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JP6586223B2 - 光変調器 - Google Patents
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Description

本発明は、光通信システムや光情報処理システムにおいて用いられる光変調器に関し、特に高速で光変調動作をさせる際に用いられる周波数特性の優れた光変調器に関する。
マッハツェンダ(MZ)型光変調器は、光導波路に入射した光を2つの導波路に1:1の強度で分岐し、分岐した光を一定の長さ伝搬させた後に、再度合波させる構造を持つ。2つに分岐された光導波路に設けられた位相変調部により2つの光の位相を変化させることで、光が合波されるときの光の干渉条件を変え、それにより光の強度や位相を変調することができる。光導波路近傍に配置された位相変調電極に変調電気信号を入力して光導波路に電圧を印加することで、光導波路を伝搬する光の位相を変化させることができる。
MZ型光変調器においては、光導波路を構成する材料として、LiNbO等の誘電体、またはInP、GaAs、Si等の半導体が用いられる。これらの材料により構成された光導波路近傍に電極を配置して、電極に変調電気信号を入力して光導波路に電圧を印加することで、光導波路を伝搬する光の位相を変化させる。光の位相を変化させる原理としては、LiNbOではポッケルス効果が主に用いられ、InP、GaAsではポッケルス効果や量子閉じ込めシュタルク効果(Quantum Confined Stark Effect:QCSE)が主に用いられ、Siではキャリアプラズマ効果が主に用いられる。
高速で低消費電力な光通信を行うためには、変調速度が速く、駆動電圧の低い光変調器が必要となる。10Gbps以上の高速で、数ボルトの振幅電圧での光変調を行うためには、高速の電気信号と位相変調器の中を伝搬する光の速度を整合させ、光及び電気信号を伝搬させながら相互作用を行うようにする進行波電極が必要となる。
進行波電極を用いて、電極の長さを数ミリメートルから数十ミリメートルにした光変調器が実用化されている(例えば非特許文献1参照)。進行波電極の光変調器では、電気信号や光導波路を伝搬する光の強度を落とさずに伝搬することができるよう、低損失で反射の少ない電極構造および光導波路構造が求められる。
また、MZ型光変調器には、光導波路をSiにより構成したSi光変調器がある。Si光変調器は、Si基板の表面を熱酸化した酸化膜(BOX)層上にSiの薄膜を張り付けたSOI(Silicon on Insulator)基板から構成される。Si光変調器は、SOI層を光が導波できるように、BOX層上にSi薄膜を細線に加工した後、p型・n型の半導体となるよう細線のSi薄膜にドーパントを注入し、光のクラッド層となるSiOの堆積、電極の形成等を行うことにより作製することができる。このとき、光導波路は光損失が小さくなるように設計・加工する必要がある。また、光の損失発生を小さく抑えるとともに、高速電気信号の反射や損失を小さく抑えるように、p型・n型のドーピング及び電極の作製を行う必要がある。
図1は、従来のSi光変調器の基本となる光導波路の断面構造図を示す。図1には、下部SiOクラッド層110と、下部SiOクラッド層110上に設けられたSi層120と、Si層120上に設けられた上部SiOクラッド層130とで構成された光導波路構造100が示されている。図1では、光は紙面垂直方向に伝搬するものとする。
図1に示すSi光変調器の光導波路構造100において、Si層120は、光を閉じ込めるために厚さに差があるリブ導波路と呼ばれる構造を取っており、中央の厚い部分のコア層となるリブ部101と、リブ部101の両側のスラブ部102及び103とから構成される。リブ部101は、周囲の下部SiO2クラッド層110及び上部SiOクラッド層130との屈折率差を利用して紙面垂直方向に伝搬する光を閉じ込めている。
Si層120のスラブ部102におけるリブ部101と反対側の端部は、高濃度p型半導体領域123となる。Si層120のスラブ部103におけるリブ部101と反対側の端部は、高濃度n型半導体領域124となる。Si層120のスラブ部102のリブ部101側と、リブ部101のスラブ部102側とは、中濃度p型半導体領域121となる。また、Si層120のスラブ部103のリブ部101側と、リブ部101のスラブ部103側とは、中濃度n型半導体領域122となる。
高濃度p型半導体領域123と中濃度p型半導体領域121との境界は接しており、高濃度n型半導体領域124と中濃度n型半導体領域122との境界も接している。これらの境界は重なり合ってドーピングがなされていても良い。また、リブ部101は、中濃度p型半導体領域121と中濃度n型半導体領域122とが接するpn接合構造となる。また、他の例として中濃度p型半導体領域121と中濃度n型半導体領域122との間にi型(真性)半導体領域が挟まれたpin接合構造としてもよい。
