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JP6690968B2 - Method for manufacturing transparent conductive substrate and lateral electric field type liquid crystal display panel with built-in touch panel function - Google Patents
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JP6690968B2 - Method for manufacturing transparent conductive substrate and lateral electric field type liquid crystal display panel with built-in touch panel function - Google Patents

Method for manufacturing transparent conductive substrate and lateral electric field type liquid crystal display panel with built-in touch panel function Download PDF

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Description

本発明は、透明導電性基板の製造方法及びその製造方法により製造した透明導電性基板を備えたタッチパネル機能内蔵型横電界方式液晶表示パネルに関する。   The present invention relates to a method for manufacturing a transparent conductive substrate and a horizontal electric field type liquid crystal display panel with a built-in touch panel function, which includes the transparent conductive substrate manufactured by the manufacturing method.

液晶表示パネルは軽量・薄型・低消費電力等の特性を生かし、各種情報機器端末やカメラ等の小型表示装置のほか、近年ではテレビ等の大型表示装置に用いられており、その市場を拡大している。液晶表示パネルの種類としては、かつてはTN(ツイスト・ネマチック)形に代表される縦電界方式が大勢を占めていたが、最近では横電界方式と称される液晶表示パネルも主流となってきている。   Liquid crystal display panels are used for small display devices such as various information equipment terminals and cameras, and in recent years, they have been used for large display devices such as televisions, taking advantage of their characteristics such as light weight, thinness, and low power consumption. ing. As a type of liquid crystal display panel, a vertical electric field method represented by a TN (twisted nematic) type was once dominant, but recently, a liquid crystal display panel called a lateral electric field method has become mainstream. There is.

縦電界方式の液晶表示パネルは、液晶層を介して互いに対向して配置される透明基板のうち、片方の透明基板には画素電極が設けられ、もう片方の透明基板には共通電極が設けられ、この画素電極と共通電極との間に発生する電界、即ち透明基板に対して垂直な電界によって液晶の配向を制御することを特徴としている。これに対し、横電界方式の液晶表示パネルの構成は、液晶層を介して互いに対向して配置される透明基板のうち、主に片方の透明基板の液晶層側に表示用電極と基準電極とが設けられ、この表示用電極と基準電極との間に発生する電界(横方向電界、フリンジ電界)、即ち透明基板と平行に発生させる電界によって液晶の配向を制御することによって、上記液晶層を透過する光を変調させるようにしたものである。   In a vertical electric field type liquid crystal display panel, one of the transparent substrates arranged to face each other with a liquid crystal layer in between is provided with a pixel electrode, and the other transparent substrate is provided with a common electrode. The alignment of the liquid crystal is controlled by an electric field generated between the pixel electrode and the common electrode, that is, an electric field perpendicular to the transparent substrate. On the other hand, in the configuration of the liquid crystal display panel of the horizontal electric field system, among the transparent substrates arranged to face each other via the liquid crystal layer, the display electrode and the reference electrode are mainly provided on the liquid crystal layer side of one transparent substrate. Is provided, and the liquid crystal layer is controlled by controlling the alignment of the liquid crystal by an electric field (lateral electric field, fringe electric field) generated between the display electrode and the reference electrode, that is, an electric field generated in parallel with the transparent substrate. It is designed to modulate transmitted light.

横電界方式の液晶表示パネルは縦電界方式に比べて視野角が広いという利点があるが、縦電界方式の液晶表示パネルには発生しない課題として、液晶表示パネルの外部又は内部からの静電的な影響や外部の電磁的妨害を受けて、黒表示したとき光抜けが生ずるなど、表示品位が低下するという問題があった。これは、横電界方式の液晶表示パネルは、片方の透明基板に表示用電極と基準電極とが集積した構造になっているため、外部からの静電気等に対するシールド機能を備える導電層を全く有していない構成となっているためである。   The horizontal electric field type liquid crystal display panel has an advantage in that it has a wider viewing angle than the vertical electric field type liquid crystal display panel, but a problem that does not occur in the vertical electric field type liquid crystal display panel is that electrostatic discharge from outside or inside the liquid crystal display panel is a problem. However, there is a problem in that the display quality is deteriorated, such as light leakage when black is displayed due to such influences and external electromagnetic interference. This is because the horizontal electric field type liquid crystal display panel has a structure in which the display electrode and the reference electrode are integrated on one transparent substrate, and therefore has no conductive layer having a shield function against external static electricity and the like. This is because it is not configured.

このような問題を解決するため、液晶表示パネルの透明基板のうち、バックライトユニットに対して遠い側の透明基板の液晶層とは反対側の面に透光性を備える導電層を形成し、静電気放電(ESD)機能を持たせるという技術が提案されており、具体的には導電層としてITO等を含む帯電防止膜を形成する方法が提案されている(特許文献1参照。)。この方法により、横電界方式液晶表示パネルにESD機能を付与することができる。   In order to solve such a problem, among the transparent substrates of the liquid crystal display panel, a transparent conductive layer is formed on the surface opposite to the liquid crystal layer of the transparent substrate far from the backlight unit, A technique of providing an electrostatic discharge (ESD) function has been proposed, and specifically, a method of forming an antistatic film containing ITO or the like as a conductive layer has been proposed (see Patent Document 1). With this method, an ESD function can be imparted to the horizontal electric field type liquid crystal display panel.

一方、最近では、スマートホン等に用いられる液晶表示装置に代表されるように、タッチパネル機能を有する液晶表示パネルを用いた液晶表示装置の需要が増大している。現在普及しているタッチパネル機能付液晶表示パネルは、従来の液晶表示パネルの外側にタッチパネルを配置する外付け型であるが、この外付け型ではパネル全体が厚くなり液晶表示装置の薄型化が困難となるとう問題がある。これに対して、液晶表示パネルの内部にタッチパネル機能を内蔵させた内蔵型として、タッチパネル機能内蔵型液晶表示パネルが提案されている。タッチパネル機能内蔵型液晶表示パネルは、液晶表示パネルの2枚のガラス基板の間にタッチ感知機能層を配置したもので、パネル全体を薄くできるという長所がある。このため、前述の横電界方式液晶表示パネルとタッチパネル機能内蔵型液晶表示パネルとを組み合わせた液晶表示パネルが提案されている(特許文献2参照。)。また、特許文献2では、タッチ感知機能層に用いるタッチ感知方式として、例えば、静電容量方式が紹介されている。   On the other hand, recently, there is an increasing demand for a liquid crystal display device using a liquid crystal display panel having a touch panel function, as represented by a liquid crystal display device used for a smart phone or the like. The liquid crystal display panel with a touch panel function, which is currently in widespread use, is an external type in which a touch panel is placed outside the conventional liquid crystal display panel, but this external type makes the entire panel thicker and it is difficult to make the liquid crystal display device thinner. Then there is a problem. On the other hand, a liquid crystal display panel with a built-in touch panel function has been proposed as a built-in type in which a touch panel function is built in the liquid crystal display panel. A liquid crystal display panel with a built-in touch panel has a touch sensing function layer disposed between two glass substrates of the liquid crystal display panel, and has an advantage that the entire panel can be thinned. Therefore, there has been proposed a liquid crystal display panel in which the horizontal electric field type liquid crystal display panel and the liquid crystal display panel with a built-in touch panel function are combined (see Patent Document 2). Further, in Patent Document 2, for example, an electrostatic capacitance method is introduced as a touch sensing method used for the touch sensing function layer.

また、本発明に関連する先行技術文献として特許文献3〜6がある。   Further, there are Patent Documents 3 to 6 as prior art documents related to the present invention.

特開2010−102020号公報JP, 2010-102020, A 特開2011−137882号公報JP, 2011-137882, A 特開2000−196287号公報JP 2000-196287 A 特開2005−139026号公報JP, 2005-139026, A 特開2006−339113号公報JP, 2006-339113, A 特開2012−25793号公報JP 2012-25793 A

しかし、液晶表示パネルの透明基板に、透明導電性コーティング液をスプレーコート等により塗布して透明導電性膜を形成する従来の方法では、透明導電性膜の光学特性及び電気特性を特定の範囲に制御することが困難で、且つ安定的に均一な特性を有する透明導電性膜を形成することが困難であった。   However, in the conventional method of forming a transparent conductive film by applying a transparent conductive coating liquid to a transparent substrate of a liquid crystal display panel by spray coating or the like, the optical characteristics and the electrical characteristics of the transparent conductive film are set within a specific range. It was difficult to control, and it was difficult to stably form a transparent conductive film having uniform characteristics.

このため、例えば、横電界方式液晶表示パネルと、静電容量方式のタッチ感知機能層を配置したタッチパネル機能内蔵型液晶表示パネルとを組み合わせた液晶表示パネルでは、横電界方式液晶表示パネルに要求されるESD機能を付与するために、液晶表示パネルに導電層を設けると、タッチ感度が低下する場合があることが判明している。   Therefore, for example, in a liquid crystal display panel in which a horizontal electric field type liquid crystal display panel and a liquid crystal display panel with a built-in touch panel function in which a capacitance type touch sensing function layer is arranged are combined, a horizontal electric field type liquid crystal display panel is required. It has been found that when a conductive layer is provided on the liquid crystal display panel to provide the ESD function, the touch sensitivity may be lowered.

本発明は、上記問題を解決したもので、光学特性及び電気特性を特定の範囲に制御した透明導電性膜を備えた透明基板を安定的に供給できる透明導電性基板の製造方法を提供するものである。   The present invention solves the above problems and provides a method for producing a transparent conductive substrate capable of stably supplying a transparent substrate having a transparent conductive film in which optical characteristics and electrical characteristics are controlled in a specific range. Is.

