JP6658768B2 - 固体撮像素子の製造方法及び固体撮像素子 - Google Patents
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Description
固体撮像素子は、光電変換素子の上方に設けるカラーフィルタによってカラー化を図っている。また、固体撮像素子の光電変換素子が光電変換に寄与する領域(開口部)は、固体撮像素子のサイズや画素数に依存する。その開口部は、固体撮像素子の全面積に対し、20〜50%程度に限られている。開口部が小さいことはそのまま光電変換素子の感度低下につながることから、固体撮像素子では感度低下を補うために光電変換素子上に集光用のマイクロレンズを形成することが一般的である。
カラーフィルタパターンを固体撮像素子上に形成する方法としては、通常は特許文献1のように、フォトリソグラフィプロセスによりパターンを形成する手法が用いられる。
さらに、特許文献3や特許文献4には、全ての色のカラーフィルタパターンをドライエッチングによって形成する方法が記載されている。
近年、800万画素を超える高精細CCD撮像素子への要求が大きくなり、これら高精細CCDにおいて付随するカラーフィルタパターンの画素サイズとして1.4μm×1.4μmを下回るレベルの撮像素子への要求が大きくなっている。しかしながら、画素サイズを小さくすることにより、フォトリソグラフィプロセスにより形成されたカラーフィルタパターンの解像性が不足し、固体撮像素子の特性に悪影響を及ぼすという問題が生じている。例えば、一辺が1.4μm以下、あるいは1.1μmや0.9μm近傍の寸法からなる固体撮像素子では、解像性の不足がパターンの形状不良に起因する色むらとなって現れるおそれがある。
また、満足する分光特性を得ようとすると、カラーフィルタの層の厚さが厚くならざるを得ない。しかしながら、カラーフィルタの層の厚さが厚くなると、画素の微細化が進むに従って、カラーフィルタパターンの角が丸まるなど解像度が低下する傾向となる。カラーフィルタパターンの層の厚さを薄くし且つ分光特性を得ようとすると、カラーフィルタパターン用材料に含まれる顔料濃度を上げる必要がある。しかしながら、顔料濃度を上げると光硬化反応に必要な光がカラーフィルタパターンの層の底部まで届かず、カラーフィルタの層の硬化が不十分となる。このため、フォトリソグラフィにおける現像工程でカラーフィルタの層が剥離し、画素欠陥が発生するという問題がある。
カラーフィルタパターンの高精細化により、カラーフィルタパターンの膜厚は、製造工程上の問題だけではなく、固体撮像素子としての特性にも影響する。カラーフィルタパターンの膜厚が厚い場合、画素の斜め方向から入射した光が特定色のカラーフィルタによって分光されたのち、隣接する他のカラーフィルタパターン部及び光電変換素子に入光する場合がある。この場合、混色が生じてしまう問題が発生する。この混色の問題は、カラーフィルタパターンの画素サイズが小さくなり、画素サイズと膜厚とのアスペクト比が大きくなるにつれて顕著になる。また、入射光の混色という問題は、光電変換素子が形成された基板上に平坦化層等の材料を形成することで、カラーフィルタパターンと光電変換素子との距離が長くなる場合にも顕著に生じる。このため、カラーフィルタパターンやその下部に形成される平坦化層等の膜厚の薄膜化が重要となる。
上述のように、従来のカラーフィルタパターン用材料に感光性を持たせてフォトリソグラフィプロセスにより形成されるカラーフィルタパターンは、高精細化が進むことにより、カラーフィルタパターンの薄膜化も求められる。この場合、顔料成分の含有割合が増えることから、感光性成分を十分な量含有できず、解像性が得られない、残渣が残りやすい、画素剥がれが生じやすいという問題があり、固体撮像素子の特性を低下させる課題があった。
本発明は、上述の課題に鑑みてなされたものであって、混色を低減した高精細な固体撮像素子の製造方法及び固体撮像素子、並びにカラーフィルタの製造方法及びカラーフィルタを得ることを目的とする。
1.第一の実施形態
(1−1)固体撮像素子の構成
本発明の第一の実施形態に係る固体撮像素子は、図1に示すように、二次元的に配置された複数の光電変換素子11を有する半導体基板10と、半導体基板10の上方に配置された複数のマイクロレンズ18と、半導体基板10とマイクロレンズ18との間に設けられた複数色のカラーフィルタ14、15、16と、複数色のカラーフィルタ14、15、16のそれぞれの間に設けられた隔壁17と、を備えている。また、第一の実施形態に係る固体撮像素子は、半導体基板10の表面に部分的に形成された下層平坦化層12と、カラーフィルタ14、15、16の上面に設けられた上層平坦化層13を備えている。第一の実施形態に係る固体撮像素子では、複数色のカラーフィルタ14、15、16のうちから選択した一色のカラーフィルタである第一のカラーフィルタ14の側壁部に設けられた隔壁17は、第一のカラーフィルタ14に含まれる第一のカラーフィルタ用材料とドライエッチングガスとの反応生成物を含んでいる。
ここで、最も面積が大きくなるカラーフィルタ14を第一のカラーフィルタとすることが好ましいが、第一のカラーフィルタを別のカラーフィルタから構成しても良い。
以下、固体撮像素子の各部について詳細に説明する。
光電変換素子11は、光を電気信号に変換する機能を有している。
光電変換素子11が形成されている半導体基板10は、一般的に表面の保護及び平坦化を目的として、最表面が保護膜で形成されている。半導体基板10は、可視光を透過可能で、且つ、少なくとも300℃程度の温度プロセスに耐えられる材料で形成されている。このような材料としては、例えば、Si、SiO2等の酸化物及びSiN等の窒化物、並びにこれらの混合物等、Siを含む材料等が挙げられる。半導体基板10において表面保護膜は、例えば、1nm以上1μm以下程度の膜厚で形成されている。
マイクロレンズ18は、半導体基板10の上方に配置され、半導体基板10に二次元配置された複数の光電変換素子11毎に設けられる。マイクロレンズ18は、マイクロレンズ18に入射した入射光を光電変換素子11のそれぞれに集光させることにより、光電変換素子11の感度低下を補うことができる。
下層平坦化層12は、半導体基板10の表面保護及び平坦化のために設けられた層である。すなわち、下層平坦化層12は、光電変換素子11の作製による半導体基板10の上面の凹凸を低減し、カラーフィルタ14、15、16を形成するためのカラーフィルタ用材料の密着性を向上させる。また、本実施形態において、下層平坦化層12は、下層平坦化層12を構成する材料が隔壁形成用材料の供給源として機能する。すなわち、下層平坦化層12は、ドライエッチング時に、ドライエッチングガスと反応して隔壁となる反応生成物を形成するための材料を供給することができる。
半導体基板10の最表面が上述したSiを含む組成物で形成されている場合、下層平坦化層12は、例えばアクリル系樹脂、エポキシ系樹脂、ポリイミド系樹脂、フェノールノボラック系樹脂、ポリエステル系樹脂、ウレタン系樹脂、メラミン系樹脂、尿素系樹脂及びスチレン系樹脂等の樹脂を一又は複数含んだ樹脂により形成される。また、下層平坦化層12は、これらの樹脂に限らず、波長が400nmから700nmの可視光を透過し、カラーフィルタ14、15、16のパターン形成や密着性を阻害しない材料であれば、いずれも用いることができる。
ただし、下層平坦化層12を設けることにより、マイクロレンズ18から半導体基板10までの距離が長くなる、すなわち光電変換素子11に入る光の光路長が長くなる。このため、可能であれば下層平坦化層12は省略することが好ましい。
上層平坦化層13は、カラーフィルタ14、15、16及び隔壁17の上面を平坦化するために設けられた層である。
上層平坦化層13は、例えばアクリル系樹脂、エポキシ系樹脂、ポリイミド系樹脂、フェノールノボラック系樹脂、ポリエステル系樹脂、ウレタン系樹脂、メラミン系樹脂、尿素系樹脂、スチレン系樹脂等の樹脂を一又は複数含んだ樹脂により形成される。なお、上層平坦化層13は、カラーフィルタ14、15、16及び隔壁17の上面が平坦であれば、必ずしも設けなくてもよい。
カラーフィルタ14、15、16は、入射光を色分解する各色に対応するフィルタである。カラーフィルタ14、15、16は、半導体基板10とマイクロレンズ18との間に設けられ、複数の光電変換素子11のそれぞれに対応するように予め設定された規則で配置されている。
図2に、各色のカラーフィルタ14、15、16及び各カラーフィルタ14、15、16の間に形成する隔壁17の配列を平面的に示す。図2に示す配列は、いわゆるベイヤー配列であり、四隅が丸みをおびた四角形状のカラーフィルタ14、15、16のパターン(第一、第二及び第三のカラーフィルタパターン14b、15b、16b)を敷き詰めた配列である。
カラーフィルタ14、15、16は、所定の色の顔料と、熱硬化性樹脂等の樹脂材料とを含んでいる。例えば、カラーフィルタ14はグリーン顔料を含み、カラーフィルタ15はレッド顔料を含み、カラーフィルタ16はブルー顔料を含んでいる。