図1に示されていないが、高濃度p型半導体領域123に接する金属電極と高濃度n型半導体領域124に接する金属電極とを設け、pn接合部に金属電極よりRF(高周波)の変調電気信号とともに逆バイアス電界(図1では右から左)を印加する。これにより、光導波路構造100のコア層内部のキャリア密度を変化させ(キャリアプラズマ効果)、光導波路の屈折率を変えて、光の位相を変調することができる。
導波路寸法はコア/クラッドとなる材料の屈折率に依存するため、一意には決定できないが、図1に示されるような光導波路構造100のリブ部(コア層)101とスラブ部102及び103とを備えるリブ導波路の構造とした場合の一例を挙げると、リブ部101の幅(導波路コア幅)400〜600(nm)×高さ150〜300(nm)×スラブ部の厚さ50〜200(nm)×長さ数(mm)程度になる。
図2は、Si光変調器の構成を示す上面透視図である。図2に示すSi光変調器200は、シングル電極と呼ばれる構造のMZ型光変調器である(例えば非特許文献2参照)。図2に示すように、Si光変調器200は、入力光導波路211と、入力光導波路211から入力された光を分岐して導波する2本のアーム導波路212及び213と、アーム導波路212を導波した光とアーム導波路213を導波した光とを合波して出力する出力光導波路214とを備える。
アーム導波路212の基板縁側の脇には差動の変調電気信号(RF信号)を入力するための高周波線路(信号電極)221が形成されている。アーム導波路213の基板縁側の脇にも差動のRF信号を入力するための信号電極222が形成されている。アーム導波路212とアーム導波路213との間には共通のバイアス電圧を印加するためのDC電極223が形成されている。アーム導波路212及び213は、図1に示す光導波路構造100と同様の断面構造を持つ光導波路を左右対称に2つ並べた構造をしている。
図2に示すSi光変調器200では、入力光導波路211から入力された光は、アーム導波路212及び213に分岐される。アーム導波路212を導波する光は、信号電極221とDC電極223との間に印加される変調電気信号(RF信号)により位相変調される。アーム導波路213を導波する光は、信号電極222とDC電極223の間に印加される変調電気信号(RF信号)により位相変調される。アーム導波路212及びアーム導波路213を導波する位相変調された光は、結合されて出力光導波路214から出力される。
図3は、図2に示すSi光変調器200のIII−III断面構造図である。図3に示すように、Si光変調器200は、SiO2クラッド層110と、SiO2クラッド層110上に形成されたSi層120と、Si層120上に形成されたSiO2クラッド層130と、を備える。Si層120は、第1のコア層となる第1のリブ部101−1と、第2のコア層となる第2のリブ部101−2と、第1のリブ部101−1の第2のリブ部101−2とは反対側に配置された第1のスラブ部102−1と、第2のリブ部101−2の第1のリブ部101−1とは反対側に配置された第2のスラブ部102−2と、第1のリブ部101−1と第2のリブ部101−2との間に配置された第3のスラブ部103とから構成される。
第1のスラブ部102−1における第1のリブ部101−1とは反対側の端部は、高濃度p型半導体領域123−1となる。第1のスラブ部102−1の第1のリブ部101−1側と、第1のリブ部101−1の第1のスラブ部102−1側とは、中濃度p型半導体領域121−1となる。第3のスラブ部103の第1のリブ部101−1側と、第1のリブ部101−1の第3のスラブ部103側とは、中濃度n型半導体領域122−1となる。
また、第2のスラブ部102−2における第2のリブ部101−2とは反対側の端部は、高濃度p型半導体領域123−2となる。第2のスラブ部102−2の第2のリブ部101−2側と、第2のリブ部101−2の第2のスラブ部102−2側とは、中濃度p型半導体領域121−2となる。第3のスラブ部103の第2のリブ部101−2側と、第2のリブ部101−2の第3のスラブ部103側とは、中濃度n型半導体領域122−2となる。第3のスラブ部103における中濃度n型半導体領域122−1及び122−2の間は、高濃度n型半導体領域124となる。
信号電極221は高濃度p型半導体領域123−1に接している。信号電極222は高濃度p型半導体領域123−2に接している。DC電極223は高濃度n型半導体領域124に接している。DC電極223に信号電極221及び222に対してプラスの電圧を印加することで、DC電極223の両脇の2つのpn接合部に逆バイアスを印加することができる。
図4A及び図4Bは、図3に示すSi層120の半導体のドーピング状態と光変調時のバンドダイヤグラムとの関係を示す図である。図4AはIII−III断面におけるSi層120の半導体のドーピング状態を示し、図4Bは、光変調時のバンドダイヤグラムを示す。