本発明の透明導電性基板の製造方法は、透明導電性コーティング組成物を透明基板に塗布する塗布工程と、前記透明基板の上に透明導電性膜を形成する製膜工程とを含み、前記透明導電性コーティング組成物は、鎖状導電性無機粒子と、無機系バインダと、沸点が150℃以上の高沸点溶剤と、沸点が100℃以下の低沸点溶剤とを含み、前記鎖状導電性無機粒子及び前記無機系バインダの合計量が、前記透明導電性コーティング組成物の全質量に対して、0.4質量%以上1質量%以下であり、前記鎖状導電性無機粒子の含有量は、前記鎖状導電性無機粒子及び前記無機系バインダの合計質量に対して、75質量%以上85質量%以下であり、前記透明導電性膜の厚さが、10nm以上50nm以下であり、前記透明導電性膜の表面抵抗率が、1.1×109Ω/スクエア以上1.0×1010Ω/スクエア以下であることを特徴とする。 The method for producing a transparent conductive substrate of the present invention includes a coating step of applying a transparent conductive coating composition to a transparent substrate, and a film forming step of forming a transparent conductive film on the transparent substrate, wherein the transparent The conductive coating composition contains chain conductive inorganic particles, an inorganic binder, a high boiling point solvent having a boiling point of 150 ° C. or higher, and a low boiling point solvent having a boiling point of 100 ° C. or lower, and the chain conductive inorganic material. The total amount of particles and the inorganic binder is 0.4% by mass or more and 1% by mass or less with respect to the total mass of the transparent conductive coating composition, and the content of the chain-like conductive inorganic particles is Based on the total mass of the chain-like conductive inorganic particles and the inorganic binder, 75 mass% or more and 85 mass% or less, the thickness of the transparent conductive film is 10 nm or more and 50 nm or less, the transparent conductive Resistivity of surface film , Characterized in that it is 1.1 × 10 9 Ω / square or more 1.0 × 10 10 Ω / square or less.

また、本発明のタッチパネル機能内蔵型横電界方式液晶表示パネルは、上記本発明の透明導電性基板の製造方法で製造された透明導電性基板を含むことを特徴とする。   Further, the horizontal electric field type liquid crystal display panel with a built-in touch panel function of the present invention includes the transparent conductive substrate manufactured by the method of manufacturing a transparent conductive substrate of the present invention.

本発明によれば、光学特性及び電気特性を特定の範囲に制御した透明導電性膜を備えた透明導電性基板を安定的に提供できる。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the transparent conductive substrate provided with the transparent conductive film which controlled the optical characteristic and electric characteristic in the specific range can be provided stably.

図1は、本発明で製造した透明導電性基板の一例を示す模式断面図である。FIG. 1 is a schematic cross-sectional view showing an example of the transparent conductive substrate manufactured by the present invention.

(本発明の透明導電性基板の製造方法)
先ず、本発明の透明導電性基板の製造方法について説明する。
(Method for producing transparent conductive substrate of the present invention)
First, a method for manufacturing the transparent conductive substrate of the present invention will be described.

本発明の透明導電性基板の製造方法は、透明導電性コーティング組成物を透明基板に塗布する塗布工程と、上記透明基板の上に透明導電性膜を形成する製膜工程とを備えている。また、上記透明導電性コーティング組成物は、鎖状導電性無機粒子と、無機系バインダと、沸点が150℃以上の高沸点溶剤と、沸点が100℃以下の低沸点溶剤とを含み、上記鎖状導電性無機粒子及び上記無機系バインダの合計量が、上記透明導電性コーティング組成物の全質量に対して、0.4質量%以上1質量%以下であり、上記鎖状導電性無機粒子の含有量は、上記鎖状導電性無機粒子及び上記無機系バインダの合計質量に対して、75質量%以上85質量%以下であり、上記透明導電性膜の厚さが、10nm以上50nm以下であり、上記透明導電性膜の表面抵抗率が、1.1×109Ω/スクエア以上1.0×1010Ω/スクエア以下であることを特徴とする。 The method for producing a transparent conductive substrate of the present invention includes a coating step of coating the transparent conductive coating composition on the transparent substrate and a film forming step of forming a transparent conductive film on the transparent substrate. Further, the transparent conductive coating composition contains chain conductive inorganic particles, an inorganic binder, a high boiling point solvent having a boiling point of 150 ° C. or higher, and a low boiling point solvent having a boiling point of 100 ° C. or lower, and the chain. Of the linear conductive inorganic particles and the inorganic binder is 0.4 mass% or more and 1 mass% or less based on the total mass of the transparent conductive coating composition. The content is 75% by mass or more and 85% by mass or less with respect to the total mass of the chain conductive inorganic particles and the inorganic binder, and the thickness of the transparent conductive film is 10 nm or more and 50 nm or less. The surface resistivity of the transparent conductive film is 1.1 × 10 9 Ω / square or more and 1.0 × 10 10 Ω / square or less.

上記鎖状導電性無機粒子及び上記無機系バインダの合計量を上記透明導電性コーティング組成物の全質量に対して0.4質量%以上1質量%以下とすることにより、上記透明導電性コーティング組成物の固形分濃度が低下して、上記透明導電性コーティング組成物を透明基板に塗布する塗布工程において、比較的薄い塗膜を形成でき、その後の製膜工程において上記透明基板の上に比較的薄い透明導電性膜を形成することができる。これにより、上記透明導電性膜の光学特性を向上できる。   By setting the total amount of the chain-like conductive inorganic particles and the inorganic binder to be 0.4% by mass or more and 1% by mass or less based on the total mass of the transparent conductive coating composition, the transparent conductive coating composition The solid content concentration of the product is reduced, and in the coating step of coating the transparent conductive coating composition on the transparent substrate, a relatively thin coating film can be formed, and in the subsequent film forming step, the coating is relatively thin on the transparent substrate. A thin transparent conductive film can be formed. Thereby, the optical characteristics of the transparent conductive film can be improved.

また、上記鎖状導電性無機粒子の含有量を上記鎖状導電性無機粒子及び上記無機系バインダの合計質量に対して75質量%以上85質量%以下とすることにより、相対的に上記無機系バインダの含有量が低下するため、即ち光学特性の低下に大きく影響する上記無機系バインダの含有量が低下するため、上記透明導電性膜の光学特性を向上できる。   In addition, the content of the chain-like conductive inorganic particles is set to 75% by mass or more and 85% by mass or less with respect to the total mass of the chain-like conductive inorganic particles and the inorganic binder, whereby the inorganic system is relatively Since the content of the binder is decreased, that is, the content of the inorganic binder, which greatly affects the deterioration of the optical characteristics, is decreased, the optical characteristics of the transparent conductive film can be improved.

更に、上記透明導電性膜の厚さが小さくなっても、上記鎖状導電性無機粒子の含有量を上記鎖状導電性無機粒子及び上記無機系バインダの合計質量に対して75質量%以上85質量%以下として、従来より上記鎖状導電性無機粒子の含有量を増加させることにより、形成した透明導電性膜の表面抵抗率の増加を抑制して、上記透明導電性膜の表面抵抗率を特定の範囲に制御できる。   Further, even if the thickness of the transparent conductive film is reduced, the content of the chain-like conductive inorganic particles is 75% by mass or more and 85% by mass or more with respect to the total mass of the chain-like conductive inorganic particles and the inorganic binder. As the mass% or less, by increasing the content of the chain-like conductive inorganic particles from the past, the increase in the surface resistivity of the formed transparent conductive film is suppressed, and the surface resistivity of the transparent conductive film is reduced. It can be controlled within a specific range.

以上より、上記鎖状導電性無機粒子及び上記無機系バインダの合計量を上記透明導電性コーティング組成物の全質量に対して、0.4質量%以上1質量%以下とし、上記鎖状導電性無機粒子の含有量を上記鎖状導電性無機粒子及び上記無機系バインダの合計質量に対して、75質量%以上85質量%以下とすることにより、光学特性及び電気特性を特定の範囲に制御した透明導電性膜を備えた透明導電性基板を安定的に提供できる。   From the above, the total amount of the chain conductive inorganic particles and the inorganic binder is 0.4 mass% or more and 1 mass% or less with respect to the total mass of the transparent conductive coating composition. By controlling the content of the inorganic particles to 75% by mass or more and 85% by mass or less with respect to the total mass of the chain-like conductive inorganic particles and the inorganic binder, the optical characteristics and the electrical characteristics were controlled within specific ranges. A transparent conductive substrate provided with a transparent conductive film can be stably provided.

次に、本発明の透明導電性基板の製造方法に用いる透明導電性コーティング組成物の含有成分について説明する。
<鎖状導電性無機粒子>
本発明で用いる透明導電性コーティング組成物は、上記鎖状導電性無機粒子の含有量を、上記鎖状導電性無機粒子及び上記無機系バインダの合計質量に対して75質量%以上85質量%以下とする。これにより、表面抵抗率が1.1×109Ω/スクエア以上1.0×1010Ω/スクエア以下の範囲の透明導電性膜を形成できる。
Next, the components contained in the transparent conductive coating composition used in the method for producing a transparent conductive substrate of the present invention will be described.
<Chain conductive inorganic particles>
The transparent conductive coating composition used in the present invention has a content of the chain-shaped conductive inorganic particles of 75% by mass or more and 85% by mass or less with respect to the total mass of the chain-shaped conductive inorganic particles and the inorganic binder. And This makes it possible to form a transparent conductive film having a surface resistivity of 1.1 × 10 9 Ω / square or more and 1.0 × 10 10 Ω / square or less.

上記鎖状導電性無機粒子としては、粒子径が2〜30nmの一次粒子が2〜50個連接してなるものを用いることが好ましく、3〜20個連接してなることがより好ましい。上記粒子径の一次粒子の連接数が50個を超えると、粒子の散乱によって透明導電性膜のヘイズ値が上昇する傾向にある。また、上記粒子径の一次粒子の連接数が2個を下回ると、粒子が非鎖状となり無機粒子相互間の導電性ネットワークの形成が困難となり、透明導電性膜の導電性が低下する。   As the chain-like conductive inorganic particles, it is preferable to use those in which 2 to 50 primary particles having a particle diameter of 2 to 30 nm are connected, and more preferably 3 to 20 are connected. If the number of primary particles connected to each other exceeds 50, the haze value of the transparent conductive film tends to increase due to particle scattering. When the number of primary particles having the above particle diameters connected to each other is less than 2, the particles become non-chained and it becomes difficult to form a conductive network between the inorganic particles, and the conductivity of the transparent conductive film is lowered.