隔壁17は、複数色のカラーフィルタ14、15、16のそれぞれの間に設けられている。本実施形態では、第一のカラーフィルタパターン14b及びブリッジ部14cの側壁部に設けられた隔壁17により、第一のカラーフィルタ14と第二、第三のカラーフィルタ15、16のそれぞれを分けることができる。
隔壁17は、第一のカラーフィルタ14に含まれる第一のカラーフィルタ用材料と、第一のカラーフィルタ14を形成する際に用いるドライエッチングガスとの反応生成物を含んでいる。
次に、図4及び図5を参照して、本発明の第一の実施形態の固体撮像素子の製造方法について説明する。
図4(a)に示すように、二次元的に配置された複数の光電変換素子11を有する半導体基板10を準備し、その表面に、下層平坦化層12を形成する。下層平坦化層12は、例えば上述したアクリル系樹脂等の樹脂材料を一つもしくは複数含んだ樹脂や、酸化化合物、窒化化合物等の化合物により形成される。
下層平坦化層12は、上述した樹脂材料を塗布して加熱を行い硬化させる方法によって形成される。また、下層平坦化層12は、上述した化合物の膜を、蒸着、スパッタ、CVD等の各種方法で成膜することにより形成される。
次に、図2(b)に示す半導体基板10上に形成した下層平坦化層12の表面に、固体撮像素子で最も形成面積の大きい第一のカラーフィルタ14の前駆体となる第一のカラーフィルタ膜14dを形成する工程について説明する。
なお、下層平坦化層12が形成されない場合、第一のカラーフィルタ膜14dは半導体基板10の表面に形成される。この場合には、上記の下層平坦化層形成工程は省略される。
また、樹脂材料として光硬化性樹脂材料を用いた場合、従来手法のカラーフィルタ用材料に感光性を持たせて露光することで所望のパターンを直接形成する場合と異なり、塗布膜全面を硬化させれば良いため、感光性成分の含有量を低下させることが出来る。このため、従来手法のカラーフィルタ用材料に比べて、第一の顔料の添加濃度を高くすることが可能となり、薄膜で且つ所望の分光特性を得られる第一のカラーフィルタ14を形成しやすくなる。
次に、下層平坦化層12の表面に塗布した第一のカラーフィルタ用材料の硬化処理を行う。硬化方法としては公知の方法を用いることができる。例えば、第一のカラーフィルタ用材料の樹脂材料として熱硬化性樹脂を用いる場合には加熱により、第一のカラーフィルタ用材料の樹脂材料として光硬化性樹脂を用いる場合には紫外線等の光照射により、第一のカラーフィルタ用材料の硬化を行うことができる。
以上のようにして第一のカラーフィルタ用材料の硬化処理を行うことにより、第一のカラーフィルタの前駆体となる第一のカラーフィルタ膜14dを形成する(図4(b)参照)。
次に、図4(c)から図4(e)に示すように、前工程で形成した第一のカラーフィルタ膜14d上に開口部を有するエッチングマスクを形成する。
まず、図4(c)に示すように、第一のカラーフィルタ膜14dの表面に、感光性樹脂マスク材料を塗布して乾燥し、感光性樹脂マスク層20aを形成する。
次に、図4(d)に示すように、感光性樹脂マスク層20aに対してフォトマスク(図示せず)を用いて露光し、必要なパターン以外が現像液に可溶となる化学反応を起こす。
この際、開口部20cは、図2に示すような、四隅が丸みをおびた四角形状に形成される。これにより、第一のカラーフィルタ14が、四角形状の第一のカラーフィルタパターン14aの四隅がブリッジ部14cで繋がっているような形状に形成される。第一のカラーフィルタ14がこのような形状を有することで、固体撮像素子の光学特性が向上し、また、フォトリソグラフィにより第二、第三のカラーフィルタ15、16を形成しやすくなる。なお、ブリッジ部14cをエッチングで作製する際、横方向にエッチングが入る可能性があるため、あらかじめ横方向へのエッチング量を想定して、感光性樹脂マスク層20aの膜厚を調整することが望ましい。
この際用いるフォトレジストは、ドライエッチング耐性の高いものが望ましい。ドライエッチング時のエッチングマスク材として用いる場合は、エッチング部材とのエッチング速度である選択比を向上させるために、現像後にポストベークと呼ばれる熱硬化工程が用いられることが多い。しかし、熱硬化工程が含まれると、ドライエッチング後に、エッチングマスクとして用いた残留レジストの除去工程での除去が困難となることがある。このため、フォトレジストとしては、熱硬化工程を用いなくてもエッチング部材との間で選択比が得られるものが好ましい。また、良好な選択比が得られない場合、フォトレジスト材料の膜厚を厚く形成する必要があるが、フォトリソグラフィによる微小パターン形成が困難となる。このため、フォトレジストとしては、ドライエッチング耐性が高い材料が好ましい。
またこの際に用いるフォトレジストとしては、ポジ型レジスト又は、ネガ型レジストのどちらでも問題ない。しかしながら、エッチング後のフォトレジスト除去を考えると、外部要因により、化学反応が進み硬化する方向に変化するネガ型レジストよりも、化学反応が進み溶解する方向に化学反応が起こりやすいポジ型レジストが望ましい。
以上のようにして、エッチングマスクが形成される。
次に、図4(f)から図4(h)に示すように、エッチングマスク20及びドライエッチングガスを用いたドライエッチングにより、開口部20cから露出する第一のカラーフィルタ膜14dの一部分を除去して第一のカラーフィルタ14を形成する。
図4(f)に示すように、エッチングマスク20を用いて、第一のカラーフィルタ膜14dに対してドライエッチングを行う。ドライエッチングの手法としては、例えば、ECR、平行平板マグネトロン、DRM、ICP、あるいは2周波タイプのRIE(Reactive Ion Etching)等が挙げられる。エッチング方式については特に制限されないが、幅数mm以上の大面積パターンや数百nmの微小パターン等パターンの大きさや面積が異なってもエッチングレートや、エッチング形状が変わらないように制御できる方式のものが望ましい。また100mmから450mm程度のサイズのSiウエハ全面で、面内で均一にドライエッチングできる制御機構のドライエッチング手法を用いることが望ましい。
図4(g)に示すように、半導体基板10表面に達するまで第一のカラーフィルタ膜14dのドライエッチングを行った後、エッチングマスク20を除去することで図4(h)に示すように、第一のカラーフィルタ14を形成することができる。本実施形態において、第一のカラーフィルタ14の下部には、下層平坦化層12の一部が残存する。
また、本実施形態においては、半導体基板10の表面がポリシリコン、SiO2等の酸化膜又はSiN等の窒化膜等のSiを含む材料で保護及び平坦化されている場合、光電変換素子の特性に影響を与えない範囲で半導体基板10の表面をエッチングしても構わない。なお、光電変換素子の特性に影響を与えない範囲の厚みとは、例えば0nm以上30nm以下程度である。
また、下層平坦化層12にSiを含んだ層を用いていない場合には、この半導体基板10の保護及び平坦化の役割を有するSiを含む膜をエッチングすることで、Siを含んだ反応生成物を隔壁17として形成することができる。また、下層平坦化層12にSiを含んだ層を用いた場合は、光電変換素子に影響を与える可能性が多少でも生じるため、半導体基板10を出来るだけエッチングしないことが望ましい。
次に図4(f)から図4(h)に示すように、第一のカラーフィルタ膜14dをドライエッチングする際に形成される反応生成物を、カラーフィルタ14、15、16のそれぞれの間に設けられる隔壁17として形成する。隔壁17は、第一のカラーフィルタ用材料とドライエッチングガスとの反応生成物により形成される。この際、異方性のあるエッチングを行う場合は、ドライエッチングによる反応生成物が側壁部へ付着して形成される側壁保護層の制御が重要となる。また、ドライエッチング条件により、反応生成物の付着の仕方及び付着の量は変化する。
また、本実施形態では、ベイヤー配列を想定しているため、第一のカラーフィルタ14としてグリーンのカラーフィルタを想定している。本実施形態の方法では、カラーフィルタ用材料の感光性成分を無くす、又は少なくすることが可能なため、第一のカラーフィルタとなるグリーンのカラーフィルタ用材料の屈折率を制御することが可能であり、本実施形態で形成する隔壁や、赤、青のカラーフィルタとの間での屈折率を制御することが容易となる。
本実施形態では、ベイヤー配列を想定しており、グリーンの顔料を含むカラーフィルタ用材料をエッチングして、その反応生成物を用いて隔壁17を作製する。一般的に用いられているグリーン顔料には、銅や亜鉛等の金属成分が含まれている。このため、今回想定しているエッチングガスとの反応生成物は、エッチングの際、揮発しにくく除去しにくい反応生成物となり、隔壁17には亜鉛や銅の金属が多く含まれる。そのため、隔壁17の幅が薄い場合でも隔壁17に含まれる金属元素を含有する膜により光が遮られ隔壁17を設けることによる混色防止効果が大きく現れる。このため、微細化が進んでいる固体撮像素子で求められる幅200nm以下の隔壁17を形成し易い利点がある。特に、反応生成物によって形成される隔壁17は、50nm以下程度の幅で形成でき、金属成分を含んでいることで、遮光性も必要な性能を満たせる効果がある。