図3に示すようなシングル電極のSi光変調器200では、信号電極221及び222とDC電極223とが電気的に独立しており、pn接合に逆バイアスを印加する際、信号電極221及び222への積極的なバイアス電圧印加が必要ではなくなる。このため、信号電極221及び222にバイアスを印加させるためのバイアスティや、ドライバICと信号電極221及び222との間に設置するDCブロックのためのコンデンサなどが不要になるなど、簡単に構成することができるというメリットを持つ。
なお、図3に示すSi光変調器200においては、信号電極221及び222が高濃度p型半導体領域121−1及び121−2に、DC電極223は高濃度n型半導体領域124に接する例で説明をしたが、信号電極がn型半導体領域に、DC電極がp型半導体領域に接しても良い。このとき、DC電極に印加するバイアス電圧は、信号電極に対してマイナスの電圧を印加することで、pn接合部に逆バイアスを印加することができる。
図2乃至図4Aに示されるようなシングル電極のSi光変調器においては、信号電極221及び222は、コプレーナ・ストリップ・ライン(Coplanar Strip Line:CPS線路)で形成されている。図5は、CPS線路の構造を示す平面図である。図5に示すCPS線路500においては、差動の電気信号が2本の高周波電極501及び502に入力されて伝搬する。電磁気学的には、図5に示されるように、高周波伝搬線路を高周波信号における電荷の密な部分が波のように移動する際、グラウンド電極または差動線路の対となる電極に、正負が逆の電荷の密な部分がクーロン相互作用により誘起される。その誘起された電荷が高周波信号と同様に移動するというモデルで理解することができる。CPS線路は、差動線路の対になる2本の電極で正と負の電荷が釣り合う、平衡線路の一つである。
図6は、図2に示すSi光変調器200のCPS線路の構造を示す平面図である。図6に示すように、Si光変調器200においては、CPS線路である2本の信号電極221及び222の間にDC電極223が挿入されている。高周波信号からのクーロン相互作用によって誘起される正・負の電荷は、DC電極223にも発生している。
五井一宏,小田研二,日下裕幸,小川憲介,Tsung-Yang Liow,Xiaoguang Tu,Guo-Qiang Lo,Dim-Lee Kwong,「Si Mach-Zehnderプッシュプル変調器の20Gbps二値位相変調特性」,2012年電子情報通信学会エレクトロニクスソサイエティ大会,C−3−50,2012. Po Dong, Long Chen, Young-kai Chen,「High-speed low-voltage single-drive push-pull silicon Mach-Zehnder modulators」 Opt. Express vol.20, no.6, pp.6163-6169, 2012. N. Wolf, L. Yan, J.-H. Choi, T. Kapa, S. Wunsch, R. Klotzer, K.-O. Velthaus, H.-G. Bach, M. Schell,「Electro-Optical Co-Design to Minimize Power Consumption of a 32 GBd Optical IQ-Transmitter Using InP MZ-Modulators」 in Compound Semiconductor Integrated Circuit Symposium (CSICS), 2015 IEEE, pp.1-4, 11-14 Oct. 2015
大容量の光通信を行うためには、高速で光変調可能な光変調器が必要となる。高速な光変調を行うためには、数百kHzから数十GHzの広い周波数帯域に渡って動作可能な周波数特性が必要とされる。
図7は、Si光変調器の信号電極付近に他の電極が存在した場合の説明図である。S1光変調器の信号電極付近に、別の信号電極あるいはDC電極などの導電性の構造物があると、図7に示すように、信号電極222を伝搬する高周波信号に誘起されて、信号電極222に近接した構造体内に正または負の電荷が密な箇所が発生する。構造体701内に誘起される電荷は、信号電極222を伝搬する高周波信号の伝搬と共に波のように位置を移動していく。
構造体701のサイズが高周波信号の波長の1/2の倍数に近いと、誘起された電荷の波が構造体701内部で共振する場合がある。構造体701内部で共振が起きた場合、信号電極221及び222を伝搬する高周波信号において、構造体701へのエネルギーの漏洩、反射の増大や透過損失の増大などの伝搬特性の劣化が生じる。この高周波信号の伝搬特性の劣化は、光変調器の周波数応答特性の劣化による、高速変調時の波形品質の劣化、送信光信号内あるいは送信・受信間の信号のクロストークの増大などの悪影響をもたらす。
このような悪影響を防止するために、信号電極221及び222の周辺には、別の信号電極あるいはDC電極などの導電性の構造物を配置しないという手段を取ることもできる。しかし、その場合、信号電極221及び222から離れた他の場所にDC電極などの導電性の構造物を配置することとなり、その分のスペースをとるとともに信号電極221及び222の周辺のスペースも空く。そのため、前述のバイアス電圧の変調器駆動用のドライバや受信器用の受光器、トランスインピーダンスアンプなどを高密度に集積することができなくなってしまう。