上記粒子径と連結数は、例えば、透明導電性コーティング組成物を低沸点溶剤で希釈し、各種基材上に2〜10nmの膜厚で薄く塗布した透明導電性膜を、透過型電子顕微鏡(TEM)により、鎖状導電性無機粒子を構成する個々の粒子の粒子径と連結数を観察・測定して求めることができる。   The particle diameter and the number of connections are, for example, those obtained by diluting the transparent conductive coating composition with a low boiling point solvent and thinly coating the transparent conductive coating composition on various substrates with a film thickness of 2 to 10 nm using a transmission electron microscope ( It can be determined by observing and measuring the particle diameter and the number of connections of individual particles constituting the chain-like conductive inorganic particles by TEM).

上記鎖状導電性無機粒子としては、透明性と導電性を兼ね備えた鎖状粒子であれば特に限定されず、例えば、金属粒子、カーボン粒子、導電性金属酸化物粒子、導電性窒化物粒子等を用いることができる。中でも、透明性と導電性とを兼ね備えた導電性金属酸化物粒子が好ましい。上記導電性金属酸化物粒子としては、酸化スズ粒子、酸化アンチモン粒子、アンチモン含有酸化スズ(ATO)粒子、スズ含有酸化インジウム(ITO)粒子、リン含有酸化スズ(PTO)粒子、アルミニウム含有酸化亜鉛(AZO)粒子、ガリウム含有酸化亜鉛(GZO)粒子等の金属酸化物粒子が挙げられる。上記導電性金属酸化物粒子は、単独で用いてもよく、2種以上を組合せて用いてもよい。また、上記鎖状導電性無機粒子は、ATO粒子、ITO粒子及びPTO粒子からなる群から選ばれる少なくとも1種を含むことが好ましい。これらの導電性無機粒子は、透明性、導電性及び化学特性に優れており、透明導電性膜にした場合にも高い光透過率と導電性を実現することができるからである。   The chain-like conductive inorganic particles are not particularly limited as long as they are chain particles having both transparency and conductivity, and examples thereof include metal particles, carbon particles, conductive metal oxide particles, and conductive nitride particles. Can be used. Among them, conductive metal oxide particles having both transparency and conductivity are preferable. Examples of the conductive metal oxide particles include tin oxide particles, antimony oxide particles, antimony-containing tin oxide (ATO) particles, tin-containing indium oxide (ITO) particles, phosphorus-containing tin oxide (PTO) particles, and aluminum-containing zinc oxide ( Examples thereof include metal oxide particles such as AZO) particles and gallium-containing zinc oxide (GZO) particles. The conductive metal oxide particles may be used alone or in combination of two or more kinds. Further, the chain-like conductive inorganic particles preferably include at least one selected from the group consisting of ATO particles, ITO particles and PTO particles. This is because these conductive inorganic particles are excellent in transparency, conductivity and chemical properties, and even when formed into a transparent conductive film, high light transmittance and conductivity can be realized.

上記鎖状導電性無機粒子の製造方法は、特に限定されないが、例えば、前述の特許文献3(特開2000−196287号公報)、特許文献4(特開2005−139026号公報)、特許文献5(特開2006−339113号公報)、特許文献6(特開2012−25793号公報)に記載の製造方法を採用することができる。   The method for producing the chain-like conductive inorganic particles is not particularly limited, but, for example, the above-mentioned Patent Document 3 (JP 2000-196287A), Patent Document 4 (JP 2005-139026A), and Patent Document 5 are mentioned. (Japanese Patent Application Laid-Open No. 2006-339113) and Patent Document 6 (Japanese Patent Application Laid-Open No. 2012-25793) can be used.

<無機系バインダ>
本発明で用いる無機系バインダとしては、上記鎖状導電性無機粒子を分散して塗膜を形成できるものであれば特に限定されない。上記無機系バインダの含有量は、上記鎖状導電性無機粒子及び上記無機系バインダの合計質量に対して、15質量%以上とすることが好ましい。15質量%を下回ると透明導電性膜の強度が低下する傾向があるからである。
<Inorganic binder>
The inorganic binder used in the present invention is not particularly limited as long as it can disperse the chain-like conductive inorganic particles to form a coating film. The content of the inorganic binder is preferably 15% by mass or more with respect to the total mass of the chain conductive inorganic particles and the inorganic binder. This is because if it is less than 15% by mass, the strength of the transparent conductive film tends to decrease.

上記無機系バインダとしては、例えば、アルコキシシランが使用できる。より具体的には、上記アルコキシシランは、3〜4個のアルコキシ基がケイ素に結合した化合物であって、水に溶解させると、重合して−OSiO−で繋がれた高分子量SiO2体になるものを使用できる。 As the inorganic binder, for example, alkoxysilane can be used. More specifically, the alkoxysilane is a compound in which 3 to 4 alkoxy groups are bonded to silicon, and when dissolved in water, it is polymerized to form a high molecular weight SiO 2 body linked by —OSiO—. Can be used.

上記アルコキシシランとしては、テトラアルコキシシラン、トリアルコキシシラン、ジアルコキシシラン及びアルコキシシランオリゴマーからなる群から選ばれる少なくとも1種の多官能アルコキシシランを含むものであることが好ましい。アルコキシシランオリゴマーとは、アルコキシシランのモノマー同士が縮合することで形成される高分子量化されたアルコキシシランであり、シロキサン結合(−OSiO−)を1分子内に2個以上有するオリゴマーのことをいう。その結合数は2〜20個であることが好ましい。   The above-mentioned alkoxysilane preferably contains at least one polyfunctional alkoxysilane selected from the group consisting of tetraalkoxysilane, trialkoxysilane, dialkoxysilane and alkoxysilane oligomer. The alkoxysilane oligomer is a high-molecular weight alkoxysilane formed by condensation of alkoxysilane monomers with each other, and refers to an oligomer having two or more siloxane bonds (-OSiO-) in one molecule. . The number of bonds is preferably 2 to 20.

上記テトラアルコキシシランの例としては、テトラメトキシシラン、テトラエトキシシラン、テトラプロポキシシラン、テトラiso−プロポキシシラン、テトラt−ブトキシシラン等の炭素数1〜4のアルコキシ基でテトラ置換されたシランが挙げられる。   Examples of the tetraalkoxysilane include tetramethoxysilane, tetraethoxysilane, tetrapropoxysilane, tetraiso-propoxysilane, tetra-t-butoxysilane, and the like, which are tetra-substituted with an alkoxy group having 1 to 4 carbon atoms. To be

上記トリアルコキシシランの例としては、トリメトキシシラン、トリエトキシシラン、トリプロポキシシラン、トリブトキシシラン、トリiso−プロポキシシラン、トリL−ブトキシシラン等の炭素数1〜4のアルコキシ基でトリ置換されたシラン、“KBM−13(メチルトリメトキシシラン)”、“KBE−13(メチルトリエトキシシラン)”等の一部がアルキル基で置換されたシランが挙げられる。   Examples of the trialkoxysilane are tri-substituted with an alkoxy group having 1 to 4 carbon atoms such as trimethoxysilane, triethoxysilane, tripropoxysilane, tributoxysilane, triiso-propoxysilane, and tri-L-butoxysilane. In addition, silanes such as "KBM-13 (methyltrimethoxysilane)" and "KBE-13 (methyltriethoxysilane)" partially substituted with an alkyl group can be mentioned.

上記ジアルコキシシランの例としては、ジメチルジメトキシシラン、ジフェニルジメトキシシラン、ジメチルジエトキシシラン、ジフェニルジエトキシシラン等の炭素数1〜4のアルコキシ基でジ置換されたシラン、“KBM−22(ジメチルジメトキシシラン)”、“KBE−22(ジメチルジエトキシシラン)”等の一部がアルキル基で置換されたシランが挙げられる。   Examples of the dialkoxysilane include dimethyldimethoxysilane, diphenyldimethoxysilane, dimethyldiethoxysilane, diphenyldiethoxysilane, and other silanes disubstituted with an alkoxy group having 1 to 4 carbon atoms, "KBM-22 (dimethyldimethoxysilane). Silane) "," KBE-22 (dimethyldiethoxysilane) "and the like, which are partially substituted with an alkyl group.

上記アルコキシシランオリゴマーの例としては、有機基とアルコキシシリル基を併せ持つ比較的低分子のアルコキシシランオリゴマーが挙げられる。具体例としては、信越化学社製の“X−40−2308”、“X−40−9238”、“X−40−9247”、“KR−401N”、“KR−510”、“KR−9218”、コルコート社製の“エチルシリケート40”、“エチルシリケート48”、“メチルシリケート51”、“メチルシリケート53A”等が挙げられる。   Examples of the alkoxysilane oligomer include a relatively low molecular weight alkoxysilane oligomer having both an organic group and an alkoxysilyl group. As a specific example, "X-40-2308", "X-40-9238", "X-40-9247", "KR-401N", "KR-510", "KR-9218" manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. , “Ethyl silicate 40”, “Ethyl silicate 48”, “Methyl silicate 51”, “Methyl silicate 53A” and the like manufactured by Colcoat Co., Ltd.

上記アルコキシシランの具体例のうち、より高い硬度の透明導電性膜を形成するためには、テトラアルコキシシラン及びトリアルコキシシランの併用、一部がアルキル基で置換されたトリアルコキシシランやジアルコキシシラン、官能基がアルコキシシリル基であるアルコキシシランオリゴマーが好ましい。これらを用いることにより、バインダ分子間のシロキサン結合を促進させた3次元架橋により透明導電性膜の硬度が強くなり、経時変化によって透明導電性膜に亀裂が発生する危険性をより一層なくし、且つ基板との密着性をより高めることができるからである。   Among the above specific examples of alkoxysilane, in order to form a transparent conductive film having higher hardness, tetraalkoxysilane and trialkoxysilane are used in combination, and trialkoxysilane or dialkoxysilane partially substituted with an alkyl group. An alkoxysilane oligomer whose functional group is an alkoxysilyl group is preferred. By using these, the hardness of the transparent conductive film is increased by the three-dimensional cross-linking that promotes the siloxane bond between the binder molecules, and the risk of cracking in the transparent conductive film due to aging is further reduced, and This is because the adhesiveness with the substrate can be further enhanced.

