JP6695553B2 - 表示制御装置及び粒子径分布測定装置 - Google Patents
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Description
そのため、グラフ表示領域上の任意の座標を指定するだけの簡易な操作で、その座標に縦軸又は横軸の値が一致するグラフ上の座標を算出できる。
すなわち、簡易な操作でユーザの所望するグラフ上の座標を算出できる。
(5)また、前記グラフ表示処理部は、縦軸又は横軸の一方を粒子量とするグラフを前記グラフ表示領域に表示させてもよい。
(6)また、前記グラフ表示処理部は、縦軸又は横軸の一方を相対粒子量の積算値とし、他方を粒子径とするグラフを前記グラフ表示領域に表示させてもよい。
図1は、本発明の一実施形態に係る表示制御装置5を備える粒子径分布測定装置の構成例を示した概略図である。
光源11から出射された光は、集光レンズ12、空間フィルタ13及びコリメータレンズ14を通過することにより平行光になる。そして、平行光になった測定光の一部が、フローセル15に照射され、フローセル15内の試料に含まれる粒子群で回折又は散乱された光(回折散乱光)が、集光レンズ16を通って検出器17により受光される。
図2は、表示制御装置5の電気的構成を示したブロック図である。
表示制御装置5において、制御部51は、CPUがプログラムを実行することにより、選択受付処理部511、座標指定処理部512、座標算出処理部513及び表示処理部514などとして機能する。
選択受付処理部511は、ユーザによる操作部52の操作に基づいて、表示部53に表示される座標平面における座標軸の選択を受け付ける。
座標指定処理部512は、ユーザによる操作部52の操作に基づいて、表示部53に表示される座標平面における座標を指定する。
表示処理部514には、グラフ表示処理部515、補助線表示処理部516及び数値表示処理部517が含まれる。
図3Aは、表示部53のグラフ表示領域60に対する粒子径分布データの表示態様の一例を示した図であって、第1領域601の座標が指定された状態を示している。図3Bは、表示部53のグラフ表示領域60に対する粒子径分布データの表示態様の一例を示した図であって、第2領域602の座標が指定された状態を示している。
上記したグラフ表示領域60に表示されるグラフは、粒子径と相対粒子量との関係を示している。
グラフ上の座標を読み取る場合においては、粒子径を基準として座標を読み取ることが適切な場合もあれば、相対粒子量を基準として座標を読み取ることが適切な場合もある。例えばサンプルの品質を確認する場合などには、相対粒子量が一定区間内の値を示すことを基準とし、その基準となる相対粒子量に対応する粒子径の値を読み取る場合もある。また、粒子径が一定区間内の値を示すことを基準とし、その基準となる粒子径に対応する相対粒子量の値を読み取る場合もある。
このような場合に対応するため、本実施形態では、以下のように、グラフ表示領域60に対する表示の制御が行われる。
(1)本実施形態では、表示制御装置5において、選択受付処理部511は、グラフ表示領域60における縦軸又は横軸のいずれか一方の選択を受け付ける。座標算出処理部513は、ユーザによって操作部52が操作されて、座標指定処理部512によりグラフ表示領域60上の座標が指定された場合に、選択受付処理部511により縦軸の選択が受け付けられていれば、指定された座標と縦軸の値が一致するグラフA上の座標を算出し、座標指定処理部512により横軸の選択が受け付けられていれば、指定された座標と横軸の値が一致するグラフA上の座標を算出する。
そのため、グラフ表示領域60上の任意の座標を指定するだけの簡易な操作で、その座標に縦軸又は横軸の値が一致するグラフA上の座標を算出できる。
すなわち、簡易な操作でユーザの所望するグラフA上の座標を算出できる。
そのため、選択受付処理部511によるグラフ表示領域60の縦軸又は横軸の選択を、より簡易な操作で行うことができる。
そのため、試料の粒子径分布を測定し、その測定結果をグラフ表示領域60にグラフとして表示させることができる。そして、簡易な操作でユーザの所望するグラフ上の座標を算出できる。
上記した実施形態では、表示制御装置5は、粒子径分布測定装置に備えられるとして説明した。しかし、本発明に係る表示制御装置は、粒子径分布測定装置以外の装置にも適用可能である。
51 制御部
60 グラフ表示領域
62,64 補助線
511 選択受付処理部
512 座標指定処理部
513 座標算出処理部
514 表示処理部
515 グラフ表示処理部
516 補助線表示処理部
517 数値表示処理部
601 第1領域
602 第2領域
Claims (6)