本発明は、このような問題に鑑みてなされたもので、その目的とするところは、信号電極の周辺にDC電極を配置した場合であっても、光変調器の高周波電極を伝搬する高周波信号における高周波電極近傍の電極との間の共振現象を抑制することで周波数応答特性の劣化を抑え、それにより高速変調時の波形品質が良く、送信光信号内あるいは送信・受信間の信号のクロストークを低減することが可能であり、様々な素子を高密度に集積可能な光変調器を提供することにある。
本発明の一実施形態に係るMZ型光変調器は、入力光導波路と、入力光導波路から入力された光を分岐して導波する2本のアーム導波路と、前記2本のアーム導波路をそれぞれ導波した光を合波して出力する出力光導波路と、前記2本のアーム導波路にそれぞれ並列に配置された、高周波信号を印加するための2本の信号電極と、前記2本の信号電極の間に設けられたバイアス電圧を印加するためのDC電極とを含むSi光変調器と、前記2本の信号電極と並列に配置され、前記Si光変調器の外側に発生する電界を結合させる位置に設けられたグラウンド電極であって、周囲の導体への信号の漏洩量を低減する少なくとも1つのグラウンド電極と、を備えたことを特徴とする。
本発明に係るMZ型光変調器においては、信号電極と並列にグラウンド電極が配置されていることにより、周囲の導体と相互作用する電界を減少させることが可能となる。これにより、信号電極の周辺にDC電極を配置した場合であっても、共振による高周波信号におけるエネルギーの漏洩、反射の増大や透過損失の増大などの伝搬特性の劣化を防止でき、光変調器の周波数応答特性の劣化による高速変調時の波形品質の劣化、送信光信号内あるいは送信・受信間の信号のクロストークの増大などの悪影響を改善することを可能としている。このため、高周波特性に優れ、波形品質の良く、様々な素子を高密度に集積可能な光変調器を提供することが可能となる。
図1は、従来のSi光変調器の光導波路の断面構造図である。 図2は、従来のMZ変調器を構成するSi光変調器の平面図である。 図3は、図2に示すSi光変調器の断面構造図である。 図4Aは、図2に示すSi光変調器の断面における半導体のドーピング状態を示す図である。 図4Bは、図2に示すSi光変調器の光変調時のバンドダイヤグラムである。 図5は、CPS線路の高周波信号の伝搬の様子を示した模式図である。 図6は、Si光変調器のCPS線路の高周波信号の伝搬の様子を示した模式図である。 図7は、Si光変調器のCPS線路の高周波信号の伝搬の様子と、CPS線路近傍の電極に誘起される電荷の様子を示した模式図である。 図8は、本発明の実施例1によるMZ型光変調器の構成を示す平面図である。 図9は、本発明の実施例1によるMZ型光変調器の構成を示す断面図である。 図10Aは、本発明の実施例2によるMZ型光変調器の構成を示す平面図である。 図10Bは、本発明の実施例2によるMZ型光変調器の構成の他の例を示す平面図である。 図11Aは、本発明の実施例3によるMZ型光変調器の構成を示す平面図である。 図11Bは、本発明の実施例3によるMZ型光変調器の構成の他の例を示す平面図である。 図11Cは、本発明の実施例3によるMZ型光変調器の構成の他の例を示す断面図である。 図12は、本発明の実施例4によるMZ型光変調器の構成を示す平面図である。 図13Aは、本発明の実施例4によるMZ型光変調器の構成を示す断面図である。 図13Bは、本発明の実施例4によるMZ型光変調器の構成の他の例を示す断面図である。 図14は、本発明の実施例5によるMZ型光変調器の構成を示す平面図である。 図15Aは、本発明の実施例5によるMZ型光変調器の構成を示す断面図である。 図15Bは、本発明の実施例5によるMZ型光変調器の構成を示す断面図である。 図16は、本発明の実施例6によるMZ型光変調器の構成を示す平面図である。
(実施例1)
図8は、本発明の実施例1によるMZ型光変調器の構成を示す平面図である。図8に示すように、本発明の実施例1に係るMZ型光変調器800は、シングル電極構造のSi光変調器200と、信号電極221に並列に配置されたグラウンド電極801と、信号電極222に並列に配置されたグラウンド電極801とを備える。Si光変調器200は、入力光導波路211と、入力光導波路211から入力された光を分岐して導波する2本のアーム導波路212及び213と、アーム導波路212を導波した光とアーム導波路213を導波した光とを合波して出力する出力光導波路214とを備える。Si光変調器200は、例えば、シングル電極と呼ばれる構造のMZ型光変調器とすることができる。
信号電極221及び222は、差動の高周波信号を印加するために、2本のアーム導波路にそれぞれ並列に配置されている。アーム導波路212とアーム導波路213との間には共通のバイアス電圧を印加するためのDC電極223が形成されている。
