JP6740563B2 - Inductance measuring device and inductance measuring method - Google Patents
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Description
本発明は、インダクタンス測定装置およびインダクタンス測定方法に関し、特に、インダクタンスの直流電流での飽和特性を測定するインダクタンス測定装置およびインダクタンス測定方法に関するものである。 The present invention relates to an inductance measuring device and an inductance measuring method, and more particularly to an inductance measuring device and an inductance measuring method for measuring a saturation characteristic of an inductance with a direct current.
鉄心および磁場を利用する変圧器およびインダクタのような誘導性素子において、十分に大きい電流を流すと、これらの鉄心の磁場が飽和になり、このとき、誘導性素子の電気特性がノンリニアであり、これはリニア回路に期待しない現象である。例えば、交流信号を印加するときには、このようなノンリニア現象により、ファーストハーモニックと相互変調歪みとが発生する。このため、実際には、実験による測定により、誘導性素子の磁気飽和特性を得て、電気回路の設計に提供する。 In inductive elements such as transformers and inductors that utilize iron cores and magnetic fields, when a sufficiently large current is passed, the magnetic fields of these iron cores become saturated, at which time the electrical characteristics of the inductive elements are non-linear, This is a phenomenon that is not expected of linear circuits. For example, when an AC signal is applied, such a non-linear phenomenon causes first harmonic and intermodulation distortion. Therefore, in practice, the magnetic saturation characteristics of the inductive element are obtained by experimental measurement and provided to the design of the electric circuit.
インダクタに直流電流を流す磁気飽和特性を測定するときに、従来の方式は、インダクタンス値が極めて大きい二つのインダクタの間に測定待ちインダクタを直列接続することにより、測定待ちインダクタと電源供給器を隔離して、電源供給器のマルチメータに対する影響を減少して、マルチメータが電源供給器の影響を受けず、精確のインダクタンス値を測定することが可能である。しかし、実際には、直流電流の上昇に従って、直列接続する二つの大きいインダクタも飽和して、測定値が精確ではない状況が発生する。 When measuring the magnetic saturation characteristics of a direct current flowing through an inductor, the conventional method is to isolate the inductor waiting for measurement from the power supply by connecting the inductor waiting for measurement in series between two inductors with extremely large inductance values. Thus, it is possible to reduce the influence of the power supply on the multimeter so that the multimeter is not affected by the power supply and can measure the accurate inductance value. However, in reality, as the direct current rises, two large inductors connected in series saturate, and a situation occurs in which the measured value is not accurate.
本発明の主な目的は、従来のテストアーキテクチャによれば、直流電流が上昇すると、インダクタンス値を精確に測定することができない問題を克服するインダクタンス測定装置およびインダクタンス測定方法を提供することにある。 It is a main object of the present invention to provide an inductance measuring device and an inductance measuring method which overcomes the problem that the inductance value cannot be accurately measured when the direct current increases according to the conventional test architecture.
本発明の実施の形態に係るインダクタンス測定装置によると、第１のテスト節点と第２のテスト節点との間に電気的に接続されている測定待ちインダクタを測定し、
第１の端と、第２の端と、参考インダクタンス値と、を有する参考インダクタンスユニットと、
一端が参考インダクタンスユニットの第１の端と電気的に接続し、他端が第１のテスト節点と電気的に接続する直流電源と、
一端が参考インダクタンスユニットの第１の端と電気的に接続し、他端が第１のテスト節点と電気的に接続する第１のコンデンサーと、
一端が第２のテスト節点と電気的に接続する第２のコンデンサーと、
第１のテスト節点と電気的に接続する第１の端と、第２のコンデンサーの他端と電気的に接続する第２の端と、を有するインダクタンス計器と、
を備え、
インダクタンス計器は、第１のテスト節点と第２のテスト節点との間のインダクタンス値を測定することを特徴とする。
According to the inductance measuring device of the embodiment of the present invention, the measurement waiting inductor electrically connected between the first test node and the second test node is measured,
A reference inductance unit having a first end, a second end, and a reference inductance value;
A direct current power supply whose one end is electrically connected to the first end of the reference inductance unit and the other end is electrically connected to the first test node;
A first capacitor having one end electrically connected to the first end of the reference inductance unit and the other end electrically connected to the first test node;
A second capacitor whose one end is electrically connected to the second test node,
An inductance meter having a first end electrically connected to the first test node and a second end electrically connected to the other end of the second capacitor;
Equipped with
The inductance meter is characterized by measuring an inductance value between the first test node and the second test node.
本発明の実施の形態に係るインダクタンス測定装置によると、参考インダクタンスユニットは、
両端が参考インダクタンスユニットの第１の端および第２の端とそれぞれ接続する第１のインダクタと、
両端が参考インダクタンスユニットの第１の端および第２の端とそれぞれ接続する第２のインダクタと、
を備えることを特徴とする。
According to the inductance measuring device of the embodiment of the present invention, the reference inductance unit is
A first inductor whose both ends are respectively connected to the first end and the second end of the reference inductance unit;
A second inductor whose both ends are respectively connected to the first end and the second end of the reference inductance unit;
It is characterized by including.
本発明の実施の形態に係るインダクタンス測定装置によると、更に、
第１の端と、第２の端と、第３の端と、を有するスイッチング素子を備え、第１の端は第１のインダクタの一端と電気的に接続し、第２の端は第１のテスト節点と電気的に接続し、第３の端は第２のインダクタの一端と電気的に接続し、スイッチング素子は、第３の端が、第１の端と導通し、又は第２の端と導通することを制御することが可能であることを特徴とする。
According to the inductance measuring device of the embodiment of the present invention,
A switching element having a first end, a second end, and a third end is provided, the first end being electrically connected to one end of the first inductor, and the second end being the first end. Of the switching element, the third end of the switching element is electrically connected to the first end of the second inductor, or the third end of the switching element is electrically connected to the first end of the second inductor. It is characterized in that it is possible to control conduction with the end.
本発明の実施の形態に係るインダクタンス測定装置によると、更に、
第１のインダクタの他端と第２のテスト節点との間に直列接続されている第１の電流センサーと、
第２のインダクタの他端と第２のテスト節点との間に直列接続されている第２の電流センサーと、
を備えることを特徴とする。
According to the inductance measuring device of the embodiment of the present invention,
A first current sensor connected in series between the other end of the first inductor and the second test node;
A second current sensor connected in series between the other end of the second inductor and the second test node;
It is characterized by including.
本発明の実施の形態に係るインダクタンス測定装置によると、スイッチング素子が第３の端と第２の端を導通したときには、インダクタンス計器が参考インダクタンスユニットを測定して、参考インダクタンス値を得ることを特徴とする。 According to the inductance measuring device of the embodiment of the present invention, when the switching element conducts the third end and the second end, the inductance meter measures the reference inductance unit to obtain the reference inductance value. And
本発明の実施の形態に係るインダクタンス測定装置によると、更に、
一端が第１のテスト節点と電気的に接続し、他端がインダクタンス計器の第１の端と電気的に接続する第３のコンデンサーを備え、
第３のコンデンサーの容量値は、第２のコンデンサーの容量値と同じであることを特徴とする。
According to the inductance measuring device of the embodiment of the present invention,
A third capacitor having one end electrically connected to the first test node and the other end electrically connected to the first end of the inductance meter;
The capacitance value of the third capacitor is the same as the capacitance value of the second capacitor.
