JP6606700B2 - 単結晶製造装置、単結晶製造装置用収容部材及び単結晶の製造方法 - Google Patents
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Description
また、熱伝導度が高いなどの優れた性能を有するため、大電力パワーデバイス、耐高温半
導体素子、耐放射線半導体素子、高周波半導体素子等への応用が可能である。シリコンが
材料自体の物性限界から性能向上も限界に近づきつつあるため、シリコンよりも物性限界
を大きくとれる炭化珪素が注目されている。近年は地球温暖化問題への対策となる、電力
変換時のエネルギーロスを低減する省エネルギー技術として、炭化珪素材料を使ったパワ
ーエレクトロニクス技術が期待を集めている。
その基盤技術として炭化珪素単結晶の成長技術の研究開発が精力的に進められ、実用化
の促進に向けて主に製造コスト低減の観点から大口径化及び長尺化技術の確立が急務となっている。
また、ガイド部材の孔部やガス通路の単結晶の成長速度の促進阻害や坩堝の上蓋に成長する多結晶の問題を解決するために、ガス通路を設けずかつ単結晶の成長に合わせてガイド部材の孔部を開閉できる構成(特許文献5)が提案されている。
従って、拡大成長部分の加工除去工程を行わずに、炭化珪素種結晶及び炭化珪素単結晶の周囲を保護材で覆うことができることが望ましい。
また、拡大成長部分の加工除去が必要であったとしても、その拡大成長部分の量が小さければ、拡大成長部分の加工除去工程は短時間で済む。
(1)坩堝内に配置された種結晶の成長面上に単結晶を成長させて単結晶を製造する単結晶製造装置であって、
前記坩堝の上蓋に上下方向にスライド可能に保持され、種結晶を収容可能な有底筒状の収容部材と、
前記坩堝の側壁に固定され、原料ガスを種結晶側に案内するガイド部材と、を備え、
前記ガイド部材は、少なくともその上端部の内側面が前記収容部材の内側面と上下方向でほぼ面一となるように配置する筒状部を有すると共に、その上端部が、前記収容部材の下端面から下方に突出した単結晶の外側面の成長面側を囲繞するように配置可能であり、
前記収容部材の側壁の下端面と前記ガイド部材の上端面との間の隙間を、単結晶製造時に0.1〜1.0mmとすることできる、ことを特徴とする単結晶製造装置。
(2)前記収容部材の側壁の下端に、その側壁から前記上蓋に対してほぼ平行に外方に延在する鍔部を備える、ことを特徴とする(1)に記載の単結晶製造装置。
(3)前記鍔部が、前記収容部材の側壁から4〜10mm外方に延在している、ことを特徴とする(2)に記載の単結晶製造装置。
(4)前記単結晶の外側面とその外側面を囲繞する前記ガイド部材の上端部の内側面との間の隙間が0.1〜1.5mmである、ことを特徴とする(1)〜(3)のいずれか一つに記載の単結晶製造装置。
(5)単結晶製造装置用の種結晶を収容可能な有底筒状の収容部材であって、その側壁の下端に、その側壁から外方に延在する鍔部を備える、ことを特徴とする単結晶製造装置用収容部材。
(6)坩堝内に配置した種結晶の成長面上に単結晶を成長させて単結晶を製造する方法であって、
前記坩堝の上蓋に上下方向にスライド可能に、種結晶を収容した有底筒状の収容部材と、
前記坩堝の側壁に固定され、原料ガスを種結晶側に案内するガイド部材であって、少なくともその上端部の内側面が前記収容部材の内側面と上下方向でほぼ面一となるように配置する筒状部を有するガイド部材とを用い、
前記収容部材の側壁の下端面と前記ガイド部材の上端面との間の隙間が0.1〜1.0mmとなるようにし、
