JP6663765B2 - 状態判定装置、プログラムおよび集積回路 - Google Patents
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(6)波形Cを示す画像領域
(7)波形D+を示す画像領域
(8)波形Dを示す画像領域
そして、特許文献1の技術では、上記の波形マップを用いて、波形パターンの分類処理を行うことで、入力される波形データを、適切に分類する(所定の波形パターンと類似すると判定する)ことができる。
テンプレートデータは、
テンプレートデータは、要素データDij(t)を所定の閾値Th1と比較し、Dij(t)≧Th1である要素データDij(t)の平均値を算出し、算出した平均値を座標(i,j)のテンプレートデータの値gijとすることで、生成されたデータである。
テンプレートデータは、
テンプレートデータは、
テンプレートデータは、
sqrt(x):xの平方根を取得する関数
により取得された座標(i,j)の要素データの標準偏差をσijとすると、
abs(Dij(t)−AveDij)≦n1×σij(n1:正の実数、abs(x)はxの絶対値を取得する関数)を満たす場合、座標(i,j)のSOM出力の値Dij(t)の平均値を算出し、算出した平均値を座標(i,j)のテンプレートデータの値gijとし、
abs(Dij(t)−AveDij)≦n1×σijを満たさない場合、座標(i,j)のテンプレートデータの値gijを「0」にすることで、生成されたデータである。
第1実施形態について、図面を参照しながら、以下、説明する。
図1は、第1実施形態に係る状態判定装置1000の概略構成図である。
(1)学習フェーズ(入力層の各ノードと、出力層の各ニューロンとの結合係数を決定する処理を行うフェーズ)では、SOM処理部3は、特徴ベクトルデータD2を用いて、SOM処理を実行し、入力層の各ノードと、出力層の各ニューロンとの結合係数を決定する。SOM処理部3は、上記処理が完了し、確定した入力層の各ノードと、出力層の各ニューロンとの結合係数のデータを、結合係数データwij_fixedとして、写像変換部7に出力する。
(2)テンプレート作成フェーズでは、SOM処理部3は、特徴ベクトルデータD2を用いて、SOM処理を実行し、SOM出力データを、データD_som(t)(現時刻tのSOM出力データD_som(t))として、SOMデータ記憶部4に出力する。
以上のように構成された状態判定装置1000の動作について、以下、説明する。
まず、状態判定装置1000の学習フェーズの動作について、説明する。
SOM処理部3は、入力データベクトル数をn、繰返し数をT(>=n)とすると、時刻t=0において、vec_w11,vec_w12,・・・,vec_wmmの初期値をランダムに設定する(乱数を用いて設定する)。
SOM処理部3は、時刻tにおいて、次の操作を行う。
(2A):
SOM処理部3は、時刻tの入力データvec_x(t)と、時刻t−1の各参照ベクトルvec_wij(t−1)との間のユークリッド距離dis(vec_x(t),vec_wij(t−1))を求める。なお、dis(vec1,vec2)は、ベクトルvec1とベクトルvec2とのユークリッド距離を求める関数である。
(2B):
SOM処理部3は、ユークリッド距離が最小であるニューロンuIJを特定し、特定したニューロンを勝ちニューロンuIJとする。ニューロンuIJは、座標(I,J)のニューロンである。
(2C):
SOM処理部3は、時刻tの参照ベクトルvec_wij(t)を、次式により学習(取得)する。
vec_wij(t)=vec_wij(t−1)+h((i,j),(I,J),t)×(vec_x(t)−vec_wij(t−1))
ここで、hは近傍関数と呼ばれる関数であり、次の性質を持つ関数である。
(1)関数hは、tに関する単調減少関数であり、tが無限大で「0」に収束する。
(2)関数hは、格子点(i,j)と格子点(I,J)とのユークリッド距離dis(vec_uij,vec_uIJ)に関して、単調減少関数である。また、関数hの単調減少の程度は、tが増加するほど大きくなる。なお、vec_uijは、所定の点(例えば、原点)からニューロンuijの位置までのベクトルであり、vec_uIJは、所定の点(例えば、原点)からニューロンuIJの位置までのベクトルである。
次に、状態判定装置1000のテンプレート作成フェーズの動作について、説明する。