一方、化学反応量を減らして、イオンによる物理的衝撃を用いた反応を多く利用することで、第一のカラーフィルタ14の側壁への反応生成物の堆積量(付着量)を増加することが可能となる。例えば使用するドライエッチングガスとしては、ヘリウム(He)、ネオン(Ne)、アルゴン(Ar)、クリプトン(Kr)、及びキセノン(Xe)等の希ガスが考えられ、特にヘリウムやアルゴンが望ましい。しかし、化学反応量を少なくした場合は、エッチングマスク20へのダメージが考えられる。また、化学反応が少ない場合、エッチングレートが遅くなる問題がある。
次の段階では、反応性の少ない希ガスを全ガス流量の80%以下とし、且つフッ素系ガスや、酸素系ガス等の反応性を有するガス又はこれらを複数混合させたガスが混合されたドライエッチングガスを用いてエッチングを行う。このとき、希ガスの量は、全ガス流量の70%以下であることがより好ましく、50%以下であることがさらに好ましい。
次に、第二、第三のカラーフィルタ15、16の第二、第三のカラーフィルタパターン15b、16bを形成するために、図4(h)に示すように、1色目である第一のカラーフィルタパターン14bを形成するために用いたエッチングマスク20を除去する。エッチングマスク20の除去方法としては、例えば薬液や溶剤を用いることで第一のカラーフィルタ14に影響の出ないように、残留しているエッチングマスク20を溶解、剥離する方法が挙げられる。あるいは、光励起や酸素プラズマによる感光性樹脂の灰化技術であるアッシング技術を用いる方法により、エッチングマスク20を除去することができる。また、これらの方法を組み合わせて用いることもできる。なお、1色目である第一のカラーフィルタ膜14dに影響の出ない方法を用いることが望ましい。
次に、図5(a)からず5(e)に示すように、第一のカラーフィルタ14とは異なる色の顔料を含む第二、第三のカラーフィルタ15、16を形成する。第二、第三のカラーフィルタ15、16のパターンの作製方法は、大きく分けて2つの手法を用いることができる。
第一の手法は、第一のカラーフィルタ14をガイドパターンとして、第二、第三のカラーフィルタ15、16を、光硬化性樹脂を含んだ感光性カラーフィルタ用材料を用いて形成し、従来手法で選択的に露光してパターンを形成する手法である。
はじめに、第二以降のカラーフィルタのパターンを形成する第一の手法について図5(a)から図5(h)を用いて説明する。
第一の手法は、第二のカラーフィルタ15用に感光性を持たせたカラーフィルタパターン用材料(カラーレジスト)を用いる。すなわち、開口部20cが形成された第一のカラーフィルタ14表面に、第一の顔料とは異なる色の顔料を含む第二のカラーフィルタ用材料となる着色感光性樹脂組成物を塗布した後、第二のカラーフィルタ用材料の第二のカラーフィルタ15を形成する部分に対して、フォトマスクを用いた露光を行い、現像をした後、第二のカラーフィルタ膜の一部を光硬化させてパターニングすることにより第二のカラーフィルタ15を形成する。その後、第二のカラーフィルタ15の形成と同様な方法にて第三のカラーフィルタ16を形成する。
次に、図5(b)に示すように、第二のカラーフィルタ用材料の第二のカラーフィルタ15を形成する部分に対して、フォトマスクを用いて露光を行い、第二のカラーフィルタ膜15dの一部を光硬化させる。
次に、図5(d)に示すように、第三のカラーフィルタ用材料を半導体基板10の全面に塗布して第三のカラーフィルタ膜16dを形成する。
次に、図5(f)のように、感光性の第三のカラーフィルタ膜16dを現像し、露光されていない第三のカラーフィルタ膜16dの一部を除去する。次に、露光を行った第三のカラーフィルタ膜16dの一部と半導体基板10との密着性向上や実デバイス利用での耐性を向上させるために、高温加熱での硬化処理を行うことで残存した第三のカラーフィルタ膜16dを硬化させる。これにより、第三のカラーフィルタパターン16bを有する第三のカラーフィルタ16が形成される。
なお、この第二のカラーフィルタ15以降のパターン形成工程を繰り返すことで、所望の色数のカラーフィルタを形成することができる。
また、ドライエッチングによるパターニング技術を用いてマイクロレンズを形成する方法は、先ず、最終的にマイクロレンズとなる透明樹脂層をカラーフィルタ上に形成する。次に、その透明樹脂層の上に熱フロー法によってマイクロレンズの母型(レンズ母型)を形成する。そして、そのレンズ母型をマスクとして、ドライエッチングの手法によってレンズ母型形状を透明樹脂層に転写するという方法である。レンズ母型の高さや材料を選択することによってエッチングレートを調整することで、適正なレンズ形状を透明樹脂層に転写することができる。
以上により、本実施形態の固体撮像素子が完成する。
感光性カラーレジストを用いる技術は従来のカラーフィルタパターンの製造技術である。ここで、第二のカラーフィルタ15は、第一のカラーフィルタ14に形成した開口部20c内に形成されるため、第一のカラーフィルタ14をガイドパターンに用いて形成される。各カラーフィルタ用材料に感光性を持たせる場合でも、従来のように解像性を重視したカラーレジストとする必要はない。このため、光硬化性樹脂中の光硬化成分を少なくすることができるため、カラーフィルタ用材料中の顔料の割合を多くでき、カラーフィルタ14、15、16の薄膜化に対応できる。また、第一のカラーフィルタ14が覆っている面積が大きいため、第二のカラーフィルタ用材料による残渣を低減できる効果がある。
次に、第二以降のカラーフィルタのパターンを形成する第二の手法について図6(a)から図6(h)を用いて説明する。第二の手法は、第二、第三のカラーフィルタ15、16で用いる第二、第三のカラーフィルタ膜15d、16dを、感光性を持たせないカラーフィルタ用材料で形成する場合について図を用いて説明する。
図6(a)に示すように、第一のカラーフィルタ14が形成された基板の全面に対して、第二のカラーフィルタ用材料の塗布を行う。この際用いる第二のカラーフィルタ用材料は、感光性を持たせず、加熱により硬化する熱硬化型の樹脂材料を用いる。第二のカラーフィルタ用材料は感光性を持たないため、前述しているように、感光性成分の添加が不要となり顔料濃度を濃くすることができる。このため、第二のカラーフィルタ15の膜厚の制御、及び屈折率の制御等が容易となる。この後、第二のカラーフィルタ用材料を硬化して第二のカラーフィルタ膜15dを形成するため、高温での加熱を行う。加熱温度はデバイスに影響の出ない範囲での加熱が好ましく、具体的には300℃以下で有り、更に240℃以下が好ましい。
続いて、図6(c)、図6(d)に示すように、第三のカラーフィルタ16を配置する場所が開口するように露光、現像を行い、パターン20bを形成する。パターン20bを形成した感光性樹脂マスク層20aを現像してパターン20bを除去することにより、開口部20cを設けてエッチングマスク20を形成する。
続いて、図6(e)に示すように、開口部20cを設けたエッチングマスク20を用いたドライエッチング技術を用いて、第二のカラーフィルタ膜15dの領域の中で、第三のカラーフィルタ16を配置するために不要となる部分を除去して開口部15eを形成する。この際、エッチングマスク20に対しては、加熱や紫外線照射等の硬化処理を行ってもよい。図6(f)に示すように、エッチングマスク20を溶剤による剥離、洗浄、光励起又は酸素プラズマによる灰化処理であるアッシング等の公知の除去方法により除去する。これにより、第三のカラーフィルタ16が形成される位置に開口部15eが設けられており、それ以外の位置に、第一のカラーフィルタ14と第二のカラーフィルタ15が形成されている。
第四以降のカラーフィルタを形成する場合、第二、第三のカラーフィルタ15、16と同様にカラーフィルタ用材料の塗布、硬化処理を行う。この後で、パターニングを行って開口部を設けた感光性樹脂材料をエッチングマスク20としてドライエッチングを行い、余分な感光性樹脂マスク層20aを除去することで、複数色のカラーフィルタを形成することができる。
また、上述した第二の手法は、ドライエッチングを複数回繰り返す形成方法である。第二の手法では、第二のカラーフィルタ15以降のカラーフィルタ用材料に感光性成分を持たせず熱硬化成分を持たせ、全面に塗布して熱硬化を行う。そして、感光性のカラーフィルタ膜を、残存させたい第二のカラーフィルタ15以降の上にエッチングマスクとして形成して、第二のカラーフィルタ15以降もドライエッチングで作製する。これらの2つの手法は、同じ工程を繰り返すことで、第二、第三のカラーフィルタを形成しているが、所望の分光特性が得られるならば、これらの工程を組み合わせて用いても良い。
4色以上の複数色のカラーフィルタを製造する場合は、第三のカラーフィルタ以降は上述した第二のカラーフィルタ15の形成工程と同様の処理を繰り返すことで形成することができる。また、最後の色のカラーフィルタを形成する工程で上述の第三のカラーフィルタ16の形成工程と同様の処理を行う。これにより、4色以上の複数色のカラーフィルタを製造することができる。
第一の実施形態に係る発明は、以下の効果を有する。
(1)第一のカラーフィルタ14と第二、第三のカラーフィルタ15、16との間、及び第二、第三のカラーフィルタ15、16同士の間に隔壁17が設けられるため、表示画素における混色を低減することができる。