前記ガイド部材を、その上端部が単結晶の外側面の成長面側を囲繞するように配置した状態で単結晶の成長を行う、ことを特徴とする単結晶の製造方法。
(7)前記収容部材として、その側壁の下端(開放端)に、側壁から前記上蓋に対してほぼ平行に外方に延在する鍔部を備えるものを用いる、ことを特徴とする(6)に記載の単結晶の製造方法。
本発明の収容部材については以下の単結晶製造装置の説明と併せて説明する。
以下では、炭化珪素(SiC)単結晶を念頭に置いて説明するが、本発明は、気相成長法を用いて製造できる他の単結晶(例えば、窒化ガリウム(GaN)単結晶、窒化アルミニウム(AlN)単結晶等)についても適用できる。
図1〜図5を参照して、本発明の第1の実施形態を適用した単結晶製造装置の構造について説明する。図1は単結晶製造装置の概略構成を示す断面模式図であり、図2はその単結晶製造装置が備える坩堝の概略構成を示す断面模式図であり、図3は筒状の継ぎ足し部材を収容部材の側壁の下端部に接続した構成を示す模式図であり、図4はその坩堝の上部の一部を示す拡大図であり、図5は図2に示した坩堝の上部を、種結晶及びその上に成長した単結晶と併せて示した拡大図である。
上蓋10aには、種結晶及びその成長面上に成長する単結晶を収容する収容部材1を上下方向にスライド可能に保持できると共に、収容部材1の外径とほぼ同一径を有する貫通孔10aaが中心部に形成されている。
坩堝本体10bは、筒状の側壁10baと底部10bbとからなる。
坩堝本体10bの側壁10baには、原料ガスを種結晶側に案内するガイド部材2が固定されている。
収容部材1の底部1aの内側である内底面1aaに種結晶Wが固定され、収容部材1は種結晶Wと共に、種結晶W上に成長した単結晶の一部を収容することができる。
なお、収容部材の上下方向のスライドは単結晶の成長を行いながら実施してもよい。
継ぎ足し部材を接続するタイミングは、収容部材1の下端面1bbaから下方に突出した単結晶の長さが10〜50mmとなったときに行うのが好ましい。長さが10mm以下の場合は継ぎ足し成長の効果が小さく、継ぎ足し部材の継ぎ足しも困難である。
収容部材の接続ははめ込み、螺合、カーボン接着材などによる接着などの方法を用いることができる。
ここで、「ほぼ面一」とは、厳密に面一であることを要さず、本発明の効果を奏する範囲で面一からずれていてもよい。例えば、面一から0.3mm以下の範囲で平行にずれた配置関係であってもよいし、また、互いに0.5°以下の範囲で非平行であってもよい。
この隙間が0.1mm以上であれば、ガイド部材2の内側面への多結晶の堆積を十分に抑制できる程度に、この隙間からガスが十分に抜け出ることができる。また、1.0mm以下であれば、隙間からガスが抜けることによる単結晶の外側面の凹みあるいは段差、マクロ欠陥の生成を十分に抑制することができる。単結晶の外側面に凹みや段差が発生すると、その部分で昇華が生じ、それが中空の欠陥となり、欠陥内で昇華・再析出が生じてマクロ欠陥となってしまう。
凹みあるいは段差、マクロ欠陥を完全に阻止することは技術的に困難であり、またコストの観点からも完全に阻止することを目指すことは得策とは言えない場合もあり、得られた単結晶の広い領域が製品として使用することができれば足りることが多い。そこで、本発明で、単結晶の外側面に生成してしまう凹みあるいは段差、マクロ欠陥を十分に抑制できるとは、従来技術の場合に比べてかかる凹みあるいは段差、マクロ欠陥を低減できることをいう。また、目安でいえば、好ましくは得られた単結晶のうち、90%以上が製品として使用できることをいい、より好ましくは、95%以上が製品として使用できることをいう。なお、外側面に生成された凹みあるいは段差、マクロ欠陥は視認することが可能であるが、その凹みあるいは段差、マクロ欠陥に起因して形成された内部の欠陥により製品として使用できない場合もあるが、上述した割合はかかる欠陥も含めた割合である。