本発明の実施の形態に係るインダクタンス測定装置によると、更に、
インダクタンス計器と電気的に接続し、参考インダクタンス値、及び第１のテスト節点と第２のテスト節点との間のインダクタンス値によって、測定待ちインダクタのインダクタンス値を計算する処理ユニットを備えることを特徴とする。
According to the inductance measuring device of the embodiment of the present invention,
And a processing unit that is electrically connected to the inductance meter and that calculates the inductance value of the measurement-waiting inductor based on the reference inductance value and the inductance value between the first test node and the second test node. To do.
本発明の実施の形態に係るインダクタンス測定方法によると、参考インダクタンスユニットを用意し、参考インダクタンスユニットは参考インダクタンス値を有するステップと、
第１のテスト節点と第２のテスト節点とを用意して、測定待ちインダクタと電気的に接続するステップと、
第１のコンデンサーの一端を参考インダクタンスユニットの第１の端と電気的に接続し、第１のコンデンサーのの他端を第１のテスト節点と電気的に接続するステップと、
直流電源を第１のコンデンサーと並列接続して直流電流を供給するステップと、
第２のコンデンサーをインダクタンス計器と電気的に接続することにより、直流電流を隔離するステップと、
交流信号を供給して、インダクタンス計器は、交流信号によって、第１のテスト節点と第２のテスト節点との間のインダクタンス値を測定するステップと、
を含むことを特徴とする。
According to the inductance measuring method of the embodiment of the present invention, a reference inductance unit is prepared, and the reference inductance unit has a reference inductance value,
Preparing a first test node and a second test node and electrically connecting them to a measurement-waiting inductor;
Electrically connecting one end of the first capacitor to the first end of the reference inductance unit and electrically connecting the other end of the first capacitor to the first test node;
Supplying a direct current by connecting a direct current power source in parallel with the first capacitor;
Isolating the direct current by electrically connecting a second capacitor to the inductance meter,
Providing an AC signal, the inductance meter measuring the inductance value between the first test node and the second test node by the AC signal;
It is characterized by including.
本発明の実施の形態に係るインダクタンス測定方法によると、参考インダクタンスユニットを用意するステップは、
第１のインダクタと第２のインダクタとを用意するステップと、
第１のコンデンサーの一端を第１のインダクタの一端と電気的に接続し、第１のコンデンサーの他端を第２のインダクタの一端と電気的に接続するステップと、
第１のインダクタの他端を第２のインダクタの他端と電気的に接続するステップと、
インダクタンス計器は、交流信号によって、参考インダクタンスユニットを測定して、参考インダクタンス値を得るステップと、
を含むことを特徴とする。
According to the inductance measuring method of the embodiment of the present invention, the step of preparing the reference inductance unit includes
Providing a first inductor and a second inductor,
Electrically connecting one end of the first capacitor to one end of the first inductor and electrically connecting the other end of the first capacitor to one end of the second inductor;
Electrically connecting the other end of the first inductor to the other end of the second inductor;
The inductance meter measures a reference inductance unit by an AC signal to obtain a reference inductance value, and
It is characterized by including.
本発明の実施の形態に係るインダクタンス測定方法によると、更に、参考インダクタンス値、及び第１のテスト節点と第２のテスト節点との間のインダクタンス値によって、測定待ちインダクタのインダクタンス値を計算するステップを含むことを特徴とする。 According to the inductance measuring method according to the embodiment of the present invention, a step of further calculating the inductance value of the measurement-waiting inductor by the reference inductance value and the inductance value between the first test node and the second test node. It is characterized by including.
本発明の実施の形態に係るインダクタンス測定装置およびインダクタンス測定方法によれば、次のような効果がある。
（１）参考インダクタンスユニット及び測定待ちインダクタを並列接続することにより、従来の隔離インダクタが直流大電流で直流飽和効果が発生して、インダクタンスの測定結果が影響されるという問題を回避することが可能である。
The inductance measuring device and the inductance measuring method according to the embodiment of the present invention have the following effects.
(1) By connecting the reference inductance unit and the inductor waiting for measurement in parallel, it is possible to avoid the problem that the conventional isolated inductor causes a DC saturation effect with a large DC current and affects the measurement result of the inductance. Is.
（２）第１のコンデンサー又は第２のコンデンサーにより、直流電流の経路と交流電流の経路を隔離する。これにより、測定モジュールの測定値は直流電源の影響を受けなくなる。直流電源が上昇しても、測定待ちインダクタの特性を精確に測定することが可能である。 (2) The direct current path and the alternating current path are separated by the first capacitor or the second capacitor. As a result, the measurement value of the measurement module is not affected by the DC power supply. Even if the DC power supply rises, the characteristics of the inductor waiting for measurement can be accurately measured.
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。 Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
実施の形態１.
図１を参照する。図１は本発明の実施の形態１に係るインダクタンス測定装置の機能を示すブロック図である。インダクタンス測定装置１は、測定待ちインダクタＤＵＴのインダクタンス値を測定するためのものである。インダクタンス測定装置１は、直流電源１２と、参考インダクタンスユニット１４と、第１のコンデンサーＣ１と、第２のコンデンサーＣ２と、インダクタンス計器１６と、を有する。直流電源１２の両端は、参考インダクタンスユニットの第１の端および第１のテスト節点ＮＴ１とそれぞれ電気的に接続する。この参考インダクタンスユニット１４の両端は、前記参考インダクタンスユニットの第１の端および第２のテスト節点ＮＴ２とそれぞれ電気的に接続する。第１のコンデンサーＣ１の両端は、第１のテスト節点ＮＴ１および参考インダクタンスユニットの第１の端とそれぞれ電気的に接続する。第２のコンデンサーＣ２の一端は、前記第２のテスト節点ＮＴ２と電気的に接続する。インダクタンス計器１６の一端は、前記第１のテスト節点ＮＴ１と電気的に接続する。インダクタンス計器１６の他端は、第２のコンデンサーＣ２の他端と電気的に接続する。本実施の形態では、インダクタンス測定装置１は、第１のテスト節点ＮＴ１および第２のテスト節点ＮＴ２を経由して、測定待ちインダクタＤＵＴの両端とそれぞれ電気的に接続する。
Embodiment 1.
Please refer to FIG. FIG. 1 is a block diagram showing the function of the inductance measuring device according to the first embodiment of the present invention. The inductance measuring device 1 is for measuring the inductance value of the measurement waiting inductor DUT. The inductance measuring device 1 includes a DC power supply 12, a reference inductance unit 14, a first capacitor C1, a second capacitor C2, and an inductance meter 16. Both ends of the DC power supply 12 are electrically connected to the first end and the first test node NT1 of the reference inductance unit, respectively. Both ends of the reference inductance unit 14 are electrically connected to the first end and the second test node NT2 of the reference inductance unit, respectively. Both ends of the first capacitor C1 are electrically connected to the first test node NT1 and the first end of the reference inductance unit, respectively. One end of the second capacitor C2 is electrically connected to the second test node NT2. One end of the inductance meter 16 is electrically connected to the first test node NT1. The other end of the inductance meter 16 is electrically connected to the other end of the second capacitor C2. In the present embodiment, the inductance measuring device 1 is electrically connected to both ends of the measurement waiting inductor DUT via the first test node NT1 and the second test node NT2.