- 縦軸及び横軸で表される座標平面からなるグラフ表示領域にグラフを表示させるグラフ表示処理部と、
縦軸又は横軸のいずれか一方の選択を受け付ける選択受付処理部と、
前記グラフ表示領域における座標を指定する座標指定処理部と、
前記座標指定処理部により座標が指定された場合に、前記選択受付処理部により縦軸の選択が受け付けられていれば、指定された座標と縦軸の値が一致するグラフ上の座標を算出し、前記選択受付処理部により横軸の選択が受け付けられていれば、指定された座標と横軸の値が一致するグラフ上の座標を算出する座標算出処理部とを備え、
前記選択受付処理部は、グラフによって2分割された前記グラフ表示領域内の第1領域及び第2領域のうち、前記第1領域内の座標が前記座標指定処理部により指定された場合に縦軸の選択を受け付け、前記第2領域内の座標が前記座標指定処理部により指定された場合に横軸の選択を受け付けることを特徴とする表示制御装置。 - 前記座標算出処理部によりグラフ上の座標が算出された場合に、前記選択受付処理部により縦軸の選択が受け付けられていれば、算出された座標を通る縦軸に平行な補助線を前記グラフ表示領域に表示させ、前記選択受付処理部により横軸の選択が受け付けられていれば、算出された座標を通る横軸に平行な補助線を前記グラフ表示領域に表示させる補助線表示処理部をさらに備えることを特徴とする請求項1に記載の表示制御装置。
- 前記座標算出処理部によりグラフ上の座標が算出された場合に、前記選択受付処理部により縦軸の選択が受け付けられていれば、算出された座標の少なくとも横軸の値を表示させ、前記選択受付処理部により横軸の選択が受け付けられていれば、算出された座標の少なくとも縦軸の値を表示させる数値表示処理部をさらに備えることを特徴とする請求項1又は2に記載の表示制御装置。
- 前記グラフ表示処理部は、縦軸又は横軸の一方を粒子量とするグラフを前記グラフ表示領域に表示させることを特徴とする請求項1〜3のいずれか一項に記載の表示制御装置。
- 前記グラフ表示処理部は、縦軸又は横軸の一方を相対粒子量の積算値とし、他方を粒子径とするグラフを前記グラフ表示領域に表示させることを特徴とする請求項4に記載の表示制御装置。
- 請求項1〜5のいずれか一項に記載の表示制御装置と、
試料が供給される試料セルと、
前記試料セルに測定光を照射する光源と、
前記試料セル内の試料からの回折光又は散乱光を受光する複数の受光素子とを備え、
前記グラフ表示処理部は、前記複数の受光素子における受光強度に基づいて、前記グラフ表示領域にグラフを表示させることを特徴とする粒子径分布測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| JP2016218745A JP6695553B2 (ja) | 2016-11-09 | 2016-11-09 | 表示制御装置及び粒子径分布測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
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| JP2016218745A JP6695553B2 (ja) | 2016-11-09 | 2016-11-09 | 表示制御装置及び粒子径分布測定装置 |
Publications (2)
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| JP2018077334A JP2018077334A (ja) | 2018-05-17 |
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ID=62150319
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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| JP2016218745A Active JP6695553B2 (ja) | 2016-11-09 | 2016-11-09 | 表示制御装置及び粒子径分布測定装置 |
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2016
- 2016-11-09 JP JP2016218745A patent/JP6695553B2/ja active Active
Also Published As
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| JP2018077334A (ja) | 2018-05-17 |
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