この隙間が0.1mm以上であれば、ガイド部材を損傷させることなく設置することができる。また、この隙間が1.5mm以下であれば、拡大を抑制でき、割れのおそれを低減することができる。
ガイド部材2をタンタルカーバイド(TaC)で被覆された黒鉛(グラファイト)からなるものとする場合は、少なくとも種結晶側を向いた面をタンタルカーバイドで被膜すると有効である。タンタルカーバイド(TaC)で被覆するのは、黒鉛のカーボンをむき出しにした場合、原料ガスとカーボンが反応して、成長中の単結晶の中にカーボンがインクルージョンとして入ってしまい、品質が低下するのでそれを防止するためであり、種結晶側を向いた面だけでもタンタルカーバイドで被膜しておけば、この品質低下を防止できるからである。
図6は、収容部材1の下端面とガイド部材2の上端面との間の隙間が大きすぎる場合に、単結晶の外側面にできてしまう凹みあるいは段差を模式的に示す図である。この隙間を有することにより、ガイド部材に多結晶が掲載されるのを抑制することはできるが、隙間が大きすぎる場合には、単結晶の外側面に品質に大きな影響を与えるほどの凹みあるいは段差ができてしまう。この凹みあるいは段差は他の欠陥を誘発する。
第1の実施形態に係る単結晶製造装置を用いた単結晶の製造方法について説明する。
まず、坩堝10内に原料P(例えば、SiC粉末)を充填し、収容部材1の内底面1aaに種結晶Wを固定する。
次に、収容部材1を、その側壁1bの下端面1bbaが、ガイド部材2の上端面2aabとの隙間が0.1〜1.0mmになると共に、その内側面1baがガイド部材2の上端部2aaの内側面2aaaと上下方向でほぼ面一となるように位置調整を行って配置する。
次に、原料Pを加熱して、種結晶Wの成長面Wa上に単結晶Sを成長させる。単結晶Sが成長していって、収容部材1の側壁1bの下端面1bbaから下方に突き出てくる程度の長さになると、単結晶Sの外側面Saの成長面側Saaの一部はガイド部材2の上端部2aaに囲繞される状態となる。
次に、単結晶Sが収容部材1の側壁の下端面から下方へ、限定するものではないが例えば、10〜50mm程度突き出る程度の長さになったら、単結晶の成長を一旦中断して、収容部材1の結晶成長方向の長さを延長するために継ぎ足し部材をつける。その際、その継ぎ足し部材の下端面が、ガイド部材2の上端面2aabとの隙間が0.1〜1.0mmになると共に、その内側面がガイド部材の上端部の内側面と上下方向でほぼ面一となるように位置調整を行う。
継ぎ足し部材の接続ははめ込み、螺合、カーボン接着材などによる接着などの方法を用いることができる。単結晶成長後に一旦収容部材を取り外し、新たな収容部材を付け直して継ぎ足し成長を行ってもよい。
次に、単結晶の成長を再開する。
必要に応じて、坩堝10内に原料Pを追加したり、あるいは新原料に交換してもよい。
新たな継ぎ足し部材の接続や原料Pの追加又は交換を必要に応じて必要な回数だけ行うことができる。
図7は、本発明の第2の実施形態を適用した単結晶製造装置が備える坩堝の概略構成図である。第2の実施形態を適用した単結晶製造装置は坩堝以外、第1の実施形態を適用した単結晶製造装置と同様である。
すなわち、図7に示すように、坩堝20が備える収容部材21は、底部21aと底部に対して垂直に立設する側壁21bとを有する有底筒状の部材であり、その側壁21の下端にその側壁から上蓋20aに対してほぼ平行に外方に延在する鍔部21cを備えている。