<高沸点溶剤>
本発明で用いる高沸点溶剤は、沸点が150℃以上の溶剤であり、無機系バインダ成分を溶解し、且つ塗布後の乾燥工程によって除去できるものであればよく、例えば、エチレングリコール、ジメチルスルホキシド、N−メチルピロリドン、N−エチルピロリドン、N−メチルホルムアミド、メチルイソブチルケトン、1,2−プロパンジオール、N,N−ジメチルアニリン、クレゾール、ニトロベンゼン、エチレングリコール等を使用できるが、蒸発速度及び塗布液保存安定性の点で、ジメチルスルホキシドが好ましい。
<High boiling point solvent>
The high-boiling solvent used in the present invention is a solvent having a boiling point of 150 ° C. or higher, as long as it dissolves the inorganic binder component and can be removed by a drying step after coating, for example, ethylene glycol, dimethyl sulfoxide, N-methylpyrrolidone, N-ethylpyrrolidone, N-methylformamide, methylisobutylketone, 1,2-propanediol, N, N-dimethylaniline, cresol, nitrobenzene, ethylene glycol, etc. can be used, but the evaporation rate and coating liquid From the viewpoint of storage stability, dimethyl sulfoxide is preferable.

上記高沸点溶剤の含有量は、上記導電性コーティング組成物の全質量に対して、5質量%以上20質量%以下とすることが好ましい。   The content of the high boiling point solvent is preferably 5% by mass or more and 20% by mass or less based on the total mass of the conductive coating composition.

<低沸点溶剤>
本発明で用いる低沸点溶剤は、沸点が100℃以下の溶剤であり、例えば、メチルアルコール、エチルアルコール、n−プロピルアルコール、イソプロピルアルコール、n−ブチルアルコール、イソブチルアルコール、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、メチルエチルケトン、テトラヒドロフラン、アセトン、ジオキサン、酢酸エチル、クロロホルム、アセトニトリル、ピリジン、酢酸、水等を使用できるが、乾燥性及び塗布液保存安定性の点で、エチルアルコール又はイソプロピルアルコールが好ましい。上記低沸点溶剤を使用することにより、上記鎖状導電性無機粒子の分散性が向上する。
<Low boiling point solvent>
The low boiling point solvent used in the present invention is a solvent having a boiling point of 100 ° C. or lower, and examples thereof include methyl alcohol, ethyl alcohol, n-propyl alcohol, isopropyl alcohol, n-butyl alcohol, isobutyl alcohol, propylene glycol monomethyl ether acetate and methyl ethyl ketone. , Tetrahydrofuran, acetone, dioxane, ethyl acetate, chloroform, acetonitrile, pyridine, acetic acid, water and the like can be used, but ethyl alcohol or isopropyl alcohol is preferable from the viewpoint of drying property and storage stability of the coating solution. By using the low boiling point solvent, the dispersibility of the chain-like conductive inorganic particles is improved.

上記低沸点溶剤の含有量は、上記導電性コーティング組成物の全質量に対して、80質量%以上95質量%以下とすることが好ましい。   The content of the low boiling point solvent is preferably 80% by mass or more and 95% by mass or less based on the total mass of the conductive coating composition.

<レベリング剤>
本発明で用いる透明導電性コーティング組成物には、レベリング剤を更に添加することができる。これにより、透明導電性膜の表面平滑性が確保できる。上記レベリング剤としては、例えば、ポリエーテル変性ポリジメチルシロキサン、ジプロピレングリコールモノメチルエーテル等を使用できる。上記レベリング剤の含有量は、上記導電性コーティング組成物の全質量に対して0.01〜5.0質量%程度とすればよい。
<Leveling agent>
A leveling agent can be further added to the transparent conductive coating composition used in the present invention. This ensures the surface smoothness of the transparent conductive film. As the leveling agent, for example, polyether-modified polydimethylsiloxane, dipropylene glycol monomethyl ether or the like can be used. The content of the leveling agent may be about 0.01 to 5.0 mass% with respect to the total mass of the conductive coating composition.

<調製法>
本発明で用いる透明導電性コーティング組成物の調製法は、上記各成分を混合して、上記鎖状導電性無機粒子を上記無機系バインダと上記溶剤の中に分散できれば特に限定されず、例えば、上記各成分をボールミル、サンドミル、ピコミル、ペイントコンディショナー等のメディアを介在させた機械的処理、又は超音波分散機、ホモジナイザー、ディスパー、ジェットミル等を使用した分散処理を施して混合・分散することができる。
<Preparation method>
The method for preparing the transparent conductive coating composition used in the present invention is not particularly limited as long as the above respective components are mixed and the chain conductive inorganic particles can be dispersed in the inorganic binder and the solvent, for example, Ball mill, sand mill, pico mill, mechanical treatment with media such as paint conditioner, or ultrasonic dispersion machine, homogenizer, disperser, jet mill, etc. may be used to mix and disperse the above components. it can.

次に、本発明の透明導電性基板の製造方法の各工程について説明する。   Next, each step of the method for producing a transparent conductive substrate of the present invention will be described.

<塗布工程>
本発明の塗布工程では、上記透明導電性コーティング組成物を透明基板に塗布する。
<Coating process>
In the coating step of the present invention, the transparent conductive coating composition is coated on a transparent substrate.

上記透明導電性コーティング組成物の塗布方法としては、平滑な塗膜を形成しうる塗布方法であれば特に限定されない。例えば、スピンコート、ロールコート、ダイコート、エアナイフコート、ブレードコート、リバースコート、グラビアコート、マイクログラビアコート等の塗工法、又はグラビア印刷、スクリーン印刷、オフセット印刷、インクジェット印刷等の印刷法、スプレーコート、スリットコート、ディップコート等の塗布方法を用いることができるが、本発明で用いる導電性コーティング組成物は、溶剤の含有量が多く粘度が低いため、塗布効率の観点からスピンコート又はスプレーコートが好ましい。   The coating method of the transparent conductive coating composition is not particularly limited as long as it is a coating method capable of forming a smooth coating film. For example, spin coating, roll coating, die coating, air knife coating, blade coating, reverse coating, gravure coating, coating methods such as micro gravure coating, or gravure printing, screen printing, offset printing, printing methods such as inkjet printing, spray coating, Although a coating method such as slit coating or dip coating can be used, the conductive coating composition used in the present invention has a high solvent content and low viscosity, and therefore spin coating or spray coating is preferable from the viewpoint of coating efficiency. .

上記透明基板としては、ガラス基板、透明樹脂基板等を用いることができるが、液晶表示パネルのガラス基板が好ましい。   As the transparent substrate, a glass substrate, a transparent resin substrate or the like can be used, but a glass substrate of a liquid crystal display panel is preferable.

<製膜工程>
本発明の製膜工程では、上記透明基板の上に塗布された上記透明導電性コーティング組成物からなる塗膜を乾燥して溶剤を除去することにより透明導電性膜を形成する。上記乾燥条件は、特に限定されず、上記溶剤が除去できる温度及び時間を適宜設定できる。
<Film forming process>
In the film forming step of the present invention, a transparent conductive film is formed by drying the coating film formed of the transparent conductive coating composition applied on the transparent substrate to remove the solvent. The drying conditions are not particularly limited, and the temperature and time at which the solvent can be removed can be set appropriately.

次に、本発明で製造した透明導電性膜について説明する。   Next, the transparent conductive film produced by the present invention will be described.

本発明で製造した透明導電性膜の厚さは、10nm以上50nm以下に設定される。これにより、上記透明導電性膜のヘイズ値を0.2%以下にでき、上記透明導電性膜の全光線透過率を99.1%以上99.9%以下にすることができる。   The thickness of the transparent conductive film produced by the present invention is set to 10 nm or more and 50 nm or less. Thereby, the haze value of the transparent conductive film can be 0.2% or less, and the total light transmittance of the transparent conductive film can be 99.1% or more and 99.9% or less.

また、上記透明導電性膜は、上記透明導電性コーティング組成物を用いて形成することにより、表面抵抗率を1.1×109Ω/スクエア以上1.0×1010Ω/スクエア以下に制御することができる。 Further, the transparent conductive film is formed by using the transparent conductive coating composition to control the surface resistivity to 1.1 × 10 9 Ω / square or more and 1.0 × 10 10 Ω / square or less. can do.

また、上記透明導電性膜は、上記透明導電性コーティング組成物を用いて形成することにより、鉛筆硬度を5〜9Hとすることができ、製造工程での傷付を防止し、歩止まり低下を防止することができる。   In addition, the transparent conductive film can have a pencil hardness of 5 to 9H by being formed using the transparent conductive coating composition, which prevents scratches in the manufacturing process and reduces yield. Can be prevented.

次に、本発明の透明導電性基板の製造方法で製造された透明導電性基板について図面に基づき説明する。図1は、本発明で製造した透明導電性基板の一例を示す模式断面図である。図1において、透明導電性基板10は、液晶表示パネル等のガラス基板11と、その上に形成された透明導電性膜12とを備えている。   Next, a transparent conductive substrate manufactured by the method for manufacturing a transparent conductive substrate of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a schematic cross-sectional view showing an example of the transparent conductive substrate manufactured by the present invention. In FIG. 1, the transparent conductive substrate 10 includes a glass substrate 11 such as a liquid crystal display panel and a transparent conductive film 12 formed thereon.

(タッチパネル機能内蔵型横電界方式液晶表示パネル)
次に、本発明のタッチパネル機能内蔵型横電界方式液晶表示パネルについて説明する。
(Lateral electric field type LCD panel with built-in touch panel function)
Next, a horizontal electric field type liquid crystal display panel with a built-in touch panel function of the present invention will be described.