SOM処理部3は、特徴ベクトルデータD2(信号D2)に対して、結合荷重ベクトル(参照ベクトル)vec_wij_fixedにより、SOM処理を実行し、現時刻tのSOMデータD_som(t)を取得する。そして、SOM処理部3は、取得した現時刻tのSOMデータD_som(t)をSOMデータ記憶部4に出力する。
vec_x(t)=(x1(t),x2(t),・・・,xN1(t))
N1=8
とし、学習フェーズを完了し、確定された結合荷重ベクトルf_vec_wijを、
f_vec_wij=(wij_1,wij_2,・・・,wij_N1)
N1=8
とし、時刻tの2次元SOM上の(i,j)の位置にあるニューロン(出力ノード)の出力値をDij(t)とすると、
である。
(1)処理1(出力値の閾値処理)
テンプレートデータ生成部5は、SOM出力データD_som(1)〜D_som(N)を用いて、2次元SOM上の同じ座標位置の出力値(同一の出力ノードの出力値)Dij(t)を所定の閾値Th1と比較し、Dij(t)≧Th1である出力値Dij(t)の平均値を算出し、算出した平均値を座標(i,j)のテンプレートデータの値gijとする。
gij=Sum/N1
により、座標(i,j)のテンプレートデータの値gijを取得する(ステップS8)。
(2)処理2(出力値の分散値の閾値処理)
テンプレートデータ生成部5は、SOM出力データD_som(1)〜D_som(N)を用いて、2次元SOM上の同じ座標位置の出力値(同一の出力ノードの出力値)Dij(t)の分散値vijを、以下の数式に相当する処理により、算出する。
(3)処理3(処理1と処理2の組み合わせ処理)
テンプレートデータ生成部5は、上記処理1と上記処理2とを組み合わせた処理により、座標(i,j)のテンプレートデータの値gijを取得するようにしてもよい。
(4)処理4(n1×σ以内のデータによる処理)
テンプレートデータ生成部5は、分散値vijから、
σij=sqrt(vij)
sqrt(x):xの平方根を取得する関数
に相当する処理より、座標(i,j)のSOMの出力値Dij(t)の標準偏差σijを取得する。
次に、状態判定装置1000の状態判定処理フェーズの動作について、説明する。
(1)適合度データ(内積の値)D_f(1)、D_f(2)、D_f(3)のうち、D_f(1)が最大値である場合、状態判定部9は、状態判定装置1000に入力されているデータが「Walking状態」のデータであることを示す信号Doutを外部に出力する。
(2)適合度データ(内積の値)D_f(1)、D_f(2)、D_f(3)のうち、D_f(2)が最大値である場合、状態判定部9は、状態判定装置1000に入力されているデータが「Running状態」のデータであることを示す信号Doutを外部に出力する。
(3)適合度データ(内積の値)D_f(1)、D_f(2)、D_f(3)のうち、D_f(3)が最大値である場合、状態判定部9は、状態判定装置1000に入力されているデータが「Standing状態」のデータであることを示す信号Doutを外部に出力する。
次に、第1実施形態の第1変形例について、説明する。
(1)適合度データ(ユークリッド距離の値)D_f(1)、D_f(2)、D_f(3)のうち、D_f(1)が最小値である場合、状態判定部9Aは、状態判定装置1000Aに入力されているデータが「Walking状態」のデータであることを示す信号Doutを外部に出力する。
(2)適合度データ(ユークリッド距離の値)D_f(1)、D_f(2)、D_f(3)のうち、D_f(2)が最小値である場合、状態判定部9Aは、状態判定装置1000Aに入力されているデータが「Running状態」のデータであることを示す信号Doutを外部に出力する。
(3)適合度データ(ユークリッド距離の値)D_f(1)、D_f(2)、D_f(3)のうち、D_f(3)が最小値である場合、状態判定部9Aは、状態判定装置1000Aに入力されているデータが「Standing状態」のデータであることを示す信号Doutを外部に出力する。
上記実施形態および変形例を組み合わせて状態判定装置を構成するようにしてもよい。
1 データ入力部
2 特徴ベクトル取得部
3 SOM処理部
5 テンプレートデータ生成部
7 写像変換部
8 マッチング処理部
9 状態判定部
Claims (12)
- 未知の状態の事象を計測して得られる計測データから特徴ベクトルデータを取得する特徴ベクトル取得部と、
前記特徴ベクトルデータを、前記特徴ベクトルデータの次元とは異なる次元の空間に射影することで、SOM出力データを取得する写像変換部と、