(2)本実施形態に係る固体撮像素子の製造方法によれば、第二以降のカラーフィルタ形成時のドライエッチング工程において生成され、第一のカラーフィルタの側壁に付着した反応生成物を、各色のカラーフィルタを仕切る隔壁(第1の壁部分)として用いることができる。
(4)本実施形態に係る固体撮像素子の製造方法によれば、第一のカラーフィルタ14をガイドパターンとして用いて、高温の加熱処理により第二以降のカラーフィルタ材料を硬化させる。このため、第二以降のカラーフィルタ材料の下側に下層平坦化層が無くても半導体基板とカラーフィルタとの密着性を向上させることができる。
(6)本実施形態に係る固体撮像素子の製造方法によれば、第一のカラーフィルタ膜形成工程において、感光性成分を含まず、かつ第一の顔料を濃度70質量%以上含む第一のカラーフィルタ用材料を用いている。このため、第一のカラーフィルタ用材料に従来の感光性カラーレジストを用いたフォトリソグラフィプロセスでは硬化不充分になってしまう濃度の顔料が混合されていても、第一のカラーフィルタを精度良く、残渣や剥がれもなく形成することができる。
以下、図7及び図8を参照して、本発明の第二の実施形態に係る固体撮像素子及び固体撮像素子の製造方法について説明する。
(2−1)固体撮像素子の構成
第二の実施形態に係る固体撮像素子は、半導体基板上に隔壁を形成する反応生成物の材料供給源となる隔壁材料層が設けられている点に特徴を有している。第一のカラーフィルタをエッチングにより形成する際に、第一のカラーフィルタ材料とドライエッチングガスとの反応生成物による隔壁の他に、隔壁材料層の材料とドライエッチングガスとの反応生成物を用いて、隔壁を形成することができる。
隔壁材料層30は、第一のカラーフィルタ14の下部に設けられた、可視光を透過する層である。隔壁材料層30は、例えば、半導体基板10上に設けられ、380nmから700nmの可視光を透過する透明な層である。隔壁材料層30は、隔壁27を形成する際に、隔壁27における第二の壁部分となる材料を供給する層である。すなわち、隔壁27は、隔壁材料層30に含まれる隔壁用材料とドライエッチングガスとの反応生成物を含む第二の壁部分27bを有する。
第二の実施形態における隔壁27は、第一のカラーフィルタ14、下層平坦化層12及び隔壁材料層30の側壁に設けられている。隔壁27は、第一のカラーフィルタ用材料とドライエッチングガスとの反応生成物を含む第一の壁部分27aと、隔壁材料層30の側壁に設けられた、隔壁材料層30に含まれる隔壁用材料とドライエッチングガスとの反応生成物を含む第二の壁部分27bと、を備えている。また、隔壁27は、下層平坦化層12に含まれる下層平坦化層材料とドライエッチングガスとの反応生成物も含む第三の壁部分も有する。このように、第二の実施形態における隔壁27は、第一の壁部分27aの下方に第二の壁部分27bを有する。
また、隔壁27の幅は、200nm以下であることが好ましく、隔壁自体の真上から入射する光を考慮すると100nm以下であることがより好ましい。また、要求される屈折率及び遮光性を有するのであれば、隔壁27の幅は50nm程度であることがさらに好ましい。隔壁27の幅は、上述したとおり、隔壁材料層30の組成及び膜厚により調整される。
次に、図8を参照して、本発明の第二の実施形態の固体撮像素子の製造方法について説明する。
図8(a)に示すように、二次元的に配置された複数の光電変換素子11を有する半導体基板10を準備し、その表面に、波長380nmから700nmの可視光が透過可能な透明な隔壁材料層30を所定の厚さで形成する。隔壁材料層30は、SiO2等の酸化膜の場合は、SOG(Spin On Glass)等を塗布して加熱を行い硬化する方法や蒸着、スパッタ、CVD等の各種の成膜方法で形成することができる。また、膜厚透過率を満たすことができる前述の隔壁材料層は各種成膜方法を用いて形成することができる。
次に、図8(c)から図8(f)に示すように、第一のカラーフィルタ膜14dを形成し、その上に感光性樹脂マスク層20aを形成し、露光、現像工程を行うことでパターニングを行う。これにより、エッチングマスク20を形成する。ここで用いる工程、条件、材料については、前述した第一の実施形態の図4(b)から図4(e)の工程と同様である。
なお、第二、第三のカラーフィルタ15、16、上層平坦化層13及びマイクロレンズ18は、第一の実施形態の図5(a)から図5(h)に示す各工程と同様の工程により形成することができる。
4色以上の複数色のカラーフィルタを形成する場合についても、第一の実施形態で説明した方法と同様にして形成することができる。すなわち、下部に下層平坦化層12及び隔壁材料層30が設けられた第一のカラーフィルタ14を形成後、第三のカラーフィルタ以降は上述した第二のカラーフィルタ15の形成工程と同様の処理を繰り返すことで形成する。また、最後の色のカラーフィルタを形成する工程で上述の第三のカラーフィルタ16の形成工程と同様の処理を行う。これにより、4色以上の複数色のカラーフィルタを製造することができる。
第二の実施形態に係る発明は、第一の実施形態に記載した各効果に加えて、さらに以下の効果を有する。
(7)固体撮像素子の半導体基板上に隔壁を形成する反応生成物の材料供給源となる隔壁材料層の組成及び膜厚を調整することで、隔壁の屈折率及び反射率を調整することが容易となる。
以下、図9及び図10を参照して、本発明の第三の実施形態に係る固体撮像素子及び固体撮像素子の製造方法について説明する。
(3−1)固体撮像素子の構成
第三の実施形態に係る固体撮像素子は、半導体基板上に隔壁を形成する反応生成物の材料供給源となる隔壁材料層が、複数のカラーフィルタそれぞれの下部に設けられている点に特徴を有している。第三の実施形態に係る固体撮像素子では、第二、第三のカラーフィルタの下部にも隔壁材料層が設けられている点で、第二実施形態の固体撮像素子とは相違する。
隔壁材料層40は、第一、第二、第三のカラーフィルタ14、15、16の下部に設けられた、可視光を透過する層である。隔壁材料層40は、第一、第二、第三のカラーフィルタ14、15、16の下部において連続している。隔壁材料層40は、隔壁27の底部が半導体基板10まで達しないように形成されており、隔壁27の底部と半導体基板10との間には隔壁材料層40が存在している。すなわち、固体撮像素子の製造方法において、第二、第三のカラーフィルタ15、16を形成する位置の第一のカラーフィルタ膜14dをエッチングする際に、隔壁材料層40を完全にエッチングしないことで、第三の実施形態に係る固体撮像素子を得ることができる。
また、隔壁材料層40を構成する隔壁用材料は、第二の実施形態に記載の材料を用いることができる。
次に、図8を参照して、本発明の第三の実施形態の固体撮像素子の製造方法について説明する。
図10(a)から図10(f)に示す半導体基板10の表面に下層平坦化層12及び第一のカラーフィルタ膜14dを設け、その上にエッチングマスク20を形成する工程は、第二の実施形態の図8(a)から図8(f)と同様であるため、説明を省略する。
次に、図10(g)から図10(i)に示すように、エッチングマスク20を用いて、第一のカラーフィルタ膜14dに対してドライエッチングを行い、第一のカラーフィルタ膜14dのパターニングを行う。ドライエッチングに用いるエッチングガスについては、第一、第二の実施形態と同様である。
続いて、図10(j)に示すように、半導体基板10表面に達する前に隔壁材料層40のドライエッチングを終えた後、エッチングマスク20を除去することで、第一のカラーフィルタ14及び隔壁27を形成することができる。本実施形態において、第一のカラーフィルタ14の下部には、下層平坦化層12及び隔壁材料層40の一部が残存する。
なお、第二、第三のカラーフィルタ15、16、上層平坦化層13及びマイクロレンズ18は、第一の実施形態の図5(a)から図5(h)に示す各工程と同様の工程により形成することができる。
4色以上の複数色のカラーフィルタを形成する場合についても、第一の実施形態で説明した方法と同様にして形成することができる。すなわち、下部に下層平坦化層12及び隔壁材料層40が設けられた第一のカラーフィルタ14を形成後、第三のカラーフィルタ以降は上述した第二のカラーフィルタ15の形成工程と同様の処理を繰り返すことで形成する。また、最後の色のカラーフィルタを形成する工程で上述の第三のカラーフィルタ16の形成工程と同様の処理を行う。これにより、4色以上の複数色のカラーフィルタを製造することができる。
第三の実施形態に係る発明は、第一、第二の実施形態に記載した各効果に加えて、さらに以下の効果を有する。
(8)隔壁材料層は、その一部がエッチングにより除去されているが、完全には除去されずに半導体基板を覆っているため、エッチング工程における半導体基板の損傷を防止し、半導体基板の表面を保護する。
以下、図11及び図12を参照して、本発明の第四の実施形態に係る固体撮像素子及び固体撮像素子の製造方法について説明する。
(4−1)固体撮像素子の構成
第四の実施形態に係る固体撮像素子は、第二の実施形態と同様に、半導体基板上に隔壁を形成する反応生成物の材料供給源となる隔壁材料層が設けられている点に特徴を有している。第一のカラーフィルタをエッチングにより形成する際に、第一のカラーフィルタ材料とドライエッチングガスとの反応生成物による隔壁の他に、隔壁材料層の材料とドライエッチングガスとの反応生成物を用いて、隔壁を形成することができる。