本発明のタッチパネル機能内蔵型横電界方式液晶表示パネルは、上記本発明の透明導電性基板の製造方法で製造された透明導電性基板を含むことを特徴とする。本発明のタッチパネル機能内蔵型横電界方式液晶表示パネルが、本発明で製造した透明導電性基板を備えることにより、タッチ感度を低下させずに、ESD機能を付与できる。   A horizontal electric field type liquid crystal display panel with a built-in touch panel function of the present invention is characterized by including the transparent conductive substrate manufactured by the method for manufacturing a transparent conductive substrate of the present invention. Since the horizontal electric field type liquid crystal display panel with a built-in touch panel function of the present invention is provided with the transparent conductive substrate manufactured by the present invention, an ESD function can be provided without lowering touch sensitivity.

以下、実施例に基づいて本発明を詳細に説明する。但し、本発明は以下の実施例に限定されるものではない。また、以下で「部」とは、「質量部」を意味する。   Hereinafter, the present invention will be described in detail based on examples. However, the present invention is not limited to the following examples. Further, in the following, “part” means “part by mass”.

(実施例1)
<コーティング液の調製>
プラスチック製ビンに、下記成分(1)〜(5)を下記分量で入れ、攪拌してコーティング液を調製した。
(Example 1)
<Preparation of coating liquid>
The following components (1) to (5) were placed in a plastic bottle in the following amounts and stirred to prepare a coating liquid.

(1)鎖状ATO粒子:0.42部
(2)アルコキシシラン(無機系バインダ:信越化学工業社製“X40−2308”):0.10部
(3)ジメチルスルホキシド(高沸点溶剤):5.00部
(4)エチルアルコール(低沸点溶剤):94.38部
(5)ポリエーテル変性ポリジメチルシロキサン15.0部とジプロピレングリコールモノメチルエーテル85.0部との混合液(レベリング剤:ビックケミージャパン社製“BYK−337”):0.10部
(1) Chain-like ATO particles: 0.42 parts (2) Alkoxysilane (inorganic binder: "X40-2308" manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.): 0.10 parts (3) Dimethyl sulfoxide (high boiling point solvent): 5 0.000 parts (4) Ethyl alcohol (low boiling solvent): 94.38 parts (5) Mixed solution of 15.0 parts of polyether-modified polydimethylsiloxane and 85.0 parts of dipropylene glycol monomethyl ether (leveling agent: VIC “BYK-337” manufactured by Chemie Japan): 0.10 part

上記コーティング液の不揮発固形成分(鎖状ATO粒子及びアルコキシシラン)の含有量は0.52質量%であり、鎖状ATO粒子及びアルコキシシランの合計量に対する鎖状ATO粒子の含有量は80質量%であった。   The content of the nonvolatile solid components (chain ATO particles and alkoxysilane) of the coating liquid is 0.52% by mass, and the content of chain ATO particles is 80% by mass with respect to the total amount of the chain ATO particles and alkoxysilane. Met.

<透明導電性基板の作製>
上記コーティング液を、縦10cm、横10cm、厚さ0.7mmのガラス基板上にスプレーコートにより塗布した。スプレーガンはノードソン社製パルススプレイを用い、ニードル開度を0.15mmとして、吐出液量10.0g/分になるように液の押し出し圧力を調製した。ガンと基板の距離を100mm、塗布速度を毎秒600mm、重ねピッチ15.0mm、アトマイズエアー及びスワールエアーの圧力は0.05MPaとした。また、塗布面積は20cm四方とし、塗布面積の中心に基板をおいて塗布を行った。得られた塗膜を120℃の乾燥機で1時間乾燥させて、ガラス基板の上に透明導電性膜を設けた実施例1の透明導電性基板を作製した。
<Preparation of transparent conductive substrate>
The coating liquid was applied by spray coating on a glass substrate having a length of 10 cm, a width of 10 cm, and a thickness of 0.7 mm. The spray gun used was a pulse spray manufactured by Nordson Co., Ltd., the needle opening was set to 0.15 mm, and the extrusion pressure of the liquid was adjusted so that the discharge liquid amount was 10.0 g / min. The distance between the gun and the substrate was 100 mm, the coating speed was 600 mm per second, the stacking pitch was 15.0 mm, and the pressure of atomizing air and swirl air was 0.05 MPa. The coating area was 20 cm square, and the substrate was placed with the substrate at the center of the coating area. The obtained coating film was dried in a drier at 120 ° C. for 1 hour to prepare a transparent conductive substrate of Example 1 in which a transparent conductive film was provided on a glass substrate.

(実施例2)
<コーティング液の調製>
プラスチック製ビンに、下記成分(1)〜(5)を下記分量で入れ、攪拌してコーティング液を調製した。
(Example 2)
<Preparation of coating liquid>
The following components (1) to (5) were placed in a plastic bottle in the following amounts and stirred to prepare a coating liquid.

(1)鎖状ATO粒子:0.42部
(2)アルコキシシラン(無機系バインダ:信越化学工業社製“X40−2308”):0.10部
(3)ジメチルスルホキシド(高沸点溶剤):7.50部
(4)エチルアルコール(低沸点溶剤):91.88部
(5)ポリエーテル変性ポリジメチルシロキサン15.0部とジプロピレングリコールモノメチルエーテル85.0部との混合液(レベリング剤:ビックケミージャパン社製“BYK−337”):0.10部
(1) Chain ATO particles: 0.42 parts (2) Alkoxysilane (inorganic binder: "X40-2308" manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.): 0.10 parts (3) Dimethyl sulfoxide (high boiling point solvent): 7 .50 parts (4) Ethyl alcohol (low boiling point solvent): 91.88 parts (5) Mixed solution of 15.0 parts of polyether-modified polydimethylsiloxane and 85.0 parts of dipropylene glycol monomethyl ether (leveling agent: BIC “BYK-337” manufactured by Chemie Japan): 0.10 part

上記コーティング液の不揮発固形成分(鎖状ATO粒子及びアルコキシシラン)の含有量は0.52質量%であり、鎖状ATO粒子及びアルコキシシランの合計量に対する鎖状ATO粒子の含有量は80質量%であった。   The content of the nonvolatile solid components (chain ATO particles and alkoxysilane) of the coating liquid is 0.52% by mass, and the content of chain ATO particles is 80% by mass with respect to the total amount of the chain ATO particles and alkoxysilane. Met.

次に、上記コーティング液を用い、重ねピッチを17.5mmに変更した以外は、実施例1と同様にして実施例2の透明導電性基板を作製した。   Next, using the above coating liquid, a transparent conductive substrate of Example 2 was produced in the same manner as in Example 1 except that the overlapping pitch was changed to 17.5 mm.

(実施例3)
<コーティング液の調製>
プラスチック製ビンに、下記成分(1)〜(5)を下記分量で入れ、攪拌してコーティング液を調製した。
(Example 3)
<Preparation of coating liquid>
The following components (1) to (5) were placed in a plastic bottle in the following amounts and stirred to prepare a coating liquid.

(1)鎖状ATO粒子:0.42部
(2)アルコキシシラン(無機系バインダ:信越化学工業社製“X40−2308”):0.10部
(3)ジメチルスルホキシド(高沸点溶剤):15.00部
(4)エチルアルコール(低沸点溶剤):84.38部
(5)ポリエーテル変性ポリジメチルシロキサン15.0部とジプロピレングリコールモノメチルエーテル85.0部との混合液(レベリング剤:ビックケミージャパン社製“BYK−337”):0.10部
(1) Chain ATO particles: 0.42 parts (2) Alkoxysilane (inorganic binder: "X40-2308" manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.): 0.10 parts (3) Dimethyl sulfoxide (high boiling point solvent): 15 0.000 parts (4) Ethyl alcohol (low-boiling solvent): 84.38 parts (5) Mixed solution of 15.0 parts of polyether-modified polydimethylsiloxane and 85.0 parts of dipropylene glycol monomethyl ether (leveling agent: BIC “BYK-337” manufactured by Chemie Japan): 0.10 part

上記コーティング液の不揮発固形成分(鎖状ATO粒子及びアルコキシシラン)の含有量は0.52質量%であり、鎖状ATO粒子及びアルコキシシランの合計量に対する鎖状ATO粒子の含有量は80質量%であった。   The content of the nonvolatile solid components (chain ATO particles and alkoxysilane) of the coating liquid is 0.52% by mass, and the content of chain ATO particles is 80% by mass with respect to the total amount of the chain ATO particles and alkoxysilane. Met.

次に、上記コーティング液を用い、重ねピッチを20.0mmに変更した以外は、実施例1と同様にして実施例3の透明導電性基板を作製した。   Next, a transparent conductive substrate of Example 3 was produced in the same manner as in Example 1 except that the coating liquid was used and the overlapping pitch was changed to 20.0 mm.

(実施例4)
<コーティング液の調製>
プラスチック製ビンに、下記成分(1)〜(5)を下記分量で入れ、攪拌してコーティング液を調製した。
(Example 4)
<Preparation of coating liquid>
The following components (1) to (5) were placed in a plastic bottle in the following amounts and stirred to prepare a coating liquid.

(1)鎖状ATO粒子:0.39部
(2)アルコキシシラン(無機系バインダ:信越化学工業社製“X40−2308”):0.13部
(3)ジメチルスルホキシド(高沸点溶剤):7.50部
(4)エチルアルコール(低沸点溶剤):91.88部
(5)ポリエーテル変性ポリジメチルシロキサン15.0部とジプロピレングリコールモノメチルエーテル85.0部との混合液(レベリング剤:ビックケミージャパン社製“BYK−337”):0.10部
(1) Chain-like ATO particles: 0.39 part (2) Alkoxysilane (inorganic binder: "X40-2308" manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.): 0.13 part (3) Dimethyl sulfoxide (high boiling solvent): 7 .50 parts (4) Ethyl alcohol (low boiling point solvent): 91.88 parts (5) Mixed solution of 15.0 parts of polyether-modified polydimethylsiloxane and 85.0 parts of dipropylene glycol monomethyl ether (leveling agent: BIC “BYK-337” manufactured by Chemie Japan): 0.10 part

上記コーティング液の不揮発固形成分(鎖状ATO粒子及びアルコキシシラン)の含有量は0.52質量%であり、鎖状ATO粒子及びアルコキシシランの合計量に対する鎖状ATO粒子の含有量は75質量%であった。   The content of the nonvolatile solid components (chain ATO particles and alkoxysilane) in the coating liquid is 0.52% by mass, and the content of chain ATO particles is 75% by mass with respect to the total amount of the chain ATO particles and alkoxysilane. Met.