グラウンド電極801及び801は、信号電極221及び222と同じプロセスで作製される。グラウンド電極801及び801では、その両端をパッケージ等におけるグラウンド電極とワイヤ配線で接続することで、グラウンド電位を実現している。信号電極221及び222には、例えば一対の差動信号電圧を印加することができる。
図8に示すSi光変調器200では、入力光導波路211から入力された光は、アーム導波路212及び213に分岐される。アーム導波路212を導波する光は、信号電極221とDC電極223との間に印加されRF信号により位相変調される。アーム導波路213を導波する光は、信号電極222とDC電極223の間に印加されるRF信号により位相変調される。アーム導波路212及びアーム導波路213を導波する位相変調された光は、結合されて出力光導波路214から出力される。
信号電極221及び222に高周波信号が印加されている状況を、電荷発生モデルで表すと、図8に示すような電荷が誘起されていると考えることができる。図8に示されるように、信号電極221及び222上で誘起された電荷は、その周囲に作る電界によりグラウンド電極801及び801にそれぞれ逆符号の電荷を誘起する。このとき、信号電極221及び222上の電荷の周囲の電界のうち、Si光変調器200の外側に発生する電界の大部分はグラウンド電極801及び801に結合する。これにより、Si光変調器200の周囲に導体が配置されている場合に、導体付近の電界が減少するため、周囲の導体への信号の漏洩量を低減することができる。
図9は、本発明の実施例1によるMZ型光変調器の構成を示す断面図である。図9に示すように、本実施例では、グラウンド電極801及び801は、表面配線でSiOクラッド層130上に作製されているが、多層配線を用いてSiOクラッド層130内に作製してもよい。また、図8に示すように、本実施例では、グラウンド電極801及び801は長方形のものを採用しているが、どのような形状でもよく、プロセスにおいて作製が容易な形状など任意の形状を採用することができる。また、グラウンド電極801及び801は、複数に分割されていてもよく、その場合はそれぞれのグラウンド電極に対してパッケージなどからのグラウンド電極とそれぞれ、ワイヤ配線などで接続されている必要がある。さらに、本実施例では、信号電極221及び222に並列して2つのグラウンド電極801及び801を配置した例を示したが、信号電極221及び222の一方のみにグラウンド電極を配置する構成としてもよい。
(実施例2)
図10Aは、本発明の実施例2によるMZ型光変調器の構成を示す平面図である。図10Aに示すように、本発明の実施例2に係る光変調器は、2つのシングル電極構造のSi光変調器200及び200と、3本のグラウンド電極801、801及び801とで構成される。
図10Aに示されるように、Si光変調器200の信号電極221に並列にグラウンド電極801が配置され、Si光変調器200の信号電極222に並列にグラウンド電極801が配置される。また、Si光変調器200の信号電極221に並列にグラウンド電極801が配置され、Si光変調器200の信号電極222に並列にグラウンド電極801が配置される。つまり、グラウンド電極801は、Si光変調器200及び200の間に配置されている。グラウンド電極801、801及び801の両端はパッケージ等におけるグラウンドパッドにワイヤ配線等で接続されている。
実施例2においても、実施例1と同様に、Si変調器200及び200の外側に発生する電界の大部分がグラウンド電極801、801及び801に結合するため、Si光変調器200及び200の周囲に配置された導体と結合する電界を減少させることができる。実施例2によると、中央のグラウンド電極801を隣接するSi光変調器200及び200で共有しているため、実施例1の構成を独立に2つ構成した場合と比較してグラウンド電極の本数を減らすことができる。そのため、本実施例2では、Si光変調器のチップ上の面積を低減することができる。
なお、本実施例2では、2つのシングル電極構造のSi光変調器200及び200と、3本のグラウンド電極801、801及び801とで構成した例を示したが、図10Bに示すように、N個(Nは2以上の整数)のシングル構造のSi光変調器200乃至201と、N+1個のグラウンド電極801乃至801N+1とを用いて、Si光変調器間にグラウンド電極を設けて同様に構成してもよい。下記実施例3でも同様である。
(実施例3)
図11Aは本発明の実施例3によるMZ型光変調器の構成を示す平面図である。図11Aに示すように、本発明の実施例3に係る光変調器は、2つのシングル電極構造のSi光変調器200及び200と、3本のグラウンド電極801、801及び801とで構成されており、これらは実施例2と同様に配置されている。実施例3では、グラウンド電極801及び801の間、並びにグラウンド電極801及び801の間は、ワイヤ配線1101で複数点接続されている。Si光変調器200及び200の信号電極221及び222には差動信号が印加されている。