本発明の第四の実施形態に係る固体撮像素子は、図11にその断面構造を示すように、二次元的に配置された複数の光電変換素子11を有する半導体基板10と、マイクロレンズ18とを備えている。また、第四の実施形態に係る固体撮像素子は、半導体基板10とマイクロレンズ18との間に設けられた複数色のカラーフィルタ14、15、16と、カラーフィルタ14、15、16のそれぞれの間に設けられた隔壁17と、半導体基板10上に設けられた下層平坦化層12と、カラーフィルタ14、15、16及び隔壁17の表面上に設けられた上層平坦化層13と、を備えている。さらに、第四の実施形態に係る固体撮像素子は、半導体基板10とマイクロレンズ18との間に設けられた隔壁材料層30を備えており、隔壁材料層30は、半導体基板10上に設けた下層平坦化層12の上に形成される。
次に、図12を参照して、本発明の第四の実施形態の固体撮像素子の製造方法について説明する。
図12(a)に示すように、二次元的に配置された複数の光電変換素子11を有する半導体基板10を準備し、その表面に、下層平坦化層12を形成する。続いて、図12(b)に示すように下層平坦化層12の表面に、波長380nmから700nmの可視光が透過可能な透明な隔壁材料層30を所定の厚さで形成する。
この後、図12(c)から図12(j)に示すように、第一のカラーフィルタ膜14dを形成し、その表面にエッチングマスク20を形成して、エッチングを行った後、エッチングマスク20を除去して第一のカラーフィルタ14及び隔壁17を形成する。本実施形態において、第一のカラーフィルタ14の下部には、隔壁材料層30の一部及び下層平坦化層12が残存する。
なお、第二、第三のカラーフィルタ15、16、上層平坦化層13及びマイクロレンズ18は、第一の実施形態の図5(a)から図5(h)に示す各工程と同様の工程により形成することができる。
4色以上の複数色のカラーフィルタを形成する場合についても、第一の実施形態で説明した方法と同様にして形成することができる。すなわち、下部に下層平坦化層12及び隔壁材料層30が設けられた第一のカラーフィルタ14を形成後、第三のカラーフィルタ以降は上述した第二のカラーフィルタ15の形成工程と同様の処理を繰り返すことで形成する。また、最後の色のカラーフィルタを形成する工程で上述の第三のカラーフィルタ16の形成工程と同様の処理を行う。これにより、4色以上の複数色のカラーフィルタを製造することができる。
図11には、第二及び第三のカラーフィルタを形成するために、第一のカラーフィルタ膜14dのエッチングを半導体基板10が露出するまで行っているが、このような構成に限定されるものではない。例えば、エッチング深さを、隔壁材料層30の途中までとしてもよい。
第四の実施形態に係る発明は、第二の実施形態に記載した効果と同様の効果を得ることができる。
(9)固体撮像素子の半導体基板上に隔壁を形成する反応生成物の材料供給源となる隔壁材料層の組成及び膜厚を調整することで、隔壁の屈折率及び反射率を調整することが容易となる。
<実施例1>
前述したように第二から第四の実施形態では、光電変換素子が形成されている半導体基板上に隔壁材料層や下層平坦化層を形成したが、光電変換素子形成プロセスで、半導体基板の表面保護の層が形成されている場合が多く存在する。表面保護層としては、例えばSiO2やSiNやポリシリコン等である。本第一の実施形態は、この半導体基板の表面保護層を隔壁材料層として使用するため、半導体基板上に新たに隔壁材料層を形成しない。
次に、一色目であるグリーンの顔料を含む第一のカラーフィルタ用材料として、感光性材料を含まないグリーン顔料分散液を1000rpmの回転数でスピンコートした。この1色目のカラーフィルタ用材料のグリーンの顔料には、カラーインデックスにてC.I.PG58を用いており、その顔料濃度は80重量%、層厚は500nmであった。また、グリーンレジストの主成分である樹脂としては、熱硬化型のアクリル系樹脂を用いた。
次に、ポジ型レジスト(OFPR−800:東京応化工業株式会社製)を、スピンコーターを用いて1000rpmの回転数でスピンコートした後、90℃で1分間プリベークを行った。これにより、感光性樹脂マスク材料層あるフォトレジストを膜厚1.5μmで塗布したサンプルを作製した。
この、感光性樹脂マスク材料層であるポジ型レジストは、紫外線照射により、化学反応を起こして現像液に溶解するようになった。
このサンプルに対して、フォトマスクを介して露光するフォトリゾグラフィーを行った。露光装置は光源にi線(365nm)の波長を用いた露光装置を使用した。
始めにガス種は、CF4、O2、Arガスの三種を混合してエッチングを実施した。CF4、O2のガス流量を各5ml/min、Arのガス流量を200ml/minとした。すなわち、全ガス流量中、Arのガス流量が95.2%であった。また、この際のチャンバー内の圧力を1Paの圧力とし、RFパワーを500Wとして実施した。この条件を用いて、グリーンカラーフィルタ膜の総膜厚の500nmのうちの70%に当たる350nm程度までエッチングした段階で、次のエッチング条件に変更した。
次に、エッチングマスクとして用いた感光性樹脂マスク材料の除去を行った。この際用いた方法は溶剤を用いた方法であり、剥離液(東京応化工業株式会社製)を用いてスプレー洗浄装置でレジストの除去を行った。この際、スプレー洗浄装置を用いたことにより、洗浄時に物理的衝撃が加わり、レジストの側壁に付着した反応生成物、すなわちグリーンのカラーフィルタよりも飛び出ている高さの高い部分の隔壁の除去が可能となる効果があった。
次に、第二のカラーフィルタを設けるべく顔料分散ブルーを含有している感光性の第二のカラーフィルタ用材料を半導体基板全面に塗布した。
次に、フォトリソグラフィにより感光性の第二のカラーフィルタ用材料に選択的に露光した。
次に、感光性のカラーフィルタ用材料を現像して、ブルーのカラーフィルタを形成した。このとき、ブルーレジストの感光性のカラーフィルタ用材料に用いた顔料は、それぞれカラーインデックスにてC.I.PB156、C.I.PV23であり、顔料濃度は40重量%であった。また、ブルーのカラーフィルタの層厚は0.6μmであった。また、ブルーレジストの主成分である樹脂としては、感光性を持たせたアクリル系の樹脂を用いた。
次に、顔料分散レッドレジストである感光性の第三のカラーフィルタ用材料を半導体基板全面に塗布した。
次に、フォトリソグラフィにより、感光性の第三のカラーフィルタ用材料にフォトマスクのパターンを選択的露光した。
次に、感光性の第三のカラーフィルタ用材料を現像して、レッドの第三のカラーフィルタを形成した。
このとき、レッドレジストに用いた顔料は、それぞれカラーインデックスにてC.I.PR117、C.I.PR48:1、C.I.PY139であり、顔料濃度は45重量%であった。また、第三のカラーフィルタの層厚は0.6μmであった。
次に、上記の流れで形成されたカラーフィルタ上にアクリル樹脂を含む塗布液を回転数1000rpmでスピンコートし、ホットプレートにて200℃で30分間の加熱処理を施して、樹脂を硬化し、上層平坦化層を形成した。
以上のようにして得た固体撮像素子は、半導体基板の表面に薄く下層平坦化層が形成され、その上に3色のカラーフィルタが形成されている。また、1色目であるグリーンのカラーフィルタが熱硬化性樹脂を用いているため固形分中の顔料の濃度を上げることが出来、カラーフィルタを薄く形成することが出来た。そのため、固体撮像素子は、マイクロレンズ下の半導体基板までの距離が小さく、良好な感度を有するものであった。また各色のカラーフィルタ間にZnを含んだ顔料層とSiO2の二層構造の隔壁を形成することができており、各カラーフィルタ間の混色を低減することができた。
実施例2として第二の実施形態で説明した構成の固体撮像素子について具体的に説明する。実施例2に示す固体撮像素子は、第二以降のカラーフィルタ形成位置の下部の隔壁材料層を全てエッチングで除去した構成である。実施例2に示す固体撮像素子は、光電変換素子を形成した半導体基板の構造によっては、隔壁材料層の厚みの増加により、カラーフィルタから光電変換素子までの距離が長くなる影響が大きく出る場合等に適用が想定される。
二次元的に配置された光電変換素子を備える半導体基板上に、低粘度設定したSOGを回転数5000rpmでスピンコートし、ホットプレートで、250℃で30分間の加熱処理を行うことで、厚さ30nmのSiO2薄膜からなる隔壁材料層を形成した。
(下層平坦化層の形成)
隔壁材料層の上に、アクリル樹脂を含む塗布液を回転数3000rpmでスピンコートし、ホットプレートにて200℃で20分間の加熱処理を施して、樹脂を硬化し、下層平坦化層を形成した。この際の下層平坦化層の層厚は30nmであった。
第一のカラーフィルタ(グリーンのカラーフィルタ)のカラーフィルタ用材料として、感光性材料を含まないグリーン顔料分散液を準備した。このグリーン顔料分散液を、下層平坦化層の表面に1000rpmの回転数でスピンコートした。グリーン顔料分散液の主成分である樹脂としては、熱硬化タイプのアクリル系樹脂を用いた。また、グリーン顔料分散液に含まれるグリーン顔料には、カラーインデックスにてC.I.PG58を用いており、グリーン顔料分散液におけるグリーン顔料濃度は80重量%であった。また、グリーンのカラーフィルタ材料の塗布厚は500nmであった。