鍔部の下側の面(原料側の面)が上蓋に対してほぼ平行であれば足りる。
ここで、「ほぼ平行」とは、厳密に平行であることまでは要せず、本発明の効果を奏する範囲で平行からずれていてもよく、例えば0.5°以下の範囲で非平行であってもよい。
延在する長さが4mm未満である場合には、単結晶の外側面の凹みあるいは段差が発生し、またそれを起点とするマクロ欠陥が多数発生することがある。また、延在する長さが10mmを超える場合には、収容部材の下端面とガイド部材の上端面との間の隙間や、鍔部に、多結晶が形成されることがある。
図8に示す例では、収容部材の側壁は底部側の部分と鍔部を有する側の部分とからなり、長さを延長する前に底部側の部分21baと鍔部を有する側の部分21bbとからなる収容部材21(図8(a))のうち、鍔部を有する側の部分21bbを、図8(b)のように、側壁の長さを長いもの21bb’に交換した収容部材21’とすることにより、収容部材全体の長さを延長することができる。
図8に示す例では、収容部材の側壁が底部側の部分と鍔部を有する側の部分の2つの部分からなり、そのうち、鍔部を有する側の部分の長さをより長いものに交換することにより、収容部材全体の長さを長くしたが、収容部材の側壁が底部側の部分と鍔部を有する側の部分とさらにそれらの部分をつなぐ接続部分の3つ部分からなり、その接続部分の長さをより長いものに交換することにより、収容部材全体の長さを長くしてもよい。接続部分が2つ以上からなる場合にもその接続部分の一部をより長いものに交換することにより、収容部材全体の長さを長くしてもよい。
第2の実施形態に係る単結晶製造装置を用いた単結晶の製造方法についても、第1の実施形態に係る単結晶製造装置を用いた場合と同様に行うことができる。
実施例1で用いた単結晶製造装置は図7に示した構成のものである。坩堝は、黒鉛製の基材からなる円筒形部材で、内径は100mmであり、高さは250mmであった。また、収容部材の側壁の長さ(内側面の長さ)は30mmであり、収容部材の側壁の下端面とガイド部材の上端面との間の隙間は0.25mmであり、鍔部の、前記収容部材の側壁から外方への延在長さは4mmであった。
炭化珪素単結晶の成長は、図2に示した構成の単結晶製造装置を用いて行った。
坩堝の下部に炭化珪素原料粉末を収容し、収容部材内に直径76mm(3インチφ)、厚さ0.8mmの炭化珪素種結晶をカーボン接着剤を用いて貼り付けた。
次いで、坩堝を窒素(N2)、アルゴン(Ar)減圧不活性雰囲気中で2100〜2400℃に加熱した。この際,炭化珪素原料粉末側の温度を炭化珪素種結晶側の温度よりも20〜200℃高く設定し、温度差を駆動力として、種結晶上に炭化珪素単結晶を析出させた。収容部材の側壁の下端面から10mm程度、単結晶が突き出たところで成長をやめて一旦取出し、側壁の長さ(内側面の長さ)が50mmの新たな収容部材を付け直して、成長を続け、厚さ60mmの炭化珪素単結晶を得た。
図中の符号31で示す点線は継ぎ足し界面を示す。ここで、継ぎ足し界面とは、最後に行った結晶成長の成長開始面である。
収容部材の側壁の下端面とガイド部材の上端面との間の隙間近傍の部分に外径が異なる領域(段差部(図中の符号32))はあるものの、得られた単結晶の広い領域で製品として使えなくするようなマクロ欠陥はなく、高品質で長尺な単結晶の成長を行うことができた。段差部の段差(凹み)は0.5mm以下であった。
実施例2では、実施例1で用いた単結晶製造装置と、鍔部を有さない坩堝を用いた点以外は同じ単結晶製造装置を用い、単結晶の成長条件を同じであった。
図中の符号31で示す点線は継ぎ足し界面を示す。また、符号33で示す線はマクロ欠陥を示すものである。