グラウンド電極には、信号電極221及び222を伝搬する高周波信号に誘起されて、正・負の電荷が密な箇所が発生する。グラウンド電極に誘起される電荷は、信号電極を伝搬する高周波信号の伝搬と共に位置を移動していくが、グラウンド電極のサイズが高周波信号の波長の1/2の倍数に近いと、誘起された電荷分布の波がグラウンド電極内部で共振する場合がある。よって、上記実施例1及び2で示した構成では、信号電極に印加される信号の周波数によってはグラウンド電極内で共振が起こってしまい、グラウンド電極がアンテナとなり、周囲に新たな電界を発生させてしまうという課題がある。
ここで、グラウンド電極が共振する条件を具体的に説明する。真空中の電磁波の伝搬速度は約3×10[m/s]であり、グラウンド電極の屈折率を3とすると、グラウンド電極内を伝搬する電磁波の伝搬速度は1×10[m/s]と見積もられる。このとき、グラウンド電極上の10GHzの高周波信号の波長は10mm程度となり、40GHzの高周波信号の波長は2.5mm程度となる。このため、例えば、グラウンド電極の長さが5mmの場合は、グラウンド電極の長さは10GHzの高周波信号の波長の1/2であることから、約10GHzの信号ではグラウンド電極内で共振を起こしてしまう。
実施例3によると、Si光変調器200及び200の信号電極221及び222には差動信号が印加されているので、構造の対称性から、両脇のグラウンド電極には、図11Aに示すように逆符号同量の電荷が誘起される。両脇のグラウンド電極間はワイヤ配線1101で接続されているため、発生した電荷により、ワイヤ配線1101に電流が流れ、グラウンド電極間の逆符号同量の電荷が互いに打ち消し合う。この効果により、グラウンド電極内における共振を防ぐことができる。
ここで、上述したようにグラウンド電極801及び801の間並びにグラウンド電極801及び801の間はワイヤ配線1101で複数点接続されているが、複数点間の接続間隔を高周波信号の波長の1/2以下にすることが好ましい。それにより、共振する長さが短くなることで駆動周波数での共振を抑制できる。但し、他のワイヤ配線1101の配置の都合などの理由によりこの間隔以下に設定することが困難な場合は、ワイヤ配線1101の間隔が部分的に高周波信号の波長の1/2以下ではない部分があってもよい。この場合でも、ワイヤ配線1101が高周波信号の波長の1/2以下の間隔で接続された部分では動作周波数での共振が起こらないので、大部分の共振を抑制する効果を得ることができる。すべての領域においてワイヤ配線1101の間隔を高周波信号の波長の1/2以下に設定することができない場合には、特定の周波数で強い共振が発生しないように複数のワイヤ配線1101の配置間隔を不等間隔とすればよい。
また、グラウンド電極に誘起される電荷量の絶対値は、信号進行方向軸上の位置に依る。そのため、接続点の位置が左右で大幅にずれてしまうと、上述の電荷同士が打ち消し合う効果が弱くなってしまい、共振を誘起しやすくなってしまう。従って、本実施例では、複数のワイヤ配線1101が、各々のグラウンド電極において信号の進行方向軸上ほぼ同一の位置を接続点として、グラウンド電極間を接続するように構成することが好ましい。
図11Aでは、ワイヤ配線1101を用いてグラウンド電極を複数点接続しているが、図11Bに示すように多層配線を用いてグラウンド電極間を複数点接続することができる。図11Bは、多層配線を用いてグラウンド電極間を複数点接続した、実施例3によるMZ型光変調器の構成の他の例を示す平面図である。図11Bに示されるように、隣接するグラウンド電極801及び801並びに801及び801同士は、多層配線1102を用いて接続されている。
図11Cは、図11Bに示すMZ型光変調器のXIC−XIC断面図である。図11Cに示されるように、多層配線1102は、グラウンド電極801乃至801や信号電極221及び222の下層であって、リブ部101などの光導波路層の上層に形成されている。図11B及び図11Cに示すMZ型光変調器において、多層配線1102とリブ部101が近接している場合には、光損失が発生してしまう。この損失の発生を防ぐため、多層配線1102は、リブ部101から0.6μm以上間隔を取った上層に形成することが望ましい。
(実施例4)
図12は、本発明の実施例4によるMZ型光変調器の構成を示す平面図である。図12に示すように、本発明の実施例4に係るMZ型光変調器は、シングル電極のSi光変調器200と、信号電極221に並列に配置されたグラウンド電極801と、信号電極222に並列に配置されたグラウンド電極801とを備る。Si光変調器200のDC電極223の周囲にはシールド部1200が形成されている。
図13Aは、本発明の実施例4によるMZ型光変調器の構成を示す断面図である。図13Aに示されるように、シールド部1200は、DC電極223として利用している層より上層に形成された上層配線1301と、上層配線1301より下層に形成された下層配線1302と、上層配線1301及び下層配線1302を接続するビア1303とで構成される。上層配線1301、下層配線1302及びビア1303は、電気的に接続され、DC電極223を少なくとも部分的に取り囲むように構成されている。これらの両端はパッケージ等のグラウンドに接続されている。