所定の状態を示すテンプレートデータと、前記写像変換部により取得された前記SOM出力データとの相関度を示す適合度データを取得するマッチング処理部と、
前記マッチング処理部により取得された前記適合度データに基づいて、前記計測データが示す状態を決定する状態判定部と、
を備え、
前記マッチング処理部は、
M個(M:自然数)のテンプレートデータTmpl(1)〜Tmpl(M)のそれぞれと、前記SOM出力データとの内積を算出し、算出した内積の値を、M個(M:自然数)のテンプレートデータTmpl(1)〜Tmpl(M)のそれぞれと、前記SOM出力データとの相関度を示す適合度データD_f(1)〜D_f(M)として取得し、
前記状態判定部は、
前記適合度データD_f(1)〜D_f(M)のうち、最大値をとる前記適合度データを最も相関度が高いことを示す前記適合度データとして、最も相関度が高いことを示す前記適合度データに対応する前記テンプレートデータを特定し、特定した前記テンプレートデータに相当する状態を、前記計測データが示す状態であると判定する、状態判定装置。 - 未知の状態の事象を計測して得られる計測データから特徴ベクトルデータを取得する特徴ベクトル取得部と、
前記特徴ベクトルデータを、前記特徴ベクトルデータの次元とは異なる次元の空間に射影することで、SOM出力データを取得する写像変換部と、
所定の状態を示すテンプレートデータと、前記写像変換部により取得された前記SOM出力データとの相関度を示す適合度データを取得するマッチング処理部と、
前記マッチング処理部により取得された前記適合度データに基づいて、前記計測データが示す状態を決定する状態判定部と、
を備え、
前記マッチング処理部は、
M個(M:自然数)のテンプレートデータTmpl(1)〜Tmpl(M)のそれぞれと、前記SOM出力データとのユークリッド距離を算出し、算出したユークリッド距離の値を、M個(M:自然数)のテンプレートデータTmpl(1)〜Tmpl(M)のそれぞれと、前記SOM出力データとの相関度を示す適合度データD_f(1)〜D_f(M)として取得し、
前記状態判定部は、
前記適合度データD_f(1)〜D_f(M)のうち、最小値をとる前記適合度データを最も相関度が高いことを示す前記適合度データとして、最も相関度が高いことを示す前記適合度データに対応する前記テンプレートデータを特定し、特定した前記テンプレートデータに相当する状態を、前記計測データが示す状態であると判定する、状態判定装置。 - 前記テンプレートデータは、2次元の要素から構成されるデータであり、
前記テンプレートデータの各要素データの値の総和は、「1」である、
請求項1または2に記載の状態判定装置。 - 前記テンプレートデータは、2次元の要素から構成されるデータであり、
前記テンプレートデータは、同一状態が継続する時刻t=1から時刻t=N(N:自然数)までの期間に取得されたN個のSOM出力データに基づいて、生成されたデータであり、
前記テンプレートデータが、m×n個(m、n:自然数)から構成されるデータである場合、
前記テンプレートデータの2次元の座標(i,j)(i,j:自然数、1≦i≦m、1≦j≦n)の要素データをgijとし、
時刻tの前記SOM出力データの2次元の座標(i,j)の要素データをDij(t)とすると、
前記テンプレートデータは、
により取得された値gijを、前記テンプレートの2次元の座標(i,j)(i,j:自然数、1≦i≦m、1≦j≦n)の要素データとすることで生成されたデータである、
請求項1から3のいずれかに記載の状態判定装置。 - 前記テンプレートデータは、2次元の要素から構成されるデータであり、
前記テンプレートデータは、同一状態が継続する時刻t=1から時刻t=N(N:自然数)までの期間に取得されたN個のSOM出力データに基づいて、生成されたデータであり、
前記テンプレートデータが、m×n個(m、n:自然数)から構成されるデータである場合、
前記テンプレートデータの2次元の座標(i,j)(i,j:自然数、1≦i≦m、1≦j≦n)の要素データをgijとし、
時刻tの前記SOM出力データの2次元の座標(i,j)の要素データをDij(t)とすると、
前記テンプレートデータは、要素データDij(t)を所定の閾値Th1と比較し、Dij(t)≧Th1である要素データDij(t)の平均値を算出し、算出した平均値を座標(i,j)のテンプレートデータの値gijとすることで、生成されたデータである、
請求項1から3のいずれかに記載の状態判定装置。 - 前記テンプレートデータは、2次元の要素から構成されるデータであり、