実施例2では、段差部(図中の符号32)は実施例1よりも大きく、また、外側面にマクロ欠陥が発生したが、成長を続けてもさらにマクロ欠陥領域が拡がることはなかった。段差部の段差(凹み)は約1mmであった。また、多結晶は生成していなかった。
比較例では、実施例1で用いた単結晶製造装置と、鍔部を有さず、かつ、収容部材の側壁の下端面とガイド部材の上端面との間の隙間が1.5mmである坩堝を用いた点以外は同じ単結晶製造装置を用い、単結晶の成長条件を同じであった。
図中の符号31で示す点線は継ぎ足し界面を示す。また、符号33で示す線はマクロ欠陥を示すものである。
比較例では、外側面に実施例2よりも凹みの深い段差部(図中の符号32)が形成され、また、実施例2よりもより大きなマクロ欠陥が発生し、成長を続けるとさらにマクロ欠陥領域が拡がった。図11で示した段差部の段差(凹み)は約2mmであった。図11で示したマクロ欠陥以外にも、外側面に多数のマクロ欠陥が発生した。
1a 底部
1b 側壁
1bb 下端部
1bba 下端面
1c 継ぎ足し部材
2 ガイド部材
2a 筒状部
2aa 上端部
2aaa 内側面
2aab 上端面
2b 支持部
10、20 坩堝
10a 上蓋
10b 坩堝本体
100 単結晶製造装置
W 種結晶
S 単結晶
Claims (6)
- 坩堝内に配置された種結晶の成長面上に単結晶を成長させて単結晶を製造する単結晶製造装置であって、
前記坩堝の上蓋に上下方向にスライド可能に保持され、種結晶を収容可能な有底筒状の収容部材と、
前記坩堝の側壁に固定され、原料ガスを種結晶側に案内するガイド部材と、を備え、
前記ガイド部材は、少なくともその上端部の内側面が前記収容部材の内側面と上下方向でほぼ面一となるように配置する筒状部を有すると共に、その上端部が、前記収容部材の下端面から下方に突出した単結晶の外側面の成長面側を囲繞するように配置可能であり、
前記収容部材の側壁の下端面と前記ガイド部材の上端面との間の隙間を、単結晶製造時に0.1〜1.0mmとすることできる、ことを特徴とする単結晶製造装置。 - 前記収容部材の側壁の下端に、その側壁から前記上蓋に対してほぼ平行に外方に延在する鍔部を備える、ことを特徴とする請求項1に記載の単結晶製造装置。
- 前記鍔部が、前記収容部材の側壁から4〜10mm外方に延在している、ことを特徴とする請求項2に記載の単結晶製造装置。
- 前記単結晶の外側面とその外側面を囲繞する前記ガイド部材の上端部の内側面との間の隙間が0.1〜1.5mmである、ことを特徴とする請求項1〜3のいずれか一つに記載の単結晶製造装置。
- 坩堝内に配置した種結晶の成長面上に単結晶を成長させて単結晶を製造する方法であって、
前記坩堝の上蓋に上下方向にスライド可能に、種結晶を収容した有底筒状の収容部材と、
前記坩堝の側壁に固定され、原料ガスを種結晶側に案内するガイド部材であって、少なくともその上端部の内側面が前記収容部材の内側面と上下方向でほぼ面一となるように配置する筒状部を有するガイド部材とを用い、
前記収容部材の側壁の下端面と前記ガイド部材の上端面との間の隙間が0.1〜1.0mmとなるようにし、
前記ガイド部材を、その上端部が単結晶の外側面の成長面側を囲繞するように配置した状態で単結晶の成長を行う、ことを特徴とする単結晶の製造方法。 - 前記収容部材として、その側壁の下端に、側壁から前記上蓋に対してほぼ平行に外方に延在する鍔部を備えるものを用いる、ことを特徴とする請求項5に記載の単結晶の製造方法。
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