上述の電荷発生モデルで考えると、信号電極221及び222に印加される高周波信号により、DC電極223で共振が起こる可能性がある。DC電極223に共振が起こると、DC電極223に与えている電位が変化してしまうため、生成される光信号品質を劣化させてしまう。本実施例によると、DC電極223の上部及び左右に配置されたシールド部1200のシールド効果により、信号電極221及び222から発生する電界によってDC電極223の電位が不安定化することを抑制することができる。
本実施例では、シールド部1200について、DC電極223の上面と左右を覆う構成について述べたが、DC電極223の上面だけ覆う構成や、左右だけ覆う構成でも同様の効果を得ることが出来る。また、シールド部1200を部分的に配置しても、複数配置しても同様の効果を得ることができる。さらに、図13Bに示すように、DC電極223の上下左右を全てシールド部1200で覆うことも可能である。
(実施例5)
図14は、本発明の実施例5によるMZ型光変調器の構成を示す平面図である。図14に示すように、本発明の実施例5に係るMZ型光変調器1400は、Si光変調器200と、2本のグラウンド電極801及び801と、シールド部1403でシールドされたグラウンド配線1401及び1402とで構成される。
図15Aは、本発明の実施例5によるMZ型光変調器の構成のXVA−XVA断面図である。図15Bは、本発明の実施例5によるMZ型光変調器の構成のXVB−XVB断面図である。図15A及び図15Bに示されるように、シールド部1403は、表面配線1501と、下層配線1502と、表面配線1501及び下層配線1502を接続するビア1503とで構成される。図15Bに示されるように、中層配線であるグラウンド配線1401及び1402を表面配線1501、下層配線1502及びビア1503で少なくとも部分的に取り囲むことにより、グラウンド配線1401及び1402をシールドしている。また、図15Aに示されるように、グラウンド配線1401及び1402は、グラウンド電極801及び801と表面配線1501を介して部分的に接続されている。さらに、グラウンド配線1401及び1402とシールド部1403は、パッケージ等のグラウンドに接続されている。
本実施例によると、グラウンド配線1401及び1402はグラウンド電極801及び801と複数個所でそれぞれ結合しているため、グラウンド電極801及び801に誘起された電荷は、このグラウンド配線1401及び1402との各結合箇所を介してグラウンドに流れる。これにより、実施例3で議論した、グラウンド電極の共振現象を抑制することができる。また、グラウンド配線1401及び1402は、シールド部1403を用いて大部分がシールドされているため、外部電界の影響を受けることなく、安定なグラウンド電位を供給することができる。
なお、本実施例では、グラウンド配線1401及び1402を取り囲むようにシールド部1403を設けたが、ビアのみ、下層配線のみなどでシールドする場合も同様の効果を得ることが出来る。また、シールド部1403に加えて、DC電極223を取り囲むシールド部1200を加えた構成としてもよい。
(実施例6)
図16は、本発明の実施例6によるMZ型光変調器の構成を示す平面図である。図16に示すように、本発明の実施例6に係るMZ型光変調器1600は、実施例5に係るMZ型光変調器1400及び1400と、ドライバ1610と、で構成される。
図16に示されるように、ドライバ1610の電極パッド面は、MZ型光変調器1400及び1400の電極パッド面とほぼ同一平面上に配置されている。ドライバ1610の差動信号出力パッドと、MZ型光変調器1400及び1400の差動信号入力パッドがワイヤ配線1601で接続されている。また、ドライバ1610のグラウンドパッドは、MZ型光変調器1400及び1400のグラウンド配線1401及び1402の一端に接続されている。MZ型光変調器1400及び1400のグラウンド配線1401及び1402の他端は、ワイヤ配線1601を介してパッケージ(グラウンド)に接続されている。
本実施例では、ドライバ1610のグラウンドパッドは、MZ型光変調器1400及び1400のグラウンド配線1401及び1402のみに接続されているが、グラウンド配線1401及び1402、グラウンド電極801及び801並びにシールド部1200及び1403(図16では不図示)のうちの1つ又は複数に接続されていてもよい。
ここで、本実施例では、ドライバ1610として、オープンコレクタ型ドライバを用いることが好ましい。オープンコレクタ型ドライバとは、非特許文献3に記載されているように、ドライバの終端抵抗が集積されていない構造を持つドライバである。オープンコレクタ型ドライバを光変調器の駆動に用いることで、終端抵抗が集積された通常のドライバを用いた場合よりも、オープンコレクタ型ドライバと変調器での消費電力を削減することができることが報告されている。