参考インダクタンスユニット１４は、同値参考インダクタンス値を有する。特に、インダクタンス値とは、インダクタのある直流電流でのインダクタンス値である。直流電源１２の出力電流を調整することにより、インダクタンス測定装置１は、測定待ちインダクタＤＵＴの希望の直流電流でのインダクタンス値を測定することが可能である。一実施の形態では、参考インダクタンスユニット１４は一つだけのインダクタである。他の実施の形態では、参考インダクタンスユニット１４は、複数のインダクタを接続して構成される。また、別の実施の形態では、参考インダクタンスユニット１４は、複数のインダクタを有し、且つ少なくとも一つのインダクタンス以外の電子部品を有する。関連の詳細は下記に説明する。図１に示す実施の形態では、まず、参考インダクタンスユニット１４が一つだけのインダクタであることを例にして説明する。 The reference inductance unit 14 has the same reference inductance value. In particular, the inductance value is the inductance value at a certain direct current of the inductor. By adjusting the output current of the DC power supply 12, the inductance measuring device 1 can measure the inductance value of the measurement-waiting inductor DUT at a desired DC current. In one embodiment, the reference inductance unit 14 is only one inductor. In another embodiment, the reference inductance unit 14 is configured by connecting a plurality of inductors. Further, in another embodiment, the reference inductance unit 14 has a plurality of inductors and at least one electronic component other than the inductance. The relevant details are described below. In the embodiment shown in FIG. 1, first, an example in which the reference inductance unit 14 is only one inductor will be described.
図２を参照する。図２は本発明の実施の形態１に係るインダクタンス測定方法のステップを示すフローチャートである。このインダクタンス測定方法は、図１に示すインダクタンス測定装置１に適用することが可能であり、下記のステップを含む。 Please refer to FIG. FIG. 2 is a flowchart showing steps of the inductance measuring method according to the first embodiment of the present invention. This inductance measuring method can be applied to the inductance measuring device 1 shown in FIG. 1, and includes the following steps.
ステップＳ１０１は、参考インダクタンスユニットを用意する。前記参考インダクタンスユニットは参考インダクタンス値を有する。ステップＳ１０３は、第１のテスト節点および第２のテスト節点を用意して、測定待ちインダクタと電気的に接続する。ステップＳ１０５は、第１のコンデンサーの一端を前記参考インダクタンスユニットの第１の端と電気的に接続し、前記第１のコンデンサーの他端を前記第１のテスト節点と電気的に接続する。ステップＳ１０７は、前記参考インダクタンスユニットの第２の端を前記第２のテスト節点と電気的に接続する。ステップＳ１０９は、直流電源を前記第１のコンデンサーと並列接続して直流電流を供給する。ステップＳ１１１は、第２のコンデンサーをインダクタンス計器と電気的に接続して、前記直流電流を隔離する。ステップＳ１１３は、交流信号を供給して、前記インダクタンス計器が前記交流信号によって、前記第１のテスト節点と前記第２のテスト節点との間のインダクタンス値を測定する。 A step S101 prepares a reference inductance unit. The reference inductance unit has a reference inductance value. A step S103 prepares a first test node and a second test node and electrically connects them to the measurement waiting inductor. In step S105, one end of the first capacitor is electrically connected to the first end of the reference inductance unit, and the other end of the first capacitor is electrically connected to the first test node. A step S107 electrically connects the second end of the reference inductance unit to the second test node. In step S109, a DC power source is connected in parallel with the first capacitor to supply a DC current. A step S111 electrically connects the second capacitor to the inductance meter to isolate the DC current. In step S113, an AC signal is supplied, and the inductance meter measures the inductance value between the first test node and the second test node by the AC signal.
図３Ａ及び図３Ｂを参照する。図３Ａは本発明の実施の形態１に係るインダクタンス測定装置の第１の電流経路を示す図である。図３Ｂは本発明の実施の形態１に係るインダクタンス測定装置の第２の電流経路を示す図である。 Please refer to FIG. 3A and FIG. 3B. FIG. 3A is a diagram showing a first current path of the inductance measuring device according to the first embodiment of the present invention. FIG. 3B is a diagram showing a second current path of the inductance measuring device according to the first embodiment of the present invention.
上記のように、前記測定待ちインダクタの両端は、前記第１のテスト節点ＮＴ１及び前記第２のテスト節点とそれぞれ電気的に接続する。ステップＳ１０５からステップＳ１１１及び図３Ａに示すように、第１のコンデンサーＣ１と第２のコンデンサーＣ２との直流特性により、電源１２からの直流電流は電流経路Ｐ１に沿って伝送される。また、ステップＳ１０５からステップＳ１１１及び図３Ｂに示すように、第１のコンデンサーＣ１と第２のコンデンサーＣ２との交流特性により、インダクタンス計器１６からの交流信号は電流経路Ｐ２に沿って伝送される。特に、電流経路Ｐ２は、図３Ｂに示すように、参考インダクタンスユニット１４と測定待ちインダクタＤＵＴとの分岐経路を含み、単一の回路ではない。 As described above, both ends of the measurement waiting inductor are electrically connected to the first test node NT1 and the second test node NT1, respectively. As shown in steps S105 to S111 and FIG. 3A, the DC current from the power source 12 is transmitted along the current path P1 due to the DC characteristics of the first capacitor C1 and the second capacitor C2. Further, as shown in steps S105 to S111 and FIG. 3B, the AC signal from the inductance meter 16 is transmitted along the current path P2 due to the AC characteristics of the first capacitor C1 and the second capacitor C2. In particular, as shown in FIG. 3B, the current path P2 includes a branch path between the reference inductance unit 14 and the measurement waiting inductor DUT, and is not a single circuit.
インダクタンス計器１６は、前記交流信号によって、並列接続インダクタンス値を得る。この並列接続インダクタンス値は、測定待ちインダクタＤＵＴ及び参考インダクタンスユニット１４を並列接続して形成される同値インダクタンス値である。特に、本実施の形態では、インダクタンス計器１６は双端子測定法によりインダクタンス値を得る。実際には、インダクタンス計器１６は、三端子測定法、四端子測定法、又は六端子測定法を採用してもよい。当該技術分野の通常の知識を有する者は、本明細書を詳細に読んだ後、実際の必要によって、本発明に係るインダクタンス測定装置の回路アーキテクチャを微調整することが可能であるはずである。これにより、インダクタンス測定装置を、三端子測定法、四端子測定法、又は六端子測定法のアーキテクチャに合うことが可能である。詳細の説明を省略する。 The inductance meter 16 obtains a parallel connection inductance value by the AC signal. This parallel connection inductance value is an equivalent inductance value formed by connecting the measurement waiting inductor DUT and the reference inductance unit 14 in parallel. In particular, in the present embodiment, the inductance meter 16 obtains the inductance value by the dual terminal measurement method. In practice, the inductance meter 16 may employ a three-terminal measuring method, a four-terminal measuring method, or a six-terminal measuring method. A person having ordinary skill in the art, after reading this specification in detail, should be able to fine-tune the circuit architecture of the inductance measuring device according to the present invention according to the actual needs. This makes it possible to adapt the inductance measuring device to a three-terminal, four-terminal or six-terminal measurement architecture. Detailed description is omitted.