次に、上記コーティング液を用い、重ねピッチを17.5mmに変更した以外は、実施例1と同様にして実施例4の透明導電性基板を作製した。   Next, a transparent conductive substrate of Example 4 was produced in the same manner as in Example 1 except that the coating liquid was used and the overlapping pitch was changed to 17.5 mm.

(実施例5)
<コーティング液の調製>
プラスチック製ビンに、下記成分(1)〜(5)を下記分量で入れ、攪拌してコーティング液を調製した。
(Example 5)
<Preparation of coating liquid>
The following components (1) to (5) were placed in a plastic bottle in the following amounts and stirred to prepare a coating liquid.

(1)鎖状ATO粒子:0.43部
(2)アルコキシシラン(無機系バインダ:信越化学工業社製“X40−2308”):0.09部
(3)ジメチルスルホキシド(高沸点溶剤):7.50部
(4)エチルアルコール(低沸点溶剤):91.88部
(5)ポリエーテル変性ポリジメチルシロキサン15.0部とジプロピレングリコールモノメチルエーテル85.0部との混合液(レベリング剤:ビックケミージャパン社製“BYK−337”):0.10部
(1) Chain ATO particles: 0.43 part (2) Alkoxysilane (inorganic binder: "X40-2308" manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.): 0.09 part (3) Dimethyl sulfoxide (high boiling point solvent): 7 .50 parts (4) Ethyl alcohol (low boiling point solvent): 91.88 parts (5) Mixed solution of 15.0 parts of polyether-modified polydimethylsiloxane and 85.0 parts of dipropylene glycol monomethyl ether (leveling agent: BIC “BYK-337” manufactured by Chemie Japan): 0.10 part

上記コーティング液の不揮発固形成分(鎖状ATO粒子及びアルコキシシラン)の含有量は0.52質量%であり、鎖状ATO粒子及びアルコキシシランの合計量に対する鎖状ATO粒子の含有量は83質量%であった。   The content of the nonvolatile solid components (chain ATO particles and alkoxysilane) of the coating liquid was 0.52% by mass, and the content of chain ATO particles was 83% by mass with respect to the total amount of the chain ATO particles and alkoxysilane. Met.

次に、上記コーティング液を用い、重ねピッチを17.5mmに変更した以外は、実施例1と同様にして実施例5の透明導電性基板を作製した。   Next, a transparent conductive substrate of Example 5 was produced in the same manner as in Example 1 except that the coating liquid was used and the overlapping pitch was changed to 17.5 mm.

(実施例6)
<コーティング液の調製>
プラスチック製ビンに、下記成分(1)〜(5)を下記分量で入れ、攪拌してコーティング液を調製した。
(Example 6)
<Preparation of coating liquid>
The following components (1) to (5) were placed in a plastic bottle in the following amounts and stirred to prepare a coating liquid.

(1)鎖状ATO粒子:0.42部
(2)アルコキシシラン(無機系バインダ:信越化学工業社製“X40−2308”):0.07部
(3)ジメチルスルホキシド(高沸点溶剤):7.50部
(4)エチルアルコール(低沸点溶剤):91.91部
(5)ポリエーテル変性ポリジメチルシロキサン15.0部とジプロピレングリコールモノメチルエーテル85.0部との混合液(レベリング剤:ビックケミージャパン社製“BYK−337”):0.10部
(1) Chain ATO particles: 0.42 part (2) Alkoxysilane (inorganic binder: "X40-2308" manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.): 0.07 part (3) Dimethyl sulfoxide (high boiling point solvent): 7 50 parts (4) Ethyl alcohol (low-boiling solvent): 91.91 parts (5) Mixed solution of 15.0 parts of polyether-modified polydimethylsiloxane and 85.0 parts of dipropylene glycol monomethyl ether (leveling agent: BIC “BYK-337” manufactured by Chemie Japan): 0.10 part

上記コーティング液の不揮発固形成分(鎖状ATO粒子及びアルコキシシラン)の含有量は0.49質量%であり、鎖状ATO粒子及びアルコキシシランの合計量に対する鎖状ATO粒子の含有量は85質量%であった。   The content of the nonvolatile solid components (chain ATO particles and alkoxysilane) of the coating liquid is 0.49% by mass, and the content of chain ATO particles is 85% by mass with respect to the total amount of the chain ATO particles and alkoxysilane. Met.

次に、上記コーティング液を用い、重ねピッチを17.5mmに変更した以外は、実施例1と同様にして実施例6の透明導電性基板を作製した。   Next, using the above coating liquid, a transparent conductive substrate of Example 6 was produced in the same manner as in Example 1 except that the overlapping pitch was changed to 17.5 mm.

(比較例1)
<コーティング液の調製>
プラスチック製ビンに、下記成分(1)〜(5)を下記分量で入れ、攪拌してコーティング液を調製した。
(Comparative Example 1)
<Preparation of coating liquid>
The following components (1) to (5) were placed in a plastic bottle in the following amounts and stirred to prepare a coating liquid.

(1)鎖状ATO粒子:1.40部
(2)アルコキシシラン(無機系バインダ:信越化学工業社製“X40−2308”):1.71部
(3)ジメチルスルホキシド(高沸点溶剤):7.50部
(4)エチルアルコール(低沸点溶剤):89.29部
(5)ポリエーテル変性ポリジメチルシロキサン15.0部とジプロピレングリコールモノメチルエーテル85.0部との混合液(レベリング剤:ビックケミージャパン社製“BYK−337”):0.10部
(1) Chain ATO particles: 1.40 parts (2) Alkoxysilane (inorganic binder: "X40-2308" manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.): 1.71 parts (3) Dimethyl sulfoxide (high boiling solvent): 7 50 parts (4) Ethyl alcohol (low boiling solvent): 89.29 parts (5) Mixed solution of 15.0 parts of polyether-modified polydimethylsiloxane and 85.0 parts of dipropylene glycol monomethyl ether (leveling agent: VIC “BYK-337” manufactured by Chemie Japan): 0.10 part

上記コーティング液の不揮発固形成分(鎖状ATO粒子及びアルコキシシラン)の含有量は3.11質量%であり、鎖状ATO粒子及びアルコキシシランの合計量に対する鎖状ATO粒子の含有量は45質量%であった。   The content of the nonvolatile solid components (chain ATO particles and alkoxysilane) of the coating liquid was 3.11% by mass, and the content of chain ATO particles was 45% by mass with respect to the total amount of the chain ATO particles and alkoxysilane. Met.

次に、上記コーティング液を用い、重ねピッチを5.0mmに変更した以外は、実施例1と同様にして比較例1の透明導電性基板を作製した。   Next, a transparent conductive substrate of Comparative Example 1 was produced in the same manner as in Example 1 except that the coating liquid was used and the overlapping pitch was changed to 5.0 mm.

(比較例2)
<コーティング液の調製>
プラスチック製ビンに、下記成分(1)〜(5)を下記分量で入れ、攪拌してコーティング液を調製した。
(Comparative example 2)
<Preparation of coating liquid>
The following components (1) to (5) were placed in a plastic bottle in the following amounts and stirred to prepare a coating liquid.

(1)鎖状ATO粒子:1.40部
(2)アルコキシシラン(無機系バインダ:信越化学工業社製“X40−2308”):1.71部
(3)ジメチルスルホキシド(高沸点溶剤):3.00部
(4)エチルアルコール(低沸点溶剤):93.79部
(5)ポリエーテル変性ポリジメチルシロキサン15.0部とジプロピレングリコールモノメチルエーテル85.0部との混合液(レベリング剤:ビックケミージャパン社製“BYK−337”):0.10部
(1) Chain ATO particles: 1.40 parts (2) Alkoxysilane (inorganic binder: "X40-2308" manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.): 1.71 parts (3) Dimethyl sulfoxide (high boiling point solvent): 3 0.000 parts (4) Ethyl alcohol (low-boiling solvent): 93.79 parts (5) Mixture of 15.0 parts of polyether-modified polydimethylsiloxane and 85.0 parts of dipropylene glycol monomethyl ether (leveling agent: BIC “BYK-337” manufactured by Chemie Japan): 0.10 part

上記コーティング液の不揮発固形成分(鎖状ATO粒子及びアルコキシシラン)の含有量は3.11質量%であり、鎖状ATO粒子及びアルコキシシランの合計量に対する鎖状ATO粒子の含有量は45質量%であった。   The content of the nonvolatile solid components (chain ATO particles and alkoxysilane) of the coating liquid was 3.11% by mass, and the content of chain ATO particles was 45% by mass with respect to the total amount of the chain ATO particles and alkoxysilane. Met.

次に、上記コーティング液を用い、重ねピッチを10.0mmに変更した以外は、実施例1と同様にして比較例2の透明導電性基板を作製した。   Next, a transparent conductive substrate of Comparative Example 2 was produced in the same manner as in Example 1, except that the coating liquid was used and the overlapping pitch was changed to 10.0 mm.

(比較例3)
<コーティング液の調製>
プラスチック製ビンに、下記成分(1)〜(5)を下記分量で入れ、攪拌してコーティング液を調製した。
(Comparative example 3)
<Preparation of coating liquid>
The following components (1) to (5) were placed in a plastic bottle in the following amounts and stirred to prepare a coating liquid.