また、オープンコレクタ型ドライバのグラウンドパッドは、基板の導電性により裏面に強固なグラウンド電位を持たせることができる一方で、Si光変調器は高抵抗基板を使用しているため、電極パッドのグラウンドをシリコンチップ内でとることが困難である。
本実施例では、ドライバ1610として、オープンコレクタ型ドライバを用いることで、オープンコレクタ型のドライバ1610の強固なグラウンド電位にグラウンド配線1401及び1402並びに/またはグラウンド電極801及び801と接続することで、グラウンド電極801及び801の電位を安定させることができる。そのため、グラウンド電極内での共振をさらに抑制することができる。
以上述べたように、本発明に係る光変調器においては、周囲の構造物との電磁相互作用をより小さくすることが可能となる。このため、信号電極の周辺にDC電極を配置した場合であっても、光変調器の周波数応答特性の劣化による、高速変調時の波形品質の劣化、送信光信号内あるいは送信・受信間の信号のクロストークの増大などの悪影響を改善することができる。よって、高周波特性に優れ、波形品質の良く、様々な素子を高密度に集積可能な光変調器を提供することが可能となる。
光導波路構造 100
リブ部 101
スラブ部102、103
下部SiOクラッド層 110
Si層 120
中濃度p型半導体領域 121
中濃度n型半導体領域 122
高濃度p型半導体領域 123
高濃度n型半導体領域 124
上部SiOクラッド層 130
Si光変調器 200
入力光導波路 211
光導波路 212、213
出力光導波路 214
信号電極 221、222
DC電極 223
構造体 701
MZ型光変調器 800、1400、1600
グラウンド電極 801
ワイヤ配線 1101、1601
多層配線 1102
シールド部 1200、1403
上層配線 1301
下層配線 1302、1502
ビア 1303、1503
グラウンド配線 1401、1402
表面配線 1501
ドライバ 1610

Claims (8)

  1. 入力光導波路と、入力光導波路から入力された光を分岐して導波する2本のアーム導波路と、前記2本のアーム導波路をそれぞれ導波した光を合波して出力する出力光導波路と、前記2本のアーム導波路にそれぞれ並列に配置された、高周波信号を印加するための2本の信号電極と、 前記2本の信号電極の間に設けられたバイアス電圧を印加するためのDC電極とを含むSi光変調器と、
    前記2本の信号電極と並列に配置され、前記Si光変調器の外側に発生する電界を結合させる位置に設けられたグラウンド電極であって、周囲の導体への信号の漏洩量を低減する少なくとも1つのグラウンド電極と、
    を備えたことを特徴とするMZ型光変調器。
  2. 前記Si光変調器は、並列にN(Nは2以上の整数)個配置され、
    前記グラウンド電極は、前記Si光変調器の両側に、並列にN+1個配置され、
    隣接する前記Si光変調器の間に設けられた前記グラウンド電極は、隣接する前記Si光変調器で共有されていることを特徴とする請求項1に記載のMZ型光変調器。
  3. 前記2本の信号電極に入力される前記高周波信号は、一対の差動信号であり、
    前記グラウンド電極は、少なくとも2つ以上配置されており、
    前記Si光変調器の両側に配置されたグラウンド電極同士が電気配線で複数点接続されていることを特徴する請求項1又は2に記載のMZ型光変調器。
  4. 前記複数点間の距離は、前記高周波信号の波長の1/2以下であることを特徴とする請求項3に記載のMZ型光変調器。
  5. 前記グラウンド電極に複数個所で接続されたグラウンド配線と、
    グラウンドに接続した多層配線及びビアを含み、前記グラウンド配線を少なくとも部分的に取り囲むシールド部と、
    をさらに備えたことを特徴とする請求項1から4のいずれか1項に記載のMZ型光変調器。
  6. グラウンドに接続した多層配線及びビアを含み、前記DC電極を少なくとも部分的に取り囲むシールド部をさらに備えたことを特徴とする請求項1から5のいずれか1項に記載のMZ型光変調器。
  7. 請求項1乃至4のいずれか1項に記載のMZ型光変調器と、
    前記MZ型光変調器と同一平面上に配置されたドライバと、
    を備えた光変調器であって、
    前記グラウンド電極が、前記ドライバ内に配置されているグラウンドパッドと電気配線を介して電気的に接続されていることを特徴とする光変調器。
  8. 請求項5に記載のMZ型光変調器と、
    前記MZ型光変調器と同一平面上に配置されたドライバと、
    を備えた光変調器であって、
    前記グラウンド電極、前記グラウンド配線及び前記シールド部のうちの1つ又は複数が、前記ドライバ内に配置されているグラウンドパッドと電気配線を介して電気的に接続されていることを特徴とする光変調器。
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