第1のダイオードに直列接続された一つの第1のコンデンサを含む複数の第1の素子群が、前記入力端と前記出力端との間で順に接続されており、
前記複数の直流電源のうち一つの直流電源は、前記複数の第1のダイオードに逆バイアス電圧を印加するように設けられている、
整合器。 - 前記複数の第1のダイオードのうち直列接続されている二つの第1のダイオードの間には、前記複数の第1のコンデンサのうち一つの第1のコンデンサが設けられている、請求項1に記載の整合器。
- 前記複数の第1のダイオードのうち逆直列で接続されている二つの第1のダイオードは直結されている、請求項1又は2に記載の整合器。
- 前記並列部は、
各々が可変容量を有するダイオードであり、前記第2のダイオードを含む複数の第2のダイオードであって、前記第2のコンデンサに対して前記ノードの側に設けられた、該複数の第2のダイオードと、
前記第2のコンデンサを含む複数の第2のコンデンサと、
を含み、
各々が、前記複数の第2のダイオードのうち一つの第2のダイオード、及び、前記複数の第2のコンデンサのうち前記一つの第2のダイオードに直列接続された一つの第2のコンデンサを含む複数の第2の素子群が、前記ノードと前記グランドとの間で順に接続されており、
前記複数の直流電源のうち別の一つの直流電源は、前記複数の第2のダイオードに逆バイアス電圧を印加するように設けられている、
請求項1〜3の何れか一項に記載の整合器。 - 前記複数の第2のダイオードのうち直列接続されている二つの第2のダイオードの間には、前記複数の第2のコンデンサのうち一つの第2のコンデンサが設けられている、請求項4に記載の整合器。
- 前記複数の第2のダイオードのうち逆直列に接続されている二つの第2のダイオードは直結されている、請求項4又は5に記載の整合器。
- チャンバを提供するチャンバ本体と、
高周波電源と、
前記チャンバ内でのプラズマの生成又はバイアスの生成のための電極であり、前記高周波電源に電気的に接続された電極と、
請求項1〜6の何れか一項に記載の整合器であって、前記高周波電源と前記電極の間に接続された、該整合器と、
を備えるプラズマ処理装置。
Priority Applications (6)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2016109001A JP6574737B2 (ja) | 2016-05-31 | 2016-05-31 | 整合器及びプラズマ処理装置 |
| PCT/JP2017/018458 WO2017208815A1 (ja) | 2016-05-31 | 2017-05-17 | 整合器及びプラズマ処理装置 |
| CN201780032809.4A CN109196960B (zh) | 2016-05-31 | 2017-05-17 | 匹配器及等离子体处理装置 |
| KR1020187037610A KR102345906B1 (ko) | 2016-05-31 | 2017-05-17 | 정합기 및 플라즈마 처리 장치 |
| US16/304,370 US10727028B2 (en) | 2016-05-31 | 2017-05-17 | Matching device and plasma processing apparatus |
| TW106117323A TWI751166B (zh) | 2016-05-31 | 2017-05-25 | 匹配器及電漿處理裝置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2016109001A JP6574737B2 (ja) | 2016-05-31 | 2016-05-31 | 整合器及びプラズマ処理装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2017216135A JP2017216135A (ja) | 2017-12-07 |
| JP6574737B2 true JP6574737B2 (ja) | 2019-09-11 |
Family
ID=60478552
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2016109001A Active JP6574737B2 (ja) | 2016-05-31 | 2016-05-31 | 整合器及びプラズマ処理装置 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US10727028B2 (ja) |
| JP (1) | JP6574737B2 (ja) |
| KR (1) | KR102345906B1 (ja) |
| CN (1) | CN109196960B (ja) |
| TW (1) | TWI751166B (ja) |
| WO (1) | WO2017208815A1 (ja) |
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| KR20240163504A (ko) | 2023-05-10 | 2024-11-19 | 가부시키가이샤 아도테쿠 프라즈마 테쿠노로지 | 리액턴스 가변회로 및 해당 회로를 구비한 임피던스 정합 장치 |
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| TWI723320B (zh) | 2018-01-11 | 2021-04-01 | 美商先驅能源工業公司 | 低功率pin型二極體驅動器 |
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-
2016
- 2016-05-31 JP JP2016109001A patent/JP6574737B2/ja active Active
-
2017
- 2017-05-17 WO PCT/JP2017/018458 patent/WO2017208815A1/ja not_active Ceased
- 2017-05-17 CN CN201780032809.4A patent/CN109196960B/zh active Active
- 2017-05-17 KR KR1020187037610A patent/KR102345906B1/ko active Active
- 2017-05-17 US US16/304,370 patent/US10727028B2/en active Active
- 2017-05-25 TW TW106117323A patent/TWI751166B/zh active
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR20190011776A (ko) | 2019-02-07 |
| WO2017208815A1 (ja) | 2017-12-07 |
| CN109196960B (zh) | 2021-02-02 |
| US20190180986A1 (en) | 2019-06-13 |
| JP2017216135A (ja) | 2017-12-07 |
| TW201811123A (zh) | 2018-03-16 |
| CN109196960A (zh) | 2019-01-11 |
| US10727028B2 (en) | 2020-07-28 |
| TWI751166B (zh) | 2022-01-01 |
| KR102345906B1 (ko) | 2022-01-03 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
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