次に、グリーンカラーフィルタ膜の表面に、ポジ型レジスト(OFPR−800:東京応化工業株式会社製)を、スピンコーターを用いて1000rpmの回転数でスピンコートした後、90℃で1分間プリベークを行った。これにより、感光性樹脂マスク材料であるフォトレジストが膜厚1.5μmで塗布されたサンプルを作製した。
この感光性樹脂マスク材料であるポジ型レジストは、紫外線照射により、化学反応を起こして現像液に溶解するようになる。
次に、このサンプルに対して、フォトマスクを介して露光するフォトリゾグラフィーを行った。露光装置は光源にi線(365nm)の波長を用いた露光装置を使用した。
始めにガス種は、CF4、O2、Arガスの三種を混合してエッチングを実施した。CF4、O2のガス流量を各5ml/min、Arのガス流量を200ml/minとした。また、エッチングの際のチャンバー内の圧力を1Paとし、RFパワーを500Wとしてエッチングを実施した。この条件を用いて、グリーンカラーフィルタ用材料の総膜厚の500nmのうち70%に当たる350nm程度までエッチングした段階で、次のエッチング条件に変更した。
次に、O2単一ガスを用いて、O2ガス流量を100ml/min、チャンバー内圧力を15Pa、RFパワーを150Wの条件でエッチングを行った。この条件により、エッチングマスクのトップである表面のダメージを受けて変質している層の除去と共に、底面に残っているAr単一ガスで除去できなかったグリーンのカラーフィルタ膜の残渣をエッチングした。
実施例2では、この後、実施例1と同様の手法で第二、第三のカラーフィルタ、上層の平坦化層及びマイクロレンズを形成し、実施例2の固体撮像素子を形成した。
実施例3では、第三の実施形態で説明した構成の固体撮像素子について具体的に説明する。実施例3の固体撮像素子は、第二、第三のカラーフィルタの下部の隔壁材料層を全てエッチングで除去せずに残存させた構成である。実施例3では、エッチング時に隔壁材料層を残存させることで、下層の半導体基板をエッチングから保護する効果がある。また、隔壁材料層の膜厚を増加させれば、隔壁の幅を厚く制御することが可能となる。一方で、隔壁材料層の厚みの増加により、カラーフィルタから光電変換素子までの距離が長くなる影響が出る可能性があるため、半導体基板及び光電変換素子の構造及び特性に合わせて隔壁材料層の膜厚の調整が必要となる。
二次元的に配置された光電変換素子を備える半導体基板上に、低粘度設定したSOGを回転数4000rpmでスピンコートし、ホットプレートで、250℃で30分間の加熱処理を行うことで、厚さ50nmのSiO2薄膜からなる隔壁材料層を形成した。
(下層平坦化層の形成)
隔壁材料層の上に、アクリル樹脂を含む塗布液を回転数4000rpmでスピンコートし、ホットプレートにて200℃で20分間の加熱処理を施して、樹脂を硬化し、下層平坦化層を形成した。この際の下層平坦化層の層厚は20nmであった。
実施例2に示す方法にて、第一のカラーフィルタ膜(グリーンのカラーフィルタ膜)を形成した後、感光性樹脂マスク材料についてパターニングを行い、エッチングマスクを形成した。
続いて、隔壁材料層の半ばまでエッチングを行った。始めにガス種は、CF4、O2、Arガスの三種を混合してエッチングを実施した。CF4、O2のガス流量を5ml/min、Arのガス流量を200ml/minとした。また、エッチングの際のチャンバー内の圧力を1Paとし、RFパワーを500Wとしてエッチングを実施した。この条件を用いて、グリーンカラーフィルタ用材料の総膜厚の500nmのうち70%に当たる350nm程度までエッチングした段階で、次のエッチング条件に変更した。
このエッチング条件で、隔壁材料層からグリーンカラーフィルタの側壁に付着したSiO2隔壁の幅は30nmであった。また、グリーンカラーフィルタのエッチング時に側壁に付着したグリーンカラーフィルタとエッチングガスの反応生成物が付着して形成された側壁保護層の幅が20nmであった。このため、あわせて50nmの隔壁が形成できた。
上述したエッチング条件により、隔壁材料層の総膜厚50nmの内30nmをエッチングで除去を行った。そのため、第二以降のカラーフィルタの下部には、隔壁材料層が20nm、下層平坦化層が20nm残留している。この条件により、第一のカラーフィルタに対して第二以降のカラーフィルタの膜厚は40nm程度厚く形成することが可能となる。第二以降のカラーフィルタをリソグラフィ方式で形成する場合は、加熱で効果する第一のカラーフィルタと異なり顔料濃度を上げることが困難であるため、この隔壁材料層及び下層平坦化層の膜厚調整により、各カラーフィルタの色の調整が可能となる。
実施例2では、この後、実施例1と同様の手法で第二、第三のカラーフィルタ、上層の平坦化層及びマイクロレンズを形成し、実施例3の固体撮像素子を形成した。
実施例4では、第四の実施形態で説明した構成の固体撮像素子について具体的に説明する。実施例4の固体撮像素子は、実施例2の固体撮像素子において隔壁材料層と下層平坦化層の形成工程を逆転させた構成である。実施例4では、上述の形成工程により、隔壁材料層形成前に半導体基板を十分に平坦化することが出来るため、隔壁材料層の膜厚を半導体基板全面で均質化することができる。このため、隔壁の幅や、カラーフィルタから光電変換素子までの距離を一定にすることが可能となる。また、隔壁材料層をエッチングで完全に除去しなければ、下層平坦化層は残ったままとなるため、第二以降のカラーフィルタの密着性向上及び各色の膜厚の調整も可能となる。
二次元的に配置された光電変換素子を備える半導体基板上に、アクリル樹脂を含む塗布液を回転数2000rpmでスピンコートし、ホットプレートにて200℃で20分間の加熱処理を施して、樹脂を硬化し、下層平坦化層を形成した。この際の下層平坦化層の層厚は50nmであった。
(隔壁材料層の形成)
下層平坦化層上に、低粘度設定したSOGを回転数5000rpmでスピンコートし、ホットプレートで、250℃で30分間の加熱処理を行うことで、厚さ30nmのSiO2薄膜からなる壁材料層を形成した。
実施例4では、この後、実施例1と同様の手法で第二、第三のカラーフィルタ、上層の平坦化層及びマイクロレンズを形成し、実施例4の固体撮像素子を形成した。
なお、このエッチング条件で、隔壁材料層からグリーンカラーフィルタの側壁に付着したSiO2隔壁の幅は30nmであった。また、グリーンカラーフィルタのエッチング時に側壁に付着したグリーンカラーフィルタとエッチングガスの反応生成物が付着して形成された側壁保護層の幅が20nmであった。このため、あわせて50nmの隔壁が形成できた。
以上の各実施例において、各色のカラーフィルタパターン間に幅40nmから50nmの隔壁を形成することができた。
このような各実施例の固体撮像素子の赤色信号、緑色信号及び青色信号の強度について、各色のカラーフィルタパターン間に隔壁が形成されていない固体撮像素子の赤色信号、緑色信号及び青色信号の強度に対する強度の増加率を評価した。
以下の表1に、各色の信号強度の評価結果を示す。
一方、一部で若干赤色の光が隔壁を設けない既存の固体撮像素子の評価と比較して低下している。しかしながら、これは隔壁の無い既存の固体撮像素子において、青及び緑のカラーフィルタを透過した光が、各カラーフィルタの屈折率の影響で、赤のカラーフィルタ下部の光電変換素子に入射したことによる混色の影響であると考えられる。そのため、既存の固体撮像素子の性能が見かけ上、向上したように見え、相対的に実施例1、4の信号強度が低下したように見えている。
以上により、各実施例にて、各色のカラーフィルタパターン間に隔壁を形成したことによる効果が確認できた。
また、今回の隔壁形成には、グリーンの第一のカラーフィルタ膜をエッチングした際の反応生成物を用いて作製している。今回のグリーンの顔料が混合された第一のカラーフィルタ用材料には亜鉛が含まれている。そして、グリーンカラーフィルタの側壁に付着した、第一のカラーフィルタ用材料とエッチングガスとの反応生成物は、エッチングの際に除去しにくい材料である。このため、隔壁には、亜鉛金属が多く含まれている。そのため、50nmサイズの幅でも、金属の含有量が多い膜構成となっており、光が遮られて効果が大きく現れていると考えられる。
なお、本実施例において、1色目である第一のカラーフィルタ用材料のグリーン顔料分散液の樹脂の主成分として、熱硬化タイプのアクリル樹脂を採用した。しかしながら、第二以降の感光性のカラーフィルタ用材料であるレッド顔料分散液やブルー顔料分散液と同様に、感光性のカラーフィルタ用材料の樹脂、すなわち、光硬化(放射線硬化)のアクリル樹脂を用いることも可能である。この場合は、第一のカラーフィルタ膜を薄膜化するために必要なモノマーや光重合開始剤の量を減らすことが好ましい。
また、各実施形態により本発明を説明したが、本発明の範囲は、図示され記載された例示的な実施形態に限定されるものではなく、本発明が目的とするものと均等な効果をもたらす全ての実施形態をも含む。さらに、本発明の範囲は、請求項により画される発明の特徴の組み合わせに限定されるものではなく、全ての開示されたそれぞれの特徴のうち特定の特徴のあらゆる所望する組み合わせによって画されうる。