(1)鎖状ATO粒子:0.70部
(2)アルコキシシラン(無機系バインダ:信越化学工業社製“X40−2308”):0.38部
(3)ジメチルスルホキシド(高沸点溶剤):7.50部
(4)エチルアルコール(低沸点溶剤):91.32部
(5)ポリエーテル変性ポリジメチルシロキサン15.0部とジプロピレングリコールモノメチルエーテル85.0部との混合液(レベリング剤:ビックケミージャパン社製“BYK−337”):0.10部
(1) Chain ATO particles: 0.70 part (2) Alkoxysilane (inorganic binder: "X40-2308" manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.): 0.38 part (3) Dimethyl sulfoxide (high boiling point solvent): 7 50 parts (4) Ethyl alcohol (low-boiling solvent): 91.32 parts (5) Mixed solution of 15.0 parts of polyether-modified polydimethylsiloxane and 85.0 parts of dipropylene glycol monomethyl ether (leveling agent: BIC “BYK-337” manufactured by Chemie Japan): 0.10 part

上記コーティング液の不揮発固形成分(鎖状ATO粒子及びアルコキシシラン)の含有量は1.08質量%であり、鎖状ATO粒子及びアルコキシシランの合計量に対する鎖状ATO粒子の含有量は65質量%であった。   The content of the nonvolatile solid component (chain ATO particles and alkoxysilane) of the coating liquid is 1.08% by mass, and the content of chain ATO particles is 65% by mass with respect to the total amount of the chain ATO particles and alkoxysilane. Met.

次に、上記コーティング液を用いた以外は、実施例1と同様にして比較例3の透明導電性基板を作製した。   Next, a transparent conductive substrate of Comparative Example 3 was produced in the same manner as in Example 1 except that the above coating liquid was used.

(比較例4)
<コーティング液の調製>
プラスチック製ビンに、下記成分(1)〜(5)を下記分量で入れ、攪拌してコーティング液を調製した。
(Comparative example 4)
<Preparation of coating liquid>
The following components (1) to (5) were placed in a plastic bottle in the following amounts and stirred to prepare a coating liquid.

(1)鎖状ATO粒子:0.70部
(2)アルコキシシラン(無機系バインダ:信越化学工業社製“X40−2308”):0.30部
(3)ジメチルスルホキシド(高沸点溶剤):25.00部
(4)エチルアルコール(低沸点溶剤):73.90部
(5)ポリエーテル変性ポリジメチルシロキサン15.0部とジプロピレングリコールモノメチルエーテル85.0部との混合液(レベリング剤:ビックケミージャパン社製“BYK−337”):0.10部
(1) Chain ATO particles: 0.70 part (2) Alkoxysilane (inorganic binder: "X40-2308" manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.): 0.30 part (3) Dimethyl sulfoxide (high boiling point solvent): 25 0.000 parts (4) Ethyl alcohol (low-boiling solvent): 73.90 parts (5) Mixed solution of 15.0 parts of polyether-modified polydimethylsiloxane and 85.0 parts of dipropylene glycol monomethyl ether (leveling agent: BIC “BYK-337” manufactured by Chemie Japan): 0.10 part

上記コーティング液の不揮発固形成分(鎖状ATO粒子及びアルコキシシラン)の含有量は1.00質量%であり、鎖状ATO粒子及びアルコキシシランの合計量に対する鎖状ATO粒子の含有量は70質量%であった。   The content of the nonvolatile solid components (chain ATO particles and alkoxysilane) in the coating liquid is 1.00% by mass, and the content of chain ATO particles is 70% by mass with respect to the total amount of the chain ATO particles and alkoxysilane. Met.

次に、上記コーティング液を用い、吐出液量を5.0g/分、重ねピッチを10.0mmに変更した以外は、実施例1と同様にして比較例4の透明導電性基板を作製した。   Next, a transparent conductive substrate of Comparative Example 4 was produced in the same manner as in Example 1 except that the above-mentioned coating liquid was used, the discharge liquid amount was changed to 5.0 g / min, and the overlapping pitch was changed to 10.0 mm.

(比較例5)
<コーティング液の調製>
プラスチック製ビンに、下記成分(1)〜(5)を下記分量で入れ、攪拌してコーティング液を調製した。
(Comparative example 5)
<Preparation of coating liquid>
The following components (1) to (5) were placed in a plastic bottle in the following amounts and stirred to prepare a coating liquid.

(1)鎖状ATO粒子:0.70部
(2)アルコキシシラン(無機系バインダ:信越化学工業社製“X40−2308”):0.30部
(3)ジメチルスルホキシド(高沸点溶剤):7.50部
(4)エチルアルコール(低沸点溶剤):91.40部
(5)ポリエーテル変性ポリジメチルシロキサン15.0部とジプロピレングリコールモノメチルエーテル85.0部との混合液(レベリング剤:ビックケミージャパン社製“BYK−337”):0.10部
(1) Chain ATO particles: 0.70 part (2) Alkoxysilane (inorganic binder: "X40-2308" manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.): 0.30 part (3) Dimethyl sulfoxide (high boiling solvent): 7 .50 parts (4) Ethyl alcohol (low boiling point solvent): 91.40 parts (5) Mixed solution of 15.0 parts of polyether-modified polydimethylsiloxane and 85.0 parts of dipropylene glycol monomethyl ether (leveling agent: BIC “BYK-337” manufactured by Chemie Japan): 0.10 part

上記コーティング液の不揮発固形成分(鎖状ATO粒子及びアルコキシシラン)の含有量は1.00質量%であり、鎖状ATO粒子及びアルコキシシランの合計量に対する鎖状ATO粒子の含有量は70質量%であった。   The content of the nonvolatile solid components (chain ATO particles and alkoxysilane) in the coating liquid is 1.00% by mass, and the content of the chain ATO particles is 70% by mass with respect to the total amount of the chain ATO particles and alkoxysilane. Met.

次に、上記コーティング液を用い、重ねピッチを10.0mmに変更した以外は、実施例1と同様にして比較例5の透明導電性基板を作製した。   Next, a transparent conductive substrate of Comparative Example 5 was prepared in the same manner as in Example 1 except that the coating liquid was used and the overlapping pitch was changed to 10.0 mm.

(比較例6)
<コーティング液の調製>
プラスチック製ビンに、下記成分(1)〜(5)を下記分量で入れ、攪拌してコーティング液を調製した。
(Comparative example 6)
<Preparation of coating liquid>
The following components (1) to (5) were placed in a plastic bottle in the following amounts and stirred to prepare a coating liquid.

(1)鎖状ATO粒子:0.42部
(2)アルコキシシラン(無機系バインダ:信越化学工業社製“X40−2308”):0.05部
(3)ジメチルスルホキシド(高沸点溶剤):7.50部
(4)エチルアルコール(低沸点溶剤):91.93部
(5)ポリエーテル変性ポリジメチルシロキサン15.0部とジプロピレングリコールモノメチルエーテル85.0部との混合液(レベリング剤:ビックケミージャパン社製“BYK−337”):0.10部
(1) Chain-like ATO particles: 0.42 parts (2) Alkoxysilane (inorganic binder: "X40-2308" manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.): 0.05 parts (3) Dimethyl sulfoxide (high boiling point solvent): 7 50 parts (4) Ethyl alcohol (low boiling solvent): 91.93 parts (5) Mixed solution of 15.0 parts of polyether-modified polydimethylsiloxane and 85.0 parts of dipropylene glycol monomethyl ether (leveling agent: VIC “BYK-337” manufactured by Chemie Japan): 0.10 part

上記コーティング液の不揮発固形成分(鎖状ATO粒子及びアルコキシシラン)の含有量は0.46質量%であり、鎖状ATO粒子及びアルコキシシランの合計量に対する鎖状ATO粒子の含有量は90質量%であった。   The content of the nonvolatile solid components (chain ATO particles and alkoxysilane) in the coating liquid was 0.46% by mass, and the content of chain ATO particles was 90% by mass with respect to the total amount of the chain ATO particles and alkoxysilane. Met.

次に、上記コーティング液を用い、吐出液量を5.0g/分、重ねピッチを23.0mmに変更した以外は、実施例1と同様にして比較例6の透明導電性基板を作製した。   Next, a transparent conductive substrate of Comparative Example 6 was produced in the same manner as in Example 1 except that the amount of discharged liquid was changed to 5.0 g / min and the overlapping pitch was changed to 23.0 mm using the above coating liquid.

次に、上記各透明導電性基板の塗布性状、膜厚、表面抵抗率、ヘイズ値、全光線透過率、鉛筆硬度及び信頼性を下記のとおり測定又は評価した。   Next, the coating properties, film thickness, surface resistivity, haze value, total light transmittance, pencil hardness and reliability of each of the above transparent conductive substrates were measured or evaluated as follows.

<塗布性状>
透明導電性膜の塗布ムラの有無を観察し、塗布ムラがない場合を塗布性状が良好と判断し、塗布ムラがある場合を塗布性状が不良と判断した。
<Coating properties>
The presence or absence of coating unevenness of the transparent conductive film was observed. When there was no coating unevenness, the coating property was judged to be good, and when there was coating unevenness, the coating property was judged to be poor.

<膜厚>
透明導電性基板を切断し、走査型電子顕微鏡(SEM、日立製作所社製“S−4500”)にて断面観察して、透明導電性膜の膜厚を測定した。
<Film thickness>
The transparent conductive substrate was cut and the cross-section was observed with a scanning electron microscope (SEM, "S-4500" manufactured by Hitachi, Ltd.) to measure the film thickness of the transparent conductive film.

<表面抵抗率>
表面抵抗計(三菱化学社製“ハイレスタMCP−HT450”、印加電圧:10V)を用いて、透明導電性膜の初期の表面抵抗率を測定した。
<Surface resistivity>
The initial surface resistivity of the transparent conductive film was measured using a surface resistance meter (“HIRESTA MCP-HT450” manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, applied voltage: 10 V).

<ヘイズ値及び全光線透過率>
日本電色工業社製の光度計“ヘイズメーターNDH2000”を用い、透明導電性膜のみのヘイズ値及び全光線透過率を測定した。
<Haze value and total light transmittance>
The haze value and total light transmittance of only the transparent conductive film were measured using a photometer "Hazemeter NDH2000" manufactured by Nippon Denshoku Industries Co., Ltd.