前記テンプレートデータは、同一状態が継続する時刻t=1から時刻t=N(N:自然数)までの期間に取得されたN個のSOM出力データに基づいて、生成されたデータであり、
前記テンプレートデータが、m×n個(m、n:自然数)から構成されるデータである場合、
前記テンプレートデータの2次元の座標(i,j)(i,j:自然数、1≦i≦m、1≦j≦n)の要素データをgijとし、
時刻tの前記SOM出力データの2次元の座標(i,j)の要素データをDij(t)とすると、
前記テンプレートデータは、
により取得された座標(i,j)の要素データの分散値vijを、所定の閾値Th2と比較し、vij≦Th2を満たす、座標(i,j)の前記SOM出力データの値Dij(t)の平均値を算出し、算出した平均値を座標(i,j)のテンプレートデータの値gijとすることで、生成されたデータである、
請求項1から3のいずれかに記載の状態判定装置。 - 前記テンプレートデータは、2次元の要素から構成されるデータであり、
前記テンプレートデータは、同一状態が継続する時刻t=1から時刻t=N(N:自然数)までの期間に取得されたN個のSOM出力データに基づいて、生成されたデータであり、
前記テンプレートデータが、m×n個(m、n:自然数)から構成されるデータである場合、
前記テンプレートデータの2次元の座標(i,j)(i,j:自然数、1≦i≦m、1≦j≦n)の要素データをgijとし、
時刻tの前記SOM出力データの2次元の座標(i,j)の要素データをDij(t)とすると、
前記テンプレートデータは、
により取得された座標(i,j)の要素データの分散値vijを、所定の閾値Th2と比較し、vij≦Th2を満たす、座標(i,j)の前記SOM出力データの値Dij(t)であって、かつ、前記SOM出力データの値Dij(t)が所定の閾値Th3よりも大きいもののみの平均値を算出し、算出した平均値を座標(i,j)のテンプレートデータの値gijとすることで、生成されたデータである、
請求項1から3のいずれかに記載の状態判定装置。 - 前記テンプレートデータは、2次元の要素から構成されるデータであり、
前記テンプレートデータは、同一状態が継続する時刻t=1から時刻t=N(N:自然数)までの期間に取得されたN個のSOM出力データに基づいて、生成されたデータであり、
前記テンプレートデータが、m×n個(m、n:自然数)から構成されるデータである場合、
前記テンプレートデータの2次元の座標(i,j)(i,j:自然数、1≦i≦m、1≦j≦n)の要素データをgijとし、
時刻tの前記SOM出力データの2次元の座標(i,j)の要素データをDij(t)とすると、
前記テンプレートデータは、
σij=sqrt(vij)
sqrt(x):xの平方根を取得する関数
により取得された座標(i,j)の要素データの標準偏差をσijとすると、
abs(Dij(t)−AveDij)≦n1×σij(n1:正の実数、abs(x)はxの絶対値を取得する関数)を満たす場合、座標(i,j)の前記SOM出力の値Dij(t)の平均値を算出し、算出した平均値を座標(i,j)のテンプレートデータの値gijとし、
abs(Dij(t)−AveDij)≦n1×σijを満たさない場合、座標(i,j)のテンプレートデータの値gijを「0」にすることで、生成されたデータである、
請求項1から3のいずれかに記載の状態判定装置。 - 未知の状態の事象を計測して得られる計測データから特徴ベクトルデータを取得する特徴ベクトル取得ステップと、
前記特徴ベクトルデータを、前記特徴ベクトルデータの次元とは異なる次元の空間に射影することで、SOM出力データを取得する写像変換ステップと、
所定の状態を示すテンプレートデータと、前記写像変換ステップにより取得された前記SOM出力データとの相関度を示す適合度データを取得するマッチング処理ステップと、
前記マッチング処理ステップにより取得された前記適合度データに基づいて、前記計測データが示す状態を決定する状態判定ステップと、
を備え、
前記マッチング処理ステップは、
M個(M:自然数)のテンプレートデータTmpl(1)〜Tmpl(M)のそれぞれと、前記SOM出力データとの内積を算出し、算出した内積の値を、M個(M:自然数)のテンプレートデータTmpl(1)〜Tmpl(M)のそれぞれと、前記SOM出力データとの相関度を示す適合度データD_f(1)〜D_f(M)として取得し、
前記状態判定ステップは、