11・・・光電変換素子
12・・・下層平坦化層
13・・・上層平坦化層
14・・・第一のカラーフィルタ
14b・・・第一のカラーフィルタパターン
14c・・・ブリッジ部
14d・・・第一のカラーフィルタ膜
15・・・第二のカラーフィルタ
15b・・・第二のカラーフィルタパターン
15d・・・第二のカラーフィルタ膜
16・・・第三のカラーフィルタ
16b・・・第三のカラーフィルタパターン
16d・・・第三のカラーフィルタ膜
17、27・・・隔壁
27a・・・第一の壁部分
27b・・・第二の壁部分
18・・・マイクロレンズ
20・・・エッチングマスク
20a・・・感光性樹脂マスク層
20b・・・パターン
20c・・・開口部
30、40・・・隔壁材料層
Claims (12)
- 複数の光電変換素子が二次元的に配置された半導体基板の表面に、可視光を透過する隔壁材料層を形成する工程と、
前記半導体基板の表面に、前記隔壁材料層を介して、樹脂材料を主成分とし第一の顔料を分散させた第一の樹脂分散液からなる第一のカラーフィルタ用材料を塗布し硬化させて、前記第一の顔料を含む第一のカラーフィルタの前駆体となる第一のカラーフィルタ膜を形成する第一のカラーフィルタ膜形成工程と、
前記第一のカラーフィルタ膜の表面に、感光性樹脂マスク材料を塗布して感光性樹脂マスク材料層を形成した後、前記第一の顔料とは異なる色の顔料を含む第二以降のカラーフィルタの形成位置に対向する前記感光性樹脂マスク材料層の一部分に、フォトリソグラフィにより開口部を形成する開口部形成工程と、
前記開口部を形成した前記感光性樹脂マスク材料層をエッチングマスクとして、ドライエッチングガスを用いたドライエッチングにより、前記開口部から露出する前記第一のカラーフィルタ膜の一部分を除去して前記第一のカラーフィルタを形成し、前記エッチングマスクを除去する第一のカラーフィルタ形成工程と、
前記第一のカラーフィルタ形成工程において、前記第一のカラーフィルタ膜をドライエッチングする際に形成される前記第一のカラーフィルタ用材料と前記ドライエッチングガスとの反応生成物を、複数色のカラーフィルタのそれぞれの間に設けられる隔壁として、第一の壁部分を形成すると共に、前記隔壁の一部として、前記隔壁材料層をドライエッチングして前記隔壁材料層に含まれる隔壁用材料と前記ドライエッチングガスとの反応生成物からなる第二の壁部分を形成する隔壁形成工程と、
前記第一のカラーフィルタとは異なる色の顔料を含む第二以降のカラーフィルタを形成する第二以降のカラーフィルタ形成工程と、
入射光を上記光電変換素子のそれぞれに集光させる複数のマイクロレンズを形成するマイクロレンズ形成工程と、を備える、
固体撮像素子の製造方法。 - 前記隔壁形成工程において、希ガスを全ガス流量の90%以上含み、且つフッ素、酸素及び塩素からなる化合物ガス群から選択された反応性を有するガスが1種類以上混合された前記ドライエッチングガスを用いる
請求項1に記載の固体撮像素子の製造方法。 - 前記隔壁形成工程において、ドライエッチングをドライエッチングチャンバー内で行う際の該ドライエッチングチャンバー内の圧力を0.01Pa以上8.0Pa以下とする
請求項1又は2に記載の固体撮像素子の製造方法。 - 前記第一のカラーフィルタ膜形成工程において、感光性成分を含まず、かつ前記第一の顔料を濃度70質量%以上含む前記第一のカラーフィルタ用材料を用いる
請求項1から3のいずれか1項に記載の固体撮像素子の製造方法。 - 前記第一のカラーフィルタ膜形成工程において、前記樹脂材料として前記エッチングマスクの除去に用いる有機溶剤への耐性を有する樹脂を含む前記第一のカラーフィルタ用材料を用いる
請求項1から4のいずれか1項に記載の固体撮像素子の製造方法。 - 前記第二以降のカラーフィルタ形成工程において、前記開口部が形成された第一のカラーフィルタ表面に第一の顔料とは異なる色の顔料を含む第二のカラーフィルタ用材料となる着色感光性樹脂組成物を塗布した後、第二のカラーフィルタ用材料の第二のカラーフィルタを形成する部分に対して、フォトマスクを用いた露光を行い、現像をした後、第二のカラーフィルタ膜の一部を光硬化させてパターニングすることにより第二のカラーフィルタを形成する
請求項1から5のいずれか1項に記載の固体撮像素子の製造方法。 - 二次元的に配置された複数の光電変換素子を有する半導体基板と、
前記半導体基板の上方に配置され、入射光を上記光電変換素子のそれぞれに集光させる複数のマイクロレンズと、
前記半導体基板と前記マイクロレンズとの間に設けられ、上記複数の光電変換素子のそれぞれに対応するように予め設定された規則で配置された複数色のカラーフィルタと、
前記複数色のカラーフィルタのそれぞれの間に設けられた隔壁と、を備え、
前記複数色のカラーフィルタのうちの一色のカラーフィルタである第一のカラーフィルタの側壁部に設けられた前記隔壁は、前記第一のカラーフィルタに含まれる第一のカラーフィルタ用材料とドライエッチングガスに含まれる希ガス元素及びハロゲン元素群から選択される一種又は二種以上の元素との反応生成物を含む第一の壁部分を有し、
前記第一のカラーフィルタの下部に設けられた、可視光を透過する隔壁材料層を備え、
前記第一のカラーフィルタの側壁部に設けられた隔壁は、前記第一の壁部分と、前記隔壁材料層に含まれる隔壁用材料と前記ドライエッチングガスに含まれる希ガス元素及びハロゲン元素群から選択される一種又は二種以上の元素との反応生成物を含む第二の壁部分とを有する、
固体撮像素子。 - 前記第一のカラーフィルタは、前記第一のカラーフィルタ用材料としてグリーン顔料を含む
請求項7に記載の固体撮像素子。 - 前記隔壁材料層は、前記隔壁用材料としてシリコン及び金属の少なくとも一方を含む単層又は多層の層である
請求項7又は請求項8に記載の固体撮像素子。 - 前記隔壁材料層は、シリコン層、シリコン化合物層及び金属薄膜層、並びにシリコン及びシリコン化合物の混合物層の群から選択される層を含む
請求項9に記載の固体撮像素子。 - 前記隔壁の幅は、200nm以下である
請求項7から10のいずれか1項に記載の固体撮像素子。 - 前記複数のカラーフィルタのうち最も面積の広い第一のカラーフィルタと、前記第一のカラーフィルタよりも面積の狭い第二及び第三のカラーフィルタとを備え、
前記第一のカラーフィルタは、行方向及び列方向にそれぞれ1画素おきに設けられることで、斜め方向において互いに隣接して配置される第一のカラーフィルタパターンと、前記隣接して配置された第一のカラーフィルタパターン同士をつなぐブリッジ部とを有する
請求項7から11のいずれか1項に記載の固体撮像素子。
Applications Claiming Priority (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2015224016 | 2015-11-16 | ||
| JP2015224016 | 2015-11-16 | ||
| JP2016116498 | 2016-06-10 | ||
| JP2016116498 | 2016-06-10 | ||
| PCT/JP2016/083861 WO2017086321A1 (ja) | 2015-11-16 | 2016-11-15 | 固体撮像素子の製造方法及び固体撮像素子、並びにカラーフィルタの製造方法及びカラーフィルタ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPWO2017086321A1 JPWO2017086321A1 (ja) | 2018-11-01 |
| JP6658768B2 true JP6658768B2 (ja) | 2020-03-04 |
Family
ID=58718824
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2017551892A Active JP6658768B2 (ja) | 2015-11-16 | 2016-11-15 | 固体撮像素子の製造方法及び固体撮像素子 |
Country Status (7)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US10991736B2 (ja) |
| EP (1) | EP3379573B1 (ja) |
| JP (1) | JP6658768B2 (ja) |
| KR (1) | KR102626698B1 (ja) |
| CN (1) | CN108352391B (ja) |
| TW (1) | TWI716490B (ja) |
| WO (1) | WO2017086321A1 (ja) |
Families Citing this family (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN110073493A (zh) * | 2016-12-27 | 2019-07-30 | 凸版印刷株式会社 | 固体拍摄元件及其制造方法 |