上記のように、並列接続インダクタンス値は測定待ちインダクタＤＵＴ及び参考インダクタンスユニット１４を並列接続して形成される同値インダクタンス値であるため、ある直流電流での並列接続インダクタンス値は下記の式で表す。
ＬＰは並列接続インダクタンス値であり、ＬＤＵＴは測定待ちインダクタＤＵＴのインダクタンス値であり、Ｌrefは前記同値参考インダクタンス値である。上記の式により、測定待ちインダクタＤＵＴのインダクタンス値ＬＤＵＴは、測定された並列接続インダクタンス値ＬＰと、知られた同値参考インダクタンス値Ｌrefとから逆に推算して得ることが可能である。換言すると、予め設定された前記参考インダクタンス値が同値参考インダクタンス値と同じである場合には、上記の式によって、測定待ちインダクタＤＵＴのインダクタンス値を得ることが可能である。実際には、参考インダクタンスユニット１４は検証された標準の部品であるため、参考インダクタンスユニット１４の同値参考インダクタンス値は知られたものとしてもよい。或いは、他の状況において、参考インダクタンスユニット１４は、ユーザーが自分で定義する回路であり、参考インダクタンスユニット１４の同値参考インダクタンス値vを測定して得られてもよい。詳細は下記の実施の形態で説明する。 L P is a parallel connection inductance value, L DUT is an inductance value of the measurement waiting inductor DUT, and L ref is the same value reference inductance value. According to the above formula, the inductance value L DUT of the measurement waiting inductor DUT can be obtained by inversely estimating from the measured parallel connection inductance value L P and the known equivalent reference inductance value L ref . In other words, when the preset reference inductance value is the same as the reference inductance value of the same value, it is possible to obtain the inductance value of the measurement waiting inductor DUT by the above formula. In practice, the reference inductance unit 14 is a standard component that has been verified, so the equivalent reference inductance value of the reference inductance unit 14 may be known. Alternatively, in other situations, the reference inductance unit 14 may be a circuit defined by the user and may be obtained by measuring the equivalent reference inductance value v of the reference inductance unit 14. Details will be described in the following embodiments.
実施の形態１では、インダクタンス計器１６が並列接続インダクタンス値を得た後、インダクタンス計器１６が並列接続インダクタンス値を外部の電子装置に伝送して、外部の電子装置が予め設定された参考インダクタンス値と前記並列接続インダクタンス値とによって、前記測定待ちインダクタのインダクタンス値を得る。別の実施の形態では、インダクタンス計器１６は、更に、処理ユニット（図１に示さない）を有する。インダクタンス計器１６が並列接続インダクタンス値を得た後、処理ユニットが予め設定された参考インダクタンス値と前記並列接続インダクタンス値とによって、前記測定待ちインダクタのインダクタンス値を得る。 In the first embodiment, after the inductance meter 16 obtains the parallel connection inductance value, the inductance meter 16 transmits the parallel connection inductance value to the external electronic device, and the external electronic device detects the preset reference inductance value. The inductance value of the inductor waiting for measurement is obtained from the parallel connection inductance value. In another embodiment, the inductance meter 16 further comprises a processing unit (not shown in Figure 1). After the inductance meter 16 obtains the parallel connection inductance value, the processing unit obtains the inductance value of the measurement waiting inductor by the preset reference inductance value and the parallel connection inductance value.
実施の形態２.
他の実施の形態では、参考インダクタンスモジュールが複数のインダクタンスユニットを有してもよい。これにより、操作が便利となる。図４を参照する。図４は本発明の実施の形態２に係るインダクタンス測定方法のステップを示すフローチャートである。ステップＳ４０１は、第１のインダクタ及び第２のインダクタを用意する。ステップＳ４０３は、第１のコンデンサーの一端を第１のインダクタの一端と電気的に接続し、第１のコンデンサーの他端を第２のインダクタの一端と電気的に接続する。ステップＳ４０５は、第１のインダクタの他端を第２のインダクタの他端と電気的に接続する。ステップＳ４０７は、インダクタンス計器が、交流信号によって参考インダクタンスユニットを測定して、参考インダクタンス値を得る。
Embodiment 2.
In other embodiments, the reference inductance module may have multiple inductance units. This makes the operation convenient. Please refer to FIG. FIG. 4 is a flowchart showing steps of the inductance measuring method according to the second embodiment of the present invention. A step S401 prepares a first inductor and a second inductor. In step S403, one end of the first capacitor is electrically connected to one end of the first inductor, and the other end of the first capacitor is electrically connected to one end of the second inductor. A step S405 electrically connects the other end of the first inductor to the other end of the second inductor. In step S407, the inductance meter measures the reference inductance unit with the AC signal to obtain the reference inductance value.
実施の形態３.
図５を参照する。図５は本発明の実施の形態３に係るインダクタンス測定装置の機能を示すブロック図である。図５に示すインダクタンス測定装置３のアーキテクチャは、ほぼ上記のインダクタンス測定装置１と同じである。しかし、本実施の形態では、インダクタンス測定装置３は、更に、第３のコンデンサーＣ３を有し、且つインダクタンス測定装置３は処理ユニット３８を有する。これにより、予め設定された参考インダクタンス値と前記並列接続インダクタンス値とによって、前記測定待ちインダクタのインダクタンス値を得る。第３のコンデンサーＣ３の両端は、第１のテスト節点ＮＴ１及びインダクタンス計器３６とそれぞれ電気的に接続する。換言すると、インダクタンス計器３６は、第３のコンデンサーＣ３を介して第１のテスト節点ＮＴ１と電気的に接続する。第３のコンデンサーＣ３の容量値は、第２のコンデンサーＣ２の容量値と同じである。他の視点から見れば、この構造によれば、インダクタンス計器３６の両端のインピーダンス値が互いに一致なため、より精確な並列接続インダクタンス値を得ることが可能であり、並列接続インダクタンス値に対して別に補正する必要はない。本実施の形態では、参考インダクタンスユニット３４は、第１のインダクタＬ１及び第２のインダクタＬ２を有する。第１のインダクタＬ１と第２のインダクタＬ２とは、参考インダクタンスユニットの第１の端と第２の端との間に並列接続されている。
Embodiment 3.
Please refer to FIG. FIG. 5 is a block diagram showing the function of the inductance measuring device according to the third embodiment of the present invention. The architecture of the inductance measuring device 3 shown in FIG. 5 is almost the same as the inductance measuring device 1 described above. However, in the present embodiment, the inductance measuring device 3 further includes the third capacitor C3, and the inductance measuring device 3 includes the processing unit 38. Thereby, the inductance value of the measurement waiting inductor is obtained from the preset reference inductance value and the parallel connection inductance value. Both ends of the third capacitor C3 are electrically connected to the first test node NT1 and the inductance meter 36, respectively. In other words, the inductance meter 36 is electrically connected to the first test node NT1 via the third capacitor C3. The capacitance value of the third capacitor C3 is the same as the capacitance value of the second capacitor C2. From another point of view, according to this structure, since the impedance values at both ends of the inductance meter 36 match each other, it is possible to obtain a more accurate parallel connection inductance value, and the parallel connection inductance value is separately calculated. No need to correct. In the present embodiment, the reference inductance unit 34 has a first inductor L1 and a second inductor L2. The first inductor L1 and the second inductor L2 are connected in parallel between the first end and the second end of the reference inductance unit.
実施の形態４.
図６を参照する。図６は本発明の実施の形態４に係るインダクタンス測定装置の機能を示すブロック図である。インダクタンス測定装置４は、図６に示すように、更に、スイッチング素子ＳＷを備える。スイッチング素子ＳＷは、第１の端Ｅ１と、第２の端Ｅ２と、第３の端Ｅ３と、を有する。第１の端Ｅ１は参考インダクタンスユニットの第１の端と電気的に接続する。第２の端Ｅ２は第１のテスト節点ＮＴ１と電気的に接続する。第３の端Ｅ３は第２のインダクタＬ２と電気的に接続する。スイッチング素子ＳＷは、第３の端Ｅ３を第１の端Ｅ１、又は第２の端Ｅ２に選択的に導通するためのものである。実際には、スイッチング素子ＳＷは手動で操作するスイッチでもよい。或いは、インダクタンス測定装置４は、関連の制御回路を有し、予め設定された制御脚本によって、スイッチング素子ＳＷの各端點の間の導通の有無を制御してもよい。
Embodiment 4.
Please refer to FIG. FIG. 6 is a block diagram showing the function of the inductance measuring device according to the fourth embodiment of the present invention. As shown in FIG. 6, the inductance measuring device 4 further includes a switching element SW. The switching element SW has a first end E1, a second end E2, and a third end E3. The first end E1 is electrically connected to the first end of the reference inductance unit. The second end E2 is electrically connected to the first test node NT1. The third end E3 is electrically connected to the second inductor L2. The switching element SW is for selectively conducting the third end E3 to the first end E1 or the second end E2. In practice, the switching element SW may be a manually operated switch. Alternatively, the inductance measuring device 4 may have an associated control circuit and control the presence/absence of conduction between each end of the switching element SW by a preset control script.
図７、図８Ａ及び図８Ｂを参照する。図７は本発明の実施の形態２に係るインダクタンス測定方法の測定プロセスを示すステップフローチャートである。図８Ａは本発明の実施の形態２に係るインダクタンス測定装置の第１の電流経路を示す図である。図８Ｂは本発明の実施の形態２に係るインダクタンス測定装置の第２の電流経路を示す図である。このインダクタンス測定方法は、図６に示すインダクタンス測定装置４に適用される。インダクタンス測定方法は、まず、スイッチング素子の第１の端Ｅ１を第３の端Ｅ３に導通して、測定プロセスを行う。図７に示すように、この測定プロセスは下記のステップを含む。ステップＳ２０１は、前記測定待ちインダクタの両端を、前記第１のテスト節点及び前記第２のテスト節点とそれぞれ電気的に接続する。ステップＳ２０３は、前記直流電源により、前記参考インダクタンスユニット及び前記測定待ちインダクタに直流電流を供給して、第１の電流経路を形成する。この第１の電流経路は図８Ａに示す。ステップＳ２０５は、前記第１のテスト節点と前記第２のテスト節点とを介して、前記第１のコンデンサー、前記参考インダクタンスユニット、前記測定待ちインダクタ及び前記第２のコンデンサーに交流信号を供給して、第２の電流経路を形成する。この第２の電流経路は図８Ｂに示す。ステップＳ２０７は、前記交流信号によって、並列接続インダクタンス値を得る。ステップＳ２０９は、測定参考インダクタンス値及び前記並列接続インダクタンス値によって、前記測定待ちインダクタのインダクタンス値を得る。測定参考インダクタンス値は、理想的には、同値参考インダクタンス値と同じである。ステップＳ２０１からステップＳ２０９の関連の詳細は、ステップＳ１０１からステップＳ１０９とほぼ同じなため、説明を省略する。 Please refer to FIG. 7, FIG. 8A and FIG. 8B. FIG. 7 is a step flowchart showing the measurement process of the inductance measuring method according to the second embodiment of the present invention. FIG. 8A is a diagram showing a first current path of the inductance measuring device according to the second embodiment of the present invention. FIG. 8B is a diagram showing a second current path of the inductance measuring device according to the second embodiment of the present invention. This inductance measuring method is applied to the inductance measuring device 4 shown in FIG. In the inductance measuring method, first, the first end E1 of the switching element is electrically connected to the third end E3 to perform the measuring process. As shown in FIG. 7, this measurement process includes the following steps. A step S201 electrically connects both ends of the measurement-waiting inductor to the first test node and the second test node, respectively. A step S203 supplies a direct current to the reference inductance unit and the measurement waiting inductor by the direct current power source to form a first current path. This first current path is shown in FIG. 8A. Step S205 supplies an AC signal to the first capacitor, the reference inductance unit, the measurement waiting inductor, and the second capacitor via the first test node and the second test node. , A second current path is formed. This second current path is shown in Figure 8B. A step S207 obtains a parallel connection inductance value from the AC signal. A step S209 obtains the inductance value of the measurement waiting inductor from the measurement reference inductance value and the parallel connection inductance value. The measured reference inductance value is ideally the same as the equivalent reference inductance value. The details of the relationship between step S201 and step S209 are almost the same as step S101 through step S109, and thus the description thereof will be omitted.
実施の形態５.
図７、図９、図１０Ａ及び図１０Ｂを参照する。図１０Ａは本発明の実施の形態５に係るインダクタンス測定装置の第３の電流経路を示す図である。図１０Ｂは本発明の実施の形態５に係るインダクタンス測定装置の第４の電流経路を示す図である。このインダクタンス測定方法は、図９に示すように、更に、前記スイッチング素子の第３の端Ｅ３を前記第２の端Ｅ２に導通して、補正プロセスを行うステップを含む。特に、前記補正プロセスにおいて、インダクタンス測定装置４は、第１のテスト節点ＮＴ１と第２のテスト節点ＮＴ２とを介して測定待ちインダクタＤＵＴと電気的に接続することはない。別の視点から見れば、第１のテスト節点ＮＴ１と第２のテスト節点ＮＴ２との間には、測定待ちインダクタＤＵＴが電気的に接続されていない。
Embodiment 5.
Please refer to FIG. 7, FIG. 9, FIG. 10A and FIG. 10B. FIG. 10A is a diagram showing a third current path of the inductance measuring device according to the fifth embodiment of the present invention. FIG. 10B is a diagram showing a fourth current path of the inductance measuring device according to the fifth embodiment of the present invention. As shown in FIG. 9, the inductance measuring method further includes a step of conducting the third end E3 of the switching element to the second end E2 to perform a correction process. In particular, in the correction process, the inductance measuring device 4 is not electrically connected to the measurement waiting inductor DUT via the first test node NT1 and the second test node NT2. From another viewpoint, the measurement waiting inductor DUT is not electrically connected between the first test node NT1 and the second test node NT2.
前記補正プロセスは、下記のステップを含む。ステップＳ３０１は、前記直流電源により、前記参考インダクタンスユニットに直流電流を供給して、第３の電流経路を形成する。第３の電流経路は図１０Ａに示す。ステップＳ３０３は、前記第１のテスト節点と前記第２のテスト節点とを介して、前記第１のコンデンサー、前記参考インダクタンスユニット及び前記第２のコンデンサーに交流信号を供給して、第４の電流経路を形成する。第４の電流経路は図１０Ｂに示す。ステップＳ３０５は、前記交流信号によって、前記測定参考インダクタンス値を得る。測定参考インダクタンス値は、第１のインダクタＬ１及び第２のインダクタＬ２の並列接続インダクタンス値である。理想的には、この測定参考インダクタンス値は参考インダクタンスユニット４４の同値参考インダクタンス値である。ステップＳ３０１からステップＳ３０５の関連の詳細は、ほぼステップＳ１０３からステップＳ１０７及びステップＳ２０３からステップＳ２０７と同じであるため、説明を省略する。 The correction process includes the following steps. A step S301 supplies a direct current to the reference inductance unit by the direct current power supply to form a third current path. The third current path is shown in FIG. 10A. A step S303 supplies an AC signal to the first capacitor, the reference inductance unit and the second capacitor via the first test node and the second test node to generate a fourth current. Form a path. The fourth current path is shown in FIG. 10B. A step S305 obtains the measured reference inductance value from the AC signal. The measurement reference inductance value is a parallel connection inductance value of the first inductor L1 and the second inductor L2. Ideally, this measured reference inductance value is the same value reference inductance value of the reference inductance unit 44. The details of the relationship between step S301 and step S305 are substantially the same as step S103 to step S107 and step S203 to step S207, and thus the description thereof is omitted.
上記のステップにより、補正プロセスにおいて、インダクタンス測定装置４は、同値参考インダクタンス値を即時に測定することが可能である。このため、第１のインダクタＬ１のインダクタンス値と第２のインダクタＬ２のインダクタンス値とは、実際の物理条件によりドリフトして、同値参考インダクタンス値がドリフトしても、インダクタンス測定装置４は、補正プロセスにより測定参考インダクタンス値を得て、前記同値参考インダクタンス値を補正して、測定待ちインダクタＤＵＴの精確なインダクタンス値を得ることが可能である。 Through the above steps, the inductance measuring device 4 can immediately measure the equivalent reference inductance value in the correction process. Therefore, even if the inductance value of the first inductor L1 and the inductance value of the second inductor L2 drift due to actual physical conditions and the reference inductance value of the same value drifts, the inductance measuring device 4 uses the correction process. It is possible to obtain a measurement reference inductance value by using the above and correct the same reference inductance value to obtain an accurate inductance value of the measurement waiting inductor DUT.
実施の形態６.
図１１を参照する。図１１は本発明の実施の形態６に係るインダクタンス測定装置の機能を示すブロック図である。図１１に示すように、インダクタンス測定装置５の参考インダクタンスユニット５４は、更に、第１の電流センサー５４２と、第２の電流センサー５４４と、を有する。第１の電流センサー５４２は、第１のインダクタＬ１と第２のテスト節点ＮＴ２との間に直列接続されている。第１の電流センサー５４２は、第１のインダクタＬ１を流す電流によって、第１の検出値を発生する。第２の電流センサー５４４は、第２のインダクタＬ２と第２のテスト節点ＮＴ２との間に直列接続されている。第２の電流センサー５４４は、第２のインダクタＬ２を流す電流によって、第２の検出値を発生する。第１の検出値および第２の検出値により、第１のインダクタＬ１を流す電流と第２のインダクタＬ２を流す電流とは即時に監視される。別の視点から見れば、補正プロセスを行う場合には、第１の検出値と第２の検出値とが予想からの偏りが大きすぎると、直流電源からの直流電流が適時に調整され、更に、第１のインダクタＬ１又は第２のインダクタＬ２を交換してもよい。これにより、測定の品質を確保することが可能である。
Sixth Embodiment
Referring to FIG. FIG. 11 is a block diagram showing the function of the inductance measuring device according to the sixth embodiment of the present invention. As shown in FIG. 11, the reference inductance unit 54 of the inductance measuring device 5 further includes a first current sensor 542 and a second current sensor 544. The first current sensor 542 is connected in series between the first inductor L1 and the second test node NT2. The first current sensor 542 generates a first detection value by the current flowing through the first inductor L1. The second current sensor 544 is connected in series between the second inductor L2 and the second test node NT2. The second current sensor 544 generates a second detection value by the current flowing through the second inductor L2. The current flowing through the first inductor L1 and the current flowing through the second inductor L2 are immediately monitored by the first detection value and the second detection value. From another point of view, when performing the correction process, if the first detection value and the second detection value deviate too much from the expectation, the DC current from the DC power supply is adjusted in a timely manner, and further, , The first inductor L1 or the second inductor L2 may be replaced. This makes it possible to ensure the quality of the measurement.
このように、本発明の実施の形態に係るインダクタンス測定装置によれば、参考インダクタンスユニット及び測定待ちインダクタを並列接続することにより、従来の隔離インダクタが直流大電流で直流飽和効果が発生して、インダクタンスの測定結果が影響されるという問題を回避することが可能である。一方、本発明に係るインダクタンス測定装置によれば、第１のコンデンサー又は第２のコンデンサーにより、直流電流の経路と交流電流の経路を隔離する。これにより、測定モジュールの測定値は直流電源の影響を受けなくなる。直流電源が上昇しても、測定待ちインダクタの特性を精確に測定することが可能である。 As described above, according to the inductance measuring device according to the embodiment of the present invention, by connecting the reference inductance unit and the measurement-waiting inductor in parallel, the conventional isolation inductor causes a DC saturation effect with a large DC current, It is possible to avoid the problem that the measurement result of the inductance is affected. On the other hand, according to the inductance measuring device of the present invention, the direct current path and the alternating current path are separated by the first capacitor or the second capacitor. As a result, the measurement value of the measurement module is not affected by the DC power supply. Even if the DC power supply rises, the characteristics of the inductor waiting for measurement can be accurately measured.