<鉛筆硬度>
透明導電性膜の鉛筆硬度を新東科学社製の表面性試験機“HEIDON−14DR”を用いて測定した。
<Pencil hardness>
The pencil hardness of the transparent conductive film was measured using a surface property tester “HEIDON-14DR” manufactured by Shinto Kagaku Co., Ltd.

<信頼性>
透明導電性基板を温度60℃、相対湿度90%の環境下で1000時間保持した後の透明導電性膜の表面抵抗率を上記と同様にして測定して、高温高湿試験後の表面抵抗率とした。次に、下記式から表面抵抗率の変化率を求め、変化率が100%未満の場合を信頼性が良好と判断し、変化率が100%以上の場合を信頼性が不良と判断した。
変化率(%)=(|初期の表面抵抗率−高温高湿試験後の表面抵抗率|/初期の表面抵抗率)×100
<Reliability>
The surface resistivity of the transparent conductive film after the transparent conductive substrate was kept for 1000 hours in an environment of a temperature of 60 ° C. and a relative humidity of 90% was measured in the same manner as above, and the surface resistivity after a high temperature and high humidity test was performed. And Next, the change rate of the surface resistivity was obtained from the following formula, and when the change rate was less than 100%, the reliability was judged to be good, and when the change rate was 100% or more, the reliability was judged to be poor.
Rate of change (%) = (| initial surface resistivity-surface resistivity after high temperature and high humidity test | / initial surface resistivity) x 100

以上の測定の結果をコーティング液の固形分濃度及び透明導電性膜中のATO粒子の含有量と共に表1に示す。   The results of the above measurements are shown in Table 1 together with the solid content concentration of the coating liquid and the content of ATO particles in the transparent conductive film.

Figure 0006690968
Figure 0006690968

表1から、本発明の実施例1〜6の透明導電性基板は、塗布性状、表面抵抗率、ヘイズ値、全光線透過率、鉛筆硬度及び信頼性の全てで優れた結果を得たことが分かる。   From Table 1, it can be seen that the transparent conductive substrates of Examples 1 to 6 of the present invention obtained excellent results in all of coating properties, surface resistivity, haze value, total light transmittance, pencil hardness and reliability. I understand.

一方、固形分濃度が1質量%を超え、ATO含有量が75質量%を下回った比較例1及び3では、鉛筆硬度及び信頼性が劣り、固形分濃度が1質量%を超え、ATO含有量が75質量%を下回った比較例2では、塗布性状、全光線透過率、鉛筆硬度及び信頼性が劣り、ATO含有量が75質量%を下回った比較例4では、塗布性状、鉛筆硬度及び信頼性が劣り、ATO含有量が75質量%を下回った比較例5では、鉛筆硬度及び信頼性が劣り、ATO含有量が85質量%を超えた比較例6では、塗布性状、鉛筆硬度及び信頼性が劣った。   On the other hand, in Comparative Examples 1 and 3 in which the solid content concentration exceeded 1 mass% and the ATO content fell below 75 mass%, the pencil hardness and reliability were poor, and the solid content concentration exceeded 1 mass% and the ATO content Is less than 75% by mass, Comparative Example 2 is poor in coating properties, total light transmittance, pencil hardness and reliability. In Comparative Example 4 in which the ATO content is less than 75% by mass, coating properties, pencil hardness and reliability are low. Inferior property, in Comparative Example 5 in which the ATO content was less than 75% by mass, the pencil hardness and reliability were inferior, and in Comparative Example 6 in which the ATO content exceeded 85% by mass, coating properties, pencil hardness and reliability Was inferior.

本発明により、光学特性及び電気特性を特定の範囲に制御した透明導電性基板を安定的に供給でき、これにより、例えば、静電容量式タッチ感知機能層を備えたタッチパネル機能内蔵型横電界方式液晶パネルにおいて、ESD機能及びタッチパネル機能を両立できると共に、特定の光学特性と特定の電気特性とを有する透明導電性基板を備えたタッチパネル機能内蔵型横電界方式液晶表示パネルを提供することができる。   INDUSTRIAL APPLICABILITY According to the present invention, it is possible to stably supply a transparent conductive substrate in which optical characteristics and electrical characteristics are controlled within a specific range, and thus, for example, a horizontal electric field method with a touch panel function including a capacitive touch sensing function layer. In the liquid crystal panel, it is possible to provide a horizontal electric field type liquid crystal display panel with a built-in touch panel function, which has both an ESD function and a touch panel function, and includes a transparent conductive substrate having specific optical characteristics and specific electrical characteristics.

10 透明導電性基板
11 ガラス基板
12 透明導電性膜
10 Transparent Conductive Substrate 11 Glass Substrate 12 Transparent Conductive Film

Claims (11)

透明導電性コーティング組成物を透明基板に塗布する塗布工程と、
前記透明基板の上に透明導電性膜を形成する製膜工程とを含み、
前記透明導電性コーティング組成物は、鎖状導電性無機粒子と、無機系バインダと、沸点が150℃以上の高沸点溶剤と、沸点が100℃以下の低沸点溶剤とを含み、
前記鎖状導電性無機粒子及び前記無機系バインダの合計量が、前記透明導電性コーティング組成物の全質量に対して、0.4質量%以上0.49質量%以下であり、
前記鎖状導電性無機粒子の含有量は、前記鎖状導電性無機粒子及び前記無機系バインダの合計質量に対して、75質量%以上85質量%以下であり、
前記透明導電性膜の厚さが、10nm以上50nm以下であり、
前記透明導電性膜の表面抵抗率が、1.1×109Ω/スクエア以上1.0×1010Ω/スクエア以下であることを特徴とする透明導電性基板の製造方法。
An applying step of applying the transparent conductive coating composition to a transparent substrate,
A film forming step of forming a transparent conductive film on the transparent substrate,
The transparent conductive coating composition contains chain conductive inorganic particles, an inorganic binder, a high boiling point solvent having a boiling point of 150 ° C. or higher, and a low boiling point solvent having a boiling point of 100 ° C. or lower,
The total amount of the chain-like conductive inorganic particles and the inorganic binder is 0.4 mass% or more and 0.49 mass% or less with respect to the total mass of the transparent conductive coating composition,
The content of the chain-shaped conductive inorganic particles is, relative to the total mass of the chain-shaped conductive inorganic particles and the inorganic binder, 75% by mass or more and 85% by mass or less,
The thickness of the transparent conductive film is 10 nm or more and 50 nm or less,
The method for producing a transparent conductive substrate, wherein the surface resistivity of the transparent conductive film is 1.1 × 10 9 Ω / square or more and 1.0 × 10 10 Ω / square or less.
前記高沸点溶剤の含有量が、前記透明導電性コーティング組成物の全質量に対して、5質量%以上20質量%以下であり、前記低沸点溶剤の含有量が、前記透明導電性コーティング組成物の全質量に対して、80質量%以上95質量%以下である請求項1に記載の透明導電性基板の製造方法。   The content of the high-boiling point solvent is 5% by mass or more and 20% by mass or less with respect to the total mass of the transparent conductive coating composition, and the content of the low-boiling point solvent is the transparent conductive coating composition. The method for producing a transparent conductive substrate according to claim 1, wherein the content is 80% by mass or more and 95% by mass or less based on the total mass of the above. 前記塗布工程における塗布が、スピンコート又はスプレーコートにより行われる請求項1又は2に記載の透明導電性基板の製造方法。   The method for producing a transparent conductive substrate according to claim 1, wherein the coating in the coating step is performed by spin coating or spray coating. 前記透明導電性膜のヘイズ値が、0.2%以下である請求項1〜3のいずれか1項に記載の透明導電性基板の製造方法。   The haze value of the said transparent conductive film is 0.2% or less, The manufacturing method of the transparent conductive substrate of any one of Claims 1-3. 前記透明導電性膜の全光線透過率が、99.1%以上99.9%以下である請求項1〜4のいずれか1項に記載の透明導電性基板の製造方法。   The total light transmittance of the said transparent conductive film is 99.1% or more and 99.9% or less, The manufacturing method of the transparent conductive substrate of any one of Claims 1-4. 前記透明基板は、ガラス基板である請求項1〜5のいずれか1項に記載の透明導電性基板の製造方法。   The method for manufacturing a transparent conductive substrate according to claim 1, wherein the transparent substrate is a glass substrate. 前記鎖状導電性無機粒子は、アンチモン含有酸化スズ粒子、スズ含有酸化インジウム粒子及びリン含有酸化スズ粒子からなる群から選ばれる少なくとも1種の粒子を含む請求項1〜6のいずれか1項に記載の透明導電性基板の製造方法。   The chain-like conductive inorganic particles include at least one kind of particles selected from the group consisting of antimony-containing tin oxide particles, tin-containing indium oxide particles and phosphorus-containing tin oxide particles. A method for producing a transparent conductive substrate as described above. 前記無機系バインダは、アルコキシシランである請求項1〜7のいずれか1項に記載の透明導電性基板の製造方法。   The method for producing a transparent conductive substrate according to claim 1, wherein the inorganic binder is alkoxysilane. 前記高沸点溶剤は、ジメチルスルホキシドである請求項1〜8のいずれか1項に記載の透明導電性基板の製造方法。   The method for producing a transparent conductive substrate according to claim 1, wherein the high boiling point solvent is dimethyl sulfoxide. 前記低沸点溶剤は、エチルアルコール又はイソプロピルアルコールである請求項1〜9のいずれか1項に記載の透明導電性基板の製造方法。   The method for producing a transparent conductive substrate according to claim 1, wherein the low boiling point solvent is ethyl alcohol or isopropyl alcohol. 請求項1〜10のいずれか1項に記載の透明導電性基板の製造方法で製造された透明導電性基板を含むことを特徴とするタッチパネル機能内蔵型横電界方式液晶表示パネル。   A horizontal electric field type liquid crystal display panel with a built-in touch panel function, comprising the transparent conductive substrate manufactured by the method for manufacturing a transparent conductive substrate according to claim 1.
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