| JP2019087545A (ja) * | 2017-11-01 | 2019-06-06 | 凸版印刷株式会社 | 固体撮像素子及びその製造方法 |
| TW201931615A (zh) * | 2017-12-06 | 2019-08-01 | 日商凸版印刷股份有限公司 | 固態攝影元件及其製造方法 |
| JP7119557B2 (ja) * | 2018-05-15 | 2022-08-17 | 凸版印刷株式会社 | 固体撮像素子及び固体撮像素子の製造方法 |
| JP7008054B2 (ja) * | 2018-10-17 | 2022-01-25 | キヤノン株式会社 | 光電変換装置および機器 |
| KR102649313B1 (ko) * | 2019-02-13 | 2024-03-20 | 삼성전자주식회사 | 이미지 센서 |
| CN110061020B (zh) * | 2019-04-25 | 2021-09-14 | 德淮半导体有限公司 | 图像传感器及其形成方法、工作方法 |
| US11630062B2 (en) * | 2019-10-10 | 2023-04-18 | Visera Technologies Company Limited | Biosensor and method of forming the same |
| JP7500967B2 (ja) * | 2019-12-24 | 2024-06-18 | Toppanホールディングス株式会社 | 赤外光カットフィルターの製造方法、固体撮像素子用フィルター、および、固体撮像素子 |
| US12563849B2 (en) | 2021-07-09 | 2026-02-24 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Image sensor for a camera device |
Family Cites Families (15)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3328323A (en) | 1963-02-04 | 1967-06-27 | Gen Electric | Organopolysiloxane copolymers containing polydiarylsiloxane blocks and a process for making them |
| JPS4857569U (ja) | 1971-11-09 | 1973-07-23 | ||
| JPS5046639U (ja) | 1973-08-27 | 1975-05-09 | ||
| JPS6468076A (en) | 1987-09-08 | 1989-03-14 | Matsushita Electric Industrial Co Ltd | Driving method for solid-state image pickup element |
| JPH04248502A (ja) * | 1991-02-04 | 1992-09-04 | Toppan Printing Co Ltd | 多層干渉パターンの形成方法 |
| JPH1168076A (ja) | 1997-08-14 | 1999-03-09 | Sony Corp | カラーフィルタアレイの製造方法 |
| JP2006163316A (ja) * | 2004-12-10 | 2006-06-22 | Sanyo Electric Co Ltd | カラーフィルタアレイ製造方法 |
| JP4984400B2 (ja) * | 2005-02-10 | 2012-07-25 | 凸版印刷株式会社 | 固体撮像素子及びその製造方法 |
| WO2006085528A1 (ja) | 2005-02-10 | 2006-08-17 | Toppan Printing Co., Ltd. | 固体撮像素子及びその製造方法 |
| JP4857569B2 (ja) | 2005-02-10 | 2012-01-18 | 凸版印刷株式会社 | 固体撮像素子及びその製造方法 |
| JP5046639B2 (ja) * | 2006-08-23 | 2012-10-10 | 富士フイルム株式会社 | カラーフィルタの製造方法 |
| JP2009103746A (ja) * | 2007-10-19 | 2009-05-14 | Fujifilm Corp | カラーフィルタ及びその製造方法並びに固体撮像装置 |
| JP4835719B2 (ja) * | 2008-05-22 | 2011-12-14 | ソニー株式会社 | 固体撮像装置及び電子機器 |
| CN105074928B (zh) * | 2013-03-29 | 2019-05-10 | 索尼公司 | 图像拾取元件和图像拾取装置 |
| JP6159348B2 (ja) * | 2014-02-14 | 2017-07-05 | 富士フイルム株式会社 | 着色組成物、硬化膜、カラーフィルタ、パターン形成方法、カラーフィルタの製造方法、固体撮像素子、および、画像表示装置 |
-
2016
- 2016-11-15 KR KR1020187014816A patent/KR102626698B1/ko active Active
- 2016-11-15 EP EP16866322.7A patent/EP3379573B1/en active Active
- 2016-11-15 JP JP2017551892A patent/JP6658768B2/ja active Active
- 2016-11-15 WO PCT/JP2016/083861 patent/WO2017086321A1/ja not_active Ceased
- 2016-11-15 CN CN201680065727.5A patent/CN108352391B/zh active Active
- 2016-11-16 TW TW105137425A patent/TWI716490B/zh active
-
2018
- 2018-05-11 US US15/977,115 patent/US10991736B2/en active Active
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US20180261639A1 (en) | 2018-09-13 |
| TWI716490B (zh) | 2021-01-21 |
| TW201728922A (zh) | 2017-08-16 |
| CN108352391B (zh) | 2023-01-03 |
| JPWO2017086321A1 (ja) | 2018-11-01 |
| KR102626698B1 (ko) | 2024-01-19 |
| CN108352391A (zh) | 2018-07-31 |
| EP3379573B1 (en) | 2023-05-03 |
| WO2017086321A1 (ja) | 2017-05-26 |
| EP3379573A4 (en) | 2019-11-20 |
| US10991736B2 (en) | 2021-04-27 |
| KR20180083341A (ko) | 2018-07-20 |
| EP3379573A1 (en) | 2018-09-26 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A521 | Request for written amendment filed |
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|
| A621 | Written request for application examination |
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|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
| A521 | Request for written amendment filed |
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|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20190917 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
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|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20200107 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20200120 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |