JP6703452B2 - Electroplating method - Google Patents
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Description
本発明は、電気めっき方法に関し、特に、めっき槽内のめっき液中においてアノードバッグ内のアノードとアノードバッグ外の被めっき材との間に電流を流して被めっき材をめっきする、電気めっき方法に関する。 The present invention relates to an electroplating method, and in particular, an electroplating method in which a plating material is plated by passing an electric current between an anode in an anode bag and a plating material outside the anode bag in a plating solution in a plating tank. Regarding
従来、めっき槽内のめっき液中において可溶性のアノードと被めっき材との間に電流を流して被めっき材を電気めっきする方法では、電気めっきの際にアノードがめっき液に溶解するときに発生するスラッジ(またはスライム)が被めっき材に付着するのを防止するために、アノードをアノードバッグ内に収容し、被めっき材をアノードバッグ外に配置している。 Conventionally, in the method of electroplating a material to be plated by passing an electric current between a soluble anode in the plating solution in the plating tank and the material to be plated, it occurs when the anode dissolves in the plating solution during electroplating. In order to prevent the sludge (or slime) from being deposited on the material to be plated, the anode is housed in the anode bag, and the material to be plated is arranged outside the anode bag.
しかし、電気めっきを連続的に長時間行うと、アノードバッグ内にスラッジが沈殿して、アノードバッグの目詰まりが生じる。そのため、アノードの電気反応により生じる変質しためっき液をアノードバッグ内外で入れ替えることができなくなり、アノードバッグの底部のめっき液の電導度が低下して、アノードの下端部付近からの電流が減少するため、被めっき材の下側部分のめっき皮膜の厚さが低下する。 However, when electroplating is continuously performed for a long time, sludge is settled in the anode bag and the anode bag is clogged. Therefore, the deteriorated plating solution generated by the electric reaction of the anode cannot be exchanged inside and outside the anode bag, the conductivity of the plating solution at the bottom of the anode bag decreases, and the current from near the lower end of the anode decreases. , The thickness of the plating film on the lower side of the material to be plated decreases.
このような問題を解決するために、めっき槽中のアノードバッグ内のスラッジ(またはスライム)を除去する方法として、めっき槽中のアノードを取り囲むアノードバッグの底部にスライム吸引口を設けて、めっき液とともにスライムを吸い出す方法(例えば、特許文献1参照)や、アノードケースから飛散および沈降したスラッジを吸い取る吸引部をアノードケースの左側および右側の少なくとも一方と、底部の外側または内側に設置する方法(例えば、特許文献2参照)などが提案されている。 In order to solve such a problem, as a method for removing sludge (or slime) in the anode bag in the plating tank, a slime suction port is provided at the bottom of the anode bag surrounding the anode in the plating tank to form a plating solution. And a method of sucking out slime (for example, refer to Patent Document 1), or a method of installing a suction portion for sucking sludge scattered and settled from the anode case on at least one of the left side and the right side of the anode case and outside or inside the bottom (for example, , Patent Document 2) and the like have been proposed.
しかし、特許文献1および2の方法では、アノードバッグの底部に堆積したスラッジをめっき液とともに吸引して、フィルタによりスラッジを除去しためっき液をアノードバッグ内に戻すように構成されているため、多量のスラッジが吸引されて、フィルタの寿命が短くなる。また、スラッジを吸引して除去するために大きな配管をアノードバッグの底部に設置する必要があり、めっき槽内に大きなスペースが必要になる。 However, in the methods of Patent Documents 1 and 2, the sludge accumulated on the bottom of the anode bag is sucked together with the plating solution, and the plating solution from which the sludge has been removed by the filter is returned to the inside of the anode bag. The sludge will be sucked in and the filter life will be shortened. In addition, a large pipe must be installed at the bottom of the anode bag to suck and remove the sludge, which requires a large space in the plating tank.
したがって、本発明は、このような従来の問題点に鑑み、めっき槽内のめっき液中においてアノードバッグ内のアノードとアノードバッグ外の被めっき材との間に電流を流して被めっき材をめっきする、電気めっき方法において、アノードバッグの底部に堆積したスラッジを除去しなくても、アノードバッグ内のめっき液の電導度の低下を抑制して、被めっき材に形成されるめっき皮膜の厚さの変化を抑制することができる、電気めっき方法を提供することを目的とする。 Therefore, in view of such a conventional problem, the present invention, in the plating solution in the plating tank, applies a current between the anode in the anode bag and the material to be plated outside the anode bag to plate the material to be plated. In the electroplating method, even if the sludge accumulated on the bottom of the anode bag is not removed, the decrease in the conductivity of the plating solution in the anode bag is suppressed, and the thickness of the plating film formed on the material to be plated is suppressed. It is an object of the present invention to provide an electroplating method capable of suppressing the change in
本発明者らは、上記課題を解決するために鋭意研究した結果、長尺の帯板状の被めっき材をその幅方向が略鉛直方向になるようにめっき槽内でその長手方向に沿って搬送しながら、めっき槽内のめっき液中において、アノードバッグ内のアノードとアノードバッグ外の被めっき材との間に電流を流して被めっき材をめっきする、電気めっき方法において、アノードバッグ内に吸引管を導入し、この吸引管の吸引口の最下端の高さがアノードの最下端から鉛直方向上方に70mm以下の高さになるように吸引口を配置し、被めっき材をめっきする際に、めっき液の液面の高さの最大低下量を1〜60mmに維持しながら吸引口からめっき液の一部を吸引した後に、めっき液の吸引を停止することを交互に繰り返すことにより、めっき液の一部を間欠的に吸引してめっき槽から排出することによって、アノードバッグの底部に堆積したスラッジを除去しなくても、アノードバッグ内のめっき液の電導度の低下を抑制して、被めっき材に形成されるめっき皮膜の厚さの変化を抑制することができることを見出し、本発明を完成するに至った。 As a result of intensive research to solve the above problems, the inventors of the present invention performed a long strip-shaped plate-shaped material along its longitudinal direction in a plating tank so that its width direction is substantially vertical. In the electroplating method, in which the material to be plated is plated by applying a current between the anode in the anode bag and the material to be plated outside the anode bag in the plating solution in the plating tank while transporting, When a suction pipe is introduced and the suction port is arranged such that the height of the lowermost end of the suction port of the suction pipe is 70 mm or less in the vertical direction from the lowermost end of the anode, the material to be plated is plated. In addition, after sucking a part of the plating solution from the suction port while maintaining the maximum amount of decrease in the height of the surface of the plating solution to 1 to 60 mm, by stopping sucking the plating solution alternately, By intermittently sucking part of the plating solution and discharging it from the plating tank, it is possible to suppress the decrease in the conductivity of the plating solution in the anode bag without removing the sludge accumulated on the bottom of the anode bag. The inventors have found that it is possible to suppress changes in the thickness of the plating film formed on the material to be plated, and have completed the present invention.
すなわち、本発明による電気めっき方法は、長尺の帯板状の被めっき材をその幅方向が略鉛直方向になるようにめっき槽内でその長手方向に沿って搬送しながら、めっき槽内のめっき液中において、アノードバッグ内のアノードとアノードバッグ外の被めっき材との間に電流を流して被めっき材をめっきする、電気めっき方法において、アノードバッグ内に吸引管を導入し、この吸引管の吸引口の最下端の高さがアノードの最下端から鉛直方向上方に70mm以下の高さになるように吸引口を配置し、被めっき材をめっきする際に、めっき液の液面の高さの最大低下量を1〜60mmに維持しながら吸引口からめっき液の一部を吸引した後に、めっき液の吸引を停止することを交互に繰り返すことにより、めっき液の一部を間欠的に吸引してめっき槽から排出することを特徴とする。 That is, the electroplating method according to the present invention, the long strip plate-shaped material to be plated in the plating tank while being conveyed along the longitudinal direction in the plating tank such that the width direction thereof is substantially vertical. In the electroplating method, in which a current is passed between the anode in the anode bag and the material to be plated outside the anode bag in the plating solution to plate the material to be plated, a suction pipe is introduced into the anode bag and the suction is performed. The suction port is arranged so that the height of the bottom end of the suction port of the tube is 70 mm or less in the vertical direction from the bottom end of the anode, and when plating the material to be plated, the level of the plating solution While sucking a part of the plating solution from the suction port while maintaining the maximum height reduction of 1 to 60 mm, the suction of the plating solution is alternately stopped to intermittently part of the plating solution. It is characterized in that it is sucked into and discharged from the plating tank.
この電気めっき方法において、アノードが、アノードバッグ内のアノードケースに収容された複数のアノードボールであるのが好ましい。あるいは、アノードが、アノードバッグ内において鉛直方向に対して略垂直で且つ被めっき材に対向する面に略平行な方向に互いに離間して配置された2つのアノードケースの各々に収容された複数のアノードボールでもよい。この場合、吸引管の吸引口が、2つのアノードケースの側面の間に配置されているのが好ましい。また、めっき液の一部を間欠的に吸引する際のめっき液のそれぞれの吸引の時間がめっき液のそれぞれの吸引停止の時間よりも短いのが好ましい。この場合、めっき液のそれぞれの吸引の時間が10〜250秒間であり、前記めっき液のそれぞれの吸引停止の時間が300〜2000秒間であるのが好ましい。また、アノードが、被めっき材の少なくとも一方の面に対向するように配置されるのが好ましい。また、吸引管の吸引口が、鉛直方向に対して略垂直な方向で且つ被めっき材に対向する面に略平行な方向におけるアノードバッグの略中央部に配置されるのが好ましい。 In this electroplating method, the anode is preferably a plurality of anode balls housed in an anode case in an anode bag. Alternatively, a plurality of anodes are housed in each of two anode cases that are arranged in the anode bag in a direction substantially perpendicular to the vertical direction and substantially parallel to the surface facing the material to be plated and separated from each other. It may be an anode ball. In this case, the suction port of the suction tube is preferably arranged between the side surfaces of the two anode cases. Further, it is preferable that the suction time of each of the plating solutions when intermittently sucking a part of the plating solution is shorter than the time of stopping each suction of the plating solution. In this case, it is preferable that the suction time of each plating solution is 10 to 250 seconds and the suction time of each plating solution is 300 to 2000 seconds. Further, it is preferable that the anode is arranged so as to face at least one surface of the material to be plated. Further, it is preferable that the suction port of the suction tube is arranged at a substantially central portion of the anode bag in a direction substantially perpendicular to the vertical direction and in a direction substantially parallel to the surface facing the material to be plated.
本発明によれば、めっき槽内のめっき液中においてアノードバッグ内のアノードとアノードバッグ外の被めっき材との間に電流を流して被めっき材をめっきする、電気めっき方法において、アノードバッグの底部に堆積したスラッジを除去しなくても、アノードバッグ内のめっき液の電導度の低下を抑制して、被めっき材に形成されるめっき皮膜の厚さの変化を抑制することができる。 According to the present invention, in an electroplating method for plating a material to be plated by passing a current between an anode in an anode bag and a material to be plated outside the anode bag in a plating solution in a plating tank, Even if the sludge accumulated on the bottom is not removed, it is possible to suppress the decrease in the conductivity of the plating solution in the anode bag and suppress the change in the thickness of the plating film formed on the material to be plated.
以下、添付図面を参照して、本発明による電気めっき方法の実施の形態について詳細に説明する。 Hereinafter, embodiments of the electroplating method according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
図1〜図4に示すように、本発明による電気めっき方法の実施の形態では、めっき槽10内のめっき液12中に複数(図示した実施の形態では4つ)のアノードバッグ14を浸漬し、各々のアノードバッグ14内に1つまたは複数(図示した実施の形態では2つ)のアノードケース16を収容し、各々のアノードケース16内に複数の可溶性のアノードボール18を収容し、各々のアノードバッグ14内に吸引管22を導入し、この吸引管22の1つまたは複数(図示した実施の形態では3つ)の吸引口22aを(アノードボール18を収容した)アノードケース16の側面(好ましくは、被めっき材20と対向しない側面)の下端部付近に対向して配置し、アノードバッグ14内のアノード(各々のアノードケース16内に収容された複数のアノードボール18)と、めっき槽10内のめっき液12中(のアノードバッグ14外)に導入するカソードとしての被めっき材20との間に電流を流して被めっき材20をめっきする際に、めっき槽10中のアノードバッグ12内のめっき液12の液面の高さの最大低下量を1〜60mm(好ましくは5〜55mm)に維持しながら吸引口22aからめっき液12の一部を吸引した後に、めっき液12の吸引を停止することを交互に繰り返すことにより、めっき液12の一部を間欠的に吸引してめっき槽10から排出する。
As shown in FIGS. 1 to 4, in the embodiment of the electroplating method according to the present invention, a plurality of (four in the illustrated embodiment)
被めっき材20は、長尺の帯板状の銅や銅合金などからなる圧延板であり、めっき槽10の長手方向に沿って且つその幅方向が略鉛直方向になるようにめっき槽10内で搬送されるようになっている。
The
アノードバッグ14とアノードケース16は、それぞれめっき槽10の上方で略水平に延びる銅製のアノードバー26からチタン製の板材24を介して吊り下げられ、めっき槽10内の被めっき材20の両面から所定の間隔で離間してその少なくとも一方の面(図示した実施の形態では両面)に対向するように(被めっき材20と略平行に)配置されている。
The
アノードバッグ14は、めっき液12が通過可能で且つ(電気めっきの際に生成されて沈降した)スラッジ28を通過させない材質からなり、例えば、ポリプロピレン、ポリエステル、ポリエチレン、サラン(登録商標)、テフロン(登録商標)などの織布バッグなどからなる。
The
アノードケース16は、図4に示すように、内部に(長さ100〜2000mm程度、幅20〜100mm程度、高さ100〜600mm程度の)略直方体の空間を画定するチタン製バスケット(上面が開口し、側面がメッシュで、底面が板状の筐体)からなり、内部に複数のアノードボール18を収容し且つめっき液およびスラッジ28が通過できるようになっている。アノードボール18は、被めっき材20上に形成するめっき皮膜と同じ金属、例えば、Snめっきの場合はSn、Niめっきの場合はNiからなる略球状体である。なお、アノードケース16の底面には、電気めっきにより小さくなったアノードボール18を通過させず且つめっき液が通過可能な大きさの液抜き穴が形成されている。
As shown in FIG. 4, the
アノードケース16の側面に対向するように、鉛直方向に対して略垂直で且つ被めっき材20に対向する面に略平行な方向におけるアノードバッグ14の略中央部に(図示した実施の形態ではアノードバッグ14内に収容された2つのアノードケース16の対向する側面の間に)吸引管22の(1つまたは複数の)吸引口22aが配置され、吸引口22aの最下端の高さがアノードケース16内のアノードボール18の最下端から鉛直方向上方に70mm以下(好ましくは60mm以下)の高さになるように配置されている。なお、吸引口22aの最上端の高さがアノードケース16内のアノードボール18の最下端から鉛直方向上方に70mm以下の高さになるのが好ましい。
At a substantially central portion of the
アノードケース16の側面は、対向するアノードバッグ14の側面から所定の間隔(好ましくは5〜10mmの間隔)で離間し、アノードケース16の底面は、アノードバッグ14の底面から所定の間隔(好ましくは30mm以上、さらに好ましくは50mm程度の間隔)で離間している。このようにアノードケース16の底面がアノードバッグ14の底面から所定の間隔で離間していることにより、吸引管22の吸引口22aがアノードバッグ16により塞がれるのを防止することができるとともに、アノードバッグ14の底面にスラッジ28が堆積しても、そのスラッジ28とアノードケース14の間に間隙ができ、スラッジ28の吸引を抑制することができる。吸引管22の吸引口22aからのめっき液12の吸引は、めっき液12の吸引と吸引停止をそれぞれ一定時間で交互に繰り返すように間欠的に行われ、めっき液12の吸引時間(好ましくは10〜250秒間)がめっき液12の吸引停止時間(好ましくは300〜2000秒間)よりも短くなっている。なお、吸引管22により吸引した(アノードバッグ14内の)めっき液12は、(図示しない)フィルタを通してめっき液調整槽で成分調整され、めっき槽10内(のアノードバッグ14外)に戻されて、めっき液12の吸引停止時間内に、アノードバッグ14内に浸透して、アノードバッグ14内のめっき液12の液面の高さが初期の高さに戻るようになっている。
The side surface of the
本発明による電気めっき方法の実施の形態では、めっき槽10内のめっき液12中のアノードバッグ14内に導入した吸引管22の吸引口22aの最下端の高さがアノード(アノードケース16内に収容されたアノードボール18)の最下端から鉛直方向上方に70mm以下(好ましくは60mm以下)の高さになるように、吸引管22の吸引口22aを複数のアノードの隣接する2つのアノードの側面の間に配置するとともに、被めっき材20をめっきする際に、めっき槽10中のアノードバッグ14内のめっき液12の液面の高さの最大低下量を1〜60mmに維持しながら吸引口22aからめっき液12の一部を吸引してめっき槽10から排出しているので、アノードバッグ14の底部に堆積したスラッジ28の吸引を抑制して、アノードの下端部付近のめっき液12を効果的に吸引することができるため、アノードバッグ14外のめっき液12をアノードバッグ14内に供給して、アノードの電気反応により生じる変質しためっき液12をアノードバッグ14内外で入れ替えることができ、アノードバッグ14の底部のめっき液12の電導度の低下を抑制(アノードバッグ14内のめっき液12の深さ方向の電導度差を低減)し、アノードの下端部付近からの電流の減少を抑制し、被めっき材20の下側部分のめっき皮膜の厚さの低下を抑制して、めっき槽10の鉛直方向におけるめっき皮膜の厚さの変化を抑制することができるとともに、スラッジを吸引して除去するための大きな配管をアノードバッグの底部に設置する必要がなく、多量のスラッジの吸引を防止してフィルタの寿命が短くなるのを防止することができる。
In the embodiment of the electroplating method according to the present invention, the height of the lowermost end of the
なお、本発明による電気めっき方法の実施の形態は、スラッジの発生量が多いSnめっきに適用するのが好ましい。 The embodiment of the electroplating method according to the present invention is preferably applied to Sn plating in which a large amount of sludge is generated.
以下、本発明による電気めっき方法の実施例について詳細に説明する。 Hereinafter, examples of the electroplating method according to the present invention will be described in detail.
[実施例1]
図1〜4に示す電気めっき装置において、硫酸第一錫(SnSO4)70g/Lと硫酸(H2SO4)75g/Lと(レベリング剤として)クレゾールスルホン酸30g/Lと(界面活性剤として)ポリオキシエチレンアルキルアミン2mL/Lとを含有する水溶液からなるSnめっき液を約300Lの容量のめっき槽10に入れ、アノードケース16の長手方向の長さを500mm、幅を60mm、高さを400mmとし、アノードケース16の底面とアノードバッグ14の底面との間隔を50mm程度とし、アノードボール18として直径50mmのSnボールを使用し、リール・ツー・リール方式で幅250mm、厚さ0.25mmの長尺の帯板状のCuからなる圧延板を被めっき材20として搬送しながら、電気めっきを行って、被めっき材20の両面に厚さ1.0μmのSnめっき皮膜を形成した。
[Example 1]
In the electroplating apparatus shown in FIGS. 1 to 4, stannous sulfate (SnSO 4 ) 70 g/L, sulfuric acid (H 2 SO 4 ) 75 g/L, cresolsulfonic acid 30 g/L (as a leveling agent) (surfactant) As a Sn plating solution consisting of an aqueous solution containing 2 mL/L of polyoxyethylene alkylamine is placed in a
なお、各々のアノードバッグ14内の2つのアノードケース16の対向する側面の間(アノードバッグ14内の長手方向中央部)に吸引管22の3つの吸引口22aを配置し、吸引口22aの最下端(吸引管22の先端の吸引口22a)をアノードケース16内のアノードボール18の最下端(から鉛直方向上方に0mmの高さ)に配置するとともに、吸引口22aの最上端(吸引管22の先端付近の側面部の吸引口22aの最上端)をアノードケース16内のアノードボール18の最下端から鉛直方向上方に20mmの高さに配置(直径10mmの吸引口22aを吸引管22の先端から鉛直方向上方に10mm離間して配置)して、電気めっきの際に、めっき液12の吸引時間を120秒、吸引停止時間を840秒として、めっき液12を吸引流量5L/分で間欠的に吸引した。この吸引時のアノードバッグ14内のめっき液12の液面の高さの最大低下量は20mmであった。なお、この吸引後の吸引停止時間内にアノードバッグ14外のめっき液12がアノードバッグ14内に浸透してアノードバッグ14内のめっき液12の液面の高さは初期の高さに戻った。
It should be noted that the three
このようにして電気めっきを行って、2週間経過後に、アノードバッグ14外の上澄み(約100mL)を採取して電導度を測定するとともに、アノードバッグ14内の被めっき材20の導入側、中央部および排出側の液面から鉛直方向下方に300mmの位置(アノードケース16の底部付近)のめっき液12(約100mL)を採取して電導度を測定したところ、アノードバッグ14外のめっき液12の上澄み液の電導度は211mS/cmであり、アノードバッグ内14の被めっき材の導入側、中央部および排出側の液面から鉛直方向下方に300mmの位置のめっき液12の電導度の(アノードバッグ14外のめっき液12の上澄み液の電導度に対する)低下量は、それぞれ28mS/cm、30mS/cmおよび38mS/cmであった。なお、電導度は、電導度計(メトラー・トレド株式会社製のSeven2Go)を使用し、サンプル中にセンサを設置して、電磁誘導法により測定時間数十秒で測定した。
Electroplating is carried out in this manner, and after 2 weeks, the supernatant (about 100 mL) outside the
また、被めっき材20の両面のそれぞれのSnめっき皮膜(の幅方向端部から10mmの周縁部を除いた部分)の厚さを幅方向に5mm間隔の位置で測定して、Snめっき皮膜の幅方向の厚さの最大値と最小値の差(それぞれの面のSnめっき皮膜の幅方向の厚さの最大値と最小値の差の大きい方の値)を求めたところ、0.2μmであり、厚さの差が小さかった。なお、Snめっき皮膜の厚さは、蛍光X線膜厚計(SSIナノサイエンス株式会社製のSFT3300S)を使用し、励起法により直径0.5mmの範囲を15秒間で測定した。 In addition, the thickness of each Sn plating film (portion excluding the peripheral portion of 10 mm from the widthwise end portion thereof) on both surfaces of the material to be plated 20 was measured at positions at intervals of 5 mm in the width direction, and the Sn plating film The difference between the maximum value and the minimum value in the width direction (the larger value between the maximum value and the minimum value in the width direction of the Sn plating film on each surface, whichever is larger) was calculated and found to be 0.2 μm. Yes, the difference in thickness was small. The thickness of the Sn plating film was measured by a fluorescent X-ray film thickness meter (SFT3300S manufactured by SSI Nanoscience Co., Ltd.) in a range of 0.5 mm in diameter for 15 seconds by an excitation method.
[実施例2]
電気めっきの際に、めっき液12の吸引時間を60秒、吸引停止時間を420秒とし、めっき液12の吸引流量を4L/分として間欠的に吸引した以外は、実施例1と同様の方法により電気めっきを行って、被めっき材20の両面に厚さ1.0μmのSnめっき皮膜を形成した。なお、めっき液12の吸引時のアノードバッグ14内のめっき液12の液面の高さの最大低下量は20mmであった。なお、この吸引後の吸引停止時間内にアノードバッグ14外のめっき液12がアノードバッグ14内に浸透してアノードバッグ14内のめっき液12の液面の高さは初期の高さに戻った。
[Example 2]
At the time of electroplating, the same method as in Example 1 except that the suction time of the
このようにして電気めっきを行って、2週間経過後に、実施例1と同様の方法により、アノードバッグ14外のめっき液12の上澄み液の電導度を測定するとともに、アノードバッグ14内の被めっき材20の導入側、中央部および排出側の液面から鉛直方向下方に300mmの位置(アノードケース16の底部付近)のめっき液12の電導度を測定したところ、アノードバッグ14外のめっき液12の上澄み液の電導度は220mS/cmであり、アノードバッグ内14の被めっき材の導入側、中央部および排出側の液面から鉛直方向下方に300mmの位置のめっき液12の電導度の(アノードバッグ14外のめっき液12の上澄み液の電導度に対する)低下量は、それぞれ35mS/cm、30mS/cmおよび28mS/cmであった。また、実施例1と同様の方法により、Snめっき皮膜の幅方向の厚さの最大値と最小値の差を求めたところ、0.2μmであり、厚さの差が小さかった。
Electroplating is performed in this manner, and after 2 weeks, the conductivity of the supernatant of the
[実施例3]
電気めっきの際に、めっき液12の吸引流量を2L/分として間欠的に吸引した以外は、実施例1と同様の方法により電気めっきを行って、被めっき材20の両面に厚さ1.0μmのSnめっき皮膜を形成した。なお、めっき液12の吸引時のアノードバッグ14内のめっき液12の液面の高さの最大低下量は10mmであった。なお、この吸引後の吸引停止時間内にアノードバッグ14外のめっき液12がアノードバッグ14内に浸透してアノードバッグ14内のめっき液12の液面の高さは初期の高さに戻った。
[Example 3]
At the time of electroplating, electroplating was performed in the same manner as in Example 1 except that the suction flow rate of the
このようにして電気めっきを行って、2週間経過後に、実施例1と同様の方法により、アノードバッグ14外のめっき液12の上澄み液の電導度を測定するとともに、アノードバッグ14内の被めっき材20の導入側、中央部および排出側の液面から鉛直方向下方に300mmの位置(アノードケース16の底部付近)のめっき液12の電導度を測定したところ、アノードバッグ14外のめっき液12の上澄み液の電導度は216mS/cmであり、アノードバッグ内14の被めっき材の導入側、中央部および排出側の液面から鉛直方向下方に300mmの位置のめっき液12の電導度の(アノードバッグ14外のめっき液12の上澄み液の電導度に対する)低下量は、それぞれ82mS/cm、40mS/cmおよび77mS/cmであった。また、実施例1と同様の方法により、Snめっき皮膜の幅方向の厚さの最大値と最小値の差を求めたところ、0.3μmであり、厚さの差が小さかった。
Electroplating is performed in this manner, and after 2 weeks, the conductivity of the supernatant of the
[実施例4]
電気めっきの際に、めっき液12の吸引流量を10L/分として間欠的に吸引した以外は、実施例1と同様の方法により電気めっきを行って、被めっき材20の両面に厚さ1.0μmのSnめっき皮膜を形成した。なお、めっき液12の吸引時のアノードバッグ14内のめっき液12の液面の高さの最大低下量は50mmであった。なお、この吸引後の吸引停止時間内にアノードバッグ14外のめっき液12がアノードバッグ14内に浸透してアノードバッグ14内のめっき液12の液面の高さは初期の高さに戻った。
[Example 4]
At the time of electroplating, electroplating was performed by the same method as in Example 1 except that the suction flow rate of the
このようにして電気めっきを行って、2週間経過後に、実施例1と同様の方法により、アノードバッグ14外のめっき液12の上澄み液の電導度を測定するとともに、アノードバッグ14内の被めっき材20の導入側、中央部および排出側の液面から鉛直方向下方に300mmの位置(アノードケース16の底部付近)のめっき液12の電導度を測定したところ、アノードバッグ14外のめっき液12の上澄み液の電導度は217mS/cmであり、アノードバッグ内14の被めっき材の導入側、中央部および排出側の液面から鉛直方向下方に300mmの位置のめっき液12の電導度の(アノードバッグ14外のめっき液12の上澄み液の電導度に対する)低下量は、それぞれ19mS/cm、10mS/cmおよび22mS/cmであった。また、実施例1と同様の方法により、Snめっき皮膜の幅方向の厚さの最大値と最小値の差を求めたところ、0.2μmであり、厚さの差が小さかった。
Electroplating is performed in this manner, and after 2 weeks, the conductivity of the supernatant of the
[実施例5]
吸引管22の吸引口22aの最下端をアノードケース16内のアノードボール18の最下端から鉛直方向上方に50mmの高さに配置(吸引口22aの最上端をアノードケース16内のアノードボール18の最下端から鉛直方向上方に70mmの高さに配置)した以外は、実施例1と同様の方法により電気めっきを行って、被めっき材20の両面に厚さ1.0μmのSnめっき皮膜を形成した。なお、めっき液12の吸引時のアノードバッグ14内のめっき液12の液面の高さの最大低下量は20mmであった。なお、この吸引後の吸引停止時間内にアノードバッグ14外のめっき液12がアノードバッグ14内に浸透してアノードバッグ14内のめっき液12の液面の高さは初期の高さに戻った。
[Example 5]
The lowermost end of the
このようにして電気めっきを行って、2週間経過後に、実施例1と同様の方法により、アノードバッグ14外のめっき液12の上澄み液の電導度を測定するとともに、アノードバッグ14内の被めっき材20の導入側、中央部および排出側の液面から鉛直方向下方に300mmの位置(アノードケース16の底部付近)のめっき液12の電導度を測定したところ、アノードバッグ14外のめっき液12の上澄み液の電導度は230mS/cmであり、アノードバッグ内14の被めっき材の導入側、中央部および排出側の液面から鉛直方向下方に300mmの位置のめっき液12の電導度の(アノードバッグ14外のめっき液12の上澄み液の電導度に対する)低下量は、それぞれ73mS/cm、43mS/cmおよび65mS/cmであった。また、実施例1と同様の方法により、Snめっき皮膜の幅方向の厚さの最大値と最小値の差を求めたところ、0.3μmであり、厚さの差が小さかった。
Electroplating is performed in this manner, and after 2 weeks, the conductivity of the supernatant of the
[実施例6]
吸引管22の吸引口22aの最下端をアノードケース16内のアノードボール18の最下端から鉛直方向上方に20mmの高さに配置(吸引口22aの最上端をアノードケース16内のアノードボール18の最下端から鉛直方向上方に40mmの高さに配置)し、電気めっきの際に、めっき液12の吸引時間を45秒、吸引停止時間を315秒として間欠的に吸引した以外は、実施例1と同様の方法により電気めっきを行って、被めっき材20の両面に厚さ1.0μmのSnめっき皮膜を形成した。なお、めっき液12の吸引時のアノードバッグ14内のめっき液12の液面の高さの最大低下量は10mmであった。なお、この吸引後の吸引停止時間内にアノードバッグ14外のめっき液12がアノードバッグ14内に浸透してアノードバッグ14内のめっき液12の液面の高さは初期の高さに戻った。
[Example 6]
The lowermost end of the
このようにして電気めっきを行って、2週間経過後に、実施例1と同様の方法により、アノードバッグ14外のめっき液12の上澄み液の電導度を測定するとともに、アノードバッグ14内の被めっき材20の導入側、中央部および排出側の液面から鉛直方向下方に300mmの位置(アノードケース16の底部付近)のめっき液12の電導度を測定したところ、アノードバッグ14外のめっき液12の上澄み液の電導度は224mS/cmであり、アノードバッグ内14の被めっき材の導入側、中央部および排出側の液面から鉛直方向下方に300mmの位置のめっき液12の電導度の(アノードバッグ14外のめっき液12の上澄み液の電導度に対する)低下量は、それぞれ40mS/cm、37mS/cmおよび40mS/cmであった。また、実施例1と同様の方法により、Snめっき皮膜の幅方向の厚さの最大値と最小値の差を求めたところ、0.3μmであり、厚さの差が小さかった。
Electroplating is performed in this manner, and after 2 weeks, the conductivity of the supernatant of the
[比較例1]
めっき液12の吸引を行わなかった以外は、実施例1と同様の方法により電気めっきを行って、被めっき材20の両面に厚さ1.0μmのSnめっき皮膜を形成した。
[Comparative Example 1]
Electroplating was performed in the same manner as in Example 1 except that the
このようにして電気めっきを行って、2週間経過後に、実施例1と同様の方法により、アノードバッグ14外のめっき液12の上澄み液の電導度を測定するとともに、アノードバッグ14内の被めっき材20の導入側、中央部および排出側の液面から鉛直方向下方に300mmの位置(アノードケース16の底部付近)のめっき液12の電導度を測定したところ、アノードバッグ14外のめっき液12の上澄み液の電導度は217mS/cmであり、アノードバッグ内14の被めっき材の導入側、中央部および排出側の液面から鉛直方向下方に300mmの位置のめっき液12の電導度の(アノードバッグ14外のめっき液12の上澄み液の電導度に対する)低下量は、それぞれ133mS/cm、135mS/cmおよび128mS/cmであった。また、実施例1と同様の方法により、Snめっき皮膜の幅方向の厚さの最大値と最小値の差を求めたところ、0.7μmであり、厚さの差が大きかった。
Electroplating is performed in this manner, and after 2 weeks, the conductivity of the supernatant of the
[比較例2]
電気めっきの際に、めっき液12の吸引流量を0.5L/分として間欠的に吸引した以外は、実施例1と同様の方法により電気めっきを行って、被めっき材20の両面に厚さ1.0μmのSnめっき皮膜を形成した。なお、めっき液12の吸引時のアノードバッグ14内のめっき液12の液面の高さの最大低下量は0mmであった。
[Comparative example 2]
At the time of electroplating, electroplating was performed in the same manner as in Example 1 except that the suction flow rate of the
このようにして電気めっきを行って、2週間経過後に、実施例1と同様の方法により、アノードバッグ14外のめっき液12の上澄み液の電導度を測定するとともに、アノードバッグ14内の被めっき材20の導入側、中央部および排出側の液面から鉛直方向下方に300mmの位置(アノードケース16の底部付近)のめっき液12の電導度を測定したところ、アノードバッグ14外のめっき液12の上澄み液の電導度は220mS/cmであり、アノードバッグ内14の被めっき材の導入側、中央部および排出側の液面から鉛直方向下方に300mmの位置のめっき液12の電導度の(アノードバッグ14外のめっき液12の上澄み液の電導度に対する)低下量は、それぞれ128mS/cm、115mS/cmおよび122mS/cmであった。また、実施例1と同様の方法により、Snめっき皮膜の幅方向の厚さの最大値と最小値の差を求めたところ、0.6μmであり、厚さの差が大きかった。
Electroplating is performed in this manner, and after 2 weeks, the conductivity of the supernatant of the
[比較例3]
電気めっきの際に、めっき液12の吸引流量を15L/分として間欠的に吸引した以外は、実施例1と同様の方法により電気めっきを行って、被めっき材20の両面に厚さ1.0μmのSnめっき皮膜を形成した。なお、めっき液12の吸引時のアノードバッグ14内のめっき液12の液面の高さの最大低下量が70mmと大きかった。
[Comparative Example 3]
At the time of electroplating, electroplating was performed in the same manner as in Example 1 except that the suction flow rate of the
このようにして電気めっきを行って、2週間経過後に、実施例1と同様の方法により、アノードバッグ14外のめっき液12の上澄み液の電導度を測定するとともに、アノードバッグ14内の被めっき材20の導入側、中央部および排出側の液面から鉛直方向下方に300mmの位置(アノードケース16の底部付近)のめっき液12の電導度を測定したところ、アノードバッグ14外のめっき液12の上澄み液の電導度は219mS/cmであり、アノードバッグ内14の被めっき材の導入側、中央部および排出側の液面から鉛直方向下方に300mmの位置のめっき液12の電導度の(アノードバッグ14外のめっき液12の上澄み液の電導度に対する)低下量は、それぞれ13mS/cm、12mS/cmおよび15mS/cmであった。また、実施例1と同様の方法により、Snめっき皮膜の幅方向の厚さの最大値と最小値の差を求めたところ、0.6μmであり、厚さの差が大きかった。なお、本比較例では、めっき液12の吸引時のアノードバッグ14内のめっき液12の液面の高さの最大低下量が80mmと大きかったため、被めっき材20の上側に流れる電流が小さくなって、被めっき材20の上側のSnめっき皮膜が薄くなり、Snめっき皮膜の幅方向の厚さの最大値と最小値の差が大きくなったと考えられる。
Electroplating is performed in this manner, and after 2 weeks, the conductivity of the supernatant of the
[比較例4]
吸引管22の吸引口22aの最下端をアノードケース16内のアノードボール18の最下端から鉛直方向上方に100mmの高さに配置(吸引口22aの最上端をアノードケース16内のアノードボール18の最下端から鉛直方向上方に120mmの高さに配置)し、電気めっきの際に、めっき液12の吸引流量を10L/分として間欠的に吸引した以外は、実施例1と同様の方法により電気めっきを行って、被めっき材20の両面に厚さ1.0μmのSnめっき皮膜を形成した。なお、めっき液12の吸引時のアノードバッグ14内のめっき液12の液面の高さの最大低下量は50mmであった。なお、この吸引後の吸引停止時間内にアノードバッグ14外のめっき液12がアノードバッグ14内に浸透してアノードバッグ14内のめっき液12の液面の高さは初期の高さに戻った。
[Comparative Example 4]
The lowermost end of the
このようにして電気めっきを行って、2週間経過後に、実施例1と同様の方法により、アノードバッグ14外のめっき液12の上澄み液の電導度を測定するとともに、アノードバッグ14内の被めっき材20の導入側、中央部および排出側の液面から鉛直方向下方に300mmの位置(アノードケース16の底部付近)のめっき液12の電導度を測定したところ、アノードバッグ14外のめっき液12の上澄み液の電導度は226mS/cmであり、アノードバッグ内14の被めっき材の導入側、中央部および排出側の液面から鉛直方向下方に300mmの位置のめっき液12の電導度の(アノードバッグ14外のめっき液12の上澄み液の電導度に対する)低下量は、それぞれ121mS/cm、60mS/cmおよび108mS/cmであった。また、実施例1と同様の方法により、Snめっき皮膜の幅方向の厚さの最大値と最小値の差を求めたところ、0.6μmであり、厚さの差が大きかった。
Electroplating is performed in this manner, and after 2 weeks, the conductivity of the supernatant of the
[比較例5]
電気めっきの際に、めっき液12の吸引流量を10L/分として連続的に吸引した以外は、実施例1と同様の方法により電気めっきを行って、被めっき材20の両面にSnめっき皮膜を形成した。なお、めっき液12の吸引によりアノードバッグ14内のめっき液12の液面の高さの最大低下量が100mmと大きくなり過ぎたため、電気めっきを中止した。なお、実施例1と同様の方法により、アノードバッグ14外のめっき液12の上澄み液の電導度を測定したところ、アノードバッグ14外のめっき液12の上澄み液の電導度は228mS/cmであった。
[Comparative Example 5]
At the time of electroplating, electroplating was performed in the same manner as in Example 1 except that the suction flow rate of the
[比較例6]
電気めっきの際に、めっき液12の吸引流量を2L/分として連続的に吸引した以外は、実施例1と同様の方法により電気めっきを行って、被めっき材20の両面にSnめっき皮膜を形成した。なお、めっき液12の吸引によりアノードバッグ14内のめっき液12の液面の高さの最大低下量が100mmと大きくなり過ぎたため、電気めっきを中止した。なお、実施例1と同様の方法により、アノードバッグ14外のめっき液12の上澄み液の電導度を測定したところ、アノードバッグ14外のめっき液12の上澄み液の電導度は243mS/cmであった。
[Comparative Example 6]
At the time of electroplating, electroplating was performed in the same manner as in Example 1 except that the suction flow rate of the
[比較例7]
電気めっきの際に、めっき液12の吸引流量を0.5L/分として連続的に吸引した以外は、実施例1と同様の方法により電気めっきを行って、被めっき材20の両面に厚さ1.0μmのSnめっき皮膜を形成した。なお、めっき液12の吸引時のアノードバッグ14内のめっき液12の液面の高さの最大低下量は0mmであった。
[Comparative Example 7]
At the time of electroplating, electroplating was carried out in the same manner as in Example 1 except that the suction flow rate of the
このようにして電気めっきを行って、2週間経過後に、実施例1と同様の方法により、アノードバッグ14外のめっき液12の上澄み液の電導度を測定するとともに、アノードバッグ14内の被めっき材20の導入側、中央部および排出側の液面から鉛直方向下方に300mmの位置(アノードケース16の底部付近)のめっき液12の電導度を測定したところ、アノードバッグ14外のめっき液12の上澄み液の電導度は238mS/cmであり、アノードバッグ内14の被めっき材の導入側、中央部および排出側の液面から鉛直方向下方に300mmの位置のめっき液12の電導度の(アノードバッグ14外のめっき液12の上澄み液の電導度に対する)低下量は、それぞれ126mS/cm、90mS/cmおよび124mS/cmであった。また、実施例1と同様の方法により、Snめっき皮膜の幅方向の厚さの最大値と最小値の差を求めたところ、0.6μmであり、厚さの差が大きかった。
Electroplating is performed in this manner, and after 2 weeks, the conductivity of the supernatant of the
これらの実施例および比較例の条件および結果を表1および表2に示す。 The conditions and results of these Examples and Comparative Examples are shown in Tables 1 and 2.
10 めっき槽
12 めっき液
14 アノードバッグ
16 アノードケース
18 アノードボール
20 被めっき材
22 吸引管
22a 吸引口
24 板材
26 アノードバー
28 スラッジ
10
Claims (9)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2016143360A JP6703452B2 (en) | 2016-07-21 | 2016-07-21 | Electroplating method |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2016143360A JP6703452B2 (en) | 2016-07-21 | 2016-07-21 | Electroplating method |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2018012862A JP2018012862A (en) | 2018-01-25 |
| JP6703452B2 true JP6703452B2 (en) | 2020-06-03 |
Family
ID=61021127
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2016143360A Active JP6703452B2 (en) | 2016-07-21 | 2016-07-21 | Electroplating method |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP6703452B2 (en) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN110791802A (en) * | 2019-10-21 | 2020-02-14 | 北京曙光航空电气有限责任公司 | Electrochemical treatment method based on polar plate sheath |
| CN214612819U (en) * | 2021-03-25 | 2021-11-05 | 宁德时代新能源科技股份有限公司 | Filtering mechanism and equipment for producing conductive material |
-
2016
- 2016-07-21 JP JP2016143360A patent/JP6703452B2/en active Active
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2018012862A (en) | 2018-01-25 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
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|
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