このように、本発明の特定の例を参照して説明したが、それらの例は、説明のためだけのものであり、本発明を限定するものではなく、この分野に通常の知識を有する者には、本発明の要旨および特許請求の範囲を逸脱することなく、ここで開示された実施例に変更、追加、または、削除を施してもよいことがわかる。
［項目１］
第１のテスト節点と第２のテスト節点との間に電気的に接続されている測定待ちインダクタを測定し、
第１の端と、第２の端と、参考インダクタンス値と、を有する参考インダクタンスユニットと、
一端が上記参考インダクタンスユニットの第１の端と電気的に接続し、他端が上記第１のテスト節点と電気的に接続する直流電源と、
一端が上記参考インダクタンスユニットの第１の端と電気的に接続し、他端が上記第１のテスト節点と電気的に接続する第１のコンデンサーと、
一端が上記第２のテスト節点と電気的に接続する第２のコンデンサーと、
上記第１のテスト節点と電気的に接続する第１の端と、上記第２のコンデンサーの他端と電気的に接続する第２の端と、を有するインダクタンス計器と、
を備え、
上記インダクタンス計器は、上記第１のテスト節点と上記第２のテスト節点との間のインダクタンス値を測定するインダクタンス測定装置。
［項目２］
上記参考インダクタンスユニットは、
両端が上記参考インダクタンスユニットの上記第１の端および上記第２の端とそれぞれ接続する第１のインダクタと、
両端が上記参考インダクタンスユニットの上記第１の端および上記第２の端とそれぞれ接続する第２のインダクタと、
を備える、項目１に記載のインダクタンス測定装置。
［項目３］
更に、
第１の端と、第２の端と、第３の端と、を有するスイッチング素子を備え、上記第１の端は上記第１のインダクタの一端と電気的に接続し、上記第２の端は上記第１のテスト節点と電気的に接続し、上記第３の端は上記第２のインダクタの一端と電気的に接続し、上記スイッチング素子は、上記第３の端が、上記第１の端と導通し、又は上記第２の端と導通することを制御することが可能である、項目２に記載のインダクタンス測定装置。
［項目４］
更に、
上記第１のインダクタの他端と上記第２のテスト節点との間に直列接続されている第１の電流センサーと、
上記第２のインダクタの他端と上記第２のテスト節点との間に直列接続されている第２の電流センサーと、
を備える、項目２に記載のインダクタンス測定装置。
［項目５］
上記スイッチング素子が上記第３の端と上記第２の端を導通したときには、上記インダクタンス計器が上記参考インダクタンスユニットを測定して、上記参考インダクタンス値を得る、項目３に記載のインダクタンス測定装置。
［項目６］
更に、
一端が上記第１のテスト節点と電気的に接続し、他端が上記インダクタンス計器の第１の端と電気的に接続する第３のコンデンサーを備え、
上記第３のコンデンサーの容量値は、上記第２のコンデンサーの容量値と同じである、項目１に記載のインダクタンス測定装置。
［項目７］
更に、
上記インダクタンス計器と電気的に接続し、上記参考インダクタンス値、及び上記第１のテスト節点と上記第２のテスト節点との間のインダクタンス値によって、上記測定待ちインダクタのインダクタンス値を計算する処理ユニットを備える、項目１に記載のインダクタンス測定装置。
［項目８］
参考インダクタンスユニットを用意し、上記参考インダクタンスユニットは参考インダクタンス値を有するステップと、
第１のテスト節点と第２のテスト節点とを用意して、測定待ちインダクタと電気的に接続するステップと、
第１のコンデンサーの一端を上記参考インダクタンスユニットの第１の端と電気的に接続し、上記第１のコンデンサーのの他端を上記第１のテスト節点と電気的に接続するステップと、
直流電源を上記第１のコンデンサーと並列接続して直流電流を供給するステップと、
第２のコンデンサーをインダクタンス計器と電気的に接続することにより、上記直流電流を隔離するステップと、
交流信号を供給して、上記インダクタンス計器は、上記交流信号によって、上記第１のテスト節点と上記第２のテスト節点との間のインダクタンス値を測定するステップと、
を含むインダクタンス値測定方法。
［項目９］
上記参考インダクタンスユニットを用意するステップは、
第１のインダクタと第２のインダクタとを用意するステップと、
上記第１のコンデンサーの一端を上記第１のインダクタの一端と電気的に接続し、上記第１のコンデンサーの他端を上記第２のインダクタの一端と電気的に接続するステップと、
上記第１のインダクタの他端を上記第２のインダクタの他端と電気的に接続するステップと、
上記インダクタンス計器は、上記交流信号によって、上記参考インダクタンスユニットを測定して、上記参考インダクタンス値を得るステップと、
を含む、項目８に記載のインダクタンス値測定方法。
［項目１０］
更に、上記参考インダクタンス値、及び上記第１のテスト節点と上記第２のテスト節点との間のインダクタンス値によって、上記測定待ちインダクタのインダクタンス値を計算するステップを含む、項目８に記載のインダクタンス値測定方法。
Thus, although described with reference to particular examples of the invention, these examples are for illustration only and are not intended to limit the invention, and those of ordinary skill in the art. It is understood that changes, additions or deletions may be made to the embodiments disclosed herein without departing from the spirit of the invention and the scope of the claims.
[Item 1]
The measurement waiting inductor electrically connected between the first test node and the second test node is measured,
A reference inductance unit having a first end, a second end, and a reference inductance value;
A direct current power source having one end electrically connected to the first end of the reference inductance unit and the other end electrically connected to the first test node;
A first capacitor having one end electrically connected to the first end of the reference inductance unit and the other end electrically connected to the first test node;
A second capacitor whose one end is electrically connected to the second test node,
An inductance meter having a first end electrically connected to the first test node and a second end electrically connected to the other end of the second capacitor;
Equipped with
The inductance meter is an inductance measuring device for measuring an inductance value between the first test node and the second test node.
[Item 2]
The above reference inductance unit is
A first inductor whose both ends are respectively connected to the first end and the second end of the reference inductance unit;
A second inductor whose both ends are respectively connected to the first end and the second end of the reference inductance unit;
The inductance measuring device according to item 1, further comprising:
[Item 3]
Furthermore,
A switching element having a first end, a second end, and a third end, the first end electrically connected to one end of the first inductor, and the second end. Is electrically connected to the first test node, the third end is electrically connected to one end of the second inductor, and the switching element has the third end connected to the first end. Item 3. The inductance measuring device according to Item 2, which is capable of controlling conduction with an end or conduction with the second end.
[Item 4]
Furthermore,
A first current sensor connected in series between the other end of the first inductor and the second test node;
A second current sensor connected in series between the other end of the second inductor and the second test node;
The inductance measuring device according to item 2, further comprising:
[Item 5]
4. The inductance measuring device according to item 3, wherein the inductance meter measures the reference inductance unit to obtain the reference inductance value when the switching element conducts the third end and the second end.
[Item 6]
Furthermore,
A third capacitor having one end electrically connected to the first test node and the other end electrically connected to the first end of the inductance meter;
Item 3. The inductance measuring device according to Item 1, wherein the capacitance value of the third capacitor is the same as the capacitance value of the second capacitor.
[Item 7]
Furthermore,
A processing unit electrically connected to the inductance meter to calculate the inductance value of the measurement waiting inductor according to the reference inductance value and the inductance value between the first test node and the second test node. The inductance measuring device according to Item 1, which is provided.
[Item 8]
Prepare a reference inductance unit, the reference inductance unit has a step having a reference inductance value,
Preparing a first test node and a second test node and electrically connecting them to a measurement-waiting inductor;
Electrically connecting one end of a first capacitor to the first end of the reference inductance unit and electrically connecting the other end of the first capacitor to the first test node;
Supplying a direct current by connecting a direct current power source in parallel with the first capacitor;
Isolating the direct current by electrically connecting a second capacitor to the inductance meter;
Supplying an AC signal, the inductance meter measuring the inductance value between the first test node and the second test node by the AC signal;
Inductance value measuring method including.
[Item 9]
The steps to prepare the reference inductance unit are as follows:
Providing a first inductor and a second inductor,
Electrically connecting one end of the first capacitor to one end of the first inductor and electrically connecting the other end of the first capacitor to one end of the second inductor;
Electrically connecting the other end of the first inductor to the other end of the second inductor;
The inductance meter measures the reference inductance unit with the AC signal to obtain the reference inductance value,
8. The inductance value measuring method according to Item 8, including:
[Item 10]
9. The inductance value according to item 8, further comprising the step of calculating the inductance value of the measurement-waiting inductor according to the reference inductance value and the inductance value between the first test node and the second test node. Measuring method.