前記適合度データD_f(1)〜D_f(M)のうち、最大値をとる前記適合度データを最も相関度が高いことを示す前記適合度データとして、最も相関度が高いことを示す前記適合度データに対応する前記テンプレートデータを特定し、特定した前記テンプレートデータに相当する状態を、前記計測データが示す状態であると判定する、状態判定方法をコンピュータに実行させるためのプログラム。 - 未知の状態の事象を計測して得られる計測データから特徴ベクトルデータを取得する特徴ベクトル取得ステップと、
前記特徴ベクトルデータを、前記特徴ベクトルデータの次元とは異なる次元の空間に射影することで、SOM出力データを取得する写像変換ステップと、
所定の状態を示すテンプレートデータと、前記写像変換ステップにより取得された前記SOM出力データとの相関度を示す適合度データを取得するマッチング処理ステップと、
前記マッチング処理ステップにより取得された前記適合度データに基づいて、前記計測データが示す状態を決定する状態判定ステップと、
を備え、
前記マッチング処理ステップは、
M個(M:自然数)のテンプレートデータTmpl(1)〜Tmpl(M)のそれぞれと、前記SOM出力データとのユークリッド距離を算出し、算出したユークリッド距離の値を、M個(M:自然数)のテンプレートデータTmpl(1)〜Tmpl(M)のそれぞれと、前記SOM出力データとの相関度を示す適合度データD_f(1)〜D_f(M)として取得し、
前記状態判定ステップは、
前記適合度データD_f(1)〜D_f(M)のうち、最小値をとる前記適合度データを最も相関度が高いことを示す前記適合度データとして、最も相関度が高いことを示す前記適合度データに対応する前記テンプレートデータを特定し、特定した前記テンプレートデータに相当する状態を、前記計測データが示す状態であると判定する、状態判定方法をコンピュータに実行させるためのプログラム。 - 未知の状態の事象を計測して得られる計測データから特徴ベクトルデータを取得する特徴ベクトル取得部と、
前記特徴ベクトルデータを、前記特徴ベクトルデータの次元とは異なる次元の空間に射影することで、SOM出力データを取得する写像変換部と、
所定の状態を示すテンプレートデータと、前記写像変換部により取得された前記SOM出力データとの相関度を示す適合度データを取得するマッチング処理部と、
前記マッチング処理部により取得された前記適合度データに基づいて、前記計測データが示す状態を決定する状態判定部と、
を備え、
前記マッチング処理部は、
M個(M:自然数)のテンプレートデータTmpl(1)〜Tmpl(M)のそれぞれと、前記SOM出力データとの内積を算出し、算出した内積の値を、M個(M:自然数)のテンプレートデータTmpl(1)〜Tmpl(M)のそれぞれと、前記SOM出力データとの相関度を示す適合度データD_f(1)〜D_f(M)として取得し、
前記状態判定部は、
前記適合度データD_f(1)〜D_f(M)のうち、最大値をとる前記適合度データを最も相関度が高いことを示す前記適合度データとして、最も相関度が高いことを示す前記適合度データに対応する前記テンプレートデータを特定し、特定した前記テンプレートデータに相当する状態を、前記計測データが示す状態であると判定する、集積回路。 - 未知の状態の事象を計測して得られる計測データから特徴ベクトルデータを取得する特徴ベクトル取得部と、
前記特徴ベクトルデータを、前記特徴ベクトルデータの次元とは異なる次元の空間に射影することで、SOM出力データを取得する写像変換部と、
所定の状態を示すテンプレートデータと、前記写像変換部により取得された前記SOM出力データとの相関度を示す適合度データを取得するマッチング処理部と、
前記マッチング処理部により取得された前記適合度データに基づいて、前記計測データが示す状態を決定する状態判定部と、
を備え、
前記マッチング処理部は、
M個(M:自然数)のテンプレートデータTmpl(1)〜Tmpl(M)のそれぞれと、前記SOM出力データとのユークリッド距離を算出し、算出したユークリッド距離の値を、M個(M:自然数)のテンプレートデータTmpl(1)〜Tmpl(M)のそれぞれと、前記SOM出力データとの相関度を示す適合度データD_f(1)〜D_f(M)として取得し、
前記状態判定部は、
前記適合度データD_f(1)〜D_f(M)のうち、最小値をとる前記適合度データを最も相関度が高いことを示す前記適合度データとして、最も相関度が高いことを示す前記適合度データに対応する前記テンプレートデータを特定し、特定した前記テンプレートデータに相当する状態を、前記計測データが示す状態であると判定する、集積回路。
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