１〜５ インダクタンス測定装置
１２〜５２ 直流電源
１４〜５４ 参考インダクタンスユニット
１６〜５６ 測定モジュール
１６２〜５６２ インダクタンス計器
２８〜５８ 処理ユニット
５４２ 第１の電流センサー
５４４ 第２の電流センサー
Ｃ１ 第１のコンデンサー
Ｃ２ 第２のコンデンサー
Ｃ３ 第３のコンデンサー
ＤＵＴ 測定待ちインダクタ
Ｅ１ 第１の端
Ｅ２ 第２の端
Ｅ３ 第３の端
Ｌ１ 第１のインダクタ
Ｌ２ 第２のインダクタ
ＮＴ１ 第１のテスト節点
ＮＴ２ 第２のテスト節点
Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３、Ｐ４、Ｐ５、Ｐ６ 電流経路
ＳＷ スイッチング素子
1-5 Inductance measuring device 12-52 DC power supply 14-54 Reference inductance unit 16-56 Measurement module 162-562 Inductance meter 28-58 Processing unit 542 First current sensor 544 Second current sensor C1 First capacitor C2 Second capacitor C3 Third capacitor DUT Measurement waiting inductor E1 First end E2 Second end E3 Third end L1 First inductor L2 Second inductor NT1 First test node NT2 Second test node P1, P2, P3, P4, P5, P6 Current path SW Switching element
Claims (8)
第１の端と、第２の端と、参考インダクタンス値と、を有する参考インダクタンスユニットと、
一端が前記参考インダクタンスユニットの第１の端と電気的に接続し、他端が前記第１のテスト節点と電気的に接続する直流電源と、
一端が前記参考インダクタンスユニットの第１の端と電気的に接続し、他端が前記第１のテスト節点と電気的に接続する第１のコンデンサーと、
一端が前記第２のテスト節点と電気的に接続する第２のコンデンサーと、
前記第１のテスト節点と電気的に接続する第１の端と、前記第２のコンデンサーの他端と電気的に接続する第２の端と、を有するインダクタンス計器と、
を備え、
前記インダクタンス計器は、前記第１のテスト節点と前記第２のテスト節点との間のインダクタンス値を測定し、
更に、
前記インダクタンス計器と電気的に接続し、前記参考インダクタンス値、及び前記第１のテスト節点と前記第２のテスト節点との間のインダクタンス値によって、前記測定待ちインダクタのインダクタンス値を計算する処理ユニットを備える、インダクタンス測定装置。 The measurement waiting inductor electrically connected between the first test node and the second test node is measured,
A reference inductance unit having a first end, a second end, and a reference inductance value;
A direct current power source having one end electrically connected to the first end of the reference inductance unit and the other end electrically connected to the first test node;
A first capacitor having one end electrically connected to the first end of the reference inductance unit and the other end electrically connected to the first test node;
A second capacitor having one end electrically connected to the second test node;
An inductance meter having a first end electrically connected to the first test node and a second end electrically connected to the other end of the second capacitor;
Equipped with
The inductance meter measures an inductance value between the first test node and the second test node ,
Furthermore,
A processing unit electrically connected to the inductance meter, for calculating the inductance value of the measurement waiting inductor according to the reference inductance value and the inductance value between the first test node and the second test node. An inductance measuring device provided .
両端が前記参考インダクタンスユニットの前記第１の端および前記第２の端とそれぞれ接続する第１のインダクタと、
両端が前記参考インダクタンスユニットの前記第１の端および前記第２の端とそれぞれ接続する第２のインダクタと、
を備える、請求項１に記載のインダクタンス測定装置。 The reference inductance unit is
A first inductor whose both ends are respectively connected to the first end and the second end of the reference inductance unit;
A second inductor whose both ends are respectively connected to the first end and the second end of the reference inductance unit;
The inductance measuring device according to claim 1, further comprising:
第１の端と、第２の端と、第３の端と、を有するスイッチング素子を備え、前記第１の端は前記第１のインダクタの一端と電気的に接続し、前記第２の端は前記第１のテスト節点と電気的に接続し、前記第３の端は前記第２のインダクタの一端と電気的に接続し、前記スイッチング素子は、前記第３の端が、前記第１の端と導通し、又は前記第２の端と導通することを制御することが可能である、請求項２に記載のインダクタンス測定装置。 Furthermore,
A switching element having a first end, a second end, and a third end, the first end electrically connected to one end of the first inductor, and the second end. Is electrically connected to the first test node, the third end is electrically connected to one end of the second inductor, and the switching element has the third end connected to the first end. The inductance measuring device according to claim 2, wherein it is possible to control conduction with an end or conduction with the second end.
前記第１のインダクタの他端と前記第２のテスト節点との間に直列接続されている第１の電流センサーと、
前記第２のインダクタの他端と前記第２のテスト節点との間に直列接続されている第２の電流センサーと、
を備える、請求項２に記載のインダクタンス測定装置。 Furthermore,
A first current sensor connected in series between the other end of the first inductor and the second test node;
A second current sensor connected in series between the other end of the second inductor and the second test node;
The inductance measuring device according to claim 2, further comprising:
一端が前記第１のテスト節点と電気的に接続し、他端が前記インダクタンス計器の第１の端と電気的に接続する第３のコンデンサーを備え、
前記第３のコンデンサーの容量値は、前記第２のコンデンサーの容量値と同じである、請求項１に記載のインダクタンス測定装置。 Furthermore,
A third capacitor having one end electrically connected to the first test node and the other end electrically connected to the first end of the inductance meter;
The inductance measuring device according to claim 1, wherein the capacitance value of the third capacitor is the same as the capacitance value of the second capacitor.
第１のテスト節点と第２のテスト節点とを用意して、測定待ちインダクタと電気的に接続するステップと、
第１のコンデンサーの一端を前記参考インダクタンスユニットの第１の端と電気的に接続し、前記第１のコンデンサーの他端を前記第１のテスト節点と電気的に接続するステップと、
直流電源を前記第１のコンデンサーと並列接続して直流電流を供給するステップと、
第２のコンデンサーをインダクタンス計器と電気的に接続することにより、前記直流電流を隔離するステップと、
交流信号を供給して、前記インダクタンス計器は、前記交流信号によって、前記第１のテスト節点と前記第２のテスト節点との間のインダクタンス値を測定するステップと、
を含むインダクタンス値測定方法であって、
更に、前記参考インダクタンス値、及び前記第１のテスト節点と前記第２のテスト節点との間のインダクタンス値によって、前記測定待ちインダクタのインダクタンス値を計算するステップを含む、インダクタンス値測定方法。 Preparing a reference inductance unit, the reference inductance unit having a reference inductance value,
Preparing a first test node and a second test node and electrically connecting them to a measurement-waiting inductor;
Electrically connecting one end of a first capacitor to the first end of the reference inductance unit and electrically connecting the other end of the first capacitor to the first test node;
Supplying a direct current by connecting a direct current power source in parallel with the first capacitor;
Isolating the direct current by electrically connecting a second capacitor with an inductance meter;
Supplying an AC signal, the inductance meter measuring the inductance value between the first test node and the second test node by the AC signal;
An inductance value measuring method including :
Furthermore, the inductance value measuring method including the step of calculating the inductance value of the measurement waiting inductor based on the reference inductance value and the inductance value between the first test node and the second test node.
第１のインダクタと第２のインダクタとを用意するステップと、
前記第１のコンデンサーの一端を前記第１のインダクタの一端と電気的に接続し、前記第１のコンデンサーの前記一端を前記第２のインダクタの一端と電気的に接続するステップと、
前記第１のインダクタの他端を前記第２のインダクタの他端と電気的に接続するステップと、
前記インダクタンス計器は、前記交流信号によって、前記参考インダクタンスユニットを測定して、前記参考インダクタンス値を得るステップと、
を含む、請求項７に記載のインダクタンス値測定方法。 The step of preparing the reference inductance unit,
Providing a first inductor and a second inductor,
A step of the first connect one end of the capacitor to the one end electrically of the first inductor, connecting the one end of the first capacitor and the second inductor with one end electrically,
Electrically connecting the other end of the first inductor to the other end of the second inductor;
The inductance meter measures the reference inductance unit by the AC signal to obtain the reference inductance value,
The inductance value measuring method according to claim 7 , further comprising:
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